JP2002277329A - 光サンプリング波形測定装置 - Google Patents

光サンプリング波形測定装置

Info

Publication number
JP2002277329A
JP2002277329A JP2001074684A JP2001074684A JP2002277329A JP 2002277329 A JP2002277329 A JP 2002277329A JP 2001074684 A JP2001074684 A JP 2001074684A JP 2001074684 A JP2001074684 A JP 2001074684A JP 2002277329 A JP2002277329 A JP 2002277329A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
sampling
measured
crystal
nonlinear optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001074684A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3517220B2 (ja
Inventor
Akihito Otani
昭仁 大谷
Toshinobu Otsubo
利信 尾坪
Hidehiko Takara
秀彦 高良
Ippei Shake
一平 社家
Satoki Kawanishi
悟基 川西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp, Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP2001074684A priority Critical patent/JP3517220B2/ja
Priority to US10/095,982 priority patent/US6720548B2/en
Priority to CA002376727A priority patent/CA2376727C/en
Priority to DE60204497T priority patent/DE60204497T2/de
Priority to EP02005918A priority patent/EP1241458B1/en
Publication of JP2002277329A publication Critical patent/JP2002277329A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3517220B2 publication Critical patent/JP3517220B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J11/00Measuring the characteristics of individual optical pulses or of optical pulse trains
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/35Non-linear optics
    • G02F1/353Frequency conversion, i.e. wherein a light beam is generated with frequency components different from those of the incident light beams
    • G02F1/3534Three-wave interaction, e.g. sum-difference frequency generation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 被測定光の波長によらず被測定光の光波形を
精度よく測定する。 【解決手段】 サンプリング光及び被測定光を同一光軸
上に偏波面が互いに直交するように合波する合波器3
と、合波されたサンプリング光及び被測定光が入射さ
れ、サンプリング光及び被測定光の和周波光を出射する
非線形光学結晶10と、出力された和周波光を電気信号
に変換する受光器7と、変換された電気信号を処理して
被測定光の光波形を表示する信号処理部8とを備えた光
サンプリング波形測定装置において、非線形光学結晶を
有機非線形光学結晶のAANP10で構成し、非線形光
学結晶の位相整合方向15に垂直な面内に有る結晶の基
準軸と直角に被測定光の偏波方向を設定し、かつ基準軸
と平行にサンプリング光の偏波方向を設定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光通信等に用いられ
る光信号の光パルス波形を和周波光を利用して測定する
光サンプリング波形測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】新規に光通信システムを構築したり、新
規に光伝送装置を製作したり、これらを定期的に点検す
る場合に、光通信の品質を把握するために送受信される
デジタルの光信号のパルス波形を測定することは重要な
ことである。
【0003】近年、光通信における情報の伝送速度が高
くなり、10Gbit/s 以上の高速光伝送が計画されてい
る。このような数10Gbit/s を越える高速の光信号の
光パルス波形を和周波光を利用して測定する光サンプリ
ング波形測定装置が開発されている(特公平6−638
69号公報)。
【0004】図7及び図8はこの光サンプリング波形測
定装置の測定原理を説明するための図である。例えば測
定対象のパルス波形の繰返し周波数fを有する被測定光
aと、この被測定光aのパルス幅より格段に狭いパルス
幅を有し、かつ被測定光aの繰返し周波数fより若干低
い繰返し周波数(f−Δf)を有したサンプリング光b
とを、この被測定光aとサンプリング光bに対する第2
種位相整合(タイプ2の位相整合)が可能な状態の非線
形光学材料1に光軸を合わせて同時に入射すると、2つ
の光a、bが同時に重なった場合のみ、この2つの光
a、bの強度の積に比例した和周波光cが出力される。
【0005】この和周波光cの繰返し周波数はサンプリ
ング光bの繰返し周波数(f−Δf)であるので、この
和周波光cを電気信号に変換する光電変換器の応答速度
はこの繰返し周波数(f−Δf)より高ければよく、し
