JP2002359450A - デカップリング・コンデンサの配置方法 - Google Patents
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Abstract
特性を増すことなく、バイアを共用できるようにしたプ
リント回路基板を提供する。 【解決手段】 奇数番のデカップリング・コンデンサ1
04a、104bが上面の第1の金属層102aに取り
付けられ、偶数番のデカップリング・コンデンサ104
c、104dが底面の第2の金属層102bに取り付け
られる複数のデカップリング・コンデンサを備える。さ
らに、第1の金属層102a及び第2の金属層102b
を金属電力層102cに電気的に接続する複数の正バイ
ア110d、110e、110hと、金属接地層102
dに電気的に接続する複数の負バイア110c、110
f、110gを備え、プリント回路基板の両側に実装さ
れたコンデンサ間でバイアを共用できるようにする。
Description
におけるコンデンサの配置に関するものであり、とりわ
け、コンデンサ密度を高め、プリント回路基板上におけ
るコンデンサの配置に必要なバイア数を減少させるバイ
ア共用技法に関するものである。
の瞬時電流を消費する。これらの電流は、大量である
が、持続時間が極めて短く、一般に、スイッチング事象
のほんのわずかな部分しか持続しない。スイッチング中
に、電流を極めて速い速度で小から大及び/または大か
ら小にするという要求は、多くのデジタル回路設計にと
って問題となる可能性がある。
流が、回路電源によって供給される。しかし、インダク
タンス及びタイム・トランスファの物理的特性のため、
スイッチング中にデジタル装置によって必要とされる瞬
時大電流は、電源から直接得ることができない。代わり
に、従来の解決法では、デジタル装置の近くにコンデン
サを配置する。これらのコンデンサは、それを必要とす
る要求があると、電流の形ですぐに解放することが可能
な、電荷の局部貯蔵器の働きをする。このように用いら
れるコンデンサに共通の名称が、「デカップリング・コ
ンデンサ」である。
て誘導特性も有している。そのインダクタンスは、電源
のインダクタンスよりも大幅に小さいが、超高速スイッ
チング・デジタル回路の場合には、このインダクタンス
も問題になる。通常の解決法は、デジタル装置の電力及
び接地接続を横切る並列グリッド構造をなすように、こ
れらのコンデンサの多くを配置することである。並列に
組み合わせられたコンデンサの総合誘導特性は、弱まる
傾向にあるが、キャパシタンス自体は増大する。
ント回路基板(PCB)と呼ばれるファイバグラス基板
上に実装された1つ以上の集積回路(IC)パッケージ
が含まれている。PCBは、ファイバグラスと銅のよう
な金属の交互積層から形成されている。一般に、各層
は、電力面、接地面、または、回路内のノード間に経路
指定された金属ラインを設ける相互接続層の働きをす
る。
一方(すなわち、上部層または底部層)にデカップリン
グ・コンデンサを取り付け、PC基板内のそれぞれの電
力面と接地面にコンデンサの正端子と負端子を接続する
要求している。接続は、バイアを介して実施される。当
該技術において既知のように、バイアは、PCにドリル
加工で穴をあけ、銅のような導電体で穴の壁面に電気メ
ッキを施すことによって形成される。PCBのある特定
の層の金属が、バイアの導電性壁面に導電接続すると、
その特定の層は、バイアに接続したことになる。従っ
て、バイアへの接続を望まない場合には、バイアが形成
されることになる位置のまわりにおいて、金属層にエッ
チングを施して、金属層が確実にバイアに導電接続しな
いようにする。例えば、接地面に接続する全ての負バイ
ア位置のまわりにおいて、金属電力層にエッチングが施
されるが、電力面に接続する正のバイア位置にはエッチ
ングが施されない。
は、問題を生じる可能性がある。単位当たりのコストが
累積されて、大きな額になり、市場において製品のコス
ト競争力が低下する可能性がある。PCBアセンブリに
おけるコンデンサ・グリッドに必要な物理的スペースに
よって、製品が大型化したり、あるいは、そうしなけれ
ば製品の機能を高めることが可能なICを移動させるこ
とになる可能性がある。さらに、デジタルICのデカッ
プリングに必要なコンデンサが増すにつれて、コンデン
サは、デカップリングしようとするICからますます遠
くに配置しなければならなくなる。デカップリング・コ
ンデンサとICの距離が遠くなるほど、その効果は低下
し、利益を減少させることになる。
ンサの数が増すにつれて低下する。直観的には、これ
