JP2002355753A - 高性能長寿命リテーナリング及びそれを含む研磨装置 - Google Patents

高性能長寿命リテーナリング及びそれを含む研磨装置

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JP2002355753A
JP2002355753A JP2001163280A JP2001163280A JP2002355753A JP 2002355753 A JP2002355753 A JP 2002355753A JP 2001163280 A JP2001163280 A JP 2001163280A JP 2001163280 A JP2001163280 A JP 2001163280A JP 2002355753 A JP2002355753 A JP 2002355753A
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resin
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polishing
ceramic layer
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JP2001163280A
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Kazunori Shibukawa
和典 渋川
Kenichi Yamano
健一 山野
Masayoshi Kamidate
政義 神舘
Toshiyuki Fukuda
利之 福田
Takeshi Ogawa
武 小川
Yoshihiko Murakami
嘉彦 村上
Hideki Arai
英樹 荒井
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Sumitomo Osaka Cement Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Osaka Cement Co Ltd
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/27Work carriers
    • B24B37/30Work carriers for single side lapping of plane surfaces
    • B24B37/32Retaining rings

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 使用寿命が長く、研磨性能を向上させる研磨
装置用リテーナリング及びそれを含む研磨装置の提供。 【解決手段】 研磨テーブル上に装着された研磨パッド
と、それに向って配置され、被研磨物品を保持し、これ
を研磨パッドに接触させる保持部材と、この保持部材に
装着されたリテーナリングとを有する研磨装置におい
て、前記リテーナリングが、その中心部に形成された、
被研磨物品を収容する中空部と、研磨パッドに当接する
セラミックス層部と、セラミックス層部の上に、それと
一体成形された樹脂層部とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、研磨装置用リテー
ナリング及びそれを含む研磨装置に関するものである。
更に詳しく述べるならば、本発明は、例えば、半導体ウ
エハなどの基板のような、被研磨板状物品の研磨に用い
られ、高い保持性能と長い使用寿命を有するリテーナリ
ング及びそれを含む研磨装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体ウエハの基板などのような
被研磨板状物品(以下被研磨基板と記す)の製造装置に
おける研磨装置として、例えば、図1に示されている構
成を有する装置が用いられている。図1において、研磨
装置1は研磨テーブル2、研磨テーブル支持具2a、研
磨テーブル上に貼着固定された研磨パッド3、被研磨基
板(図示されていない)を固定保持するための被研磨基
板保持部材4、それを定位置に支持する保持部材支持具
4a、研磨パッド上に研磨剤スラリーを供給するための
