CN217085256U - 一种激光测距仪 - Google Patents

Abstract

一种激光测距仪，包括一个射束源、一个光电检测器、至少一个射束整形光学镜、一个光学镜支架、电路板、一个射束分配光学镜和一个连接装置；所述射束源包括第一电光组件，用于沿一个光轴发出一个激光射束，所述光电检测器包括第二电光组件，用于沿一个光轴接收由所述目标物体反射的和/或散射的接收射束，所述射束整形光学镜用于沿一个光轴形成一个激光射束和/或一个接收射束，所述光学镜支架具有一个用于固定所述第一电光组件的第一容纳座和一个用于固定所述至少一个射束整形光学镜的第二容纳座，所述电路板具有一个用于固定所述第二电光组件的另外的容纳座，所述连接装置用于将光学镜支架与电路板相连接；所述射束分配光学镜装配在一个调节支架上。

Description

一种激光测距仪

技术领域

本实用新型涉及激光测量技术领域，特别是一种发射光轴和接收光轴同轴的激光测距仪。

背景技术

激光测距仪是一种用于激光距离测量系统的测量装置，包括一个构成为射束源的电光组件、一个构成为检测器的另外的电光组件、一个发射光学镜和一个接收光学镜。射束源和发射光学镜被称作发射装置；而检测器和接收光学镜被称作接收装置。射束源沿一个光轴发出一个激光射束。该激光射束由发射光学镜集束并且指向目标物体。由目标物体反射和/或散射的接收射束由接收光学镜进行整形并且沿一个光轴指向所述检测器。测量装置分为旁轴配置和同轴配置，在旁轴配置中，发射和接收装置的光轴平行错位地延伸，在同轴配置中，发射和接收装置的光轴相互重叠并且借助一个射束分配光学镜分开。在同轴配置中，发射光学镜和接收光学镜集成到一个对激光射束和接收射束进行整形的共同的射束整形光学镜中。

专利号为CN201210157986.4的文献公开了一种用于距离测量的测量装置，包括一个构成为射束源的电光组件、一个构成为检测器的另外的电光组件、一个射束整形光学镜、一个射束分配光学镜、一个光学镜支架和一个电路板。光学镜支架经由一个连接装置与电路板相连接。射束源构成为激光二极管，它产生可见光谱中的激光射束，例如具有635nm波长的红色激光射束或具有532nm波长的绿色激光射束。检测器构成为光电二极管，其特性与激光二极管相匹配。一个控制和分析装置与射束源和检测器相连接并且从一个在基准射束与由检测器采集的接收射束之间的时间差确定到目标物体的距离。

射束整形光学镜构成为既对发出的激光射束进行整形也对接收射束进行整形的透镜。借助射束分配光学镜，激光射束与同轴延伸的接收射束分离。射束分配光学镜设置在射束源和射束整形光学镜之间的发出的激光射束的光路中且在射束整形光学镜和检测器之间的反射和/或散射的接收射束的光路中。射束分配光学镜构成为偏振射束分配器，它构成为主要透射具有发出的激光射束的偏振方向的光(透射系数大于约80％)而部分反射非偏振的光(反射系数大约50％)。在目标物体上反射的射束，也就是接收射束的反射部分具有高的强度并且拥有与发出的激光射束相同的偏振方向，然而在目标物体散射的射束也就是接收射束的散射部分是非偏振的。借助射束分配光学镜，接收射束的在目标物体上反射的并由此偏振的部分被强烈地衰减，以便防止检测器的过调。

电路板是电气和电光构件的载体并且用于机械固定和电气连接。电路板由具有连接的印制导线的电绝缘材料构成，例如纤维增强的塑料、聚四氟乙烯或陶瓷。这些构件被钎焊到钎焊表面上或焊眼中并且以这种方式同时被机械地保持和电气连接。更大的构件可以借助粘合和螺纹连接被固定在电路板上。

射束源、射束整形光学镜和射束分配光学镜设置在光学镜支架上。光学镜支架具有一个用于构成为射束源的第一电光组件的第一容纳座、一个用于射束整形光学镜的第二容纳座和一个用于射束分配光学镜的第三容纳座。构成为检测器的第二电光组件设置在电路板上的另一容纳座中，其中电路板对于第二电光组件来说用作另一光学镜支架。