かも時間分解能はサンプリング光bのパルス幅で定まる
ので、図7に示すように、和周波光cを電気信号に変換
した後に、この電気信号の包絡線波形が、時間軸上に拡
大された被測定光aの光パルス波形eとなる。
【0006】次に、和周波光及び位相整合を説明する。
図8(a)に示すように、非線形光学材料1の一方の面
に角周波数ωD を有する被測定光aと角周波数ωS を有
するサンプリング光bとを互いの偏波面が直交するよう
に入射すると、非線形光学材料1が両光a,bに対して
第2種位相整合可能な条件下においては、この非線形光
学材料1の他方の面から和の角周波数(ωS +ωD )を
有する和周波光cが出力される。
【0007】位相整合とは、非線形光学材料1内に入射
された各入射光の速度(位相速度)と、この入射光にて
励起される例えば和周波光等の入射光に対する高調波光
の速度とがこの非線形光学材料1の結晶内で一致するこ
とである。そして、第2種位相整合とは、2つの入射光
の偏光方向が直交している場合の位相整合である。な
お、第1種位相整合とは、2つの入射光の偏光方向が揃
った場合の位相整合である。
【0008】非線形光学材料1内を進行する光の速度
は、光の波長(周波数)や結晶軸に対する進行方向に応
じて異なる。したがって、上述した各入射光の結晶内で
の速度(位相速度)と和周波光の結晶内での速度(位相
速度)が一致するためには、結晶の三次元座標内におけ
る入射光の屈折率楕円体と和周波光の屈折率楕円体との
交点と座標原点を結ぶ方向を位相整合方向とし、上述し
た各入射光の光軸をこの位相整合方向に一致させればよ
い。さらに、各入射光の偏波方向を位相整合方向と垂直
な面に有る結晶の基準軸に平行又は直交させればよい。
【0009】具体的には、非線形光学材料1を位相整合
方向に直交する面を有する直方体状又は円柱状に切り出
したものを用いる。現在、この非線形光学材料1として
は、KTP(KH2 PO4 )、LN(LiNbO3 )、
LT(LiTaO3 )、KN(KNbO3 )等が実用化
されている。
【0010】図9は上述した第2種位相整合(タイプ2
の位相整合)が可能な非線形光学材料1が組込まれた光
サンプリング波形測定装置の概略構成を示すブロック図
である。外部から入力された光の角周波数ωD でパルス
波形の繰返し周波数fを有する被測定光aは、偏光方向
制御器2にてその偏波面が例えば基準方向(0°方向)
に対して90°方向に制御されたのち合波器3へ入射さ
れる。
【0011】一方、サンプリング光源4は、前記被測定
光aの角周波数ωD とは異なる角周波数ωS でパルス波
形の繰返し周波数(f−Δf)を有するサンプリング光
bを出力する。このサンプリング光bのパルス幅は、図
7に示すように、被測定光aのパルス幅に比較して格段
に狭く設定されている。サンプリング光源4から出力さ
れたサンプリング光bは偏光方向制御器5にてその偏波
面が例えば基準方向(0°方向)に制御されたのち合波
器3へ入射される。
【0012】例えばビームスプリッタ(BS)等で構成
された合波器3は、ハーフミラー3aで入射光を直進さ
せるとともに直角方向に反射させる。したがって、この
合波器3の後方でかつサンプリング光bの光軸上に配設
された第2種位相整合(タイプ2)の非線形光学材料1
の一方の面には、基準方向(0°方向)の偏波面を有す
るサンプリング光bと基準方向(0°度方向)に対して
90°方向の偏波面を有する被測定光aが同時に入射さ
れる。
【0013】したがって、このタイプ2の非線形光学材
料1の他方の面から角周波数(ωS+ωD )を有する和
周波光cが出力される。非線形光学材料1から出力され
た和周波光cは光フィルタ6を介して受光器7へ入射さ
れる。なお、非線形光学材料1から出力された光には上
述した二つの光b,aの各角周波数ωS ,ωD の和の角
周波数(ωS +ωD )の光(和周波光c)他に、微小な
がら各角周波数ωS ,ωD の2倍の角周波数2ωS ,2
ωDの光 、及び変換されなかった各角周波数ω S ,ωD
の光も含まれるので、光フィルタ6でこれらの角周波数
2ωS ,2ωD,ωS ,ωD の成分を除去する。
【0014】受光器7は和周波光cを電気信号dへ変換
して次の電気信号処理系8へ送出する。電気信号処理系
8は入力した図7に示す和周波光cと同一波形を有する
電気信号dから、前述した手法で時間方向に拡大した被
測定光aの光パルス波形eを作成して、表示器9へ表示
出力する。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図9に
示した光サンプリング波形測定装置においてはまだ解消
すべき次のような課題があった。
【0016】すなわち、このような非線形光学材料1か
ら発生する和周波光cを利用して被測定光の光パルス波
形eを測定する光サンプリング波形測定装置の光パルス
波形eの測定精度を向上させるためには、非線形光学材
料1から発生する和周波光cの発生効率を向上させて、
和周波光cのS/N比を向上させる必要がある。
【0017】具体的には、和周波光cの光強度をPSFG
とし、被測定光aとサンプリング光bの各光強度をP
SIG 、PSAM とすると、和周波光cの光強度PSFG は下
式で示される。
【0018】PSFG =η・PSIG ・PSAM ここで、ηは非線形変換効率定数であり、採用される非
線形光学材料1の種類や材質によって一義的に定まる値
である。この非線形変換効率定数ηの大きい非線形光学
材料1として、前述した無機の非線形光学材料1である
KTP、LN、LT、KN等が採用されている。
【0019】しかし、実際の数10GHz程度の繰り返し
周波数を有する被測定光の1つの繰り返し周期内の光パ
ルス波形を精度よく測定するには、和周波光のS/N比
は30dB以上が必要である。したがって、さらに非線
形変換効率定数ηの高い非線形光学材料1の開発が望ま
れている。
【0020】このような要求を満たす非線形光学材料と
して、無機でなく有機の非線形光学結晶である2―アダ
マンチルアミノ―5―ニトロピリジン(2―adamantyl
amino 5-nitropyridine 以下 AANPと略記する)を
採用した光サンプリング波形測定装置が提唱されている
(特開平9―159536号公報)。
【0021】有機の非線形光学結晶であるAANPの非
線形変換効率定数ηは、10-2のオーダであり、前述し
た無機の非線形光学材料であるKTP、LN、LT、K
N等の10-4のオーダの非線形変換効率定数ηに比較し