研磨剤スラリー供給手段5、コンディショニング機構部
材6、それを所定位置に保持するコンディショニング機
構支持具6a、コンディショニング機構部材6の下面に
装着されたダイヤモンドペレット7を有し、被研磨基板
保持部材4及びコンディショニング機構部材6には、そ
れぞれの支持具4a及び6aを介して、これを回転、揺
動及び/又は研磨パッド面に向って押圧する加圧手段
(図1に示されていない)が、取りつけられている。ま
た研磨テーブル2にもその支持具2aを介してこれを回
転する手段を(図1には図示されていない)が取りつけ
られている。
【0003】図1に示された研磨装置において、支持具
2aの中心軸2bのまわりに回転する研磨テーブル2上
に装着された研磨パッド3の研磨表面の状態は、支持具
6aの中心軸6bのまわりに回転しつつ揺動するコンデ
ィショニング機構部材6の下面に装着されたダイヤモン
ドペレット6aに接触することより、常に一定の研磨面
状態に保持されている。一方、支持具4aの中心軸4b
のまわりに回転する被研磨基板保持部材4の下面側に、
被研磨基板(図1には図示されていない)が装着され、
その下面は、研磨パッド3に接触して、研磨剤スラリー
供給手段5から研磨パッド上に供給された研磨剤スラリ
ーにより所望の研磨を施される。
【0004】上記被研磨基板は、例えば図1の保持部材
4に、リテーナリング(図1には図示されていない)を
介して固定される。従来のリテーナリングの一例を図2
(a)及び図2(b)に示す。図2(a)は従来のリテ
ーナリングの装着機構の一例の正面断面説明図であり、
図2(b)は図2(a)の線A−Aに沿う構断平面説明
図である。
【0005】図2(a)及び図2(b)に示された被研
磨基板保持部材の一例は、円形の形状を有する板状体に
より形成され、その周縁部に、その中心点と同心の円環
板状のリテーナリング8が装着固定されている。この円
環板状リテーナリング8の中空部に、被研磨基板9が装
着固定されている。換言すれば保持部材4の中心円形部
分に被研磨基板9が装着され、そのまわりにリテーナリ
ング8が装着されて、被研磨基板9の水平方向の変位
を、リテーナリング9により防止している。研磨操作の
際には、保持部材4に装着された被研磨基材9の下面
は、研磨パッド3に接触し、これに所望の研磨が施され
る。一般に、被研磨基板の外側面と、リテーナリング8
の内側面との間にはせまい間隙が形成されている。従来
のリテーナリングは、セラミックスにより形成されてい
た。
【0006】図2(a),(b)に示された従来の研磨
装置においては、下記の利点、すなわち、研磨パッドの
目詰りが進行しにくいこと、及び被研磨基板の面ダレ
(被研磨基板周縁部分が異常研磨により薄くなる現象)
が生じないこと、などの優れた効果を有するものである
が、しかし、下記の欠点、すなわち研磨中に発生する応
力が、セラミックス製のリテーナリングに集中し、この
ためリテーナリングが破損しやすく、その使用寿命が短
かいという問題が生じていた。
【0007】そこで、上記問題点を解消するために、リ
テーナリングの、研磨パッドに接する下面側部分を、セ
ラミックスにより形成し、別に研磨パッドに接触しない
部分を有機重合体(以下樹脂と記す)により形成し、こ
のセラミックス部分と、樹脂部分(ともに円環板状体)
とを、積層し、その接触面を接着剤により接着して一体
化する方式か、あるいは、セラミックス部分と、樹脂部
分とを積層し、これらを機械的手段、例えば、ネジ止
め、嵌合等により一体化する方式が知られている。しか
しながら、リテーナリングを上記セラミックス部分と樹
脂部分とを別々に形成し、その後にこれらを化学的に又
は機械的に一体化する方式には、下記の不都合がある。 (1)前記セラミックス部分と樹脂部分とを接着剤で接
着して一体化したリテーナリングにあっては、酸性また
はアルカリ性の研磨剤スラリーに曝されると、接着部に
劣化が生じ、その使用寿命を短縮する。 (2)前記セラミックス部分と樹脂部分とを機械的固定
手段により一体化し得るように予めそれぞれ別個に形成
し、それらを組み合わせて一体化したリテーナリングに
あっては、セラミックス部分と樹脂部分との間に加工公
差の範囲で隙間が生じ、この隙間に研磨剤スラリー中の
砥粒が入り込む。この砥粒が被研磨基板の研磨中に研磨
