JP2003043439A - 液晶表示装置の基板の洗滌装置及びその洗滌方法 - Google Patents
液晶表示装置の基板の洗滌装置及びその洗滌方法Info
- Publication number
- JP2003043439A JP2003043439A JP2002150965A JP2002150965A JP2003043439A JP 2003043439 A JP2003043439 A JP 2003043439A JP 2002150965 A JP2002150965 A JP 2002150965A JP 2002150965 A JP2002150965 A JP 2002150965A JP 2003043439 A JP2003043439 A JP 2003043439A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- trap
- cleaning
- liquid crystal
- spin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/67034—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for drying
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B15/00—Preventing escape of dirt or fumes from the area where they are produced; Collecting or removing dirt or fumes from that area
- B08B15/04—Preventing escape of dirt or fumes from the area where they are produced; Collecting or removing dirt or fumes from that area from a small area, e.g. a tool
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Drying Of Solid Materials (AREA)
Abstract
気圧の調節を円滑に実行させることができる液晶表示装
置の基板の洗滌装置及び方法を提供する。 【解決手段】 基板を回転させる回転装置が配置された
スピンドライ用のカップと、スピンドライ用のカップの
外郭に設置されて、空気と共に前記回転される基板から
排出される異物が吸入される空気吸入管と、空気吸入管
から吸入された空気及び異物を外部に排気させるトラッ
プと、トラップに設置されてトラップ内の排気圧を調節
する排気圧調節部と、トラップに設置されて回転される
基板から排出される化学薬品や水分を外部に排出させる
ドレンを備える。
Description
の洗滌装置及び方法に関するものであり、より詳細には
基板を洗滌及び乾燥させることにおいて、基板の洗滌時
に排気圧の調節を円滑に実行させることができる液晶表
示装置の基板の洗滌装置及びこれを利用した基板の洗滌
方法に関するものである。
とフォトリソグラフィによって下部ガラス基板に微細な
パターンを形成するアレイ工程と、前記下部ガラス基板
とカラーフィルター基板である上部ガラス基板を付着し
て液晶を注入するセル工程がある。ここで、洗滌工程は
このような諸工程で基板上の有害異物を除去するための
工程であり、全工程の約20ないし30%を占めて、各
工程で除去しなければならない異物の種類も微細である
が異なるために洗滌装置の構成も若干は異にする。
位で処理するバッチ方式と、基板を1枚ずつ洗浄する枚
葉方式があるが、前記枚葉方式は基板を数個ずつ搬送し
てブラシや超音波などを使用して洗滌し、エアーナイフ
またはスピンドライを使用して乾燥させるものであり、
基板の大型化に有利な方式である。
方法を説明するための図面であり、スピンドライユニッ
トを具備した基板の洗滌装置の概略的な断面図である。
に図示されたように、基板14を回転させる回転装置1
2が配置されたスピンドライ用のカップ15と、スピン
ドライ用のカップ15の下端に設置されて回転される基
板14から排出される異物及び化学薬品または水分が外
部に排出される排気ダクト18と、排気ダクト18に設
置されて排気量を調節するための排気ダンパーで構成さ
れる。
トが具備された基板の洗滌装置及び方法を説明する。ま
ず、所定の回転装置12上に基板14が置かれて回転す
るようになれば前記基板14上の異物が遠心力及び空気
の流れにより常にオープンされている排気ダンパー16
を通じて排気ダクト18に排出される。
の洗滌装置において、その使用例を図示した図面であ
る。具体的な使用例は図2に図示されたように、基板の
洗滌装備は総9個であり、各装備当たりスピンドライユ
ニットが3個が連結されていて、スピンドライユニット
の総数は27個である。前記27個のスピンドライユニ
ットはメインダクト20に皆連結されて各スピンドライ
ユニットから排出される排気が前記メインダクト20を
通じて外部大気に排出される。
ドライユニットを使用する液晶表示装置の基板の洗滌装
置及び方法は次のような問題点がある。
によってスピンドライユニットの回転速度が速くなるこ
