JP2002267442A - 半導体レーザ測距装置 - Google Patents
半導体レーザ測距装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 中心軸と光量が最大となる発光軸との間にい
くらかのずれがあるものが混在する安価なレーザダイオ
ードを用いても、測定誤差を生じず、しかも測定距離が
短くならないようにした半導体レーザ測距装置を提供す
る。 【解決手段】 レーザダイオード（１０）は、球形の
枠体（４０）を貫通する貫通孔（４０Ａ）内に固定され
る。測距装置内に固定される中空円筒形のベース（４
２）の一端側内部にコリメーションレンズ（１２）を固
定し、他端側内部に枠体（４０）を収容する。枠体（４
０）は、ベース（４２）内部の枠体受（４４）とベース
他端に螺合する袋ナット（５０）との間に固定される。
袋ナット（５０）の締め付け完了直前に枠体（４０）を
回動させ、レーザダイオード（１０）の発光軸（１０
Ｌ）をコリメーションレンズ（１２）の光軸（１２Ｃ）
と一致するように調整する。
くらかのずれがあるものが混在する安価なレーザダイオ
ードを用いても、測定誤差を生じず、しかも測定距離が
短くならないようにした半導体レーザ測距装置を提供す
る。 【解決手段】 レーザダイオード（１０）は、球形の
枠体（４０）を貫通する貫通孔（４０Ａ）内に固定され
る。測距装置内に固定される中空円筒形のベース（４
２）の一端側内部にコリメーションレンズ（１２）を固
定し、他端側内部に枠体（４０）を収容する。枠体（４
０）は、ベース（４２）内部の枠体受（４４）とベース
他端に螺合する袋ナット（５０）との間に固定される。
袋ナット（５０）の締め付け完了直前に枠体（４０）を
回動させ、レーザダイオード（１０）の発光軸（１０
Ｌ）をコリメーションレンズ（１２）の光軸（１２Ｃ）
と一致するように調整する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、トータルステーシ
ョン、ノンプリズム測距儀、光波距離計等のように、目
標点に向けてレーザ光を送光し、目標点で反射して戻っ
てきたレーザ光を受光することにより、送光光と受光光
の位相差から目標点までの距離を求める半導体レーザ測
距装置に関する。
ョン、ノンプリズム測距儀、光波距離計等のように、目
標点に向けてレーザ光を送光し、目標点で反射して戻っ
てきたレーザ光を受光することにより、送光光と受光光
の位相差から目標点までの距離を求める半導体レーザ測
距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来用いられていた光波距離計の一例を
図７に示す。この従来例では、レーザダイオ−ド（以
下、ＬＤと略称する。）１０のような光源から出射され
た赤外線レーザ光２は、一部がＬＤ１０から光ファイバ
ー７を経て受光素子１１へ入射し、残りが絞り９、ダイ
クロイックプリズム３及び対物レンズ１を経て目標点に
置かれたターゲット等に向けて外部に送光される。外部
に送光された赤外線レーザ光は、ターゲット等で反射さ
れ、対物レンズ１を経てダイクロイックプリズム３で反
射され、ホトダイオード等の受光素子１１で受光され
る。可視光の視準光は、対物レンズ１、ダイクロイック
プリズム３、ミラー４、焦点板５及び接眼レンズ６から
なる視準望遠鏡に導かれる。作業者は、接眼レンズ６を
覗いて、光波距離計をターゲット等に視準することがで
きる。
図７に示す。この従来例では、レーザダイオ−ド（以
下、ＬＤと略称する。）１０のような光源から出射され
た赤外線レーザ光２は、一部がＬＤ１０から光ファイバ
ー７を経て受光素子１１へ入射し、残りが絞り９、ダイ
クロイックプリズム３及び対物レンズ１を経て目標点に
置かれたターゲット等に向けて外部に送光される。外部
に送光された赤外線レーザ光は、ターゲット等で反射さ
れ、対物レンズ１を経てダイクロイックプリズム３で反
射され、ホトダイオード等の受光素子１１で受光され
る。可視光の視準光は、対物レンズ１、ダイクロイック
プリズム３、ミラー４、焦点板５及び接眼レンズ６から
なる視準望遠鏡に導かれる。作業者は、接眼レンズ６を
覗いて、光波距離計をターゲット等に視準することがで
きる。
【０００３】光波距離計から送光されるレーザ光２は、
ＶＨＦ帯で振幅変調されていて、光ファイバー７を経て
受光素子１１へ入射する光と、ターゲット等で反射され