パッド上に脱落すると、被研磨基板を傷つけてしまう。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、研磨装置
の、被研磨基板保持部材に装着するリテーナリングにお
いて、使用寿命が長く、長期間にわたり、取り替えるこ
となく継続使用することができ、研磨パッドの目詰り、
及び被研磨基板の外周側面に面ダレを生ずることがな
く、さらに被研磨基板の被研磨面に損傷を与えることの
ないリテーナリングを提供し、またそれを用いた研磨装
置を提供しようとするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明のリテーナリング
は、中心部に中空部を有するリテーナリングであって、
その一面側の部分にセラミックス材料により形成された
セラミックス層部と、他面側の部分にこのセラミックス
層部に連続し、合成樹脂材料により形成された樹脂層部
とを有し、前記セラミックス層部と、前記樹脂層部とが
一体成形により、成形合体されていることを特徴とする
ものである。本発明のリテーナリングにおいて、前記セ
ラミックス層部の中空部側内周側面部分が、前記樹脂層
部から伸び出し、かつ合成樹脂材料から形成された樹脂
内周側面部により被覆されていることが好ましい。本発
明のリテーナリングにおいて、前記セラミックス層部の
外周側面部分が、前記樹脂層部から伸び出し、かつ合成
樹脂材料から形成された樹脂外周側面部により被覆され
ていることが好ましい。本発明のリテーナリングにおい
て、前記セラミックス材料が、炭化珪素、アルミナ、窒
化珪素、サイアロン、フォルステライト、ステアタイ
ト、コーディエライトから選ばれた少なくとも1種から
なることが好ましい。本発明のリテーナリングにおい
て、前記合成樹脂が、ポリアセタール樹脂、ポリフェニ
レンサルファイド樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリイ
ミド樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリブチレン
テレフタレート樹脂、フッ素樹脂の少なくとも1種から
なることが好ましい。本発明のリテーナリングにおい
て、前記樹脂層部に、前記リテーナリングの半径方向
に、かつ、前記セラミックス層部の表面にほゞ平行に伸
びる1個以上の貫通孔が形成されていることが好まし
い。本発明のリテーナリングにおいて、前記セラミック
ス層部の表面部分に、前記リテーナリングの半径方向
に、かつ前記表面にほゞ平行に伸びる1個以上の溝が形
成されていることが好ましい。本発明のリテーナリング
において、前記樹脂層部上に配置固定された装着部材を
さらに有することが好ましい。本発明の研磨装置は、研
磨テーブルと、その表面上に装着された研磨パッドと、
前記研磨パッドに対向して配置され、被研磨基板を保持
し、これを前記研磨パッドに接触させ得る、被研磨基板
保持部材と、前記被研磨基板保持部材に装着された前記
被研磨基板を、包囲保護するように前記保持部材に装着
されたリテーナリングとを有する研磨装置において、前
記リテーナリングが、上記本発明のリテーナリングから
選ばれ、そのセラミックス層部が、前記研磨パッドに対
向して位置するように前記保持部材に装着されているこ
とを特徴とするものである。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明のリテーナリングは、研磨
装置の被研磨基板保持部材に、それに装着された被研磨
基板を包囲保護するように装着される円環形状体であっ
て、その中心部には、被研磨基板を装着するための中空
部が形成されている。本発明のリテーナリングの一面側
部分、すなわち、研磨装置に装着されたとき、研磨パッ
ドに対向接触する面側部分に、セラミックス材料により
形成されたセラミックス層部が形成されており、他面側
部分に、前記セラミックス層部に連続し、合成樹脂材料
により形成された樹脂層部が形成されていて、これらセ
ラミックス層部と樹脂層部とが、一体成形により形成合
体されているものである。
【0011】本発明において、「一体成形」とは、セラ
ミックス材料層と合成樹脂材料層とを、積層状態下にお
いて一体成形し、セラミックス層部と、それに積層合体
