JP2002245604A - 磁気ヘッド及びその製造方法 - Google Patents
磁気ヘッド及びその製造方法Info
- Publication number
- JP2002245604A JP2002245604A JP2001037424A JP2001037424A JP2002245604A JP 2002245604 A JP2002245604 A JP 2002245604A JP 2001037424 A JP2001037424 A JP 2001037424A JP 2001037424 A JP2001037424 A JP 2001037424A JP 2002245604 A JP2002245604 A JP 2002245604A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic
- glass
- groove
- magnetic head
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】
【課題】 MIG型磁気ヘッドにおいて、ガラス泡の発
生を防止し品質向上を図る。 【解決手段】 磁気記録媒体が摺動する摺動面9に、磁
気ギャップgの一端または両端に接して磁気記録媒体と
の相対摺動方向に沿う溝6を有し、この溝6の内面に非
磁性保護膜7が形成され、溝6の内面に臨み非磁性保護
膜7に接するガラス面5B1 の一部がイオンエッチング
された面である磁気ヘッド。
生を防止し品質向上を図る。 【解決手段】 磁気記録媒体が摺動する摺動面9に、磁
気ギャップgの一端または両端に接して磁気記録媒体と
の相対摺動方向に沿う溝6を有し、この溝6の内面に非
磁性保護膜7が形成され、溝6の内面に臨み非磁性保護
膜7に接するガラス面5B1 の一部がイオンエッチング
された面である磁気ヘッド。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気記録媒体に対
して音声信号や映像信号、あるいはデータ信号等の情報
信号を記録再生する磁気ヘッド、特にMIG(メタルイ
ンギャップ)型磁気ヘッドに関する。
して音声信号や映像信号、あるいはデータ信号等の情報
信号を記録再生する磁気ヘッド、特にMIG(メタルイ
ンギャップ)型磁気ヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、磁気テープ、磁気ディスク等を磁
気記録媒体として用いる、ビデオテープレコーダ(VT
R)、デジタルオーディオテープレコーダ(DAT)、
あるいはデジタルデータ記録再生装置等は、磁気記録媒
体の記録トラック上の情報信号を磁気信号として書き込
み、あるいは記録トラック上に記録されている情報信号
を磁気信号として読み込む磁気ヘッドを備えている。磁
気ヘッドとしては、フェライトヘッドの磁気ギャップ形
成面に高透磁率の金属磁性薄膜を形成してなるMIG型
磁気ヘッドが知られている。
気記録媒体として用いる、ビデオテープレコーダ(VT
R)、デジタルオーディオテープレコーダ(DAT)、
あるいはデジタルデータ記録再生装置等は、磁気記録媒
体の記録トラック上の情報信号を磁気信号として書き込
み、あるいは記録トラック上に記録されている情報信号
を磁気信号として読み込む磁気ヘッドを備えている。磁
気ヘッドとしては、フェライトヘッドの磁気ギャップ形
成面に高透磁率の金属磁性薄膜を形成してなるMIG型
磁気ヘッドが知られている。
【0003】一方、情報信号の高記録密度化に伴い、磁
気ヘッドがより小型化されて来ると、磁気ギャップのエ
ッジにズレやダレが生じ、磁気ギャップのエッジから不
要な漏れ磁界が発生して磁気記録媒体の記録パターンを
乱すことになる。特に、図13に示すような重ね書き記
録方式の場合、記録トラック51において、その第1ア
ジマスの記録トラック51Aと第2アジマスの記録トラ
ック51Bとの境界のエッジが滲み記録信号がぼける。
いわゆるサイドイレーズにより記録のS/Nが低下し、
磁気テープの全記録トラックを有効に利用出来ない。
気ヘッドがより小型化されて来ると、磁気ギャップのエ
ッジにズレやダレが生じ、磁気ギャップのエッジから不
要な漏れ磁界が発生して磁気記録媒体の記録パターンを
乱すことになる。特に、図13に示すような重ね書き記
録方式の場合、記録トラック51において、その第1ア
ジマスの記録トラック51Aと第2アジマスの記録トラ
ック51Bとの境界のエッジが滲み記録信号がぼける。
いわゆるサイドイレーズにより記録のS/Nが低下し、
磁気テープの全記録トラックを有効に利用出来ない。
【0004】この不都合を避けるために、図14に示す
ように、磁気記録媒体、例えば磁気テープとの摺動面6
2に磁気ギャップgの重ね書き側の一端に接して摺動方
向に沿う溝(以下、トリミング溝という)63を形成
し、磁気ギャップgのエッジにズレやダレを生じないよ
うにしたMIG型磁気ヘッド61が提案されている(特
開平2000ー20910参照)。即ち、このMIG型
磁気ヘッド61は、夫々磁気ギャップ形成面を含む内面
に金属磁性薄膜64を被着形成した一対のフェライトコ
ア半体65a、65bを、磁気ヘッド形成面にギャップ
膜となる例えばAu、Cr等の非磁性金属膜を介して突
き合わせ接合合体して成る。磁気ギャップ部は、低温熱
処理での非磁性金属膜の相互拡散で接合される。コア半
体65a、65bからなる磁性コア65では、トラック
幅規制溝66〔66A,66B〕が形成され、溝66内
にガラス67が充填される。そして、摺動面62に磁気
ギャップgの一端に接して摺動方向に沿うように、すな
わち摺動方向に平行あるいは略平行にトリミング溝63
が形成され、トリミング溝63内にガラス69が充填さ
れる。なお、磁気コア65には中央部にコイル巻線溝7
0が形成され、両コア半体65a、65bの外面に夫々
巻線ガイド溝71a、71bが形成される。このように
磁気ギャップgの一端に接してトリミング溝63が設け
られることにより、磁気ギャップgの重ね書き側のエッ
ジがシャープに形成され、ギャップエッジにズレやダレ
が生じない磁気ヘッドが得られる。
ように、磁気記録媒体、例えば磁気テープとの摺動面6
2に磁気ギャップgの重ね書き側の一端に接して摺動方
向に沿う溝(以下、トリミング溝という)63を形成
し、磁気ギャップgのエッジにズレやダレを生じないよ
うにしたMIG型磁気ヘッド61が提案されている(特
開平2000ー20910参照)。即ち、このMIG型
磁気ヘッド61は、夫々磁気ギャップ形成面を含む内面
に金属磁性薄膜64を被着形成した一対のフェライトコ
ア半体65a、65bを、磁気ヘッド形成面にギャップ
膜となる例えばAu、Cr等の非磁性金属膜を介して突
き合わせ接合合体して成る。磁気ギャップ部は、低温熱
処理での非磁性金属膜の相互拡散で接合される。コア半
体65a、65bからなる磁性コア65では、トラック
幅規制溝66〔66A,66B〕が形成され、溝66内
にガラス67が充填される。そして、摺動面62に磁気
ギャップgの一端に接して摺動方向に沿うように、すな
わち摺動方向に平行あるいは略平行にトリミング溝63
が形成され、トリミング溝63内にガラス69が充填さ
れる。なお、磁気コア65には中央部にコイル巻線溝7
