JPS59214773A - 光干渉角速度計 - Google Patents
光干渉角速度計Info
- Publication number
- JPS59214773A JPS59214773A JP58089516A JP8951683A JPS59214773A JP S59214773 A JPS59214773 A JP S59214773A JP 58089516 A JP58089516 A JP 58089516A JP 8951683 A JP8951683 A JP 8951683A JP S59214773 A JPS59214773 A JP S59214773A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- phase difference
- angular velocity
- magnetic field
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C19/00—Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
- G01C19/58—Turn-sensitive devices without moving masses
- G01C19/64—Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams
- G01C19/72—Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams with counter-rotating light beams in a passive ring, e.g. fibre laser gyrometers
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Electromagnetism (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Gyroscopes (AREA)
- Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は例えばループ状に構成された光ファイバの光
学路の両端により右回り光及び左回り光を入射して互に
逆方向に通った光を、その一方に対してほぼ百の位相を
与えた後干渉させ、その干渉光の強度を測定することに
よって光学路の周方向に与えられた角速度を測定する光
干渉角速度計に関する。
学路の両端により右回り光及び左回り光を入射して互に
逆方向に通った光を、その一方に対してほぼ百の位相を
与えた後干渉させ、その干渉光の強度を測定することに
よって光学路の周方向に与えられた角速度を測定する光
干渉角速度計に関する。
〈従来技術〉
・ まず第１図を参照して従来の光干渉角速度計を説明
しよう。レーザー発振器のような光源１１からの光ビー
ムは、ビームスプリッタのような光分配結合手段１２に
より実線で示すように反射光１３及び透過光１４に分配
され、少くとも１回りされている光学路１５の両端にそ
れぞれ入射される。
しよう。レーザー発振器のような光源１１からの光ビー
ムは、ビームスプリッタのような光分配結合手段１２に
より実線で示すように反射光１３及び透過光１４に分配
され、少くとも１回りされている光学路１５の両端にそ
れぞれ入射される。
光学路１５は例えば光ファイバをループ状に巻回された
ものであり、先に述べたようにその両端から光が入射さ
れ、反射光１３は右回りとされて光学路１５内を１云搬
し、透過光１４は光学路１５内を図において左回り光と
して伝搬してそれぞれ光学路１５から点線で示す放射光
１６．１７として放射される。これら放射された光１６
．１７は分配結合手段１２により光１６は反射し、光１
７は透過することによって互に結合されて干渉され、干
渉光１８が得られる。この干渉光１８は光電気変換器１
９により電気信号に変換される。
ものであり、先に述べたようにその両端から光が入射さ
れ、反射光１３は右回りとされて光学路１５内を１云搬