は、回路内のデバイスが増えるにつれて、デバイスが故
障する機会及び確率が増すためである。従って、デカッ
プリング・コンデンサの有効度を高めると、その数を減
少させ、製品の信頼性を高めることが可能になる。
プリント回路基板内に埋め込まれた電力面及び接地面に
それを接続する、少なくとも1対のバイアが含まれてい
る。前述のように、バイアは、基板上及び基板内の導電
層に選択的に接触する金属を内張りされた穴である。バ
イア自体がPCBの占有スペースを増すことになる。デ
カップリング・コンデンサ毎に複数バイア対を設ける
と、スペースがさらに増すという犠牲を払って、実装イ
ンダクタンスを低下させることになる。
は、従来のバイア共用に関連した誘導問題を生じること
なく、コンデンサの配置密度を高める方法を提供するこ
とにある。
プリング・コンデンサが、有害な誘導特性を増すことな
く、バイアを共用できるようにする技法が得られる。こ
の新規の共用バイア相互接続技法によって、コンデンサ
及びバイアの実装パターン密度を増すことが可能にな
る。
に実装されたコンデンサと底部に実装されたコンデンサ
の間で共用される。この構成によれば、共用バイアがP
CBボードの同じ側に取り付けられたコンデンサに接続
された場合の、先行技術によるバイア共用方法の電流倍
加問題が回避される。例示の実施態様の場合、各デカッ
プリング・コンデンサは、4つのバイアによってPCB
に接続されている。従って、本発明に従って接続される
多数のコンデンサに関して、コンデンサ当たりの総バイ
ア数は、約2つである。本発明は、PCBの両側に実装
されたコンデンサ間でバイアを共用することによって、
コンデンサ毎に4つのバイアが使えるようにし、同時
に、コンデンサ当たりほぼ2つのバイアしか実際には提
供されないようにする。
るバイア数を増すと、実装インダクタンス及び抵抗を減
少させ、従って、デカップリング・コンデンサの有効度
を高めることが可能になる。概して言えば、各デカップ
リング・コンデンサは、先行技術によるデカップリング
・コンデンサより有効であるため、ある特定の用途に必
要とされるデカップリング・コンデンサ数は少なくな
る。
示すために用いられている図と関連して以下の詳細な説
明によりさらに理解されるであろう。
いて簡単に検分してみることによってより明確になるで
あろう。図1は、プリント回路基板(PCB)2 の上
部層2aに従来のやり方で実装されたコンデンサ4の側
面図である。例示のように、コンデンサ4は、誘電体材
料5によって第2の導体7から離隔された第1の導体6
を含む、2つのリードを持つデバイスである。各それぞ
れの導体6及び7は、ハンダによって、それぞれの銅パ
ッド(本明細書では「トレース」とも呼ばれる)8a及
び8bに電気的に接続されている。トレースは、一般
に、バイア10a、10bによって、1つ以上の追加P
CB層(例えば、PCB層2b)に接続されている。例
示の実施態様の場合、トレース8aは、バイア10aに
電気的に接続され、トレース8bは、バイア10bに電
気的に接続される。コンデンサ4は、第1のPCB層2
aのトレース8a、8bを介して、さらに、バイア10
a及び10bを介して、PCB2の内部層(例えば、第
2の層2b)に電気的に接触する。
速デジタル回路の高速スイッチング電流の要求を満たす
ように取り付けなければならない。コンデンサ間でバイ
アを共用することによってスペース及びコストを節減し
ようと試みると、通常、各コンデンサの有効性が低下す
る。例えば、図2には、それぞれ、バイア10bを共用
するため、トレース8bに接続する正のリード7a、7
bを備える、プリント回路基板2に実装された2つのコ
ンデンサ4a及び4bが示されている。例示のように、
2つのコンデンサ4間の共用バイア10bは、各コンデ
ンサ4a及び4b毎に電流を通す。各コンデンサ4a及
び4bの電流は、バイア10bを矢印12で示す同じ方
向に流れる。これによって、バイア10bを通る電流が
実質的に倍加し、誘導損失が2倍になり、従って、コン
デンサ4a及び4bの両方の有効性が低下する。
先行技術の誘導損失問題を被ることのないコンデンサ実
装パターンである。図3は、本発明に従ってコンデンサ
・デカップリング回路を実施するプリント回路基板10
2の一部の側面図である。図3の例示の実施態様の場
合、4つのコンデンサ104a、104b、104c、
及び、104dが、PCB102上に実装される、すな
わち、2つのコンデンサ104a、104bがPCB1
02の上部層102aに、2つのコンデンサ104c、
104dが底部層102bに実装される。バイアは、P
CB102の上部と底部に実装されたコンデンサ間にお
