JP2002352931A - 端子圧着状態判別方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 圧着状態の良否の判別を安定してできかつ細
かな不良まで検出できるとともに判別にかかる所要時間
を短縮できる端子圧着状態判別方法を提供する。 【解決手段】 端子圧着状態判別方法はステップＳ１で
良好な圧着状態の端子付金具を得た際の荷重値により基
準波形を生成する。基準波形を複数に分割し特異点を設
定する。ステップＳ２では複数に分割された分割領域の
うち特異点を含んだ基準部分波形を積分する。ステップ
Ｓ３では判別対象の端子付金具を得た際の荷重値により
特性波形を生成する。生成した特性波形を複数に分割し
基準部分波形に相当する部分波形を積分する。ステップ
Ｓ４では基準部分波形の積分値と部分波形の積分値とを
比較して判別対象品の良否を判別する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ワイヤハーネス等
を構成する端子付電線をつくる端子圧着装置に係わり、
該端子圧着装置で圧着された端子の圧着状態を判別する
端子圧着状態判別方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】端子と電線とを取り付ける際には、従来
から端子圧着装置を用いてきた。前記電線は、端子と取
り付けられる前に、例えば端部などの被覆部が除去され
て、該端部の芯線が露出される。すなわち、前記電線は
皮むき作業を施される。前記端子は、前述したように露
出した芯線をかしめるための芯線かしめ足と、被覆部毎
電線をかしめる電線かしめ足とを備えている。

【０００３】従来から、前記端子圧着装置が前記芯線か
しめ足と電線かしめ足とをかしめることで、前記端子と
電線とが圧着されてきた。この圧着工程で圧着不良が生
じることがある。そこで、圧着された端子の圧着不良を
検出する圧着不良検出装置が用いられている。

【０００４】この装置は、例えば圧着過程の荷重値等の
特性値を時系列にサンプリングして特性波形を求め、こ
の特性波形と、良品について予め求められた特性波形で
ある基準波形とを比較することで良否を判別している。
これは、例えば正常圧着時と不良圧着時とで特性値（荷
重値）の変化の仕方が異なること、すなわち基準波形と
特性波形とで波形が異なることにより良否の判別ができ
るというものである。

【０００５】前述した圧着不良検出装置の例として、特
開平１−１８５４５７号公報に開示されているものが提
案されている。特開平１−１８５４５７号公報に開示さ
れた圧着不良検出方法は、前記特性波形をサンプリング
した時間で積分して得られる積分値を、正常な端子付電
線を圧着する際に得られる基準波形の積分値と、比較す
ることにより、検出対象の端子が取り付けられた電線の
圧着の良否を判別している。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、不良の
程度により基準波形と特性波形との波形の違いの程度に
も差がある。例えば、所望の箇所で皮むきされておらず
に被覆部が芯線かしめ足でかしめられた場合は、基準波
形と特性波形の差が大きくなる。また、芯線が皮むきさ
れた位置で切断された状態で芯線かしめ足がかしめられ
た場合も、基準波形と特性波形の差が大きくなる。この
ような、重欠陥不良では良否の判別が容易である。しか
し、基準波形と特性波形の差が小さくなる場合では、良
否の判別が困難となる。

【０００７】また、特開平１−１８５４５７号公報に開
示された圧着不良検出方法では、前述した積分値の差が
大きく出る重欠陥不良は検出されやすいが、特性波形の
高さが例えば圧着初期では基準波形より高くかつ圧着終
期では低く出るような不良時には積分値の差が出にく
く、良否の判別が困難となる。

【０００８】また、端子が取り付けられた電線の圧着の
良否の判別は、端子を電線に圧着する工程などで行われ
るため、作業にかかる所要時間をより短くすることが要
求されている。

【０００９】さらに、端子が前述したように芯線かしめ
足と電線かしめ足とを備えており、前記端子圧着装置が
前記芯線かしめ足と電線かしめ足とを同時にかしめる。
このため、特に圧着不良が生じると、特異点の特定が困
難となった。

【００１０】したがって、本発明の目的は、圧着状態の
良否の判別を安定して検出するとともに細かな不良まで
確実に検出でき、かつ判別作業にかかる所要時間を短縮
することが可能な端子圧着状態判別方法を提供すること
にある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、請求項１に記載の本発明の端子圧着状態判別方法
は、端子圧着装置で電線の芯線に端子を圧着する圧着過
程で得られる特性値の特性波形に基づいて、該端子の圧
着状態を判別する端子圧着状態判別方法において、正常
に圧着されたときの前記特性波形から基準波形を求め、
かつ該基準波形を複数分割しておき、判別対象の電線と
端子とを圧着した際に得られる特性波形を前記基準波形
と同数に複数分割し、互いに相当する前記基準波形を複
数分割して得られたうち一部の基準部分波形と、前記判
別対象の特性波形を複数分割して得られたうち一部の部
分波形と、に基いて、端子の圧着状態を判別することを
特徴としている。

【００１２】請求項２に記載の本発明の端子圧着状態判
別方法は、請求項１に記載の端子圧着状態判別方法にお
いて、前記基準波形の増分値から該基準波形の特異点を
求めておき、前記基準部分波形が、前記特異点を含んで
いることを特徴としている。

【００１３】請求項３に記載の本発明の端子圧着状態判
別方法は、請求項１に記載の端子圧着状態判別方法にお
いて、前記基準波形の増分値から該基準波形の特異点を
求めておき、前記基準波形が前記特異点を複数備えてい
るとともに、前記基準部分波形が、複数の特異点相互間
に位置していることを特徴としている。

【００１４】請求項４に記載の本発明の端子圧着状態判
別方法は、端子圧着装置で電線の芯線に端子を圧着する
圧着過程で得られる特性値の特性波形に基づいて、該端
子の圧着状態を判別する端子圧着状態判別方法におい
て、正常に圧着されたときの前記特性波形から基準波形
を求め、かつ該基準波形の増分値から該基準波形の特異
点を求めるとともに、該特異点を含んだ前記基準波形の
一部である第２基準部分波形を求め、判別対象の電線と
端子とを圧着した際に得られる特性波形の前記特異点に
相当する箇所を含んだ前記特性波形の一部である第２部
分波形を求め、前記第２基準部分波形と前記第２部分波
形と、に基いて、端子の圧着状態を判別することを特徴
としている。

【００１５】請求項５に記載の本発明の端子圧着状態判
別方法は、請求項２ないし請求項４のうちいずれか一項
に記載の端子圧着状態判別方法において、特異点は、前
記基準波形の増分値が極大となる箇所または、前記基準
波形の増分値が零となる箇所であることを特徴としてい
る。

【００１６】請求項６に記載の本発明の端子圧着状態判
別方法は、端子圧着装置で電線の芯線に端子を圧着する
圧着過程で得られる特性値の特性波形に基づいて、該端
子の圧着状態を判別する端子圧着状態判別方法におい
て、正常に圧着されたときの前記特性波形から基準波形
を求め、該基準波形の一定時間毎の基準特性値を求め、
判別対象の電線と端子とを圧着した際に得られる特性波
形の前記一定時間毎の特性値を求め、前記基準特性値と
前記特性値とに基いて、端子の圧着状態を判別すること
を特徴としている。

【００１７】請求項７に記載の本発明の端子圧着状態判
別方法は、請求項２ないし請求項５のうちいずれか一項
に記載の端子圧着状態判別方法において、前記電線が前
記芯線を被覆する被覆部を備えており、前記端子が前記
芯線をかしめるかしめ足を備えており、前記かしめ足が
前記被覆部を前記芯線とともにかしめたときの前記特性
波形から第１の不良波形を求め、前記基準波形と前記第
１の不良波形とから前記特異点のうち一つの第１の特異
点を求めることを特徴としている。

