JPH07111451B2 - 妨害耐性測定装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は放送受信機（チューナ）やメインアンプ等の電
子機器における外部から入力された妨害信号に対する排
除能力を示す妨害耐性を測定する妨害耐性測定装置に関
する。

［従来の技術］ 一般に、放送受信機及び関連機器の妨害耐性試験は例え
ばDIN（西独工業企画）・VDE 0872第20部の規定に基づ
いて実施される。そして、前記妨害耐性は、同規格によ
ると、供試機器に規定レベルの妨害信号を印加したとき
に、供試機器が規定された要求事項を満足する事であ
り、具体的には供試機器のオーディオ出力信号のS/Nで
規定される。

なお、妨害信号は無線放送受信を妨害するか誤動作を発
生させる可能性のある高周波信号であり、不要信号はこ
の妨害信号を模擬するRF（高周波）信号をいう。

そして、妨害耐性とは、妨害波の流入経路に応じて、入
力妨害耐性，伝導電圧に対する妨害耐性，導入電流に対
する妨害耐性及び入射妨害耐性と規定されているが、説
明を簡単にするために、以下、伝導電圧に対する妨害耐
性についての説明をVHF−バンドII受信機（FM受信機）
を例に説明する。なお、伝導電圧に対する妨害耐性と
は、オーティオ入力端子，電源接続端子およびオーディ
オ出力端子における不要電圧に対する排除能力である。

第５図は供試機器としてFM受信機を基いて、この供試機
器の妨害耐性を測定する妨害耐性測定装置の概略構成を
示すブロック図である。供試機器１のアンテナ端子ANT
には希望信号発振器２から出力される希望信号ａがイン
ピータンス変換器３を介して入力される。この希望信号
発振器２にはステレオ変調器４から変調信号が入力され
る。そして、この希望信号発振器２から出力される希望
信号ａは［表１］に示すように規定されたFM変調信号で
ある。

また、供試機器１の電源端子PWには、擬似電源回路５を
介して商用交流電源６から交流電源が供給される。そし
て、この擬似電源回路５には、商用交流電源６の他に、
不要信号発生回路７からRF増幅器８およびハイパスフィ
ルタ９を介して、不要信号ｂが印加される。したがっ
て、擬似電源回路５から供試機器１へ供給される交流電
源には前記不要信号ｂが重畳する。そして、この不要信
号ｂは1k Hzの変調周波数、80％の変調度を有したAM変
調信号であり、その搬送周波数は0.15〜150M Hzの広い
周波数範囲に亘って掃引可能である。そして、各周波数
における信号レベルdB（μＶ）は、流入妨害耐性の限度
値として、［表２］に示すように設定されている。

なお、表中の直線的低下とは信号レベルを120dBから110
dBまで周波数の対数と共に直線的に低下することを示
す。

また、供試機器１における左右のオーディオ出力端子に
はそれぞれ擬似負荷回路10a,10bが接続されている。こ
の擬似負荷回路10a,10bは例ば供試機器１がFM受信機で
あれば、各出力端子にメインアンプが接続され、アンプ
内に蔵のFM受信機であれば、スピーカが接続されること
を想定しており、一般に８Ωの抵抗が用いられる。そし
て、この擬似負荷回路10aの出力信号ｃがバンドパスフ
ィルタ（BPF）11を介してAF（オーディオ周波数）電圧
計12へ入力される。そして、このAF電圧計12で前記出力
信号ｃの電圧レベルが測定される。このAF電圧計12は入
力電圧をdB値で表示する。そして、入力信号の信号レベ
ルに応じて、測定レンジをレンジ切換器でもって例えば
10dB毎に切換可能に構成されている。さらに、感度調整
つまりでもって感度を微調整可能である。また、AF電圧
計12にて測定される出力信号ｃの波形はオシロスコープ
13に表示される。

