JP2002139397A - リークデテクタ - Google Patents

リークデテクタ

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JP2002139397A
JP2002139397A JP2000331650A JP2000331650A JP2002139397A JP 2002139397 A JP2002139397 A JP 2002139397A JP 2000331650 A JP2000331650 A JP 2000331650A JP 2000331650 A JP2000331650 A JP 2000331650A JP 2002139397 A JP2002139397 A JP 2002139397A
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JP
Japan
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sniffer
probe
gas
hood
leak
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JP2000331650A
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English (en)
Inventor
Akio Igawa
秋夫 井川
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 スニファープローブを用いたリークテストに
おいて、テスト時間を短縮化する。 【解決手段】 被試験体Sから漏洩するプローブガスを
吸引するためのスニファープローブ11が複数取り付け
られ、その内側が吸引される被試験体収容フード16に
被試験体Sを収容し、これらスニファープローブ11の
吸引経路毎に設けたバルブSV1〜SV8をすべて開い
て、被試験体収容フード16内のガスを吸引し、プロー
ブ11が吸引された場合、その後、個々のバルブSV1
〜SV8を順次、閉状態として、吸引されるプローブガ
スが最も少なくなるスニファープローブ11の取り付け
位置に近い被試験体Sの箇所からの漏洩が特定される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、密閉検査等に使用
されるリークデテクタに関する。
【0002】
【従来の技術】封止検査や密閉検査を行う有力な手段の
一つとしてリークデテクタがある。このようなリークデ
テクタには、例えば、プローブガスとして被試験体に封
入されたヘリウム(He)ガスの漏れを検出するが、この
ようなリークデテクタには、被試験体をスニファープロ
ーブでトレースして局部的にリーク検出を行うスニファ
ー法や、被試験体全体をフードで覆い、フード内部を吸
引して、漏れの有無を検出する放置積分法などがある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、スニファー
法では、被試験体の表面全体をスニファープローブでト
レースするので、被試験体の表面積が大きくなるにつれ
て、検査時間を要するという欠点を有していた。
【0004】一方、放置積分法は、被試験体全体の中に
リーク箇所があるか否かを検出する場合には適した方法
であるが、リーク箇所の特定ができないという欠点を有
していた。
【0005】そこで、本発明の目的は、上記した方法が
それぞれ有していた問題点を解消し、短時間でリーク箇
所を有するか否かの検出を行うと共に、リーク箇所を有
する場合、リーク箇所の特定を速やかに行うことのでき
るリークデテクタを提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のリークデテクタ
は、被試験体から漏洩するプローブガスを吸引するため
のスニファープローブが複数取り付けられ、その内側に
被試験体が収容される被試験体収容フード内に被試験体
を収容し、まず、これらスニファープローブの吸引経路
毎に設けたバルブをすべて開いて、被試験体収容フード
内のガスを吸引し、プローブガスが検出された場合、そ
の後、順次1個毎にバルブを開状態、若しくは閉状態と
して、所定量以上のプローブガスが吸引されるスニファ
ープローブを特定することで、そのスニファープローブ
の取り付け位置に近い被試験体の部分に漏洩箇所がある
と判定する。
【0007】また、前記バルブを使用する代わりに、そ
れぞれ経路長さの異なる複数のスニファープローブの吸
引経路を介して被試験体収容フード内のガスを吸引する
と、プローブガスが検出されるまでの時間に基づいて、
プローブガスが吸引されたスニファープローブを特定す
ることができる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、図1、2を参照して本発明
の実施の形態を説明する。図1は本発明によるリークデ
テクタの一実施の形態を示す図であり、ヘリウムガスを
プローブガスとして使用したヘリウムリークデテクタの
外観図である。10はデテクタ本体であり、スニファー
法によるリークテスト用のスニファープローブ11が接
続されるスニファーユニット12が具備され、このスニ
ファーユニット12は回転ポンプなどの吸引手段で吸引
されたガスの一部をリークデテクタに供給する。
【0009】このスニファーユニット12には1本のチ
ューブ13が接続され、分配器14を介して、複数のチ
ューブ15が接続されており、複数のチューブ15の個
々にスニファープローブ11が接続されている。
【0010】また、被試験体Sを内部に収容し配置する
円筒状のフード16が具備されており、このフード16
には、上記したスニファープローブ11が複数固定され
るとともに、スニファープローブ11とチューブ15と
の間には、電気的に開閉制御が可能な電磁式の経路遮断
バルブSV1〜SV8が設けられている。経路遮断バル
ブSV1〜SV8は、デテクタ本体10を制御する制御
装置17に接続されており、この制御装置17によって
経路遮断バルブSV1〜SV8の開閉制御が行われる。
【0011】さらに、円筒状のフード16の一端側は開
放され、その近傍にはフード16内の排気を促進するフ
ァン18が具備されるとともに、フード16の他端側も
開放されており、この他端側から被試験体Sが出し入れ
される。本実施例において、フード16の内部は密封性
は必要なく、少なくとも被試験体Sに対するスニファー
プローブの位置関係が変わらないよう保持するものであ
ればよいが、両端側に扉を設け、リークテスト中はフー
ド16内部の密封性が維持されるような構成でも実施可
能である。
【0012】次に、図1のヘリウムリークデテクタを使
用したリークテストについて、図2の処理フローを用い
て説明する。
【0013】まず、フード16内に被試験体Sを収容す
る前、ファン18を駆動して、フード16内を排気して
おく、このとき、バルブSV1〜SV8は全て開の状態
としておく。
【0014】そして、プローブガスであるヘリウムガス
が封入された被試験体Sをフード16内に収容し、ファ
ン18を停止する。そして、フード18内側のガスをス
ニフャーユニット12に接続された回転ポンプ等で吸引
し、吸引されたガスの一部をデテクタ本体10側へ導い
てリークテストを実行する。
【0015】ここで、ヘリウムガスが検出されなかった
場合は、被試験体Sにおける異常箇所がなかったという
ことで、被試験体Sは異常なしと判定するが、このよう
な判定までに要するリークテスト時間は、最短で約5秒
である。
【0016】一方、ここで、ヘリウムガスが検出された
場合、被試験体Sはヘリウムガスの漏洩が発生するよう
な異常箇所を有しているとして、異常ありと判定し、引
き続き、異常箇所の特定のためのリークテストを行う。
【0017】そのリークテストは、バルブSV1〜SV
8について全て開の状態のまま、まず、バルブSV8を
閉とした状態で実行する。所定時間経過後、バルブSV
8を開き、バルブSV7を閉じた状態でテストを実行す
る。このようなバルブの閉動作をバルブSV1まで繰り
返してリークテストを実行する。
【0018】そして、バルブSV1〜SV8のいずれか
を閉じたとき検出されるヘリウムガスの総和とバルブS
V1〜SV8全てを開いたときのヘリウムガスの総和と
の差が、所定以上となったときに閉じたバルブのスニフ
ァープローブ11の近くで、被試験体Sからの漏れがあ
ると判定して、被試験体Sにおける異常箇所の特定がで
きる。
【0019】このようなリークテストを終了した後は、
ファン18を再駆動し、フード16内の残留ヘリウムガ
スを排除しながら、被試験体Sをフードから取り出し、
次の被試験体Sをフード16内に収容し、上記したリー
クテストを繰り返す。
【0020】なお、本実施例では、フード16に8個の
スニファープローブ11を取り付けたが、少なくとも2
個以上のスニファープローブ11を設けることから実施
可能であり、多くのスニファープローブ11を取り付け
るほど、異常箇所の特定の精度が向上する。
【0021】また、本実施例では、バルブSV1〜SV
8まで、1個ずつ順次閉じてリークテストを行ったが、
その代わりに、バルブSV1〜SV8まで、1個ずつ順
次開いてリークテストを行ってもよい。
【0022】さらに、複数のスニファープローブ11か
らデテクタ本体10までの経路の長さに差を設け、具体
的には、図3に示したように、複数のチューブ15に関
し、それぞれの長さL1〜L8について、所定の差を設
け、吸引したガスがデテクタ本体に到着するまでの時間
差を意図的につけることで、測定開始からヘリウムの検
出までに要した時間に基づき、どのスニファープローブ
11から吸引したガスにヘリウムガスが含まれていたか
を特定することができ、バルブSV1〜SV8を省略す
ることが可能となる。
【0023】
【発明の効果】以上のように、本発明のリークデテクタ
によれば、まず、被試験体が異常(漏洩)箇所を有して
いるか否かを検出することができ、異常箇所を有してい
る被試験体だけについて、異常箇所の特定を行うための
リークテストを行うので、テストに要していた時間が短
縮化され、異常箇所の特定までのテストの作業効率が向
上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施例のリークデテクタのブロック図。
【図2】本実施例のリークデテクタを使用したリークテ
ストの処理フロー図。
【図3】変形実施例のリークデテクタのブロック図。
【符号の説明】
10 デテクタ本体 11 スニファープローブ 16 フード S 被試験体 SV1〜SV8 バルブ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被試験体から漏洩するプローブガスを吸
    引するための複数のスニファープローブと、この複数の
    スニファープローブが取り付けられその内側に被試験体
    が収容される被試験体収容フードと、これらスニファー
    プローブ毎に設けられたプローブガスを吸引する吸引経
    路と、これら吸引経路毎に設けられた独立して開閉制御
    可能なバルブとを具備してなることを特徴とするリーク
    デテクタ。
  2. 【請求項2】 被試験体から漏洩するプローブガスを吸
    引するための複数のスニファープローブと、この複数の
    スニファープローブが取り付けられその内側に被試験体
    が収容される被試験体収容フードと、これらスニファー
    プローブ毎に設けられたプローブガスを吸引する複数の
    吸引経路とを具備すると共に、これら吸引経路の経路長
    さをそれぞれ異ならせたことを特徴とするリークデテク
    タ。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019021822A1 (ja) * 2017-07-28 2019-01-31 ヤマハファインテック株式会社 タイヤ検査装置及びタイヤ検査方法
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