光学镜支架构成为整体的光学镜支架，它不是由多个零件组合而成而是由一种材料构成。整体的光学镜支架在第一和第二连接对象之间不具有连接地带。光学镜支架由一种金属材料构成，例如锌。金属的光学镜支架导致在电光组件之间的电气屏蔽并且减小在射束源与检测器之间的电气串扰。锌具有高的温度稳定性，从而激光距离测量系统经常遭受的温度波动只对装入的组件的调整状态和测量装置的测量特性施加小的影响。此外，锌可以在具有高精度的压铸法中进行加工，从而容纳座、被非常精确地制造并相互定位。

检测器设置在电路板的朝向光学镜支架的前面上并且与电路板经由钎焊连接而固定地连接，检测器例如可以在电路板的生产过程中被自动地装配和钎焊。检测器只与电路板相连接并被机械地保持，不存在将检测器直接与光学镜支架连接的连接件。光学镜支架构成为在安装状态下朝向检测器的那侧至少在检测器的区域中是敞开的并且以第一接触面经由连接装置与设置在电路板的前面上的第二接触面相连接。连接装置构成为至少在调整测量装置和调整检测器期间是可松脱的。

射束源沿光轴发出发散的一次激光射束。该一次激光射束碰到偏振射束分配器，在其上最大可能的部分都被透射并且作为发散的二次激光射束沿光轴方向击中射束整形光学镜。射束整形光学镜将激光射束集束并且把具有小的发散度的三次激光射束沿光轴方向指向目标物体。

由目标物体反射和/或散射的接收射束碰到射束整形光学镜上，该接收射束以下称之为一次接收射束，射束整形光学镜将一次接收射束聚焦并且作为二次接收射束指向射束分配光学镜。二次接收射束的光轴同轴于二次激光射束的光轴。二次接收射束至少部分地被射束分配光学镜反射并且反射的部分作为三次接收射束沿光轴指向检测器。射束分配光学镜负责将三次接收射束的光轴与一次激光射束的光轴相互区别开。

射束源和射束整形光学镜构成为在其容纳座中至少在调整测量装置期间分别沿一个平行于所属光轴延伸的向前和/或向后方向是可调节的，其中向前和/或向后方向也被称为调节方向。射束源和射束整形光学镜在调整测量装置期间只是沿各自的调节方向是可调节的，并没有设置沿一个垂直于光轴的平面方向的可调节性。

借助一个光学仪器实现测量装置的调整，该光学仪器包括一个透镜和一个设置在该透镜的焦平面中的数字摄像头芯片。该光学仪器被调节到期望的物距，其中物距可以被调节到例如10m的有限间距或一个无限间距。测量装置被如此地设置在所述透镜前面，以致该透镜采集三次激光射束和检测器的有效面的图像并且成像在该摄像头芯片上。不仅激光射束而且检测器的有效面的图像都同时表示在摄像头芯片上。

测量装置的调整以两个步骤实现：在第一步骤中，沿着其各自的调节方向调整在光学镜支架中的光学组件，并且在调整光学镜支架之后在第二步骤中，在一个垂直于配属的光轴的平面中，调整检测器。在光学镜支架中的第一和第二容纳座如此构成，以致电光组件和射束整形光学镜只是沿其调节方向是可调节的，在垂直于光轴的平面中的调节是不可能的。

在第一步骤中，首先将射束分配光学镜放入到第三容纳座中并且将其固定在光学镜支架上。连接可以构成为可松脱的或不可松脱的。随后射束源和射束整形光学镜被放入到其容纳座中。为了调整射束整形光学镜和射束源，具有检测器的电路板按止挡方式与光学镜支架相配并且借助连接装置可松脱地与光学镜支架相连接。

