JPH08129045A - 電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法 - Google Patents
電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法Info
- Publication number
- JPH08129045A JPH08129045A JP6269185A JP26918594A JPH08129045A JP H08129045 A JPH08129045 A JP H08129045A JP 6269185 A JP6269185 A JP 6269185A JP 26918594 A JP26918594 A JP 26918594A JP H08129045 A JPH08129045 A JP H08129045A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 試験の信頼性を確保しつつ簡便に、かつ効率
的な電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法を提供す
る。 【構成】 フィルター通過帯域毎のホワイトノイズ信号
で電磁波の周波数範囲を掃引する第１の手順と、第１の
手順による誤動作周波数帯域をＡＭ，ＦＭ混変調波で掃
引する第２の手順と、第２の手順で検知された誤動作周
波数範囲をＡＭ変調波で掃引して誤動作周波数を検知す
る第３の手順よりなる電子機器の電磁波耐性レベルの試
験方法とする。
的な電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法を提供す
る。 【構成】 フィルター通過帯域毎のホワイトノイズ信号
で電磁波の周波数範囲を掃引する第１の手順と、第１の
手順による誤動作周波数帯域をＡＭ，ＦＭ混変調波で掃
引する第２の手順と、第２の手順で検知された誤動作周
波数範囲をＡＭ変調波で掃引して誤動作周波数を検知す
る第３の手順よりなる電子機器の電磁波耐性レベルの試
験方法とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電子機器に電磁波を照射
し、前記電子機器の電磁波耐性を確認する試験方法に関
する。
し、前記電子機器の電磁波耐性を確認する試験方法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】一般に電子機器製造者においては、製造
された電子機器のＥＭＣ（Electro Magnetic Compatibi
lity）試験、すなわち電磁環境適合性試験を行なってい
る。このＥＭＣ試験のうちの１つとして、電子機器に電
磁波を照射し、前記電子機器がどの周波数レベルで誤動
作するかを確認する、いわゆる電磁波耐性レベル試験が
ある。
された電子機器のＥＭＣ（Electro Magnetic Compatibi
lity）試験、すなわち電磁環境適合性試験を行なってい
る。このＥＭＣ試験のうちの１つとして、電子機器に電
磁波を照射し、前記電子機器がどの周波数レベルで誤動
作するかを確認する、いわゆる電磁波耐性レベル試験が
ある。
【０００３】従来、この電磁波耐性レベル試験方法とし
ては、ＩＥＣ規格８０１−３がある。このＩＥＣ規格８
０１−３で規定されている試験法は、図２に示すように
内壁に電磁波吸収体２１を付設したセル２２内に供試器
２３をセットし、セル２２内に設けたアンテナ２４より
供試器２３に規定の電界強度で１ＫＨｚ、８０％変調率
のＡＭ変調波を８０ＭＨｚから１ＧＨｚまで照射して、
前記供試器２３の電磁波耐性レベルを確認することとな
っている。
ては、ＩＥＣ規格８０１−３がある。このＩＥＣ規格８
０１−３で規定されている試験法は、図２に示すように
内壁に電磁波吸収体２１を付設したセル２２内に供試器
２３をセットし、セル２２内に設けたアンテナ２４より
供試器２３に規定の電界強度で１ＫＨｚ、８０％変調率
のＡＭ変調波を８０ＭＨｚから１ＧＨｚまで照射して、
前記供試器２３の電磁波耐性レベルを確認することとな
っている。
【０００４】一方、通常のデジタル機器が外来の電磁波
