JP2002251424A - レイアウト設計方法、装置、プログラム及び記録媒体 - Google Patents

レイアウト設計方法、装置、プログラム及び記録媒体

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JP2002251424A
JP2002251424A JP2001046557A JP2001046557A JP2002251424A JP 2002251424 A JP2002251424 A JP 2002251424A JP 2001046557 A JP2001046557 A JP 2001046557A JP 2001046557 A JP2001046557 A JP 2001046557A JP 2002251424 A JP2002251424 A JP 2002251424A
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layout
circuit connection
terminal
placement
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Risako Shiobara
理砂子 塩原
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 配置配線を完全に終了する前に、LVSによ
るレイアウト検証を行うことができるレイアウト検証方
法及び装置を提供する。 【解決手段】 回路接続情報作成部12は、半導体集積
回路の設計情報より回路接続情報を作成する。配置配線
部13は、回路接続情報より、セルの配置及びセル間の
配線を設定した配置配線結果を作成する。浮き端子接続
情報修正部15は、配置配線結果の中の未配線のネット
で接続されるべきセルの端子に対応する外部端子を追加
し、セルの端子とその端子に対応する外部端子とを接続
するように回路接続情報を修正する。浮き端子テキスト
付加部16は、外部端子に端子名を付与する。レイアウ
ト検証部14は、修正後の回路接続情報を用いてレイア
ウト検証を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路の
設計に関し、特に、レイアウト設計を行う方法及び装置
する。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路のレイアウト設計では、
IOブロックの配置、電源幹線及びクロック幹線のレイ
アウト、基本論理ブロックなどのレイアウトライブラリ
の作成、回路全体の配置配線等が行われる。そして配置
配線を行った後に、LVS(Layout versu
s Schematic)を行い、レイアウト設計の結
果を評価する。
【0003】LVSでエラーが発生すれば、その原因と
なっているセルのレイアウトを修正して配置配線しなお
し、再度LVSを行う。LVSでエラーが発生しなくな
るまで、この作業が繰り返される。
【0004】図4を参照すると、従来のレイアウト設計
装置40はデータベース41、回路接続情報作成部4
2、配置配線部43及びレイアウト検証部44を有す
る。
【0005】データベース41は、基本論理ブロックや
IOブロック、電源幹線、クロック幹線に関するライブ
ラリ情報と、回路接続情報と、回路接続情報に対応づけ
られた配置配線結果の図形情報を記憶する。
【0006】回路接続情報作成部42は、半導体集積回
路の設計情報から回路接続情報を作成し、データベース
41に記録する。
【0007】配置配線部43は、回路接続情報をデータ
ベース41より取り出し、それを元にセルを配置し、セ
ル間を接続し、配置配線結果をデータべース41に記録
する。
【0008】レイアウト検証部44は、データベース4
1より取り出した配置配線結果とライブラリ情報のマス
クレイアウトを合わせてLVSによりレイアウト設計の
結果を検証する。
【0009】従来のレイアウト設計装置40の動作につ
いて説明する。
【0010】図5を参照すると、レイアウト設計装置4
0は、先ず、回路接続情報作成部42で、半導体集積回
路の回路接続情報を作成する(ステップ51)。次に、
レイアウト設計装置40は、配置配線部43で、回路接
続情報を元に半導体集積回路の配置配線を行なう(ステ
ップ52)。次に、レイアウト設計装置40は、回路接
続情報の中に未配線のネットがあるか否か判定する(ス
テップ53)。
【0011】未配線のネットがあれば、レイアウト設計
装置40はステップ52に戻り、配置配線を再度行う。
未配線のネットがなければ、レイアウト設計装置40
は、レイアウト検証部44で、LVSを行い(ステップ