とによって基板上の異物が非常に大きい遠心力を受ける
ようになって、異物が上昇気流に乗ってスピンドライユ
ニットの壁にぶつかって再び基板上に戻ってくる比率が
大きくなる。これを解決するためには外部からの空気吸
入量が多くなければならず、この結果、基板の洗滌時に
多くの量の排気が必要になる。逆に、排気量が不足する
ようになれば、すなわち、各ユニットの排気圧が不足す
るようになれば、詳述したように基板のスピンドライ工
程時に遠心力による上昇気流のために工程上の不良発生
可能性が高まるようになるという問題点がある。
点を解決するために案出されたものであり、スピンドラ
イユニットのノーマルオープンモードをシグナル変更及
びレシピー変更を通じてノーマルクローズモードに変え
て少ない量の排気量を使用しても装備内のダウンフロー
を強化して原価低減及び工程マージン向上を図ることが
できる液晶表示装置の基板の洗滌装置を提供することを
目的とする。
のノーマルオープンモードをシグナル変更及びレシピー
変更を通じてノーマルクローズモードに変えて少ない量
の排気量を使用しても装備内のダウンフローを強化して
原価低減及び工程マージンの向上を図ることができる液
晶表示装置の基板の洗滌方法を提供することにある。
の本発明による液晶表示装置の基板の洗滌装置は、基板
を回転させる回転装置が配置されたスピンドライ用のカ
ップと、スピンドライ用のカップの外郭に設置され、空
気と共に前記回転される基板から排出される異物が吸入
される空気吸入管と、空気吸入管から吸入された空気及
び異物を外部に排気させるトラップと、トラップに設置
されてトラップ内の排気圧を調節する排気圧調節部と、
トラップに設置されて回転される基板から排出される化
学薬品や水分を外部に排出させるドレンを含むことを特
徴とする。
滌装置及び方法は、請求項1の基板の洗滌装置を提供す
る段階と、回転装置に基板をロードする段階と、マニュ
アルダンパーを手動操作で閉鎖し、基板が前記回転装置
にロードされて洗滌工程が実行される場合にオートダン
パーを自動操作でオープンさせる段階を含むことを特徴
とする。
る本発明の実施の形態に対する以下の説明から明確にな
るであろう。
の基板の洗滌装置及び方法を、添付した図面を参照して
詳細に説明する。図3は本発明による基板の洗滌装置及
びこれを利用した基板の洗滌方法を説明するための図面
であり、スピンドライユニットを具備した基板の洗滌装
置の概略的な断面図である。
置は、基板の洗滌及び乾燥のために一連の装置で構成さ
れたスピンドライユニット100を使用する。
示されたように、基板110を回転させる回転装置12
0が配置されたスピンドライ用のカップ150と、スピ
ンドライ用のカップ150の外郭に設置されて空気と共
に回転される基板110から排出される異物が吸入され
る空気吸入管130と、空気吸入管130から吸入され
た空気及び異物を外部に排気させるミストトラップ14
0と、ミストトラップ140に設置されてミストトラッ
プ140内の排気圧を調節するそれぞれのマニュアルダ
ンパー160及びオートダンパー170と、ミストトラ
ップ140に設置されて回転される基板110から排出
される化学薬品や水分を外部に排出させるドレン180
で構成される。この時、前記マニュアルダンパー160
は手動操作で開閉が制御され、前記オートダンパー17
0は基板110が回転装置120にロードされて洗滌工
程が実行される場合のみにオープンされるようにセッテ
ィングされる。
排気を外部に流出させるためのメインダクト(図示せ
ず)に連結されている。
滌装置及び方法を説明すると次の通りである。
ンドライ用のカップ150内に配置される所定の回転装
置120上に基板110載せた後に、前記回転装置によ
り前記基板110を回転させれば、基板の洗滌時に使用
した化学薬品または水分と、前記基板110の表面に存
在する多様な異物らが遠心力及び前記空気吸入口130
に吸入される空気の流れにより前記ミストトラップ14
0内に流入される。
基板110の表面に埋めていた異物と基板の洗滌時に使
用した化学薬品等の多様な物質らが混在されているが、
ここで、化学薬品や水分のような液体状態の異物は前記
ミストトラップ140の下部に設置されたドレン180
を経由して外部に排出される。
される異物は前記マニュアルダンパー160とオートダ
ンパー170を経由して外部に排出される。ここで、前
記マニュアルダンパー160は必要によって手動で開閉
を制御することができ、前記オートダンパー170は平
常には閉鎖された状態であり、基板110が回転装置1
20にロードされて洗滌工程が実行される場合のみにオ
ープンされるようにセッティングされる。
00の回転装置120に洗滌及び乾燥工程が実行される
基板110がロードされていないと前記ダンパー16
0,170らが常に閉鎖された状態にあるために前記ス
ピンドライユニット100は作動をしない。これにより
排気量を減少させることができ、他の作動中であるスピ
ンドライユニットに十分な排気圧を供給することができ
る。
の回転装置120に洗滌及び乾燥されなければならない
基板110がロードされれば、前記オートダンパー17
0がオープンされてスピンドライユニット100が作動
するようになる。このような一連の作業、すなわち前記
スピンドライユニット100の作動時間及び休止時間な
どを定めた所定の作業順序表を変更して前記スピンドラ
