JP4395433B2 - 光情報記録装置および方法および信号処理回路 - Google Patents

Description

この発明は、光情報記録装置および方法および信号処理回路に関し、特に、干渉が生じやすい信号の長さズレ量の検出に有効な光情報記録装置および方法および信号処理回路に関する。

光ディスク等の光情報録媒体への情報記録は、記録データをＥＦＭ(Eight to Fourteen Modulation)方式や８−１６変調方式等で変調し、この変調信号に基づき記録パルスを形成し、この記録パルスに基づいてレーザ光の強度や照射タイミングを制御し、光ディスク上に記録ピットを形成することにより行われる。

ここで、記録ピットの形成は、レーザ光の照射により生ずる熱を利用して行われるため、記録パルスは、蓄熱効果や熱干渉等を考慮した設定が要求される。そこで、従来から、記録パルスを構成する各種パラメータの設定を光ディスクの種類ごとにストラテジという形で複数定義し、これらストラテジのうち当該記録環境に最適なものを選択して、光ディスクに対する記録を行っていた。

このストラテジは、例えば、ピックアップのスポット径ばらつき、機構精度ばらつき等の光情報記録装置の個体差に依存するだけでなく、記録再生に使用する光ディスクのメーカ種別および記録スピードにも依存するため、最適ストラテジを設定することが記録品位の向上になる。

このため、各メーカ種別に対応する光ディスクの最適ストラテジを求めて、これを各メーカ種別に対応して予めメモリに記憶し、光ディスクに対する情報の記録に際しては、光ディスクに記録されている光ディスクのメーカ種別を読み取り、この読み取ったメーカ種別に対応する最適ストラテジを上記メモリから読み出して使用する手法が提案されている。

しかし、上記手法によると、メモリに予め記憶されたメーカ種別の光ディスクに対しては最適記録が可能になるが、メモリに記憶されていないメーカ種別の光ディスクに対しては最適記録を行うことができず、また、メモリに予め記憶されたメーカ種別の光ディスクであっても記録スピードが異なると、この場合も最適記録を行うことができない。

そこで、特許文献１乃至４に示されるように、記録条件毎に予めテスト記録を行い、このテスト記録に基づき最適ストラテジを決定することで各種光ディスクに対応できるようにした手法も多数提案されている。しかし、特許文献１乃至４に示された手法では、情報記録を開始する前にテスト記録を行う必要があるため、記録と同時にストラテジを補正することができず、内外周の最適条件が異なる場合への対応が困難である。

この課題、即ち、光ディスクは内周部から外周部にかけて若干記録特性が異なり、記録装置側でも内周部と外周部で記録速度が異なる場合があるため、記録品位に内外差が生じるという課題を解決する手法として、内外差をレーザ出力の調整によって緩和する技術が特許文献５に示されている。この特許文献５には、補助ビームの光量変化を検出することによって自動的にレーザ出力の最適化を行う手法が開示されており、この種の手法はＯＰＣと称される。

上記のようなＯＰＣは、パワーを調整する手法であるため、アシンメトリ値等の統計的な指標で補正条件を求めることができるため、記録しながら補正を行うリアルタイム補正も可能であるが、パルス幅やパルスの位相条件を補正する場合は、記録パルスと光ディスク上に形成されたピットとのずれ量を検出する必要があるため、従来のＯＰＣでは対応が困難である。

よって、パルス条件のリアルタイム補正を行うためには、記録と同時にピットおよびスペースの位置や長さを検出する技術が必要になる。これに対する一つのアプローチとして、記録場所とほぼ同一場所を再生する技術が特許文献６に開示されている。しかし、この手法は、光磁気記録には適用可能であるが、磁気を用いない光記録に対しては適用が困難である。即ち、光磁気記録では、磁気の変調によって情報の記録が行われるため、レーザの出力は無変調になるが、光記録では、レーザの出力変調によって情報の記録が行われるため、この変調の影響が再生側に及ぶという課題が生じる。

この課題を解決する手法としては、特許文献７乃至１０に示された手法が知られている。特許文献７は、未記録エリア及び記録エリアに別個のビームを照射し、得られた別々の信号同士で除算することによって再生信号を取り出す技術であり、この手法によれば、情報の記録時にレーザの光強度変調による再生信号波形の崩れを補正することができる。

また、特許文献８は、変調を受けた出力をＡＧＣ（Ａｕｔｏ Ｇａｉｎ Ｃｏｎｔｒｏｌ）によって適宜増幅されたレーザ出力と逆相クロックで相殺することによって再生信号を得る技術である。

また、特許文献９は、記録パルスの波形変動に伴う再生信号の歪みを、当該記録パルスの波形変動に相当する信号を遅延反転等価回路により作成し相殺することによってキャンセルする技術である。

これら特許文献７乃至９に示された手法は、いずれも演算によって変調成分をキャンセルする技術であり、理論上は相殺可能と考えられるが、相殺の精度や演算速度の点で実用化には各種の課題が残る。

また、特許文献１０は、記録に用いられるパルスを遅延した遅延パルス、及び被変調信号を反転したゲート信号を用い、再生パルスと共に位相比較器に入れることによって、記録状態のずれをリアルタイムに検出する技術である。

しかし、この特許文献１０に開示された手法では、記録パルスがＯＦＦの時にピットの再生を行っているため、サブビームの出力が低い場合には、十分な品位の再生信号を得ることが困難である。特に、再生用のサブビームを記録用のメインビームから分岐して生成する構成においては、分岐比率が２０：１や３０：１になると、サブビームに十分な出力を割り当てることが困難となる。

即ち、特許文献１０の分岐比率は８：１であるが、記録速度の高速化に伴ってこの分岐比が大きくなる傾向にあり、また、記録パルスのＯＦＦ時のビーム出力は、通常１ｍＷ以下であるため、記録パルスＯＦＦ時に検出できる記録面反射光の強度は非常に小さくなってしまう。検出できる光の強度が弱くなると、回路ノイズ、メディアノイズ等の影響を受けやすくなるため、結果として良好な検出信号が得られなくなる。

一方で、光ディスク上に記録されたピットおよびスペースの長さを検出する方法としては、再生ＲＦ信号の積分値を利用する積分検出方式と、ＲＦ信号の１回微分値を利用する振幅検出方式と、ＲＦ信号の２回微分値を利用するピーク検出方式が知られている。

しかし、比較的波長の短いレーザ光を用いて再生動作を行う光記録装置においては、低密度記録された光メディアではスポットとピットの干渉が起きないため、ＲＦ信号の積分検出方式で長さ情報を検出することは困難である。

また、ＲＦ信号の１回微分値を利用する手法では、記録速度の変化に伴って記録パワーが変化すると、同じスライスレベルで２値化した信号は、同じ長さのピットおよびスペースを検出した結果であるにも拘わらず異なる長さとして検出される。この課題を解決するために、記録速度に応じてスライスレベルを変化させる手段も考えられるが記録速度ごとに適切なスライスレベルを設定することは困難である。

また、ＲＦ信号の２回微分値を利用するピーク検出方式としては、例えば特許文献１１に示された手法が知られている。この特許文献１１に記載された手法は、光メディアの回転方向に対して光学的に垂直な分割線により区画された２つの領域を有する光ディテクタの差信号、いわゆるタンジェンシャルプッシュプル信号を微分することによって、ＲＦ信号を２回微分した値と等価の信号を生成し、この信号を利用することによってピットのエッジ位置の検出を可能としている。

