JP2735492B2 - 電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法 - Google Patents
電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法Info
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Description
し、前記電子機器の電磁波耐性を確認する試験方法に関
する。
された電子機器のEMC(Electro Magnetic Compatibi
lity)試験、すなわち電磁環境適合性試験を行なってい
る。このEMC試験のうちの1つとして、電子機器に電
磁波を照射し、前記電子機器がどの周波数レベルで誤動
作するかを確認する、いわゆる電磁波耐性レベル試験が
ある。
ては、IEC規格801−3がある。このIEC規格8
01−3で規定されている試験法は、図2に示すように
内壁に電磁波吸収体21を付設したセル22内に供試器
23をセットし、セル22内に設けたアンテナ24より
供試器23に規定の電界強度で1KHz、80%変調率
のAM変調波を80MHzから1GHzまで照射して、
前記供試器23の電磁波耐性レベルを確認することとな
っている。
によって誤動作する場合、外来電磁波の周波数スペクト
ラム間隔は最小で約10KHz程度であることが確認さ
れており、80MHzから1GHzまで、前記約10K
Hzごとに測定を繰り返えしている。また、機器の誤動
作を認識するためには、前記各測定ごとに最小でも1秒
間以上の観測時間が必要とされている。
zから1GHzまでもれなく試験し、電子機器の供試器
の誤動作する周波数を検出するためには、10KHz毎
に1秒間程度の滞在時間を要して規定の電界を全周波数
にわたって掃引しなければならない。
92.000秒(25.6時間) が必要となる。さらに試験は供試器の4面に対し垂直、
水平の両偏波モードで行なうとされており、これによっ
て25.6時間×8=204.8時間という膨大な試験
時間を要するという問題があった。
M変調波にFM変調波を重畳する方法がある。すなわ
ち、FM変調デビエーション周波数×2の周波数間隔で
バウンダリーに掃引すれば全周波数掃引の試験と等価と
なり、漏れなく試験できることとなる。一例として50
KHzデビエーションのFM変調波をAM変調波に重畳
させれば204.8時間/10=20.4時間で試験が
完了することとなる。しかしながら、この試験方法でも
相当の試験時間を必要とし、試験の大きな問題となって
いた。
時間を大幅に短縮できる電子機器の電磁波耐性レベルの
試験方法を提供することを目的とする。
に本発明の電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法は、
ホワイトノイズ信号をフィルターで帯域制限し、前記フ
ィルター通過帯域毎のホワイトノイズ信号で供試器に照
射する電磁波の周波数範囲を掃引する第1の手順と、前
記第1の手順による供試器の誤動作周波数帯域検知時
に、誤動作周波数帯域をAM,FM混変調波で掃引する
第2の手順と、前記第2の手順で検知された周波数範囲
をAM変調波で掃引して誤動作周波数を検知する第3の
手順よりなる電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法と
する。
帯域毎のホワイトノイズ信号で大まかに広い周波数を掃
引して供試器の誤動作周波数帯域を検知し、第2の手順
において、前記誤動作周波数帯域をAM,FM混変調波
で掃引してより狭い誤動作周波数範囲を検知し、第3の
手順において、前記誤動作周波数範囲をAM変調波で掃
引して誤動作周波数を検知する。
実施例はホワイトノイズ(以下WNと記す)の信号発生
源を用い、第1の手順としてトラッキング方式のバンド
パスフィルタで帯域を制限したWN信号をフィルター通
過帯域毎にバウンダリーに照射電磁波の80MHz〜1
GHzを掃引する。このことにより全周波数掃引の試験
と等価となり、漏れなく試験できる。一例としてフィル
ターの通過帯域幅を2%とした場合、最大120ポイン
トの周波数のバウンダリーな掃引で全周波数掃引が完了
し、したがって試験時間は120秒×8=960秒(1
6分)となる。
れ、その誤動作周波数帯域周波数を特定する場合は、第
2の手順として、その誤動作周波数帯域の範囲をAM,
FM混変調波で掃引し、誤動作発生周波数の範囲を狭め
る。
誤動作発生周波数範囲をAM変調波で掃引し、目的の誤
動作周波数が求められる。一例として供試器の100M
Hzに誤動作発生周波数が存在した場合、WH試験時間
16分+AM,FM混変調波による試験20秒+AM変
調波による試験時間10秒=16.5分で誤動作周波数
を特定できることとなる。また、100MHz以外にも
誤動作発生周波数が存在した場合は、一周波数当りプラ
ス約1分で誤動作周波数を特定できることとなる。
テムのブロック図を示し、1はWN信号発生器であり、
第1の手順としてWN信号はトラッキング方式のバンド
パスフィルタ2によって周波数帯域制限され、スイッチ
ユニット3を介して、セル4中のアンテナ5に導かれ、