なお、供試機器1,擬似電源回路5,擬似負荷回路10a,10b
は外部からの影響を除去するために金属板15上に設置さ
れる。

次に、このように構成された妨害耐性測定装置を用いて
供試機器１の妨害耐性を測定する測定手順を第６図の流
れ図を用いて説明する。

まず、Ｓ（ステップ）１にて、［表１］に示した条件の
希望信号ａを供試機器１へ印加する。なお、この状態に
おいては、不要信号発生回路7,RF増幅器８はまだ起動さ
れていない。そして、S2にて、希望信号ａのみを印加し
た状態で、供試機器１のオーディオ出力端子から出力さ
れるオーディオ希望信号の出力レベルが基準レベルであ
る50mWになるように、供試機器１の音量調整器（ボリュ
ーム）を調整する。例えば擬似負荷回路10a,10bが８Ω
の場合は両端に0.63Vの電圧が出力されればよい。

次に、S3にて、50mWの出力に設定された状態で、AF電圧
計12の指示レベルをレンジ切換器および感度調節つまみ
を用いて0dB（基準）に設定する。S4にて、アンテナ端
子ANTに印加されている希望信号ａをステレオ変調器４
を遮断して無変調とすることによってオーディオ希望信
号を除去する。

S5にてAF電圧計12の測定レンジをレンジ切換器を操作し
て、S3で測定した0dB（基準レベル）から−40dB（一般
受信機）または−20dB（カーラジオ）に切換える。しか
して、S6にて、不要信号発生回路７およびRF増幅器８を
起動して、不要信号ｂを擬似電源回路５を介して供試機
器１の電源端子PWへ印加する。なお、不要信号ｂのレベ
ルは別途配設された図示しないレベル計で測定される。
そして、［表２］で示した限度値に保持して0.15〜150M
Hzの全測定周波数数範囲に亘って掃引する。S7にてAF
電圧計12の指示レベルが全測定周波数範囲に亘って前記
−40dB（一般受信機）または−26dB（カーラジオ）を上
回らないことを確認する。

妨害の基準はオーディオ希望信号対妨害信号比が40dB
（カーラジオでは20dB）であることから、逆にAF電圧計
12が−40dB（カーラジオでは−26dB）を指示するように
不要信号ｂの信号レベルを調整し、全周波数に亘ってこ
の不要信号レベルが妨害発生レベルとして記録される。
その測定結果の一例を第７図に示す。限度値以下で、妨
害が発生し、この供試機器１は不合格機器となる。

ところで、FM受信機等の供試機器１において、不要信号
の影響を受けてオーディオ妨害信号が現われる場合は、
第７図に示すように２種類のパターンが存在する。先
ず、第７図（ａ）の波形に示すように主としてオーディ
オアンプ系が不要信号の振幅変調の影響を受けて1k Hz
のオーディオ妨害信号が現われる場合であり、この場合
に不要信号ｂの周波数を上昇させていくと、幅広い周波
数領域での妨害14aが認められる。また、他方のパター
ンは第７図（ｂ）の波形に示すように、RF系が不要信号
の影響を受けてビート妨害が現れる場合であり、この場
合非常に狭い周波数領域で線状の妨害14bとして現れ
る。

そして、実際の測定に際しては、AF電圧計12にオシロス
コープ13を接続し、オシロスコープ13に現れる第７図
（ａ）または第７図（ｂ）の波形を観測して、周波数を
横軸にして表記した場合にいずれの妨害14a,14bになる
かを予測する。

ところで、実際に第６図の流れ図に従って測定する場合
には、S6にて、不要信号ｂの信号レベルを［表２］に示
した限度値より＋10dB程度高い値に設定して、掃引を開
始する。そして、周波数を0.15M Hzから掃引開始する。
すなわち、第７図の下側の周波数特性における点線で示
す特性が［表２］で示す限度値である。そして、この限
度値に対して、不要信号ｂの信号レベルを実線で示すよ
うに10dBだけ高い値に設定している。なお、この不要信
号ｂの信号レベルを限度値より＋10dB程度高い値に設定
のは、規格に対して余裕をもって測定するためである。

そして、不要信号ｂの周波数をゆっくり上昇させていっ
て、AF電圧計12の指示レベルが−40dBまたは−26dBを越
えた場合、妨害が発生したと判断して、＋10dB上昇させ
ている不要信号ｂの信号レベルを、AF電圧計12の指示レ
ベルが−40dBまたは−26dBとなるように設定しなおす。
そして、その状態における不要信号ｂの信号レベルを該
当周波数における妨害発生レベルとして記録する。