しかし、この特許文献１１に記載された手法で、光密度型の光メディア、例えばＤＶＤクラスのメディアに記録されたピットおよびスペースの検出を行うと、干渉が生じ易い３Ｔや４Ｔといった短いピットおよびスペースのタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値に誤差が生じ、本来のピットおよびスペース長とは異なる値が検出される。
特開平５−１４４００１号公報 特開平４−１３７２２４号公報 特開平５−１４３９９９号公報 特開平７−２３５０５６号公報 特開昭５３−０５０７０７号公報 特開昭５１−１０９８５１号公報 特開平１−２８７８２５号公報 特開平７−１２９９５６号公報 特開２００４−２２０４４号公報 特開平９−１４７３６１号公報 国際公開ＷＯ９６／２４１３０号公報

そこで、本発明は、干渉が生じやすい信号の長さズレ量の検出に有効な手法を提供するとともに、この手法を記録と同時に補正を行うリアルタイム補正に適用することを目的とする。

上記目的を達成するため、請求項１記載の発明は、レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置において、前記光記録メディアのテスト領域内に形成されたピットおよび／またはスペースを再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める手段と、前記光記録メディアの記録領域内に形成したピットおよび／またはスペースを再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める手段と、前記テスト領域内で求めた２回微分相当値と前記記録領域内で求めた２回微分相当値とを比較し、前記記録領域内で求めた２回微分相当値が前記テスト領域内で求めた２回微分相当値に一致するように前記記録パルスを補正する手段とを具備することを特徴とする。

ここで、２回微分相当値としては、再生したＲＦ信号を２回微分して求めた値であっても、タンジェンシャルプッシュプル信号を１回微分して求めた値であっても良い。

このように、テスト領域で求めた２回微分相当値と記録領域で求めた２回微分相当値とを比較することで、メディアの記録密度が高密度である場合に干渉が生じ易い３Ｔや４Ｔの信号に対しても正確な長さズレを検出することができる。

また、請求項２記載の発明は、記録用レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースを形成すると同時に、再生用レーザ光の照射により前記ピットおよび／またはスペースの検出を行う光情報記録装置において、前記光記録メディアのテスト領域内に形成されたピットおよび／またはスペースを再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める手段と、前記光記録メディアの記録領域内に前記記録用レーザ光を用いて形成したピットおよび／またはスペースを前記再生用レーザ光を用いて再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める手段と、前記テスト領域内で求めた２回微分相当値と前記記録領域内で求めた２回微分相当値とを比較し、前記記録領域内で求めた２回微分相当値が前記テスト領域内で求めた２回微分相当値に一致するように前記記録パルスを補正する手段とを具備することを特徴とする。

このように、記録用レーザ光で形成したピットを再生用レーザ光で検出することで、２回微分相当値を利用した長さズレのリアルタイム補正が可能となり、その結果、メディアの記録品位の内外周差への対応が図られる。

また、請求項３記載の発明は、レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアに長さの異なる複数種のピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、前記光記録メディアのテスト領域内に形成されたピットおよびスペースを再生し、その結果得られた前記長さの異なる複数種のピット信号のそれぞれに対する２回微分相当値を求める手段と、前記光記録メディアの記録領域内に形成したピットおよびスペースを再生し、その結果得られた前記長さの異なる複数種のピット信号のそれぞれに対する２回微分相当値を求める手段と、前記テスト領域内で求めた各ピット長に対する２回微分相当値と前記記録領域内で求めた各ピット長に対する２回微分相当値とを比較し、前記記録領域内で求めた２回微分相当値が前記テスト領域内で求めた２回微分相当値に一致するように前記記録パルスを補正する手段とを具備することを特徴とする。

このように各ピット長ごとに２回微分相当値を求め、テスト領域の得た値と記録領域で得た値とをそれぞれ比較することで、各ピット長および各スペース長に対する長さズレの影響を検出することができるため、長さに応じた的確な補正を行うことができる。尚、ピット長のバリエーションとしては、例えばＤＶＤの場合は、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔ、７Ｔ、８Ｔ、９Ｔ、１０Ｔ、１１Ｔ、１４Ｔが用いられる。

また、請求項４記載の発明は、レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアに長さの異なる複数種のピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、前記光記録メディアのテスト領域内に形成されたピットおよびスペースを再生し、その結果得られた前記長さの異なる複数種のスペース信号のそれぞれに対する２回微分相当値を求める手段と、前記光記録メディアの記録領域内に形成したピットおよびスペースを再生し、その結果得られた前記長さの異なる複数種のスペース信号のそれぞれに対する２回微分相当値を求める手段と、前記テスト領域内で求めた各スペース長に対する２回微分相当値と前記記録領域内で求めた各スペース長に対する２回微分相当値とを比較し、前記記録領域内で求めた２回微分相当値が前記テスト領域内で求めた２回微分相当値に一致するように前記記録パルスを補正する手段とを具備することを特徴とする。

このように各スペース長ごとに２回微分相当値を求め、テスト領域の得た値と記録領域で得た値とをそれぞれ比較することで、各ピット長および各スペース長に対する長さズレの影響を検出することができるため、長さに応じた的確な補正を行うことができる。尚、スペース長のバリエーションとしては、例えばＤＶＤの場合は、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔ、７Ｔ、８Ｔ、９Ｔ、１０Ｔ、１１Ｔ、１４Ｔが用いられる。

また、請求項５記載の発明は、レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置において、前記光記録メディアを回転させる手段と、前記光記録メディアの回転方向に対して前後に区画された少なくとも２つの受光領域を有する光ディテクタと、前記２つの受光領域から得られた各信号の差分を求める手段と、前記差分を微分する手段と、前記光記録メディアに設けられたテスト領域内で前記微分値を求める手段と、前記光記録メディアに設けられた記録領域内で前記微分値を求める手段と、前記テスト領域内で求めた微分値と前記記録領域内で求めた微分値とを比較し、前記記録領域内で求めた微分値が前記テスト領域内で求めた微分値に一致するように前記記録パルスを補正する手段とを具備することを特徴とする。

このように、回転方向に分割された２つの受光領域から得られた信号の差分、いわゆるタンジェンシャルプッシュプル信号を利用することも可能である。

また、請求項６記載の発明は、記録用レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースを形成すると同時に、再生用レーザ光の照射により前記ピットおよび／またはスペースの検出を行う光情報記録装置において、前記光記録メディアを回転させる手段と、前記光記録メディアの回転方向に対して前後に区画された少なくとも２つの受光領域を有する光ディテクタと、前記２つの受光領域から得られた各信号の差分を求める手段と、前記差分を微分する手段と、前記光記録メディアに設けられたテスト領域内で前記微分値を求める手段と、前記再生用レーザ光を用いて前記光記録メディアに設けられた記録領域内で前記微分値を求める手段と、前記テスト領域内で求めた微分値と前記記録領域内で求めた微分値とを比較し、前記記録領域内で求めた微分値が前記テスト領域内で求めた微分値に一致するように前記記録パルスを補正する手段とを具備することを特徴とする。

また、請求項７記載の発明は、レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録方法において、前記光記録メディアのテスト領域内に形成されたピットおよび／またはスペースを再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める工程と、前記光記録メディアの記録領域内に形成したピットおよび／またはスペースを再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める工程と、前記テスト領域内で求めた２回微分相当値と前記記録領域内で求めた２回微分相当値とを比較し、前記記録領域内で求めた２回微分相当値が前記テスト領域内で求めた２回微分相当値に一致するように前記記録パルスを補正する工程とを具備することを特徴とする。

また、請求項８記載の発明は、レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置に組み込まれる信号処理回路において、前記光記録メディアのテスト領域内に形成されたピットおよび／またはスペースを再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める手段と、前記光記録メディアの記録領域内に形成したピットおよび／またはスペースを再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める手段と、前記テスト領域内で求めた２回微分相当値と前記記録領域内で求めた２回微分相当値とを比較し、前記記録領域内で求めた２回微分相当値が前記テスト領域内で求めた２回微分相当値に一致するように前記記録パルスを補正する手段とを具備することを特徴とする。

