JP2002134490A - 化学気相蒸着方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
止するための化学気相蒸着工程を実施するための装置及
び方法を提供する。 【解決手段】蒸着工程を実施するためのチャンバの内部
へフッ素ラジカルを含む洗浄ガスを供給する。チャンバ
40にウェーハをローディングし、ウェーハ上に膜を蒸
着するための蒸着ガスをチャンバ内に供給する。洗浄ガ
ス供給ラインへの蒸着ガスの逆流を防止するために洗浄
ガス供給ラインを通じて逆流防止ガスとしての不活性ガ
スを供給する。従って、洗浄ガス供給ラインは蒸着ガス
により汚染されず、膜を蒸着する間にウェーハ上に発生
するパーティクルが減少し、これにより半導体装置の収
率及び信頼性が向上する。
Description
で化学気相蒸着方法及びこれを実施するための装置に関
するものであり、より詳細には、ウェーハ上にパーティ
クルが発生することを防止するための化学気相蒸着方法
及びこれを実施するための化学気相蒸着装置に関するも
のである。
急速な普及により、半導体装置は飛躍的に発展してい
る。その機能面において、半導体装置は高速で動作する
と同時に大容量の貯蔵能力を有することが要求される。
これにより、半導体装置は、集積度、信頼度および応答
速度などを向上させる方向に製造技術が発展している。
半導体装置の主要な製造技術の中で、ウェーハ上に膜を
形成するための化学気相蒸着工程のような加工技術に関
する要求も厳しくなっている。
置かれているチャンバ内に蒸着ガス(ソースガス)を供
給し、この蒸着ガスをチャンバ内で反応させることによ
り、膜をウェーハの表面に蒸着する。しかし、化学気相
蒸着装置において膜形成が完了した後に、チャンバ内で
は、蒸着工程の実施中にウェーハと反応しなかった蒸着
ガスの一部がチャンバ内を浮遊していたり、チャンバの
側壁に蒸着されていたりする。チャンバを浮遊する蒸着
ガスやチャンバの側壁に蒸着された蒸着ガスは、パーテ
ィクルの発生原因になる。パーティクルは、チャンバ内
に挿入される新しいウェーハ上に落下し、これによりウ
ェーハが著しい不良を起こすことがある。このような理
由で、新しいウェーハが挿入され前に、洗浄工程がチャ
ンバ内で実施されなければならない。
クルをエッチングすることができる洗浄ガスをチャンバ
内に導入して実施される。即ち、洗浄ガスをチャンバ内
に供給した後、チャンバ内でインサイチュ(in−si
tu)方式によりプラズマを形成する。続いて、洗浄ガ
スによりパーティクルを洗浄した後、パーティクルをチ
ャンバから排気する。
を形成してチャンバの洗浄を実施する場合、チャンバの
側壁が物理的なスパッタリングにより損傷し、その結
果、チャンバが汚染される。これにより、プラズマ装置
を使用してチャンバの外部でプラズマを形成し、励起さ
れた洗浄ガスをチャンバ内に供給して洗浄する方法も使
用されている。
従来の装置である。
蒸着工程を実施するためのチャンバ10を具備してい
る。チャンバ10内部の下部には、ウェーハ(W)が置
かれるためのヒータ(heating plate)1
2が配置されている。また、チャンバ10内部の上部に
は、蒸着ガス及び洗浄ガスを供給するためのシャワーヘ
ッド14が配置されている。チャンバの外部には、チャ
ンバ内に蒸着ガスを供給する蒸着ガス供給器が設けられ
ている。蒸着ガスは、様々なガスを混合して作られるの
で、ガス供給部20は、蒸着工程において使用されるガ
スに対応する複数個の蒸着ガス供給部20a、20b、
20cを含む。ガス混合部16は、蒸着ガスを混合する
ためにガス供給部20と連結されている。ガス混合部1
6は、また、チャンバ10の内部と連結されている。従
って、蒸着ガス供給部20a、20b、20cは、各々