いて共用される。この実装構成によって、後述するよう
に、共用バイアがPCBボードの同じ側に取り付けられ
たコンデンサに接続された場合の、先行技術のバイア共
用方法の電流倍加問題が回避される。
ボード金属層102a及び102bだけを例示した、P
CBボード102の一部の平面図である。この図では、
PCB102の上部層102aに実装された2つのコン
デンサ104a、104bだけしか見えない。コンデン
サ104c及び104dは、図3に示すように、底部金
属層102b上に、見えているコンデンサ104a及び
104bと正反対になるように実装されている。底部金
属層102bは、上部金属層102aの下に隠れるよう
に示されている。バイア110a、110d、110
e、110h、及び、110iは、それぞれ、PCB1
02の1つ以上の電力面(図6に示されている)に接続
している。バイア110b、110c、110f、11
0g、及び、110jは、それぞれ、PCB102の1
つ以上の接地面(やはり図6に示されている)に接続し
ている。例示のように、コンデンサ104aは、その正
端子107aがバイア110a及び110dに接続さ
れ、その負端子106aがバイア110c及び110f
に接続されている。コンデンサ104bは、その正端子
107bがバイア110e及び110hに接続され、そ
の負端子106bがバイア110g及び110jに接続
されている。
のPCBボード金属層102a及び102bだけを例示
した、図3及び4のプリント回路基板の同じ部分の底面
図である。例示された図は、図4のPCB図をページか
ら取り出して180゜回転させたものに相当する。底部
金属層102bは、上部金属層102aの上に重なって
隠すように示されている。この図では、PCB102の
底部層102bに実装された2つのコンデンサ104
c、104dだけしか見えない。コンデンサ104a及
び104bは、図3に示すように、上部金属層102a
上に、見えているコンデンサ104c及び104dと正
反対になるように実装されている。例示のように、コン
デンサ104cは、その負端子106cがバイア110
b及び110cに接続され、その正端子107cがバイ
ア110d及び110eに接続されている。コンデンサ
104dは、その負端子106dがバイア110f及び
110gに接続され、その正端子107dがバイア11
0h及び110iに接続されている。
110dは、コンデンサ104a及び104cによって
共用され、負バイア110cは、コンデンサ104a及
び104c、正バイア110eは、コンデンサ104b
及び104cによって共用され、負バイア110fは、
コンデンサ104a及び104dによって共用され、負
バイア110gは、コンデンサ104b及び104dに
よって共用され、正バイア110hは、コンデンサ10
4b及び104dによって共用される。
面102dも示されて、正の共用バイア110d、11
0e、または、110h、及び、負の共用バイア110
c、110f、または、110gの電流の流れが例示さ
れた、PCB102の側面図である。正の共用バイア1
10d、110e、110hは、PCB102の正の内
部銅電力面102cに接続することになる。任意の特定
の時間において、デカップリング電流(矢印112a及
び112bで示された)が、バイア110d、110e
を通って、電力面102cに流入するかまたは電力面1
02cから流出するが、流入と流出を同時に生じること
はない。従って、デカップリング電流が、バイアの上部
に流入して、底部から流出するか、あるいは、その逆に
なるのは不可能である。さらに、上部に実装されたコン
デンサ104a、104bからのバイアを通る電流は、
底部コンデンサ104c、104dからの電流と同様、
電力面102cに直接流入する。バイア110d、11
0e、110hのセクション(部分)は、電力面102
cの境界を除くと、コンデンサ104a及び104cま
たは104b及び104dの両方から同時に電流が通る
ことはない。
と比較すればごくわずかである。電力面102cの境界
における誘導の影響は、取るに足らないものであり、有
効に無視することが可能である。バイア110d、11
0eの部分は、上部及び底部のデカップリング・コンデ
ンサ104a及び104cまたは104b及び104d
の両方から同時に電流が流れないので、誘導損失が、非
共用デカップリング・バイアの誘導損失を超えることは
ない。
10f、及び、110gにも当てはまる。図示のよう
に、負の共用バイア110c、110f、110gは、
PCB102の接地面102dに接続することになる。