て格段に高い。したがって、有機の非線形光学結晶のA
ANPから出射される和周波光のS/N比が向上し、最
終の光パルス波形の測定精度が向上する。
【0022】しかしながら、このように、AANP非線
形光学結晶を用いた光サンプリング波形測定装置におい
ても、まだ、改良すべき次のような課題があった。
【0023】すなわち、光サンプリング波形測定装置で
測定する主な被測定光は光通信システムにおける光信号
である。現在、光通信システムにおいては、伝送容量の
拡大を目指してCバンド(1530〜1565nm)帯のみなら
ず、Lバンド(1570〜1610nm)の波長域が使われ始め
ている。
【0024】したがって、当然、光サンプリング波形測
定装置においてもCバンド及びLバンドの波長域の光信
号を測定対象とする必要が生ずる。ところが、AANP
非線形光学結晶は非線形変換効率は高いものの、従来技
術ではSFG光を発生できる3dB帯域が1535〜1575n
mの40nm程度であり(報告例 ECOC‘96Th
B、1.2)、Lバンド帯を含むような80nmという
広帯域でSFG光を得ることができなかった.。
【0025】これは、サンプリング波長が固定であって
も被測定波長が初期条件から変化した場合、位相整合の
不一致が急峻におこり、被測定光とサンプリング光との
和周波光への変換効率が低下するためである。実際、光
サンプリング波形測定装置では被測定波長による測定値
の振幅を3dBと定義していることから、測定帯域は4
0nmしかなかった。
【0026】そのため、もし測定者が40nm以上の帯
域で被測定光を測定しようとした場合、被測定波長のバ
ンドに応じたAANP非線形光学結晶を複数個用意しな
くてはならない。さらに、光サンプリング波形測定装置
内にあるサンプリングパルスの波長もCバンド、及びL
バンド帯で切り替えることも必要とされていた。
【0027】.例えば、Cバンド帯を測定する場合には
サンプリングパルス波長を1555nmにし、Lバンド帯を
測定する帳合には1590nmにして、且つそれぞれの波長
に応じて切出したAANP非線形光学結晶によりサンプ
リングをしていく煩雑なことをせざるを得ない状況にあ
った。
【0028】そのため、結果的にCバンド、及びLバン
ド帯を測定しようとした場合、そのバンドに応じた最低
2台の光サンプリング波形測定装置を用意するなどし、
コストの面からも大きな課題となっていた。
【0029】.本発明はこのような事情に鑑みてなされ
たものであり、サンプリング光と被測定光とのSFG光
を発生させるAANPに特定の位相整合条件を課すこと
で、SFG発生効率の3dB帯域幅を従来の2倍以上に
して、80nm以上の測定帯域を持つ光サンプリング波
形測定装置を提供することを目的とする。.
【0030】
【課題を解決するための手段】本発明は、入力された単
一の偏波面を有する被測定光よりパルス幅の狭い単一の
偏波面を有するサンプリング光を発生するサンプリング
光源と、このサンプリング光源から出射されたサンプリ
ング光及び被測定光を同一光軸上に偏波面が互いに直交
するように合波する合波器と、この合波器で合波された
サンプリング光及び被測定光が入射され、このサンプリ
ング光及び被測定光に対する第2種位相整合が可能な、
サンプリング光及び被測定光の和周波光を出射する非線
形光学結晶と、この非線形光学結晶から出力された和周
波光を電気信号に変換する受光器と、この受光器から出
力された電気信号を処理して被測定光の光パルス波形を
表示する信号処理部とを備えた光サンプリング波形測定
装置に適用される。
【0031】そして、上記課題を解消するために、本発
明の光サンプリング波形測定装置においては、非線形光
学結晶として、有機非線形光学結晶の2―アダマンチル
アミノ―5―ニトロピリジン(AANP)を用いる。
【0032】さらに、非線形光学結晶の位相整合方向に
垂直な面内に有る結晶の基準軸と直角に被測定光の偏波
方向を設定し、かつ基準軸と平行にサンプリング光の偏
波方向を設定している。
【0033】また、別の発明は、上述した発明の光サン
プリング波形測定装置おけるサンプリング光源は、波長
の異なる複数種類のサンプリング光を出射可能とされて
おり、この複数種類のサンプリング光のうちのいずれか
一種類のサンプリング光を選択して出射する。
【0034】さらに、別の発明は、入力された単一の偏
波面を有する被測定光よりパルス幅の狭い単一の偏波面
を有するサンプリング光を発生するサンプリング光源
と、サンプリング光源から出射されたサンプリング光及
び被測定光を同一光軸上に偏波面が互いに直交するよう
に合波する合波器と、この合波器で合波されたサンプリ
ング光及び被測定光が入射され、このサンプリング光及
び被測定光に対する第2種位相整合が可能な、サンプリ
ング光及び被測定光の和周波光を出射する非線形光学結
晶と、この非線形光学結晶に入射されるサンプリング光
及び被測定光の前記非線形光学結晶への入射角度を変え
る入射角度変更手段と、非線形光学結晶から出力された
和周波光を電気信号(d)に変換する受光器と、この受
光器から出力された電気信号を処理して被測定光の光パ
ルス波形を表示する信号処理部とを備えた光サンプリン
グ波形測定装置に適用される。
【0035】そして、非線形光学結晶を有機非線形光学
結晶の2―アダマンチルアミノ―5―ニトロピリジン
(AANP)を用い、非線形光学結晶の位相整合方向に
垂直な面内に有る結晶の基準軸と直角に被測定光の偏波
方向を設定し、かつ基準軸と平行に前記サンプリング光
の偏波方向を設定している。
【0036】このように構成された光サンプリング波形
測定装置においては、非線形光学結晶として、有機非線
形光学結晶のAANPを採用しているので、この有機非
線形光学結晶のAANPから出射される和周波光のS/
N比が向上し、ひいては、被測定光の光波形の測定精度
が向上する。
【0037】さらに、有機非線形光学結晶のAANPが
被測定光及びサンプリング光に対する第2種位相整合の
SFG(和周波光発生)の条件として、互いに偏波面が
直交するように合波された被測定光及びサンプリング光
の光軸を有機非線形光学結晶のAANPの位相整合方向
に一致させると共に、被測定光及びサンプリング光の偏
波方向をAANPの位相整合方向に垂直な面内に有る結
晶の基準軸に平行又は直交させる。
【0038】この場合、被測定光及びサンプリング光の
AANPに対する入射角(入射方向)を固定した状態
で、サンプリング光の波長を固定して、被測定光の波長
を変化させれば、位相整合方向が変化して、位相整合が