【００１８】請求項８に記載の本発明の端子圧着状態判
別方法は、請求項７に記載の端子圧着状態判別方法にお
いて、圧着作業の時間の経過にしたがって前記基準波形
の特性値より前記第１の不良波形の特性値が上回りはじ
める点を前記第１の特異点とすることを特徴としてい
る。

【００１９】請求項９に記載の本発明の端子圧着状態判
別方法は、請求項２、請求項３、請求項４、請求項５、
請求項７または請求項８に記載の端子圧着状態判別方法
において、前記芯線が複数の導線を束ねられて構成され
ており、前記端子が前記芯線をかしめるかしめ足を備え
ており、前記かしめ足が正常時より少ない本数の導線か
らなる芯線をかしめたときの前記特性波形から第２の不
良波形を求め、前記基準波形と前記第２の不良波形とか
ら前記特異点のうち一つの第２の特異点を求めることを
特徴としている。

【００２０】請求項１０に記載の本発明の端子圧着状態
判別方法は、請求項９に記載の端子圧着状態判別方法に
おいて、圧着作業の時間の経過にしたがって前記基準波
形の特性値より前記第２の不良波形の特性値が下回りは
じめる点を前記第２の特異点とすることを特徴としてい
る。

【００２１】請求項１に記載した端子圧着状態判別方法
によれば、複数に分割された特性波形の一部に基づいて
端子の圧着状態の判別を行うことにより、端子の圧着状
態の良否の判別を安定して行うことができ、細かな圧着
不良まで検出できる。なお、判別に用いる特性波形の一
部は、圧着状態の良否によって顕著に特性値の差がでる
箇所であるのが望ましい。

【００２２】さらに、複数分割されたうち一部の特性波
形に基いて、圧着状態の良否を判別するので、判別にか
かる所要時間を短縮することができる。なお、特性波形
とは、圧着作業中における、変形する際の端子に加える
荷重または、圧着する際に用いられる圧着機の変形量で
あるのが望ましい。また、圧着状態の良否を判別する際
に用いる前記基準部分波形と前記部分波形とは、端子及
び電線などに応じて適宜選択することが望ましい。

【００２３】請求項２に記載した端子圧着状態判別方法
によれば、判別の際に用いられる一部の基準部分波形が
特異点を含んでいるので、特に圧着状態の良否によって
前記特異点及びこれら特異点の近傍での前記荷重の値な
どが変化する端子の場合、より確実に細かな圧着不良ま
で検出できる。なお、判別に用いる特性波形の一部は、
圧着状態の良否によって顕著に特性値の差がでる箇所で
あるのが望ましい。

【００２４】また、特異点とは、端子圧着装置での圧着
過程中で端子の一対のかしめ足が変形する過程におい
て、圧着する際に端子の一対のかしめ足が互いに接触す
る点、端子の一対のかしめ足が芯線に触れ始めて前記荷
重が上昇に代わる点、芯線をかしめる過程において前記
荷重が上昇から下降に代わる点、前記荷重が加えられな
くなる点など、であるのが望ましい。

【００２５】請求項３に記載した端子圧着状態判別方法
によれば、判別の際に用いられる一部の基準部分波形が
特異点相互間に位置しているので、特に、圧着状態の良
否によって前記特異点相互間で変形のし易さ（し難さ）
即ち前記荷重の値などが変化する端子の場合、より一層
確実に細かな圧着不良まで検出できる。なお、判別に用
いる特性波形の一部は、圧着状態の良否によって顕著に
特性値の差がでる箇所であるのが望ましい。なお、端子
の圧着作業中では、前記端子は前記特異点相互間で主に
変形する。

【００２６】また、特異点とは、端子圧着装置での圧着
過程中で端子の一対のかしめ足が変形する過程におい
て、圧着する際に端子の一対のかしめ足が互いに接触す
る点、端子の一対のかしめ足が芯線に触れ始めて前記荷
重が上昇に代わる点、芯線をかしめる過程において前記
荷重が上昇から下降に代わる点、前記荷重が加えられな
くなる点など、であるのが望ましい。

【００２７】請求項４に記載した端子圧着状態判別方法
によれば、判別の際に用いられる一部の第２基準部分波
形が特異点を含んでおり、判別対象の特性波形の第２部
分波形が、前記特異点に相当する箇所を含んでいる。そ
して、第２基準部分波形と第２部分波形とに基いて、端
子の圧着状態の良否を判別する。このため、特に圧着状
態の良否によって前記特異点及びこれら特異点の近傍で
の前記荷重の値などが変化する端子の場合、より確実に
細かな圧着不良まで検出できる。なお、判別に用いる特
性波形の一部は、圧着状態の良否によって顕著に特性値
の差がでる箇所であるのが望ましい。

【００２８】さらに、前記基準波形の一部である第２基
準部分波形と、前記特性波形の一部である第２部分波形
と、に基いて、圧着状態の良否を判別するので、判別に
かかる所要時間を短縮することができる。

【００２９】なお、特性波形とは、圧着作業中におけ
る、変形する際の端子に加える荷重または、圧着する際
に用いられる圧着機の変形量であるのが望ましい。ま
た、特異点とは、端子圧着装置での圧着過程中で端子の
一対のかしめ足が変形する過程において、圧着する際に
端子の一対のかしめ足が互いに接触する点、端子の一対
のかしめ足が芯線に触れ始めて前記荷重が上昇に代わる
点、芯線をかしめる過程において前記荷重が上昇から下
降に代わる点、前記荷重が加えられなくなる点など、で
あるのが望ましい。

【００３０】請求項５に記載した端子圧着状態判別方法
によれば、特異点が、基準波形の増分値が極大となる箇
所または零となる箇所なので、圧着する際に端子の一対
のかしめ足が互いに接触する点、端子の一対のかしめ足
が芯線に触れ始めて前記荷重が上昇に代わる点、芯線を
かしめる過程において前記荷重が上昇から下降に代わる
点、前記荷重が加えられなくなる点などとなる。このた
め、より一層確実に細かな圧着不良まで検出できる。

【００３１】請求項６に記載した端子圧着状態判別方法
によれば、特性波形の一定時間毎の特性値に基づいて端
子の圧着状態の判別を行うことにより、端子の圧着状態
の良否の判別を安定して行うことができ、細かな圧着不
良まで検出できる。

【００３２】さらに、一定時間毎の特性波形の特性値に
基いて、圧着状態の良否を判別するので、判別にかかる
所要時間を短縮することができる。なお、特性波形と
は、圧着作業中における、変形する際の端子に加える荷
重または、圧着する際に用いられる圧着機の変形量であ
るのが望ましい。

【００３３】請求項７に記載した端子圧着状態判別方法
によれば、かしめ足で被覆部とともに芯線をかしめた圧
着不良時の第１の不良波形と、正常に圧着した際の基準
波形と、から第１の特異点を定める。このため、第１の
特異点を確実に定めることができる。

【００３４】請求項８に記載した端子圧着状態判別方法
によれば、基準波形より第１の不良波形が上回りはじめ
る点を第１の特異点としている。このため、第１の特異
点をより確実に定めることができる。

【００３５】請求項９に記載した端子圧着状態判別方法
によれば、かしめ足で導線が不足した芯線をかしめた圧
着不良時の第２の不良波形と、正常に圧着した際の基準
波形と、から第２の特異点を定める。このため、第２の
特異点を確実に定めることができる。

【００３６】請求項１０に記載した端子圧着状態判別方
法によれば、基準波形より第２の不良波形が下回りはじ
める点を第２の特異点としている。このため、第２の特
異点をより確実に定めることができる。

【００３７】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の第
１の実施形態について図１ないし図８及び図１５を参照
して説明する。図１は本発明を適用した端子圧着装置の
正面図、図２は同端子圧着装置の側面図である。図１及
び図２に示した端子圧着装置２００は、図１５に示す電
線６１に端子としての圧着端子５１を圧着して取り付け
るための装置である。

