JPH11194145A - Ｃｄｍａ隣接チャネル漏洩電力測定方法 - Google Patents
Ｃｄｍａ隣接チャネル漏洩電力測定方法Info
- Publication number
- JPH11194145A JPH11194145A JP10000724A JP72498A JPH11194145A JP H11194145 A JPH11194145 A JP H11194145A JP 10000724 A JP10000724 A JP 10000724A JP 72498 A JP72498 A JP 72498A JP H11194145 A JPH11194145 A JP H11194145A
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- Japan
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- frequency
- measuring
- level
- measurement
- electric power
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- Withdrawn
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定精度を落とすことなく、測定時間と手数
を少なくする。 【解決手段】 ゼロスパンモードとし、かつビデオフィ
ルタの遮断周波数を１０Ｈｚ程度と十分小とし、測定周
波数を測定チャネルの中心周波数ｆｃに設定してそのレ
ベルＬc を測定し（Ａ）、測定周波数をｆｃ±９００ｋ
Ｈｚに順次設定して、そのレベルＬaL，ＬaHをそれぞれ
測定し（Ｂ，Ｃ）、測定周波数をｆｃ±１．９８ＭＨｚ
に順次設定してそのレベルＬbL，ＬbHを測定する（Ｄ，
Ｅ）。これらから隣接チャネル漏洩電力が規格を満たし
ているか否かを判定する。
を少なくする。 【解決手段】 ゼロスパンモードとし、かつビデオフィ
ルタの遮断周波数を１０Ｈｚ程度と十分小とし、測定周
波数を測定チャネルの中心周波数ｆｃに設定してそのレ
ベルＬc を測定し（Ａ）、測定周波数をｆｃ±９００ｋ
Ｈｚに順次設定して、そのレベルＬaL，ＬaHをそれぞれ
測定し（Ｂ，Ｃ）、測定周波数をｆｃ±１．９８ＭＨｚ
に順次設定してそのレベルＬbL，ＬbHを測定する（Ｄ，
Ｅ）。これらから隣接チャネル漏洩電力が規格を満たし
ているか否かを判定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明はスペクトラムアナ
ライザを用いて、ＣＤＭＡ（符号分割多元接続）高周波
信号の隣接チャネル漏洩電力を測定する方法に関する。
ライザを用いて、ＣＤＭＡ（符号分割多元接続）高周波
信号の隣接チャネル漏洩電力を測定する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】スペクトラムアナライザは図２Ａに示す
ように入力端子１１より入力信号が高周波入力部１２に
て所定のレベル範囲に入るようにされ、周波数混合器１
３で局部発振器１４よりの局部信号と周波数混合され、
その周波数混合出力は帯域通過フィルタ１５を通り、中
間周波増幅器１６で増幅され、その増幅出力は検波器１
７で検波され、その検波出力はビデオフィルタ１８で不
要成分が除去されて表示器２１へ供給される。
ように入力端子１１より入力信号が高周波入力部１２に
て所定のレベル範囲に入るようにされ、周波数混合器１
３で局部発振器１４よりの局部信号と周波数混合され、
その周波数混合出力は帯域通過フィルタ１５を通り、中
間周波増幅器１６で増幅され、その増幅出力は検波器１
７で検波され、その検波出力はビデオフィルタ１８で不
要成分が除去されて表示器２１へ供給される。
【０００３】掃引モードでは、掃引信号発生器２２より
の掃引信号が局部発振器１４へ供給され、局部信号の周
波数が掃引され、入力信号中の取込まれる周波数成分が
掃引される。掃引信号は表示器２１にも供給され、表示
面は横軸を取込まれた周波数とし、縦軸をその周波数成
