JP2002303905A - 光学装置 - Google Patents

光学装置

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JP2002303905A
JP2002303905A JP2001109596A JP2001109596A JP2002303905A JP 2002303905 A JP2002303905 A JP 2002303905A JP 2001109596 A JP2001109596 A JP 2001109596A JP 2001109596 A JP2001109596 A JP 2001109596A JP 2002303905 A JP2002303905 A JP 2002303905A
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package
conversion element
optical
semiconductor laser
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Application number
JP2001109596A
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English (en)
Inventor
Kazuhisa Yamamoto
和久 山本
Kiminori Mizuuchi
公典 水内
Yasuo Kitaoka
康夫 北岡
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光波長変換を行うSHG素子の位置ずれを防
止する。 【解決手段】 位置決め部材5を設け、SHG素子7の
出射端部と位置決め部材5を接合する。温度変化、振動
等により、SHG素子7に力が働き、SHG素子7が位
置ずれしようとしても、位置決め部材5がSHG素子7
の出射端部を係止し、SHG素子7の位置ずれを防止す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コヒーレント光を
利用する光情報処理分野、光通信分野または光計測分野
に使用する光学装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年光学的情報の記録あるいは伝送技術
の発展はめざましく、高密度情報記録あるいは大容量、
高速情報伝達の手段としてレーザ光を強度変調して情報
の記録再生を行う光ディスク装置や、大容量情報伝送を
行う光情報伝送機器などで信頼性の高い装置やシステム
が普及し始めている。これらの機器やシステムを一層高
密度化、高速化、大容量化するために、従来の赤外光や
赤色といった波長800nmクラスのレーザ光から青色
光や紫色光といった、より波長の短い400nmクラス
の光源が求められている。
【0003】そのような中、LiNbxTa1-x3(0
≦X≦1)等の基板に分極反転構造を有した光波長変換
素子であるSHG(Second Harmonic Generation)素子
は、現在の技術で容易に作れる800nmクラスの半導
体レーザを用いて、その半分の波長である400nmク
ラスの紫色光を比較的容易に得られる技術として、注目
されている。
【0004】従来技術としてのSHG素子を用いた光学
装置は、特開平6−338650号公報等で既に公開さ
れ、前記した光ディスク装置や光伝送、多色光ディスプ
レーなどの分野で活用するための研究開発が盛んに行わ
れている。従来例の構造を図9により簡単に説明する。
図9(a)は最も基本的な構造を示し、光学装置101
は、パッケージ102を有し、パッケージ102は、中
空部103を有する略直方体状に形成され、パッケージ
102の下面内壁には、Si等からなり固定及び放熱を
行うサブマウント104aが接合される。そして、サブ
マウント104aの上面に半導体レーザ106とSHG
素子107がそれぞれ接合されパッケージ内に固定され
ている。半導体レーザから出射された約800nm波長
の基本はP1は、SHG素子内で波長約400nmの2
次高調波P2に変換され、パッケージに設けられた、透
光性の光出射窓から取り出すことができる。
【0005】また図9(b)に他の従来例を示す。光学
装置101は、パッケージ102を有し、パッケージ1
02は、中空部103を有する略直方体状に形成され、
パッケージ102の下面内壁には、Si等からなり固定
及び放熱を行うサブマウント104bと石英等の支え1
05とが接合される。そして、サブマウント104bの
上面に半導体レーザ106とSHG素子107の入射部
近傍とがそれぞれ接合される。また、支え105の上
に、SHG素子107が接合されZ軸方向の位置決め、
およびSHG素子へ半導体レーザ106の発熱を伝わり
にくくしている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記したようなSiの
サブマウント上に半導体レーザおよびSHG素子を配置
する図9(a)に示すような従来技術では、Siサブマ
ウントの素子固定面積が36mm2ほどになりSiウエ
ハからの取れ数が少なく非常に高価なものになると言う
課題があった。
【0007】また図9(a)、(b)で示す従来例とも
