JP2002174606A - 昇温脱離分析装置とその方法 - Google Patents

昇温脱離分析装置とその方法

Info

Publication number
JP2002174606A
JP2002174606A JP2000370577A JP2000370577A JP2002174606A JP 2002174606 A JP2002174606 A JP 2002174606A JP 2000370577 A JP2000370577 A JP 2000370577A JP 2000370577 A JP2000370577 A JP 2000370577A JP 2002174606 A JP2002174606 A JP 2002174606A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
measurement
molecular pump
turbo
speed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000370577A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadashi Arii
忠 有井
Yoshihiro Takada
義博 高田
Eisaku Nakamura
栄作 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rigaku Denki Co Ltd
Rigaku Corp
Original Assignee
Rigaku Denki Co Ltd
Rigaku Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rigaku Denki Co Ltd, Rigaku Corp filed Critical Rigaku Denki Co Ltd
Priority to JP2000370577A priority Critical patent/JP2002174606A/ja
Publication of JP2002174606A publication Critical patent/JP2002174606A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 試料から脱離する微量のガスを迅速かつ高精
度に測定する。 【解決手段】 試料Sを配置する試料室1と、この試料
室1に配置された試料Sを加熱する赤外線加熱炉4(加
熱手段)と、加熱により試料Sから脱離したガスを所定
の測定部2で測定する質量分析計5(測定手段)と、測
定部2を真空排気するターボ分子ポンプ6と、このター
ボ分子ポンプ6の排気速度を任意に可変制御するコント
ローラ13(制御手段)とを備える。コントローラ13
は、少なくとも質量分析計5による測定動作開始前にタ
ーボ分子ポンプ6を高速運転させて測定部2を真空排気
するとともに、質量分析計5による測定動作中は、測定
動作開始前の高速運転時よりも遅い排気速度でターボ分
子ポンプ6を運転させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、熱分析装置の一
つである昇温脱離分析装置とその方法に関する。
【0002】
【従来の技術】昇温脱離分析法とは、固体試料の温度を
一定速度で昇温させたときに、試料から脱離するガスの
強度を試料温度の関数として測定するための熱分析手法
であり、TDS(Thermal Desorption Spectroscopy)
またはTPS(Temperature Programmed Desorption)
とも称される。一般に、この昇温脱離分析法は、1×1
−3Pa以下の高真空雰囲気下で測定が行われ、脱離
ガスの測定には質量分析計が用いられているが、微量な
脱離ガスを測定しようとするならば、より高真空な雰囲
気で測定する必要がある。また、試料から脱離したガス
の測定部は、ターボ分子ポンプによって真空排気されて
高真空雰囲気を形成するように構成されている。
【0003】この昇温脱離分析法では、試料から脱離す
る微量のガスを高精度に測定するために、測定系内の残
留ガスを最小限に抑えることにより、できる限りベース
スペクトル(BG)を低くすることが要求される。そこ
で、試料室の容積を最小限に抑えることが望まれるが、
一方では、単位時間当たりのガス発生量を上げて見かけ
の測定感度を向上させるために、一定以上の試料サイズ
(例えば、15mm角×2mm厚程度以上の試料体)が
必要とされるので、試料室を狭小化するにも限界があ
る。
【0004】このように一定以上の容積を有する試料室
ないし測定部を迅速に真空排気するために、従来から比
較的大きな排気能力(例えば、150〜400L/s)
を備えたターボ分子ポンプが用いられている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来は、この種の大き
な排気能力を備えたターボ分子ポンプを、常時高速運転
して迅速に測定系内の残留ガスを排気していたが、この
場合、測定中に試料から脱離したガスも質量分析計が検
出するまえにターボ分子ポンプによってその一部が排気
されてしまうため、ベーススペクトルが向上する反面、
総合的には質量分析計による脱離ガスの測定感度が低下