できなくなる。このことから、光波形の測定精度が位相
整合方向の角度の変化量に応じて低下していくことが容
易に想像できる。したがって、被測定光の波長を変化さ
せても、位相整合方向の変化が少ない方が望ましい。
【0039】前述したように、被測定光及びサンプリン
グ光の偏波方向を位相整合方向に垂直な面内に有る結晶
の基準軸に平行又は直交させればよいが、いずれの光の
偏波方向を結晶の基準軸に直交させるかで、AANPに
おいて位相整合方向の変化量に差が生じることがわかっ
た。
【0040】図6にその一例を示す。図中A特性は、被
測定光の偏波方向を結晶の基準軸(この例ではa軸)に
直角に設定し、サンプリング光の偏波方向を結晶の基準
軸に平行に設定し、サンプリング光の波長を固定し、被
測定光の波長を変化させたときの位相整合角の変化を示
す。逆に、図中B特性は、被測定光の偏波方向を結晶の
基準軸に平行に設定し、サンプリング光の偏波方向を結
晶の基準軸に直角に設定し、サンプリング光の波長を固
定し、被測定光の波長を変化させたときの位相整合角の
変化を示す。
【0041】図中、A特性で示すように、被測定光の偏
波方向を結晶の基準軸に直角に設定し、サンプリング光
の偏波方向を結晶の基準軸に平行に設定した方が、被測
定光の波長変化に対する位相整合方向の変化量が少な
く、結果的に測定された光波形が被測定光の波長変動の
影響を受けにくいことが理解できる。
【0042】よって、本発明においては、被測定光の偏
波方向を結晶の基準軸に直角に設定し、サンプリング光
の偏波方向を結晶の基準軸に平行に設定している。
【0043】このような設定条件にすることで、被測定
光の波長が変化しても、必要とされる発生効率を広範囲
に維持できる。前記設定条件は、従来考えられていた最
適な設定とは逆の設定となるものであった。
【0044】ちなみに、非線形光学結晶においては位相
整合角からの角度偏差による第2高調波発生出力の変化
の計算方法や実験データが知られていた。例えば、AA
NPの場合、図12に示したようにa軸を中心にした位
相整合角からの角度偏差(回転角度)による図13に示
したSHG光の出力の変化とa軸に対して垂直な軸を中
心にした位相整合角からの角度偏差(あおり角度)によ
る図14に示したSHG光の出力の変化とを比較すると
前者(図13)の変化量に対して後者(図14)の変化
量が少ないことが分かる。
【0045】言い換えれば、SHG光はa軸を中心とす
る角度偏差には敏感であり、a軸に垂直な軸を中心とす
る角度偏差に対しては鈍感に発生光量が変化することが
分かる。このため、光学部品の位置関係を変更すること
なく、第2種位相整合可能な非線形光学結晶を用いた光
学系においては、一方の固定波長光は波長が変化しない
ため、光学部品の収差や分散による光軸の変化がないか
ら、a軸と垂直な軸方向に偏光方向を、他方の波長が変
化する光は光学部品の収差や分散により光軸が変化する
から、a軸に対して平行な方向に偏光方向を設定する設
計がなされてきた。図9を用いて説明すれば、波長が変
化する光として被測定光aを、波長が変化しない光とし
てサンプリング光bを入力するようにしていた。
【0046】図10は、前記設定条件を採用して実験し
た結果を示す図である。また、同図は、前述のように非
線形光学結晶は使用を予定された波長の光に対する位相
整合方向に合わせて切り出されるのであるが、敢えて使
用を予定された波長と異なる波長の光を固定波長光(サ
ンプリング光)として入射した場合の結果を共に示す。
なお、横軸は可変波長光(被測定光)の波長(nm)を
示し、縦軸は相対SFG変換効率を示す。具体的には、
波長が1552nmの光に対する位相整合方向に合わせ
て切り出されたAANP結晶に対して、第1、第2の光
a、bの光軸方向がこの位相整合方向と一致するように
配置した光学系において、固定波長光の波長を1547
nm(図中b特性)、1552nm(図中a特性)、1
557nm(図中c特性)とした場合の可変波長光の波
長に対する変換効率を示す。
【0047】図10から、前記AANP結晶の位相整合
方向が固定波長光の波長に対する位相整合方向と一致す
る(つまり、固定波長光の波長が使用を予定された波長
1552nmである)場合、和周波発生帯域幅は3dB
幅で80nm程度となる。
【0048】また、その場合は図中a特性で示されるよ
うに可変波長光の波長1552nmをピークに変換効率
の高い部分が現れるが、波長1547nmの固定波長光
を入射した場合では、図中b特性のように変換効率のピ
ークは長波長側にシフトしている。一方、波長1557
nmの固定波長光を入射した場合では、図中c特性のよ
うに変換効率のピークは短波長側にシフトしている。
【0049】これらのことから、同じAANP結晶を用
いた同じ光学系においても、固定波長光の波長を変える
ことで、必要とされる和周波発生の効率が得られる可変
波長光(被測定光)の波長範囲(帯域)をシフトさせる
ことができることが分かる。
【0050】図11は、波長が1552nmの光に対す
る位相整合方向に合わせて切り出されたAANP結晶に
対して、固定波長光の波長を1552nmとしたきに固
定波長光と可変波長光が合波された光の光軸の方向をこ
の位相整合方向からずらすことができる光学系におい
て、位相整合方向と光軸とのa軸回りの角度ずれを、−
1度(図中b特性)、0度(図中a特性)、+1度(図
中c特性)とした場合の可変波長光の波長に対する変換
効率を示す図である。設定条件は図10のときと同じで
あり、固定波長光の偏波面は基準軸(この場合は前述の
ようにa軸)に平行に設定している。
【0051】図11から、位相整合方向と光軸の方向が
一致する場合は図中a特性で示されるように可変波長光
の波長1552nmをピークに変換効率の高い部分が現
れるが、角度ずれが−1度の場合では、図中b特性のよ
うに変換効率のピークは長波長側にシフトしている。一
方、角度ずれが+1度の場合は、図中c特性のように変
換効率のピークは短波長側にシフトしている。
【0052】これらのことから、同じAANP結晶を用
いた同じ光学系において、光の入射角度を変えること
で、必要とされる和周波発生の効率が得られる可変波長
光(被測定光)の波長範囲(帯域)をシフトさせること
ができることが分かる。
【0053】なお、本発明においては、一例として、サ
ンプリング光の固定波長に対する位相整合方向と垂直な
面を持つAANP非線形光学結晶に対して、その面内に
あるa軸を基準軸とすると、被測定光の偏波方向を結晶