された樹脂層部とからなるリテーナリングを形成するこ
とを云う。すなわちこの一体成形は、セラミックス材料
を成形してセラミックス層部を形成し、それとは別個に
合成樹脂材料を成形して樹脂層部を形成し、このセラミ
ックス層部と樹脂層部とを積層して、接着剤による化学
的接合、又は、機械的固定手段、例えば、ネジ止め、嵌
合などにより固定する従来方法とは明確に異るものであ
る。本発明のリテーナリングの一体成形の一例におい
て、成形機の成形空間(金型空間)の一部にセラミック
ス材料層を形成し、成形空間の残余の部分に合成樹脂の
溶融体を注入充填し、これを固化すると、固化した樹脂
層部は、セラミックス層部と緊密に接合して一体を形成
する。
【0012】本発明のリテーナリングにおいて、セラミ
ックス層部と樹脂層部とは一体成形されているので、そ
の界面は密着していて隙間や底孔を生ずることがなく、
従って、酸性またはアルカリ性の研磨剤スラリーに曝さ
れても界面に劣化が生じることはなく、また、セラミッ
クス層部と樹脂層部との間に研磨剤スラリー中の砥粒が
入り込むこともない。
【0013】本発明のリテーナリングの一例の一部正面
断面説明図が図3に示されている。図3には、リテーナ
リングの正面断面の左半部のみが示されている。図3に
おいて、円環状リテーナリング11の下面側部分には、
セラミックス材料から形成されたセラミックス層部12
が形成され、それに連続して、その上に、リテーナリン
グ11の上面部分をなす、合成樹脂材料から形成された
樹脂層部13が形成され、これらセラミックス層部12
と樹脂層部13とは一体成形により成形されたものであ
る。このリテーナリング11の中心部分には被研磨基板
(図示されていない)を収容するための中空部14が形
成されている。
【0014】図3において、セラミックス層部12の中
空部14に面する内周側面部は、樹脂層部13から下向
きに伸び出し、合成樹脂から形成された樹脂内周側面部
15により被覆されており、また、セラミックス層部1
2の外周側面部は、樹脂層部13から下向きに伸び出
し、合成樹脂から形成された樹脂外周側面部16により
被覆されている。樹脂層部13には、リテーナリング1
1の中心線11aから伸びる半径方向に沿って、セラミ
ックス層部12の下面にほゞ平行に伸びる、1本以上、
好ましくは複数面の貫通孔17が形成されている。
【0015】図3において、樹脂層部13の上面上に、
樹脂ブロック18が形成しており、この樹脂ブロック1
8は、樹脂層部13の内周面及び外周面に沿って上向き
に伸び出た樹脂ブロック支持用突起部19a,19bに
より保持されている。図3において、樹脂ブロック18
を抱えた樹脂層部13の上には、装着部材20が装着さ
れていて、リテーナリング11は、この装着部材20を
介して、被研磨基板保持部材(図示されていない)に例
えば、ネジ止め(図示されていない)などの手段により
装着固定される。
【0016】図3に示されたリテーナリング11におい
て、例えばそのセラミックス層部12は、炭化珪素によ
り形成され、樹脂層部13は、ポリフェニレンエーテル
樹脂により形成され、装着部材20は、ステンレス鋼な
どの金属材料により形成される。セラミックス層部12
の厚さは、例えば、1〜10mm程度であることが好まし
く、樹脂層部13の厚さ(セラミックス層部12との当
接面から樹脂ブロック18との当接面までの厚さ)は、
3〜60mm程度であることが好ましく、また装着部材2
0の厚さは、5〜20mm程度であることが好ましい。樹
脂層部13の樹脂内周側面部15は、リテーナリング1
1の中空部14内に配置された被研磨基板(図示されて
いない)のチッピング防止に有効である。樹脂層部13
に形成された貫通孔17は、研磨の際に使用され、被研
磨基板とリテーナリングとの間の隙間に侵入した研磨剤
スラリーを、スムースに研磨系外に排出することがで
き、それにより、被研磨基板の面ダレの防止を一層向上
させることができる。貫通孔17の数には格別の制限は
ないが、90度の角間隔をもって、4本の貫通孔17が
放射状に形成されていることが好ましく、その内径にも
格別の制限はないが、例えば2〜5mm程度であることが
好ましい。
【0017】図3において、樹脂層部13上に配置され
た樹脂ブロック18は、樹脂層部13と装着部材20と