以上説明したように、本発明によれば、干渉が生じやすい信号の長さズレを精度良く検出することができるため、より高精度なリアルタイム補正が可能になる。

以下、本発明に係る光情報記録装置について添付図面を参照して詳細に説明する。尚、本発明は、以下説明する実施形態に限らず適宜変更可能である。

図１は、本発明に係るドライブの内部構成を示すブロック図である。同図に示すように、このドライブ１００は、レーザダイオード１１０から出力されたレーザ光を用いて、光ディスク５００に対する情報の記録再生を行い、パーソナルコンピュータ６００等の外部装置との間でデータの送受信を行う。

光ディスク５００に対して情報の記録を行う場合は、パーソナルコンピュータ６００からインターフェース回路２１８を介して受信した記録データをＥＦＭエンコーダ／デコーダ２１６で符号化し、この符号化した記録データをＣＰＵ２１２で処理することで、当該光ディスク５００に対する記録条件となるストラテジを決定し、このストラテジをパルス生成回路３００で記録パルスに変換し、この記録パルスをＬＤドライバ１２４に出力する。

ＬＤドライバ１２４は、入力された記録パルスに基づいてレーザダイオード１１０を駆動し、レーザダイオード１１０は、この記録パルスに対応して出力レーザ光を制御し、この制御されたレーザ光をコリメータレンズ１１２、回折格子１１４、ハーフミラー１１６、対物レンズ１１８を介して、線速一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク５００に照射し、これにより光ディスク５００に、所望の記録データに対応したピット、スペース列からなる記録パターンが記録される。

一方、光ディスク５００上に記録された情報の再生を行う場合は、レーザダイオード１１０から再生レーザ光がコリメータレンズ１１２、回折格子１１４、ハーフミラー１１６、対物レンズ１１８を介して、光ディスク１０に照射される。

この時、再生レーザ光は、記録時のレーザ光よりも強度の低いレーザ光が用いられ、この再生レーザ光による光ディスク５００からの反射光が対物レンズ１１８、ハーフミラー１１６、受光レンズ１２０を介してディテクタ１２２で受光され、電気信号に変換される。

ディテクタ１２２から出力される電気信号は、光ディスク５００に記録されたピット、スペースからなる記録パターンに対応しており、この電気信号がスライサ２１０で２値化され、さらにＥＦＭエンコーダ／デコーダ２１６で、デコードされて再生信号として出力される。

図２は、図１に示したドライブ内に組み込まれるピックアップ部の構造を示す分解斜視図である。同図に示すように、レーザダイオード１１０と光ディスク５００の盤面との間に設けられた回折格子は、２枚の回折格子１１４−１、１１４−２で構成され、各回折格子には、方向の異なる溝１１５−１、１１５−２がそれぞれ形成される。

このように構成される回折格子にレーザ光２０が入射すると、第１の回折格子１１５−１で３つのレーザ光に分岐し、さらに、第２の回折格子１１５−２で３つのレーザ光に分岐して、５つのスポット２０Ａ〜２０Ｅが光ディスクの盤面に照射される。

図３は、光ディスクの盤面上に照射されたスポットの配置を示す平面図である。同図に示すように、光ディスク５００の盤面上には、記録用メインビーム２０Ａ、トラッキング用先行サブビーム２０Ｂ、トラッキング用後行サブビーム２０Ｃ、再生用先行サブビーム２０Ｄ、再生用後行サブビーム２０Ｅが照射される。

ここで、記録用メインビーム２０Ａは、光ディスク５００に形成されたグループ５０２−２上に照射され、このビームスポットの照射によって、グルーブ５０２−２内にピット５０６が形成される。この記録用メインビーム２０Ａは、ヒートモードによるピットの形成を可能とするために最も発光強度が高く設定される。

トラッキング用先行サブビーム２０Ｂは、メインビーム２０Ａが照射されたグルーブ５０２−２と隣接するランド５０４−３上に照射され、トラッキング用後行サブビーム２０Ｃは、メインビーム２０Ａが照射されたグルーブ５０２−２と隣接するランドであって、サブビーム２０Ｂが照射されたランドとは反対側のランド５０４−２に照射される。

再生用先行サブビーム２０Ｄは、メインビーム２０Ａが照射されたグルーブと同一のグルーブ５０２−２上であって、メインビーム２０Ａよりも先行した位置に照射され、再生用後行サブビーム２０Ｅは、メインビーム２０Ａが照射されたグルーブと同一のグルーブ５０２−２上であって、メインビーム２０Ａよりも後ろの位置に照射される。

各スポットをこのように配置することで、メインビーム２０Ａによって形成された記録パターン、即ち、ピット５０６とスペース５０８の組み合わせで構成される記録パターンを再生用後行サブビーム２０Ｅで検出することが可能になる。

図４は、光ディスクの盤面上に照射されるスポットとディテクタとの関係を示す概念図である。同図に示すように、図１に示したディテクタ１２２は、１２２Ａ〜１２２Ｅまでの５つの受光部で構成され、各受光部には、スポット２０Ａ〜２０Ｅに対応する反射光２２Ａ〜２２Ｅがそれぞれ照射され、電気信号に変換される。

図５は、記録パルスの形状と安定領域との関係を示す概念図である。同各図に示すように、図１に示したＬＤドライバ１２４から出力される記録パルスには、様々な形状があり、それぞれ、記録パルスのＯＮ状態を示す高出力領域５０と、ＯＦＦ状態を示す低出力領域５２と、ＯＮ状態であって変調が少ない定出力領域５４とを備える。

より具体的には、同図（ａ）は、ＯＮ状態で一定の出力となる記録パルスであり、同図（ｂ）は、先頭部と後続部で高さが異なる記録パルスであり、同図（ｃ）は、先頭部、中間部、後端部で高さが異なる記録パルスであり、同図（ｄ）は、先頭部に定出力部が形成された後、後続部で出力を数回変化させた記録パルスである。

本発明では、記録パルスがＯＮとなった状態で、再生信号を取り込むことを意図しているため、後述するゲート信号は、高出力領域５０に対応させて生成することが望ましいが、より望ましくは、変調の影響を受けにくい定出力領域５４に対応させて生成する。この定出力領域５４は、便宜上、高出力領域５０の中で最も安定した状態の長い区間と定義するが、安定状態が最も長い区間よりも短い安定領域であっても、定出力領域として使用することが可能である。尚、以後の説明では、同図（ｃ）のキャッスル型と称されるパルス形状を例に説明するが、本発明は、他の記録パルスにも適用可能である。

例えば、同図に示すような相変化型の光ディスクで用いられる記録パワーに適用する場合には、高出力と低出力との繰り返しにより相変化材料が急冷されてアモルファス（非結晶）状態となる高出力領域５０と、メインビームでサーボがかかる程度の０．７〜１ｍＷ程度のパワーが出力される低出力領域５２と、ゆっくり冷却されて結晶状態になる定出力領域５４とで構成される記録パルスのうち、消去パワーに相当する定出力領域５４に対応させてゲート信号を生成し、この定出力領域５４にサブビームで再生された信号を取り込む構成とすれば良い。

図６は、図１に示したパルス生成回路の内部構成を示す回路ブロック図である。同図に示すように、本パルス生成回路３００では、図１のＣＰＵ２１２から送出されたストラテジ条件ＳＤ１、ＳＤ２をパルスユニット生成回路３１０−１、３１０−２でそれぞれ受信し、クロック信号ＣＬＫに同期したパルス信号ＰＷ１、ＰＷ２を生成する。