ターンテーブル6上の供試器7に照射される。そして前
記周波数帯域制限されたWN信号は順次に周波数帯域を
変えられて送られる。前記供試器7はアンテナよりなる
センサ8によって誤動作周波数帯域を検出するようにな
っており、その状態は測定器9によって測定され、また
プリンタ10によってプリントアウトすることができ
る。
知されたとき、第2の手順として、信号発生器11より
AM,FM混変調波を得て、これをスイッチユニット3
を有して同様にアンテナ5に送り、誤動作周波数帯域よ
り狭められた誤動作周波数範囲を検出する。さらに第3
の手順として信号発生器11よりAM変調波を得て、ス
イッチユニット3よりアンテナ5に送り、さらに誤動作
周波数範囲より誤動作周波数を検出する。
ト3に接続され、低域と高域の周波数を別々に増幅する
増幅器、14は通過型電力計、15はパワーメータ、1
6はテーブルコントローラ、17はアンテナ5のタワー
コントローラであり、これらを含めて全機能要素はCP
U18によって制御されるようになっている(図中の太
線は制御系を示す)。
るものではなく、周波数、掃引のためのWN信号、A
M,FM混変調周波数、AM変調波を発生する機能をも
つものであればよい。
本発明の電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法は、特
にホワイトノイズ信号を用い、そしてこれをフィルター
で帯域を制限し、そのフィルター通過帯域毎にバウンダ
リーに掃引するようにしているので全周波数掃引の試験
と等価で漏れなく試験ができ、しかも、まずわずかの測
定回数で大まかに電子機器の誤動作周波数帯域を検出で
き、以後にこれを細分して試験して誤動作周波数を検出
できるので、全体として試験時間が大幅に短縮できるも
のであり、試験の信頼性を確保しつつ、より簡便で効率
的な試験方法であり、その実用的価値の大きいものであ
る。
ク図
Claims (1)
- 【請求項1】 ホワイトノイズ信号をフィルターで帯域
制限し、前記フィルター通過帯域毎のホワイトノイズ信
号で供試器に照射する電磁波の周波数範囲を掃引する第
1の手順と、前記第1の手順による供試器の誤動作周波
数帯域検知時に、誤動作周波数帯域をAM,FM混変調
波で掃引する第2の手順と、前記第2の手順で検知され
た周波数範囲をAM変調波で掃引して誤動作周波数を検
知する第3の手順よりなる電子機器の電磁波耐性レベル
の試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6269185A JP2735492B2 (ja) | 1994-11-02 | 1994-11-02 | 電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6269185A JP2735492B2 (ja) | 1994-11-02 | 1994-11-02 | 電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08129045A JPH08129045A (ja) | 1996-05-21 |
JP2735492B2 true JP2735492B2 (ja) | 1998-04-02 |
Family
ID=17468871
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6269185A Expired - Fee Related JP2735492B2 (ja) | 1994-11-02 | 1994-11-02 | 電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2735492B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4526945B2 (ja) * | 2004-12-28 | 2010-08-18 | マスプロ電工株式会社 | Emc試験用アンテナ装置及びemc試験装置 |
KR101150255B1 (ko) * | 2009-10-16 | 2012-06-12 | 한국과학기술원 | 온라인 전기 차량용 전자파 내성 시험 장치 및 시험 방법 |
WO2011096054A1 (ja) * | 2010-02-03 | 2011-08-11 | 独立行政法人情報通信研究機構 | 検査装置、ならびに、検査方法 |
-
1994
- 1994-11-02 JP JP6269185A patent/JP2735492B2/ja not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
KEC情報 NO.147,PP.16−18,1993 社団法人関西電子工業振興センター発行 |
電磁環境工学情報EMC VOL.4,NO.6,PP.69−71,1991 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08129045A (ja) | 1996-05-21 |
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