JP2002310939A - 気泡検査装置 - Google Patents
気泡検査装置Info
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 72
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 77
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 77
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 28
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 79
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 15
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 abstract description 6
- 239000000284 extract Substances 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 12
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 238000003702 image correction Methods 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 101000680262 Homo sapiens Transmembrane protein 60 Proteins 0.000 description 1
- 102100022076 Transmembrane protein 60 Human genes 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000002372 labelling Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 透明物体や半透明物体などの被検査物内の気
泡を撮像する気泡検査装置において、撮像画像のコント
ラストを改善し、安定的で正確に気泡や不純物の有無や
形状を検査できる気泡検査装置を提供する。 【解決手段】 被検査体の上方から撮像し画像データを
作成する撮像手段と、被検査体に上方斜め方向から光を
照射する第1の照明手段と、撮像手段と同軸方向から光
を照射する第2の照明手段と、画像データを保存する画
像メモリと画像メモリの画像を処理する画像処理回路を
有する画像処理手段とを有し、撮像手段は、第1の照明
手段により照明された被検査体を撮像して第1の画像デ
ータを作成し、第2の照明手段により照明された被検査
体を撮影して第2の画像データを作成し、画像処理回路
は、第1の画像データおよび第2の画像データを用いて
画像データ内の特徴部を抽出することで、気泡検査を行
う。
泡を撮像する気泡検査装置において、撮像画像のコント
ラストを改善し、安定的で正確に気泡や不純物の有無や
形状を検査できる気泡検査装置を提供する。 【解決手段】 被検査体の上方から撮像し画像データを
作成する撮像手段と、被検査体に上方斜め方向から光を
照射する第1の照明手段と、撮像手段と同軸方向から光
を照射する第2の照明手段と、画像データを保存する画
像メモリと画像メモリの画像を処理する画像処理回路を
有する画像処理手段とを有し、撮像手段は、第1の照明
手段により照明された被検査体を撮像して第1の画像デ
ータを作成し、第2の照明手段により照明された被検査
体を撮影して第2の画像データを作成し、画像処理回路
は、第1の画像データおよび第2の画像データを用いて
画像データ内の特徴部を抽出することで、気泡検査を行
う。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光半導体部品の透
明モールド樹脂やガラスなどの内部に発生する気泡の検
査装置に関し、特に、複数の照明方向によって得られた
画像により、気泡欠陥がある画像のコントラスを改善
し、安定した検査を可能とする気泡検査装置の改良に関
する。
明モールド樹脂やガラスなどの内部に発生する気泡の検
査装置に関し、特に、複数の照明方向によって得られた
画像により、気泡欠陥がある画像のコントラスを改善
し、安定した検査を可能とする気泡検査装置の改良に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来、ガラスなどの透明/半透明物体内
での気泡の有無を検査する気泡検査装置がある。このよ
うな装置は、例えば、特開平4−359106号公報に
開示されている。この公報で開示された気泡検査装置で
は、図11に示すように、被検査体101に対し斜め上
方に設置された照明装置103からのみ照明光を照射
し、気泡部分よりの反射光をTVカメラ102でとら
え、その画像を画像処理装置105で処理することで、
被検査体101内の気泡の有無を判断する。
での気泡の有無を検査する気泡検査装置がある。このよ
うな装置は、例えば、特開平4−359106号公報に
開示されている。この公報で開示された気泡検査装置で
は、図11に示すように、被検査体101に対し斜め上
方に設置された照明装置103からのみ照明光を照射
し、気泡部分よりの反射光をTVカメラ102でとら
え、その画像を画像処理装置105で処理することで、
被検査体101内の気泡の有無を判断する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
気泡検査装置では、次のような問題がある。気泡の形
状によってはこの気泡の検出ができない、または気泡の
正確な形状を把握できないことがあるという問題点が指
摘されている。その理由は、従来の気泡検査装置では、
気泡の形状が球形であることを前提としているため、被
検査体の斜め上方からのみ光を当てている。しかし、例
えば、細長い気泡などは、反射光が特定の部分(短辺部
分等)のみが光り、また平たいものなどは、周囲のみが
光ることもある。つまり、気泡全体が反射するとは限ら
ないため、気泡を安定的に正しく計測・検査できない場
合がある。従来の気泡検査装置では、1つの反射光の
みに基づいて気泡の有無および気泡の形状を検出してい
るため、被検査物の表面状態(凹凸等)により反射光が
低下し、撮像した画像のコントラストが低くなってしま
うことがあるという問題点が指摘されている。従来の
気泡検査装置では、使用する光学系によっては被検査体
を設置するステージが透けて写り込むことで、気泡の有
無や形状を正しく認識できない(誤認識をしてしまう)
場合もあるという問題点が指摘されている。つまり、背
景と気泡の区別がつきにくい場合もあるということが指
摘されている。
気泡検査装置では、次のような問題がある。気泡の形
状によってはこの気泡の検出ができない、または気泡の
正確な形状を把握できないことがあるという問題点が指
摘されている。その理由は、従来の気泡検査装置では、
気泡の形状が球形であることを前提としているため、被
検査体の斜め上方からのみ光を当てている。しかし、例
えば、細長い気泡などは、反射光が特定の部分(短辺部
分等)のみが光り、また平たいものなどは、周囲のみが
光ることもある。つまり、気泡全体が反射するとは限ら
ないため、気泡を安定的に正しく計測・検査できない場
合がある。従来の気泡検査装置では、1つの反射光の
みに基づいて気泡の有無および気泡の形状を検出してい
るため、被検査物の表面状態(凹凸等)により反射光が
低下し、撮像した画像のコントラストが低くなってしま
うことがあるという問題点が指摘されている。従来の
気泡検査装置では、使用する光学系によっては被検査体
を設置するステージが透けて写り込むことで、気泡の有
無や形状を正しく認識できない(誤認識をしてしまう)
場合もあるという問題点が指摘されている。つまり、背
景と気泡の区別がつきにくい場合もあるということが指
摘されている。
【0004】本発明は、上記問題点に鑑みなされたもの
であり、透明物体や半透明物体などの被検査物内の気泡
を撮像する気泡検査装置において、撮像画像のコントラ
ストを改善し、安定的で正確に気泡や不純物の有無や形
状を検査できる気泡検査装置を提供することを目的とす
る。
であり、透明物体や半透明物体などの被検査物内の気泡
を撮像する気泡検査装置において、撮像画像のコントラ
ストを改善し、安定的で正確に気泡や不純物の有無や形
状を検査できる気泡検査装置を提供することを目的とす
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに、請求項1記載の気泡検査装置の発明は、被検査体
の上方から撮像し画像データを作成する撮像手段と、被
検査体に上方斜め方向から光を照射する第1の照明手段
と、撮像手段と同軸方向から光を照射する第2の照明手
段と、画像データを保存する画像メモリと画像メモリの
画像を処理する画像処理回路を有する画像処理手段とを
