JP2002354340A - 撮像装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 経時変化による後発的に発生した欠陥画素、
或いは特定動作モードで過渡的に発生する欠陥画素を高
精度で検出し補正できるようにした撮像装置を提供す
る。 【解決手段】 ＣＣＤ撮像素子３と、該撮像素子への入
射光を遮光する遮光板２と、遮光板と撮像素子を制御し
て露光時間を設定する露光期間制御部５と、遮光板で遮
光した状態で撮像素子から得られる暗時信号を記憶する
暗時信号記憶部６と、撮像素子の本撮像信号から暗時信
号を減算する減算部７と、該減算部から出力される減算
撮像信号から欠陥を検出する欠陥検出部８と、検出され
た欠陥画素の補正処理を行う欠陥補正部９とで撮像装置
を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、画像上に発生す
る画素欠陥を、画像シーン又は装置の動作状態に応じて
適応的に検出し補正するようにした撮像装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般に、多画素を有する固体撮像素子を
用いた高精細な電子カメラなどのような撮像装置におい
ては、不良画素すなわち欠陥画素の発生頻度が高くな
り、これを検出し補正するための技術が必須となってい
る。これら欠陥画素に代表される特異点画素を補正する
ことによって、固体撮像素子の歩留まりは向上し、装置
価格を大幅に低減することが可能となる。

【０００３】かかる欠陥画素の補正を電気的に行う技術
としては、次のような手法が知られている。すなわち、
例えば特開昭５５−１５６４８２号公報には、固体撮像
素子製造時に各素子固有に発生する欠陥画素の位置を予
め保持するメモリを作成し、これをイメージセンサ等の
撮像装置に搭載することにより、そのメモリからの出力
信号を常に監視しながら、所定位置の欠陥画素を隣接画
素からの平均値等により補完する手法が開示されてい
る。

【０００４】また、特開平６−６６８５号公報や特開平
９−２８９６１４号公報には、電源投入時とか、固体撮
像素子に入射する光を遮断する動作を伴う調整動作時な
どの特定の撮像状態下で画素欠陥を検出するモードを有
し、メモリは備えているが、検出した欠陥情報を、その
特定撮影状態の都度更新するようにした手法について開
示がなされている。

【０００５】また、特開平７−２３２９７号公報や特開
平９−２４７５４８号公報には、カメラ撮影動作中に、
周辺画素との相関により任意の画像中の任意の画素の欠
陥判定を行い、補正するようにした手法について開示が
なされている。

【０００６】更にまた、特開２０００−５９６９０号公
報には、予め欠陥画素の位置データをメモリに保持して
おくと共に、露光時間に応じて任意の撮像画像中からも
欠陥検出を行える機能を有し、長時間露光時に発生する
過渡的な欠陥にも対応できるようにした電子カメラにつ
いて開示がなされている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記特開昭
５５−１５６４８２号公報開示のものは、センサ１個毎
つまりカメラ等の撮像装置毎に専用のメモリを必要と
し、撮像装置間で流用ができない。また撮像装置出荷後
の経時変化により発生する欠陥には対応できず、更に画
像の高精細化に伴う多画素化に比例して、欠陥位置記憶
のメモリの容量も巨大化し、価格及び消費電力が共に大
きくなってしまうという問題点があり、更にはまた、長
時間露光時や高温時などに過渡的に発生する欠陥には対
応できないなどの問題点もある。

【０００８】一方、特開平６−６６８５号公報や特開平
９−２８９６１４号公報開示のものは、経時変化により
発生する欠陥には対応できるが、欠陥検出を行う特定の
撮像状態は、通常の撮影時以外の状態であるため、通常
の撮像状態が継続して温度が上昇した場合などに発生す
る欠陥など、過渡的に発生する欠陥には対応できない。
また特定の撮像状態時に欠陥を検出する場合、その特定
の撮像条件に限定して欠陥検出動作モードに入る必要が
あるため、その特定の欠陥検出動作モードの長い期間
中、撮影ができなくなってしまうという問題点がある。

【０００９】また、特開平７−２３２９７号公報や特開
平９−２４７５４８号公報開示の手法は、画像毎に欠陥
検出・補正を行うものであるため、出荷後や温度変化に
対して対応できる。しかしながら任意の画像にはエッジ
絵柄が多く存在しており、エッジ周辺にある欠陥の検出
は困難であるため、精度よく欠陥を検出しようとする
と、回路やプログラム規模が巨大になるという問題点が
ある。また撮像フレーム毎リアルタイムに欠陥検出を行
うには処理速度が速いことが前提となるが、回路やプロ
グラム規模が巨大化すれば処理速度が遅くなり、リアル
タイムの欠陥検出並びにその補正ができなくなる。

【００１０】また、特開２０００−５９６９０号公報開
示の電子カメラは、長時間露光時に発生する過渡的欠陥
にも対応できるようにしたものであるが、長時間露光時
に発生する過渡的な欠陥は狭いエリアに集中的に発生す
ることも多く、このような場合には精度よく欠陥検出を
行うのは困難である。また、この公報開示の手法におい
ては、電子カメラの出荷後の経時変化により発生する欠
陥には対応できないという問題点もある。

【００１１】本発明は、従来の欠陥検出・補正機能を備
えた撮像装置における上記問題点を解消するためになさ
れたもので、画像上に発生する画素欠陥を、画像シーン
又は装置の動作状態に応じて適応的に検出し補正するこ
とにより、経時変化による後発的に発生した欠陥画素、
或いは特定モードで過渡的に発生する欠陥画素を的確に
補正できるようにした撮像装置を提供することを目的と
する。

【００１２】

【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め、請求項１に係る発明は、撮像素子と、該撮像素子へ
の入射光を遮光する遮光手段と、本撮影時に撮像手段か
ら得られる本撮像信号から入射光遮光時の撮像素子の出
力信号である暗時信号を減じる減算手段と、該減算手段
からの減算撮像信号に対して前記撮像素子の欠陥画素に
起因する欠陥信号を補正する補正手段と、前記撮像素子
の外的要因による欠陥画素の発生数に対応させた時間の
暗時信号を得るべく、本撮影に連続する前又は後に、前
記遮光手段を制御する制御手段とで撮像装置を構成する
ものであり、また請求項２に係る発明は、請求項１に係
る撮像装置において、前記制御手段は、本撮影時の露光
時間に応じて、前記遮光手段を制御するように構成され
ていることを特徴とするものである。