によって誤動作する場合、外来電磁波の周波数スペクト
ラム間隔は最小で約１０ＫＨｚ程度であることが確認さ
れており、８０ＭＨｚから１ＧＨｚまで、前記約１０Ｋ
Ｈｚごとに測定を繰り返えしている。また、機器の誤動
作を認識するためには、前記各測定ごとに最小でも１秒
間以上の観測時間が必要とされている。
によって誤動作する場合、外来電磁波の周波数スペクト
ラム間隔は最小で約１０ＫＨｚ程度であることが確認さ
れており、８０ＭＨｚから１ＧＨｚまで、前記約１０Ｋ
Ｈｚごとに測定を繰り返えしている。また、機器の誤動
作を認識するためには、前記各測定ごとに最小でも１秒
間以上の観測時間が必要とされている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記のように８０ＭＨ
ｚから１ＧＨｚまでもれなく試験し、電子機器の供試器
の誤動作する周波数を検出するためには、１０ＫＨｚ毎
に１秒間程度の滞在時間を要して規定の電界を全周波数
にわたって掃引しなければならない。
ｚから１ＧＨｚまでもれなく試験し、電子機器の供試器
の誤動作する周波数を検出するためには、１０ＫＨｚ毎
に１秒間程度の滞在時間を要して規定の電界を全周波数
にわたって掃引しなければならない。
【０００６】ここで前記滞在時間を１秒とすると、 ｛（１ＧＨｚ−８０ＭＨｚ）／１０ＫＨｚ）｝×１秒＝
９２．０００秒（２５．６時間） が必要となる。さらに試験は供試器の４面に対し垂直、
水平の両偏波モードで行なうとされており、これによっ
て２５．６時間×８＝２０４．８時間という膨大な試験
時間を要するという問題があった。
９２．０００秒（２５．６時間） が必要となる。さらに試験は供試器の４面に対し垂直、
水平の両偏波モードで行なうとされており、これによっ
て２５．６時間×８＝２０４．８時間という膨大な試験
時間を要するという問題があった。
【０００７】前記試験時間を短縮する一手段として、Ａ
Ｍ変調波にＦＭ変調波を重畳する方法がある。すなわ
ち、ＦＭ変調デビエーション周波数×２の周波数間隔で
バウンダリーに掃引すれば全周波数掃引の試験と等価と
なり、漏れなく試験できることとなる。一例として５０
ＫＨｚデビエーションのＦＭ変調波をＡＭ変調波に重畳
させれば２０４．８時間／１０＝２０．４時間で試験が
完了することとなる。しかしながら、この試験方法でも
相当の試験時間を必要とし、試験の大きな問題となって
いた。
Ｍ変調波にＦＭ変調波を重畳する方法がある。すなわ
ち、ＦＭ変調デビエーション周波数×２の周波数間隔で
バウンダリーに掃引すれば全周波数掃引の試験と等価と
なり、漏れなく試験できることとなる。一例として５０
ＫＨｚデビエーションのＦＭ変調波をＡＭ変調波に重畳
させれば２０４．８時間／１０＝２０．４時間で試験が
完了することとなる。しかしながら、この試験方法でも
相当の試験時間を必要とし、試験の大きな問題となって
いた。
【０００８】本発明は、前記従来の問題に留意し、試験
時間を大幅に短縮できる電子機器の電磁波耐性レベルの
試験方法を提供することを目的とする。
時間を大幅に短縮できる電子機器の電磁波耐性レベルの
試験方法を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明の電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法は、
ホワイトノイズ信号をフィルターで帯域制限し、前記フ
ィルター通過帯域毎のホワイトノイズ信号で供試器に照
射する電磁波の周波数範囲を掃引する第１の手順と、前
記第１の手順による供試器の誤動作周波数帯域検知時
に、誤動作周波数帯域をＡＭ，ＦＭ混変調波で掃引する
第２の手順と、前記第２の手順で検知された周波数範囲
をＡＭ変調波で掃引して誤動作周波数を検知する第３の
手順よりなる電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法と
する。
に本発明の電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法は、
ホワイトノイズ信号をフィルターで帯域制限し、前記フ
ィルター通過帯域毎のホワイトノイズ信号で供試器に照
