JPH0769365B2 - スペクトラムアナライザ - Google Patents
スペクトラムアナライザInfo
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- JPH0769365B2 JPH0769365B2 JP1002132A JP213289A JPH0769365B2 JP H0769365 B2 JPH0769365 B2 JP H0769365B2 JP 1002132 A JP1002132 A JP 1002132A JP 213289 A JP213289 A JP 213289A JP H0769365 B2 JPH0769365 B2 JP H0769365B2
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- JP
- Japan
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- detection circuit
- spectrum
- signal
- peak
- measurement
- Prior art date
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
- G01R23/18—Spectrum analysis; Fourier analysis with provision for recording frequency spectrum
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は被測定信号の各周波数におけるスペクトラム値
を検出して表示器に二次元的に表示するスペクトラムア
ナライザに関する。
を検出して表示器に二次元的に表示するスペクトラムア
ナライザに関する。
［従来の技術］ 例えば電波監視装置等において、受信装置で受信した広
周波数帯域を有した受信信号にどのような周波数成分の
信号が含まれているかを調べる装置として一般にスペク
トラムアナライザが用いられる。このスペクトラムアナ
ライザは周知のように、被測定信号の各周波数値におけ
るスペクトラム値を、周波数を横軸にして例えばCRT表
示器に二次元的に表示する。
周波数帯域を有した受信信号にどのような周波数成分の
信号が含まれているかを調べる装置として一般にスペク
トラムアナライザが用いられる。このスペクトラムアナ
ライザは周知のように、被測定信号の各周波数値におけ
るスペクトラム値を、周波数を横軸にして例えばCRT表
示器に二次元的に表示する。
そして、監視者はCRT表示器に表示されたスペクトラム
特性に含まれるピーク波形の信号レベルと周波数とを読
取って、該当ピーク波形に対応する電波の電波強度と周
波数とを特定する。このように、ピーク波形のスペクト
ラム値から該当電波の電波強度を求める。
特性に含まれるピーク波形の信号レベルと周波数とを読
取って、該当ピーク波形に対応する電波の電波強度と周
波数とを特定する。このように、ピーク波形のスペクト
ラム値から該当電波の電波強度を求める。
一般の電波の強度を調べるには上記の方法で充分である
が、しかし、妨害電波あるいは雑音を評価するために
は、表示される各周波数におけるスペクトラム値を求め
る条件を予め決めておく必要がある。この条件の一つと
してCISPR（国際無線障害特別委員会）規格にQP検波特
性を有したQP検波回路を用いることが記載されている。
すなわち、このQP検波回路には一種の時定数回路が組込
んであり、求められたスペクトラム値から雑音等に起因
する瞬間的なピーク値を除去するようにしている。
が、しかし、妨害電波あるいは雑音を評価するために
は、表示される各周波数におけるスペクトラム値を求め
る条件を予め決めておく必要がある。この条件の一つと
してCISPR（国際無線障害特別委員会）規格にQP検波特
性を有したQP検波回路を用いることが記載されている。
すなわち、このQP検波回路には一種の時定数回路が組込
んであり、求められたスペクトラム値から雑音等に起因
する瞬間的なピーク値を除去するようにしている。
このようなQP検波回路が組込まれたスペクトラムアナラ
イザは例えば第５図に示すように構成されている。すな
わち、入力端子１から入力された被測定信号ａはミキサ
回路２へ入力される。このミキサ回路２には局部発振器
３から局部発振周波数信号ｂが印加されている。しかし
て、ミキサ回路２へ入力された被測定信号ａは中間周波
数信号ｃに周波数変換されたのちBPF（バンドパスフィ
ルタ）４で通過周波数帯域幅が制限され、切換スイッチ
5aを介してピーク検波回路６又は測定用検波回路として
のQP検波回路７へ入力される。いずれか一方の検波回路
6,7で検波された信号は局部発振器３で指定された周波
数におけるスペクトラム値信号ｄとして前記切換スイッ
チ5aに連動する切換スイッチ5bを介してCRT表示器８の
信号入力端子Ｙへ印加される。
イザは例えば第５図に示すように構成されている。すな
わち、入力端子１から入力された被測定信号ａはミキサ
回路２へ入力される。このミキサ回路２には局部発振器
３から局部発振周波数信号ｂが印加されている。しかし
て、ミキサ回路２へ入力された被測定信号ａは中間周波
数信号ｃに周波数変換されたのちBPF（バンドパスフィ
ルタ）４で通過周波数帯域幅が制限され、切換スイッチ
5aを介してピーク検波回路６又は測定用検波回路として
のQP検波回路７へ入力される。いずれか一方の検波回路
6,7で検波された信号は局部発振器３で指定された周波
数におけるスペクトラム値信号ｄとして前記切換スイッ
チ5aに連動する切換スイッチ5bを介してCRT表示器８の
信号入力端子Ｙへ印加される。
また、局部発振器３からミキサ回路２へ送出される局部
発振周波数信号ｂの周波数値は鋸歯状波信号発生回路９
から出力される周期Ｔを有する鋸歯状波信号ｅにおける
波形の電圧値に応じて変化する（すなわち、掃引され
る）。また、この鋸歯状波信号ｅは前記CRT表示器８の
掃引端子Ｘへ掃引信号として印加される。
発振周波数信号ｂの周波数値は鋸歯状波信号発生回路９
から出力される周期Ｔを有する鋸歯状波信号ｅにおける
波形の電圧値に応じて変化する（すなわち、掃引され
る）。また、この鋸歯状波信号ｅは前記CRT表示器８の
掃引端子Ｘへ掃引信号として印加される。