に設けられた切換バルブ22a、22b、22cを経
て、さらに蒸着ガス供給ライン18を通じてガス混合部
16にガスを供給する。その後、ガスはガス混合部16
で混合され、チャンバ10の内部へ供給される。
0の内部を洗浄する洗浄ガスを供給するために設けられ
ている。洗浄ガスは一つ以上のガスにより作ることがで
きるために、洗浄ガス供給部28は使用されるガスの種
類に対応する複数個の洗浄ガス供給部28a、28bを
含む。洗浄ガス供給部28は、各々切換バルブ30a、
30b、30cを経由し、さらに洗浄ガス供給ライン2
4を通じてプラズマ装置26と連結されており、洗浄ガ
ス供給部28a、28bから供給される洗浄ガスは、チ
ャンバの外部に設けられたプラズマ装置26で励起され
る。プラズマ装置26はガス混合部16と連結されてい
る。プラズマ装置26で励起された洗浄ガスは、ガス混
合部16を通じてチャンバ10内に供給され、これによ
りチャンバ10が洗浄される。
て、ウェーハの表面に膜を蒸着する際は、ウェーハ
(W)をチャンバ10内にローディングする前に予めチ
ャンバ10内を洗浄する。このようなチャンバ10の洗
浄は、チャンバ10内へ洗浄ガスを供給することにより
実施される。即ち、チャンバ10の側壁に蒸着されたパ
ーティクル及びチャンバ内を浮遊するガスは、チャンバ
10内へ流入する洗浄ガスによりエッチングされ、チャ
ンバ10の外部へ排気される。チャンバ10の洗浄が完
了すると、ウェーハ(W)をチャンバ10内にローディ
ングする。続いて、蒸着ガス供給部20a、20b、2
0cから蒸着ガスをチャンバ10内に供給してウェーハ
(W)上に膜を蒸着する。
ス供給部20a、20b、20cから供給される蒸着ガ
スの一部が、洗浄ガス供給ライン24側に逆流すること
になる。チャンバ10を洗浄する際に供給された洗浄ガ
スの一部が、洗浄ガス供給ライン24の内に残っている
ために、残っている洗浄ガスの一部と逆流した蒸着ガス
が反応し、その結果、パーティクルが形成される。パー
ティクルは、蒸着工程の実施中にウェーハ上に落下し、
これによりウェーハに致命的な不良を誘発する。また、
逆流する蒸着ガスは、洗浄ガス供給ライン24上に膜を
蒸着したり、洗浄ガス供給ライン24内を浮遊したりし
て、洗浄ガス供給ライン24を汚染する。従って、蒸着
工程を実施するためにチャンバ内に新しく挿入されるウ
ェーハもパーティクルによって汚染される。
着方法及びこれを実施するための装置に関するものであ
り、実際に、上記の従来技術が有する限界と不便さに起
因する一つ以上の問題点を克服する。
れたパーティクルを減少させるための化学気相蒸着方法
を提供することである。
実施するための装置を提供することである。
ための本発明の化学気相蒸着工程方法は、フッ素ラジカ
ルを含む洗浄ガスを工程チャンバ内部に供給して工程チ
ャンバ内を洗浄する。続いて、ウェーハを工程チャンバ
内にローディングする。続いて、蒸着ガスが洗浄ガス供
給ラインに逆流することを防止しながら、工程チャンバ
内部に蒸着ガスを供給してウェーハ上に膜を蒸着する。
相蒸着を実施するための装置は、化学気相蒸着工程が実
施される工程チャンバを有する。第1供給器は工程チャ
ンバを洗浄するために洗浄ガスを工程チャンバ内に供給
する。プラズマ装置は、工程チャンバと第1供給器との
間に設けられ、第1供給器から供給される洗浄を励起す
る。第2供給器はチャンバの内部へ蒸着ガスを供給し
て、ウェーハ上に膜を蒸着する。混合器は第1供給器と
第2供給器から提供されるガスを混合する。そして、第
1供給器側に蒸着ガスが逆流することを防止するための
機構を具備する。
ハ上に膜を蒸着するとき、蒸着ガスは洗浄ガス供給ライ
ンに逆流することを防止し、これによりウェーハ上に発
生されるパーティクルを効果的に減少させる。