射する電磁波の周波数範囲を掃引する第１の手順と、前
記第１の手順による供試器の誤動作周波数帯域検知時
に、誤動作周波数帯域をＡＭ，ＦＭ混変調波で掃引する
第２の手順と、前記第２の手順で検知された周波数範囲
をＡＭ変調波で掃引して誤動作周波数を検知する第３の
手順よりなる電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法と
する。
【００１０】
【作用】上記第１の手順においては、まずフィルタ通過
帯域毎のホワイトノイズ信号で大まかに広い周波数を掃
引して供試器の誤動作周波数帯域を検知し、第２の手順
において、前記誤動作周波数帯域をＡＭ，ＦＭ混変調波
で掃引してより狭い誤動作周波数範囲を検知し、第３の
手順において、前記誤動作周波数範囲をＡＭ変調波で掃
引して誤動作周波数を検知する。
帯域毎のホワイトノイズ信号で大まかに広い周波数を掃
引して供試器の誤動作周波数帯域を検知し、第２の手順
において、前記誤動作周波数帯域をＡＭ，ＦＭ混変調波
で掃引してより狭い誤動作周波数範囲を検知し、第３の
手順において、前記誤動作周波数範囲をＡＭ変調波で掃
引して誤動作周波数を検知する。
【００１１】
【実施例】以下本発明の一実施例について説明する。本
実施例はホワイトノイズ（以下ＷＮと記す）の信号発生
源を用い、第１の手順としてトラッキング方式のバンド
パスフィルタで帯域を制限したＷＮ信号をフィルター通
過帯域毎にバウンダリーに照射電磁波の８０ＭＨｚ〜１
ＧＨｚを掃引する。このことにより全周波数掃引の試験
と等価となり、漏れなく試験できる。一例としてフィル
ターの通過帯域幅を２％とした場合、最大１２０ポイン
トの周波数のバウンダリーな掃引で全周波数掃引が完了
し、したがって試験時間は１２０秒×８＝９６０秒（１
６分）となる。
実施例はホワイトノイズ（以下ＷＮと記す）の信号発生
源を用い、第１の手順としてトラッキング方式のバンド
パスフィルタで帯域を制限したＷＮ信号をフィルター通
過帯域毎にバウンダリーに照射電磁波の８０ＭＨｚ〜１
ＧＨｚを掃引する。このことにより全周波数掃引の試験
と等価となり、漏れなく試験できる。一例としてフィル
ターの通過帯域幅を２％とした場合、最大１２０ポイン
トの周波数のバウンダリーな掃引で全周波数掃引が完了
し、したがって試験時間は１２０秒×８＝９６０秒（１
６分）となる。
【００１２】前記第１の手順において誤動作が検知さ
れ、その誤動作周波数帯域周波数を特定する場合は、第
２の手順として、その誤動作周波数帯域の範囲をＡＭ，
ＦＭ混変調波で掃引し、誤動作発生周波数の範囲を狭め
る。
れ、その誤動作周波数帯域周波数を特定する場合は、第
２の手順として、その誤動作周波数帯域の範囲をＡＭ，
ＦＭ混変調波で掃引し、誤動作発生周波数の範囲を狭め
る。
【００１３】さらに第３の手順として、その狭められた
誤動作発生周波数範囲をＡＭ変調波で掃引し、目的の誤
動作周波数が求められる。一例として供試器の１００Ｍ
Ｈｚに誤動作発生周波数が存在した場合、ＷＨ試験時間
１６分＋ＡＭ，ＦＭ混変調波による試験２０秒＋ＡＭ変
調波による試験時間１０秒＝１６．５分で誤動作周波数
を特定できることとなる。また、１００ＭＨｚ以外にも
誤動作発生周波数が存在した場合は、一周波数当りプラ
ス約１分で誤動作周波数を特定できることとなる。
誤動作発生周波数範囲をＡＭ変調波で掃引し、目的の誤
動作周波数が求められる。一例として供試器の１００Ｍ
Ｈｚに誤動作発生周波数が存在した場合、ＷＨ試験時間
１６分＋ＡＭ，ＦＭ混変調波による試験２０秒＋ＡＭ変
調波による試験時間１０秒＝１６．５分で誤動作周波数
を特定できることとなる。また、１００ＭＨｚ以外にも
誤動作発生周波数が存在した場合は、一周波数当りプラ
ス約１分で誤動作周波数を特定できることとなる。
【００１４】図１は前記試験方法を実施するためのシス
テムのブロック図を示し、１はＷＮ信号発生器であり、
第１の手順としてＷＮ信号はトラッキング方式のバンド
パスフィルタ２によって周波数帯域制限され、スイッチ
ユニット３を介して、セル４中のアンテナ５に導かれ、
ターンテーブル６上の供試器７に照射される。そして前
記周波数帯域制限されたＷＮ信号は順次に周波数帯域を