て戻ってきて受光素子１１へ入射する光との間には、目
標点までの距離に応じた位相差を検出することができる
ので、両者の位相差から目標点までの距離が求まる。
ＶＨＦ帯で振幅変調されていて、光ファイバー７を経て
受光素子１１へ入射する光と、ターゲット等で反射され
て戻ってきて受光素子１１へ入射する光との間には、目
標点までの距離に応じた位相差を検出することができる
ので、両者の位相差から目標点までの距離が求まる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の測距装置では、
図５に示したように、ＬＤ１０の中心軸１０Ｃに沿う光
線が対物レンズ１の光軸すなわち視準軸Ｃ上を進むよう
に、ＬＤ１０を測距装置内に固定していた。ただし、図
５では、理解し易くするため、ダイクロイックプリズム
３を省略した。ところで、ＬＤは、一般に図６の（Ａ）
に示したように中心軸１０Ｃから角度θ方向の光量の発
光分布を測定してみると、図６の（Ｂ）に示したよう
に、たいていのＬＤの発光分布Ｎは、光量が最大になる
発光軸１０Ｌと中心軸１０Ｃとは略一致するが、なかに
は発光軸１０Ｌと中心軸１０Ｃとの間に３度程度もずれ
た発光分布Ｆを有するものも存在する。
図５に示したように、ＬＤ１０の中心軸１０Ｃに沿う光
線が対物レンズ１の光軸すなわち視準軸Ｃ上を進むよう
に、ＬＤ１０を測距装置内に固定していた。ただし、図
５では、理解し易くするため、ダイクロイックプリズム
３を省略した。ところで、ＬＤは、一般に図６の（Ａ）
に示したように中心軸１０Ｃから角度θ方向の光量の発
光分布を測定してみると、図６の（Ｂ）に示したよう
に、たいていのＬＤの発光分布Ｎは、光量が最大になる
発光軸１０Ｌと中心軸１０Ｃとは略一致するが、なかに
は発光軸１０Ｌと中心軸１０Ｃとの間に３度程度もずれ
た発光分布Ｆを有するものも存在する。
【０００５】このように中心軸１０Ｃと発光軸１０Ｌと
がずれたＬＤを用いると、図５から分かるように、発光
軸１０Ｌが視準軸Ｃと一致していないので、測距装置か
ら送光されたレーザ光のうち最大光量となる光線が視準
した目標点からずれた個所を照射してしまうので、この
個所からの反射レーザ光を受光し、測定誤差を生じてし
まうこともあった。また、視準軸Ｃ方向が最大光量でな
いことにより、測定可能な距離が短くなるという問題も
あった。もちろん、発光軸１０Ｌと中心軸１０Ｃとの間
に所定値以上のずれのあるＬＤを除去すればよいのであ
るが、そうするとＬＤが高価になってしまうという問題
がある。
がずれたＬＤを用いると、図５から分かるように、発光
軸１０Ｌが視準軸Ｃと一致していないので、測距装置か
ら送光されたレーザ光のうち最大光量となる光線が視準
した目標点からずれた個所を照射してしまうので、この
個所からの反射レーザ光を受光し、測定誤差を生じてし
まうこともあった。また、視準軸Ｃ方向が最大光量でな
いことにより、測定可能な距離が短くなるという問題も
あった。もちろん、発光軸１０Ｌと中心軸１０Ｃとの間
に所定値以上のずれのあるＬＤを除去すればよいのであ
るが、そうするとＬＤが高価になってしまうという問題
がある。
【０００６】そこで、発光軸と中心軸との間にいくらか
のずれがあるものが混在する安価なＬＤを用いても、測
定誤差を生じず、しかも測定距離が短くならないように
した半導体レーザ測距装置を提供する。
のずれがあるものが混在する安価なＬＤを用いても、測
定誤差を生じず、しかも測定距離が短くならないように
した半導体レーザ測距装置を提供する。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め請求項１に係る発明の半導体レーザ測距装置では、レ
ーザ光を出射する光源の向きを調整可能とし、視準軸上
で前記レーザ光の光量が最大となるように調整できるよ
うにした。
め請求項１に係る発明の半導体レーザ測距装置では、レ
ーザ光を出射する光源の向きを調整可能とし、視準軸上
で前記レーザ光の光量が最大となるように調整できるよ
うにした。
【０００８】請求項２に係る発明の半導体レーザ測距装
置では、レーザ光を出射する光源と、前記レーザ光を平
行光線束にするコリメーションレンズと、貫通孔を有し
該貫通孔内に前記光源を固定する球形の枠体と、一端側
内部に前記コリメーションレンズを固定し、他端側内部
に前記枠体を収容する中空筒形のベースと、該ベースの
他端に螺合する袋ナットとを備え、前記ベース内部には
