JP2002331368A - フラッシュバット溶接方法および装置 - Google Patents
フラッシュバット溶接方法および装置Info
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Abstract
断面積応じて適正かつ高品質な溶接を可能ならしめるよ
うにする。 【解決手段】 一対の高温部材2a,2b間に電圧を印
加してフラッシュバット溶接する際に、フラッシュ工程
時の印加電圧変化からフラッシュの立ち上がり、立ち下
がりを捉えて、フラッシュ発生を判定し、カウントする
ことで、フラッシュ発生回数を測定し、フラッシュ発生
回数が定常値に達した時点からフラッシュ量をカウント
し、設定フラッシュ量に達した時点でフラッシュ工程を
終了し、アプセットする。
Description
条件変化に応じた高品質溶接を可能とすることのできる
フラッシュバット溶接方法および装置に関する。
される部材の条件(端面形状、温度等)に関係なく、フ
ラッシュ工程時のフラッシュ時間やフラッシュ量(部材
送り量)がほぼ一定になるように設定されている。
れる部材がビレットのような高温部材である場合、その
部材条件(端面形状、温度等)によっては、図10及び
図11のグラフに示すように適正なフラッシュ時間やフ
ラッシュ量に次のような差が生じる。 部材初期温度が高い場合、必要フラッシュ時間が短
く、必要フラッシュ量が少なくなる(図10)。 部材初期温度が低い場合、必要フラッシュ時間が長
く、必要フラッシュ量が多くなる(図10)。 部材端面が平坦な場合、必要フラッシュ時間が短く、
必要フラッシュ量が少なくなる(図11)。 部材端面が凹凸の場合、必要フラッシュ時間が長く、
必要フラッシュ量が多くなる(図11)。
材に合わせた場合、高温部材に対しては過剰なフラッシ
ュ量、時間となる。逆に高温部材に合わせた場合には、
低温部材に対して過熱不足となってしまう。そこで、フ
ラッシュ時間ではなくフラッシュ量を設定すれば、高温
部材に対してはフラッシュ時間を短く、低温部材に対し
てはフラッシュ時間を長くすることが可能である。しか
し、これは部材端面が完全に平坦である場合にのみ可能
な方法であり、凹凸の有る端面を溶接する場合には、溶
接前半に部材送りが平坦な場合に比べて早く進むため、
平坦な条件でのフラッシュ量では過熱不足となる。以上
のことから、実際の溶接においては、図10に破線αで
示すように部材温度が最も低く、端面凹凸が最も大きい
条件に合わせて、フラッシュ時間もしくはフラッシュ量
を設定することになる。つまり、溶接される部材の殆ど
において過剰なフラッシュ量およびフラッシュ時間とな
り、時間、部材消耗、使用エネルギにおいて大きなロス
が生じる。さらに過剰なフラッシュ時間、量(入熱過
剰)は、逆に溶接品質が悪化することが知られている。
状の変化に対して適正かつ高品質な溶接を可能ならしめ
るようにすることにある。
ト溶接方法は、フラッシュ工程時の印加電圧変化からフ
ラッシュの立ち上がり、立ち下がりを捉えて、フラッシ
ュ発生を判定し、カウントすることで、フラッシュ発生
回数を測定し、フラッシュ発生回数が定常値に達した時
点からフラッシュ量をカウントし、部材断面積に応じた
フラッシュ量に達した時点でフラッシュ工程を終了し、
アプセットすることを特徴としている。
からの時間変化は図4のようになる。すなわち、フラッ
シュ発生回数は時間とともに上昇し、ある時点で定常値
に達する。部材温度が高く端面が平坦な場合は早い時間
tf1 にて定常値に達し、部材温度が低く端面が平坦な場
合はtf1 より遅い時間tf2 にて定常値に達し、部材温度
が低く端面が凹凸の場合はtf2 より更に遅い時間tf3 に
て定常値に達する。このため、部材温度が高く端面が平
坦な場合と部材温度が低く端面が凹凸の場合とでは、フ
ラッシュ量(プラテン送り量)Δtfl に差が生じる。
欠陥の発生率を0%にする高品質溶接を行うためには、
フラッシュ発生回数が定常値に達してからのフラッシュ
量に最適な値が存在する。図5に示すようにフラッシュ
量と欠陥発生率の関係は、フラッシュ量が少なくても入
熱不足のため品質が悪く、逆にフラッシュ量が多くても
入熱過剰により端面温度が高くなることから、1回のフ
ラッシュによる溶融飛散量が増加しクレータが大きくな
ることと、定常状態に入ったフラッシュを溶接機によっ
