JP2002170609A - 通電用クリップ及びこの通電用クリップを用いた給放電試験装置 - Google Patents
通電用クリップ及びこの通電用クリップを用いた給放電試験装置Info
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- JP2002170609A JP2002170609A JP2000364651A JP2000364651A JP2002170609A JP 2002170609 A JP2002170609 A JP 2002170609A JP 2000364651 A JP2000364651 A JP 2000364651A JP 2000364651 A JP2000364651 A JP 2000364651A JP 2002170609 A JP2002170609 A JP 2002170609A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】被試験体としての電子部品の電極に傷をつける
ことなく、又、複数個の電子部品の給放電、信号検出を
同時に確実に行うことができる通電用クリップと試験装
置を提供すること。 【解決手段】２個の絶縁性クリップ体に、それぞれ電極
材を一体に成型加工し、この電極材の一端部をクリップ
体の一端から露出して接触端子とし、電極材の他端部を
クリップ体の他端であって、互いに向かい合せて露出し
て接触端子とし、２個のクリップ体は、略中央のシャフ
ト受突起を互いに噛合して、シャフトを通すとともに、
トーションばねを介装して通電用クリップとする。この
ような通電用クリップを多数個並設して、同時に多数の
電子部品の電極に接続して、給放電、信号検出等の試験
を行う。
ことなく、又、複数個の電子部品の給放電、信号検出を
同時に確実に行うことができる通電用クリップと試験装
置を提供すること。 【解決手段】２個の絶縁性クリップ体に、それぞれ電極
材を一体に成型加工し、この電極材の一端部をクリップ
体の一端から露出して接触端子とし、電極材の他端部を
クリップ体の他端であって、互いに向かい合せて露出し
て接触端子とし、２個のクリップ体は、略中央のシャフ
ト受突起を互いに噛合して、シャフトを通すとともに、
トーションばねを介装して通電用クリップとする。この
ような通電用クリップを多数個並設して、同時に多数の
電子部品の電極に接続して、給放電、信号検出等の試験
を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品（例えば
カード式二次電池や電気二重層コンデンサ等）の＋、−
の電極に接続して、その電子部品の充放電を行ったり、
＋、−の電極からの信号検出により、その電子部品の試
験を行うための通電用クリップ及びこの通電用クリップ
を用いた給放電試験装置に関するものである。
カード式二次電池や電気二重層コンデンサ等）の＋、−
の電極に接続して、その電子部品の充放電を行ったり、
＋、−の電極からの信号検出により、その電子部品の試
験を行うための通電用クリップ及びこの通電用クリップ
を用いた給放電試験装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、図９及び図１０に示すように、
カード型二次電池等の電子部品２０の一般的な電極２１
は、電子部品２０の一端から＋電極２２と−電極２３が
突出してなるもので、＋電極２２にはアルミニウム、−
電極２３にはニッケルを用い、ともに形状は長方形、厚
さは約８０μｍ程度である。
カード型二次電池等の電子部品２０の一般的な電極２１
は、電子部品２０の一端から＋電極２２と−電極２３が
突出してなるもので、＋電極２２にはアルミニウム、−
電極２３にはニッケルを用い、ともに形状は長方形、厚
さは約８０μｍ程度である。
【０００３】従来、このような電子部品２０の＋電極２
２及び−電極２３からの給放電や信号の検出は、図９に
示すような接触ピン２４を用いる方法や、図１０に示す
ようなわに口クリップ２６による方法が用いられてい
た。このうち、図９に示すような接触ピン２４による方
法では、絶縁ボード２５に複数個植設した接触ピン２４
を＋電極２２及び−電極２３に押圧することにより信号
検出を行っており、電子部品２０の給放電量や電子部品
２１から検出される電流量等の使用目的に応じて、使用
する接触ピン２４の数量やピン径の大きさを選択してい
た。又、図１０に示すような、わに口クリップ２６で前
記電子部品２０の＋電極２２及び−電極２３を挟むこと
により給放電を行う方法又は信号を検出する方法では、
前記わに口クリップ２６の鋸歯状をなすクリップ部２８
で、＋電極２２及び−電極２３を挟んでいた。
２及び−電極２３からの給放電や信号の検出は、図９に
示すような接触ピン２４を用いる方法や、図１０に示す
ようなわに口クリップ２６による方法が用いられてい
た。このうち、図９に示すような接触ピン２４による方
法では、絶縁ボード２５に複数個植設した接触ピン２４
を＋電極２２及び−電極２３に押圧することにより信号
検出を行っており、電子部品２０の給放電量や電子部品
２１から検出される電流量等の使用目的に応じて、使用
する接触ピン２４の数量やピン径の大きさを選択してい
た。又、図１０に示すような、わに口クリップ２６で前
記電子部品２０の＋電極２２及び−電極２３を挟むこと
により給放電を行う方法又は信号を検出する方法では、
前記わに口クリップ２６の鋸歯状をなすクリップ部２８
で、＋電極２２及び−電極２３を挟んでいた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】図９に示すような、前
記複数個の接触ピン２４を電極２１に押圧接触して電子
部品２０の給放電及び信号検出を行う場合、接触ピン２
４の先端部２９は突起状をなしているので、特に、薄板
状の電極２１は、裏面に平板な部材を介在したとして
も、電極２１の表面に傷や凹凸などが生じてしまう。こ
のため、前記接触ピン２４による試験後は、電子部品の
組立てや、他部品との接続といった加工が困難になると
いう問題があった。一方、図１０に示すように、わに口
クリップ２６で前記電極２１を挟んで接続する場合に
は、給放電用のわに口クリップ２６と信号検出用のわに
口クリップ２６を少なくとも２個必要とした。又、わに
口クリップ２６のクリップ部２８は鋸歯状をなしている
ので、電極２１の表面には、接触ピン２４を用いたとき
よりも多くの傷や凹凸などが生じてしまう。このため、
前記わに口クリップ２６による試験後においても、電子
部品２０の加工が困難になるという問題があった。
記複数個の接触ピン２４を電極２１に押圧接触して電子
部品２０の給放電及び信号検出を行う場合、接触ピン２
４の先端部２９は突起状をなしているので、特に、薄板
状の電極２１は、裏面に平板な部材を介在したとして
も、電極２１の表面に傷や凹凸などが生じてしまう。こ
のため、前記接触ピン２４による試験後は、電子部品の
組立てや、他部品との接続といった加工が困難になると
いう問題があった。一方、図１０に示すように、わに口
クリップ２６で前記電極２１を挟んで接続する場合に
は、給放電用のわに口クリップ２６と信号検出用のわに
口クリップ２６を少なくとも２個必要とした。又、わに
口クリップ２６のクリップ部２８は鋸歯状をなしている