の間に位置しており、このような樹脂ブロックを用いる
ことにより、一体成形の際に、樹脂層部13の形成のた
めに注入・充填される樹脂の量を低減させることがで
き、それによって樹脂溶融体の固化の際の「ひけ(体積
減少)」による樹脂層部13の変形や、セラミックス層
部との界面における隙間の形成を防止することができ
る。樹脂ブロック18の厚さにも格別の制限はないが、
通常1〜50mm程度であることが好ましい。
【0018】図4に、本発明のリテーナリングを装着し
た研磨装置の要部を示す。図4の研磨装置21におい
て、リテーナリング11を装着し、その中空部に被研磨
基板23を保持している被研磨基板保持部材4を研磨テ
ーブル(図示されていない)上に装着された研磨パッド
22上に接触させる。被研磨基板23は、リテーナリン
グ11の中空部に配置され、空気送入管24aから導入
された空気により拡張されたエアバッグ24により均等
に、研磨パッド22上に押しつけられている。このとき
の被研磨基板23の下面は、リテーナリング11のセラ
ミックス層部12の下面と同一平面上にある。被研磨基
板23の被研磨表面部には、例えば、LSIの多層配線
構造の一部が形成され、その最外表面には、層間絶縁膜
が堆積形成されている。この層間絶縁膜表面には、その
下層に配置された配線層による凹凸が形成されているか
ら、この研磨装置により、化学的機械的研磨により表面
を平坦に研磨することができる。
【0019】エアバッグ24により、研磨パッド表面に
押しつけられた被研磨基板23の横ずれは、リテーナリ
ング11により防止される。このとき、被研磨基板23
の側面がリテーナリング11の内周側面と接触しても、
この内周側面に樹脂層15が形成されておれば、被研磨
基板側面のチッピングが防止される。リテーナリング1
1のセラミックス層部12の研磨パッド22に当接する
表面は、研磨パッド22との摩擦が小さくなるように、
0.055〜35程度に鏡面仕上されていることが好ま
しい。
【0020】上記説明から明らかなように、研磨装置の
リテーナリングを、一体成形により形成されたセラミッ
クス層部と樹脂層部とから構成し、これを装着部材を介
して、被研磨基板保持部材に装着することにより、研磨
作業中にリテーナリングにかゝる荷重をセラミックス層
部と装着部材との間に位置する樹脂層部において吸収し
てその応力を緩和することができる。このために、研磨
作業中に、その応力が、セラミックス層部に集中して、
リテーナリングが破損することが防止される。従って、
研磨作業中のリテーナリングの交換頻度が少なくなり、
研磨パッドの目詰まりも進行しにくゝなり、被研磨基板
周側面の面ダレの発生も少なくなる。
【0021】また、本発明のリテーナリングは、個々に
形成されたセラミックス層部と樹脂層部とを従来のよう
に接着剤で接着されるか、または機械的手段により組み
合わせて一体化した場合に比較して、酸性またはアルカ
リ性の研磨剤スラリーに曝されても両層部の界面に劣化
が生じることはなく、また、セラミックス層部と樹脂層
部との間に隙間が生ずることもないので研磨剤スラリー
中の砥粒が界面に入り込むことがないので、脱落した砥
粒によって被研磨基板にスクラッチ傷が発生することも
なく、被研磨基板を効率よく廉価に研磨することができ
る。
【0022】また、本発明のリテーナリングにおいて、
セラミックス層部の内周側面が樹脂層により被覆されて
なるので、被研磨基板のチッピングを有効に防止するこ
とができる。更に、本発明のリテーナリングは、研磨パ
ッドにセラミックス層部のみにおいて接触するので、金
属製の装着部材が研磨パッドに接触することはない。し
たがって、金属成分が研磨パッド上に広がり、被研磨基
板に形成されているデバイスの特性に悪影響を及ぼした
りまた、金属材料の切削片が発生したとき、その切削片
により研磨面を傷つけることがない。また、本発明のリ
テーナリングは、研磨パッド102に、セラミックス層
部のみにより接触し、その樹脂層部は接触しない。した
がって切削片が被研磨基板のアライメント(位置決め)
のマーク溝に入り込むことはなく、被研磨基板の位置決
めが困難になることもない。
【0023】また、上述の実施態様では、セラミックス
層部の研磨パッドとの当接面が平滑な平面であるが、こ