してしまう欠点があった。本発明は、このような従来の
実状に鑑みてなされたもので、試料から脱離する微量の
ガスを迅速かつ高精度に測定することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1の発明(昇温脱離分析装置)は、試料を配
置する試料室と、この試料室に配置された試料を加熱す
る加熱手段と、加熱により試料から脱離したガスを所定
の測定部にて測定する測定手段と、測定部を真空排気す
るターボ分子ポンプと、このターボ分子ポンプの排気速
度を任意に可変制御する制御手段と、を備えたことを特
徴とする。
【0007】ベーススペクトル(BG)を減少させるた
めに、試料室から測定部にかけての測定系内に存在する
残留ガスは測定開始前に除去する必要がある。このた
め、測定開始前にターボ分子ポンプを運転して試料室な
いし測定部の真空排気を実行する。このときはターボ分
子ポンプを高速運転して迅速に残留ガスを排気すること
が好ましい。一方、いったん測定部を高真空雰囲気にし
た後はその雰囲気を維持すれば足り、そのために必要と
されるターボ分子ポンプの排気速度は、残留ガスを除去
する際の排気速度に比べ低くても充分に実効性が確保さ
れることを、本発明者らは鋭意研究の結果、知見するに
至った。
【0008】本発明では、上記のとおりターボ分子ポン
プの排気速度を任意に可変制御する制御手段を備えた構
成として、かかる研究成果の実現を可能とした。例え
ば、上記制御手段をもって、少なくとも測定手段による
測定動作開始前にターボ分子ポンプを高速運転させて測
定部を真空排気するとともに、測定手段による測定動作
中は、測定動作開始前の高速運転時よりも遅い排気速度
でターボ分子ポンプを運転させることで(請求項2)、
測定系内に存在する残留ガスを迅速に除去して測定時間
の短縮を図るとともに、測定中は過度な真空排気を回避
して試料から脱離したガスの高精度な測定が可能とな
る。
【0009】また、ターボ分子ポンプの排気速度を任意
に可変制御する構成の採用により、試料からのガス発生
速度に応じて、ターボ分子ポンプを任意の排気速度に設
定できるので、試料の特性を勘案した適正な測定雰囲気
を形成することが可能となる。
【0010】また、請求項3の発明は、試料室に配置し
た試料を加熱したとき該試料から脱離するガスを高真空
雰囲気下の測定部で測定する昇温脱離分析方法におい
て、測定部をターボ分子ポンプを用いて真空排気すると
ともに、該ターボ分子ポンプの排気速度を任意に可変さ
せるようにしたことを特徴とする。
【0011】かかる方法発明においても、上記研究成果
の実現が可能となり、例えば、少なくとも試料から脱離
するガスの測定前にターボ分子ポンプを高速運転させて
測定部を真空排気するとともに、試料から脱離したガス
の測定中は、測定前の高速運転時よりも遅い排気速度で
ターボ分子ポンプを運転させるようにすることで(請求
項4)、測定系内に存在する残留ガスを迅速に除去して
測定時間の短縮を図るとともに、測定中は過度な真空排
気を回避して試料から脱離したガスの高精度な測定が可
能となる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の実
施形態に係る昇温脱離分析装置を模式的に示す構成図で
ある。同図に示す昇温脱離分析装置は、試料室1と測定
室2(測定部)とを中継チャンバ3を介して直列に連通
した構成の装置本体を備えている。試料室1の周囲に
は、加熱手段としての赤外線加熱炉4が設置してあり、
試料室1内に配置した試料Sを、その周囲から赤外線加
熱炉4で均一に加熱することができる。一方、測定室2
には測定手段としての質量分析計5が設けてあり、加熱
によって試料Sから脱離したガスをこの質量分析計5が
測定室2内で捕捉して測定する構成となっている。
【0013】また、測定室2には、ターボ分子ポンプ6
および粗引き用のロータリーポンプ7が連結してある。
ターボ分子ポンプ6は、試料室1から測定室2にかけて
の密閉された空間内に残留する不要なガスを測定室2側
から真空排気して除去するとともに、試料室1で試料S
から脱離したガスを測定室2に導く機能を有している。
【0014】本実施形態では、試料室1と測定室2とを
直列に連通するとともに、測定室2側からターボ分子ポ
ンプ6により真空排気する構成としたので、真空排気に
伴い内部ガスが円滑に流れて迅速な除去が可能であると
ともに、試料室1で発生した試料Sからの脱離ガスを効
率的に測定室2へと流動させることができる。
【0015】試料室1と測定室2とを連結する中継チャ
ンバ3には、測定室2との間に第1のゲートバルブ8を
介在して設けてある。また、中継チャンバ3には、第2
のゲートバルブ9を介して粗引き用のロータリーポンプ
20と、不活性ガス(例えば、窒素ガス)の供給源10
とが連結してある。なお、試料室1および測定室2に
は、各室内の真空度を測定するための真空ゲージ11,
12が設けてある。
【0016】さらに、本実施形態の昇温脱離分析装置
は、ターボ分子ポンプ6の排気速度を可変制御するコン
トローラ13(制御手段)を備えている。このコントロ
ーラ13は、ターボ分子ポンプ6のドライバ6a(駆動
回路)を制御する機能を有している。ドライバ6aは、
コントローラ13からの制御信号に基づいて、ターボ分
子ポンプ6を任意の回転数で駆動させる。