ので、電極２１の表面には、接触ピン２４を用いたとき
よりも多くの傷や凹凸などが生じてしまう。このため、
前記わに口クリップ２６による試験後においても、電子
部品２０の加工が困難になるという問題があった。
【０００５】又、前記接触ピン２４においては、前記電
極２１と接触するのは突起状の先端部２９のみであり、
前記わに口クリップ２６においては、前記電極２１と接
触するのはクリップ部２８の突端部分のみであった。す
なわち、電極２１と、接触ピン２４又はわに口クリップ
２６とは、いずれも点接触により接触していた。このた
め、電子部品の大電流には対応できず、かつ、接触抵抗
が大きくなって、正しい給放電及び信号検出は行えない
という問題があった。
極２１と接触するのは突起状の先端部２９のみであり、
前記わに口クリップ２６においては、前記電極２１と接
触するのはクリップ部２８の突端部分のみであった。す
なわち、電極２１と、接触ピン２４又はわに口クリップ
２６とは、いずれも点接触により接触していた。このた
め、電子部品の大電流には対応できず、かつ、接触抵抗
が大きくなって、正しい給放電及び信号検出は行えない
という問題があった。
【０００６】本発明の第１の目的は、電圧の給放電及び
信号検出を行うときに、電極に傷をつけない通電用クリ
ップを提供することである。本発明の第２の目的は、電
子部品の給放電時の電流量や信号検出時の電流量が多い
場合にも対応できるような通電用クリップを提供するこ
とである。本発明の第３の目的は、多数個の電子部品の
試験を、同時に、簡単な手動操作で、又は自動的に行う
ことができるような給放電用試験装置を提供することで
ある。
信号検出を行うときに、電極に傷をつけない通電用クリ
ップを提供することである。本発明の第２の目的は、電
子部品の給放電時の電流量や信号検出時の電流量が多い
場合にも対応できるような通電用クリップを提供するこ
とである。本発明の第３の目的は、多数個の電子部品の
試験を、同時に、簡単な手動操作で、又は自動的に行う
ことができるような給放電用試験装置を提供することで
ある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、２個の絶縁性
部材からなるクリップ体２にそれぞれ電極材５を一体成
型し、この電極材５の一端部をクリップ体２の一端から
露出してリード線接続端子１７とし、この電極材５の他
端部を、クリップ体２の他端であって、互いに向い合わ
せて露出して接触端子１８とし、前記２個のクリップ体
２，２のほぼ中央のシャフト受突起８，８を互いに噛合
し、かつ、シャフト７を挿通するとともに、このシャフ
ト７にトーションばね１３を介装してなるものである。
又、試験装置は、被試験体としての電子部品２０の電極
２１を突出させてセットする電子部品トレイ３０と、こ
の電子部品トレイ３０にセットされた電子部品２０の電
極２１に臨ませて設けた通電用クリップ１と、この通電
用クリップ１の接触端子１８，１８間が開閉自在になる
ように設けた通電用クリップ用支持ケース３１と、前記
通電用クリップ１のクリップ体２，２間に進退して接触
端子１８，１８間の開閉をして電子部品２０の電極２１
への接離を制御するためのクサビ体３４を設けた固定ケ
ース３２とを具備してなるものである。
部材からなるクリップ体２にそれぞれ電極材５を一体成
型し、この電極材５の一端部をクリップ体２の一端から
露出してリード線接続端子１７とし、この電極材５の他
端部を、クリップ体２の他端であって、互いに向い合わ
せて露出して接触端子１８とし、前記２個のクリップ体
２，２のほぼ中央のシャフト受突起８，８を互いに噛合
し、かつ、シャフト７を挿通するとともに、このシャフ
ト７にトーションばね１３を介装してなるものである。
又、試験装置は、被試験体としての電子部品２０の電極
２１を突出させてセットする電子部品トレイ３０と、こ
の電子部品トレイ３０にセットされた電子部品２０の電
極２１に臨ませて設けた通電用クリップ１と、この通電
用クリップ１の接触端子１８，１８間が開閉自在になる
ように設けた通電用クリップ用支持ケース３１と、前記
通電用クリップ１のクリップ体２，２間に進退して接触
端子１８，１８間の開閉をして電子部品２０の電極２１
への接離を制御するためのクサビ体３４を設けた固定ケ
ース３２とを具備してなるものである。
【０００８】
【実施例】本発明の通電用クリップの実施例を図１〜図
４に基づき説明する。本発明による通電用クリップ１
は、２個のクリップ体２，２と、このクリップ体２，２
の成型時にクリップ体２と一体に埋設した２個の電極材
５，５と、シャフト７と、トーションばね１３からな
り、トーションばね１３の組み込み方向の違いにより、
図３に示す常閉タイプの通電用クリップ１ａと、図４に
示す常開タイプの通電用クリップ１ｂとがある。以下、
それぞれのタイプごとに説明する。
４に基づき説明する。本発明による通電用クリップ１
は、２個のクリップ体２，２と、このクリップ体２，２
の成型時にクリップ体２と一体に埋設した２個の電極材
５，５と、シャフト７と、トーションばね１３からな
り、トーションばね１３の組み込み方向の違いにより、
図３に示す常閉タイプの通電用クリップ１ａと、図４に
示す常開タイプの通電用クリップ１ｂとがある。以下、
それぞれのタイプごとに説明する。
【０００９】第１実施例（常閉タイプの通電用クリップ
１ａ） 図１、図２及び図３において、電極材５は、細板長方形
状の導電体からなり、長手側を前記クリップ材２長さと
ほぼ同じ長さとし、短手側をクリップ体２の幅より狭く
する。そして、長手側の一端部をリード線接続端子１７
とし、他方端部は半円状に折曲して接触端子１８とす
る。尚、図示例では前記電極材５のリード線接続端子１
７を板状とし、かつ、小さな孔をあけて半田付けタイプ
としたが、本発明はこれに限られるものではなく、リー
ド線接続端子１７は、Ｕ字溝状に折曲した圧着タイプで
あってもよい。
１ａ） 図１、図２及び図３において、電極材５は、細板長方形
状の導電体からなり、長手側を前記クリップ材２長さと
ほぼ同じ長さとし、短手側をクリップ体２の幅より狭く
する。そして、長手側の一端部をリード線接続端子１７
とし、他方端部は半円状に折曲して接触端子１８とす
る。尚、図示例では前記電極材５のリード線接続端子１
７を板状とし、かつ、小さな孔をあけて半田付けタイプ
としたが、本発明はこれに限られるものではなく、リー
ド線接続端子１７は、Ｕ字溝状に折曲した圧着タイプで
あってもよい。
【００１０】前記２個のクリップ体２は、絶縁性部材
を、左右同一形状の選択ばさみ状に形成したもので、具
体的な形状は以下のとおりとする。クリップ体２の成型
加工時に、前記電極材５をクリップ体２の中央部に埋設
し、電極材５の両端のリード線接触端子１７と接触端子
１８を電極材５から突出させるように一体成型する。更
に詳しくは、前記クリップ材２の上部には、電極材５の
リード線接触端子１７を保護したり、短絡を防ぐため
に、２個の突出部３，３を形成し、この突出部３，３の
間に凹部４を形成する。この凹部４の中央部には、前記
電極材５の一端部を、クリップ体２の一端から突出させ
てリード線接続端子１７とする。又、電極材５の多端部
から半円状の端部を突出させ、クリップ体２の内側の半
円部１１に巻付けるようにして接触端子１８とする。