54)、エラーがあるか否か判定する(ステップ5
5)。
【0012】エラーがあれば、レイアウト設計装置40
は、ライブラリに登録されたセルのレイアウト情報を修
正(ステップ56)し、ステップ52に戻り、配置配線
を再度行う。エラーがなければ、レイアウト設計装置4
0は、マスクを作成(ステップ57)して処理を終了す
る。
【0013】以上、ステップ51からステップ57の工
程を経てレイアウト設計が完了する。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】図4のレイアウト設計
装置40では、全ネットを完全に配線しきれない場合が
しばしば発生する。即ち、未配線のネットが残ることが
よくある。未配線を残したままの配置配線結果と、元の
回路接続情報とでLVSを行なうと、レイアウトが回路
接続情報と等価でないため、大量のエラーが出力され
る。そのため、それ以外のエラーの解析が困難であり、
事実上、レイアウト検証が不可能である。したがって、
LVSを行う前には、未配線のネットが無くなるまで配
置配線を繰り返す必要があり、配置配線を始めてからL
VSできる状態となるまでに相当の時間がかかってい
た。
【0015】本発明の目的は、配置配線を完全に終了す
る前に、LVSによるレイアウト検証を行うことができ
るレイアウト検証方法及び装置を提供することである。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のレイアウト設計方法は、半導体集積回路の
レイアウト設計を行うためのレイアウト設計方法であっ
て、前記半導体集積回路の設計情報より回路接続情報を
作成するステップと、前記回路接続情報より、セルの配
置及び前記セル間の配線を設定した配置配線結果を作成
するステップと、前記配置配線結果の中の未配線のネッ
トで接続されるべき前記セルの端子を外部端子に接続す
るように前記回路接続情報を修正するステップと、修正
後の前記回路接続情報を用いてレイアウト検証を行うス
テップを有する。
【0017】本発明によれば、配置配線結果に未配線が
ある状態で、浮き端子を外部端子とするように回路接続
情報を修正するので、回路接続情報がレイアウト情報と
等価となり、LVSを行うことが可能となる。
【0018】本発明の他のレイアウト設計方法は、半導
体集積回路のレイアウト設計を行うためのレイアウト設
計方法であって、前記半導体集積回路の設計情報より回
路接続情報を作成するステップと、前記回路接続情報よ
り、セルの配置及び前記セル間の配線を設定した配置配
線結果を作成するステップと、前記配置配線結果の中の
未配線のネットで接続されるべき前記セルの端子に対応
する外部端子を追加し、前記セルの端子と該端子に対応
する前記外部端子とを接続するように前記回路接続情報
を修正するステップと、前記外部端子に端子名を付与す
るステップと、修正後の前記回路接続情報を用いてレイ
アウト検証を行うステップを有する。
【0019】本発明のレイアウト設計装置は、半導体集
積回路のレイアウト設計を行うレイアウト設計装置であ
って、前記半導体集積回路の設計情報より回路接続情報
を作成する回路接続情報作成手段と、前記回路接続情報
より、セルの配置及び前記セル間の配線を設定した配置
配線結果を作成する配置配線手段と、前記配置配線結果
の中の未配線のネットで接続されるべき前記セルの端子
を外部端子に接続するように前記回路接続情報を修正す
る浮き端子接続情報修正手段と、修正後の前記回路接続
情報を用いてレイアウト検証を行うレイアウト検証手段
を有する。
【0020】本発明の他のレイアウト設計装置は、半導
体集積回路のレイアウト設計を行うレイアウト設計装置
であって、前記半導体集積回路の設計情報より回路接続
情報を作成する回路接続情報作成手段と、前記回路接続
情報より、セルの配置及び前記セル間の配線を設定した
配置配線結果を作成する配置配線手段と、前記配置配線
結果の中の未配線のネットで接続されるべき前記セルの
端子に対応する外部端子を追加し、前記セルの端子と該
端子に対応する前記外部端子とを接続するように前記回
路接続情報を修正する浮き端子接続情報修正手段と、前
記外部端子に端子名を付与する浮き端子テキスト付加手
段と、修正後の前記回路接続情報を用いてレイアウト検
証を行うレイアウト検証手段を有する。
【0021】本発明のプログラムは、半導体集積回路の
レイアウト設計を行うためのレイアウト設計プログラム
であって、前記半導体集積回路の設計情報より回路接続
情報を作成する処理と、前記回路接続情報より、セルの
配置及び前記セル間の配線を設定した配置配線結果を作
成する処理と、前記配置配線結果の中の未配線のネット
で接続されるべき前記セルの端子を外部端子に接続する
