JP2003038435A - 電子内視鏡装置 - Google Patents
電子内視鏡装置Info
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Abstract
て動作させる事のできる電子内視鏡装置を提供する。 【解決手段】 電子内視鏡装置のスコープユニット内に
おいて、CCDのサブストレートの電圧を検出する検出
回路と、CCDの駆動信号を遮断する制御を行う制御手
段とを設置する。検出回路で検出されたサブストレート
電圧が所定の閾値以下に低下している場合は、CCDの
駆動信号を遮断し所定時間後に再投入する。サブストレ
ート電圧が所定の閾値以下に低下していない場合には、
駆動信号は遮断されない。
Description
し、より詳細には電子内視鏡装置の挿入部先端に配置さ
れる撮像素子の駆動制御に関する。
挿入される挿入部を有するスコープユニットと、スコー
プユニットを着脱自在に装着可能であってスコープユニ
ットへ照明光を供給するとともにスコープユニットから
の画像信号を受信し処理して所定規格の映像信号を生成
するプロセッサユニットとから構成される。スコープユ
ニットの挿入部先端には撮像素子(CCD;Charge Cou
pled Device)が配置されており、挿入部先端から照明
光が照射されることによってCCDで受光された被写体
像の画像信号は、スコープユニット内に配設された信号
ケーブルを介して伝送され、その後スコープユニットの
基端部及びプロセッサユニット内部で信号処理され、所
定規格の映像信号としてプロセッサユニットからモニタ
装置に出力される。
けたとき生じ得るブルーミングやスミアの発生を防ぐ為
に、VOD(縦型オーバフロードレイン)構造を有する
ものが提供されている。このようなCCDでは、通常、
サブストレートに印加される電圧(Vsub)は電源電
圧(VDD)を用いて内部発生され正の電圧に設定され
ており、電荷蓄積部が飽和する以上の強い光を受けたと
きに、余剰電荷をサブストレート(基板)内に捨てるこ
とが可能になっている。したがって、電子内視鏡装置に
おいてもこのようなVOD構造を有するCCDを用いる
事が、良好な映像を得る上で望まれることになる。
用いられる電子内視鏡装置は、患者の負担を減らす為に
挿入部の細径化が求められている。そのため、電子内視
鏡装置に用いられるCCDについては特に小型化が求め
られることになり、VOD構造を有するCCDに関して
も小型化が進められることになる。CCDが小型化され
ることによって問題となってくるのが、電荷蓄積部の過
剰電荷をサブストレートに多く蓄えられなくなることで
ある。
サブストレートに過大な電荷が捨てられることによっ
て、サブストレート電位が顕著に変化してしまうことが
ある。CCDにおいてサブストレート電位が顕著に下が
ると、電荷転送動作などに不具合を生じ、正常な画像が
得られなくなる場合がある。したがって、電子内視鏡装
置による観察中に挿入部先端のCCDが強い光を受けた
とき、正常な画像がしばらくの間で出なくなるので、サ
ブストレートに過剰に捨てられた電荷が自然放電して画
像が回復するのを、挿入部先端を暗い被写体の方に向け
て待たなくてはならない事態を生ずることがあった。
ものである。すなわち本発明は、CCDの小型化が進ん
でも、CCDを安定して動作させる事のできる電子内視
鏡装置を提供することを目的とする。
の発明は、挿入部先端に複数の駆動信号により駆動され
るCCDを有し該CCDからの出力信号に基づいて所定
の映像信号を生成する電子内視鏡装置において、CCD
のサブストレートの電圧を検出する検出手段と、検出手
段によって検出されるサブストレートの電圧が所定の閾
値以下に低下したときに、複数の駆動信号のうちの所定
の駆動信号を遮断する制御手段とを備える。CCDが強
い光を受けることによって、CCDの電荷蓄積部からサ
ブストレートに過剰に電荷が捨てられたことを、サブス
トレート電位の低下から検出することができる。したが
って、サブストレート電位が低下した時に、制御手段が
CCDへの所定の駆動信号を遮断することで、サブスト
レートに過剰に捨てられた電荷を確実に速やかに放電さ
せることができる。
た後、所定時間経過後に遮断されていた所定の駆動信号
を再投入することで、CCDは元の正常な状態に回復さ
れる(請求項2)。
駆動信号、水平駆動信号の少なくとも1つを含む(請求
項3)。
れる電源電圧からサブストレートの電圧を内部発生する
電圧発生回路を有するものであっても良い(請求項
4)。本発明の電子内視鏡装置は、所定の閾値を格納す
る為の記憶部をさらに備えるものであっても良い(請求
項5)。
ッサユニットへの接続部である基端部とを有し、挿入部
の先端に配置されたCCDから被写体の画像信号を得る