を、左右同一形状の選択ばさみ状に形成したもので、具
体的な形状は以下のとおりとする。クリップ体２の成型
加工時に、前記電極材５をクリップ体２の中央部に埋設
し、電極材５の両端のリード線接触端子１７と接触端子
１８を電極材５から突出させるように一体成型する。更
に詳しくは、前記クリップ材２の上部には、電極材５の
リード線接触端子１７を保護したり、短絡を防ぐため
に、２個の突出部３，３を形成し、この突出部３，３の
間に凹部４を形成する。この凹部４の中央部には、前記
電極材５の一端部を、クリップ体２の一端から突出させ
てリード線接続端子１７とする。又、電極材５の多端部
から半円状の端部を突出させ、クリップ体２の内側の半
円部１１に巻付けるようにして接触端子１８とする。
【００１１】前記２個のクリップ材２の中央部には、そ
れぞれシャフト７を挿通して軸受けとするため、２個の
シャフト受突起８，８を、間隔１２をあけて形成する。
これらのシャフト受突起８，８のうち、一方のシャフト
受突起８はクリップ材２の一方の側縁と同一面に設け、
他方のシャフト受突起８はクリップ材２他方の側縁との
間にシャフト受突起８の幅と同程度の切欠きを設け、シ
ャフト係合部９とする。更に、シャフト受突起８，８の
中央には、相互に一直線状となるシャフト穴１０，１０
を形成する。
れぞれシャフト７を挿通して軸受けとするため、２個の
シャフト受突起８，８を、間隔１２をあけて形成する。
これらのシャフト受突起８，８のうち、一方のシャフト
受突起８はクリップ材２の一方の側縁と同一面に設け、
他方のシャフト受突起８はクリップ材２他方の側縁との
間にシャフト受突起８の幅と同程度の切欠きを設け、シ
ャフト係合部９とする。更に、シャフト受突起８，８の
中央には、相互に一直線状となるシャフト穴１０，１０
を形成する。
【００１２】前記トーションばね１３は、金属性の線か
らなる。形状は、中心角約６０度のＶ字形とし、中央部
のみを数回巻いてコイル部１４とし、それ以外の両部分
は直線とする。又、コイル部１４の直径はシャフト７の
直径よりやや大きくする。
らなる。形状は、中心角約６０度のＶ字形とし、中央部
のみを数回巻いてコイル部１４とし、それ以外の両部分
は直線とする。又、コイル部１４の直径はシャフト７の
直径よりやや大きくする。
【００１３】シャフト７は、絶縁棒や金属棒からなり、
直径がシャフト穴１０よりやや小さめとする。又、この
シャフト７は挿入時の抜け止めとして、一端部にシャフ
ト穴１０よりやや大きめの抜け止め頭部１５を形成し、
他端部に、挿入できるが抜け出ることがない抜け止め突
起１６を形成する。
直径がシャフト穴１０よりやや小さめとする。又、この
シャフト７は挿入時の抜け止めとして、一端部にシャフ
ト穴１０よりやや大きめの抜け止め頭部１５を形成し、
他端部に、挿入できるが抜け出ることがない抜け止め突
起１６を形成する。
【００１４】上記のとおり形成されたクリップ材２、電
極材５、トーションばね１３及びシャフト７を、以下の
ように組立てる。
極材５、トーションばね１３及びシャフト７を、以下の
ように組立てる。
【００１５】（１）電極材５を埋設した、同形の２個の
クリップ材２，２を組合せるには、まず、前記クリップ
材２は、互いにシャフト受突起８，８同士を向き合わ
せ、一方の２個のシャフト受突起８，８を他方のシャフ
ト受突起８，８の間隔１２とシャフト受係号部９に待合
させる。このとき、２個のクリップ体２，２のシャフト
穴１０同士の位置を合せる。又、ここで、クリップ材
２，２のシャフト受突起８，８間に生じる間隔１２の一
部がコイル収納部１９となる。
クリップ材２，２を組合せるには、まず、前記クリップ
材２は、互いにシャフト受突起８，８同士を向き合わ
せ、一方の２個のシャフト受突起８，８を他方のシャフ
ト受突起８，８の間隔１２とシャフト受係号部９に待合
させる。このとき、２個のクリップ体２，２のシャフト
穴１０同士の位置を合せる。又、ここで、クリップ材
２，２のシャフト受突起８，８間に生じる間隔１２の一
部がコイル収納部１９となる。
【００１６】（２）前記コイル収納部１９に前記トーシ
ョンばね１３のコイル部１４を嵌込む。このとき、図３
に示すように、トーションばね１３の先端部をリード線
接続端子１７側に向けることにより常閉タイプの通電用
クリップ１ａとなる。
ョンばね１３のコイル部１４を嵌込む。このとき、図３
に示すように、トーションばね１３の先端部をリード線
接続端子１７側に向けることにより常閉タイプの通電用
クリップ１ａとなる。
【００１７】（３）組合せた前記クリップ体２，２のシ
ャフト穴１０，１０と前記トーションばね１３に、シャ
フト７を挿入する。シャフト７は、前記シャフト穴１０
及び前記コイル部１４を、抜け止め頭部１５に係止する
まで挿通させる。すると、抜け止め突起１６が前記シャ
フト受突起８の外部に表出して抜け止めとなる。
ャフト穴１０，１０と前記トーションばね１３に、シャ
フト７を挿入する。シャフト７は、前記シャフト穴１０
及び前記コイル部１４を、抜け止め頭部１５に係止する
まで挿通させる。すると、抜け止め突起１６が前記シャ
フト受突起８の外部に表出して抜け止めとなる。
【００１８】上記の方法により作成した常閉タイプの通
電用クリップ１ａは、トーションばね１３によりクリッ
プ材２，２の接触端子１８同士を閉じ、電子部品２０の
電極２１に接続される。又、クリップ体２，２間を指６
でつまんで、接触端子１８と反対側、すなわちリード線
接続端子１７側を内側に押圧すると、リード線接続端子
１７，１７が、組込んだトーションばね１３の力に抗し
て、反対側の接触端子１８，１８が開いた状態となる。
給放電と信号検出を同時に行うときは、２個の常閉タイ
プの通電用クリップ１ａ，１ａを同一の電子部品２０に
接続し、それぞれの常閉タイプの通電用クリップ１ａ，
１ａの一方の電極材５が給放電用として作用し、他方の
電極材５が信号検出用として作用する。
電用クリップ１ａは、トーションばね１３によりクリッ
プ材２，２の接触端子１８同士を閉じ、電子部品２０の
電極２１に接続される。又、クリップ体２，２間を指６
でつまんで、接触端子１８と反対側、すなわちリード線
接続端子１７側を内側に押圧すると、リード線接続端子
１７，１７が、組込んだトーションばね１３の力に抗し
て、反対側の接触端子１８，１８が開いた状態となる。
給放電と信号検出を同時に行うときは、２個の常閉タイ
プの通電用クリップ１ａ，１ａを同一の電子部品２０に
接続し、それぞれの常閉タイプの通電用クリップ１ａ，
１ａの一方の電極材５が給放電用として作用し、他方の
電極材５が信号検出用として作用する。
【００１９】第２実施例（常開タイプの通電用クリップ
１ｂ） 前記クリップ材２、前記電極材５、前記トーションばね
１３及び前記シャフト７の材質及び形状は、前記第一実
施例の常閉タイプの通電用クリップ１ａと同様である。
しかし、第２実施例（常開タイプの通電用クリップ１
ｂ）においては、前記コイル収納部１９に前記コイル部
１４を組込むときに、前記トーションばね１３の先端部
を、前記第１実施例の場合と逆方向、すなわち、前記リ
ード線接続端子１７側に向ける。
１ｂ） 前記クリップ材２、前記電極材５、前記トーションばね
１３及び前記シャフト７の材質及び形状は、前記第一実
施例の常閉タイプの通電用クリップ１ａと同様である。
しかし、第２実施例（常開タイプの通電用クリップ１