なお、前記ピーク検波回路６内には前記QP検波回路７に
組込まれた遅延回路は組込まれていない。したがって、
BPF4から出力される中間周波数信号のピーク値、すなわ
ちBPF4て分析されたスペクトラムの大きさのピーク値を
スペクトラム値信号ｄとして出力する。
組込まれた遅延回路は組込まれていない。したがって、
BPF4から出力される中間周波数信号のピーク値、すなわ
ちBPF4て分析されたスペクトラムの大きさのピーク値を
スペクトラム値信号ｄとして出力する。
このような構成のスペクトラムアナライザにおいて、切
換スイッチ5a,5bをピーク検波回路６側に接続すると、
鋸歯状波信号発生回路９から一定周期Ｔを有した鋸歯状
波信号ｅが局部発振器３およびCRT表示器８の掃引端子
Ｘへ印加されているので、CRT表示器８には、図示する
ように周波数を横軸として各周波数値に対応するスペク
トラム値が表示される。すなわち、このピーク検波回路
６を用いることによって、スペクトラム特性10上に図示
するような鋭いピーク波形11が生じる。
換スイッチ5a,5bをピーク検波回路６側に接続すると、
鋸歯状波信号発生回路９から一定周期Ｔを有した鋸歯状
波信号ｅが局部発振器３およびCRT表示器８の掃引端子
Ｘへ印加されているので、CRT表示器８には、図示する
ように周波数を横軸として各周波数値に対応するスペク
トラム値が表示される。すなわち、このピーク検波回路
６を用いることによって、スペクトラム特性10上に図示
するような鋭いピーク波形11が生じる。
また、切換スイッチ5a,5bをQP検波回路７側に接続する
と、QP検波回路７に組込まれた時定数回路によって、上
記鋭いピーク波形11はゆるやかなピーク波形となる。
と、QP検波回路７に組込まれた時定数回路によって、上
記鋭いピーク波形11はゆるやかなピーク波形となる。
［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、第５図に示すスペクトラムアナライザに
おいてもまだ次のような問題があった。
おいてもまだ次のような問題があった。
まず、第６図に通常のピーク検波回路６及びCISPR規格
のQP検波回路７を用いて、パルス波形を入力したときの
検波波形との比較を示す。第６図（ａ）に示すように被
測定信号ａとして比較的狭いパルス幅t1を有するパルス
信号が入力した場合においては、ピーク検波された検波
波形のレベルVPとQP検波された検波波形のレベルVQとは
大きく異なるが、同図（ｂ）に示すように被測定信号ａ
として比較的広いパルス幅t2を有するパルス信号が入力
した場合においては、ピーク検波された検波波形のレベ
ルVPとQP検波された検波波形のレベルVQとはほぼ等しく
なる。
のQP検波回路７を用いて、パルス波形を入力したときの
検波波形との比較を示す。第６図（ａ）に示すように被
測定信号ａとして比較的狭いパルス幅t1を有するパルス
信号が入力した場合においては、ピーク検波された検波
波形のレベルVPとQP検波された検波波形のレベルVQとは
大きく異なるが、同図（ｂ）に示すように被測定信号ａ
として比較的広いパルス幅t2を有するパルス信号が入力
した場合においては、ピーク検波された検波波形のレベ
ルVPとQP検波された検波波形のレベルVQとはほぼ等しく
なる。
ところで、第５図に示すスペクトラムアナライザのよう
にミキサ回路２およびBPF4を介して測定する場合、被測
定信号ａとして狭いパルスでしかも低周波数のパルス波
形が入力されると、BPF4は、そのパルス波形が有する高
周波成分のうちBPF4に入る周波数成分を前記パルス波形
のパルス幅の時間だけ出力することになる。このため、
QP検波回路７から出力される信号のレベルは、前記被測
定信号ａの波形がパルス幅が狭いほど、かつ低周波数で
あるほど、すなわち頻度の少ない信号ほど、低くなる。
また、その分、QP検波回路７として必要なダイナミック
レンジ（いわば過負荷係数）が大きくなる。
にミキサ回路２およびBPF4を介して測定する場合、被測
定信号ａとして狭いパルスでしかも低周波数のパルス波
形が入力されると、BPF4は、そのパルス波形が有する高
周波成分のうちBPF4に入る周波数成分を前記パルス波形
のパルス幅の時間だけ出力することになる。このため、
QP検波回路７から出力される信号のレベルは、前記被測
定信号ａの波形がパルス幅が狭いほど、かつ低周波数で
あるほど、すなわち頻度の少ない信号ほど、低くなる。
また、その分、QP検波回路７として必要なダイナミック
レンジ（いわば過負荷係数）が大きくなる。
ところで、被測定信号ａの波形は予め予想できないの
で、QP検波されたスペクトラム値のみでは被測定信号ａ
の信号レベルV0を予測することはできない。よって、QP
検波を行なう場合には、QP検波回路７およびその前後の
飽和を防止するために、第７図に示すように、QP検波回
路７の入力信号レベルを基準レベルより43.5dBだけ低い
値（過負荷係数）に設定するように前記CISPR規格で決
められている。
で、QP検波されたスペクトラム値のみでは被測定信号ａ
の信号レベルV0を予測することはできない。よって、QP
検波を行なう場合には、QP検波回路７およびその前後の
飽和を防止するために、第７図に示すように、QP検波回
路７の入力信号レベルを基準レベルより43.5dBだけ低い
値（過負荷係数）に設定するように前記CISPR規格で決
められている。
しかしながら、QP検波回路７の分析可能なダイナミック
レンジが例えば45dBしかない場合においては、狭いパル
ス幅を有するパルス状の信号に対する実際の測定時にお
ける測定ダイナミックレンジは前記過負荷係数を除いた
測定範囲である1.5dBのみに圧縮され、測定精度が低下
する。
レンジが例えば45dBしかない場合においては、狭いパル
ス幅を有するパルス状の信号に対する実際の測定時にお
ける測定ダイナミックレンジは前記過負荷係数を除いた
測定範囲である1.5dBのみに圧縮され、測定精度が低下
する。
そこで、上記規格を無視して、QP検波回路７の入力信号
レベルを10dBだけ上昇させて、基準レベルから33.5dBだ
け低い値に設定することによって、前記パルス状の信号
の測定ダイナミックレンジを11.5dBに拡大することが考
えられる。
レベルを10dBだけ上昇させて、基準レベルから33.5dBだ
け低い値に設定することによって、前記パルス状の信号
の測定ダイナミックレンジを11.5dBに拡大することが考