このように、不要信号ｂの信号レベルを限度値より高く
設定して順次周波数を上昇させていって、指示レベルが
変化する毎に不要信号ｂの信号レベルを設定しなおし、
妨害発生レベルを測定していく。そして、全部の周波数
範囲に亘って測定を終了すると、周波数を横軸に妨害発
生レベルを縦軸に取ると第７図の下側に示す測定結果が
得られる。

［発明が解決しようとする課題］ しながら、このような測定手順で各周波数における妨害
レベルを操作者がマニアル手法で測定するような妨害耐
性測定装置においてもまだ解消すべき次のような問題が
あった。すなわち、操作者はオシロスコープ13に表示さ
れる第７図（ａ）または第７図（ｂ）の波形を観察し
て、妨害が広い周波数範囲で現れるAF系に起因する妨害
であるのか、非常に狭い周波数範囲で現れるRF系の妨害
であるのかを判断する。AF系に起因する妨害であると判
断すると、その周波数を例えぼ200k Hz毎に前述した手
法で妨害発生レベルを測定して第７図に示す妨害14aを
求める。一方、RF系に起因する妨害であると判断する
と、その周波数近傍で例えば周波数を1k Hz毎に移動さ
せて、すなわち、不要信号ｂの周波数を微調整して第７
図に示す妨害14bの周波数および妨害発生レベルの最悪
値を測定する必要がある。

このRF系に起因する妨害14bは周波数幅で数10k Hz以下
で現れ、その周波数を探すには熟練した操作者による信
号の判断と周波数を探す勘が必要である。また、たとえ
熟練者と言えども全測定周波数範囲に亘る妨害発生レベ
ルの測定には長時間を要した。

また、これらAF系に起因する妨害14aとRF系に起因する
妨害14bとを例えば周波数を自動的に掃引して妨害発生
レベルの自動測定を実施することが考えられるが、AF系
に起因する妨害とRF系に起因する妨害とを自動判別する
のが困難であるので、RF系に起因する妨害14bを確実に
測定するためには、0.15〜150M Hzの広い測定範囲内に
おいて、妨害14bの最悪値を検出できる周波数幅である
数k Hz毎に、不要信号ｂの信号レベルを設定しなおして
いかなければならない。したがって、処理時間が膨大な
量になり、現実的でない。

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、
予め振幅変調をオフした状態の不要信号を使用してRF系
に起因するビート妨害の発生周波数を検出することによ
り、その特定周波数においては狭い周波数幅をまたその
周波数以外に対しては比較的広い周波数毎に妨害発生レ
ベルを検出していくことができ、処理時間を短縮できる
ので、自動測定が可能となり、測定の作業能率および操
作性を大幅に向上できる妨害耐性測定装置を提供するこ
とを目的とする。

［課題を解決するための手段］ 上記課題を解消するために本発明は、オーディオ周波数
（AF）信号で振幅変調された高周波信号を不要信号とし
て供試機器の一つの入出力端子に印加し、不要信号の搬
送周波数を所定周波数範囲内で掃引しながら、供試機器
のオーディオ出力端子に不要信号に起因して現れるオー
ディオ妨害信号のレベルが所定の妨害基準に達するとき
の不要信号の信号レベルを測定する妨害耐性測定装置に
おいて、 供試機器の主としてオーディオアンプ系が不要信号のAF
信号による振幅変調成分に起因する妨害に対応して、高
速で所定周波数範囲を掃引し、オーディオ妨害信号レベ
ルが妨害基準値となるときの不要信号の周波数とレベル
とを測定する妨害耐性の高速測定手段と、 不要信号における振幅変調を除去した状態で搬送周波数
を所定周波数範囲で掃引しながら印加して、搬送波成分
に起因して現れるビート妨害の発生周波数を検出する予
備測定手段と、 この予備測定手段にて得られた各妨害発生周波数の近傍
を不要信号における振幅変調を復帰させた状態で搬送周
波数をごく狭い範囲で掃引しながら印加して、オーディ
オ妨害信号レベルが妨害基準値となるときの不要信号の
レベルを測定する信号レベル測定手段とを備えたもので
ある。

