JP2002372558A - 電磁波測定装置 - Google Patents
電磁波測定装置Info
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- JP2002372558A JP2002372558A JP2001181725A JP2001181725A JP2002372558A JP 2002372558 A JP2002372558 A JP 2002372558A JP 2001181725 A JP2001181725 A JP 2001181725A JP 2001181725 A JP2001181725 A JP 2001181725A JP 2002372558 A JP2002372558 A JP 2002372558A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電子機器からの不要電磁波の近傍電磁界を測
定し、不要電磁波放射源を特定し、不要電磁波対策を効
果的に行う為の装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 被測定物の近傍電磁界を計測する電磁界
センサと、そのセンサを走査する手段と、センサからの
信号を受信する信号受信部と、測定データを補正する演
算処理部と、補正データから、周波数ごとの最大値・平
均値・電磁界分布を導出する演算処理部と、その演算処
理データを記憶する記憶部と、演算処理データを表示す
る表示部と、以上の走査部・信号受信部・演算処理部・
記憶部・表示部を制御する制御部からなる電磁波測定装
置。
定し、不要電磁波放射源を特定し、不要電磁波対策を効
果的に行う為の装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 被測定物の近傍電磁界を計測する電磁界
センサと、そのセンサを走査する手段と、センサからの
信号を受信する信号受信部と、測定データを補正する演
算処理部と、補正データから、周波数ごとの最大値・平
均値・電磁界分布を導出する演算処理部と、その演算処
理データを記憶する記憶部と、演算処理データを表示す
る表示部と、以上の走査部・信号受信部・演算処理部・
記憶部・表示部を制御する制御部からなる電磁波測定装
置。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は電子機器や、その内
部の金属筐体、回路基板、基板間を伝送するケーブル、
あるいは電子機器間を接続するケーブルなどから発生す
る不要電磁波ノイズの解析、またその対策を行なうため
の電磁波測定装置に関するものである。
部の金属筐体、回路基板、基板間を伝送するケーブル、
あるいは電子機器間を接続するケーブルなどから発生す
る不要電磁波ノイズの解析、またその対策を行なうため
の電磁波測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来技術】従来、電子機器が動作するときに放射され
る電磁波は、他の電子機器にとってノイズとなり誤動作
の原因となる。このような電子機器からの電磁波放射源
としては、電子機器内部の回路基板、回路基板に接続さ
れている信号ケーブル、回路基板が組み込まれている金
属筐体、金属筐体の間隙部分等があげられる。
る電磁波は、他の電子機器にとってノイズとなり誤動作
の原因となる。このような電子機器からの電磁波放射源
としては、電子機器内部の回路基板、回路基板に接続さ
れている信号ケーブル、回路基板が組み込まれている金
属筐体、金属筐体の間隙部分等があげられる。
【０００３】そこで、電子機器を製品化する場合には、
他の電子機器に悪影響を及ぼすことを防止するため、電
磁波の放射原因を特定して有効な対策を行なうことが必
要である。このため図１６に示すように、電波暗室やオ
ープンサイトなどの遠方界測定により電子機器の電磁波
を測定している。
他の電子機器に悪影響を及ぼすことを防止するため、電
磁波の放射原因を特定して有効な対策を行なうことが必
要である。このため図１６に示すように、電波暗室やオ
ープンサイトなどの遠方界測定により電子機器の電磁波
を測定している。
【０００４】また、電子機器からの放射ノイズ解析・対
策の為の計測手法の１つとして特公平５−６７１８４号
公報に記載されているような近傍電磁界計測が行われる
（図１７参照）。これは電子機器の近傍を電界あるいは
磁界センサを用いて電界あるいは磁界強度を測定し、そ
の電磁界強度の最大値による周波数スペクトラム（以
下、これを最大値周波数スペクトラムと称する）を作成
する。そして、その最大値周波数スペクトラムで強度の
強い周波数の電磁界強度分布図を作成し、放射ノイズ源
の探索、放射ノイズ発生メカニズム解析、対策効果の確
認などを行なっている。
策の為の計測手法の１つとして特公平５−６７１８４号
公報に記載されているような近傍電磁界計測が行われる
（図１７参照）。これは電子機器の近傍を電界あるいは
