JP2002335157A - アナログ・ディジタル変換回路 - Google Patents

アナログ・ディジタル変換回路

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JP2002335157A
JP2002335157A JP2001138305A JP2001138305A JP2002335157A JP 2002335157 A JP2002335157 A JP 2002335157A JP 2001138305 A JP2001138305 A JP 2001138305A JP 2001138305 A JP2001138305 A JP 2001138305A JP 2002335157 A JP2002335157 A JP 2002335157A
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/34Analogue value compared with reference values
    • H03M1/38Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
    • H03M1/44Sequential comparisons in series-connected stages with change in value of analogue signal

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 誤差の発生と遅延の少ないAD変換回路を提
供する。 【解決手段】 量子化器20の入力端子21aに与えら
れる電圧V1は、電圧比較器22で基準電圧Vrefと
比較されると共に、差動増幅器23で基準電圧Vref
との差の電圧が2倍に増幅され、更に差動増幅器24で
基準電圧Vrefとの差の電圧が2倍に反転増幅され
る。差動増幅器23,24の出力電圧はアナログスイッ
チ26,27に与えられ、電圧比較器22の比較結果の
信号S22で一方が選択されて出力端子29aに出力さ
れる。また、信号S22はENOR28において、前段
のディジタルデータで論理値の補正が行われ、ディジタ
ルデータとして出力端子29dに出力される。このよう
な量子化器20を直列に接続することにより、任意のビ
ット数のディジタルデータを精度良くかつ高速に得るこ
とができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、アナログ電圧をデ
ィジタルデータに変換するアナログ・ディジタル(以
下、「AD」という)変換回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図2(a),(b)は、従来のAD変換
回路の一例を示す図であり、同図(a)は回路構成図、
及び同図(b)はその動作説明図である。このAD変換
回路は、並列型のAD変換器(以下、「ADC」とい
う)を直列に複数個接続した直並列型と呼ばれるもの
で、図2(a)に示すように、アナログの入力信号AI
が与えられる入力端子1を有している。入力端子1に
は、M(例えば、M=3)ビットADC2が接続されて
いる。MビットADC2は、2−1個の電圧比較器を
用いて、入力信号AIをMビットのディジタルデータS
2に変換するものである。
【0003】MビットADC2の出力側には、ディジタ
ルデータS2をアナログ電圧S3に変換するディジタル
・アナログ変換器(以下、「DAC」という)3が接続
されている。DAC3の出力側は、差分回路4の−入力
端子に接続され、この差分回路4の+入力端子には、入
力端子1から入力信号AIが与えられるようになってい
る。
【0004】差分回路4は、+入力端子に与えられる電
圧と、−入力端子に与えられる電圧の差を差分電圧S4
として出力するものであり、この差分回路4の出力側
に、2 の増幅度を有する増幅器(AMP)5が接続さ
れている。増幅器5の出力側には、N(例えば、N=
4)ビットADC6が接続されている。
【0005】MビットADC2の出力側には、更にNビ
ットシフタ7が接続されている。Nビットシフタ7は、
ディジタルデータS2をNビットだけ上位桁にシフトす
るもので、この出力側が加算器8の第1の入力側に接続
されている。加算器8は、第1及び第2の入力側に与え