ように前記回路接続情報を修正する処理と、修正後の前
記回路接続情報を用いてレイアウト検証を行う処理を有
する。
【0022】本発明の他のプログラムは、半導体集積回
路のレイアウト設計を行うためのレイアウト設計プログ
ラムであって、前記半導体集積回路の設計情報より回路
接続情報を作成する処理と、前記回路接続情報より、セ
ルの配置及び前記セル間の配線を設定した配置配線結果
を作成する処理と、前記配置配線結果の中の未配線のネ
ットで接続されるべき前記セルの端子に対応する外部端
子を追加し、前記セルの端子と該端子に対応する前記外
部端子とを接続するように前記回路接続情報を修正する
処理と、前記外部端子に端子名を付与する処理と、修正
後の前記回路接続情報を用いてレイアウト検証を行う処
理を有する。
【0023】
【発明の実施の形態】本発明の一実施形態について図面
を参照して詳細に説明する。
【0024】図1を参照すると、本実施形態のレイアウ
ト設計装置10はデータベース11、回路接続情報作成
部12、配置配線部13、レイアウト検証部14、浮き
端子接続情報修正部15及び浮き端子テキスト付加部1
6を有する。
【0025】データベース11は、基本論理ブロックや
IOブロック、電源幹線、クロック幹線に関するライブ
ラリ情報と、回路接続情報と、回路接続情報に対応づけ
られた配置配線結果の図形情報を記憶する。
【0026】回路接続情報作成部12は、半導体集積回
路の設計情報より回路接続情報を作成し、データベース
11に記録する。
【0027】配置配線部13は、回路接続情報をデータ
ベース11より取り出し、それを元にセルを配置し、セ
ル間を接続し、配置配線結果をデータべース11に記録
する。
【0028】浮き端子接続情報修正部15は、データベ
ース11より配置配線結果を取り出し、未配線のネット
を抽出し、そのネットで接続されるべきセルの端子(以
下、浮き端子と称す)に対応する外部端子を追加し、浮
き端子と外部端子を接続する。
【0029】浮き端子テキスト付加部16は、浮き端子
接続情報修正部15により追加された外部端子に端子名
をテキストで付与する。
【0030】レイアウト検証部14は、データベース1
1より取り出した配置配線結果とライブラリ情報のマス
クレイアウトとを合わせてLVSによりレイアウト設計
の結果を検証する。レイアウト検証部14は、LVSに
用いる回路接続情報として、浮き端子に対する修正前或
は修正後のいずれかのものを選択できる。
【0031】次に、本実施形態のレイアウト設計装置1
0の動作について説明する。
【0032】図2を参照すると、レイアウト設計装置1
0は、先ず、回路接続情報作成部12で、半導体集積回
路の回路接続情報を作成する(ステップ21)。次に、
レイアウト設計装置10は、配置配線部13で、回路接
続情報を元に半導体集積回路の配置配線を行なう(ステ
ップ22)。次に、レイアウト設計装置10は、回路接
続情報の中に未配線のネットがあるか否か判定する(ス
テップ23)。
【0033】未配線のネットがあれば、レイアウト設計
装置10は、浮き端子接続情報修正部15で、半導体集
積回路全体を通して重複しないようなネット名を浮き端
子に付与し、それらネットに対応する外部端子を追加
し、更に浮き端子テキスト付加部16で、対応するネッ
トのネット名と同じ端子名を、それらの外部端子にテキ
ストで付与する(ステップ24)。
【0034】次に、レイアウト設計装置10は、レイア
ウト検証部14で、修正された回路接続情報を用いてL
VSを行う(ステップ25)。
【0035】エラーがあれば、レイアウト設計装置10
は、ライブラリに登録されたセルのレイアウト情報を修
正(ステップ26)し、ステップ22に戻り、配置配線
を再度行う。
【0036】未配線のない配置配線結果が得られたら、
レイアウト設計装置10は、レイアウト検証部14でL
VSを行う(ステップ27)。エラーがなければ、レイ
アウト設計装置10は、マスクを作成(ステップ28)
して処理を終了する。
【0037】以上、ステップ21からステップ28の工
程を経てレイアウト設計が完了する。
【0038】なお、図示しないが、ステップ27のLV
Sでエラーがあれば、ライブラリに登録されたセルのレ
イアウト情報を修正して配置配線を再度行うことは、従
来のレイアウト設計装置40と同じである。
【0039】次に、具体例を用いてレイアウト設計装置
10の動作を説明する。
【0040】図3は、回路基板上のセル配置の一例を示
す平面図である。
【0041】図3の例では、回路基板上にセル31,3
2,33,34が配置されている。各セル31,32,
33,34はそれぞれ端子35,36,37,38を有
する。
【0042】ここで、LVSを行った結果、端子35,