えられる。
しかし、この場合においては、狭いパルス幅を有するパ
ルス状の信号が入力してQP検波回路７が飽和したか否か
を確認する術がない。
ルス状の信号が入力してQP検波回路７が飽和したか否か
を確認する術がない。
よって、第５図に示すように、測定用検波回路としての
QP検波回路７の他にピーク検波回路６を設け、最初にピ
ーク検波回路６でもってスペクトラム特性10をCRT表示
器８に表示させて各ピーク波形11の先端部に飽和現象が
生じていないことを確認したのち、切換スイッチ5a,5b
をQP検波回路７側へ切換えて正規の測定を実行すること
が考えられる。
QP検波回路７の他にピーク検波回路６を設け、最初にピ
ーク検波回路６でもってスペクトラム特性10をCRT表示
器８に表示させて各ピーク波形11の先端部に飽和現象が
生じていないことを確認したのち、切換スイッチ5a,5b
をQP検波回路７側へ切換えて正規の測定を実行すること
が考えられる。
しかし、このように切換スイッチ5a,5bで各検波回路6,7
を切換えると、ピーク検波回路６で検波したスペクトラ
ム値の被測定信号と、QP検波回路７で検波したスペクト
ラム値の被測定信号とは、時間的にずれているので、厳
密に同一被測定信号とは言えない。したがって、QP検波
回路７にて検波された各スペクトラム値に対応する被測
定信号がQP検波回路７において絶対に飽和しなかったと
いう確証が得られない問題がある。
を切換えると、ピーク検波回路６で検波したスペクトラ
ム値の被測定信号と、QP検波回路７で検波したスペクト
ラム値の被測定信号とは、時間的にずれているので、厳
密に同一被測定信号とは言えない。したがって、QP検波
回路７にて検波された各スペクトラム値に対応する被測
定信号がQP検波回路７において絶対に飽和しなかったと
いう確証が得られない問題がある。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、
被測定信号を測定用検波回路およびピーク検波回路で同
時に検波し、かつ各スペクトラム値を同時に表示するこ
とにより、測定用検波回路で検波を実行しているときに
被測定信号が該当測定用検波回路において飽和していな
いことを確実に確認でき、測定ダイナミックレンジを大
きく設定して測定精度を向上でき、かつ測定値の信頼性
を向上できるスペクトラムアナライザを提供することを
目的とする。
被測定信号を測定用検波回路およびピーク検波回路で同
時に検波し、かつ各スペクトラム値を同時に表示するこ
とにより、測定用検波回路で検波を実行しているときに
被測定信号が該当測定用検波回路において飽和していな
いことを確実に確認でき、測定ダイナミックレンジを大
きく設定して測定精度を向上でき、かつ測定値の信頼性
を向上できるスペクトラムアナライザを提供することを
目的とする。
また、ピーク検波回路のスペクトラム値が許容限界値を
越えると警告する警告装置を設けることによって、該当
測定用検波回路における飽和発生を確実に確認でき、測
定値の信頼性を向上できるスペクトラムアナライザを提
供することを目的とする。
越えると警告する警告装置を設けることによって、該当
測定用検波回路における飽和発生を確実に確認でき、測
定値の信頼性を向上できるスペクトラムアナライザを提
供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ 上記課題を解消するために本発明は、被測定信号のスペ
クトラムを分析して検波を行い、各周波数におけるスペ
クトラム値を測定するスペクトラムアナライザにおい
て、 検波を行う手段として、検波出力レベルがピーク検波レ
ベルより低い所定の検波特性を有し、被測定信号の各周
波数におけるスペクトラム値を検出する測定用検波回路
と、被測定信号の各周波数におけるピークのスペクトラ
ム値を測定用検波回路と同時に検出するピーク検波回路
とを備え、かつこのピーク検波回路および測定用検波回
路から出力される各周波数における各スペクトラム値を
同一表示画面に表示する表示手段とを備えたものであ
る。
クトラムを分析して検波を行い、各周波数におけるスペ
クトラム値を測定するスペクトラムアナライザにおい
て、 検波を行う手段として、検波出力レベルがピーク検波レ
ベルより低い所定の検波特性を有し、被測定信号の各周
波数におけるスペクトラム値を検出する測定用検波回路
と、被測定信号の各周波数におけるピークのスペクトラ
ム値を測定用検波回路と同時に検出するピーク検波回路
とを備え、かつこのピーク検波回路および測定用検波回
路から出力される各周波数における各スペクトラム値を
同一表示画面に表示する表示手段とを備えたものであ
る。
また、別の発明のスペクトラムアナライザにおいては、
前記測定用検波回路及びピーク検波回路と、このピーク
検波回路から出力される各スペクトラム値が予め定めら
れた許容限界レベルを越えると警告する警告装置とを備
えたものである。
前記測定用検波回路及びピーク検波回路と、このピーク
検波回路から出力される各スペクトラム値が予め定めら
れた許容限界レベルを越えると警告する警告装置とを備
えたものである。
［作 用］ このように構成されたスペクトラムアナライザによれ
ば、被測定信号はピーク検波回路と測定用検波回路で同
時にスペクトラム値が求められ、かつ同時に表示され
る。しかして、ピーク検波回路から出力されたスペクト
ラム値が許容値を越えた場合には、測定用検波回路にお
いて被測定信号が飽和していることが即座に把握でき
る。
ば、被測定信号はピーク検波回路と測定用検波回路で同
時にスペクトラム値が求められ、かつ同時に表示され
る。しかして、ピーク検波回路から出力されたスペクト
ラム値が許容値を越えた場合には、測定用検波回路にお
いて被測定信号が飽和していることが即座に把握でき
る。
また、別の発明のスペクトラムアナライザにおいては、
ピーク検波回路のスペクトラム値は同時に測定された測
定用検波回路のスペクトラム値と同時に表示されない
が、許容限界値を越えると警告装置が警告を発する。し
たがって、警告が発せられると測定用検波回路において
飽和現象が生じたと確認できるので該当データを破棄す
ればよい。
ピーク検波回路のスペクトラム値は同時に測定された測
定用検波回路のスペクトラム値と同時に表示されない
が、許容限界値を越えると警告装置が警告を発する。し
たがって、警告が発せられると測定用検波回路において