有し、撮像手段は、第1の照明手段により照明された被
検査体を撮像して第1の画像データを作成し、第2の照
明手段により照明された被検査体を撮影して第2の画像
データを作成し、画像処理回路は、第1の画像データお
よび第2の画像データを用いて画像データ内の特徴部を
抽出することで、気泡検査を行うことを特徴とする。
めに、請求項1記載の気泡検査装置の発明は、被検査体
の上方から撮像し画像データを作成する撮像手段と、被
検査体に上方斜め方向から光を照射する第1の照明手段
と、撮像手段と同軸方向から光を照射する第2の照明手
段と、画像データを保存する画像メモリと画像メモリの
画像を処理する画像処理回路を有する画像処理手段とを
有し、撮像手段は、第1の照明手段により照明された被
検査体を撮像して第1の画像データを作成し、第2の照
明手段により照明された被検査体を撮影して第2の画像
データを作成し、画像処理回路は、第1の画像データお
よび第2の画像データを用いて画像データ内の特徴部を
抽出することで、気泡検査を行うことを特徴とする。
【0006】請求項2記載の発明は、請求項1の気泡検
査装置において、画像処理回路は、第1の画像データお
よび第2の画像データそれぞれにヒストグラム処理を施
して各画像データの背景輝度を検出し、背景輝度に基づ
きそれぞれの画像データの輝度の補正値を算出し、補正
値を輝度から減じた各画像データから差画像を作成し、
画像データ内の特徴部を抽出することを特徴とする。
査装置において、画像処理回路は、第1の画像データお
よび第2の画像データそれぞれにヒストグラム処理を施
して各画像データの背景輝度を検出し、背景輝度に基づ
きそれぞれの画像データの輝度の補正値を算出し、補正
値を輝度から減じた各画像データから差画像を作成し、
画像データ内の特徴部を抽出することを特徴とする。
【0007】請求項3記載の発明は、請求項1の気泡検
査装置において、画像処理回路は、第1の画像データの
最小輝度および最大輝度から第1の輝度の補正値を算出
し、第2の画像データの最小輝度および最大輝度から第
2の輝度の補正値を算出し、各画像データの輝度値から
各補正値を減じた画像データから差画像を作成し、画像
データ内の特徴部を抽出することを特徴とする。
査装置において、画像処理回路は、第1の画像データの
最小輝度および最大輝度から第1の輝度の補正値を算出
し、第2の画像データの最小輝度および最大輝度から第
2の輝度の補正値を算出し、各画像データの輝度値から
各補正値を減じた画像データから差画像を作成し、画像
データ内の特徴部を抽出することを特徴とする。
【0008】請求項4記載の発明は、請求項1の気泡検
査装置において、画像処理回路は、第1および第2の画
像データの平均輝度をそれぞれ検出し、検出した平均輝
度に基づき各画像データの輝度の補正値を算出し、各画
像データからそれぞれ補正値を減じた画像データから差
画像を作成し、画像データ内の特徴部を抽出することを
特徴とする。
査装置において、画像処理回路は、第1および第2の画
像データの平均輝度をそれぞれ検出し、検出した平均輝
度に基づき各画像データの輝度の補正値を算出し、各画
像データからそれぞれ補正値を減じた画像データから差
画像を作成し、画像データ内の特徴部を抽出することを
特徴とする。
【0009】請求項5記載の発明は、請求項1の気泡検
査装置において、画像処理回路は、画像処理回路は、第
1の画像データおよび第2の画像データそれぞれにヒス
トグラム処理を施して各画像データの背景輝度を検出
し、背景輝度に基づきそれぞれの画像データの輝度の補
正値を算出し、第1の画像データおよび第2の画像デー
タの輝度からそれぞれの輝度の補正値を減じたデータを
用いて作成する第1の差画像と、第1の画像データの最
小輝度値から第1の補正値を算出し、第2の画像データ
の最大輝度値から第2の補正値を算出し、第1および第
2の画像データの輝度値からそれぞれ第1の補正値およ
び第2の輝度値を減じたデータを用いて作成する第2の
差画像と、第1および第2の画像データの平均輝度をそ
れぞれ検出し、検出した平均輝度に基づき各画像データ
の輝度の補正値を算出し、第1および第2の画像データ
の輝度から上記輝度の補正値を減じたデータを用いて作
成する第3の差画像の内の複数または全ての差画像を作
成し、作成した差画像の内の任意の差画像を採用して画
像データ内の特徴部を抽出することを特徴とする。
査装置において、画像処理回路は、画像処理回路は、第
1の画像データおよび第2の画像データそれぞれにヒス
トグラム処理を施して各画像データの背景輝度を検出
し、背景輝度に基づきそれぞれの画像データの輝度の補
正値を算出し、第1の画像データおよび第2の画像デー
タの輝度からそれぞれの輝度の補正値を減じたデータを
用いて作成する第1の差画像と、第1の画像データの最
小輝度値から第1の補正値を算出し、第2の画像データ
の最大輝度値から第2の補正値を算出し、第1および第
2の画像データの輝度値からそれぞれ第1の補正値およ
び第2の輝度値を減じたデータを用いて作成する第2の
差画像と、第1および第2の画像データの平均輝度をそ
れぞれ検出し、検出した平均輝度に基づき各画像データ
の輝度の補正値を算出し、第1および第2の画像データ
の輝度から上記輝度の補正値を減じたデータを用いて作
成する第3の差画像の内の複数または全ての差画像を作
成し、作成した差画像の内の任意の差画像を採用して画
像データ内の特徴部を抽出することを特徴とする。
【0010】請求項6記載の発明は、請求項1の気泡検
査装置において、画像処理回路は、画像処理回路は、第
1の画像データおよび第2の画像データそれぞれにヒス
トグラム処理を施して各画像データの背景輝度を検出
し、背景輝度に基づきそれぞれの画像データの輝度の補
正値を算出し、第1の画像データおよび第2の画像デー
タの輝度からそれぞれの輝度の補正値を減じたデータを
用いて作成する第1の差画像と、第1の画像データの最
小輝度値から第1の補正値を算出し、第2の画像データ
の最大輝度値から第2の補正値を算出し、第1および第
2の画像データの輝度値からそれぞれ第1の補正値およ
び第2の輝度値を減じたデータを用いて作成する第2の
差画像と、第1および第2の画像データの平均輝度をそ
れぞれ検出し、検出した平均輝度に基づき各画像データ
の輝度の補正値を算出し、第1および第2の画像データ
の輝度から上記輝度の補正値を減じたデータを用いて作
成する第3の差画像の内の複数または全ての差画像を作
成し、作成した差画像内の最大輝度値と最小輝度値との
差が最も大きい差画像を採用して画像データ内の特徴部
を抽出することを特徴とする。
査装置において、画像処理回路は、画像処理回路は、第
1の画像データおよび第2の画像データそれぞれにヒス
トグラム処理を施して各画像データの背景輝度を検出
し、背景輝度に基づきそれぞれの画像データの輝度の補
正値を算出し、第1の画像データおよび第2の画像デー
タの輝度からそれぞれの輝度の補正値を減じたデータを
用いて作成する第1の差画像と、第1の画像データの最
小輝度値から第1の補正値を算出し、第2の画像データ
の最大輝度値から第2の補正値を算出し、第1および第
2の画像データの輝度値からそれぞれ第1の補正値およ
び第2の輝度値を減じたデータを用いて作成する第2の
差画像と、第1および第2の画像データの平均輝度をそ
れぞれ検出し、検出した平均輝度に基づき各画像データ
の輝度の補正値を算出し、第1および第2の画像データ
の輝度から上記輝度の補正値を減じたデータを用いて作
成する第3の差画像の内の複数または全ての差画像を作
成し、作成した差画像内の最大輝度値と最小輝度値との
差が最も大きい差画像を採用して画像データ内の特徴部
を抽出することを特徴とする。
【0011】請求項7記載の発明は、請求項1の気泡検
査装置において、画像処理回路は、画像処理回路は、第
1の画像データおよび第2の画像データそれぞれにヒス
トグラム処理を施して各画像データの背景輝度を検出
し、背景輝度に基づきそれぞれの画像データの輝度の補
正値を算出し、第1の画像データおよび第2の画像デー
タの輝度からそれぞれの輝度の補正値を減じたデータを
用いて作成する第1の差画像と、第1の画像データの最
小輝度値から第1の補正値を算出し、第2の画像データ
の最大輝度値から第2の補正値を算出し、第1および第
2の画像データの輝度値からそれぞれ第1の補正値およ
び第2の輝度値を減じたデータを用いて作成する第2の
差画像と、第1および第2の画像データの平均輝度をそ
れぞれ検出し、検出した平均輝度に基づき各画像データ
の輝度の補正値を算出し、第1および第2の画像データ
の輝度から上記輝度の補正値を減じたデータを用いて作
成する第3の差画像の内の複数または全ての差画像を作
成し、作成した差画像の輝度値を平均した画像を差画像
として採用して画像データ内の特徴部を抽出することを
特徴とする。
査装置において、画像処理回路は、画像処理回路は、第
1の画像データおよび第2の画像データそれぞれにヒス
トグラム処理を施して各画像データの背景輝度を検出
し、背景輝度に基づきそれぞれの画像データの輝度の補
