JP2002237997A - 固体撮像素子の欠陥画素補正装置およびそれを備えた固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像素子の欠陥画素補正装置およびそれを備えた固体撮像装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 フレーム読み出し駆動の固体撮像素子の欠陥
画素を正しく検出し補正する。 【解決手段】 固体撮像素子１により出力された映像信
号は、ＣＤＳ、ＡＧＣ等の前処理２を実施した後、Ａ／
Ｄ変換器４によりデジタル信号に変換される。この信号
は１Ｈ遅延回路51〜53、加算回路11、ＬＰＦ61〜63を経
て欠陥画素検出手段７に入力される。欠陥画素検出手段
７では判定対象画素とその周辺画素を抽出し、これらの
画素データに対し加減算器、比較器を用い、突出量と近
似量を算出し、それぞれのしきい値で決まる条件を満た
す画素を欠陥画素と判定する。その判定結果に従って、
欠陥画素補正手段８、14で補正する。
画素を正しく検出し補正する。 【解決手段】 固体撮像素子１により出力された映像信
号は、ＣＤＳ、ＡＧＣ等の前処理２を実施した後、Ａ／
Ｄ変換器４によりデジタル信号に変換される。この信号
は１Ｈ遅延回路51〜53、加算回路11、ＬＰＦ61〜63を経
て欠陥画素検出手段７に入力される。欠陥画素検出手段
７では判定対象画素とその周辺画素を抽出し、これらの
画素データに対し加減算器、比較器を用い、突出量と近
似量を算出し、それぞれのしきい値で決まる条件を満た
す画素を欠陥画素と判定する。その判定結果に従って、
欠陥画素補正手段８、14で補正する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はビデオカメラ等の固
体撮像装置に関し、特に、固体撮像素子の欠陥画素を補
正する装置に関するものである。
体撮像装置に関し、特に、固体撮像素子の欠陥画素を補
正する装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に半導体により形成された固体撮像
素子においては、半導体の局部的な結晶欠陥等により欠
陥画素を生じることが知られている。欠陥画素が生じる
と、入射光量に応じた撮像出力に常に一定のバイアス電
圧が加算されてしまうため、この欠陥画素の信号がその
まま処理されるとモニター画面上に高輝度の白い点とし
て現れる。また、光電感度の低いものは黒い点として現
れる。
素子においては、半導体の局部的な結晶欠陥等により欠
陥画素を生じることが知られている。欠陥画素が生じる
と、入射光量に応じた撮像出力に常に一定のバイアス電
圧が加算されてしまうため、この欠陥画素の信号がその
まま処理されるとモニター画面上に高輝度の白い点とし
て現れる。また、光電感度の低いものは黒い点として現
れる。
【０００３】従来、上記のような欠陥画素の検出や補正
に関しては、例えば特開平5-41868号公報の「固体撮像
装置」に開示されている。以下に従来の欠陥画素補正装
置について説明する。
に関しては、例えば特開平5-41868号公報の「固体撮像
装置」に開示されている。以下に従来の欠陥画素補正装
置について説明する。
【０００４】図８は、従来の欠陥画素補正装置を備えた
固体撮像装置の構成を示すものである。この固体撮像装
置は、レンズ21と、フィールド読み出し駆動の撮像素子
22と、前処理部23と、Ａ／Ｄ変換器24と、１Ｈ遅延回路
251、252と、ＬＰＦ261〜263と、欠陥画素検出手段27
と、欠陥画素補正手段28と、輝度信号処理回路29と、色
信号処理回路30とを備えている。
固体撮像装置の構成を示すものである。この固体撮像装
置は、レンズ21と、フィールド読み出し駆動の撮像素子
22と、前処理部23と、Ａ／Ｄ変換器24と、１Ｈ遅延回路
251、252と、ＬＰＦ261〜263と、欠陥画素検出手段27
と、欠陥画素補正手段28と、輝度信号処理回路29と、色
信号処理回路30とを備えている。
【０００５】欠陥画素検出手段27では判定対象画素とそ
れに隣接する周辺画素とを抽出し、これらの画素データ