【0017】コントローラ13は種々の構成を採用する
ことができる。例えば、コントローラ13に切替スイッ
チを設けておき、この切替スイッチの切替操作をもっ
て、ターボ分子ポンプ6を所望の回転数で駆動させるた
めの制御信号がドライバ6aに出力される構成とするこ
とができる。
【0018】また、コントローラ13に内蔵されたRO
M(Read Only Memory)に、ターボ分子ポンプ6を所望
の回転数で駆動させる制御信号を出力するためのファー
ムウエアを記憶させておき、このファームウエアをもっ
て自動的に制御信号を出力する構成とすることもでき
る。
【0019】さらに、コントローラ13を外部コンピュ
ータをもって制御し、ターボ分子ポンプ6を所望の回転
数で駆動させる制御信号を出力するように構成すること
もできる。
【0020】次に、上述の装置を用いた昇温脱離分析方
法について説明する。図2は本実施形態に係る装置を用
いた昇温脱離分析方法の実施手順を示すフロー図であ
る。まず、装置の主電源を投入した後(S1)、ターボ
分子ポンプ6および粗引き用のロータリーポンプ7を作
動させる(S2)。このときコントローラ13は、ター
ボ分子ポンプ6が規定の高速運転を実行するように、同
ポンプ6を制御している。このときのターボ分子ポンプ
6の運転(高速運転)は、試料室1から測定室2にかけ
ての空間に残留する不要なガスを排除する目的を達成す
るためのものであり、例えば、150L/s程度の高真
空排気によって上記空間内を1×10 −5Pa程度の真
空度とする排気速度に設定される。
【0021】ターボ分子ポンプ6および粗引き用のロー
タリーポンプ7を作動させたまま、試料室1内に試料S
を配置し(S3)、続いて、中継チャンバ3に設けた第
2のゲートバルブ9を開くとともに(S4)、粗引き用
のロータリーポンプ20を作動して試料室1から中継チ
ャンバ3にかけての密閉空間内を真空排気する(S
5)。
【0022】その後、第2のゲートバルブ9を閉じると
ともに(S6)、第1のゲートバルブ8を開いて(S
7)、ターボ分子ポンプ6による高真空排気をもって、
試料室1から測定室2にかけての密閉空間に残留する不
要なガスを除去する。このときも、ターボ分子ポンプ6
は、コントローラ13によって高速運転を実行するよう
に制御されているので、密閉空間内に残留するガスを迅
速に除去することが可能である。
【0023】次いで、コントローラ13によりターボ分
子ポンプ6をあらかじめ規定した任意の排気速度による
低速運転に切り替える(S8)。このときの運転(低速
運転)は、それまでの高速運転に比べ遅い排気速度であ
って、切り替え時点における試料室1から測定室2にか
けての真空度(例えば、1×10−5Pa程度)を維持
できる任意の排気速度に設定される。また、この時の排
気速度は、その後に実施される測定において試料Sから
脱離するガスの発生量に応じて任意に調整することが好
ましい。
【0024】ターボ分子ポンプ6を低速運転に切り替え
た後、赤外線加熱炉4を作動して試料Sを加熱するとと
もに(S9)、質量分析計5による測定を開始する(S
10)。加熱に伴い試料Sから脱離したガスは、ターボ
分子ポンプ6による吸引圧力によって測定室2へと流動
していき、質量分析計5によって測定される。ここで質
量分析計5は、測脱離ガスの強度を試料S温度の関数と
して測定する。
【0025】あらかじめ設定した温度範囲の測定データ
が得られた時点で質量分析計5による測定を終了すると
ともに(S11)、赤外線加熱炉4を停止する(S1
2)。そして、コントローラ13によりターボ分子ポン
プ6を高速運転に切り替える(S13)。次いで、第1
のゲートバルブ8を閉じて測定室2を遮蔽した後(S1
4)、第2のゲートバルブ9を開くとともに(S1
5)、不活性ガスを中継チャンバ3内に供給して試料室
1および中継チャンバ3内の真空状態を解消させる(S
16)。なお、第2のゲートバルブ9は、試料室1およ
び中継チャンバ3内の真空状態が解消された時点で閉じ
る(S17)。
【0026】続いて、次の測定を行うときは、S3のス
テップに戻り、試料室1内の試料Sをを交換する(S
3)。一方、測定を終了するときは、ターボ分子ポンプ
6及び粗引き用のロータリーポンプ7を停止して(S1
8)、主電源を切る(S19)。
【0027】図3はコントローラ13によるターボ分子
ポンプ6の速度制御タイミングを示すチャート図であ
る。同図に示すように、ターボ分子ポンプ6を作動した
後、測定開始前の初期段階Aでは、測定室2内が速やか
に目的の真空度となるようにターボ分子ポンプ6を高速
運転させる。次いで、測定室2内が目的の真空度となっ
たことを条件に、ターボ分子ポンプ6の排気速度を測定
開始前の任意の時点で低速に切り替える(切替時点
B)。そして、排気速度を一定速度(低速)に保持した
まま測定を開始し(測定段階C)、測定終了後に再びタ
ーボ分子ポンプ6の排気速度を高速に切り替える(切り
替え時点D)。このように、各段階でターボ分子ポンプ
6の排気速度を可変制御することで、測定室2内に存在
する残留ガスを迅速に除去して測定時間の短縮を図ると
ともに、測定中は過度な真空排気を回避して試料Sから
脱離したガスの高精度な測定が可能となる。測定中の排
気速度は、試料Sから脱離するガスの発生量等を勘案し
て、測定対象ごとに設定することができる。
【0028】なお、本発明は上述した実施の形態に限定