中心に貫通孔の開いた枠体受を設け、該枠体受と前記袋
ナットとの間に前記枠体を固定した。
置では、レーザ光を出射する光源と、前記レーザ光を平
行光線束にするコリメーションレンズと、貫通孔を有し
該貫通孔内に前記光源を固定する球形の枠体と、一端側
内部に前記コリメーションレンズを固定し、他端側内部
に前記枠体を収容する中空筒形のベースと、該ベースの
他端に螺合する袋ナットとを備え、前記ベース内部には
中心に貫通孔の開いた枠体受を設け、該枠体受と前記袋
ナットとの間に前記枠体を固定した。
【０００９】請求項３に係る発明では、請求項２に係る
発明において、前記枠体受は前記枠体と当接する部分が
テーパ面とされ、前記袋ナットは底部に開口が設けら
れ、前記枠体と前記袋ナットとの間には、前記枠体と当
接する部分がテーパ面とされた座金を介在させた。
発明において、前記枠体受は前記枠体と当接する部分が
テーパ面とされ、前記袋ナットは底部に開口が設けら
れ、前記枠体と前記袋ナットとの間には、前記枠体と当
接する部分がテーパ面とされた座金を介在させた。
【００１０】請求項４に係る発明では、請求項２又は３
に係る発明において、前記枠体には調整ピンの先端を挿
入させることができる調整ピン孔を設け、前記ベースに
は前記枠体に設けられた調整ピン孔と対応する位置に調
整ピン挿通孔を設けた。
に係る発明において、前記枠体には調整ピンの先端を挿
入させることができる調整ピン孔を設け、前記ベースに
は前記枠体に設けられた調整ピン孔と対応する位置に調
整ピン挿通孔を設けた。
【００１１】請求項５に係る発明では、請求項４に係る
発明において、前記調整ピン孔と前記調整ピンは螺合で
きるようにした。
発明において、前記調整ピン孔と前記調整ピンは螺合で
きるようにした。
【００１２】
【発明の実施の形態】前記課題を解決するためには、レ
ーザ光を出射するＬＤ１０等の光源の向きを調整可能と
し、視準軸Ｃ上で前記レーザ光の光量が最大となるよう
に調整できるようにすればよく、このようにした本発明
の好ましい実施の形態について、添付図面を参照して詳
細に説明する。
ーザ光を出射するＬＤ１０等の光源の向きを調整可能と
し、視準軸Ｃ上で前記レーザ光の光量が最大となるよう
に調整できるようにすればよく、このようにした本発明
の好ましい実施の形態について、添付図面を参照して詳
細に説明する。
【００１３】図２は、本実施例の半導体レーザ測距装置
を組み込んだトータルステーション（電子式測距測角
儀）の光学系の概略図である。本実施例では、ＬＤ１０
から出射された赤外線のレーザ光２０は、コリメーショ
ンレンズ１２で平行光線束にされ、ミラー１４、ダイク
ロイックプリズム１６、対物レンズ１８を経て目標点に
向けて送光される。ここで、コリメーションレンズ１２
の光軸１２Ｃに沿う光線が対物レンズ１８の光軸、即ち
視準軸Ｃに沿って進むように、コリメーションレンズ１
２の位置が設定される。目標点で反射したレーザ光２４
は、今来た光路を逆進して、対物レンズ１８、ダイクロ
イックミラー２６、ダイクロイックプリズム１６、光フ
ァイバー２８を経て受光器３０に入射する。測距装置
は、対物レンズ１８、合焦レンズ３２、接眼レンズ３４
で構成される視準望遠鏡を備えていて、接眼レンズ３４
を覗くと目標点が見え、目標点を視準できるようになっ
ている。ダイクロイックミラー２６は、赤外線のレーザ
光２４を遮断し、視準のための可視光のみが接眼レンズ
３４方向へ透過するようになっている。
を組み込んだトータルステーション（電子式測距測角
儀）の光学系の概略図である。本実施例では、ＬＤ１０
から出射された赤外線のレーザ光２０は、コリメーショ
ンレンズ１２で平行光線束にされ、ミラー１４、ダイク
ロイックプリズム１６、対物レンズ１８を経て目標点に
向けて送光される。ここで、コリメーションレンズ１２
の光軸１２Ｃに沿う光線が対物レンズ１８の光軸、即ち
視準軸Ｃに沿って進むように、コリメーションレンズ１
２の位置が設定される。目標点で反射したレーザ光２４
は、今来た光路を逆進して、対物レンズ１８、ダイクロ
イックミラー２６、ダイクロイックプリズム１６、光フ
ァイバー２８を経て受光器３０に入射する。測距装置
は、対物レンズ１８、合焦レンズ３２、接眼レンズ３４
で構成される視準望遠鏡を備えていて、接眼レンズ３４
を覗くと目標点が見え、目標点を視準できるようになっ
ている。ダイクロイックミラー２６は、赤外線のレーザ