磁界センサを用いて電界あるいは磁界強度を測定し、そ
の電磁界強度の最大値による周波数スペクトラム（以
下、これを最大値周波数スペクトラムと称する）を作成
する。そして、その最大値周波数スペクトラムで強度の
強い周波数の電磁界強度分布図を作成し、放射ノイズ源
の探索、放射ノイズ発生メカニズム解析、対策効果の確
認などを行なっている。
【０００５】
【発明が解決しようとしている課題】しかしながら、ノ
イズ対策による近傍電磁界強度分布の変化は様々であ
り、強度分布の強い領域が大きく変化する場合もあれ
ば、強い領域の面積はあまり変化せず、強い領域部分の
形のみが変化する場合もある。あるノイズ対策が効果が
あるかどうかについての判定は、近傍電磁界強度分布図
が色によって強度を示す分布図であったり、等高線によ
って強度を示す分布図であり、スペクトラムのような絶
対値ではないので、測定者個人の判断によることが多
く、特にノイズ対策効果の大きさについての判定は非常
に難しい。また、遠方界測定に対して有効なノイズ対策
を行なっている場合でも、対策前後で近傍電磁界測定に
よる最大値周波数スペクトラム比較では、周波数スペク
トラムはほとんど変化していない場合があり、近傍電磁
界測定ではノイズ対策効果の判定が難しい。
イズ対策による近傍電磁界強度分布の変化は様々であ
り、強度分布の強い領域が大きく変化する場合もあれ
ば、強い領域の面積はあまり変化せず、強い領域部分の
形のみが変化する場合もある。あるノイズ対策が効果が
あるかどうかについての判定は、近傍電磁界強度分布図
が色によって強度を示す分布図であったり、等高線によ
って強度を示す分布図であり、スペクトラムのような絶
対値ではないので、測定者個人の判断によることが多
く、特にノイズ対策効果の大きさについての判定は非常
に難しい。また、遠方界測定に対して有効なノイズ対策
を行なっている場合でも、対策前後で近傍電磁界測定に
よる最大値周波数スペクトラム比較では、周波数スペク
トラムはほとんど変化していない場合があり、近傍電磁
界測定ではノイズ対策効果の判定が難しい。
【０００６】
【課題を解決するための手段及び作用】上記のような問
題を解決するために、ある任意の周波数範囲で被測定物
のある領域面積の近傍電磁界強度測定を行い、その測定
領域における電磁界センサの測定ポイント数をカウント
し、測定周波数範囲でのそれぞれの周波数における測定
ポイント数だけある電磁界強度測定データを加算し、そ
の加算値をカウントした測定ポイント数で除算し、その
周波数ごとの値を測定範囲の周波数スペクトラム（以
下、これを平均値周波数スペクトラムと称する）として
表示する。
題を解決するために、ある任意の周波数範囲で被測定物
のある領域面積の近傍電磁界強度測定を行い、その測定
領域における電磁界センサの測定ポイント数をカウント
し、測定周波数範囲でのそれぞれの周波数における測定
ポイント数だけある電磁界強度測定データを加算し、そ
の加算値をカウントした測定ポイント数で除算し、その
周波数ごとの値を測定範囲の周波数スペクトラム（以
下、これを平均値周波数スペクトラムと称する）として
表示する。
【０００７】被測定物からの放射ノイズの大きな原因と
して被測定物における高周波電流源からの高周波電流の
広がり（ループ）があげられる。この高周波電流の広が
りを抑える対策を行なった場合、遠方界測定における放
射ノイズは抑制され、近傍電磁界計測における電磁界強
度分布図も変化する。しかしながら高周波電流源自体の
電磁界強度は多くの場合変化しないため、近傍電磁界測
定による最大値周波数スペクトラムはほとんど変化しな
い。また、従来例で記述したように近傍電磁界強度分布
図は色によって強度を示す分布図であったり等高線によ
って強度を示す分布図であり、周波数スペクトラムのよ
うな絶対値ではないので、対策前後による強度分布の変
化を見たノイズ対策効果の判定は測定者個人の判断によ
ることが多く、対策効果についての判定が難しい。
して被測定物における高周波電流源からの高周波電流の
広がり（ループ）があげられる。この高周波電流の広が
りを抑える対策を行なった場合、遠方界測定における放
射ノイズは抑制され、近傍電磁界計測における電磁界強
度分布図も変化する。しかしながら高周波電流源自体の
電磁界強度は多くの場合変化しないため、近傍電磁界測
定による最大値周波数スペクトラムはほとんど変化しな
い。また、従来例で記述したように近傍電磁界強度分布
図は色によって強度を示す分布図であったり等高線によ
って強度を示す分布図であり、周波数スペクトラムのよ
うな絶対値ではないので、対策前後による強度分布の変
化を見たノイズ対策効果の判定は測定者個人の判断によ
ることが多く、対策効果についての判定が難しい。
【０００８】それに対して前記のように、近傍電磁界測
定強度を平均値周波数スペクトラムとして算出する方法
では、対策によって高周波電流の広がりが小さくなった
場合、電磁界強度の加算値は小さくなり、それに対して
測定ポイント数は同じであるため、その周波数における
電磁界強度の平均値は小さくなり、平均値周波数スペク