て安定してコントロールすることが難しいため徐々に品
質が悪化する。この最適なフラッシュ量は、溶接機性
能、溶接条件により大きく変化し、また被溶接部材の断
面積、材質等でも異なるが、およそ5〜12mmの範囲に
あり、個々の溶接機、条件で実験的に求める必要があ
る。本発明者らの実験によれば0.01〜0.8 %C量の炭素
鋼、断面積10000〜31400mm2 の高温ビレットの溶接にお
いて、最適フラッシュ量は6〜8mmである。以上のこと
から、請求項1のようにフラッシュ発生回数が定常値に
達した時点からフラッシュ量をカウントし、被溶接部材
の断面積、材質等に応じた最適なフラッシュ量に達した
時点でフラッシュ工程を終了し、アプセットすれば、部
材の条件変化に応じて最適なフラッシュ時間で、欠陥発
生率0%の高品質溶接が可能となる。
ッシュ工程時の印加電圧を検出する電圧検出器と、電圧
検出器により検出される印加電圧変化からフラッシュの
立ち上がり、立ち下がりを捉えて、フラッシュ発生を判
定し、カウントするフラッシュ発生回数測定手段と、部
材の移動量からフラッシュ量を検出するプラテン位置検
出手段と、フラッシュ発生回数測定手段にてカウントさ
れるフラッシュ発生回数が定常値に達した時点からプラ
テン位置検出手段の検出結果に基づいてフラッシュ量を
カウントし、部材断面積に応じたフラッシュ量に達した
時点でフラッシュ工程を終了させ、アプセット工程に移
行させるように溶接装置を制御する溶接制御装置と、を
備えたものである。
実施形態に係るフラッシュバット溶接方法およびこの方
法に用いられる装置を図1乃至図7に基づき説明する。
図1は本実施形態に係るフラッシュバット溶接装置の全
体構成を示すブロック図、図2はそのフラッシュ発生回
数測定部の構成を示すブロック図、図3は図1の主にフ
ラッシュ発生回数測定部の詳細を示すブロック図、図4
は部材温度および端面形状とフラッシュ発生回数の関係
を示すグラフ、図5はフラッシュ量と欠陥発生率の関係
を示すグラフ、図6はフラッシュ工程時の印加電圧波形
と電流波形とそれぞれのしきい値との関係を示す説明
図、図7はフラッシュ発生回数の測定とこれに基づく溶
接方法を説明するためのフローチャートである。
は、図1のように搬送ライン(図示せず)上に該ライン
に沿って移動可能にクランプ装置1A,1Bが設置さ
れ、クランプ装置1A,1Bにより、断面積10000
〜32400mm2 、内部温度800〜1300℃の一対
の大断面積高温部材すなわちビレット2a,2bをクラ
ンプして付き合わせ、これらビレット2a,2bを搬送
中に近接・離反させることができるようになっている。
すなわち、クランプ装置1A,1Bは、いずれも搬送ラ
インの速度に同期しながらビレット2a,2bをクラン
プするものであるが、クランプ装置相互の関係で見れ
ば、一方(図1中の右側)のクランプ装置1Aは可動側
(プラテン)、他方(図1中の左側)のクランプ装置1
Bは固定側として構成され、可動側のクランプ装置1A
が固定側のクランプ装置1Bに対して溶接中、近接・離
反し、フラッシュバット溶接が行われるようになってい
る。
イン方向に伸縮可能な油圧シリンダ3を介して連結さ
れ、シリンダ3のボトム3aが固定側のクランプ装置1
Bに、またシリンダ3のピストンロッド3bが可動側の
クランプ装置1Aに、それぞれ固定されているととも
に、ピストンロッド3bのロッド部は、ボトム3aの両
端から突出するように構成されている。シリンダ3のボ
トム3aには、比例弁4が一体化して取り付けられ、油
圧ユニット5に接続されている。また、ピストンロッド
3bのボトム3a後端面より突出するロッド部の動き
(進退動)を検出するポテンショメータ18aが設置さ
れ、その出力に基づいてプラテン位置検出手段18がプ
ラテンの位置(フラッシュ量)を検出するようになって
いる。
ぞれクランパ6a,6bの先にビレット2a,2bと接
触可能な給電用のジョー7a,7bが設けられ、電源装
置と電気的に接続されている。
圧を矩形波交流電圧に変換するIGBT(Insulated Ga
te Bi-polar Transistor)インバータ11と、インバ−
タ11が出力する矩形波交流電圧を降圧して低電圧に変
換する溶接トランス12と、溶接トランス12の2次側
に配置されて溶接トランス12で低電圧に変換された矩
