JP2002311424A - 液晶表示装置 - Google Patents
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- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
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Abstract
減を大幅に抑制する。 【解決手段】 液晶を介して対向配置される基板のうち
一方の基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分さ
れた画素領域を備え、この画素領域には、その光反射部
と光透過部に形成された透光性の第1画素電極と、前記
光反射部の大部分に形成された材料層と、前記光透過部
に開口が形成された絶縁層と、前記光反射部に形成され
た反射膜を兼ねる第2画素電極とが順次積層されて形成
されている
Description
り、いわゆる部分透過型のアクティブ・マトリクス型の
液晶表示装置に関する。
装置は、液晶を介して対向配置された透明基板のうち一
方の透明基板の液晶側の面に、そのx方向に延在しy方
向に並設されるゲート信号線とy方向に延在しx方向に
並設されるドレイン信号線とが形成され、これら各信号
線に囲まれた領域を画素領域としている。
の走査信号によって作動される薄膜トランジスタと、こ
の薄膜トランジスタを介してドレイン信号線からの映像
信号が供給される画素電極とが形成されている。
部分透過型と称されるものは、各画素領域において、背
面側に配置されたバックライトからの光が透過できる領
域である光透過部と、太陽等の外来光が反射される領域
である光反射部とを備えるように構成されている。
極を構成する領域として形成され、光反射部は光反射機
能を有する非透光性の導電層によって画素電極を構成す
る領域として形成されるようになっている。
うな構成からなる液晶表示装置は、特に、光反射モード
として使用される場合に表示のコントラストが大幅に低
減してしまうことが指摘されるに至った。
に形成された画素電極は非透光性の導電層であるため、
該画素電極の下層側に容量素子等を形成する場合が多
く、これにより反射膜を兼ねる画素電極の基板に対する
高さに差が生じてしまうことが理由となることが判明し
た。
において液晶の層厚が異なることになり、これが原因し
てコントラストの低下を招いてしまうからである。たと
えば、反射膜の高さに0.2μmの差が生じている場
合、コントラストは半減してしまうという実験結果が得
られている。
れたもので、その目的は、コントラストを良好にさせた
液晶表示装置を提供することにある。
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。 手段1.本発明による液晶表示装置は、たとえば、液晶
を介して対向配置される基板のうち一方の基板の液晶側
の面に光反射部と光透過部に区分された画素領域を備
え、この画素領域には、その光反射部と光透過部に形成
された透光性の第1画素電極と、前記光反射部の大部分
に形成された材料層と、前記光透過部に開口が形成され
た絶縁層と、前記光反射部に形成された反射膜を兼ねる
第2画素電極とが順次積層されて形成されていることを
特徴とするものである。
とえば、液晶を介して対向配置される基板のうち一方の
基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分された画
素領域を備え、この画素領域は一対のゲート信号線と一
対のドレイン信号線に囲まれた領域として形成され、か
つ前記一対のゲート信号線のうち一方のゲート信号線か
らの走査信号によって作動される薄膜トランジスタと、
この薄膜トランジスタを介して一対のドレイン信号線の
うち一方のドレイン信号からの映像信号が供給される第
1および第2の画素電極とを備え、前記画素領域には、
その光反射部と光透過部に形成された透光性の第1画素
電極と、前記光反射部の大部分に形成された材料層と、
前記光透過部に開口が形成された絶縁層と、前記光反射
部に形成された反射膜を兼ねる第2画素電極とが順次積
層されて形成されていることを特徴とするものである。
とえば、液晶を介して対向配置される基板のうち一方の
基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分された画
素領域を備え、この画素領域は一対のゲート信号線と一
対のドレイン信号線に囲まれた領域として形成され、か
つ前記一対のゲート信号線のうち一方のゲート信号線か
らの走査信号によって作動される薄膜トランジスタと、
この薄膜トランジスタを介して一対のドレイン信号線の
うち一方のドレイン信号からの映像信号が供給される第
1および第2の画素電極とを備え、前記画素領域には、
その光反射部と光透過部に形成された透光性の第1画素
電極と、前記光反射部の大部分に形成された材料層と、
前記光透過部に開口が形成された絶縁層と、前記光反射
部に形成された反射膜を兼ねる第2画素電極とが順次積
層されて形成され、前記第1画素電極と材料層の合計膜
厚とゲート信号線の層厚はそれぞれ100nm以下に設
定されていることを特徴とするものである。
とえば、液晶を介して対向配置される基板のうち一方の