光２４を遮断し、視準のための可視光のみが接眼レンズ
３４方向へ透過するようになっている。
【００１４】図１は、ＬＤ１０を測距装置内部に固定す
る部分の構成を示す断面図である。ＬＤ１０は、球形の
枠体４０の中心を通る貫通孔４０Ａ内に固定されてい
る。貫通孔４０Ａには段部４０Ｂが設けられていて、こ
の段部４０ＢはＬＤ１０の発光部を枠体４０の略中心に
位置決めするものである。ＬＤ１０の発光部が枠体４０
の中心に位置するので、枠体４０を回動させてもＬＤ１
０の発光部の位置が変化しないようになっている。
る部分の構成を示す断面図である。ＬＤ１０は、球形の
枠体４０の中心を通る貫通孔４０Ａ内に固定されてい
る。貫通孔４０Ａには段部４０Ｂが設けられていて、こ
の段部４０ＢはＬＤ１０の発光部を枠体４０の略中心に
位置決めするものである。ＬＤ１０の発光部が枠体４０
の中心に位置するので、枠体４０を回動させてもＬＤ１
０の発光部の位置が変化しないようになっている。
【００１５】枠体４０は、図３に外形斜視図で示された
ような中空円筒形のベース４２内に固定される。このベ
ース４２は鍔４２Ａを有しており、この鍔４２Ａが図示
しない測距装置の固定部に固着される。このベース４２
の一端側内部には、コリメーションレンズ枠４６が取り
付けられ、このコリメーションレンズ枠４６にコリメー
ションレンズ１２が固定されている。コリメーションレ
ンズ枠４６は、ビス４８によりベース４２に対して着脱
可能で位置調整可能に取り付けられる。
ような中空円筒形のベース４２内に固定される。このベ
ース４２は鍔４２Ａを有しており、この鍔４２Ａが図示
しない測距装置の固定部に固着される。このベース４２
の一端側内部には、コリメーションレンズ枠４６が取り
付けられ、このコリメーションレンズ枠４６にコリメー
ションレンズ１２が固定されている。コリメーションレ
ンズ枠４６は、ビス４８によりベース４２に対して着脱
可能で位置調整可能に取り付けられる。
【００１６】ベース４２の他端側の外周面には雄ねじが
切られ、この雄ねじに盆状の袋ナット５０が螺号され
る。袋ナット５０とは、内部に雌ねじが設けられていて
キャップの形状をしたものである。この袋ナット５０
は、さらに底部５０ＢにＬＤ１０のリード線１１を通す
ための開口５０Ａが開けてある。ベース４０内部の軸方
向中央部には枠体受４４が設けられる。枠体受４４は、
レーザ光２０を通すために中心に貫通孔４４Ａが開けら
れ、枠体４０と当接する部分がテーパ面４４Ｂとされて
いる。枠体４０は、この枠体受４４のテーパ面４４Ｂと
袋ナット５０との間に固定される。袋ナット５０と枠体
４０との間には、枠体４０側にテーパ面５２Ａを設けた
座金５２を介在させる。図４に座金５２の拡大縦断面図
を示す。
切られ、この雄ねじに盆状の袋ナット５０が螺号され
る。袋ナット５０とは、内部に雌ねじが設けられていて
キャップの形状をしたものである。この袋ナット５０
は、さらに底部５０ＢにＬＤ１０のリード線１１を通す
ための開口５０Ａが開けてある。ベース４０内部の軸方
向中央部には枠体受４４が設けられる。枠体受４４は、
レーザ光２０を通すために中心に貫通孔４４Ａが開けら
れ、枠体４０と当接する部分がテーパ面４４Ｂとされて
いる。枠体４０は、この枠体受４４のテーパ面４４Ｂと
袋ナット５０との間に固定される。袋ナット５０と枠体
４０との間には、枠体４０側にテーパ面５２Ａを設けた
座金５２を介在させる。図４に座金５２の拡大縦断面図
を示す。
【００１７】枠体４０には、調整ピン５８を挿入するた
めのＸ軸方向調整用とＹ軸方向調整用の２つの調整ピン
孔５６が設けられる。本実施例では、調整ピン５８の先
端に雄ねじを切り、調整ピン孔５６に雌ねじを切ってお
き、両者を螺合させて、調整ピン５８を調整ピン孔５６
に固定できるようにする。ベース４２においては、これ
らの調整用ピン孔５６と対応する位置には、調整ピン５
８を調整ピン孔５６に固定した状態で、調整ピン５８を
数度傾動できる程度の大きさの調整ピン挿通孔５４が設
けられる。
めのＸ軸方向調整用とＹ軸方向調整用の２つの調整ピン
孔５６が設けられる。本実施例では、調整ピン５８の先
端に雄ねじを切り、調整ピン孔５６に雌ねじを切ってお
き、両者を螺合させて、調整ピン５８を調整ピン孔５６
に固定できるようにする。ベース４２においては、これ
らの調整用ピン孔５６と対応する位置には、調整ピン５
８を調整ピン孔５６に固定した状態で、調整ピン５８を
数度傾動できる程度の大きさの調整ピン挿通孔５４が設