られるディジタルデータを加算するもので、この第2の
入力側にNビットADC6から出力されるディジタルデ
ータS6が与えられるようになっている。そして、加算
器8の出力側が出力端子9に接続され、この出力端子9
からM+NビットのディジタルデータDOが出力される
ようになっている。
【0006】次に動作を説明する。入力端子1には、例
えば図2(b)に示すようなアナログの入力信号AIが
与えられる。サンプリング時刻Tsにおいて,入力信号
AIの電圧V1が、(5/8)VDDと(6/8)VD
Dの間であると、MビットADC2から出力されるディ
ジタルデータS2の値は、“101”となる。ディジタ
ルデータS2は、DAC3に与えられ、このDAC3か
ら(5/8)VDDのアナログ電圧S3が出力されて差
分回路4の−入力端子に与えられる。
【0007】一方、差分回路4の+入力端子には、入力
端子1から入力信号AIの電圧V1与えられているの
で、この差分回路4から出力される差分電圧S4は、V
1−(5/8)VDDとなる。差分電圧S4は、増幅器
5で2倍(=8倍)に増幅され、アナログ電圧S5と
してNビットADC6に与えられる。アナログ電圧S5
は、NビットADC6で4ビットのディジタルデータS
6(例えば、値“0110”)に変換されて加算器8に
与えられる。
【0008】一方、MビットADC2から出力されたデ
ィジタルデータS2は、Nビットシフタ7に与えられ、
4ビットだけ上位桁にシフトされる。これにより、Nビ
ットシフタ7から出力されるディジタルデータS7の値
は、“1010000”となる。ディジタルデータS7
は、加算器8でディジタルデータS6と加算され、“1
010110”の値を持つ7ビットのディジタル信号D
Oが出力される。
【0009】このように、直並列型のAD変換回路は、
最初のMビットADC2で粗く上位のディジタルデータ
S2を求め、次にNビットADC6で差分電圧S4から
下位のディジタルデータS6を求めるようにしている。
これにより、必要な電圧比較器の数は、MビットADC
2及びNビットADC6で、それぞれ7個及び15個と
なり、合計22個となる。一方、7ビットの並列一括変
換型のAD変換回路の場合、必要な電圧比較器の数は2
−1=127個となる。従って、並列一括変換型のA
D変換回路に比べて少ない数の電圧比較器で、比較的高
速にAD変換を行うことができる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
直並列型のAD変換回路では、次のような課題があっ
た。即ち、最初のMビットADC2でAD変換を行った
後、ディジタルデータS2をDAC3によって、再びア
ナログ電圧S3に戻さなければならない。この時、DA
変換によって遅延が生ずる。また、差分回路4及び増幅
器5におけるアナログ電圧の処理により、誤差が拡大す
るおそれがあった。このため、処理時間の遅延と変換精
度の劣化を生じやすいという課題があった。本発明は、
前記従来技術が持っていた課題を解決し、誤差の発生と
遅延の少ないAD変換回路を提供するものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明の内の第1の発明は、入力されるアナログ電
圧を基準電圧と比較してディジタルデータに変換すると
共に、該入力されたアナログ電圧と変換したディジタル
データに対応する電圧との差の電圧を出力する複数の量
子化器を直列に接続したAD変換回路において、量子化
器を次のように構成している。
【0012】即ち、この量子化器は、入力されるアナロ
グ電圧と基準電圧を比較して比較結果を出力する比較手
段と、前記入力されるアナログ電圧と前記基準電圧の差
の電圧をそのまま増幅する第1の増幅手段と、前記入力
されるアナログ電圧と前記基準電圧の差の電圧を反転し
て増幅する第2の増幅手段と、前記比較手段の比較結果
に基づいて前記第1または第2の増幅手段の出力電圧を
選択して出力するスイッチ手段と、前記比較手段の比較
結果及び前段の量子化器から与えられるディジタルデー
タに基づいて、ディジタルデータを生成して出力するデ
ータ出力手段とを備えている。
【0013】第1の発明によれば、以上のようにAD変
換回路を構成したので、次のような作用が行われる。ア
ナログ電圧が量子化器に入力されると、比較手段におい
て、そのアナログ電圧と基準電圧が比較される。また、