ここで、ストラテジ条件ＳＤ１、ＳＤ２は、パルスのＯＮ期間とＯＦＦ期間の長さをクロック数で示した数値データとして定義されており、これらのデータを受けたパルスユニット生成回路３１０−１、３１０−２は、ドライブ内で生成されたクロック信号ＣＬＫを用いて、ストラテジ条件ＳＤ１、ＳＤ２が示す条件のパルス信号を生成する。

これらのパルス信号ＰＷ１、ＰＷ２は、図１のＬＤドライバ１２４に出力されるとともに、ＡＮＤ演算器３１６でパルス信号ＰＷ１の反転信号とパルス信号ＰＷ２との論理積が取られ、ゲート信号Ｇａｔｅとして図１のマスク回路４００に出力される。尚、パルス信号ＰＷ１の反転信号は、反転回路３１４によって生成される。

図７は、図６に示したゲート信号の生成概念を示すタイミングチャートである。同各図に示すように、記録パルスの定出力領域に対応したゲート信号は、記録パルスの構成要素となるパルス信号ＰＷ１、ＰＷ２を用いて生成される。即ち、同図（ｂ）および（ｃ）に示すように、パルス信号ＰＷ１、ＰＷ２は、同図（ａ）のクロック信号ＣＬＫと同期して生成され、このパルス信号ＰＷ１から、同図（ｄ）に示す反転信号が生成される。

そして、同図（ｃ）のパルス信号ＰＷ２と同図（ｄ）に示す反転信号とのレベルを同各図に示すように定義して論理積を取ると、同図（ｅ）に示すゲート信号が得られる。その結果、このようにして得られたゲート信号は、記録パルスの定出力領域に対応したものとなる。

図８は、図１に示したＬＤドライバの内部構成を示す回路図である。同図に示すように、ＬＤドライバ１２４は、抵抗Ｒ１、Ｒ２を用いた分圧回路と、これらの出力電圧を合成する合成器１２６とで構成され、パルス生成回路３００からのパルス信号ＰＷ１、ＰＷ２は、抵抗Ｒ１、Ｒ２を介して所定の出力レベルに増幅された後、合成器１２６にて論理和合成され、記録パルスＰＷＲが生成されて、図１のレーザダイオード１１０に出力される。

図９は、図１に示したマスク回路の内部構成を示す回路ブロック図である。同図に示すように、マスク回路４００は、２つのＡＮＤ演算器４１０−１、４１０−２で構成され、初段のＡＮＤ演算器４１０−１には、図１のパルス生成回路３００で生成されたゲート信号Ｇａｔｅと、図１のＣＰＵ２１２で生成されたフラグ信号Ｆｌａｇとが入力され、これらの論理積を取ったゲート信号Ｇａｔｅ’が後段のＡＮＤ演算器４１０−２に出力される。

ＡＮＤ演算器４１０−２は、このゲート信号Ｇａｔｅ’を用いて、図４のディテクタ１２２Ｅが出力する再生用後行サブビーム２０Ｅで再生されたＲＦ信号ＲＦ−Ｓｕｂにマスクをかけ、ゲート信号Ｇａｔｅ’に対応した部分のＲＦ信号ＲＦ−Ｓｕｂ’を抽出して、図１のスライサ２１０に出力する。その結果、記録パルスの定出力領域で再生されたＲＦ信号ＲＦ−Ｓｕｂ’が選択的に抽出されるため、精度の高いピット検出が行われる。

そして、この検出されたピットの長さや位相情報に基づいて、図１のＣＰＵ２１２がストラテジの補正条件を算出し、パルス生成回路３００に出力するストラテジ条件に補正をかける。その結果、データの記録中に記録条件が補正されるリアルタイム補正が行われる。

図１０は、記録パルスとゲートパルスと再生信号との関係を示すタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、記録パルスＰＷＲは、所定のデータパターンに対応してＯＮ／ＯＦＦが変化するパルスパターンとなる。ここで、最も長い無変調領域を有するピット１４Ｔの定出力領域５４をゲート信号として使用する場合を想定すると、図１のパルス回路３００で生成されるゲート信号Ｇａｔｅは、同図（ｂ）に示すタイミングで出力され、図１のＣＰＵ２１２で生成されるフラグ信号Ｆｌａｇは、同図（ｃ）に示すタイミングで出力され、図９のマスク回路４００内で生成されるゲート信号Ｇａｔｅ’は、同図（ｄ）に示すタイミングで出力され、このゲート信号Ｇａｔｅ’を用いて同図（ｅ）のＲＦ−Ｓｕｂ信号を抽出した結果が同図（ｆ）のＲＦ−Ｓｕｂ’信号となる。

このように、最終的に抽出された再生信号ＲＦ−Ｓｕｂ’は、記録パルスＰＷＲの定出力領域５４で再生された信号であるため、この信号を用いることで高精度なピットの検出が可能となり、ひいてはストラテジの正確な補正が可能となる。

図１１は、図１に示したＣＰＵが実行するフラグ信号の生成手法を示す概念図である。同図に示す例は、ピット１４Ｔの定出力領域内に存在するスペース４Ｔを選択的に検出する場合の例である。同図に示すように、ＣＰＵ２１２は、記録パルスのデータ長に対応する数値を順次メモリ２１４に蓄積し、ピット１４Ｔ（同図中、「Ｐ１４」と示す）の定出力領域内にスペース４Ｔ（同図中、「Ｌ４」と示す）が存在するデータを特定し、この特定したピット１４Ｔのデータにフラグを立てる。

ここで、記録用のメインビームと再生用のサブビームとの時間差をτと定義すると、ＣＰＵ２１２は、時間差τをクロック数で換算し、ピット１４Ｔからスペース４Ｔまでの間に存在するデータ長を時間差τと比較する。その結果、ピット１４Ｔから時間差τ離れた領域であって、かつ、このピット１４Ｔの定出力領域に相当する範囲内にスペース４Ｔのデータが存在していれば、当該ピット１４Ｔにフラグを立て、図１０に示したタイミングでフラグ信号Ｆｌａｇを出力する。

図１２は、記録用のメインビームと再生用のサブビームとの関係を示すタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、記録用メインビームの出力は、ピットの形成に必要な高出力のパルスパターンとなり、このパルス照射によって光ディスク上に形成されたピットパターンは、同図（ｂ）に示すようになる。

一方、同図（ｃ）に示すように、再生用サブビームの出力は、記録用メインビームの出力パターンと同一のタイミングであって、記録用メインビームよりも分岐比率分だけ出力が縮小されたパルスパターンとなり、この再生用サブビームで再生されるピットパターンは、同図（ｄ）に示すように、記録中のピットから時間差τだけ遅れたパターンとなる。

従って、ピット１４Ｔの記録中に再生されたスペース４Ｔを検出する場合には、同図（ｅ）に示すように、記録パルスのパターンを時間差τだけ遅延させたパルスのスペース４Ｔと、記録パルスのピット１４Ｔの定出力領域とが重なる位置を特定すれば良いことになる。即ち、記録パルスのうち長いピットの定出力領域から第１のゲート信号を生成するとともに、記録パルスを時間差τだけ遅延させたパルスパターンのうち、検出対象とする短いピットまたはスペースに相当するパルスから第２のゲート信号を生成し、これら第１および第２のゲート信号を用いて、再生用サブビームから得られたＲＦ信号にマスクをかける構成が有用となる。

