JP2002319133A - 光ディスク装置及び光ディスク並びに光ディスク記録方法 - Google Patents

光ディスク装置及び光ディスク並びに光ディスク記録方法

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JP2002319133A JP2001122885A JP2001122885A JP2002319133A JP 2002319133 A JP2002319133 A JP 2002319133A JP 2001122885 A JP2001122885 A JP 2001122885A JP 2001122885 A JP2001122885 A JP 2001122885A JP 2002319133 A JP2002319133 A JP 2002319133A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 識別方式にデジタル方式を用いた場合でも適
切な波形補正を行う波形補償機能を備えた光ディスク装
置を提供する。 【解決手段】 光ディスク上にレーザビームを照射しこ
の反射波に応じて、所定時間幅の波形パターンに応じた
データ列を検出する検出部ＰＵと、この所定時間幅のデ
ータ列に応じた所定時間幅の理想的な信号のデータ列を
生成する理想信号生成部１６と、検出された所定時間幅
のデータ列と生成された理想信号の所定時間幅のデータ
列とを比較しこれに基づき波形補償量Ｃを決定するパラ
メータ算出部１９と、外部からの記録データＲとこの波
形補償量Ｃに基づいて記録波形パルスＰを生成する記録
波形生成部１１と、この記録波形パルスＰに応じてレー
ザビームを光ディスク上に照射して記録データを記録す
るピックアップＰＵとを有する光ディスク装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置で
あって、特に記録処理の際に記録波形補償量を求めこれ
に応じて記録波形パルスを補償する光ディスク装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】最近、ＤＶＤ（Digital Versatile Dis
c）等の光ディスクに対する記録・再生処理を行う光デ
ィスク装置が広く普及してきており、様々な仕様での開
発・製造がなされている。このような中で例えば、光デ
ィスク一枚一枚の特性に応じて記録特性を異ならせる記
録波形パルスの補償技術についても、一層の高性能化が
望まれている。
【０００３】従来技術として、特開２０００−９０４３
６号公報においては本発明が用いられない記録波形パル
スの補償処理が施される光ディスクシステムが開示され
ている。図２０はこの光ディスクシステムの構成を示し
ており、この光ディスクシステムは、光ディスクを所定
回転数で回転させるモータ、レーザビームを照射し受光
するピックアップ、記録手段・再生手段、パラメータ算
出手段、そして、記録波形内パルス位置／幅制御手段を
有している。更に図２１は、本発明が用いられない光デ
ィスク装置のパラメータ算出部と記録波形生成部とを示
すブロック図である。
【０００４】これらの図において、光ディスクに記録さ
れた情報は、ピックアップヘッドを用いて微弱なアナロ
グ信号として再生される。アナログ信号はプリアンプで
増幅され十分な信号レベルとなった後、レベルスライサ
でマーク／スペースに対応した２値化信号となる。ＰＬ
Ｌ(位相ロックループ)回路では、入力された２値化信号
に位相同期したチャネルクロックを生成する。
【０００５】更に図２１において、パターン判別部は、
入力された２値化信号とチャネルクロックを用いて、注
目するマークに関して、その直前のスペース長および直
後のスペース長を検出する。
【０００６】エッジ位相差パルスとは、２値化信号の立
ち上がりエッジあるいは立ち下がりエッジとチャネルク
ロックとの位相差を示すパルスであり、立ち上がりエッ
ジ位相差パルスをＰＬ、立ち下がりエッジ位相差パルス
をＰＴとする。位相差をパルス幅で表現した位相差パル
スＰＬおよびＰＴは、パルス幅−電圧変換部(Ｔ−Ｖ変
換部)において対応するアナログ電圧に変換される。変
換されたアナログ電圧はさらにＡ／Ｄ変換されて対応す
るデジタルデータとなる。デジタル化された位相差デー
タＰＬおよびＰＴは、パラメータ算出部１９に供給され
る。
【０００７】パラメータ算出手段では、パラメータメモ
リおよびパラメータ演算ユニットを備えている。パラメ
ータ算出手段は、パターン判別部からのパターン情報
(Ｓ− １、Ｍ０、Ｓ＋１等)に対応したメモリの格納位置
に、Ｔ−Ｖ変換部からの位相差データＰＬおよびＰＴを
加算する。例えば、パターン判別部が判別したパターン
が(４,４)パターンの場合、パラメータメモリの横軸
「４」／縦軸「４」の交点位置に(４,４)と判定された
パターンの２値化信号(スペース長データＳ−１および
マーク長データＭ０)に対応する位相差データＰＬおよ
びＰＴが累積記憶される。パラメータメモリには各パタ
ーン(Ｓ−１、Ｍ０、Ｓ＋１等)での母数Ｎも記憶され
る。パラメータ算出手段は、Ｔ−Ｖ変換部からのデータ
読み込みが終了すると、パラメータメモリの各メモリ位
置に残っている加算された位相差情報を母数Ｎで除算す
る。これにより、マーク前方の波形補償量であるtＬ
(４,４)とtＴ(４,４)が得られる。
【０００８】こうして得られた補償量tＬ(４,４)および
tＴ(４,４)に基づいて、記録波形内パルス位置／幅制御
手段は、そのときのスペース長で熱干渉を起こさないよ
うな記録波形をもつ記録波形パルスを発生し、所定デー
タの適正な特性の記録処理を行うものである。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
光ディスク装置においては、識別方式にレベルスライス
方式を用いる波形補正量の算出部 (パラメータ算出部)
を備えた光ディスク装置である。従って最近の高い要求
水準に応じて、識別方式にデジタル方式の例えばＰＲＭ
Ｌ(Partial Response and Maximum Likelihood)方式を
用いた場合には、従来方法では波形補正量の算出ができ
ないという問題がある。
【００１０】本発明は、識別方式にデジタル方式を用い
た場合でも適切な波形補正を行うべく波形補償機能を備
えた光ディスク装置を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明の第１実施形態
は、同心円状又は螺旋状の記憶領域を有する光ディスク
へデータを記録する光ディスク装置において、前記光デ
ィスクを所定回転数で回転する回転手段と、前記回転手
段が回転する光ディスク上にレーザビームを照射し、こ
の反射波の波形パターンに応じた所定時間幅のデータ列
を含む再生信号を生成する再生信号生成手段と、前記再
生信号生成手段が生成した再生信号が含む所定時間幅の
データ列に対応した、前記所定時間幅でのデータ列を含
む理想信号を生成する理想信号生成手段と、前記再生信
号生成手段が生成した再生信号が含む前記所定時間幅の
データ列と、前記理想信号生成手段が生成した理想信号
が含む前記所定時間幅のデータ列とを比較して、この比
較結果に基づき、波形補償量を決定する波形補償量決定
手段と、外部から受けた記録データに所定処理を施し、
前記波形補償量決定手段が決定した前記波形補償量に基
づいて、記録波形パルスを生成する記録波形生成手段
と、前記記録波形生成手段が生成する前記記録波形パル
スに応じてレーザビームを発生し、これを前記光ディス
クの記憶領域に照射して前記記録データを記録する記録
手段とを具備することを特徴とする光ディスク装置であ
る。
【００１２】本発明は上述したように、光ディスクから
検出した再生信号の波形パターンに応じた所定時間幅の
データ列を生成し、一方で波形パターンに応じた所定時
間幅のデータ列を有する理想信号を生成し、再生信号の
データ列と理想信号のデータ列同志を比較して誤差量Ｅ
を求める。そして、この誤差量Ｅに基づいて波形補償量
Ｃを決定し、与えられる記録データＲの記録波形を波形
補償量Ｃにて波形補償を施して光ディスクに記録するも
のである。このように検出信号と理想信号とを或る一時
点の値で比較するのではなく一定時間幅の複数のサンプ
ルデータであるデータ列同志で比較しているため、それ
ぞれ固有の波形パターンがもつ誤差量を統計的な手法で
正確に把握することができる。これにより、デジタルの
識別方式の適正補償量による記録処理にも適正に行うこ
とが可能となるものである。
【００１３】一方、上述した先行技術では、２値化信号
の立ち上がりエッジあるいは立ち下がりエッジとチャネ
ルクロックとの位相差から波形補償量を算出している。
これは、識別方式としてスライス方式が採用されている
方式には有効であるが、積分検出方式のような再生信号
サンプルの振幅値から識別する方式には適用することが
できない。特に光ディスクシステムの記録密度が向上し
た場合には、識別方式にスライス方式を採用するのでは
不十分であり、ＰＲＭＬ(Partial Response and Maximu
m Likelihood)方式のような高級な識別方式が必要にな
るが、ＰＲＭＬ方式も再生信号サンプルの振幅値から識
別する方式であり、先行技術によって適正な波形補償量
を得ることができない。
【００１４】又本発明の第２の実施形態は、同心円状又
は螺旋状の記憶領域を有する光ディスクへデータを記録
する光ディスク装置において、前記光ディスクを所定回
転数で回転する回転手段と、 前記回転手段が回転する
光ディスク上にレーザビームを照射し、この反射波をＡ
／Ｄ変換して変換したデジタルデータの波形パターンに
応じた所定時間幅のデータ列を含む再生信号を生成する
再生信号生成手段と、前記再生信号生成手段が出力する
所定時間幅のデジタルデータ列についてＰＲＭＬ（Part
ial Response and Maximum Likelihood）方式で復号処
理して、識別データを抽出する抽出手段と、前記抽出手
段が抽出した前記識別データに基づいて、前記再生信号
生成手段が生成した生成信号が含む所定時間幅のデータ
列に対応した、前記所定時間幅でのデータ列を含む理想
信号を生成する理想信号生成手段と、前記再生信号生成
手段が生成した再生信号が含む前記所定時間幅のデータ
列と、前記理想信号生成手段が生成した理想信号が含む
前記所定時間幅のデータ列とを比較して、この比較結果
に基づき、波形補償量を決定する波形補償量決定手段