【００１３】撮像装置においては、例えば長時間露光時
などでは欠陥が画像中のあらゆる部分に発生し、欠陥検
出精度が格段に低下するが、上記請求項１及び２に係る
発明においては、本撮影時の本撮像信号から本撮影時の
露光時間などの撮像素子の欠陥画素の発生量に対応させ
た時間遮光して得られた暗時信号を減算して、暗時成分
の相殺された減算撮像信号に対して欠陥検出を行うよう
に構成しているので、精度よく欠陥を検出することが可
能となる。

【００１４】請求項３に係る発明は、請求項１に係る撮
像装置において、更に、前記撮像素子の温度を検出する
温度検出手段を備え、前記制御手段は、前記温度検出手
段で検出された温度に応じて前記遮光手段を制御するよ
うに構成されていることを特徴とするものである。温度
が高くなればなるほど撮像素子の白点欠陥の発生が多く
なるが、上記のように撮像素子の温度に応じた時間遮光
して得られた暗時信号を減算した減算撮像信号に対して
欠陥検出を行うことにより、露光時間等のモード設定に
関わらず温度変化時においても精度よく欠陥を検出する
ことができる。

【００１５】請求項４に係る発明は、撮像素子と、該撮
像素子から、複数フレーム連続的に出力される撮像信号
から所定のフレームを選択し、選択されたフレームの撮
像信号から撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、
検出された欠陥画素の位置を記憶する記憶手段と、該記
憶手段に記憶された欠陥画素の位置に基づいて前記撮像
素子からの撮像信号を補正する補正手段と、前記欠陥画
素検出手段が欠陥画素を検出するタイミングを制御する
制御手段とで撮像装置を構成するものであり、また請求
項５に係る発明は、請求項４に係る撮像装置において、
前記欠陥画素検出手段は、所定のフレーム数毎に欠陥画
素の検出を行うことを特徴とするものである。

【００１６】連続して複数フレームを撮影する場合、連
続するフレーム間の画像には大きな差がなくなるので、
毎フレーム欠陥を検出する必要はなくなる。上記請求項
４及び５に係る発明においては、複数フレームを連続的
に出力する撮像信号から所定のフレーム数毎などの所定
のフレームを選択し、欠陥検出を行い欠陥位置を記憶し
て、欠陥補正を行うようにしているので、毎フレーム欠
陥検出を行わずに欠陥補正を行うことができ、これによ
りフレーム毎に欠陥が見えたり見えなかったりすること
による欠陥画素の認知され易さを回避することができ
る。

【００１７】請求項６に係る発明は、請求項４に係る撮
像装置において、前記欠陥画素検出手段は、連続するフ
レームの先頭のフレームのみで欠陥画素の検出を行うこ
とを特徴とするものである。フレーム単位で欠陥検出を
行う場合、欠陥検出処理に時間を要し、その処理時に新
たな撮影ができなくなる場合があるが、上記のように最
初のフレームのみに対して、欠陥検出を行うように構成
することにより、上記問題点を回避することができる。

【００１８】請求項７に係る発明は、請求項４に係る撮
像装置において、前記欠陥画素検出手段は、所定の時間
間隔、或いは本撮影後の撮影休止期間で欠陥画素の検出
を行うことを特徴とするものである。欠陥検出の処理に
時間がかかると所望の時点で撮影ができなくなることが
あるが、上記のように所定の時間間隔或いは非撮影時に
欠陥検出を行うようにすることにより上記問題点を解消
することができる。

【００１９】請求項８に係る発明は、請求項４〜７のい
ずれか１項に係る撮像装置において、更に、フレーム内
の画像の動きを検出する動き検出手段を具備し、前記欠
陥画素検出手段は、前記動き検出手段による動き検出量
が所定値以上のフレーム、或いはフレーム内の一領域に
ついて欠陥画素の検出を行うように構成されていること
を特徴とするものである。連続する撮影において被写体
の動きの少ないフレーム間においては画像に変化が少な
いので、毎フレームの欠陥検出を行う必要がない。上記
発明においては、動き検出手段を設け、動き検出量が所
定値以上の場合に欠陥検出を行うように構成しているの
で、動きの少ないフレームには欠陥検出を行わないよう
にすることができる。

【００２０】請求項９に係る発明は、撮像素子と、予め
該撮像素子の欠陥画素の位置を記憶する記憶手段と、前
記撮像素子から出力される撮像信号から画像のエッジを
検出するエッジ検出手段と、該エッジ検出手段からの出
力に基づきエッジの値が所定値以下のフレーム、或いは
フレーム内の一領域から撮像素子の欠陥画素を検出する
欠陥画素検出手段と、前記エッジ検出手段からの出力に
基づき、前記欠陥画素検出手段と記憶手段とを適応的に
切り換えて欠陥画素の位置を得て、得られた欠陥画素の
位置に対応する撮像信号を補正する欠陥補正手段とで撮
像装置を構成するものである。ここで前記記憶手段と
は、工場出荷時に欠陥画素位置を記憶するもの、あるい
は予め欠陥画素検出手段で検出された欠陥画素位置を記
憶するものを含むものである。

【００２１】エッジ成分の多い画像において欠陥検出を
行う場合エラーが発生しやすいが、上記のようにエッジ
成分の少ない画像に対してのみ欠陥検出を行うように構
成することにより、精度よく欠陥検出を行うことができ
る。

【００２２】請求項10に係る発明は、請求項９に係る撮
像装置において、更に、エッジを軽減させた像を前記撮
像素子上に形成するエッジ軽減手段を具備し、前記欠陥
画素検出手段は、前記エッジ軽減手段によりエッジが軽
減された状態で欠陥画素の検出を行うことを特徴とする
ものである。このように構成することにより、エッジ成
分の多い被写体の撮像の場合などにおいても、高精度で
欠陥検出を行うことができる。

【００２３】請求項11に係る発明は、撮像素子と、該撮
像素子から出力される撮像信号から撮像素子の欠陥画素
を検出する検出手段と、検出された欠陥画素の位置を記
憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶された欠陥画素位
置に対応する撮像信号を補正する欠陥補正手段とを備
え、前記欠陥画素検出手段は、撮像信号の複数フレーム
で１フレーム分の欠陥画素を検出し、欠陥画素位置を前
記記憶手段へ記憶するように撮像装置を構成するもので
ある。

【００２４】欠陥検出・補正処理の規模が大きくなり処
理速度が遅くなる場合、毎フレームで欠陥検出を行い更
新することは困難になるが、上記のように、１フレーム
単位で欠陥検出する画像中の領域を変化させて、数フレ
ームで１フレーム分の欠陥検出結果を得るようにするこ
とにより、上記問題点を解消することができる。