し、透過光１４は光学路１５内を図において左回り光と
して伝搬してそれぞれ光学路１５から点線で示す放射光
１６．１７として放射される。これら放射された光１６
．１７は分配結合手段１２により光１６は反射し、光１
７は透過することによって互に結合されて干渉され、干
渉光１８が得られる。この干渉光１８は光電気変換器１
９により電気信号に変換される。
光学路１５の周方向に沿う角速度、つまり光学路の軸芯
と同一軸芯の周りの角速度Ωが印加されると、いわゆる
サグナック効果が生じて光学路１５を透過した光１６．
１７の間に位相差が生じる。
と同一軸芯の周りの角速度Ωが印加されると、いわゆる
サグナック効果が生じて光学路１５を透過した光１６．
１７の間に位相差が生じる。
従って干渉光１８０強度は
■ｏαｌ−咽△ψ
で与えられる。この干渉光１８の強度Ｉ。を検出するこ
とによって光学路１５に印加された角速度Ωを検出する
ことができる。しかし第１図に示した干渉光１８０強度
は余弦関数で変化するため、その検出感度が低いものと
なる。
とによって光学路１５に印加された角速度Ωを検出する
ことができる。しかし第１図に示した干渉光１８０強度
は余弦関数で変化するため、その検出感度が低いものと
なる。
このだめ第２図に示すように光学路１５の一端と直列に
移相器２１を挿入して角速度Ωが印加されてない状態に
おいて光分配結合手段１２により互に結合されるべき光
１６．１７間の位相差が二となるようにして干渉光１８
の強度が角速度Ωに対応した正弦関数で変化するように
工夫されている。このように両光１６．１７間にフの位
相バイアスを与えることによって感度を最適化すること
ができる。しかし移相器２１として右回シ光１３と左回
シ光１４との間に常に五の位相差を作詩ずることは困難
であシ、例えば周囲温度変化などによってその位相差が
変化する欠点があった。
移相器２１を挿入して角速度Ωが印加されてない状態に
おいて光分配結合手段１２により互に結合されるべき光
１６．１７間の位相差が二となるようにして干渉光１８
の強度が角速度Ωに対応した正弦関数で変化するように
工夫されている。このように両光１６．１７間にフの位
相バイアスを与えることによって感度を最適化すること
ができる。しかし移相器２１として右回シ光１３と左回
シ光１４との間に常に五の位相差を作詩ずることは困難
であシ、例えば周囲温度変化などによってその位相差が
変化する欠点があった。
〈発明の目的〉
この発明の目的は周囲温度の変動などに影響され難く、
しかも高感度で角速度を検出することが可能な光干渉角
速度計を提供することにある。
しかも高感度で角速度を検出することが可能な光干渉角
速度計を提供することにある。
〈発明の概要〉
この発明によれば光学路と縦続的に方向性移相器を挿入
するが、その方向性移相器としては第１磁気光学素子と
複屈折性結晶板と第２磁気光学素子との３素子を順次縦
続的に配列したものが用いられ、これらの第１、第２磁
気光学素子に対し交換磁界を印Ｉ１１」する。このよう
に、してこの移相器をＪｏｌ、に逆方向に透過した光は
、交換磁界の反転によって五の位相差と一五の位相差と
が交互に生じる。
するが、その方向性移相器としては第１磁気光学素子と
複屈折性結晶板と第２磁気光学素子との３素子を順次縦
続的に配列したものが用いられ、これらの第１、第２磁
気光学素子に対し交換磁界を印Ｉ１１」する。このよう
に、してこの移相器をＪｏｌ、に逆方向に透過した光は
、交換磁界の反転によって五の位相差と一五の位相差と
が交互に生じる。
２
この位相差の反転によって、周囲温度で複屈折性結晶板
の複屈折率が変化しても、これは交互に右回り光、左回
り光の両者に影響し、これは光検波をした後に光強度と
して互に打消されて周囲温度などの影響を受は難いもの
が得られる。
の複屈折率が変化しても、これは交互に右回り光、左回
り光の両者に影響し、これは光検波をした後に光強度と
して互に打消されて周囲温度などの影響を受は難いもの
が得られる。
〈実施例〉
次に第３図を参照してこの光干渉角速度計の実施例を説
明しよう。第３図において第１図と対応する部分には同
一符号を付けて示す。この発明においては移相器２１と