と、外部から受けた記録データに所定処理を施し、前記
波形補償量決定手段が決定した前記波形補償量に基づい
て、記録波形パルスを生成する記録波形生成手段と、前
記記録波形生成手段が生成する前記記録波形パルスに応
じてレーザビームを発生し、これを前記光ディスクの記
憶領域に照射して前記記録データを記録する記録手段と
を具備することを特徴とする光ディスク装置である。
【００１５】上述した第２実施形態は、本発明の特徴で
ある理想信号を光ディスクに記録すべき記録データＲに
基づいて生成するものである。これにより、識別後の信
号を用いるわけではないので、識別誤りの悪影響が理想
信号に及ぼすことがなく、記録データＲから得られた理
想信号により安定して確実な記録波形の補償処理を行う
ことができる光ディスク装置を提供することができる。
【００１６】又本発明の第３の実施形態は、同心円状又
は螺旋状の記憶領域を有する光ディスクへデータを記録
する光ディスク装置において、前記光ディスクを所定回
転数で回転する回転手段と、前記回転手段が回転する光
ディスク上にレーザビームを照射し、この反射波の波形
パターンに応じた所定時間幅のデータ列を含む再生信号
を生成する再生信号生成手段と、事前に用意された参照
レベルデータに基づいて、前記所定時間幅をもつデータ
列を含む理想信号を供給する理想信号供給手段と、前記
再生信号生成手段が生成した再生信号が含む前記所定時
間幅のデータ列と、前記理想信号供給手段から供給され
た前記理想信号が含む前記所定時間幅のデータ列とを比
較して、この比較結果に基づき、波形補償量を決定する
波形補償量決定手段と、前記外部から受けた記録データ
に所定処理を施した記録信号により、前記波形補償量決
定手段が決定した前記波形補償量に基づいて、記録波形
パルスを生成する記録波形生成手段と、前記記録波形生
成手段が生成する前記記録波形パルスに応じてレーザビ
ームを発生し、これを前記光ディスクの記憶領域に照射
して前記記録データを記録する記録手段とを具備するこ
とを特徴とする光ディスク装置である。
【００１７】上述した本発明の第３実施形態は、本発明
の特徴である理想信号を生成するのに検出信号を利用す
ることなく、外部から与えられる参照レベル信号を利用
するものである。これにより装置の構成をより簡略化す
ることができ、更に処理時間のかかるビタビ復号処理の
完了を待つこともないので処理速度の向上も図ることが
できる。
【００１８】又本発明の第４の実施形態は、同心円状又
は螺旋状の記憶領域を有する光ディスクへデータを記録
する光ディスク装置において、前記光ディスクを所定回
転数で回転する回転手段と、前記回転手段が回転する光
ディスク上にレーザビームを照射し、この反射波の波形
パターンに応じた所定時間幅のデータ列を含む再生信号
を生成する再生信号生成手段と、前記再生信号生成手段
が生成した再生信号が含む所定時間幅のデータ列に対応
した、前記所定時間幅でのデータ列を含む理想信号を生
成する理想信号生成手段と、前記再生信号生成手段が生
成した再生信号が含む前記所定時間幅のデータ列と、前
記理想信号生成手段が生成した理想信号が含む前記所定
時間幅のデータ列とを比較して、前記再生信号生成手段
が出力する前記所定時間幅のデータ列の波形パターンの
先行スペース長とマーク長及び後続スペース長とマーク
長を判断する波形パターン判断手段と、パターン判断手
段が判断した波形パターンの先行スペース長とマーク長
及び後続スペース長とマーク長に対応した誤差量パラメ
ータを算出し、これに基づいて波形補償量を決定する波
形補償量決定手段と、外部から受けた記録データに所定
処理を施し、前記波形補償量決定手段が決定した前記波
形補償量に基づいて、記録波形パルスを生成する記録波
形生成手段と、前記記録波形生成手段が生成する前記記
録波形パルスに応じてレーザビームを発生し、これを前
記光ディスクの記憶領域に照射して前記記録データを記
録する記録手段とを具備することを特徴とする光ディス
ク装置である。
【００１９】上述した本発明の第４実施形態は、波形補
償量を決定するパラメータの定義を、波形パターンの先
行スペース長とマーク長及び後続スペース長とマーク長
に対応した誤差量パラメータとすることにより、より精
緻で光ディスクの特性に応じた適正な補償量に基づく記
録波形の補償処理を行うことができる光ディスク装置を
提供することができる。
【００２０】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら、本発
明の実施形態について以下に詳細に説明する。
【００２１】＜第１実施形態に係る光ディスク装置＞図
１は、本発明に係る光ディスク装置の一例である第１の
実施形態の要部を示すブロック図、図２は、本発明に係
る光ディスク装置の一例の全体の構成を示すブロック図
である。
【００２２】図１において本発明の要部であるデータ処
理ユニット１が示され、図２にはデータ処理ユニット１
も含めて光ディスク装置の全体の構成が示されている。
【００２３】（光ディスク装置の基本構成）図２におい
て、本発明に係る光ディスク装置Ａは光ディスクＤに対
するデータ記録又はデータ再生を行うものである。上記
光ディスク装置Ａは、ディスクカートリッジに収納され
た光ディスクＤを搬送するトレー３２と、このトレーを
駆動するモータ３３と、光ディスクＤを保持するクラン
パ３４と、これにより保持された光ディスクＤを所定回
転数で回転させるスピンドルモータ３５とを有してい
る。更に、制御部として全体の動作制御を行うＣＰＵ４
６と、この制御動作の基本的なプログラム等を格納する
ＲＯＭ４７と、各制御プログラムやアプリケーションデ
ータ等を書替可能に格納するＲＡＭ４８とが制御バスを
介して接続されている。更にこれらのＣＰＵ４６等の制
御部にそれぞれ接続されて、ピックアップＰＵの搬送を
行う送りモータ３６と、ピックアップのフォーカスやト
ラッキング制御を行うフォーカス／トラッキングアクチ
ュエータドライバ／送りモータドライバ４０、更にスピ
ンドルモータ３５を駆動するスピンドルモータドライバ
４１、トレーモータを駆動するトレーモータドライバ４
２がそれぞれ設けられている。
【００２４】又更に、ピックアップＰＵに接続され検出
信号を増幅するプリアンプ１２と、サーボアンプ３８，
更にシーク動作を行うためのシーク信号をドライバに供
給するサーボシーク制御ユニット３９とを有している。
更にピックアップＰＵとプリアンプ１２、サーボシーク
制御ユニット３９等に接続され、検出信号及び記録信号
を処理するためのデータ処理ユニット１、この各種処理
に用いるデータを格納するためのＲＡＭ４３が設けられ
ている。このデータ処理ユニット１からの信号を外部装
置との間で送受信するべく、インタフェース制御部４５
がＲＡＭ４４を伴って設けられている。
【００２５】このような光ディスク装置において、本発
明では図１に示すようなデータ処理ユニット１とするこ
とで、識別方式にデジタル方式を用いた場合でも適切な
波形補償機能を可能としている。すなわち、データ処理
ユニット１は、プリアンプ１２から受けた信号が供給さ
れるＡ／Ｄ変換器１３と、これに接続される遅延器１４
と、ＰＲＭＬ(Partial Response and Maximum Likeliho
od)方式であるビタビ復号器１５とを有する。更にビタ
ビ復号器１５からの出力を受ける本発明の特徴である理
想信号生成部１６と、遅延器１４と理想信号生成部１６
の出力をそれぞれ受ける減算器１７を有する。更に減算
器１７からの出力である誤差信号Ｅと理想信号生成部１
６からの理想信号Ｉとを受けてパラメータを算出しこれ
に応じた波形補償量Ｃを出力するパラメータ算出部１９
と、この波形補償量Ｃを受け記録波形生成を行ない記録
波形パルスＰをピックアップＰＵに供給する記録波形生
成部１１とを有する。
【００２６】（光ディスク装置の動作）このような構成
を有する本発明の実施に設けられる光ディスク装置は、
以下のように光ディスクの再生処理及び記録処理を行
う。すなわち、光ディスクＤが光ディスク装置Ａへ装填
されると、ピックアップＰＵとデータ処理ユニット１を
用いて、光ディスクＤのリードインエリアのエンボスデ
ータゾーン内のコントロールデータゾーンに記録されて
いる光ディスクＤの制御情報が読み取られ、ＣＰＵ４６
に供給されるようになっている。
【００２７】本発明の光ディスク装置Ａでは、ユーザの
操作による操作情報や光ディスク内のコントロールデー
タゾーンに記録されている光ディスクＤの制御情報、現
在のステータス等に基づいて、ＣＰＵ４６の制御下にお
いて、図示しないレーザ制御ユニットによって付勢され
てレーザビームを発生する。
【００２８】発生したレーザビームは、対物レンズ３１
により収束され、ディスクの記録領域へと照射される。
これにより、光ディスクＤの記憶領域にデータが記録さ
れ（マーク列の生成：可変長のマークとマークの間隔
と、可変長の各マークの長さにより光ディスクＤにデー
タが記録される）、或いは、格納されているデータに対
応する反射波が反射されこれが検出されて、このデータ
の再生が行われる。
【００２９】図２ではピックアップＰＵに含まれるレー
ザ制御ユニットは、データ処理ユニット１によってその
設定がセットされるが、その設定は、再生信号Ｓを得る
再生パワー、データを記録する記録パワー及びデータを
消去する消去パワーで異なっている。レーザビームは、
再生パワー、記録パワー及び消去パワーの３つのパワー
でそれぞれ異なるレベルのパワーを有し、それぞれのパ
ワーのレーザビームが発生されるように半導体レーザユ
ニットがレーザ制御ユニットによって付勢される。
【００３０】このレーザ制御ユニットは、図示しない抵
抗とトランジスタにより構成され、電源電圧が抵抗とト
ランジスタと半導体レーザユニットとしての半導体レー
ザに印加されるようになっている。これにより、トラン
ジスタのベース電流により増幅率が異なり、半導体レー
ザ発振器に異なる電流が流れ、強度の異なったレーザビ
ームが発生されるようになっている。ここでは、後に詳
細に説明がなされる本発明の特徴である光ディスク１枚
１枚の特性に応じて記録波形補償がなされ、記録波形生
成回路１１から出力される記録波形パルスＰに応じてレ
ーザパワーが発生され、光ディスクへの記録処理がなさ
れるようになっている。
【００３１】又、光ディスクＤが対物レンズ３１に対向
して配置されるように、この光ディスクＤは、直接或い
はディスクカートリッジに収納されてトレー３２によっ