射束整形光学镜沿其调节方向被移动，直到调节到期望的物距的光学仪器通过射束整形光学镜检测到检测器的有效面的一个清晰的图像，其中该图像在高对比度时是清晰的。在最大的图像清晰度的情况下，射束整形光学镜关于检测器的有效面被调整到期望的间距，该间距与光学仪器的物距一致。用于射束整形光学镜的第二容纳座构成为例如压配合并且射束整形光学镜通过压配合的夹紧力被固定；射束整形光学镜沿调节方向的移动在克服压配合的夹紧力的足够大的压力情况下进行。备选地或除了压配合之外，射束整形光学镜可以材料锁合地例如借助粘合连接与光学镜支架相连接。

在射束整形光学镜之后调整射束源。射束源发出一个激光射束，借助所述光学仪器对该激光射束进行监测。射束源沿所述方向被移动，直到该光学仪器通过射束整形光学镜检测到激光射束的一个最小的焦点。在这种情况下，激光射束的射束腰位于期望的间距中。用于射束源的第一容纳座例如构成为压配合并且射束源通过压配合的夹紧力被固定；射束源沿调节方向的移动在克服压配合的夹紧力的足够大的压力情况下进行。备选地或除了压配合之外，射束源可以材料锁合地例如借助粘合连接与光学镜支架相连接。

在调整光学镜支架之后调整检测器。因为检测器不可松脱地经由钎焊连接与电路板相连接，检测器相对于光学镜支架的调整经由电路板实现。为此，构成为至少在调整测量装置期间可松脱的连接装置在光学镜支架与电路板之间被松脱。射束源被接通并且发出一个激光射束，它连同有效的检测器面的图像一起被光学仪器采集。激光射束在摄像头芯片上形成一个焦点而有效的检测器面形成一个清晰的图像，它被叠加给该激光射束的焦点。电路板在垂直于三次接收射束的光轴取向的平面中按止挡方式随光学镜支架被移动，直到激光射束的焦点在摄像头芯片上位于检测器的有效面的一个确定的区域中。在此，激光射束的焦点的位置与一个聚焦到光电二极管上的接收射束的位置一致，该接收射束被一个设置在光学仪器的物距中的目标物体散射。

随后，将调整的电路板与光学镜支架相连接。该持久的连接通过两个步骤实现。在第一步骤中，电路板经由粘合连接无力地与光学镜支架相连接。在第二步骤中，电路板经由螺纹连接与光学镜支架相连接。备选的是，可以首先将电路板在足够的接触压力条件下拧紧并且随后用胶合剂附加地对其进行加固。

在粘合时，力被平面地从一个传递到另一个连接对象。粘合连接不需要改变连接对象并且在很多情况下可以不伤害连接对象地进行逆操作。但是粘合连接可能在温度影响下发生变化。在低温时可能导致粘合连接脆化而在高温下导致粘合连接软化。在螺纹连接中在连接对象上产生应力集中，而其间的空间几乎不进行力传递。有利的是，螺纹连接只经受小的温度影响。此外，螺纹连接在光学镜支架和电路板之间产生一种电连接。

本发明人发现，上述技术方案中，测量装置的调整以两个步骤实现：在第一步骤中，沿着其各自的调节方向调整在光学镜支架中的光学组件，并且在调整光学镜支架之后在第二步骤中，在一个垂直于配属的光轴的平面中，调整检测器。其中，检测器相对于光学镜支架的调整经由电路板的调整而实现。

由于电路板上面布置着许多电子元件，调整电路板可能导致电子元件脱焊。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种激光测距仪，通过调节射束分配光学镜的方法实现对测量装置的微调。

本实用新型采用的技术方案是：一种激光测距仪，用于测量基准标记与目标物体(1)之间的距离；所述激光测距仪包括一个射束源、一个光电检测器(2)、至少一个射束整形光学镜(3)、一个光学镜支架(4)、电路板(5)、一个射束分配光学镜(6)和一个连接装置(7)；所述射束源包括第一电光组件(11)，用于沿一个光轴发出一个激光射束，所述光电检测器包括第二电光组件，用于沿一个光轴接收由所述目标物体反射的和/或散射的接收射束，所述射束整形光学镜用于沿一个光轴形成一个激光射束(12)和/或一个接收射束(13)，所述光学镜支架具有一个用于固定所述第一电光组件(11)的第一容纳座(41)和一个用于固定所述至少一个射束整形光学镜的第二容纳座(42)，所述电路板具有一个用于固定所述第二电光组件的另外的容纳座(51)，所述连接装置用于将光学镜支架与电路板相连接；