0が形成され、両コア半体65a、65bの外面に夫々
巻線ガイド溝71a、71bが形成される。このように
磁気ギャップgの一端に接してトリミング溝63が設け
られることにより、磁気ギャップgの重ね書き側のエッ
ジがシャープに形成され、ギャップエッジにズレやダレ
が生じない磁気ヘッドが得られる。
【0005】ところで、実質的にトラック幅の一端を規
制するトリミング溝63は、約20μmの加工砥石で加
工される。このトリミング溝加工の際、加工により溝6
3内面(いわゆる研削面)に金属磁性薄膜64が露出さ
れ、後にトリミング溝63内にガラス69を充填したと
きに、図15に示すように、金属磁性薄膜(例えば窒素
添加の磁性合金膜)64からのガス(N2 ガス)発生に
より、トリミング溝63のガラス69に、泡(いわゆる
ガラス泡)73が発生する。ガラス泡73が存在する
と、磁気テープ走行中にガラス泡73に磁性粉が詰まり
ヘッドクロックが発生するという不都合があった。な
お、図15は、トリミング溝加工後の洗浄を水洗浄で行
い、中性洗剤及びアルカリ性洗剤を使用しなかった場合
のガラス泡73の発生状態を図解したものである。
制するトリミング溝63は、約20μmの加工砥石で加
工される。このトリミング溝加工の際、加工により溝6
3内面(いわゆる研削面)に金属磁性薄膜64が露出さ
れ、後にトリミング溝63内にガラス69を充填したと
きに、図15に示すように、金属磁性薄膜(例えば窒素
添加の磁性合金膜)64からのガス(N2 ガス)発生に
より、トリミング溝63のガラス69に、泡(いわゆる
ガラス泡)73が発生する。ガラス泡73が存在する
と、磁気テープ走行中にガラス泡73に磁性粉が詰まり
ヘッドクロックが発生するという不都合があった。な
お、図15は、トリミング溝加工後の洗浄を水洗浄で行
い、中性洗剤及びアルカリ性洗剤を使用しなかった場合
のガラス泡73の発生状態を図解したものである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本出願人は、先に上述
のトリミング溝63内でのガス発生によるガラス泡73
の発生と、露出した金属磁性薄膜64とガラス69との
反応による磁気ギャップエッジの乱れとを防止するため
に、図12A、Bに示すMIG型磁気ヘッド40を提案
した(特願平2000ー235281号参照)。この磁
気ヘッド40は、トリミング溝63を加工し、溝63内
を中性洗剤及びアルカリ性洗剤で洗浄した後、トリミン
グ溝63の内面にCr膜等のガラスと反応しにくい非磁
性の保護膜41を形成し、次いでトリミング溝63内に
ガラス69を充填して構成される。その他の構成は、図
14と同様であるので対応する部分に同一符号を付して
重複説明を省略する。このようにトリミング溝63の内
面に保護膜41を被着形成することにより、金属磁性薄
膜64とガラス69との反応が防止され、同時にガラス
泡73の発生が防止される。
のトリミング溝63内でのガス発生によるガラス泡73
の発生と、露出した金属磁性薄膜64とガラス69との
反応による磁気ギャップエッジの乱れとを防止するため
に、図12A、Bに示すMIG型磁気ヘッド40を提案
した(特願平2000ー235281号参照)。この磁
気ヘッド40は、トリミング溝63を加工し、溝63内
を中性洗剤及びアルカリ性洗剤で洗浄した後、トリミン
グ溝63の内面にCr膜等のガラスと反応しにくい非磁
性の保護膜41を形成し、次いでトリミング溝63内に
ガラス69を充填して構成される。その他の構成は、図
14と同様であるので対応する部分に同一符号を付して
重複説明を省略する。このようにトリミング溝63の内
面に保護膜41を被着形成することにより、金属磁性薄
膜64とガラス69との反応が防止され、同時にガラス
泡73の発生が防止される。
【0007】しかし、トリミング溝63に接する側のト
ラック幅規制溝66B内のガラス67に、保護膜41に
沿って泡(いわゆるガラス泡)42が発生する恐れがあ
った。このガラス泡42が発生する部分は、磁気トラッ
クより遠い位置にあるが、磁気ヘッド40と磁気記録媒
体との当たりを長期に安定に保つためには、このガラス
泡発生部分も磁気ヘッド40の当たり幅に加える必要が
ある。このことによって、上記ガラス泡42も通常のガ
ラス泡73と同様に磁気記録媒体に傷などのダメージを
与え信頼性を欠くばかりか、ガラス泡42内に磁気記録
媒体から発生した異物が残留し、ヘッドクロックの原因
にもなる。
ラック幅規制溝66B内のガラス67に、保護膜41に
沿って泡(いわゆるガラス泡)42が発生する恐れがあ
った。このガラス泡42が発生する部分は、磁気トラッ
クより遠い位置にあるが、磁気ヘッド40と磁気記録媒
体との当たりを長期に安定に保つためには、このガラス
泡発生部分も磁気ヘッド40の当たり幅に加える必要が
ある。このことによって、上記ガラス泡42も通常のガ
ラス泡73と同様に磁気記録媒体に傷などのダメージを
与え信頼性を欠くばかりか、ガラス泡42内に磁気記録
媒体から発生した異物が残留し、ヘッドクロックの原因
にもなる。
【0008】図12Aでは、トリミング溝加工後に中性
洗剤で洗浄し、次いでアルカリ性洗剤で洗浄を行った
後、保護膜41を形成し、ガラス充填した場合のガラス
泡42の発生状態を図解したものである。
洗剤で洗浄し、次いでアルカリ性洗剤で洗浄を行った
後、保護膜41を形成し、ガラス充填した場合のガラス
泡42の発生状態を図解したものである。
【0009】本発明は、上述の点に鑑み、摺動面にガラ
ス泡が発生しない磁気ヘッド及びその製造方法を提供す
るものである。
ス泡が発生しない磁気ヘッド及びその製造方法を提供す
るものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明に係る磁気ヘッド
は、磁気記録媒体が摺動する摺動面に、磁気ギャップの
一端または両端に接して磁気記録媒体との相対摺動方向
に沿う溝を有し、溝の内面に非磁性保護膜が形成され、
溝の内面に臨み非磁性保護膜に接するガラス面の一部が
イオンエッチングされた面である構成とする。
は、磁気記録媒体が摺動する摺動面に、磁気ギャップの
一端または両端に接して磁気記録媒体との相対摺動方向
に沿う溝を有し、溝の内面に非磁性保護膜が形成され、
溝の内面に臨み非磁性保護膜に接するガラス面の一部が
イオンエッチングされた面である構成とする。
【0011】本発明の磁気ヘッドでは、摺動面に磁気ギ
ャップの端に接して磁気記録媒体との相対摺動方向に沿
って形成された溝の内面に、非磁性保護膜が形成される
ので、この溝に充填されたガラスにガラス泡が発生しな
い。また溝の内面に臨んで非磁性保護膜と接するガラス
面の一部、即ち変質した部分の一部がイオンエッチング
により除去されているので、非磁性保護膜とトラック幅
規制溝側のガラスとの界面にガラス泡が発生せず、高品
質の磁気ヘッドが得られる。
ャップの端に接して磁気記録媒体との相対摺動方向に沿
って形成された溝の内面に、非磁性保護膜が形成される
ので、この溝に充填されたガラスにガラス泡が発生しな
い。また溝の内面に臨んで非磁性保護膜と接するガラス
面の一部、即ち変質した部分の一部がイオンエッチング
により除去されているので、非磁性保護膜とトラック幅
