JP2002228797A - 積層型ピンホールディスク及びその製造方法 - Google Patents
積層型ピンホールディスク及びその製造方法Info
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Abstract
er sortingaperture(OSA)とし
て利用するピンホールディスクの多層膜を作製する際
に、その穴がずれない、且つテーパーのない厚いピンホ
ールを形成する方法。 【解決手段】 複数枚のピンホールディスクを積重ね、
そのピンホールにワイヤ、ピン又は光を使用してピンホ
ールの位置をそろえて固定した後に、その複数枚の各ピ
ンホールディスク間を接着又は溶接する。
Description
レート(FZP)を用いた硬X線顕微鏡におけるord
er sorting aperture(OSA)と
して利用される積層型ピンホールディスク、及びその作
製方法に関するものである。
クを、高エネルギーを使用する硬X線顕微鏡におけるO
SAとして利用することにより、従来のX線(レントゲ
ン)撮影技術では空間分解能が足りずに観察できなかっ
た微細な構造物を観察できることになった。
に従来のレントゲン撮影技術に取って代わる可能性と性
能を持つている。又、材料分野への応用としては、硬X
線顕微鏡の特徴である高エネルギーX線の持つ強い透過
力を利用することにより、核燃料棒の非破壊検査といっ
た重金属及び厚い金属材料の非破壊検査と分析への応用
が考えられる。
ーX線は、生物試料に対するダメージを軽減できるの
で、動植物細胞の活動及び内部構造を生きたままその場
で観察できる。
る)は、フレネルゾーンプレート(FZP)を用いた硬
X線顕微鏡の開発には必要不可欠な光学素子である。こ
れまでのFZPを用いた硬X線顕微鏡は、使用するX線
のエネルギーが低かったこともあり、従来から用いられ
てきたピンホールディスクの厚さで十分であった。その
一例としては、1枚の直径9.5mmの金属製ディスク
の中央に直径開口20μmの丸穴を貫通させたもので十
分であった。
エネルギーが100KeV程度と高くなってくると、白
金製のピンホールディスクを用いたとしても、従来の厚
さでは、硬X線顕微鏡においてFZPから回折される不
要な硬X線を止める(遮蔽する)ことが難しくなって来
た。
うに、硬X線顕微鏡の部分装置として利用され、硬X線
は左から入射し、FZPにより集光される光1とその他
の光2とに分かれる。ピンホールディスクは、集光する
特定の次数の光1のみを選択的に通し、その他の不要な
光2を遮断する機能を有するものである。
ィスクの厚さを更に増せば良いと考えられるが、1枚の
厚い金属製ディスクに例えば直径20μmの穴をテーパ
をつけずに貫通させることは技術的に限界があり、従来
のピンホール作製技術によって作られて来たピンホール
ディスクでは、FZPを用いた硬X線顕微鏡の開発は不
可能であった。
来の1枚のピンホールディスクを多数枚積層して接着或
いは溶接することを特徴としている。この時、各ピンホ
ールの開口位置をそろえるために、ピンホールの開口に
合う硬いワイヤ(例えば、タングステンワイヤ)又はピ
ンを各ピンホールの全てに通し、その穴位置をそろえた
状態で各ピンホールディスク間を接着(あるいは溶接)
することにより作製するものである。又、レーザー光等
の光を各ピンホールに通し、その穴の位置をそろえた状
態で各ピンホールディスク間を固着することにより作製
することもできる。
止める(遮蔽する)ために必要な、穴の奥行きを有し、
かつテーパーのない深い穴の空いたピンホールディスク
を作製することができ、そしてその積層枚数を選択する
ことによりピンホールディスクの厚さを調節できる。
スクの仕様を示す。ピンホールディスクの材料は白金
で、外形9.5mm、厚さ200μmの中央に直径20
μm、深さ200μmの丸穴が貫通している。これ自体
は従来の放電加工技術によって作製できるものである。
数枚積み重ねて接着又は溶接する。図3にその一例とし
て2枚重ねたピンホールディスクの例を示す。上下のピ
ンホールの穴の位置がずれないように硬い真っ直ぐな金
属ワイヤ、ピン等を穴に通して2枚のピンホールディス
クの固定位置を決める。
面(穴を除く)を接着又は溶接する。接着又は溶接完了
後、金属ワイヤ、ピン等を抜き、積層型ピンホールディ
スクが完成する。
位置を揃える方法として、レーザー光等の光を用いる場
合は、図5に示されるように、穴を通過してくる光を光
検出器で計測し、その強度が最大になるように、複数枚
のピンホールディスク間相互の穴の位置を調整決定す
る。
は、2枚積層した白金製のピンホールディスク(厚さ4
00μm)を用いれば計算上は82KeVの硬X線を9
9.9%遮蔽できる。これはFZPを用いた硬X線顕微
鏡のOSAとして十分使用に耐え得るものである。
案されている硬X線顕微鏡の中でも最も高い空間分解能
を達成できると期待されている。積層型ピンホールディ
スクの発明によって、FZPを用いた硬X線顕微鏡が実
現できるものである。
ィスクの機能を説明する図である。
示す図である。
ステンワイヤ又はピン等で穴の位置を揃えて接着又は溶
接する工程を示す図である。
ディスク間相互の穴の位置を調整決定する工程を示す図
である。
Claims (4)
- 【請求項1】 ピンホールディスクを多数枚積層し、そ
の各ピンホール位置を揃えた状態でピンホールディスク
間を接着又は溶接することにより、ピンホールディスク
のピンホールの奥行き方向にテーパーのない穴が形成さ
れた積層型ピンホールディスク。 - 【請求項2】 その積層枚数を変えることにより厚さの
調節が可能な請求項1記載の積層型ピンホールディスク - 【請求項3】 各ピンホールディスクの中心に開いたピ
ンホール位置を揃えるためにピンホールの開口に合う太
さのワイヤ、ピン又は光をその各ピンホールに貫通し、
ピンホールの位置を揃えた状態で各ピンホールディスク
間を接着又は溶接することからなる積層型ピンホールデ
ィスクの製造方法。 - 【請求項4】 積層型ピンホールディスクを構成する各
ピンホールディスクのピンホール位置を積層方向に揃え
るために、顕微鏡とワイヤ若しくはピンとを使用し、又
は光検出器と光とを使用する請求項3記載の方法。
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6349424A (ja) * | 1986-08-20 | 1988-03-02 | Sony Corp | デイスクの貼り合わせ方法 |
JPS63198898A (ja) * | 1987-02-13 | 1988-08-17 | 日本エクスラン工業株式会社 | 放射線遮蔽繊維及びその製造法 |
JPH04268499A (ja) * | 1991-02-21 | 1992-09-24 | Shimadzu Corp | 放射線検出器用コリメータ |
JPH08108567A (ja) * | 1994-10-07 | 1996-04-30 | Olympus Optical Co Ltd | 静電像形成装置及びその製造方法 |
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JPH07230537A (ja) * | 1994-02-18 | 1995-08-29 | Sanrei Internatl Kk | 光ディスクの計数方法とその装置 |
US5737084A (en) * | 1995-09-29 | 1998-04-07 | Takaoka Electric Mtg. Co., Ltd. | Three-dimensional shape measuring apparatus |
EP1005035B1 (en) * | 1995-10-09 | 2000-11-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | An optical disk and an optical disk reproduction apparatus |
JPH11317552A (ja) * | 1998-05-07 | 1999-11-16 | Tokin Corp | 積層型圧電トランス |
JP2001047517A (ja) * | 1999-08-12 | 2001-02-20 | Sony Disc Technology Inc | ディスク貼り合わせ装置及びディスク貼り合わせ方法 |
US6211951B1 (en) * | 1999-08-16 | 2001-04-03 | Litton Systems, Inc. | Boresight alignment method |
JP2001357568A (ja) * | 2000-06-13 | 2001-12-26 | Sony Corp | 光学記録媒体の製造方法 |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6349424A (ja) * | 1986-08-20 | 1988-03-02 | Sony Corp | デイスクの貼り合わせ方法 |
JPS63198898A (ja) * | 1987-02-13 | 1988-08-17 | 日本エクスラン工業株式会社 | 放射線遮蔽繊維及びその製造法 |
JPH04268499A (ja) * | 1991-02-21 | 1992-09-24 | Shimadzu Corp | 放射線検出器用コリメータ |
JPH08108567A (ja) * | 1994-10-07 | 1996-04-30 | Olympus Optical Co Ltd | 静電像形成装置及びその製造方法 |
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