正値を算出し、第1の画像データおよび第2の画像デー
タの輝度からそれぞれの輝度の補正値を減じたデータを
用いて作成する第1の差画像と、第1の画像データの最
小輝度値から第1の補正値を算出し、第2の画像データ
の最大輝度値から第2の補正値を算出し、第1および第
2の画像データの輝度値からそれぞれ第1の補正値およ
び第2の輝度値を減じたデータを用いて作成する第2の
差画像と、第1および第2の画像データの平均輝度をそ
れぞれ検出し、検出した平均輝度に基づき各画像データ
の輝度の補正値を算出し、第1および第2の画像データ
の輝度から上記輝度の補正値を減じたデータを用いて作
成する第3の差画像の内の複数または全ての差画像を作
成し、作成した差画像の輝度値を平均した画像を差画像
として採用して画像データ内の特徴部を抽出することを
特徴とする。
【0012】請求項8記載の発明は、請求項1の気泡検
査装置において、画像処理回路は、画像処理回路は、第
1の画像データおよび第2の画像データそれぞれにヒス
トグラム処理を施して各画像データの背景輝度を検出
し、背景輝度に基づきそれぞれの画像データの輝度の補
正値を算出し、第1の画像データおよび第2の画像デー
タの輝度からそれぞれの輝度の補正値を減じたデータを
用いて作成する第1の差画像と、第1の画像データの最
小輝度値から第1の補正値を算出し、第2の画像データ
の最大輝度値から第2の補正値を算出し、第1および第
2の画像データの輝度値からそれぞれ第1の補正値およ
び第2の輝度値を減じたデータを用いて作成する第2の
差画像と、第1および第2の画像データの平均輝度をそ
れぞれ検出し、検出した平均輝度に基づき各画像データ
の輝度の補正値を算出し、第1および第2の画像データ
の輝度から上記輝度の補正値を減じたデータを用いて作
成する第3の差画像の内の複数または全ての差画像を作
成し、作成した差画像の輝度値に重み付けを行い、各輝
度値を加算して作成した画像を差画像として採用して画
像データ内の特徴部を抽出することを特徴とする。
査装置において、画像処理回路は、画像処理回路は、第
1の画像データおよび第2の画像データそれぞれにヒス
トグラム処理を施して各画像データの背景輝度を検出
し、背景輝度に基づきそれぞれの画像データの輝度の補
正値を算出し、第1の画像データおよび第2の画像デー
タの輝度からそれぞれの輝度の補正値を減じたデータを
用いて作成する第1の差画像と、第1の画像データの最
小輝度値から第1の補正値を算出し、第2の画像データ
の最大輝度値から第2の補正値を算出し、第1および第
2の画像データの輝度値からそれぞれ第1の補正値およ
び第2の輝度値を減じたデータを用いて作成する第2の
差画像と、第1および第2の画像データの平均輝度をそ
れぞれ検出し、検出した平均輝度に基づき各画像データ
の輝度の補正値を算出し、第1および第2の画像データ
の輝度から上記輝度の補正値を減じたデータを用いて作
成する第3の差画像の内の複数または全ての差画像を作
成し、作成した差画像の輝度値に重み付けを行い、各輝
度値を加算して作成した画像を差画像として採用して画
像データ内の特徴部を抽出することを特徴とする。
【0013】請求項9記載の発明は、請求項1から8の
いずれか1の気泡検査装置において、撮像手段は、被検
査体の厚みと略同一または厚み以下の焦点深度の光学系
を有することを特徴とする。
いずれか1の気泡検査装置において、撮像手段は、被検
査体の厚みと略同一または厚み以下の焦点深度の光学系
を有することを特徴とする。
【0014】請求項10記載の発明は、請求項1から9
のいずれか1の気泡検査装置において、撮像手段の撮像
タイミングに応じて、第1の照明手段および第2の照明
手段の点灯、消灯を制御し、かつ、第1の照明手段と第
2の照明手段とが同時に点灯しないよう制御する点灯制
御回路をさらに有することを特徴とする。
のいずれか1の気泡検査装置において、撮像手段の撮像
タイミングに応じて、第1の照明手段および第2の照明
手段の点灯、消灯を制御し、かつ、第1の照明手段と第
2の照明手段とが同時に点灯しないよう制御する点灯制
御回路をさらに有することを特徴とする。
【0015】請求項11記載の発明は、請求項1から1
0のいずれか1の気泡検査装置において、第1の照明手
段は、被検査体への照射角度のことなる複数のリング型
または四角型の照射装置であり、被検査体への照射角度
および光量を制御可能なことを特徴とする。
0のいずれか1の気泡検査装置において、第1の照明手
段は、被検査体への照射角度のことなる複数のリング型
または四角型の照射装置であり、被検査体への照射角度
および光量を制御可能なことを特徴とする。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る気泡発生装置
を、実施の形態によって詳細に説明する。図1には、こ
の気泡発生装置の構成を示す。図1に示すように、この
気泡発生装置は、カメラ1と、斜方照明装置2と、同軸
照明装置3と、画像処理装置5とを有する。斜方照明装
置2は、被検査体4に上方斜め方向から光(斜方照明光
21)を照射する第1の照明手段である。同軸照明装置
3は、上方かつ被検査体4のカメラ1光軸方向から光を
照射する。つまり、被検査体4のカメラ1同軸方向から
の光(同軸照明光31)を照射する第2の照明手段であ
る。カメラ1は、レンズ11を有し、被検査体を上方か
ら撮像する撮像手段である。画像処理装置5は、画像メ
モリと画像メモリの画像を処理する画像処理回路とを有
する画像処理手段である。この画像メモリは、前記撮像
手段からの映像信号を保存する。画像メモリは少なくと
も同軸照明装置3による照明下で撮像した画像データと
斜方照明装置2による照明下で撮像した画像データとを
格納できればよい。すなわち、これらの画像データを格
納できれば足り、単数であると複数であるとを問わな
い。以下の説明では、画像処理装置5は、前者の画像デ
ータを格納するための画像メモリと後者の画像データを
格納するための画像メモリの2枚のメモリを有するもの
を例にとり説明する。
を、実施の形態によって詳細に説明する。図1には、こ
の気泡発生装置の構成を示す。図1に示すように、この
気泡発生装置は、カメラ1と、斜方照明装置2と、同軸
照明装置3と、画像処理装置5とを有する。斜方照明装
置2は、被検査体4に上方斜め方向から光(斜方照明光
21)を照射する第1の照明手段である。同軸照明装置
3は、上方かつ被検査体4のカメラ1光軸方向から光を
照射する。つまり、被検査体4のカメラ1同軸方向から
の光(同軸照明光31)を照射する第2の照明手段であ
る。カメラ1は、レンズ11を有し、被検査体を上方か
ら撮像する撮像手段である。画像処理装置5は、画像メ
モリと画像メモリの画像を処理する画像処理回路とを有
する画像処理手段である。この画像メモリは、前記撮像
手段からの映像信号を保存する。画像メモリは少なくと
も同軸照明装置3による照明下で撮像した画像データと
斜方照明装置2による照明下で撮像した画像データとを
格納できればよい。すなわち、これらの画像データを格
納できれば足り、単数であると複数であるとを問わな
い。以下の説明では、画像処理装置5は、前者の画像デ
ータを格納するための画像メモリと後者の画像データを
格納するための画像メモリの2枚のメモリを有するもの
を例にとり説明する。
【0017】つまり、同軸照明装置3は、カメラ1の被
検査体4の撮像方向(図1の31の方向)と略同一の方
向に光を照射する。換言すれば、カメラ1の撮像方向
と、同軸照明装置3の被検査体4への光の照射方向とは
略一致するように構成する。従って、図1の31で示す
方向は、カメラ1の撮像方向であると共に、同軸照明装
置3が被検査体4に照射する同軸照明光の方向とも言え
る。また、斜方照明装置2の被検査体4への照射方向
は、同軸照明装置3の照射方向とは異なるように構成す
る。より具体的には、斜方照明装置2は、カメラ1の撮
像軸(図1の31)と被検査体4とが交わる点でのこの
撮像軸に垂直な平面を基準として、カメラ1を設置した
側に設け、同軸照明装置3の照射方向とは異なる方向か
ら被検査体4を照射する。つまり、この平面を基準とし
てカメラ1の位置を上と規定すると、同軸照射装置3
は、上から被検査体4に同軸照明光31を照射する。ま
た、斜方照明装置2は、カメラ1が設けられた側、すな
わち上側で、カメラ1の撮像軸上または当該撮像軸と平
行する軸上を照射方向としない位置、いわゆる図1に示
すような上斜めの方向から被検査体4を照射する。従っ
て、同軸照明装置3の同軸照明光31と斜方照明装置2
の斜方照明光21とは一致することはなく、また、平行
の関係となることはない。
検査体4の撮像方向(図1の31の方向)と略同一の方
向に光を照射する。換言すれば、カメラ1の撮像方向
と、同軸照明装置3の被検査体4への光の照射方向とは
略一致するように構成する。従って、図1の31で示す
方向は、カメラ1の撮像方向であると共に、同軸照明装
置3が被検査体4に照射する同軸照明光の方向とも言え
る。また、斜方照明装置2の被検査体4への照射方向
は、同軸照明装置3の照射方向とは異なるように構成す