其特征在于，所述射束分配光学镜装配在一个调节支架(8)上，所述光学镜支架具有一个用于固定所述调节支架的第三容纳座(45)；在调整激光测距仪期间，设置在光学镜支架中的所述第一电光组件沿配属的光轴方向相对于光学镜支架是可调节的，并且可固定在所调整的位置；另，装配在所述调节支架上的所述射束分配光学镜相对于光学镜支架是可调节的，并且可固定在所调整的位置。

进一步地，所述调节支架包括一摆体结构(81)，所述第三容纳座(45)上设有与所述摆体结构配合的承摆孔(451)，所述射束分配光学镜(6)装配在所述摆体结构上；通过调节所述摆体结构在所述承摆孔内轻微摆动，使得所述摆体结构上的射束分配光学镜也跟随摆动，从而调节所述射束分配光学镜配属的光轴的方向。

特别地，所述摆体结构(81)包括用于固定所述射束分配光学镜的位移板(811)和与所述承摆孔(451)配合的球壳状凸沿(812)，所述球壳状凸沿能够在所述承摆孔内轻微的摆动；所述位移板设有至少三个调节孔(813)，每个调节孔均设有配套的调节丝杆(814)和螺纹；所述第三容纳座上设有与所述调节孔配合的安装孔(452)，所述摆体和所述第三容纳座通过所述调节孔、安装孔以及配套的调节丝杆和螺纹连接；调节任一调节丝杆，所述位移板的位置均能够得到轻微的调节，使得所述位移板上的射束分配光学镜也跟随摆动，从而调节所述射束分配光学镜配属的光轴的方向。

可选地，所述第二电光组件设置在电路板的一个朝向所述光学镜支架的前面位置，并且固定地与电路板相连接；在调整激光测距仪期间，所述电路板在基本上垂直于所述第二电光组件的配属的光轴的平面中相对于光学镜支架是可调节的，并且可固定在所调整的位置。

可选的，所述第二电光组件设置在电路板的一个背向光学镜支架的后面位置；在调整激光测距仪期间，所述第二电光组件相对于电路板在基本上垂直于所述第二电光组件的配属的光轴的平面中是可调节的，并且可固定在所调整的位置。

特别地，在调整激光测距仪期间，设置在光学镜支架中的所述射束整形光学镜沿配属的光轴方向相对于光学镜支架是可调节的，并且可固定在所调整的位置。

特别地，将光学镜支架的第一接触面与电路板的第二接触面相连接的所述连接装置构成为螺纹连接。

特别地，将光学镜支架的第一接触面与电路板的第二接触面相连接的所述连接装置构成为粘合和螺纹连接。

本实用新型激光测距仪的调整方法，可以包括如下步骤：

沿着调节方向调整在光学镜支架(4)中的第一电光组件(11)；

固定光电检测器(2)到电路板(5)上；

通过调节支架(8)调整射束分配镜的角度，使得激光射束(12)与接收射束(13)为同轴。

沿着调节方向调整在光学镜支架(4)中的射束整形光学镜(3)。

本实用新型的有益效果在于：本实用新型巧妙的通过调节支架调节射束分配光学镜，实现对激光测距仪的调整，克服了现有技术中通过调整电路板来实现对激光测距仪调整的缺点。

附图说明

图1为本实用新型的实施例1的结构示意图；实施例1为具有一个射束源、一个光电检测器和一个射束分配光学镜的同轴激光测距仪，射束源被放入到光学镜支架中，光电检测器被设置在电路板的朝向光学镜支架的前面位置并且在调整激光测距仪期间固定地与电路板相连接。

图2为本实用新型的调节支架的三维立体结构示意图；

图3为本实用新型的调节支架的爆炸示意图；

图4为本实用新型的调节支架的剖面结构示意图；

图5为具有一个射束源、一个光电检测器和一个射束分配光学镜的同轴激光测距仪的实施例2，射束源被放入到光学镜支架中，光电检测器被设置在电路板的背向光学镜支架的后面位置并且在调整激光测距仪期间相对于电路板是可调节的。