飽和現象が生じたと確認できるので該当データを破棄す
ればよい。
［実施例］ 以下本発明の一実施例を図面を用いて説明する。
第１図は実施例のスペクトラムアナライザの概略構成を
示すブロック図である。なお、第５図と同一部分には同
一符号が付してある。すなわち、このスペクトラムアナ
ライザには、ミキサ回路2,局部発振器3,BPF4,ピーク検
波回路6,測定用検波回路としてのQP検波回路7,表示手段
としてのCRT表示器12および鋸歯状波信号発生回路９が
組込まれている。
示すブロック図である。なお、第５図と同一部分には同
一符号が付してある。すなわち、このスペクトラムアナ
ライザには、ミキサ回路2,局部発振器3,BPF4,ピーク検
波回路6,測定用検波回路としてのQP検波回路7,表示手段
としてのCRT表示器12および鋸歯状波信号発生回路９が
組込まれている。
そして、入力端子１を介して被測定信号ａがミキサ回路
２へ入力され、このミキサ回路でもって局部発振器３か
ら入力された局部発振周波数信号ｂでもって周波数変換
されて、中間周波数信号ｃとしてBPF4へ印加される。BP
F4はミキサ回路２から出力される中間周波数信号ｃの通
過周波数帯域幅を制限して周波数分解性能を上げる。そ
して、BPF5から出力された周波数帯域が狭められた中間
周波数信号ｃ′のピーク値はピーク検波回路６で検出さ
れて、ピークのスペクトラム値信号d1としてCRT表示器1
2の第１の信号入力端子Y1へ印加される。同時に、前記
中間周波数信号ｃ′は、時定数回路が組込まれている測
定用検波回路としてのQP検波回路７にてQP検波され、測
定用のスペクトラム値信号d2としてCRT表示器12の第２
の信号入力端子Y2に入力される。
２へ入力され、このミキサ回路でもって局部発振器３か
ら入力された局部発振周波数信号ｂでもって周波数変換
されて、中間周波数信号ｃとしてBPF4へ印加される。BP
F4はミキサ回路２から出力される中間周波数信号ｃの通
過周波数帯域幅を制限して周波数分解性能を上げる。そ
して、BPF5から出力された周波数帯域が狭められた中間
周波数信号ｃ′のピーク値はピーク検波回路６で検出さ
れて、ピークのスペクトラム値信号d1としてCRT表示器1
2の第１の信号入力端子Y1へ印加される。同時に、前記
中間周波数信号ｃ′は、時定数回路が組込まれている測
定用検波回路としてのQP検波回路７にてQP検波され、測
定用のスペクトラム値信号d2としてCRT表示器12の第２
の信号入力端子Y2に入力される。
なお、ピーク検波回路６の入力信号レベルとQP検波回路
７の入力信号レベルとは同一値に設定されている。
７の入力信号レベルとは同一値に設定されている。
前記CRT表示器12は、例えば、残光時間の比較的長い、
２チャンネル・チョッピング表示型のオシロスコープで
形成されており、第１および第２の信号入力端子Y1,Y2
に入力されている各スペクトラム値信号d1,d2を一定周
波数でチョッピングして交互に表示する。また、このCR
T表示器12の掃引端子Ｘには鋸歯状波信号発生回路９か
ら出力される周期Ｔを有する鋸歯状波信号ｅが掃引信号
として印加されている。したがって、CRT表示器12には
ピーク検波回路６から出力されたピークのスペクトラム
値信号d1およびQP検波回路７から出力された測定用のス
ペクトラム値信号d2とが周波数を横軸として二次元的に
表示される。そして、ピークのスペクトラム値信号d1に
よるスペクトラム特性10には鋭いピーク波形11が多数存
在するが、測定用のスペクトラム値信号d2によるスペク
トラム特性13のピーク波形14は先のピーク波形11に比較
して格段に小さいものとなる。
２チャンネル・チョッピング表示型のオシロスコープで
形成されており、第１および第２の信号入力端子Y1,Y2
に入力されている各スペクトラム値信号d1,d2を一定周
波数でチョッピングして交互に表示する。また、このCR
T表示器12の掃引端子Ｘには鋸歯状波信号発生回路９か
ら出力される周期Ｔを有する鋸歯状波信号ｅが掃引信号
として印加されている。したがって、CRT表示器12には
ピーク検波回路６から出力されたピークのスペクトラム
値信号d1およびQP検波回路７から出力された測定用のス
ペクトラム値信号d2とが周波数を横軸として二次元的に
表示される。そして、ピークのスペクトラム値信号d1に
よるスペクトラム特性10には鋭いピーク波形11が多数存
在するが、測定用のスペクトラム値信号d2によるスペク
トラム特性13のピーク波形14は先のピーク波形11に比較
して格段に小さいものとなる。
このようなスペクトラムアナライザによれば、入力端子
１から入力された被測定信号ａはQP検波回路７で測定用
のスペクトラム値信号d2に検波されると同時にピーク検
波回路６でもってピークのスペクトラム値信号d1に検波
される。そして、両スペクトラム値信号d2,d1はCRT表示
器12に各スペクトラム特性13,10として同一画面上に表
示される。
１から入力された被測定信号ａはQP検波回路７で測定用
のスペクトラム値信号d2に検波されると同時にピーク検
波回路６でもってピークのスペクトラム値信号d1に検波
される。そして、両スペクトラム値信号d2,d1はCRT表示
器12に各スペクトラム特性13,10として同一画面上に表
示される。
したがって、ピーク検波回路６に対応するスペクトラム
特性10の一つのピーク波形11の信号レベルが予め定めら
れた限界レベルを越えた場合や、ピーク波形11の先端部
分が平坦になって飽和したことが確認されると、たとえ
ばQP検波回路７に対応するスペクトラム特性13のピーク
波形14に飽和現象が確認されなかったとしても、被測定
信号ａに対応する中間周波数信号ｃ′がQP検波回路７内
で飽和していることが確認できる。
特性10の一つのピーク波形11の信号レベルが予め定めら
れた限界レベルを越えた場合や、ピーク波形11の先端部
分が平坦になって飽和したことが確認されると、たとえ
ばQP検波回路７に対応するスペクトラム特性13のピーク
波形14に飽和現象が確認されなかったとしても、被測定
信号ａに対応する中間周波数信号ｃ′がQP検波回路７内
で飽和していることが確認できる。
飽和していることが確認された場合は、ミキサ回路２の
前又は後おいて、図示しない例えば減衰器や増幅器等の
レベル調整回路でQP検波回路７およびピーク検波回路６
の入力段のレベルを調整すればよい。