【００３８】電線６１は、導電性の芯線６０と、該芯線
６０を被覆する絶縁性の被覆部６２とを備えている。芯
線６０は、複数の導線が撚られて（束ねられて）構成さ
れており、断面形状が丸形に形成されている。芯線６０
を構成する導線は、例えば、銅、銅合金、アルミニウム
またはアルミニウム合金などの導電性を有する金属から
なる。被覆部６２は、絶縁性の合成樹脂からなる。電線
６１は、圧着端子５１が取り付けられる前に、一部の被
覆部６２が除去されて、該一部の芯線６０が露出した状
態となっている。

【００３９】圧着端子５１は、導電性の板金を折り曲げ
るなどして形成されている。圧着端子５１は、後述する
電気接触部５３が筒状に形成された所謂雌端子である。
圧着端子５１は、電線６１と接続するための電線接続部
５２と、他の端子金具と接続するための電気接触部５３
と、これらの電線接続部５２と電気接触部５３とを互い
に連ねる底壁５４と、を備えている。

【００４０】電線接続部５２は、一対の電線かしめ足５
５と、一対の芯線かしめ足５０と、を備えている。な
お、一対の芯線かしめ足５０は、本明細書に記したかし
め足をなしている。一対の電線かしめ足５５は、それぞ
れ、底壁５４の両縁から立設している。電線かしめ足５
５は、底壁５４に向かって曲げられることにより、底壁
５４との間に被覆部６２毎電線６１を挟む。こうして、
一対の電線かしめ足５５は、電線６１をかしめる。

【００４１】一対の芯線かしめ足５０は、それぞれ、底
壁５４の両縁から立設している。芯線かしめ足５０は、
底壁５４に向かって曲げられることにより、底壁５４と
の間に露出した芯線６０を挟む。こうして、一対の芯線
かしめ足５０は、芯線６０をかしめる。図１及び図２に
示された端子圧着装置２００は、かしめ足５０，５５を
底壁５４に向かって曲げて、圧着端子５１を電線６１に
かしめる装置である。図１において、１は端子圧着装置
２００のフレームであって、該フレーム１は、基板２と
その両側の側板３，３とを備えている。

【００４２】両側板３，３の上部後方には減速機５を備
えたサーボモータ４が固定されている。減速機５の出力
軸６には偏心ピン（クランク軸）８を有する円板７が軸
装され、偏心ピン８にはスライドブロック９が枢着され
ている。スライドブロック９はラム１１に取付けられた
受座１０，１０ａ間に摺動自在に装着されている。スラ
イドブロック９は、円板７の回転により受座１０，１０
ａ間を左右方向にスライドするとともにラム１１が上下
方向に移動する。

【００４３】このラム１１は両側板３，３の内面に設け
たラムガイド１２，１２に上下摺動自在に装着されてい
る。円板７、スライドブロック９、受座１０，１０ａ、
ラム１１およびラムガイド１２がピストン−クランク機
構を構成している。ラム１１は下端部に係合凹部１３を
有し、該係合凹部１３にはクリンパ１４を取付けたクリ
ンパホルダ１５の係合凸部１６が着脱自在に装着されて
いる。

【００４４】クリンパ１４にはアンビル１７が対向して
いる。アンビル１７は、基板２上のアンビル取付台２４
に固定されている。また、ラム１１と、クリンパホルダ
１５との間には、図３に示すように、圧力センサ１００
が設けられている。この圧力センサ１００は圧着不良検
出装置３００に接続されている。そして、圧力センサ１
００の出力により圧着不良検出装置３００でクリンパ１
４からの上下方向の荷重（以下この荷重の値を荷重値と
呼ぶ）が検出され、この検出された荷重値が、圧着過程
での特性値として処理される。なお、この荷重は、圧着
作業中の圧着端子５１からの反力及び圧着端子５１に加
える力をなしている。

【００４５】なお、図１において、１８は既知の構成の
端子供給装置である。この端子供給装置１８は、図示し
ない連鎖状の圧着端子５１を支持する端子ガイド１９、
端子押さえ２０、先端に端子送り爪２１を有する端子送
りアーム２２および該端子送りアーム２２を進退させる
揺動リンク２３等を備えている。

【００４６】揺動リンク２３は前記ラム１１の降下、上
昇に合わせて前後に揺動し、端子送り爪２１により圧着
端子５１を一個ずつアンビル１７上に送り込むようにな
っている。また、アンビル１７はアンビル取付台２４の
ハンドル２５の操作によりクリンパ１４に対する位置調
整や撤去、交換等を容易にできるようになっている。

【００４７】サーボモータ４は正逆回転を行い、前記ピ
ストン−クランク機構によりラム１１、即ちクリンパ１
４を降下および上昇させるものである。サーボモータ４
は、該サーボモータ４の駆動を制御するドライバ３２に
接続されている。そして、クリンパ１４の下降および上
昇により、このクリンパ１４とアンビル１７との間に配
置された、圧着端子５１および電線６１の圧着が行われ
る。

【００４８】なお、ドライバ３２には入力部３３が接続
されている。入力部３３は、圧着端子５１の規格（又は
サイズ）、対応する電線６１のサイズ、クリンプハイト
およびサーボモータ４にかかる負荷（電流）などの基準
データを入力するようになっている。また、サーボモー
タ４の図示しない出力軸にはエンコーダ３１が付設され
ており、その回転数に基いてクリンパ１４の位置を検出
してドライバ３２にフィードバックしている。

【００４９】図４は、本実施形態に係わる圧着不良検出
装置３００のブロック図である。圧着不良検出装置３０
０は、圧力センサ１００の出力を増幅するアンプ４１、
アンプ４１から出力されるアナログ電圧信号をデジタル
の電圧データに変換するＡ／Ｄ変換器４２、入力部４
３、ＣＰＵ４４、ＲＯＭ４５、ＲＡＭ４６、表示部４７
および通信インターフェース４８を備えている。

【００５０】入力部４３、ＣＰＵ４４、ＲＯＭ４５、Ｒ
ＡＭ４６、表示部４７および通信インターフェース４８
はマイクロコンピュータを構成している。ＣＰＵ４４は
ＲＯＭ４５に格納された制御プログラムに基づいてＲＡ
Ｍ４６のワーキングエリアを使用して制御を行う。

【００５１】具体的には、Ａ／Ｄ変換器４２で得られる
圧力センサ１００による荷重値のデータを特性値として
サンプリングする。また、ＣＰＵ４４は、サンプリング
した特性値に基づいて演算を行い、基準波形７１（図５
などに示す）の生成処理、基準波形７１の分割処理、基
準波形７１の特異点の検出処理、後述する基準部分波形
７２ａ，７２ｂ，７２ｃ，７２ｄの積分処理、しきい値
および許容限度の入力処理、圧着不良の検出処理、等を
行い、検出結果を表示部４７に表示する。

【００５２】圧着端子５１の圧着時には、圧力センサ１
００による荷重値のデータである特性値が得られ、例え
ば図５（Ａ）に示したような特性波形７１が得られる。
この特性波形７１は、時間の経過に応じた荷重値の変化
を示している。図５（Ａ）に示された特性波形７１は正
常に圧着されたときの波形であり、このように正常に圧
着されたときの特性波形７１を複数求めて所定のフォー
マットでＲＡＭ４６に記憶しておく。なお、図５（Ａ）
に示された正常に圧着されたときの特性波形７１を、以
下基準波形７１と呼ぶ。

【００５３】前記Ａ／Ｄ変換器４２は所定の変換サイク
ルでデジタルデータが確定する毎にそのデータを出力す
るので、ＣＰＵ４４は、例えばこのデータの出力タイミ
ングをタイムベースとして特性値を時系列にサンプリン
グすることができ、基準波形（特性波形）７１のデータ
を時系列なデータとしてＲＡＭ４６に記憶しておくこと
ができる。そして、圧着状態が正常であった複数の特性
波形のデータの平均等により基準波形７１のデータをＲ
ＡＭ４６内に生成する。