れに限るものではなく、図5に示すように、セラミック
ス層部12の研磨パッド(図示されていない)との当接
面には、研磨剤スラリーの排出用の1個以上の溝20が
形成されていてもよい。このように溝20が形成されて
いると、研磨の際に使用する研磨スラリーがスムーズに
研磨系外に排出されるので、被研磨基板外周側面の面ダ
レがより一層抑制される。この溝部20の幅、深さは、
通常、それぞれ、0.5〜2mm程度、0.1〜2mm程度
である。またその数は、等角間隔で放射状に形成された
4〜16個であることが好ましい。
【0024】本発明のリテーナリングは、例えば下記方
法により製造することができる。まず、金属製の装着部
材20と、樹脂ブロック18とを、皿ネジ等で固定した
後、装着部材20に対し、セラミックス層部12を位置
決めコマを使って配置し、組み付ける。次にこの組み付
け体を金型セット用穴を通して成形用金型内にセットし
た後、金型内に溶融した樹脂を、成形金型内の樹脂層部
13形成用空間に隙間なく注入・充填し、冷却して全体
を一体に成形する。また、貫通穴17は、例えば、固化
して形成された樹脂部分101bにドリルを用いて穿
孔、形成することができる。
【0025】なお、上述の実施態様では、セラミックス
部分101aを形成するセラミックスとして炭化珪素
を、樹脂部分101bを形成する樹脂としてポリフェニ
レンエーテル樹脂を、装着部分101cを形成する金属
としてステンレス鋼を用いるようにしたが、これに限る
ものではない。好適なセラミックス材料としては、炭化
珪素の他、アルミナ、窒化珪素、サイアロン、フォルス
テライト、ステアタイト、コーディエライト等を使用す
ることができる。また樹脂材料としては、ポリフェニレ
ンエーテル樹脂の他、ポリアセタール樹脂、ポリフェニ
レンサルファイド樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリイ
ミド樹脂、ポリブチレンテレフタレート樹脂、フッ素樹
脂等を使用することができる。装着部材用金属材料とし
ては、ステンレス鋼の他、高い耐腐食性と高い機械的強
度を有するタンタル、ハステロイ合金、インコネル合
金、モネル合金、又はアルミニウム合金等を使用するこ
とができる。
【0026】
【実施例】本発明を下記実施例により、更に説明する。
【0027】実施例1 (リテーナリングの作製)SUS316ステンレス鋼を
用い、切削加工法により、図3に示される円環板状の装
着部材(外径250mm、内径203mm、厚み8mm)を作
製した。また、ポリフェニレンエーテル樹脂を用い、切
削加工法により、図3に示される円環板状の樹脂ブロッ
ク(外径246mm、内径205mm、厚み3mm)を作製し
た。更に、炭化珪素焼結体を用い、切削加工法により、
図3に示される円環板状のセラミックス層部(外径25
0mm、内径203mm、厚み4mm)を作製した。なお、セ
ラミックス層部の研磨パッドとの当接面に0.1Sの鏡
面研磨仕上げを施した。
【0028】更に、ポリフェニレンエーテル樹脂を用
い、切削加工法により、装着部材とセラミックス層部と
を2.2mm離間して配設する位置決めコマを作製した。
次いで、装着部材と樹脂ブロックとを皿ネジで固定した
後、上記4個の部品を成形用金型内において、図3に示
されたリテーナリングを形成する形状に組み立てて、2
00トンの横型射出成型機にセットし、300℃まで加
熱して溶融したポリフェニレンエーテル樹脂を34.3
MPa (350kgf /cm2 )の成形圧力で、成形金型に隙
間なく注入・充填し、冷却して、一体化した。そして、
固化して形成された樹脂層部の中心部に、径2mmのドリ
ルを用いて研磨剤スラリー排出用の貫通穴をリテーナリ
ングの内周から外周方向へ、放射状に、90度の角度を
もって4ヵ所穿孔、形成し、図3に示された構成のリテ
ーナリングを得た。
【0029】(研磨試験)このリテーナリングを、装着
部材を介して従来周知の研磨装置の被研磨基板保持部材
に装着し、厚さ1000nmのCu膜が成膜された直径1
52.4mm(6インチ)のSiウエハを、基準面をウエ
ハ表面とするダイレクトエアーバッグ加圧方式により、
下記の研磨条件下で1枚づつ、連続して計4000枚研
磨した。そして、研磨ウエハのCu膜の平坦度(研磨C