の基準軸(a軸)に直角に設定し、サンプリング光の偏
波方向を結晶の基準軸(a軸)に平行に設定することを
基本として説明した。
【0054】しかし、本質的には、被測定光の偏波方向
を切り出された結晶の位相整合方向に垂直な面内にある
基準軸に直角に設定し、サンプリング光の偏光方向を結
晶の基準軸に平行に設定すれば、図6のA特性が得られ
るために、広い帯域において位相整合が実現できる。つ
まり、光サンプリング波形測定装置の広帯域化が図れる
ことから、80nm以上の測定帯域を持つ装置が実現で
きる。
【0055】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
を用いて説明する。図1は実施形態に係る光サンプリン
グ波形測定装置の概略構成を示すブロック図である。図
9に示す従来の光サンプリング波形測定装置と同一部分
には同一符号を付して重複する部分の詳細説明を省略す
る。
【0056】この実施形態の光サンプリング波形測定装
置においては、図9に示す従来の光サンプリング波形測
定装置における第2種位相整合が可能なKTP、LN、
LT、KN等の無機の非線形光学材料1の代わりに有機
の非線形光学結晶であるAANP10が組込まれてい
る。
【0057】このAANP10は、図3に示す分子構造
を有し、図4に示す結晶構造を有する。この図4に示す
結晶構造において、a軸が基準軸を示す。b軸、c軸は
それぞれa軸に直交している。
【0058】このような有機の非線形光学結晶であるA
ANP10における位相整合方向の決定方法を図5
(a)(b)を用いて説明する。前述したように、結晶
のxyz(abc)の屈折率三次元座標内においてサン
プリング光bについての屈折率楕円体12と和周波光c
についての屈折率楕円体13との交点14と座標原点を
結ぶ方向を位相整合方向15とし、入射光(被測定光
a、サンプリング光b)の光軸をこの位相整合方向15
に一致させればよい。具体的には、図5(b)に示すよ
うに、有機の非線形光学結晶であるAANPの大きな材
料(ブロック)を位相整合方向15に直交する面11を
有する直方体状又は円柱状に切出したものをAANP1
0として用いる。
【0059】このようにして、大きな材料(ブロック)
から切出された位相整合方向15に直交する面11を有
する直方体状又は円柱状のAANP10は、図2に示す
ように、ARコーテイングガラス17を介してエポキシ
樹脂の支持枠18で支持されている。
【0060】そして、位相整合方向15に直交する面1
1に投影された結晶の基準軸であるa軸が支持枠18の
一辺18aに平行するように、直方体状又は円柱状のA
ANP10の姿勢角が設定されている。
【0061】そして、合波器3で偏波面が互いに直交す
る合波された被測定光aとサンプリング光bとの1つの
光軸16は、位相整合方向15に直交するAANP10
の面11に垂直に設定されている。この場合、被測定光
aの偏波面は図2に示すように、AANP10の結晶の
基準軸であるa軸と直角に設定されている。その結果、
サンプリング光bの偏波面は、AANP10の結晶の基
準軸であるa軸と平行に設定される。
【0062】なお、実施形態装置においては、位相整合
角φが90°の場合を例にとって説明している。この場
合、a軸が基準軸となるが、入射する光の波長によって
は、位相整合角θが90°となる場合等もあって、θ=
90°の場合はc軸が基準軸となる。
【0063】このように構成された光サンプリング波形
測定装置において、外部から入力された光の角周波数ω
D でパルス波形の繰返し周波数fを有する被測定光a
は、偏光方向制御器2にてその偏波面が基準方向(0°
方向)に制御されたのち合波器3へ入射される。一方、
サンプリング光源4は、角周波数ωS でパルス波形の繰
返し周波数(f−Δf)を有するサンプリング光bを出
力する。サンプリング光源4から出力されたサンプリン
グ光bは偏光方向制御器5にてその偏波面が例えば基準
方向(0°方向)に対して90°方向に制御されたのち
合波器3へ入射される。
【0064】ハーフミラー3aが組込まれた合波器3
は、被測定光aを直進させるとともにサンプリング光b
を直角方向に反射させる。したがって、この合波器3か
ら出射された被測定光aとサンプリング光bとは互いの
偏波面が互いに直交し、かつ1つの光軸16に合波され
る。この合波器3から出射された被測定光aとサンプリ
ング光bの合波された光は、光軸16上に配設された第
2種位相整合が可能な有機の非線形光学結晶であるAA
NP10の面(入射面)11に垂直に入射する。
【0065】この被測定光aとサンプリング光bのAA
NP10に対する入射条件は図2をを用いて説明した通
りである。
【0066】したがって、この第2種位相整合が可能な
有機の非線形光学結晶であるAANP10の他方の面か
ら角周波数(ωS +ωD )を有する和周波光cが出力さ
れる。AANP10から出力された和周波光cは光フィ
ルタ6を介して受光器7へ入射される。受光器7は和周
波光cを電気信号dへ変換して次の電気信号処理系8へ
送出する。電気信号処理系8は入力した図7に示す和周
波光cと同一波形を有する電気信号dから、前述した手
法で時間方向に拡大した被測定光aの光パルス波形eを
作成して、表示器9へ表示出力する。
【0067】繰り返すが、この有機の非線形光学結晶で
あるAANP10の非線形変換効率定数ηは無機の非線
形光学材料の非線形変換効率定数ηに比較して格段に高
い。したがって、有機の非線形光学結晶のAANP10
から出射された和周波光cのS/N比が向上し、最終の
光パルス波形eの測定精度が向上する。
【0068】さらに、AANP10が被測定光a及びサ
ンプリング光bに対する第2種位相整合を維持する条件
として、互いに偏波面が直交するように合波された被測
定光a及びサンプリング光bの光軸16がAANP10
の位相整合方向15に一致すると共に、図2に示すよう
に、測定対象によって波長が変わる被測定光aの偏波方
向をAANP10の結晶の基準軸(実施形態ではa軸)
に直角に設定し、固定波長であるサンプリング光bの偏
波方向を結晶の基準軸に平行に設定していることで、測
定波長帯域の広帯域化を図っている。
【0069】つまり、図6に示すように、A特性で示す
被測定光aの偏波方向を結晶の基準軸に直角に設定し、
サンプリング光bの偏波方向を結晶の基準軸に平行に設
定した方が、B特性で示す被測定光aの偏波方向を結晶
の基本軸に平行に設定した場合に比較して、被測定光a