けられる。
【００１８】枠体４０をベース４２に固定するさいに
は、まず、ベース４２を図示しない固定装置に固定し、
ベース４２内に枠体４０を入れて、ベース４２の調整ピ
ン挿通孔５４と枠体４０の調整ピン孔５６を位置合わせ
する。次に、この状態で、図３に示したようにして、２
本の調整ピン５８を各調整ピン挿通孔５４を通して、各
調整ピン５８の先端を各調整ピン孔５６に螺合させる。
次に、座金５２を枠体４０と袋ナット５０間に介在させ
て、調整ピン５８を押えて枠体４０が回転しないように
しながら、袋ナット５０を締め付ける。
は、まず、ベース４２を図示しない固定装置に固定し、
ベース４２内に枠体４０を入れて、ベース４２の調整ピ
ン挿通孔５４と枠体４０の調整ピン孔５６を位置合わせ
する。次に、この状態で、図３に示したようにして、２
本の調整ピン５８を各調整ピン挿通孔５４を通して、各
調整ピン５８の先端を各調整ピン孔５６に螺合させる。
次に、座金５２を枠体４０と袋ナット５０間に介在させ
て、調整ピン５８を押えて枠体４０が回転しないように
しながら、袋ナット５０を締め付ける。
【００１９】袋ナット５０の締付け完了する直前で、調
整ピン５８を傾動させると、まだ枠体４０を枠体受４４
と座金５２に対して滑動させることができるときに、Ｌ
Ｄ１０の発光軸１０Ｌがコリメーションレンズ１２の光
軸１２Ｃと一致するように調整する。このため、コリメ
ーションレンズ１２の光軸上１２Ｃにレーザ光の出力を
測定するパワーメータ６０を図示しない固定装置によっ
て固定する。次に、各調整ピン５８を光軸１２Ｃ方向に
交互に傾動させ、発光軸１０ＬをＸ軸方向及びＹ軸方向
に振らせて、パワーメータ６０が最大出力となる位置を
探す。ここで、パワーメータ６０が最大出力となる位置
を見つけたら、その状態で袋ナット５０を完全に締め付
けて枠体４０とベース４２とが相対回転しないようにし
っかりと固定する。このようにＬＤ１０の発光軸１０Ｌ
の方向、即ちＬＤの向きの調整は容易であり、後日、Ｌ
Ｄ１０の向きの再調整が必要になった場合も、簡単に再
調整できる。
整ピン５８を傾動させると、まだ枠体４０を枠体受４４
と座金５２に対して滑動させることができるときに、Ｌ
Ｄ１０の発光軸１０Ｌがコリメーションレンズ１２の光
軸１２Ｃと一致するように調整する。このため、コリメ
ーションレンズ１２の光軸上１２Ｃにレーザ光の出力を
測定するパワーメータ６０を図示しない固定装置によっ
て固定する。次に、各調整ピン５８を光軸１２Ｃ方向に
交互に傾動させ、発光軸１０ＬをＸ軸方向及びＹ軸方向
に振らせて、パワーメータ６０が最大出力となる位置を
探す。ここで、パワーメータ６０が最大出力となる位置
を見つけたら、その状態で袋ナット５０を完全に締め付
けて枠体４０とベース４２とが相対回転しないようにし
っかりと固定する。このようにＬＤ１０の発光軸１０Ｌ
の方向、即ちＬＤの向きの調整は容易であり、後日、Ｌ
Ｄ１０の向きの再調整が必要になった場合も、簡単に再
調整できる。
【００２０】これで、発光軸１０Ｌはコリメーションレ
ンズ１２の光軸１２Ｃに一致し、コリメーションレンズ
１２の光軸１２Ｃに沿う光は、測距装置の視準軸Ｃに沿
って送光されるようになっているから、本実施例の測距
装置は、視準軸Ｃ上で光量が最大となるレーザ光２０を
送光することになり、測定誤差を生じたり、測定距離が
短くなったりすることがなくなる。
ンズ１２の光軸１２Ｃに一致し、コリメーションレンズ
１２の光軸１２Ｃに沿う光は、測距装置の視準軸Ｃに沿
って送光されるようになっているから、本実施例の測距
装置は、視準軸Ｃ上で光量が最大となるレーザ光２０を
送光することになり、測定誤差を生じたり、測定距離が
短くなったりすることがなくなる。
【００２１】ところで、本発明は、前記実施例に限定さ
れるものではなく、たとえば、次のような種々の設計変
更が考えられる。
れるものではなく、たとえば、次のような種々の設計変
更が考えられる。
【００２２】ベース４２は、中空円筒形ではなく、中空
角筒形等、中空筒形であればどのようなものでもよい。
ただし、工作の容易性からは中空円筒形が望ましい。
角筒形等、中空筒形であればどのようなものでもよい。
ただし、工作の容易性からは中空円筒形が望ましい。
【００２３】袋ナット５０には、底部に開口５０Ａを設
けなくてもよい。この場合には、枠体４０とベース４２
夫々にＬＤ１０のリード線１１を通す孔を設け、これら