任意の特定の時間において、デカップリング電流(矢印
112c及び112dで示された)が、バイア110
c、110f、110gを通って、接地面102dに流
入するかまたは電力面102dから流出するが、流入と
流出を同時に生じることはない。従って、デカップリン
グ電流が、バイアの上部に流入して、底部から流出する
か、あるいは、その逆になるのは不可能である。さら
に、バイアを通って上部に実装されたコンデンサ104
a、104cに達する電流は、底部コンデンサ104
c、104dに達する電流と同様、接地面102dから
直接流出する。バイア110c、110f、110gの
セクション(部分)は、接地面102dの境界を除く
と、コンデンサ104a及び104cまたは104b及
び104dの両方から同時に電流が通ることはない。
ンダクタを並列に組み合わせると、それぞれ、各インダ
クタの値の半分になる。各コンデンサ端子から、本発明
によって、PCB電力面に対して2つの同じバイア構造
が形成されることが分かる。コンデンサ自体に関連した
インダクタンスは影響を受けないので、コンデンサ・デ
カップリング回路の全インダクタンスが完全に半分に減
少するというわけではないが、相互接続インダクタンス
が減少する。この結果、コンデンサ・デカップリング回
路の総合インダクタンスが減少することになる。
なる減少、従って、コンデンサの有効性のさらなる向上
を実現するため、コンデンサ端子毎に、電力面または接
地面に対して3つ、4つ、あるいは、それを超える接続
さえ含むように拡張することが可能であることは明らか
である。
備えることに関するもう1つの利点は、コンデンサ・デ
カップリング回路の抵抗が小さくなることである。この
利点は、インダクタンスを減少させるのと同じやり方で
実現される。抵抗が小さくなると、デカップリングの有
効性が増す。
に反復して、平均のバイア/コンデンサ比を低下させる
ことが可能である。図7は、本発明に従ってプリント回
路基板に実装されたデカップリング・コンデンサ・グリ
ッドの平面図である。
サに4つのバイアが接続する4バイア接続パターンの場
合、コンデンサ当たりの平均バイア数は、最大で3つで
あり、パターンを反復すると、すぐにほぼ2まで減少す
る。これが、表1に示されている。 表1
て設けられるバイア数は、数式2n+2で表現すること
が可能である。ここで、nは、プリント回路基板に実装
される背中合わせのコンデンサ数である。
ターンが示されており、一方の金属層に実装された5つ
の奇数番号のコンデンサC1〜C9が、20のバイアL1
〜L2 0と共に表されている。図3、4、及び、5のパタ
ーンから分かるように、5つの偶数番号のコンデンサC
2〜C10が、プリント回路基板の反対側において、もう
一方の金属層に実装されている。
の第1の端子は、バイアL1及びL4に電気的に接続さ
れ、コンデンサC1の第2の端子は、バイアL3及びL6
に電気的に接続されている。プリント回路基板の反対側
において、コンデンサC2の第1の端子は、バイアL2及
びL3に接続され、コンデンサC2の第2の端子は、バイ
アL4及びL5に接続されている。
るコンデンサ端子の接続は、次のように概括することが
可能である。各奇数番iのコンデンサ(ここで、iは1
〜n−1の番号)の第1の端子は、2i−1及び2i+
2番のバイアに電気的に接続される。各奇数番iのコン
デンサの第2の端子は、2i+1及び2i+4番のバイ
アに接続される。同様に、各偶数番iのコンデンサ(こ
こで、iは2〜nの番号)の第1の端子は、2i−2及
び2i−1番のバイアに電気的に接続され、各偶数番i
のコンデンサの第2の端子は、バイア2i及び2i+1
に接続される。
カップリング・コンデンサの両方の実装密度を高めるパ
ターンに従ってPCBに実装される。このパターンによ
って、有効バイア数が、コンデンサ当たり2から4に増
加するが、大きいパターンの場合、コンデンサ当たりの
バイア数は平均化されて2に近づく。PCBボードの両
側が利用されるので、デカップリング・コンデンサに必
要なスペースはさらに縮小される 本発明の解説は、例示の実施態様に関して行われたが、
当事者には明らかなように、本発明の精神及び範囲を逸
脱することなく、例示の実施態様にさまざまな変更及び
修正を施すことが可能である。例えば、デカップリング
・コンデンサの極性を逆にすることもできるし、あるい
は、金属電力層の電圧を金属接地層に対して負にするこ
とも可能である。本発明の範囲は、決して、図示及び解
説の例証となる実施態様に制限されることを意図したも
のではなく、本発明を規定するのは付属の請求項だけで
ある。
属層(102a)と、第2の金属層(102b)と、金
