JP2002139397A - リークデテクタ - Google Patents
リークデテクタInfo
- Publication number
- JP2002139397A JP2002139397A JP2000331650A JP2000331650A JP2002139397A JP 2002139397 A JP2002139397 A JP 2002139397A JP 2000331650 A JP2000331650 A JP 2000331650A JP 2000331650 A JP2000331650 A JP 2000331650A JP 2002139397 A JP2002139397 A JP 2002139397A
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- Japan
- Prior art keywords
- sniffer
- probe
- gas
- hood
- leak
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 スニファープローブを用いたリークテストに
おいて、テスト時間を短縮化する。 【解決手段】 被試験体Ｓから漏洩するプローブガスを
吸引するためのスニファープローブ１１が複数取り付け
られ、その内側が吸引される被試験体収容フード１６に
被試験体Ｓを収容し、これらスニファープローブ１１の
吸引経路毎に設けたバルブＳＶ１〜ＳＶ８をすべて開い
て、被試験体収容フード１６内のガスを吸引し、プロー
ブ１１が吸引された場合、その後、個々のバルブＳＶ１
〜ＳＶ８を順次、閉状態として、吸引されるプローブガ
スが最も少なくなるスニファープローブ１１の取り付け
位置に近い被試験体Ｓの箇所からの漏洩が特定される。
おいて、テスト時間を短縮化する。 【解決手段】 被試験体Ｓから漏洩するプローブガスを
吸引するためのスニファープローブ１１が複数取り付け
られ、その内側が吸引される被試験体収容フード１６に
被試験体Ｓを収容し、これらスニファープローブ１１の
吸引経路毎に設けたバルブＳＶ１〜ＳＶ８をすべて開い
て、被試験体収容フード１６内のガスを吸引し、プロー
ブ１１が吸引された場合、その後、個々のバルブＳＶ１
〜ＳＶ８を順次、閉状態として、吸引されるプローブガ
スが最も少なくなるスニファープローブ１１の取り付け
位置に近い被試験体Ｓの箇所からの漏洩が特定される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、密閉検査等に使用
されるリークデテクタに関する。
されるリークデテクタに関する。
【０００２】
【従来の技術】封止検査や密閉検査を行う有力な手段の
一つとしてリークデテクタがある。このようなリークデ
テクタには、例えば、プローブガスとして被試験体に封
入されたヘリウム(Ｈｅ)ガスの漏れを検出するが、この
ようなリークデテクタには、被試験体をスニファープロ
ーブでトレースして局部的にリーク検出を行うスニファ
ー法や、被試験体全体をフードで覆い、フード内部を吸
引して、漏れの有無を検出する放置積分法などがある。
一つとしてリークデテクタがある。このようなリークデ
テクタには、例えば、プローブガスとして被試験体に封
入されたヘリウム(Ｈｅ)ガスの漏れを検出するが、この
ようなリークデテクタには、被試験体をスニファープロ
ーブでトレースして局部的にリーク検出を行うスニファ
ー法や、被試験体全体をフードで覆い、フード内部を吸
引して、漏れの有無を検出する放置積分法などがある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、スニファー
法では、被試験体の表面全体をスニファープローブでト
レースするので、被試験体の表面積が大きくなるにつれ
て、検査時間を要するという欠点を有していた。
法では、被試験体の表面全体をスニファープローブでト
レースするので、被試験体の表面積が大きくなるにつれ
て、検査時間を要するという欠点を有していた。
【０００４】一方、放置積分法は、被試験体全体の中に
リーク箇所があるか否かを検出する場合には適した方法
であるが、リーク箇所の特定ができないという欠点を有
していた。
リーク箇所があるか否かを検出する場合には適した方法
であるが、リーク箇所の特定ができないという欠点を有