アナログ電圧と基準電圧の差の電圧が、第1の増幅手段
でそのまま増幅されると共に、第2の増幅手段で反転し
て増幅される。第1及び第2の増幅手段の出力電圧はス
イッチ手段に与えられ、比較手段から与えられる比較結
果に基づいていずれか1つの出力電圧が選択され、後段
の量子化器に出力される。更に、比較手段の比較結果は
データ出力手段に与えられ、このデータ出力手段におい
て、前段の量子化器から与えられるディジタルデータに
基づいて、ディジタルデータが生成されて出力される。
【0014】第2の発明は、第1の発明のAD変換回路
において、複数の量子化器の間に、前段の量子化器から
出力される出力電圧とディジタルデータをクロック信号
に基づいて保持して後段の量子化器に与える保持手段を
設けている。第2の発明によれば、次のような作用が行
われる。前段の量子化器から出力される出力電圧とディ
ジタルデータは、クロック信号に基づいて保持手段に保
持され、後段の量子化器に与えられる。これにより、複
数段の量子化器によるパイプライン処理が可能になる。
【0015】
【発明の実施の形態】(第1の実施形態)図1は、本発
明の第1の実施形態を示すAD変換回路の構成図であ
る。このAD変換回路は、1ビットの量子化器を直列に
n(例えば、n=8)個接続して、アナログ電圧をnビ
ットのディジタルデータに変換するものである。
【0016】このAD変換回路は、アナログの入力信号
AIが与えられる入力端子11を有している。入力端子
11には、サンプル・ホールド部(SH)12が接続さ
れている。サンプル・ホールド部12は、図示しないク
ロック信号のタイミングに従って、入力信号AIの電圧
V1を保持して出力するものである。サンプル・ホール
ド部12の出力側には、1ビットの量子化器20,2
,…,20が順次直列に接続されている。
【0017】各量子化器20〜20は、いずれも同
様の構成であるので、以下、初段の量子化器20につ
いて説明する。量子化器20は、前段からアナログ電
圧が与えられる入力端子21aと、前段の量子化結果の
ディジタルデータが与えられる入力端子21dを有して
いる。入力端子21aはサンプル・ホールド部12の出
力側に接続され、入力端子21dは電源電圧VDDに接
続されてレベル“H”が与えられている。
【0018】入力端子21aは、比較手段(例えば、電
圧比較器)22の+入力端子と、増幅手段(例えば、差
動増幅器)23の+入力端子と、差動増幅器24の−入
力端子に共通に接続されている。また、電圧比較器22
の−入力端子と、差動増幅器23の−入力端子と、差動
増幅器24の+入力端子には、電源電圧VDDを1/2
に分圧して生成された基準電圧Vrefが共通に与えら
れるようになっている。
【0019】電圧比較器22は、+入力端子と−入力端
子に与えられる電圧を比較し、+入力端子の電圧が−入
力端子の電圧よりも高いときに、レベル“H”の信号S
22を出力するものである。また、電圧比較器22は、
+入力端子の電圧が−入力端子の電圧よりも低い時に
は、レベル“L”の信号S22を出力するようになって
いる。
【0020】差動増幅器23,24は、いずれも演算増
幅器と入力抵抗及び帰還抵抗で構成され、+入力端子と
−入力端子に与えられる電圧の差を2倍に増幅して出力
するものである。差動増幅器23では、+入力端子が入
力端子21aに接続され、−入力端子に基準電圧Vre
fが与えられているので、この入力端子21aに与えら
れる電圧と基準電圧Vrefの差の電圧がそのまま2倍
に増幅されて出力される。一方、差動増幅器24では、
−入力端子が入力端子21aに接続され、+入力端子に
基準電圧Vrefが与えられているので、この入力端子
21aに与えられる電圧と基準電圧Vrefの差の電圧
が反転され、2倍に増幅されて出力されるようになって
いる。
【0021】差動増幅器23,24の出力側は、それぞ
れスイッチ手段(例えば、アナログスイッチ(SW))
26,27を介して、アナログの出力端子29aに接続
されている。アナログスイッチ26,27は、MOSト
ランジスタを使用したトランスファ・ゲートで、電圧比
較器22から出力される信号S22によってオン/オフ
制御されるスイッチである。アナログスイッチ26は、
信号S22が“H”のときにオンとなり、“L”のとき
にオフとなるように設定されている。一方、アナログス