規制溝側のガラスとの界面にガラス泡が発生せず、高品
質の磁気ヘッドが得られる。
【0012】本発明に係る磁気ヘッドの製造方法は、磁
気記録媒体が摺動する摺動面に、磁気ギャップの一端ま
たは両端に接して磁気記録媒体との相対摺動方向に沿う
溝を形成し、その後、溝内のガラス面にイオンエッチン
グを施し、または溝内を洗浄した後、溝内のガラス面に
イオンエッチングを施し、次いで、溝の内面に非磁性保
護膜を形成し、溝内にガラスを充填する。
気記録媒体が摺動する摺動面に、磁気ギャップの一端ま
たは両端に接して磁気記録媒体との相対摺動方向に沿う
溝を形成し、その後、溝内のガラス面にイオンエッチン
グを施し、または溝内を洗浄した後、溝内のガラス面に
イオンエッチングを施し、次いで、溝の内面に非磁性保
護膜を形成し、溝内にガラスを充填する。
【0013】本発明の磁気ヘッドの製造方法では、摺動
面に、磁気ギャップの一端または両端に接して磁気記録
媒体との相対摺動方向に沿う溝を形成した後に、溝内に
露出するガラス面をイオンエッチングするので、研削
液、あるいは洗剤によって変質したガラス表面が除去さ
れる。その後、非磁性保護膜を形成し、溝内にガラスを
充填するので、非磁性保護膜とトラック幅規制溝側のガ
ラスとの界面でのガラス泡の発生が防止される。また、
非磁性保護膜により、溝内のガラス泡の発生が防止され
る。
面に、磁気ギャップの一端または両端に接して磁気記録
媒体との相対摺動方向に沿う溝を形成した後に、溝内に
露出するガラス面をイオンエッチングするので、研削
液、あるいは洗剤によって変質したガラス表面が除去さ
れる。その後、非磁性保護膜を形成し、溝内にガラスを
充填するので、非磁性保護膜とトラック幅規制溝側のガ
ラスとの界面でのガラス泡の発生が防止される。また、
非磁性保護膜により、溝内のガラス泡の発生が防止され
る。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明者らは、上述したトラック
幅規制溝66B内に保護膜41に沿って発生するガラス
泡42が、次のような原因で発生することを突き止め
た。このガラス泡42は、ガラス67の表面(以下、ガ
ラス面という)67aの変質が引き金となっているが、
金属磁性薄膜64との反応を防止する保護膜41によっ
て発生する。これは、ガラス面67aの変質部分を保護
膜41によって強固にカバーしてしまうため、後のトリ
ミング溝63内へのガラス69の充填工程で、温度を上
昇させた際に変質したガラス面67aからガスが発生
し、このガスが保護膜41によって行き場を無くしてト
ラック幅規制溝66B内のガラス67に残留するために
起こる。即ち、トリミング溝63の加工後、トリミング
溝63内に残った加工中の研削粉等の汚れを除去するた
め、非磁性保護膜41の成膜前に、磁性コアを洗浄す
る。これらの溝加工、洗浄等の工程において、トラック
幅規制溝66B内のガラス面がアルカリ性の研削液や洗
浄液で侵され、変質しやすくなる。変質したガラス部
は、トリミング溝63内にガラスを融着充填する加熱時
に泡を発生し易く、特にトリミング溝63との界面のガ
ラス面はヘッド摺動面62から深い部分まで侵されてい
るため、深い部分まで泡が存在し、しかもトリミング溝
63の内面が非磁性保護膜41で覆われてしまうため、
泡が抜けず閉じ込められて存在する。
幅規制溝66B内に保護膜41に沿って発生するガラス
泡42が、次のような原因で発生することを突き止め
た。このガラス泡42は、ガラス67の表面(以下、ガ
ラス面という)67aの変質が引き金となっているが、
金属磁性薄膜64との反応を防止する保護膜41によっ
て発生する。これは、ガラス面67aの変質部分を保護
膜41によって強固にカバーしてしまうため、後のトリ
ミング溝63内へのガラス69の充填工程で、温度を上
昇させた際に変質したガラス面67aからガスが発生
し、このガスが保護膜41によって行き場を無くしてト
ラック幅規制溝66B内のガラス67に残留するために
起こる。即ち、トリミング溝63の加工後、トリミング
溝63内に残った加工中の研削粉等の汚れを除去するた
め、非磁性保護膜41の成膜前に、磁性コアを洗浄す
る。これらの溝加工、洗浄等の工程において、トラック
幅規制溝66B内のガラス面がアルカリ性の研削液や洗
浄液で侵され、変質しやすくなる。変質したガラス部
は、トリミング溝63内にガラスを融着充填する加熱時
に泡を発生し易く、特にトリミング溝63との界面のガ
ラス面はヘッド摺動面62から深い部分まで侵されてい
るため、深い部分まで泡が存在し、しかもトリミング溝
63の内面が非磁性保護膜41で覆われてしまうため、
泡が抜けず閉じ込められて存在する。
【0015】当然、トリミング溝63へのガラス充填温
度がトラック幅規制溝66のガラス67が溶解しない低
温で行えば、ガラス泡42の発生は起きないが、金属磁
性薄膜64の性能維持のため600°C以上でのトラッ
ク幅規制溝66へのガラス充填は不可能である。トリミ
ング溝63内のガラスとして、信頼性の高いガラスが必
要であり、500°C以下の作業温度(いわゆる充填温
度)のガラスは使用できない。従って、トリミング溝6
3へのガラス充填工程では、上記ガラス泡42が発生す
る。
度がトラック幅規制溝66のガラス67が溶解しない低
温で行えば、ガラス泡42の発生は起きないが、金属磁
性薄膜64の性能維持のため600°C以上でのトラッ
ク幅規制溝66へのガラス充填は不可能である。トリミ
ング溝63内のガラスとして、信頼性の高いガラスが必
要であり、500°C以下の作業温度(いわゆる充填温
度)のガラスは使用できない。従って、トリミング溝6
3へのガラス充填工程では、上記ガラス泡42が発生す
る。
【0016】ガラス面67aの変質は、トリミング溝加
工での研削液、加工後の中性洗剤及びアルカリ性洗剤に
よって起こり、特にガラスの信頼性が悪いことが原因で
起こることが認められた。これは、上述したように金属
磁性薄膜64の性能維持のため、トラック幅規制溝66
へのガラス充填が600°C以内の充填温度で行わなけ
ればならず、ガラスの性質上、鉛を主成分とした組成を
用いることになる。鉛を主成分としたガラスは、どうし
ても耐風雨性に劣るため、上述した変質が起きる。上記
洗剤を使わないで洗浄(例えば水洗浄)すれば、ガラス
面の変質を防げるが、しかし、トリミング溝に残ってい
る研削ゴミが完全に落ちず、残留ゴミとガラスが反応し
てガラス泡を発生する。
工での研削液、加工後の中性洗剤及びアルカリ性洗剤に
よって起こり、特にガラスの信頼性が悪いことが原因で
起こることが認められた。これは、上述したように金属
磁性薄膜64の性能維持のため、トラック幅規制溝66
へのガラス充填が600°C以内の充填温度で行わなけ
ればならず、ガラスの性質上、鉛を主成分とした組成を
用いることになる。鉛を主成分としたガラスは、どうし
ても耐風雨性に劣るため、上述した変質が起きる。上記
洗剤を使わないで洗浄(例えば水洗浄)すれば、ガラス
面の変質を防げるが、しかし、トリミング溝に残ってい
る研削ゴミが完全に落ちず、残留ゴミとガラスが反応し
てガラス泡を発生する。
【0017】一方、加工中には冷却と研削粉除去のため
砥石周辺へ加工と同じ研削液が必要である。ほとんどの