て装置内に搬送される。このトレー３２を駆動するため
のトレーモータ３３が装置内に設けられている。また、
装填された光ディスクＤは、クランパ３４によって回転
可能にスピンドルモータ３５上に保持され、このスピン
ドルモータ３５によって所定回転数に回転される。
【００３２】ピックアップＰＵは、その内にレーザビー
ムを検出する光検出器（図示せず）を有している。この
光検出器は、光ディスクＤで反射されて対物レンズ３１
を介して戻されたレーザビームを検出する。光検出器か
らの検出信号（電流信号）は、電流／電圧変換器（Ｉ／
Ｖ）で電圧信号に変換され、この信号は、プリアンプ１
２及びサーボアンプ３４に供給される。プリアンプ１２
からは、ヘッダ部のデータの再生用と記録領域のデータ
の再生用信号がデータ処理ユニット１に出力される。サ
ーボアンプ３４からのサーボ信号（トラックエラー信
号、フォーカスエラー信号）は、サーボシーク制御ユニ
ット３９に出力される。
【００３３】ここで、フォーカスずれ量を光学的に検出
する方法としては、たとえば次のような非点収差法やナ
イフエッジ法がある。
【００３４】非点収差法、すなわち、光ディスクＤの光
反射膜層または光反射性記録膜で反射されたレーザ光の
検出光路に非点収差を発生させる光学素子（図示せず）
を配置し、光検出器上に照射されるレーザ光の形状変化
を検出する方法である。光検出領域は対角線状に４分割
されている。各検出領域から得られる検出信号に対し、
サーボシーク制御ユニット３９内で対角和間の差を取っ
てフォーカスエラー検出信号（フォーカス信号）を得
る。
【００３５】ナイフエッジ法、すなわち、光ディスクＤ
で反射されたレーザ光に対して非対称に一部を遮光する
ナイフエッジを配置する方法である。光検出領域は２分
割され、各検出領域から得られる検出信号間の差を取っ
てフォーカスエラー検出信号を得る。
【００３６】通常、上記非点収差法あるいはナイフエッ
ジ法のいずれかが採用される。
【００３７】光ディスクＤはスパイラル状または同心円
状のトラックを有し、トラック上に情報が記録される。
このトラックに沿って集光スポットをトレースさせて情
報の再生または記録／消去を行う。安定して集光スポッ
トをトラックに沿ってトレースさせるため、トラックと
集光スポットの相対的位置ずれを光学的に検出する必要
がある。
【００３８】トラックずれ検出方法としては一般に、次
の位相差検出法、プッシュプル法、ツインスポット法等
がある。
【００３９】位相差検出（Differential Phase Detecti
on）法、すなわち、光ディスクＤの光反射膜層または光
反射性記録膜で反射されたレーザ光の光検出器上での強
度分布変化を検出する。光検出領域は対角線上に４分割
されている。各検出領域から得られる検出信号に対し、
サーボシーク制御ユニット３９内で対角和間の位相差を
取ってトラックエラー検出信号（トラッキング信号）を
得る。
【００４０】プッシュプル（Push-Pull ）法、すなわち
この方法においては、光ディスクＤで反射されたレーザ
光の光検出器上での強度分布変化を検出する。光検出領
域は２分割され、各検出領域から得られる検出信号間の
差を取ってトラックエラー検出信号を得る。
【００４１】ツインスポット（Twin-Spot ）法、すなわ
ち、半導体レーザ素子と光ディスクＤ間の送光系に回折
素子などを配置して光を複数に波面分割し、光ディスク
Ｄ上に照射する±１次回折光の反射光量変化を検出す
る。再生信号検出用の光検出領域とは別に＋１次回折光
の反射光量と−１次回折光の反射光量を個々に検出する
光検出領域を配置し、それぞれの検出信号の差を取って
トラックエラー検出信号を得る。
【００４２】このようなフォーカス制御及びトラック制
御により、サーボシーク制御ユニット３９からフォーカ
ス信号、トラッキング信号及び送り信号がフォーカス及
びトラッキングアクチュエータドライバ並びに送りモー
タドライバ４０に送られ、このドライバ４０によって対
物レンズ３１がフォーカスサーボ制御され、また、トラ
ッキングサーボ制御される。更に、アクセス信号に応じ
てドライバ４０から付勢信号が送りモータ３６に供給さ
れピックアップＰＵが搬送制御される。
【００４３】又、サーボシーク制御ユニット３９は、デ
ータ処理ユニット１によって制御される。例えば、デー
タ処理ユニット１からアクセス信号がサーボシーク制御
ユニット３９に供給されて送り信号が生成される。
【００４４】又、データ処理ユニット１からの制御信号
でスピンドルモータドライバ４１及びトレーモータドラ
イバ４２が制御され、スピンドルモータ３５及びトレー
モータ３３が付勢され、スピンドルモータ３５が所定回
転数で回転され、トレーモータ３３がトレーを適切に制
御することとなる。
【００４５】データ処理ユニット１に供給されたヘッダ
部のデータに対応する再生信号Ｓは、ＣＰＵ４６に供給
される。これによりＣＰＵ４６は、その再生信号Ｓによ
りヘッダ部のアドレスとしてのセクタ番号を判断し、ア
クセスする（データを記録するあるいは記録されている
データを再生する）アドレスとしてのセクタ番号との比
較を行うようになっている。
【００４６】データ処理ユニット１に供給された記録領
域のデータに対応する再生信号Ｓは、ＲＡＭ４８に必要
なデータが格納され、再生信号Ｓがこのデータ処理ユニ
ット１で処理されてインタフェース制御部４５に供給さ
れ、例えばパーソナルコンピュータ等の外部装置に再生
処理信号が供給される。
【００４７】＜本発明に特有の記録パルス補償処理＞こ
こで本発明に特有のデータ処理ユニット１による記録パ
ルス補償処理について、図面を用いて以下に詳細に説明
する。図１において、光ディスクＤにマーク、スペース
として記録された情報は、ピックアップＰＵを通して微
弱なアナログ信号として読み出される。微弱なアナログ
信号はプリアンプ１２で十分な大きさに増幅される。増
幅されたアナログ再生信号は、ＡＤ変換器１３でデジタ
ル再生信号Ｓへと変換される。デジタル再生信号Ｓは２
つに分岐され、一方はビタビ復号器１５へ、他方は遅延
器１４へと送られる。ビタビ復号器１５では、ビタビア
ルゴリズムに従って二値の識別データｄへ復号される。
識別データｄは、図示しない後段回路へ送られ、必要に
応じて復調、誤り訂正等の処理を施された後、インタフ
ェース制御部４５を介してユーザへと渡される。また、
識別データｄは、理想信号生成部１６へも送られる。
【００４８】理想信号生成部１６では、使用するＰＲ特
性に応じた理想的な再生信号(以下、理想信号Ｉ)が作成
される。遅延器１４では、理想信号Ｉと位相が一致する
ように再生信号Ｓが所定時間だけ遅延される。位相が揃
った再生信号Ｓと理想信号Ｉとは減算器１７へと供給さ
れ、減算器１７は理想信号Ｉから再生信号Ｓを減算する
ことにより誤差信号Ｅを算出する。誤差信号Ｅと理想信
号Ｉはパラメータ算出部１９へ送られ、パラメータ算出
部１９では、誤差信号Ｅが検出された波形パターンに対
応するメモリ領域にそれぞれ蓄積されこの蓄積結果に応
じて記録波形の波形補償量Ｃを算出する。
【００４９】記録波形生成部１１では、基準クロックＣ
ＬＫと記録データＲと波形補償量Ｃとに基づき記録波形
パルスＰが生成され、ピックアップＰＵでは、この生成
された記録波形パルスＰを用いて光ディスクＤ上に情報
を記録する。
【００５０】ここで、系列とは、デジタルデータの形態
で与えられる再生信号Ｓの例えば８ビット単位の波形パ
ターンをいうものである。系列は、デジタルデータの形
態で与えられるため、そのパターンの種類は有限個であ
り、従ってパターンごとの誤差量の統計処理がアナログ
信号の場合と比べて飛躍的に短時間に可能となる。又、
再生信号Ｓと理想信号Ｉとについて、波形パターン（系
列）毎の複数のサンプル信号（所定時間幅のデータ列）
同志を互いに比較して誤差信号Ｅを得るという比較方法
によって、従来のアナログ信号での理想信号との比較に
おいて一つの値について比較して誤差量を求めるという
比較処理とは異なり、各波形パターン（系列）の信号の
変化のしかた全体について、より正確な誤差量を得るこ
とが可能となる。これにより、一枚一枚のディスクの測
定結果に応じた、非常に適切な記録パルス補償処理を行
うことが可能となる。
【００５１】以下、各ユニットごとにその動作を一層詳
細に説明する。
【００５２】（理想信号生成部）理想信号生成部を図面
を用いて詳細に説明する。図３は、理想信号生成部の一
例の構成を示すブロック図、図４は、再生信号、理想信
号、誤差信号の関係を示すグラフ、図５は、ｎＴマー
ク、スペースと理想信号の関係を示すグラフである。
【００５３】図３に、ＰＲ(１,２,２,１)特性を用いた
時の理想信号生成部１６の構成の一例を示す。この理想
信号生成部の一例は、入力信号が与えられる第１遅延器
５２、その出力が与えられる第２遅延器５３、更にその
出力が与えられる第３遅延器５４、そして、第１遅延器
５２の出力が与えられる減算器５５，第２遅延器５３の
出力が与えられる減算器５６、これらの減算器５５，５
６の出力と、入力信号と第３遅延器５４の出力とが与え
られる比較器５７により構成されている。この理想信号
生成部１６は、所謂４タップのＦIＲ(Finite Impulse R
esponse)フィルタであり、そのタップ係数は、“１、
２、２、１”である。例えば、理想信号生成部１６に、
“０００１００００”という波形パターン（系列）が入
力すると、その出力は、“０００１２２１０”となる。
同様に、“０００１１００００”が入力すると、“００
０１３４３１０”を出力、“０００１１１００００”が
入力すると、“０００１３５５３１”を出力、“０００
１１１１００００”が入力すると、“０００１３５６５
３１０”を出力する。
【００５４】ＰＲ(１,２,２,１)特性で波形パターン
（系列）を表現すれば、“０、１、２、３、４、５、
６”の７レベルのいずれかになる。以下便宜上、符号ビ
ット“１”がｎ個連続する波形パターン（系列）をｎＴ
マーク、同様に符号ビット“０”がｎ個連続する波形パ
ターン（系列）をｎＴスペースと定義する。このよう
に、変調符号にＲＬＬ(１,７)符号(ＲＬＬ:Run Length
Limited)を使用する場合には、記録データ中に現れる波
形パターン（系列）は、２Ｔ〜８Ｔマーク、及び、２Ｔ
〜８Ｔスペースに限定されるため、波形パターン（系
列）毎に誤差量を短時間に統計処理することが可能とな
る。又、波形パターン（系列）の種類に応じて一つの波
形パターン（系列）は複数のサンプルデータ列として表
現できる。すなわち、例えば、４Ｔマークであれば、レ