に対し加減算器、比較器を用い、突出量を算出し、所定
のしきい値で決まる条件を満たす画素を欠陥画素と判定
して補正する。
れに隣接する周辺画素とを抽出し、これらの画素データ
に対し加減算器、比較器を用い、突出量を算出し、所定
のしきい値で決まる条件を満たす画素を欠陥画素と判定
して補正する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
欠陥画素補正装置では、フレーム読み出し駆動の固体撮
像素子を用いた場合、欠陥画素の影響の及ぶ画素が垂直
方向に広がるため、正しく欠陥画素を検出し補正するこ
とができないという問題を有していた。
欠陥画素補正装置では、フレーム読み出し駆動の固体撮
像素子を用いた場合、欠陥画素の影響の及ぶ画素が垂直
方向に広がるため、正しく欠陥画素を検出し補正するこ
とができないという問題を有していた。
【０００７】本発明はこのような問題点を解決するため
になされたもので、フレーム読み出し駆動の固体撮像素
子の欠陥画素を正しく検出し補正することのできる欠陥
画素補正装置を提供することを目的とする。
になされたもので、フレーム読み出し駆動の固体撮像素
子の欠陥画素を正しく検出し補正することのできる欠陥
画素補正装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の欠陥画素補正装
置は、フレーム読み出し駆動の固体撮像素子の出力信号
のレベルをもとに欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段
と、前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素を
補正する欠陥画素補正手段とを有する欠陥画素補正装置
であって、前記欠陥画素検出手段は、判定対象画素のレ
ベルとその周辺の画素のレベルとの比較を行うことによ
り欠陥画素の影響を受けている画素を識別し、前記判定
対象画素のレベルと前記周辺の画素のレベルとの差分が
所定の第１のしきい値以上であり、かつ前記判定対象画
素のレベルと前記欠陥画素の影響を受けている画素のレ
ベルとの差分が所定の第２のしきい値未満の場合に前記
判定対象画素を欠陥画素と判定することを特徴とする。
この構成により、判定対象画素のレベルの突出量および
近似量を算出し、周辺画素のレベルから突出し、かつ欠
陥画素の影響を受けている画素のレベルに近似している
判定対象画素を欠陥画素と判定し補正するので、フレー
ム読み出し駆動の固体撮像素子の欠陥画素を正しく検出
し補正することができる。
置は、フレーム読み出し駆動の固体撮像素子の出力信号
のレベルをもとに欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段
と、前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素を
補正する欠陥画素補正手段とを有する欠陥画素補正装置
であって、前記欠陥画素検出手段は、判定対象画素のレ
ベルとその周辺の画素のレベルとの比較を行うことによ
り欠陥画素の影響を受けている画素を識別し、前記判定
対象画素のレベルと前記周辺の画素のレベルとの差分が
所定の第１のしきい値以上であり、かつ前記判定対象画
素のレベルと前記欠陥画素の影響を受けている画素のレ
ベルとの差分が所定の第２のしきい値未満の場合に前記
判定対象画素を欠陥画素と判定することを特徴とする。
この構成により、判定対象画素のレベルの突出量および
近似量を算出し、周辺画素のレベルから突出し、かつ欠
陥画素の影響を受けている画素のレベルに近似している
判定対象画素を欠陥画素と判定し補正するので、フレー
ム読み出し駆動の固体撮像素子の欠陥画素を正しく検出
し補正することができる。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図１乃至図６を用いて説明する。図１は、本発明の
実施の形態の欠陥画素補正装置を備えた固体撮像装置の
構成を示す図である。この固体撮像装置は、レンズ１
と、フレーム読み出し駆動の固体撮像素子（以下、単に