変えられて送られる。前記供試器７はアンテナよりなる
センサ８によって誤動作周波数帯域を検出するようにな
っており、その状態は測定器９によって測定され、また
プリンタ１０によってプリントアウトすることができ
る。
テムのブロック図を示し、１はＷＮ信号発生器であり、
第１の手順としてＷＮ信号はトラッキング方式のバンド
パスフィルタ２によって周波数帯域制限され、スイッチ
ユニット３を介して、セル４中のアンテナ５に導かれ、
ターンテーブル６上の供試器７に照射される。そして前
記周波数帯域制限されたＷＮ信号は順次に周波数帯域を
変えられて送られる。前記供試器７はアンテナよりなる
センサ８によって誤動作周波数帯域を検出するようにな
っており、その状態は測定器９によって測定され、また
プリンタ１０によってプリントアウトすることができ
る。
【００１５】つぎに、供試器７の誤動作周波数帯域が検
知されたとき、第２の手順として、信号発生器１１より
ＡＭ，ＦＭ混変調波を得て、これをスイッチユニット３
を有して同様にアンテナ５に送り、誤動作周波数帯域よ
り狭められた誤動作周波数範囲を検出する。さらに第３
の手順として信号発生器１１よりＡＭ変調波を得て、ス
イッチユニット３よりアンテナ５に送り、さらに誤動作
周波数範囲より誤動作周波数を検出する。
知されたとき、第２の手順として、信号発生器１１より
ＡＭ，ＦＭ混変調波を得て、これをスイッチユニット３
を有して同様にアンテナ５に送り、誤動作周波数帯域よ
り狭められた誤動作周波数範囲を検出する。さらに第３
の手順として信号発生器１１よりＡＭ変調波を得て、ス
イッチユニット３よりアンテナ５に送り、さらに誤動作
周波数範囲より誤動作周波数を検出する。
【００１６】なお、図中の１２，１３はスイッチユニッ
ト３に接続され、低域と高域の周波数を別々に増幅する
増幅器、１４は通過型電力計、１５はパワーメータ、１
６はテーブルコントローラ、１７はアンテナ５のタワー
コントローラであり、これらを含めて全機能要素はＣＰ
Ｕ１８によって制御されるようになっている（図中の太
線は制御系を示す）。
ト３に接続され、低域と高域の周波数を別々に増幅する
増幅器、１４は通過型電力計、１５はパワーメータ、１
６はテーブルコントローラ、１７はアンテナ５のタワー
コントローラであり、これらを含めて全機能要素はＣＰ
Ｕ１８によって制御されるようになっている（図中の太
線は制御系を示す）。
【００１７】なお、本発明は図示システム構成に限られ
るものではなく、周波数、掃引のためのＷＮ信号、Ａ
Ｍ，ＦＭ混変調周波数、ＡＭ変調波を発生する機能をも
つものであればよい。
るものではなく、周波数、掃引のためのＷＮ信号、Ａ
Ｍ，ＦＭ混変調周波数、ＡＭ変調波を発生する機能をも
つものであればよい。
【００１８】
【発明の効果】前記実施例の説明より明らかなように、
本発明の電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法は、特
にホワイトノイズ信号を用い、そしてこれをフィルター
で帯域を制限し、そのフィルター通過帯域毎にバウンダ
リーに掃引するようにしているので全周波数掃引の試験
と等価で漏れなく試験ができ、しかも、まずわずかの測
定回数で大まかに電子機器の誤動作周波数帯域を検出で
き、以後にこれを細分して試験して誤動作周波数を検出
できるので、全体として試験時間が大幅に短縮できるも
のであり、試験の信頼性を確保しつつ、より簡便で効率
的な試験方法であり、その実用的価値の大きいものであ
る。
本発明の電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法は、特
にホワイトノイズ信号を用い、そしてこれをフィルター
で帯域を制限し、そのフィルター通過帯域毎にバウンダ
リーに掃引するようにしているので全周波数掃引の試験
と等価で漏れなく試験ができ、しかも、まずわずかの測
定回数で大まかに電子機器の誤動作周波数帯域を検出で
き、以後にこれを細分して試験して誤動作周波数を検出
できるので、全体として試験時間が大幅に短縮できるも
のであり、試験の信頼性を確保しつつ、より簡便で効率
的な試験方法であり、その実用的価値の大きいものであ
る。
【図１】本発明の試験方法を行うためのシステムブロッ