していた。
【０００５】そこで、本発明の目的は、上記した方法が
それぞれ有していた問題点を解消し、短時間でリーク箇
所を有するか否かの検出を行うと共に、リーク箇所を有
する場合、リーク箇所の特定を速やかに行うことのでき
るリークデテクタを提供することにある。
それぞれ有していた問題点を解消し、短時間でリーク箇
所を有するか否かの検出を行うと共に、リーク箇所を有
する場合、リーク箇所の特定を速やかに行うことのでき
るリークデテクタを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のリークデテクタ
は、被試験体から漏洩するプローブガスを吸引するため
のスニファープローブが複数取り付けられ、その内側に
被試験体が収容される被試験体収容フード内に被試験体
を収容し、まず、これらスニファープローブの吸引経路
毎に設けたバルブをすべて開いて、被試験体収容フード
内のガスを吸引し、プローブガスが検出された場合、そ
の後、順次１個毎にバルブを開状態、若しくは閉状態と
して、所定量以上のプローブガスが吸引されるスニファ
ープローブを特定することで、そのスニファープローブ
の取り付け位置に近い被試験体の部分に漏洩箇所がある
と判定する。
は、被試験体から漏洩するプローブガスを吸引するため
のスニファープローブが複数取り付けられ、その内側に
被試験体が収容される被試験体収容フード内に被試験体
を収容し、まず、これらスニファープローブの吸引経路
毎に設けたバルブをすべて開いて、被試験体収容フード
内のガスを吸引し、プローブガスが検出された場合、そ
の後、順次１個毎にバルブを開状態、若しくは閉状態と
して、所定量以上のプローブガスが吸引されるスニファ
ープローブを特定することで、そのスニファープローブ
の取り付け位置に近い被試験体の部分に漏洩箇所がある
と判定する。
【０００７】また、前記バルブを使用する代わりに、そ
れぞれ経路長さの異なる複数のスニファープローブの吸
引経路を介して被試験体収容フード内のガスを吸引する
と、プローブガスが検出されるまでの時間に基づいて、
プローブガスが吸引されたスニファープローブを特定す
ることができる。
れぞれ経路長さの異なる複数のスニファープローブの吸
引経路を介して被試験体収容フード内のガスを吸引する
と、プローブガスが検出されるまでの時間に基づいて、
プローブガスが吸引されたスニファープローブを特定す
ることができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、図１、２を参照して本発明
の実施の形態を説明する。図１は本発明によるリークデ
テクタの一実施の形態を示す図であり、ヘリウムガスを
プローブガスとして使用したヘリウムリークデテクタの
外観図である。１０はデテクタ本体であり、スニファー
法によるリークテスト用のスニファープローブ１１が接
続されるスニファーユニット１２が具備され、このスニ
ファーユニット１２は回転ポンプなどの吸引手段で吸引
されたガスの一部をリークデテクタに供給する。
の実施の形態を説明する。図１は本発明によるリークデ
テクタの一実施の形態を示す図であり、ヘリウムガスを
プローブガスとして使用したヘリウムリークデテクタの
外観図である。１０はデテクタ本体であり、スニファー
法によるリークテスト用のスニファープローブ１１が接
続されるスニファーユニット１２が具備され、このスニ
ファーユニット１２は回転ポンプなどの吸引手段で吸引
されたガスの一部をリークデテクタに供給する。
【０００９】このスニファーユニット１２には１本のチ
ューブ１３が接続され、分配器１４を介して、複数のチ
ューブ１５が接続されており、複数のチューブ１５の個
々にスニファープローブ１１が接続されている。
ューブ１３が接続され、分配器１４を介して、複数のチ
ューブ１５が接続されており、複数のチューブ１５の個
々にスニファープローブ１１が接続されている。
【００１０】また、被試験体Ｓを内部に収容し配置する
円筒状のフード１６が具備されており、このフード１６
には、上記したスニファープローブ１１が複数固定され
るとともに、スニファープローブ１１とチューブ１５と
の間には、電気的に開閉制御が可能な電磁式の経路遮断
バルブＳＶ１〜ＳＶ８が設けられている。経路遮断バル
ブＳＶ１〜ＳＶ８は、デテクタ本体１０を制御する制御