イッチ27は、信号S22が“L”のときにオンとな
り、“H”のときにオフとなるように設定されている。
【0022】入力端子21dは、データ出力手段(例え
ば、否定的排他的論理和ゲート、以下、「ENOR」と
いう)28の第1の入力側に接続されている。ENOR
28の第2の入力側には、電圧比較器22からの信号S
22が与えられるようになっている。また、ENOR2
8の出力側は、量子化結果のディジタルデータを出力す
るための出力端子29dに接続されている。
【0023】ENOR28は、2つの入力信号が同じ論
理レベルのときに“H”を出力し、異なる論理レベルの
ときに“L”を出力するものである。従って、入力端子
21dに与えられる信号が“H”であれば、信号S22
がそのまま出力端子29dに出力され、この入力端子2
1dに与えられる信号が“L”であれば、信号S22の
論理レベルが反転されて、出力端子29dに出力される
ようになっている。
【0024】量子化器20の出力端子29a,29d
は、それぞれ次段の量子化器20の入力端子21a,
21dに接続されると共に、この出力端子29dから
は、ディジタル変換された最上位ビットのディジタルデ
ータB8が出力されるようになっている。
【0025】図3は、図1の動作の一例を示す説明図で
ある。以下、この図3を参照しつつ、図1のAD変換回
路の動作を説明する。入力端子11に与えられるアナロ
グの入力信号AIは、図示しないクロック信号のタイミ
ングに従って、サンプル・ホールド部12に保持されて
量子化器20 の入力端子21aに与えられる。
【0026】量子化器20の入力端子21aに与えら
れた電圧V1が、例えば図3に示すように、基準電圧V
ref(=(1/2)VDD)と電源電圧VDDの間の
エリア3Aに存在すると、この量子化器20の電圧比
較器22から出力される信号S22は“H”となる。
【0027】一方、量子化器20の入力端子21dに
は、“H”の信号が固定的に与えられているので、EN
OR28の出力信号は“H”となり、この量子化器20
の出力端子29dから出力される最上位ビットのディ
ジタルデータB8は、“H”(=“1”)となる。
【0028】また、“H”の信号S22によって、アナ
ログスイッチ26がオンとなり、アナログスイッチ27
はオフとなる。これにより、エリア3Aが差動増幅器2
3によって2倍のエリア3B(GND〜VDD)に増幅
される。従って、差動増幅器23の+入力端子と−入力
端子の差の電圧(V1−Vref)も2倍に増幅され、
電圧V2として出力端子29aに出力される。電圧V2
は、次段の量子化器20の入力端子21aに与えられ
る。
【0029】次段の量子化器20の入力端子21aに
与えられた電圧V2が、基準電圧Vrefと接地電位G
NDの間のエリア3Cに存在すると、この量子化器20
の電圧比較器22から出力される信号S22は“L”
となる。一方、量子化器20 の入力端子21dには、
量子化器20から“H”の信号が与えられているの
で、ENOR28の出力信号は“L”となり、この量子
化器20の出力端子29dから出力されるディジタル
データB7は、“L”(=“0”)となる。
【0030】また、“L”の信号S22によって、アナ
ログスイッチ27がオンとなり、アナログスイッチ26
はオフとなる。これにより、エリア3Cが差動増幅器2
3によって2倍のエリア3D(VDD〜GND)に増幅
される。従って、差動増幅器24の+入力端子と−入力
端子の差の電圧(V1−Vref)も2倍に反転増幅さ
れ、電圧V3として出力端子29aに出力される。電圧
V3は、3段目の量子化器20の入力端子21aに与
えられる。
【0031】3段目の量子化器20の入力端子21a
に与えられた電圧V3が、基準電圧Vrefと電源電位
VDDの間のエリア3Eに存在すると、この量子化器2
の電圧比較器22から出力される信号S22は
“H”となる。一方、量子化器20の入力端子21d
には、量子化器20から“L”の信号が与えられてい
るので、ENOR28の出力信号は“L”となり、この
量子化器20の出力端子29dから出力されるディジ
タルデータB6は、“L”(=“0”)となる。
【0032】また、“H”の信号S22によって、アナ
ログスイッチ26がオンとなり、アナログスイッチ27
はオフとなる。これにより、エリア3Eが差動増幅器2
3によって2倍のエリア3F(GND〜VDD)に増幅