ク図
ク図
【図２】電磁波耐性レベル試験装置の構成図
１ ＷＮ信号発生器 ２ バンドパスフィルタ ３ スイッチユニット ４ セル ５ アンテナ ７ 供試器 ８ センサ ９ 測定器 １１ 信号発生器
Claims (1)
- 【請求項１】 ホワイトノイズ信号をフィルターで帯域
制限し、前記フィルター通過帯域毎のホワイトノイズ信
号で供試器に照射する電磁波の周波数範囲を掃引する第
１の手順と、前記第１の手順による供試器の誤動作周波
数帯域検知時に、誤動作周波数帯域をＡＭ，ＦＭ混変調
波で掃引する第２の手順と、前記第２の手順で検知され
た周波数範囲をＡＭ変調波で掃引して誤動作周波数を検
知する第３の手順よりなる電子機器の電磁波耐性レベル
の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6269185A JP2735492B2 (ja) | 1994-11-02 | 1994-11-02 | 電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6269185A JP2735492B2 (ja) | 1994-11-02 | 1994-11-02 | 電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08129045A true JPH08129045A (ja) | 1996-05-21 |
| JP2735492B2 JP2735492B2 (ja) | 1998-04-02 |
Family
ID=17468871
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6269185A Expired - Fee Related JP2735492B2 (ja) | 1994-11-02 | 1994-11-02 | 電子機器の電磁波耐性レベルの試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2735492B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006191179A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-20 | Maspro Denkoh Corp | Ｅｍｃ試験用アンテナ装置及びｅｍｃ試験装置 |
| WO2011096054A1 (ja) * | 2010-02-03 | 2011-08-11 | 独立行政法人情報通信研究機構 | 検査装置、ならびに、検査方法 |
| KR101150255B1 (ko) * | 2009-10-16 | 2012-06-12 | 한국과학기술원 | 온라인 전기 차량용 전자파 내성 시험 장치 및 시험 방법 |
-
1994
- 1994-11-02 JP JP6269185A patent/JP2735492B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006191179A (ja) * | 2004-12-28 | 2006-07-20 | Maspro Denkoh Corp | Ｅｍｃ試験用アンテナ装置及びｅｍｃ試験装置 |
| JP4526945B2 (ja) * | 2004-12-28 | 2010-08-18 | マスプロ電工株式会社 | Ｅｍｃ試験用アンテナ装置及びｅｍｃ試験装置 |
| KR101150255B1 (ko) * | 2009-10-16 | 2012-06-12 | 한국과학기술원 | 온라인 전기 차량용 전자파 내성 시험 장치 및 시험 방법 |
| WO2011096054A1 (ja) * | 2010-02-03 | 2011-08-11 | 独立行政法人情報通信研究機構 | 検査装置、ならびに、検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2735492B2 (ja) | 1998-04-02 |
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