固体撮像素子という）２と、前処理部３と、Ａ／Ｄ変換
器４と、第１〜第３の１Ｈ遅延回路51〜53と、第１〜第
３のローパスフィルタ（以下、ＬＰＦ）61〜63と、欠陥
画素検出手段７と、第１の欠陥画素補正手段８と、輝度
信号処理回路９と、色信号処理回路10と、第１の加算回
路11と、第２の加算回路12と、遅延調整回路13と、第２
の欠陥画素補正手段14とを備えている。
て、図１乃至図６を用いて説明する。図１は、本発明の
実施の形態の欠陥画素補正装置を備えた固体撮像装置の
構成を示す図である。この固体撮像装置は、レンズ１
と、フレーム読み出し駆動の固体撮像素子（以下、単に
固体撮像素子という）２と、前処理部３と、Ａ／Ｄ変換
器４と、第１〜第３の１Ｈ遅延回路51〜53と、第１〜第
３のローパスフィルタ（以下、ＬＰＦ）61〜63と、欠陥
画素検出手段７と、第１の欠陥画素補正手段８と、輝度
信号処理回路９と、色信号処理回路10と、第１の加算回
路11と、第２の加算回路12と、遅延調整回路13と、第２
の欠陥画素補正手段14とを備えている。
【００１０】レンズ１により集束された被写体の像は固
体撮像素子２により映像信号に変換され、前処理部３に
よりＣＤＳ、ＡＧＣ等の前処理を施された後、Ａ／Ｄ変
換器４によりデジタル信号に変換される。
体撮像素子２により映像信号に変換され、前処理部３に
よりＣＤＳ、ＡＧＣ等の前処理を施された後、Ａ／Ｄ変
換器４によりデジタル信号に変換される。
【００１１】このデジタル信号は第１の加算回路11内の
加算器11a、および第１の１Ｈ遅延回路51に入力され
る。第１の１Ｈ遅延回路51の出力は第１の加算回路11内
の加算器11aならびに加算器11b、および第２の１Ｈ遅延
回路52、および第２の加算回路12内の１画素遅延器12a
に入力される。第２の遅延回路52の出力は第１の加算回
路11内の加算器11b、および第２の加算回路12内の加算
器12bに入力される。したがって、第１の加算回路11内
の加算器11aはＡ／Ｄ変換器４の出力デジタル信号とそ
れを１Ｈ遅延した信号とを加算し、加算器11bはＡ／Ｄ
変換器４の出力信号を１Ｈ遅延した信号と２Ｈ遅延した
信号とを加算する。また、第２の加算回路12内の加算器
12bは、Ａ／Ｄ変換器４の出力デジタル信号を（１Ｈ＋
１画素）遅延した信号と２Ｈ遅延した信号とを加算す
る。
加算器11a、および第１の１Ｈ遅延回路51に入力され
る。第１の１Ｈ遅延回路51の出力は第１の加算回路11内
の加算器11aならびに加算器11b、および第２の１Ｈ遅延
回路52、および第２の加算回路12内の１画素遅延器12a
に入力される。第２の遅延回路52の出力は第１の加算回
路11内の加算器11b、および第２の加算回路12内の加算
器12bに入力される。したがって、第１の加算回路11内
の加算器11aはＡ／Ｄ変換器４の出力デジタル信号とそ
れを１Ｈ遅延した信号とを加算し、加算器11bはＡ／Ｄ
変換器４の出力信号を１Ｈ遅延した信号と２Ｈ遅延した
信号とを加算する。また、第２の加算回路12内の加算器
12bは、Ａ／Ｄ変換器４の出力デジタル信号を（１Ｈ＋
１画素）遅延した信号と２Ｈ遅延した信号とを加算す
る。
【００１２】第１の加算回路11内の第１の加算器11aの
出力は第１のＬＰＦ61に入力され、第２の加算器11bの
出力は第２のＬＰＦ62、および第３の１Ｈ遅延回路53、
および第２の欠陥画素補正手段14に入力される。第３の
遅延回路53の出力は第３のＬＰＦ63に入力される。第２
の加算回路12の出力は遅延調整回路13に入力される。遅
延調整回路13は、１画素遅延器13aと、セレクタ13bとを
備えており、１画素遅延器13aで遅延された出力または
遅延されない出力を１ライン毎に交互に出力する。
出力は第１のＬＰＦ61に入力され、第２の加算器11bの
出力は第２のＬＰＦ62、および第３の１Ｈ遅延回路53、
および第２の欠陥画素補正手段14に入力される。第３の
遅延回路53の出力は第３のＬＰＦ63に入力される。第２
の加算回路12の出力は遅延調整回路13に入力される。遅
延調整回路13は、１画素遅延器13aと、セレクタ13bとを