装置１７に接続されており、この制御装置１７によって
経路遮断バルブＳＶ１〜ＳＶ８の開閉制御が行われる。
円筒状のフード１６が具備されており、このフード１６
には、上記したスニファープローブ１１が複数固定され
るとともに、スニファープローブ１１とチューブ１５と
の間には、電気的に開閉制御が可能な電磁式の経路遮断
バルブＳＶ１〜ＳＶ８が設けられている。経路遮断バル
ブＳＶ１〜ＳＶ８は、デテクタ本体１０を制御する制御
装置１７に接続されており、この制御装置１７によって
経路遮断バルブＳＶ１〜ＳＶ８の開閉制御が行われる。
【００１１】さらに、円筒状のフード１６の一端側は開
放され、その近傍にはフード１６内の排気を促進するフ
ァン１８が具備されるとともに、フード１６の他端側も
開放されており、この他端側から被試験体Ｓが出し入れ
される。本実施例において、フード１６の内部は密封性
は必要なく、少なくとも被試験体Ｓに対するスニファー
プローブの位置関係が変わらないよう保持するものであ
ればよいが、両端側に扉を設け、リークテスト中はフー
ド１６内部の密封性が維持されるような構成でも実施可
能である。
放され、その近傍にはフード１６内の排気を促進するフ
ァン１８が具備されるとともに、フード１６の他端側も
開放されており、この他端側から被試験体Ｓが出し入れ
される。本実施例において、フード１６の内部は密封性
は必要なく、少なくとも被試験体Ｓに対するスニファー
プローブの位置関係が変わらないよう保持するものであ
ればよいが、両端側に扉を設け、リークテスト中はフー
ド１６内部の密封性が維持されるような構成でも実施可
能である。
【００１２】次に、図１のヘリウムリークデテクタを使
用したリークテストについて、図２の処理フローを用い
て説明する。
用したリークテストについて、図２の処理フローを用い
て説明する。
【００１３】まず、フード１６内に被試験体Ｓを収容す
る前、ファン１８を駆動して、フード１６内を排気して
おく、このとき、バルブＳＶ１〜ＳＶ８は全て開の状態
としておく。
る前、ファン１８を駆動して、フード１６内を排気して
おく、このとき、バルブＳＶ１〜ＳＶ８は全て開の状態
としておく。
【００１４】そして、プローブガスであるヘリウムガス
が封入された被試験体Ｓをフード１６内に収容し、ファ
ン１８を停止する。そして、フード１８内側のガスをス
ニフャーユニット１２に接続された回転ポンプ等で吸引
し、吸引されたガスの一部をデテクタ本体１０側へ導い
てリークテストを実行する。
が封入された被試験体Ｓをフード１６内に収容し、ファ
ン１８を停止する。そして、フード１８内側のガスをス
ニフャーユニット１２に接続された回転ポンプ等で吸引
し、吸引されたガスの一部をデテクタ本体１０側へ導い
てリークテストを実行する。
【００１５】ここで、ヘリウムガスが検出されなかった
場合は、被試験体Ｓにおける異常箇所がなかったという
ことで、被試験体Ｓは異常なしと判定するが、このよう
な判定までに要するリークテスト時間は、最短で約５秒
である。
場合は、被試験体Ｓにおける異常箇所がなかったという
ことで、被試験体Ｓは異常なしと判定するが、このよう
な判定までに要するリークテスト時間は、最短で約５秒
である。
【００１６】一方、ここで、ヘリウムガスが検出された
場合、被試験体Ｓはヘリウムガスの漏洩が発生するよう
な異常箇所を有しているとして、異常ありと判定し、引
き続き、異常箇所の特定のためのリークテストを行う。
場合、被試験体Ｓはヘリウムガスの漏洩が発生するよう
な異常箇所を有しているとして、異常ありと判定し、引
き続き、異常箇所の特定のためのリークテストを行う。
【００１７】そのリークテストは、バルブＳＶ１〜ＳＶ
８について全て開の状態のまま、まず、バルブＳＶ８を
閉とした状態で実行する。所定時間経過後、バルブＳＶ
８を開き、バルブＳＶ７を閉じた状態でテストを実行す
る。このようなバルブの閉動作をバルブＳＶ１まで繰り
返してリークテストを実行する。
８について全て開の状態のまま、まず、バルブＳＶ８を
閉とした状態で実行する。所定時間経過後、バルブＳＶ
８を開き、バルブＳＶ７を閉じた状態でテストを実行す
る。このようなバルブの閉動作をバルブＳＶ１まで繰り
返してリークテストを実行する。
【００１８】そして、バルブＳＶ１〜ＳＶ８のいずれか
を閉じたとき検出されるヘリウムガスの総和とバルブＳ
Ｖ１〜ＳＶ８全てを開いたときのヘリウムガスの総和と
の差が、所定以上となったときに閉じたバルブのスニフ
ァープローブ１１の近くで、被試験体Ｓからの漏れがあ
ると判定して、被試験体Ｓにおける異常箇所の特定がで
きる。
を閉じたとき検出されるヘリウムガスの総和とバルブＳ
Ｖ１〜ＳＶ８全てを開いたときのヘリウムガスの総和と
の差が、所定以上となったときに閉じたバルブのスニフ
ァープローブ１１の近くで、被試験体Ｓからの漏れがあ
ると判定して、被試験体Ｓにおける異常箇所の特定がで
きる。
【００１９】このようなリークテストを終了した後は、
ファン１８を再駆動し、フード１６内の残留ヘリウムガ
スを排除しながら、被試験体Ｓをフードから取り出し、
次の被試験体Ｓをフード１６内に収容し、上記したリー
クテストを繰り返す。
ファン１８を再駆動し、フード１６内の残留ヘリウムガ
スを排除しながら、被試験体Ｓをフードから取り出し、
次の被試験体Ｓをフード１６内に収容し、上記したリー
クテストを繰り返す。
【００２０】なお、本実施例では、フード１６に８個の
スニファープローブ１１を取り付けたが、少なくとも２
個以上のスニファープローブ１１を設けることから実施
可能であり、多くのスニファープローブ１１を取り付け
るほど、異常箇所の特定の精度が向上する。
スニファープローブ１１を取り付けたが、少なくとも２
個以上のスニファープローブ１１を設けることから実施
可能であり、多くのスニファープローブ１１を取り付け
るほど、異常箇所の特定の精度が向上する。
【００２１】また、本実施例では、バルブＳＶ１〜ＳＶ
８まで、１個ずつ順次閉じてリークテストを行ったが、
その代わりに、バルブＳＶ１〜ＳＶ８まで、１個ずつ順
次開いてリークテストを行ってもよい。
８まで、１個ずつ順次閉じてリークテストを行ったが、
その代わりに、バルブＳＶ１〜ＳＶ８まで、１個ずつ順
次開いてリークテストを行ってもよい。
【００２２】さらに、複数のスニファープローブ１１か
らデテクタ本体１０までの経路の長さに差を設け、具体
的には、図３に示したように、複数のチューブ１５に関
し、それぞれの長さＬ１〜Ｌ８について、所定の差を設
け、吸引したガスがデテクタ本体に到着するまでの時間
差を意図的につけることで、測定開始からヘリウムの検
出までに要した時間に基づき、どのスニファープローブ
１１から吸引したガスにヘリウムガスが含まれていたか
を特定することができ、バルブＳＶ１〜ＳＶ８を省略す
ることが可能となる。
らデテクタ本体１０までの経路の長さに差を設け、具体
的には、図３に示したように、複数のチューブ１５に関
し、それぞれの長さＬ１〜Ｌ８について、所定の差を設
け、吸引したガスがデテクタ本体に到着するまでの時間
差を意図的につけることで、測定開始からヘリウムの検
出までに要した時間に基づき、どのスニファープローブ
１１から吸引したガスにヘリウムガスが含まれていたか
を特定することができ、バルブＳＶ１〜ＳＶ８を省略す
ることが可能となる。
【００２３】
【発明の効果】以上のように、本発明のリークデテクタ
によれば、まず、被試験体が異常（漏洩）箇所を有して
いるか否かを検出することができ、異常箇所を有してい
る被試験体だけについて、異常箇所の特定を行うための
リークテストを行うので、テストに要していた時間が短
縮化され、異常箇所の特定までのテストの作業効率が向
上する。
によれば、まず、被試験体が異常（漏洩）箇所を有して
いるか否かを検出することができ、異常箇所を有してい
る被試験体だけについて、異常箇所の特定を行うための
リークテストを行うので、テストに要していた時間が短
縮化され、異常箇所の特定までのテストの作業効率が向
上する。
【図１】本実施例のリークデテクタのブロック図。
【図２】本実施例のリークデテクタを使用したリークテ
ストの処理フロー図。
ストの処理フロー図。
【図３】変形実施例のリークデテクタのブロック図。
１０ デテクタ本体 １１ スニファープローブ １６ フード Ｓ 被試験体 ＳＶ１〜ＳＶ８ バルブ
Claims (2)
- 【請求項１】 被試験体から漏洩するプローブガスを吸
引するための複数のスニファープローブと、この複数の
スニファープローブが取り付けられその内側に被試験体
が収容される被試験体収容フードと、これらスニファー
プローブ毎に設けられたプローブガスを吸引する吸引経
路と、これら吸引経路毎に設けられた独立して開閉制御