して第１磁気光学素子２１、複屈折性結晶板２３、第２
磁気光学素子２４が縦続的に配列されたものが用いられ
る。第１磁気光学素子２１、第２磁気光学素子２４は、
低周波発振４２５の出力、例えば方形波信号に・よって
その印加磁界が反転制御される。
明しよう。第３図において第１図と対応する部分には同
一符号を付けて示す。この発明においては移相器２１と
して第１磁気光学素子２１、複屈折性結晶板２３、第２
磁気光学素子２４が縦続的に配列されたものが用いられ
る。第１磁気光学素子２１、第２磁気光学素子２４は、
低周波発振４２５の出力、例えば方形波信号に・よって
その印加磁界が反転制御される。
移相器２１の動作は第４図に示すように行われる。第４
図中に座標軸をＸ、Ｙ、Ｚで示し、例えば図において左
からＹ軸方向お偏波面をもった光２５が第１磁気光学素
子２２に入射される。この時第１磁気光学素子２２及び
第２磁気光学素子２３には実線で示すような磁界Ｈがそ
れぞれ印加されているとする。このＹ軸方向に平行な直
線偏光の光２５は第１磁気光学素子２２においてその磁
気光学効果を受けて７だけ偏光方向が回転し、第１磁気
光学素子２２の面に実線矢印で示すように偏光方向がＹ
軸に対し４５度だけＺ＠ＩＩＩに回転して複屈折性結晶
板２３の結晶軸Ｙ１に一致し、この状態で複屈折性結晶
板２３に入射する。
図中に座標軸をＸ、Ｙ、Ｚで示し、例えば図において左
からＹ軸方向お偏波面をもった光２５が第１磁気光学素
子２２に入射される。この時第１磁気光学素子２２及び
第２磁気光学素子２３には実線で示すような磁界Ｈがそ
れぞれ印加されているとする。このＹ軸方向に平行な直
線偏光の光２５は第１磁気光学素子２２においてその磁
気光学効果を受けて７だけ偏光方向が回転し、第１磁気
光学素子２２の面に実線矢印で示すように偏光方向がＹ
軸に対し４５度だけＺ＠ＩＩＩに回転して複屈折性結晶
板２３の結晶軸Ｙ１に一致し、この状態で複屈折性結晶
板２３に入射する。
一方策２磁気光学素子２４側に図において右側からＹ軸
方向に直線偏光をもった光２６が入射されると、これは
この磁気光学効果に基づいて磁気光学素子２４の面に実
線で示す方向に７だけ冊光面が回転されて出射して複屈
折性結晶板２３に対してその結晶軸Ｘ１方向の直線偏光
として入射される。
方向に直線偏光をもった光２６が入射されると、これは
この磁気光学効果に基づいて磁気光学素子２４の面に実
線で示す方向に７だけ冊光面が回転されて出射して複屈
折性結晶板２３に対してその結晶軸Ｘ１方向の直線偏光
として入射される。
このようにして複屈折性結晶板２３の左右から入射（−
だ光はそれぞれ複屈折性結晶板２３を透過する際に ψ１−（ｎｘ−ｎ、）・ｋ−１ なる位相差が生じる。ここでｎ ｘ 、 ｎ ｙは複屈
折性結晶板２３のＸ１軸、Ｙ１軸での屈折率を示し、ノ
は複屈折性結晶板２３の厚さ、ｋは（云搬定数である１
、このように複屈折性結晶板２３を左右の反対力向から
透過した光の間に位相差ψ１が生じる。これら複屈折性
結晶板２３を透過した各党はそれぞれ第１磁気光学素子
２２、第２磁気光学素子２４によってその磁気光学効果
を受けてその偏光面がそれぞれＹ軸方向に戻されてそれ
ぞれ直線偏光２５゜２６となって出射する。
だ光はそれぞれ複屈折性結晶板２３を透過する際に ψ１−（ｎｘ−ｎ、）・ｋ−１ なる位相差が生じる。ここでｎ ｘ 、 ｎ ｙは複屈
折性結晶板２３のＸ１軸、Ｙ１軸での屈折率を示し、ノ
は複屈折性結晶板２３の厚さ、ｋは（云搬定数である１
、このように複屈折性結晶板２３を左右の反対力向から
透過した光の間に位相差ψ１が生じる。これら複屈折性
結晶板２３を透過した各党はそれぞれ第１磁気光学素子
２２、第２磁気光学素子２４によってその磁気光学効果
を受けてその偏光面がそれぞれＹ軸方向に戻されてそれ
ぞれ直線偏光２５゜２６となって出射する。
１高気光学素子２２、−２４に印加する磁界Ｈの方向を
点線で示すように実線に対して反転すると、この場合に
おける複屈折性結晶板２３を両方向から透過した二つの
光の間の位相差は ψ２＝（ｎ ｘ ｎ ｙ ）・ｋ−ノと在る。ここで
１ψ１１＝１ψ２１−百 と選定することによって移相