の波長変化に対する位相整合方向15の変化量が少ない
ことを利用して、光サンプリングオシロスコープの波長
依存性を80nmに亘り抑えている。
【0070】図15は本発明の第2の実施の形態の光サ
ンプリング波形測定装置の概略構成を示すブロック図で
ある。図1に示す光サンプリング波形測定装置と同一部
分には同一符号を付して重複する部分の詳細説明を省略
する。
【0071】図15の光サンプリング波形測定装置が図
1に示す光サンプリング波形測定装置と異なる点は、サ
ンプリング光源4(20)を複数の波長の光が出射可能
な多波長光源21と前記複数の波長の光の内から一つを
選択して出射する光路切替器22とで構成して、サンプ
リング光bの波長を切り替えられるようにしていること
である。
【0072】サンプリング光源4として、波長を変えら
れる可変波長サンプリング光源を用い、可変波長範囲の
内の一点に固定することでサンプリング光bを出射する
こととし、複数の点から一点を選択するような構成とし
て、サンプリング光bの波長を切り替えてもよい。
【0073】サンプリング光bの波長を、例えば、15
47nm、1552nm、1557nmの3種類に切り
替えられれば、図10に示したように、1種類の波長の
ものよりさらに広帯域の被測定光aに応じられる光サン
プリング波形測定装置となる。
【0074】図16は本発明の第3の実施の形態の光サ
ンプリング波形測定装置の概略構成を示すブロック図で
ある。図1に示す光サンプリング波形測定装置と同一部
分には同一符号を付して重複する部分の詳細説明を省略
する。
【0075】図16の光サンプリング波形測定装置が図
1に示す光サンプリング波形測定装置と異なる点は、A
ANP10に入射されるサンプリング光b及び被測定光
aの前記AANP10への入射角度を変える入射角度変
更手段30を備えていることである。
【0076】入射角度変更手段30は、例えばμメータ
付微動回転ステージで構成する。図17に示すように、
非線形光学結晶であるAANP10を前記μメータ付微
動回転ステージ30にセットし、該μメータ付微動回転
ステージ30を回転させてAANP10への入射光の入
射角度を変化させる。
【0077】例えば、サンプリング光bの波長が155
2nmとして、AANP10への入射光の入射角度を、
AANP10の面11が光軸に垂直な状態、左右にそれ
ぞれ1°a軸中心に回転した状態の3種類に切り替えら
れれば、図11に示したように、面11に垂直に入射す
るだけのものよりさらに広帯域の被測定光aに応じられ
る光サンプリング波形測定装置となる。
【0078】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光サンプ
リング波形測定装置においては、被測定光及びサンプリ
ング光の光軸をAANPの位相整合方向に一致させると
共に、被測定光の偏波方向をAANPの結晶の基準軸に
直角に設定し、サンプリング光の偏波方向を結晶の基準
軸に平行に設定している。
【0079】したがって、たとえ、異なる波長を有する
被測定光が入力されても、非線形光学結晶の位相整合方
向の変化量が最小限に抑制できるため、測定された光波
形の被測定光の波長変化に起因する変化を3dB帯域幅
で80nmに亘って極力抑制でき、ひいては光サンプリ
ングオシロスコープの測定波長域を拡大できた。
【0080】また、サンプリング光源として、波長の異
なるサンプリング光を出射可能なサンプリング光源を備
えることとした光サンプリング波形測定装置は、1種類
の波長だけを出射するものより、さらに広帯域の被測定
光に応じられる。
【0081】さらに、入射角度変更手段を備えることと
した光サンプリング波形測定装置は、入射角度を変更す
ることで、入射角度固定のものより、さらに広帯域の被
測定光に応じられる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係わる光サンプリング波
形測定装置の概略構成を示すブロック図
【図2】同光サンプリング波形測定装置の要部構成を示
す模式図
【図3】同光サンプリング波形測定装置に組込まれたA
ANPの分子構造を示す図
【図4】同AANPの結晶構造を示す図
【図5】同AANPにおける位相整合方向を求める手順
を示す図
【図6】同光サンプリング波形測定装置における被測定
光の波長と位相整合方向との関係を示す図
【図7】和周波光を用いた光信号の光パルス波形測定の
測定原理を説明するための図
【図8】第2種位相整合を維持した非線形光学材料の光
学特性を説明するための図
【図9】従来の光サンプリング波形測定装置の概略構成
を示すブロック図
【図10】AANPによるSFG発生効率の波長依存特
性を示す図
【図11】同AANPによる結晶角度の傾きの違いによ
る変換効率の差を示す図
【図12】非線形光学結晶への入射角度について説明す
るための図
【図13】変換効率の回転角度依存性を示す図
【図14】変換効率のあおり角度依存性を示す図
【図15】本発明の第2の実施の形態に係わる光サンプ
リング波形測定装置の概略構成を示すブロック図
【図16】本発明の第3の実施の形態に係わる光サンプ
リング波形測定装置の概略構成を示すブロック図
【図17】本発明の第3の実施の形態に係わる光サンプ
リング波形測定装置に組込まれた入射角度変更手段の概
略構成図
【符号の説明】
2、5…偏光方向制御器 3…合波器 4…サンプリング光源 6…光フィルタ 7…受光器 8…電気信号処理部 9…表示器 10…AANP 15…位相整合方向 16…光軸
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 尾坪 利信 東京都港区南麻布五丁目10番27号 アンリ ツ株式会社内 (72)発明者 高良 秀彦 東京都千代田区大手町二丁目3番1号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 社家 一平 東京都千代田区大手町二丁目3番1号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 川西 悟基 東京都千代田区大手町二丁目3番1号 日 本電信電話株式会社内 Fターム(参考) 2G065 AA12 AB02 AB10 AB16 BA01 BA14 BB14 BB26 BB27 BB31 BC08 BC30 BD03 DA13 2K002 AA04 AB12 BA03 CA10 DA01 EA30 HA19 5K002 BA02 BA05 CA02 CA03 EA06