形波交流電圧を直流電圧に変換してビレット2a,2b
に印加するダイオード整流器13と、フラッシュ工程時
の溶接トランス12の2次側の出力電圧(ここではジョ
ー7a,7b間の電圧)を検出する電圧検出器14と、
インバータ11と溶接トランス12間でフラッシュ工程
時の電流を検出する電流検出器15と、電圧検出器14
の検出結果と電流検出器15の検出結果に基づいてフラ
ッシュが発生したか否かを判定してカウントするフラッ
シュ発生回数測定手段16と、フラッシュ発生回数測定
手段16が測定したフラッシュ発生回数に基づいて溶接
装置を制御する溶接制御装置17とから構成されてい
る。
のように予め設定された電圧しきい値Vrefに対する
電圧検出器14が検出した印加電圧(実測値)Vの立ち
上がりe(図6)、立ち下がりf(図6)を判定する立
ち上がり・立ち下がり判定手段21と、予め設定された
電流しきい値Irefと電流検出器15が検出した電流
値(実測値)Iとの比較から負荷、無負荷を判定する開
放判定手段22と、電圧の立ち上がり・立ち下がり判定
手段21と電流の開放判定手段22の各判定結果に基づ
いてフラッシュが発生したか否かを判定するフラッシュ
判定手段23と、フラッシュ判定手段23にてフラッシ
ュ発生と判定される度にカウントするカウンタ24と、
サンプリング時間設定手段26にて設定される時間とカ
ウンタ24の出力に基づいて、単位時間(例えば1秒)
当たりの平均フラッシュ発生回数を演算するとともに、
一定時間内での移動平均処理または加重平均処理する平
均化演算手段25とから成り、フラッシュ判定手段23
は、電流値がしきい値Irefよりも小さい場合は、電
圧のしきい値Vrefに対する立ち上がり、立ち下がり
に関係無く、無負荷g(図6)と判定するように構成さ
れている。なお、フラッシュ発生回数は1秒当たり最大
1000回程度であることが本発明者らの実験の結果判
明している。
を行うものである。すなわち、クランプ装置1A,1B
の比例弁4や電源装置のインバータ11に対し、フラッ
シュ工程とアプセット工程の開始や停止などのシーケン
ス制御のための信号を出力する機能を有し、フラッシュ
工程からアプセット工程への移行のタイミングが、次の
ように設定されている。すなわち、フラッシュ発生回数
測定手段16の出力(フラッシュ発生回数)に基づいて
フラッシュ発生回数が定常値に達したか否かを判断し、
定常値に達したらその時点(図4のtf1 ,tf2 ,tf3 時
点)からプラテン位置検出手段18の検出結果に基づい
てフラッシュ量をカウントし、最適フラッシュ量、つま
り欠陥発生率を0%にすることができるフラッシュ量に
達した時点でフラッシュ工程を終了させ、アプセット工
程に移行させるように設定されている。これにより、ビ
レットの端面形状、温度等の条件変化や材質、断面積に
応じて、最適(最短)なフラッシュ時間で、欠陥発生率
0%の高品質溶接が可能となる。なお、溶接制御装置1
7は、フラッシュ工程中、出力電流をモニターし、一定
値となるように油圧シリンダ3を押し引きし、プラテン
(部材)の送りを制御する。
2次側出力電圧は大きいため、図3のように絶縁増幅器
(ISA)31にて絶縁増幅され、出力調整器(アン
プ)32により出力調整された後、アナログ・ディジタ
ル変換器(ADコンバータ)33によりディジタル信号
に変換され、フラッシュ発生回数測定手段からなる例え
ばマイクロコンピュータやDSP(Digital Signal Pro
cessor)などの演算器34に入力されるようになってい
る。また、電流検出器15にて検出される電流値も大き
いため、絶縁増幅器(ISA)35にて絶縁増幅され、
更に直流電圧との対応関係をみれるように全波整流36
され、ローパスフィルタ(LPF)37にてノイズ成分
が除去されてから出力調整器(アンプ)38により出力
調整された後、ADコンバータ33によりディジタル信
号に変換され、演算器34に入力されるようになってい
る。そして、演算器34でADコンバータ33の出力と
しきい値とが比較され、その比較結果に基づいてフラッ
シュ発生回数が求められる。なお、フラッシュ発生回数
の計測開始のタイミングは、I/Oポート39を介して
演算器34に入力されるトリガ信号により決定される。
演算器34の演算結果は、溶接制御装置17に出力され
る。
装置によるフラッシュバット溶接方法について説明す