前又は後おいて、図示しない例えば減衰器や増幅器等の
レベル調整回路でQP検波回路７およびピーク検波回路６
の入力段のレベルを調整すればよい。
逆に、ピーク検波回路６のスペクトラム特性10に飽和現
象が観測されなかった場合は、QP検波回路７においても
飽和現象は発生していないと確認できる。
象が観測されなかった場合は、QP検波回路７においても
飽和現象は発生していないと確認できる。
このように、QP検波回路７が飽和しているか否かを正確
に監視できるので、逆に、スペクトラム特性10に飽和現
象が発生しない上限近傍まで、QP検波回路７の入力信号
レベルをピーク検波回路６の入力信号レベルに連動させ
て上昇させることによって、QP検波回路７における実際
の測定ダイナミックレンジを大きく設定することが可能
となる。よって、スペクトラムアナライザの各スペクト
ラム値の測定精度を向上できる。
に監視できるので、逆に、スペクトラム特性10に飽和現
象が発生しない上限近傍まで、QP検波回路７の入力信号
レベルをピーク検波回路６の入力信号レベルに連動させ
て上昇させることによって、QP検波回路７における実際
の測定ダイナミックレンジを大きく設定することが可能
となる。よって、スペクトラムアナライザの各スペクト
ラム値の測定精度を向上できる。
なお、実施例ではQP検波回路７とピーク検波回路６の入
力レベルを同一としたが、ピーク検波回路６の入力点の
信号を増幅器で増幅してQP検波回路７へ入力してもよ
い。すなわち、予め前記増幅器の増幅度が既知であれ
ば、ピーク検波回路６との対応関係が明らかであり、飽
和の確認もできる。
力レベルを同一としたが、ピーク検波回路６の入力点の
信号を増幅器で増幅してQP検波回路７へ入力してもよ
い。すなわち、予め前記増幅器の増幅度が既知であれ
ば、ピーク検波回路６との対応関係が明らかであり、飽
和の確認もできる。
第２図は本発明の他の実施例に係わるスペクトラムアナ
ライザを示すブロック図である。第１図と同一部分には
同一符号が付してある。
ライザを示すブロック図である。第１図と同一部分には
同一符号が付してある。
この実施例においては、測定用検波回路として第１図に
示したQP検波回路７の他に、入力された信号の一定時間
内における平均値を出力する平均値検波回路15が組込ま
れている。そして、CRT表示器16としてチョッピング表
示制御される３チャンネルのオシロスコープ16が使用さ
れる。すなわち、BPF4から出力された中間周波数信号
ｃ′はピーク検波回路6,QP検波回路７および平均値検波
回路15に同時に並列的に入力される。そして、各検波回
路6,7,15から出力される各スペクトラム値信号d1,d2,d3
はCRT表示器16の各信号入力端子Y1,Y2,Y3へ印加され
る。しかして、CRT表示器16には、ピーク検波回路６に
よるスペクトラム特性10、QP検波回路７によるスペクト
ラム特性13、および平均値検波回路15によるスペクトラ
ム特性17が同時に表示される。
示したQP検波回路７の他に、入力された信号の一定時間
内における平均値を出力する平均値検波回路15が組込ま
れている。そして、CRT表示器16としてチョッピング表
示制御される３チャンネルのオシロスコープ16が使用さ
れる。すなわち、BPF4から出力された中間周波数信号
ｃ′はピーク検波回路6,QP検波回路７および平均値検波
回路15に同時に並列的に入力される。そして、各検波回
路6,7,15から出力される各スペクトラム値信号d1,d2,d3
はCRT表示器16の各信号入力端子Y1,Y2,Y3へ印加され
る。しかして、CRT表示器16には、ピーク検波回路６に
よるスペクトラム特性10、QP検波回路７によるスペクト
ラム特性13、および平均値検波回路15によるスペクトラ
ム特性17が同時に表示される。
図示するように、平均値検波回路15のスペクトラム特性
17においては低周波数のパルス幅の狭いパルス性の信号
のレベルは平均化処理によって減衰されてしまう。した
がって、このようなスペクトラム特性17においても、ピ
ーク検波回路６に対応するスペクトラム特性10における
ピーク波形11の飽和現象を監視することによって、平均
値検波回路15における飽和発生を確実に監視できる。よ
って、第１図の実施例とほぼ同様の効果を得ることが可
能である。
17においては低周波数のパルス幅の狭いパルス性の信号
のレベルは平均化処理によって減衰されてしまう。した
がって、このようなスペクトラム特性17においても、ピ
ーク検波回路６に対応するスペクトラム特性10における
ピーク波形11の飽和現象を監視することによって、平均
値検波回路15における飽和発生を確実に監視できる。よ
って、第１図の実施例とほぼ同様の効果を得ることが可
能である。
なお、QP検波回路７を除去して測定用検波回路を平均値
検波回路15のみとすることも勿論可能である。
検波回路15のみとすることも勿論可能である。
さらに、第１図又は第２図に示す２チャンカネル又は３
チャンネルのチョッピング型オシロスコープで構成され
たCRT表示器12,16の代りに、第４図に示すようなデジタ
ルオシロスコープを用いることも可能である。すなわ
ち、第４図（ａ）においては、入力された各スペクトラ
ム値信号d1,d2はサンプルホールド回路（S/H）およびA/
D変換器を介して各メモリに記憶され、各メモリに記憶
されたデジタルの各スペクトラム値がCPUの制御によっ
て、画面メモリに編集されて、CRTに表示される。ま
た、第４図（ｂ）においては、入力された各スペクトラ
ム値信号d1,d2はS/H回路を経由してマルチプレクサ回路
でA/D変換器に交互に取込まれる構成となっている。
チャンネルのチョッピング型オシロスコープで構成され
たCRT表示器12,16の代りに、第４図に示すようなデジタ
ルオシロスコープを用いることも可能である。すなわ
ち、第４図（ａ）においては、入力された各スペクトラ
ム値信号d1,d2はサンプルホールド回路（S/H）およびA/
D変換器を介して各メモリに記憶され、各メモリに記憶
されたデジタルの各スペクトラム値がCPUの制御によっ
て、画面メモリに編集されて、CRTに表示される。ま
た、第４図（ｂ）においては、入力された各スペクトラ
ム値信号d1,d2はS/H回路を経由してマルチプレクサ回路
でA/D変換器に交互に取込まれる構成となっている。
第３図は本発明のさらに別の実施例に係わるスペクトラ