ｂ）においては、前記コイル収納部１９に前記コイル部
１４を組込むときに、前記トーションばね１３の先端部
を、前記第１実施例の場合と逆方向、すなわち、前記リ
ード線接続端子１７側に向ける。
【００２０】上記の方法により作成した常開タイプの通
電用クリップ１ｂは、通常は、前記クリップ体２，２の
前記接触端子１８側が接触せずに開いた状態となってい
る。そこで、反対側のリード線接続端子１７側の突出部
３，３間にクサビ体３４の先端を差込んでおく。その状
態で、接触端子１８，１８間に電子部品２０の電極２１
を挿入し、クサビ体３４をトーションばね１３に抗して
圧入することにより突出部３，３間を開くと、前記接触
端子１８，１８が閉じ、接触端子１８が電子部品２０の
電極２１に接触した状態となる。この常開タイプの通電
用クリップ１ｂの給放電と信号検出の作用も、常閉タイ
プの通電用クリップ１ａと同様である。
電用クリップ１ｂは、通常は、前記クリップ体２，２の
前記接触端子１８側が接触せずに開いた状態となってい
る。そこで、反対側のリード線接続端子１７側の突出部
３，３間にクサビ体３４の先端を差込んでおく。その状
態で、接触端子１８，１８間に電子部品２０の電極２１
を挿入し、クサビ体３４をトーションばね１３に抗して
圧入することにより突出部３，３間を開くと、前記接触
端子１８，１８が閉じ、接触端子１８が電子部品２０の
電極２１に接触した状態となる。この常開タイプの通電
用クリップ１ｂの給放電と信号検出の作用も、常閉タイ
プの通電用クリップ１ａと同様である。
【００２１】次に、本発明による通電用クリップ１を用
いた、手動操作により、又は自動的に給放電の試験を行
う試験装置の実施例を図５〜図８に基づき説明する。
尚、これらの試験装置には、上記第２実施例により作成
した常開タイプの通電用クリップ１ｂを用いる。
いた、手動操作により、又は自動的に給放電の試験を行
う試験装置の実施例を図５〜図８に基づき説明する。
尚、これらの試験装置には、上記第２実施例により作成
した常開タイプの通電用クリップ１ｂを用いる。
【００２２】第３実施例（手動操作による試験装置） 第３実施例の試験装置は、手動操作により電子部品の試
験を行うためのもので、図５ないし図７に示すように、
下方部に通電用クリップ支持ケース３１をセットし、そ
の上部に試験用の電子部品２０を収納した電子部品トレ
イ３０をセットする。前記通電用クリップ支持ケース３
１は、下部の固定ケース３２に進退自在に設けられてい
る。
験を行うためのもので、図５ないし図７に示すように、
下方部に通電用クリップ支持ケース３１をセットし、そ
の上部に試験用の電子部品２０を収納した電子部品トレ
イ３０をセットする。前記通電用クリップ支持ケース３
１は、下部の固定ケース３２に進退自在に設けられてい
る。
【００２３】各部の詳細な構成を以下に説明する。前記
試験用の電子部品２０は、例えば図９又は図１０に示す
ように、薄型の長方形で、一辺部にごく薄い１対の板状
の電極２１（＋電極２２及び−電極２３）が突出してい
る。前記電子部品トレイ３０は、直方体の内側に浅めの
凹部２７を有する。この電子部品トレイ３０の凹部２７
には複数個の電子部品挿入口３６を等間隔でかつ複数列
に形成する。この電子部品挿入口３６は、電子部品２０
の電極２１を下向きにして収納できる形状をなし、電子
部品挿入口３６の下部にある電極挿入口３７は、前記電
極２１を挿入でき、挿入した電極２１の先端が前記電子
部品トレイ３０の下底から少なくとも１０ｍｍ程度突出
する形状とする。
試験用の電子部品２０は、例えば図９又は図１０に示す
ように、薄型の長方形で、一辺部にごく薄い１対の板状
の電極２１（＋電極２２及び−電極２３）が突出してい
る。前記電子部品トレイ３０は、直方体の内側に浅めの
凹部２７を有する。この電子部品トレイ３０の凹部２７
には複数個の電子部品挿入口３６を等間隔でかつ複数列
に形成する。この電子部品挿入口３６は、電子部品２０
の電極２１を下向きにして収納できる形状をなし、電子
部品挿入口３６の下部にある電極挿入口３７は、前記電
極２１を挿入でき、挿入した電極２１の先端が前記電子
部品トレイ３０の下底から少なくとも１０ｍｍ程度突出
する形状とする。
【００２４】前記通電用クリップ支持ケース３１の内部
には、浅めのクサビ体取付け枠３３を遊嵌する。このク
サビ体取付け枠３３は、直方箱体とし、上面を開口し、
底板には、クサビ体支持ガイド棒３８を支持するための
クサビガイド穴４１を等間隔に形成する。
には、浅めのクサビ体取付け枠３３を遊嵌する。このク
サビ体取付け枠３３は、直方箱体とし、上面を開口し、
底板には、クサビ体支持ガイド棒３８を支持するための
クサビガイド穴４１を等間隔に形成する。
【００２５】前記通電用クリップ支持ケース３１は、図
７に示すように、直方箱体とし、上面を開口し、底面に
底板よりやや幅の狭い長穴４４を形成してなる通電用支
持ケース本体部４２と、その上端から外方へ張り出して
形成した２個の押下げ鍔部４３，４３とからなる。
７に示すように、直方箱体とし、上面を開口し、底面に
底板よりやや幅の狭い長穴４４を形成してなる通電用支
持ケース本体部４２と、その上端から外方へ張り出して
形成した２個の押下げ鍔部４３，４３とからなる。
【００２６】前記固定ケース３２は、固定ケース本体部
４５と、電源や検出器を接続するためのコネクタ接続部
４６とからなる。固定ケース本体部４５は直方箱体と
し、上面を開口する。そして、内部に前記通電用クリッ
プ支持ケース本体部３１を遊嵌するために、通電用クリ
ップ支持ケース本体部３１より一回り大きくする。又、
底面には、前記クサビ体ガイド棒３８のクサビガイド孔
４１とコネクタ取付け孔６１を設け、底面の両端部に前
記クサビ体ガイド棒３８を植立する。そして、このクサ
ビ体取付けガイド棒３８が遊嵌するように、固定ケース
本体部４５の底面と前記通電用クリップ支持ケース３１
の押下げ鍔部４３の底面下側との間に、コイル状の押上
げばね３５を介在する。前記コネクタ接続部４６の上面
には、複数個のコネクタ６２を取付けるためのコネクタ
接続口４７を等間隔に数列形成する。
４５と、電源や検出器を接続するためのコネクタ接続部
４６とからなる。固定ケース本体部４５は直方箱体と
し、上面を開口する。そして、内部に前記通電用クリッ
プ支持ケース本体部３１を遊嵌するために、通電用クリ
ップ支持ケース本体部３１より一回り大きくする。又、
底面には、前記クサビ体ガイド棒３８のクサビガイド孔
４１とコネクタ取付け孔６１を設け、底面の両端部に前
記クサビ体ガイド棒３８を植立する。そして、このクサ
ビ体取付けガイド棒３８が遊嵌するように、固定ケース
本体部４５の底面と前記通電用クリップ支持ケース３１
の押下げ鍔部４３の底面下側との間に、コイル状の押上
げばね３５を介在する。前記コネクタ接続部４６の上面
には、複数個のコネクタ６２を取付けるためのコネクタ
接続口４７を等間隔に数列形成する。
【００２７】前記通電クリップ支持ケース３１の通電ク
リップ支持ケース本体部４２には、常開タイプの通電用
クリップ１ｂが、２個を１対として１本のシャフト７を
共有として収納されるものであり、そのシャフト７部分
が前記通電用クリップ支持ケース本体部４２の両側板の
軸孔６３に軸架されて、多数組を一定間隔に取付けられ
ている。そして、この常開タイプの通電用クリップ１ｂ