【００２５】

【発明の実施の形態】次に、実施の形態について説明す
る。図１は本発明に係る撮像装置の第１の実施の形態を
示すブロック構成図である。本発明は、白黒撮像装置に
限らずカラー撮像装置など、いかなるタイプの撮像装置
にも適用できるものであるが、本実施の形態を含み以下
述べる各実施の形態においては、説明を簡単にするた
め、本発明を白黒ＣＣＤ撮像素子を用いた電子カメラに
適用したものを示している。

【００２６】図１において、１は被写体光を入射させる
ためのレンズ、２は遮光板、３は被写体光を電気信号に
光電変換するための白黒ＣＣＤ撮像素子、４はＣＣＤ撮
像素子３から出力される撮像信号をデジタル信号に変換
するためのＡ／Ｄ変換器、５は遮光板２とＣＣＤ撮像素
子３を制御してＣＣＤ撮像素子３の露光期間等を制御す
る露光期間制御部である。６は遮光板２により入射光を
遮った状態で、ＣＣＤ撮像素子３から得られる暗時信号
を記憶するＤＲＡＭ等からなる暗時信号記憶部、７は遮
光板２を退避させた本露光によりＣＣＤ撮像素子３から
得られる本撮像信号から、前記暗時信号記憶部６に記憶
されている暗時信号を減算する減算部で、上記暗時信号
記憶部６と減算部７とで暗時信号キャンセル部を構成し
ている。

【００２７】８は、暗時信号キャンセル部で暗時信号が
減算された減算撮像信号から欠陥を検出する欠陥検出
部、９は欠陥検出部８で検出された欠陥画素の補正処理
を行う欠陥補正部である。なお、上記露光期間制御部５
は、システムを管理するためのＣＰＵなどで構成され、
上記のように遮光板２の遮光タイミングとＣＣＤ撮像素
子３の電荷蓄積時間の制御の他に、暗時信号記憶部６に
おける暗時信号記憶タイミングや欠陥検出部８の欠陥検
出パラメータの調整を行うようになっている。

【００２８】次に、このように構成された電子カメラの
動作について説明する。まず、暗時信号記憶部６と減算
部７とからなる暗時信号キャンセル部により、暗時信号
の減算された減算撮像信号が生成されるまでの動作を図
２に示したタイミングチャートを参照しながら説明す
る。暗時信号の減算動作時には、まず遮光板２を光路上
に挿入しレンズ１からの入射光を遮った状態で、ＣＣＤ
撮像素子３において撮影したい本撮影の露光時間と同一
時間分の暗時電荷の蓄積を行う。これによりＣＣＤ撮像
素子３から、撮影したい本露光時間に応じた暗時フレー
ム信号が得られる。次いで、遮光板２を光路より退避さ
せ本露光撮像を開始させると共に暗時信号を読み出し、
暗時信号記憶部６に記憶する。次いで本露光撮像で得ら
れた本撮像信号を読み出すと共に、暗時信号記憶部６に
記憶されている暗時信号を読み出し、減算部７で両者の
減算処理を行う。この際、本露光撮像で得られた本露光
撮像信号には暗時信号に対応する暗時成分も含まれてい
るので、上記減算部７での減算処理により、暗時成分の
減算された減算撮像信号が出力される。

【００２９】なお、上記図２に示したタイミング図に基
づく暗時成分減算動作の説明では、説明を簡単にするた
め、露光・蓄積時間とフレームレートを同一とし、読み
出し時に遮光を行わない、インターライン読み出し方式
のＣＣＤ撮像素子を用いたワンショット撮影時を例に挙
げて説明を行っている。

【００３０】また、上記実施の形態においては、遮光板
と暗時信号記憶部と減算部とを用いて、ＣＣＤ撮像素子
の暗時信号の減算を行うようにしたものを示したが、暗
時信号記憶部には本露光撮像信号を記憶し、本露光撮像
直後に同様にして得られる暗時信号を、暗時信号記憶部
に記憶していた本露光撮像信号から減算して、暗時信号
を減算した減算撮像信号を得るように構成してもよい。

【００３１】本実施の形態は、このようにして得られた
暗時信号の減算された減算器７からの出力信号（減算撮
像信号）に対して、欠陥検出部８で欠陥検出を行い、欠
陥補正部９で補正処理を行うものであるが、次に、この
欠陥検出部８と欠陥補正部９における欠陥検出動作と欠
陥補正動作について説明する。欠陥検出部８では、例え
ば、次に示すような演算により注目画素Ｘn の欠陥判定
を行い、欠陥を順次検出していく。ここで、ｎはｎ≧１
で入力される画像ファイルの画素数である。

【００３２】すなわち、図３に示すように、注目画素Ｘ
n とその両隣の２画素Ｘn-1,Ｘn+1を用い、図４に示す
フローチャートで示す手順で、欠陥の正否を判定し、欠
陥と判定されると補正を行う。すなわち、まず注目被判
定画素Ｘn とその両隣の２画素の出力の平均値Ａを、次
式（１）で求める（ステップＳ１）。 Ａ＝（Ｘn-1 ＋Ｘn ＋Ｘn+1 ）／３ ・・・・・・・・（１）

【００３３】次に、各画素の出力と平均値Ａとを比較し
て、次式（２）で示す要件を満たしているか否かを判定
する（ステップＳ２）。 〔Ａ＋ｂ＞Ｘn-1 ，Ａ＋ｂ＞Ｘn+1 ，Ａ＋ｂ＜Ｘn 〕又は 〔Ａ−ｂ＜Ｘn-1 ，Ａ−ｂ＜Ｘn+1 ，Ａ−ｂ＞Ｘn 〕 ・・・・・・（２） ここで、ｂはＣＣＤ撮像素子の露光蓄積時間に応じて変
化させる、ｂ≧０の欠陥検出可変入力パラメータ（閾
値）である。

【００３４】そして、上記（２）式で示す要件を満たし
ているときに、更に次式（３）の要件を満たすか否かを
判定する（ステップＳ３）。 ｜（Ｘn-1 ＋Ｘn+1 ）／２−Ｘn ｜＞ａ ・・・・・・・・・・・・（３） ここで、ａはｂと同じくＣＣＤ撮像素子の露光蓄積時間
に応じて変化させる、ａ≧０の欠陥検出可変入力パラメ
ータ（閾値）である。