ベル５およびレベル６部分の誤差信号Ｅの３サンプルに
ついて、理想信号と再生（検知）信号との間で減算処理
して誤差信号Ｅの３サンプルをメモリ４Ｔ_Ｍメモリに
累積加算して格納することとなる。こうすることで、従
来の１サンプルについて理想信号と比較処理していた従
来装置による補償処理以上に、前後の信号変化も含めた
波形全体の適切な補償量を得ることが可能となる。
【００５５】図４に、ＲＬＬ(１,７)符号とＰＲ(１,２,
２,１)特性を組み合わせた光ディスクシステムの再生信
号Ｓ、理想信号Ｉ、誤差信号Ｅの関係を示す。ここで、
記録波形パルスの最適値からのずれに起因するマークの
成形不良や雑音等の劣化要因により、再生信号Ｓ(図４
の(a))と理想信号Ｉ(図４の(b))とは完全には一致しな
い。理想信号Ｉから再生信号Ｓ（検出信号）を減算した
結果が誤差信号Ｅ(図４の(c))として得られる。
【００５６】図５に、この波形パターン（系列）が取り
得る形態の一例を示す。ＲＬＬ(１,７)符号では、記録
データ中に現れる波形パターン（系列）は、２Ｔ〜８Ｔ
マーク、および、２Ｔ〜８Ｔスペースに限定されるた
め、理想信号Ｉも有限のパターンしか現れない。つま
り、図５に示すように、レベル３を始点、終点とする
と、（ａ）の２Ｔマークは、（３、４、３）に対応し、
（ｂ）の３Ｔマークは、（３、５、５、３）に対応し、
（ｃ）の４Ｔマークは、（３、５、６、５、３）に対応
し、（ｄ）の５Ｔマークは、（３、５、６、６、５、
３）に対応する。また、（ｅ）の２Ｔスペースは、
（３、２、３）に対応し、（ｆ）の３Ｔスペースは、
（３、１、１、３）に対応し、（ｇ）の（３、１、０、
１、３）に対応し、（ｈ）の（３、１、０、０、１、
３）に対応する。
【００５７】（パラメータ算出部）次にパラメータ算出
部の動作を図面を用いて詳細に説明する。図６は、第１
の実施形態のパラメータ算出部と記録波形生成部との関
係を示すブロック図、図７は、データパターンと誤差信
号累積加算用メモリ位置の関係を示すグラフ、図８は、
記録波形パルスを示すタイミングチャート、図９は、補
償量決定の手法の一例を示す説明図である。
【００５８】図６が示すパターン判別部１９−１におい
て、先に述べたように理想信号Ｉに基づいて、再生信号
Ｓを図７に示すような幾つかのパターンとして判別する
ことができる。この判別結果に応じたメモリ選択信号Ｍ
に応じて、図７に示すように、パラメータ演算部１９−
２では、（ａ）の２Ｔマークは、レベル４部分の誤差信
号Ｅの１サンプルを２Ｔ_Ｍメモリに累積加算する。
（ｂ）の３Ｔマークは、レベル５部分の誤差信号Ｅの２
サンプルを３Ｔ_Ｍメモリに累積加算する。（ｃ）の４
Ｔマークは、レベル５およびレベル６部分の誤差信号Ｅ
の３サンプルを４Ｔ_Ｍメモリに累積加算する。（ｄ）
の５Ｔマークは、レベル５およびレベル６部分の誤差信
号Ｅの４サンプルを５Ｔ_Ｍメモリに累積加算する。
（ｅ）の６Ｔ以上のマークについては、最初に現れるレ
ベル５およびレベル６、最後に現れるレベル５およびレ
ベル６の誤差信号Ｅの４サンプルを５Ｔ_Ｍメモリに累
積加算する。
【００５９】次に（ｆ）の２Ｔスペースは、最初に現れ
るレベル３およびレベル２部分の誤差信号Ｅの２サンプ
ルを２Ｔ_Ｔメモリに、レベル２および最後に現れるレ
ベル３部分の誤差信号Ｅの２サンプルを２Ｔ_Ｌメモリ
に累積加算する。（ｇ）の３Ｔスペースは、最初に現れ
るレベル３およびレベル１部分の誤差信号Ｅの２サンプ
ルを３Ｔ_Ｔメモリに、最後に現れるレベル１およびレ
ベル３部分の誤差信号Ｅの２サンプルを３Ｔ_Ｌメモリ
に累積加算する。（ｈ）の４Ｔスペースは、最初に現れ
るレベル３、レベル１およびレベル０部分の誤差信号Ｅ
の３サンプルを４Ｔ_Ｔメモリに、レベル０および最後
に現れるレベル１、レベル３部分の誤差信号Ｅの３サン
プルを４Ｔ_Ｌメモリに累積加算する。（ｉ）の５Ｔス
ペースは、最初に現れるレベル３、レベル１、レベル０
部分の誤差信号Ｅの３サンプルを５Ｔ_Ｔメモリに、最
後に現れるレベル０、レベル１、レベル３部分の誤差信
号Ｅの３サンプルを５Ｔ_Ｌメモリに累積加算する。
（ｊ）の６Ｔ以上のスペースは、最初に現れるレベル
３、レベル１、レベル０部分の誤差信号Ｅの３サンプル
を５Ｔ_Ｔメモリに、最後に現れるレベル０、レベル
１、レベル３部分の誤差信号Ｅの３サンプルを５Ｔ_Ｌ
メモリに累積加算する。
【００６０】又、２Ｔ_Ｍ〜５Ｔ_Ｍ、２Ｔ_Ｔ〜５Ｔ_
Ｔ、２Ｔ_Ｌ〜５Ｔ_Ｌの各メモリには、誤差信号Ｅの累
積加算値の他に母数もカウントされる。一定期間経過
後、２Ｔ_Ｍ〜５Ｔ_Ｍ、２Ｔ_Ｔ〜５Ｔ_Ｔ、２Ｔ_Ｌ〜
５Ｔ_Ｌの各メモリに蓄えられた累積加算値を母数で除
算する。除算した値から波形補償値Ｃを算出する。
【００６１】図８に記録波形パルスの７Ｔマークを示
す。７Ｔマークの場合、ファーストパルス、４つのマル
チパルス、ラストパルスにより記録される。ただし、光
ディスク媒体に依っては、クーリングパルスがラストパ
ルスの後に出力される。２Ｔマークの場合には、ファー
ストパルスのみで記録する。３Ｔマークの場合には、フ
ァーストパルスとラストパルスで記録する。ｎＴ(ｎ≧
４)マークの場合には、ファーストパルス、(ｎ−３)個
のマルチパルス、ラストパルスで記録する。
【００６２】このような一連のパラメータ算出部の働き
を、図９の説明図は具体的に説明している。すなわち、
図９が示すように、最初に与えられた再生信号Ｓに基づ
いて再生信号のパターンを判別し、理想信号Ｉを生成
し、次にこの生成した理想信号Ｉと再生信号Ｓとの誤差
である誤差信号Ｅを求める。そして、再生信号Ｓ及び理
想信号の波形パターン（系列）の種類に応じて、最初が
５Ｔ_Ｌなら５Ｔ_Ｌのメモリへ誤差信号Ｅに応じる誤差
量を蓄積すべく格納し、次が４Ｔ_Ｍなら４Ｔ_Ｍのメモ
リへ、次が３Ｔ_Ｔなら３Ｔ_Ｔのメモリへ、……と、次
々と信号の種類に応じて誤差量を蓄積し格納していく。
【００６３】このようにして検出した再生信号Ｓに応じ
た、誤差量のデータ蓄積がなされる。ここで注目すべき
は、例えば、５Ｔ_Ｌなら、サンプルとなる信号は一つ
ではなく３サンプルについて信号が比較処理されその結
果が格納されるということである。従って、従来装置で
のアナログ信号の制御の場合のように、一時点の一つの
信号値に応じた一律の制御動作をすることにより、全体
の信号変化パターンを考慮することができないことに基
づく制御動作の不備がない。すなわち、例えば急峻な信
号変化（４Ｔ_Ｌ等）であればこれに応じた誤差量の統
計結果に基づき、又微小な信号変化（２Ｔ_Ｍ等）であ
ればこれに応じた誤差量の統計結果に基づいて、この誤
差量を相殺するような波形補償量とすることにより非常
に適切な波形補償量Ｃを決定することが可能となる。
【００６４】（記録波形生成部：記録補償の３種類の方
法）次にこのようにパラメータ算出部１９により求めた
波形補償値Ｃに基づき、記録波形生成部１１で行う記録
補償の３種類の方法について、図面を用いて以下に詳細
に順を追って説明する。図１０は、記録波形補償方法を
示すタイミングチャートである。
【００６５】１つ目は、図１０の(b)のパルス幅調整に
よる記録波形の適応制御である。ファーストパルス、マ
ルチパルス、ラストパルスの幅を波形補償値Ｃに応じて
調整する。ｎＴマークを記録する場合、そのマーク長と
前後のスペース長を用いて記録を行う。例えば、２Ｔス
ペース、３Ｔマーク、４Ｔスペースの波形パターン（系
列）を記録する場合を説明する。２Ｔ_Ｌメモリからの
波形補償値Ｃ、３Ｔ_Ｍメモリからの波形補償値Ｃ、４
Ｔ_Ｔメモリからの波形補償値Ｃにより、ファーストパ
ルスの幅を調整する。２Ｔ_Ｌメモリ、３Ｔ_Ｍメモリ、
４Ｔ_Ｔメモリの累積加算値が正(負)の場合には、ファ
ーストパルス幅を細く(太く)することで調整する。調整
量は、各メモリの累積加算値を母数で除算した値の絶対
値に依存する。別の例として、４Ｔスペース、５Ｔマー
ク、６Ｔスペースの波形パターン（系列）を記録する場
合を説明する。４Ｔ_Ｌメモリからの波形補償値Ｃから
ファーストパルス幅、５Ｔ_Ｍメモリからの波形補償値
Ｃからファーストパルス幅、マルチパルス幅、ラストパ
ルス幅、５Ｔ_Ｔメモリからの波形補償値Ｃからラスト
パルス幅を調整する。４Ｔ_Ｌメモリの累積加算値が正
(負)の場合には、ファーストパルス幅を細く(太く)する
ように調整する。５Ｔ_Ｍメモリの累積加算値が正(負)
の場合には、ファーストパルス幅、マルチパルス幅、ラ
ストパルス幅を細く(太く)することで調整する。５Ｔ_
Ｔメモリの累積加算値が正(負)の場合には、ラストパル
ス幅を細く(太く)することで調整する。その他の波形パ
ターン（系列）についても同様である。
【００６６】２つ目は、図１０の(c)のパルス高調整に
よる記録波形の適応制御である。ファーストパルス、マ
ルチパルス、ラストパルスの高さを波形補償値Ｃに応じ
て調整する。ｎＴマークを記録する場合、そのマーク長
と前後のスペース長を用いて記録を行う。例えば、２Ｔ
スペース、３Ｔマーク、４Ｔスペースの波形パターン
（系列）を記録する場合を説明する。２Ｔ_Ｌメモリか
らの波形補償値Ｃ、３Ｔ_Ｍメモリからの波形補償値
Ｃ、４Ｔ_Ｔメモリからの波形補償値Ｃにより、ファー
ストパルス高を調整する。２Ｔ_Ｌメモリ、３Ｔ_Ｍメモ
リ、４Ｔ_Ｔメモリの累積加算値が正(負)の場合には、
ファーストパルス高を低く(高く)することで調整する。
別の例として、４Ｔスペース、５Ｔマーク、６Ｔスペー
スの波形パターン（系列）を記録する場合を説明する。
４Ｔ_Ｌメモリからの波形補償値Ｃからファーストパル
ス高、５Ｔ_Ｍメモリからの波形補償値Ｃからファース
トパルス高、マルチパルス高、ラストパルス高、５Ｔ_
Ｔメモリからの波形補償値Ｃからラストパルス幅を調整
する。４Ｔ_Ｌメモリの累積加算値が正(負)の場合に
は、ファーストパルス高を低く(高く)するように調整す
る。５Ｔ_Ｍメモリの累積加算値が正(負)の場合には、
ファーストパルス高、マルチパルス高、ラストパルス高
を低く(高く)することで調整する。５Ｔ_Ｔメモリの累
積加算値が正(負)の場合には、ラストパルス高を低く
(高く)することで調整する。その他の波形パターン（系
列）についても同様である。
【００６７】３つ目は、図１０の(d)のパルス位置(位
相)調整による記録波形の適応制御である。ファースト
パルス、ラストパルスの位置(位相)を波形補償値Ｃに応
じて調整する。ｎＴマークを記録する場合、前後のスペ
ース長を用いて調整を行う。例えば、２Ｔスペース、３
