JP2002166346A - ラッピング用テープカセット及び回転ヘッドラッピング装置及び回転ヘッドラッピング方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明はヘッドタッチ不良箇所で回転ヘッド
の研磨することを課題とする。 【解決手段】 磁気記録再生装置１０には、組み立てラ
インでの組み立て作業が完了した後、回転ヘッド２６の
ヘッドタッチを調整するための回転ヘッドラッピング装
置５０が設けられている。この回転ヘッドラッピング装
置５０は、ラッピング用テープカセット３１と、ラッピ
ング用テープカセット３１のラッピングテープ１４を回
転ドラム２４の外周に摺接させるテープローディング部
材２８，３０と、巻き取り側リール２０を回転駆動させ
てテスト再生を行った後、テープ摺接領域でヘッドタッ
チ不良があるときは、その領域で回転ヘッド２６のヘッ
ド面を研磨するように制御する制御部５２とからなる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は回転ヘッドを有する
回転ドラムの外周にラッピングテープを摺接させて回転
ヘッドのヘッド面を研磨するラッピング用テープカセッ
ト及び回転ヘッドラッピング装置及び回転ヘッドラッピ
ング方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】回転ヘッドを有する回転ドラムの外周に
磁気テープを摺接させて磁気記録または磁気テープに記
録された信号を再生する磁気記録再生装置では、テープ
摺接入り口あるいはテープ摺接出口付近でヘッドタッチ
のばらつきが生じることがある。そのような場合、組み
立て工程を終了した磁気記録再生装置を検査する検査工
程において、回転ヘッドのヘッド面を研磨してヘッドタ
ッチを改善するようにしている。

【０００３】このような、ヘッドタッチの調整を行う方
法としては、例えばテープ表面に研磨剤を塗布したラッ
ピングテープが巻回されたテープカセットを装置内に装
着して記録または再生モードに設定することにより、テ
ープカセット内のラッピングテープが回転ドラムの外周
の所定角度範囲に摺接するようにテープローディング動
作がおこなわれる。そして、回転ドラムに設けられた回
転ヘッドが、ラッピングに摺接することによりヘッド面
が研磨される。

【０００４】この後、回転ヘッドの出力からヘッドタッ
チが良好になったかどうかをチェックする。そして、回
転ヘッドのヘッドタッチが改善されるまでラッピングテ
ープによる回転ヘッドの研磨を繰り返す。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の回転ヘッドラッピング方法では、テープカセット内
の供給リールに巻回されたラッピングテープが巻き取り
リールに巻き取られるまで回転ヘッドの研磨を行うた
め、テープ摺接入り口あるいはテープ摺接出口付近のヘ
ッドタッチのみを調整することができない。

【０００６】そのため、従来の方法では、ラッピングテ
ープが巻き付けられた角度範囲の全領域で回転ヘッドを
研磨することになり、平均的な研磨となってしまい、ヘ
ッドタッチが低下した領域（角度範囲）を重点的に研磨
することが難しかった。そこで、本発明は上記課題を解
決したラッピング用テープカセット及び回転ヘッドラッ
ピング装置及び回転ヘッドラッピング方法を提供するこ
とを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するため、以下のような特徴を有する。上記請求項１記
載の発明は、テープ長の一部に研磨剤を塗布したラッピ
ング部を形成したことを特徴とするものであり、回転ド
ラムの外周のうちヘッドタッチの悪化した領域（角度範
囲）で回転ヘッドを研磨することが可能になる。

【０００８】また、請求項２記載の発明は、テープ長の
一部に研磨剤を塗布したラッピング部を有するラッピン
グ用テープカセットと、ラッピング用テープカセットか
らテープを引き出して回転ヘッドに摺接させるローディ
ング機構と、ローディング機構により回転ヘッドに摺接
されたテープを巻き取るテープ巻き取り手段と、テープ
のラッピング部が回転ヘッドのヘッドタッチが悪下する
領域で回転ヘッドのヘッド面を研磨するようにラッピン
グ部の摺接位置を調整するラッピング位置調整手段と、
を備えており、回転ドラムの外周のうちヘッドタッチの
悪化した領域（角度範囲）で回転ヘッドを研磨すること
が可能になる。