ましい実施形態をより詳細に説明する。
相蒸着工程を実施するための装置である。図2を参照す
れば、この化学気相蒸着装置(CVD装置)は、ウェー
ハ(W)上に膜を蒸着するための蒸着工程を実施するた
めのチャンバ40を有する。チャンバ40内部の下部に
は、ウェーハ(W)が載置される加熱プレート(hea
ting plate)42が配置されている。加熱プ
レート42は、ヒータを有し、蒸着工程を実施する際に
400乃至600度の温度を維持する。高温に維持され
る加熱プレート42の上部にウェーハ(W)が置かれる
ので、多量の蒸着ガスがウェーハ(W)の表面に膜を形
成するための反応を起こす。チャンバ40内部の上部に
は、それを通して蒸着ガス及び洗浄ガスが供給されるシ
ャワーヘッド44が配置されている。シャワーヘッド4
4は、例えば、多数のホールを有するプレート形状であ
る。蒸着ガスはシャワーヘッド44の多数のホールを通
じて、垂直にウェーハ(W)の表面上に供給され、これ
によりウェーハ(W)上に膜が蒸着される。
50が設けられている。蒸着ガス供給部50は、チャン
バ40内で反応して、ウェーハ(W)上に膜を蒸着する
ための蒸着ガスとチャンバ40内部の雰囲気を形成する
ための不活性ガスを供給する。多様な種類のガスが蒸着
ガスとして使用されるために、蒸着ガス供給部50はガ
スの種類に対応する複数個の蒸着ガス供給部50a、5
0b、50cを含む。本実施形態では、第1乃至第3蒸
着ガス供給部50a、50b、50cを具備する蒸着装
置を説明する。しかし、蒸着ガス供給部50の数は3個
に限定されない。ガス混合部46は蒸着ガス供給ライン
48を通じて、蒸着ガス供給部50と連結される。ま
た、ガス混合部46はチャンバ40の内部と連結されて
いる。第1乃至第3蒸着ガス供給部50a、50b、5
0cと各々の蒸着ガス供給ライン48と連結される地点
には、切換バルブ52a、52b、52cが設けられて
おり、これらにより蒸着ガスの供給を制御することがで
きる。従って、第1乃至第3蒸着ガス供給部50a、5
0b、50cから蒸着ガスが供給され、それらの蒸着ガ
スは蒸着ガス供給ライン48を通じてガス混合部46に
供給された後、ガス混合部46を通じて、チャンバ40
の内部に供給される。
の内部を洗浄するための洗浄ガスを供給する洗浄ガス供
給部58有する。洗浄ガスは、チャンバ40の側壁に吸
着されたパーティクルやチャンバ40内を浮遊するパー
ティクルをエッチングすることができるガスと、チャン
バ内の雰囲気を形成するための不活性ガス(即ち、キャ
リアガス)を混合して作られる。従って、洗浄ガスは様
々なガスを混合して作られるので、洗浄ガス供給部58
は洗浄ガスの種類に対応する複数個の洗浄ガス供給部を
含む。本実施形態では、第1及び第2洗浄ガス供給部5
8a、58bが設けられている。洗浄ガス供給部58は
洗浄ガス供給ライン54を通じて、プラズマ装置56と
連結されているので、洗浄ガス供給部58から供給され
る洗浄ガスは、プラズマ装置56により励起される。プ
ラズマ装置56は、洗浄ガス供給ライン54を通じてガ
ス混合部46と連結されている。
bと洗浄ガス供給ライン54の連結部との間には、各々
切換バルブ60a、60bが設けられており、これによ
り洗浄ガスの流れを制御することができる。従って、第
1及び第2洗浄ガス供給部58a、58bから供給され
た洗浄ガスは、プラズマ装置56で励起され、励起され
た洗浄ガスはガス混合部46を経てチャンバ40内に供
給される。
58と連結されている切換バルブ60a、60bが閉鎖
されることにより、洗浄ガスはチャンバ40内に供給さ
れない。しかし、洗浄ガス供給ライン54は開放されて
いるので、洗浄ガス供給ライン54に蒸着ガスの一部が
逆流することになる。蒸着ガスが洗浄ガス供給ライン5
