JP2002184614A - 下方プローブ対応載物台 - Google Patents

下方プローブ対応載物台

Info

Publication number
JP2002184614A
JP2002184614A JP2000383188A JP2000383188A JP2002184614A JP 2002184614 A JP2002184614 A JP 2002184614A JP 2000383188 A JP2000383188 A JP 2000383188A JP 2000383188 A JP2000383188 A JP 2000383188A JP 2002184614 A JP2002184614 A JP 2002184614A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
pressing
probing
trimming
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000383188A
Other languages
English (en)
Inventor
Takahito Nozaki
敬仁 野崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2000383188A priority Critical patent/JP2002184614A/ja
Publication of JP2002184614A publication Critical patent/JP2002184614A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】基板の裏面からプロービングを行う場合であっ
ても、プロービングによって基板が浮き上がって位置ず
れが生じることがなく、正確なトリミングを行うことが
でき、また、プローブユニットやレーザ発振器等の構造
物が障害となることがなく、基板交換を容易に行うこと
ができる下方プローブ対応載物台の提供。 【解決手段】筐体7と、基板6を載置し下方からプロー
ブが接触可能な隙間を設けた受けプレート5と第1のア
クチュエータ8とを備え、基板交換位置とトリミング位
置との間を水平方向に移動する基板支持部3と、基板6
を上方から押圧する押さえプレート4と第2のアクチュ
エータ9とを備え、トリミング位置において基板支持部
3上部で垂直方向に移動する押圧部2とを有し、基板の
下方からプロービングを行うに際し、基板6が押さえプ
レート4によって保持されて基板6の持ち上がりが防止
されるため正確なトリミングが可能となり、また、基板
6の交換に際して、基板支持部3が押圧部2から水平方
向にずれた位置に移動されることによって基板交換が容
易となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、載物台に関し、特
に、下方からプロービングを行うレーザトリミング装置
等に用いて好適な下方プローブ対応載物台に関する。
【0002】
【従来の技術】一般にレーザトリミング装置は、測定用
プローブを被加工物である基板等に接触させて基板の特
性や回路定数等を測定しながら、レーザ発振器から照射
されたレーザ光を用いて基板上の電子部品、配線等の一
部を切削するものであり、このようなレーザトリミング
装置は、例えば、特開平3−234001号公報等に記
載されている。
【0003】上記従来のレーザトリミング装置は、筐体
と、基板を載置しX−Yステージ上で位置合わせのため
に水平方向に移動する載物台と、載物台の上部に設けら
れたプローブカードを垂直方向に動かすプローブユニッ
トと、プローブユニットの上方に設けられ、レーザ発振
器から出射したレーザ光をプローブカードに設けた窓を
通して基板に照射するレーザ発振手段と、基板の位置を
観察する顕微鏡とから構成されており、プローブユニッ
トを介して基板に電圧を印加し、基板の特性や回路定数
等の測定を行っている。
【0004】上記構成のレーザトリミング装置でトリミ
ングを行うには、まず、複数の電子部品、それらを結ぶ
配線、電極等が設けられた基板を基板支持部上に載置
し、X−Yステージ上で動かしてトリミング開始位置に
移動させる。次に、顕微鏡を用いて基板位置の微調整を
行いながら基板上方に設けられたプローブカードを降下
させて基板の所定に位置に接触させる。
【0005】そして、プローブカードを介して測定手段
から基板に電圧を印加して電子部品の抵抗値や回路定数
等を測定した状態で、基板の所定の配線パターンにレー
ザ光を照射してトリミングを行う。抵抗値又は回路定数
等が所定の値に達したらトリミングを終了し、プローブ
カードを上昇させて載物台上方から基板を取り出す。こ
のように上記レーザトリミング装置及びレーザトリミン
グ方法により、上面に電子回路、配線パターン、電極パ
ターン等が形成された基板のトリミングを行うことがで
きる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】近年、携帯機器等の小
型化に伴い、基板に搭載される電子部品も小型軽量とな
り、また、電子部品を高密度に実装することが望まれて
おり、このような実装の高密度化により、電極のような
面積の大きいパターンは基板の裏面に配置するものが多
くなってきている。そして、裏面に電子部品や配線、電
源パターン等が実装された基板も、同様にレーザトリミ
ング装置を用いてトリミング作業を行う必要がある。
【0007】しかしながら、上述したレーザトリミング
装置は、基板の上方に設けたプローブによって基板に電
圧を印加し、同じく基板の上方からレーザービームを照
射するという構成になっているため、電極等が裏面に形
成された高密度実装基板に対してトリミングを行う場合
には、この裏面側からプローブを接触させてトリミング
を行う必要がある。そこで、従来のレーザトリミング装
置を用いて基板の裏面からプロービングを行うと、プロ
ーブカードの押圧力によって基板が基板支持部から浮い
てしまい、基板の位置がずれて正確なトリミングができ
ないという問題があった。
【0008】また、従来のレーザトリミング装置では、
基板支持部の上方にプローブユニットやレーザ発振器等
の構造物が設置されているため、基板の交換に際してこ
れらの構造物が障害となり、円滑な基板交換を行うこと
ができず、また、基板交換作業を自動で行う場合には特
殊なハンドリング装置を用意しなければならず、コスト
の上昇を招いてしまうという問題があった。
【0009】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
のであって、その第1の目的は、基板の裏面からプロー
ビングを行う場合であっても、プロービングによって基
板が浮き上がって位置ずれが生じることがなく、正確な
トリミングを行うことができる下方プローブ対応載物台
を提供することにある。
【0010】また、本発明の第2の目的は、プローブユ
ニットやレーザ発振器等の構造物が障害となることがな
く、基板交換を容易に行うことができる下方プローブ対
応載物台を提供することにある。
【0011】
【問題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、筐体と、基板を支持する基板支持部と、
前記基板支持部上方において垂直方向に移動可能な押圧
部とを備え、前記基板支持部には、少なくとも、基板を
載置し下方からプローブが接触可能な隙間を設けた受け
プレートを有し、前記押圧部には、少なくとも、前記基
板を上方から押圧する押さえプレートと、該押圧部を駆
動する駆動手段とを有し、前記基板の下方からプロービ
ングを行うに際し、前記基板が前記押さえプレートによ
って押圧されるものである。
【0012】また、本発明は、筐体と、基板交換位置と
トリミング位置との間を水平方向に移動可能な基板支持
部と、トリミング位置の前記基板支持部上方において垂
直方向に移動可能な押圧部とを備え、前記基板支持部に
は、少なくとも、基板を載置し下方からプローブが接触
可能な隙間を設けた受けプレートと該基板支持部を駆動
する第1の駆動手段とを有し、前記押圧部には、少なく
とも、前記基板を上方から押圧する押さえプレートと該
押圧部を駆動する第2の駆動手段とを有し、前記基板の
下方からプロービングを行うに際し、前記基板が前記押
さえプレートによって押圧され、前記基板の交換に際し
て、前記基板支持部が前記押圧部から水平方向にずれた
位置に移動されるものである。
【0013】本発明においては、前記押さえプレート
が、該押さえプレート上方からのレーザ光を透過するよ
うに、短冊状又は格子状に形成されていることが好まし
い。
【0014】このように本発明は、トリミングに際して
は、基板を載置した基板支持部をトリミング位置に移動
し、押圧部に設けた押さえプレートで押圧した状態でプ
ロービングを行うことにより基板の浮き上がりを防止
し、また、基板交換に際しては、基板支持部を基板交換
位置に移動することによって上方に障害物のない状態で
基板の交換を行うことができ、トリミング作業及び試料
交換作業を正確かつ確実に行うことができる。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明に係る下方プローブ対応載
物台は、その好ましい一実施の形態において、筐体7
と、基板6を載置し下方からプローブが接触可能な隙間
を設けた受けプレート5と第1のアクチュエータ8とを
備え、基板交換位置とトリミング位置との間を水平方向
に移動する基板支持部3と、基板6を上方から押圧する
押さえプレート4と第2のアクチュエータ9とを備え、
トリミング位置において基板支持部3上部で垂直方向に
移動する押圧部2とを有し、基板の下方からプロービン
グを行うに際し、基板6が押さえプレート4によって保
持されて基板6の持ち上がりが防止されるため正確なト
リミングが可能となり、また、基板6の交換に際して、
基板支持部3が押圧部2から水平方向にずれた位置に移
動されることによって基板交換が容易となる。
【0016】
【実施例】上記した本発明の一実施の形態についてさら
に詳細に説明すべく、本発明の一実施例について図1及
び図2を参照して説明する。図1は、本発明の一実施例
に係る下方プローブ対応載物台の構造を示す図であり、
(a)は上面図、(b)は側面図、(c)は正面図であ
る。また、図2は、下方プローブ対応載物台を用いたレ
ーザトリミング装置の概略構成を示す側断面図である。
【0017】まず、図1及び図2を参照して、本実施例
の下方プローブ対応載物台の構造について説明する。本
実施例の下方プローブ対応載物台1は、筐体7と、筐体
7のトリミング位置で垂直方向に移動する押圧部2と、
筐体7のトリミング位置と基板交換位置との間を水平方
向に移動する基板支持部3とからなり、押圧部2には、
基板6を上面から押さえる押さえプレート4と押圧部2
を駆動する第1のアクチュエータ8とを有し、また、基
板支持部3には、基板6を支持、位置決めする受けプレ
ート5と第2のアクチュエータ9とを有し、この下方プ
ローブ対応載物台1が下方からプロービング動作を行う
レーザトリミング装置やプローバに取り付けられる。
【0018】ここで、押さえプレート4は、基板6の裏
面からプロービングするプローブ11によって上方に押
されても持ち上がらないようにすると共に、レーザ光1
3が押さえプレート4によって遮られないようにするた
めに短冊状又は格子状に形成することが好ましい。な
お、押さえプレート4の材質は特に限定されるものでは
なく、基板6を傷つけず、かつ、押圧によって容易に変
形しない適度な硬さの材料で形成されることが好まし
い。
【0019】次に、上記構成の下方プローブ対応載物台
1をレーザトリミング装置に組み込んだ場合の動作につ
いて説明する。まず、基板交換位置において、基板支持
部3の受けプレート5に位置決め、載置された基板6
は、第1のアクチュエータ8によってトリミング位置ま
で移動される。そして移動した後、基板支持部3上方に
設けられた押圧部2が第2のアクチュエータ9により下
降して、押さえプレート4が基板6に当接して押圧す
る。
【0020】この基板6が押圧された状態において、図
2に示すように、プローブユニット10に取り付けられ
たプローブ11が下方から基板6の所定の位置にコンタ
クトし、プローブユニット10に接続された測定装置
(図示せず)により基板6に搭載された電子部品、配
線、電極等の抵抗値、回路定数等が測定される。そし
て、押圧部2の上方に設けられたレーザ発振器から出射
したレーザ光13が光学系12を通って基板6の所定の
位置に照射され、配線、電極等が切削されてトリミング
が行われる。
【0021】そして、抵抗値、回路定数等が所定の値に
なったらトリミングを終了し、プローブ11を降下させ
て基板6から分離する。その後、第1のアクチュエータ
8によって押圧部2全体を基板交換位置まで水平方向に
移動させて受けプレート5から基板6を取り外し、一連
の作業が終了する。次の基板をトリミングする場合は、
上記工程を繰り返して行う。
【0022】このように、本実施例の下方プローブ対応
載物台1では、基板支持部3が基板交換位置にある時に
は基板6の上方には障害物がなく、基板1の交換を上方
からアクセスできるようにしている。これにより、人手
による基板1の交換作業を安易に行うことができ、ま
た、自動化した場合でも特殊なハンドリング装置を用い
る必要がなく、安価なハンドリング装置で対応すること
ができる。
【0023】また、基板支持部3がトリミング位置にあ
る時には、基板6は押圧部2に設けられた押さえプレー
ト4によって適度な圧力で押圧されているため、下方か
らプローブ11が接触した場合でも基板6が持ち上がっ
て位置がずれる等の問題が生じることがなく、正確なト
リミングを行うことができる。なお、前記したように押
さえプレート4は短冊状又は格子状に形成されているた
めに、レーザ光13が押さえプレート4によって遮られ
ることはない。
【0024】上記効果は、厚さの薄いガラスエポキシ基
板のような柔らかい材質の基板6において特に顕著に現
れ、下方からのプロービング時に基板6を浮き上がらせ
てレーザ光13の焦点位置を変えることがなく、安定し
たトリミングが可能となるという効果がある。
【0025】なお、本実施例では、上記構成の下方プロ
ーブ対応載物台をレーザトリミング装置に組み込んだ例
について記載したが、本発明は上記実施例に限定される
ものではなく、下方からプロービング動作を行うプロー
バ等の他の装置に応用することも可能である。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
筐体上で基板交換位置とトリミング位置との間を移動す
る基板支持部と、トリミング位置において下方からのプ
ロービングによる基板の浮き上がりを防止し、レーザ光
を透過するように短冊状又は格子状に形成された押さえ
プレートを有する押圧部とを備えることにより、プロー
ビングに際して、基板に印可する電源等の電極が基板の
裏面に形成されている場合であっても正確にトリミング
を行うことができ、特に、厚さの薄いガラスエポキシ基
板のような柔らかい材質の基板においてその効果を発揮
する。
【0027】更に、基板交換時において、基板支持部が
基板上方に何も障害物がない基板交換位置に移動するた
め、基板を交換する作業を容易に行うことができ、ま
た、自動化する場合であっても、ハンドリング装置とし
て上面プロービングの標準的なものと互換性を持たすこ
とができるため、コストの上昇を抑えることができると
いう効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る下方プローブ対応載物
台の構造を示す図であり、(a)は上面図、(b)は側
面図、(c)は正面図である。
【図2】本発明の一実施例に係る下方プローブ対応載物
台をレーザトリミング装置に組み込んだ状態を示す断面
図である。
【符号の説明】
1 下方プローブ対応載物台 2 押圧部 3 基板支持部 4 押さえプレート 5 受けプレート 6 基板 7 筐体 8 第1のアクチュエータ 9 第2のアクチュエータ 10 プローブユニット 11 プローブ 12 光学系 13 レーザ光