36,38を結ぶネットAが未配線となってたとする。
レイアウト設計装置10は、まず、浮き端子接続情報修
正部15で、端子35,36,38を浮き端子として抽
出し、ネット名を付与する。例えば、端子35,36,
38に、それぞれ“A_1”、“A_2”、“A_3”
のネット名を付与する。そして、レイアウト設計装置1
0は、浮き端子接続情報修正部15で、端子35,3
6,38に接続する外部端子を追加する。
【0043】次に、レイアウト設計装置10は、浮き端
子テキスト付加部16で、端子35,36,38に、そ
れぞれ“A_1”、“A_2”、“A_32”という端
子名のテキストを配置する。
【0044】本実施形態のレイアウト設計装置10によ
れば、配置配線結果に未配線がある状態で、浮き端子接
続修正部15が浮き端子を外部端子とするように回路接
続情報を修正し、浮き端子テキスト付加部16がその浮
き端子にテキストを付加するので、回路接続情報がレイ
アウト情報と等価となり、LVSを行うことが可能とな
るので、配置配線を完全に終了する前に、LVSによる
レイアウト検証を行うことができる。
【0045】なお、本実施形態のレイアウト設計装置1
0は、図1の回路接続情報作成部12、配置配線部1
3、レイアウト検証部14、浮き端子接続情報修正部1
5及び浮き端子テキスト付加部16の処理を有するプロ
グラムを実行するコンピュータであってもよい。その場
合、例えば、レイアウト設計装置10は、記録媒体から
プログラムを読み取り記憶した後に、これを実行する。
【0046】
【発明の効果】本発明によれば、配置配線結果に未配線
がある状態で、浮き端子を外部端子とするように回路接
続情報を修正するので、回路接続情報がレイアウト情報
と等価となり、LVSを行うことが可能となるので、配
置配線を完全に終了する前に、LVSによるレイアウト
検証を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態のレイアウト設計装置の構
成を示すブロック図である。
【図2】本実施形態のレイアウト設計装置の動作を示す
フローチャートである。
【図3】回路基板上のセル配置の一例を示す平面図であ
る。
【図4】従来のレイアウト設計装置の構成を示すブロッ
ク図である。
【図5】従来のレイアウト設計装置の動作を示すフロー
チャートである。
【符号の説明】
10 レイアウト設計装置 11 データベース 12 回路接続情報作成部 13 配置配線部 14 レイアウト検証部 15 浮き端子接続情報修正部 16 浮き端子テキスト付加部 31,32,33,34 セル 35,36,37,38 端子 21〜28 ステップ

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体集積回路のレイアウト設計を行う
    ためのレイアウト設計方法であって、 前記半導体集積回路の設計情報より回路接続情報を作成
    するステップと、 前記回路接続情報より、セルの配置及び前記セル間の配
    線を設定した配置配線結果を作成するステップと、 前記配置配線結果の中の未配線のネットで接続されるべ
    き前記セルの端子を外部端子に接続するように前記回路
    接続情報を修正するステップと、 修正後の前記回路接続情報を用いてレイアウト検証を行
    うステップを有するレイアウト設計方法。
  2. 【請求項2】 半導体集積回路のレイアウト設計を行う
    ためのレイアウト設計方法であって、 前記半導体集積回路の設計情報より回路接続情報を作成
    するステップと、 前記回路接続情報より、セルの配置及び前記セル間の配
    線を設定した配置配線結果を作成するステップと、 前記配置配線結果の中の未配線のネットで接続されるべ
    き前記セルの端子に対応する外部端子を追加し、前記セ
    ルの端子と該端子に対応する前記外部端子とを接続する
    ように前記回路接続情報を修正するステップと、 前記外部端子に端子名を付与するステップと、 修正後の前記回路接続情報を用いてレイアウト検証を行
    うステップを有するレイアウト設計方法。
  3. 【請求項3】 半導体集積回路のレイアウト設計を行う
    レイアウト設計装置であって、 前記半導体集積回路の設計情報より回路接続情報を作成
    する回路接続情報作成手段と、 前記回路接続情報より、セルの配置及び前記セル間の配
    線を設定した配置配線結果を作成する配置配線手段と、 前記配置配線結果の中の未配線のネットで接続されるべ
    き前記セルの端子を外部端子に接続するように前記回路
    接続情報を修正する浮き端子接続情報修正手段と、 修正後の前記回路接続情報を用いてレイアウト検証を行