る。より具体的には、斜方照明装置2は、カメラ1の撮
像軸(図1の31)と被検査体4とが交わる点でのこの
撮像軸に垂直な平面を基準として、カメラ1を設置した
側に設け、同軸照明装置3の照射方向とは異なる方向か
ら被検査体4を照射する。つまり、この平面を基準とし
てカメラ1の位置を上と規定すると、同軸照射装置3
は、上から被検査体4に同軸照明光31を照射する。ま
た、斜方照明装置2は、カメラ1が設けられた側、すな
わち上側で、カメラ1の撮像軸上または当該撮像軸と平
行する軸上を照射方向としない位置、いわゆる図1に示
すような上斜めの方向から被検査体4を照射する。従っ
て、同軸照明装置3の同軸照明光31と斜方照明装置2
の斜方照明光21とは一致することはなく、また、平行
の関係となることはない。
【0018】この気泡検査装置は、以下の手順で被検査
体内の気泡を検査する。 斜方照明装置2のみで被検査体4を照射する。すなわ
ち、上斜め方向からのみの照射状態とする。そして、カ
メラ1により被検査体4を撮像し、画像データ(以下、
第1の画像データと表記する。)を作成する。画像処理
装置5は、第1の画像データを画像入力I/F51を介
して画像メモリ52Aに保存する。
体内の気泡を検査する。 斜方照明装置2のみで被検査体4を照射する。すなわ
ち、上斜め方向からのみの照射状態とする。そして、カ
メラ1により被検査体4を撮像し、画像データ(以下、
第1の画像データと表記する。)を作成する。画像処理
装置5は、第1の画像データを画像入力I/F51を介
して画像メモリ52Aに保存する。
【0019】同軸照明装置3のみで被検査体4を照射
する。すなわち、上方投影方向のみの照明状態とする。
そして、カメラ1により被検査体4を撮像し、画像デー
タ(以下、第2の画像データと表記する。)を作成す
る。画像処理装置5は、第2の画像データを画像入力I
/F51を介して画像メモリ52Bに保存する。
する。すなわち、上方投影方向のみの照明状態とする。
そして、カメラ1により被検査体4を撮像し、画像デー
タ(以下、第2の画像データと表記する。)を作成す
る。画像処理装置5は、第2の画像データを画像入力I
/F51を介して画像メモリ52Bに保存する。
【0020】画像処理装置5は、画像メモリ52に格
納した第1の画像データと第2の画像データを基に画像
処理回路で処理画像を抽出し、前記処理画像から所定の
特徴を抽出する(図2の54〜57)。そして、良否判
定回路58により被検査体の気泡の存在を判定する。
納した第1の画像データと第2の画像データを基に画像
処理回路で処理画像を抽出し、前記処理画像から所定の
特徴を抽出する(図2の54〜57)。そして、良否判
定回路58により被検査体の気泡の存在を判定する。
【0021】なお、撮像の順序は限定されない。つま
り、ととを逆の順番で画像データを作成してもよ
い。従って、気泡検査装置は、各照明装置2、3を同時
に点灯させず、カメラ1の撮像タイミングにより点灯す
る照明装置を切り替えられるように構成すればよい。つ
まり、図1での照明装置2と3の切り替え方法として
は、スイッチ等によるマニュアル操作による切り替え方
法や、ハードウェア的な例えばI/O制御等による切り
替え方法などを採用できる。以下に詳述する。
り、ととを逆の順番で画像データを作成してもよ
い。従って、気泡検査装置は、各照明装置2、3を同時
に点灯させず、カメラ1の撮像タイミングにより点灯す
る照明装置を切り替えられるように構成すればよい。つ
まり、図1での照明装置2と3の切り替え方法として
は、スイッチ等によるマニュアル操作による切り替え方
法や、ハードウェア的な例えばI/O制御等による切り
替え方法などを採用できる。以下に詳述する。
【0022】上記の工程では、言い換えれば、斜方照
明装置2による斜方照明光21のみで被検査体4を照射
した照明条件下で撮像し、第1の画像データを作成す
る。図3には、気泡検査装置が第1の画像データを作成
する条件を説明するための模式図を示す。前記したよう
に、斜方照明装置2の照射方向(斜方照明光21の方
向)にはカメラ1の撮像方向とは異なる方向を採用す
る。従って、斜方照明光21の被検査体4での反射光
は、図3に示すようにカメラ1にはほとんど入射しな
い。しかし、気泡は、通常、図3に示すように被検査体
4とは異なる形状をとるため、反射光をカメラ1に入射
させることもある。従って、図3の例で得られる第1の
画像データは、図4のようになる。すなわち、気泡によ
る反射光はカメラ1にほとんど入射し、被検査体4の気
泡を有しない部分による反射光はカメラ1にほとんど入
射しないため、被検査体4の気泡が存在する部分の明度
は高い値となり、気泡が存在しない部分の明度は小さな
値になる。すなわち、図4に示す被検査体4を斜方照明
装置2の照明下で撮像した画像モデルに示すように、こ
の工程では、上斜めからの照明光が被検査体4内の気泡
に反射し、その反射光がカメラの光軸と一致する。その
結果、第1の画像データ(画像A)は、気泡の部分は明
るくなり、気泡以外の部分(背景)は反射光がほぼない
ため暗くなる。
明装置2による斜方照明光21のみで被検査体4を照射
した照明条件下で撮像し、第1の画像データを作成す
る。図3には、気泡検査装置が第1の画像データを作成
する条件を説明するための模式図を示す。前記したよう
に、斜方照明装置2の照射方向(斜方照明光21の方
向)にはカメラ1の撮像方向とは異なる方向を採用す
る。従って、斜方照明光21の被検査体4での反射光
は、図3に示すようにカメラ1にはほとんど入射しな
い。しかし、気泡は、通常、図3に示すように被検査体
4とは異なる形状をとるため、反射光をカメラ1に入射
させることもある。従って、図3の例で得られる第1の
画像データは、図4のようになる。すなわち、気泡によ
る反射光はカメラ1にほとんど入射し、被検査体4の気
泡を有しない部分による反射光はカメラ1にほとんど入
射しないため、被検査体4の気泡が存在する部分の明度
は高い値となり、気泡が存在しない部分の明度は小さな
値になる。すなわち、図4に示す被検査体4を斜方照明
装置2の照明下で撮像した画像モデルに示すように、こ
の工程では、上斜めからの照明光が被検査体4内の気泡
に反射し、その反射光がカメラの光軸と一致する。その
結果、第1の画像データ(画像A)は、気泡の部分は明
るくなり、気泡以外の部分(背景)は反射光がほぼない
ため暗くなる。
【0023】上記の工程では、言い換えれば、同軸照
明装置3による同軸照明光31のみで被検査体4を照射
した照明条件下で撮像して第2の画像データを作成す
る。図5には、気泡検査装置が第2の画像データを作成
する条件を説明するための模式図を示す。前記したよう
に、同軸照明装置3の照射方向(同軸照明光31の方
向)には、カメラ1の撮像方向と略同一または略平行の
方向を採用する。従って、被検査体4は、図5に示すよ
うに、同軸照明光31をカメラ1へ反射する割合が高く
なる。これに対して、気泡は、通常、被検査体4と異な
る形状をとるため、同軸照明光31をカメラ1以外の方
向に反射させる割合が高い。つまり、同軸照明光31の
反射光は、被検査体4によるものはカメラ1に入射する
割合が高くなり、気泡によるものはカメラ1に入射する
割合は低い。従って、図5の例で得られる第2の画像デ
ータは、図6のようになる。すなわち、気泡による反射
光はカメラ1にはほとんど入射せず、検査体4の気泡を
有しない部分による反射光はカメラ1にほとんど入射す
るため、被検査体4の気泡が存在する部分の明度は低い
値となり、気泡が存在しない部分の明度は高い値とな
る。すなわち、図6に示す被検査体4を同軸照明装置3
の照明下で撮像した画像モデルに示すように、この工程
では、上方向かつカメラ1の光軸方向の照明光が被検査
体4内の気泡に反射するが、その反射光はカメラ1の光
軸に一致しない。その結果、第2の画像データ(画像
B)は、気泡の部分が暗くなり、気泡以外の背景は正反
射するために明るくなる。以下、上記の工程を実現す
るための画像処理装置5について詳述する。
明装置3による同軸照明光31のみで被検査体4を照射
した照明条件下で撮像して第2の画像データを作成す
る。図5には、気泡検査装置が第2の画像データを作成
する条件を説明するための模式図を示す。前記したよう
に、同軸照明装置3の照射方向(同軸照明光31の方
向)には、カメラ1の撮像方向と略同一または略平行の
方向を採用する。従って、被検査体4は、図5に示すよ
うに、同軸照明光31をカメラ1へ反射する割合が高く
なる。これに対して、気泡は、通常、被検査体4と異な
る形状をとるため、同軸照明光31をカメラ1以外の方
向に反射させる割合が高い。つまり、同軸照明光31の
反射光は、被検査体4によるものはカメラ1に入射する
割合が高くなり、気泡によるものはカメラ1に入射する
割合は低い。従って、図5の例で得られる第2の画像デ
ータは、図6のようになる。すなわち、気泡による反射
光はカメラ1にはほとんど入射せず、検査体4の気泡を
有しない部分による反射光はカメラ1にほとんど入射す
るため、被検査体4の気泡が存在する部分の明度は低い