【０００９】請求項３記載の発明は、テープ長の一部に
研磨剤を塗布したラッピング部が形成されたラッピング
テープを用いて回転ヘッドのヘッド面を研磨する回転ヘ
ッドラッピング方法であり、回転ドラムの外周のうちヘ
ッドタッチの悪化した領域（角度範囲）で回転ヘッドを
研磨することが可能になる。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、図面と共に本発明の一実施
例について説明する。図１は本発明になる回転ヘッドラ
ッピング装置の一実施例が適用された磁気記録再生装置
を示す平面図である。図１に示されるように、磁気記録
再生装置１０は、シャーシ１２の上面にラッピングテー
プ１４が巻回された供給側リール１６を支持する供給側
リール台１８と、巻き取り側リール２０を回転駆動する
巻き取り側リール台２２とが設けられている。また、シ
ャーシ１２の上面には、ラッピングテープ１４が巻き付
けられる回転ドラム２４が所定角度傾斜した状態で支持
されており、回転ドラム２４には、複数の回転ヘッド２
６が取り付けられている。

【００１１】さらに、シャーシ１２の上面には、供給側
リール１６と巻き取り側リール２０との間に装架された
ラッピングテープ１４を引き出して回転ドラム２４の外
周に摺接させるテープローディング部材２８，３０をガ
イドする一対のガイド溝３２，３４が設けられている。
テープローディング部材２８，３０は、夫々ラッピング
テープ１４をガイドするためのガイドローラ２８ａ，３
０ａと、傾斜されたガイドポール２８ｂ、３０ｂとを有
する。テープローディング部材２８，３０は、ラッピン
グ用テープカセット３１（図１中一点鎖線で示す）が装
着されると、ガイド溝３２，３４に沿って回転ドラム２
４の背面側へ移動する。

【００１２】このテープローディング動作により、ラッ
ピングテープ１４はテープカセットから引き出されなが
ら回転ドラム２４の外周の所定角度範囲に巻き付けられ
る。このテープローディング状態でラッピングテープ１
４が巻き取り側リール２０に巻き取られるのと同時に回
転ヘッド２６が回転してラッピングテープ１４に磁気記
録されたテスト信号のテスト再生を行う。このテスト再
生による回転ヘッド２６の出力特性からどの領域でヘッ
ドタッチの不良が発生しているのかを判定することがで
きる。

【００１３】左側のガイド溝３２の近傍には、供給側リ
ール１６から引き出されたラッピングテープ１４をガイ
ドするテンションポスト３６、インピーダンスローラ３
８、ラッピングテープ１４に付着した塵埃を除去するテ
ープクリナー４０が設けられている。また、右側のガイ
ド溝３４の近傍には、回転ドラム２４の外周を通過した
ラッピングテープ１４を走行させるためのキャプスタン
４２と、キャプスタン４２にラッピングテープ１４を圧
着させるピンチローラ４４と、ラッピングテープ１４の
走行位置をガイドするテープガイド４６，４８とが設け
られている。

【００１４】さらに、磁気記録再生装置１０には、組み
立てラインでの組み立て作業が完了した後、回転ヘッド
２６のヘッドタッチを調整するための回転ヘッドラッピ
ング装置５０が設けられている。この回転ヘッドラッピ
ング装置５０は、上記ラッピング用テープカセット３１
と、ラッピング用テープカセット３１のラッピングテー
プ１４を回転ドラム２４の外周に摺接させるテープロー
ディング部材２８，３０と、巻き取り側リール２０を回
転駆動させてテスト再生を行った後、テープ摺接領域で
ヘッドタッチ不良があるときは、その領域で回転ヘッド
２６のヘッド面を研磨するようにラッピング部の摺接位
置を調整する制御部（ラッピング位置調整手段）５２と
からなる。

【００１５】図２はラッピング用テープカセット３１の
ラッピングテープ１４を引き出した状態を示す平面図で
ある。図３はラッピング用テープカセット３１から引き
出されたラッピングテープ１４により回転ドラム２４の
中間位置で研磨する状態を示す斜視図である。図２に示
されるように、ラッピングテープ１４は、テープローデ
ィング部材２８，３０がガイド溝３２，３４に沿って回
転ドラム２４の背面側へ移動することにより、ラッピン
グ用テープカセット３１から引き出されて回転ドラム２
４の外周に所定角度範囲に巻き付けられて摺接する。こ
のラッピングテープ１４は、テスト用信号が記録された
磁気記録部１４ａと、研磨剤が塗布されたラッピング部
１４ｂとが交互に形成されている。尚、ラッピング部１
４ｂは、ラッピングテープ１４のテープ長に比べて短く
形成されており、本実施例では回転ドラム２４の外周の
所定角度（例えば、６０度程度）に摺接する長さＬだけ
形成されている。

【００１６】図３に示されるように、回転ドラム２４
は、シャーシ１２に固定された下ドラム２４ａと、下ド
ラム２４ａの上部で回転駆動される上ドラム２４ｂとか
らなる。回転ヘッド２６は、上ドラム２４ｂに設けられ
ており、ヘッド面２６ａが上ドラム２４ｂの外周より僅
かに突出するように取り付けられている。

【００１７】また、ラッピングテープ１４のラッピング
部１４ｂ（斜め線で示す）を回転ドラム２４のテープ摺
接入り口とテープ摺接出口との中間位置（Ｃ部）に位置
させた状態でスチル再生（静止画再生）を行うと、ラッ
ピングテープ１４が静止した状態で回転ヘッド２６が回
転する。そのため、回転ヘッド２６は回転ドラム２４の
テープ摺接入り口とテープ摺接出口との中間位置（Ｃ
部）を通過する際にヘッド面２６ａがラッピング部１４
ｂにより研磨される。

【００１８】図４はラッピングテープ１４により回転ド
ラム２４のテープ摺接入り口付近を研磨する状態を示す
斜視図である。図４に示されるように、ラッピングテー
プ１４のラッピング部１４ｂ（斜め線で示す）を回転ド
ラム２４のテープ摺接入り口付近（Ａ部）に位置させた
状態でスチル再生（静止画再生）を行うと、ラッピング
テープ１４が静止した状態で回転ヘッド２６が回転す
る。そのため、回転ヘッド２６は回転ドラム２４のテー
プ摺接入り口付近（Ａ部）を通過する際にヘッド面２６
ａがラッピング部１４ｂにより研磨される。

【００１９】図５はラッピングテープ１４により回転ド
ラム２４のテープ摺接出口付近を研磨する状態を示す斜
視図である。図５に示されるように、ラッピングテープ
１４のラッピング部１４ｂ（斜め線で示す）を回転ドラ
ム２４のテープ摺接出口付近（Ｂ部）に位置させた状態
でスチル再生（静止画再生）を行うと、ラッピングテー
プ１４が静止した状態で回転ヘッド２６が回転する。そ
のため、回転ヘッド２６は回転ドラム２４のテープ摺接
出口付近（Ｂ部）を通過する際にヘッド面２６ａがラッ
ピング部１４ｂにより研磨される。

【００２０】ここで、磁気記録再生装置１０の制御部５
２が実行する制御処理について説明する。図６は制御部
５２が実行する制御処理のフローチャートである。図６
に示されるように、制御部５２は、ステップＳ１１（以
下「ステップ」を省略する）でテープローディング部材
２８，３０を移動させてラッピングテープ１４を回転ド
ラム２４の外周に巻き付けるテープローディング動作を
行わせる。次のＳ１２では、回転ドラム２４の上ドラム
２４ｂを回転させてラッピングテープ１４の磁気記録部
１４ａに記録されたテスト用信号を回転ヘッド２６によ
り読み取らせ、そのとき回転ヘッド２６から出力された
再生信号を読み取るテスト再生を行う。

【００２１】次のＳ１３では、回転ヘッド２６のヘッド
タッチが不良かどうかをチェックする。Ｓ１３におい
て、回転ヘッド２６のヘッドタッチが不良であるとき
は、Ｓ１４に進み、テープ摺接入り口付近（Ａ部）でヘ
ッドタッチ不良が生じたのかどうかをチェックする。ま
た、テープ摺接入り口付近（Ａ部）でないときは、Ｓ１
５に進み、テープ摺接中間付近（Ｃ部）でヘッドタッチ
不良が生じたのかどうかをチェックする。また、テープ
摺接中間付近（Ｃ部）でないときは、Ｓ１６に進み、テ
ープ摺接出口付近（Ｂ部）でヘッドタッチ不良が生じた
のかどうかをチェックする。

【００２２】Ｓ１４において、テープ摺接入り口付近
（Ａ部）でヘッドタッチ不良が生じたときは、Ｓ１７に
進み、ラッピングテープ１４のラッピング部１４ｂを回
転ドラム２４のテープ摺接入り口付近（Ａ部）に移動さ
せた後、Ｓ２０でスチル再生（静止画再生）を行う。こ
の場合、ラッピングテープ１４が静止した状態で回転ヘ
ッド２６が回転するため、回転ヘッド２６は回転ドラム
２４のテープ摺接入り口付近（Ａ部）を通過する際にヘ
ッド面２６ａがラッピング部１４ｂにより研磨される。

【００２３】また、Ｓ１５において、テープ摺接入り口
とテープ摺接出口との中間位置（Ｃ部）でヘッドタッチ
不良が生じたときは、Ｓ１７に進み、ラッピングテープ
１４のラッピング部１４ｂを回転ドラム２４のテープ摺
接入り口とテープ摺接出口との中間位置（Ｃ部）に移動
させた後、Ｓ２０でスチル再生（静止画再生）を行う。
この場合、ラッピングテープ１４が静止した状態で回転
ヘッド２６が回転するため、回転ヘッド２６は回転ドラ
ム２４のテープ摺接入り口とテープ摺接出口との中間位
置（Ｃ部）を通過する際にヘッド面２６ａがラッピング
部１４ｂにより研磨される。

【００２４】また、Ｓ１６において、テープ摺接出口
（Ｂ部）でヘッドタッチ不良が生じたときは、Ｓ１７に
進み、ラッピングテープ１４のラッピング部１４ｂを回
転ドラム２４のテープ摺接出口（Ｂ部）に移動させた
後、Ｓ２０でスチル再生（静止画再生）を行う。この場
合、ラッピングテープ１４が静止した状態で回転ヘッド
２６が回転するため、回転ヘッド２６は回転ドラム２４
のテープ摺接出口（Ｂ部）を通過する際にヘッド面２６
ａがラッピング部１４ｂにより研磨される。

【００２５】Ｓ２１では、スチル再生が予め設定された
所定時間行われたかどうかをチェックする。スチル再生
が所定時間行われると、Ｓ２２に進み、ラッピングテー
プ１４の磁気記録部１４ａに記録されたテスト用信号を
回転ヘッド２６により読み取らせ、テスト再生を行う。

【００２６】次のＳ２３では、回転ヘッド２６のヘッド
タッチが不良かどうかをチェックする。Ｓ２３におい
て、回転ヘッド２６のヘッドタッチが不良であるとき
は、Ｓ１４に戻り、再度、Ｓ１４以降の処理を実行す
る。また、Ｓ２３において、回転ヘッド２６のヘッドタ
ッチが良好であるときは、Ｓ２４に進み、テープローデ
ィング部材２８，３０を元の位置に移動させてラッピン
グテープ１４を回転ドラム２４から離間させた後、テー
プカセット３１に戻すテープアンローディング動作を行
わせる。

【００２７】尚、上記Ｓ１３において、回転ヘッド２６
のヘッドタッチが良好であるときは、Ｓ１４〜Ｓ２３の
処理を省略してＳ２４へ移行する。また、Ｓ１６におい
て、テープ摺接出口付近（Ｂ部）でヘッドタッチ不良が
生じないときは、上記Ｓ１２に戻り、再度テスト再生を
行ってヘッドタッチ不良の有無を判定する。

【００２８】このように、ヘッドタッチ不良が発生して
いる箇所をテスト再生により判定し、当該ヘッドタッチ
不良が発生している領域（角度範囲）でスチル再生する
ことによりヘッド面２６ａがラッピング部１４ｂにより
研磨されてヘッドタッチを効率良く改善することができ
る。

【００２９】ここで、磁気記録再生装置１０の制御部５
２が実行する制御処理の変形例について説明する。図７
は制御部５２が実行する制御処理の変形例のフローチャ
ートである。図７に示されるように、Ｓ３１〜Ｓ３６の
処理は前述したＳ１１〜Ｓ１６の処理と同一であるの
で、その説明は省略する。制御部５２は、Ｓ３４におい
て、テープ摺接入り口付近（Ａ部）でヘッドタッチ不良
が生じたときは、Ｓ３７に進み、ラッピングテープ１４
のラッピング部１４ｂを回転ドラム２４のテープ摺接入
り口付近（Ａ部）に移動させ、Ｓ４０で回転ヘッド２６
を回転させてラッピング再生する。

【００３０】また、Ｓ３５において、テープ摺接入り口
とテープ摺接出口との中間位置（Ｃ部）でヘッドタッチ
不良が生じたときは、Ｓ３８に進み、ラッピングテープ
１４のラッピング部１４ｂを回転ドラム２４のテープ摺
接入り口とテープ摺接出口との中間位置（Ｃ部）に移動
させて、Ｓ４０でラッピング再生を行う。この場合、回
転ヘッド２６は回転ドラム２４のテープ摺接入り口とテ
ープ摺接出口との中間位置（Ｃ部）を通過する際にヘッ
ド面２６ａがラッピング部１４ｂにより研磨される。

【００３１】また、Ｓ３６において、テープ摺接出口
（Ｂ部）でヘッドタッチ不良が生じたときは、Ｓ３９に
進み、ラッピングテープ１４のラッピング部１４ｂを回
転ドラム２４のテープ摺接出口（Ｂ部）に移動させて、
Ｓ４０でスチル再生（静止画再生）を行う。この場合、
回転ヘッド２６は回転ドラム２４のテープ摺接出口（Ｂ
部）を通過する際にヘッド面２６ａがラッピング部１４
ｂにより研磨される。

【００３２】次のＳ４１では、ラッピング再生が予め設
定された所定時間（例えば、２分間）が経過したかどう
かをチェックする。Ｓ４１において、所定時間が経過し
ていないときは、Ｓ４２に進み、ラッピング再生の回数
がｎ回目かどうかをチェックする。Ｓ４２において、ラ
ッピング再生の回数がｎ回目以下のときは、Ｓ４３に進
み、ラッピングテープ１４の巻き戻しを行う。そして、
Ｓ４０に戻り、再度、ラッピングテープ１４のラッピン
グ部１４ｂを回転ドラム２４のテープ摺接入り口付近
（Ａ部）に移動させ、同時に回転ヘッド２６を回転させ
て再生する。

【００３３】このように、Ｓ４０〜Ｓ４３の処理をｎ回
繰り返すか、あるいは所定時間が経過すると、Ｓ４４に
移行してラッピングテープ１４の磁気記録部１４ａに記
録されたテスト用信号を回転ヘッド２６により読み取ら
せ、テスト再生を行う。

【００３４】次のＳ４５では、回転ヘッド２６のヘッド
タッチが不良かどうかをチェックする。Ｓ４５におい
て、回転ヘッド２６のヘッドタッチが不良であるとき
は、Ｓ３４に戻り、再度、Ｓ３４以降の処理を実行す
る。また、Ｓ４５において、回転ヘッド２６のヘッドタ
ッチが良好であるときは、Ｓ４６に進み、テープローデ
ィング部材２８，３０を元の位置に移動させてラッピン
グテープ１４を回転ドラム２４から離間させた後、テー
プカセット３１に戻すテープアンローディング動作を行
わせる。

【００３５】このように、ヘッドタッチ不良が発生して
いる箇所をテスト再生により判定し、当該ヘッドタッチ
不良が発生している領域（角度範囲）にラッピング部１
４ｂを繰り返し巻き戻して再生することによりヘッド面
２６ａがラッピング部１４ｂにより研磨されてヘッドタ
ッチを効率良く改善することができる。