［作用］ 前述したように、一般に、AF信号で振幅変調された不要
信号を供試機器の一つの端子に印加して、供試機器のオ
ーディオ出力端子に現れるオーディオ妨害信号は、オー
デォアンプ系に起因する比較的広い周波数範囲で発生す
る妨害と、供試機器のRF系に起因する非常に狭い周波数
範囲で発生するビート妨害との２種類の妨害を有する。
したがって、この２種類の妨害に対して各周波数におけ
る妨害発生レベルを測定する場合には、測定周波数間隔
を非常に狭い周波数範囲で発生するRF系の妨害に対応し
た設定にする必要がある。

そこで、不要信号の振幅変調を遮断すれば、前述のとお
り、オーディオ系に起因した広い周波数範囲を有するオ
ーディオ妨害は発生しない。したがって、予備測定で、
RF系に起因するビート妨害の発生周波数のみを検出し
て、検出された周波数の極く狭い近傍に各周波数に対し
てのみ振幅変調を復帰して正規の妨害発生レベルの測定
を実施すれば、RF系に起因する妨害の周波数と妨害発生
レベルを能率的に測定できる。

また、オーディオアンプ系に起因する妨害は広い周波数
範囲で発生するので、前記Ｒ系に起因するビート妨害を
考慮に入れずに、測定周波数間隔をある程度広く設定
し、高速で掃引が可能となる。

よって、妨害発生要因の種類に応じて別々測定すること
によって、全体として測定能率を向上できる。

［実施例］ 以下本発明の一実施例を図面を用いて説明する。

第１図は実施例の妨害耐性測定装置の概略構成を示すブ
ロック図である。第５図と同一部分には同一符号が付し
てある。

希望信号発振器２から出力された前述した［表１］に規
定されたFM変調された希望信号ａはインピーダンス変換
器３を介して供試機器１のアンテナ端子ANTへ入力され
る。また、トラッキング発振器で形成された不要信号発
生回路21の振幅変調された出力信号はRF増幅器８で増幅
され、ハイパスフィルタ９で100k Hz以下の低周波数成
分が除去された後、［表２］に規定された不要信号ｂと
して擬似電源回路５を介して供試機器１へ入力される。
不要信号発生回路21から出力される不要信号ａの周波数
は妨害波アナライザ22の横軸（周波数軸）と同一であ
る。

一方、供試機器１の左右のオーディオ出力端子に接続さ
れた擬似負荷回路10a,10bのうちの一方の擬似負荷回路1
0aの出力信号がBPF11を介してAF電圧計23へ入力され
る。このAF電圧計23は、図示するように、主に、測定レ
ンジを例えば10dB毎に切換えるレンジ切換器23aと、増
幅器23bと、検波器23cと表示器23dとで構成されてい
る。そして、増幅器23bのAC出力信号がオシロスコープ1
3へ印加され、検波器23cのDC出力信号が前記妨害波アナ
ライザ22の縦軸（レベル軸）入力端子へ印加される。

前記AF電圧計23の表示器23dは、第５図に示したAF電圧
計12と同様にdB表示する。そして、測定レンジはレンジ
切換器23aで10dBに切換える。

前記妨害波アナライザ22は、内部に対数変換回路が組込
まれており、AF電圧計23の出力信号のレベルを不要信号
発生回路21から出力された周波数に同期してdB表示す
る。表示画面22aには、第２図に示すように、0dBから−
50dBまでの目盛りが付してある。そして、AF電圧計23の
直流出力電圧が約1V（基準電圧）のとき表示レベルが−
10dBを示すようにゲイン調整されている。このような妨
害波アナライザ22において、第２図に示した表示画面22
aにおいて、30〜40dBの範囲がAF電圧計23の測定レンジ
を切換えることなく測定できる。