属電力層(102c)と、金属接地層(102d)と、
i番目(ここで、i=1、2、3、…、n)のデカップ
リング・コンデンサが前記プリント回路基板に取り付け
られ、奇数番のデカップリング・コンデンサ(104
a、104b、C1、C3、C5、C7、C9)が前記
第1の金属層(102a)に取り付けられ、偶数番のデ
カップリング・コンデンサ(104c、104d)が前
記第2の金属層(102b)に取り付けられている、複
数nのデカップリング・コンデンサ(104a、104
b、104c、104d、C1、C3、C5、C7、C
9)と、前記第1の金属層(102a)及び前記第2の
金属層(102b)を前記金属電力層(102c)に電
気的に接続する複数(2n+2)/2の正バイア(11
0d、110e、110h、L4、L5、L8、L9)
と、前記第1の金属層(102a)及び前記第2の金属
層(102b)を前記金属接地層(102d)に電気的
に接続する複数(2n+2)/2の負バイア(110
c、110f、110g、L3、L6、L7、L10)
と、その第1の端子(107a、107b)が正バイア
2i−1及び2i+2(L1及びL4;L5及びL8)
に電気的に接続され、第2の端子(106a、106
b)が負バイア2i+1及び2i+4(L3及びL6;
L7及びL10)に電気的に接続された奇数番のデカッ
プリング・コンデンサ(104a、104b、C1、C
3、C5、C7、C9)と、その第1の端子(107
a、107b)が正バイア2i及び2i+1(L4及び
L5;L8及びL9)に電気的に接続され、第2の端子
(106a、106b)が負バイア2i−2及び2i−
1(L2及びL3;L6及びL7)に電気的に接続され
た偶数番のデカップリング・コンデンサ(104c、1
04d)が含まれている、プリント回路基板。
属層(102b)、金属電力層(102c)、及び、金
属接地層(102d)を含むプリント回路基板にデカッ
プリング・コンデンサを配置するための方法であって、
前記第1の金属層(102a)及び前記第2の金属層
(102b)を前記金属電力層(102c)に電気的に
接続するため、複数の正バイア(110d、110e、
110h、L4、L5、L8、L9)を設けるステップ
と、前記第1の金属層(102a)及び前記第2の金属
層(102b)を前記金属接地層(102d)に電気的
に接続するため、複数の負バイア(110c、110
f、110g、L3、L6、L7、L10)を設けるス
テップと、前記プリント回路基板上にnのコンデンサ
(104a、104b、104c、104d、C1、C
3、C5、C7、C9)を配置して、少なくとも(2n
−2)/2の正バイアと(2n−2)/2の負バイア
が、前記nのコンデンサ間において共用されるようにす
るステップが含まれている、方法。
の端子(106a、106b、106c、106d)及
び第2の端子(107a、107b、107c、107
d)を電気的に接続するのに、2n+2のバイアだけし
か必要としないことを特徴とする、上記2に記載の方
法。
4b、104c、104d、C1、C3、C5、C7、
C9)のほぼ半分が、前記第1及び第2の金属層(10
2a及び102b)のそれぞれに配置されることを特徴
とする、上記2または3に記載の方法。
の第1の端子(107a)を第1の正バイア(110
a、L1)及び第2の正バイア(110d、L4)に電
気的に接続し、前記第1のコンデンサ(104a)の第
2の端子(106a)を第1の負バイア(110c、L
3)及び第2の負バイア(110f、L6)に電気的に
接続するステップと、第2のコンデンサ(104b)の
第1の端子(107b)を第3の正バイア(110e、
L5)及び前記第2の正バイア(110d、L4)に電
気的に接続し、前記第2のコンデンサ(104b)の第
2の端子(106b)を前記第1の負バイア(110
c、L3)及び第3の負バイア(110b、L2)に電
気的に接続するステップと、第3のコンデンサ(104
c、C3)の第1の端子(107c)を前記第3の正バ
イア(110e、L5)及び第4の正バイア(110
h、L8)に電気的に接続し、前記第3のコンデンサ
(104c)の第2の端子(106c)を第4の負バイ
ア(110g、L7)及び第5の負バイア(110j、
L10)に電気的に接続するステップと、第4のコンデ
ンサ(104d)の第1の端子(107d)を前記第4
の正バイア(110h、L8)及び第5の正バイア(1
10i、L9)に電気的に接続し、前記第4のコンデン
サ(104d)の第2の端子(106d)を前記第2の
負バイア(110f、L6)及び前記第4の負バイア