分のレベルとして、周波数掃引範囲の入力信号のレベル
が表示される。
の掃引信号が局部発振器１４へ供給され、局部信号の周
波数が掃引され、入力信号中の取込まれる周波数成分が
掃引される。掃引信号は表示器２１にも供給され、表示
面は横軸を取込まれた周波数とし、縦軸をその周波数成
分のレベルとして、周波数掃引範囲の入力信号のレベル
が表示される。
【０００４】制御器２３に対し、入力手段２４から、受
信中心周波数、周波数掃引幅などが設定され、制御器２
３はその設定に応じて局部発振器１４の中心発振周波
数、掃引信号の振幅などが制御される。また、入力手段
２４の設定に応じ、あるいは自動的に高周波入力部１２
でのレベル調整、帯域通過フィルタ１５の帯域幅、ビデ
オフィルタ（低域通過フィルタ）１８の遮断周波数を調
整乃至設定することができる。更に掃引信号の発生を停
止し、設定した１つの周波数成分のみを取込むゼロスパ
ンモード測定もある。更に図に示したアナログ表示のみ
ならず、ビデオフィルタ１８の出力をデジタル値に変換
し、掃引信号に応じてメモリに取込んだ後、そのメモリ
の内容を読み出して表示する場合もある。
信中心周波数、周波数掃引幅などが設定され、制御器２
３はその設定に応じて局部発振器１４の中心発振周波
数、掃引信号の振幅などが制御される。また、入力手段
２４の設定に応じ、あるいは自動的に高周波入力部１２
でのレベル調整、帯域通過フィルタ１５の帯域幅、ビデ
オフィルタ（低域通過フィルタ）１８の遮断周波数を調
整乃至設定することができる。更に掃引信号の発生を停
止し、設定した１つの周波数成分のみを取込むゼロスパ
ンモード測定もある。更に図に示したアナログ表示のみ
ならず、ビデオフィルタ１８の出力をデジタル値に変換
し、掃引信号に応じてメモリに取込んだ後、そのメモリ
の内容を読み出して表示する場合もある。
【０００５】ＣＤＭＡの高周波信号の隣接チャネルの漏
洩電力を測定するには、例えばＣＤＭＡ用高周波部のＩ
Ｃ（半導体集積回路）２６よりの出力信号、つまりＣＤ
ＭＡ高周波信号入力端子１１へ接続され、そのＣＤＭＡ
高周波信号の中心周波数ｆｃに、スペクトラムアナイザ
の受信信号周波数が設定され、またその規格（ＩＳ９
５）で規定されている測定周波数を含むように掃引周波
数帯域つまりｆｃ±１．９８ＭＨｚを含むようにこれよ
り若干広い帯域を設定して、掃引モードで測定する。
洩電力を測定するには、例えばＣＤＭＡ用高周波部のＩ
Ｃ（半導体集積回路）２６よりの出力信号、つまりＣＤ
ＭＡ高周波信号入力端子１１へ接続され、そのＣＤＭＡ
高周波信号の中心周波数ｆｃに、スペクトラムアナイザ
の受信信号周波数が設定され、またその規格（ＩＳ９
５）で規定されている測定周波数を含むように掃引周波
数帯域つまりｆｃ±１．９８ＭＨｚを含むようにこれよ
り若干広い帯域を設定して、掃引モードで測定する。
【０００６】この時、表示器２１の表示面には例えば図
２Ｂに示すような図形が表示される。つまり該当チャネ
ルの中心周波ｆｃを中心としてその帯域内のレベルは、
ｆｃのレベルＬc とほぼ一致し、帯域から外れた近傍の
周波数成分ｆｃ±９００ｋＨｚの各レベルＬaL ，ＬaH
は著しく低下し、更に、規格により決められた周波数成
分ｆｃ±１．９８ＭＨｚの各レベルＬbL，ＬbHが測定で
きるように、このｆｃ±１．９３ＭＨｚのわずか外側の
周波数から、その内側の各周波数成分のレベルが表示さ
れる。
２Ｂに示すような図形が表示される。つまり該当チャネ
ルの中心周波ｆｃを中心としてその帯域内のレベルは、
ｆｃのレベルＬc とほぼ一致し、帯域から外れた近傍の
周波数成分ｆｃ±９００ｋＨｚの各レベルＬaL ，ＬaH
は著しく低下し、更に、規格により決められた周波数成
分ｆｃ±１．９８ＭＨｚの各レベルＬbL，ＬbHが測定で
きるように、このｆｃ±１．９３ＭＨｚのわずか外側の
周波数から、その内側の各周波数成分のレベルが表示さ
れる。
【０００７】操作員はこの表示を見て、マーカを、中心
周波数ｆｃ、ｆｃ±９００ＫＨｚ、ｆｃ±１．９８ＭＨ
ｚの５つの個所に移動させて、それぞれのレベルを読取
っていた。つまり中心周波数ｆｃのレベルＬc に対する
ｆｃ±９００ｋＨｚのレベルの差ΔＬaL、ΔＬaH、Ｌc