イユニット100を作動させる。
た結果を示した表である。 (実験1)下記の表1は図1に図示されたような従来の
スピンドライユニット、例えば、実際装備であるティ
ー.イ.エル トラックディベロッパー(TEL TR
ACK DEVELOPER)のあらゆる基板の洗滌装
置のダンパーを開放させた場合において、装備1ないし
装備9に設けられた各スピンドライユニット(ユニット
1ないしユニット3)の排気圧を示す表である。ここ
で、単位はパスカル(Pa)である。
ような従来のスピンドライユニット、例えば、実際装備
であるティー.イ.エル トラックディベロッパー(T
EL TRACK DEVELOPER)の装備1のダ
ンパーを閉鎖させた場合において、基板の洗滌装置のう
ち装備2ないし装備9に設けられた各スピンドライユニ
ット(ユニット1ないしユニット3)の排気圧を示す表
である。ここで、単位はパスカル(Pa)である。
ような従来のスピンドライユニット、例えば、実際装備
であるティー.イ.エル トラックディベロッパー(T
EL TRACK DEVELOPER)の装備1及び
2のダンパーを閉鎖させた場合において、各基板の洗滌
装置のうち装備3ないし装備9に設けられた各スピンド
ライユニット(ユニット1ないしユニット3)の排気圧
を示す表である。ここで、単位はパスカル(Pa)であ
る。
ような従来のスピンドライユニット、例えば、実際装備
であるティー.イ.エル トラックディベロッパー(T
EL TRACK DEVELOPER)の装備1ない
し3のダンパーを閉鎖させた場合において、各基板の洗
滌装置のうち装備4ないし装備9に設けられた各スピン
ドライユニット(ユニット1ないしユニット3)の排気
圧を示す表である。ここで、単位はパスカル(Pa)で
ある。
ような従来のスピンドライユニット、例えば、実際装備
であるティー.イ.エル トラックディベロッパー(T
EL TRACK DEVELOPER)の装備1ない
し4のダンパーを閉鎖させた場合において、各基板の洗
滌装置のうち装備5ないし装備9に設けられた各スピン
ドライユニット(ユニット1ないしユニット3)の排気
圧を示す表である。ここで、単位はパスカル(Pa)で
ある。
ような従来のスピンドライユニット、例えば、実際装備
であるティー.イ.エル トラックディベロッパー(T
EL TRACK DEVELOPER)の装備1ない
し5のダンパーを閉鎖させた場合において、各基板の洗
滌装置のうち装備6ないし装備9に設けられた各スピン
ドライユニット(ユニット1ないしユニット3)の排気
圧を示す表である。ここで、単位はパスカル(Pa)で
ある。
るメインダクト内の風速、風量及び増減量を示す表であ
る。ここで、風速単位は秒当たりメートル(M/Se
c)であり、風量単位は分当たりの三乗メートル(CC
M)である。
量の差を表す。
ドライユニットに空気吸入管及びマニュアルダンパー及
びオートダンパーが設けられたトラップを設置し、前記
スピンドライユニットのノーマルオープンモードをシグ
ナル変更及びレシピー変更を通じてノーマルクローズモ
ードに変えて、少ない量の排気量を使用しても装備内の
ダウンフローを強化して原価低減及び工程マージンを向
上させる。したがって、本発明は排気量の減少によって
原価を節減し、排気圧の増加によって工程マージンを向
上させるという効果がある。
するための図面。
した図面。
るための図面。
Claims (4)
- 【請求項1】 基板を洗滌及び乾燥させるスピンドライ
ユニットを具備した液晶表示装置の基板の洗滌装置にお
いて、 前記スピンドライユニットは、 基板を回転させる回転装置が配置されたスピンドライ用
のカップと、 前記スピンドライ用のカップの外郭に設置され、空気と
共に前記回転される基板から排出される異物が吸入され
る空気吸入管と、 前記空気吸入管から吸入された空気及び異物を外部に排
気させるトラップと、 前記トラップに設置されて前記トラップ内の排気圧を調
節する排気圧調節部と、 前記トラップに設置されて前記回転される基板から排出
される化学薬品や水分を外部に排出させるドレンを備え
て構成されることを特徴とする液晶表示装置の基板の洗
滌装置。 - 【請求項2】 前記排気圧調節部は手動操作で開閉を制
御するマニュアルダンパーと、 自動操作で開閉を制御し、前記基板が前記回転装置にロ
ードされて洗滌工程が実行される場合にオープンされる
ようにセッティングされたオートダンパーを備えたこと
を特徴とする請求項1に記載の基板の洗滌装置。 - 【請求項3】 基板を洗滌及び乾燥させるスピンドライ
ユニットを具備した液晶表示装置の基板の洗滌装置にお
いて、 前記スピンドライユニットは、 基板を回転させる回転装置が配置されたスピンドライ用
のカップと、 前記スピンドライ用のカップの外郭に設置されて、空気
と共に前記回転される基板から排出される異物が吸入さ
れる空気吸入管と、 前記空気吸入管から吸入された空気及び異物を外部に排
気させるトラップと、 前記トラップに設置されて前記トラップ内の排気圧を調
節し、手動操作で開閉を制御するマニュアルダンパー及
び自動操作で開閉を制御し、前記基板が前記回転装置に
ロードされて洗滌工程が実行される場合にオープンされ
るようにセッティングされたオートダンパーと、 前記トラップに設置されて前記回転される基板から排出
される化学薬品や水分を外部に排出させるドレンを備え