【００５４】なお、以下の説明では、「特性波形」とい
う用語は正常に圧着された場合と正常に圧着されなかっ
た場合の何れの場合にも使用し、「基準波形」という用
語は正常に圧着された場合の特性波形から得た波形につ
いて使用する。

【００５５】図５（Ａ）のような基準波形７１が得られ
ると、ＣＰＵ４４は、この基準波形７１のデータから特
性値の単位時間あたりの増分値を求め、図５（Ｂ）のよ
うな増分値の波形７３のデータを得る。

【００５６】次に、この増分値の波形７３のデータから
極値やゼロクロス点となる位置（時間軸上の位置）を検
出し、この位置を特異点とする。図示例では、端子圧着
過程におけるいくつかの特別な箇所となる４つの箇所Ａ
点、Ｂ点、Ｃ点、Ｄ点を前記特異点としている。また、
増分値の極値となる位置は上記４点以外にもあるが、上
記の４点は、圧着過程の１サイクル中での以下のような
特別な点であり予め大まかな位置が既知であるので、上
記４点を抽出することができる。

【００５７】なお、前記特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、それ
ぞれ、前記基準波形７１の増分値が極大となる箇所及び
この極大となる箇所の近傍または、前記基準波形７１の
増分値が零となる箇所及びこの零となる箇所の近傍であ
る。

【００５８】図６はクリンパ１４、アンビル１７、圧着
端子５１の一対の芯線かしめ足５０および芯線６０の圧
着過程の断面図である。なお、見やすくするために平行
斜線を一部省略してある。同図（Ａ）から（Ｄ）は、そ
れぞれ上記４つの特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにおける状態を
示し、同図（Ｅ）は圧着開始直前の状態を示している。
４つの特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、それぞれ、以下のよう
な点である。なお、特異点Ａは、本明細書に記した第１
の特異点をなしている。特異点Ｂは、本明細書に記した
第２の特異点をなしている。

【００５９】Ａ点：図６（Ａ）のように、圧着端子５１
の一対の芯線かしめ足５０が、クリンパ１４上部のアー
ル（曲面部分）により変形する過程において、互いに接
触する点。 Ｂ点：図６（Ｂ）のように、圧着端子５１の一対の芯線
かしめ足５０が芯線６０に触れ始め、力（荷重値）が上
昇に代わる点。 Ｃ点：図６（Ｃ）のように、圧着端子５１の一対の芯線
かしめ足５０により芯線６０をかしめる過程において、
力（荷重値）が上昇から下降に代わる点。 Ｄ点：図６（Ｄ）のように、圧着端子５１の一対の芯線
かしめ足５０により芯線６０が完全にかしめられて力
（荷重値）がピークになる点。

【００６０】なお、基準波形７１のデータおよび増分値
の波形７３のデータも、特性波形のデータと同様なタイ
ムベースにより時系列なデータとして扱うことができる
ことはいうまでもない。また、上記特異点の位置もこれ
らの時系列なデータに対応付けてタイミングのデータと
して記憶しておくことができる。

【００６１】また、前記ＣＰＵ４４は、前記基準波形７
１を複数に分割し、これら複数に分割して得られるもの
のうち前記特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを含んだものを、図５
中に平行斜線で示す基準部分波形７２ａ，７２ｂ，７２
ｃ，７２ｄとして設定する。これらの基準部分波形７２
ａ，７２ｂ，７２ｃ，７２ｄ毎に特性波形に基づいて圧
着状態の良否の判別を行う。なお、図示例では、基準波
形７１を等時間間隔に２０分割している。

【００６２】基準部分波形７２ａ，７２ｂ，７２ｃ，７
２ｄ毎に圧着不良の判別を行う際には、ＣＰＵ４４は、
図５中平行斜線で示した基準部分波形７２ａ，７２ｂ，
７２ｃ，７２ｄ毎の面積を、前記基準波形７１の生成、
特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの特定などとともに算出してお
く。

【００６３】そして、ＣＰＵ４４は、検査対象としての
圧着端子５１が取り付けられた電線６１の圧着作業中で
前述した基準波形７１と同様に特性波形８１（図７中に
一点鎖線で示す）を生成する。ＣＰＵ４４は、該特性波
形８１を基準波形７１と同様に複数に分割し、前記基準
部分波形７２ａ，７２ｂ，７２ｃ，７２ｄに相当する箇
所の部分波形８２ａ，８２ｂ，８２ｃ，８２ｄの面積を
算出する。

【００６４】その後、ＣＰＵ４４は、前記基準部分波形
７２ａ，７２ｂ，７２ｃ，７２ｄそれぞれと、部分波形
８２ａ，８２ｂ，８２ｃ，８２ｄそれぞれと、の面積の
差を算出し、これら面積の差（図７（Ａ）及び図７
（Ｂ）中に平行斜線で示す）のうち少なくとも一つが予
め定められるしきい値を超えると圧着端子５１が取り付
けられた電線６１を圧着不良であると判別し、これら面
積の差のうちいずれもが予め定められるしきい値以内で
あれば良品であると判別する。

【００６５】このように特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを含んだ
領域毎に判別を行うとそれぞれの領域での特性波形の状
態により、正常圧着（良品）と異常圧着（不良品）が判
別し易くなる。例えば、被覆部６２を噛み込むような異
常圧着（絶縁噛み）の場合は、図７（Ａ）中に示すよう
に、Ａ−Ｂ間とＢ−Ｃ間で特性波形８１は基準波形７１
より高く、Ｃ−Ｄ間では特性波形８１は基準波形７１よ
り低くなる。

【００６６】また、これとは対照的に、芯線６０が皮む
きされた位置で切断されていたり芯線６０の導線が少な
い異常圧着（芯線切れ）の場合は、図７（Ｂ）に示すよ
うに、Ａ−Ｂ間では特性波形８１と基準波形７１には差
が無く、Ｂ−Ｃ間とＣ−Ｄ間では特性波形８１は基準波
形７１より低くなる。

【００６７】このように、特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを含ん
だ分割領域で特性波形を調べれば、各不良の特徴が顕著
に現れ、圧着不良の検出能力が高まる。

【００６８】次に、本実施形態にかかる端子圧着装置２
００で圧着端子５１と電線６１とを圧着して、圧着端子
５１が取り付けられた電線６１の良否を判別する工程の
流れを、図８に示したフローチャートを参照して説明す
る。

【００６９】まず、ステップＳ１で、端子圧着装置２０
０で圧着端子５１と電線６１とを圧着して、圧着状態が
良好の圧着端子５１が取り付けられた電線６１を複数回
製造して、基準波形７１を生成してステップＳ２に進
む。

【００７０】ステップＳ２では、ＣＰＵ４４が基準波形
７１を複数に分割するとともに、ＣＰＵ４４または作業
者の指定により前述した特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを設定す
る。ＣＰＵ４４が特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを含んだ分割領
域である基準部分波形７２ａ，７２ｂ，７２ｃ，７２ｄ
それぞれを積分して、ステップＳ３に進む。

【００７１】ステップＳ３では、判別対象品としての圧
着端子５１と電線６１とを圧着する。圧着端子５１が取
り付けられた電線６１を製造する際に得られた特性波形
８１を、基準波形７１と同様に分割する。前記基準部分
波形７２ａ，７２ｂ，７２ｃ，７２ｄに対応する部分波
形８２ａ，８２ｂ，８２ｃ，８２ｄを積分して、ステッ
プＳ４にすすむ。

【００７２】ステップＳ４では、前記基準部分波形７２
ａ，７２ｂ，７２ｃ，７２ｄの積分値（面積）それぞれ
と、前記部分波形８２ａ，８２ｂ，８２ｃ，８２ｄの積
分値（面積）それぞれと、を比較する。これらの積分値
（面積）の差がしきい値を超えると不良品であると判別
し、前記積分値（面積）の差がしきい値を超えない場合
には良品であると判別する。