される。従って、差動増幅器23の+入力端子と−入力
端子の差の電圧(V1−Vref)も2倍に増幅され、
電圧V4として出力端子29aに出力される。電圧V4
は、4段目の量子化器20の入力端子21aに与えら
れる。以下、同様に、縦続接続された量子化器20
20,…,20の出力端子29dから、量子化され
たディジタルデータB5,B4,…,B1がそれぞれ出
力される。
【0033】以上のように、この第1の実施形態のAD
変換回路は、各段の量子化器20において、電圧比較器
22と、2つの差動増幅器23,24とが同時に動作
し、この電圧比較器22の比較結果の信号S22に従っ
て、差動増幅器23,24のいずれかの出力信号が選択
されるように構成している。これにより、電圧比較器の
比較結果に基づいて、差動増幅器の動作が開始する従来
のAD変換回路に比べて、処理の遅延時間を短縮するこ
とができるという利点がある。
【0034】(第2の実施形態)図4は、本発明の第2
の実施形態を示すAD変換回路の構成図であり、図1中
の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。こ
のAD変換回路では、図1中の各段の量子化器20
20,…,20の間に、アナログ電圧を保持するた
めのサンプル・ホールド部13,13,…,13
と、ディジタルデータを保持するためのラッチ14
14,…,14を設けている。これらのサンプル・
ホールド部13〜13とラッチ14〜14は、
サンプル・ホールド部12と共に、クロック信号CLK
のタイミングに従って、アナログ電圧及びディジタルデ
ータを保持するものである。
【0035】以上のように、この第2の実施形態のAD
変換回路は、各段の量子化器20の間に、アナログ電圧
を保持するサンプル・ホールド部13とディジタルデー
タを保持するラッチ14を有している。これにより、各
段の量子化器20がクロック信号CLKに同期して順次
AD変換処理を行う、いわゆるパイプライン動作が可能
になり、第1の実施形態と同様の利点に加えて、連続し
てAD変換を行う場合に、動作速度を向上することがで
きるという利点がある。
【0036】(第3の実施形態)図5は、本発明の第3
の実施形態を示す2ビットの並列量子化器の構成図であ
る。この並列量子化器30は、図1中の各量子化器20
に代えて用いられるもので、3個の電圧比較器を使用す
ることによって、2ビットのディジタルデータを生成す
ることができるようになっている。
【0037】並列量子化器30は、サンプル・ホールド
部12または前段の並列量子化器30から、アナログの
入力電圧VIが与えられる入力端子31aと、前段の量
子化結果のディジタルデータの上位ビットDuが与えら
れる入力端子31dを有している。入力端子31aは、
電圧比較器32a,32b,32cの+入力端子と、差
動増幅器33,33の+入力端子と、差動増幅器3
,34の−入力端子に共通に接続されている。
【0038】また、この並列量子化器30では、電源電
圧VDDを1/4に分圧した基準電圧VR1が電圧比較
器32cの−入力端子と差動増幅器34の+入力端子
に与えられるようになっている。また、電源電圧VDD
を2/4に分圧した基準電圧VR2が、電圧比較器32
bと差動増幅器33の−入力端子と、差動増幅器34
の+入力端子に与えられ、電源電圧VDDを3/4に
分圧した基準電圧VR3が、電圧比較器32aと差動増
幅器33の−入力端子に与えられるようになってい
る。
【0039】電圧比較器32a〜32cは、+入力端子
と−入力端子に与えられる電圧を比較し、+入力端子の
電圧が−入力端子の電圧よりも高いときに、それぞれ
“H”の信号S32a〜S32cを出力するものであ
る。信号S32a〜S32cは、後述する制御部40に
与えられるようになっている。
【0040】差動増幅器33,33,34,34
は、+入力端子と−入力端子に与えられる電圧の差を
4倍に増幅して出力するものである。差動増幅器3
,33では、+入力端子が入力端子31aに接続
され、−入力端子に基準電圧VR3,VR2が与えられ
ているので、この入力端子31aに与えられる入力電圧
VIと基準電圧VR3,VR2との差の電圧がそのまま
4倍に増幅されて出力される。一方、差動差動増幅器3
,34は、−入力端子が入力端子31aに接続さ
れ、+入力端子に基準電圧VR2,VR1が与えられて