トラムは大きく変化する。この時、対策を行なった周波
数の値がデジタル値として表示されるため、測定者によ
らずノイズ対策効果についての判定が行なえる。また周
波数スペクトラム表示のため、同時に他の周波数の高周
波電流の広がりの増減が同時に把握でき、近傍電磁界計
測でノイズ対策を効率的に行なうことができる。
定強度を平均値周波数スペクトラムとして算出する方法
では、対策によって高周波電流の広がりが小さくなった
場合、電磁界強度の加算値は小さくなり、それに対して
測定ポイント数は同じであるため、その周波数における
電磁界強度の平均値は小さくなり、平均値周波数スペク
トラムは大きく変化する。この時、対策を行なった周波
数の値がデジタル値として表示されるため、測定者によ
らずノイズ対策効果についての判定が行なえる。また周
波数スペクトラム表示のため、同時に他の周波数の高周
波電流の広がりの増減が同時に把握でき、近傍電磁界計
測でノイズ対策を効率的に行なうことができる。
【０００９】
【発明の実施の形態】図１は本発明の電磁波測定装置の
一実施例のブロック図である。本実施例の電磁波測定装
置は、被測定物１の近傍電磁界を計測する電磁界センサ
２と、電磁界センサ２を被測定物１近傍の任意の領域に
おいて走査させる駆動部３と、電磁界センサ２からの信
号を測定する測定信号受信部４と、ある測定周波数範囲
における複数周波数測定時にそれぞれの周波数において
測定領域における測定ポイント座標位置データとその座
標位置に対応した電磁界強度データを関連付けて記憶す
る記憶部５と、その記憶されたデータに対して電磁界セ
ンサの周波数補正や電磁界センサと被測定物の距離補正
などの計算を行なう補正演算処理部６と、その補正演算
処理結果を記憶する記憶部７と、それぞれの周波数ごと
の全測定ポイントにおける最大電磁界強度データとその
位置を探索する計算を行なう最大値電磁界強度演算処理
部８と、それぞれの周波数ごとの全測定ポイントにおけ
る電磁界強度データを加算し、カウントした測定ポイン
ト数で除算することにより平均値を出す計算を行なう平
均値電磁界強度演算処理部９と、それぞれの周波数ごと
の電磁界強度分布として処理を行なう電磁界強度分布演
算処理部１０と、それぞれの演算処理結果を記憶する演
算処理データ記憶部１１と、最大電磁界強度データを周
波数スペクトラムと位置座標、平均値電磁界強度データ
を周波数スペクトラム、電磁界強度分布データを電磁界
強度分布図として表示する表示部１２と、電磁界センサ
の走査・測定受信機・データの記憶・それぞれの演算・
表示などを制御する制御部１３とから構成されている。
一実施例のブロック図である。本実施例の電磁波測定装
置は、被測定物１の近傍電磁界を計測する電磁界センサ
２と、電磁界センサ２を被測定物１近傍の任意の領域に
おいて走査させる駆動部３と、電磁界センサ２からの信
号を測定する測定信号受信部４と、ある測定周波数範囲
における複数周波数測定時にそれぞれの周波数において
測定領域における測定ポイント座標位置データとその座
標位置に対応した電磁界強度データを関連付けて記憶す
る記憶部５と、その記憶されたデータに対して電磁界セ
ンサの周波数補正や電磁界センサと被測定物の距離補正
などの計算を行なう補正演算処理部６と、その補正演算
処理結果を記憶する記憶部７と、それぞれの周波数ごと
の全測定ポイントにおける最大電磁界強度データとその
位置を探索する計算を行なう最大値電磁界強度演算処理
部８と、それぞれの周波数ごとの全測定ポイントにおけ
る電磁界強度データを加算し、カウントした測定ポイン
ト数で除算することにより平均値を出す計算を行なう平
均値電磁界強度演算処理部９と、それぞれの周波数ごと
の電磁界強度分布として処理を行なう電磁界強度分布演
算処理部１０と、それぞれの演算処理結果を記憶する演
算処理データ記憶部１１と、最大電磁界強度データを周
波数スペクトラムと位置座標、平均値電磁界強度データ
を周波数スペクトラム、電磁界強度分布データを電磁界
強度分布図として表示する表示部１２と、電磁界センサ
の走査・測定受信機・データの記憶・それぞれの演算・
表示などを制御する制御部１３とから構成されている。
【００１０】この装置による電磁波測定動作について示
す。被測定物である電子機器近傍のある任意の領域面積
の近傍電磁界を測定する際に電磁界センサの走査を行
う。図２に電磁界センサ走査の一例としてＹ方向の磁界
を測定する単一のループ磁界センサ１４で回路基板１５
・ケーブル１６・金属僚体１７から構成される電子機器
のある領域を走査している様子を示す。電磁界センサ２
はＸ方向、Ｙ方向、Ｚ方向など任意の単独方向の電磁界
を測定できるものでもよいし、Ｘ方向、Ｙ方向、Ｚ方向
の任意の方向の電磁界を同時に測定できるように組み合
わされたものでもよい。電磁界センサ２の走査は図２の
ような機械的なものでもよく、また複数の電磁界センサ
をアレイ状に並べたものを電子的走査するものでもよ
く、これらの電磁界センサ駆動部３は制御部１３からの