【００７３】本実施形態によれば、複数に分割された特
性波形に基づいて圧着端子５１の圧着状態の判別を行う
ことにより、圧着端子５１の圧着状態の良否の判別を安
定して行うことができ、細かな圧着不良まで検出でき
る。

【００７４】また、圧着する際に圧着端子５１の一対の
芯線かしめ足５０がクリンパ１４のアール（曲面部分）
により変形する過程において、特異点Ａは、前記一対の
芯線かしめ足５０が互いに接触する点である。特異点Ｂ
は、前記一対の芯線かしめ足５０が芯線６０に触れ始め
て圧着する際に生じる荷重の値（荷重値）が上昇に代わ
る点である。特異点Ｃは、芯線をかしめる過程において
前記荷重が上昇から下降に代わる点である。特異点Ｄ
は、前記荷重が加えられなくなる点などである。圧着端
子５１が取り付けられた電線６１の圧着状態の良否を判
別する際に、これらの特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを含んだ基
準部分波形７２ａ，７２ｂ，７２ｃ，７２ｄを用いてい
る。このため、圧着端子５１の圧着作業中において、前
記特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ及びこれら特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，
Ｄの近傍において、前記圧着の良否によって前記荷重値
が変化する場合があるので、より一層確実に細かな圧着
不良まで検出できる。

【００７５】さらに、複数分割された特性波形８１のう
ち一部の部分波形８２ａ，８２ｂ，８２ｃ，８２ｄに基
いて、圧着状態の良否を判別するので、判別にかかる所
要時間を短縮することができる。

【００７６】次に、本発明の第２の実施形態について、
図９及び図１０を参照して説明する。なお、前述した第
１の実施形態と同一箇所には同一符号を付して説明を省
略する。

【００７７】本実施形態では、ＣＰＵ４４は基準波形７
１を生成して分割しかつ特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを設定し
た後、例えば、分割領域のうちＢ点とＣ点間に位置する
一つを基準部分波形７２ｅとし、分割領域のうちＣ点と
Ｄ点間に位置する一つを基準部分波形７２ｆとする。そ
して、基準部分波形７２ｅ及び基準部分波形７２ｆそれ
ぞれの面積を算出する。

【００７８】圧着状態の良否を判別する際には、まず、
圧着端子５１を電線６１に圧着する際に得られた特性波
形８１（図１０中の一点鎖線で示す）を基準波形７１と
同様に分割する。前記基準部分波形７２ｅ，７２ｆそれ
ぞれに対応する部分波形８２ｅ，８２ｆそれぞれと、前
述した基準部分波形７２ｅ，７２ｆそれぞれとの面積の
差（図１０中平行斜線で示す領域）に基いて、良否を算
出する。なお、図１０（Ａ）中の一点鎖線は、被覆部６
２を噛み込むような異常圧着（絶縁噛み）の場合を示し
ており、図１０（Ｂ）中の一点鎖線は、芯線６０が皮む
きされた位置で切断されていたり芯線６０の導線が少な
い異常圧着（芯線切れ）の場合を示している。

【００７９】本実施形態においても、複数分割された特
性波形８１のうち一部の部分波形８２ｅ，８２ｆに基い
て、圧着状態の良否を判別するので、判別にかかる所要
時間を短縮することができる。

【００８０】一対の芯線かしめ足５０がクリンパ１４の
アール（曲面部分）により変形する過程において、一対
の芯線かしめ足５０が互いに接触する点を特異点Ａとし
ている。前記一対の芯線かしめ足５０が芯線６０に触れ
始めて圧着する際に生じる荷重が上昇に代わる点を特異
点Ｂとしている。芯線６０をかしめる過程において前記
荷重が上昇から下降に代わる点を特異点Ｃとしている。
前記荷重が加えられなくなる点などを特異点Ｄとしてい
る。

【００８１】また、圧着端子５１の圧着作業中におい
て、前記圧着端子５１は前記特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ相互
間で主に変形する場合がある。この場合、前記圧着端子
５１は、圧着状態の良否によって変形のし易さ（し難
さ）即ち前記荷重値が変化する。このように、圧着状態
の良否によって、前記特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ相互間での
前記荷重値が変化する端子の場合、前記特異点Ａ，Ｂ，
Ｃ，Ｄ相互間の特性波形の面積に基いて判別するため、
確実に細かな圧着不良まで検出できる。

【００８２】次に、本発明の第３の実施形態を、図１１
及び図１２を参照して説明する。なお、前述した第１及
び第２の実施形態と同一箇所には同一符号を付して説明
を省略する。

【００８３】本実施形態では、ＣＰＵ４４は基準波形７
１を生成した後に、前述した第１及び第２の実施形態の
ようには、前記基準波形７１を分割しない、そして、前
記ＣＰＵ４４は、前記基準波形７１から前述した第１の
実施形態と同様に、図１１（Ｂ）に示すように、特異点
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを設定する。各特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄそ
れぞれの圧着開始からの経過時間ＴＡ，ＴＢ，ＴＣ，Ｔ
Ｄを求める。前記基準波形７１の各経過時間ＴＡ，Ｔ
Ｂ，ＴＣ，ＴＤの前後ΔＴ時間の領域を、図１１（Ａ）
に平行斜線で示す第２基準部分波形７４ａ，７４ｂ，７
４ｃ，７４ｄとする。そして、第２基準部分波形７４
ａ，７４ｂ，７４ｃ，７４ｄそれぞれの面積を算出す
る。

【００８４】圧着状態の良否を判別する際には、まず、
前記各経過時間ＴＡ，ＴＢ，ＴＣ，ＴＤ及び前記時間Δ
Ｔから、圧着端子５１を電線６１に圧着する際に得られ
た特性波形８１（図１２中の一点鎖線で示す）の第２部
分波形８４ａ，８４ｂ，８４ｃ，８４ｄを求める。な
お、これらの第２部分波形８４ａ，８４ｂ，８４ｃ，８
４ｄは、それぞれ、前記第２基準部分波形７４ａ，７４
ｂ，７４ｃ，７４ｄに対応する。このため、第２部分波
形８４ａ，８４ｂ，８４ｃ，８４ｄは、それぞれ、特異
点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに相当する箇所を含んでいる。

【００８５】第２部分波形８４ａ，８４ｂ，８４ｃ，８
４ｄそれぞれと、第２基準部分波形７４ａ，７４ｂ，７
４ｃ，７４ｄそれぞれとの面積の差（図１２中平行斜線
で示す領域）に基いて、圧着状態の良否を算出する。判
別する際には、例えば、前記面積の差すべてが、予め定
められるしきい値以内であれば良品と判別し、前記面積
の差のうち少なくとも一つが予め定められるしきい値を
超えると不良品と判別する。

【００８６】なお、図１２（Ａ）中の一点鎖線は、被覆
部６２を噛み込むような異常圧着（絶縁噛み）の場合を
示しており、図１２（Ｂ）中の一点鎖線は、芯線６０が
皮むきされた位置で切断されていたり芯線６０の導線が
少ない異常圧着（芯線切れ）の場合を示している。

【００８７】このように、本実施形態では、特異点Ａ，
Ｂ，Ｃ，Ｄを含んだ第２基準部分波形７４ａ，７４ｂ，
７４ｃ，７４ｄと、前記特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに相当す
る箇所を含んだ第２部分波形８４ａ，８４ｂ，８４ｃ，
８４ｄと、に基いて、圧着状態の良否を判別する。

【００８８】本実施形態においても、複数分割された特
性波形８１のうち一部の第２部分波形８４ａ，８４ｂ，
８４ｃ，８４ｄに基いて、圧着状態の良否を判別するの
で、判別にかかる所要時間を短縮することができる。

【００８９】一対の芯線かしめ足５０がクリンパ１４の
アール（曲面部分）により変形する過程において、一対
の芯線かしめ足５０が互いに接触する点を特異点Ａとし
ている。前記一対の芯線かしめ足５０が芯線６０に触れ
始めて圧着する際に生じる荷重が上昇に代わる点を特異
点Ｂとしている。芯線６０をかしめる過程において前記
荷重が上昇から下降に代わる点を特異点Ｃとしている。
前記荷重が加えられなくなる点などを特異点Ｄとしてい
る。