備えており、１画素遅延器13aで遅延された出力または
遅延されない出力を１ライン毎に交互に出力する。
【００１３】第１〜第３のＬＰＦ61〜63の出力は、各々
第１の欠陥画素検出手段７に入力される。遅延調整回路
13の出力は第２の欠陥画素補正手段14に入力される。
第１の欠陥画素検出手段７に入力される。遅延調整回路
13の出力は第２の欠陥画素補正手段14に入力される。
【００１４】固体撮像素子２として図２に示すような色
フィルタ配列を持つフレーム読み出し駆動の固体撮像素
子を想定した場合、毎ラインの出力信号は図３に示すよ
うに出力される。図１において、Ａ／Ｄ変換器４の出力
である（ａ）に３ライン目が出力されている時刻では
（ｂ）から（ｊ）までの各部の信号は図３および図４に
示すようになる。このことから固体撮像素子２のＹb1の
画素に欠陥画素（網掛けは欠陥画素を表す）が存在する
とき、欠陥画素検出手段７に入力されるまでに欠陥画素
の影響が及ぶ画素は４画素になることが判る。
フィルタ配列を持つフレーム読み出し駆動の固体撮像素
子を想定した場合、毎ラインの出力信号は図３に示すよ
うに出力される。図１において、Ａ／Ｄ変換器４の出力
である（ａ）に３ライン目が出力されている時刻では
（ｂ）から（ｊ）までの各部の信号は図３および図４に
示すようになる。このことから固体撮像素子２のＹb1の
画素に欠陥画素（網掛けは欠陥画素を表す）が存在する
とき、欠陥画素検出手段７に入力されるまでに欠陥画素
の影響が及ぶ画素は４画素になることが判る。
【００１５】欠陥画素検出手段７では、第１〜第３のＬ
ＰＦ61〜63の出力から、図５に示すように判定対象画素
εとそれに隣接する８画素α、β、γ、δ、ζ、η、
θ、ιを抽出し、判定対象画素εが欠陥画素であるか否
かの判定を行う。判定の際には、まず最初に欠陥画素の
影響を受けている４画素の特定を行う。仮に欠陥画素が
白であった場合、影響を受けている画素も信号レベルが
大きくなることから、判定対象画素εの左右の画素δ、
ζのレベルの大きい方と上下の画素β、θの大きい方と
これらに挟まれた画素を選択することで欠陥画素の影響
を受けている４画素を特定する。
ＰＦ61〜63の出力から、図５に示すように判定対象画素
εとそれに隣接する８画素α、β、γ、δ、ζ、η、
θ、ιを抽出し、判定対象画素εが欠陥画素であるか否
かの判定を行う。判定の際には、まず最初に欠陥画素の
影響を受けている４画素の特定を行う。仮に欠陥画素が
白であった場合、影響を受けている画素も信号レベルが
大きくなることから、判定対象画素εの左右の画素δ、
ζのレベルの大きい方と上下の画素β、θの大きい方と
これらに挟まれた画素を選択することで欠陥画素の影響
を受けている４画素を特定する。
【００１６】そして、特定後、突出量の判定を行う。こ
れは、欠陥画素の影響を受けていない残りの５画素のレ
ベルの最大値と判定対象画素εのレベルとの差分をと
り、この差分が所定の第１のしきい値thw 以上の場
合、判定対象画素は突出している画素であると判定す
る。
れは、欠陥画素の影響を受けていない残りの５画素のレ
ベルの最大値と判定対象画素εのレベルとの差分をと
り、この差分が所定の第１のしきい値thw 以上の場
合、判定対象画素は突出している画素であると判定す
る。
【００１７】次に近似量の判定を行う。これは欠陥画素
の影響を受けている４画素のうち判定対象画素を除く３
画素のレベルと判定対象画素のレベルとの差分をそれぞ
れとり、その差分の最大値が所定の第２のしきい値thnw
未満である場合、欠陥画素の影響を受けている４画素は
近似していると判定する。
の影響を受けている４画素のうち判定対象画素を除く３
画素のレベルと判定対象画素のレベルとの差分をそれぞ
れとり、その差分の最大値が所定の第２のしきい値thnw
未満である場合、欠陥画素の影響を受けている４画素は
近似していると判定する。
【００１８】そして、これら突出量と近似量の条件が共
に満たされるとき、判定対象画素は欠陥画素として判定
され、判定出力が第１の欠陥画素補正手段８および第２
の欠陥画素補正手段14に送られる。
に満たされるとき、判定対象画素は欠陥画素として判定
され、判定出力が第１の欠陥画素補正手段８および第２
の欠陥画素補正手段14に送られる。
【００１９】第１の欠陥画素補正手段８では、第１〜第
３のＬＰＦ61〜63の出力を用いて、欠陥画素を欠陥画素
の影響を受けていない５画素のうちの最大値と置き換え
る。
３のＬＰＦ61〜63の出力を用いて、欠陥画素を欠陥画素
の影響を受けていない５画素のうちの最大値と置き換え
る。
【００２０】例えば図６に示すように、網掛けで囲まれ
たα、β、δ、εの画素に白の欠陥画素の影響が及んで
いる場合では欠陥画素の判定は以下のようになる。
たα、β、δ、εの画素に白の欠陥画素の影響が及んで
いる場合では欠陥画素の判定は以下のようになる。
【００２１】すなわち、突出量の判定は、 ｜ε−max(γ、ζ、η、θ、ι)｜≧thw …式〔１〕 となり、近似量の判定は、 max｛｜（ε−α）、（ε−β）、（ε−δ）｜｝＜thnw …式〔２〕 となり、欠陥画素の判定は、 （突出量の判定）∩（近似量の判定）＝真 …式〔３〕 となる。
【００２２】そして、判定対象画素εが欠陥画素と判定
された場合、画素εはmax(γ、ζ、η、θ、ι)に置き
換えられる。
された場合、画素εはmax(γ、ζ、η、θ、ι)に置き
換えられる。
【００２３】反対に欠陥画素が黒であった場合、判定対
象画素の左右の画素δ、ζの小さい方と上下の画素β、
θの小さい方とこれらに挟まれた画素が影響を受けてい
る４画素となるので、同様にして図６においてα、β、
δ、εの画素に黒の欠陥画素の影響が及んでいる場合の
判定は次のようになる。
象画素の左右の画素δ、ζの小さい方と上下の画素β、
θの小さい方とこれらに挟まれた画素が影響を受けてい
る４画素となるので、同様にして図６においてα、β、
δ、εの画素に黒の欠陥画素の影響が及んでいる場合の
判定は次のようになる。
【００２４】まず、突出量の判定は、 ｜ε−min(γ、ζ、η、θ、ι)｜≧thb …式〔４〕 となり、近似量の判定は、 max｛｜（ε−α）、（ε−β）、（ε−δ）｜｝＜thnb …式〔５〕 となり、 欠陥画素の判定は、 （突出量の判定）∩（近似量の判定）＝真 …式〔６〕 となる。
【００２５】そして、判定対象画素εが欠陥画素と判定
された場合、画素εはmin(γ、ζ、η、θ、ι）に置き
換えられる。
された場合、画素εはmin(γ、ζ、η、θ、ι）に置き
換えられる。
【００２６】ここでthw、thbは突出量の判定をするため
のしきい値、thnw、thnbは近似量の判定をするためのし
きい値で、それぞれ任意に設定することができる。
のしきい値、thnw、thnbは近似量の判定をするためのし
きい値で、それぞれ任意に設定することができる。
【００２７】また、第２の欠陥画素補正手段14では欠陥
画素検出手段７で検出した欠陥画素の判定出力を用い
て、色信号処理回路系の映像入力信号の欠陥画素補正を
行う。色信号処理回路10に入力される信号は図４
（ｅ）、（ｇ）に示すように、２画素周期で同一の色フ
ィルタの信号が繰り返す信号であるため、図７に示すよ
うに画素ｒが欠陥画素だった場合（ｐ＋ｔ）／２に置き
換える。色信号はもともと輝度信号よりも解像度が低
く、２画素以上離れた信号からの補正でも問題ない。
画素検出手段７で検出した欠陥画素の判定出力を用い
て、色信号処理回路系の映像入力信号の欠陥画素補正を
行う。色信号処理回路10に入力される信号は図４
（ｅ）、（ｇ）に示すように、２画素周期で同一の色フ
ィルタの信号が繰り返す信号であるため、図７に示すよ
うに画素ｒが欠陥画素だった場合（ｐ＋ｔ）／２に置き
換える。色信号はもともと輝度信号よりも解像度が低
く、２画素以上離れた信号からの補正でも問題ない。
【００２８】このように、本発明の実施の形態の固体撮
像装置では、判定対象画素とその周辺の８画素を抽出
し、欠陥画素の影響を受けている４画素を特定し、さら
に欠陥画素の影響を受けていない残りの５画素のレベル
の最大値と判定対象画素のレベルとの差分から判定対象
画素の突出量を算出し、さらに欠陥画素の影響を受けて
いる４画素のうち判定対象画素を除く３画素のレベルと
判定対象画素のレベルとの差分から欠陥画素の影響を受
けている４画素の近似量を算出し、突出量が第１のしき
い値以上であり、かつ近似量が第２のしきい値未満の画
素を欠陥画素と判定し、補正することにより、フレーム
読み出し駆動の固体撮像素子の欠陥画素を正しく検出し
補正することができる。
像装置では、判定対象画素とその周辺の８画素を抽出
し、欠陥画素の影響を受けている４画素を特定し、さら
に欠陥画素の影響を受けていない残りの５画素のレベル
の最大値と判定対象画素のレベルとの差分から判定対象
画素の突出量を算出し、さらに欠陥画素の影響を受けて
いる４画素のうち判定対象画素を除く３画素のレベルと
判定対象画素のレベルとの差分から欠陥画素の影響を受
けている４画素の近似量を算出し、突出量が第１のしき
い値以上であり、かつ近似量が第２のしきい値未満の画
素を欠陥画素と判定し、補正することにより、フレーム
読み出し駆動の固体撮像素子の欠陥画素を正しく検出し
補正することができる。
【００２９】
【発明の効果】以上のように、本発明は、フレーム読み
出し駆動の固体撮像素子の出力信号から判定対象画素と
その周辺画素を抽出し、欠陥画素の影響を受けている画
素を特定し、さらに周辺画素のレベルから突出し、かつ
欠陥画素の影響を受けている画素のレベルに近似してい
る判定対象画素を欠陥画素と判定し補正することによ
り、フレーム読み出し駆動の固体撮像素子の欠陥画素を
正しく検出し補正することができる。
出し駆動の固体撮像素子の出力信号から判定対象画素と
その周辺画素を抽出し、欠陥画素の影響を受けている画
素を特定し、さらに周辺画素のレベルから突出し、かつ
欠陥画素の影響を受けている画素のレベルに近似してい
る判定対象画素を欠陥画素と判定し補正することによ
り、フレーム読み出し駆動の固体撮像素子の欠陥画素を
正しく検出し補正することができる。
【図１】本発明の実施の形態の欠陥画素補正装置を備え
た固体撮像装置の構成を示す図、
た固体撮像装置の構成を示す図、
【図２】本発明の実施の形態における固体撮像素子の色
フィルタ配列の例を示す図、
フィルタ配列の例を示す図、
【図３】本発明の実施の形態における固体撮像素子の出
力信号を示す図、
力信号を示す図、
【図４】図１における各部の信号の様子を示す図、
【図５】欠陥画素の検出のためのエリアの例を示す図、
【図６】欠陥画素の検出と補正の例を示す図、
【図７】色信号処理系の欠陥画素の補正の例を示す図、
【図８】従来の欠陥画素補正装置を備えた固体撮像装置
の構成を示す図である。
の構成を示す図である。
１ レンズ ２ 固体撮像素子 ３ 前処理部 ４ Ａ／Ｄ変換器 51、52、53 １Ｈ遅延回路 61、62、63 ＬＰＦ ７ 欠陥画素検出手段 ８、14 欠陥画素補正手段 ９ 輝度信号処理回路 10 色信号処理回路 11、12 加算回路 13 遅延調整回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤田 幸男 静岡県浜松市元城町216−18 株式会社松 下通信静岡研究所内 (72)発明者 刈谷 政樹 神奈川県横浜市港北区綱島東四丁目３番１ 号 松下通信工業株式会社内 Ｆターム(参考） 4M118 AA07 AB01 BA12 CA02 FA06 GC09 GC14 5C024 CX22 GY03 GY04 GY05 HX03 HX05 HX23 HX28 HX29
Claims (6)
- 【請求項１】 フレーム読み出し駆動の固体撮像素子の
出力信号のレベルをもとに欠陥画素を検出する欠陥画素
検出手段と、前記欠陥画素検出手段により検出された欠
陥画素を補正する欠陥画素補正手段とを有する欠陥画素
補正装置であって、前記欠陥画素検出手段は、判定対象
画素のレベルとその周辺の画素のレベルとの比較を行う
ことにより欠陥画素の影響を受けている画素を識別し、
前記判定対象画素のレベルと前記周辺の画素のレベルと
の差分が所定の第１のしきい値以上であり、かつ前記判
定対象画素のレベルと前記欠陥画素の影響を受けている
画素のレベルとの差分が所定の第２のしきい値未満の場
合に前記判定対象画素を欠陥画素と判定することを特徴