の孔を通してリード線１１を外部に引き出す必要があ
る。工作の容易性からは、袋ナット５０の底部に開口５
０Ａを設けることが望ましい。
けなくてもよい。この場合には、枠体４０とベース４２
夫々にＬＤ１０のリード線１１を通す孔を設け、これら
の孔を通してリード線１１を外部に引き出す必要があ
る。工作の容易性からは、袋ナット５０の底部に開口５
０Ａを設けることが望ましい。
【００２４】枠体受４４と座金５２には、テーパ面４４
Ａ、５２Ａを設けなくてもよいし、テーパ面４４Ａ、５
２Ａを球面と変更してもよい。ただし、工作の容易性
や、枠体４０に傷をつけにくくすることや、ＬＤ１０の
向きの調整時に枠体４０を枠体受４４と座金５２に対し
て円滑に滑らせること等を考慮すれば、枠体受４４と座
金５２には、夫々テーパ面４４Ａ，５２Ａを設けること
が望ましい。
Ａ、５２Ａを設けなくてもよいし、テーパ面４４Ａ、５
２Ａを球面と変更してもよい。ただし、工作の容易性
や、枠体４０に傷をつけにくくすることや、ＬＤ１０の
向きの調整時に枠体４０を枠体受４４と座金５２に対し
て円滑に滑らせること等を考慮すれば、枠体受４４と座
金５２には、夫々テーパ面４４Ａ，５２Ａを設けること
が望ましい。
【００２５】また、座金５２を用いずに、枠体４０を枠
体受４４と袋ナット５０の間に直接固定してもよい。こ
の場合には、袋ナット５０の枠体４０と当接する部分に
テーパ面を設けることが望ましい。
体受４４と袋ナット５０の間に直接固定してもよい。こ
の場合には、袋ナット５０の枠体４０と当接する部分に
テーパ面を設けることが望ましい。
【００２６】枠体４０に調整ピン孔５６を設けず、ベー
ス４２にも調整ピン挿通孔５４を設けなくてもよい。こ
の場合には、ピンや細長い工具等を袋ナット５０に設け
た開口５０Ａから差込んで、枠体４０の周辺部を押して
枠体４０を回動させ、ＬＤ１０の向きを調整する。ただ
し、ＬＤ１０の向きの調整作業の容易さを考慮すれば、
調整ピン孔５６と調整ピン挿通孔５４を設けることが望
ましい。
ス４２にも調整ピン挿通孔５４を設けなくてもよい。こ
の場合には、ピンや細長い工具等を袋ナット５０に設け
た開口５０Ａから差込んで、枠体４０の周辺部を押して
枠体４０を回動させ、ＬＤ１０の向きを調整する。ただ
し、ＬＤ１０の向きの調整作業の容易さを考慮すれば、
調整ピン孔５６と調整ピン挿通孔５４を設けることが望
ましい。
【００２７】調整ピン５８の先端及び調整ピン孔５６に
はねじを切らずに、調整ピン５８の先端を調整ピン孔５
６に単純に挿入できるようにするだけでもよい。ただ
し、枠体４０は小さく、調整ピン孔５６は浅くて、調整
ピン５８が外れ易いので、ＬＤ１０の向きの調整作業の
容易さを考慮すれば、両者を螺合により確実に結合でき
るようにすることが望ましい。
はねじを切らずに、調整ピン５８の先端を調整ピン孔５
６に単純に挿入できるようにするだけでもよい。ただ
し、枠体４０は小さく、調整ピン孔５６は浅くて、調整
ピン５８が外れ易いので、ＬＤ１０の向きの調整作業の
容易さを考慮すれば、両者を螺合により確実に結合でき
るようにすることが望ましい。
【００２８】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
１に係る発明の測距装置によれば、レーザ光を出射する
レーザダイオード等の光源の向きを調整可能とし、視準
軸上で前記レーザ光の光量が最大となるように調整でき
るようにしたから、測距装置は、視準軸に沿って最大光
量となるレーザ光を送光でき、測定誤差を生じたり、測
定距離が短くなったりすることがなくなる。
１に係る発明の測距装置によれば、レーザ光を出射する
レーザダイオード等の光源の向きを調整可能とし、視準
軸上で前記レーザ光の光量が最大となるように調整でき
るようにしたから、測距装置は、視準軸に沿って最大光
量となるレーザ光を送光でき、測定誤差を生じたり、測
定距離が短くなったりすることがなくなる。
【００２９】請求項２に係る発明の測距装置によれば、
光源と、前記レーザ光を平行光線束にするコリメーショ
ンレンズと、貫通孔を有し該貫通孔内に前記光源を固定
する球形の枠体と、一端側内部に前記コリメーションレ
ンズを固定し、他端側内部に前記枠体を収容する中空円
筒形のベースと、該ベースの他端に螺合する袋ナットと
を備え、前記ベース内部には中心に貫通孔の開いた枠体
受を設け、前記袋ナットの底部には貫通孔を設け、前記
枠体受と前記袋ナットとの間に前記枠体を固定したか