基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分された画
素領域を備え、この画素領域は一対のゲート信号線と一
対のドレイン信号線に囲まれた領域として形成され、か
つ前記一対のゲート信号線のうち一方のゲート信号線か
らの走査信号によって作動される薄膜トランジスタと、
この薄膜トランジスタを介して一対のドレイン信号線の
うち一方のドレイン信号からの映像信号が供給される第
1および第2の画素電極とを備え、前記画素領域には、
その光反射部と光透過部に形成された透光性の第1画素
電極と、前記光反射部の大部分に形成された材料層と、
前記光透過部に開口が形成された絶縁層と、前記光反射
部に形成された反射膜を兼ねる第2画素電極とが順次積
層されて形成され、前記第1画素電極と材料層の合計膜
厚とゲート信号線の層厚の差は0.1μm以下に設定さ
れていることを特徴とするものである。
とえば、液晶を介して対向配置される基板のうち一方の
基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分された画
素領域を備え、この画素領域は一対のゲート信号線と一
対のドレイン信号線に囲まれた領域として形成され、か
つ前記一対のゲート信号線のうち一方のゲート信号線か
らの走査信号によって作動される薄膜トランジスタと、
この薄膜トランジスタを介して一対のドレイン信号線の
うち一方のドレイン信号からの映像信号が供給される第
1および第2の画素電極とを備え、前記画素領域には、
その光反射部と光透過部に形成された透光性の第1画素
電極と、この第1画素電極と接続され前記光反射部の大
部分に形成された前記薄膜トランジスタのソース電極の
延在層と、前記光透過部に開口が形成された絶縁層と、
前記光反射部に形成され前記絶縁層に形成されたコンタ
クトホールを介して前記ソース電極と接続された反射膜
を兼ねる第2画素電極とが順次積層されて形成されてい
ることを特徴とするものである。
とえば、液晶を介して対向配置される基板のうち一方の
基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分された画
素領域を備え、この画素領域は一対のゲート信号線と一
対のドレイン信号線に囲まれた領域として形成され、か
つ前記一対のゲート信号線のうち一方のゲート信号線か
らの走査信号によって作動される薄膜トランジスタと、
この薄膜トランジスタを介して一対のドレイン信号線の
うち一方のドレイン信号からの映像信号が供給される第
1および第2の画素電極とを備え、前記画素領域には、
その光反射部と光透過部に形成された透光性の第1画素
電極と、この第1画素電極と接続され前記光反射部の大
部分に形成された前記薄膜トランジスタのソース電極の
延在層と、前記光透過部に開口が形成された絶縁層と、
前記光反射部に形成され前記絶縁層に形成されたコンタ
クトホールを介して前記ソース電極と接続された反射膜
を兼ねる第2画素電極とが順次積層されて形成され、前
記第1画素電極と前記ソース電極の延在層の合計膜厚と
ゲート信号線の層厚の差は0.1μm以下に設定されて
いることを特徴とするものである。
とえば、液晶を介して対向配置される基板のうち一方の
基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分された画
素領域を備え、この画素領域は一対のゲート信号線と一
対のドレイン信号線に囲まれた領域として形成され、か
つ前記一対のゲート信号線のうち一方のゲート信号線か
らの走査信号によって作動される薄膜トランジスタと、
この薄膜トランジスタを介して一対のドレイン信号線の
うち一方のドレイン信号からの映像信号が供給される第
1および第2の画素電極とを備え、前記画素領域には、
その光反射部と光透過部に形成された透光性の第1画素
電極と、前記光反射部の大部分に形成された材料層と、
前記光透過部に開口が形成された絶縁層と、前記光反射
部に形成された反射膜を兼ねる第2画素電極とが順次積
層されて形成され、前記第2画素電極は前記一対のゲー
ト信号線のうち他方のゲート信号線に重畳されて形成さ
れていることを特徴とするものである。
とえば、液晶を介して対向配置される基板のうち一方の
基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分された画
素領域を備え、この画素領域は一対のゲート信号線と一
対のドレイン信号線に囲まれた領域として形成され、か
つ前記一対のゲート信号線のうち一方のゲート信号線か
らの走査信号によって作動される薄膜トランジスタと、
この薄膜トランジスタを介して一対のドレイン信号線の
うち一方のドレイン信号からの映像信号が供給される第
1および第2の画素電極とを備え、前記画素領域には、
その光反射部と光透過部に形成された透光性の第1画素
電極と、前記光反射部の大部分に形成された材料層と、
前記光透過部に開口が形成された絶縁層と、前記光反射
部に形成された反射膜を兼ねる第2画素電極とが順次積
層されて形成されているとともに、前記第2画素電極は
前記一対のゲート信号線のうち他方のゲート信号線に重
畳されて形成され、光反射部における第2画素電極の基
板に対する高さと前記他方のゲート信号線に重畳されて
形成された第2画素電極の基板に対する高さの差を0.