Ｔマーク、４Ｔスペースの波形パターン（系列）を記録
する場合を説明する。２Ｔ_Ｌメモリからの波形補償値
Ｃ、４Ｔ_Ｔメモリからの波形補償値Ｃにより、ファー
ストパルス位置を調整する。２Ｔ_Ｌメモリの累積加算
値が正(負)の場合には、ファーストパルス位置を遅らせ
る(進める) 遅らせる(進める)ことで調整する。４Ｔ_Ｔ
メモリの累積加算値が正(負)の場合には、ファーストパ
ルス位置を遅らせる(進める)ことで調整する。別の例と
して、４Ｔスペース、５Ｔマーク、６Ｔスペースの波形
パターン（系列）を記録する場合を説明する。４Ｔ_Ｌ
メモリからの波形補償値Ｃからファーストパルス位置、
５Ｔ_Ｔメモリからの波形補償値Ｃからラストパルス位
置を調整する。４Ｔ_Ｌメモリの累積加算値が正(負)の
場合には、ファーストパルス位置を遅らせる(進める)こ
とで調整する。５Ｔ_Ｔメモリの累積加算値が正(負)の
場合には、ラストパルス位置を進める(遅らせる)ことで
調整する。その他の波形パターン（系列）についても同
様である。
【００６８】なお、これら３つの方式は組み合わせて使
用したり、他の方式を加えて組み合わせて使用すること
が可能である。
【００６９】このようにして得た記録波形パルスに応じ
て、光ディスク一枚一枚の特性に応じた最適な波形補償
を行って、光ディスクＤへの確実な記録処理を可能とす
る。
【００７０】以上、本発明の第１実施形態によれば、検
出した再生信号Ｓに基づいて理想信号Ｉを求め、判別し
た波形パターンに応じて再生信号Ｓと理想信号Ｉとの誤
差信号Ｅを求める。ここで、誤差信号Ｅは必ずしも一つ
の値ではなく、判別した波形パターンに応じて、２サン
プルであったり３サンプルであったりそれ以上であった
りしており、これら複数サンプル同志を比較処理して誤
差信号Ｅを求め、所定の記憶領域へ格納し蓄積してい
く。このような再生信号Ｓの波形パターンに応じた所定
時間幅のデータ列の比較という手法を取ることにより、
従来装置でのある一時点での一つの信号値のみで制御動
作を行っていた場合では得られなかった、波形パターン
特有の誤差量をも考慮して非常に適切な波形補償処理を
行って、光ディスクへの記録処理を本発明の第１実施形
態は可能としている。
【００７１】又、上述した制御方法は、光ディスク上に
記録処理した記録信号を再生した再生信号Ｓを得るべ
く、事前に記録信号を記録しなければならない。この記
録信号を記録させるには、光ディスク装置で光ディスク
Ｄへ記録処理を行う直前に自動的に試し書きを行う方法
がある。しかし、これに限るものではなく、事前に光デ
ィスクの所定領域に書き込まれている試し書きデータを
読み出すものであっても良い。
【００７２】又、上述した記録補償量Ｃは、一枚の光デ
ィスクＤに記録処理を行う場合に、記録特性決定のため
の試書時間を設け、一度補償量Ｃを決定したら、最後ま
でこの補償量Ｃを用いてこの光ディスクＤに対して記録
処理を行う方法がある。
【００７３】しかし、本発明はこれに限るものではな
く、例えば、記録処理を行いながら同時に再生処理を行
い、適宜、上述した記録補償量Ｃの決定処理を記録処理
に並行して行い、各時点で最適な記録補償量Ｃをリアル
タイムに更新していく方法も好適である。又、上述した
いわゆる、試書モードとリアルタイムモードとを切り換
えて使用する方法であってもかまわない。このように、
当業者が考えられる範囲での本発明の波形補償処理の様
々な実施の仕方は、全てこれを本発明の範囲とするもの
であることは言うまでもない。
【００７４】＜第２の実施形態の光ディスク装置＞第２
実施形態は、第１実施形態のようにビタビ復号器１５か
ら理想信号を生成するのではなく、光ディスクＤへ記録
するための記録データＲを用いて理想信号Ｉを生成する
ことを特徴とするものである。以下に図面を用いて、第
２実施形態を詳細に説明する。
【００７５】図１１に本発明の第２の実施形態の構成の
一例を示す。第２実施形態に係る光ディスク装置におい
て、図１１に示すようなデータ処理ユニット１とするこ
とで、識別方式にデジタル方式を用いた場合でも適切な
波形補償機能を可能としている。すなわち、データ処理
ユニット１は、プリアンプ１２から受けた信号が供給さ
れるＡ／Ｄ変換器１３と、ＰＲＭＬ(Partial Response
and Maximum Likelihood)方式であるビタビ復号器１５
とを有する。ここでビタビ復号器１５の出力は理想信号
生成部１６に供給されることなく図示しない後段部へ識
別信号データｄを供給する。更に第２実施形態に係る理
想信号生成部１６は、記録データＲを受ける遅延器１４
とこれから遅延された記録データＲを受ける理想信号生
成部１６と、Ａ／Ｄ変換器１３の出力と理想信号生成部
１６の出力をそれぞれ受ける減算器１７を有する。更に
減算器１７からの出力である誤差信号Ｅと理想信号生成
部１６からの理想信号Ｉとを受けてパラメータを算出し
これに応じた波形補償量Ｃを出力するパラメータ算出部
１９と、この波形補償量Ｃを受け記録波形生成を行ない
記録波形パルスＰをピックアップＰＵに供給する記録波
形生成部１１とを有する。
【００７６】この第２実施形態に係る理想信号生成部１
６は、上述したように第１実施形態に係る理想信号生成
部１６のように、ビタビ復号器１５の出力を受けてこれ
に基づき理想信号を生成するのではなく、記録データＲ
の遅延信号により理想信号を生成するものである。従っ
て、光ディスクＤからの再生信号のビタビ復号器１５に
よる復号処理が終わるまで待つということがなくなり、
又識別誤りの影響も無いので、迅速で確実な記録波形補
償処理を行うことができる光ディスク装置を提供するこ
とができる。
【００７７】＜第３の実施形態の光ディスク装置＞第３
実施形態は、理想信号をそのつど生成するのではなく、
事前に生成し用意した参照データを理想信号として用い
ることを特徴としている。
【００７８】図１２に本発明の第３の実施形態の構成の
一例を示す。第３実施形態に係る光ディスク装置におい
て、図１２に示すようなデータ処理ユニット１とするこ
とで、識別方式にデジタル方式を用いた場合でも適切な
波形補償機能を可能としている。すなわち、データ処理
ユニット１は、プリアンプ１２から受けた信号が供給さ
れるＡ／Ｄ変換器１３と、ＰＲＭＬ(Partial Response
and Maximum Likelihood)方式であるビタビ復号器１５
とを有する。ここでビタビ復号器１５の出力は理想信号
生成部１６に供給されることなく図示しない後段部へ識
別信号データｄを供給する。更にＡ／Ｄ変換器１３と参
照レベルＬとが与えられる参照レベル選択器６１が設け
られ、この出力が理想信号Ｉとして、減算器１７とパラ
メータ算出部１９とに供給される。パラメータ算出部１
９は、減算器１７からの出力である誤差信号Ｅと参照レ
ベル選択器６１とからの出力を受けてパラメータを算出
しこれに応じた波形補償量Ｃを出力する。更にこの波形
補償量Ｃと基準クロックＣＬＫと記録データＲとを受け
記録波形生成を行ない記録波形パルスＰをピックアップ
ＰＵに供給する記録波形生成部１１を有する。
【００７９】第３実施形態の光ディスク装置において、
光ディスクにマーク、スペースとして記録された情報
は、ピックアップＰＵを通して微弱なアナログ信号とし
て読み出される。微弱なアナログ信号はプリアンプで十
分な大きさに増幅される。増幅されたアナログ再生信号
は、Ａ／Ｄ変換器１３でデジタル再生信号へと変換され
る。デジタル再生信号は３つに分岐され、１つ目はビタ
ビ復号器１５へ、２つ目は参照レベル選択器６１へ、３
つ目は減算器１７へと送られる。ビタビ復号器１５で
は、ビタビアルゴリズムに従って二値の識別データへ復
号される。識別データは図示しない後段回路へ送られ、
必要に応じて復調、誤り訂正等の処理を施された後、ユ
ーザへと渡される。
【００８０】参照レベル選択器６１では、デジタル再生
信号から即座に参照レベル、つまり、レベル０,１,２,
３,４,５,６を選択し、得られたレベルの波形パターン
（系列）が理想信号Ｉとなる。減算器１７は理想信号Ｉ
から再生信号Ｓ（検出信号）が減算することにより、誤
差信号Ｅを算出する。誤差信号Ｅのと理想信号Ｉはパラ
メータ算出部１９へ送られ、パラメータ算出部１９で
は、これら２つの信号から記録波形の波形補償量を算出
する。記録波形生成部１１では、基準クロックＣＬＫと
記録データＲと波形補償量Ｃとに基づき記録波形パルス
Ｐが生成され、ピックアップＰＵでは記録波形パルスＰ
を用いて、光ディスク上に記録データＲが記録される。
【００８１】図１３に参照レベル選択器６１の構成の一
例を示す。参照レベル選択器６１は、参照レベル信号
０,１,２,３,４,５,６をそれぞれ受ける複数の比較器７
１と、この出力を受ける複数の絶対値演算子７２と、こ
れらの出力をそれぞれ受ける最小値選択器７３とを有し
ている。更に最小選択器７３の出力である最小値入力番
号を示す信号と、先の参照レベル信号０,１,２,３,４,
５,６とを受ける選択器７４とを有している。このよう
な構成により、参照レベル選択器６１は、再生信号Ｓと
各参照レベルＬとの差の絶対値が最小となる参照レベル
を減算器１７とパラメータ算出部１９とに出力する。
【００８２】第３実施形態によれば、本発明の特徴であ
る理想信号を生成するのにビタビ復号器１５等の検出信
号を利用することなく、外部から与えられる参照レベル
信号を利用するものである。これにより装置の構成をよ
り簡略化することができ、更に処理時間のかかるビタビ
復号処理の完了を待つこともないので処理速度の向上も
図ることができる。
【００８３】＜第４の実施形態の光ディスク装置＞第４
実施形態は、本発明に係る波形補償を行うに当たり、再
生信号の波形パターン（系列）の分類について、先行ス
ペースとマーク及び後続スペースとマークとを組として
扱う分類方法により行うことを特徴としている。
【００８４】以下、第４実施形態について、図面を用い
て詳細に説明する。図１４は、第４の実施形態のパラメ
ータ算出部と記録波形生成部との関係を示すブロック
図、図１５は、第４の実施形態のデータパターンと誤差
信号累積加算用メモリ位置との関係(２Ｔマーク)を示す
グラフ、図１６は、３Ｔマークを示すグラフ、図１７は
４Ｔマークを示すグラフ、図１８は、ｎＴ(ｎ≧５)マー
ク を示すグラフ、図１９は、第４の実施形態のパラメ
ータ算出部の処理の一例を示す説明図である。
【００８５】図１４に第４の実施形態のパラメータ算出
部１９、および、記録波形生成部のブロック図を示す。