【００３６】尚、ラッピング部１４ｂをラッピングテー
プ１４の複数箇所に連続的に設けることにより、上記巻
き戻し処理を不要とすることも可能である。

【００３７】

【発明の効果】上述の如く、請求項１記載の発明によれ
ば、テープ長の一部に研磨剤を塗布したラッピング部を
形成したため、回転ドラムの外周のうちヘッドタッチの
悪化した領域（角度範囲）で回転ヘッドを研磨すること
ができる。

【００３８】また、請求項２記載の発明によれば、テー
プ長の一部に研磨剤を塗布したラッピング部を有するラ
ッピング用テープカセットと、ラッピング用テープカセ
ットからテープを引き出して回転ヘッドに摺接させるロ
ーディング機構と、ローディング機構により回転ヘッド
に摺接されたテープを巻き取るテープ巻き取り手段と、
テープのラッピング部が回転ヘッドのヘッドタッチが悪
下する領域で回転ヘッドのヘッド面を研磨するようにラ
ッピング部の摺接位置を調整するラッピング位置調整手
段と、を備えてなるため、回転ドラムの外周のうちヘッ
ドタッチの悪化した領域（角度範囲）で回転ヘッドを研
磨することができる。

【００３９】請求項３記載の発明によれば、テープ長の
一部に研磨剤を塗布したラッピング部が形成されたラッ
ピングテープを用いて回転ヘッドのヘッド面を研磨する
回転ヘッドラッピング方法であるので、回転ドラムの外
周のうちヘッドタッチの悪化した領域（角度範囲）で回
転ヘッドを研磨することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明になる回転ヘッドラッピング装置の一実
施例が適用された磁気記録再生装置を示す平面図であ
る。

【図２】ラッピング用テープカセット３１のラッピング
テープ１４を引き出した状態を示す平面図である。

【図３】ラッピング用テープカセット３１から引き出さ
れたラッピングテープ１４により回転ドラム２４の中間
位置で研磨する状態を示す斜視図である。

【図４】ラッピングテープ１４により回転ドラム２４の
テープ摺接入り口付近を研磨する状態を示す斜視図であ
る。

【図５】ラッピングテープ１４により回転ドラム２４の
テープ摺接出口付近を研磨する状態を示す斜視図であ
る。

【図６】制御部５２が実行する制御処理のフローチャー
トである。

【図７】制御部５２が実行する制御処理の変形例のフロ
ーチャートである。

【符号の説明】

１０ 磁気記録再生装置 １４ ラッピングテープ １４ａ 磁気記録部 １４ｂ ラッピング部 １６ 供給側リール ２０ 巻き取り側リール ２４ 回転ドラム ２６ 回転ヘッド ２６ａ ヘッド面 ２８，３０ テープローディング部材 ３１ ラッピング用テープカセット ３２，３４ ガイド溝 ５０ 回転ヘッドラッピング装置 ５２ 制御部

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 研磨剤が塗布されたラッピングテープを
   磁気ヘッドに摺接させて回転ヘッドのヘッド面を研磨す
   るラッピング用テープカセットにおいて、 前記テープ長の一部に研磨剤を塗布したラッピング部を
   形成したことを特徴とするラッピング用テープカセッ
   ト。
2. 【請求項２】 テープ長の一部に研磨剤を塗布したラッ
   ピング部を有するラッピング用テープカセットと、 該ラッピング用テープカセットからテープを引き出して
   回転ヘッドに摺接させるローディング機構と、 該ローディング機構により前記回転ヘッドに摺接された
   テープを巻き取るテープ巻き取り手段と、 前記テープのラッピング部が前記回転ヘッドのヘッドタ
   ッチが悪下する領域で前記回転ヘッドのヘッド面を研磨
   するように前記ラッピング部の摺接位置を調整するラッ
   ピング位置調整手段と、 を備えてなることを特徴とする回転ヘッドラッピング装
   置。
3. 【請求項３】 テープ長の一部に研磨剤を塗布したラッ
   ピング部が形成されたラッピングテープを用いて回転ヘ
   ッドのヘッド面を研磨する回転ヘッドラッピング方法。