されるものではなく、例えば、測定開始前または測定終
了後において、ターボ分子ポンプ6を適宜可変制御する
ことも可能である。
【0029】また、上述した実施形態では、測定中はタ
ーボ分子ポンプ6を一定の排気速度で運転したが、昇温
により測定室2内の真空のベースラインが上昇した場合
等を考慮して、測定中のベースラインを一定に保持する
ために、測定中においてもターボ分子ポンプ6の排気速
度を任意に可変制御するようにしてもよい。
【0030】さらに、本発明の昇温脱離分析装置は、例
えば、図4または図5に示すごとき装置構成とすること
もできる。
【0031】図4に示す昇温脱離分析装置は、試料室と
測定室を同一の本体チャンバ20内に形成したもので、
試料Sから発生した脱離ガスをリアルタイムに質量分析
計21によって測定することが可能となる。ターボ分子
ポンプ22および粗引き用のロータリーポンプ23は、
試料室と測定室を兼用する本体チャンバ20に連結して
あり、このターボ分子ポンプ22のドライバ22aをコ
ントローラ24により可変制御する構成とする。なお、
試料Sの交換は、本体チャンバ20にゲートバルブ25
を介して連結したロードセル26から行うことができ
る。このロードセル26にも内部の残留ガスを迅速に排
気する目的で、ターボ分子ポンプ27と粗引き用のロー
タリーポンプ28が連結してある。また、試料Sは、試
料台29に装着した加熱ヒータ30をもって加熱され
る。
【0032】図5に示す昇温脱離分析装置は、試料室3
1と測定室32とをゲートバルブ33を介して連結して
あり、さらにそれぞれの室31,32にターボ分子ポン
プ34,35と粗引き用のロータリポンプ36,37を
連結してある。このうち、試料室31に連結したターボ
分子ポンプ35は、試料Sの交換に際して室内に残留す
るガスを除去するためのもので、測定中は運転を停止す
る。そして、測定室32に連結したターボ分子ポンプ3
4のドライバ34aをコントローラ38によって可変制
御する構成となっている。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ターボ分子ポンプを可変制御することで、試料から脱離
する微量のガスを迅速かつ高精度に測定することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る昇温脱離分析装置を模
式的に示す構成図である。
【図2】本発明の実施形態に係る装置を用いた昇温脱離
分析方法の実施手順を示すフロー図である。
【図3】コントローラによるターボ分子ポンプの速度制
御タイミングを示すチャート図である。
【図4】本発明に係る昇温脱離装置の他の構成例を示す
構成図である。
【図5】本発明に係る昇温脱離装置の更に別の構成例を
示す構成図である。
【符号の説明】
1:試料室 2:測定室 3:中継チャンバ 4:赤外線加熱炉 5:質量分析計 6:ターボ分子ポンプ 6a:ドライバ 7:粗引き用のロータリーポンプ 8:第1のゲートバルブ 9:第2のゲートバルブ 10:窒素ガスの供給源 11,12:真空ゲージ 13:コントローラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中村 栄作 東京都昭島市松原町3−9−12 理学電機 株式会社内 Fターム(参考) 2G040 AA02 BA08 BA25 BB01 CA22 EA06

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料を配置する試料室と、この試料室に
    配置された試料を加熱する加熱手段と、加熱により試料
    から脱離したガスを所定の測定部で測定する測定手段
    と、前記測定部を真空排気するターボ分子ポンプと、こ
    のターボ分子ポンプの排気速度を任意に可変制御する制
    御手段と、を備えたことを特徴とする昇温脱離分析装
    置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の昇温脱離分析装置におい
    て、 前記制御手段は、少なくとも前記測定手段による測定動
    作開始前に前記ターボ分子ポンプを高速運転させて前記
    測定部を真空排気するとともに、前記測定手段による測
    定動作中は、前記測定動作開始前の高速運転時よりも遅
    い排気速度で前記ターボ分子ポンプを運転させることを
    特徴とする昇温脱離分析装置。
  3. 【請求項3】 試料室に配置した試料を加熱したとき該
    試料から脱離するガスを高真空雰囲気下の測定部で測定
    する昇温脱離分析方法において、 前記測定部をターボ分子ポンプを用いて真空排気すると
    ともに、該ターボ分子ポンプの排気速度を任意に可変さ
    せるようにしたことを特徴とする昇温脱離分析方法。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の昇温脱離分析方法におい
    て、 少なくとも前記試料から脱離するガスの測定前に前記タ
    ーボ分子ポンプを高速運転させて前記測定部を真空排気
    するとともに、前記試料から脱離したガスの測定中は、
    前記測定前の高速運転時よりも遅い排気速度で前記ター
    ボ分子ポンプを運転させるようにしたことを特徴とする
    昇温脱離分析方法。