制御信号により制御される。また単数あるいは複数の電
磁界センサを固定し、被測定物が動いて走査されてもよ
い。これらの電磁界センサ２により検出された電磁界は
測定信号として測定信号受信部４に送られる。測定信号
受信部４はある任意の測定周波数範囲における複数周波
数の電圧信号を受信することができる測定器であればよ
く、代表的なものとしてスペクトラムアナライザがあげ
られる。また、電磁界センサ２と測定信号受信部４の間
に測定信号増幅の為、増幅器が挿入されていることもよ
い。測定信号受信部４で受信された強度信号は、ある任
意の測定周波数範囲におけるそれぞれの周波数において
測定領域のおける測定ポイント位置座標データと関連付
けられて測定データ記憶部５に格納される。この時、記
憶された強度信号データの格納例として図３のように、
ある測定平面として２次元平面の１４×１０ポイントを
ある周波数範囲で２６ポイントの周波数の測定を行った
場合、それぞれの強度信号データは測定位置と周波数に
対応したｄａｔａ［１４］［１０］［２６］の配列に格
納される。この時、同時に測定領域の測定ポイント数を
カウントする。その記憶された強度信号データは補正演
算処理部６によりそれぞれの電磁界センサの周波数特性
に対応した補正、増幅器の周波数特性に対応した補正、
電磁界センサと被測定物の距離による感度差の補正など
が行われる。また、これらの補正後のデータを補正デー
タとして補正演算処理データ記憶部７に格納する。この
補正されたデータから最大値電磁界強度演算処理部８に
よって周波数ごとに最大値を求め、その測定位置を探索
する。最大値の探索方法はクイックソート、バルブソー
ト、ヒープソートなどのようなソート法を用いてもよ
い。例として、５×５ポイントの測定平面においてある
周波数のその測定ポイントごとの電磁界強度データが図
４のように格納されている場合、最大値は５０である。
この求めた演算処理結果を演算処理データ記憶部１１に
格納し、表示部１２においてのそれぞれの周波数ごとの
最大強度値から作成した最大値周波数スペクトラムを表
示する。またその最大値周波数スペクトラムのそれぞれ
の周波数ごとの最大強度値に対応した位置座標も同時に
表示する。
す。被測定物である電子機器近傍のある任意の領域面積
の近傍電磁界を測定する際に電磁界センサの走査を行
う。図２に電磁界センサ走査の一例としてＹ方向の磁界
を測定する単一のループ磁界センサ１４で回路基板１５
・ケーブル１６・金属僚体１７から構成される電子機器
のある領域を走査している様子を示す。電磁界センサ２
はＸ方向、Ｙ方向、Ｚ方向など任意の単独方向の電磁界
を測定できるものでもよいし、Ｘ方向、Ｙ方向、Ｚ方向
の任意の方向の電磁界を同時に測定できるように組み合
わされたものでもよい。電磁界センサ２の走査は図２の
ような機械的なものでもよく、また複数の電磁界センサ
をアレイ状に並べたものを電子的走査するものでもよ
く、これらの電磁界センサ駆動部３は制御部１３からの
制御信号により制御される。また単数あるいは複数の電
磁界センサを固定し、被測定物が動いて走査されてもよ
い。これらの電磁界センサ２により検出された電磁界は
測定信号として測定信号受信部４に送られる。測定信号
受信部４はある任意の測定周波数範囲における複数周波
数の電圧信号を受信することができる測定器であればよ
く、代表的なものとしてスペクトラムアナライザがあげ
られる。また、電磁界センサ２と測定信号受信部４の間
に測定信号増幅の為、増幅器が挿入されていることもよ
い。測定信号受信部４で受信された強度信号は、ある任
意の測定周波数範囲におけるそれぞれの周波数において
測定領域のおける測定ポイント位置座標データと関連付
けられて測定データ記憶部５に格納される。この時、記
憶された強度信号データの格納例として図３のように、
ある測定平面として２次元平面の１４×１０ポイントを
ある周波数範囲で２６ポイントの周波数の測定を行った
場合、それぞれの強度信号データは測定位置と周波数に
対応したｄａｔａ［１４］［１０］［２６］の配列に格
納される。この時、同時に測定領域の測定ポイント数を
カウントする。その記憶された強度信号データは補正演
算処理部６によりそれぞれの電磁界センサの周波数特性
に対応した補正、増幅器の周波数特性に対応した補正、
電磁界センサと被測定物の距離による感度差の補正など
が行われる。また、これらの補正後のデータを補正デー
タとして補正演算処理データ記憶部７に格納する。この
補正されたデータから最大値電磁界強度演算処理部８に
よって周波数ごとに最大値を求め、その測定位置を探索
する。最大値の探索方法はクイックソート、バルブソー
ト、ヒープソートなどのようなソート法を用いてもよ
い。例として、５×５ポイントの測定平面においてある
周波数のその測定ポイントごとの電磁界強度データが図
４のように格納されている場合、最大値は５０である。
この求めた演算処理結果を演算処理データ記憶部１１に
格納し、表示部１２においてのそれぞれの周波数ごとの
最大強度値から作成した最大値周波数スペクトラムを表