ら、簡単な構成で光源の向きを容易に調整でき、請求項
１に係る発明と同じ効果を奏する。しかも、光源を固定
する枠体をベース内に固定するときに、他の光学系等と
は独立に光源の向きを調整できるので、光源の向きの調
整作業がいっそう容易である。
光源と、前記レーザ光を平行光線束にするコリメーショ
ンレンズと、貫通孔を有し該貫通孔内に前記光源を固定
する球形の枠体と、一端側内部に前記コリメーションレ
ンズを固定し、他端側内部に前記枠体を収容する中空円
筒形のベースと、該ベースの他端に螺合する袋ナットと
を備え、前記ベース内部には中心に貫通孔の開いた枠体
受を設け、前記袋ナットの底部には貫通孔を設け、前記
枠体受と前記袋ナットとの間に前記枠体を固定したか
ら、簡単な構成で光源の向きを容易に調整でき、請求項
１に係る発明と同じ効果を奏する。しかも、光源を固定
する枠体をベース内に固定するときに、他の光学系等と
は独立に光源の向きを調整できるので、光源の向きの調
整作業がいっそう容易である。
【００３０】請求項３に係る発明によれば、さらに、枠
体受と座金において、枠体と当接する部分をテーパ面と
したから、枠体受と座金の工作が容易で、枠体に傷をつ
けにくく、光源の向きの調整時に枠体を枠体受と座金に
対して円滑に滑らせることができる。また、袋ナットの
底部に開口を設け、この開口からＬＤのリード線を引き
出しているから、ベースと袋ナットの工作が容易で、ベ
ースと枠体と袋ナットの組み立ても容易である。
体受と座金において、枠体と当接する部分をテーパ面と
したから、枠体受と座金の工作が容易で、枠体に傷をつ
けにくく、光源の向きの調整時に枠体を枠体受と座金に
対して円滑に滑らせることができる。また、袋ナットの
底部に開口を設け、この開口からＬＤのリード線を引き
出しているから、ベースと袋ナットの工作が容易で、ベ
ースと枠体と袋ナットの組み立ても容易である。
【００３１】請求項４に係る発明によれば、さらに、枠
体の調整ピン孔に調整ピンを挿入して、調整ピンを傾動
させることができて、光源の向きの調整作業がいっそう
容易となる。
体の調整ピン孔に調整ピンを挿入して、調整ピンを傾動
させることができて、光源の向きの調整作業がいっそう
容易となる。
【００３２】請求項５に係る発明によれば、さらに、調
整ピンが調整ピン孔から外れにくくできるので、光源の
向きの調整作業がいっそう容易となる。
整ピンが調整ピン孔から外れにくくできるので、光源の
向きの調整作業がいっそう容易となる。
【図１】本発明の好ましい実施例の測距装置におけるＬ
Ｄの固定部の断面図である。
Ｄの固定部の断面図である。
【図２】前記測距装置の光学系の概略を説明する図であ
る。
る。
【図３】前記測距装置において、ＬＤの向きを調整する
方法を説明する図である。
方法を説明する図である。
【図４】前記測距装置において用いられる座金の拡大縦
断面図である。
断面図である。
【図５】従来の測距装置の視準軸とＬＤの関係を説明す
る図である。
る図である。
【図６】市販されているＬＤの光量分布特性を説明する
図である。
図である。
【図７】従来の測距装置の光学系の概略を説明する図で
ある。
ある。
１０ レーザダイオード（ＬＤ、光源） １２ コリメーションレンズ ４０ 枠体 ４２ ベース ４４ 枠体受 ５０ 袋ナット ５２ 座金 ５４ 調整ピン挿通孔 ５６ 調整ピン孔 ５８ 調整ピン Ｃ 視準軸
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０２Ｂ 7/02 Ｇ０２Ｂ 7/02 Ｃ 7/40 7/11 Ｆ 7/28 Ｚ Ｆターム(参考） 2F065 AA06 DD04 DD05 FF13 FF31 GG06 JJ01 JJ18 LL02 LL04 LL20 LL47 LL64 NN01 NN08 UU01 2F112 AD01 BA07 BA12 CA06 CA12 DA40 GA10 2H044 AC01 2H051 BB27 CA16 CA18 CC03 CC13 5J084 AA05 AD02 BA04 BA36 BB04 BB20 BB31 BB38 CA07 DA01 DA02 DA07 EA01 EA21 EA31
Claims (5)
- 【請求項１】 半導体レーザ光を出射する光源の向き
を調整可能とし、視準軸上で前記レーザ光の光量が最大
となるように調整できることを特徴とする半導体レーザ