【００３５】上記（３）式で示す要件を満たす場合、注
目画素Ｘn を欠陥画素と判定する。そして、欠陥画素と
判定されたＸn の値を、（Ｘn-1 ＋Ｘn+1 ）／２＝Ｂで
置き換え、補間する（ステップＳ４）。

【００３６】次に、図４のフローチャートで示した欠陥
検出を行う欠陥検出部８及び欠陥補正部９のハード構成
例を、図５に基づいて説明する。図５において、101 は
注目画素Ｘn とその両隣２画素Ｘn-1,Ｘn+1 の３画素の
画素信号のタイミングを合わせるための画素並べ替え部
であり、１画素分の遅延用の３つのフリップフロップ1
1，12，13で構成されている。102 は欠陥検出部で、Ｘn
-1,Ｘn,Ｘn+1 の３画素信号を加算して平均値（除算す
るハード構成は規模が大となるため、加算したもので前
記（１）式による平均値Ａに対応させている）を求める
第１の加算器21，３つの各画素信号をそれぞれ３倍する
乗算器22-1，22-2，22-3と、第１の加算器21の加算出力
Ａ，並びに加算出力Ａと露光期間制御部５から設定入力
される可変入力パラメータｂとの加算値と各乗算器22-
1，22-2，22-3の各出力とを比較する第１の比較回路23
と、注目画素Ｘn の両隣の画素Ｘn-1,Ｘn+1 の画素信号
を加算する第２の加算器24と、該加算器24の出力を１／
２にして平均を求めるＬＳＢカット回路25と、該ＬＳＢ
カット回路25の出力信号（２画素平均値Ｂ）から注目画
素Ｘn の画素信号を差し引くための減算器26と、該減算
器26の出力と露光期間制御部５から入力される可変入力
パラメータａとを比較する第２の比較回路27と、第１及
び第２の比較回路23，27の比較結果から注目画素Ｘn の
欠陥を判定するエンコーダ28とから構成されている。そ
して、前記画素並べ替え部101 と欠陥検出部102 とで、
図１に示す欠陥検出部８を構成している。

【００３７】103 は欠陥補正部であり、前記欠陥検出部
102 のエンコーダ28の判定出力に基づいて、注目画素Ｘ
n の画素信号あるいは両隣画素Ｘn-1,Ｘn+1 の平均値Ｂ
を選択出力するセレクタ31で構成されており、図１に示
す欠陥補正部９に対応している。

【００３８】次に、このように構成されている欠陥検出
部と欠陥補正部の動作について説明する。まず、画素並
べ替え部101 において、一方の隣接画素Ｘn-1 の画素信
号を２つのフリップフロップ12，13を介して２画素分遅
延させて第１の加算器21へ入力し、注目画素Ｘn の画素
信号を１つのフリップフロップ11を介して１画素分遅延
させて同じく第１の加算器21へ入力し、他方の隣接画素
Ｘn+1 の画素信号は直接第１の加算器21へ入力させる。
そして、第１の加算器21において、これらの入力画素信
号Ｘn-1,Ｘn,Ｘn+1 を加算して、（１）式のＡに対応す
る平均値（３Ａ）を算出する。

【００３９】一方、第１の加算器21へ入力される画素信
号Ｘn-1,Ｘn,Ｘn+1 は、それぞれ乗算器22-1，22-2，22
-3へも入力され、３Ｘn-1,３Ｘn,３Ｘn+1 の画素信号
と、第１の加算器21の出力３Ａと、可変入力パラメータ
ｂとが第１の比較回路23に入力されて比較され、前記
（２）式に示された条件、すなわち （Ａ＋ｂ＞Ｘn-1 ，Ａ＋ｂ＞Ｘn+1 ，Ａ＋ｂ＜Ｘn ）又
は （Ａ−ｂ＜Ｘn-1 ，Ａ−ｂ＜Ｘn+1 ，Ａ−ｂ＞Ｘn ）の
条件を満たしているか否かの判定が行われる。

【００４０】また、第１の加算器21へ入力される３つの
画素信号の中の隣接画素信号Ｘn-1,Ｘn+1 を第２の加算
器24へ入力して加算し、その加算出力をＬＳＢカット回
路25へ入力して、最下位１ビット（ＬＳＢ）を切り捨て
ることで１／２にし、隣接画素信号の平均値〔Ｂ＝（Ｘ
n-1 ＋Ｘn+1 ）／２〕を求める。次いで、減算器26にお
いて、隣接２画素信号の平均値Ｂと注目画素Ｘn の画素
信号の減算を行い、その減算結果と、可変入力パラメー
タａとを第２の比較回路27で比較し、前記（３）式で示
した条件、すなわち、｜（Ｘn-1 ＋Ｘn+1 ）／２−Ｘn
｜＞ａ，を満たしているか否かの判定を行う。そして、
第１の比較回路23及び第２の比較回路27における条件判
定において、いずれの条件も満たしている場合、エンコ
ーダ28において注目画素Ｘn が欠陥であると判定する。

【００４１】第１及び第２の比較回路23，27において、
条件を満たしているか否かの判定は、例えば条件を示す
各不等式を満たせば、それぞれデジタル値‘Ｈ’を出力
し、それ以外は‘Ｌ’を出力させ、条件を示す全不等式
出力を論理値表化し、エンコーダでコード化するなどし
て判定すればよい。

【００４２】欠陥補正部103 では、前記エンコーダ28に
おいて注目画素Ｘn が欠陥と判定されている場合は、前
記エンコーダ28の出力に基づいて、セレクタ31により注
目画素の画素信号Ｘn に代えて隣接画素の平均値Ｂを補
正信号として出力させ、それ以外の場合には、注目画素
Ｘn は正常画素と判定して、注目画素の画素信号Ｘnを
そのまま出力させる。

【００４３】ＣＣＤ撮像素子などの固体撮像素子におい
ては、単位時間あたりに蓄積される電荷量は、周囲温度
などの影響も含めて画素毎にばらつきが大きく、長い間
電荷をため続ける長時間露光時には白点欠陥として顕著
となり、画像中あらゆる部分に発生する。このような欠
陥は、画像中の特定部分に集中することもあり、このよ
うな場合に画像中から欠陥を検出する際には、欠陥画素
自身のデータを利用して欠陥検出を行うことになるた
め、その精度は格段に低下してしまう。