(110g、L7)に電気的に接続するステップが含ま
れていることを特徴とする、上記2、3、または、4に
記載の方法。
属層(102b)、金属電力層(102c)、及び、金
属接地層(102d)を含むプリント回路基板(10
2)に、nのデカップリング・コンデンサ(104a、
104b、104c、104d、C1、C3、C5、C
7、C9)のうちi番目(ここで、i=1、2、3、
…、n−2、n−1、n)のデカップリング・コンデン
サを配置するための方法であって、前記第1の金属層及
び前記第2の金属層を前記電力層に電気的に接続するた
め、複数のバイア(110d、110e、110h、L
4、L5、L8、L9)を設けるステップと、前記第1
の金属層及び前記第2の金属層を前記接地層に電気的に
接続するため、複数のバイア(110c、110f、1
10g、L3、L6、L7、L10)を設けるステップ
と、バイアを共用するため、前記プリント回路基板上に
前記nのデカップリング・コンデンサを配置して、奇数
番iのデカップリング・コンデンサ(i=1、3、5、
…、n−1)の第1の端子(107a、107b)が、
2i−1番及び2i+2番のバイアに電気的に接続さ
れ、その第2の端子(106a、106b)が、2i+
1番及び2i+4番のバイアに電気的に接続され、偶数
番iのデカップリング・コンデンサ(i=2、4、6、
…、n)の第1の端子(107c、107d)が、2i
番及び2i+1番のバイアに電気的に接続され、その第
2の端子(106c、106d)が、2i−2及び2i
−1番のバイアに電気的に接続されるようにするステッ
プが含まれている、方法。
1の端子(107a、107b、107c、107d)
が、正の極性であり、前記デカップリング・コンデンサ
の第2の端子(106a、106b、106c、106
d)が、負の極性であることを特徴とする、上記6に記
載の方法。
ンサの側面図である。
アを共用する2つのコンデンサの側面図である。
路を実施するプリント回路基板の一部の側面図である。
プリング回路を備えたプリント回路基板の平面図であ
る。
面図である。
路基板の側面図である。
デカップリング・コンデンサ・グリッドの平面図であ
る。
3、C5、C7、C9 デカップリングコンデンサ 106a、106b、106c、106d コンデンサ
の第2の端子 107a、107b、107c、107d コンデンサ
の第1の端子 110c、110f、110g、L3、L6、L7、L
10 負バイア 110d、110e、110h、L4、L5、L8、L
9 正バイア
Claims (1)
- 【請求項1】プリント回路基板であって、 第1の金属層(102a)と、 第2の金属層(102b)と、 金属電力層(102c)と、 金属接地層(102d)と、 i番目(ここで、i=1、2、3、…、n)のデカップ
リング・コンデンサが前記プリント回路基板に取り付け
られ、奇数番のデカップリング・コンデンサ(104
a、104b、C1、C3、C5、C7、C9)が前記
第1の金属層(102a)に取り付けられ、偶数番のデ
カップリング・コンデンサ(104c、104d)が前
記第2の金属層(102b)に取り付けられている、複
数nのデカップリング・コンデンサ(104a、104
b、104c、104d、C1、C3、C5、C7、C
9)と、 前記第1の金属層(102a)及び前記第2の金属層
(102b)を前記金属電力層(102c)に電気的に
接続する複数(2n+2)/2の正バイア(110d、
110e、110h、L4、L5、L8、L9)と、 前記第1の金属層(102a)及び前記第2の金属層
(102b)を前記金属接地層(102d)に電気的に
接続する複数(2n+2)/2の負バイア(110c、
110f、110g、L3、L6、L7、L10)と、 その第1の端子(107a、107b)が正バイア2i
−1及び2i+2(L1及びL4;L5及びL8)に電
気的に接続され、第2の端子(106a、106b)が
負バイア2i+1及び2i+4(L3及びL6;L7及
びL10)に電気的に接続された奇数番のデカップリン
グ・コンデンサ(104a、104b、C1、C3、C
5、C7、C9)と、 その第1の端子(107a、107b)が正バイア2i
及び2i+1(L4及びL5;L8及びL9)に電気的
に接続され、第2の端子(106a、106b)が負バ
イア2i−2及び2i−1(L2及びL3;L6及びL
7)に電気的に接続された偶数番のデカップリング・コ
ンデンサ(104c、104d)とが含まれている、プ
リント回路基板。
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