測距装置。 - 【請求項２】 半導体レーザ光を出射する光源と、前
記レーザ光を平行光線束とするコリメーションレンズ
と、貫通孔を有し該貫通孔内に前記光源を固定する球形
の枠体と、一端側内部に前記コリメーションレンズを固
定し、他端側内部に前記枠体を収容する中空筒形のベー
スと、該ベースの他端に螺合する袋ナットとを備え、 前記ベース内部には中心に貫通孔の開いた枠体受を設
け、該枠体受と前記袋ナットとの間に前記枠体を固定し
たことを特徴とする半導体レーザ測距装置。 - 【請求項３】 前記枠体受は前記枠体と当接する部分
がテーパ面とされ、前記袋ナットは底部に開口が設けら
れ、前記枠体と前記袋ナットとの間には、前記枠体と当
接する部分がテーパ面とされた座金を介在させたことを
特徴とする請求項２に記載の半導体レーザ測距装置。 - 【請求項４】 前記枠体には調整ピンの先端を挿入さ
せることができる調整ピン孔を設け、前記ベースには前
記枠体に設けられた調整ピン孔と対応する位置に調整ピ
ン挿通孔を設けたことを特徴とする請求項２又は３記載
の半導体レーザ測距装置。 - 【請求項５】 前記調整ピン孔と前記調整ピンは螺合
できることを特徴とする請求項４に記載の半導体レーザ
測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001063520A JP2002267442A (ja) | 2001-03-07 | 2001-03-07 | 半導体レーザ測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001063520A JP2002267442A (ja) | 2001-03-07 | 2001-03-07 | 半導体レーザ測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002267442A true JP2002267442A (ja) | 2002-09-18 |
Family
ID=18922501
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001063520A Pending JP2002267442A (ja) | 2001-03-07 | 2001-03-07 | 半導体レーザ測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002267442A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004354519A (ja) * | 2003-05-27 | 2004-12-16 | Mitsubishi Electric Corp | 撮像装置および撮像装置の焦点調整装置 |
| CN101872015A (zh) * | 2010-05-28 | 2010-10-27 | 东莞市南星电子有限公司 | 激光测距仪 |
| JP2012233935A (ja) * | 2011-04-28 | 2012-11-29 | Konica Minolta Business Technologies Inc | レーザ走査光学装置 |
| CN107300366A (zh) * | 2017-08-25 | 2017-10-27 | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 | 一种孔用对中检测装置 |
| KR20190089508A (ko) * | 2018-01-23 | 2019-07-31 | 전자부품연구원 | 송광 모듈 및 그를 갖는 스캐닝 라이다 |
| KR20200113071A (ko) * | 2019-03-21 | 2020-10-06 | 한국전자기술연구원 | 송광 모듈 및 그를 갖는 스캐닝 라이다 |
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|---|---|---|---|---|
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-
2001
- 2001-03-07 JP JP2001063520A patent/JP2002267442A/ja active Pending
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