加工機は、鋳物で出来ており、錆防止材が含まれる。ま
た、研削粉除去には界面活性剤が一般に使用され、これ
らの組み合わせからアルカリ性の特性を有した研削液を
使用することになる。このため、長時間の加工では、ガ
ラス面の変質が起こる。また、加工後の洗浄時は、残留
する研削粉や研削液除去のため、中性洗剤及びアルカリ
性洗剤が一般に用いられる。作業温度600°C以下の
ガラスでは、中性洗剤やアルカリ性洗剤でも短時間でガ
ラス面の変質が認められる。以上により、トリミング溝
63に接する側のトラック幅規制溝66Bのガラス67
内に保護膜41に沿ってガラス泡42が発生することに
なる。
砥石周辺へ加工と同じ研削液が必要である。ほとんどの
加工機は、鋳物で出来ており、錆防止材が含まれる。ま
た、研削粉除去には界面活性剤が一般に使用され、これ
らの組み合わせからアルカリ性の特性を有した研削液を
使用することになる。このため、長時間の加工では、ガ
ラス面の変質が起こる。また、加工後の洗浄時は、残留
する研削粉や研削液除去のため、中性洗剤及びアルカリ
性洗剤が一般に用いられる。作業温度600°C以下の
ガラスでは、中性洗剤やアルカリ性洗剤でも短時間でガ
ラス面の変質が認められる。以上により、トリミング溝
63に接する側のトラック幅規制溝66Bのガラス67
内に保護膜41に沿ってガラス泡42が発生することに
なる。
【0018】本発明は、上述したガラス泡の発生原因を
究明した結果に基いてなされたものである。以下、図面
を参照して本発明の実施の形態を説明する。
究明した結果に基いてなされたものである。以下、図面
を参照して本発明の実施の形態を説明する。
【0019】図1A、Bは、本発明に係るMIG型磁気
ヘッドの一実施の形態を示す。本実施の形態に係るMI
G型磁気ヘッド1は、フェライトコア、例えばMnーZ
nフェライトコアの磁気ギャップ形成面を含む内面に高
透磁率の金属磁性薄膜3を被着形成した一対の磁性コア
半体2a、2bを、その磁気ギャップ形成面にギャップ
膜となる例えばAu膜、Cr膜等の非磁性金属膜を介し
て突き合わせ接合合体して成る。金属磁性薄膜として、
本例では窒素添加の磁性合金膜、例えば、Fe,Ru,
Ga、Si,Ta,Nからなる膜を用いることができ
る。磁気ギャップgは、磁気記録媒体が摺動する摺動面
9に臨み、非磁性金属膜を介して突き合わされた接合部
に形成される。磁気ギャップ部は、低温熱処理での非磁
性金属膜の相互拡散で接合される。磁性コア半体2a、
2bからなる磁性コア2では、磁気ギャップgのギャッ
プ幅、いわゆるトラック幅Twを規制するトラック幅規
制溝4〔4A,4B〕が、磁気ギャップgの両端縁近傍
から夫々ギャップデプス方向にわたって形成され、この
トラック幅規制溝4内に非磁性体のガラス5〔5A、5
B〕が充填される。上記金属磁性薄膜3は、磁気ギャッ
プ形成面からトラック幅規制溝4の内面にかけて成膜さ
れる。
ヘッドの一実施の形態を示す。本実施の形態に係るMI
G型磁気ヘッド1は、フェライトコア、例えばMnーZ
nフェライトコアの磁気ギャップ形成面を含む内面に高
透磁率の金属磁性薄膜3を被着形成した一対の磁性コア
半体2a、2bを、その磁気ギャップ形成面にギャップ
膜となる例えばAu膜、Cr膜等の非磁性金属膜を介し
て突き合わせ接合合体して成る。金属磁性薄膜として、
本例では窒素添加の磁性合金膜、例えば、Fe,Ru,
Ga、Si,Ta,Nからなる膜を用いることができ
る。磁気ギャップgは、磁気記録媒体が摺動する摺動面
9に臨み、非磁性金属膜を介して突き合わされた接合部
に形成される。磁気ギャップ部は、低温熱処理での非磁
性金属膜の相互拡散で接合される。磁性コア半体2a、
2bからなる磁性コア2では、磁気ギャップgのギャッ
プ幅、いわゆるトラック幅Twを規制するトラック幅規
制溝4〔4A,4B〕が、磁気ギャップgの両端縁近傍
から夫々ギャップデプス方向にわたって形成され、この
トラック幅規制溝4内に非磁性体のガラス5〔5A、5
B〕が充填される。上記金属磁性薄膜3は、磁気ギャッ
プ形成面からトラック幅規制溝4の内面にかけて成膜さ
れる。
【0020】摺動面9には、磁気ギャップgの一端に接
して、例えば重ね書き記録方式の場合、重ね書きされる
側の一端に接して磁気記録媒体との相対摺動方向に沿う
ように、すなわち摺動方向に平行あるいは略平行にトリ
ミング溝6が形成され、このトリミング溝6の内面に非
磁性保護膜7が形成されると共に、トリミング溝6内に
ガラス8が充填される。非磁性保護膜7は、ガラス8と
窒素添加の金属磁性薄膜との間で反応が生じるのを防止
する膜であり、この膜7自体ガラスと反応しない、例え
ばCr(クロム)膜、あるいは非磁性酸化膜とCr(ク
ロム)膜の積層膜等で形成することができる。非磁性酸
化膜は、Al,Cr,Ti,Si,Ta,Cuの酸化物
膜を用いることができる。なお、磁性コア2には中央部
にコイル巻線溝11が形成され、両磁性コア半体2a、
2bの外面に夫々巻線ガイド溝12a、12bが形成さ
れる。
して、例えば重ね書き記録方式の場合、重ね書きされる
側の一端に接して磁気記録媒体との相対摺動方向に沿う
ように、すなわち摺動方向に平行あるいは略平行にトリ
ミング溝6が形成され、このトリミング溝6の内面に非
磁性保護膜7が形成されると共に、トリミング溝6内に
ガラス8が充填される。非磁性保護膜7は、ガラス8と
窒素添加の金属磁性薄膜との間で反応が生じるのを防止
する膜であり、この膜7自体ガラスと反応しない、例え
ばCr(クロム)膜、あるいは非磁性酸化膜とCr(ク
ロム)膜の積層膜等で形成することができる。非磁性酸
化膜は、Al,Cr,Ti,Si,Ta,Cuの酸化物
膜を用いることができる。なお、磁性コア2には中央部
にコイル巻線溝11が形成され、両磁性コア半体2a、
2bの外面に夫々巻線ガイド溝12a、12bが形成さ
れる。
【0021】そして、本実施の形態では、特にトリミン
グ溝6内面の非磁性保護膜7に接するトラック幅規制溝
4B側のガラス面、即ち非磁性保護膜7とトラック幅規
制溝4Bとの界面のガラス面5Bの一部をイオンエッチ
ングされた面とする。即ち、後述するトリミング溝6の
形成後に生じるガラス側面5B1 、底面5B2 の変質部
分23(図7B参照)がエッチング除去された面とす
る.そのガラス面5B1、5B2 のイオンエッチングに
よるエッチング厚みとしては、0.01μm以上、好ま
しくは0.05μm以上とする。
グ溝6内面の非磁性保護膜7に接するトラック幅規制溝
4B側のガラス面、即ち非磁性保護膜7とトラック幅規
制溝4Bとの界面のガラス面5Bの一部をイオンエッチ
ングされた面とする。即ち、後述するトリミング溝6の
形成後に生じるガラス側面5B1 、底面5B2 の変質部
分23(図7B参照)がエッチング除去された面とす
る.そのガラス面5B1、5B2 のイオンエッチングに
よるエッチング厚みとしては、0.01μm以上、好ま
しくは0.05μm以上とする。
【0022】上述した本実施の形態に係るMIG型磁気
ヘッド1によれば、トリミング溝6の内面に非磁性保護
膜7が形成されることにより、前述と同様にトリミング
溝6内に充填されたガラス8と金属磁性薄膜3との反応
が阻止され、トリミング溝6においてガラス泡の発生を
防止することができる。そして、特にトリミング溝6内