ムアナライザを示すブロック図である。第１図と同一部
分には同一符号が付してある。
ムアナライザを示すブロック図である。第１図と同一部
分には同一符号が付してある。
この実施例においては、１チャンネルのオシロスコープ
からなるCRT表示器18を使用している。そして、この１
チャンネルのCRT表示器18には、測定用検波回路として
のQP検波回路７から出力される測定用のスペクトラム値
信号d2が信号入力端子Ｙへ印加されている。したがっ
て、CRT表示器18にはQP検波回路７のスペクトラム特性1
3のみが表示される。
からなるCRT表示器18を使用している。そして、この１
チャンネルのCRT表示器18には、測定用検波回路として
のQP検波回路７から出力される測定用のスペクトラム値
信号d2が信号入力端子Ｙへ印加されている。したがっ
て、CRT表示器18にはQP検波回路７のスペクトラム特性1
3のみが表示される。
一方、ピーク検波回路６から出力されるピークのスペク
トラム値信号d1はレベル検出回路19へ入力される。この
レベル検出回路19は前記ピークのスペクトラム値信号d1
が予め定められた許容限界レベルを越えると警告ランプ
20を点灯する。
トラム値信号d1はレベル検出回路19へ入力される。この
レベル検出回路19は前記ピークのスペクトラム値信号d1
が予め定められた許容限界レベルを越えると警告ランプ
20を点灯する。
なお、この場合においても、ピーク検波回路６およびQP
検波回路７の入力信号レベルは同一レベルに設定されて
いる。
検波回路７の入力信号レベルは同一レベルに設定されて
いる。
しかして、監視者はCRT表示器18に表示されたQP検波回
路７のスペクトラム特性13を観測しながら、警告ランプ
20が点灯すると、ピーク検波回路６およびQP検波回路７
において飽和現象が発生したことが即座に把握できる。
よって、先の実施例とほぼ同様の効果を得ることができ
る。
路７のスペクトラム特性13を観測しながら、警告ランプ
20が点灯すると、ピーク検波回路６およびQP検波回路７
において飽和現象が発生したことが即座に把握できる。
よって、先の実施例とほぼ同様の効果を得ることができ
る。
さらに、この実施例においては、１チャンネルのCRT表
示器18を使用しているので、先の実施例に比較して製造
費を低減できる。
示器18を使用しているので、先の実施例に比較して製造
費を低減できる。
また、被測定信号を種々の評価目的に沿って、検波方式
の異なった測定用検波回路を用いる場合、検波の効率，
過負荷係数等が異なるため、１つの信号路にこれらの検
波器を接続して所望の評価をしようとすると、信号路お
よび各検波回路の飽和が問題となる。本発明において
は、このような場合、ピーク検波回路で検波したピーク
値をもとに飽和の有無の確認が可能となる。
の異なった測定用検波回路を用いる場合、検波の効率，
過負荷係数等が異なるため、１つの信号路にこれらの検
波器を接続して所望の評価をしようとすると、信号路お
よび各検波回路の飽和が問題となる。本発明において
は、このような場合、ピーク検波回路で検波したピーク
値をもとに飽和の有無の確認が可能となる。
［発明の効果］ 以上説明したように本発明のスペクトラムアナライザに
よれば、被測定信号を測定用検波回路およびピーク検波
回路で同時に検波し、かつ検波して得られた各スペクト
ラム値を表示器に同時に表示している。したがって、ピ
ーク検波回路に対応するスペクトラム値を監視すること
によって、測定用検波回路で検波を実行しているときに
被測定信号が該当測定用検波回路において飽和していな
いことを確実に確認できる。よって、測定用検波回路の
測定ダイナミックレンジを大きく設定して測定精度を向
上でき、かつ測定値の信頼性を向上できる。
よれば、被測定信号を測定用検波回路およびピーク検波
回路で同時に検波し、かつ検波して得られた各スペクト
ラム値を表示器に同時に表示している。したがって、ピ
ーク検波回路に対応するスペクトラム値を監視すること
によって、測定用検波回路で検波を実行しているときに
被測定信号が該当測定用検波回路において飽和していな
いことを確実に確認できる。よって、測定用検波回路の
測定ダイナミックレンジを大きく設定して測定精度を向
上でき、かつ測定値の信頼性を向上できる。
また、ピーク検波回路のスペクトラム値が許容限界値を
越えると警告する警告装置を設けている。よって、上述
した効果と同様に測定用検波回路における飽和発生を確
実に確認でき、かつ測定値の信頼性を向上できる。
越えると警告する警告装置を設けている。よって、上述
した効果と同様に測定用検波回路における飽和発生を確
実に確認でき、かつ測定値の信頼性を向上できる。
第１図は本発明の一実施例に係わるスペクトラムアナラ
イザの概略構成を示すブロック図、第２図は本発明の他
の実施例に係わるスペクトラムアナライザの概略構成を
示すブロック図、第３図は本発明のさらに別の実施例に
係わるスペクトラムアナライザの概略構成を示すブロッ
ク図、第４図は本発明のさらに別の実施例に係わる表示
器を取出して示したブロック図、第５図は従来のスペク
トラムアナライザを示すブロック図、第６図は被測定信
号波形と検波信号波形との関係を示す波形図、第７図は
従来スペクトラムアナライザの問題点を説明するための
図である。 １……入力端子、２……ミキサ回路、３……局部発振
器、４……BPF、６……ピーク検波回路、７……QP検波
回路、９……鋸歯状波信号発生回路、10,13,17……スペ
クトラム特性、11,14……ピーク波形、15……平均値検
波回路、19……レベル検出回路、20……警告ランプ。
イザの概略構成を示すブロック図、第２図は本発明の他
の実施例に係わるスペクトラムアナライザの概略構成を
示すブロック図、第３図は本発明のさらに別の実施例に
係わるスペクトラムアナライザの概略構成を示すブロッ
ク図、第４図は本発明のさらに別の実施例に係わる表示
器を取出して示したブロック図、第５図は従来のスペク
トラムアナライザを示すブロック図、第６図は被測定信
号波形と検波信号波形との関係を示す波形図、第７図は
従来スペクトラムアナライザの問題点を説明するための
図である。 １……入力端子、２……ミキサ回路、３……局部発振
器、４……BPF、６……ピーク検波回路、７……QP検波
回路、９……鋸歯状波信号発生回路、10,13,17……スペ
クトラム特性、11,14……ピーク波形、15……平均値検