に、振動等により、SHG素子にX軸方向の力がかかっ
た場合に、SHG素子を係止するものがなく、SHG素
子の位置ずれが生じ易く、その結果、SHG素子107
の出射位置がずれるという問題が生じ、光学装置1を光
ディスクのヘッドに使用する場合、収差が出安くなると
言う課題があった。これを詳しく説明すると、SHG素
子107の出射位置が数μmずれると、パッケージの光
出射窓の近傍に精度良く配置され、発散光を平行光に成
形するコリーメータレンズからのビームが平行光からず
れ、ビーム整形プリズムで収差が発生、結果的に集光の
際の収差として光ディスク装置などの再生に影響してい
た。
【0008】また、急激な温度変化が生じると、SHG
素子107とパッケージ102とが膨張する。この際、
パッケージ102と支え105、および支え105とS
HG素子107とがそれぞれ十分に接合されていると、
SHG素子107とパッケージ102のそれぞれ膨張率
の差により、SHG素子107に力が働き、SHG素子
107が割れてしまうおそれがあった。
【0009】本発明は、Siサブマントの面積を小さく
し、かつSHG素子の出射端部の位置ずれを防止し、S
HG素子の破壊を防止する光学装置を提供することであ
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の光学装置は、半
導体レーザの基本波がSHG素子の光導波路と光学的に
結合され、前記半導体レーザとSHG素子とをパッケー
ジ内に固定し、かつ前記パッケージの光出射面と前記S
HG素子の間に位置決め部材を備え、前記位置決め部材
にSHG素子の一部が接合されているという構成を有
し、SHG素子およびパッケージの光出射面が、位置決
め部材により固定されるため、環境変化や振動によって
も出射光の位置ずれを抑えることができるという作用を
有する。
【0011】本発明の位置決め部材は、SHG素子を係
止する係止部を有し、出射光の位置ずれを抑える機能を
より強化することができる。
【0012】本発明の光学装置は、パッケージの膨張率
と前記SHG素子の膨張率とが近似することを特徴と
し、温度変化によるSHG素子の破壊を防ぐ事ができる
ものである。
【0013】本発明の光学装置は、半導体レーザがサブ
マウント上に固定されてパッケージ内に固定され、かつ
前記SHG素子の一部が前記サブマウント上に固定され
ている構成により、サブマウントの面積を小さくでき、
かつ半導体レーザの発熱を効果的に放熱すると共に、そ
の熱をSHG素子に伝えにくくするという作用を有す
る。
【0014】本発明の光学装置は、サブマウントとSH
G素子とを接合する接合部材の強度が、前記パッケージ
と前記SHG素子とを接合する接合部材の強度より大き
いことを特徴とし、温度変化による膨張でSHG素子が
破壊されるのを防ぐという作用を有する。
【0015】本発明の光学装置は、半導体レーザの基本
波がSHG素子の光導波路と光学的に結合され、半導体
レーザとSHG素子とをそれぞれパッケージと接合する
ことで、より小型化を実現する事ができるという作用を
有する。
【0016】本発明の光学装置は、半導体レーザとSH
G素子が直接接合されているものであり、高効率の光波
長変換および小型化を実現することができるという作用
を有する。
【0017】
【発明の実施の形態】以下に図面を用いて本発明の光学
装置の構成を説明する。図1は一実施の形態の構造図を
示し、図1(a)はその側面断面図である。光学装置1
は、半導体レーザ6で生じた基本波P1を基本波P1よ
りも波長の短い高調波P2に変換する。光学装置1は、
パッケージ2に納められており、パッケージ2は、中空
部3を有する略直方体状に形成され、Y軸方向(光出射
方向)の膨張率が19×10-6/度である真鍮で構成さ
れる。パッケージ2は、高調波P2が外部に出射される
出射面にコーティングされたガラスによる光出射窓8を
有する。高調波P2が外部に出射される際には、光出射
窓8は赤外光を取り除き、青色光を透過させるフィルタ
ーの役目、およびパッケージと外部の空間を遮断する役
目を果たす。パッケージ2の下面内壁には、Siからな
るサブマウント4と位置決め部材5とがそれぞれ接合さ
れる。
【0018】位置決め部材5は、後述する基本波P1を
高調波P2に変換するSHG素子7の出射部7b近傍の
導波路形成面である底面を固定し位置決めをする。位置
決め部材5は、真鍮又は石英からなり、SHG素子7の
下方端部を接着などにより固定し、光出射窓8からSH
G素子までの距離およびパッケージ2の下面内壁からの
高さを安定に保つ役割を果たすものであり、サブマウン
ト4のZ軸方向の幅と同じになるように、本実施の形態
では、0.5mmに設定されている。
【0019】サブマウント4の上面には、800nm帯
の半導体レーザ6が接合される。半導体レーザ12は、
活性層を有し、活性層が半導体レーザ6の基板にエピ成
長された面である活性層の形成面をサブマウント4に向
き合うように配置する。また、サブマウント4の上面に
は、SHG素子7の入射部7a近傍が接合され、位置決
め部材5とSHG素子7の出射部近傍とが接合される。
【0020】本実施の形態において各素子の大きさは、
半導体レーザ6が幅1mm×長さ1mm×高さ0.3m
m、SHG素子が幅1mm×長さ12mm×高さ0.5
mm、サブマウントが幅1mm×長さ2mm×高さ0.