いるので、この入力端子31aに与えられる入力電圧V
Iと基準電圧VR2,VR1の差の電圧が反転され、4
倍に増幅されて出力されるようになっている。
【0041】差動増幅器33,33,34,34
の出力側は、それぞれアナログスイッチ36,36
,36,36を介して、アナログの出力端子37
aに接続されている。アナログスイッチ36〜36
は、それぞれ制御部40から与えられる信号S40
S40,S40,S40によってオン/オフ制御
されるスイッチである。アナログスイッチ36〜36
は、信号S40〜S40が“H”のときにオンと
なり、“L”のときにオフとなるように設定されてい
る。
【0042】図6は、図5中の制御部40の一例を示す
構成図である。この制御部40は、電圧比較器32a〜
32cから出力される信号S32a〜S32cに基づい
て、アナログスイッチ36〜36の内のいずれか1
つをオンにするための信号S40〜S40を生成す
る機能を有している。また制御部40は、入力端子31
dから与えられる前段の並列量子化器30の上位ビット
Duと、電圧比較器32a〜32cの信号S32a〜S
32cに基づいて、2ビットのディジタルデータDu,
Dlを生成して出力する機能を有している。
【0043】即ち、制御部40は、インバータ41a〜
41cと3入力の論理積ゲート(以下、「AND」とい
う)42〜42を組み合わせた論理回路によって、
信号S32a〜S32cから信号S40〜S40
生成するように構成されている。
【0044】また、信号S32a〜S32cに対応する
2ビットのデータBu,Blを生成するための、排他的
論理和ゲート(以下、「EOR」という)43,43
を有している。更に、EOR43,43で生成さ
れた2ビットのデータBu,Blは、ENOR44
44に与えられ、前段から与えられる上位ビットDu
によって、値の補正が行われて2ビットのディジタルデ
ータDu,Dlが出力されるようになっている。
【0045】次に、図6を参照しつつ、図5の並列量子
化器30の動作を説明する。例えば、入力端子31aに
入力される入力電圧VIが基準電圧VR1(=(1/
4)VDD)以下であれば、電圧比較器32a〜32c
から出力される信号S32a〜S32cは、すべて
“L”となる。これに従い、図6の制御部40におい
て、AND42から出力される信号S40が“H”
となり、AND42〜42から出力される信号S4
〜S40が“L”となる。これにより、アナログ
スイッチ36がオンとなり、差動増幅器34の出力
側が出力端子37aに接続される。
【0046】差動増幅器34では、+入力端子に基準
電圧VR1が印加され、−入力端子に入力電圧VIが印
加されているので、(1/4)VDD−VIの電圧が4
倍に増幅される。即ち、入力電圧VIは、反転されて増
幅される。そして、この差動増幅器34で増幅された
電圧が、出力端子37aからアナログの出力電圧VOと
して出力される。
【0047】更に、EOR43,43によって、信
号S32a〜S32cに基づいて2ビットのデータB
u,Bl(=“00”)が生成され、ENOR44
44の第1の入力側に与えられる。これにより、EN
OR44,44の第2の入力側に与えられている前
段の上位ビットDuが“H”であれば、データBu,B
lはそのままディジタルデータDu,Dl(=“0
0”)として、出力端子37d,37eに出力される。
一方、前段の上位ビットDuが“L”であれば、データ
Bu,Blは反転されて、ディジタルデータDu,Dl
(=“11”)として、出力端子37d,37eに出力
される。
【0048】また、例えば入力端子31aに入力される
入力電圧VIが基準電圧VR2(=(2/4)VDD)
と基準電圧VR3(=(3/4)VDD)の間にあれ
ば、電圧比較器32aの信号S32aは“L”、電圧比
較器32b,32cの信号S32b,S32cは“H”
となる。これにより、信号S40が“H”となり、ア
ナログスイッチ36がオンとなって、差動増幅器33
の出力側が出力端子37aに接続される。
【0049】差動増幅器33では、+入力端子に入力
電圧VIが印加され、−入力端子に基準電圧VR2が印
加されているので、VI−(2/4)VDDの電圧が4
倍に増幅される。即ち、入力電圧VIは、反転されずに
そのまま増幅される。そして、この差動増幅器33
増幅された電圧が、出力端子37aから出力電圧VOと
して出力される。