電子内視鏡装置用スコープユニットにおいて、CCDの
サブストレートの電圧を検出する検出手段と、検出手段
によって検出されるサブストレートの電圧が所定の閾値
以下に低下したときに、CCDを駆動する複数の駆動信
号のうちの所定の駆動信号を遮断する制御手段とを備え
る。CCDが強い光を受けることによって、CCDの電
荷蓄積部からサブストレートに過剰に電荷が捨てられた
ことを、サブストレート電位の低下から検出することが
できる。したがって、サブストレート電位が低下した時
に、制御手段がCCDへの駆動信号を遮断することで、
サブストレートに過剰に捨てられた電荷を確実に速やか
に放電させることができる。
た後、所定時間経過後に遮断されていた前記所定の駆動
信号を再投入することで、CCDは元の正常な状態に回
復される(請求項7)。
駆動信号、水平駆動信号の少なくとも1つを含む(請求
項8)。
れる電源電圧からサブストレートの電圧を内部発生する
電圧発生回路を有するものであっても良い(請求項
9)。本発明のスコープユニットは、所定の閾値を格納
する為の記憶部をさらに備えるものであっても良い(請
求項10)。
の電子内視鏡装置100の制御系の全体構成を表すブロ
ック図である。電子内視鏡装置100は、体腔内へ挿入
される挿入部10a及び基端部10bを有するスコープ
ユニット10と、スコープユニット10への照明光の供
給を行うと共にスコープユニット10から得られる信号
を処理して映像信号を生成するプロセッサユニット50
とから成る。スコープユニット10は、プロセッサユニ
ット50に対して着脱自在の構成になっている。なお、
プロセッサユニット50によって生成される映像は、プ
ロセッサユニット50に接続ケーブルを介して接続され
る外部モニタ(不図示)上に表示される。
は、スコープユニット10内部に配設されているライト
ガイド7を介してスコープユニット10の挿入部10a
の先端部から被写体に向けて照射される。スコープユニ
ット10の挿入部10aの先端に設けられた対物レンズ
(不図示)によって形成される照明された被写体の光学
像は、CCD(Charge Coupled Device)2の受光面上
で受光されて電荷として蓄積され、電気信号に変換され
る。なお、CCD2は、VOD構造を有するインターラ
イン方式のカラーCCDであるものとする。
て蓄積し、蓄積された光量に対応する電気信号を出力す
る。CCD2を動作させるための電源電圧(VDD)及
びその他の駆動信号等は、CCD制御部9からCCD2
に対して供給される。CCD制御部9の制御によって、
CCD2から出力された画像信号は、CCD制御部9に
おいて増幅、ガンマ補正などの所定の処理を施された
後、プロセッサユニット50内の映像信号処理回路20
に入力される。
制御部9からの画像信号は、Y(輝度)成分、R−Y
(赤−輝度)成分、及びB−Y(青−輝度)成分のデジ
タル信号に変換され、これら成分のデータが、それぞれ
に対応した画像メモリであるYメモリ21、(R−Y)
メモリ22、及び(B−Y)23メモリに一旦格納され
る。
成するタイミング信号を用いて、スコープユニット10
側とのデータ通信、画像メモリ21−23の制御、及び
不図示のキーボードからの入力の処理等を実行する。
は、マイコン30による制御の下、所定のタイミングで
読み出され、ビデオ処理回路25に入力される。ビデオ
処理回路25は、画像メモリ21−23から入力される
各成分の画像データを合成して例えばNTSC規格のコ
ンポジット映像信号26、或いはRGBセパレート信号
27等を生成する。これらの映像信号はモニタ装置に送
出される。なお、電源部45は、CCD2の電源電圧等
の電源をスコープユニット10側に供給する。
0で生成された輝度成分の信号に基づいて、映像の輝度
レベルが所望のレベルとなる様に、絞り41の開度を調
節する。
D2及びCCD制御部9の詳細構成を表すブロック図で
ある。図2を参照してCCD2制御の詳細を説明する。
なお、ここでのCCD2は、電源電圧VDDとして15
Vを必要とし、また−8V電源のような負電源をも必要
とするタイプのCCDである。
の電源部45から供給される電源(+15V、−8V)
を所定の投入タイミングでCCD2に対して供給する。
CCD垂直クロックドライバ61は、DSP(デジタル
シグナルプロセッサ)65において発生された垂直駆動
信号を受けてCCD2に対して垂直クロックを出力す
る。また、CCD水平クロックドライバ62は、DSP
65で発生された水平駆動信号を受けてCCD2に対し
て水平クロックを出力する。
イトガイド7の分光特性のばらつきを調整する為に、D
SP65において生成する画像信号のホワイトバランス
の調整等を行う。調整の為に適用されたデータはメモリ
(ROM)66に格納される。このことにより、スコー
プユニット毎の分光特性がばらつくことなく一定に保た