器２］の印加磁界Ｈが交互に反転されているため、その
移相器２１を透過する両光間の位相差は百と一因とに交
互に変化することになる。
点線で示すように実線に対して反転すると、この場合に
おける複屈折性結晶板２３を両方向から透過した二つの
光の間の位相差は ψ２＝（ｎ ｘ ｎ ｙ ）・ｋ−ノと在る。ここで
１ψ１１＝１ψ２１−百 と選定することによって移相
器２］の印加磁界Ｈが交互に反転されているため、その
移相器２１を透過する両光間の位相差は百と一因とに交
互に変化することになる。
このようにして移相器２１がその位相差フと一因とが交
互に繰り返された場合、第３図における光分配結合手段
１２に到達した光１６．１７間の位相差は第５図に示す
ような変化をする。即ちこの曲線２７は両光１６．１７
の位相差に対する干渉光の強度■。の関係を示し、１−
ａｏｓ△ψの式で表わされ、光１６．１７の位相差は△
ψ、つまり角速度Ω分だけバイアスされ、そこを中心と
して移相器２１によって位相差か−、−百たけ磁界反転
により変化し、曲線２８で示すようになる。従って光強
度の出力■。は曲線２９で示ずように変化する。
互に繰り返された場合、第３図における光分配結合手段
１２に到達した光１６．１７間の位相差は第５図に示す
ような変化をする。即ちこの曲線２７は両光１６．１７
の位相差に対する干渉光の強度■。の関係を示し、１−
ａｏｓ△ψの式で表わされ、光１６．１７の位相差は△
ψ、つまり角速度Ω分だけバイアスされ、そこを中心と
して移相器２１によって位相差か−、−百たけ磁界反転
により変化し、曲線２８で示すようになる。従って光強
度の出力■。は曲線２９で示ずように変化する。
この出力光１８は光電気信号変換器１９において電気信
号に変換され（第３図）、更に信号処理器３１内の帯域
通過Ｆ波器３２によって交番磁界の周波数ｆ。の中心周
波数の成分（曲線２９＋）が取出され、検波器：３：（
によって周波数ｆ。について同期検波が行われ、この検
波出力は低域ｐ波器３４をｉｌじて出力端子３５に出力
される。この出力端子３５に得られた信号は第５図にお
ける曲線２９（２９’ ）の振幅と対応し、この振幅は
△ψと比例し、しかもその位相差△ψ＝百で振幅変化が
最も大きく変化し、つまり正弦関数で変化し、感度の最
も高い出力が得られる。
号に変換され（第３図）、更に信号処理器３１内の帯域
通過Ｆ波器３２によって交番磁界の周波数ｆ。の中心周
波数の成分（曲線２９＋）が取出され、検波器：３：（
によって周波数ｆ。について同期検波が行われ、この検
波出力は低域ｐ波器３４をｉｌじて出力端子３５に出力
される。この出力端子３５に得られた信号は第５図にお
ける曲線２９（２９’ ）の振幅と対応し、この振幅は
△ψと比例し、しかもその位相差△ψ＝百で振幅変化が
最も大きく変化し、つまり正弦関数で変化し、感度の最
も高い出力が得られる。
〈効 果〉
この発明においては移相器２１の移相が交互に反転され
ており、複屈折性結晶板２３の屈折率ｎ８゜ｎ、は温度
変化の影響を受は易いが、この変化による位相差の変化
はしない。即ち第６図に示すようにサグナック効果によ
る角速度が印加されてない△ψ＝０の状態で、従って右
回り光と左回り光との間に与えられる固定位相差が正し
くフと一因とに交互に与えられている状態、曲線２８ａ
の状態でも、この時の出力の基本波成分（ｆＯ）として
は現われずＯとなり、また移相器２１の移相量が百より
小さくなった状態２８ｂでも出力の基本波成分は現われ
ない。このようにして温度変動の影響を受けないものが
得られる。まだこの交番磁界を印加し、その交番周波数
によって出力を同期検波することによって背景光やその
他電子回路部分におけるバイアス変動などによる雑音を
除去してＳＮ比の良いものが得られる。光学路１５を除
く光学部品及び電子回路部分が光学路１５の長さに影響
されないため光学路を除く構成部品のＩＣ化共通使用が
計れ安価に作ることができる。尚交番磁界としては方形
波のみならず正弦波、三角波などにしてもよい。
ており、複屈折性結晶板２３の屈折率ｎ８゜ｎ、は温度
変化の影響を受は易いが、この変化による位相差の変化
はしない。即ち第６図に示すようにサグナック効果によ