面の非磁性保護膜7との界面のトラック幅規制溝4B側
のガラス面5B1 ,5B2 がイオンエッチングされた面
であるので、トリミング溝6の研削加工時のアルカリ性
の研削液、あるいは溝加工後の中性洗剤、アルカリ性洗
剤等による洗浄によって生じるガラス面5B1 、5B2
の変質部分が除去されており、非磁性保護膜7とトラッ
ク幅規制溝4Bとの界面でのガラス泡の発生が防止され
る。従って、高品質で信頼性の高いこの種のMIG型磁
気ヘッドを提供することができる。
ヘッド1によれば、トリミング溝6の内面に非磁性保護
膜7が形成されることにより、前述と同様にトリミング
溝6内に充填されたガラス8と金属磁性薄膜3との反応
が阻止され、トリミング溝6においてガラス泡の発生を
防止することができる。そして、特にトリミング溝6内
面の非磁性保護膜7との界面のトラック幅規制溝4B側
のガラス面5B1 ,5B2 がイオンエッチングされた面
であるので、トリミング溝6の研削加工時のアルカリ性
の研削液、あるいは溝加工後の中性洗剤、アルカリ性洗
剤等による洗浄によって生じるガラス面5B1 、5B2
の変質部分が除去されており、非磁性保護膜7とトラッ
ク幅規制溝4Bとの界面でのガラス泡の発生が防止され
る。従って、高品質で信頼性の高いこの種のMIG型磁
気ヘッドを提供することができる。
【0023】次に、図3〜図11を用いて上述したMI
G型磁気ヘッド1の製造方法の一実施の形態を説明す
る。先ず、図3に示すように、磁性コア半体となる例え
ばフェライト、本例ではMnーZnフェライトを母材と
する一対の磁性コア半体ブロック21〔21a,21
b〕を設け、各磁性コア半体ブロック21a、21bの
突き合わせ側の面に長手方向に磁気ギャップgのギャッ
プデプスを規制し、巻線を施すためのコイル巻線溝11
a、11bを夫々形成する。
G型磁気ヘッド1の製造方法の一実施の形態を説明す
る。先ず、図3に示すように、磁性コア半体となる例え
ばフェライト、本例ではMnーZnフェライトを母材と
する一対の磁性コア半体ブロック21〔21a,21
b〕を設け、各磁性コア半体ブロック21a、21bの
突き合わせ側の面に長手方向に磁気ギャップgのギャッ
プデプスを規制し、巻線を施すためのコイル巻線溝11
a、11bを夫々形成する。
【0024】次に、図4に示すように、各磁性コア半体
ブロック21a、21bの突き合わせ側の面に、夫々コ
イル巻線溝11a、11bに交差、例えば直交してトラ
ック幅を規制するトラック幅規制溝4A、4Bを形成す
る。その後、各磁性コア半体ブロック21a、21bの
コイル巻線溝11a、11b及びトラック幅規制溝4
A、4Bを含む面に高透磁率強磁性膜である金属磁性薄
膜、本例では前述した窒素添加の磁性合金膜3を、例え
ば真空薄膜形成技術などを用いて成膜する。次いで、図
示せざるも、磁性合金膜3上にギャップ膜となる非磁性
金属膜を被着形成する。非磁性金属膜として、本例では
Cr膜/Au膜による2層膜が形成される。
ブロック21a、21bの突き合わせ側の面に、夫々コ
イル巻線溝11a、11bに交差、例えば直交してトラ
ック幅を規制するトラック幅規制溝4A、4Bを形成す
る。その後、各磁性コア半体ブロック21a、21bの
コイル巻線溝11a、11b及びトラック幅規制溝4
A、4Bを含む面に高透磁率強磁性膜である金属磁性薄
膜、本例では前述した窒素添加の磁性合金膜3を、例え
ば真空薄膜形成技術などを用いて成膜する。次いで、図
示せざるも、磁性合金膜3上にギャップ膜となる非磁性
金属膜を被着形成する。非磁性金属膜として、本例では
Cr膜/Au膜による2層膜が形成される。
【0025】次に、図5に示すように、一対の磁性コア
半体ブロック21a、21bを互いに突き合わせ、トラ
ック幅規制溝4〔4A,4B〕内に融着用ガラス、即ち
棒状のガラス5を挿入し、500°C〜600°Cの作
業温度で接合合体して磁性コアブロック21を形成す
る。磁気ギャップ部の接合は、ギャップ膜である非磁性
金属膜の相互拡散で行われ、ここに磁気ギャップgが形
成される。ガラス5〔5A,5B〕は溶けてトラック幅
規制溝4〔4A,4B〕内に充填されると共に、一部コ
イル巻線溝11〔11a、11b〕にも充填され、磁性
コアブロック21の接合を強固にする。磁気ギャップ部
の接合とガラス溶着を同時に行っても良く、あるいは磁
気ギャップ部の接合の後、ガラス溶着を行っても良い。
次いで、磁性コアブロック21のその後に摺動面となる
面に、磁気ギャップgのトラック幅方向の一端に接して
磁気記録媒体との相対摺動方向に平行、あるいは略平行
にトリミング溝6を形成する(図5、図6参照)。この
トリミング溝6により実質的なトラック幅Twが規定さ
れる。トリミング溝6は、ギャップデプス0の位置をこ
える深さに形成され、例えば20μmの研削砥石による
研削で形成することができる。
半体ブロック21a、21bを互いに突き合わせ、トラ
ック幅規制溝4〔4A,4B〕内に融着用ガラス、即ち
棒状のガラス5を挿入し、500°C〜600°Cの作
業温度で接合合体して磁性コアブロック21を形成す
る。磁気ギャップ部の接合は、ギャップ膜である非磁性
金属膜の相互拡散で行われ、ここに磁気ギャップgが形
成される。ガラス5〔5A,5B〕は溶けてトラック幅
規制溝4〔4A,4B〕内に充填されると共に、一部コ
イル巻線溝11〔11a、11b〕にも充填され、磁性
コアブロック21の接合を強固にする。磁気ギャップ部
の接合とガラス溶着を同時に行っても良く、あるいは磁
気ギャップ部の接合の後、ガラス溶着を行っても良い。
次いで、磁性コアブロック21のその後に摺動面となる
面に、磁気ギャップgのトラック幅方向の一端に接して
磁気記録媒体との相対摺動方向に平行、あるいは略平行
にトリミング溝6を形成する(図5、図6参照)。この
トリミング溝6により実質的なトラック幅Twが規定さ
れる。トリミング溝6は、ギャップデプス0の位置をこ
える深さに形成され、例えば20μmの研削砥石による
研削で形成することができる。
【0026】次に、図7に示すように、トリミング溝6
内の研削粉等を除去するために、トリミング溝6内を洗
浄する。この洗浄は、中性洗剤を用いて洗浄した後、ア
ルカリ性洗剤で洗浄を行う。この洗浄工程の中性洗剤及
びアルカリ性洗剤により、トリミング溝6の内面(側
面、底面、反対側の側面)に露出するトラック幅規制溝
4B側のガラス面5B1 、5B2 、5B3 は変質(腐
食)する。23はガラス面の変質層である。
内の研削粉等を除去するために、トリミング溝6内を洗
浄する。この洗浄は、中性洗剤を用いて洗浄した後、ア
ルカリ性洗剤で洗浄を行う。この洗浄工程の中性洗剤及
びアルカリ性洗剤により、トリミング溝6の内面(側
面、底面、反対側の側面)に露出するトラック幅規制溝
4B側のガラス面5B1 、5B2 、5B3 は変質(腐
食)する。23はガラス面の変質層である。
【0027】次に、図8に示すように、イオンエッチン
グ24を施してトリミング溝6の内面に臨むガラス面の
変質層23をエッチング除去する。イオンエッチング2
4は、少なくともトラック幅規制溝4B側のガラス側面
5B1 及びこれに連続するガラス底面5B2 の一部の変
質層23を除去すれば良く、従って図8Bに示すよう