1μm以下にするための高さ調整材料が前記光反射部お
よび他方のゲート信号線上の少なくともいずれか一方に
介在されていることを特徴とするものである。
とえば、液晶を介して対向配置される基板のうち一方の
基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分された画
素領域を備え、この画素領域は一対のゲート信号線と一
対のドレイン信号線に囲まれた領域として形成され、か
つ前記一対のゲート信号線のうち一方のゲート信号線か
らの走査信号によって作動される薄膜トランジスタと、
この薄膜トランジスタを介して一対のドレイン信号線の
うち一方のドレイン信号からの映像信号が供給される第
1および第2の画素電極とを備え、前記画素領域には、
その光反射部と光透過部に形成された透光性の第1画素
電極と、前記光反射部の大部分に形成された材料層と、
前記光反射部および前記光透過部に形成された絶縁層
と、前記光反射部に形成された反射膜を兼ねる第2画素
電極とが順次積層されて形成されていることを特徴とす
るものである。
たとえば、液晶を介して対向配置される基板のうち一方
の基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分された
画素領域を備え、この画素領域は一対のゲート信号線と
一対のドレイン信号線に囲まれた領域として形成され、
かつ前記一対のゲート信号線のうち一方のゲート信号線
からの走査信号によって作動される薄膜トランジスタ
と、この薄膜トランジスタを介して一対のドレイン信号
線のうち一方のドレイン信号からの映像信号が供給され
る第1および第2の画素電極とを備え、前記画素領域に
は、その光反射部と光透過部に形成された透光性の第1
画素電極と、前記光反射部の大部分に形成された材料層
と、前記光反射部および前記光透過部に形成された絶縁
層と、前記光反射部に形成された反射膜を兼ねる第2画
素電極とが順次積層されて形成され、前記第1画素電極
と材料層との合計膜厚とゲート信号線の層厚との差は
0.1μm以下に設定されていることを特徴とするもの
である。
の実施例を図面を用いて説明をする。 《全体の等価回路》図2は、本発明による液晶表示装置
の全体の等価回路の一実施例を示す平面図である。
置される一対の透明基板SUB1、SUB2があり、該
液晶は一方の透明基板SUB1に対する他方の透明基板
SUB2の固定を兼ねるシール材SLによって封入され
ている。
透明基板SUB1の液晶側の面には、そのx方向に延在
しy方向に並設されたゲート信号線GLとy方向に延在
しy方向に並設されたドレイン信号線DLとが形成され
ている。
Lとで囲まれた領域は画素領域を構成するとともに、こ
れら各画素領域のマトリクス状の集合体は液晶表示部A
Rを構成するようになっている。
GLからの走査信号によって作動される薄膜トランジス
タTFTと、この薄膜トランジスタTFTを介して片側
のドレイン信号線DLからの映像信号が供給される画素
電極PXが形成されている。
TFTを駆動させるためのゲート信号線GLとは異なる
他のゲート信号線GLとの間に容量素子Caddを構成
するようになっており、この容量素子Caddによっ
て、該画素電極PXに供給された映像信号を比較的長く
蓄積させるようになっている。
UB2に各画素領域に共通に形成された対向電極CTと
の間に電界を発生させ、この電界によって液晶の光透過
率を制御させるようになっている。
前記シール材SLを超えて延在され、その延在端は垂直
走査駆動回路Vの出力端子が接続される端子を構成する
ようになっている。また、前記垂直走査駆動回路Vの入
力端子は液晶表示装置の外部に配置されたプリント基板
からの信号が入力されるようになっている。
からなり、互いに隣接する複数のゲート信号線GLどお
しがグループ化され、これら各グループ毎に一個の半導
体装置があてがわれるようになっている。
れの一端は前記シール材SLを超えて延在され、その延
在端は映像信号駆動回路Heの出力端子が接続される端
子を構成するようになっている。また、前記映像信号駆
動回路Heの入力端子は液晶表示装置の外部に配置され
たプリント基板からの信号が入力されるようになってい
る。
体装置からなり、互いに隣接する複数のドレイン信号線
DLどおしがグループ化され、これら各グループ毎に一
個の半導体装置があてがわれるようになっている。前記
各ゲート信号線GLは、前記垂直走査回路Vからの走査
信号によってその一つが順次選択されるようになってい
る。
映像信号駆動回路Heによって、前記ゲート信号線GL
の選択のタイミングに合わせて、映像信号が供給される
ようになっている。
にはバックライトBLが配置され、該液晶表示装置を透
過型のモードとして使用する場合にはその光源を点灯さ
せるようになっている。
駆動回路Heはそれぞれ透明基板SUB1に搭載された
構成としたものであるが、これに限定されることはなく
透明基板SUB1に対して外付けされていてもよいこと
はもちろんである。
実施例を示す平面図である。同図はカラー用の画素とし
てR、G、B用の各画素が示されているが、それらはカ
ラーフィルタの色が異なるのみでそれ以外は同様の構成
となっている。
つの画素に着目して説明をする。なお、同図におけるII