具体实施方式

下面将结合附图，对实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型中的术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本实用新型的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

如图1、图2、图3、图4所示的实施例1，一种激光测距仪，用于测量基准标记与目标物体(1)之间的距离；所述激光测距仪包括一个射束源、一个光电检测器(2)、至少一个射束整形光学镜(3)、一个光学镜支架(4)、电路板(5)、一个射束分配光学镜(6)和一个连接装置(7)；所述射束源包括第一电光组件(11)，用于沿一个光轴发出一个激光射束，所述光电检测器包括第二电光组件，用于沿一个光轴接收由所述目标物体反射的和/或散射的接收射束，所述射束整形光学镜用于沿一个光轴形成一个激光射束(12)和/或一个接收射束(13)，所述光学镜支架具有一个用于固定所述第一电光组件(11)的第一容纳座(41)和一个用于固定所述至少一个射束整形光学镜的第二容纳座(42)，所述电路板具有一个用于固定所述第二电光组件的另外的容纳座(51)，所述连接装置用于将光学镜支架的第一接触面与电路板的第二接触面(52)相连接；

所述射束分配光学镜装配在一个调节支架(8)上，所述光学镜支架具有一个用于固定所述调节支架的第三容纳座(45)；在调整激光测距仪期间，设置在光学镜支架中的所述第一电光组件沿配属的光轴方向相对于光学镜支架是可调节的，并且可固定在所调整的位置；另，装配在所述调节支架上的所述射束分配光学镜相对于光学镜支架是可调节的，并且可固定在所调整的位置。

所述调节支架包括一摆体结构(81)，所述第三容纳座(45)上设有与所述摆体结构配合的承摆孔(451)，所述射束分配光学镜(6)装配在所述摆体结构上；通过调节所述摆体结构在所述承摆孔内轻微摆动，使得所述摆体结构上的射束分配光学镜也跟随摆动，从而调节所述射束分配光学镜配属的光轴的方向。

所述摆体结构(81)包括用于固定所述射束分配光学镜的位移板(811)和与所述承摆孔 (451)配合的球壳状凸沿(812)，所述球壳状凸沿能够在所述承摆孔内轻微的摆动；所述位移板设有至少三个调节孔(813)，每个调节孔均设有配套的调节丝杆(814)和螺纹；所述第三容纳座上设有与所述调节孔配合的安装孔(452)，所述摆体和所述第三容纳座通过所述调节孔、安装孔以及配套的调节丝杆和螺纹连接；调节任一调节丝杆，所述位移板的位置均能够得到轻微的调节，使得所述位移板上的射束分配光学镜也跟随摆动，从而调节所述射束分配光学镜配属的光轴的方向。

所述第二电光组件设置在电路板的一个朝向所述光学镜支架的前面位置，并且固定地与电路板相连接。

在调整激光测距仪期间，设置在光学镜支架中的所述射束整形光学镜沿配属的光轴方向相对于光学镜支架是可调节的，并且可固定在所调整的位置。

将光学镜支架的第一接触面与电路板的第二接触面(52)相连接的所述连接装置可以为粘合和螺纹连接。

在调整激光测距仪期间，射束源(或第一电光组件(11))和射束整形光学镜(3)分别沿一个平行于所属光轴延伸的向前和/或向后方向是可调节的，其中向前和/或向后方向也被称为调节方向。

实施例1公开的激光测距仪的调整方法如下：

沿着调节方向调整在光学镜支架(4)中的第一电光组件(11)；

固定光电检测器(2)到电路板(5)上；

通过调节支架(8)调整射束分配镜的角度，使得激光射束(12)与接收射束(13)为同轴。

沿着调节方向调整在光学镜支架(4)中的射束整形光学镜(3)。

如图1、图2、图3、图5所示的实施例2，它与实施例1的区别在于射束源(或第一电光组件(11))和光电检测器(2)(或第二电光组件)的配置。不同于实施例1，射束源设置在电路板上而光电检测器设置在光学镜支架中。