図１３は、記録パルスと、該記録パルスを遅延させたパルスと、ＲＦ信号との関係を示すタイミングチャートである。同各図に示すように、記録パルスＰＷＲを時間τだけ遅延させたパルスＰＷＲ’を生成し、記録パルスＰＷＲのピット１４Ｔの定出力領域内に、遅延パルスＰＷＲ’のスペース４Ｔが含まれる部分をゲート信号Ｇａｔｅ’とすれば、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを選択的に検出することが可能になり、その結果、ピットの長さズレや位相ズレを正確に検出することができる。

図１４は、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の例を示したブロック図である。同図は、図１のＥＦＭエンコーダ／デコーダ２１６により、メインビームが１４Ｔピットを記録する間にサブビーム下に存在する４Ｔスペースを検出する場合の構成例である。

このように構成する場合、ＥＦＭエンコーダ／デコーダ２１６は、同図に示すように、図１のスライサ２１０から入力された８ビットの２値化信号を一旦バッファ２５０−１に蓄積し、このバッファから出力された８ビットデータを変換テーブル２５２に従って１６ビットのデータに変換してバッファ２５０−２に出力する。このとき、遅延器２５４による時間Ｔの遅延操作が一変換ごとに行われる。

バッファ２５０−２に蓄積されたデータは、カウンタ２５６に出力され、パルス長ｎＴ（ｎ＝３〜１４）を示すデータとして、図１に示すＣＰＵ２１２を経て、パルス生成回路３００に出力され、該当する記録パルスが生成される。

図１５は、図１４に示したカウンタ２５６と図１のパルス生成回路３００との関係を示すブロック図である。同図に示すように、カウンタ２５６は、バッファ２５０−２からパルス生成回路３００に向けて流れるデータストリームの中から、１４Ｔピットに相当するビット列を特定する１４Ｔデコーダ２５８と、４Ｔスペースに相当するビット列特定する４Ｔデコーダ２５９とを具備する。

図１６は、図１４に示したバッファ２５０−２がビット列を蓄積する際の例を示す概念図である。同図（ｃ）に示すように、バッファ２５０−２には、同図（ａ）に示すクロック信号と同期した形でピットまたはスペースの長さを示すデータが格納される。

例えば、３Ｔの長さは、「１００」で表現し、４Ｔの長さは「１０００」で表現し、５Ｔの長さは「１００００」で表現し、１４Ｔの長さは「１０００００００００００００」で表現する。

よって、同図（ｂ）に示すようなパルスが入力された場合には、バッファ２５０−２に格納されるビット列は、同図（ｃ）に示すように、４Ｔスペースに相当する部分が「１０００」となり、１４Ｔピットに相当する部分が「１０００００００００００００」となり、各々のパルス幅がビット数で表現された形式で蓄積される。

ここで、記録用のメインビームと再生用のサブビームとの間隔が３００ビットに相当する場合には、同図（ｃ）に示すように、バッファ２５０−２に蓄積されたビット列の中から、現在記録中の１４Ｔピットの位置を特定し、該１４Ｔピットから３００ビット離れた位置に４Ｔスペースのビット列があるか否かを判定する。

その結果、４Ｔスペースのビット列があった場合には、メインビームによる１４Ｔピットの記録中に、サブビームによって４Ｔスペースを検出することができるタイミングと判断し、このタイミングで得られた信号を用いてリアルタイム補正の条件を決定する。

図１７は、１４Ｔピットの記録中に検出対象となる４Ｔスペースのバリエーションを示す概念図である。同図（ａ）に示すように、１４Ｔピットの記録パルスが高出力の３Ｔパルスと、安定出力の９Ｔパルスと、高出力の２Ｔパルスとで構成される場合には、安定出力領域内に収まる４Ｔスペースが検出対象となる。

よって、１４Ｔパルスの中央部に出現した４Ｔスペースを抽出することが最も望ましいが、これでは出現確率が低くなるため、４Ｔスペースの両端が１４Ｔピットの安定出力領域をはみ出さない場合も抽出対象となるようにカウンタ回路を設けておく。

例えば、同図（ａ）に示した１４Ｔピットのパルスから、同図（ｂ）に示したゲート信号を生成し、このゲート信号の中に収まる同図（ｃ）のハッチで示した４Ｔスペースが特定できるデータパターンを用意しておき、このデータパターンに合致するビット列を抽出する。

図１８は、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の別の例を示したブロック図である。同図に示す例は、ある時間内で発生するパルス数を基準として、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースが存在するか否かを判定する例である。

同図に示した回路ブロックでは、スライサ２１０から出力された２値化信号ＳＬ ＲＦ−Ｓｕｂ’を反転回路４２０−１を介してＡＮＤ演算器４２２に入力するとともに、図１のパルス生成回路３００から出力されるゲート信号ＧａｔｅをＡＮＤ演算器４２２に入力する。

ＡＮＤ演算器４２２は、これら入力された信号の論理積をカウンタ４２４のセット端子に出力し、この信号を受けたカウンタ４２４は、反転回路４２０−２で反転されたゲート信号が示す区間内に生じたパルス数を計数し、その結果を判定信号Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ Ｅｎａｂｌｅとして、図１のＣＰＵ２１２に出力する。尚、反転回路４２０−２で反転されたゲート信号は、カウンタ４２４のリセット信号として使用される。

ＣＰＵ２１２は、この判定信号が示すパルス数が所定の数以上、例えば２回以上発生されたかを基準に１４Ｔピットの記録中に４Ｔスペースが存在するか否かを判定し、存在すると判定した場合に当該４Ｔスペースから得られた信号の取り込みを行う。

図１９は、図１８に示した回路ブロックの処理例を示すタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、スライサ２１０に入力された信号ＲＦ−Ｓｕｂ’は、あるレベルで２値化されて、同図（ｂ）に示すようなパルス信号ＳＬ ＲＦ−Ｓｕｂ’が生成される。

そして、図１に示したパルス生成回路３００にて同図（ｃ）および（ｄ）に示す信号から生成された同図（ｅ）に示すゲート信号Ｇａｔｅと、反転回路４２０−１にて生成された同図（ｆ）に示す反転信号との論理積が取られることで、同図（ｇ）に示す判定信号Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ Ｅｎａｂｌｅが生成される。

図２０は、図１８の回路ブロックにより生成された判定信号の判定基準を示す概念図である。同各図に示すように、この例では、同図（ａ）の区間内に２回以上のパルスをカウントした場合に、１４Ｔピットの記録中に１４Ｔの安定領域を示すゲート信号Ｇａｔｅ内に収まるスペース、例えば、３Ｔ〜７Ｔのスペースが存在すると判定され、この４Ｔスペースから得られた信号の取り込みが行われる。

よって、同図（ｂ）に示すように、ゲート信号内にパルスが２回カウント出来た場合は、１４Ｔピットの記録中に１４Ｔの安定領域を示すゲート信号Ｇａｔｅ内に収まるスペース、例えば、３Ｔ〜７Ｔのスペースが存在すると判定され、この４Ｔスペースから得られた信号が取り込まれる。他方、同図（ｃ）および（ｄ）に示すように、１回しかカウントできなかった場合は、１４Ｔピットの記録中に４Ｔスペースが存在しないと判定され、信号の取り込みは行われない。

図２１は、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の別の例を示したブロック図である。同図に示す例は、ゲート信号内で発生したパルスの長さを測定することで、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースが存在するか否かを判定する例である。

同図に示した回路ブロックでは、ＡＮＤ演算器４２２により、スライサ２１０から出力された２値化信号ＳＬ ＲＦ−Ｓｕｂ’と、図１のパルス生成回路３００から出力されたゲート信号Ｇａｔｅと、クロック信号ＣＬＫとの論理積が取られ、計数可能な信号Ｃｏｕｎｔａｂｌｅ Ｐｕｌｓｅとしてカウンタ４２４のセット端子に入力され、カウンタ４２４によって当該信号の長さが計数される。尚、このカウンタには、リセットパルス生成回路４２６が生成したリセットパルスが入力される。