I−III線における断面を図3に示している。
の面に、まず、x方向に延在しy方向に並設される一対
のゲート信号線GLが形成されている。このゲート信号
線GLはたとえばAl(アルミニゥム)からなりその表
面は陽極酸化膜AOFが形成されている。
レイン信号線DLとともに矩形状の領域を囲むようにな
っており、この領域を画素領域として構成するようにな
っている。
を除く中央部にはたとえばITO(Indium−Tin−Oxid
e)膜のような透光性の画素電極PX1が形成されてい
る。
クライトBLからの光が透過できる領域において画素電
極として機能するもので、後述する反射電極を兼ねる画
素電極PX2とは区別されるものである。
X1が形成された透明基板SUB1の表面にはたとえば
SiN(窒化シリコン)からなる絶縁膜GIが形成され
ている。この絶縁膜GIは薄膜トランジスタTFTの形
成領域(ゲート信号線GLの一部領域)およびその近傍
のゲート信号線GLとドレイン信号線DLとの交差部に
及んで形成されている。
された絶縁膜GIは該薄膜トランジスタTFTのゲート
絶縁膜としての機能を、ゲート信号線GLとドレイン信
号線DLとの交差部に形成された絶縁膜GIは層間絶縁
膜としての機能を有するようになっている。
ルファス)のSi(シリコン)からなる半導体層ASが
形成されている。
FTのそれであって、その上面にドレイン電極SD1お
よびソース電極SD2を形成することにより、ゲート信
号線GLの一部をゲート電極とする逆スタガ構造のMI
S型トランジスタを構成することができる。
Lのドレイン信号線DLとの交差部にも延在されて形成
され、これによりそれら各信号線の層間絶縁膜としての
機能を前記絶縁膜GIとともに強化している。
記半導体層ASの表面であって前記ドレイン電極SD1
およびソース電極SD2との界面には高濃度の不純物
(たとえば燐)がドープされた半導体層が形成され、こ
の半導体層によってコンタクト層d0を構成するように
なっている。
SD2は、たとえばドレイン信号線DLの形成の際に同
時に形成されるようになっている。
されるドレイン信号線DLが形成され、その一部が前記
半導体層ASの上面にまで延在されてドレイン電極SD
1が形成され、また、このドレイン電極SD1と薄膜ト
ランジスタTFTのチャネル長分だけ離間されてソース
電極SD2が形成されている。このドレイン信号線DL
はたとえばCrとAlの順次積層体から構成されてい
る。
素領域側へ至るようにして若干延在されて前記画素電極
PX1との電気的接続が図れるともに、後述の反射電極
を兼ねる画素電極PX2との接続を図るためのコンタク
ト部が形成されている。
は、上述のように前記画素電極PX1およびPX2との
接続を図らんとする機能ばかりでなく、光反射部(後述
の画素電極PX2が形成される領域)において、該画素
電極PX2に段差による高低差が大幅にでないように、
該光反射部の大部分の領域にまで及んで形成されてい
る。
を前記画素電極PX1およびPX2との接続を図る機能
をもたせるのみとした場合、該延在部をコンタクト部と
して形成すればよく、その延在部も比較的短いものとな
る。すると、その延在部の周辺の段差が後述の反射電極
を兼ねる画素電極PX2を形成する面(後述する保護膜
PSVの上面)に顕在化され、該画素電極PX2の面に
も段差が形成されることになる。
よって、前記ソース電極SD2の延在部は比較的面積の
大きな領域を占め、このことは、その辺が比較的長くな
ることを意味する。
該画素電極PX2の近傍にごみ等の不純物が残存しにく
くなり、該不純物による弊害を除去できることになる。
する薄膜トランジスタTFTのゲート電極の場合、該コ
ンタクト部の面積は小さく、その辺もフォトリソグラフ
ィ技術による選択エッチングによって若干複雑な形成と
なり、そこにごみ等の不純物が残存してコンタクト部と
しての機能を損なわせる場合が往々にして生じていた。
ンジスタTFTのドレイン電極SD1およびソース電極
SD2が形成された透明基板SUB1の表面にはたとえ
ばSiNからなる保護膜PSVが形成されている。この
保護膜PSVは前記薄膜トランジスタTFTの液晶との
直接の接触を回避する層で、該薄膜トランジスタTFT
の特性劣化を防止せんとするものである。
において光透過部とする部分において開口部OMが形成
され、この開口部OMには透光性の前記画素電極PX1
が露出されるようになっている。この画素電極PX1が
露出されている保護膜PSVの開口部OMは光透過部と
なる領域で、画素領域において前記光反射部の領域と区
分けされた領域となっている。
部OMの形成と同時に形成されるコンタクトホールCH
が形成され、このコンタクトホールCHには薄膜トラン
ジスタTFTの前記ソース電極SD2の一部が露出され
るようになっている。
極PX2が形成されている。この画素電極はたとえばC
rおよびAlの順次積層体からなる非透光性の導電膜か
ら構成されている。
開口部OMが形成された領域を回避して画素領域の大部
分を占めるようにして形成されている。そして、その一
部が前記保護膜PSVの一部に形成されたコンタクトホ
ールCHを通して薄膜トランジスタTFTのソース電極
SD2に電気的に接続されている。
ランジスタTFTを駆動させるゲート信号線GLとは異
なる他の隣接するゲート信号線GLに重畳されるまで延