波回路、19……レベル検出回路、20……警告ランプ。
Claims (2)
- 【請求項１】被測定信号のスペクトラムを分析して検波
を行い、各周波数におけるスペクトラム値を測定するス
ペクトラムアナライザにおいて、 前記検波を行う手段として、検波出力レベルがピーク検
波レベルより低い所定の検波特性を有し、前記被測定信
号の各周波数におけるスペクトラム値を検出する測定用
検波回路（７）と、前記被測定信号の各周波数における
ピークのスペクトラム値を前記測定用検波回路と同時に
検出するピーク検波回路（６）とを備え、かっこのピー
ク検波回路および前記測定用検波回路から出力される各
周波数における各スペクトラム値を同一表示画面に表示
する表示手段とを備えたスペクトラムアナライザ。 - 【請求項２】被測定信号のスペクトラムを分析して検波
を行い、各周波数におけるスペクトラム値を表示手段
（18）に二次元的に表示するスペクトラムアナライザに
おいて、 前記検波を行う手段として、検波出力レベルがピーク検
波レベルより低い所定の検波特性を有し、前記被測定信
号の各周波数におけるスペクトラム値を検出する測定用
検波回路（７）と、前記被測定信号の各周波数における
ピークのスペクトラム値を前記測定用検波回路と同時に
検出するピーク検波回路（６）とを備え、かつこのピー
ク検波回路から出力される各スペクトラム値が予め定め
られた許容限界レベルを越えると警告する警告装置（1
9,20）とを備えたスペクトラムアナライザ。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1002132A JPH0769365B2 (ja) | 1989-01-10 | 1989-01-10 | スペクトラムアナライザ |
| US07/455,943 US5119018A (en) | 1989-01-10 | 1989-12-22 | Spectrum analyzer having functions for simultaneously executing plural kinds of detections and displaying resultants thereof |
| EP90100446A EP0379050A1 (en) | 1989-01-10 | 1990-01-10 | Spectrum analyzer having functions for simultaneously executing plural kinds of detections and displaying resultants thereof |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1002132A JPH0769365B2 (ja) | 1989-01-10 | 1989-01-10 | スペクトラムアナライザ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02183170A JPH02183170A (ja) | 1990-07-17 |
| JPH0769365B2 true JPH0769365B2 (ja) | 1995-07-31 |
Family
ID=11520811
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1002132A Expired - Lifetime JPH0769365B2 (ja) | 1989-01-10 | 1989-01-10 | スペクトラムアナライザ |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5119018A (ja) |
| EP (1) | EP0379050A1 (ja) |
| JP (1) | JPH0769365B2 (ja) |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5414635A (en) * | 1991-11-08 | 1995-05-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Oscilloscope with dynamic triggering determination |
| JP2732419B2 (ja) * | 1991-11-19 | 1998-03-30 | 松下電器産業株式会社 | エイリアシング検出方法とその装置 |
| US5825817A (en) * | 1994-07-22 | 1998-10-20 | Anritsu Corporation | Radio wave measuring apparatus for digital communication system |
| US5543779A (en) * | 1995-03-09 | 1996-08-06 | Aspesi; Marc S. | EMI source detector |
| CA2162347C (en) | 1995-11-07 | 2001-01-09 | Gary Gunthorpe | Method and apparatus for high-speed scanning of electromagnetic field levels |
| JPH10336101A (ja) * | 1997-05-30 | 1998-12-18 | Oki Electric Ind Co Ltd | 携帯電話の使用管理システム |
| SE9802277D0 (sv) * | 1998-04-15 | 1998-06-26 | Kjell Andersson | Detekteringsanordning |
| US6225972B1 (en) | 1998-08-13 | 2001-05-01 | Snap-On Tools Company | Oscilloscope display with rail indicator |
| US20040047312A1 (en) * | 2002-04-29 | 2004-03-11 | Peter Muszynski | Method and apparatus for UL interference avoidance by DL measurements and IFHO |