【００４４】これに対して、本実施の形態においては、
本露光撮影画像と同期間遮光した状態で電荷をため続け
て得られた暗時画像を減算し、その暗時成分を相殺した
画像に対して欠陥検出を行うようにしているので、精度
よく欠陥を検出することが可能となる。また、撮像素子
の蓄積時間に応じて、欠陥検出時に用いる可変入力パラ
メータ（閾値）ａ，ｂを変化させてやることにより、過
渡的に発生する欠陥数の状況により検出精度を変化させ
ることを可能にしている。

【００４５】次に、上記露光期間制御部５による可変入
力パラメータ（閾値）ａ，ｂの設定を詳細に説明した、
本実施の形態全体の操作について、図６の露光時間と閾
値ａ，ｂの関係を示す図６及び図７の操作フローチャー
トを参照しながら説明する。図６に示すように、露光時
間が長いほど白点のレベルが顕著になるため、可変入力
パラメータ（閾値）ａ，ｂは露光時間に比例して大とな
るように設定されており、露光時間においてＴ3 は、暗
時信号減算処理を行う場合の最も短い露光時間領域に対
応する露光時間を示しており、その露光時間における可
変入力パラメータである閾値ａ，ｂの値をａ４，ｂ４で
表している。

【００４６】撮影を開始すると、まず露光期間制御部５
では、本露光撮影時間が所定の露光時間Ｔs より長いか
否かを判定し、それにより暗時信号減算処理を行うか否
かを判断する。上記露光時間の判定において、露光時間
が所定露光時間Ｔs より長い場合には、遮光板２の操作
により本露光時間と同一時間の暗時状態を作り出し、こ
のときの撮像素子３から得られる暗時信号を記憶部６に
取り込み、その直後に取り込む本露光撮像信号から暗時
信号を減算する。そして、その減算により得られた減算
撮像信号に対して、更に本露光時間がどの範囲に設定し
ているかを認識した後、すなわち、図７に示すフローチ
ャートの例示では、露光時間＞Ｔ１，Ｔ１≧露光時間＞
Ｔ２，Ｔ２≧露光時間＞Ｔ３，Ｔ３≧露光時間＞Ｔs の
場合分けを行い、場合分けされた各露光時間のレベルに
よって、欠陥検出するための閾値ａ，ｂを最適化して、
すなわち、図７に示すフローチャートの例示では、それ
ぞれａ1,ｂ1;ａ2,ｂ2;ａ3,ｂ3;ａ4,ｂ4 に設定し、欠陥
検出を行い、続いて欠陥補正を行う。

【００４７】一方、前記露光時間が所定の露光時間Ｔs
より長いか否かの判定において、露光期間がＴs より短
い場合には、暗時信号キャンセル動作は行わず、撮影開
始後直ちに本露光撮像信号を取り込み、該撮像信号に対
して欠陥検出と欠陥補正処理を行う。この際、同様に本
露光時間がどの範囲に設定されているかを認識したの
ち、そのレベルによって閾値ａ，ｂを最適化して、欠陥
検出を行い補正処理を行うようにしている。

【００４８】すなわち、図７に示すフローチャートの例
示では、Ｔs ≧露光時間＞Ｔs1，Ｔs1≧露光時間＞Ｔs
2，Ｔs2露光時間＞Ｔs3の場合分けを行い、場合分けさ
れた各露光時間に対して閾値ａs1，ｂs1；ａs2，ｂs2；
ａs3，ｂs3をそれぞれ設定し、欠陥検出を行い欠陥補正
をするようにしている。

【００４９】次に、第２の実施の形態について、図８に
基づいて説明する。上記第１の実施の形態では、欠陥の
外的要因として、結果としては温度上昇に到るものであ
るが、露光時間に応じて暗時信号キャンセル動作の制御
や欠陥検出のための閾値ａ，ｂの制御を行うようにした
ものを示したが、本実施の形態では、露光時間などの具
体的なモードに関わらず、単純に電子カメラの外気温
度、動作時間などによる撮像素子の温度上昇に応じて、
暗時信号キャンセル動作の制御及び欠陥検出のための閾
値ａ，ｂの設定を行うようにしたものである。

【００５０】すなわち、図８に示すように、ＣＣＤ撮像
素子３の温度を感知するための温度センサ41を、その近
傍に配置し、温度センサ41で検出された温度変化に応じ
て、露光期間制御部５が暗時信号キャンセル部の制御及
び欠陥検出の閾値ａ，ｂの設定を行うようにしている。

【００５１】欠陥検出の閾値ａ，ｂと温度との関係は、
図６に示した露光時間と閾値の関係において、露光時間
を温度に対応させたものと同様な関係となっており、ま
たカメラ操作のフローは、図７に示した第１の実施の形
態のフローチャートにおいて、露光時間を温度に変えた
同様な操作が行われる。

【００５２】温度が高くなるほど、撮像素子の電荷励起
率が高くなり、画素毎の電荷量ばらつきが顕著になっ
て、長時間露光時と同様に白点欠陥が発生するが、本実
施の形態においては、暗時信号キャンセル部によりこれ
をキャンセルした減算撮像信号に対して、欠陥検出・補
正を施すようにしているので、精度よく欠陥を検出し補
正を行うことができる。また、温度変化に応じて欠陥検
出時の可変入力パラメータ（閾値）ａ，ｂを変化させて
やるようにしているので、過渡的に発生する欠陥数の状
況により検出精度を変化させることが可能となり、誤検
出を低減することができる。

【００５３】次に、第３の実施の形態について説明す
る。画像中から欠陥を検出する場合、画像のエッジのパ
ターンやノイズなどの影響から、欠陥画素を検出できな
かったりすることがあり得る。ところが、毎秒の撮像フ
レーム数が多く連続して撮影する場合には、被写体の動
きはフレームレートに比して遅くなるため、連続するフ
レーム間で捕らえる画像に大きな差異はなくなってく
る。したがって、このようにシーンが大きく変化しない
間は毎フレーム欠陥を検出し続ける必要はなく、一度欠
陥検出した結果をもって欠陥を補正すればよい。第３の
実施の形態は、このような態様に対応させたもので、図
９に示すように、欠陥検出結果を一時的に記憶するため
のＤＲＡＭなどで構成される欠陥位置記憶部42を配設
し、その記憶内容が更新されるまでは、該情報を用いて
欠陥補正を行う。欠陥位置情報としては、画像中の水
平、垂直方向の画素位置情報などを用いればよい。な
お、上記構成において、暗時信号キャンセル部を設けて
いない場合にも、この実施の形態は適用することができ
る。