に、斜め上方からイオンビームを照射してガラス側面5
B1 及びガラス底面5B 2 の半分程度の領域の変質層2
3を完全にエッチング除去するを可とする。エッチング
厚としては、前述したように、0.01μm以上、好ま
しくは0.05μm以上とすることができる。本例では
厚さ0.1μm程度エッチング除去する。イオンエッチ
ングとしては、不活性元素のイオン粒子、例えばArイ
オン等を用いる。イオンエッチングの条件の具体例を示
す。イオンエッチングは、例えば、ビーコ社製のイオン
エッチング装置Veeco1201(商品名)を使用
し、トリガー圧力:1.6×10- 3 Pa、ガス流量:
Ar 40sccm、ビーム電流:550mA、ビーム
電圧:750Vで行う。ここで、図8Aの領域M、即ち
フェライト部分2a、磁性合金膜3及びガラス5Bでの
イオンエッチングの状態を図8Cに示す。エッチングレ
ートは、フェライト部分2a<磁性合金膜3<ガラス5
Bの順となり、ガラス5Bが最もエッチングされ易い。
グ24を施してトリミング溝6の内面に臨むガラス面の
変質層23をエッチング除去する。イオンエッチング2
4は、少なくともトラック幅規制溝4B側のガラス側面
5B1 及びこれに連続するガラス底面5B2 の一部の変
質層23を除去すれば良く、従って図8Bに示すよう
に、斜め上方からイオンビームを照射してガラス側面5
B1 及びガラス底面5B 2 の半分程度の領域の変質層2
3を完全にエッチング除去するを可とする。エッチング
厚としては、前述したように、0.01μm以上、好ま
しくは0.05μm以上とすることができる。本例では
厚さ0.1μm程度エッチング除去する。イオンエッチ
ングとしては、不活性元素のイオン粒子、例えばArイ
オン等を用いる。イオンエッチングの条件の具体例を示
す。イオンエッチングは、例えば、ビーコ社製のイオン
エッチング装置Veeco1201(商品名)を使用
し、トリガー圧力:1.6×10- 3 Pa、ガス流量:
Ar 40sccm、ビーム電流:550mA、ビーム
電圧:750Vで行う。ここで、図8Aの領域M、即ち
フェライト部分2a、磁性合金膜3及びガラス5Bでの
イオンエッチングの状態を図8Cに示す。エッチングレ
ートは、フェライト部分2a<磁性合金膜3<ガラス5
Bの順となり、ガラス5Bが最もエッチングされ易い。
【0028】次に、図9に示すように、トリミング溝6
の内面を含んで非磁性保護膜7を形成する。例えば、マ
グネトロンスパッタにより、非磁性保護膜7としてのC
r膜を所定の膜厚、例えば100nm程度被着形成す
る。非磁性保護膜7としては、その他、例えば下地にC
r膜を形成し、その上に非磁性酸化膜(例えばシリコン
酸化膜、又はアルミ酸化膜等)を形成した2層膜構造と
することもできる。
の内面を含んで非磁性保護膜7を形成する。例えば、マ
グネトロンスパッタにより、非磁性保護膜7としてのC
r膜を所定の膜厚、例えば100nm程度被着形成す
る。非磁性保護膜7としては、その他、例えば下地にC
r膜を形成し、その上に非磁性酸化膜(例えばシリコン
酸化膜、又はアルミ酸化膜等)を形成した2層膜構造と
することもできる。
【0029】次に、図10に示すように、内面に非磁性
保護膜7が形成されたトリミング溝6内にガラス8を上
部から充填する。
保護膜7が形成されたトリミング溝6内にガラス8を上
部から充填する。
【0030】次に、磁性コアブロック21の摺動面側の
上面を研磨し、磁気記録媒体への当たり幅規制溝26
(図1参照)を加工し、更に円筒研磨して磁気記録媒体
との摺動面9を形成する。その後、図11に示すよう
に、チップ状に切り出して、目的のMIG型磁気ヘッド
1(図1参照)を得る。
上面を研磨し、磁気記録媒体への当たり幅規制溝26
(図1参照)を加工し、更に円筒研磨して磁気記録媒体
との摺動面9を形成する。その後、図11に示すよう
に、チップ状に切り出して、目的のMIG型磁気ヘッド
1(図1参照)を得る。
【0031】上述した本実施の形態に係るMIG型磁気
ヘッドの製造方法によれば、図7の工程でトリミング溝
6を形成した後、中性洗剤及びアルカリ性洗剤による洗
浄でトリミング溝6内面に露出するトラック幅規制溝4
B側のガラス5Bの表面、いわゆる側面5B1 、底面5
B2 が洗剤と反応して変質するが、洗浄後の図8の工程
において、イオンエッチングにより露出したガラス側面
5B1 、底面5B2 の変質層23を除去するので、その
後に非磁性保護膜7を形成し、ガラス8を充填しても、
非磁性保護膜7とトラック幅規制溝4B側のガラス5B
との界面にガラス泡が発生することがない。また、トリ
ミング溝6を形成した後、図9の工程で非磁性保護膜7
を形成し、図10の工程でトリミング溝6の内面にガラ
ス8を充填するので、ガラス8と金属磁性薄膜3とが反
応することはなく、トリミング溝6内のガラス8にガラ
ス泡が発生しない。従って、ガラス泡のない高品質で信
頼性の高いMIG型磁気ヘッドの製造歩留りを向上する
ことができる。
ヘッドの製造方法によれば、図7の工程でトリミング溝
6を形成した後、中性洗剤及びアルカリ性洗剤による洗
浄でトリミング溝6内面に露出するトラック幅規制溝4
B側のガラス5Bの表面、いわゆる側面5B1 、底面5
B2 が洗剤と反応して変質するが、洗浄後の図8の工程
において、イオンエッチングにより露出したガラス側面
5B1 、底面5B2 の変質層23を除去するので、その
後に非磁性保護膜7を形成し、ガラス8を充填しても、
非磁性保護膜7とトラック幅規制溝4B側のガラス5B
との界面にガラス泡が発生することがない。また、トリ
ミング溝6を形成した後、図9の工程で非磁性保護膜7
を形成し、図10の工程でトリミング溝6の内面にガラ
ス8を充填するので、ガラス8と金属磁性薄膜3とが反
応することはなく、トリミング溝6内のガラス8にガラ
ス泡が発生しない。従って、ガラス泡のない高品質で信
頼性の高いMIG型磁気ヘッドの製造歩留りを向上する
ことができる。
【0032】因みに、トラック幅規制溝4Bと非磁性保
護膜7との界面に発生するガラス泡は、中性洗剤、及び
アルカリ性洗剤で洗浄を行った場合、ほとんど100%
発生する。また、中性洗剤及びアルカリ性洗剤を使用し
ないときは、トリミング溝内に残留する汚れによりトリ
ミング溝内に50%程度のガラス泡が発生する場合があ
る。しかし、本実施の形態のように非磁性保護膜7の成
膜前に、イオンエッチングによりガラス表面の除去を行
えば、中性洗剤、及びアルカリ性洗剤で洗浄した場合で
もトラック幅規制溝4Bと非磁性保護膜7との界面に
は、100パーセントガラス泡が発生しない。また、中
性洗剤、及びアルカリ性洗剤によりトリミング溝6内の
研削粉等の汚れを除去できるため、トリミング溝6内の
ガラス泡は99%以上発生しない。
護膜7との界面に発生するガラス泡は、中性洗剤、及び
アルカリ性洗剤で洗浄を行った場合、ほとんど100%
発生する。また、中性洗剤及びアルカリ性洗剤を使用し
ないときは、トリミング溝内に残留する汚れによりトリ
ミング溝内に50%程度のガラス泡が発生する場合があ
る。しかし、本実施の形態のように非磁性保護膜7の成
膜前に、イオンエッチングによりガラス表面の除去を行
えば、中性洗剤、及びアルカリ性洗剤で洗浄した場合で