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力された単一の偏波面を有する被測定
    光(a)よりパルス幅の狭い単一の偏波面を有するサン
    プリング光(b)を発生するサンプリング光源(4)
    と、 このサンプリング光源から出射されたサンプリング光及
    び前記被測定光を同一光軸上に偏波面が互いに直交する
    ように合波する合波器(3)と、 この合波器で合波されたサンプリング光及び被測定光が
    入射され、このサンプリング光及び被測定光に対する第
    2種位相整合が可能な、前記サンプリング光及び被測定
    光の和周波光(c)を出射する非線形光学結晶(10)
    と、 この非線形光学結晶から出力された和周波光を電気信号
    (d)に変換する受光器(7)と、 この受光器から出力された電気信号を処理して前記被測
    定光の光パルス波形(e)を表示する信号処理部(8)
    とを備えた光サンプリング波形測定装置において、前記
    非線形光学結晶は、有機非線形光学結晶の2―アダマン
    チルアミノ―5―ニトロピリジン(AANP)であり、 前記非線形光学結晶の位相整合方向(15)に垂直な面
    内に有る結晶の基準軸と直角に前記被測定光の偏波方向
    を設定し、かつ前記基準軸と平行に前記サンプリング光
    の偏波方向を設定したことを特徴とする光サンプリング
    波形測定装置。
  2. 【請求項2】 前記サンプリング光源は、波長の異なる
    複数種類のサンプリング光を出射可能とされており、こ
    の複数種類のサンプリング光のうちのいずれか一種類の
    サンプリング光を選択して出射することを特徴とする請
    求項1記載の光サンプリング波形測定装置。
  3. 【請求項3】 入力された単一の偏波面を有する被測定
    光(a)よりパルス幅の狭い単一の偏波面を有するサン
    プリング光(b)を発生するサンプリング光源(4)
    と、 このサンプリング光源から出射されたサンプリング光及
    び前記被測定光を同一光軸上に偏波面が互いに直交する
    ように合波する合波器(3)と、この合波器で合波され
    たサンプリング光及び被測定光が入射され、このサンプ リング光及び被測定光に対する第2種位相整合が可能
    な、前記サンプリング光及び被測定光の和周波光(c)
    を出射する非線形光学結晶(10)と、 この非線形光学結晶に入射されるサンプリング光及び被
    測定光の前記非線形光学結晶への入射角度を変える入射
    角度変更手段(30)と、 前記非線形光学結晶から出力された和周波光を電気信号
    (d)に変換する受光器(7)と、 この受光器から出力された電気信号を処理して前記被測
    定光の光パルス波形(e)を表示する信号処理部(8)
    とを備えた光サンプリング波形測定装置であって、 前記非線形光学結晶は、有機非線形光学結晶の2―アダ
    マンチルアミノ―5―ニトロピリジン(AANP)であ
    り、 前記非線形光学結晶の位相整合方向(15)に垂直な面
    内に有る結晶の基準軸と直角に前記被測定光の偏波方向
    を設定し、かつ前記基準軸と平行に前記サンプリング光
    の偏波方向を設定したことを特徴とする光サンプリング
    波形測定装置。
JP2001074684A 2001-03-15 2001-03-15 光サンプリング波形測定装置 Expired - Fee Related JP3517220B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001074684A JP3517220B2 (ja) 2001-03-15 2001-03-15 光サンプリング波形測定装置
US10/095,982 US6720548B2 (en) 2001-03-15 2002-03-12 Optical sampling waveform measuring apparatus aiming at achieving wider band
CA002376727A CA2376727C (en) 2001-03-15 2002-03-13 Optical sampling waveform measuring apparatus aiming at achieving wider band
DE60204497T DE60204497T2 (de) 2001-03-15 2002-03-14 Optisch abtastendes Wellenform-Messgerät mit hoher Bandbreite
EP02005918A EP1241458B1 (en) 2001-03-15 2002-03-14 Optical sampling waveform measuring apparatus with high bandwidth