また、不要信号発生回路21および妨害波アナライザ22の
動作は例えばパーソナルコンピユータ等で構成された制
御部24で制御される。

この制御部24は、不要信号発生回路21を制御して供試機
器１へ入力される不要信号ｂの掃引周波数およびAF電圧
計23から妨害波アナライザ22への出力信号の信号レベル
を検出する周波数，不要信号ｂの［表１］の限度値から
の変化量で示す信号レベルを自動設定する。

この実施例においては、不要信号ｂを規格通りに振幅変
調した状態で測定する測定条件と、不要信号ｂの振幅変
調を遮断した状態で測定する測定条件との２種類の測定
条件がある。

そして、規格通りに振幅変調した状態で測定する測定条
件においては、不要信号ｂにおける0.15〜150M Hzの周
波数範囲を第４図に示すように、５回に分割して掃引す
る。従って、１回の掃引の周波数範囲（周波数スパン）
は30M Hzとなる。よって、妨害波アナライザ22の表示画
面22aには第３図に示すように、１回の掃引の周波数範
囲が横軸一杯に表示される。また、不要信号ｂの信号レ
ベルは前述した限度値＋10dBから、限度値−30dBまで、
50dB毎に９段階に設定可能である。

そして、掃引速度は前記30M Hzの周波数範囲を0.15sで
掃引する速度に設定されている。また、１回掃引した場
合に各周波数における信号レベル比較に要する比較処理
時間は約0.5sである。

次に、不要信号ｂの振幅変調を遮断した状態で測定する
測定条件においては、上記規格通りの測定条件に対し
て、１回の掃引の周波数範囲（周波数スパン）を10M Hz
に設定する。さらに、掃引速度を10M Hzの周波数範囲を
1sで掃引する速度に変更する。従って、0.15〜150M Hz
の測定周波数範囲を15sで掃引する。また、不要信号ｂ
の信号レベルは限度値＋10dBの一種類に固定される。

次に、このように構成された妨害耐性測定装置を用いて
供試機器１の妨害耐性を測定する手順を説明する。

（１）先ず、制御部24でもって、不要信号発生回路21の
動作を停止させて、不要信号ｂの供試機器１への印加を
遮断させた状態で、希望信号発振器２を起動する。そし
て、従来装置における第６図に示す手順S1,S2,S3と同様
に供試機器１の音量調整を行い、その時点におけるAF電
圧計23の指示レベルを0dBに設定する。そして、この状
態で、妨害波アナライザ22の表示画面22aの表示レベル
（約1V）を第２図に示すように−10dBとする。

（２）次に、ステレオ変調器４の出力信号を遮断して、
供試機器１へ入力される希望信号ａのFM変調を遮断す
る。そして、その状態でAF電圧計23の測定レンジをレン
ジ切換器23aを操作して、0dBか−20dBへ変更する。従っ
て、（１）の段階で設定した妨害波アナライザ22の表示
レベル−10dB点（約1V）がオーディオ希望信号レベルに
対するS/Nで示すると第２図の左側に示すように、S/N＝
20dBとなる。同様に、表示レベル−30dB（約0.1V）がS/
N＝40dBとなる。

（３）そして、制御部24にて不要信号発生回路21を起動
して、振幅変調された不要信号ｂを出力し、この不要信
号ｂの信号レベルを［表２］に示した限度値に10dB加算
した値に設定する。

（４）そして、前述した規格通りに振幅変調した状態で
測定する測定条件で不要信号発生回路21を制御して掃引
を開始する。すると、供試機器１に妨害が存在する場合
は、第３図に示すオーディオ妨害信号レベル波形25が表
示される。そして、不要信号ｂの信号レベルが限度値＋
10dBに設定されていた場合には、このオーディオ妨害信
号レベル波形25が−40dB（0.1V）レベルを横切る点の周
波数および妨害発生レベル（＋10dB）が記憶される。こ
のように、オーディオ妨害信号レベル波形25が−40dB
（0.1V）レベルを横切る点が検出されると、不要信号ｂ
の信号レベルを5dB低下させて、再度同一周波数範囲を
掃引する。不要信号ｂの信号レベルを低下させれば、オ
ーディオ妨害信号レベル波形25の全体のレベルが下方へ
移動するので、この波形25が−40dB（0.1V）レベルを横
切る点の周波数も移動する。そして、この点の周波数の
妨害発生レベル（−5dB）が記憶される。このように、
オーディオ妨害信号レベル波形25が−40dB（0.1V）レベ
ル以下になるまで、不要信号ｂの信号レベルを順次低下
させていく。オーディオ妨害信号レベル波形25が−40dB
（0.1V）レベル以下になると、該当周波数範囲の測定を
終了して、次の周波数範囲へ掃引位置を移動させてい
く。