在されて形成され、この部分において前記保護膜PSV
を誘電体膜とする容量素子Caddが形成されている。
された透明基板SUB1の上面には該画素電極PX2等
をも被って配向膜(図示せず)が形成されている。この
配向膜は液晶LCと直接に当接する膜で、その表面に形
成されたラビングによって該液晶の分子の初期配向方向
を決定づけるようになっている。
に、液晶LCを介して透明基板SUB2が対向配置さ
れ、この透明基板SUB2の液晶側の面には、その各画
素領域を画するようにしてブラックマトリクスBMが形
成されている。すなわち、少なくとも液晶表示部ARに
形成されたブラックマトリクスBMは各画素領域の周辺
部を残す領域に開口が形成されたパターンをなし、これ
により表示のコントラストの向上を図っている。
基板SUB1側の薄膜トランジスタTFTを充分被うよ
うにして形成され、該薄膜トランジスタTFTへの外来
光の照射を妨げることによって該薄膜トランジスタTF
Tの特性劣化を回避するようになっている。このブラッ
クマトリクスBMはたとえば黒色顔料が含有された樹脂
膜で構成されている。
基板SUB2の面には該ブラックマトリクスBMの開口
を被ってカラーフィルタFILが形成されている。この
カラーフィルタはたとえば赤(R)、緑(G)、青(B)
の各色のフィルタからなり、y方向に並設される各画素
領域群にたとえば赤色のフィルタが共通に形成され、該
画素領域群にx方向に順次隣接する画素領域群に共通に
赤(R)色、緑(G)色、青(B)色、赤(R)色、……、
というような配列で形成されている。これら各フィルタ
はその色に対応する顔料が含有された樹脂膜で構成され
ている。
ルタFILが形成された透明基板SUB2の表面にはこ
れらブラックマトリクスBMおよびカラーフィルタFI
Lをも被って平坦化膜OCが形成されている。この平坦
化膜OCは塗布によって形成できる樹脂膜からなり、前
記ブラックマトリクスBMおよびカラーフィルタFIL
の形成によって顕在化する段差をなくすために設けられ
る。
O膜からなる透光性の導電膜が形成され、この導電膜に
よって各画素領域に共通の対向電極CTが形成されてい
る。
せず)が形成され、この配向膜は液晶LCと直接に当接
する膜で、その表面に形成されたラビングによって該液
晶の分子の初期配向方向を決定づけるようになってい
る。
膜トランジスタTFTのソース電極SD2が画素領域の
光反射部に相当する領域に及んで延在されて形成されて
いる。このため、この光反射部に保護膜PSVを介して
形成する画素電極PX2は、段差による高低差のない平
坦な形状で形成されることになる。
厚は均一になり、このばらつきによって発生するコント
ラストの低減を大幅に抑制できるようになる。
Caddが形成される部分における画素電極PX2の透
明基板SUB1に対する高さは、光反射部における画素
電極PX2の透明基板SUB1に対する高さとほぼ等し
くすることができる。
は、ブラックマトリクスBMによって覆われる部分とな
っているが、該ブラックマトリクスBMの開口部内の該
容量素子Caddに近接する部分において、前記画素電
極PX2の透明基板SUB1に対する高さの相違による
影響がでるのを防止することができるようになる。
よび画素電極PX1と薄膜トランジスタTFTのソース
電極SD2の合計した層厚をそれぞれ100nm以下に
設定することによって、画素電極PX2の透明基板SU
B1に対する高さのばらつきを小さく抑制することがで
きる。
素電極PX1と薄膜トランジスタTFTのソース電極S
D2の合計した層厚との差を0.1μm以下に設定する
ことにより、画素電極PX2の透明基板SUB1に対す
る高さのばらつきを0.1μm以下に設定することがで
きる。
液晶LCの層厚をほぼ均一にできることから、コントラ
ストの低減を抑制することができる。
スタTFTのソース電極SD2を光反射部の領域に充分
延在させることによって、その上方に形成する画素電極
PX2の段差の発生を回避せんとしたものである。
(あるいは物理的)に分離された他の材料層を用いるこ
とによって上述したと同様の効果をもたらすようにして
もよいことはいうまでもない。
ス電極SD2とは無関係に、該材料層の膜厚を設定でき
るので、画素電極PX2の平坦化を達成しやすいという
効果を奏する。
のうち透明基板SUB1側の構成の製造方法の一実施例
を図4を用いて説明する。
にたとえばスパッタリング法でAlを膜厚約260nm
で形成し、これをフォトリソグラフィ技術による選択エ
ッチングをし、ゲート信号線GLを形成する。
液中で陽極酸化することにより、その表面に陽極酸化膜
AOFを形成する。この陽極酸化膜AOFの膜厚として
は約154nmが適当である。
面にたとえばITO(Indium−Tin−Oxide)膜からなる
透光性の導電膜を形成し、これをフォトリソグラフィ技
術による選択エッチングをし、画素電極PX1を形成す
る。
にたとえばCVD法によりSiNからなる絶縁膜を膜厚
約240nmで形成する。そして、同様の方法で非晶質
シリコン層を膜厚約200nmで形成した後、さらに、
燐(P)をドープしたn+型の非晶質シリコン層を膜厚
約35nmで形成する。
択エッチングをし、前記半導体層および絶縁膜を一括エ
ッチングして絶縁膜GIおよび半導体層ASを形成す