u膜の凸部と凹部の段差)を三次元測定機によりそれぞ
れ測定した。 <研磨条件> 1)研磨剤スラリー:平均粒径0.1μmのアルミナ砥
粒と、酸化剤(H22 ,KIO3 )とを含む、pH3の
水性スラリー 2)回転数:60rpm 3)研磨パッド:IC1000(ロデールニッタ(株)
製) 4)研磨荷重:29.4MPa (300gf/cm2 ) 5)研磨時間:3分
【0030】その結果、1枚目〜1000枚目の研磨済
みウエハ群にあっては平坦度が±10nmのものが100
0枚中999枚であり、1001枚目〜2000枚目の
研磨済みウエハ群にあっては平坦度が±10nmのものが
1000枚中997枚であり、2001枚目〜3000
枚目の研磨済みウエハ群にあっては平坦度が±10nmの
ものが1000枚中997枚であり、3001〜400
0枚目の研磨済みウエハ群にあっては平坦度が±10nm
のものが1000枚中995枚であった。この結果よ
り、本実施例のリテーナリングは耐久性に優れ、しか
も、このリテーナリングを用いれば基板外周に面ダレが
生じず、研磨パッドの目詰まりも発生しないことが確認
された。また、いずれの研磨済みウエハにおいても、ウ
エハ研磨面には、スクラッチ傷の発生は認められなかっ
た。
【0031】比較例1 (リテーナリングの作製)前記実施例1に準じて、装着
部材と樹脂層部とセラミックス層部とをそれぞれ個別に
作製し、これらをエポキシ系接着剤(三井化学(株)
製、ストラクトボンドEH−454)を用いて接着・一
体化して、図6に示される外観形状を有し、寸法が実施
例1と略同一の比較例1のリテーナリングを作製した。 (研磨試験)実施例1に準じて研磨試験を試みたが、研
磨開始後285枚目で接着部が劣化し、その後、研磨を
続行することができなかった。
【0032】比較例2 (リテーナリングの作製)実施例1に準じて、装着部材
と樹脂層部とセラミックス層部とを、予めそれぞれ個別
に作製し、これらを樹脂製の押さえ板28,29とネジ
30,31を用い、図7に示す構成に組み合わせ一体化
して、図7に示される外観形状を有し、寸法が実施例1
と略同一の比較例2のリテーナリングを作製した。 (研磨試験)実施例に準じて研磨試験を試みたが、研磨
開始後12枚目で研磨ウエハに無数のスクラッチ傷が発
生していることが認められた。このスクラッチ傷は、セ
ラミックス層部と樹脂層部との間に加工公差の範囲で隙
間が生じており、この隙間に研磨剤スラリー中の砥粒が
入り込み、この砥粒が次後のウエハ研磨中に脱落して、
研磨すべきウエハを傷つけたものであった。
【0033】
【発明の効果】本発明のリテーナリング及びこのリテー
ナリングを備えた研磨装置によれば、リテーナリングを
寿命が長くて長期間取り替える必要がなく、研磨パッド
の目詰まりも進行しにくく、基板外周の面ダレが生じな
いことは勿論のこと、次の基板の研磨中に基板表面を傷
つける虞がないという優れた効果を奏することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の研磨装置の構成の概要を模式的に示す
説明図。
【図2】図2(a)は、従来のリテーナリングの一例の
構成を示す断面説明図、図2(b)は図2(a)のリテ
ーナリングの線A−Aに沿う断面平面説明図。
【図3】本発明のリテーナリングの一例の左半部の正面
断面説明図。
【図4】本発明のリテーナリングを含む研磨装置の要部
の一例の正面断面説明図。
【図5】本発明のリテーナリングの他の一例のセラミッ
クス層部の下面説明図。
【図6】本発明の範囲外のリテーナリングの一例(比較
例1)の左半部の正面断面説明図。
【図7】本発明の範囲外のリテーナリングの他の一例
(比較例2)の左半部の正面断面説明図。
【符号の説明】
1,21…研磨装置 2…研磨テーブル 2a…研磨テーブルとの支持具 2b,4b,6b…中心軸 3,22…研磨パッド 4…被研磨基板保持部材 4a…保持部材支持具 5…研磨剤スラリー供給手段 6…コンディショニング機構部材 6a…コンディショニング機構部材支持具 7…ダイヤモンドペレット 8…従来のリテーナリング 8a…間隙 9,23…被研磨基板 11…本発明のリテーナリング 12…セラミックス層部 13…樹脂層部 14…中空部 15…樹脂内周側面部 16…樹脂外周側面部 17…貫通孔 18…樹脂ブロック 19a,19b…樹脂ブロック支持用突起部 20…装着部材 24…エアバッグ 24a…空気吹込管 25…研磨剤スラリー排出溝 26,27…接着剤層 28,29…押え板 30,31…ねじ