れる。また、マイコン67は、プロセッサユニット50
側のマイコン30とも接続されており、マイコン30と
の間でデータ通信を行う機能も持っている。
D変換器63によってデジタル信号に変換されDSP6
5に入力される。DSP65は、入力されたデジタルの
画像信号に対して、ブランキング、クランプ、ホワイト
バランス調整、ガンマ補正などのカメラプロセス処理を
施し、画像信号を、例えばY信号及びC信号の形式でプ
ロセッサユニット50側に出力する。
D構造を有すCCDの一般的な画素部の構成(断面図)
を示している。図3(a)において、Nサブストレート
(基板)部に印加される電圧Vsubは、電源電圧VD
D(+15V)を用いて内部発生され、正の電圧に設定
される。それによって、電荷蓄積部2aに電位井戸が形
成されるとともに、安定した動作が得られる構成となっ
ている。なお、電荷蓄積部2aに蓄積された電荷は、そ
の後、垂直CCDレジスタ部2bに転送され、さらに水
平CCDレジスタ部に転送され、CCD2の信号出力端
子82から画像信号として出力される。
おける通常状態の電位分布を示す図である。図3(b)
の縦軸は電位を表し下方向が電位の正方向である。電荷
蓄積部2aの電荷が過剰になると、オーバーフローした
電子は図の矢印XのようにNサブストレートに捨てられ
る。なお、サブストレート端子81は、CCD2内部の
Nサブストレートに接続されおり、サブストレート端子
81の電圧を検出することで、Nサブストレート電位を
検出することができる。
1の電圧は電圧検出回路68によって検出される。電圧
検出回路68は、例えば、サブストレート端子81の電
圧をデジタル値に変換するA/D変換器から成り、検出
した電圧をデジタルデータとしてマイコン67に送る。
て検出されるサブストレート端子81電圧が所定の閾値
以下となっていない場合(すなわちサブストレートの電
位が正常であり正常な画像が得られる場合)には、スイ
ッチSW1−4をオンに保ちCCD2に対する駆動信号
(電源+15V、−8V、垂直駆動信号及び水平駆動信
号)の入力を継続させる。なおこの所定の閾値は、メモ
リ(ROM)66に格納されているものとする。
の閾値以下となった場合(すなわち、サブストレートに
電荷が過剰に捨てられサブストレート電位が低下した場
合)には、マイコン67は一時的にスイッチSW1−4
をオフし、CCD2に対する駆動信号の入力を遮断す
る。このことによって、サブストレートに過剰に捨てら
れた電荷が放電される。さらに、所定時間経過後にSW
1−4をオンしてCCD2対して駆動信号の投入を行う
ことで、サブストレート電位の低下により正常な画像信
号が得られなくなる事態が生じた場合でも、CCD2を
迅速に元の正常な状態に回復させることができる。
る、CCD2への駆動信号の遮断処理を示すフローチャ
ートである。始めにマイコン67は、メモリ66から所
定の閾値(すなわちサブストレートのDC電位が正常で
あるか否かを判定する為の値)を読み込む(S11)。
次に、電圧検出回路68で検出されたサブストレート電
位を取得する(S12)。サブストレート電位が所定の
閾値より大きい場合には(S13:YES)、サブスト
レート電位は正常なのでスイッチSW1−4をオンのま
まとし、一定時間後(例えば1秒)に再びサブストレー
ト電位を測定する(S14)。
下である場合には(S13:NO)、メモリ66にあら
かじめ格納されている遮断すべき駆動信号を読み込む
(S15)。ステップS16では、スイッチSW1−4
のうち、S15で取得した遮断すべき駆動信号に対応す
るものをオフし、駆動信号の遮断を行う。例えば、メモ
リ66に格納されている遮断すべき駆動信号がCCD2
駆動信号の全て(すなわち、電源+15、−8V、垂直
駆動信号、及び水平駆動信号)である場合には、スイッ
チSW1−4の全てがオフされる。
入するまでの待ち時間(例えば、サブストレートに捨て
られた電荷を放電させるのに十分な時間である1秒程
度)がメモリ66から読み込まれる。そして、読み込ま
れた持ち時間の分だけウエイトを行った後、遮断した駆
動信号が再投入される(S18)。
行される、メモリ66に格納すべき所定の閾値を決定す
る手順について、図5のフローチャートを参照して説明
する。なお、図5に示す手順は、サブストレート電位が
確実に正常となっている場合の電位を測定する必要があ
ることから、スコープユニット10の先端部を暗くした
状態で行うものとする。始めにステップS21におい
て、例えばプロッセユニット50に接続されたキーボー
ド(不図示)からの操作によって、サブストレート電位
測定モードに入るか否かが決定される(S21)。サブ
ストレート電位測定モードに入ると(S21:YE
S),マイコン67によって電圧検出回路68からサブ