る。この場合のエッチングとしては、六フッ化硫黄ガス
を用いたドライエッチングが適当である。
りもエッチング速度が大きいことから、前記絶縁膜GI
の輪郭を構成する辺に約4°の順テーパが、前記半導体
層ASの輪郭を構成する辺に約70°の順テーパが形成
されるようになる。
UB1の主表面にたとえばスパッタリング法によりCr
層およびAl層を順次形成する。この場合、Cr層の膜
厚を30nmにAl層の膜厚を200nmとするのが適
当である。
択エッチングをし、二層構造からなるドレイン信号線D
L、薄膜トランジスタTFTのドレイン電極SD1およ
びソース電極SD2を形成する。この場合、Alのエッ
チング液としては燐酸、塩酸、および硝酸の混合溶液
が、Crのエッチング液としては硝酸第二セリウムアン
モニウム溶液が適当である。
タTFTのドレイン電極SD1およびソース電極SD2
をマスクとして、これから露出された半導体層ASの表
面のn+型の非晶質シリコン層をエッチングする。この
場合のエッチング液としては六フッ化硫黄ガスを用いた
ドライエッチングが適当である。
ン電極SD1およびソース電極SD2が形成された透明
基板SUB1の主表面に、たとえばCVD法を用いてS
iNを膜厚約600nmで形成し、これをフォトリソグ
ラフィ技術による選択エッチングをし保護膜PSVを形
成する。
ジスタTFTのソース電極SD2の延在部の一部を露出
させるためのコンタクトホールCHを同時に形成する。
に、たとえばスパッタリング法を用いてCr層およびA
l層を順次形成し、これをフォトリソグラフィ技術によ
る選択エッチングをし、反射電極を兼ねる画素電極PX
2を形成する。
酸、塩酸、および硝酸の混合溶液が、Crのエッチング
液としては硝酸第二セリウムアンモニウム溶液が適当で
ある。
半分の領域を占めるように開口が形成される。
された保護膜PSVの部分に開口を形成し、図3に示す
ように画素電極PX1を露出させ、この部分を光透過部
とする。
Al層を順次形成する代わりに、Mo合金とAlを順次
形成するか、Mo合金とAl合金を順次形成する構成と
してもよい。Mo合金としてはMoCrが好ましい。こ
の場合には一度にエッチングできるという効果を有す
る。
装置の他の実施例を示す構成図で、図1に対応した図と
なっている。
び容量素子Caddが形成されている部分に高さ調整用
の材料層DMLが形成されていることにある。これによ
り、それらの各部分において透明基板SUB1に対する
それぞれの画素電極PX2の高さの差を0.1μm以下
に設定することができる。
Mlは、図5に示したように、光反射部および容量素子
Caddが形成されている部分にそれぞれ形成する必要
はなく、そのうちのいずれか一方に形成するようにして
もよいことはもちろんである。
装置の他の実施例を示す構成図で、図1に対応した図と
なっている。
面にさらにたとえばSiNからなる保護膜PSV2を形
成していることにあり、保護膜PSV、PSV2とも開
口部OMを設けていない構成となっている。
装置の他の実施例を示す構成図で、図6に対応した図と
なっている。
PSV2にあり、保護膜PSV、PSV2のいずれにも
開口部が形成され、かつ保護膜PSV2の開口部の側壁
は該保護膜PSVの側壁を被うようにして形成されてい
る。
装置の他の実施例を示す構成図で、図6に対応した図と
なっている。同図は、保護膜PSVに開口部が設けら
れ、保護膜PSV2には開口部が設けられていない構成
となっている。
装置の他の実施例を示す構成図で、図6に対応した図と
なっている。同図は、保護膜PSV、PSV2のいずれ
もが開口部が設けられた構成となっており、その開口部
の側壁には該保護膜PSV、PSV2の断層が目視され
るようになっている。
極を兼ねる画素電極PX2は、その平面領域内に開口を
形成したパターンとして形成されたものである。このよ
うにした場合、該画素電極PX2の線幅が狭い部分で断
線が生じた場合でも電気的に分断されることを回避でき
る効果を有する。
(a)、(b)のそれぞれに示すように、前記画素電極
の辺の一部を切り欠いたパターンとして形成するように
してもよいことはもちろんである。
線幅が狭い部分においても上述した実施例の場合よりも
太く形成でき、断線の生じる確率を低く抑えることがで
きる。
一端子とする容量素子の他の端子をゲート信号線とした
ものである。しかし、該ゲート信号線とは別個にたとえ
ば容量素子線を画素領域内に形成し、この容量素子線と
該画素電極との間に容量素子を形成する構成のものにも
適用できることはいうまでもない。
ほぼ平行に形成されるのが通常であり、電気的な機能が
該ゲート信号線と異なるのみで層構造等の他の構成はま
ったく同様となるから、そのまま本発明を適用すること
ができる。
本発明による液晶表示装置によれば、光反射モードの際
に生じるコントラストの低減を大幅に抑制できるように
なる。
示す平面図である。
過回路図である。
例を示す工程図である。
を示す断面図である。
を示す断面図である。
を示す断面図である。
を示す断面図である。
を示す断面図である。
る画素電極の他の実施例を示す断面図である。
DL…ドレイン信号線、PX1…画素電極(透光性)、
PX2…画素電極(反射電極)、TFT…薄膜トランジ
スタ、Cadd…容量素子、CT…対向電極。