示する。またその最大値周波数スペクトラムのそれぞれ
の周波数ごとの最大強度値に対応した位置座標も同時に
表示する。
【００１１】また平均値電磁界強度演算処理部９におい
て、補正演算処理デー夕記憶部７に格納された補正強度
データはそれぞれの周波数ごとに測定領域の全測定ポイ
ントについて総加算され、その総加算値はカウントした
測定領域の全測定ポイント数で除算され、周波数ごとの
平均値が算出される。例として、５×５ポイントの測定
平面において、ある周波数のその測定ポイントごとの電
磁界強度データが図４のように格納されている場合、測
定ポイントカウント数は２５、総データ加算値９１２、
平均値は３６．４８である。この求めた演算処理結果を
演算処理データ記憶部１１に格納し、表示部１２におい
て、このそれぞれの周波数ごとの平均強度値から作成し
た平均値周波数スペクトラムを表示する。また電磁界強
度分布演算処理部１０において、補正されて補正演算処
理データ記憶部７に格納された補正強度データを特定周
波数の測定領域の電磁界強度分布について色調の補間処
理などを行い、電磁界強度分布図を表示部１２において
表示する。
て、補正演算処理デー夕記憶部７に格納された補正強度
データはそれぞれの周波数ごとに測定領域の全測定ポイ
ントについて総加算され、その総加算値はカウントした
測定領域の全測定ポイント数で除算され、周波数ごとの
平均値が算出される。例として、５×５ポイントの測定
平面において、ある周波数のその測定ポイントごとの電
磁界強度データが図４のように格納されている場合、測
定ポイントカウント数は２５、総データ加算値９１２、
平均値は３６．４８である。この求めた演算処理結果を
演算処理データ記憶部１１に格納し、表示部１２におい
て、このそれぞれの周波数ごとの平均強度値から作成し
た平均値周波数スペクトラムを表示する。また電磁界強
度分布演算処理部１０において、補正されて補正演算処
理データ記憶部７に格納された補正強度データを特定周
波数の測定領域の電磁界強度分布について色調の補間処
理などを行い、電磁界強度分布図を表示部１２において
表示する。
【００１２】次に本発明の電磁波測定装置による、ある
電子機器の対策プロセスについてある電子機器の対策例
により説明する。対策プロセスの概要を図５に示す。本
発明の電磁波測定装置である電子機器の近傍電磁界測定
を行う前に、３ｍあるいは１０ｍ法による遠方電界測定
をしているものと仮定する。ある対策前の電子機器を被
測定物として１０ｍ遠方電界測定結果を図６にしめす。
周波数２００ＭＨｚを中心に強く電磁波が放射している
ことが確認できる。本発明による電磁波測定装置でこの
対策前の被測定物の近傍磁界測定を行う。測定後、近傍
磁界測定の最大値周波数スペクトラムと平均値周波数ス
ペクトラムを表示部に同時に表示させる。対策前の近傍
磁界測定の最大値周波数スペクトラムを図７に、平均値
周波数スペクトラムを図８に示す。周波数２００ＭＨｚ
の周波数スペクトラムにおけるピークは近傍磁界測定で
も検出され、最大値周波数スペクトラムのみではなく、
平均値周波数スペクトラムにもあり、このことから周波
数２００ＭＨｚ付近のピークは高周波電流ループの広が
りであることが予想される。ちなみに、周波数２００Ｍ
Ｈｚでの磁界強度は最大値７９．６ｄＢμＡ／ｍ、平均
値６６．６ｄＢμＡ／ｍである。ここで周波数２００Ｍ
Ｈｚの近傍磁界分布図を表示部に表示させる。対策前の
周波数２００ＭＨｚの近傍磁界分布図を図９に示す。高
周波電流ループが広がって存在することがわかるが、こ
れは感覚的なものであり、高周波電流ループが広がって
いない場合との比較でないと判断が難しい。そこで、こ
の高周波電流ループが小さくなると思われる対策を近傍
磁界分布図を参考に行う。被測定物を対策後、近傍磁界
測定を再び行い、近傍磁界測定の最大値周波数スペクト
ラムと平均値周波数スペクトラムを表示部に同時に表示
させる。このとき、先に近傍磁界測定の近傍磁界強度分
布図を表示部に表示させ、対策前後の比較を行ってもよ
い。対策後の近傍磁界測定の最大値周波数スペクトラム
を図１０に、対策後の平均値周波数スペクトラムを図１
１に示す。また対策前後の近傍磁界測定の周波数スペク
トラムの比較を行う。対策前後の最大周波数スペクトラ
ムの比較を図１２に、対策前後の平均値周波数スペクト
ラムの比較を図１３に示す。最大値周波数スペクトラム
は対策前後であまり変化していない。それに対して対策
前後で平均値周波数スペクトラムは大きく変化してお
り、対策により周波数２００ＭＨｚのピークが小さくな
っているとがわかる。周波数２００ＭＨｚでの対策後の
磁界強度は最大値３ｄＢμＡ／ｍ、平均値６２３ｄＢμ
Ａ／ｍである。また対策により他の周波数で強度が増加
しているところは特に見られないので、対策により他の
周波数で電磁波ノイズが増加していないことが予想され
る。この時、他の周波数で強度が増加しているような
ら、その周波数の高周波電流ループが対策前より広がり
電磁波ノイズが増加している可能性があり、その周波数