に対するｆｃ±１．９８ＭＨｚのレベルの差ΔＬbL，Δ
ＬbHをそれぞれ求め、これらがそれぞれ規格値を満たし
ているかを調べる。
周波数ｆｃ、ｆｃ±９００ＫＨｚ、ｆｃ±１．９８ＭＨ
ｚの５つの個所に移動させて、それぞれのレベルを読取
っていた。つまり中心周波数ｆｃのレベルＬc に対する
ｆｃ±９００ｋＨｚのレベルの差ΔＬaL、ΔＬaH、Ｌc
に対するｆｃ±１．９８ＭＨｚのレベルの差ΔＬbL，Δ
ＬbHをそれぞれ求め、これらがそれぞれ規格値を満たし
ているかを調べる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】この従来の測定方法で
は、中心周波数ｆｃから要求されている最も離れている
周波数ｆｃ±１．９８ＭＨｚのレベル測定を含む周波数
帯域を掃引モードで測定しているため、その帯域を測定
するのに比較的時間が長くかかった。またその各周波数
成分のレベルを正しく測定するために、ビデオフィルタ
１８の遮断周波数は例えば１ｋＨｚ程度とされていた。
このため各周波数成分のレベルが比較的変動し、例えば
２ｄＢ程度ばらつくものとなる。よってこの５点の周波
数レベルの測定を、例えば５回ずつ繰返し行って、その
各周波数点のレベルの平均値を求めていた。この点から
も従来の測定方法時間と、手数を多く必要とした。
は、中心周波数ｆｃから要求されている最も離れている
周波数ｆｃ±１．９８ＭＨｚのレベル測定を含む周波数
帯域を掃引モードで測定しているため、その帯域を測定
するのに比較的時間が長くかかった。またその各周波数
成分のレベルを正しく測定するために、ビデオフィルタ
１８の遮断周波数は例えば１ｋＨｚ程度とされていた。
このため各周波数成分のレベルが比較的変動し、例えば
２ｄＢ程度ばらつくものとなる。よってこの５点の周波
数レベルの測定を、例えば５回ずつ繰返し行って、その
各周波数点のレベルの平均値を求めていた。この点から
も従来の測定方法時間と、手数を多く必要とした。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この発明によれば、スペ
クトラムアナライザをゼロスパンモードに設定し、かつ
ビデオフィルタの遮断周波数を掃引モードの時のそれよ
りも十分低い値に設定し、規格で決められている各周波
数を順次設定入力して、そのビデオフィルタ出力レベル
をそれぞれ測定する。
クトラムアナライザをゼロスパンモードに設定し、かつ
ビデオフィルタの遮断周波数を掃引モードの時のそれよ
りも十分低い値に設定し、規格で決められている各周波
数を順次設定入力して、そのビデオフィルタ出力レベル
をそれぞれ測定する。
【００１０】
【発明の実施の形態】この発明においてはゼロスパンモ
ードとし、かつビデオフィルタ１８の遮断周波数を例え
ば１０Ｈｚと、掃引モード時の１ｋＨｚに対し、十分低
い値に設定する。この状態で規格により決められた各周
波数、つまり中心周波数ｆｃ、ｆｃ±９００ｋＨｚ、ｆ
ｃ±１．９８ＭＨｚの５つの周波数を順次測定周波数と
して設定し、それぞれのレベルを測定する。
ードとし、かつビデオフィルタ１８の遮断周波数を例え
ば１０Ｈｚと、掃引モード時の１ｋＨｚに対し、十分低
い値に設定する。この状態で規格により決められた各周
波数、つまり中心周波数ｆｃ、ｆｃ±９００ｋＨｚ、ｆ
ｃ±１．９８ＭＨｚの５つの周波数を順次測定周波数と
して設定し、それぞれのレベルを測定する。
【００１１】従って表示器２１の表示面には中心周波数
ｆｃを設定時には、図１Ａに示すようにレベルＬc が横
線として示され、ｆｃ±９００ｋＨｚの各設定で図１
Ｂ，Ｃに示すようにレベルＬaL、ＬaHがそれぞれ横線で
表示され、ｆｃ±１．９８ＭＨｚの各設定で図１Ｄ，Ｅ
に示すようにレベルＬbL、ＬbHが横線で表示される。こ
れら各測定レベルＬc ，ＬaL，ＬaH，ＬbL，ＬbHはそれ
ぞれ図に示していないが数値表示され、また制御器２３
に保持され、中心周波数のレベルＬc に対する各差ΔＬ
aL，ΔＬaH，ΔＬbL，ΔＬbHが計算され、これらの値も
表示され、それぞれこれら漏洩電力規格を満たしている