ストレート電位が取得される(S22)。なお、このと
き得られるサブストレート電位は、CCD2内の電荷蓄
積部からの電荷のオーバーフローが生じていないときの
正常なサブストレート電位である。そして、取得された
サブストレート電位に基づく閾値電圧は、メモリ66に
格納される(S23)。この取得された電圧よりも例え
ば2V低い電圧を、図4のフローチャートで用いる(す
なわち、サブストレート電位が正常であるか否かを判定
する為の)所定の閾値とする事ができる。
正常時のサブストレート電位を測定しそれによって所定
の閾値を決定してメモリ66に格納することで、個々の
スコープユニット(CCD)毎に最適な閾値を適用する
ことが可能になる。
ト電位の低下時に、CCD駆動信号全てを遮断する場合
を例として記述しているが、CCD駆動信号のうち、信
号を遮断することによりサブストレートに過剰に捨てら
れた電荷を速やかに放電することのできるものをあらか
じめ選択してその情報をメモリ66に格納しておき、こ
の選択された信号のみ遮断するようにしても良い。
CDが強い光を受けそれによってCCDから出力される
画像信号が正常でなくなるような事態が生じても、迅速
にCCDを元の状態に回復させ正常な画像を得ることが
できる。したがって、ブルーミングやスミアの発生の防
止及び発生からの迅速な回復を可能とし、内視鏡装置に
よる観察映像の品質を高めることが可能となる。
表すブロック図である。
の制御系の詳細を表すブロック図である。
れるCCDの画素部の一般的な構成を表す断面図及び電
位分布を表す図である。
すフローチャートである。
する為の閾値を決定する手順を表すフローチャートであ
る。
Claims (10)
- 【請求項1】 挿入部先端に複数の駆動信号により駆動
されるCCDを有し、該CCDからの出力信号に基づい
て所定の映像信号を生成する電子内視鏡装置において、 前記CCDのサブストレートの電圧を検出する検出手段
と、 前記検出手段によって検出される前記サブストレートの
電圧が所定の閾値以下に低下したときに、前記複数の駆
動信号のうちの所定の駆動信号を遮断する制御手段と、 を備えることを特徴とする電子内視鏡装置。 - 【請求項2】 前記制御手段は、前記所定の駆動信号の
遮断を行った後、所定時間経過後に遮断されていた前記
所定の駆動信号を再投入すること、を特徴とする請求項
1に記載の電子内視鏡装置。 - 【請求項3】 前記所定の駆動信号は、電源電圧、垂直
駆動信号、水平駆動信号の少なくとも1つを含む、請求
項1または請求項2に記載の電子内視鏡装置。 - 【請求項4】 前記CCDは、駆動信号として供給され
る電源電圧から前記サブストレートの電圧を内部発生す
る電圧発生回路を有すること、を特徴とする請求項1か
ら請求項3のいずれかに記載の電子内視鏡装置。 - 【請求項5】 前記所定の閾値を格納する為の記憶部を
さらに備えること、を特徴とする請求項1から請求項4
のいずれかに記載の電子内視鏡装置。 - 【請求項6】 挿入部とプロセッサユニットへの接続部
である基端部とを有し、前記挿入部の先端に配置された
CCDから被写体の画像信号を得る電子内視鏡装置用ス
コープユニットにおいて、 前記CCDのサブストレートの電圧を検出する検出手段
と、 前記検出手段によって検出される前記サブストレートの
電圧が所定の閾値以下に低下したときに、前記CCDを
駆動する複数の駆動信号のうちの所定の駆動信号を遮断
する制御手段と、 を備えることを特徴とするスコープユニット。 - 【請求項7】 前記制御手段は、前記所定の駆動信号の
遮断を行った後、所定時間経過後に遮断されていた前記
所定の駆動信号を再投入すること、を特徴とする請求項
6に記載のスコープユニット。 - 【請求項8】 前記所定の駆動信号は、電源電圧、垂直
駆動信号、水平駆動信号の少なくとも1つを含む、請求
項6または請求項7に記載のスコープユニット。 - 【請求項9】 前記CCDは、駆動信号として供給され
る電源電圧から前記サブストレートの電圧を内部発生す
る電圧発生回路を有すること、を特徴とする請求項6か
ら請求項8のいずれかに記載のスコープユニット。 - 【請求項10】 前記所定の閾値を格納する為の記憶部
をさらに備えること、を特徴とする請求項6から請求項
9のいずれかに記載のスコープユニット。
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DE102006005308B4 (de) * | 2005-02-04 | 2012-05-31 | Hoya Corp. | System zum Steuern eines ladungsgekoppelten Bauelementes |
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