の近傍電磁界分布を対策前後で確認する必要がある。
電子機器の対策プロセスについてある電子機器の対策例
により説明する。対策プロセスの概要を図５に示す。本
発明の電磁波測定装置である電子機器の近傍電磁界測定
を行う前に、３ｍあるいは１０ｍ法による遠方電界測定
をしているものと仮定する。ある対策前の電子機器を被
測定物として１０ｍ遠方電界測定結果を図６にしめす。
周波数２００ＭＨｚを中心に強く電磁波が放射している
ことが確認できる。本発明による電磁波測定装置でこの
対策前の被測定物の近傍磁界測定を行う。測定後、近傍
磁界測定の最大値周波数スペクトラムと平均値周波数ス
ペクトラムを表示部に同時に表示させる。対策前の近傍
磁界測定の最大値周波数スペクトラムを図７に、平均値
周波数スペクトラムを図８に示す。周波数２００ＭＨｚ
の周波数スペクトラムにおけるピークは近傍磁界測定で
も検出され、最大値周波数スペクトラムのみではなく、
平均値周波数スペクトラムにもあり、このことから周波
数２００ＭＨｚ付近のピークは高周波電流ループの広が
りであることが予想される。ちなみに、周波数２００Ｍ
Ｈｚでの磁界強度は最大値７９．６ｄＢμＡ／ｍ、平均
値６６．６ｄＢμＡ／ｍである。ここで周波数２００Ｍ
Ｈｚの近傍磁界分布図を表示部に表示させる。対策前の
周波数２００ＭＨｚの近傍磁界分布図を図９に示す。高
周波電流ループが広がって存在することがわかるが、こ
れは感覚的なものであり、高周波電流ループが広がって
いない場合との比較でないと判断が難しい。そこで、こ
の高周波電流ループが小さくなると思われる対策を近傍
磁界分布図を参考に行う。被測定物を対策後、近傍磁界
測定を再び行い、近傍磁界測定の最大値周波数スペクト
ラムと平均値周波数スペクトラムを表示部に同時に表示
させる。このとき、先に近傍磁界測定の近傍磁界強度分
布図を表示部に表示させ、対策前後の比較を行ってもよ
い。対策後の近傍磁界測定の最大値周波数スペクトラム
を図１０に、対策後の平均値周波数スペクトラムを図１
１に示す。また対策前後の近傍磁界測定の周波数スペク
トラムの比較を行う。対策前後の最大周波数スペクトラ
ムの比較を図１２に、対策前後の平均値周波数スペクト
ラムの比較を図１３に示す。最大値周波数スペクトラム
は対策前後であまり変化していない。それに対して対策
前後で平均値周波数スペクトラムは大きく変化してお
り、対策により周波数２００ＭＨｚのピークが小さくな
っているとがわかる。周波数２００ＭＨｚでの対策後の
磁界強度は最大値３ｄＢμＡ／ｍ、平均値６２３ｄＢμ
Ａ／ｍである。また対策により他の周波数で強度が増加
しているところは特に見られないので、対策により他の
周波数で電磁波ノイズが増加していないことが予想され
る。この時、他の周波数で強度が増加しているような
ら、その周波数の高周波電流ループが対策前より広がり
電磁波ノイズが増加している可能性があり、その周波数
の近傍電磁界分布を対策前後で確認する必要がある。
【００１３】ここで対策効果を視覚的に確認するため、
対策後の周波数２００ＭＨｚの近傍磁界強度分布図を表
示部に表示させる。対策後の周波数２００ＭＨｚの近傍
磁界強度分布図を図１２に示す。高周波電流ループが対
策前より小さくなっており電磁波ノイズが減少している
可能性がある。ただし強度の最も強いところは場所、強
度とも変っていない。この対策後の被測定物の１０ｍ遠
方電界測定を本発明の電磁波測定装置の、特に平均値周
波数スペクトラムとの相関を確認するために行った。対
策前後の１０ｍ遠方電界測定結果を図１３に示す。
対策後の周波数２００ＭＨｚの近傍磁界強度分布図を表
示部に表示させる。対策後の周波数２００ＭＨｚの近傍
磁界強度分布図を図１２に示す。高周波電流ループが対
策前より小さくなっており電磁波ノイズが減少している
可能性がある。ただし強度の最も強いところは場所、強
度とも変っていない。この対策後の被測定物の１０ｍ遠
方電界測定を本発明の電磁波測定装置の、特に平均値周
波数スペクトラムとの相関を確認するために行った。対
策前後の１０ｍ遠方電界測定結果を図１３に示す。
【００１４】この結果から本発明の電磁波測定装置によ
る近傍電磁界測定の平均値周波数スペクトラムが遠方界
測定に相関があり、電磁波ノイズ対策に効果的であるこ
とがわかる。対策後の近傍電磁界測定結果の表示とし
て、先に近傍磁界測定の近傍磁界強度分布図を表示部に
表示させ、対策前後の比較を行い、その対策効果を数値
的に見たり、他の周波数に悪影響を及ぼしていないかを
見るために最大値周波数スペクトラムと平均値周波数ス
ペクトラムを表示することもよい。また遠方界測定であ
る周波数の電磁波ノイズが高く、本発明の電磁波測定装
置による近傍電磁界測定を行い、その周波数が最大値周
波数スペクトラムで高く、平均値周波数スペクトラムで
低いようなら、電磁波ノイズの発生原因として高周波電
流ループの広がりではなく、部品から直接放射している
可能性が高いといった原因の切り分けも行うことが可能
である。
る近傍電磁界測定の平均値周波数スペクトラムが遠方界