【００９０】第２部分波形８４ａ，８４ｂ，８４ｃ，８
４ｄに基いて、圧着状態の良否を判別するので、圧着作
業中において、前記特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ及びこれら特
異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの近傍において、前記圧着の良否に
よって前記荷重値が変化する端子の場合、特に、より一
層確実に細かな圧着不良まで検出できる。

【００９１】次に、本発明の第４の実施形態を、図１３
及び図１４を参照して説明する。なお、前述した第１な
いし第３の実施形態と同一箇所には同一符号を付して説
明を省略する。

【００９２】本実施形態では、ＣＰＵ４４は基準波形７
１を生成した後に、前記特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを設定す
ることなく、前記基準波形７１を一定時間Ｔ毎に分割す
る。そして、図１３に示すように、前記一定時間Ｔ毎
の、基準特性値としての基準荷重値Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，
…，Ｐｎを求める。

【００９３】圧着状態の良否を判別する際には、まず、
圧着端子５１を電線６１に圧着する際に得られた特性波
形８１（図１４中の一点鎖線で示す）を一定時間Ｔ毎に
分割する。そして、前記一定時間Ｔ毎の、特性値として
の荷重値Ｐａ１，Ｐａ２，Ｐａ３，…，Ｐａｎを求め
る。

【００９４】前記基準波形７１の基準荷重値Ｐ１，Ｐ
２，Ｐ３，…，Ｐｎそれぞれと、前記特性波形８１の荷
重値Ｐａ１，Ｐａ２，Ｐａ３，…，Ｐａｎそれぞれとの
差（図１４中に符号ΔＰ２，ΔＰ３，ΔＰ４，ΔＰ５，
ΔＰ６，ΔＰ７…，ΔＰｎで示す部分）に基いて、圧着
状態の良否を算出する。判別する際には、例えば、前記
荷重値の差ΔＰ２，ΔＰ３，ΔＰ４，ΔＰ５，ΔＰ６，
ΔＰ７…，ΔＰｎすべてが、予め定められるしきい値以
内であれば良品と判別し、前記荷重値の差ΔＰ２，ΔＰ
３，ΔＰ４，ΔＰ５，ΔＰ６，ΔＰ７…，ΔＰｎの少な
くとも一つが予め定められるしきい値を超えると不良品
と判別する。

【００９５】なお、図１４（Ａ）中の一点鎖線は、被覆
部６２を噛み込むような異常圧着（絶縁噛み）の場合を
示しており、図１４（Ｂ）中の一点鎖線は、芯線６０が
皮むきされた位置で切断されていたり芯線６０の導線が
少ない異常圧着（芯線切れ）の場合を示している。この
ように、本実施形態では、一定時間Ｔ毎の荷重値に基い
て、圧着端子５１の圧着状態の良否を判別する。

【００９６】本実施形態においても、特性波形８１の一
部の荷重値Ｐａ１，Ｐａ２，Ｐａ３，…，Ｐａｎなどに
基いて、圧着状態の良否を判別するので、判別にかかる
所要時間を短縮することができる。

【００９７】また、前記一定時間Ｔ毎の荷重値Ｐａ１，
Ｐａ２，Ｐａ３，…，Ｐａｎなどに基くので、判別時に
は、複数の荷重値を用いている。このため、図１４
（Ａ）に示す被覆部６２を噛み込むような異常圧着（絶
縁噛み）の場合や、図１４（Ｂ）中の一点鎖線は、芯線
６０が皮むきされた位置で切断されていたり芯線６０の
導線が少ない異常圧着（芯線切れ）の場合でも、細かな
圧着不良まで検出できる。

【００９８】なお、第４の実施形態において、図示例で
は、前記一定時間Ｔは、すべて等しい場合を示してい
る。しかしながら、本発明では、基準波形７１と特性波
形８１との間で対応させておけば、常に同じ時間間隔毎
の荷重値でなくても良い。

【００９９】前述した第１ないし第３の実施形態では、
以下に示すように、特異点Ａ，Ｂを定めても良い。ま
ず、前述したように特性波形７１（図１６中に実線で示
す）を生成する。その後、芯線かしめ足５０が被覆部６
２とともに芯線６０をかしめた圧着不良（絶縁噛み）時
の第１の不良波形９１（図１６中に一点鎖線で示す）を
生成する。

【０１００】圧着開始から圧着作業の時間の経過ととも
に、第１の不良波形９１の荷重値（特性値）が基準波形
７１の荷重値（特性値）より上回りはじめる圧着開始か
らの経過時間ＴＡを求める。圧着開始からの経過時間Ｔ
Ａの点を特異点（第１の特異点）Ａと定める。この場
合、特異点Ａが一対の芯線かしめ足５０が互いに接触す
る箇所なので、該特異点Ａでは第１の不良波形９１の荷
重値（特性値）が基準波形７１の荷重値（特性値）より
上回る。このように、第１の不良波形９１の荷重値と基
準波形７１の荷重値とに基づくことによって、特異点Ａ
を確実に定めることができる。したがって、特異点Ａを
確実にかつ容易に定めることができ、より一層細かな圧
着不良まで検出できる。

【０１０１】特性波形７１（図１７中に実線で示す）を
生成した後、芯線かしめ足５０が正常時より少ない本数
の導線からなる芯線６０をかしめた圧着不良（芯線切
れ）時の第２の不良波形９２（図１７中に一点鎖線で示
す）を生成する。圧着開始から圧着作業の時間の経過と
ともに、第２の不良波形９２の荷重値（特性値）が基準
波形７１の荷重値（特性値）より下回りはじめる圧着開
始からの経過時間ＴＢを求める。

【０１０２】圧着開始からの経過時間ＴＢの点を特異点
（第２の特異点）Ｂと定める。この場合、特異点Ｂが一
対の芯線かしめ足５０が芯線６０に接触する箇所なの
で、該特異点Ｂでは第２の不良波形９２の荷重値（特性
値）が基準波形７１の荷重値（特性値）より下回る。こ
のように、第２の不良波形９２の荷重値と基準波形７１
の荷重値とに基づくことによって、特異点Ｂを確実に定
めることができる。したがって、特異点Ｂを確実にかつ
容易に定めることができ、より一層細かな圧着不良まで
検出できる。

【０１０３】以上説明した圧着不良検出装置３００は前
記通信インターフェース４８を用いてネットワークシス
テムを構成することもできる。例えば、複数の端子圧着
装置２００のそれぞれに備えられた複数の圧着不良検出
装置３００をネットワークを介してポータブルコンピュ
ータに接続する。各圧着不良検出装置３００で設定した
基準波形７１のデータをポータブルコンピュータに転送
し、ポータブルコンピュータに内蔵されたハードディス
ク等に各基準波形７１のデータを記憶しておく。そし
て、このポータブルコンピュータで各圧着不良検出装置
３００における基準波形７１を管理する。

【０１０４】以上の実施形態では圧着時の特性値とし
て、クリンパホルダ１５からラム１１などに伝えられる
荷重値を検出するようにしているが、アンビル１７に加
わる圧力（荷重）、クリンパ１４からクリンパホルダ１
５に伝えられるラム１１に加わる圧力などを圧力センサ
１００で検出して、これを特性値とするようにしてもよ
い。

【０１０５】さらに、ラム１１の一部に弾性変形しやす
い弾性変形部を形成しておき、圧着時の前記弾性変形部
の変形量を前述した特性値として用いても良い。この場
合、変位センサのプローブを前記弾性変形部に当接させ
るように配置するのが望ましい。この場合、フレーム１
の側板３間に前述した変位を測定するセンサを設けても
よい。