図２２は、図２１に示した回路ブロックの処理例を示すタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、スライサ２１０に入力された信号ＲＦ−Ｓｕｂ’は、あるレベルで２値化されて、同図（ｂ）に示すようなパルス信号ＳＬ ＲＦ−Ｓｕｂ’が生成される。

そして、図１に示したパルス生成回路３００にて生成された同図（ｃ）に示すゲート信号Ｇａｔｅと、同図（ｄ）に示すクロック信号ＣＬＫとの論理積が取られることで、同図（ｅ）に示す計数可能な信号Ｃｏｕｎｔａｂｌｅ Ｐｕｌｓｅが生成される。尚、ここで取り上げたクロック信号は、「１Ｔ＝１周期」とした場合の例を用いて説明したが、より高速のクロック、例えば、「１Ｔ＝４０周期」のクロックを用いて長さ検出の分解能を向上させても良い。

図２３は、図２１に示したリセットパルス生成回路４２６の処理例を示すタイミングチャートである。同図に示すように、リセットパルス生成回路４２６は、同図（ａ）に示すクロック信号ＣＬＫを２回に１回カウントして同図（ｂ）に示す中間信号ＣＬＫ／２を生成し、さらに、この中間信号ＣＬＫ／２を２回に１回カウントして同図（ｃ）に示す中間信号ＣＬＫ／４を生成する。

そして、同図（ｄ）に示すように、同図（ｃ）の２回目の立ち上りに同期させて立ち上がり、ゲート信号Ｇａｔｅ相当の長さを走査したときに立ち下がるリセット信号Ｒｅｓｅｔを生成する。このリセット信号が図２１に示したカウンタ４２４のリセット端子に入力されることで、カウンタの計数結果がリセットされる。

尚、同図（ａ）に示すクロック信号として「１Ｔ＝４０周期」の信号を用いる場合であって、ゲート信号Ｇａｔｅが９Ｔ相当の幅を有するときは、クロック信号を３６０回カウントしたときに同図（ｄ）に示すリセット信号Ｒｅｓｅｔが立ち下がり、カウンタ４２４がリセットされる。

同様に、同図（ａ）に示すクロック信号として「１Ｔ＝２．５周期」の信号を用いる場合であって、ゲート信号Ｇａｔｅが９Ｔ相当の幅を有するときは、クロック信号を２２．５回カウントしたときに同図（ｄ）に示すリセット信号Ｒｅｓｅｔが立ち下がり、カウンタ４２４がリセットされる。ただし、「１Ｔ＝２．５周期」のようにクロック信号の周期が単位長Ｔの整数倍でない場合は、「２Ｔ＝５周期」のように整数倍として扱われる。

図２４は、図１に示したマスク回路の別の構成例を示す回路ブロック図である。同図に示すマスク回路は、タンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐを利用して長さ検出を行う場合の例である。

同図に示すように、このマスク回路４００は、４つの分割領域を備えたディテクタ１２２からの信号を用いてタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐを生成するタンジェンシャルプッシュプル信号生成回路４３０と、このタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐの振幅を一定にするＶＧＡ回路４３２（ＶＧＡ：Ｖｏｌｕｍｅ Ｇａｉｎ Ａｍｐ）と、タンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐを微分する微分回路４３４と、タンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐの微分値とゲート信号Ｇａｔｅとの論理積を取るＡＮＤ演算器４２２とで構成される。

ここで、タンジェンシャルプッシュプル信号生成回路４３０は、ディタクタ１２２の分割領域を同図に示すように光メディアの回転接線方向Ｔａｎとの関係でＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄとした場合に、回転方向の前方に位置するＡおよびＢから得られた信号の合計と、回転方向の後方に位置するＣおよびＤから得られた信号の合計との差を求め、この差信号をタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐとして出力する。この関係を式で記述すると、同図に示すように、「Ｔｐｐ＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）」となる。

ＶＧＡ回路４３２は、上記タンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐの振幅を一定化させた信号Ｔｐｐ−Ｓｕｂを生成し、この信号を受けた微分回路４３４は、該Ｔｐｐ−Ｓｕｂ信号を微分してΔ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）信号を生成する。

ＡＮＤ演算器４２２は、上記Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）信号とゲート信号Ｇａｔｅとの論理積を取ることで、記録パルスの光出力安定領域に相当する信号Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）を抽出し、スライサ２１０がこのΔ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）信号をゼロレベルでスライスしてＳＬ Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）信号を生成する。

図２５は、図２４に示した回路の動作を示す第１のタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、図２４に示したディテクタが検出したＲＦ信号は、符号Ｘ１．０で示した１倍速記録の信号と符号Ｘ１．５で示した１．５倍速記録の信号とで、それぞれ振幅とゼロ点が異なる波形となる。

また、図２４に示したＶＧＡ回路４３２が出力するタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐ−Ｓｕｂは、同図（ｂ）に示すように、符号Ｘ１．０で示した１倍速記録の信号と符号Ｘ１．５で示した１．５倍速記録の信号とで、振幅は異なるがゼロ点が一致した波形となる。このタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐ−Ｓｕｂのゼロ点は、同図（ａ）に示したＲＦ信号ＲＦ−Ｓｕｂのピーク位置に相当する。

また、図２４に示した微分回路４３４が出力するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）は、同図（ｃ）に示すように、符号Ｘ１．０で示した１倍速記録の信号と符号Ｘ１．５で示した１．５倍速記録の信号とで、振幅は異なるがゼロ点が一致した波形となる。このタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）のゼロ点は、同図（ｂ）に示したタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐ−Ｓｕｂのピーク位置に相当し、同図（ａ）に示したＲＦ信号ＲＦ−Ｓｕｂの傾きが最大点となる位置に相当する。

図２６は、図２４に示した回路の動作を示す第２のタイミングチャートである。同図（ａ）は、図２４に示した微分回路４３４が出力するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）を示す図であり、この微分値は、同図（ｂ）に示すゲート信号Ｇａｔｅでマスクされ、同図（ｃ）に示すように、タンジェンシャルプッシュプル信号の微分値Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）がゲート信号Ｇａｔｅで切り出された信号Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）となる。

そして、図２４に示したスライス回路２１０によって、信号Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）のゼロクロス点が抽出され、同図（ｄ）に示すようなパルス信号ＳＬ Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）が生成される。このパルス信号が前述した記録用パルスの高出力安定期間内に存在する短いピットまたはスペース信号となり、前述の例では４Ｔスペースの検出信号となる。

以上説明したタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を利用して、ピットまたはスペースの長さを検出する構成により、リアルタイムで長さのズレを検出し、このズレを補正しながら記録を行う。

ここで、前述したように、単にタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を利用するだけでは、３Ｔや４Ｔといった短い信号の干渉が生じ、正確な長さを検出することができない。

そこで、本実施形態では、予めテスト領域へのテスト記録により、補正基準とするタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を求めておき、記録領域への本記録の際には、記録用レーザ光で記録したピットまたはスペースを再生用レーザ光で再生し、得られた再生信号からタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を求め、この記録領域で求めた微分値とテスト領域で求めた微分値との差異を長さズレ量とみなして、このズレ量の補正に適した記録条件を設定する。

図２７は、テスト領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値と実際の物理長との関係を示すグラフである。同図（ａ）に示すように、例えば３Ｔ〜８Ｔの長さを有するピットをテスト記録によりテスト領域内に形成すると、各ピット長に対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得ることができ、この微分値から各ピット長の長さを予測することができる。ここで、比較的長い５Ｔ〜８Ｔピットについては、図中の点線で示す本来の物理長に相当する長さが得られるが、干渉が生じ易い３Ｔ、４Ｔピットについては、本来の物理長とは異なる長さとして検出される。