値となり、気泡が存在しない部分の明度は高い値とな
る。すなわち、図6に示す被検査体4を同軸照明装置3
の照明下で撮像した画像モデルに示すように、この工程
では、上方向かつカメラ1の光軸方向の照明光が被検査
体4内の気泡に反射するが、その反射光はカメラ1の光
軸に一致しない。その結果、第2の画像データ(画像
B)は、気泡の部分が暗くなり、気泡以外の背景は正反
射するために明るくなる。以下、上記の工程を実現す
るための画像処理装置5について詳述する。
【0024】(第1の画像処理装置)図2には、上記
の工程を実現するための画像処理装置5の第1の構成例
(第1の画像処理装置)を示す。図5に示すように、画
像処理装置5は、画像入力I/F51と、画像メモリ5
2A、Bと、画像平均輝度検出回路531と、画像補正
回路54と、差画像検出回路55と、画像2値化回路5
6と、画像計測回路57と、良否判定回路58とを有す
る。
の工程を実現するための画像処理装置5の第1の構成例
(第1の画像処理装置)を示す。図5に示すように、画
像処理装置5は、画像入力I/F51と、画像メモリ5
2A、Bと、画像平均輝度検出回路531と、画像補正
回路54と、差画像検出回路55と、画像2値化回路5
6と、画像計測回路57と、良否判定回路58とを有す
る。
【0025】画像入力I/F51は、カメラ1で作成さ
れた画像データが入力されると、これを量子化して画像
メモリ52に格納する。より具体的には、カメラ1から
の映像信号化画像入力を量子化し、第1の画像データを
画像メモリA(52A)に、第2の画像データを画像メ
モリB(52B)に記憶する。
れた画像データが入力されると、これを量子化して画像
メモリ52に格納する。より具体的には、カメラ1から
の映像信号化画像入力を量子化し、第1の画像データを
画像メモリA(52A)に、第2の画像データを画像メ
モリB(52B)に記憶する。
【0026】画像平均輝度検出回路54は、画像メモリ
52Aおよび画像メモリ52Bに格納されたそれぞれの
画像データから平均輝度を算出する。平均輝度は、公知
の方法により算出でき、例えば、画像全体、任意の矩形
内または縦横の1ラインをサンプルにとり算出すること
ができる。ここで、算出した画像メモリA内の画像デー
タ(第1の画像データ)の平均輝度を平均輝度A、画像
メモリB内の画像データ(第2の画像データ)の平均輝
度を平均輝度Bとする。
52Aおよび画像メモリ52Bに格納されたそれぞれの
画像データから平均輝度を算出する。平均輝度は、公知
の方法により算出でき、例えば、画像全体、任意の矩形
内または縦横の1ラインをサンプルにとり算出すること
ができる。ここで、算出した画像メモリA内の画像デー
タ(第1の画像データ)の平均輝度を平均輝度A、画像
メモリB内の画像データ(第2の画像データ)の平均輝
度を平均輝度Bとする。
【0027】画像補正回路54は、平均輝度A及び平均
輝度Bを用いて、第1の画像データ、第2の画像データ
それぞれの画像輝度値を補正する。画像輝度の補正方法
について、図7を参照しながら詳細に説明する。図7に
は、画像補正回路54の画像輝度の補正方法を説明する
ための模式図を示す。図7(A−1)には、画像メモリ
52Aに記憶された斜方照明による撮像画像(第1の画
像データ)の模式図を示す。図4同様に、気泡70の部
分は、それ以外の背景部分に比べて輝度(明度)が大き
くなる。図7(A−2)には、第1の画像データの気泡
を含む線L上の輝度をグラフを示す。ここでは、気泡部
分のコントラストを表す評価値を気泡コントラスト値7
1、背景部分を表す値を背景基準値72とする。つま
り、背景画像(気泡を有しない領域の画像)の輝度の平
均値を背景基準値72とし、点Lの中で最も高い輝度の
値から背景基準値を減じた値を気泡コントラスト値71
とする。
輝度Bを用いて、第1の画像データ、第2の画像データ
それぞれの画像輝度値を補正する。画像輝度の補正方法
について、図7を参照しながら詳細に説明する。図7に
は、画像補正回路54の画像輝度の補正方法を説明する
ための模式図を示す。図7(A−1)には、画像メモリ
52Aに記憶された斜方照明による撮像画像(第1の画
像データ)の模式図を示す。図4同様に、気泡70の部
分は、それ以外の背景部分に比べて輝度(明度)が大き
くなる。図7(A−2)には、第1の画像データの気泡
を含む線L上の輝度をグラフを示す。ここでは、気泡部
分のコントラストを表す評価値を気泡コントラスト値7
1、背景部分を表す値を背景基準値72とする。つま
り、背景画像(気泡を有しない領域の画像)の輝度の平
均値を背景基準値72とし、点Lの中で最も高い輝度の
値から背景基準値を減じた値を気泡コントラスト値71
とする。
【0028】図7(B−1)には、画像メモリ53Bに
記憶された同軸照明による撮像画像(第2の画像デー
タ)の模式図を示す。図6同様に、気泡70の部分は同
軸照明のため、それ以外の背景部分に比べて輝度が小さ
くなる。図7(B−2)には、第2の画像データの気泡
を含む線L上の輝度をグラフを示す。ここでは、気泡部
分のコントラストを表す値を気泡コントラスト値73、
背景部分を表す値を背景基準値74とする。つまり、点
L上の背景画像(気泡を有しない領域の画像)の輝度の
平均値を背景基準値74とし、背景基準値74から点L
の中で最も小さい輝度の値を減じた値を気泡コントラス
ト値73とする。
記憶された同軸照明による撮像画像(第2の画像デー
タ)の模式図を示す。図6同様に、気泡70の部分は同
軸照明のため、それ以外の背景部分に比べて輝度が小さ
くなる。図7(B−2)には、第2の画像データの気泡
を含む線L上の輝度をグラフを示す。ここでは、気泡部
分のコントラストを表す値を気泡コントラスト値73、
背景部分を表す値を背景基準値74とする。つまり、点
L上の背景画像(気泡を有しない領域の画像)の輝度の
平均値を背景基準値74とし、背景基準値74から点L
の中で最も小さい輝度の値を減じた値を気泡コントラス
ト値73とする。
【0029】画像補正回路は、第1の画像データおよび
第2の画像データでの平均輝度を同レベルにして画像デ
ータを補正する。つまり、第1の画像データを下記式1
により、第2の画像データを下記式2により各画像デー
タの輝度値を補正する。 Pa’(X、Y)=Pa(X、Y)−平均輝度A ・・・(式1) Pa’(X、Y) :補正後の第1の画像データの点(X、Y)における輝
度値 Pa(X、Y) :補正前の第1の画像データの点(X、Y)における輝
度値 Pb’(X、Y)=Pb(X、Y)−平均輝度B ・・・(式2) Pb’(X、Y) :補正後の第2の画像データの点(X、Y)における輝
度値 Pb(X、Y) :補正前の第2の画像データの点(X、Y)における輝
度値
第2の画像データでの平均輝度を同レベルにして画像デ
ータを補正する。つまり、第1の画像データを下記式1
により、第2の画像データを下記式2により各画像デー
タの輝度値を補正する。 Pa’(X、Y)=Pa(X、Y)−平均輝度A ・・・(式1) Pa’(X、Y) :補正後の第1の画像データの点(X、Y)における輝
度値 Pa(X、Y) :補正前の第1の画像データの点(X、Y)における輝
度値 Pb’(X、Y)=Pb(X、Y)−平均輝度B ・・・(式2) Pb’(X、Y) :補正後の第2の画像データの点(X、Y)における輝
度値 Pb(X、Y) :補正前の第2の画像データの点(X、Y)における輝
度値
【0030】ここで、平均輝度Aは、図7(A−2)に
示す背景基準値72よりも高い値(気泡コントラスト7
1側)に位置する。しかし、気泡の大きさが被検査体4
の大きさに比べて十分に小さく、気泡の存在確率も十分
に低ければ、極めて背景基準値72に近似した値とな
る。同様に、平均輝度Bも、背景基準値74よりも低い
値(気泡コントラスト73側)に位置する。しかし、気
泡の大きさが被検査体4の大きさに比べて十分に小さ
く、気泡の存在確率も十分に低ければ、背景基準値74
に極めて近似した値となる。つまり、補正結果の画像デ
ータは、図7(A−2)の背景基準値72および(B−
2)の背景基準値74がほぼ0となる。そして、画像メ
モリAの気泡部分は正の値のままとなり、画像メモリB
の気泡部分は負の値となる。
示す背景基準値72よりも高い値(気泡コントラスト7
1側)に位置する。しかし、気泡の大きさが被検査体4
の大きさに比べて十分に小さく、気泡の存在確率も十分
に低ければ、極めて背景基準値72に近似した値とな
る。同様に、平均輝度Bも、背景基準値74よりも低い
値(気泡コントラスト73側)に位置する。しかし、気
泡の大きさが被検査体4の大きさに比べて十分に小さ
く、気泡の存在確率も十分に低ければ、背景基準値74
に極めて近似した値となる。つまり、補正結果の画像デ
ータは、図7(A−2)の背景基準値72および(B−
2)の背景基準値74がほぼ0となる。そして、画像メ
モリAの気泡部分は正の値のままとなり、画像メモリB
の気泡部分は負の値となる。
【0031】差画像検出回路55は、第1の画像データ
および第2の画像データから画像の差画像を算出する。
すなわち、画像補正回路54で補正した第1の画像デー