（５）このように、５区間に分割した各周波数範囲にお
ける測定が終了すると、前記制御部24は測定結果を周波
数を横軸にしてプリンタ等にて第４図に示すように印字
出力する。以上で規格通りに振幅変調した状態での測定
を終了する。

（６）次に、不要信号ｂの振幅変調を遮断した状態で測
定する測定条件で、妨害発生回路21を制御して掃引を開
始する。この場合、不要信号ｂの振幅変調を遮断してい
るので、第７図（ａ）に示すオーディオアンプ系に起因
する妨害は発生しないので、供試機器１の出力端子に現
れるオーディオ妨害信号は同図（ｂ）に示すRF系に起因
するビート妨害のみとなる。したがって、この妨害は極
狭い周波数幅で妨害14bのみとなる。よって、今回の測
定においては、妨害が発生する周波数値のみを検出す
る。

しかして、不要信号ｂの信号レベルを前述した限度値＋
10dBに設定して、掃引を開始する。そして、妨害が存在
する場合には、このオーディオ妨害信号レベルが−40dB
（0.1V）レベルを交差する点の周波数を検出して記憶す
る。このように、周波数範囲を移動しながら合計15回の
掃引を実行する。この場合、一つの周波数範囲は１回し
か掃引しないので、0.15〜150M Hzの周波数範囲を掃引
するのにたった約15sの測定時間となる。

（７）次に、振幅変調を遮断した状態の測定にて得られ
た、各周波数を中心に±100k Hzの周波数に対しての
み、規格通りに振幅変調した状態で不要信号ｂの信号レ
ベルを順次低下させて測定する。なお、この場合の測定
周波数間隔は周波数スパンの0.2％で0,4k Hzであり、前
述した±100k Hz（幅で200k Hz）は、全測定周波数範囲
1.50M HZに対して、1/7.50の値である。したがって、妨
害周波数が7,5個所で発生していた場合、測定時間を全
体の1/100へ時間短縮することが可能である。

（８）このようにして、RF系のビート妨害に起因すると
妨害の周波数と妨害発生レベルが求まると、（５）で印
字出力した第４図に示す測定結果に今回求めたRF系の測
定結果を加入する。しかして、AF系に起因する比較的広
い周波数範囲に現れる妨害の妨害発生レベルとRF系に起
因する非常に狭い周波数で発生する妨害の妨害発生レベ
ルが得られる。

このように構成された妨害耐性測定装置であれば、不要
信号ｂを供試機器１に印加することによってこの不要信
号ｂがオーディオアンプ系に起因する妨害とRF系に起因
するビート妨害とを別々に計測している。そして、比較
的広い周波数範囲で現れるオーディオアンプ系に起因す
る妨害に対しては、比較的広い周波数範囲を高速で掃引
し、オーディオ妨害信号が妨害基準レベル（−40dB）を
越えているか否か判断している。したがって、RF系のビ
ート妨害を見逃すかも知れないが、測定速度を向上でき
る。

一方、RF系のビート妨害を測定する場合は、まず、不要
信号ｂの振幅変調を遮断することによって、比較的広い
周波数範囲を有するAF系に起因する妨害を除去した状態
で、RF系のビート妨害の発生周波数のみを検出する。そ
して、その検出された周波数の近傍のみを振幅変調をか
けた正規の測定条件でごく狭い周波数幅を測定する。こ
の場合、たとえば測定周波数間隔を狭く設定したとして
も、測定点の数が少ないので、測定に要する時間が長く
なることはない。