図１４では、先行スペースとマークを組として扱い、２
Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ(５Ｔ以上含む)の４種類の先行ス
ペース、マークの１６通りの組み合わせに対しメモリを
用意している(Ｌ(ｎ,ｍ)メモリ)。同様に、後続スペー
スとマークを各々組として扱い、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５
Ｔ(５Ｔ以上含む)の４種類の後続スペース、マークの１
６通りの組み合わせに対しメモリを用意している(Ｔ
(ｎ,ｍ)メモリ)。これに応じて、パターン判別部１９−
１は、Ｌ（ｍ，ｎ）とＴ（ｍ，ｎ）についてメモリ選択
を行っている。このメモリ選択信号に応じて、パラメー
タ演算部１９−２では、Ｌ（ｍ，ｎ）メモリとＴ（ｍ，
ｎ）メモリとを設け、対応する誤差信号Ｅをそれぞれ蓄
積し格納していく。
【００８６】図１５乃至図１８に、波形パターンと使用
するメモリとの関係を示す。図１５は２Ｔマークと対応
するメモリとの関係を示している。２Ｔスペース、２Ｔ
マーク(２Ｔマーク、２Ｔスペース)のパターンに対し
て、レベル２,３,４(４,３,２)の波形パターン（系列）
部分の誤差信号ＥをＬ(２,２)(Ｔ(２,２))メモリへ累積
加算する。３Ｔスペース、２Ｔマーク(２Ｔマーク、３
Ｔスペース)のパターンに対して、レベル１,３,４(４,
３,１)の波形パターン（系列）部分の誤差信号ＥをＬ
(３,２)(Ｔ(３,２))メモリへ累積加算する。４Ｔスペー
ス、２Ｔマーク(２Ｔマーク、４Ｔスペース)のパターン
に対して、レベル０,１,３,４(４,３,１,０)の波形パタ
ーン（系列）部分の誤差信号ＥをＬ(４,２)(Ｔ(４,２))
メモリへ累積加算する。ｎＴ(ｎ≧５)スペース、２Ｔマ
ーク(２Ｔマーク、ｎＴ(ｎ≧５)スペース)のパターンに
対して、レベル０,１,３,４(４,３,１,０)の波形パター
ン（系列）部分の誤差信号ＥをＬ(５,２)(Ｔ(５,２))メ
モリへ累積加算する。
【００８７】又、図１６に３Ｔマークに対するメモリ位
置の関係を示す。２Ｔスペース、３Ｔマーク(３Ｔマー
ク、２Ｔスペース)のパターンに対して、レベル２,３,
５(５,３,２)の波形パターン（系列）部分の誤差信号Ｅ
をＬ(２,３)(Ｔ(２,３))メモリへ累積加算する。３Ｔス
ペース、３Ｔマーク(３Ｔマーク、３Ｔスペース)のパタ
ーンに対して、レベル１,３,５(５,３,１)の波形パター
ン（系列）部分の誤差信号ＥをＬ(３,３)(Ｔ(３,３))メ
モリへ累積加算する。４Ｔスペース、３Ｔマーク(３Ｔ
マーク、４Ｔスペース)のパターンに対して、レベル０,
１,３,５(５,３,１,０)の波形パターン（系列）部分の
誤差信号ＥをＬ(４,３)(Ｔ(４,３))メモリへ累積加算す
る。ｎＴ(ｎ≧５)スペース、３Ｔマーク(３Ｔマーク、
ｎＴ(ｎ≧５)スペース)のパターンに対して、レベル０,
１,３,５(５,３,１,０)の波形パターン（系列）部分の
誤差信号ＥをＬ(５,３)(Ｔ(５,３))メモリへ累積加算す
る。
【００８８】図１７に４Ｔマークに対するメモリ位置の
関係を示す。２Ｔスペース、４Ｔマーク(４Ｔマーク、
２Ｔスペース)のパターンに対して、レベル２,３,５,６
(６,５,３,２)の波形パターン（系列）部分の誤差信号
ＥをＬ(２,４)(Ｔ(２,４))メモリへ累積加算する。３Ｔ
スペース、４Ｔマーク(４Ｔマーク、３Ｔスペース)のパ
ターンに対して、レベル１,３,５,６(６,５,３,１)の波
形パターン（系列）部分の誤差信号ＥをＬ(３,４)(Ｔ
(３,４))メモリへ累積加算する。４Ｔスペース、４Ｔマ
ーク(４Ｔマーク、４Ｔスペース)のパターンに対して、
レベル０,１,３,５,６(６,５,３,１,０)の波形パターン
（系列）部分の誤差信号ＥをＬ(４,４)(Ｔ(４,４))メモ
リへ累積加算する。ｎＴ(ｎ≧５)スペース、４Ｔマーク
(４Ｔマーク、ｎＴ(ｎ≧５)スペース)のパターンに対し
て、レベル０,１,３,５,６(６,５,３,１,０)の波形パタ
ーン（系列）部分の誤差信号ＥをＬ(５,４)(Ｔ(５,４))
メモリへ累積加算する。
【００８９】図１８にｎＴ(ｎ≧５)マークに対するメモ
リ位置の関係を示す。２Ｔスペース、ｎＴマーク(ｎＴ
マーク、２Ｔスペース)のパターンに対して、レベル２,
３,５,６(６,５,３,２)の波形パターン（系列）部分の
誤差信号ＥをＬ(２,５)(Ｔ(２,５))メモリへ累積加算す
る。３Ｔスペース、ｎＴマーク(ｎＴマーク、３Ｔスペ
ース)のパターンに対して、レベル１,３,５,６(６,５,
３,１)の波形パターン（系列）部分の誤差信号ＥをＬ
(３,５)(Ｔ(３,５))メモリへ累積加算する。４Ｔスペー
ス、ｎＴマーク(ｎＴマーク、４Ｔスペース)のパターン
に対して、レベル０,１,３,５,６(６,５,３,１,０)の波
形パターン（系列）部分の誤差信号ＥをＬ(４,５)(Ｔ
(４,５))メモリへ累積加算する。ｍＴ(ｍ≧５)スペー
ス、ｎＴマーク(ｎＴマーク、ｍＴ(ｍ≧５)スペース)の
パターンに対して、レベル０,１,３,５,６(６,５,３,
１,０)の波形パターン（系列）部分の誤差信号ＥをＬ
(５,５)(Ｔ(５,５))メモリへ累積加算する。
【００９０】更に、図面に示された波形パターンとメモ
リとの関係に応じて、Ｌ(ｍ,ｎ)、Ｔ(ｍ,ｎ)(ｍ,ｎ=２,
３,４,５)の各メモリには、誤差信号Ｅの累積加算値の
他に母数もカウントされる。一定期間経過後、Ｌ(ｍ,
ｎ)、Ｔ(ｍ,ｎ)(ｍ,ｎ=２,３,４,５)の各メモリに蓄え
られた累積加算値を母数で除算する。除算した値から波
形補償値Ｃを算出する。
【００９１】このような再生信号Ｓ，理想信号Ｉの波形
パターンと，誤差信号Ｅ、メモリとの関係は、図１９に
おいて、一層具体的に説明される。すなわち、検出され
た再生信号Ｓに応じて生成された理想信号Ｉは、理想信
号Ｉと再生信号Ｓとの誤差である誤差信号Ｅは、理想信
号Ｉの波形パターンに応じて、所定のメモリ領域に累積
加算されていく。つまり、最初の理想信号Ｉの波形パタ
ーンは、Ｌ（４，５）であるから、Ｌ（４，５）のメモ
リに最初の５個のサンプルデータが累積加算される。そ
して、次の４個のサンプルデータは、Ｔ（４，３）のメ
モリに累積加算される。このように波形パターンに応じ
て、所定のメモリに累積加算されるため、波形パターン
特有の誤差量を忠実に波形補償量Ｃに反映することが可
能となる。
【００９２】このような波形パターンに応じて、各メモ
リに蓄えた累積加算値に基づいた除算結果による波形補
償量Ｃに応じて、第４実施形態では、以下のように記録
補償を行う。
【００９３】記録補償の方法には、図１０に示す３種類
の方法がある。１つ目は、図１０の(b)のパルス幅調整
による記録波形の適応制御である。ファーストパルス、
マルチパルス、ラストパルスの幅を波形補償値Ｃに応じ
て調整する。ｎＴマークを記録する場合、そのマーク長
と前後のスペース長を用いて記録を行う。例えば、２Ｔ
スペース、３Ｔマーク、４Ｔスペースの波形パターン
（系列）を記録する場合を説明する。
【００９４】Ｌ(２,３)メモリからの波形補償値Ｃ、Ｔ
(４,３)メモリからの波形補償値Ｃにより、ファースト
パルスの幅を調整する。Ｌ(２,３)メモリ、Ｔ(４,３)メ
モリの累積加算値が正(負)の場合には、ファーストパル
ス幅を細く(太く)することで調整する。調整量は、各メ
モリの累積加算値を母数で除算した値の絶対値に依存す
る。別の例として、４Ｔスペース、５Ｔマーク、６Ｔス
ペースの波形パターン（系列）を記録する場合を説明す
る。Ｌ(４,５)メモリからの波形補償値Ｃからファース
トパルス幅、Ｔ(５,５)メモリからの波形補償値Ｃから
ラストパルス幅を調整する。Ｌ(４,５)メモリの累積加
算値が正(負)の場合には、ファーストパルス幅を細く
(太く)するように調整する。Ｔ(５,５)メモリの累積加
算値が正(負)の場合には、ラストパルス幅を細く(太く)
することで調整する。その他の波形パターン（系列）に
ついても同様である。
【００９５】２つ目は、図１０の(c)のパルス高調整に
よる記録波形の適応制御である。ファーストパルス、マ
ルチパルス、ラストパルスの高さを波形補償値Ｃに応じ
て調整する。ｎＴマークを記録する場合、そのマーク長
と前後のスペース長を用いて記録を行う。例えば、２Ｔ
スペース、３Ｔマーク、４Ｔスペースの波形パターン
（系列）を記録する場合を説明する。Ｌ(２,３)メモリ
からの波形補償値Ｃ、Ｔ(４,３)メモリからの波形補償
値Ｃにより、ファーストパルス高を調整する。Ｌ(２,
３)メモリ、Ｔ(４,３)メモリの累積加算値が正(負)の場
合には、ファーストパルス高を低く(高く)することで調
整する。別の例として、４Ｔスペース、５Ｔマーク、６
Ｔスペースの波形パターン（系列）を記録する場合を説
明する。Ｌ(４,５)メモリからの波形補償値Ｃからファ
ーストパルス高、Ｔ(５,５)メモリからの波形補償値Ｃ
からラストパルス幅を調整する。Ｌ(４,５)メモリの累
積加算値が正(負)の場合には、ファーストパルス高を低
く(高く)するように調整する。Ｔ(５,５)メモリの累積
加算値が正(負)の場合には、ラストパルス高を低く(高
く)することで調整する。その他の波形パターン（系
列）についても同様である。
【００９６】３つ目は、図１０の(d)のパルス位置(位
相)調整による記録波形の適応制御である。ファースト
パルス、ラストパルスの位置(位相)を波形補償値Ｃに応
じて調整する。ｎＴマークを記録する場合、前後のスペ
ース長を用いて調整を行う。例えば、２Ｔスペース、３
Ｔマーク、４Ｔスペースの波形パターン（系列）を記録
する場合を説明する。Ｌ(２,３)メモリからの波形補償
値Ｃ、Ｔ(４,３)メモリからの波形補償値Ｃにより、フ
ァーストパルス位置を調整する。Ｌ(２,３)メモリの累
積加算値が正(負)の場合には、ファーストパルス位置を
遅らせる(進める)遅らせる(進める)ことで調整する。Ｔ
(４,３)メモリの累積加算値が正(負)の場合には、ファ
ーストパルス位置を遅らせる(進める)ことで調整する。
別の例として、４Ｔスペース、５Ｔマーク、６Ｔスペー
スの波形パターン（系列）を記録する場合を説明する。
【００９７】Ｌ(４,５)メモリからの波形補償値Ｃから
ファーストパルス位置、Ｔ(５,５)メモリからの波形補
償値Ｃからラストパルス位置を調整する。Ｌ(４,５)メ
モリの累積加算値が正(負)の場合には、ファーストパル
ス位置を遅らせる(進める)ことで調整する。Ｔ(５,５)
メモリの累積加算値が正(負)の場合には、ラストパルス