JP2000370577A 2000-12-05 2000-12-05 昇温脱離分析装置とその方法 Pending JP2002174606A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000370577A JP2002174606A (ja) 2000-12-05 2000-12-05 昇温脱離分析装置とその方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000370577A JP2002174606A (ja) 2000-12-05 2000-12-05 昇温脱離分析装置とその方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002174606A true JP2002174606A (ja) 2002-06-21

Family

ID=18840447

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000370577A Pending JP2002174606A (ja) 2000-12-05 2000-12-05 昇温脱離分析装置とその方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002174606A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7140231B2 (en) 2003-08-18 2006-11-28 Rigaku Corporation Evolved gas analyzing method and apparatus
KR100673089B1 (ko) 2005-06-30 2007-01-22 (주)엔티시 멀티 가스 분석 장치
JP2010092633A (ja) * 2008-10-06 2010-04-22 Hitachi High-Technologies Corp 真空室内のガス成分測定方法、及び真空装置
CN114113285A (zh) * 2021-12-08 2022-03-01 中国工程物理研究院材料研究所 一种金属材料放气率测定机构及其测定方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7140231B2 (en) 2003-08-18 2006-11-28 Rigaku Corporation Evolved gas analyzing method and apparatus
KR100673089B1 (ko) 2005-06-30 2007-01-22 (주)엔티시 멀티 가스 분석 장치
JP2010092633A (ja) * 2008-10-06 2010-04-22 Hitachi High-Technologies Corp 真空室内のガス成分測定方法、及び真空装置
CN114113285A (zh) * 2021-12-08 2022-03-01 中国工程物理研究院材料研究所 一种金属材料放气率测定机构及其测定方法
CN114113285B (zh) * 2021-12-08 2023-07-18 中国工程物理研究院材料研究所 一种金属材料放气率测定机构及其测定方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5009295B2 (ja) パルス式エッチング冷却
JP2010243000A (ja) 真空乾燥機およびこれを用いたワークの乾燥方法
JP4162138B2 (ja) 昇温脱離ガス分析装置
KR101290543B1 (ko) 크라이오펌프 및 진공배기방법
JP2013532833A (ja) 漏れ検出装置
US10001117B2 (en) Cryopump system, cryopump controller, and method for regenerating the cryopump
JP2002174606A (ja) 昇温脱離分析装置とその方法
JP2005098962A (ja) 発生ガス分析方法とその装置
JPH09273659A (ja) 真空装置のベーキング装置
JPH07211693A (ja) ドライエッチングの終点検知方法
JP2000260750A (ja) 昇温脱離ガス分析装置
JPH0645835Y2 (ja) パルス圧力制御炉
JP2551968B2 (ja) 真空装置における排気系
JPH06213562A (ja) 真空乾燥装置
JPH0791368A (ja) クライオポンプの制御方法
JP3772751B2 (ja) ランプ封入ガス分析装置
CN216922439U (zh) 一种多气体抽真空充气系统
JP2000097890A (ja) ガス中の水分量測定装置およびクライオポンプ再生終了時の検知方法
JP3584279B2 (ja) 蛍光x線分析装置
JP5906568B2 (ja) 真空排気方法
JP2001296260A (ja) X線分析装置とその真空排気・真空リーク方法
JPH05290777A (ja) 真空室焼きだし制御装置
JPH04159466A (ja) 真空装置
JP2001104455A (ja) 蒸気滅菌装置および給蒸制御装置
JP3130128B2 (ja) クライオトラップ付き真空ポンプ