实施例2包括光学镜支架以及电路板5，在光学镜支架中设置有包括第一电光组件的检测器2、射束整形光学镜3和射束分配光学镜6，在电路板上设置有作为第二电光组件的射束源11。电路板5经由连接装置7至少在调整激光测距仪21期间可拆卸地与光学镜支架4相连接。

实施例2的调整方法如下：

沿着调节方向调整在光学镜支架(4)中的第一电光组件(11)；

固定光电检测器(2)到电路板(5)上；

通过调节支架(8)调整射束分配镜的角度，使得激光射束与接收射束为同轴。

沿着调节方向调整在光学镜支架(4)中的射束整形光学镜(3)。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种激光测距仪，用于测量基准标记与目标物体(1)之间的距离；所述激光测距仪包括一个射束源、一个光电检测器(2)、至少一个射束整形光学镜(3)、一个光学镜支架(4)、电路板(5)、一个射束分配光学镜(6)和一个连接装置(7)；所述射束源包括第一电光组件(11)，用于沿一个光轴发出一个激光射束，所述光电检测器包括第二电光组件，用于沿一个光轴接收由所述目标物体反射的和/或散射的接收射束，所述射束整形光学镜用于沿一个光轴形成一个激光射束(12)和/或一个接收射束(13)，所述光学镜支架具有一个用于固定所述第一电光组件(11)的第一容纳座(41)和一个用于固定所述至少一个射束整形光学镜的第二容纳座(42)，所述电路板具有一个用于固定所述第二电光组件的另外的容纳座(51)，所述连接装置用于将光学镜支架与电路板相连接；

其特征在于，所述射束分配光学镜装配在一个调节支架(8)上，所述光学镜支架具有一个用于固定所述调节支架的第三容纳座(45)；在调整激光测距仪期间，设置在光学镜支架中的所述第一电光组件沿配属的光轴方向相对于光学镜支架是可调节的，并且可固定在所调整的位置；另，装配在所述调节支架上的所述射束分配光学镜相对于光学镜支架是可调节的，并且可固定在所调整的位置。

2.根据权利要求1所述的激光测距仪，其特征在于，所述调节支架包括一摆体结构(81)，所述第三容纳座(45)上设有与所述摆体结构配合的承摆孔(451)，所述射束分配光学镜(6)装配在所述摆体结构上；通过调节所述摆体结构在所述承摆孔内轻微摆动，使得所述摆体结构上的射束分配光学镜也跟随摆动，从而调节所述射束分配光学镜配属的光轴的方向。

3.根据权利要求2所述的激光测距仪，其特征在于，所述摆体结构(81)包括用于固定所述射束分配光学镜的位移板(811)和与所述承摆孔(451)配合的球壳状凸沿(812)，所述球壳状凸沿能够在所述承摆孔内轻微的摆动；所述位移板设有至少三个调节孔(813)，每个调节孔均设有配套的调节丝杆(814)和螺纹；所述第三容纳座上设有与所述调节孔配合的安装孔(452)，所述摆体和所述第三容纳座通过所述调节孔、安装孔以及配套的调节丝杆和螺纹连接；调节任一调节丝杆，所述位移板的位置均能够得到轻微的调节，使得所述位移板上的射束分配光学镜也跟随摆动，从而调节所述射束分配光学镜配属的光轴的方向。

4.根据权利要求1所述的激光测距仪，其特征在于，所述第二电光组件设置在电路板的一个朝向所述光学镜支架的前面位置；在调整激光测距仪期间，所述电路板在基本上垂直于所述第二电光组件的配属的光轴的平面中相对于光学镜支架是可调节的。

5.根据权利要求1所述的激光测距仪，其特征在于，所述第二电光组件设置在电路板的一个背向光学镜支架的后面位置；在调整激光测距仪期间，所述第二电光组件相对于电路板在基本上垂直于所述第二电光组件的配属的光轴的平面中是可调节的。

6.根据权利要求2所述的激光测距仪，其特征在于，在调整激光测距仪期间，设置在光学镜支架中的所述射束整形光学镜沿配属的光轴方向相对于光学镜支架是可调节的，并且可固定在所调整的位置。

7.根据权利要求1至6之一所述的激光测距仪，其特征在于，将光学镜支架与电路板相连接的所述连接装置为螺纹连接。

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