か否かも判定して、その結果が表示される。
ｆｃを設定時には、図１Ａに示すようにレベルＬc が横
線として示され、ｆｃ±９００ｋＨｚの各設定で図１
Ｂ，Ｃに示すようにレベルＬaL、ＬaHがそれぞれ横線で
表示され、ｆｃ±１．９８ＭＨｚの各設定で図１Ｄ，Ｅ
に示すようにレベルＬbL、ＬbHが横線で表示される。こ
れら各測定レベルＬc ，ＬaL，ＬaH，ＬbL，ＬbHはそれ
ぞれ図に示していないが数値表示され、また制御器２３
に保持され、中心周波数のレベルＬc に対する各差ΔＬ
aL，ΔＬaH，ΔＬbL，ΔＬbHが計算され、これらの値も
表示され、それぞれこれら漏洩電力規格を満たしている
か否かも判定して、その結果が表示される。
【００１２】なお従来における掃引モード表示（図１
Ｆ）中の必要とされる部分のみがゼロスパンと測定表示
される。
Ｆ）中の必要とされる部分のみがゼロスパンと測定表示
される。
【００１３】
【発明の効果】この発明によれば予め決められた周波数
成分のレベルをゼロスパンモードで測定し、その際ビデ
オフィルタ１８の遮断周波数を十分低くしているため、
その各測定において、その周波数成分のレベルが十分平
均化されるため、その測定ばらつきは１ｄＢ程度に納ま
り、従って各周波数に対し１回の測定でよい。前記例
で、従来の測定方法ではビデオフィルタ１８の遮断周波
数を１ｋＨｚとし、５回測定を繰返して平均値を求める
ための測定時間が１０秒程度であったが、この発明では
ビデオフィルタ１８の遮断周波数を１０Ｈｚとし、２秒
程度の１回の測定で、従来と同程度の測定精度を得るこ
とができた。
成分のレベルをゼロスパンモードで測定し、その際ビデ
オフィルタ１８の遮断周波数を十分低くしているため、
その各測定において、その周波数成分のレベルが十分平
均化されるため、その測定ばらつきは１ｄＢ程度に納ま
り、従って各周波数に対し１回の測定でよい。前記例
で、従来の測定方法ではビデオフィルタ１８の遮断周波
数を１ｋＨｚとし、５回測定を繰返して平均値を求める
ための測定時間が１０秒程度であったが、この発明では
ビデオフィルタ１８の遮断周波数を１０Ｈｚとし、２秒
程度の１回の測定で、従来と同程度の測定精度を得るこ
とができた。
【００１４】このようにこの発明によれば測定時間を短
縮でき、また測定時間の短縮を少なくすれば測定精度が
従来より高いものとなる。しかも、測定回数が１回で済
み、その測定周波数の設定を５回行うが、従来も各周波
数成分をマーカによりいちいち指定してレベル測定し、
しかも複数回行うため、測定の手間もこの発明は従来よ
り少なくて済む。
縮でき、また測定時間の短縮を少なくすれば測定精度が
従来より高いものとなる。しかも、測定回数が１回で済
み、その測定周波数の設定を５回行うが、従来も各周波
数成分をマーカによりいちいち指定してレベル測定し、
しかも複数回行うため、測定の手間もこの発明は従来よ
り少なくて済む。
【図１】Ａ〜Ｅはこの発明による各周波数の設定におけ
る表示例を示し、Ｆはこれらと従来の測定表示との対応
を示す図である。
る表示例を示し、Ｆはこれらと従来の測定表示との対応
を示す図である。
【図２】Ａはスペクトラムアナライザの一般的な機能構
成例を示すブロック図、Ｂは従来の測定法における表示
例を示す図である。
成例を示すブロック図、Ｂは従来の測定法における表示
例を示す図である。
Claims (1)
- 【請求項１】 スペクトラムアナライザを用いてＣＤＭ
Ａ高周波信号の隣接チャネルの漏洩電力を測定する方法
において、上記スペクトラムアナライザをゼロスパンモ
ードに設定し、かつそのビデオフィルタの遮断周波数を
掃引モードのそれより十分低い値に設定し、 上記ＣＤＭＡ高周波信号を上記スペクトラムアナライザ
に入力し、 上記スペクトラムアナライザの受信周波数を、規格で決
められている各周波数に順次設定して、その各周波数に
おける上記ビデオフィルタの出力レベルをそれぞれ測定
することを特徴とするＣＤＭＡ隣接チャネル漏洩電力測