タと第2の画像データの各点(X、Y)での輝度の絶対
差を算出(抽出)することで、気泡部分の画像のコント
ラストを改善できる。具体的には、差画像は、下記式3
により算出することができる。 Psub(X、Y)=Pa’(X、Y)−Pb’(X、Y) ・・・(式3) Psub(X、Y):差画像の輝度値
および第2の画像データから画像の差画像を算出する。
すなわち、画像補正回路54で補正した第1の画像デー
タと第2の画像データの各点(X、Y)での輝度の絶対
差を算出(抽出)することで、気泡部分の画像のコント
ラストを改善できる。具体的には、差画像は、下記式3
により算出することができる。 Psub(X、Y)=Pa’(X、Y)−Pb’(X、Y) ・・・(式3) Psub(X、Y):差画像の輝度値
【0032】図8には、上記式3で作成した差画像(P
sub(X、Y))を模式化したグラフを示す。気泡コ
ントラスト75は、図7の線L上で検出した差画像のコ
ントラストを表す。気泡コントラスト75は、ほぼ、気
泡コントラスト71と気泡コントラスト73を加算した
値となる。
sub(X、Y))を模式化したグラフを示す。気泡コ
ントラスト75は、図7の線L上で検出した差画像のコ
ントラストを表す。気泡コントラスト75は、ほぼ、気
泡コントラスト71と気泡コントラスト73を加算した
値となる。
【0033】良否判定回路58は、上記式3により特徴
(被検査体内の不純物、気泡等)の輝度値を強調した差
画像に基づき、被検査体4内の気泡などの不純物の位
置、大きさを特定できる。従って、従来の装置に比べて
より正確に、確実に(安定して)不純物の位置、大きさ
を把握できる。なお、良否判定回路58は、画像2値化
回路56および画像計測回路57などにより、画像処理
を施した差画像を用いて良否判定を行ってもよい。
(被検査体内の不純物、気泡等)の輝度値を強調した差
画像に基づき、被検査体4内の気泡などの不純物の位
置、大きさを特定できる。従って、従来の装置に比べて
より正確に、確実に(安定して)不純物の位置、大きさ
を把握できる。なお、良否判定回路58は、画像2値化
回路56および画像計測回路57などにより、画像処理
を施した差画像を用いて良否判定を行ってもよい。
【0034】つまり、画像2値化回路56では、指定さ
れたしきい値に基づき前記差画像から2値画像データを
生成する。画像計測回路57は、2値化された画像デー
タに一般の画像処理技術であるラベリング処理および、
粒子計測の手法を適用して、気泡部分の大きさ、位置、
形状を計測する。良否判定回路58では、前記計測結果
に基づきあらかじめ指定された不良識別用のパラメータ
と照らしあわせ、被検査体の気泡欠陥の有無、良否の判
定を行う。また、背景部分の輝度を同じ輝度レベルとす
る方法が異なる以下の2つの画像処理装置を採用するこ
ともできる。
れたしきい値に基づき前記差画像から2値画像データを
生成する。画像計測回路57は、2値化された画像デー
タに一般の画像処理技術であるラベリング処理および、
粒子計測の手法を適用して、気泡部分の大きさ、位置、
形状を計測する。良否判定回路58では、前記計測結果
に基づきあらかじめ指定された不良識別用のパラメータ
と照らしあわせ、被検査体の気泡欠陥の有無、良否の判
定を行う。また、背景部分の輝度を同じ輝度レベルとす
る方法が異なる以下の2つの画像処理装置を採用するこ
ともできる。
【0035】(第2の画像処理装置)図9に示すよう
に、第2の画像処理装置は、第1の画像処理装置の画像
平均輝度検出回路531を画像ヒストグラム回路533
に変更した装置である。すなわち、背景基準値72およ
び74を算出するために、平均輝度値を採用せず、ヒス
トグラムを用いる点のみが第1の画像処理装置と異な
る。つまり、上記第1の画像処理装置では、第1および
第2の画像データの平均輝度をそれぞれ検出し、検出し
た平均輝度に基づき各画像データの輝度の補正値を算出
し、第1および第2の画像データからそれぞれ補正値を
減じた画像データから差画像を作成し、画像データ内の
特徴部を抽出していた。これに対し、第2の画像処理装
置では、各画像データのヒストグラムを作成し、輝度分
布の多い輝度値を背景基準値とする。換言すれば、第1
の画像データおよび第2の画像データそれぞれにヒスト
グラム処理を施して各画像データの背景輝度を検出し、
当該背景輝度に基づきそれぞれの画像データの輝度の補
正値を算出し、当該補正値を輝度から減じた第1の画像
データおよび第2の画像データから差画像を作成し、画
像データ内の特徴部を抽出する。
に、第2の画像処理装置は、第1の画像処理装置の画像
平均輝度検出回路531を画像ヒストグラム回路533
に変更した装置である。すなわち、背景基準値72およ
び74を算出するために、平均輝度値を採用せず、ヒス
トグラムを用いる点のみが第1の画像処理装置と異な
る。つまり、上記第1の画像処理装置では、第1および
第2の画像データの平均輝度をそれぞれ検出し、検出し
た平均輝度に基づき各画像データの輝度の補正値を算出
し、第1および第2の画像データからそれぞれ補正値を
減じた画像データから差画像を作成し、画像データ内の
特徴部を抽出していた。これに対し、第2の画像処理装
置では、各画像データのヒストグラムを作成し、輝度分
布の多い輝度値を背景基準値とする。換言すれば、第1
の画像データおよび第2の画像データそれぞれにヒスト
グラム処理を施して各画像データの背景輝度を検出し、
当該背景輝度に基づきそれぞれの画像データの輝度の補
正値を算出し、当該補正値を輝度から減じた第1の画像
データおよび第2の画像データから差画像を作成し、画
像データ内の特徴部を抽出する。
【0036】(第3の画像処理装置)図10に示すよう
に、第3の画像処理装置は、第1の画像処理装置の画像
平均輝度検出回路531を画像輝度抽出回路532に変
更した装置である。すなわち、背景基準値72および7
4を算出するために、平均輝度値を採用せず、画像デー
タ内の最大輝度値および最小輝度値を用いる点のみが第
1の画像処理装置と異なる。すなわち、第3の画像処理
装置の画像輝度抽出回路532は、各画像データの最大
輝度値、最小輝度値を検出する。より具体的には、第1
の画像データの背景部分は暗くなるので最小輝度値を、
第2の画像データの背景部分は明るくなるので最大輝度
値を、それぞれの画像データの背景基準値とする。
に、第3の画像処理装置は、第1の画像処理装置の画像
平均輝度検出回路531を画像輝度抽出回路532に変
更した装置である。すなわち、背景基準値72および7
4を算出するために、平均輝度値を採用せず、画像デー
タ内の最大輝度値および最小輝度値を用いる点のみが第
1の画像処理装置と異なる。すなわち、第3の画像処理
装置の画像輝度抽出回路532は、各画像データの最大
輝度値、最小輝度値を検出する。より具体的には、第1
の画像データの背景部分は暗くなるので最小輝度値を、
第2の画像データの背景部分は明るくなるので最大輝度
値を、それぞれの画像データの背景基準値とする。
【0037】以上、この発明の好適な実施の形態を説明
したが、上述の実施の形態はこの発明の説明のための例
示であって、この実施形態のみにこの発明の範囲を限定
する趣旨ではない。当業者は、この発明の要旨を逸脱す
ることなく、種々の変形、改良、修正、簡略化などを上
記実施形態に加えた種々の他の形態でもこの発明を実施
することができる。例えば、画像処理装置に、上記第1
〜第3の画像処理装置の機能の内の複数または全部の機
能を持たせ、所有する機能の内、採用する機能を任意に
選択させてもよい。特に、背景となる部分のノイズ等の
状態によっては、上記第1〜第3の画像形成装置の中に
は被検査体内の気泡を正確に検出することができない場
合がある。このような場合に、すでに検査を行った方法
とは異なる方法で背景基準値を算出できるようにすれ
ば、的確に気泡の位置を検索できる可能性が高くなる。
したが、上述の実施の形態はこの発明の説明のための例
示であって、この実施形態のみにこの発明の範囲を限定
する趣旨ではない。当業者は、この発明の要旨を逸脱す
ることなく、種々の変形、改良、修正、簡略化などを上
記実施形態に加えた種々の他の形態でもこの発明を実施
することができる。例えば、画像処理装置に、上記第1
〜第3の画像処理装置の機能の内の複数または全部の機
能を持たせ、所有する機能の内、採用する機能を任意に
選択させてもよい。特に、背景となる部分のノイズ等の
状態によっては、上記第1〜第3の画像形成装置の中に
は被検査体内の気泡を正確に検出することができない場
合がある。このような場合に、すでに検査を行った方法
とは異なる方法で背景基準値を算出できるようにすれ
ば、的確に気泡の位置を検索できる可能性が高くなる。
【0038】特に、上記第1〜第3の画像処理装置の機
能で作成した複数または全ての差画像から気泡の画像を
抽出する方法としては、次のような方法を採用できる。 各機能で得られた差画像の内、一番大きな気泡コント
ラスト値を有する差画像を採用して被検査体内の気泡欠
陥の有無、良否判定を行う。 各機能で得られた差画像の輝度値を平均化して作成し