【0050】更に、EOR43,43によって、信
号S32a〜S32cに基づいて2ビットのデータB
u,Bl(=“10”)が生成され、ENOR44
44の第1の入力側に与えられる。これにより、デー
タBu,Blは、前段の上位ビットDuの値に応じて補
正処理がおこなわれ、ディジタルデータDu,Dlとし
て、出力端子37d,37eに出力される。以上のよう
に、この第3の実施形態の並列量子化器30は、1回の
動作で2ビットの量子化が可能であるので、図1中の量
子化器20の利点に加えて、処理時間を1/2に短縮す
ることができるという利点がある。
【0051】なお、本発明は、上記実施形態に限定され
ず、種々の変形が可能である。この変形例としては、例
えば、次のようなものがある。 (a) 図1の量子化器20は1ビット、図5の並列量
子化器30は2ビットのものであるが、更に多ビットの
並列量子化器を用いても良い。 (b) 直列に接続する量子化器20等の段数は任意で
あり、所望のディジタルデータのビット数に応じて決定
すれば良い。 (c) 差動増幅器23,24は、演算増幅器を用いた
構成としているが、例えば高入力インピーダンス型等の
ものに置き換えることができる。
【0052】(d) アナログスイッチ26,27は、
MOSトランジスタを使用したトランスファ・ゲートの
ものを例示したが、アナログ電圧をオン/オフできるも
のであれば、どのようなものでも良い。 (e) 図5中の制御部40の回路は、図6に例示した
ものに限定されない。 (f) 初段の量子化器(例えば、図1中の量子化器2
)では、前段からディジタルデータが与えられない
ので、ENOR28等を削除することができる。 また、最終段の量子化器では、アナログ電圧を出力する
必要がないので、差動増幅器23,24や、アナログス
イッチ26,27等を削除することができる。
【0053】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、第1の発明
によれば、入力されるアナログ電圧と基準電圧の差をそ
のまま増幅する第1の増幅手段と、反転して増幅する第
2の増幅手段を有している。これにより、比較結果を待
たずに後段に出力するアナログ電圧を生成することがで
きるので、遅延時間を短縮することができる。また、比
較手段と第1及び第2の増幅手段で、同一の基準電圧を
使用しているので、変換誤差を小さくすることができ
る。
【0054】第2の発明によれば、各段の量子化器の間
にアナログの電圧とディジタルデータをクロック信号に
基づいて保持する保持手段を設けている。これにより、
パイプライン処理を行うことが可能になり、連続してA
D変換を行う場合の変換速度を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態を示すAD変換回路の
構成図である。
【図2】従来のAD変換回路の一例を示す図である。
【図3】図1の動作の一例を示す説明図である。
【図4】本発明の第2の実施形態を示すAD変換回路の
構成図である。
【図5】本発明の第3の実施形態を示す2ビットの並列
量子化器の構成図である。
【図6】図5中の制御部40の一例を示す構成図であ
る。
【符号の説明】
11,21,31 入力端子 12,13 サンプル・ホールド部 14 ラッチ 20 量子化器 22,32 電圧比較器 23,24,33,34 差動増幅器 26,27,36 アナログスイッチ 28 ENOR(否定的排他的論理和ゲート) 29,37 出力端子 30 並列量子化器 40 制御部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力されるアナログ電圧を基準電圧と比
    較してディジタルデータに変換すると共に、該入力され
    たアナログ電圧と変換したディジタルデータに対応する
    電圧との差の電圧を出力する複数の量子化器を直列に接
    続したアナログ・ディジタル変換回路において、 前記量子化器は、 前記入力されるアナログ電圧と前記基準電圧を比較して
    比較結果を出力する比較手段と、 前記入力されるアナログ電圧と前記基準電圧の差の電圧
    をそのまま増幅する第1の増幅手段と、 前記入力されるアナログ電圧と前記基準電圧の差の電圧
    を反転して増幅する第2の増幅手段と、 前記比較手段の比較結果に基づいて前記第1または第2