【０１０６】すなわち、圧着端子５１を圧着する端子圧
着装置２００は、圧着時の反力を受けてフレーム１が変
形する。その変形量はフレーム１の構造により剛性が異
なるので端子圧着装置２００の種類により違いがある。
つまり、変形量が大きい端子圧着装置２００や小さい端
子圧着装置２００等が存在する。変形量がほとんどゼロ
に等しい端子圧着装置２００も考えられるが、実用的で
はない。

【０１０７】つまり、実用される端子圧着装置２００
は、基本的に変形するので、この変形量を特性値として
用いることができる。このことは、フレーム１の変形量
を測定するだけでなく、実施形態のラム１１と同様にピ
ストン−クランク機構に切欠き部をつけ弾性変形し易く
すれば、前述した変位センサなどを内蔵させることが可
能となる。

【０１０８】また、変位センサに限らず、フレーム１が
変形する過程等を加速度センサで測定し、その測定値で
圧着時の特性波形８１を取っても良品と不良品を識別す
るのに十分なデータを得ることができる。

【０１０９】また、特性値を検出するセンサ等の種類に
よっては特性値の出方が異なることから増分値の波形
も、図５（Ｂ）に示す場合と異なる場合もある。この場
合でも、特性値の零クロス点やピーク点により、図６と
同様な圧着過程の１サイクル中での特別な点としての前
記特異点Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを求めることができる。

【０１１０】また、実施形態で対象としている端子圧着
装置２００はサーボモータ４の駆動により圧着端子５１
の圧着を行うものであるが、本発明はどのような圧着機
構であってもよいことはいうまでもない。

【０１１１】さらに、前述した実施形態では、特異点
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが比較的明瞭に表れる場合を示している
が、本発明では、以下のようにすることにより、特異点
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが明瞭に表れない場合にも対応すること
ができる。この場合、圧着状態が良好である場合の特性
波形７１と、圧着状態が不良である場合の特性波形８１
と、を比較して、積分値の差が大きい分割領域を前述し
た基準部分波形７２ａ，７２ｂ，７２ｃ，７２ｄ，７２
ｅ，７２ｆ，７４ａ，７４ｂ，７４ｃ，７４ｄとして用
いる。

【０１１２】また、前述した第１の実施形態では特異点
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを含んだ基準部分波形７２ａ，７２ｂ，
７２ｃ，７２ｄを用い、第２の実施形態では特異点Ａ，
Ｂ，Ｃ，Ｄを含まない基準部分波形７２ｅ，７２ｆを用
いている。しかしながら、本発明では、前記基準波形７
１と特性波形８１とのすべてを判別に用いないのであれ
ば、圧着状態の良否の判別に用いる基準部分波形及び部
分波形を、前記基準波形７１と特性波形８１とを予め分
割した中から、圧着端子５１及び電線６１などに応じて
適宜選択しても良いことは勿論である。さらに、特異点
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが４箇所ある場合にも、本発明では、圧
着状態の良否によって、前記荷重値が顕著に異なるので
あれば、判別に用いる部分波形を、例えば３箇所として
も良いことは勿論である。

【０１１３】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１に記載の
本発明によれば、複数に分割された特性波形の一部に基
づいて端子の圧着状態の判別を行うことにより、端子の
圧着状態の良否の判別を安定して行うことができ、細か
な圧着不良まで検出できる。

【０１１４】さらに、複数分割されたうち一部の特性波
形に基いて、圧着状態の良否を判別するので、判別にか
かる所要時間を短縮することができる。なお、特性波形
とは、圧着作業中における、変形する際の端子からの反
力または、該端子の変形量であるのが望ましい。また、
圧着状態の良否を判別する際に用いる前記基準部分波形
と前記部分波形とは、端子及び電線などに応じて適宜選
択することが望ましい。

【０１１５】請求項２に記載の本発明によれば、判別の
際に用いられる一部の基準部分波形が特異点を含んでい
るので、特に、圧着状態の良否によって前記特異点及び
これら特異点の近傍での前記荷重の値などが変化する端
子の場合、より一層確実に細かな圧着不良まで検出でき
る。

【０１１６】また、特異点が、圧着する際に端子の一対
のかしめ足が変形する過程において一対のかしめ足が互
いに接触する点、圧着する際に端子に加える荷重が上昇
に代わる点、圧着する際に端子に加える荷重が上昇から
下降に代わる点、前記荷重が加えられなくなる点など、
であるのが望ましい。

【０１１７】請求項３に記載の本発明によれば、判別の
際に用いられる一部の基準部分波形が特異点相互間に位
置しているので、特に、圧着状態の良否によって前記特
異点相互間で前記荷重の値などが変化する端子の場合、
より一層確実に細かな圧着不良まで検出できる。

【０１１８】また、特異点が、圧着する際に端子の一対
のかしめ足が変形する過程において一対のかしめ足が互
いに接触する点、圧着する際に端子に加える荷重が上昇
に代わる点、前記荷重が上昇から下降に代わる点、前記
荷重が加えられなくなる点など、であるのが望ましい。

【０１１９】請求項４に記載の本発明によれば、判別の
際に用いられる一部の第２基準部分波形が特異点を含ん
でおり、判別対象の特性波形の第２部分波形が前記特異
点に相当する箇所を含んでいる。このため、特に、圧着
状態の良否によって前記特異点及びこれら特異点の近傍
での前記荷重の値などが変化する端子の場合、より確実
に細かな圧着不良まで検出できる。

【０１２０】さらに、前記基準波形の一部である第２基
準部分波形と、前記特性波形の一部である第２部分波形
と、に基いて、圧着状態の良否を判別するので、判別に
かかる所要時間を短縮することができる。

【０１２１】なお、特性波形とは、圧着作業中におけ
る、変形する際の端子に加える荷重または、圧着する際
に用いられる圧着機の変形量であるのが望ましい。ま
た、特異点は、圧着する際に端子の一対のかしめ足が変
形する過程において一対のかしめ足が互いに接触する
点、圧着する際に端子に加える荷重が上昇に代わる点、
前記荷重が上昇から下降に代わる点、前記荷重が加えら
れなくなる点など、であるのが望ましい。

【０１２２】請求項５に記載の本発明によれば、特異点
が、特性波形の増分値が極大となる箇所または零となる
箇所なので、圧着する際に端子の一対のかしめ足が互い
に接触する点、端子の一対の加締め足が芯線に触れ始め
て前記荷重が上昇に代わる点、芯線をかしめる過程にお
いて前記荷重が上昇から下降に代わる点、前記荷重が加
えられなくなる点などとなる。このため、より一層確実
に細かな圧着不良まで検出できる。

【０１２３】請求項６に記載の本発明によれば、特性波
形の一定時間毎の特性値に基づいて端子の圧着状態の判
別を行うことにより、端子の圧着状態の良否の判別を安
定して行うことができ、細かな圧着不良まで検出でき
る。

【０１２４】さらに、一定時間毎の特性波形の特性値に
基いて、圧着状態の良否を判別するので、判別にかかる
所要時間を短縮することができる。なお、特性波形と
は、圧着作業中における、変形する際の端子に加える荷
重または、圧着する際に用いられる圧着機の変形量であ
るのが望ましい。

【０１２５】請求項７に記載の本発明によれば、かしめ
足で被覆部とともに芯線をかしめた圧着不良時の第１の
不良波形と、正常に圧着した際の基準波形と、から第１
の特異点を定める。このため、第１の特異点を確実に定
めることができる。したがって、第１の特異点を確実で
かつ容易に定めることができるので、より一層細かな圧
着不良まで検出できる。

【０１２６】請求項８に記載の本発明によれば、基準波
形より第１の不良波形が上回りはじめる点を第１の特異
点としている。このため、第１の特異点をより確実に定
めることができる。したがって、第１の特異点をより確
実でかつより容易に定めることができるので、より一層
細かな圧着不良まで検出できる。