た画像を差画像とし、この差画像に基づき被検査体内の
気泡欠陥の有無、良否判定を行う。 各機能で得られた差画像の輝度値に重み付けして加算
して作成した画像を差画像とし、この差画像に基づき被
検査体内の気泡欠陥の有無、良否判定を行う。重みは、
画像データの状態(背景画像の状態等)に応じて適切に
選択すればよい。
能で作成した複数または全ての差画像から気泡の画像を
抽出する方法としては、次のような方法を採用できる。 各機能で得られた差画像の内、一番大きな気泡コント
ラスト値を有する差画像を採用して被検査体内の気泡欠
陥の有無、良否判定を行う。 各機能で得られた差画像の輝度値を平均化して作成し
た画像を差画像とし、この差画像に基づき被検査体内の
気泡欠陥の有無、良否判定を行う。 各機能で得られた差画像の輝度値に重み付けして加算
して作成した画像を差画像とし、この差画像に基づき被
検査体内の気泡欠陥の有無、良否判定を行う。重みは、
画像データの状態(背景画像の状態等)に応じて適切に
選択すればよい。
【0039】また、画像データごとに背景基準値を任意
に設定できれば、気泡欠陥の有無や良否判定をより的確
に行うことができる。すなわち、画像データ毎に背景基
準値として、 画像データの平均輝度値を採用するか、 輝度分布の多い輝度値を採用するか、 画像データ内の最大輝度値あるいは最小輝度値を採用
するか、 任意に選択できるようにすれば、背景部分のノイズなど
の影響を受けずに、適切な差画像が得られる。また、こ
の〜の内の複数または全ての値を平均化した値を背
景基準値としてもよい。また、〜の内の複数または
全ての値にそれぞれ重みをつけして得られた値を背景基
準値としてもよい。この重みは、画像データの状態(背
景画像の状態等)に応じて適切に選択すればよい。
に設定できれば、気泡欠陥の有無や良否判定をより的確
に行うことができる。すなわち、画像データ毎に背景基
準値として、 画像データの平均輝度値を採用するか、 輝度分布の多い輝度値を採用するか、 画像データ内の最大輝度値あるいは最小輝度値を採用
するか、 任意に選択できるようにすれば、背景部分のノイズなど
の影響を受けずに、適切な差画像が得られる。また、こ
の〜の内の複数または全ての値を平均化した値を背
景基準値としてもよい。また、〜の内の複数または
全ての値にそれぞれ重みをつけして得られた値を背景基
準値としてもよい。この重みは、画像データの状態(背
景画像の状態等)に応じて適切に選択すればよい。
【0040】また、レンズ11は、被検査体4の厚みと
同等以下の焦点深度を有するレンズを用い、被検査体4
の下にある固定治具等のパタンによる画像ノイズを軽減
するようにしてもよい。また、被検査体4の厚みが焦点
深度以上ある場合には、厚み方向に分割して撮像するこ
とで画像ノイズを軽減するようにしてもよい。また、斜
方照明装置2は、円形の照明装置であっても矩形の照明
装置であってもよく、レーザやLED等の照明装置を複
数使用して円形や矩形に配置しても良い。つまり、前記
したように斜方照明光21を被検査体4に照射できれば
よい。また、一方向のみから斜方照明光21を被検査体
4に照射してもよいが、図1に示すように、カメラ1の
光軸と等距離で、光軸が被検査体4と交わる位置から同
じ高さにある円周上から、光軸上の1点を照射する、い
わゆる周囲から照射するように構成してもよい。少なく
とも、前記した条件を満たす1以上の照明光により被検
査体4を照射して画像データを得ればよい。
同等以下の焦点深度を有するレンズを用い、被検査体4
の下にある固定治具等のパタンによる画像ノイズを軽減
するようにしてもよい。また、被検査体4の厚みが焦点
深度以上ある場合には、厚み方向に分割して撮像するこ
とで画像ノイズを軽減するようにしてもよい。また、斜
方照明装置2は、円形の照明装置であっても矩形の照明
装置であってもよく、レーザやLED等の照明装置を複
数使用して円形や矩形に配置しても良い。つまり、前記
したように斜方照明光21を被検査体4に照射できれば
よい。また、一方向のみから斜方照明光21を被検査体
4に照射してもよいが、図1に示すように、カメラ1の
光軸と等距離で、光軸が被検査体4と交わる位置から同
じ高さにある円周上から、光軸上の1点を照射する、い
わゆる周囲から照射するように構成してもよい。少なく
とも、前記した条件を満たす1以上の照明光により被検
査体4を照射して画像データを得ればよい。
【0041】さらに、上記第1の画像データおよび/ま
たは第2の画像データを複数、好ましくは複数の照明条
件下で複数作成してもよい。例えば、明るさや被検査体
への斜方照明光21の入射角度などをかえて作成した複
数の第1の画像データから算出し補正した輝度値を上記
式3に加えることで、画像データ内の特徴をより強調す
ることができる。つまり、検査体4内での気泡の位置、
大きさをより正確に把握することが可能となる。また、
明るさをかえて複数の第2の画像データを作成し、それ
ぞれの画像データの輝度値を補正した値を上記式3から
減算すれば、画像データ内の特徴をより強調することが
できる。
たは第2の画像データを複数、好ましくは複数の照明条
件下で複数作成してもよい。例えば、明るさや被検査体
への斜方照明光21の入射角度などをかえて作成した複
数の第1の画像データから算出し補正した輝度値を上記
式3に加えることで、画像データ内の特徴をより強調す
ることができる。つまり、検査体4内での気泡の位置、
大きさをより正確に把握することが可能となる。また、
明るさをかえて複数の第2の画像データを作成し、それ
ぞれの画像データの輝度値を補正した値を上記式3から
減算すれば、画像データ内の特徴をより強調することが
できる。
【0042】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、透明物体や半透明物体内の気泡などの不純物
の位置および大きさを、いかなる形状であっても検出す
ることが可能となる。つまり、透明物体や半透明物体内
の気泡の撮像画像のコントラストを改善することにより
安定的かつ正確に気泡検査を行うことが可能となる。ま
た、使用する光学系の焦点深度を被検査体のモールドの
厚さと等しいまたはそれ以下に設定することで、被検査
体の表面状態や被検査体を設置するXYZステージの影
響を低減し、より安定的かつ正確に気泡検査を行うこと
ができる。
によれば、透明物体や半透明物体内の気泡などの不純物
の位置および大きさを、いかなる形状であっても検出す
ることが可能となる。つまり、透明物体や半透明物体内
の気泡の撮像画像のコントラストを改善することにより
安定的かつ正確に気泡検査を行うことが可能となる。ま
た、使用する光学系の焦点深度を被検査体のモールドの
厚さと等しいまたはそれ以下に設定することで、被検査
体の表面状態や被検査体を設置するXYZステージの影
響を低減し、より安定的かつ正確に気泡検査を行うこと
ができる。
【図1】本発明の一実施の形態としての概略構成図であ
る。
る。
【図2】画像処理回路の処理を説明するためのブロック
図である。
図である。
【図3】斜方照明条件下での撮像の様子を説明するため
の図である。
の図である。
【図4】斜方照明下での気泡の見え方の説明図である。
【図5】同軸照明条件下での撮像の様子を説明するため
の図である。
の図である。
【図6】同軸照明下での気泡の見え方の説明図である。
【図7】画像補正回路の処理の説明図である。
【図8】差画像検出回路の処理の説明図である。
【図9】画像処理回路の処理の別形態を説明するための
ブロック図である。
ブロック図である。
【図10】画像処理回路の処理の別形態を説明するため
のブロック図である。
のブロック図である。
【図11】従来の技術を説明するための要約図である。
1 カメラ 2 斜方照明装置 3 同軸照明装置 4 被検査体 5 画像処理装置 11 レンズ 21 斜方照明光 31 同軸照明光 51 画像入力I/F 52 画像メモリ 54 画像補正回路 55 差画像検出回路 56 画像2値化回路 57 画像計測回路 58 良否判定回路 531 画像平均輝度検出回路 532 画像輝度抽出回路 533 画像ヒストグラム回路 101 被検査物 102 TVカメラ 103 照明装置 104 XYZ移動装置 105 画像処理装置 106 出力モニタ
フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA49 BB22 FF04 HH12 HH13 JJ03 JJ09 QQ24 QQ31 UU05 2G051 AA42 AA84 AA90 AB06 AB20 BA01 BA10 BA20 CA03 CA04 CB01 EA11 EA14 EB01 EB02 EC02 EC03 ED11 5B057 AA01 BA02 CA02 CA08 CA12 CA16 CB18 CC01 CH08 DA03 DA15 DB02 DB05 DB09 DC32 DC36 5L096 AA03 AA06 BA03 CA02 DA03 FA37 GA08 GA51 JA11
Claims (11)