Claims (10)
- 【請求項1】 液晶を介して対向配置される基板のうち
一方の基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分さ
れた画素領域を備え、 この画素領域には、その光反射部と光透過部に形成され
た透光性の第1画素電極と、前記光反射部の大部分に形
成された材料層と、前記光透過部に開口が形成された絶
縁層と、前記光反射部に形成された反射膜を兼ねる第2
画素電極とが順次積層されて形成されていることを特徴
とする液晶表示装置。 - 【請求項2】 液晶を介して対向配置される基板のうち
一方の基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分さ
れた画素領域を備え、 この画素領域は一対のゲート信号線と一対のドレイン信
号線に囲まれた領域として形成され、かつ前記一対のゲ
ート信号線のうち一方のゲート信号線からの走査信号に
よって作動される薄膜トランジスタと、この薄膜トラン
ジスタを介して一対のドレイン信号線のうち一方のドレ
イン信号からの映像信号が供給される第1および第2の
画素電極とを備え、 前記画素領域には、その光反射部と光透過部に形成され
た透光性の第1画素電極と、前記光反射部の大部分に形
成された材料層と、前記光透過部に開口が形成された絶
縁層と、前記光反射部に形成された反射膜を兼ねる第2
画素電極とが順次積層されて形成されていることを特徴
とする液晶表示装置。 - 【請求項3】 液晶を介して対向配置される基板のうち
一方の基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分さ
れた画素領域を備え、 この画素領域は一対のゲート信号線と一対のドレイン信
号線に囲まれた領域として形成され、かつ前記一対のゲ
ート信号線のうち一方のゲート信号線からの走査信号に
よって作動される薄膜トランジスタと、この薄膜トラン
ジスタを介して一対のドレイン信号線のうち一方のドレ
イン信号からの映像信号が供給される第1および第2の
画素電極とを備え、 前記画素領域には、その光反射部と光透過部に形成され
た透光性の第1画素電極と、前記光反射部の大部分に形
成された材料層と、前記光透過部に開口が形成された絶
縁層と、前記光反射部に形成された反射膜を兼ねる第2
画素電極とが順次積層されて形成され、 前記第1画素電極と材料層の合計膜厚とゲート信号線の
層厚はそれぞれ100nm以下に設定されていることを
特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項4】 液晶を介して対向配置される基板のうち
一方の基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分さ
れた画素領域を備え、 この画素領域は一対のゲート信号線と一対のドレイン信
号線に囲まれた領域として形成され、かつ前記一対のゲ
ート信号線のうち一方のゲート信号線からの走査信号に
よって作動される薄膜トランジスタと、この薄膜トラン
ジスタを介して一対のドレイン信号線のうち一方のドレ
イン信号からの映像信号が供給される第1および第2の
画素電極とを備え、 前記画素領域には、その光反射部と光透過部に形成され
た透光性の第1画素電極と、前記光反射部の大部分に形
成された材料層と、前記光透過部に開口が形成された絶
縁層と、前記光反射部に形成された反射膜を兼ねる第2
画素電極とが順次積層されて形成され、 前記第1画素電極と材料層の合計膜厚とゲート信号線の
層厚の差は0.1μm以下に設定されていることを特徴
とする液晶表示装置。 - 【請求項5】 液晶を介して対向配置される基板のうち
一方の基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分さ
れた画素領域を備え、 この画素領域は一対のゲート信号線と一対のドレイン信
号線に囲まれた領域として形成され、かつ前記一対のゲ
ート信号線のうち一方のゲート信号線からの走査信号に
よって作動される薄膜トランジスタと、この薄膜トラン
ジスタを介して一対のドレイン信号線のうち一方のドレ
イン信号からの映像信号が供給される第1および第2の
画素電極とを備え、 前記画素領域には、その光反射部と光透過部に形成され
た透光性の第1画素電極と、この第1画素電極と接続さ
れ前記光反射部の大部分に形成された前記薄膜トランジ
スタのソース電極の延在層と、前記光透過部に開口が形
成された絶縁層と、前記光反射部に形成され前記絶縁層
に形成されたコンタクトホールを介して前記ソース電極
と接続された反射膜を兼ねる第2画素電極とが順次積層
されて形成されていることを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項6】 液晶を介して対向配置される基板のうち
一方の基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分さ
れた画素領域を備え、 この画素領域は一対のゲート信号線と一対のドレイン信
号線に囲まれた領域として形成され、かつ前記一対のゲ
ート信号線のうち一方のゲート信号線からの走査信号に
よって作動される薄膜トランジスタと、この薄膜トラン