る。まず、搬送ライン上を後続のビレット2bが送られ
てきて、先行のビレット2aと後続のビレット2bの溶
接される端面相互が付き合わされた状態でライン上の所
定位置に到達すると、クランプ装置1A,1Bを搭載し
た移動台車が搬送ラインに同期して走行を開始する。
6a,6bに対しビレット把持指令を出し、ビレット2
a,2bを把持する。この場合、クランパ6a,6b
は、それぞれが把持すべきビレット2a,2bに対し時
間差を持たせて把持動作させてもよいし、または同時に
把持動作させるようにしてもよい。ビレット2a,2b
の把持が完了した時点で、3相交流電源8よりインバー
タ11を介して電力を出力し、溶接トランス12、ダイ
オード整流器13を介してビレット2a,2bに電力を
供給し、ビレット2a,2bに直流電圧を印加して、フ
ラッシュ溶接を開始する。
数の測定とこれに基づくフラッシュ溶接は、図7のフロ
ーに従って行われる。まず、初期設定として、サンプリ
ング時間(例えば0.1 秒間隔)と、ビレット断面積に応
じたフラッシュ量、つまり欠陥発生率を0%とすること
のできるフラッシュ量が設定され(ステップ1)、次い
で溶接電源が投入され(ステップ2)、タイマが動作を
開始する(ステップ3)。
生回数測定手段16では常に出力電圧(実測値)Vと電
流値(実測値)Iをみており、出力電圧Vがしきい値V
refより高いか否かをみて(ステップ4)、出力電圧
Vがしきい値Vrefより高いと判定されれば、次に電
流値Iがしきい値Irefより高いか否かをみて(ステ
ップ5)、電流値Iがしきい値Irefより高いと判定
されれば、フラッシュ発生と判定し(ステップ6)、カ
ウントする(ステップ7)。次いで、サンプリング時間
(0.1 秒)が経過したか否かをみて(ステップ8)、サ
ンプリング時間(0.1 秒)が経過していなければステッ
プ4に戻り、サンプリング時間(0.1 秒)が経過してい
れば、過去のn回のフラッシュ回数を積算し(n=設定
時間/サンプリング時間)(ステップ9)、平均化処理
の演算を行い(ステップ10)、算出した平均フラッシ
ュ発生回数を溶接制御装置17に対し出力する(ステッ
プ11)。
Irefより低いと判定されれば、無負荷と判定し(ス
テップ12)、カウントせず、ステップ8に飛ぶ。
数測定手段16の出力(フラッシュ発生回数)が定常値
に達しているか否かをみて(ステップ13)、定常値に
達していなければ、フラッシュ発生回数測定手段16に
前述のステップ3〜ステップ12の処理を繰り返させ、
定常値に達したら、その時点(図4のtf1 ,tf2 ,tf 3
時点)からプラテン位置検出手段18の検出結果に基づ
いてフラッシュ量をカウントし(ステップ14)、予め
設定したフラッシュ量、つまり欠陥発生率を0%にする
ことができる規定フラッシュ量に達したか否かをみて
(ステップ15)、規定フラッシュ量に達したら、その
時点でフラッシュ工程を終了させ(インバータ11に溶
接電力の供給を停止させ)、比例弁4のドライバ19に
対しアプセット指令を出力し(ステップ16)、アプセ
ット工程へ移行させる。
け距離(アプセット量)移動後、または予め定められた
時間経過後、もしくは予め定められた押し付け力(アプ
セットカ)付与後、終了される。
ュ発生回数を測定して、フラッシュ発生回数が定常値に
達した時点からフラッシュ量をカウントし、予め求めら
れた最適フラッシュ量に達した時点でフラッシュ工程を
終了し、アプセットするので、ビレットの端面形状、温
度等の条件変化や断面積に応じた最適(最短)なフラッ
シュ時間で、欠陥発生率0%の高品質溶接が可能とな
り、かつ省エネルギ化が図れる。また、フラッシュ工程
時のビレット送り量が最適化され、部材ロスがなくな
り、スパッタが低減し、かつメンテナンス時間が短縮で
きる。
に係るフラッシュバット溶接装置の全体構成を示すブロ
ック図であり、図中、前述の第1実施形態の図1と同一
機能部分には同一符号を付してある。
溶接装置は、三相全波整流方式の電源装置であり、3相
交流電源8からの交流電圧を、サイリスタやパワートラ
ンジスタ等を用いたスイッチ回路11Aを介して直接溶
接トランス12に出力するように構成されている点が前
述の第1実施形態のものと異なっており、それ以外の構
成は全て前述の第1実施形態のものと同一である。