もトラック幅規制溝4Bと非磁性保護膜7との界面に
は、100パーセントガラス泡が発生しない。また、中
性洗剤、及びアルカリ性洗剤によりトリミング溝6内の
研削粉等の汚れを除去できるため、トリミング溝6内の
ガラス泡は99%以上発生しない。
【0033】図2は、本発明に係わるMIG型磁気ヘッ
ドの他の実施の形態を示す。本実施の形態のMIG型磁
気ヘッド28は、磁気ギャップgの両端に夫々接して磁
気記録媒体との相対摺動方向に沿うトリミング溝6及び
6′を形成し、非磁性保護膜7を形成する前にトリミン
グ溝6及び6′の内面をイオンエッチングし、溝6、
6′内に露出するトラック幅規制溝4A、4B側の夫々
のガラス面、即ち側面5A1 、底面5A2 (図示せ
ず)、側面5B1 、底面5B2 (図示せず)の変質層を
除去し、その後、トリミング溝6及び6′内に非磁性保
護膜7を介してガラス8を充填して構成する。その他の
構成は、図1と同様であるので、同一符号を付して重複
説明を省略する。この磁気ヘッド28の製造方法は、2
つのトリミング溝6、6′を有する以外は磁気ヘッド1
と同様であるので、前述の図3〜図11と同様の工程で
製造できる。
ドの他の実施の形態を示す。本実施の形態のMIG型磁
気ヘッド28は、磁気ギャップgの両端に夫々接して磁
気記録媒体との相対摺動方向に沿うトリミング溝6及び
6′を形成し、非磁性保護膜7を形成する前にトリミン
グ溝6及び6′の内面をイオンエッチングし、溝6、
6′内に露出するトラック幅規制溝4A、4B側の夫々
のガラス面、即ち側面5A1 、底面5A2 (図示せ
ず)、側面5B1 、底面5B2 (図示せず)の変質層を
除去し、その後、トリミング溝6及び6′内に非磁性保
護膜7を介してガラス8を充填して構成する。その他の
構成は、図1と同様であるので、同一符号を付して重複
説明を省略する。この磁気ヘッド28の製造方法は、2
つのトリミング溝6、6′を有する以外は磁気ヘッド1
と同様であるので、前述の図3〜図11と同様の工程で
製造できる。
【0034】このMIG型磁気ヘッド28においても、
前述の磁気ヘッド1と同様にトリミング溝6、6′内の
ガラス泡の発生を防止できると共に、非磁性保護膜7と
トラック幅規制溝4A、4Bとの界面のガラス泡の発生
を防止することができる。従って、高品質で信頼性の高
いこの種のMIG型磁気ヘッドを提供することができ
る。また、製造に際して、ガラス泡の発生しないMIG
型磁気ヘッドを歩留り良く製造することができる。
前述の磁気ヘッド1と同様にトリミング溝6、6′内の
ガラス泡の発生を防止できると共に、非磁性保護膜7と
トラック幅規制溝4A、4Bとの界面のガラス泡の発生
を防止することができる。従って、高品質で信頼性の高
いこの種のMIG型磁気ヘッドを提供することができ
る。また、製造に際して、ガラス泡の発生しないMIG
型磁気ヘッドを歩留り良く製造することができる。
【0035】本発明の磁気ヘッドの製造方法の他の実施
の形態を説明する。本実施の形態の製法は、前述の図6
のトリミング溝6を形成する工程の後、図7の中性洗剤
及びアルカリ性洗剤による洗浄工程を行わずに、直ちに
図8のイオンエッチング処理を行い、例えばトリミング
溝加工における研削液により変質したガラス面5B1 、
5B2 の変質層を除去する。これ以後は、前述と同様の
工程(図9〜図11)を行い、目的のMIG型磁気ヘッ
ドを得る。この製法は、図2のMIG型磁気ヘッド28
の製造にも適用できる。かかる製法においても、前述と
同様にガラス泡の発生しない高品質で信頼性の高いMI
G型磁気ヘッドを歩留り良く製造することができる。
の形態を説明する。本実施の形態の製法は、前述の図6
のトリミング溝6を形成する工程の後、図7の中性洗剤
及びアルカリ性洗剤による洗浄工程を行わずに、直ちに
図8のイオンエッチング処理を行い、例えばトリミング
溝加工における研削液により変質したガラス面5B1 、
5B2 の変質層を除去する。これ以後は、前述と同様の
工程(図9〜図11)を行い、目的のMIG型磁気ヘッ
ドを得る。この製法は、図2のMIG型磁気ヘッド28
の製造にも適用できる。かかる製法においても、前述と
同様にガラス泡の発生しない高品質で信頼性の高いMI
G型磁気ヘッドを歩留り良く製造することができる。
【0036】
【発明の効果】本発明の磁気ヘッドによれば、摺動面に
その磁気記録媒体との相対摺動方向に沿って磁気ギャッ
プの一端または両端を高精度に規定する溝を有するの
で、磁気ギャップエッジにズレやダレを生じることがな
い。しかも溝内面に非磁性保護膜を形成し、且つ溝内面
の非磁性保護膜に接するガラス面の一部がイオンエッチ
ングされた面であるので、溝内、及び溝内面の非磁性保
護膜と溝外との界面でのガラス泡の発生を防止し、高品
質で信頼性の高い磁気ヘッドを提供することができる。
その磁気記録媒体との相対摺動方向に沿って磁気ギャッ
プの一端または両端を高精度に規定する溝を有するの
で、磁気ギャップエッジにズレやダレを生じることがな
い。しかも溝内面に非磁性保護膜を形成し、且つ溝内面
の非磁性保護膜に接するガラス面の一部がイオンエッチ
ングされた面であるので、溝内、及び溝内面の非磁性保
護膜と溝外との界面でのガラス泡の発生を防止し、高品
質で信頼性の高い磁気ヘッドを提供することができる。
【0037】本発明の磁気ヘッドの製造方法によれば、
磁気ギャップエッジにズレやダレがなく、且つ磁気ギャ
ップの一端または両端を高精度に規定する溝内、及び溝
内面の非磁性保護膜と溝外との界面でのガラス泡の発生
を防止することができ、高品質で信頼性の高い磁気ヘッ
ドの製造歩留りを著しく向上することができる。
磁気ギャップエッジにズレやダレがなく、且つ磁気ギャ
ップの一端または両端を高精度に規定する溝内、及び溝
内面の非磁性保護膜と溝外との界面でのガラス泡の発生
を防止することができ、高品質で信頼性の高い磁気ヘッ
ドの製造歩留りを著しく向上することができる。
【図1】A 本発明の磁気ヘッドの一実施の形態を示す
構成図である。 B その平面図である。
構成図である。 B その平面図である。
【図2】本発明の磁気ヘッドの他の実施の形態を示す構
成図である。
成図である。
【図3】図1の磁気ヘッドの製造工程図(その1)であ
る。
る。
【図4】図1の磁気ヘッドの製造工程図(その2)であ
る。
る。
【図5】図1の磁気ヘッドの製造工程図(その3)であ
る。
る。
【図6】A 図5の要部の拡大平面図である。 B 図AのAーA線上の断面図である。
【図7】A 図1の磁気ヘッドの製造工程図(その4)
であって、要部の拡大平面図である。 B 図AのAーA線上の断面図である。
であって、要部の拡大平面図である。 B 図AのAーA線上の断面図である。
【図8】A 図1の磁気ヘッドの製造工程図(その5)
であって、要部の拡大平面図である。 B 図AのAーA線上の断面図である。 C 図AのM部の拡大断面図である。
であって、要部の拡大平面図である。 B 図AのAーA線上の断面図である。 C 図AのM部の拡大断面図である。
【図9】A 図1の磁気ヘッドの製造工程図(その6)
であって、要部の拡大平面図である。 B 図AのAーA線上の断面図である。
であって、要部の拡大平面図である。 B 図AのAーA線上の断面図である。