の接触端子１８は、通電用クリップ支持ケース３１の上
面開口部から一部突出し、リード線接続端子１７側が下
向きになるように配置されている。前記クサビ体３４は
絶縁性物質からなり、先端部から基端部にかけて両側で
順次広くなるような傾斜を有する台形状とする。又、１
個のクサビ体３４で、２個を１対とする通電用クリップ
１ｂの突出部３，３間に圧入可能とする。又、クサビ体
３４の底面中央部にはクサビ体ガイド棒３８を一体に形
成する。このクサビ体支持ガイド棒３８は円柱形で、前
記クサビ体取付け枠３３の丸孔６４と通電用クリップ支
持ケース本体部４２の長孔４４を貫通し、更に固定ケー
ス本体部４５のクサビガイド孔４１を貫通し、下端部の
抜け止め突起３９により係止している。前記固定ケース
本体部４５の底板の上面と押下げ鍔部４３の下面との間
には、コイルばね４０を介在する。
リップ支持ケース本体部４２には、常開タイプの通電用
クリップ１ｂが、２個を１対として１本のシャフト７を
共有として収納されるものであり、そのシャフト７部分
が前記通電用クリップ支持ケース本体部４２の両側板の
軸孔６３に軸架されて、多数組を一定間隔に取付けられ
ている。そして、この常開タイプの通電用クリップ１ｂ
の接触端子１８は、通電用クリップ支持ケース３１の上
面開口部から一部突出し、リード線接続端子１７側が下
向きになるように配置されている。前記クサビ体３４は
絶縁性物質からなり、先端部から基端部にかけて両側で
順次広くなるような傾斜を有する台形状とする。又、１
個のクサビ体３４で、２個を１対とする通電用クリップ
１ｂの突出部３，３間に圧入可能とする。又、クサビ体
３４の底面中央部にはクサビ体ガイド棒３８を一体に形
成する。このクサビ体支持ガイド棒３８は円柱形で、前
記クサビ体取付け枠３３の丸孔６４と通電用クリップ支
持ケース本体部４２の長孔４４を貫通し、更に固定ケー
ス本体部４５のクサビガイド孔４１を貫通し、下端部の
抜け止め突起３９により係止している。前記固定ケース
本体部４５の底板の上面と押下げ鍔部４３の下面との間
には、コイルばね４０を介在する。
【００２８】前記実施例ではクサビ体３４の幅を広く形
成し、１個のクサビ体３４で２個を１対とする通電用ク
リップ１ｂに圧入可能としたが、本発明はこれに限るも
のではなく、１個のクサビ体３４で１個の通電用クリッ
プ１ｂに圧入可能としてもよい。
成し、１個のクサビ体３４で２個を１対とする通電用ク
リップ１ｂに圧入可能としたが、本発明はこれに限るも
のではなく、１個のクサビ体３４で１個の通電用クリッ
プ１ｂに圧入可能としてもよい。
【００２９】次に、本発明による通電用クリップ１を、
前述のとおり組立てられた手動試験装置による試験方法
を説明する。試験に先立ち、電子部品トレイ３０を通電
用支持クリップ３１の上に載せ、電子部品２０を前記電
子部品トレイ３０の電子部品挿入口３６に１個ずつ配置
し、電極２１の先端を電子部品トレイ３０の電極挿入口
３７の下端部から表出させる。すると、電極２１は、図
６の左半部に示すように、抜け止め突起１６の接触端子
１８，１８間に挿入される。
前述のとおり組立てられた手動試験装置による試験方法
を説明する。試験に先立ち、電子部品トレイ３０を通電
用支持クリップ３１の上に載せ、電子部品２０を前記電
子部品トレイ３０の電子部品挿入口３６に１個ずつ配置
し、電極２１の先端を電子部品トレイ３０の電極挿入口
３７の下端部から表出させる。すると、電極２１は、図
６の左半部に示すように、抜け止め突起１６の接触端子
１８，１８間に挿入される。
【００３０】この状態で、電子部品トレイ３０を押下げ
ると、通電用クリップ支持ケース３１は、常開タイプの
通電用クリップ１ｂとともに下方に移動するがばね３５
は充分大きな抗力を有するので、クサビ体取付け枠３３
及びクサビ体３４は移動しない。このため、前記突出部
３，３間にクサビ体３４が圧入されて、トーションばね
１３に抗して突出部３，３側が開くので、反対側の接触
端子１８，１８間が閉じ、図６の右半部のように、接触
端子１８，１８によって電極２１が挟着されて電気的に
接続される。尚、前記常開タイプの通電用クリップ１ｂ
は、突出部３，３間にクサビ体３４が食込み、接触端子
１８，１８間が密着すると、クサビ体３４もクサビ体取
付け枠３３とともに下降する。クサビ体３４が突出部
３，３間に食込んだ分だけ、ばね３５で吸収される。
ると、通電用クリップ支持ケース３１は、常開タイプの
通電用クリップ１ｂとともに下方に移動するがばね３５
は充分大きな抗力を有するので、クサビ体取付け枠３３
及びクサビ体３４は移動しない。このため、前記突出部
３，３間にクサビ体３４が圧入されて、トーションばね
１３に抗して突出部３，３側が開くので、反対側の接触
端子１８，１８間が閉じ、図６の右半部のように、接触
端子１８，１８によって電極２１が挟着されて電気的に
接続される。尚、前記常開タイプの通電用クリップ１ｂ
は、突出部３，３間にクサビ体３４が食込み、接触端子
１８，１８間が密着すると、クサビ体３４もクサビ体取
付け枠３３とともに下降する。クサビ体３４が突出部
３，３間に食込んだ分だけ、ばね３５で吸収される。
【００３１】試験装置のコネクタ６２に接続された外部
電源や検出器等は、リード線５４、コネクタ５３、常開
タイプの通電用クリップ１ｂのリード線接続端子１７、
接触端子１８を経て、電子部品２０の電極２１に接続さ
れ、電子部品の給放電や信号検出等を行う。ここで、電
子部品トレイ３０による下方への押圧を除くと、再び図
６の左半部のような元の状態に戻る。
電源や検出器等は、リード線５４、コネクタ５３、常開
タイプの通電用クリップ１ｂのリード線接続端子１７、
接触端子１８を経て、電子部品２０の電極２１に接続さ
れ、電子部品の給放電や信号検出等を行う。ここで、電
子部品トレイ３０による下方への押圧を除くと、再び図
６の左半部のような元の状態に戻る。
【００３２】第４実施例（自動試験装置） 第４実施例の試験装置は、電子部品トレイ３０を固定に
しておき、常開タイプの通電用クリップ１ｂの上下と、
この常開タイプの通電用クリップ１ｂの接触端子１８，
１８の開閉を自動的に行い、電子部品２０の試験を行う
ためのもので、自動的に可動する機構以外の主な構成は
前記第３実施例とほぼ同一である。すなわち、図８に示
すように、固定ケース３２の上部に電子部品トレイ３０
をセットする。又、固定ケース３２の内部には通電用ク
リップ支持ケース３１を上下動自在に設け、この通電用
クリップ支持ケース３１には、更に、クサビ体取付け枠
３３を上下動自在に設ける。又、前記第３実施例と同様
に、前記電子部品トレイ３０の内側に複数個の電子部品
２０を収納する。特に、この第４実施例では、クサビ体
３４及び常開タイプの通電用クリップ１ｂを移動するた
めの手段として、通電用クリップ支持ケース３１と固定
ケース３２の間に、上下の２個のシリンダ５１、５２か
らなる上下動用の通電用クリップ用シリンダ４９を設け
る。又、常開タイプの通電用クリップ１ｂを開閉するた
めにクサビ体用シリンダ４８を設置する。
しておき、常開タイプの通電用クリップ１ｂの上下と、
この常開タイプの通電用クリップ１ｂの接触端子１８，
１８の開閉を自動的に行い、電子部品２０の試験を行う
ためのもので、自動的に可動する機構以外の主な構成は
前記第３実施例とほぼ同一である。すなわち、図８に示