    の増幅手段の出力電圧を選択して出力するスイッチ手段
    と、 前記比較手段の比較結果及び前段の量子化器から与えら
    れるディジタルデータに基づいて、前記ディジタルデー
    タを生成して出力するデータ出力手段とを、 備えたことを特徴とするアナログ・ディジタル変換回
    路。
  2. 【請求項2】 前記複数の量子化器の間に、前段の量子
    化器から出力される出力電圧とディジタルデータをクロ
    ック信号に基づいて保持して後段の量子化器に与える保
    持手段を、設けたことを特徴とする請求項1記載のアナ
    ログ・ディジタル変換回路。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009177278A (ja) * 2008-01-22 2009-08-06 Dainippon Printing Co Ltd A/d変換器
JP2010192963A (ja) * 2009-02-16 2010-09-02 Fujitsu Ltd アナログデジタル変換器およびアナログデジタル変換方法
JP2017168930A (ja) * 2016-03-14 2017-09-21 株式会社東芝 スイッチトキャパシタ回路

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3847214B2 (ja) * 2002-06-05 2006-11-22 富士通株式会社 上位ビットの変換誤差補正用レンジを有する補間回路及びそれを利用したa/d変換回路
DE10337042B4 (de) * 2003-08-12 2007-08-09 Infineon Technologies Ag Verfahren zur Umsetzung eines analogen Eingangssignals und Analog-Digital-Wandler
JP4320732B2 (ja) * 2004-01-26 2009-08-26 横河電機株式会社 カスケードa/d変換器
US7593483B2 (en) * 2004-05-07 2009-09-22 Broadcom Corporation Nonlinear mapping in digital-to-analog and analog-to-digital converters
US7492302B2 (en) * 2007-04-30 2009-02-17 Agilent Technologies, Inc. Analog-to-digital converter with reduced metastable errors
US10690448B2 (en) 2017-01-20 2020-06-23 Raytheon Company Method and apparatus for variable time pulse sampling
TWI726822B (zh) * 2019-10-08 2021-05-01 創未來科技股份有限公司 訊號轉換裝置
CN111030696A (zh) * 2019-12-31 2020-04-17 江苏集萃微纳自动化系统与装备技术研究所有限公司 一种高精度模数转换器

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3820174A1 (de) * 1988-06-14 1989-12-21 Philips Patentverwaltung Schaltungsanordnung zur analog-digital-umsetzung

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009177278A (ja) * 2008-01-22 2009-08-06 Dainippon Printing Co Ltd A/d変換器
JP2010192963A (ja) * 2009-02-16 2010-09-02 Fujitsu Ltd アナログデジタル変換器およびアナログデジタル変換方法
JP2017168930A (ja) * 2016-03-14 2017-09-21 株式会社東芝 スイッチトキャパシタ回路

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