位置を進める(遅らせる)ことで調整する。その他の波形
パターン（系列）についても同様である。
【００９８】これら３つの方式は組み合わせて使用する
ことも可能である。
【００９９】以上詳細に述べたように、第４実施形態に
おいては、再生信号の波形パターン（系列）の分類につ
き、先行スペースとマーク及び後続スペースとマークと
を組として扱う分類方法により行っている。このような
方法をとることにより、上述した場合に比べてより多彩
な波形パターンごとの誤差量を統計的に得ることが可能
となり、非常に適切な波形補償量を得ることが可能とな
り、光ディスク一枚一枚の特性に適合した記録波形補償
処理を伴う記録データの記録処理を行う光ディスク装置
を提供することができる。
【０１００】以上記載した様々な実施形態により、当業
者は本発明を実現することができる。しかしこれらの実
施形態の様々な変形例が当業者により容易に明かであ
り、開示された広い意味での原理を発明的な能力をもた
なくとも様々な実施形態へと適用することが可能であ
る。このように本発明は、開示された原理と新規な特徴
に矛盾しない広範な範囲に及ぶものであり、上述した実
施形態に限定されることはないことは言うまでもない。
【０１０１】例えば、上述した実施形態では、ＰＲ(１,
２,２,１)特性を用いて説明したが、その他のＰＲ特性
でも本発明は適用可能である。又、実施形態では、ＲＬ
Ｌ(１,７)符号を用いて説明したが、そのほかの変調符
号でも本発明は適用可能である。又、本発明の権利範囲
は、上述した方法により記録データを記録した記録媒体
及びこの記録媒体が記録した記録データを再生する図２
に示した光ディスク記録再生装置に対しても及ぶもので
ある。
【０１０２】
【発明の効果】以上詳述したように本発明に係る光ディ
スク装置によれば、光ディスクから検出した再生信号の
波形パターンに応じた所定時間幅のデータ列を生成し、
一方で波形パターンに応じた所定時間幅のデータ列を有
する理想信号を生成し、再生信号のデータ列と理想信号
のデータ列同志を比較して誤差量Ｅを求める。そして、
この誤差量Ｅに基づいて波形補償量Ｃを決定し、与えら
れる記録データＲの記録波形を波形補償量Ｃにて波形補
償を施して光ディスクに記録するものである。
【０１０３】このように検出信号と理想信号とを或る一
時点の値で比較するのではなく一定時間幅の複数のデー
タであるデータ列同志で比較しているため、波形パター
ンがもつ誤差量を正確に把握することができ、波形パタ
ーン毎の統計的な誤差量に基づき最適な記録波形補償を
行うことが可能となるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る光ディスク装置の一例である第１
の実施形態の要部を示すブロック図。
【図２】本発明に係る光ディスク装置の一例の全体の構
成を示すブロック図。
【図３】図１に示す光ディスク装置の理想信号生成部の
一例の構成を示すブロック図。
【図４】本発明に係る光ディスク装置の再生信号、理想
信号、誤差信号の関係を示すグラフ。
【図５】本発明に係る光ディスク装置のｎＴマーク、ス
ペースと理想信号の関係を示すグラフ。
【図６】第１の実施形態のパラメータ算出部と記録波形
生成部との関係を示すブロック図。
【図７】第１の実施形態のデータパターンと誤差信号累
積加算用メモリ位置の関係を示すグラフ。
【図８】第１の実施形態の記録波形パルスを示すタイミ
ングチャート。
【図９】第１の実施形態のパラメータ算出部の処理の一
例を示す説明図。
【図１０】第１の実施形態の記録波形補償方法を示すタ
イミングチャート。
【図１１】本発明に係る光ディスク装置の第２の実施形
態の要部を示すブロック図。
【図１２】本発明に係る光ディスク装置の第３の実施形
態の要部を示すブロック図。
【図１３】図１２に示す参照レベル選択器の一例の構成
を示すブロック図。
【図１４】第４の実施形態のパラメータ算出部と記録波
形生成部との関係を示すブロック図。
【図１５】第４の実施形態のデータパターンと誤差信号
累積加算用メモリ位置との関係(２Ｔマーク)を示すグラ
フ。
【図１６】第４の実施形態のデータパターンと誤差信号
累積加算用メモリ位置との関係(３Ｔマーク) を示すグ
ラフ。
【図１７】第４の実施形態のデータパターンと誤差信号
累積加算用メモリ位置との関係(４Ｔマーク) を示すグ
ラフ。
【図１８】第４の実施形態のデータパターンと誤差信号
累積加算用メモリ位置の関係(ｎＴ(ｎ≧５)マーク) を
示すグラフ。
【図１９】第４の実施形態のパラメータ算出部の処理の
一例を示す説明図。
【図２０】本発明が用いられない光ディスク装置の一例
の構成を示すブロック図。
【図２１】本発明が用いられない光ディスク装置のパラ
メータ算出部と記録波形生成部とを示すブロック図。
【符号の説明】
ＰＵ … ピックアップ １１ … 記録波形生成部 １２ … プリアンプ １３ … ＡＤ変換器 １４ … 遅延器 １５ … ビタビ復号器 １６ … 理想信号生成部 １７ … 比較器 １８ … スイッチ素子 １９ … パラメータ算出部

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 同心円状又は螺旋状の記憶領域を有する
    光ディスクへデータを記録する光ディスク装置におい
    て、 前記光ディスクを所定回転数で回転する回転手段と、 前記回転手段が回転する光ディスク上にレーザビームを
    照射し、この反射波の波形パターンに応じた所定時間幅
    のデータ列を含む再生信号を生成する再生信号生成手段
    と、 前記再生信号生成手段が生成した再生信号が含む所定時
    間幅のデータ列に対応した、前記所定時間幅でのデータ
    列を含む理想信号を生成する理想信号生成手段と、 前記再生信号生成手段が生成した再生信号が含む前記所
    定時間幅のデータ列と、前記理想信号生成手段が生成し
    た理想信号が含む前記所定時間幅のデータ列とを比較し
    て、この比較結果に基づき、波形補償量を決定する波形
    補償量決定手段と、 外部から受けた記録データに所定処理を施し、前記波形
    補償量決定手段が決定した前記波形補償量に基づいて、
    記録波形パルスを生成する記録波形生成手段と、 前記記録波形生成手段が生成する前記記録波形パルスに
    応じてレーザビームを発生し、これを前記光ディスクの
    記憶領域に照射して前記記録データを記録する記録手段
    と、 を具備することを特徴とする光ディスク装置。
  2. 【請求項２】 同心円状又は螺旋状の記憶領域を有する
    光ディスクへデータを記録する光ディスク装置におい
    て、 前記光ディスクを所定回転数で回転する回転手段と、 前記回転手段が回転する光ディスク上にレーザビームを
    照射し、この反射波をＡ／Ｄ変換して変換したデジタル
    データの波形パターンに応じた所定時間幅のデータ列を
    含む再生信号を生成する再生信号生成手段と、 前記再生信号生成手段が出力する所定時間幅のデジタル
    データ列についてＰＲＭＬ方式で復号処理して、識別デ
    ータを抽出する抽出手段と、 前記抽出手段が抽出した前記識別データに基づいて、前
    記再生信号生成手段が生成した生成信号が含む所定時間
    幅のデータ列に対応した、前記所定時間幅でのデータ列
    を含む理想信号を生成する理想信号生成手段と、 前記再生信号生成手段が生成した再生信号が含む前記所
    定時間幅のデータ列と、前記理想信号生成手段が生成し
    た理想信号が含む前記所定時間幅のデータ列とを比較し
    て、この比較結果に基づき、波形補償量を決定する波形
    補償量決定手段と、 外部から受けた記録データに所定処理を施し、前記波形
    補償量決定手段が決定した前記波形補償量に基づいて、
    記録波形パルスを生成する記録波形生成手段と、 前記記録波形生成手段が生成する前記記録波形パルスに
    応じてレーザビームを発生し、これを前記光ディスクの
    記憶領域に照射して前記記録データを記録する記録手段
    と、 を具備することを特徴とする光ディスク装置。
  3. 【請求項３】 前記波形補償量決定手段は、 前記再生信号生成手段が生成した再生信号が含む前記所
    定時間幅のデータ列と、前記理想信号生成手段が生成し
    た理想信号が含む前記所定時間幅のデータ列とを比較し
    て、前記再生信号生成手段が出力する前記所定時間幅の
    データ列の波形パターンを判断する波形パターン判断手
    段と、 前記波形パターン判断手段が判断した波形パターンに応
    じた誤差量パラメータを算出し、これに基づいて波形補
    償量を決定する波形補償量決定手段と、 を有することを特徴とする請求項１に記載される光ディ
    スク装置。
  4. 【請求項４】 前記波形補償量決定手段は、前記再生信
    号生成手段が生成した再生信号が含む前記所定時間幅の
    データ列と、前記理想信号生成手段が生成した理想信号
    が含む前記所定時間幅のデータ列とを比較して、前記再
    生信号生成手段が出力する前記所定時間幅のデータ列の
    波形パターンを判断する波形パターン判断手段と、 前記波形パターン判断手段が判断した波形パターンのマ
    ークの長さ、スペースの長さに対応した誤差量パラメー
    タを算出し、これに基づいて波形補償量を決定する波形
    補償量決定手段と、 を有することを特徴とする請求項１に記載される光ディ
    スク装置。
  5. 【請求項５】 同心円状又は螺旋状の記憶領域を有する
    光ディスクへデータを記録する光ディスク装置におい
    て、 前記光ディスクを所定回転数で回転する回転手段と、 前記回転手段が回転する光ディスク上にレーザビームを
    照射し、この反射波の波形パターンに応じた所定時間幅
    のデータ列を含む再生信号を生成する再生信号生成手段
    と、 外部から受けた記録データに基づいて、前記所定時間幅
    のデータ列に対応した前記所定時間幅でのデータ列を含
    む理想信号を生成する理想信号生成手段と、 前記再生信号生成手段が生成した再生信号が含む前記所
    定時間幅のデータ列と、前記理想信号生成手段が生成し
    た理想信号が含む前記所定時間幅のデータ列とを比較し
    て、この比較結果に基づき、波形補償量を決定する波形
    補償量決定手段と、 前記外部から受けた記録データに所定処理を施した記録