測定に相関があり、電磁波ノイズ対策に効果的であるこ
とがわかる。対策後の近傍電磁界測定結果の表示とし
て、先に近傍磁界測定の近傍磁界強度分布図を表示部に
表示させ、対策前後の比較を行い、その対策効果を数値
的に見たり、他の周波数に悪影響を及ぼしていないかを
見るために最大値周波数スペクトラムと平均値周波数ス
ペクトラムを表示することもよい。また遠方界測定であ
る周波数の電磁波ノイズが高く、本発明の電磁波測定装
置による近傍電磁界測定を行い、その周波数が最大値周
波数スペクトラムで高く、平均値周波数スペクトラムで
低いようなら、電磁波ノイズの発生原因として高周波電
流ループの広がりではなく、部品から直接放射している
可能性が高いといった原因の切り分けも行うことが可能
である。
【００１５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電磁波測
定装置によれば、電子機器からの電磁波ノイズを測定す
る近傍電磁界計測において、効率的に電磁波ノイズ計測
および対策を行なえる効果を有する。
定装置によれば、電子機器からの電磁波ノイズを測定す
る近傍電磁界計測において、効率的に電磁波ノイズ計測
および対策を行なえる効果を有する。
【図１】 本発明の１実施例の構成を示すブロック図
【図２】 磁界ループセンサを走査して被測定物の近傍
磁界測定を行なっている図
磁界測定を行なっている図
【図３】 本発明の測定装置における、ある面を測定し
た測定データ格納例を示す図
た測定データ格納例を示す図
【図４】 本発明の測定装置における、ある測定面の最
大値、平均値データの導出を説明するための図
大値、平均値データの導出を説明するための図
【図５】 本発明の測定装置を用いた電子機器の電磁波
ノイズ対策プロセス図
ノイズ対策プロセス図
【図６】 ある電子機器の電磁波ノイズ対策前遠方界測
定結果
定結果
【図７】 本発明の測定装置による、ある電子機器の電
磁波ノイズ対策前近傍界測定結果（最大値周波数スペク
トラム）
磁波ノイズ対策前近傍界測定結果（最大値周波数スペク
トラム）
【図８】 本発明の測定装置による、ある電子機器の電
磁波ノイズ対策前近傍界測定結果（平均値周波数スペク
トラム）
磁波ノイズ対策前近傍界測定結果（平均値周波数スペク
トラム）
【図９】 本発明の測定装置による、ある電子機器の電
磁波ノイズ対策前近傍界測定結果（磁界強度分布）
磁波ノイズ対策前近傍界測定結果（磁界強度分布）
【図１０】 本発明の測定装置による、ある電子機器の
電磁波ノイズ対策後近傍界測定結果（最大値周波数スペ
クトラム）
電磁波ノイズ対策後近傍界測定結果（最大値周波数スペ
クトラム）
【図１１】 本発明の測定装置による、ある電子機器の
電磁波ノイズ対策後近傍界測定結果（平均値周波数スペ
クトラム）
電磁波ノイズ対策後近傍界測定結果（平均値周波数スペ
クトラム）
【図１２】 本発明の測定装置による、ある電子機器の
電磁波ノイズ対策前後近傍界測定結果比較（最大値周波
数スペクトラム）
電磁波ノイズ対策前後近傍界測定結果比較（最大値周波
数スペクトラム）
【図１３】 本発明の測定装置による、ある電子機器の
電磁波ノイズ対策前後近傍界測定結果比較（平均値周波
数スペクトラム）
電磁波ノイズ対策前後近傍界測定結果比較（平均値周波
数スペクトラム）
【図１４】 本発明の測定装置による、ある電子機器の
電磁波ノイズ対策後近傍界測定結果（磁界強度分布）
電磁波ノイズ対策後近傍界測定結果（磁界強度分布）
【図１５】 ある電子機器の電磁波ノイズ対策前後遠方
界測定結果比較
界測定結果比較
【図１６】 従来例の遠方界測定
【図１７】 従来例の近傍界測定
１ 被測定物 ２ 電磁界センサ ３ 電磁界センサ駆動部 ４ 測定信号受信部 ５ 測定データ記憶部 ６ 信号補正演算処理部 ７ 補正演算処理データ記憶部 ８ 最大値電磁界強度演算処理部 ９ 平均値電磁界強度演算処理部 １０ 電磁界強度分布演算処理部 １１ 演算処理データ記憶部 １２ 表示部 １３ 制御部 １４ 磁界センサ １５ 回路基板 １６ ケーブル １７ 金属筐体
Claims (2)
- 【請求項１】 被測定物の近傍電磁界を計測する電磁界
センサと、前記センサを被測定物近傍の任意の領域にお
いて走査させる手段と、前記センサからの信号を測定す
る測定信号受信部と、ある測定周波数範囲における複数
周波数測定時にそれぞれの周波数において測定領域にお
ける測定ポイント座標位置データとその座標位置に対応
した電磁界強度データを関連付けて記憶する記憶部と、
その記憶されたデータに対して電磁界センサの周波数補
正や電磁界センサと被測定物の距離補正などの計算を行
なう補正演算処理部と、それぞれの周波数ごとの全測定
ポイントにおける電磁界強度データを加算し、カウント
した測定ポイント数で除算することにより平均値を出す
計算を行なう演算処理部と、その平均値電磁界強度を周
波数スペクトラムとして表示する表示部と、それぞれの
周波数ごとの電磁界強度分布として処理を行なう演算処
理部と、その電磁界強度分布を電磁界強度分布図として