【図10】A 図1の磁気ヘッドの製造工程図(その
7)であって、要部の拡大平面図である。 B 図AのAーA線上の断面図である。
7)であって、要部の拡大平面図である。 B 図AのAーA線上の断面図である。
【図11】図1の磁気ヘッドの製造工程図(その8)で
ある。
ある。
【図12】A 本発明の比較例に係る磁気ヘッドを示す
平面図である。 B 図AのBーB線上の断面図である。
平面図である。 B 図AのBーB線上の断面図である。
【図13】重ね書き記録方式の説明図である。
【図14】従来の磁気ヘッドを示す構成図である。
【図15】従来の磁気ヘッドでのガラス泡の発生の説明
図である。
図である。
1、28・・・MIG型磁気ヘッド、2・・・磁性コ
ア、2a,2b・・・磁性コア半体、3・・・金属磁性
薄膜、4〔4A,4B〕・・・トラック幅規制溝、5
〔5A,5B〕・・・ガラス、6、6′・・・トリミン
グ溝、7・・・非磁性保護膜、8・・・ガラス、9・・
・摺動面、11〔11a,11b〕・・・コイル巻線
溝、12〔12a,12b〕・・・巻線ガイド溝、21
〔21a,21b〕・・・磁性コア半体ブロック、23
・・・変質層、24・・・イオンエッチング。
ア、2a,2b・・・磁性コア半体、3・・・金属磁性
薄膜、4〔4A,4B〕・・・トラック幅規制溝、5
〔5A,5B〕・・・ガラス、6、6′・・・トリミン
グ溝、7・・・非磁性保護膜、8・・・ガラス、9・・
・摺動面、11〔11a,11b〕・・・コイル巻線
溝、12〔12a,12b〕・・・巻線ガイド溝、21
〔21a,21b〕・・・磁性コア半体ブロック、23
・・・変質層、24・・・イオンエッチング。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 千葉 茂美 宮城県登米郡中田町宝江新井田字加賀野境 30番地 ソニー宮城株式会社内 (72)発明者 小林 孝之 宮城県登米郡中田町宝江新井田字加賀野境 30番地 ソニー宮城株式会社内 Fターム(参考) 5D111 AA02 AA05 AA13 AA23 BB22 BB33 DD03 DD12 DD23 FF18 FF21 FF51 GG03 GG16 HH03 JJ05 JJ07 JJ22 JJ35 KK01 KK20
Claims (4)
- 【請求項1】 磁気記録媒体が摺動する摺動面に、磁気
ギャップの一端または両端に接して磁気記録媒体との相
対摺動方向に沿う溝を有し、該溝の内面に非磁性保護膜
が形成され、 前記溝の内面に臨み前記非磁性保護膜に接するガラス面
の一部がイオンエッチングされた面であることを特徴と
する磁気ヘッド。 - 【請求項2】 磁気記録媒体が摺動する摺動面に、磁気
ギャップの一端または両端に接して磁気記録媒体との相
対摺動方向に沿う溝を形成する工程と、 前記溝内のガラス面にイオンエッチングを施す工程と、 前記溝の内面に非磁性保護膜を形成する工程と、 前記溝内にガラスを充填する工程を有することを特徴と
する磁気ヘッドの製造方法。 - 【請求項3】 前記溝の形成後、前記イオンエッチング
工程前に前記溝内を洗浄する工程を有することを特徴と
する請求項2記載の磁気ヘッドの製造方法。 - 【請求項4】 前記イオンエッチングを不活性元素のイ
オン粒子で行うことを特徴とする請求項2または3記載
の磁気ヘッドの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001037424A JP2002245604A (ja) | 2001-02-14 | 2001-02-14 | 磁気ヘッド及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001037424A JP2002245604A (ja) | 2001-02-14 | 2001-02-14 | 磁気ヘッド及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002245604A true JP2002245604A (ja) | 2002-08-30 |
Family
ID=18900557
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001037424A Pending JP2002245604A (ja) | 2001-02-14 | 2001-02-14 | 磁気ヘッド及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002245604A (ja) |
-
2001
- 2001-02-14 JP JP2001037424A patent/JP2002245604A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4948460A (en) | Method of producing head core slider for rigid magnetic disk drive, utilizing laser-induced etching | |
| JP2002245604A (ja) | 磁気ヘッド及びその製造方法 | |
| JP2933491B2 (ja) | 磁気ヘッドの製造方法 | |
| JP3125343B2 (ja) | 磁気ヘッドの製造方法 | |
| JP3833730B2 (ja) | 磁気ヘッドの製造方法 | |
| JP3496302B2 (ja) | 磁気ヘッド及び磁気ヘッド装置 | |
| JP2005220005A (ja) | 磁気ヘッド用融着ガラス及び磁気ヘッド | |
| JP3469731B2 (ja) | 磁気ヘッドの製造方法 | |
| JP3519523B2 (ja) | 磁気ヘッド及びその製造方法 | |
| JPH09156952A (ja) | 磁気ヘッド用融着ガラスの製造方法及び磁気ヘッドの製造方法 | |
| KR100193603B1 (ko) | 자기헤드 제조방법 | |
| JP2550661B2 (ja) | 複合磁気ヘッド | |
| JP2556479B2 (ja) | 磁気ヘツド | |
| JPH08255310A (ja) | 磁気ヘッド及びその製造方法 | |
| JPH0721510A (ja) | 磁気ヘッド | |
| JP2003242604A (ja) | 磁気ヘッドおよびその製造方法ならびにそれを用いた磁気記録再生装置 | |
| JP2002074610A (ja) | 磁気ヘッド | |
| JPH10222811A (ja) | 磁気ヘッド及びその製造方法 | |
| JPH10283609A (ja) | 磁気ヘッドの製造方法とその製造装置 | |
| JPH11213324A (ja) | 磁気ヘッド | |
| JP2005149666A (ja) | 磁気ヘッド及び、その製造方法 | |
| JPS63261504A (ja) | 磁気ヘツドの製造方法 | |
| JPH08161709A (ja) | 磁気ヘッド及び磁気ヘッド装置 | |
| JPH10302217A (ja) | 磁気ヘッド | |
| JPH0935209A (ja) | 磁気ヘッド及びその製造方法ならびにそれらを用いた磁気記録再生装置 |