【００５４】このように構成した第３の実施の形態で
は、欠陥検出部８において露光期間制御部５からの信号
により、撮影が連続的に行われているか、またフレーム
レートを可変できるカメラの場合には、フレームレート
が所定速度より速い、すなわちフレーム周期Ｔが所定周
期Ｔh より短いかも判定され、判定した直後あるいはそ
れに近いタイミングのフレーム画像から欠陥を検出し、
その結果を欠陥位置記憶部42に記憶する。その後は、該
フレームから所定の間隔で欠陥検出を行い、欠陥位置情
報を更新して行く。このようにして欠陥検出・補正を行
うことにより、フレーム毎に欠陥が見えたり見えなかっ
たりすることによって、欠陥画素が認知され易くなるこ
とを回避することができる。

【００５５】図10は、フレーム周期をＴとする連続する
撮影フレーム中において、欠陥検出フレーム期間Ｔk を
５フレーム単位、すなわち５Ｔ間隔で行う態様を示す図
である。

【００５６】また図11は、本実施の形態において、上記
の態様で欠陥検出・補正を行う場合の動作を説明するた
めのフローチャートである。この動作を簡単に説明する
と、撮影開始後、連続撮影であり、且つフレーム周期Ｔ
が所定周期Ｔh より短く、且つ欠陥検出期間Ｔk が５Ｔ
より長くなった場合に、改めて欠陥検出を行い、欠陥位
置情報を欠陥位置記憶部42に記憶し、該情報を元に欠陥
補正を実行する。それ以外の場合は、すでに欠陥位置記
憶部に記憶してある欠陥位置情報を用いて欠陥補正を実
行する。

【００５７】次に、第４の実施の形態について説明す
る。この実施の形態のハード構成は、図９に示した第３
の実施の形態と同様である。この実施の形態は、高速連
続撮影が続く間は、最初の１フレーム目に対して欠陥検
出を行って、その欠陥位置情報を欠陥位置記憶部に貯え
た後は、その高速連続撮影が終了するまでは、欠陥の検
出結果を更新することなく欠陥補正を行うように構成し
たもので、図12に12フレーム連続で撮影した場合、最初
の１フレーム（網線図示）時のみに欠陥検出を行う態様
を示している。

【００５８】このような構成とすることにより、例えば
フレーム単位で欠陥を検出したいが、欠陥検出処理に時
間を要する場合、欠陥検出を行っている間に、新たに撮
影を行って新たなフレームを取り込めないというような
問題の発生を回避することができる。

【００５９】次に、第５の実施の形態について説明す
る。この実施の形態のハード構成も、図９に示した第３
の実施の形態と同様である。この実施の形態は、フレー
ム数に関係なく、所定の時間毎に、又は撮影していない
非撮影時、例えば画像表示モードや画像記憶処理時や画
像編集モードなどの状態にあるときに、その時間を利用
して欠陥検出を行い、欠陥位置記憶部の内容を更新する
ように構成するものである。

【００６０】上記第４の実施の形態などの場合のよう
に、欠陥検出に時間がかかるとき、あるいはソフト処理
で欠陥検出機能を実行するとき、ＣＰＵの処理時間を占
有してしまい撮影ができなくなってしまうという問題が
生じるが、この第５の実施の形態のように所定の時間毎
に、あるいは非撮影時に欠陥検出を行い更新するように
構成することにより、上記問題を回避することが可能と
なる。

【００６１】本実施の形態において、非撮影時に欠陥検
出を行い更新する手法をとる場合の具体例について、図
13のタイミングチャートに基づいて説明する。撮影を開
始して、４フレーム後に非撮影状態になり、その３フレ
ーム後に撮影が再開される場合、その非撮影期間である
Ｔk1を欠陥検出期間とし、このとき最終取得フレームで
ある３フレーム目の画像情報に基づいて欠陥検出を実行
し、欠陥位置情報を欠陥位置記憶部に貯える。再度撮影
が開始された場合は、その段階で欠陥検出処理を打ち切
り、直ちに撮影を開始する。最初の欠陥検出期間Ｔk1で
１フレーム中の全画素について欠陥検出操作が行えなか
った場合には、次の非撮影期間Ｔk2で、未検出操作画素
を対象に欠陥検出処理を実行し、欠陥位置情報を欠陥位
置記憶部に貯える。また非撮影時に、欠陥検出のためだ
けに１フレーム分（ｋ1,ｋ2 ）の撮影を行い、このフレ
ームｋ1,ｋ2 に基づいて欠陥検出を行うようにしてもよ
い。

【００６２】次に、上記非撮影時に欠陥検出処理を行う
手法を、更に図14に示すフローチャートに基づいて説明
する。まず、撮影を行っている撮影期間であるか否かの
判定を行い、撮影期間になっていない場合には欠陥検出
モードに入り、撮像素子のｎ画素における欠陥画素を検
出して、欠陥画素位置情報を欠陥位置記憶部に記憶す
る。１画素毎にこの欠陥検出・記憶処理を行い、再び撮
影が開始された場合には、欠陥検出処理が終了した画素
数ｎを特定のレジスタに格納し、一旦欠陥検出処理を中
止する。再び非撮影期間となったら、ｎ値を認識して検
出が終了していない画素から欠陥検出動作を再開し、全
画素数ｋに対して欠陥検出が完了するまで上記動作が繰
り返される。なお、補正処理は欠陥位置情報に基づい
て、撮影フレームに対し常時実行される。

【００６３】次に、第６の実施の形態について説明す
る。連続する撮影において被写体の動きのないフレーム
の場合は、画像に変化がないので、毎フレームの欠陥検
出を行う必要はない。そこで、本実施の形態では、図15
に示すように動き検出部43を設けて、欠陥検出部８で欠
陥検出を行う前に動き検出部43で動き検出を行い、被写
体の動きのあるフレーム或いはフレーム画像中の動きの
ある領域に対してのみ欠陥検出を行い、被写体の動きの
ないフレーム或いはフレーム画像中の動きのない領域に
対しては、以前に取得して欠陥位置記憶部42に記憶して
いる欠陥位置情報を用いて、欠陥補正を行うようにする
ものである。動き検出部43における動き検出の手法とし
ては、２フレーム画像のブロック相関手法（画像を複数
の領域に分割して、信号レベルを平均した結果を各ブロ
ック単位で演算し、同じ位置の値が２フレーム間で、ど
の程度異なるかによって動きがあるか否かを判定する手
法などがある）などを用いればよい。なお、暗時信号キ
ャンセル部の暗時信号記憶部６には１フレーム分の画像
蓄積エリアがあるため、暗時信号のキャンセルを行わな
いときには、この記憶部を利用して、上記ブロック相関
を求める際のフレーム差分演算を行うこともできる。