フロントページの続き (72)発明者 神舘 政義 千葉県市川市二股新町22−1 住友大阪セ メント株式会社新材料事業部内 (72)発明者 福田 利之 千葉県市川市二股新町22−1 住友大阪セ メント株式会社新材料事業部内 (72)発明者 小川 武 千葉県市川市二股新町22−1 住友大阪セ メント株式会社新材料事業部内 (72)発明者 村上 嘉彦 千葉県市川市二股新町22−1 住友大阪セ メント株式会社新材料事業部内 (72)発明者 荒井 英樹 千葉県市川市二股新町22−1 住友大阪セ メント株式会社新材料事業部内 Fターム(参考) 3C058 AA07 AB04 CA01 CB01 DA17

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 中心部に中空部を有するリテーナリング
    において、その一面側の部分にセラミックス材料により
    形成されたセラミックス層部と、他面側の部分に、この
    セラミックス層部に連続し、合成樹脂材料により形成さ
    れた樹脂層部とを有し、前記セラミックス層部と、前記
    樹脂層部とが一体成形により、成形合体されていること
    を特徴とするリテーナリング。
  2. 【請求項2】 前記セラミックス層部の中空部側内周側
    面部分が、前記樹脂層部から伸び出し、かつ合成樹脂材
    料から形成された樹脂内周側面部により被覆されてい
    る、請求項1に記載のリテーナリング。
  3. 【請求項3】 前記セラミックス層部の外周側面部分
    が、前記樹脂層部から伸び出し、かつ合成樹脂材料から
    形成された樹脂外周側面部により被覆されている、請求
    項1又は2に記載のリテーナリング。
  4. 【請求項4】 前記セラミックス材料が、炭化珪素、ア
    ルミナ、窒化珪素、サイアロン、フォルステライト、ス
    テアタイト、及びコーディエライトから選ばれた少なく
    とも1種からなる、請求項1〜3のいずれか1項に記載
    のリテーナリング。
  5. 【請求項5】 前記合成樹脂が、ポリアセタール樹脂、
    ポリフェニレンサルファイド樹脂、ポリカーボネート樹
    脂、ポリイミド樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポ
    リブチレンテレフタレート樹脂、フッ素樹脂の少なくと
    も1種からなる請求項1〜3のいずれか1項に記載のリ
    テーナリング。
  6. 【請求項6】 前記樹脂層部中に、前記リテーナリング
    の半径方向に、かつ前記セラミックス層部の表面にほゞ
    平行に伸びる1個以上の貫通孔が形成されている、請求
    項1〜5のいずれか1項に記載のリテーナリング。
  7. 【請求項7】 前記セラミックス層部の表面部分に、前
    記リテーナリングの半径方向に、かつ前記表面にほゞ平
    行に伸びる1個以上の溝が形成されている、請求項1〜
    5のいずれか1項に記載のリテーナリング。
  8. 【請求項8】 前記樹脂層部上に配置固定された装着部
    材をさらに有する、請求項1〜6のいずれか1項に記載
    のリテーナリング。
  9. 【請求項9】 研磨テーブルと、その表面上に装着され
    た研磨パッドと、前記研磨パッドに対向して配置され、
    被研磨物品を保持し、これを前記研磨パッドに接触させ
    得る被研磨物品保持部材と、前記被研磨物品保持部材に
    装着された前記被研磨物品を、包囲保護するように前記
    保持部材に装着されたリテーナリングとを有する研磨装
    置において、 前記リテーナリングが、請求項1〜7のいずれか1項に
    記載のリテーナリングから選ばれ、そのセラミックス層
    部が、前記研磨パッドに対向して位置するように、前記
    保持部材に装着されていることを特徴とする研磨装置。
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