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10000724A JPH11194145A (ja) | 1998-01-06 | 1998-01-06 | Ｃｄｍａ隣接チャネル漏洩電力測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10000724A JPH11194145A (ja) | 1998-01-06 | 1998-01-06 | Ｃｄｍａ隣接チャネル漏洩電力測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11194145A true JPH11194145A (ja) | 1999-07-21 |
Family
ID=11481701
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10000724A Withdrawn JPH11194145A (ja) | 1998-01-06 | 1998-01-06 | Ｃｄｍａ隣接チャネル漏洩電力測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11194145A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002011295A2 (de) * | 2000-07-28 | 2002-02-07 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Verfahren und messvorrichtung zur messung des spektrums in nachbarkanälen |
| EP1271160A1 (en) * | 2001-06-18 | 2003-01-02 | Agilent Technologies, Inc. - a Delaware corporation - | Method and apparatus for measuring a signal spectrum |
-
1998
- 1998-01-06 JP JP10000724A patent/JPH11194145A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002011295A2 (de) * | 2000-07-28 | 2002-02-07 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Verfahren und messvorrichtung zur messung des spektrums in nachbarkanälen |
| WO2002011295A3 (de) * | 2000-07-28 | 2002-04-11 | Rohde & Schwarz | Verfahren und messvorrichtung zur messung des spektrums in nachbarkanälen |
| US6744247B2 (en) | 2000-07-28 | 2004-06-01 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Method and measuring device for measuring the spectra in adjacent channels |
| EP1271160A1 (en) * | 2001-06-18 | 2003-01-02 | Agilent Technologies, Inc. - a Delaware corporation - | Method and apparatus for measuring a signal spectrum |
| US7106790B2 (en) | 2001-06-18 | 2006-09-12 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for measuring a signal spectrum |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20050405 |