4に逆流すると、蒸着ガスにより洗浄ガス供給ライン5
4が汚染され、それによってパーティクルが形成され
る。パーティクルは、工程の実施中にウェーハ(W)上
に落下し、それによりウェーハに激しい不良を起こす。
従って、このCVD装置は、蒸着ガスの逆流を防止する
ためのガスの逆流防止部をさらに有する。
から分岐された分岐ライン54aを含む。分岐ライン5
4aは、洗浄ガス供給ライン54の任意の箇所に連結さ
れうる。図2に示す例では、分岐ライン54aはプラズ
マ装置56と洗浄ガス供給部58を連結する洗浄ガス供
給ライン54を分岐させるように洗浄ガス供給ライン5
4に連結されている。そして、逆流防止ガス供給部62
が設けられている。逆流防止ガス供給部62は分岐ライ
ン54aの一端部と連結され、蒸着ガスの逆流を防止す
るための逆流防止ガスを供給する。分岐ライン54aと
逆流防止ガス供給部62が連結される地点には、ガスの
供給を制御するための切換バルブ64が具備される。
給部50a、50b、50cによってチャンバ内に蒸着
ガスを供給すると同時に、逆流防止ガス供給部62で洗
浄ガス供給ライン54を通じて、第2不活性ガス(即
ち、逆流防止ガス)を供給する。したがって、第2不活
性ガスは、蒸着工程の実施中に、連続的に洗浄ガス供給
ライン54を通じて供給されるので、蒸着ガスが洗浄ガ
ス供給ライン54に逆流することを防止することができ
る。
相蒸着方法を説明する。
−ethyl orthosilicate)膜を形成
する化学気相蒸着方法を示す工程図である。まず、蒸着
工程が実施されるチャンバ内を洗浄する(ステップS1
0)。以前に実施した蒸着工程で発生して、チャンバ内
に残っているパーティクルのために、化学気相蒸着工程
を実施する前に、ポリマ性ガス(即ち、以前の蒸着工程
を実施したときに形成されたポリマ)をエッチングして
排気する方法として、チャンバの洗浄を実施する。チャ
ンバをエッチングするために、エッチング特性が優れた
フッ素ラジカル及びチャンバ内の雰囲気を形成するため
の第1不活性ガスをチャンバ内に供給する。
(チャンバ40の洗浄のためのアクティブガス)と第1
不活性ガスをプラズマ装置56に供給する。ここで、プ
ラズマ装置はNF3ガスを励起し、励起されたNF3ガ
ス及び励起されない第1不活性ガスが前記チャンバ40
内に流入する。第1不活性ガスとしては、例えば、窒
素、ヘリウム、アルゴンなどを好適な例として挙げるこ
とができる。ここでは、一例としてアルゴンを使用す
る。チャンバ40の側壁に付着したパーティクルやチャ
ンバの内部に浮遊するパーティクルは、流入したフッ素
ラジカルによりエッチングされ、外部へ排気される。
るために、NF3と第1不活性ガス(Ar)を1:1の
流量比で3000乃至4000ccほどプラズマ装置5
6に供給する。そうすると、プラズマ装置56で形成さ
れるフッ素ラジカル及び第1不活性ガスがチャンバ内に
流入してチャンバを洗浄する。洗浄を実施するときに、
チャンバ40内の圧力は、蒸着工程が実施されるときよ
り高圧に維持される。具体的には、チャンバ内の圧力は
450乃至550Torrに維持される。
ス供給部58は洗浄ガスの供給を停止する。その後、チ
ャンバ内に蒸着ガスを供給してチャンバ40の側壁及び
ウェーハが置かれた加熱プレート42の上部をプリコー
ティングする(ステップS12)。プリコーティング
は、時間条件以外はウェーハの蒸着工程条件と同一の条
件で実施される。即ち、プリコーティングは、ウェーハ
の蒸着が実施されるチャンバ40の雰囲気を予め形成
し、側壁に一定厚さほどの汚染されない蒸着物を形成し
て、ウェーハの蒸着が効果的に実施されるようにする。
この時、プリコーティングを実施するためにチャンバ内
に供給される蒸着ガスの一部が洗浄ガス供給ライン54