【０１２７】請求項９に記載の本発明によれば、かしめ
足で導線が不足した芯線をかしめた圧着不良時の第２の
不良波形と、正常に圧着した際の基準波形と、から第２
の特異点を定める。このため、第２の特異点を確実に定
めることができる。したがって、第２の特異点を確実で
かつ容易に定めることができるので、より一層細かな圧
着不良まで検出できる。

【０１２８】請求項１０に記載の本発明によれば、基準
波形より第２の不良波形が下回りはじめる点を第２の特
異点としている。このため、第２の特異点をより確実に
定めることができる。したがって、第２の特異点をより
確実でかつより容易に定めることができるので、より一
層細かな圧着不良まで検出できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施形態にかかる端子圧着状態
判別方法を適用した端子圧着装置の正面図である。

【図２】図１に示された端子圧着装置の側面図である。

【図３】同実施形態における圧力センサの取付状態を示
す図である。

【図４】同実施形態に係わる圧着不良検出装置のブロッ
ク図である。

【図５】同実施形態に係わる基準波形と増分値の波形と
特異点及び基準部分波形の例を示す図である。

【図６】同実施形態におけるクリンパ、アンビル、端子
の一対の芯線かしめ足および芯線の圧着過程の断面図で
ある。

【図７】同実施形態に係わる基準波形と不良状態の種類
に応じた特性波形との関係の一例を示す図である。

【図８】同実施形態に係わる圧着状態の判別工程の一例
を示すフローチャートである。

【図９】第２の実施形態における基準波形と特異点及び
基準部分波形の例を示す図である。

【図１０】同実施形態に係わる基準波形と不良状態の種
類に応じた特性波形との関係の一例を示す図である。

【図１１】第３の実施形態における基準波形と特異点及
び第２基準部分波形の例を示す図である。

【図１２】同実施形態に係わる基準波形と不良状態の種
類に応じた特性波形との関係の一例を示す図である。

【図１３】第４の実施形態における基準波形の例を示す
図である。

【図１４】同実施形態に係わる基準波形と不良状態の種
類に応じた特性波形との関係の一例を示す図である。

【図１５】図１に示された端子圧着装置で互いに取り付
けられた電線と圧着端子とを示す斜視図である。

【図１６】本発明の第１ないし第３の実施形態におい
て、特異点Ａを求める他の方法を示す説明図である。

【図１７】本発明の第１ないし第３の実施形態におい
て、特異点Ｂを求める他の方法を示す説明図である。

【符号の説明】

５０ 芯線かしめ足（かしめ足） ５１ 圧着端子（端子） ６０ 芯線 ６１ 電線 ６２ 被覆部 ７１ 基準波形（特性波形） ７２ａ，７２ｂ，７２ｃ，７２ｄ，７２ｅ，７２ｆ 基
準部分波形 ７４ａ，７４ｂ，７４ｃ，７４ｄ 第２基準部分波形 ８１ 特性波形 ８２ａ，８２ｂ，８２ｃ，８２ｄ，８２ｅ，８２ｆ 部
分波形 ８４ａ，８４ｂ，８４ｃ，８４ｄ 第２部分波形 ９１ 第１の不良波形 ９２ 第２の不良波形 ２００ 端子圧着装置 Ａ 特異点（第１の特異点） Ｂ 特異点（第２の特異点） Ｃ 特異点 Ｄ 特異点 Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐｎ 基準荷重値（基準特性値） Ｐａ１，Ｐａ２，Ｐａ３，Ｐａｎ 荷重値（特性値）

フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G014 AA01 AB38 AB44 AC19 5E051 GA06 GB10 5E085 BB01 CC03 DD14 FF01 JJ38 JJ50

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 端子圧着装置で電線の芯線に端子を圧着
   する圧着過程で得られる特性値の特性波形に基づいて、
   該端子の圧着状態を判別する端子圧着状態判別方法にお
   いて、 正常に圧着されたときの前記特性波形から基準波形を求
   め、かつ該基準波形を複数分割しておき、 判別対象の電線と端子とを圧着した際に得られる特性波
   形を前記基準波形と同数に複数分割し、 互いに相当する前記基準波形を複数分割して得られたう
   ち一部の基準部分波形と、前記判別対象の特性波形を複
   数分割して得られたうち一部の部分波形と、に基いて、
   端子の圧着状態を判別することを特徴とする端子圧着状
   態判別方法。
2. 【請求項２】 前記基準波形の増分値から該基準波形の
   特異点を求めておき、 前記基準部分波形が、前記特異点を含んでいることを特
   徴とする請求項１記載の端子圧着状態判別方法。
3. 【請求項３】 前記基準波形の増分値から該基準波形の
   特異点を求めておき、前記基準波形が前記特異点を複数
   備えているとともに、 前記基準部分波形が、複数の特異点相互間に位置してい
   ることを特徴とする請求項１記載の端子圧着状態判別方
   法。
4. 【請求項４】 端子圧着装置で電線の芯線に端子を圧着
   する圧着過程で得られる特性値の特性波形に基づいて、
   該端子の圧着状態を判別する端子圧着状態判別方法にお
   いて、 正常に圧着されたときの前記特性波形から基準波形を求
   め、かつ該基準波形の増分値から該基準波形の特異点を
   求めるとともに、該特異点を含んだ前記基準波形の一部
   である第２基準部分波形を求め、判別対象の電線と端子
   とを圧着した際に得られる特性波形の前記特異点に相当
   する箇所を含んだ前記特性波形の一部である第２部分波
   形を求め、前記第２基準部分波形と前記第２部分波形
   と、に基いて、端子の圧着状態を判別することを特徴と
   する端子圧着状態判別方法。
5. 【請求項５】 特異点は、前記基準波形の増分値が極大
   となる箇所または、前記基準波形の増分値が零となる箇
   所であることを特徴とする請求項２ないし請求項４のう
   ちいずれか一項に記載の端子圧着状態判別方法。
6. 【請求項６】 端子圧着装置で電線の芯線に端子を圧着
   する圧着過程で得られる特性値の特性波形に基づいて、
   該端子の圧着状態を判別する端子圧着状態判別方法にお
   いて、 正常に圧着されたときの前記特性波形から基準波形を求
   め、該基準波形の一定時間毎の基準特性値を求め、 判別対象の電線と端子とを圧着した際に得られる特性波
   形の前記一定時間毎の特性値を求め、前記基準特性値と
   前記特性値とに基いて、端子の圧着状態を判別すること
   を特徴とする端子圧着状態判別方法。
7. 【請求項７】 前記電線が前記芯線を被覆する被覆部を
   備えており、 前記端子が前記芯線をかしめるかしめ足を備えており、 前記かしめ足が前記被覆部を前記芯線とともにかしめた
   ときの前記特性波形から第１の不良波形を求め、前記基
   準波形と前記第１の不良波形とから前記特異点のうち一
   つの第１の特異点を求めることを特徴とする請求項２な
   いし請求項５のうちいずれか一項に記載の端子圧着状態
   判別方法。
8. 【請求項８】 圧着作業の時間の経過にしたがって前記
   基準波形の特性値より前記第１の不良波形の特性値が上
   回りはじめる点を前記第１の特異点とすることを特徴と
   する請求項７に記載の端子圧着状態判別方法。
9. 【請求項９】 前記芯線が複数の導線を束ねられて構成
   されており、 前記端子が前記芯線をかしめるかしめ足を備えており、 前記かしめ足が正常時より少ない本数の導線からなる芯
   線をかしめたときの前記特性波形から第２の不良波形を
   求め、前記基準波形と前記第２の不良波形とから前記特
   異点のうち一つの第２の特異点を求めることを特徴とす
   る請求項２、請求項３、請求項４、請求項５、請求項７
   または請求項８に記載の端子圧着状態判別方法。
10. 【請求項１０】 圧着作業の時間の経過にしたがって前
    記基準波形の特性値より前記第２の不良波形の特性値が
    下回りはじめる点を前記第２の特異点とすることを特徴
    とする請求項９に記載の端子圧着状態判別方法。