ジスタを介して一対のドレイン信号線のうち一方のドレ
イン信号からの映像信号が供給される第1および第2の
画素電極とを備え、 前記画素領域には、その光反射部と光透過部に形成され
た透光性の第1画素電極と、この第1画素電極と接続さ
れ前記光反射部の大部分に形成された前記薄膜トランジ
スタのソース電極の延在層と、前記光透過部に開口が形
成された絶縁層と、前記光反射部に形成され前記絶縁層
に形成されたコンタクトホールを介して前記ソース電極
と接続された反射膜を兼ねる第2画素電極とが順次積層
されて形成され、 前記第1画素電極と前記ソース電極の延在層の合計膜厚
とゲート信号線の層厚の差は0.1μm以下に設定され
ていることを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項7】 液晶を介して対向配置される基板のうち
一方の基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分さ
れた画素領域を備え、 この画素領域は一対のゲート信号線と一対のドレイン信
号線に囲まれた領域として形成され、かつ前記一対のゲ
ート信号線のうち一方のゲート信号線からの走査信号に
よって作動される薄膜トランジスタと、この薄膜トラン
ジスタを介して一対のドレイン信号線のうち一方のドレ
イン信号からの映像信号が供給される第1および第2の
画素電極とを備え、 前記画素領域には、その光反射部と光透過部に形成され
た透光性の第1画素電極と、前記光反射部の大部分に形
成された材料層と、前記光透過部に開口が形成された絶
縁層と、前記光反射部に形成された反射膜を兼ねる第2
画素電極とが順次積層されて形成され、 前記第2画素電極は前記一対のゲート信号線のうち他方
のゲート信号線に重畳されて形成されていることを特徴
とする液晶表示装置。 - 【請求項8】 液晶を介して対向配置される基板のうち
一方の基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分さ
れた画素領域を備え、 この画素領域は一対のゲート信号線と一対のドレイン信
号線に囲まれた領域として形成され、かつ前記一対のゲ
ート信号線のうち一方のゲート信号線からの走査信号に
よって作動される薄膜トランジスタと、この薄膜トラン
ジスタを介して一対のドレイン信号線のうち一方のドレ
イン信号からの映像信号が供給される第1および第2の
画素電極とを備え、 前記画素領域には、その光反射部と光透過部に形成され
た透光性の第1画素電極と、前記光反射部の大部分に形
成された材料層と、前記光透過部に開口が形成された絶
縁層と、前記光反射部に形成された反射膜を兼ねる第2
画素電極とが順次積層されて形成されているとともに、 前記第2画素電極は前記一対のゲート信号線のうち他方
のゲート信号線に重畳されて形成され、光反射部におけ
る第2画素電極の基板に対する高さと前記他方のゲート
信号線に重畳されて形成された第2画素電極の基板に対
する高さの差を0.1μm以下にするための高さ調整材
料が前記光反射部および他方のゲート信号線上の少なく
ともいずれか一方に介在されていることを特徴とする液
晶表示装置。 - 【請求項9】 液晶を介して対向配置される基板のうち
一方の基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分さ
れた画素領域を備え、 この画素領域は一対のゲート信号線と一対のドレイン信
号線に囲まれた領域として形成され、かつ前記一対のゲ
ート信号線のうち一方のゲート信号線からの走査信号に
よって作動される薄膜トランジスタと、この薄膜トラン
ジスタを介して一対のドレイン信号線のうち一方のドレ
イン信号からの映像信号が供給される第1および第2の
画素電極とを備え、 前記画素領域には、その光反射部と光透過部に形成され
た透光性の第1画素電極と、前記光反射部の大部分に形
成された材料層と、前記光反射部および前記光透過部に
形成された絶縁層と、前記光反射部に形成された反射膜
を兼ねる第2画素電極とが順次積層されて形成されてい
ることを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項10】 液晶を介して対向配置される基板のう
ち一方の基板の液晶側の面に光反射部と光透過部に区分
された画素領域を備え、 この画素領域は一対のゲート信号線と一対のドレイン信
号線に囲まれた領域として形成され、かつ前記一対のゲ
ート信号線のうち一方のゲート信号線からの走査信号に
よって作動される薄膜トランジスタと、この薄膜トラン
ジスタを介して一対のドレイン信号線のうち一方のドレ
イン信号からの映像信号が供給される第1および第2の
画素電極とを備え、 前記画素領域には、その光反射部と光透過部に形成され
た透光性の第1画素電極と、前記光反射部の大部分に形
成された材料層と、前記光反射部および前記光透過部に
形成された絶縁層と、前記光反射部に形成された反射膜
を兼ねる第2画素電極とが順次積層されて形成され、 前記第1画素電極と材料層との合計膜厚とゲート信号線
の層厚との差は0.1μm以下に設定されていることを
特徴とする液晶表示装置。
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