上に逆流し得る。従って、蒸着ガスをチャンバ40内に
供給するのと同時に、分岐ライン54a及び洗浄ガス供
給ライン54を通じて、逆流防止ガスとして第2不活性
ガスをチャンバ40内に流入する。
をチャンバ内のヒータ42の上部にローディングする
(ステップS14)。ウェーハがローディングされる
と、チャンバ40の上部に蒸着ガスが供給され、ウェー
ハの上部に膜の蒸着が実施される(ステップS16)。
OSが2000乃至2500cc、オゾンが13乃至1
6%及び不活性ガスであるヘリウムガスが18000乃
至22000ccの混合ガスがチャンバ40内に供給さ
れる。チャンバ40内の圧力は、170乃至230To
rrを維持する。この時、第2不活性ガスは、洗浄ガス
供給ライン54から分岐された分岐ライン54aを通じ
てチャンバ内に提供される。
蒸着させる蒸着ガス(反応ガス及び反応ガスを移動させ
るためのキャリアガスを含む)は、TEOS(反応ガ
ス)2000乃至2500ccで、不活性ガスであるヘ
リウムガス(反応ガスを移動させるキャリアガス)が1
8000乃至22000ccで、オゾンを13乃至16
重量%含む混合ガスである。オゾンは、14000乃至
16000ccの酸素をオゾンジェネレータに供給して
生成することができる。蒸着ガスは、第1乃至第3蒸着
ガス供給部50a、50b、50cから供給され、ガス
混合部46で混合されチャンバ内に供給される。このと
きのチャンバ40内の温度は500乃至550℃を維持
し、チャンバ40内の圧力は170乃至230Torr
を維持する。蒸着ガスをチャンバ40内に供給すると
き、同時に逆流防止ガスとして第2不活性ガスが分岐ラ
イン54aを通じてチャンバ内に提供される。第2不活
性ガスとしては、窒素、ヘリウム、アルゴンなどを挙げ
ることができる。第2不活性ガスは洗浄ガス供給ライン
54を通じてチャンバ40内に供給されるので、洗浄ガ
ス供給ライン54に蒸着ガスの逆流を防止することがで
きる。
内に供給される第2不活性ガスの量が小さ過ぎると、蒸
着ガスの逆流を防止する効果が減少し、逆に、第2不活
性ガスの量が多すぎると、蒸着ガスの反応が遅くなっ
て、ウェーハの表面に膜の蒸着が正常になされない。洗
浄ガス供給ライン54を通じてチャンバ内に供給される
第2不活性ガスの量は、蒸着ガスの種類又は蒸着厚さな
どに応じて決定することができ、典型的にはチャンバ内
に流入される蒸着ガス量の30乃至100%を供給する
ことが望ましい。また、蒸着工程を実施するとき、反応
ガスのためのキャリアガスを提供する代わりに、洗浄ガ
ス供給ラインを通じて十分な量の第2不活性ガスを供給
して、これを蒸着ガスの一部としてのキャリアガスとし
て機能させることもできる。
ャンバ内でウェーハをアンローディングする(ステップ
S18)。
スの供給を説明するためのタイミング図である。図4に
図示されたように逆流防止ガスは、蒸着ガスが供給され
るプリコーティングステップ(S12)及び蒸着ステッ
プ(S16)で、蒸着ガスと共にチャンバ内に供給され
る。逆流防止ガスは洗浄ステップ(S10)では供給さ
れない。洗浄ステップで、第1不活性ガスはアクティブ
ガス(即ち、NF3ガス)を移送するためのキャリアガ
スとして作用する。
ス供給部62及び分岐ライン54aを洗浄ガス供給部と
は別途に設けることができる。しかし、洗浄ガス供給部
58にもチャンバ内に第1不活性ガスを供給するための
供給部がある。従って、この供給部を逆流防止ガス供給
部として同時に使用してもよい。この場合、逆流防止ガ
スは、洗浄ガス供給部から供給され、洗浄ガス供給部側
に蒸着ガスの逆流を防止することができる。
流しないことにより、洗浄ガス供給ラインが蒸着ガスに
より汚染されない。従って、洗浄ガス供給ラインの汚染