例えば、第４図に示すような妨害が生じた場合には５分
割された各周波数範囲においては不要信号ｂの信号レベ
ルを変更して平均６回掃引を行っており、各掃引を実行
した場合に処理時間が前述したように約0.5sであれば、
正規条件で測定するのに必要な時間は、約15秒となる。
さらに、RF系に起因するビート妨害の発生周波数を検出
するのに前述したように15秒間必要とし、検出された各
周波数近傍に存在するRF系に起因するビート妨害の妨害
発生レベルを正規条件で測定するのにたとえ同程度の15
秒を必要としたとしても、合計正味測定時間は１分に満
たない。

従って、全体の測定時間を大幅に短縮できる。また、オ
ーディオアンプ系に起因する妨害とRF系に起因するビー
ト妨害とを操作者の目視に頼らず、自動的に判定できる
ので、全体の測定時間を大幅に増大することなく、供試
機器１に対する妨害耐性の自動測定が可能となる。

よって、たとえこの測定に熟達した操作者でなくとも、
簡単な操作で確実に測定を実行できる。

なお、本発明は上述した実施例に限定されるものではな
い。実施例装置においては、不要信号ｂが電源端子PWか
ら入力される場合における妨害耐性を測定する場合につ
いて説明したが、不要信号を供試機器の出力端子へ印加
した場合や、アンテナ端子に印加した場合における妨害
耐性を測定することも可能である。

［発明の効果］ 以上説明したように本発明の妨害耐性測定装置によれ
ば、RF系に起因するビート妨害を振幅変調を遮断した状
態の不要信号を使用して妨害発生の周波数のみを予め検
出することにより、その特定周波数以外に対しては比較
的広い周波数毎に妨害発生レベルを検出していくことが
でき、測定および処理時間を短縮できるので、自動設定
が可能となり、測定の作業能率および操作性を大幅に向
上できる。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第４図は本発明の一実施例に係わる妨害耐性
測定装置を示すものであり、第１図は概略構成を示すブ
ロック図、第２図および第３図は妨害波アナライザの表
示画面を示す図、第４図は測定結果を示す図であり、第
５図は従来の妨害耐性測定装置の概略構成を示すブロッ
ク図、第６図は同従来装置の動作を示す流れ図、第７図
は同測定装置での測定結果を示す図である。 １……供試機器、２……希望信号発振器、４……ステレ
オ変調器、５……擬似電源回路、８……RF増幅器、10a,
10b……擬似負荷回路、13……オシロスコープ、21……
不要信号発生回路、22……妨害波アナライザ、22a……
表示画面、23……AF電圧計、24……制御部、25……オー
ディオ妨害信号レベル波形。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】オーディオ周波数（AF）信号で振幅変調さ
   れた高周波信号を不要信号として供試機器の一つの入出
   力端子に印加し、前記不要信号の搬送周波数を所定周波
   数範囲内で掃引しながら、前記供試機器のオーディオ出
   力端子に前記不要信号に起因して現れるオーディオ妨害
   信号のレベルが所定の妨害基準に達するときの前記不要
   信号の信号レベルを測定する妨害耐性測定装置におい
   て、 前記供試機器の主としてオーディオアンプ系が前記不要
   信号のAF信号による振幅変調成分に起因する妨害に対応
   して、高速で所定周波数範囲を掃引し、オーディオ妨害
   信号レベルが前記妨害基準値となるときの不要信号の周
   波数とレベルとを測定する妨害耐性の高速測定手段と、 前記不要信号における振幅変調を除去した状態で前記搬
   送周波数を前記所定周波数範囲で掃引しながら印加し
   て、前記搬送成分に起因して現れるビート妨害の発生周
   波数を検出する予備測定手段と、 この予備測定手段にて得られた各妨害発生周波数の近傍
   を前記不要信号における振幅変調を復帰させた状態で搬
   送周波数をごく狭い範囲で掃引しながら印加して、前記
   オーディオ妨害信号レベルが前記妨害基準値となるとき
   の前記不要信号のレベルを測定する信号レベル測定手段
   とを備えた妨害耐性測定装置。