    うレイアウト検証手段を有するレイアウト設計装置。
  4. 【請求項4】 半導体集積回路のレイアウト設計を行う
    レイアウト設計装置であって、 前記半導体集積回路の設計情報より回路接続情報を作成
    する回路接続情報作成手段と、 前記回路接続情報より、セルの配置及び前記セル間の配
    線を設定した配置配線結果を作成する配置配線手段と、 前記配置配線結果の中の未配線のネットで接続されるべ
    き前記セルの端子に対応する外部端子を追加し、前記セ
    ルの端子と該端子に対応する前記外部端子とを接続する
    ように前記回路接続情報を修正する浮き端子接続情報修
    正手段と、 前記外部端子に端子名を付与する浮き端子テキスト付加
    手段と、 修正後の前記回路接続情報を用いてレイアウト検証を行
    うレイアウト検証手段を有するレイアウト設計装置。
  5. 【請求項5】 半導体集積回路のレイアウト設計を行う
    ためのレイアウト設計プログラムであって、 前記半導体集積回路の設計情報より回路接続情報を作成
    する処理と、 前記回路接続情報より、セルの配置及び前記セル間の配
    線を設定した配置配線結果を作成する処理と、 前記配置配線結果の中の未配線のネットで接続されるべ
    き前記セルの端子を外部端子に接続するように前記回路
    接続情報を修正する処理と、 修正後の前記回路接続情報を用いてレイアウト検証を行
    う処理を有するレイアウト設計プログラム。
  6. 【請求項6】 半導体集積回路のレイアウト設計を行う
    ためのレイアウト設計プログラムであって、 前記半導体集積回路の設計情報より回路接続情報を作成
    する処理と、 前記回路接続情報より、セルの配置及び前記セル間の配
    線を設定した配置配線結果を作成する処理と、 前記配置配線結果の中の未配線のネットで接続されるべ
    き前記セルの端子に対応する外部端子を追加し、前記セ
    ルの端子と該端子に対応する前記外部端子とを接続する
    ように前記回路接続情報を修正する処理と、 前記外部端子に端子名を付与する処理と、 修正後の前記回路接続情報を用いてレイアウト検証を行
    う処理を有するレイアウト設計プログラム。
  7. 【請求項7】 コンピュータに、半導体集積回路のレイ
    アウト設計を行わせるためのプログラムを記録した記録
    媒体であって、 前記半導体集積回路の設計情報より回路接続情報を作成
    する処理と、 前記回路接続情報より、セルの配置及び前記セル間の配
    線を設定した配置配線結果を作成する処理と、 前記配置配線結果の中の未配線のネットで接続されるべ
    き前記セルの端子を外部端子に接続するように前記回路
    接続情報を修正する処理と、 修正後の前記回路接続情報を用いてレイアウト検証を行
    う処理を有するプログラムを記録した記録媒体。
  8. 【請求項8】 コンピュータに、半導体集積回路のレイ
    アウト設計を行わせるためのプログラムを記録した記録
    媒体であって、 前記半導体集積回路の設計情報より回路接続情報を作成
    する処理と、 前記回路接続情報より、セルの配置及び前記セル間の配
    線を設定した配置配線結果を作成する処理と、 前記配置配線結果の中の未配線のネットで接続されるべ
    き前記セルの端子に対応する外部端子を追加し、前記セ
    ルの端子と該端子に対応する前記外部端子とを接続する
    ように前記回路接続情報を修正する処理と、 前記外部端子に端子名を付与する処理と、 修正後の前記回路接続情報を用いてレイアウト検証を行
    う処理を有するプログラムを記録した記録媒体。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN100433953C (zh) * 2003-08-05 2008-11-12 华为技术有限公司 检查比较电路原理图和pcb布线图一致性的方法和装置
CN107390112A (zh) * 2017-07-05 2017-11-24 上海华虹宏力半导体制造有限公司 检测有源区软连接节点的方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100433953C (zh) * 2003-08-05 2008-11-12 华为技术有限公司 检查比较电路原理图和pcb布线图一致性的方法和装置
CN107390112A (zh) * 2017-07-05 2017-11-24 上海华虹宏力半导体制造有限公司 检测有源区软连接节点的方法

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