る角速度が印加されてない△ψ＝０の状態で、従って右
回り光と左回り光との間に与えられる固定位相差が正し
くフと一因とに交互に与えられている状態、曲線２８ａ
の状態でも、この時の出力の基本波成分（ｆＯ）として
は現われずＯとなり、また移相器２１の移相量が百より
小さくなった状態２８ｂでも出力の基本波成分は現われ
ない。このようにして温度変動の影響を受けないものが
得られる。まだこの交番磁界を印加し、その交番周波数
によって出力を同期検波することによって背景光やその
他電子回路部分におけるバイアス変動などによる雑音を
除去してＳＮ比の良いものが得られる。光学路１５を除
く光学部品及び電子回路部分が光学路１５の長さに影響
されないため光学路を除く構成部品のＩＣ化共通使用が
計れ安価に作ることができる。尚交番磁界としては方形
波のみならず正弦波、三角波などにしてもよい。
第１図及び第２図はそれぞれ従来の光干渉角速度計を示
すブロック図、第３図はこの発明による光干渉角速度計
の一例を示すブロック図、第４図はその移相器の例を示
す斜視図、第５図は出力干渉光強度とバイアス位相の反
転と出力の基本波成分との関係を示す図、第６図は角速
度０の状態におけるバイアス光と出力光強度との関係を
示す図である。 １１：光源、１２：光分配結合器、１５：、光学路、１
９：光′電気信号変換器、２１：移相器、２２．２４：
磁気光学素子、２３：複屈折性結晶板、３１：信号処理
器。 特許出願人 日本航空電子工業株式会社代 理
人 草 野 卓第１ 図 第２ 図 才５ 図 ｌｏ ｆ６図 手続補正書（自発） 昭和５８年７月１１日 特許庁長官 殿 穎ジ１、
事件の表示 特願昭５８−８９５’１６２、発明の名
称 光干渉角速度計 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 日本航空電子工業株式会社 ４、代 理 人 東京都新宿区新宿４−２−２１
相撲ビル６、補正の内容 （１）明細書中域３頁１６行ｒＩｏα１−ｃｏｓΔφ」
をｒＩｏｏｃｔ一部△φ」と削正する。 （２） 同書第５頁３〜４行、５行「交換磁界」を「
交番磁界」とそれぞれ訂正する。 （３）回書第９頁６行「位相差△φ−−」を「位相差△
φ＝０」と訂正する。 （４）同音第ｌＯ頁６行〜９行「光学路１５を・・・・
・・作ることができる。」を次の如く訂正する。 ［この種の光干渉角速度計において、元ファイバ光学路
を伸縮させてこれを通る光に位相変調を与えるものがあ
る。この場合は光フアイバ光学路の長さにより変調信号
周波数や振幅が異なるから、その位相変調器やその他の
電子回路を各棟元ファイバ光学路に対して共通化するこ
とはできない。しかし、光学路１５を除く光学部品及び
電子回路部分が光学路１５の長さに影響されないため用
途に応じて光学路１５の長さを変えても光学路を除く構
成部品の機能を変えなくてよい、従って用途に関係なく
、光学路を除く構成部品の共通使用が計れ安価に作るこ
とができる、このことは光学路を除く構成部品を１Ｃ化
したときに効果は一層大きくなる。」以 」ニ
すブロック図、第３図はこの発明による光干渉角速度計
の一例を示すブロック図、第４図はその移相器の例を示
す斜視図、第５図は出力干渉光強度とバイアス位相の反
転と出力の基本波成分との関係を示す図、第６図は角速
度０の状態におけるバイアス光と出力光強度との関係を
示す図である。 １１：光源、１２：光分配結合器、１５：、光学路、１
９：光′電気信号変換器、２１：移相器、２２．２４：
磁気光学素子、２３：複屈折性結晶板、３１：信号処理
器。 特許出願人 日本航空電子工業株式会社代 理
人 草 野 卓第１ 図 第２ 図 才５ 図 ｌｏ ｆ６図 手続補正書（自発） 昭和５８年７月１１日 特許庁長官 殿 穎ジ１、
事件の表示 特願昭５８−８９５’１６２、発明の名
称 光干渉角速度計 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 日本航空電子工業株式会社 ４、代 理 人 東京都新宿区新宿４−２−２１
相撲ビル６、補正の内容 （１）明細書中域３頁１６行ｒＩｏα１−ｃｏｓΔφ」
をｒＩｏｏｃｔ一部△φ」と削正する。 （２） 同書第５頁３〜４行、５行「交換磁界」を「