| AU2003240238A1 (en) * | 2002-05-31 | 2003-12-19 | Technische Universitat Munchen | Method and device for detection in the frequency range, based on a time range measurement |
| US6833695B2 (en) * | 2002-07-26 | 2004-12-21 | Agilent Technologies, Inc. | Simultaneous display of data gathered using multiple data gathering mechanisms |
| DE10315372B4 (de) * | 2003-04-03 | 2005-03-31 | Technische Universität München | Verfahren und Vorrichtung zum Bereitstellen eines Messsignals und Vorrichtung zur Erfassung einer elektromagnetischen Störung |
| DE10350063A1 (de) * | 2003-10-27 | 2005-05-25 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Funkstörpegeln mit Frequenznachführung |
| DE112004002262T5 (de) * | 2003-11-28 | 2006-10-26 | Advantest Corp. | Digitale QP Detektionsvorrichtung, Spektrumanalysator aufweisend dieselbe und ein Verfahren zur digitalen QP Detektierung |
| EP1635181A1 (en) * | 2004-09-13 | 2006-03-15 | Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG | Apparatus and method for pulse measurement |
| DE102004048004A1 (de) | 2004-10-01 | 2006-04-06 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Bewertungsgleichrichter für Pulsstörungen |
| JP2007198965A (ja) * | 2006-01-27 | 2007-08-09 | Sony Corp | 妨害電磁波測定システム、妨害電磁波測定方法およびその方法をコンピュータに実行させるためのプログラム |
| JP5582075B2 (ja) * | 2011-03-17 | 2014-09-03 | 富士通株式会社 | ノイズ測定方法、ノイズ測定装置、およびノイズ測定プログラム |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2570139A (en) * | 1946-01-18 | 1951-10-02 | Gen Electric | Cathode-ray image presentation system |
| JPS5822708B2 (ja) * | 1978-02-27 | 1983-05-10 | タケダ理研工業株式会社 | 電界強度測定装置 |
| US4238727A (en) * | 1978-12-22 | 1980-12-09 | Systron-Donner Corporation | Digitally programmable apparatus for generating a substantially linear ramp signal |
| JPS5848067B2 (ja) * | 1979-01-16 | 1983-10-26 | タケダ理研工業株式会社 | 雑音強度測定装置 |
| US4419897A (en) * | 1980-05-06 | 1983-12-13 | Nippon Seiko Kabushiki Kaisha | Apparatus for harmonic oscillation analysis |
| JPS59157574A (ja) * | 1983-02-27 | 1984-09-06 | Anritsu Corp | スペクトラムアナライザ |
| US4975633A (en) * | 1988-04-11 | 1990-12-04 | Anritsu Corporation | Spectrum analyzer having means for displaying spectrum data together with power value thereof |
| DE3817500C1 (ja) * | 1988-05-21 | 1989-10-05 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co Kg, 8000 Muenchen, De |
-
1989
- 1989-01-10 JP JP1002132A patent/JPH0769365B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1989-12-22 US US07/455,943 patent/US5119018A/en not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-01-10 EP EP90100446A patent/EP0379050A1/en not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0379050A1 (en) | 1990-07-25 |
| US5119018A (en) | 1992-06-02 |
| JPH02183170A (ja) | 1990-07-17 |
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