表示する表示部と、それぞれの演算処理結果を記憶する
記憶部と、電磁界センサの走査・測定受信機・データの
記憶・それぞれの演算・表示などを制御する制御部とか
ら構成されていることを特徴とする電磁波測定装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の被測定物の近傍電磁界を
計測する電磁波測定装置の演算処理部と表示部として、
それぞれの周波数ごとの全測定ポイントにおける最大電
磁界強度データとその位置を探索する計算を行なう演算
処理部と、その最大電磁界強度データを周波数スペクト
ラムと位置座標として表示する表示部を持ち、請求項１
記載の平均値電磁界強度の周波数スペクトラムと表示部
で同時に表示できることを特徴とする電磁波測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001181725A JP2002372558A (ja) | 2001-06-15 | 2001-06-15 | 電磁波測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001181725A JP2002372558A (ja) | 2001-06-15 | 2001-06-15 | 電磁波測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002372558A true JP2002372558A (ja) | 2002-12-26 |
Family
ID=19021948
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001181725A Withdrawn JP2002372558A (ja) | 2001-06-15 | 2001-06-15 | 電磁波測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002372558A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20100280773A1 (en) * | 2007-11-23 | 2010-11-04 | Frank Tore Saether | Underwater measurement system |
| JP2012112901A (ja) * | 2010-11-26 | 2012-06-14 | Anritsu Corp | Ａｐｄ測定表示装置及びａｐｄ測定表示方法 |
| CN102928678A (zh) * | 2012-11-02 | 2013-02-13 | 中原工学院 | 电磁屏蔽织物屏蔽效能便携式管式测量装置及测量方法 |
| CN102981065A (zh) * | 2012-11-02 | 2013-03-20 | 中原工学院 | 电磁屏蔽织物屏蔽效能的分段管式测量装置及测试方法 |
| CN103364644A (zh) * | 2013-07-25 | 2013-10-23 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种消除探头输出电压信号基线漂移的方法 |
| CN103675476A (zh) * | 2012-09-17 | 2014-03-26 | 联想(北京)有限公司 | 信息处理方法及电子设备 |
| CN103901283A (zh) * | 2014-03-25 | 2014-07-02 | 南京信息工程大学 | 一种利用声光电磁波信号监测闪电距离的装置 |
| CN104459346A (zh) * | 2014-11-05 | 2015-03-25 | 上海市共进通信技术有限公司 | 穿戴式设备及基于该穿戴式设备实现电磁辐射检测的系统 |
| JP2016003881A (ja) * | 2014-06-13 | 2016-01-12 | 三菱電機株式会社 | ノイズ検出装置及びノイズ検出方法 |
| US20230170926A1 (en) * | 2021-11-30 | 2023-06-01 | Raytheon Company | Differential probe with single transceiver antenna |
-
2001
- 2001-06-15 JP JP2001181725A patent/JP2002372558A/ja not_active Withdrawn
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US11984922B2 (en) * | 2021-11-30 | 2024-05-14 | Raytheon Company | Differential probe with single transceiver antenna |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20080902 |