【００６４】次に、この実施の形態における欠陥検出・
補正処理動作を図16に基づいて説明する。動き検出部43
で得られた動き検出量をｕで規格化し、この値が所定の
閾値stよりも大きい場合のみに、欠陥検出を行い、欠陥
位置情報を欠陥位置記憶部42に記録し、それ以外の場合
は既に取得している欠陥位置情報を基に欠陥補正を実行
する。前記ｕ値は欠陥検出に用いるフレームより２フレ
ーム前と、１フレーム前のフレーム相関により演算（差
分）して求める。このｕ値はフレーム単位で扱ってもよ
いし、１フレーム内のブロック単位で扱ってもよい。

【００６５】次に、第７の実施の形態について説明す
る。画像中へのエッジの含まれる態様によって、欠陥検
出の精度は大きく左右される。そこで、本実施の形態で
は、図17に示すようにエッジ検出部44を設けて、欠陥検
出部８で欠陥検出を行う前にエッジ検出部44でエッジ検
出を行い、エッジの少ない又はレベルの低いフレーム或
いはフレーム画像中のエッジの少ない又はレベルの低い
領域に対してのみ、欠陥検出動作を行わせ、欠陥位置情
報を更新させるものである。エッジ検出部44によるエッ
ジ検出の手法としては、所定のハイパスフィルタ処理を
施し、その成分を検証することで判断する手法などを用
いればよい。

【００６６】エッジ成分の多い画像中の任意の画素につ
いて欠陥検出を行う場合、エラーが発生しやすいが、こ
の実施の形態のように構成することにより、この影響を
抑えることができ、精度よく欠陥検出を行うことができ
る。

【００６７】この実施の形態の動作は、図16に示した第
６の実施の形態に関する動作説明のフローチャートにお
いて、動き検出量に関するｕ値の代わりに、画像エッジ
の度合いを表す値を規格化したものを当てはめることに
より、同等のステップで行われる。

【００６８】次に、第８の実施の形態について説明す
る。上記第７の実施の形態においては、エッジ検出部44
を設けて欠陥検出部で欠陥検出を行う前に、エッジ検出
部でエッジ検出を行い、エッジの少ない又はレベルの低
いフレーム（領域）に対してのみ欠陥検出動作を行わせ
るようにしたものを示した。これに対して、本実施の形
態は、意図的にエッジ成分の少ない画像をカメラ側で生
成して、精度の高い欠陥検出が行えるようにしたもので
ある。

【００６９】すなわち、図18に示すように、焦点制御及
びレンズ駆動部45を設け、そして欠陥検出モードを備え
ていて、その欠陥検出モードに入ったとき、焦点制御及
びレンズ駆動部45を駆動して、意図的に合焦外になるよ
うにレンズを駆動し、その状態で撮影した画像に対して
欠陥検出を行い、その結果を欠陥位置記憶部42へ記憶
し、以降この情報を用いて欠陥を補正するものである。

【００７０】エッジ成分の多い画像では欠陥検出時にエ
ラーが発生しやすいが、このようにカメラ側で意図的に
エッジの少ないデフォーカス状態の画像を生成して、欠
陥検出を行うことにより、エッジ成分の多い被写体の撮
像の場合などであっても、高精度で欠陥検出を行うこと
が可能となる。

【００７１】この実施の形態の動作を説明するためのフ
ローチャートを図19に示す。欠陥検出処理モードに入っ
て、焦点制御及びレンズ駆動部45によりレンズ１が駆動
され、合焦外となった場合に欠陥検出が行われ、欠陥位
置が記憶部42に記憶される。

【００７２】次に、第９の実施の形態について説明す
る。欠陥検出・補正処理の規模が大きくて、その処理速
度が遅い場合、毎フレームで欠陥検出を行い更新するこ
とは困難になる。本実施の形態は、このような場合に対
処するためのもので、そのハード構成は図９に示した第
３の実施の形態と同様であるが、１フレーム単位で、欠
陥を検出する画像中の領域を変化させて、数フレームで
１フレーム分の欠陥検出結果を取得し、これを欠陥位置
記憶部へ記憶するようにするものである。

【００７３】このように構成することにより、欠陥処理
に時間がかかる場合、或いは動画撮影時などに欠陥が検
出されたりされなかったり目障りになるなどというよう
な問題は、回避させることができる。

【００７４】

【発明の効果】以上実施の形態に基づいて説明したよう
に、請求項１及び２に係る発明によれば、長時間露光時
などのように欠陥が画像中のあらゆる部分に発生する場
合でも、精度よく欠陥を検出し補正することが可能な撮
像装置を実現することができる。請求項３に係る発明に
よれば、温度変化時においても精度よく欠陥を検出し補
正を行うことができる。請求項４及び５に係る発明によ
れば、複数フレームを連続的に出力する撮像信号から所
定のフレームを選択し、欠陥検出を行って欠陥位置を記
憶し欠陥補正を行うようにしているので、毎フレームの
欠陥検出を行わずに欠陥補正を行うことができる。請求
項６及び７に係る発明によれば、欠陥検出処理により新
たな撮影が不能となる場合を低減することができる。請
求項８に係る発明によれば、動き検出手段を設け動きが
所定値以上の場合に欠陥検出を行うように構成している
ので、動きの少ないフレームに対して欠陥検出を行わな
いようにすることができる。請求項９に係る発明によれ
ば、エッジ検出手段を設けエッジ成分の少ない画像に対
してのみ欠陥検出を行うように構成しているので、精度
よく欠陥検出を行うことができる。請求項10に係る発明
によれば、エッジ軽減手段を備えてるので、エッジ成分
の多い被写体の場合においても、エッジが軽減された状
態で高精度で欠陥検出を行うことができる。請求項11に
係る発明によれば、数フレームで１フレーム分の欠陥検
出結果を得るように構成しているので、毎フレームで欠
陥検出を行い更新することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る撮像装置の第１の実施の形態の構
成を示すブロック構成図である。