交番磁界」とそれぞれ訂正する。 （３）回書第９頁６行「位相差△φ−−」を「位相差△
φ＝０」と訂正する。 （４）同音第ｌＯ頁６行〜９行「光学路１５を・・・・
・・作ることができる。」を次の如く訂正する。 ［この種の光干渉角速度計において、元ファイバ光学路
を伸縮させてこれを通る光に位相変調を与えるものがあ
る。この場合は光フアイバ光学路の長さにより変調信号
周波数や振幅が異なるから、その位相変調器やその他の
電子回路を各棟元ファイバ光学路に対して共通化するこ
とはできない。しかし、光学路１５を除く光学部品及び
電子回路部分が光学路１５の長さに影響されないため用
途に応じて光学路１５の長さを変えても光学路を除く構
成部品の機能を変えなくてよい、従って用途に関係なく
、光学路を除く構成部品の共通使用が計れ安価に作るこ
とができる、このことは光学路を除く構成部品を１Ｃ化
したときに効果は一層大きくなる。」以 」ニ
Claims (1)
- （１）少くとも一周する光学路と、その光学路に対し右
回り左回りの光を通す手段と、その光学路の一方の入出
力端と縦続的に配されて透過する光をその方向、によっ
てほぼ百の位相差を与える移相器と、」二記光学路から
放射された右回り光及び左回り光の上記移相器をそれぞ
れ通ったものを干渉させる干渉手段と、上記光学路に周
方向の角速度が加わって上記右回り光及び左回り光の間
のサグナック効果により位相差が現われたとき位相差を
上記干渉光の光強度として検出する手段とを備え、その
検出光強度から上記角速度を測定する光干渉角速度計に
おいて、 上記移相器は第１磁気光学素子、複屈折性結晶、第２磁
気光学素子、が順次配列されて構成され、これら第１磁
気光学素子、第２磁気光学素子に対し交番磁界を与えて
、上記移相器による移相量がほぼ−と−Σとに交互に変
化させられる手段と、上記干渉光の強度変化中の上記交
番磁界の周波数成分を取出す手段を設けたことを特徴と
する光干渉角速度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58089516A JPS59214773A (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 光干渉角速度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58089516A JPS59214773A (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 光干渉角速度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59214773A true JPS59214773A (ja) | 1984-12-04 |
Family
ID=13972955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58089516A Pending JPS59214773A (ja) | 1983-05-20 | 1983-05-20 | 光干渉角速度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59214773A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110146109A (zh) * | 2019-05-17 | 2019-08-20 | 浙江大学 | 一种光纤陀螺磁温交联耦合误差的二维补偿方法 |
-
1983
- 1983-05-20 JP JP58089516A patent/JPS59214773A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110146109A (zh) * | 2019-05-17 | 2019-08-20 | 浙江大学 | 一种光纤陀螺磁温交联耦合误差的二维补偿方法 |
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