すように、固定ケース３２の上部に電子部品トレイ３０
をセットする。又、固定ケース３２の内部には通電用ク
リップ支持ケース３１を上下動自在に設け、この通電用
クリップ支持ケース３１には、更に、クサビ体取付け枠
３３を上下動自在に設ける。又、前記第３実施例と同様
に、前記電子部品トレイ３０の内側に複数個の電子部品
２０を収納する。特に、この第４実施例では、クサビ体
３４及び常開タイプの通電用クリップ１ｂを移動するた
めの手段として、通電用クリップ支持ケース３１と固定
ケース３２の間に、上下の２個のシリンダ５１、５２か
らなる上下動用の通電用クリップ用シリンダ４９を設け
る。又、常開タイプの通電用クリップ１ｂを開閉するた
めにクサビ体用シリンダ４８を設置する。
【００３３】各部の詳細な構成について以下に説明す
る。電子部品２０を収納する電子部品トレイ３０、クサ
ビ体３４、クサビ体取付け枠３３，常開タイプの通電用
クリップ１ｂ、通電用クリップ支持ケース３１及び固定
ケース３２の形状は、第３実施例とほぼ同様である。
る。電子部品２０を収納する電子部品トレイ３０、クサ
ビ体３４、クサビ体取付け枠３３，常開タイプの通電用
クリップ１ｂ、通電用クリップ支持ケース３１及び固定
ケース３２の形状は、第３実施例とほぼ同様である。
【００３４】前記クサビ体用シリンダ４８の内部には、
ピストン５５及びロット５６が収納されて、油圧又は空
気圧によりシリンダ４８が上下動する。このクサビ体用
シリンダ４８のロッド５６の上端部は、通電用クリップ
支持ケース３１の上端部に連結され、クサビ体用シリン
ダ４８は、クサビ体取付け枠３３に固着されている。こ
のため、クサビ体用シリンダ４８が上下動することによ
りクサビ体３４も上下動し、常開タイプの通電用クリッ
プ１ｂの開閉動作を行う。前記通電用クリップ用シリン
ダ４９は、２個のシリンダ（上シリンダ５１と下シリン
ダ５２）を縦方向に直結させてなる。すなわち、下シリ
ンダ５２の上板と上シリンダ５１の底板との間を貫通孔
で連通し、この貫通孔に、下シリンダ５２のピストン５
５に連結されたロッド５６を挿通させ、上シリンダ５１
のピストン５５の下面に臨ませられている。又、上シリ
ンダ５１のストロークＳ１が下シリンダ５２のストロー
クＳ２よりやや長く（例えば１ｍｍ）設定されている。
上シリンダ５１のピストン５５に連結されたロッド５６
は、上板を貫通して上方に伸び、上端が、通電用クリッ
プ支持ケース３１に固着された取付け部材５７を貫通
し、ロッド５６の頭部５８が係止している。又、取付け
部材５７とロッド５６の途中のばね支持部５９との間に
は、前記ばね３５と同一な目的を有するばね６０が介在
されている。
ピストン５５及びロット５６が収納されて、油圧又は空
気圧によりシリンダ４８が上下動する。このクサビ体用
シリンダ４８のロッド５６の上端部は、通電用クリップ
支持ケース３１の上端部に連結され、クサビ体用シリン
ダ４８は、クサビ体取付け枠３３に固着されている。こ
のため、クサビ体用シリンダ４８が上下動することによ
りクサビ体３４も上下動し、常開タイプの通電用クリッ
プ１ｂの開閉動作を行う。前記通電用クリップ用シリン
ダ４９は、２個のシリンダ（上シリンダ５１と下シリン
ダ５２）を縦方向に直結させてなる。すなわち、下シリ
ンダ５２の上板と上シリンダ５１の底板との間を貫通孔
で連通し、この貫通孔に、下シリンダ５２のピストン５
５に連結されたロッド５６を挿通させ、上シリンダ５１
のピストン５５の下面に臨ませられている。又、上シリ
ンダ５１のストロークＳ１が下シリンダ５２のストロー
クＳ２よりやや長く（例えば１ｍｍ）設定されている。
上シリンダ５１のピストン５５に連結されたロッド５６
は、上板を貫通して上方に伸び、上端が、通電用クリッ
プ支持ケース３１に固着された取付け部材５７を貫通
し、ロッド５６の頭部５８が係止している。又、取付け
部材５７とロッド５６の途中のばね支持部５９との間に
は、前記ばね３５と同一な目的を有するばね６０が介在
されている。
【００３５】次に、自動試験装置による試験方法を説明
する。電子部品２０を電子部品トレイ３０の内側に配置
する。尚、この第４実施例では、電子部品トレイ３０の
底板の下面から、常開タイプの通電用クリップ１ｂの接
触端子１８の上端部までの間隔が、通電用クリップ用シ
リンダ４９における上シリンダのストロークＳ１より
も、やや大きめ（例えば１ｍｍ）の空間をもって配置さ
れている。
する。電子部品２０を電子部品トレイ３０の内側に配置
する。尚、この第４実施例では、電子部品トレイ３０の
底板の下面から、常開タイプの通電用クリップ１ｂの接
触端子１８の上端部までの間隔が、通電用クリップ用シ
リンダ４９における上シリンダのストロークＳ１より
も、やや大きめ（例えば１ｍｍ）の空間をもって配置さ
れている。
【００３６】ここで、まず、通電用クリップ用シリンダ
４９の上シリンダ５１と下シリンダ５２に実線方向に油
圧、空気圧等を加えて同時に上昇させ、通電用クリップ
支持ケース３１に組込まれた常開タイプの通電用クリッ
プ１ｂとクサビ体３４とを一体にＳ１（２０ｍｍ）上昇
させる。すると、常開タイプの通電用クリップ１ｂの接
触端子１８，１８は、これらの間の隙間で、電子部品２
０の電極２１を挟み込む位置まで上昇する。このとき、
上シリンダ５１のピストン５５の下面と下シリンダ５２
のロッド５６の上端間に、Ｓ１−Ｓ２＝１ｍｍの隙間が
生じる。
４９の上シリンダ５１と下シリンダ５２に実線方向に油
圧、空気圧等を加えて同時に上昇させ、通電用クリップ
支持ケース３１に組込まれた常開タイプの通電用クリッ
プ１ｂとクサビ体３４とを一体にＳ１（２０ｍｍ）上昇
させる。すると、常開タイプの通電用クリップ１ｂの接
触端子１８，１８は、これらの間の隙間で、電子部品２
０の電極２１を挟み込む位置まで上昇する。このとき、
上シリンダ５１のピストン５５の下面と下シリンダ５２
のロッド５６の上端間に、Ｓ１−Ｓ２＝１ｍｍの隙間が
生じる。
【００３７】この状態でクサビ用シリンダ４８に実線方
向に圧を加えると、ピストン５５は固定であるから、シ
リンダ４８が上昇する。これに伴い、クサビ体３４も上
昇する。この上昇により、クサビ体３４の上部が常開タ
イプの通電用クリップ１ｂの突出部３，３間に圧入さ
れ、反対側の線接触端子１８，１８が閉じ、その間に位
置する電極２１と挟着して、電気的に接続する。
向に圧を加えると、ピストン５５は固定であるから、シ
リンダ４８が上昇する。これに伴い、クサビ体３４も上
昇する。この上昇により、クサビ体３４の上部が常開タ
イプの通電用クリップ１ｂの突出部３，３間に圧入さ
れ、反対側の線接触端子１８，１８が閉じ、その間に位
置する電極２１と挟着して、電気的に接続する。
【００３８】上記のように圧接した状態で、前記下シリ
ンダ５２には実線方向に圧を加えて上昇させたまま、前
記上シリンダ５１のみに点線方向に圧を加えて下降させ
る。すると、上シリンダ５１は、下シリンダ５２とのス
トロークの差、すなわち１ｍｍだけ下降し、それに伴っ
て常開タイプの通電用クリップ１ｂの接触端子１８，１
８及びクサビ体３４も、挟着状態を保ったまま１ｍｍ下
降する。このため、接触端子１８，１８は、電極２１の
表面を１ｍｍ圧接摺動することとなる。
ンダ５２には実線方向に圧を加えて上昇させたまま、前
記上シリンダ５１のみに点線方向に圧を加えて下降させ
る。すると、上シリンダ５１は、下シリンダ５２とのス
トロークの差、すなわち１ｍｍだけ下降し、それに伴っ
て常開タイプの通電用クリップ１ｂの接触端子１８，１
８及びクサビ体３４も、挟着状態を保ったまま１ｍｍ下
降する。このため、接触端子１８，１８は、電極２１の
表面を１ｍｍ圧接摺動することとなる。
【００３９】上記の結果、常開タイプの通電用クリップ
１ｂの接触端子１８，１８を、電極２１の両面に、より
確実に接続することができる。従って、給放電や信号検
出等の試験は、上記のような、圧接摺動による確実な電
気的接続状態で行われる。
１ｂの接触端子１８，１８を、電極２１の両面に、より
確実に接続することができる。従って、給放電や信号検
出等の試験は、上記のような、圧接摺動による確実な電
気的接続状態で行われる。
【００４０】試験終了後は、まず、クサビ用シリンダ４
８に点線方向の圧を加えて下降させる。これに伴い、常
開タイプの通電用クリップ１ｂは、突出部３，３間に圧
入されていたクサビ体３４が下降して接触端子１８，１
８間が開くので、電極２１から離反する。その後、通電
用クリップ用シリンダ４９の上シリンダ５１及び下シリ
ンダ５２にも点線方向に圧を加えて下降させ、通電用ク
リップ支持ケース３１を元に戻す。
８に点線方向の圧を加えて下降させる。これに伴い、常
開タイプの通電用クリップ１ｂは、突出部３，３間に圧
入されていたクサビ体３４が下降して接触端子１８，１
８間が開くので、電極２１から離反する。その後、通電
用クリップ用シリンダ４９の上シリンダ５１及び下シリ
ンダ５２にも点線方向に圧を加えて下降させ、通電用ク
リップ支持ケース３１を元に戻す。
【００４１】
【発明の効果】本発明は、通電用クリップの両側で、電
極を圧接できるように形成したので、電圧の給放電、信
号検出等を行うときに、電極に傷をつけることのない通
電用クリップを提供することができる。又、通電用クリ
ップを半円形に形成することにより、接触端子と電極と
の接触部分が平面となり、接触端子と電極との線接触が
可能となるため、大容量の電流にも対応できる。従っ
て、大容量の電流を要する電子部品の給放電や信号検出
を行う試験にも使用可能とする通電用クリップを提供す
ることができる。
極を圧接できるように形成したので、電圧の給放電、信
号検出等を行うときに、電極に傷をつけることのない通
電用クリップを提供することができる。又、通電用クリ
ップを半円形に形成することにより、接触端子と電極と
の接触部分が平面となり、接触端子と電極との線接触が
可能となるため、大容量の電流にも対応できる。従っ
て、大容量の電流を要する電子部品の給放電や信号検出
を行う試験にも使用可能とする通電用クリップを提供す
ることができる。
【００４２】又、本発明は、前記通電用クリップを複数
個用いて、手動又は自動の電子部品用試験装置を形成し
た。従って、通電用クリップ１個では対応できない大容
量の電流量を有する電子部品や、複数個の電子部品の試
験を、簡単な手動操作或いは自動的に行うことができる
試験装置を提供することができる。更に、本発明におけ
る自動装置においては、接触端子と電極を当接させるた
めに、ストロークの異なる２個のシリンダを用い、スト
ロークの差分だけ接触端子が電極上を摺動するように形
成した。従って、接触端子と電極との接触面がより多く
なり、より大容量の電流に対応可能となる試験装置を提
供することができる。
個用いて、手動又は自動の電子部品用試験装置を形成し
た。従って、通電用クリップ１個では対応できない大容
量の電流量を有する電子部品や、複数個の電子部品の試
験を、簡単な手動操作或いは自動的に行うことができる
試験装置を提供することができる。更に、本発明におけ
る自動装置においては、接触端子と電極を当接させるた
めに、ストロークの異なる２個のシリンダを用い、スト
ロークの差分だけ接触端子が電極上を摺動するように形
成した。従って、接触端子と電極との接触面がより多く
なり、より大容量の電流に対応可能となる試験装置を提
供することができる。
【００４３】本発明は、上記接触端子１８の形状に加
え、通電用クリップの形成方法を変えることにより、接
触端子１８を、常時閉じた状態（常閉タイプの通電用ク
リップ）と、常時開いた状態（常開タイプの通電用クリ
ップ）の２通りの状態にすることを可能とした。常開タ
イプの通電用クリップを用いることにより、接触端子の
間に電極を挟む場合は、リード線接触端子間にクサビ体
等を圧入するという１種類の操作だけで接触端子が閉
じ、電極を挟むことができる。従って、操作の省略が可
能となり、試験に要する手間や時間を大幅に削減するこ
とができ、試験回数を増加することも可能とする。
え、通電用クリップの形成方法を変えることにより、接
触端子１８を、常時閉じた状態（常閉タイプの通電用ク
リップ）と、常時開いた状態（常開タイプの通電用クリ
ップ）の２通りの状態にすることを可能とした。常開タ
イプの通電用クリップを用いることにより、接触端子の
間に電極を挟む場合は、リード線接触端子間にクサビ体
等を圧入するという１種類の操作だけで接触端子が閉
じ、電極を挟むことができる。従って、操作の省略が可
能となり、試験に要する手間や時間を大幅に削減するこ
とができ、試験回数を増加することも可能とする。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による通電用クリップの一実施例を示す
分解斜視図である。
分解斜視図である。
【図２】図１における組立後の斜視図である。
【図３】本発明による常閉タイプの通電用クリップの縦
断面図である。
断面図である。
【図４】本発明による常開タイプの通電用クリップの縦
断面図である。
断面図である。
【図５】本発明による通電用クリップを用いた手動型給
放電試験装置の一実施例を示す分解斜視図である。
放電試験装置の一実施例を示す分解斜視図である。
【図６】図５における動作説明のための一部断面した正
面図である。
面図である。
【図７】図５における要部の分解斜視図である。
【図８】本発明による通電用クリップを用いた自動型給
放電試験装置の一実施例を示す分解斜視図である。
放電試験装置の一実施例を示す分解斜視図である。
【図９】従来の接触ピンを用いた場合の斜視図である。
【図１０】従来のわに口クリップを用いた場合の斜視図
である。
である。
１…通電用クリップ、１ａ…常閉タイプの通電用クリッ
プ、１ｂ…常開タイプの通電用クリップ、２…クリップ
体、３…突出部、４…凹部、５…電極材、６…指、７…
シャフト、８…シャフト受突起、９…シャフト受係合
部、１０…シャフト孔、１１…半円部、１２…間隔、１
３…トーションばね、１４…コイル部、１５…抜け止め
頭部、１６…抜け止め突起、１７…リード線接続端子、
１８…接触端子、１９…コイル収納部、２０…電子部
品、２１…電極、２２…＋極、２３…−極、２４…接触
ピン、２５…絶縁ボード、２６…わに口クリップ、２７
…凹部、２８…クリップ部、２９…先端部（接触ピ
ン）、３０…電子部品トレイ、３１…通電用クリップ支
持ケース、３２…固定ケース、３３…クサビ体取付け
枠、３４…クサビ体、３５…ばね、３６…電子部品挿入
口、３７…電極挿入口、３８…クサビ体ガイド棒、３９
…抜け止め突起、４０…ばね、４１…クサビガイド孔、
４２…通電用クリップ支持ケース本体部、４３…押下げ