とする固体撮像素子の欠陥画素補正装置。 - 【請求項２】 前記欠陥画素の検出を加算器、およびキ
ャリア除去のためのフィルタ通過後の各画素の信号レベ
ルを基にして行うことを特徴とする請求項１記載の固体
撮像素子の欠陥画素補正装置。 - 【請求項３】 前記第１のしきい値および前記第２のし
きい値は可変であることを特徴とする請求項１記載の固
体撮像素子の欠陥画素補正装置。 - 【請求項４】 前記欠陥画素補正手段は前記判定対象画
素が欠陥画素と判定された場合、前記判定対象画素を欠
陥画素の影響を受けていない周辺画素に置き換えること
を特徴とする請求項１記載の固体撮像素子の欠陥画素補
正装置。 - 【請求項５】 前記欠陥画素補正手段は輝度信号処理系
および色信号処理系の欠陥画素を補正することを特徴と
する請求項１記載の固体撮像素子の欠陥画素補正装置。 - 【請求項６】 請求項１乃至５のいずれか１項に記載の
欠陥画素補正装置を備えたことを特徴とする固体撮像装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001031011A JP2002237997A (ja) | 2001-02-07 | 2001-02-07 | 固体撮像素子の欠陥画素補正装置およびそれを備えた固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001031011A JP2002237997A (ja) | 2001-02-07 | 2001-02-07 | 固体撮像素子の欠陥画素補正装置およびそれを備えた固体撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002237997A true JP2002237997A (ja) | 2002-08-23 |
Family
ID=18895152
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001031011A Pending JP2002237997A (ja) | 2001-02-07 | 2001-02-07 | 固体撮像素子の欠陥画素補正装置およびそれを備えた固体撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002237997A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100431340C (zh) * | 2001-09-28 | 2008-11-05 | 松下电器产业株式会社 | 固态成像设备 |
| WO2009098827A1 (ja) * | 2008-02-07 | 2009-08-13 | Olympus Corporation | 画像処理装置及び画像処理プログラム |
| CN1893618B (zh) * | 2005-04-27 | 2010-08-18 | 三星电子株式会社 | 用于处理拜耳模式数字彩色视频信号的方法和装置 |
-
2001
- 2001-02-07 JP JP2001031011A patent/JP2002237997A/ja active Pending
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| WO2009098827A1 (ja) * | 2008-02-07 | 2009-08-13 | Olympus Corporation | 画像処理装置及び画像処理プログラム |
| JP2009188822A (ja) * | 2008-02-07 | 2009-08-20 | Olympus Corp | 画像処理装置及び画像処理プログラム |
| US8441546B2 (en) | 2008-02-07 | 2013-05-14 | Olympus Corporation | Image processing device and image processing program |
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