接装置は、電源装置がインバータに限定されるものでな
く、スイッチ回路11Aの使用も可能であり、このよう
な場合でも前述の第1実施形態のものと同等の作用、効
果を奏する。
に係るフラッシュバット溶接装置の全体構成を示すブロ
ック図であり、図中、前述の第1実施形態の図1と同一
機能部分には同一符号を付してある。
溶接装置は、電源装置が、3相交流電源8からの交流電
圧を、IGBTインバータ11で矩形波交流電圧に変換
し、インバ−タ11が出力する矩形波交流電圧を溶接ト
ランス12により7〜12Vに降圧して交流のままビレ
ット2a,2bに印加するように構成されている点が前
述の第1実施形態のものと異なっており、それ以外の構
成は全て前述の第1実施形態のものと同一である。
接装置は、溶接電源が直流溶接方式のものに限定され
ず、交流溶接方式の採用も可能であり、いずれの方式の
ものにも本発明を適用することができる。このような場
合でも前述の第1実施形態のものと同等の作用、効果を
奏する。
圧は溶接トランス12の2次側であればどこからとって
もよいが、各実施形態のようにジョー7a,7b間から
とれば、計測が容易である。すなわち、2次側電圧を溶
接トランス12の出口でとることも可能であるが、この
位置では、アークの電圧が小さく、短絡の電流によって
降下する電圧も小さくなるため、アークの波形は小さ
い。ところが、ジョー7a,7b部分で電圧を測ると、
短絡による電圧降下が大きく、アーク電圧も大きいため
に波形変化が大きい。このため計測が容易となる。
ラッシュ工程時のフラッシュ発生回数を測定して、フラ
ッシュ発生回数が定常値に達した時点からフラッシュ量
をカウントし、材質、部材断面積に応じて予め求められ
た最適フラッシュ量に達した時点でフラッシュ工程を終
了し、アプセットするようにしたので、部材の端面形
状、温度等の条件変化や材質、断面積に応じた最適(最
短)なフラッシュ時間で、欠陥発生率0%の高品質溶接
が可能となり、かつ省エネルギ化が図れた。また、フラ
ッシュ工程時の部材送り量を最適化できて、部材ロスが
なくなり、スパッタが低減し、かつメンテナンス時間の
短縮化が達成できた。
溶接装置の全体構成を示すブロック図である。
のフラッシュ発生回数測定部の構成を示すブロック図で
ある。
示すブロック図である。
の関係を示すグラフである。
である。
それぞれのしきい値との関係を示す説明図である。
方法を説明するためのフローチャートである。
溶接装置の全体構成を示すブロック図である。
溶接装置の全体構成を示すブロック図である。
関係を示すグラフである。
量の関係を示すグラフである。
Claims (2)
- 【請求項1】 一対の高温部材間に電圧を印加してフラ
ッシュバット溶接する方法において、 フラッシュ工程時の印加電圧変化からフラッシュの立ち
上がり、立ち下がりを捉えて、フラッシュ発生を判定
し、カウントすることで、フラッシュ発生回数を測定
し、 フラッシュ発生回数が定常値に達した時点からフラッシ
ュ量をカウントし、 設定フラッシュ量に達した時点でフラッシュ工程を終了
し、アプセットすることを特徴とするフラッシュバット
溶接方法。 - 【請求項2】 一対の高温部材間に電圧を印加してフラ
ッシュバット溶接する装置において、 フラッシュ工程時の印加電圧を検出する電圧検出器と、 前記電圧検出器により検出される印加電圧変化からフラ
ッシュの立ち上がり、立ち下がりを捉えて、フラッシュ
発生を判定し、カウントするフラッシュ発生回数測定手
段と、 前記部材の移動量からフラッシュ量を検出するプラテン
位置検出手段と、 前記フラッシュ発生回数測定手段にてカウントされるフ
ラッシュ発生回数が定常値に達した時点から前記プラテ
ン位置検出手段の検出結果に基づいてフラッシュ量をカ
ウントし、設定フラッシュ量に達した時点でフラッシュ
工程を終了させ、アプセット工程に移行させるように溶
接装置を制御する溶接制御装置と、 を備えたことを特徴とするフラッシュバット溶接装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001137751A JP4410960B2 (ja) | 2001-05-08 | 2001-05-08 | フラッシュバット溶接方法および装置 |
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