鍔部、４４…長孔、４５…固定ケース本体部、４６…コ
ネクタ接続部、４７…コネクタ接続口、４８…クサビ体
用シリンダ、４９…通電用クリップ用シリンダ、５１…
上シリンダ、５２…下シリンダ、５３…コネクタ、５４
…リード線、５５…ピストン、５６…ロッド、５７…取
付け部材、５８…頭部、５９…ばね支持部、６０…ば
ね、６１…コネクタ取付け孔、６２…コネクタ、６３…
軸孔、６４…丸孔。
プ、１ｂ…常開タイプの通電用クリップ、２…クリップ
体、３…突出部、４…凹部、５…電極材、６…指、７…
シャフト、８…シャフト受突起、９…シャフト受係合
部、１０…シャフト孔、１１…半円部、１２…間隔、１
３…トーションばね、１４…コイル部、１５…抜け止め
頭部、１６…抜け止め突起、１７…リード線接続端子、
１８…接触端子、１９…コイル収納部、２０…電子部
品、２１…電極、２２…＋極、２３…−極、２４…接触
ピン、２５…絶縁ボード、２６…わに口クリップ、２７
…凹部、２８…クリップ部、２９…先端部（接触ピ
ン）、３０…電子部品トレイ、３１…通電用クリップ支
持ケース、３２…固定ケース、３３…クサビ体取付け
枠、３４…クサビ体、３５…ばね、３６…電子部品挿入
口、３７…電極挿入口、３８…クサビ体ガイド棒、３９
…抜け止め突起、４０…ばね、４１…クサビガイド孔、
４２…通電用クリップ支持ケース本体部、４３…押下げ
鍔部、４４…長孔、４５…固定ケース本体部、４６…コ
ネクタ接続部、４７…コネクタ接続口、４８…クサビ体
用シリンダ、４９…通電用クリップ用シリンダ、５１…
上シリンダ、５２…下シリンダ、５３…コネクタ、５４
…リード線、５５…ピストン、５６…ロッド、５７…取
付け部材、５８…頭部、５９…ばね支持部、６０…ば
ね、６１…コネクタ取付け孔、６２…コネクタ、６３…
軸孔、６４…丸孔。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田中 信嘉 神奈川県川崎市中原区苅宿228番地 株式 会社ユタカ電機製作所内 Ｆターム(参考） 2G011 AA05 AB01 AB06 AB07 AB08 AC00 AC14
Claims (8)
- 【請求項１】 ２個の絶縁性部材からなるクリップ体２
にそれぞれ電極材５を一体成型し、この電極材５の一端
部をクリップ体２の一端から露出してリード線接続端子
１７となし、この電極材５の他端部を、クリップ体２の
他端で互いに向い合わせて露出して接触端子１８とな
し、前記２個のクリップ体２のほぼ中央のそれぞれのシ
ャフト受突起８を互いに噛合し、かつ、シャフト７を挿
通するとともに、このシャフト７にトーションばね１３
を介装してなることを特徴とする通電用クリップ。 - 【請求項２】 トーションばね１３は、互いに向い合う
それぞれの接触端子１８が常時閉じる方向に付勢して設
けて常閉タイプとしたことを特徴とする請求項１記載の
通電用クリップ。 - 【請求項３】 トーションばね１３は、互いに向い合う
接触端子１８が常時開く方向に付勢して設けて、リード
線接触端子１７，１７側に設けたクリップ体２，２の突
出部３，３間にクサビ体３４を進退自在に介在し、常開
タイプとしたことを特徴とする請求項１記載の通電用ク
リップ。 - 【請求項４】 被試験体としての電子部品２０の電極２
１を突出させてセットする電子部品トレイ３０と、この
電子部品トレイ３０にセットされた電子部品２０の電極
２１に臨ませて設けた通電用クリップ１と、この通電用
クリップ１の１対の接触端子１８間が開閉自在になるよ
うに設けた通電用クリップ用支持ケース３１と、前記通
電用クリップ１の１対のクリップ体２間に進退して１対
の接触端子１８間の開閉をして電子部品２０の電極２１
への接離を制御するためのクサビ体３４を設けた固定ケ
ース３２とを具備してなることを特徴とする給放電試験
装置。 - 【請求項５】 通電用クリップ１は、請求項１又は３か
らなることを特徴とする請求項４記載の給放電試験装
置。 - 【請求項６】 被試験体としての電子部品２０の電極２
１を突出させてセットする電子部品トレイ３０と、この
電子部品トレイ３０にセットされた電子部品２０の電極
２１に臨ませて設けた通電用クリップ１と、この通電用
クリップ１の１対の接触端子１８間が開閉するようにこ
の通電用クリップ１の１対のクリップ体２間に進退する
ためのクサビ体３４を可動するクサビ体用シリンダ４８
とからなることを特徴とする給放電試験装置。 - 【請求項７】 被試験体としての電子部品２０の電極２
１を突出させてセットする電子部品トレイ３０と、この
電子部品トレイ３０にセットされた電子部品２０の電極
２１に臨ませて設けた通電用クリップ１と、この通電用
クリップ１の１対の接触端子１８間が開閉するようにこ
の通電用クリップ１の１対のクリップ体２間に進退する
ためのクサビ体３４を可動するクサビ体用シリンダ４８
と、通電用クリップ１とクサビ体３４とを一体に電子部
品２０の電極２１側に進退する通電用クリップ用シリン
ダ４９とからなることを特徴とする給放電試験装置。 - 【請求項８】 通電用クリップ用シリンダ４９は、通電
用クリップ１とクサビ体３４を進退する上シリンダ５１
と、この上シリンダ５１の退動の動作を一時的にわずか
なストロークで停止させるための下シリンダ５２とから
なり、通電用クリップ１の１対の接触端子１８により電
子部品２０の電極２１を圧接摺動せしめるようにしたこ
とを特徴とする請求項７記載の給放電試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000364651A JP4536250B2 (ja) | 2000-11-30 | 2000-11-30 | 通電用クリップを用いた給放電試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000364651A JP4536250B2 (ja) | 2000-11-30 | 2000-11-30 | 通電用クリップを用いた給放電試験装置 |
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|---|---|---|---|
| JP2010028541A Division JP5103490B2 (ja) | 2010-02-12 | 2010-02-12 | 通電用クリップを用いた給放電試験装置 |
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|---|---|
| JP2002170609A true JP2002170609A (ja) | 2002-06-14 |
| JP4536250B2 JP4536250B2 (ja) | 2010-09-01 |
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| JP (1) | JP4536250B2 (ja) |
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- 2000-11-30 JP JP2000364651A patent/JP4536250B2/ja not_active Expired - Fee Related
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