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001074684A JP3517220B2 (ja) 2001-03-15 2001-03-15 光サンプリング波形測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002277329A true JP2002277329A (ja) 2002-09-25
JP3517220B2 JP3517220B2 (ja) 2004-04-12

Family

ID=18931903

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001074684A Expired - Fee Related JP3517220B2 (ja) 2001-03-15 2001-03-15 光サンプリング波形測定装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6720548B2 (ja)
EP (1) EP1241458B1 (ja)
JP (1) JP3517220B2 (ja)
CA (1) CA2376727C (ja)
DE (1) DE60204497T2 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3517220B2 (ja) 2001-03-15 2004-04-12 アンリツ株式会社 光サンプリング波形測定装置
GB2394848B (en) * 2002-11-02 2006-04-12 Bookham Technology Plc Optical communications apparatus
JP4328724B2 (ja) * 2005-01-17 2009-09-09 富士通株式会社 光波形測定装置および光波形測定方法
FR2893411B1 (fr) * 2005-11-15 2007-12-21 Commissariat Energie Atomique Dispositif de mesure de profil d'impulsions monocoup de tres courte duree
TWI267632B (en) * 2005-11-17 2006-12-01 Ind Tech Res Inst Apparatus and method of non-sampling-based Q-factor measuring
US7327302B2 (en) * 2006-02-10 2008-02-05 Picosolve Inc. Equivalent time asynchronous sampling arrangement
JP2007240389A (ja) * 2006-03-09 2007-09-20 Fujitsu Ltd 光波形測定装置および光波形測定方法
JP5162889B2 (ja) * 2006-11-30 2013-03-13 富士通株式会社 光スイッチ、光波形測定装置および制御方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4510402A (en) 1982-06-10 1985-04-09 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Optical harmonic generator
DE68919717T2 (de) * 1988-01-27 1995-05-18 Nippon Telegraph & Telephone Organisches Material mit nichtlinearen optischen Eigenschaften und Vorrichtung mit nichtlinearen optischen Eigenschaften.
JPH0663869B2 (ja) 1989-05-29 1994-08-22 日本電信電話株式会社 光サンプリング波形測定装置
JP3023935B2 (ja) * 1991-08-05 2000-03-21 日本電信電話株式会社 波長変換装置
JP3196881B2 (ja) 1995-12-08 2001-08-06 日本電信電話株式会社 光サンプリング光波形測定法
JP3796357B2 (ja) * 1997-12-01 2006-07-12 日本電信電話株式会社 光信号品質モニタ
JP3517220B2 (ja) 2001-03-15 2004-04-12 アンリツ株式会社 光サンプリング波形測定装置
JP3751547B2 (ja) * 2001-08-28 2006-03-01 横河電機株式会社 光サンプリング波形観測装置

Also Published As

Publication number Publication date
CA2376727C (en) 2007-12-04
EP1241458B1 (en) 2005-06-08
EP1241458A1 (en) 2002-09-18
DE60204497T2 (de) 2006-05-18
CA2376727A1 (en) 2002-09-15
US6720548B2 (en) 2004-04-13
JP3517220B2 (ja) 2004-04-12
US20020139924A1 (en) 2002-10-03
DE60204497D1 (de) 2005-07-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3422913B2 (ja) 光サンプリング波形測定装置
JPH01291141A (ja) 光ファイバ分散特性測定方式
US8682177B2 (en) Super high speed optical frequency sweeping technology
US6144450A (en) Apparatus and method for improving the accuracy of polarization mode dispersion measurements
JP2002277329A (ja) 光サンプリング波形測定装置
JP3388227B2 (ja) 光分散測定装置およびそれを用いた測定方法
JP2006350332A (ja) ヘテロダイン干渉法のためのファイバ内における2つのほぼ直交する偏光の能動制御及び検出
EP0843198B1 (en) Wavelength conversion device employing Bessel beams with parallel polarization
CN109557557B (zh) 一种软件自定义多功能激光雷达
JPH09218130A (ja) 周波数掃引誤差検出方法および回路、光周波数掃引光源、ならびに光周波数領域反射測定回路
US20070111111A1 (en) Light measurement apparatus and light measurement method
JP2002174552A (ja) 光周波数測定システム
JP4092986B2 (ja) 光スイッチ
JP3539931B2 (ja) 和周波光発生方法及び和周波光発生装置
CN115113410B (zh) 多波长棱镜型空间光桥接器
CN116222632B (zh) 一种基于双折射晶体的光纤扫频干涉器件
JP4252506B2 (ja) 光ファイバ歪み測定装置
JPH11288011A (ja) 波長可変擬似位相整合素子
JP3301324B2 (ja) 光電圧・電界センサ
JP2003227759A (ja) 光サンプリング波形測定装置及び偏波分離器
Kiuchi et al. Photonic millimeter-wave generation developments for the ALMA radio telescope
JPH05273049A (ja) 位相変動量測定装置
JPH0429029A (ja) 光位相変調特性の測定装置
JPH063721A (ja) コヒーレント光通信用光受信装置
JPS59214773A (ja) 光干渉角速度計

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040106

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040122

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313532

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090130

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090130

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100130

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110130

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110130

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120130

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120130

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130130

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130130

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140130

Year of fee payment: 10

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees