JP2002134961A - ケース一体コネクタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】ケース一体コネクタにおいて、実装機によりケ
ース本体に基板を実装する際に、前記ケース本体の位置
を検出して、前記実装機の原点位置を定めるための原点
マークの構造を簡単にして、しかも光学的に高精度で認
識可能にする。 【解決手段】実装機によりケース本体Ｇにプリント基板
（基板）Ｖを実装する際に、前記ケース本体Ｇに対する
前記実装機の原点位置を定めるための原点マークＭ
₁ が、ケース本体Ｇに設けられているケース一体コネク
タであって、アール面取り面１２を備えた面取り付穴Ｈ
₁ により、前記原点マークＭ₁ を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、内部にプリント基
板、ＩＣ基板等の各種基板、電子部品等が実装され、自
動車等の車両に搭載されて、その各装置を電子制御する
ためのケース一体コネクタに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】本発明に係るケース一体コネクタは、図
１及び図２に示されるように、樹脂成形されたケース本
体Ｇの側壁部１の外側には、コネクタ部２が一体成形さ
れていると共に、前記側壁部１の内側底部には、その上
面でコネクタ端子Ｔを支持するための第１部分底板部３
が一体に形成され、前記側壁部１と対向する別の側壁部
４の内側底部には、第２部分底板部５が一体に形成され
ている。多数本のコネクタ端子Ｔは、所定間隔をおいて
平行に配置されて、前記ケース本体Ｇの外部に配置され
ている部分は、前記コネクタ部２に空間配置状態で収容
されていると共に、前記ケース本体Ｇの内部に配置され
ている部分は、前記第１部分底板部３の上面に支持され
ている。

【０００３】また、ケース本体Ｇの裏面側には、前記第
１及び第２の各部分底板部３，５の裏面に接着により放
熱蓋６が固着されて、該放熱蓋６により、ケース本体Ｇ
内に実装されるプリント基板Ｖからの発熱を放熱させて
いる。そして、ケース本体Ｇに前記プリント基板Ｖを実
装するには、自動機（図示せず）を使用して行ってお
り、所定位置に固定されたケース本体Ｇに対する前記自
動機の原点位置を定めることにより、該ケース本体Ｇに
対して正規の位置に前記プリント基板Ｖを実装可能にす
るために、前記ケース本体Ｇには、光学的に認識可能な
「フィデュシャルマーク」と称される原点マークＭが設
けられている。この原点マークＭは、ケース本体Ｇの位
置検出の精度を高めるために、一般的には、方形のケー
ス本体Ｇの対角線方向に沿い、しかも最も離れた２箇所
に設けられる。図１及び図２に示されるケース本体Ｇの
例では、ケース本体Ｇの対角線方向に沿っている第１及
び第２の各部分底板部３，５の上面の２箇所に設けられ
ている。

【０００４】従来の原点マークの一つとして、図９及び
図１０に示される構造のものが実施されている。即ち、
ケース本体Ｇの成形時において、環状凹部２１を成形す
ることにより、その中心部に円形凸部２２が残存した形
状に成形して、前記環状凹部２１の底面に白ペンキ２３
を流し込んで、原点マークＭ’としていた。ケース本体
Ｇの地色は、白色以外のものであって、多くの場合は、
黒色である。なお、図９及び図１０において、３ａ，５
ａは、ケース本体Ｇの第１又は第２の部分底板部３，５
の上面の平面部を示す。

【０００５】そして、前記原点マークＭ’の直上の一点
を中心にして環状配置された多数の光源から光を照射さ
せると、環状凹部２１の色彩である白色の反射率と、そ
の中心部の円形凸部２２の色彩である黒色の反射率と
は、大きな差がある。このため、図１１に示されるよう
に、環状凹部２１と円形凸部２２との各部分において、
大きな照度差が生じて、両者２１，２２のコントラスト
が明確となって、両者２１，２２の円形境界線Ｅが明瞭
に現れる。この円形境界線Ｅが光学的に認識されること
により、その中心Ｃの位置は、自動演算により検出され
る。しかし、上記構造の原点マークＭ’は、ケース本体
Ｇの成形後において前記環状凹部２１の底面に白ペンキ
２３を流し込む必要があって、この狭隘な部分に白ペン
キ２３を流し込む作業は、極めて面倒であると共に、白
ペンキ２３の硬化時間も必要となり、これらが原因で原
点マークＭ’の製造コストが嵩んでいた。

【０００６】そこで、上記不具合を解消するために、図
１２及び図１３に示されるように、ケース本体Ｇの成形
時において、内径が小さくて深い被検出穴（例えば、内
径×深さ＝０．５×６ｍｍ）３１を開け、この被検出穴
３１を原点マークＭ”として機能させることが試みられ
た。しかし、この原点マークＭ”においても、以下の不
具合があった。前記被検出穴３１に光を照射させた場
合に、該被検出穴３１の部分と、その周囲の平面部３ａ
（５ａ）との間の照度差に基づくコントラストが不明瞭
で、被検出穴３１の検出の精度が低い。前記被検出穴
３１の内径が小さくて深いために、該被検出穴３１を開
けるために成形型に突設してある穴成形ピンが、成形時
の圧力により変形又は折損し易くなり、成形型の耐久性
が低い（成形型を何回も繰り返して使用できない）。

【０００７】即ち、前者の不具合に関しては、図１２に
示されるように、被検出穴３１の直上の一点を中心にし
て、ＬＥＤ等で構成される多数の光源Ａを環状配置し
て、前記被検出穴３１の周辺部を照射すると、該穴３１
の周辺の平面部３ａ（５ａ）においては、反射光は、正
反射するが、前記被検出穴３１内を照射する光は、該穴
３１内において数回反射を繰り返すために、光の反射率
が相乗的に低下する。この結果、被検出穴３１の直上に
おいて、該被検出穴３１と、その周辺の照度を測定する
と、被検出穴３１の部分と、その外側の平面部３ａ（５
ａ）とにおいては、大きな照度差が生じて、該被検出穴
３１の位置が一応検出されるが、被検出穴３１の部分
と、その外側の平面部３ａ（５ａ）とは、同色であるた
めに、両者の間の照度差は、前記白ペンキ２３を流し込
む構成の前記原点マークＭ’のそれに比較すれば、少な
い。このため、図１４に示されるように、被検出穴３１
の部分と、その外側の平面部３ａ（５ａ）との境界線が
明瞭に認識されない。なお、図１２においては、光源Ａ
は、１箇所のみに図示されて、該光源Ａからの光線Ｌを
図示してあるが、多数の光源Ａは、被検出穴３１の直上
の一点を中心にして環状配置されているため、被検出穴
３１の周方向に沿った光の照射条件は、全て同一であ
る。

【０００８】なお、本技術の属する業界においては、ケ
ース本体に開けられた被検出穴を原点マークとする場合
には、該被検出穴の開口コーナー部は、断面視において
直角であること（作業現場では、「ピン角」と俗称され
ている）が不可欠であると信じられ、本技術の属する業
界においては、長年に亘って上記形状の被検出穴が用い
られていた。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、ケース一体
コネクタにおいて、実装機によりケース本体に基板を実
装する際に、前記ケース本体の位置を検出して、前記実
装機の原点位置を定めるための原点マークの構造を簡単
にして、しかも光学的に高精度で認識可能にすることを
課題としている。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の請求項１の発明は、実装機によりケース本体に基板を
実装する際に、前記ケース本体に対する前記実装機の原
点位置を定めるための原点マークが、ケース本体に設け
られているケース一体コネクタであって、前記原点マー
クは、面取り面を備えた面取り付穴で構成されているこ
とを、その特徴としている。

【００１１】請求項１の発明によれば、原点マークの直
上の一点を中心にして環状配置された多数の光源からの
光線の入射角は、９０°に近い角度になっていて、前記
原点マークを構成する面取り付穴の底面には、その全面
に光線が入射可能になっている。そして、前記面取り付
穴の底面、及び該穴の周辺の平面部に入射した光線は、
正反射されるが、面取り付穴の開口内周面の面取り面に
入射した光線は、該面取り面で乱反射される。この結
果、光線が正反射される部分と、乱反射される部分との
間で大きな照度差が生じると共に、面取り付穴の底面に
連続する内周面は、該底面に対して垂直になっているた
めに、該面取り付穴の周縁部と、その外方との照度差
は、特に大きくなる。このため、原点マークを構成する
面取り付穴の底面の周縁と、その外側とのコントラスト
が明瞭となって、前記底面の周縁が明確に識別されて、
ケース本体に対する実装機の原点位置が検出される。

【００１２】ここで、請求項２の発明のように、前記面
取り面を、アール面取りすると、該アール面取り面に入
射した光線は、ほぼ任意の方向に反射されるため、乱反
射の程度が一層大きくなって、面取り付穴の底面の周縁
が一層認識され易くなる。更に、請求項３の発明のよう
に、面取り面に粗面加工を施すと、該面取り面に入射し
た光線が乱反射され易くなって、原点マークを構成する
面取り付穴の底面の周縁が光学的に一層認識され易くな
る。

【００１３】また、請求項１の発明においては、面取り
面を備えた面取り付穴で原点マークが構成されているた
めに、該面取り付穴を成形するために成形型の成形面に
突設されている穴成形ピンは、その先端から基端に向け
て外径が急激に大きくなる形状となる。このため、穴成
形ピンの強度が大きくなって、成形時の成形圧による変
形、或いは折損がなくなり、成形型の繰返し使用が可能
となる。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、実施例を挙げて、本発明を
更に詳細に説明する。図１は、本発明に係る原点マーク
Ｍ₁ を備えたケース一体コネクタの斜視図であり、図２
は、同じく断面図であり、図３は、原点マークＭ₁ を構
成する面取り付穴Ｈ₁ の直上の一点を中心にして多数の
光源Ａが環状配置された状態において、前記面取り付穴
Ｈ₁ の各部分、及び該穴Ｈ₁ の周辺の平面部３ａ（５
ａ）に対する光線の反射状態を示す模式的断面図であ
り、図４は、面取り付穴Ｈ₁ の斜視図であり、図５は、
面取り付穴Ｈ₁ 、及びその周辺の照度差を示す模式図で
ある。なお、「従来の技術」の項目で説明した部分と同
一部分には、同一符号を付し、重複説明を避けて、本発
明の独自の部分についてのみ説明する。

【００１５】原点マークＭ₁ を構成する面取り付穴Ｈ₁
は、図３ないし図５に示されるように、その〔内径
（Ｄ）×深さ（Ｂ）〕＝（０．５×０．９ｍｍ）であっ
て、その深さのほぼ（２／３）程度の部分までは、面取
り半径（Ｒ）＝０．５ｍｍで大きくアール面取りされて
いる。即ち、面取り付穴Ｈ₁ の内面は、第１又は第２の
部分底板部３，５の上面の平面部３ａ（５ａ）と平行な
底面１１と、開口側のアール面取り面１２と、前記底面
１１に対して垂直となっていて、該底面１１と前記アー
ル面取り面１２とを接続する内周面１３との３つの面で
構成される。

【００１６】そして、図３に示される状態では、上記し
たように多数の光源Ａが配置されているために、面取り
付穴Ｈ₁ の底面１１及び第１又は第２の部分底板部３，
５の上面の平面部３ａ（５ａ）に対する光線Ｌの入射角
度は、９０°よりも僅かに小さくなる。なお、図３にお
いても、光源Ａは、１箇所のみに図示されて、該光源Ａ
からの光線Ｌを図示してあるが、多数の光源Ａは、面取
り付穴Ｈ₁ の直上の一点を中心にして環状配置されてい
るため、面取り付穴Ｈ₁ の周方向に沿った光の照射条件
は、全て同一であることは、「従来の技術」の項目で説
明したことと同様である。

【００１７】そして、面取り付穴Ｈ₁ の底面１１、及び
前記平面部３ａ（５ａ）に入射した光線Ｌは、正反射さ
れるが、アール面取り面１２に入射した光線Ｌは、その
全ての部分において反射方向がそれぞれ異なるために、
乱反射される。この結果、光線Ｌが正反射される部分
と、乱反射される部分との間において大きな照度差が生
ずる。しかも、面取り付穴Ｈ₁ の底面１１に連続する内
周面１３は、該底面１１に対して垂直になっているため
に、前記底面１１の周縁と、その外側との照度差は、特
に大きくなる。このため、図５に示されるように、面取
り付穴Ｈ₁ の底面１１の周縁と、その外側のコントラス
トが明瞭となって、前記底面１１の周縁の円形境界線Ｅ
が明確に識別されて、ケース本体Ｇに対する自動機の原
点位置が確実に検出される。

【００１８】また、面取り付穴Ｈ₁ のアール面取り面１
２に粗面加工を施すと、前記乱反射の程度が増大され
て、前記底面１１の周縁の円形境界線Ｅが一層明確に識
別される。また、上記実施例では、面取り付穴Ｈ₁ の底
面１１とアール面取り面１２との間には、該底面１１に
対して垂直な内周面１３が存在しているが、図６に示さ
れるように、前記内周面１３をなくして、アール面取り
面１２の下端縁と底面１１とが直接に接続する構成の面
取り付穴Ｈ₂ で原点マークＭ₂ を構成してもよい。この
構成により、面取り付穴Ｈ₂ の直上に光源Ａが配置され
ない場合においても、内周面１３の存在によって、底面
１１への入射が遮られる光線Ｌが少なくなって、底面１
１の周縁の検出の精度（面取り付穴Ｈ₂ の検出精度）が
高められる。更に、原点マークを構成する面取り付穴の
開口内周面に設けられる面取り面の形状は、上記したア
ール面取りに限られず、図７に示されるように、面取り
面が逆円錐面となるような断面直線状の面取り面１４で
あってもよく、該面取り面１４を有する面取り付穴Ｈ₃
によっても原点マークＭ₃ を構成できる。上記面取り面
１４においても、該面１４における反射角度は、他の面
と大きく異なって、数回反射される。このため、底面１
１の照度が高くなって、底面１１と面取り面１４との間
において、大きな照度差が生じて、底面１１の周縁の円
形境界線が明確に識別される。

【００１９】なお、アール面取り面を有する面取り付穴
の場合には、その内径が０．５ｍｍ程度において、その
面取り半径は、０．５ｍｍ以上であることが必要であ
り、好ましくは、０．５〜２ｍｍである。

【００２０】一方、面取り付穴を成形するために成形型
の成形面に突設されている穴成形ピンは、その先端から
基端に向けて外径が急激に大きくなる形状となるので、
穴成形ピンの強度が大きくなって、成形時の成形圧によ
る変形、或いは折損がなくなって、成形型の繰返し使用
が可能となる。

【００２１】また、図８に示されるように、逆アール面
取りされた面取り面１５を有する面取り孔Ｈ₄ によって
原点マークＭ₄ を構成することもできる。このように、
面取り面１５が逆アール面取りされて、凹状になってい
ても、該面取り面１５においては、光線Ｌが乱反射する
ため、底面１１と、逆アール面取りされた面取り面１５
との間において、大きな照度差が生じて、底面１１の周
縁の円形境界線が明瞭に認識される。

【００２２】

【発明の効果】本発明は、実装機によりケース本体に基
板を実装する際に、前記ケース本体に対する前記実装機
の原点位置を定めるための原点マークが、該ケース本体
に設けられているケース一体コネクタにおいて、開口内
周面が大きく面取りされた面取り面を備えた面取り付穴
によって、前記原点マークを構成しているので、前記原
点マークの構造が簡単になって、しかも光学的に高精度
で認識可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る原点マークＭ₁ を備えたケース一
体コネクタの斜視図である。

【図２】同じく断面図である。

【図３】原点マークＭ₁ を構成する面取り付穴Ｈ₁ の直
上の一点を中心にして多数の光源Ａが環状配置された状
態において、前記面取り付穴Ｈ₁ の各部分、及び該穴Ｈ
₁ の周辺の平面部３ａ（５ａ）に対する光線の反射状態
を示す模式的断面図である。

【図４】面取り付穴Ｈ₁ の斜視図である。

【図５】面取り付穴Ｈ₁ 、及びその周辺の照度差を示す
模式図である。

【図６】面取り付穴Ｈ₂ の各面及びその周辺の平面部３
ａ（５ａ）に対する光線の反射状態を示す模式的断面図
である。

【図７】面取り付穴Ｈ₃ の各面及びその周辺の平面部３
ａ（５ａ）に対する光線の反射状態を示す模式的断面図
である。

【図８】逆アール面取りされた面取り面１４を備えた面
取り付穴Ｈ₄ の各面及びその周辺の平面部３ａ（５ａ）
に対する光線の反射状態を示す模式的断面図である。

【図９】白ペンキ２３を用いた従来の原点マークＭ’の
断面図である。

【図１０】同じく斜視図である。

【図１１】原点マークＭ’を構成する円形凸部２２、及
びその周辺の照度差を示す模式図である。

【図１２】原点マークＭ”を構成する被検出穴３１の直
上から僅かにずれた位置に光源Ａが配置された状態にお
いて、前記被検出穴３１、及び該穴３１の周辺の平面部
３ａ（５ａ）に対する光線の反射状態を示す模式的断面
図である。

【図１３】被検出穴３１の斜視図である。

【図１４】原点マークＭ”を構成する被検出穴３１、及
びその周辺の照度差を示す模式図である。

【符号の説明】

Ｈ₁ 〜Ｈ₄ ：面取り付穴 Ｇ：ケース本体 Ｍ₁ 〜Ｍ₄ ：原点マーク Ｖ：プリント基板（基板） １１：面取り付穴の底面 １２：アール面取りされた面取り面 １３：面取り付穴の内周面 １４：断面直線状の面取り面 １５：逆アール面取りされた面取り面

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 安藤 秀喜 愛知県豊田市トヨタ町１番地 トヨタ自動 車株式会社内 (72)発明者 福西 篤志 愛知県豊田市トヨタ町１番地 トヨタ自動 車株式会社内 Ｆターム(参考） 5E348 AA40

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 実装機によりケース本体に基板を実装す
   る際に、前記ケース本体に対する前記実装機の原点位置
   を定めるための原点マークが、該ケース本体に設けられ
   ているケース一体コネクタであって、 前記原点マークは、面取り面を備えた面取り付穴で構成
   されていることを特徴とするケース一体コネクタ。
2. 【請求項２】 前記面取り面は、アール面取りされてい
   ることを特徴とする請求項１に記載のケース一体コネク
   タ。