同様に、同図（ｂ）に示すように、例えば３Ｔ〜８Ｔの長さを有するスペースをテスト記録により形成すると、各スペース長に対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得ることができ、この微分値から各スペース長の長さを予測することができる。ここで、比較的長い５Ｔ〜８Ｔスペースについては、図中の点線で示す本来の物理長に相当する長さが得られるが、干渉が生じ易い３Ｔ、４Ｔスペースについては、本来の物理長とは異なる長さとして検出される。

よって、同図（ａ）に示した各ピット長に対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を補正基準とするか、同図（ｂ）に示した各スペース長に対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を補正基準とすることで、干渉の影響を回避することができる。

図２８は、記録領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値とテスト領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値との関係を示すグラフである。同図（ａ）に示すように、例えば３Ｔ〜８Ｔの長さを有するピットパターンを記録用レーザ光により記録領域内に記録しつつ再生用レーザ光により再生すると、図中に黒丸で示した各ピット長に対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値が得られ、この微分値をテスト記録で得た図中に白丸で示す微分値に合わせる補正を行うことで、本来の物理長に適合したピットおよびスペースから成る記録パターンを形成することができる。

同様に、同図（ｂ）に示すように、例えば３Ｔ〜８Ｔの長さを有するスペースパターンを記録用レーザ光により記録領域内に記録しつつ再生用レーザ光により再生すると、図中に黒丸で示した各スペースに対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値が得られ、この微分値をテスト記録で得た図中に白丸で示す微分値に合わせる補正を行うことで、本来の物理長に適合したピットおよびスペースから成る記録パターンを形成することができる。

図２９は、テスト領域内のタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得るために行うテスト記録の一例を示した概念図である。同図に示すように、記録パルスの前位相ズレ、後位相ズレ、熱干渉に対する影響の検査が可能なパターンを用いたテスト記録によって、各ピットまたはスペース長ごとにＲＦ長ａ０１〜ａ１５およびタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値ｂ０１〜ｂ１５を求め、これらを所定の記憶領域に格納しておく。

図３０は、記録領域内のタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得るために行うテスト記録の一例を示した概念図である。同図に示すように、記録領域に形成されたピットおよびスペースのパターンから記録パルスの前位相ズレ、後位相ズレ、熱干渉に対する影響の検査が可能なパターンを抽出することによって、各ピットまたはスペース長ごとにタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値ｃ０１〜ｃ１５および図２９に示したテスト記録で得たタンジェンシャルプッシュプル信号との差分ｄ０１〜ｄ１５を求め、これらを所定の記憶領域に格納する。

図３１は、 図３０に示したタンジェンシャルプッシュプル信号の差分を用いて記録パルスの補正を行う例を示した概念図である。同各図に示すように、同図（ａ）に示す記録データを光ディスク上に記録する場合には、各ピット長ごとに最適な補正値が適用されたストラテジが設定される。例えば、３Ｔピットを記録する場合には、同図（ｂ）に示すように、図３０に示した記憶データの前位相ズレ３Ｔピットの前端補正値Ｔｔｏｐを読み出すとともに、３Ｔピットの後端補正値Ｔｌａｓｔを読み出して、記録パルスの前端および後端を当該ＴｔｏｐおよびＴｌａｓｔで補正する。

また、４Ｔピット以上を補正する場合は、同図（ｃ）〜（ｆ）に示すように、ＴｔｏｐおよびＴｌａｓｔに加えて、該当ピット長の安定領域の高さＰＷＤを加えてパルス形状の補正を行う。

図３２は、図１に示したマスク回路の別の構成例を示す回路ブロック図である。同図に示すマスク回路は、ＲＦ信号の２回微分値を利用して長さ検出を行う場合の例である。

同図に示すように、このマスク回路４００は、４つの分割領域を備えたディテクタ１２２からの信号を用いてＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成回路４３６と、このＲＦ信号の振幅を一定にするＶＧＡ回路４３２と、ＲＦ信号を２回微分する微分回路４３４−１および４３４−２と、該２回微分値とゲート信号Ｇａｔｅとの論理積を取るＡＮＤ演算器４２２とで構成される。

ここで、ＲＦ信号生成回路４３６は、ディタクタ１２２の分割領域Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄから得られた信号の合計をＲＦ信号Ｔｐｐとして出力する。この関係を式で記述すると、同図に示すように、「ＲＦ＝（Ａ＋Ｂ）＋（Ｃ＋Ｄ）」となる。

ＶＧＡ回路４３２は、上記ＲＦ信号の振幅を一定化させた信号ＲＦ−Ｓｕｂを生成し、この信号を受けた微分回路４３４−１は、該ＲＦ−Ｓｕｂ信号を微分してΔＲＦ−Ｓｕｂ信号を生成し、微分回路４３４−２が該ΔＲＦ−Ｓｕｂ信号を微分してΔΔＲＦ−Ｓｕｂ信号を生成する。

ＡＮＤ演算器４２２は、上記ΔΔＲＦ−Ｓｕｂ信号とゲート信号Ｇａｔｅとの論理積を取ることで、記録パルスの光出力安定領域に相当する信号ΔΔＲＦ−Ｓｕｂ’を抽出し、スライサ２１０がこのΔΔＲＦ−Ｓｕｂ’信号をゼロレベルでスライスしてＳＬ ΔΔＲＦ−Ｓｕｂ’信号を生成する。

本発明によれば、より高精度なリアルタイム補正が可能になるため、光ディスクの内外周で記録条件が変化する記録環境への適用が期待される。

本発明に係るドライブの内部構成を示すブロック図である。 図１に示したドライブ内に組み込まれるピックアップ部の構造を示す分解斜視図である。 光ディスクの盤面上に照射されたスポットの配置を示す平面図である。 光ディスクの盤面上に照射されるスポットとディテクタとの関係を示す概念図である。 記録パルスの形状と安定領域との関係を示す概念図である。 図１に示したパルス生成回路の内部構成を示す回路ブロック図である。 図６に示したゲート信号の生成概念を示すタイミングチャートである。 図１に示したＬＤドライバの内部構成を示す回路図である。 図１に示したマスク回路の内部構成を示す回路ブロック図である。 記録パルスとゲートパルスと再生信号との関係を示すタイミングチャートである。 図１に示したＣＰＵが実行するフラグ信号の生成手法を示す概念図である。 記録用のメインビームと再生用のサブビームとの関係を示すタイミングチャートである。 記録パルスと、該記録パルスを遅延させたパルスと、ＲＦ信号との関係を示すタイミングチャートである。 長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の例を示したブロック図である。 図１４に示したカウンタ２５６と図１のパルス生成回路３００との関係を示すブロック図である。 図１４に示したバッファ２５０−２がビット列を蓄積する際の例を示す概念図である。 １４Ｔピットの記録中に検出対象となる４Ｔスペースのバリエーションを示す概念図である。 長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の別の例を示したブロック図である。 図１８に示した回路ブロックの処理例を示すタイミングチャートである。 図１８の回路ブロックにより生成された判定信号の判定基準を示す概念図である。 長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の別の例を示したブロック図である。 図２１に示した回路ブロックの処理例を示すタイミングチャートである。 図２１に示したリセットパルス生成回路４２６の処理例を示すタイミングチャートである。 図１に示したマスク回路の別の構成例を示す回路ブロック図である。 図２４に示した回路の動作を示す第１のタイミングチャートである。 図２４に示した回路の動作を示す第２のタイミングチャートである。 テスト領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値と実際の物理長との関係を示すグラフである。 記録領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値と記録領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値との関係を示すグラフである。 テスト領域内のタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得るために行うテスト記録の一例を示した概念図である。 記録領域内のタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得るために行うテスト記録の一例を示した概念図である。 図３０に示したタンジェンシャルプッシュプル信号の差分を用いて記録パルスの補正を行う例を示した概念図である。 図１に示したマスク回路の別の構成例を示す回路ブロック図である。