て構成されることを特徴とする液晶表示装置の基板の洗
滌装置。 - 【請求項4】 請求項1の基板の洗滌装置を準備する段
階と、 前記回転装置に前記基板をロードする段階と、 前記マニュアルダンパーを手動操作で閉鎖し、前記基板
が前記回転装置にロードされて洗滌工程が実行される場
合に前記オートダンパーを自動操作でオープンさせる段
階を備えることを特徴とする液晶表示装置の基板の洗滌
方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0029093A KR100500685B1 (ko) | 2001-05-25 | 2001-05-25 | 액정표시장치용 기판 세정 장치 |
KR2001-029093 | 2001-05-25 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003043439A true JP2003043439A (ja) | 2003-02-13 |
JP3793894B2 JP3793894B2 (ja) | 2006-07-05 |
Family
ID=36637554
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002150965A Expired - Lifetime JP3793894B2 (ja) | 2001-05-25 | 2002-05-24 | 液晶表示装置の基板の洗滌装置及びその洗滌方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6663245B2 (ja) |
JP (1) | JP3793894B2 (ja) |
KR (1) | KR100500685B1 (ja) |
TW (1) | TWI235084B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012161783A (ja) * | 2011-01-21 | 2012-08-30 | Miura Co Ltd | 洗浄装置 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8615663B2 (en) * | 2006-04-17 | 2013-12-24 | Broadcom Corporation | System and method for secure remote biometric authentication |
JP4926678B2 (ja) * | 2006-12-04 | 2012-05-09 | 東京エレクトロン株式会社 | 液浸露光用洗浄装置および洗浄方法、ならびにコンピュータプログラムおよび記憶媒体 |
JP6051919B2 (ja) * | 2012-04-11 | 2016-12-27 | 東京エレクトロン株式会社 | 液処理装置 |
CN102794288A (zh) * | 2012-08-30 | 2012-11-28 | 常州捷佳创精密机械有限公司 | 清洗槽抽风结构 |
CN109604246B (zh) * | 2018-12-17 | 2020-09-29 | 象山维治模具有限公司 | 零件自动清洗装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3563605B2 (ja) * | 1998-03-16 | 2004-09-08 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置 |
-
2001
- 2001-05-25 KR KR10-2001-0029093A patent/KR100500685B1/ko active IP Right Grant
-
2002
- 2002-05-21 TW TW091110656A patent/TWI235084B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-05-23 US US10/154,387 patent/US6663245B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-05-24 JP JP2002150965A patent/JP3793894B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012161783A (ja) * | 2011-01-21 | 2012-08-30 | Miura Co Ltd | 洗浄装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI235084B (en) | 2005-07-01 |
KR20020089983A (ko) | 2002-11-30 |
JP3793894B2 (ja) | 2006-07-05 |
KR100500685B1 (ko) | 2005-07-12 |
US20030072081A1 (en) | 2003-04-17 |
US6663245B2 (en) | 2003-12-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI569111B (zh) | 顯影處理裝置 | |