5mm、位置決め部材が幅1mm×長さ1mm×高さ
0.5mm、パッケージは幅3mm×長さ15mm×高
さ3mmと極めて小型の素子である。またサブマント上
にSHG素子7の入射部近傍が固定される長さは0.5
mm〜3mm程度、位置決め部材5にSHG素子7の出
射部7b近傍が固定される長さは0.3mm〜1mm程
度であり、サブマント上で固定される長さは、SHG素
子と半導体レーザを精度良く固定することから位置決め
部材上の固定長より長くされ、このことは、接着強度も
サブマント側を強くすることに役に立つものである。
【0021】図1(b)は上記した光学装置1の上面断
面図を示している。パッケージ2のほぼ中心線に沿っ
て、前記したサブマウント2、半導体レーザ6、SHG
素子7、位置決め部材5、光出射窓8は配置されてい
る。ここでは、パッケージの中心線に沿ってほぼ中央に
各素子が直線で配置された例を示したが、SHG素子端
面を意識的に傾斜させたものの場合は、光出射窓に対し
光が垂直方向で出射させるために、SHG素子端面が傾
斜している量に相当する角度を、パッケージ内で傾斜し
て配置することは、本発明の範囲内である。
【0022】また、図1(c)で示すように、サブマン
ト4上には、半導体レーザを駆動するための電極が設け
られ、それぞれの駆動用端子がパッケージの外に導体に
より引き出されている。本実施の形態では、半導体レー
ザ6は、波長安定化するためのフィードバック構造を有
するものであり、一般的にDBRレーザと呼ばれてい
る。端子LDは共通グランド端子GNDとの間にレーザ
発光用の電流を流すためのものである。DBR端子は後
ろ光を反射させるための回折素子の屈折率を温度により
変化させ、波長を安定化するための制御用電流を流す端
子であり、PH端子は、半導体レーザの導波路の屈折率
を温度により変化させ、発振光の位相を制御するための
制御端子である。DBR端子、PH端子共にGND端子
との間に波長安定化の為の制御電流を流す為のものであ
る。図示はしないが、必要に応じ半導体レーザからの後
ろ光を検出し、レーザの出力強度を制御するための光検
出器および、その為の端子をサブマント上に設け外部に
取り出す構造を有するようにしても良い。
【0023】上記した構造により、本発明の光学装置
は、パッケージの光出射窓8と、SHG素子7、半導体
レーザの位置決めがより確実になり、経時変化や温度変
化、衝撃などに対しても安定に二次高調波である青色光
をパッケージの光出射窓から取り出すことが可能になる
ものである。
【0024】なお、位置決め部材5は石英で説明した
が、真鍮やステンレスなどパッケージと同じ材質で構成
することも有効であり、その場合は位置決め部材を一体
成型したパッケージを用いることができ、一層の低コス
ト化を可能にできるものである。
【0025】本発明の光学装置における他の実施の形態
の構造図を図2に示す。光学装置10は、半導体レーザ
12で生じた基本波P1を基本波P1よりも波長の短い
高調波P2に変換し、光学装置10は、パッケージ14
を有する。
【0026】パッケージ14は、中空部16を有する略
直方体状に形成され、Y軸方向(光出射方向)の膨張率
が19×10-6/度である真鍮で構成される。パッケー
ジ14は、高調波P2が外部に出射される出射面18に
コーティングされたガラスによる光出射窓20を有す
る。高調波P2が外部に出射される際には、光出射窓2
0は赤外光を取り除き、青色光を透過させるフィルター
の役目を果たす。パッケージ14の下面内壁には、Si
からなるサブマウント22と位置決め部材24とがそれ
ぞれ接合される。
【0027】位置決め部材24は、後述する基本波P1
を高調波P2に変換するSHG素子26の位置決めをす
る。位置決め部材24は、石英からなり、SHG素子2
6の下方端部を係止する凹部からなる係止部28を有す
る。係止部28は、図2およびパッケージ14の出射面
18近傍の上面図である図3が示すように、SHG素子
26の下方端部に沿うように形成される。位置決め部材
24は、Y軸方向(光出射方向)の最短距離が、L1に
なるように設定される。また、図2に示すように、SH
G素子26のZ軸方向の最短幅L2が、サブマウント2
2のZ軸方向の幅と同じになるように(本実施の形態で
は、0.5mm)設定される。
【0028】サブマウント22の上面には、800nm
帯の半導体レーザ12が接合される。
【0029】本実施の形態では、半導体レーザ12は波
長820nm、出力100mWのものを用いる。半導体
レーザ12は、活性層30を有し、活性層30が半導体
レーザ12の基板にエピ成長された面である活性層30
の形成面32をサブマウント22に向き合うように配置
する。また、サブマウント22の上面には、SHG素子
26の入射部近傍が接合され、位置決め部材24の係止
部28とSHG素子26の出射部近傍とが接合される。
【0030】SHG素子26はY軸方向(光出射方向)
の膨張率が15×10-6/度である非線形光学効果を有
するLiNbO3からなる基板34を有する。基板34
には、燐酸中でのプロトン交換により周期状分極反転層
36および光導波路38が形成される。ここで用いたプ
ロトン交換光導波路38は屈折率変化が大きく、光の閉
じ込めが良く基本波P1から高調波P2への変換効率が
高いという特徴がある。光導波路38は、基本波P1を
高調波P2に変換する波長変換部40を有する。半導体
レーザ12で生じた熱がサブマウント22を介して波長
変換部40に伝わらないように、SHG素子26の波長
変換部40に対応する部分には、サブマウント22が接
合されない。SHG素子26にプロトン交換により光導
波路38が形成された面である光導波路38の形成面4
2が、サブマウント22および位置決め部材24に向き
合うように配置されている。
【0031】また、半導体レーザ12の活性層30とS
HG素子26の光導波路38は同軸上に配置され、半導
体レーザ12の基本波P1がSHG素子26の光導波路
38へ直接結合する構成となっている。なお、半導体レ
ーザ12の活性層30とSHG素子26の光導波路38
とを同軸上に配置するために、SHG素子26の下面に
SiO2保護膜を付加して調整しても良い。本実施の形
態では、サブマウント22の上面からの光導波路38の
高さは4μmとなっている。
【0032】半導体レーザ12を駆動し活性層30から
出射された半導体レーザ光である基本波P1(波長82
0nm)をSHG素子26の入射面44より光導波路3
8に直接結合させる。すると、基本波P1はシングルモ
ード伝搬し、光導波路38内の波長変換部40で高調波
P2(波長410nm)に変換され、青色レーザ光がS
HG素子26の出射面46より出射される。
【0033】次に光学装置10の製造方法について説明
する。半導体レーザ12を活性層30の形成面32をサ
ブマウント22側に向けてボンディングを行い各電極を
半導体レーザにボンディングし、発光動作可能な状態に
する。そして、半導体レーザ12に電流を流し基本波P
1を出射させた後、光導波路38の形成面42をサブマ
ウント22側に向けて、SHG素子26を半導体レーザ
12に押し当て接合する。次に、SHG素子26を位置
決め部材24の係止部に接着した後、半導体レーザ12
とSHG素子が接合されたサブマウント22をパッケー
ジ14の下面内壁に接合する。
【0034】この際、SHG素子26の入射面44は、
光導波路38の形成面42に対して90度以下の角度と
なっており、半導体レーザ12の出射面48と完全接触
して、半導体レーザを破壊することはない。また、入射
面48での反射による活性層30への戻り光を少なくで
きる。
【0035】半導体レーザ12とSHG素子26との接
合の際には、高調波P2の出力が最大になるようにSH
G素子26を半導体レーザ12に対して動かして、X軸
方向のアライメントを行い、その後、SHG素子26を
サブマウント22と接合する。レンズ系を用いる光学装
置10ではX軸方向、Y軸方向、Z軸方向の3軸方向の
アライメントが必要であるが、この構成によればX軸方
向のみのアライメントで良い。これは、SHG素子26
は半導体レーザ12に押し当てられて位置決めされるた
め、Y軸方向のアライメントを行う必要がないからであ
る。
【0036】また、半導体レーザ12の活性層30とS
HG素子26の光導波路38のそれぞれの高さは一致す
るように設定されているため、Z軸方向のアライメント
を行う必要ない。パッケージ14と接合された位置決め
部材24と、SHG素子26とを接合することで、位置
決め部材24のY軸方向の最短距離をL1に設定してい
るため、SHG素子26の出射面46をパッケージ14
の出射面18から距離L1の位置に位置決めできる。そ
の後、パッケージ14に、窒素ガスを入れ外気と遮断す
る。
【0037】以上のように作製した光学装置10におい
て半導体レーザ12を100mWで駆動し30mWの高
調波P2(波長410nm)を得た。この場合の変換効
率は30%である。
【0038】本実施の形態のサブマウント22、半導体
レーザ12およびSHG素子26からなるモジュールの
大きさは幅4×長さ10×高さ4mmであり、小型化で
きる。
【0039】また、振動等によりSHG素子26に力が
働き、SHG素子26がX軸方向に位置ずれしようとし
ても、位置決め部材24の係止部28がSHG素子26
の出射端部を係止し、SHG素子26の位置ずれが防止
できる。
【0040】また、振動等によりSHG素子26に力が
働き、SHG素子26がY軸方向に位置ずれしようとし
ても、位置決め部材24の係止部28がSHG素子26
の出射端部を係止し、また、半導体レーザ12がSHG
素子26の入射端部を係止するため、SHG素子26の
位置ずれが防止できる。
【0041】また、振動等によりSHG素子26に力が
働き、SHG素子26がZ軸方向でかつ、サブマウント
22側に位置ずれしようとしても、位置決め部材24の
係止部28がSHG素子26を係止し、SHG素子26
の位置ずれが防止できる。
【0042】光ヘッドにこの光学装置10を組み込み、
高密度光ディスク記録、再生を行った。SHG素子26
の出射端部が位置決めされているため、安定に光ディス
ク記録および再生を行うことができる。
【0043】また、光学装置10に用いるサブマウント
22の体積は、SHG素子26全面にサブマウント22
を接合した場合と比べて、約5分の1で良く、サブマウ
ント22のコストを約1/5に低減できる。
【0044】さらに、SHG素子26を構成するLiN
bO3のY軸方向(光出射方向)の膨張率は(15×1
-6/度)、パッケージ14を構成する真鍮の光出射方
向の膨張率(19×10-6/度)と近似する。そのた
め、環境温度が急激に変化しても、SHG素子26とパ
ッケージ14とのそれぞれ膨張する長さに差が生じるこ
とはなく、SHG素子26に力が働かず、SHG素子2
6が壊れることを防止できる。
【0045】また、SHG素子26の波長変換部40に
対応する部分には、サブマウント22が接合されないた
め、半導体レーザ12で生じた熱がサブマウント22を
介して波長変換部40に伝わらない。その結果、高調波
P2を再現性よく、かつ、安定に取り出すことができ
る。
【0046】本実施の形態では、SHG素子26の下方
端部とパッケージ14の下面内壁とを位置決め部材24
を用いて接合したが、図4に示すように、SHG素子2
6の出射面46の上端部とパッケージ14の出射面内壁
とを位置決め部材24bを用いて接合しても良い。この
場合も、位置決め部材24bはSHG素子26の位置を
固定し、振動等によるX軸方向、Y軸方向およびZ軸方
向のSHG素子26の位置ずれを防止できる、また、本
実施の形態では、パッケージ14の材料として、LiN
bO3の光出射方向の膨張率(15×10-6/度)とほ
ぼ同じ光出射方向の膨張率である真鍮(19×10-6
度)を用いた。しかし、これに限定されず、ステンレス
(16×10-6/度)や、銅(16×10-6/度)のよ
うな、LiNbO3の光出射方向の膨張率と近似する他
の材料を用いても良い。
【0047】また、本実施の形態では、サブマウント2
2とSHG素子26とを接合する接着剤の硬度、パッケ
ージ18とSHG素子26それぞれと位置決め部材24
とを接合する接着剤の硬度を共に十分に設定している
が、サブマウント22とSHG素子26とを接合する接
着剤の硬度を70以上100以下に設定し、パッケージ
18とSHG素子26の少なくとも一方と位置決め部材
24とを接合する接着剤の硬度を10以上65以下に設
定しても良い。この場合には、環境温度が急激に変化し
て、SHG素子26とパッケージ14とのそれぞれ膨張
する長さに差が生じると、SHG素子26とパッケージ
14の少なくとも一方が、位置決め部材24から離れる
ため、SHG素子26に力が働かず、SHG素子26が
壊れることを防止できる。
【0048】本実施の形態では、SHG素子26となる
基板34として、LiNbO3基板を用いたが、これに
限定されず、LiNbO3基板34など、非線形光学効
果を有する他のLiNbxTa1-x3(0≦X≦1)基
板を用いて良い。
【0049】本実施の形態では、SHG素子26の出射
端部に位置決め部材24を接合したが、図5に示すよう
に、SHG素子26とパッケージ14の内壁との間を、
樹脂からなる位置決め部材24cで埋めるようにしても
良い。
【0050】この実施の形態では800nm帯の半導体
レーザ12として波長840nm、出力150mWのも
のを用いた。また、SHG素子26はLiTaO3基板
32に燐酸中でのプロトン交換により周期状分極反転層
36および光導波路38を形成したものを用いた。この
場合でも、位置決め部材24cはSHG素子26の位置
を固定し、振動等によるX軸方向、Y軸方向およびZ軸
方向のぶれを防止する。つまり、SHG素子26の出射
位置のずれを防止できる。
【0051】次にこの光学装置10の製造方法について
説明する。半導体レーザ12を活性層30の形成面32
をサブマウント22側に向けてボンディングを行った。
半導体レーザ12に電流を流し基本波P1を出射させた
後、SHG素子26を光導波路38の形成面42をサブ
マウント22側に向けて、SHG素子26を半導体レー
ザ12に押し当て接合を行った。この後、サブマウント
22をパッケージ14に接合し、パッケージ14とSH
G素子26との隙間に、樹脂を埋めこみ、SHG素子2
6の波長変換部40に対応する部分を樹脂で包み込む。
この際、出射光路をふさぐことがないように治具などを
用いる事は有効な手段である。この製造方法では、位置
決め部材24cの高さをサブマウント22に一致させる
工程を省くことができる。
【0052】以上のように製造した光学装置10におい
て半導体レーザ12を150mWで駆動し30mWの高
調波P2(波長420nm)を得た。この場合の変換効
率は20%である。
【0053】本実施の形態のサブマウント22、半導体
レーザ12およびSHG素子26からなるモジュールの
大きさは幅3×高さ3×長さ12mmでありさらに小型
化でき、パッケージ位置決め部材も含め樹脂により構成
することでより安価な光学装置を提供することを可能に
できる。
【0054】さらに、本実施の形態では、サブマウント
22として加工性が良く、熱伝導に優れたSiを用いた
が、放熱の良いSiC等他の材料を用いても良い。
【0055】さらに、先に説明した実施の形態では、位
置決め部材24をSHG素子26の下方出射端部に接合
したが、図6に示すように、位置決め部材24dをSH
G素子26の下方出射端部のみならず、上方出射端部に
接合しても良い。この場合には、SHG素子26のX軸
方向の位置ずれだけでなく、Y軸方向およびZ軸方向の
位置ずれも防止できる。
【0056】また、先の実施の形態は、SHG素子26
とパッケージ14とを位置決め部材24、24b、24
c、24d等を介して接合したが、図7、図8に示すよ
うに、SHG素子26とパッケージ14とを接合しても
良い。この場合には、部品点数か減少するため、コスト
をさらに削減できると共に、組立性を一層向上でき、モ
ジュールをさらに小型化できる。さらに、直接パッケー
ジに固定されているためZ方向の温度変化による位置ず
れが極めて少なくて済むという効果がある。パッケージ
下面を基準面にすると、パッケージ部分の厚みが0.3
mm程度であり、その分だけの膨張であり極めて小さ
く、かつ全体に共通なため、光出射位置は僅かに影響を
受けるが、Z方向に破壊される要因全く無くす留事がで
きるという効果も奏する。
【0057】図7の実施の形態では、パッケージ上に直
接半導体レーザ、SHG素子を配置しているため、パッ
ケージに前記した各種の駆動、制御用電極を配置する事
が有効である。そのためにはパッケージ全体を樹脂と
し、樹脂上に電極を接着固定する事も可能である。その
場合半導体レーザの放熱の問題が生じる可能性があるた
め、半導体レーザのパッケージ接触面とは反対面に金属
の放熱器を備えるように構成することで解決することが
できる。
【0058】また図7の実施の形態で前記したような膨
張率などの問題を解決するため、パッケージを真鍮やス
テンレスで構成する場合は、パッケージの半導体レーザ
配置面にSiO2などの絶縁性膜を表面に構成させ、そ
の上に駆動あるいは制御用の電極を配置することで放熱
性と部品点数の削減を両立することができるものであ
る。さらに図示しないが図7の構成においても、SHG
素子とパッケージの出射窓との距離を一定に保つため、
図4の24bで示すような位置決め部材を配置すること
も有効な構造である。
【0059】また、図8に示す実施の形態において、サ
ブマウント22とSHG素子26とを接合する接着剤強
度をサブマントとSHG素子の接着強度をSHG素子と
位置決め部材の接着強度より強く構成することで、さら
に破壊に対して強い構造とすることができる。一例とし
ては、サブマウント22とSHG素子26とを接合する
接着剤の硬度を70以上100以下に設定し、パッケー
ジ14とSHG素子26とを接合する接着剤の硬度を1
0以上65以下に設定することで、環境温度が急激に変
化して、SHG素子26とパッケージ14とのそれぞれ
膨張する長さに差が生じると、SHG素子26がパッケ
ージ14から離れるため、SHG素子26に力が働か
ず、SHG素子26が壊れることを防止できる。
【0060】上記各種の構造で説明した本発明実施の形
態では、サブマウント22として加工性が良く、熱伝導
に優れたSiを用いたが、放熱の良いSiC等他の材料
を用いても良い。さらに、各種説明した実施の形態では
半導体レーザとSHG素子は直接結合する構造で説明し
たが、これに限定されず、半導体レーザとSHG素子の
間に、コリメートレンズや集光レンズ、波長選択フィル
タなどを挿入し、調整は複雑になるが、よりSHG素子
への入射光強度、波面を理想的な状態とし、変換効率を
向上させワンパッケージ化した構造の光学素子にも本発
明は適用されるものである。
【0061】本発明の光学装置を、各種のシステムに組
み込む際の組立性を良くするため、本願発明のパッケー
ジにねじ固定用の部材を追加したり、光出射窓や接続用
の端子の向きを明確にするため、パッケージ形状を非対
称にしたり、極性指示用のマーク等を設けることも、本
発明の範囲に含まれることは自明である。
【0062】
【発明の効果】本発明の光学装置は、上記した位置決め
部材、パッケージとの組み合わせにより、経年変化や温
度変化などに対してSHG素子の出射端部の位置ずれを
防止できると共に、位置決め部材の係止構造や接着強度
を工夫することにより、衝撃や急激な温度変化による破
壊に対しても強い、青色光を発光する光学装置を、小
型、ローコストで提供することを可能にし、光記録分
野、光情報通信分野、光計測分野での飛躍的な発展に寄
与することができるものである。
【0063】また、サブマントとSHG素子の接合を少
なくすることや、半導体レーザと亜SHG素子を直接結
合し、光学装置に用いるサブマウントの体積を減少で
き、これにより光学装置のコストを低減できるととも
に、半導体レーザの発熱がSHG素子の波長変換部分へ
伝わりにくくなるため、青色光の発光安定度を向上させ
ることも可能とするものであり、その工業的価値は極め
て大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態を示す構造図
【図2】他の実施の形態を示す構造図
【図3】パッケージの出射面近傍の上面図
【図4】他の実施の形態を示す構造図
【図5】他の実施の形態を示す構造図
【図6】他の実施の形態を示す構造図
【図7】他の実施の形態を示す構造図
【図8】他の実施の形態を示す構造図
【図9】従来技術を示す構造図
【符号の説明】
1,10 光学装置 6,12 半導体レーザ 2,14 パッケージ 4,22 サブマウント 24,24b,24c,24d 位置決め部材 7,26 SHG素子 8 光出射窓 28 係止部 36 分極反転層
フロントページの続き (72)発明者 北岡 康夫 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 2K002 AA01 AA02 AA04 AB12 BA01 CA03 DA06 FA26 GA05 HA20 5F073 AA65 AB23 AB25 BA01 BA06 BA09 EA03 EA15 FA13 FA23

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体レーザの基本波が光波長変換素子の
    光導波路と光学的に結合され、前記半導体レーザと光波
    長変換素子とをパッケージ内に固定し、かつ前記パッケ
    ージの光出射面と前記光波長変換素子の間に前記光波長
    変換素子を固定する位置決め部材を備え、前記位置決め
    部材に光波長変換素子の一部が接合されていることを特
    徴とする光学装置。
  2. 【請求項2】前記光波長変換素子の位置決め部材と接合
    する部分は、少なくとも前記光波長変換素子の出射部近
    傍を含むことを特徴とする請求項1記載の光学装置。
  3. 【請求項3】前記位置決め部材は、前記光波長変換素子
    を係止する係止部を有することを特徴とする請求項1ま
    たは2に記載の光学装置。
  4. 【請求項4】前記位置決め部材を前記光波長変換素子の
    外面に沿う形状にしたことを特徴とする請求項1から請
    求項3のいずれかに記載の光学装置。
  5. 【請求項5】前記位置決め部材は、前記パッケージと前
    記光波長変換素子との隙間を樹脂で埋めることにより形
    成されることを特徴とする請求項1から請求項4のいず
    れかに記載の光学装置。
  6. 【請求項6】前記パッケージの膨張率と前記光波長変換
    素子の膨張率とが近似することを特徴とする請求項1か
    ら請求項5のいずれかに記載の光学装置。
  7. 【請求項7】前記パッケージの光出射方向の膨張率と前
    記光波長変換素子の光出射方向の膨張率とが近似するこ
    とを特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載
    の光学装置。
  8. 【請求項8】前記パッケージは、ステンレスであること
    を特徴とする請求項1から請求項7のいずれかに記載の
    光学装置。
  9. 【請求項9】前記パッケージは、真鍮であることを特徴
    とする請求項1から請求項8のいずれかに記載の光学装
    置。
  10. 【請求項10】前記半導体レーザがサブマウント上に固
    定されてパッケージ内に固定され、かつ前記光波長変換
    素子の一部が前記サブマウント上に固定されていること
    を特徴とする請求項1から請求項9のいずれかに記載の
    光学装置。
  11. 【請求項11】半導体レーザの基本波が前記光波長変換
    素子の光導波路と光学的に結合し、前記半導体レーザを
    サブマウント上に固定し、かつ前記光波長変換素子の一
    部をサブマウントに固定し、前記サブマウントと光波長
    変換素子の一部とをそれぞれパッケージと接合した光学
    装置。
  12. 【請求項12】前記光波長変換素子の前記パッケージと
    接合する部分は、少なくとも前記光波長変換素子の出射
    部近傍を含むことを特徴とする請求項11記載の光学装
    置。
  13. 【請求項13】前記サブマウントと前記光波長変換素子
    とを接合する接合部材の強度が、前記パッケージと前記
    光波長変換素子とを接合する接合部材の強度より大きい
    ことを特徴とするを請求項10から請求項12のいずれ
    かに記載の光学装置。
  14. 【請求項14】前記サブマウントと前記光波長変換素子
    とを接合する接合部材の硬度を70以上100以下に設
    定し、前記パッケージと前記光波長変換素子の少なくと
    も一方と、位置決め部材とを接合する接合部材の硬度を
    10以上65以下に設定したことを特徴とする請求項1
    0から請求項12のいずれかに記載の光学装置。
  15. 【請求項15】半導体レーザの基本波が光波長変換素子
    の光導波路と光学的に結合され、前記半導体レーザと光
    波長変換素子とをそれぞれパッケージと接合した光学装
    置。
  16. 【請求項16】前記光波長変換素子として、分極反転構
    造を有し、前記半導体レーザの波長を2次以上の高調波
    に変換することを特徴とする請求項1から請求項15の
    いずれかに記載の光学装置。
  17. 【請求項17】前記光波長変換素子となる非線形光学効
    果を有する基板として、LiNbxTa1-x3(0≦X
    ≦1)基板を用いたことを特徴とする請求項1から請求
    項16のいずれかに記載の光学装置。
  18. 【請求項18】前記半導体レーザと光波長変換素子が直
    接接合されていることを特徴とする請求項1から請求項
    17のいずれかに記載の光学装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008112196A (ja) * 2008-01-28 2008-05-15 Hitachi Ltd 光モジュール

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