可能なバルブとを具備してなることを特徴とするリーク
デテクタ。 - 【請求項２】 被試験体から漏洩するプローブガスを吸
引するための複数のスニファープローブと、この複数の
スニファープローブが取り付けられその内側に被試験体
が収容される被試験体収容フードと、これらスニファー
プローブ毎に設けられたプローブガスを吸引する複数の
吸引経路とを具備すると共に、これら吸引経路の経路長
さをそれぞれ異ならせたことを特徴とするリークデテク
タ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000331650A JP2002139397A (ja) | 2000-10-31 | 2000-10-31 | リークデテクタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000331650A JP2002139397A (ja) | 2000-10-31 | 2000-10-31 | リークデテクタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002139397A true JP2002139397A (ja) | 2002-05-17 |
Family
ID=18807962
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000331650A Pending JP2002139397A (ja) | 2000-10-31 | 2000-10-31 | リークデテクタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002139397A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019021822A1 (ja) * | 2017-07-28 | 2019-01-31 | ヤマハファインテック株式会社 | タイヤ検査装置及びタイヤ検査方法 |
| US11358571B2 (en) | 2017-07-28 | 2022-06-14 | Yamaha Fine Technologies Co., Ltd. | Wheeled tire, and method for producing wheeled tire |
-
2000
- 2000-10-31 JP JP2000331650A patent/JP2002139397A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019021822A1 (ja) * | 2017-07-28 | 2019-01-31 | ヤマハファインテック株式会社 | タイヤ検査装置及びタイヤ検査方法 |
| CN110959106A (zh) * | 2017-07-28 | 2020-04-03 | 雅马哈精密科技株式会社 | 轮胎检查装置和轮胎检查方法 |
| US11358571B2 (en) | 2017-07-28 | 2022-06-14 | Yamaha Fine Technologies Co., Ltd. | Wheeled tire, and method for producing wheeled tire |
| US11366037B2 (en) | 2017-07-28 | 2022-06-21 | Yamaha Fine Technologies Co., Ltd. | Tire inspection device with gas sensor leak detection and tire inspection method with gas sensor leak detection |
| US11874198B2 (en) | 2017-07-28 | 2024-01-16 | Yamaha Fine Technologies Co., Ltd. | Tire inspection device with gas sensor leak detection and tire inspection method with gas sensor leak detection |
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