【図２】図１に示した第１の実施の形態における暗時信
号キャンセル部の動作を説明するためのタイミング図で
ある。

【図３】図１に示した第１の実施の形態における欠陥検
出部の動作原理を示す説明図である。

【図４】図１に示した第１の実施の形態における欠陥検
出部及び欠陥補正部の動作を説明するためのフローチャ
ートである。

【図５】図１に示した第１の実施の形態における欠陥検
出部及び欠陥補正部の構成を示すブロック構成図であ
る。

【図６】図１に示した第１の実施の形態における露光期
間制御部で設定される露光時間と可変入力パラメータ
（閾値）ａ，ｂとの関係を示す図である。

【図７】図１に示した第１の実施の形態の全体の動作を
説明するためのフローチャートである。

【図８】本発明の第２の実施の形態を示すブロック構成
図である。

【図９】本発明の第３の実施の形態を示すブロック構成
図である。

【図10】第３の実施の形態における動作例を示すタイミ
ング図である。

【図11】第３の実施の形態における動作例を説明するた
めのフローチャートである。

【図12】第４の実施の形態の動作を説明するためのタイ
ミング図である。

【図13】第５の実施の形態の動作例を説明するためのタ
イミング図である。

【図14】第５の実施の形態の動作を説明するためのフロ
ーチャートである。

【図15】本発明の第６の実施の形態を示すブロック構成
図である。

【図16】第６の実施の形態の動作を説明するためのフロ
ーチャートである。

【図17】本発明の第７の実施の形態を示すブロック構成
図である。

【図18】本発明の第８の実施の形態を示すブロック構成
図である。

【図19】第８の実施の形態の動作を説明するためのフロ
ーチャートである。

【符号の説明】

１ レンズ ２ 遮光板 ３ ＣＣＤ撮像素子 ４ ＡＤ変換器 ５ 露光期間制御部 ６ 暗時信号記憶部 ７ 減算部 ８ 欠陥検出部 ９ 欠陥補正部 11，12，13 フリップフロップ 21 第１の加算器 22-1，22-2，22-2 乗算器 23 第１の比較回路 24 第２の加算器 25 ＬＳＢカット回路 26 減算器 27 第２の比較回路 28 エンコーダ 31 セレクタ 41 温度センサ 42 欠陥位置記憶部 43 動き検出部 44 エッジ検出部 45 焦点制御及びレンズ駆動部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5B047 AB02 BA03 BB04 BC05 BC06 CB03 CB05 CB22 DA06 DB01 DC09 5C022 AB21 AB37 AB44 AB51 AC42 AC52 AC69 5C024 CX23 CX32 DX07 GY01 GY31 HX22 HX23 HX29 HX30 HX57 5C077 LL04 MM03 MP01 PP06 PP07 PP08 PP10 PQ12 PQ20 PQ25 SS01 TT06 TT09

Claims (11)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 撮像素子と、該撮像素子への入射光を遮
   光する遮光手段と、本撮影時に撮像手段から得られる本
   撮像信号から入射光遮光時の撮像素子の出力信号である
   暗時信号を減じる減算手段と、該減算手段からの減算撮
   像信号に対して前記撮像素子の欠陥画素に起因する欠陥
   信号を補正する補正手段と、前記撮像素子の外的要因に
   よる欠陥画素の発生数に対応させた時間の暗時信号を得
   るべく、本撮影に連続する前又は後に、前記遮光手段を
   制御する制御手段とを具備する撮像装置。
2. 【請求項２】 前記制御手段は、本撮影時の露光時間に
   応じて、前記遮光手段を制御するように構成されている
   ことを特徴とする請求項１に係る撮像装置。
3. 【請求項３】 更に、前記撮像素子の温度を検出する温
   度検出手段を備え、前記制御手段は、前記温度検出手段
   で検出された温度に応じて前記遮光手段を制御するよう
   に構成されていることを特徴とする請求項１に係る撮像
   装置。
4. 【請求項４】 撮像素子と、該撮像素子から、複数フレ
   ーム連続的に出力される撮像信号から所定のフレームを
   選択し、選択されたフレームの撮像信号から撮像素子の
   欠陥画素を検出する検出手段と、検出された欠陥画素の
   位置を記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶された欠
   陥画素の位置に基づいて前記撮像素子からの撮像信号を
   補正する補正手段と、前記欠陥画素検出手段が欠陥画素
   を検出するタイミングを制御する制御手段とを具備する
   撮像装置。
5. 【請求項５】 前記欠陥画素検出手段は、所定のフレー
   ム数毎に欠陥画素の検出を行うことを特徴とする請求項
   ４に係る撮像装置。
6. 【請求項６】 前記欠陥画素検出手段は、連続するフレ
   ームの先頭のフレームのみで欠陥画素の検出を行うこと
   を特徴とする請求項４に係る撮像装置。
7. 【請求項７】 前記欠陥画素検出手段は、所定の時間間
   隔、或いは本撮影後の撮影休止期間で欠陥画素の検出を
   行うことを特徴とする請求項４に係る撮像装置。
8. 【請求項８】 更に、フレーム内の画像の動きを検出す
   る動き検出手段を具備し、前記欠陥画素検出手段は、前
   記動き検出手段による動き検出量が所定値以上のフレー
   ム、或いはフレーム内の一領域について欠陥画素の検出
   を行うように構成されていることを特徴とする請求項４
   〜７のいずれか１項に係る撮像装置。
9. 【請求項９】 撮像素子と、予め該撮像素子の欠陥画素
   の位置を記憶する記憶手段と、前記撮像素子から出力さ
   れる撮像信号から画像のエッジを検出するエッジ検出手
   段と、該エッジ検出手段からの出力に基づきエッジの値
   が所定値以下のフレーム、或いはフレーム内の一領域か
   ら撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、
   前記エッジ検出手段からの出力に基づき、前記欠陥画素
   検出手段と記憶手段とを適応的に切り換えて欠陥画素の
   位置を得て、得られた欠陥画素の位置に対応する撮像信
   号を補正する欠陥補正手段とを具備する撮像装置。
10. 【請求項10】 更に、エッジを軽減させた像を前記撮像
    素子上に形成するエッジ軽減手段を具備し、前記欠陥画
    素検出手段は、前記エッジ軽減手段によりエッジが軽減
    された状態で欠陥画素の検出を行うことを特徴とする請
    求項９に係る撮像装置。
11. 【請求項11】 撮像素子と、該撮像素子から出力される
    撮像信号から撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段
    と、検出された欠陥画素の位置を記憶する記憶手段と、
    該記憶手段に記憶された欠陥画素位置に対応する撮像信
    号を補正する欠陥補正手段とを備え、前記欠陥画素検出
    手段は、撮像信号の複数フレームで１フレーム分の欠陥
    画素を検出し、欠陥画素位置を前記記憶手段へ記憶する
    ように構成されていることを特徴とする撮像装置。