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】筐体と、基板を支持する基板支持部と、前
    記基板支持部上方において垂直方向に移動可能な押圧部
    とを備え、前記基板支持部には、少なくとも、基板を載
    置し下方からプローブが接触可能な隙間を設けた受けプ
    レートを有し、前記押圧部には、少なくとも、前記基板
    を上方から押圧する押さえプレートと、該押圧部を駆動
    する駆動手段とを有し、 前記基板の下方からプロービングを行うに際し、前記基
    板が前記押さえプレートによって押圧されることを特徴
    とする下方プローブ対応載物台。
  2. 【請求項2】筐体と、基板交換位置とトリミング位置と
    の間を水平方向に移動可能な基板支持部と、トリミング
    位置の前記基板支持部上方において垂直方向に移動可能
    な押圧部とを備え、前記基板支持部には、少なくとも、
    基板を載置し下方からプローブが接触可能な隙間を設け
    た受けプレートと該基板支持部を駆動する第1の駆動手
    段とを有し、前記押圧部には、少なくとも、前記基板を
    上方から押圧する押さえプレートと該押圧部を駆動する
    第2の駆動手段とを有し、 前記基板の下方からプロービングを行うに際し、前記基
    板が前記押さえプレートによって押圧され、前記基板の
    交換に際して、前記基板支持部が前記押圧部から水平方
    向にずれた位置に移動されることを特徴とする下方プロ
    ーブ対応載物台。
  3. 【請求項3】前記押さえプレートが、該押さえプレート
    上方からのレーザ光を透過するように、短冊状又は格子
    状に形成されていることを特徴とする請求項1又は2に
    記載の下方プローブ対応載物台。
  4. 【請求項4】請求項1乃至3のいずれか一に記載の下方
    プローブ対応載物台を備えたことを特徴とするレーザト
    リミング装置。
  5. 【請求項5】請求項1乃至3のいずれか一に記載の下方
    プローブ対応載物台を備えたことを特徴とするプロー
    バ。
JP2000383188A 2000-12-18 2000-12-18 下方プローブ対応載物台 Pending JP2002184614A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000383188A JP2002184614A (ja) 2000-12-18 2000-12-18 下方プローブ対応載物台

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000383188A JP2002184614A (ja) 2000-12-18 2000-12-18 下方プローブ対応載物台

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002184614A true JP2002184614A (ja) 2002-06-28

Family

ID=18850885

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000383188A Pending JP2002184614A (ja) 2000-12-18 2000-12-18 下方プローブ対応載物台

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002184614A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107765107A (zh) * 2016-08-18 2018-03-06 苏州迈瑞微电子有限公司 指纹识别模组灵敏度测试治具及测试方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107765107A (zh) * 2016-08-18 2018-03-06 苏州迈瑞微电子有限公司 指纹识别模组灵敏度测试治具及测试方法
CN107765107B (zh) * 2016-08-18 2023-09-15 苏州迈瑞微电子有限公司 指纹识别模组灵敏度测试治具及测试方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101191594B1 (ko) 검사용 유지 부재 및 검사용 유지 부재의 제조 방법
CN114512579B (zh) 一种Mini/micro芯片柔性飞行刺晶装置
JP2757036B2 (ja) マーキング方法及び装置
DE102018201209A1 (de) Laserbearbeitungsvorrichtung
JP7486521B2 (ja) 集光レンズの高さ調整方法およびチップ転写方法ならびに集光レンズの高さ調整装置およびチップ転写装置
CN210514365U (zh) 一种ict自动对位测试装置
TW202146140A (zh) 促進雷射加工工件的導引檢測之雷射加工設備以及其操作之方法
JP2015219007A (ja) 位置決め装置、及び処理装置
JP2002184614A (ja) 下方プローブ対応載物台
JP4167010B2 (ja) 表示用基板の処理装置
JPH09129677A (ja) 電子部品搭載装置
JPS6298684A (ja) 劈開装置及び劈開方法
JP4020279B2 (ja) パンチング装置
JP2000180807A (ja) 液晶基板の検査装置
JP3307315B2 (ja) 支柱形成用自動転写機構及び支柱転写方法
JPH10318896A (ja) 基板曲げ試験機
JP2932464B2 (ja) 半導体チップマーキング装置のマーキング位置決め方法
JPH10296463A (ja) レーザトリミング装置、測定用プローブ及びレーザトリミング方法
KR200408653Y1 (ko) 디스플레이 패널 검사용 프로브 장치
CN109475076A (zh) 一种倒贴片生产设备及生产方法
CN101111772A (zh) 平版印刷制作的探针元件的成形方法
KR100370556B1 (ko) 레이저를 사용한 집적회로의 자동 트리밍 장치
KR20190012697A (ko) 기판 갭 유지 장치
JPH09281459A (ja) 液晶表示体用プローブカード
JP2006071486A (ja) 接続装置、半導体チップ検査装置および半導体装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040202

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040217

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040416

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20040511

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040520