符号の説明

２０…レーザ光、２０Ａ…記録用メインビーム、２０Ｂ…トラッキング用先行サブビーム、２０Ｃ…トラッキング用後行サブビーム、２０Ｄ…再生用先行サブビーム、２０Ｅ…再生用後行サブビーム、２２…反射光、５０…高出力領域、５２…低出力領域、５４…定出力領域、１００…ドライブ、１１０…レーザダイオード、１１２…コリメータレンズ、１１４…回折格子、１１５…溝、１１６…ハーフミラー、１１８…対物レンズ、１２０…受光レンズ、１２２…ディテクタ、１２４…ＬＤドライバ、１２６…合成器、２１０…スライサ、２１２…ＣＰＵ、２１４…メモリ、２１６…ＥＦＭエンコーダ／デコーダ、２１８…インターフェース回路、２５０…バッファ、２５２…変換テーブル、２５４…遅延器、２５６…カウンタ、２５８…１４Ｔデコーダ、２５９…４Ｔデコーダ、３００…パルス生成回路、３１０…パルスユニット生成回路、３１４…反転回路、３１６…ＡＮＤ演算器、４００…マスク回路、４１０…ＡＮＤ演算器、４２０…反転回路、４２２…ＡＮＤ演算器、４２４…カウンタ、４２６…リセットパルス生成回路、４３０…タンジェンシャルプッシュプル信号生成回路、４３２…ＶＧＡ回路、４３４…微分回路、４３６…ＲＦ信号生成回路、５００…光ディスク、５０２…グループ、５０４…ランド、５０６…ピット、５０８…スペース、６００…パーソナルコンピュータ

Claims (8)

1. レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置において、
   前記光記録メディアのテスト領域内に形成されたピットおよび／またはスペースを再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める手段と、
   前記光記録メディアの記録領域内に形成したピットおよび／またはスペースを再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める手段と、
   前記テスト領域内で求めた２回微分相当値と前記記録領域内で求めた２回微分相当値とを比較し、前記記録領域内で求めた２回微分相当値が前記テスト領域内で求めた２回微分相当値に一致するように前記記録パルスを補正する手段と
   を具備することを特徴とする光情報記録装置。
2. 記録用レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースを形成すると同時に、再生用レーザ光の照射により前記ピットおよび／またはスペースの検出を行う光情報記録装置において、
   前記光記録メディアのテスト領域内に形成されたピットおよび／またはスペースを再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める手段と、
   前記光記録メディアの記録領域内に前記記録用レーザ光を用いて形成したピットおよび／またはスペースを前記再生用レーザ光を用いて再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める手段と、
   前記テスト領域内で求めた２回微分相当値と前記記録領域内で求めた２回微分相当値とを比較し、前記記録領域内で求めた２回微分相当値が前記テスト領域内で求めた２回微分相当値に一致するように前記記録パルスを補正する手段と
   を具備することを特徴とする光情報記録装置。
3. レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアに長さの異なる複数種のピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、
   前記光記録メディアのテスト領域内に形成されたピットおよびスペースを再生し、その結果得られた前記長さの異なる複数種のピット信号のそれぞれに対する２回微分相当値を求める手段と、
   前記光記録メディアの記録領域内に形成したピットおよびスペースを再生し、その結果得られた前記長さの異なる複数種のピット信号のそれぞれに対する２回微分相当値を求める手段と、
   前記テスト領域内で求めた各ピット長に対する２回微分相当値と前記記録領域内で求めた各ピット長に対する２回微分相当値とを比較し、前記記録領域内で求めた２回微分相当値が前記テスト領域内で求めた２回微分相当値に一致するように前記記録パルスを補正する手段と
   を具備することを特徴とする光情報記録装置。
4. レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアに長さの異なる複数種のピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、
   前記光記録メディアのテスト領域内に形成されたピットおよびスペースを再生し、その結果得られた前記長さの異なる複数種のスペース信号のそれぞれに対する２回微分相当値を求める手段と、
   前記光記録メディアの記録領域内に形成したピットおよびスペースを再生し、その結果得られた前記長さの異なる複数種のスペース信号のそれぞれに対する２回微分相当値を求める手段と、
   前記テスト領域内で求めた各スペース長に対する２回微分相当値と前記記録領域内で求めた各スペース長に対する２回微分相当値とを比較し、前記記録領域内で求めた２回微分相当値が前記テスト領域内で求めた２回微分相当値に一致するように前記記録パルスを補正する手段と
   を具備することを特徴とする光情報記録装置。
5. レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置において、
   前記光記録メディアを回転させる手段と、
   前記光記録メディアの回転方向に対して前後に区画された少なくとも２つの受光領域を有する光ディテクタと、
   前記２つの受光領域から得られた各信号の差分を求める手段と、
   前記差分を微分する手段と、
   前記光記録メディアに設けられたテスト領域内で前記微分値を求める手段と、
   前記光記録メディアに設けられた記録領域内で前記微分値を求める手段と、
   前記テスト領域内で求めた微分値と前記記録領域内で求めた微分値とを比較し、前記記録領域内で求めた微分値が前記テスト領域内で求めた微分値に一致するように前記記録パルスを補正する手段と
   を具備することを特徴とする光情報記録装置。
6. 記録用レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースを形成すると同時に、再生用レーザ光の照射により前記ピットおよび／またはスペースの検出を行う光情報記録装置において、
   前記光記録メディアを回転させる手段と、
   前記光記録メディアの回転方向に対して前後に区画された少なくとも２つの受光領域を有する光ディテクタと、
   前記２つの受光領域から得られた各信号の差分を求める手段と、
   前記差分を微分する手段と、
   前記光記録メディアに設けられたテスト領域内で前記微分値を求める手段と、
   前記再生用レーザ光を用いて前記光記録メディアに設けられた記録領域内で前記微分値を求める手段と、
   前記テスト領域内で求めた微分値と前記記録領域内で求めた微分値とを比較し、前記記録領域内で求めた微分値が前記テスト領域内で求めた微分値に一致するように前記記録パルスを補正する手段と
   を具備することを特徴とする光情報記録装置。
7. レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録方法において、
   前記光記録メディアのテスト領域内に形成されたピットおよび／またはスペースを再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める工程と、
   前記光記録メディアの記録領域内に形成したピットおよび／またはスペースを再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める工程と、
   前記テスト領域内で求めた２回微分相当値と前記記録領域内で求めた２回微分相当値とを比較し、前記記録領域内で求めた２回微分相当値が前記テスト領域内で求めた２回微分相当値に一致するように前記記録パルスを補正する工程と
   を具備することを特徴とする光情報記録方法。
8. レーザ光の記録パルスに基づくパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置に組み込まれる信号処理回路において、
   前記光記録メディアのテスト領域内に形成されたピットおよび／またはスペースを再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める手段と、
   前記光記録メディアの記録領域内に形成したピットおよび／またはスペースを再生し、その結果得られた信号の２回微分相当値を求める手段と、
   前記テスト領域内で求めた２回微分相当値と前記記録領域内で求めた２回微分相当値とを比較し、前記記録領域内で求めた２回微分相当値が前記テスト領域内で求めた２回微分相当値に一致するように前記記録パルスを補正する手段と
   を具備することを特徴とする信号処理回路。

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