- 【請求項1】 被検査体を撮像し画像データを作成する
撮像手段と、 当該撮像手段の光軸と被検査体とが交わる点を通り当該
光軸に垂直な平面を基準として撮像手段が設けられた側
に設けられ、前記光軸と一致する関係または平行の関係
にない照射方向で被検査体を照射する第1の照明手段
と、 前記平面を基準として撮像手段が設けられた側に設けら
れ、前記光軸と略同一方向または略平行する照射方向で
被検査体を照射する第2の照明手段と、 前記画像データを保存する画像メモリと当該画像メモリ
の画像を処理する画像処理回路を有する画像処理手段と
を有し、 前記撮像手段は、前記第1の照明手段により照明された
被検査体を撮像して第1の画像データを作成し、前記第
2の照明手段により照明された被検査体を撮影して第2
の画像データを作成し、前記画像処理回路は、前記第1
の画像データおよび第2の画像データを用いて画像デー
タ内の特徴部を抽出することで気泡検査を行うことを特
徴とする気泡検査装置。 - 【請求項2】 前記画像処理回路は、前記第1の画像デ
ータおよび第2の画像データそれぞれにヒストグラム処
理を施して各画像データの背景輝度を検出し、当該背景
輝度に基づきそれぞれの画像データの輝度の補正値を算
出し、前記第1の画像データおよび第2の画像データの
輝度からそれぞれの輝度の補正値を減じたデータを用い
て差画像を作成して画像データ内の特徴部を抽出するこ
とを特徴とする請求項1記載の気泡検査装置。 - 【請求項3】 前記画像処理回路は、前記第1の画像デ
ータの最小輝度値から第1の補正値を算出し、前記第2
の画像データの最大輝度値から第2の補正値を算出し、
第1および第2の画像データの輝度値からそれぞれ第1
の補正値および第2の輝度値を減じたデータを用いて差
画像を作成し、画像データ内の特徴部を抽出することを
特徴とする請求項1記載の気泡検査装置。 - 【請求項4】 前記画像処理回路は、前記第1および第
2の画像データの平均輝度をそれぞれ検出し、検出した
平均輝度に基づき各画像データの輝度の補正値を算出
し、第1および第2の画像データの輝度から上記輝度の
補正値を減じたデータを用いて差画像を作成し、画像デ
ータ内の特徴部を抽出することを特徴とする請求項1記
載の気泡検査装置。 - 【請求項5】 前記画像処理回路は、前記画像処理回路
は、前記第1の画像データおよび第2の画像データそれ
ぞれにヒストグラム処理を施して各画像データの背景輝
度を検出し、当該背景輝度に基づきそれぞれの画像デー
タの輝度の補正値を算出し、前記第1の画像データおよ
び第2の画像データの輝度からそれぞれの輝度の補正値
を減じたデータを用いて作成する第1の差画像と、前記
第1の画像データの最小輝度値から第1の補正値を算出
し、前記第2の画像データの最大輝度値から第2の補正
値を算出し、第1および第2の画像データの輝度値から
それぞれ第1の補正値および第2の輝度値を減じたデー
タを用いて作成する第2の差画像と、前記第1および第
2の画像データの平均輝度をそれぞれ検出し、検出した
平均輝度に基づき各画像データの輝度の補正値を算出
し、第1および第2の画像データの輝度から上記輝度の
補正値を減じたデータを用いて作成する第3の差画像の
内の複数または全ての差画像を作成し、 作成した差画像の内の任意の差画像を採用して画像デー
タ内の特徴部を抽出することを特徴とする請求項1記載
の気泡検査装置。 - 【請求項6】 前記画像処理回路は、前記画像処理回路
は、前記第1の画像データおよび第2の画像データそれ
ぞれにヒストグラム処理を施して各画像データの背景輝
度を検出し、当該背景輝度に基づきそれぞれの画像デー
タの輝度の補正値を算出し、前記第1の画像データおよ
び第2の画像データの輝度からそれぞれの輝度の補正値
を減じたデータを用いて作成する第1の差画像と、前記
第1の画像データの最小輝度値から第1の補正値を算出
し、前記第2の画像データの最大輝度値から第2の補正
値を算出し、第1および第2の画像データの輝度値から
それぞれ第1の補正値および第2の輝度値を減じたデー
タを用いて作成する第2の差画像と、前記第1および第
2の画像データの平均輝度をそれぞれ検出し、検出した
平均輝度に基づき各画像データの輝度の補正値を算出
し、第1および第2の画像データの輝度から上記輝度の
補正値を減じたデータを用いて作成する第3の差画像の
内の複数または全ての差画像を作成し、 作成した各差画像の内、最大輝度値と最小輝度値との差
が最も大きい差画像を採用して画像データ内の特徴部を
抽出することを特徴とする請求項1記載の気泡検査装
置。 - 【請求項7】 前記画像処理回路は、前記画像処理回路
は、前記第1の画像データおよび第2の画像データそれ
ぞれにヒストグラム処理を施して各画像データの背景輝
度を検出し、当該背景輝度に基づきそれぞれの画像デー
タの輝度の補正値を算出し、前記第1の画像データおよ
び第2の画像データの輝度からそれぞれの輝度の補正値
を減じたデータを用いて作成する第1の差画像と、前記
第1の画像データの最小輝度値から第1の補正値を算出
し、前記第2の画像データの最大輝度値から第2の補正
値を算出し、第1および第2の画像データの輝度値から
それぞれ第1の補正値および第2の輝度値を減じたデー
タを用いて作成する第2の差画像と、前記第1および第
2の画像データの平均輝度をそれぞれ検出し、検出した
平均輝度に基づき各画像データの輝度の補正値を算出
し、第1および第2の画像データの輝度から上記輝度の
補正値を減じたデータを用いて作成する第3の差画像の
内の複数または全ての差画像を作成し、 作成した各差画像の輝度値を平均した画像を差画像とし
て採用し、画像データ内の特徴部を抽出することを特徴
とする請求項1記載の気泡検査装置。 - 【請求項8】 前記画像処理回路は、前記画像処理回路
は、前記第1の画像データおよび第2の画像データそれ
ぞれにヒストグラム処理を施して各画像データの背景輝
度を検出し、当該背景輝度に基づきそれぞれの画像デー
タの輝度の補正値を算出し、前記第1の画像データおよ
び第2の画像データの輝度からそれぞれの輝度の補正値
を減じたデータを用いて作成する第1の差画像と、前記
第1の画像データの最小輝度値から第1の補正値を算出
し、前記第2の画像データの最大輝度値から第2の補正
値を算出し、第1および第2の画像データの輝度値から
それぞれ第1の補正値および第2の輝度値を減じたデー
タを用いて作成する第2の差画像と、前記第1および第
2の画像データの平均輝度をそれぞれ検出し、検出した
平均輝度に基づき各画像データの輝度の補正値を算出
し、第1および第2の画像データの輝度から上記輝度の
補正値を減じたデータを用いて作成する第3の差画像の
内の複数または全ての差画像を作成し、 作成した各差画像の輝度値に重み付けを行い加算して作
成した画像を差画像として採用し、画像データ内の特徴
部を抽出することを特徴とする請求項1記載の気泡検査
装置。 - 【請求項9】 前記撮像手段は、被検査体の厚みと略同
一または当該厚み厚み以下の焦点深度の光学系を有する
ことを特徴とする請求項1乃至8記載の気泡検査装置。 - 【請求項10】 前記撮像手段の撮像タイミングに応じ
て、前記第1の照明手段および第2の照明手段の点灯、
消灯を制御し、かつ、第1の照明手段と第2の照明手段
とが同時に点灯しないよう制御する点灯制御回路をさら
に有することを特徴とする請求項1乃至9記載の気泡検
査装置。 - 【請求項11】 前記第1の照明手段は、被検査体への
照射角度のことなる複数のリング型または四角型の照射
装置であり、被検査体への照射角度および光量を制御可
能なことを特徴とする請求項1乃至10記載の気泡検査
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001120283A JP2002310939A (ja) | 2001-04-18 | 2001-04-18 | 気泡検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001120283A JP2002310939A (ja) | 2001-04-18 | 2001-04-18 | 気泡検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002310939A true JP2002310939A (ja) | 2002-10-23 |
Family
ID=18970352
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001120283A Pending JP2002310939A (ja) | 2001-04-18 | 2001-04-18 | 気泡検査装置 |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2002310939A (ja) |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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