    信号により、前記波形補償量決定手段が決定した前記波
    形補償量に基づいて、記録波形パルスを生成する記録波
    形生成手段と、 前記記録波形生成手段が生成する前記記録波形パルスに
    応じてレーザビームを発生し、これを前記光ディスクの
    記憶領域に照射して前記記録データを記録する記録手段
    と、 を具備することを特徴とする光ディスク装置。
  6. 【請求項６】 同心円状又は螺旋状の記憶領域を有する
    光ディスクへデータを記録する光ディスク装置におい
    て、 前記光ディスクを所定回転数で回転する回転手段と、 前記回転手段が回転する光ディスク上にレーザビームを
    照射し、この反射波の波形パターンに応じた所定時間幅
    のデータ列を含む再生信号を生成する再生信号生成手段
    と、 事前に用意された参照レベルデータに基づいて、前記所
    定時間幅をもつデータ列に対応した前記所定時間幅のデ
    ータ列を含む理想信号を供給する理想信号供給手段と、 前記再生信号生成手段が生成した再生信号が含む前記所
    定時間幅のデータ列と、前記理想信号供給手段から供給
    された前記理想信号が含む前記所定時間幅のデータ列と
    を比較して、この比較結果に基づき、波形補償量を決定
    する波形補償量決定手段と、 外部から受けた記録データに所定処理を施した記録信号
    により、前記波形補償量決定手段が決定した前記波形補
    償量に基づいて、記録波形パルスを生成する記録波形生
    成手段と、 前記記録波形生成手段が生成する前記記録波形パルスに
    応じてレーザビームを発生し、これを前記光ディスクの
    記憶領域に照射して前記記録データを記録する記録手段
    と、 を具備することを特徴とする光ディスク装置。
  7. 【請求項７】 同心円状又は螺旋状の記憶領域を有する
    光ディスクへデータを記録する光ディスク装置におい
    て、 前記光ディスクを所定回転数で回転する回転手段と、 前記回転手段が回転する光ディスク上にレーザビームを
    照射し、この反射波の波形パターンに応じた所定時間幅
    のデータ列を含む再生信号を生成する再生信号生成手段
    と、 前記再生信号生成手段が生成した再生信号が含む所定時
    間幅のデータ列に対応した、前記所定時間幅でのデータ
    列を含む理想信号を生成する理想信号生成手段と、 前記再生信号生成手段が生成した再生信号が含む前記所
    定時間幅のデータ列と、前記理想信号生成手段が生成し
    た理想信号が含む前記所定時間幅のデータ列とを比較し
    て、前記再生信号生成手段が出力する前記所定時間幅の
    データ列の波形パターンの先行スペース長とマーク長及
    び後続スペース長とマーク長を判断する波形パターン判
    断手段と、 前記波形パターン判断手段が判断した波形パターンの先
    行スペース長とマーク長及び後続スペース長とマーク長
    に対応した誤差量パラメータを算出し、これに基づいて
    波形補償量を決定する波形補償量決定手段と、 外部から受けた記録データに所定処理を施し、前記波形
    補償量決定手段が決定した前記波形補償量に基づいて、
    記録波形パルスを生成する記録波形生成手段と、 前記記録波形生成手段が生成する前記記録波形パルスに
    応じてレーザビームを発生し、これを前記光ディスクの
    記憶領域に照射して前記記録データを記録する記録手段
    と、 を具備することを特徴とする光ディスク装置。
  8. 【請求項８】 同心円状又は螺旋状の記憶領域を有する
    光ディスクへデータを記録する光ディスク記録方法にお
    いて、 光ディスク上にレーザビームを照射し、この反射波の波
    形パターンに応じた所定時間幅のデータ列を含む再生信
    号を生成する再生信号生成工程と、 前記再生信号生成工程にて生成した再生信号が含む前記
    所定時間幅のデータ列に対応した、前記所定時間幅での
    データ列を含む理想信号を生成する理想信号生成工程
    と、 前記再生信号生成工程にて生成した再生信号が含む前記
    所定時間幅のデータ列と、前記理想信号生成工程にて生
    成した理想信号が含む前記所定時間幅のデータ列とを比
    較して、この比較結果に基づき、波形補償量を決定する
    波形補償量決定工程と、 外部から受けた記録データに所定処理を施し、前記波形
    補償量決定工程にて決定した前記波形補償量に基づい
    て、記録波形パルスを生成する記録波形生成工程と、 前記記録波形生成工程にて生成する前記記録波形パルス
    に応じてレーザビームを発生し、これを前記光ディスク
    の記憶領域に照射して前記記録データを記録する記録工
    程と、 を具備することを特徴とする光ディスク記録方法。
  9. 【請求項９】 同心円状又は螺旋状の記憶領域を有する
    光ディスクへデータを記録する光ディスク記録方法にお
    いて、 光ディスク上にレーザビームを照射し、この反射波の波
    形パターンに応じた所定時間幅のデータ列を含む再生信
    号を生成する再生信号生成工程と、 外部から受けた記録データに基づいて、前記所定時間幅
    のデータ列に対応した前記所定時間幅でのデータ列を含
    む理想信号を生成する理想信号生成工程と、 前記再生信号生成工程にて生成した再生信号が含む前記
    所定時間幅のデータ列と、前記理想信号生成工程にて生
    成した理想信号が含む前記所定時間幅のデータ列とを比
    較して、この比較結果に基づき、波形補償量を決定する
    波形補償量決定工程と、 前記外部から受けた記録データに所定処理を施した記録
    信号により、前記波形補償量決定工程にて決定した前記
    波形補償量に基づいて、記録波形パルスを生成する記録
    波形生成工程と、 前記記録波形生成工程にて生成する前記記録波形パルス
    に応じてレーザビームを発生し、これを前記光ディスク
    の記憶領域に照射して前記記録データを記録する記録工
    程と、 を具備することを特徴とする光ディスク記録方法。
  10. 【請求項１０】 同心円状又は螺旋状の記憶領域を有す
    る光ディスクへデータを記録する光ディスク記録方法に
    おいて、 光ディスク上にレーザビームを照射し、この反射波の波
    形パターンに応じた所定時間幅のデータ列を含む再生信
    号を生成する再生信号生成工程と、 事前に用意された参照レベルデータに基づいて、前記所
    定時間幅のデータ列に対応した前記所定時間幅でのデー
    タ列を含む理想信号を生成する理想信号生成工程と、 前記再生信号生成工程にて生成した再生信号が含む前記
    所定時間幅のデータ列と、前記理想信号生成工程にて生
    成した理想信号が含む前記所定時間幅のデータ列とを比
    較して、この比較結果に基づき、波形補償量を決定する
    波形補償量決定工程と、 外部から受けた記録データに所定処理を施した記録信号
    により、前記波形補償量決定工程にて決定した前記波形
    補償量に基づいて、記録波形パルスを生成する記録波形
    生成工程と、 前記記録波形生成工程にて生成する前記記録波形パルス
    に応じてレーザビームを発生し、これを前記光ディスク
    の記憶領域に照射して前記記録データを記録する記録工
    程と、 を具備することを特徴とする光ディスク記録方法。
  11. 【請求項１１】 同心円状又は螺旋状の記憶領域を有す
    る光ディスクへデータを記録する光ディスク記録方法に
    おいて、 光ディスク上にレーザビームを照射し、この反射波の波
    形パターンに応じた所定時間幅のデータ列を含む再生信
    号を生成する再生信号生成工程と、 事前に用意された参照レベルデータに基づいて、前記所
    定時間幅のデータ列に対応した前記所定時間幅でのデー
    タ列を含む理想信号を生成する理想信号生成工程と、 前記再生信号生成工程にて生成した再生信号が含む前記
    所定時間幅のデータ列と、前記理想信号生成工程にて生
    成した理想信号が含む前記所定時間幅のデータ列とを比
    較して、前記再生信号生成手段が出力する前記所定時間
    幅のデータ列の波形パターンの先行スペース長とマーク
    長及び後続スペース長とマーク長を判断する波形パター
    ン判断工程と、 前記波形パターン判断工程が判断した波形パターンの先
    行スペース長とマーク長及び後続スペース長とマーク長
    に対応した誤差量パラメータを算出し、これに基づいて
    波形補償量を決定する波形補償量決定工程と、 前記外部から受けた記録データに所定処理を施した記録
    信号により、前記波形補償量決定工程にて決定した前記
    波形補償量に基づいて、記録波形パルスを生成する記録
    波形生成工程と、 前記記録波形生成工程にて生成する前記記録波形パルス
    に応じてレーザビームを発生し、これを前記光ディスク
    の記憶領域に照射して前記記録データを記録する記録工
    程と、 を具備することを特徴とする光ディスク記録方法。
  12. 【請求項１２】 同心円状又は螺旋状の記憶領域を有す
    る光ディスク媒体であって、請求項１乃至７の少なくと
    も１つに記載される光ディスク装置の前記波形補償量決
    定手段により決定された波形補償量に基づいて生成され
    た前記記録波形により、所定データが記録されることを
    特徴とする光ディスク。
  13. 【請求項１３】 同心円状又は螺旋状の記憶領域を有す
    る光ディスクに記録されたデータを再生する光ディスク
    再生装置において、 請求項１乃至７の少なくとも１つに記載される光ディス
    ク装置の前記波形補償量決定手段により決定された波形
    補償量に基づいて生成された前記記録波形により所定デ
    ータが記録されることを特徴とする光ディスクを所定回
    転数で回転する回転手段と、 前記回転手段が回転する光ディスク上にレーザビームを
    照射し、前記所定データを検出する検出手段と、 前記検出手段が検出した前記所定データに所定処理を施
    して再生する再生手段と、 を具備することを特徴とする光ディスク再生装置。
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