JP4648973B2 (ja) | 液処理装置および液処理方法 | |
US6287390B2 (en) | Apparatus and method of cleaning nozzle and apparatus of processing substrate | |
US6247479B1 (en) | Washing/drying process apparatus and washing/drying process method | |
US6632289B2 (en) | Substrate cleaning method and substrate cleaning apparatus | |
US5930549A (en) | Developing device for semiconductor device fabrication and its controlling method | |
JPH07132262A (ja) | 浸漬式の液処理装置 | |
KR20090126181A (ko) | 액처리 장치, 액처리 방법 및 기억 매체 | |
TWI692831B (zh) | 處理液供給裝置及其脫氣方法 | |
JP2003043439A (ja) | 液晶表示装置の基板の洗滌装置及びその洗滌方法 | |
JPH09148231A (ja) | 回転式基板処理装置 | |
JP3500315B2 (ja) | 脱気装置及び脱気方法 | |
JP2002170803A (ja) | 基板処理装置 | |
JPH11145099A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2007317927A (ja) | 基板処理ユニットおよび基板処理方法 | |
JP2003218005A (ja) | 処理方法 | |
JP2001015402A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2992206B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP3708880B2 (ja) | 基板の処理方法及び基板の処理装置 | |
JP4298840B2 (ja) | スピン処理装置およびスピン処理方法 | |
JPH07283126A (ja) | 基板の回転式乾燥処理方法及び装置 | |
JP2000294531A (ja) | 枚葉化学処理装置とその運転方法 | |
JP2000156341A (ja) | 液処理システム及び液処理方法 | |
JP2004160335A (ja) | 基板処理装置 | |
JP3489947B2 (ja) | 枚葉化学処理装置と基板の処理方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050901 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050913 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051213 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060314 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060328 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 3793894 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090421 Year of fee payment: 3 |
|
S202 | Request for registration of non-exclusive licence |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R315201 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090421 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090421 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100421 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110421 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120421 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120421 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130421 Year of fee payment: 7 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140421 Year of fee payment: 8 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |