JP2002288996A - パターン発生回路及び試験装置 - Google Patents

パターン発生回路及び試験装置

Info

Publication number
JP2002288996A
JP2002288996A JP2001087369A JP2001087369A JP2002288996A JP 2002288996 A JP2002288996 A JP 2002288996A JP 2001087369 A JP2001087369 A JP 2001087369A JP 2001087369 A JP2001087369 A JP 2001087369A JP 2002288996 A JP2002288996 A JP 2002288996A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
timer
signal
output
address
register
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2001087369A
Other languages
English (en)
Inventor
Shie Murata
史絵 村田
Iwao Suzuki
巌 鈴木
Shuji Kikuchi
修司 菊地
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Solutions Technology Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi ULSI Systems Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi ULSI Systems Co Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2001087369A priority Critical patent/JP2002288996A/ja
Publication of JP2002288996A publication Critical patent/JP2002288996A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 不良解析の効率向上を図ることにある。 【解決手段】 第1タイマ(11)及び第2タイマ(1
2)の動作に基づいてアドレス指示手段(22)の動作
を制御手段(21)で制御することにより、例えば、第
1タイマの計数結果に基づいて所定時間毎にリフレッシ
ュサイクルを起動し、また、第2タイマの計数結果に基
づいて所定時間毎に、ライトサイクルなどの特定のプロ
グラムを起動することにより、所定時間が経過する毎に
メモりアクセスのためのプログラムを実行するととも
に、このプログラム実行とは無関係に所定時間間隔でリ
フレッシュ動作を行うことができるので、実機動作に近
い状態での試験が可能とされ、それによって不良解析の
効率向上を図る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路の
試験技術、特に、BOST(Built―OutSel
f Test)技術において高速ファンクションテスト
パターンを発生させるための技術に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路(LSI)の動作試験を
可能とする試験装置は、被測定デバイス(DUT)の計
測部と、それを制御するための制御部とに分けられる。
計測部は、テストのためのパターンを発生させるパター
ン発生器や、発生されたパターンをDUTに供給した
り、それによって当該LSIから出力された信号を検出
したりするためのピンエレクトロニクス、このピンエレ
クトロニクスによって検出された信号を、その期待値と
比較するためのパターン比較器、さらにはDUTの動作
用電源を生成するための電源部等が含まれる。また、上
記制御部には、DUTのテストのためのプログラムに従
って試験装置の各部の動作を制御するための中央処理装
置や、テスト結果を表示あるいはプリントアウトするた
めの出力装置、さらにはテスト結果を記憶するための記
憶装置等が含まれる。
【0003】尚、LSIテストについて記載された文献
の例としては、昭和50年11月30日に株式会社オー
ム社から発行された「LSIハンドブック(第175頁
〜)」がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】被測定デバイス、特に
複数のダイナミック型メモリセルをアレイ状に配列して
なるDRAM(ダイナミック・ランダム・アクセス・メ
モリ)の動作試験においては、リフレッシュ動作が正し
く行われるか否かを判定するためのリフレッシュ試験が
行われる。このリフレッシュ試験においては、試験装置
に内蔵されるタイマを動作させることによって一定の時
間間隔で被測定デバイスのリフレッシュが行われ、被測
定デバイスから読み出されたパターンデータが期待値と
一致するか否かの判定が行われる。被測定デバイスから
読み出されたパターンデータが期待値と一致すれば良品
とされ、不一致であれば不良品とされる。メモリ試験
は、被測定デバイスであるDRAMが実際のユーザシス
テムに搭載された状態での動作(これを「実機動作」と
いう)に可能な限り近い状態で行うのが望ましい。例え
ば、所定時間が経過する毎にメモリアクセスのためのプ
ログラムを実行すると共に、このプログラム実行とは無
関係に所定時間間隔でリフレッシュ動作を行うことは、
実機動作に近いため、不良解析に効果的とされる。
【0005】しかしながら、そのようなメモリ試験をL
SIテスタで実施しようとすると、LSIテスタにおい
て設定可能なタイマが一つであることから、所定時間が
経過する毎にメモリアクセスのためのプログラムを実行
すると共に、このプログラム実行とは無関係に所定時間
間隔でリフレッシュ動作を行うことは困難とされる。な
ぜなら、上記メモリ試験を行うには、メモリアクセスの
ためのプログラムを実行する時間間隔を決定するための
第1タイマと、リフレッシュ動作の周期を決定するため
の第2タイマとが必要とさるからである。
【0006】また、実機動作では、被測定デバイスにお
ける内部回路の電源電圧依存性により、リフレッシュ周
期が微妙に変動する場合がある。従って、メモリ試験に
おいて、リフレッシュ周期を変動させることは、実機動
作に近いため、不良解析に効果的と考えられる。
【0007】しかしながら、そのようなメモリ試験をL
SIテスタで実施しようとすると、LSIテスタにおい
ては設定可能なタイマが一つであり、それによってリフ
レッシュ周期が固定されてしまうために、リフレッシュ
周期を変動させることは困難とされる。
【0008】本発明の目的は、より実機動作に近い状態
で試験を行うことで不良解析の効率向上を図るための技
術を提供することにある。
【0009】本発明の前記並びにその他の目的と新規な
特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるで
あろう。
【0010】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記
の通りである。
【0011】すなわち、命令コードを記憶するインスト
ラクションメモリと、上記インストラクションメモリか
ら出力された命令コードに従ってアドレス信号を演算す
るためのアドレス演算部と、上記インストラクションメ
モリから出力された命令コードに従ってパターンデータ
を発生させるためのデータ発生部とを含んでパターン発
生回路が構成されるとき、上記インストラクションメモ
リに格納されている命令コードの読み出しアドレスを指
示するためのアドレス指示手段と、上記インストラクシ
ョンメモリから出力される命令コードに従って実行され
る第1実行サイクルの起動時間を規定するための第1タ
イマと、上記インストラクションメモリから出力された
命令コードに従って起動される第2実行サイクルの起動
間隔を規定するための第2タイマと、上記第1タイマ及
び上記第2タイマの動作に基づいて上記アドレス指示手
段の動作を制御する制御手段とを設ける。
【0012】上記手段によれば、制御手段は、上記第1
タイマ及び上記第2タイマの動作に基づいて上記アドレ
ス指示手段の動作を制御する。これにより、例えば、第
1タイマの計数結果に基づいて所定時間毎にリフレッシ
ュサイクルを起動し、また、第2タイマの計数結果に基
づいて所定時間毎に、ライトサイクルなどの特定のプロ
グラムを起動することにより、所定時間が経過する毎に
メモリアクセスのためのプログラムを実行するととも
に、このプログラム実行とは無関係に所定時間間隔でリ
フレッシュ動作を行うことができる。そしてそのような
動作は実機動作に近いため、不良解析に効果的とされ
る。
【0013】このとき、上記アドレス指示手段は、上記
第1処理に関する一連の命令群の上記インストラクショ
ンメモリにおける先頭番地を保持可能な第1レジスタ
と、上記第2処理に関する一連の命令群の先頭番地を保
持可能な第2レジスタと、上記プログラムカウンタ制御
部の制御により、上記第1レジスタの保持値と上記第2
レジスタの保持値とを選択的に後段回路に伝達可能なセ
レクタとを含んで構成することができる。
【0014】また、上記制御手段は、上記第1タイマの
出力値に基づいて、上記アドレス指示手段の動作制御に
対する第1割り込み要求信号を発生させるための第1割
り込み発生手段と、上記第2タイマの出力値に基づい
て、上記アドレス指示手段の動作制御に対する第2割り
込み要求信号を発生させるための第2割り込み発生手段
とを含んで構成することができる。
【0015】さらに、上記制御手段には、上記第1割り
込み要求信号と上記第2割り込み要求信号との競合を調
停するための調停手段を設けることができる。
【0016】そして、上記構成のパターン発生回路と、
上記パターン発生回路の出力信号に基づいて被測定デバ
イスにパターンを供給するとともに、上記被測定デバイ
スからの出力信号を取り込むためのピンエレクトロニク
スと、上記ピンエレクトロニクスを介して上記被測定デ
バイスから取り込まれた信号とその期待値とを比較する
ための比較回路とを含んで試験装置を構成することがで
きる。
【0017】
【発明の実施の形態】図3には本発明にかかるメモリ試
験装置の構成例が示される。
【0018】図3に示されるメモリ試験装置は、特に制
限されないが、計測部200、及びそれの動作制御のた
めの制御部100を含む。
【0019】上記計測部200は、クロックパルスの立
ち上り、立ち下がりのタイミングを発生するためのタイ
ミングコントローラ113、テストのための所定のパタ
ーンを発生させるパターン発生器114、このパターン
発生回路14によって発生されたパターンを、タイミン
グコントローラ113からのタイミングエッジにより所
定の波形モードに整形するためのフォーマットコントロ
ーラ115、このフォーマットコントローラ115によ
って整形された波形をDUT117に入力したり、それ
によって当該DUT117から出力された信号波形を検
出したりするためのピンエレクトロニクス116、この
ピンエレクトロニクス116によって検出された信号
を、その期待値と比較するためのパターン比較回路2
0、この比較結果を記憶するためのメモリ118、DU
T117の動作用電源を生成するための電源部119等
を含む。
【0020】また、上記計測部200の動作を制御する
ための制御部100は、DUT117のテストのための
プログラムに従って試験装置の各部の動作を制御するた
めの中央処理装置(CPU)110や、テスト結果の表
示あるいはプリントアウトや、各種テスト条件の入力を
可能とするための入出力装置111、さらにはテスト結
果を記憶するための記憶装置112等を含んで成る。
【0021】図4には上記パターン発生回路114の構
成例が示される。
【0022】図4に示されるようにこのパターン発生回
路114は、特に制限されないが、CPUインタフェー
ス(I/F)401、コマンド発生器402、FIFO
(先入れ・先出し)バッファ403、及びアドレス・デ
ータ発生器404を含んで成る。
【0023】CPUインタフェース401は、CPU1
10との間で信号のやり取りを可能にする。特にアドレ
ス・データ発生回路404内の各種レジスタへの初期値
の設定などはCPUインタフェース401を介してCP
U110によって行われる。アドレス・データ発生器4
04は、基本アドレスや基本データの他に、リードサイ
クルやライトサイクルなどの識別情報とされるサイクル
名情報を発生する。
【0024】発生された基本アドレスや基本データ及び
サイクル名情報は、緩衝用のFIFOバッファ403を
介してコマンド発生器402へ伝達される。コマンド発
生器402では、取り込まれたサイクル名情報に従って
当該サイクルを制御するためのコマンドを発生する。タ
イミングコントローラ113から、周波数66MHzの
クロック信号と、周波数133MHzのクロック信号と
が出力され、周波数66MHzのクロック信号はアドレ
ス・データ発生器404へ伝達され、周波数66MHz
のクロック信号はFIFOバッファ403及びコマンド
発生器402へ伝達される。
【0025】図1には、上記アドレス・データ発生器4
04の構成例が示される。
【0026】アドレス・データ発生器404は、特に制
限されないが、命令が格納されたインストラクションメ
モリ10、時間計測のための第1タイマ11及び第2タ
イマ12、実行すべき命令の記憶アドレスを示すプログ
ラムカウンタ制御部21、上記第1,第2タイマ11,
12の出力信号に基づいて上記プログラムカウンタ制御
部21の動作を制御するためのプログラムカウンタ制御
部21、インストラクションメモリ10からの出力信号
に基づいてループ回数をカウントするためのインデック
スカウンタ23、上記インストラクションメモリ10か
らの出力信号に基づいてアドレス演算を行うためのアド
レス演算部24、上記インストラクションメモリ10か
らの出力信号に基づいてテストパターンデータを発生さ
せるためのデータ発生部25を含む。
【0027】上記インデックスカウンタ23のカウント
出力は、プログラムカウンタ制御部21に伝達される。
また、上記アドレス演算部24によって生成されたアド
レス信号、上記データ発生部25によって発生されたパ
ターンデータ、及び現在のサイクル情報CYCLEは、
FIFOバッファ403を介してコマンド発生器402
へ伝達される。
【0028】インストラクションメモリ10は、アドレ
ス・データ発生器404内の各部の動作を制御するため
の信号として、PC_OPD、TMS1、TMS2、I
RQ_MASK、PC_CMD、TMUX_CMD1、
TMUX_CMD2、TM_CMD1、TM_CMD2
で示される各種信号を出力する。
【0029】プログラムカウンタ22は、プログラムカ
ウンタ制御部21からの各種制御信号pcctrl1,
pっctrl2,ipctrl,PC_OPDに基づい
て、上記インストラクションメモリ22のアドレス信号
PCを出力することによって、上記インストラクション
メモリに格納されている命令コードの読み出しアドレス
を指示する。プログラムカウンタ22におけるレジスタ
の初期値は、CPUインタフェース401を介してCP
U110によって設定される。ここで、このプログラム
カウンタ22が、本発明におけるアドレス指示手段の一
例とされる。
【0030】第1タイマ11は、上記インストラクショ
ンメモリ10から出力される命令コードに従って実行さ
れる第1実行サイクルの起動時間を規定するために使用
される。ここで第1実行サイクルは、被測定デバイス1
17をDRAMとした場合における当該DRAMのリフ
レッシュサイクルとされる。第1タイマ11は、インス
トラクションメモリ10からの出力信号TMUX_CM
D1、及びTM_CMD1や、プログラムカウンタ制御
部21からの出力信号IR1に基づいて動作制御され
る。第1タイマ11の初期値は、CPUインタフェース
401を介してCPU110によって設定される。第1
タイマ11では、上記初期値が順次デクリメントされ
る。そして初期値がデクリメントされて“0”になる
と、信号tmzero1が論理値“1”にアサートされ
ることによって、そのことがプログラムカウンタ制御2
1に伝達される。
【0031】第2タイマ12は、上記インストラクショ
ンメモリ10から出力される命令コードに従って実行さ
れる第2実行サイクルの起動間隔を規定する。ここで第
2実行サイクルは、被測定デバイス117をDRAMと
した場合における当該DRAMのライトサイクルとされ
る。第2タイマ12は、インストラクションメモリ10
からの出力信号TMUX_CMD2、及びTM_CMD
2や、プログラムカウンタ制御部21からの出力信号I
R2に基づいて動作制御される。第2タイマ12の初期
値は、CPUインタフェース401を介してCPU11
0によって設定される。設定された初期値がデクリメン
トされて“0”になると、信号tmzero2が論理値
“1”にアサートされることによって、そのことがプロ
グラムカウンタ制御21に伝達される。
【0032】プログラムカウンタ制御部21は、上記イ
ンストラクションメモリ10からの各種信号TMS1,
TMS2、IRQ_MASK、PC_CMDや、上記第
1タイマ11の出力信号tmzero1及び上記第2タ
イマ12の出力信号tmzero2に基づいて上記プロ
グラムカウンタ22の動作を制御する。プログラムカウ
ンタ制御部21から各種制御信号がプログラムカウンタ
22に伝達される。
【0033】CPUインタフェース401から出力され
た信号C065S0は、第2タイマ12内の初期値レジ
スタに格納される。この第2タイマ12内の初期値レジ
スタの保持値は、信号C063S0として第1タイマ1
1内の初期値レジスタに伝達される。リフレッシュ動作
開始時間までのクロック数や、特定プログラムが実行さ
れるまでのクロック数の情報は、上記信号C065S0
及び信号C063S0により、CPUインタフェース4
01から第2タイマ12を介して第1タイマ11に伝達
され、この第1タイマ11内のレジスタに初期値として
保持される。第1タイマ11は、プログラムカウンタ制
御部21から伝達された信号IR1によって、再スター
トするか否かが決定される。同様に第2タイマ12は、
プログラムカウンタ制御部21から伝達された信号IR
2によって、再スタートするか否かが決定される。イン
ストラクションメモリ10からの信号TMUX_CMD
1によりタイマ動作開始までのクロック数が格納された
レジスタが選択され、それが、TM_CMD1によって
タイマスタート(カウントダウン)される。第1タイマ
11は、カウントアップしたとき、それを検知して信号
tmzero1を論理値“1”にする。第2タイマ12
においても上記第1タイマ11と同様であり、カウント
アップしたとき、それを検知して信号tmzero2を
論理値“1”にする。
【0034】プログラムカウンタ22は、インストラク
ションメモリ10からプログラムナンバーの指定番号P
C_OPDを取り込み、また、プログラムカウンタ制御
部21からは制御信号ipctrl1,ipctrl2
を取り込んで命令コードのアドレス情報PCを生成す
る。このアドレス情報PCはインストラクションメモリ
10に伝達される。
【0035】図2には各部の詳細な構成例が示される。
また、図8乃至図11には図2における各種ステートマ
シーンの状態遷移が示される。
【0036】第1タイマ11は、特に制限されないが、
上記CPUインタフェース401から伝達される初期値
を保持可能なレジスタ(TMD1A)47及びレジスタ
(TMD1B)48、インストラクションメモリ10か
らの出力信号TMUX_CMD1に従って、レジスタ4
7及びレジスタ48の出力信号を選択的に後段回路伝達
するためのセレクタ49、このセレクタ49の後段に配
置された3入力1出力のセレクタ50、このセレクタ5
0の出力信号を保持可能なレジスタ(TMC1)54、
上記レジスタ54の出力値から‘1’を減算するための
減算器52、上記レジスタ54の出力値がゼロになった
ことを検知可能なゼロ検出回路(tmzero1)、上
記インストラクションメモリ10からの出力信号TM_
CMD1や、上記ゼロ検出回路53、及びプログラムカ
ウンタ制御部21の出力信号に上記セレクタ5の動作を
制御するためのタイマコントロールステートマシーン
(TMCTRLSM1)51とを含んで成る。上記減算
器52の出力信号と、上記セレクタ49の出力信号と、
上記レジスタ54の出力信号とは、セレクタ5によって
選択可能とされる。タイマコントロールステートマシー
ン51の出力信号は2ビット構成とされる。この2ビッ
ト構成の出力信号が“10”のとき、セレクタ50は減
算器52の出力信号を選択し、上記2ビット構成の出力
信号が“01”のとき、セレクタ50は前段のセレクタ
49の出力信号を選択し、上記2ビット構成の出力信号
が“00”のとき、セレクタ50はレジスタ54の出力
値を選択する。
【0037】図8には上記タイマコントロールステート
マシーン(TMCTRLSM1)51の状態遷移が示さ
れる。タイマコントロールステートマシーン51は、イ
ンストラクションメモリ10からの出力信号TM_CM
D1が論理値“10”とされるとき、又はゼロ検出回路
53の出力信号tmzero1が論理値“1”とされて
インタラプトステートマシーン35の出力信号IR1が
論理値“0”とされるとき、オフ(OFF)状態とさ
れ、出力信号tmctrl1は、論理値“00”とされ
る。インストラクションメモリ10からの出力信号TM
_CMD1が論理値“01”とされると、上記タイマコ
ントロールステートマシーン51はスタート(STAR
T)状態とされ、出力信号tmctrl1は論理値
“1”とされる。そして、インストラクションメモリ1
0からの出力信号TM_CMD1が論理値“01”以外
のとき、オン(ON)状態とされ、出力信号tmctr
l1は論理値“10”とされる。この状態で、インスト
ラクションメモリ10からの出力信号TM_CMD1が
論理値“01”とされるか、あるいはtmzero1及
びIR1の双方が論理値“1”にされた場合に、タイマ
コントロールステートマシーン51は再び上記スタート
状態に遷移される。
【0038】第2タイマ12も上記第1タイマと同様に
構成される。すなわち、第2タイマ12は、特に制限さ
れないが、上記CPUインタフェース401から伝達さ
れる初期値を保持可能なレジスタ(TMD2A)57及
びレジスタ(TMD2B)58、インストラクションメ
モリ10からの出力信号TMUX_CMD2に従って、
レジスタ57及びレジスタ58の出力信号を選択的に後
段回路伝達するためのセレクタ59、このセレクタ59
の後段に配置された3入力1出力のセレクタ60、この
セレクタ60の出力信号を保持可能なレジスタ(TMC
2)64、上記レジスタ64の出力値から‘1’を減算
するための減算器62、上記レジスタ64の出力値がゼ
ロになったことを検知可能なゼロ検出回路(tmzer
o2)63、上記インストラクションメモリ10からの
出力信号TM_CMD1や、上記ゼロ検出回路53、及
びプログラムカウンタ制御部21の出力信号に上記セレ
クタ60の動作を制御するためのタイマコントロールス
テートマシーン(TMCTRL2)61とを含んで成
る。上記減算器52の出力信号と、上記セレクタ49の
出力信号と、上記レジスタ54の出力信号とは、セレク
タ5によって選択可能とされる。タイマコントロールス
テートマシーン51の出力信号は2ビット構成とされ
る。この2ビット構成の出力信号が“10”のとき、セ
レクタ60は減算器62の出力信号を選択し、上記2ビ
ット構成の出力信号が“01”のとき、セレクタ60は
前段のセレクタ59の出力信号を選択し、上記2ビット
構成の出力信号が“00”のとき、セレクタ60はレジ
スタ64の出力値を選択する。尚、上記タイマコントロ
ールステートマシーン61の状態遷移は、上記タイマコ
ントロールステートマシーン51と同様であるため、そ
の詳細な説明を省略する。
【0039】プログラムカウンタ22は次のように構成
される。
【0040】レジスタ(IP1)38、レジスタ(IP
2)39が設けられ、このレジスタ38,39には、第
1タイマ11や第2タイマ12の出力値が“0”になっ
て割り込み信号が入った場合に実行するサイクルが定義
されたプログラムのナンバー(先頭アドレス)が保持さ
れる。レジスタ38,39への書き込みは、CPU11
0によって行うことができる。特に制限されないが、レ
ジスタ38には、リフレッシュ制御プログラムの先頭ア
ドレスが書き込まれ、レジスタ39には、所定時間毎に
実行されるプログラム、例えばライトサイクル制御プロ
グラムの先頭アドレスが書き込まれるものとする。レジ
スタ38,39の出力値はセレクタ40によって選択さ
れる。セレクタ40の選択動作は、プログラムカウンタ
制御部21によって行われるが、切り換えのタイミング
は、第1タイマ11及び第2タイマ12の動作に基づい
て決定される。すなわち、第1タイマ11の動作に基づ
いて所定時間毎にリフレッシュサイクルが起動され、第
2タイマ12の動作に基づいて所定時間毎にライトサイ
クルが起動される。上記セレクタ41は、プログラムカ
ウンタ制御部21から出力される制御信号ipctrl
によって動作制御される。セレクタ42が設けられ、こ
のセレクタ42は、インストラクションメモリ10から
伝達された信号PC_OPDと、加算器44の出力信号
とを選択的に後段のセレクタ43に伝達する。また、セ
レクタ42の後段にはレジスタ41が配置され、上記セ
レクタ42からの出力値を保持することができる。上記
インストラクションメモリ10から伝達された信号PC
_OPDは、繰り返し動作の際にジャンプさせるプログ
ラムのナンバー(先頭アドレス)の指定情報PC_OP
Dとされる。上記セレクタ42の選択動作は、プログラ
ムカウンタ制御部21からの制御信号pcctrl1に
よって行われる。セレクタ43は、プログラムカウンタ
制御部21から出力される制御信号pcctrl2に応
じて、上記レジスタ41の出力値と、上記セレクタ40
の出力値と、上記セレクタ42の出力値を選択的に後段
のレジスタ(PC)45に伝達する。このレジスタ45
の保持値は、次に実行される命令の読み出しアドレスと
され、それはインストラクションメモリ10に伝達され
るとともに、加算器44に伝達される。加算器44は、
入力値に1を加算して出力する。この加算器44の出力
値が上記セレクタ42,43を介してレジスタ45に書
き込まれることにより、アドレスのインクリメントが行
われる。一つの実行サイクルで一連の命令をインストラ
クションメモリ10から順次読み出す必要がある場合に
は、上記加算器44の出力がセレクタ42,43を介し
てレジスタ45に伝達されることでアドレスのインクリ
メントが行われる。レジスタ41は、スタックからの復
帰に利用される。例えば所定命令を実行する際に、その
命令の実行を止めて別の処理が行われる場合、上記未実
行の命令のアドレス情報がレジスタ41に保持され、上
記処理が終了した後に上記レジスタ41の出力値がセレ
クタ43によって選択されることで、上記未実行の命令
が実行される。
【0041】上記プログラムカウンタ制御部21は次の
ように構成される。
【0042】PCコントローラ31、タイマゼロ・ステ
ートマシーン(TMZ SM1)33、タイマゼロ・ス
テートマシーン(TMZ SM2)34、インタラプト
・ステートマシーン(IR SM1)35、インタラプ
ト・ステートマシーン(IRSM2)36、タイマゼロ
コントロールステートマシーン(TM ZEROCTR
L SM)32を含む。
【0043】PCコントローラ31には、インストラク
ションメモリ10からのプログラムカウンタ制御信号P
C_CMDや、割り込み可能信号IRQ_MASK、タ
イマゼロコントロールステートマシーン32の出力信号
tmzero、タイマゼロステートマシーン33の出力
信号irq1、タイマゼロステートマシーン34の出力
信号irq2に基づいて、制御信号pcctrl1,p
cctrl1、及びレジスタの指定番号ipctrlを
出力する。この信号は上記プログラムカウンタ22へ供
給される。
【0044】タイマゼロコントロールステートマシーン
32は、ゼロ検出回路53の出力信号と、ゼロ検出回路
63の出力信号との双方が論理値“1”になった場合の
調停を行う。このとき、タイマゼロコントロールステー
トマシーン32は、図9に示されるようにその状態が遷
移される。tmzero1及びtmzero2の双方が
論理値“0”の場合、タイマゼロコントロールステート
マシーン32はオフ(OFF)状態とされ、このとき、
信号tmzero及びwzの双方は、タイマゼロコント
ロールステートマシーン32によって論理値“0”とさ
れる。tmzero1又はtmzero2の何れかが論
理値“1”とされた場合、タイマゼロコントロールステ
ートマシーン32はzero状態とされ、出力信号tm
zeroが論理値“1”にされ、信号wzが論理値
“0”とされる。そして、PCコントローラ31によっ
て、信号tzacが論理値“1”された場合には、タイ
マゼロコントロールステートマシーン32は再びオフ状
態に戻される。また、tmzero1とtmzero2
の双方が論理値“1”とされると、タイマゼロコントロ
ールステートマシーン32は、wzero状態に遷移さ
れ、そのときの出力信号tmzero及びwzはいずれ
も論理値“1”とされる。そして、PCコントローラ3
1によって信号iracが論理値“1”にされること
で、タイマゼロコントロールステートマシーン32は上
記のzero状態へ遷移される。
【0045】インタラプトステートマシーン35は、イ
ンストラクションメモリ10からのTMS1及びTM_
CMD1を受けてリフレッシュ実行選択信号IR1の論
理を決定する。すなわち、インタラプトステートマシー
ン35は、その状態遷移が図11に示されるように、イ
ンストラクションメモリ10からの出力信号TMS1が
論理値“0”とされ、TM_CMD1が論理値“01”
とされるとき、出力信号IR1は論理値“0”とされ、
このとき、割り込みの要求が許容されない状態(No
irq)とされる。それに対して、インストラクション
メモリ10からの出力信号TMS1が論理値“1”とさ
れ、TM_CMD1が論理値“01”とされるとき、出
力信号IR1が論理値“1”とされることで、割り込み
の要求が許容される状態(irq)に遷移される。イン
タラプトステートマシーン35によってリフレッシュ実
行選択信号IR1が論理値“1”にされた場合には第1
タイマ11が選択され、インタラプトステートマシーン
35によって特定プログラム実行選択信号IR2が論理
値“1”にされた場合には第2タイマ12が選択され
る。また、インタラプトステートマシーン36は、イン
ストラクションメモリ10からのTMS2及びTM_C
MD2を受けて特定プログラム実行選択信号IR2の論
理を決定する。インタラプトステートマシーン36の状
態遷移は、上記したインタラプトステートマシーン35
の状態遷移と同様とされるため、その詳細な説明を省略
する。
【0046】タイマゼロ・ステートマシーン33は、ゼ
ロ検出回路53によって第1タイマ11の出力値が0に
なったことが検出され、インタラプトステートマシーン
35によってリフレッシュ実行選択信号IR1が論理値
“1”にされた場合に、上記PCコントローラ31に対
する割り込み信号irq1をアサートする。これにより
上記PCコントローラ31は、制御信号pcctrl2
を、論理値“01”にする。
【0047】タイマゼロ・ステートマシーン33は、ゼ
ロ検出回路53によって第1タイマ12の出力値が0に
なったことが検出され、インタラプトステートマシーン
35によって特定プログラム実行選択信号IR1が論理
値“1”にされた場合に、上記PCコントローラ31に
対する割り込み信号irq1を論理値“1”にアサート
する。また、タイマゼロ・ステートマシーン34は、ゼ
ロ検出回路63によって第2タイマ12の出力値が0に
なったことが検出され、インタラプトステートマシーン
36によってリフレッシュ実行選択信号IR2が論理値
“1”にされた場合に、上記PCコントローラ31に対
する割り込み信号irq2を論理値“1”にする。上記
割り込み信号irq1やirq2が論理値“1”にされ
た場合、PCコントローラ31によって、制御信号pc
ctrl2を論理値“01”にする。IR_SM1とI
R_SM2とが競合する場合があるが、その場合には、
リフレッシュサイクルが優先されるようになっている。
これは、PCコントローラ31から出力される信号ir
aclによってタイマゼロステートマシーン33がリセ
ットされるのを待ってタイマステートマシーン34から
の割り込み要求irq2をアサートするように構成する
ことで実現される。PCコントローラ31は、割り込み
信号irq1が理値“1”の場合に制御信号ipctr
lを論理値“0”に設定し、割り込み信号irq1が論
理値“0の場合に制御信号ipctrlを論理値“1に
設定する。上記割り込み信号irq1及びirq2は、
それぞれPCコントローラ31によってリセット信号i
rac1及びirac2がアサートされることによって
リセットされる。
【0048】図10には、タイマゼロステートマシーン
(TMZ SM2)34の状態遷移が示される。
【0049】タイマゼロステートマシーン34のオフ
(OFF)状態では、リクエスト信号irq2は論理値
“0”とされる。ゼロ検出回路53によって信号tmz
ero1が論理値“1”とされ、インタラプトステート
マシーン36によってIR2が論理値“1”とされ、タ
イマゼロコントロールステートマシーン32によってw
zが論理値“0”とされることで、タイマゼロステート
マシーン34がオン(ON)状態とされ、割り込み信号
irq2が論理値“1”とされることで割り込み要求が
なされる。この割り込みがPCコントローラ31によっ
て受け付けられ、その後にPCコントローラ31によっ
て信号iracが論理値“1”にされることでタイマゼ
ロステートマシーン34はオフ状態に戻される。また、
ゼロ検出回路53によって信号tmzero1が論理値
“1”とされ、インタラプトステートマシーン36によ
ってIR2が論理値“1”とされ、タイマゼロコントロ
ールステートマシーン32によってwzが論理値“1”
とされた場合には、第1タイマ11の出力値と第2タイ
マ12の出力値の双方が0になり、割り込みが競合する
ことになるが、この状態は次のように回避される。すな
わち、PCコントローラ31によって信号irac1が
論理値“1”にアサートされるまでは、タイマゼロステ
ートマシーン34はウェイト(WAIT)状態とされ、
割り込み信号irq2は論理値“0”の状態が維持され
ることで、irq1の割り込みが優先される。PCコン
トローラ31によって信号irac1が論理値“1”に
アサートされてから割り込み信号irq2が論理値
“1”にアサートされる。
【0050】次に、第1タイマ11を用いてリフレッシ
ュ動作が制御される場合について説明する。
【0051】リフレッシュが行われる場合、インストラ
クションメモリ10からの出力コマンドTMUX_CM
D1が論理値“0”とされることで、セレクタ49は、
初期値レジスタ47の出力値を選択し、それをtm_d
ata11としてセレクタ50に出力する。インストラ
クションメモリ10からの出力信号TM_CMD1が
“01”とされることで、タイマコントローラ51から
の制御信号tmctrl1が“01”とされて上記セレ
クタ49の出力値tm_data11が選択され、tm
_data12としてレジスタ54に伝達され、これに
より第1タイマ11のカウント動作がスタートされる。
タイマコントローラ51は、タイマスタート時、カウン
ト時、ストップ時のそれぞれの入力信号(TM_CMD
1、tmzero1、IR1)によって、その出力制御
信号tmctrl1の論理が異なる。第1タイマ11で
は、スタート後において上記インストラクションメモリ
10からの出力コマンドTM_CMD1が“00”(タ
イマーストップを意味する)とされるまでは、減算器5
2の出力値がセレクタ50によって選択的にレジスタ5
4に伝達されることによってカウントダウンが行われ
る。このようなカウントダウンによって、レジスタ54
の出力値が“0”になると、そのことがゼロ検出回路5
3によって検出され、ゼロ検出回路53の出力が論理値
“1”にされる。このとき、リフレッシュ実行選択信号
IR1が論理値“1”になっている場合には、それはリ
フレッシュタイマの実行選択を意味するから、タイマコ
ントローラ51は、再び第1タイマ11をスタートさせ
る。尚、リフレッシュ実行選択信号IR1が論理値
“0”になっている場合には、第1タイマ11は再スタ
ートされない。
【0052】インタラプトステートマシーン35によっ
てリフレッシュ実行選択信号IR1が論理値“1”にさ
れた場合において、ゼロ検出回路53によって第1タイ
マ11の出力値が0になったことが検出されると、上記
PCコントローラ31に対する割り込み信号irq1が
論理値“1”にアサートされる。割り込み信号irq1
が論理値“1”の場合に制御信号ipctrlが論理値
“0”に設定されるため、セレクタ40によってレジス
タ38の保持値が選択的にセレクタ43に伝達される。
また、このとき、上記PCコントローラ31によって制
御信号pcctrl2が論理値“01”されることか
ら、上記セレクタ43によりセレクタ40の出力値が選
択されるため、上記レジスタ38の保持情報がレジスタ
45に取り込まれる。上記レジスタ38には、リフレッ
シュ動作プログラムの先頭アドレスが保持されているた
め、これが、レジスタ45を介してインストラクション
レジスタ10に伝達されることによって、リフレッシュ
動作に関する命令が、インデックスカウンタ23やアド
レス演算部24に伝達される。アドレス演算部24で
は、上記インストラクションメモリ10からの出力コマ
ンドに従って、リフレッシュ動作のための基本アドレス
信号を発生する。また、サイクル信号CYCLEによっ
てリフレッシュサイクルであることが示される。基本ア
ドレス信号ADRやサイクル信号CYCLEは、後段の
FIFOバッファ403を介してコマンド発生器402
に伝達される。コマンド発生回路402においてフレッ
シュ動作のためのコマンドが発生され、それに基づいて
被測定デバイス(DUT)117のリフレッシュが行わ
れる。
【0053】上記のリフレッシュサイクルは、第1タイ
マ11が動作され、レジスタ54の出力値が0になった
ことがゼロ検出回路53によって検出される毎に起動さ
れる。
【0054】次に、第2タイマ12を用いて特定のプロ
グラムが所定時間毎に実行される場合について説明す
る。
【0055】リフレッシュタイマ実行中に、特定プログ
ラム実行の指示があった場合は、インストラクションメ
モリ10からの出力信号TMUX_CMD2が“0”に
されることで、レジスタ57の保持値がセレクタ59を
介してセレクタ60に伝達され、さらに、インストラク
ションメモリ10からの出力信号TM_CMD2が“0
1”とされることで、タイマコントローラ61からの制
御信号tmctrl2が“01”とされると、上記セレ
クタ59の出力値tm_data21が選択され、それ
が、tm_data22としてレジスタ64に伝達さ
れ、これにより第2タイマ12のカウント動作がスター
トされる。
【0056】タイマコントローラ61は、タイマスター
ト時、カウント時、ストップ時のそれぞれの入力信号
(TM_CMD2、tmzero2、IR2)によっ
て、その出力制御信号tmctrl2の論理が異なる。
第2タイマ12では、スタート後において上記インスト
ラクションメモリ10からの出力コマンドTM_CMD
2が“00”(タイマストップを意味する)とされるま
では、減算器62の出力値がセレクタ60によって選択
的にレジスタ64に伝達されることによってカウントダ
ウンが行われる。このようなカウントダウンによって、
レジスタ64の出力値が“0”になると、そのことがゼ
ロ検出回路63によって検出され、ゼロ検出回路63の
出力が論理値“1”にされる。このとき、特定プログラ
ム実行選択信号IR2が論理値“1”になっている場合
には、それは特定プログラムの実行を意味するから、タ
イマコントローラ61は、再び第2タイマ12をスター
トさせる。尚、特定プログラム実行選択信号IR2が論
理値“0”になっている場合には、第2タイマ12は再
スタートされない。
【0057】インタラプトステートマシーン36によっ
て特定プログラム実行選択信号IR2が論理値“1”に
された場合において、ゼロ検出回路63によって第2タ
イマ12の出力値が0になったことが検出されると、上
記PCコントローラ31に対する割り込み信号irq2
が論理値“1”にアサートされる。割り込み信号irq
2が理値“1”の場合に制御信号ipctrlが論理値
“1”に設定されるため、セレクタ40によってレジス
タ39の保持値が選択的にセレクタ43に伝達される。
また、このとき、上記PCコントローラ31によって制
御信号pcctrl2が論理値“01”されることか
ら、上記セレクタ43によりセレクタ40の出力値が選
択されるため、上記レジスタ39の保持情報がレジスタ
45に取り込まれる。上記レジスタ39には、所定の周
期で起動される特定のプログラム例えばライトサイクル
についてのプログラムの先頭アドレスが保持されている
ため、これが、レジスタ45を介してインストラクショ
ンレジスタ10に伝達される。これにより、ライトサイ
クルについての命令がインストラクションメモリ10か
ら読み出されてインデックスカウンタ23やアドレス演
算部24及びデータ発生部25に伝達される。上記ライ
トサイクルについての命令が複数行に亘る場合、加算器
44の動作によりアドレス信号が順次インクリメントさ
れ、それに応じて対応する命令がインストラクションメ
モリ10から順次出力される。アドレス演算部24で
は、上記インストラクションメモリ10からの出力コマ
ンドに従って、ライトサイクルのための基本アドレス信
号が発生される。データ発生部25は書込み用の基本デ
ータDATAを発生する。また、サイクル信号CYCL
Eによってライトサイクルであることが示される。基本
アドレス信号ADRや基本データDASTA及びサイク
ル信号CYCLEは、後段のFIFOバッファ403を
介してコマンド発生器402に伝達される。コマンド発
生回路402においてライトサイクルのためのコマンド
が発生され、それに基づいて被測定デバイス(DUT)
117のライトサイクルが起動される。
【0058】上記のライトサイクルは、第2タイマ12
が動作され、レジスタ64の出力値が0になったことが
ゼロ検出回路63によって検出される毎に起動される。
しかも、このライトサイクルは、第2タイマ12の計数
結果に基づいて起動されるもので、第1タイマ11の計
数結果に基づいて起動されるリフレッシュサイクルとは
独立して起動される。すなわち、図6において601で
示されるように第1タイマ(REF TIMER)11
及び第2タイマ(PROG TIMER)12の動作が
開始されてからそれらの動作が終了されるまでの間に、
第1タイマ(REF TIMER)11の計数結果に基
づいて所定時間毎にリフレッシュサイクル(REF)が
起動され、また、第2タイマ(PROG TIMER)
12の計数結果に基づいて所定時間毎に、例えばライト
サイクルなどの特定のプログラム(PROG)が起動さ
れる。
【0059】上記の例によれば、以下の作用効果を得る
ことができる。
【0060】(1)第1タイマ(REF TIMER)
11の計数結果に基づいて所定時間毎にリフレッシュサ
イクル(REF)が起動され、また、第2タイマ(PR
OGTIMER)12の計数結果に基づいて所定時間毎
に、例えばライトサイクルなどの特定のプログラム(P
ROG)が起動されるため、所定時間が経過する毎にメ
モりアクセスのためのプログラムを実行するとともに、
このプログラム実行とは無関係に所定時間間隔でリフレ
ッシュ動作を行うことができ、そのような動作は実機動
作に近いため、不良解析に効果的とされる。
【0061】(2)第1処理についての一連の命令群の
上記インストラクションメモリにおける先頭番地を保持
可能なレジスタ38と、上記第2処理についての一連の
命令群の先頭番地を保持可能なレジスタ39と、プログ
ラムカウンタ制御部21の制御により、上記レジスタ3
8の保持値と上記レジスタ39の保持値とを選択的に後
段回路に伝達可能なセレクタ40とを含んでプログラム
カウンタ22が構成されることにより、上記(1)の作
用効果を有するパターン発生回路114を容易に構成す
ることができる。
【0062】図5には、図4に示されるコマンド発生器
402内に、2系統のタイマ機能を設けた場合の構成例
が示される。
【0063】第1タイマ501及び第2タイマ502が
設けられ、この第1タイマ501及び第2タイマ502
は、それぞれ図1や図2に示される第1タイマ11及び
第2タイマ12に相当するもので、内部構成も第1タイ
マ11及び第2タイマ12と同等とされる。
【0064】コマンド発生のための命令コードが格納さ
れたインストラクションメモリ505が設けられ、この
インストラクションメモリ505において命令コードが
格納されているアドレスを指定するもので、図1や図2
におけるプログラムカウンタ22に対応する。上記コマ
ンドポインタ504の動作は、コマンドポインタ制御部
503によって制御される。このコマンドポインタ制御
部503は、図1や図2におけるプログラムカウンタ制
御部21に対応するもので、上記第1タイマ501及び
第2タイマ502の計数結果に基づいて上記コマンドポ
インタ504の動作を制御する。コマンドポインタ50
4によってインストラクションメモリ505のアドレス
が指定されることによって、当該インストラクションメ
モリ505から命令コードが読み出される。コマンド発
生部506は、上記インストラクションメモリ505か
らの命令コードに従って、例えばリフレッシュサイクル
やライトサイクル、あるいはリードサイクルにおける一
連のコマンドを発生する。データ演算部507は、上記
コマンド発生部506でのコマンド発生に同期して、F
IFOバッファ403(図4参照)から伝達された基本
データを加工して出力する。アドレス演算部508は、
上記コマンド発生部506でのコマンド発生に同期し
て、FIFOバッファ403から伝達された基本アドレ
スを加工して出力する。インデックスカウンタ509
は、インストラクションメモリ505から命令コードに
基づいてループ回数をカウントする。このカウント値は
コマンドポインタ制御部503に伝達される。
【0065】特に制限されないが、コマンドポインタ制
御部503では、第1タイマ501の計数結果に基づい
てリフレッシュサイクルの起動間隔を決定し、第2タイ
マ502の計数結果に基づいてライトサイクルなどの特
定のプログラムの起動間隔を決定する。その場合の各部
の具体的な動作については、基本的には図2に示される
のと同様であるため、ここではそれについての詳細な説
明を省略する。
【0066】このようにコマンド発生器402内に第1
タイマ501及び第2タイマ502を設け、その計数結
果に基づいてコマンドポインタ504の動作を制御する
ようにしても、上記の場合と同様の作用効果を得ること
ができる。
【0067】尚、コマンド発生器402内に第1タイマ
501及び第2タイマ502などを設ける場合には、ア
ドレス・データ発生器404内における第1タイマ11
及び第2タイマ12などは省略することができる。
【0068】以上本発明者によってなされた発明を具体
的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではな
く、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であるこ
とはいうまでもない。
【0069】例えば、第1タイマ11及び第2タイマ1
2の双方をリフレッシュサイクルの起動に使用するよう
にしても良い。例えば図7において701で示されるよ
うに、第1タイマ11及び第2タイマ12を、それぞれ
REF TIMER1及びREF TIMER2とする
とき、このREF TIMER1及びREF TIME
R2の動作が開始されてから終了されるまでの間に、R
EF TIMER1の計数結果に基づいて第1リフレッ
シュサイクルが起動され、REF TIMER2の計数
結果に基づいて第2リフレッシュサイクルが起動され
る。特に制限されないが、第1リフレッシュサイクルを
「7」とし、第2リフレッシュサイクルを「4」とする
と、REF TIMER1及びREF TIMER2の
動作が開始されてから終了されるまでの間のリフレッシ
ュ実行タイミングは、「4,7,8,12,14,1
6,20,21,…」となり、そのサイクルは、「4,
3,1,4,2,2,4,1,…」となる。すなわち、
第1タイマ11及び第2タイマ12の双方をリフレッシ
ュサイクルの起動に使用することにより、リフレッシュ
間隔を変化させることができる。ここで、実機動作で
は、被測定デバイスにおける内部回路の電源電圧依存性
により、リフレッシュ周期が微妙に変動する場合がある
が、上記のように第1タイマ11及び第2タイマ12の
双方をリフレッシュサイクルの起動に使用することによ
り、リフレッシュ間隔を変化させることができるから、
メモリ試験において、リフレッシュ周期を変動させるこ
とによって、より実機動作に近い状態でメモリ試験を行
うことができるため、不良解析に効果を発揮する。
【0070】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるメモリ
試験装置に適用した場合について説明したが、本発明は
それに限定されるものではなく、各種半導体集積回路の
試験を行う試験装置に広く適用することができる。
【0071】本発明は、少なくと命令コードを記憶する
インストラクションメモリを含むことを条件に適用する
ことができる。
【0072】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
の通りである。
【0073】すなわち、第1タイマ及び第2タイマの動
作に基づいてアドレス指示手段の動作を制御することに
より、例えば、第1タイマの計数結果に基づいて所定時
間毎にリフレッシュサイクルを起動し、また、第2タイ
マの計数結果に基づいて所定時間毎に、ライトサイクル
などの特定のプログラムを起動することにより、所定時
間が経過する毎にメモリアクセスのためのプログラムを
実行するとともに、このプログラム実行とは無関係に所
定時間間隔でリフレッシュ動作を行うことにより、実機
動作に近い状態で試験を行うことができるため、不良解
析に効果的とされる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかるパターン発生回路に含まれるア
ドレス・データ発生器の構成例ブロック図である。
【図2】上記アドレス・データ発生器における主要部の
構成例ブロック図である。
【図3】上記パターン発生回路を含む試験装置の全体的
な構成例ブロック図である。
【図4】上記パターン発生回路の構成例ブロック図であ
る。
【図5】上記パターン発生器回路における主要部の構成
例ブロック図である。
【図6】二つのタイマーを同時動作させてパターン発生
を行う第1のケース説明図である。
【図7】二つのタイマーを同時動作させてパターン発生
を行う第2のケース説明図である。
【図8】図2に示されるタイマコントローラの状態遷移
説明図である。
【図9】図2に示されるタイマゼロステートマシーンの
状態遷移説明図である。
【図10】図2に示されるタイマゼロコントロールステ
ートマシーンの状態遷移説明図である。
【図11】図2に示されるインタラプトステートマシー
ンの状態遷移説明図である。
【符号の説明】
10 インストラクションメモリ 11 第1タイマ 12 第2タイマ 21 プログラムカウンタ制御部 22 プログラムカウンタ 23 インデックスカウンタ 24 アドレス演算部 25 データ発生部 110 CPU 111 入出力装置 112 記憶装置 113 タイミングコントローラ 114 パターン発生回路 115 フォーマットコントローラ 116 ピンエレクトロニクス 117 DUT 118 メモリ 119 電源部 401 CPUインタフェース 402 コマンド発生器 403 FIFOバッファ 404 アドレス・データ発生器
フロントページの続き (72)発明者 村田 史絵 東京都小平市上水本町5丁目22番1号 株 式会社日立超エル・エス・アイ・システム ズ内 (72)発明者 鈴木 巌 東京都小平市上水本町五丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体グループ内 (72)発明者 菊地 修司 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 Fターム(参考) 2G132 AA08 AC03 AE06 AE14 AE16 AE18 AE23 AG01 AG08 AL11 5B018 GA03 HA31 JA12 NA02 QA13 5L106 AA01 DD22 DD23 EE06 GG03

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 命令コードを記憶するインストラクショ
    ンメモリと、上記インストラクションメモリから出力さ
    れた命令コードに従ってアドレス信号を演算するための
    アドレス演算部と、上記インストラクションメモリから
    出力された命令コードに従ってパターンデータを発生さ
    せるためのデータ発生部と、を含むパターン発生回路で
    あって、 上記インストラクションメモリに格納されている命令コ
    ードの読み出しアドレスを指示するためのアドレス指示
    手段と、 上記インストラクションメモリから出力される命令コー
    ドに従って実行される第1実行サイクルの起動時間を規
    定するための第1タイマと、 上記インストラクションメモリから出力された命令コー
    ドに従って起動される第2実行サイクルの起動間隔を規
    定するための第2タイマと、 上記第1タイマ及び上記第2タイマの動作に基づいて上
    記アドレス指示手段の動作を制御する制御手段と、を含
    むことを特徴とするパターン発生回路。
  2. 【請求項2】 上記アドレス指示手段は、上記第1処理
    に関する一連の命令群の上記インストラクションメモリ
    における先頭番地を保持可能な第1レジスタと、 上記第2処理に関する一連の命令群の先頭番地を保持可
    能な第2レジスタと、 上記プログラムカウンタ制御部の制御により、上記第1
    レジスタの保持値と上記第2レジスタの保持値とを選択
    的に後段回路に伝達可能なセレクタと、を含んで成る請
    求項1記載のパターン発生回路。
  3. 【請求項3】 上記制御手段は、上記第1タイマの出力
    値に基づいて、上記アドレス指示手段の動作制御に対す
    る第1割り込み要求信号を発生させるための第1割り込
    み発生手段と、 上記第2タイマの出力値に基づいて、上記アドレス指示
    手段の動作制御に対する第2割り込み要求信号を発生さ
    せるための第2割り込み発生手段と、を含んで成る請求
    項1又は2記載のパターン発生回路。
  4. 【請求項4】 上記制御手段は、上記第1タイマの出力
    値に基づいて、上記アドレス指示手段の動作制御に対す
    る第1割り込み要求信号を発生させるための第1割り込
    み発生手段と、 上記第2タイマの出力値に基づいて、上記アドレス指示
    手段の動作制御に対する第2割り込み要求信号を発生さ
    せるための第2割り込み発生手段と、 上記第1割り込み要求信号と上記第2割り込み要求信号
    との競合を調停するための調停手段と、を含んで成る請
    求項1又は2記載のパターン発生回路。
  5. 【請求項5】 請求項1乃至4の何れか1項記載のパタ
    ーン発生回路と、上記パターン発生回路の出力信号に基
    づいて被測定デバイスにパターンを供給するとともに、
    上記被測定デバイスからの出力信号を取り込むためのピ
    ンエレクトロニクスと、上記ピンエレクトロニクスを介
    して上記被測定デバイスから取り込まれた信号とその期
    待値とを比較するための比較回路と、を含んで成る試験
    装置。
JP2001087369A 2001-03-26 2001-03-26 パターン発生回路及び試験装置 Withdrawn JP2002288996A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001087369A JP2002288996A (ja) 2001-03-26 2001-03-26 パターン発生回路及び試験装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001087369A JP2002288996A (ja) 2001-03-26 2001-03-26 パターン発生回路及び試験装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002288996A true JP2002288996A (ja) 2002-10-04

Family

ID=18942623

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001087369A Withdrawn JP2002288996A (ja) 2001-03-26 2001-03-26 パターン発生回路及び試験装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002288996A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7137055B2 (en) 2003-12-17 2006-11-14 Hitachi, Ltd. Semiconductor testing equipment, testing method for semiconductor, fabrication method of semiconductor, and semiconductor memory
JP2008123623A (ja) * 2006-11-14 2008-05-29 Yokogawa Electric Corp メモリ試験装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7137055B2 (en) 2003-12-17 2006-11-14 Hitachi, Ltd. Semiconductor testing equipment, testing method for semiconductor, fabrication method of semiconductor, and semiconductor memory
JP2008123623A (ja) * 2006-11-14 2008-05-29 Yokogawa Electric Corp メモリ試験装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8713264B2 (en) Data processing circuit with arbitration between a plurality of queues
JP3636672B2 (ja) 表示処理装置
JP4388005B2 (ja) コンテキスト切替え装置
JP2002288996A (ja) パターン発生回路及び試験装置
JP2003108381A (ja) 計算機システム
EP0426169A2 (en) Optical data filing system with improved memory read/write control
JP4226108B2 (ja) ディジタルシグナルプロセッサ及びプロセッサのセルフテスト方法
JP2004227635A (ja) 不揮発性半導体メモリおよび不揮発性半導体メモリを内蔵したマイクロコンピュータ
JP3094944B2 (ja) アービトレーション方法及びその装置
EP0468553A2 (en) Instrumentation system and instrumentation devices adapted for use in such a system
JP2006039843A (ja) Ramテスト回路、情報処理装置、及びramテスト方法
JP2005100017A (ja) プロセッサシミュレータおよび割込遅延カウントプログラム、並びにプロセッサのシミュレート方法
JP2829998B2 (ja) リフレッシュ制御装置
JP2002244916A (ja) マイクロコントローラ
JP3303420B2 (ja) メモリアクセス制御装置
JP2968749B2 (ja) マイクロプログラム調速制御回路
JP2002214296A (ja) 半導体装置
JPH07146814A (ja) メモリ装置
JP2008111682A (ja) 半導体試験方法および半導体試験装置
WO2020066934A1 (ja) コマンド制御システム、車両、コマンド制御方法及びプログラム
JP2004061369A (ja) 半導体集積回路試験装置及び方法
JPH10334658A (ja) メモリアクセス装置
JP2005092225A (ja) 表示処理装置
JP2004110742A (ja) Dmaコントローラ
JPH11194969A (ja) メモリ制御回路およびメモリ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20080603