によるウェーハ上へのパーティクルの発生などが減少さ
れるために、半導体装置の収率及び信頼性を向上させる
ことができる。
着装置を説明するための構成図である。本実施形態によ
る方法と装置では、蒸着ガスの逆流を防止するために不
活性ガスを供給する代わりに、切換バルブが設けられ
る。本実施形態で化学気相蒸着工程を実施する装置及び
方法は、第1実施形態での装置及び方法と実施的に同一
である。従って、第1実施形態と同一の部材について
は、同一の参照符号として示す。かつ、実施形態1で説
明した化学気相蒸着装置と同一な部分の説明は省略す
る。
気相蒸着工程を実施するための装置について説明する。
本実施形態の化学気相蒸着装置において、蒸着工程を実
施するためのチャンバ40と、洗浄ガスを供給するため
の洗浄ガス供給部58と、洗浄ガス供給部58から供給
される洗浄ガスを励起するためのプラズマ装置56と、
蒸着ガスを供給するための蒸着ガス供給部50と、ガス
を混合するためのガス混合部46は、実施形態1と同様
に構成される。しかし、本実施形態では、図2で蒸着ガ
ス逆流防止のために、洗浄ガス供給ライン54から分岐
される分岐ライン54aと、分岐ライン54aに連結さ
れた逆流防止ガス供給部62は具備されない。ここで、
第1実施形態において分岐ライン54aを通じて供給さ
れた不活性ガスが、本実施形態において蒸着工程中に雰
囲気ガスとして必要である場合には、蒸着ガス供給部を
さらに具備し、蒸着ガス供給部を通じてチャンバ内に供
給すればよい。
ガスの逆流を防止するために、洗浄ガス供給ライン54
とガス混合部46との間の連結地点に切換バルブ66を
具備する。切換バルブ66は、チャンバ40の洗浄を実
施するときにのみ開放され、チャンバ40のプリコーテ
ィング又は蒸着工程を実施するときは閉鎖される。
使用して、本実施形態による化学気相蒸着方法を図6を
参照して説明する。
類似している。
内を洗浄する(ステップS20)。チャンバ40の洗浄
のために、エッチング特性が優れるフッ素ラジカル及び
チャンバ内の雰囲気を形成するための不活性ガス(フッ
素ラジカルを移送させるためのキャリアガス)をチャン
バ40内に供給する。フッ素ラジカルはチャンバ40の
外部に設けられているプラズマ装置56によりNF3ガ
スを励起することにより形成される。チャンバ40の洗
浄が完了すると、洗浄ガスの供給を停止する。その後、
洗浄ガス供給ライン54とガス混合部との間に設けられ
ている切換バルブ66を閉鎖する(ステップS22)。
して、チャンバ40の側壁及びウェーハが置かれている
加熱プレート42の上部をプリコーティングする(ステ
ップS24)。プリコーティングは、時間条件以外はウ
ェーハを蒸着するための蒸着工程と同一の工程条件によ
り実施される。プリコーティングにより、ウェーハの蒸
着が実施されるチャンバ40雰囲気を予め組成し、側壁
に一定厚さで汚染されない蒸着物を形成して、ウェーハ
の蒸着が効果的に実施されるようにする。この時、洗浄
ガスが供給されるラインが閉鎖されているので、蒸着工
程が実施されるの間に、蒸着ガスが洗浄ガス供給ライン
に逆流することができない。
をヒータ42の上部にローディングする(ステップS2
6)。ウェーハがローディングされると、チャンバの上
部から蒸着ガスが供給されウェーハの上部に膜が蒸着さ
れる(ステップS28)。膜が蒸着される間も継続して
切換バルブ66は閉鎖されているので、蒸着ガスは洗浄
ガスが供給されるラインに逆流することができない。従
って、洗浄ガスが供給されるラインに蒸着ガスが逆流す
ることによってウェーハ上にパーティクルが発生するこ
とを防止することができる。蒸着工程が終了すると、チ
ャンバ内でウェーハをアンローディングする(ステップ
S30)。
したが、本発明はこれに限定されず、本発明が属する技
術分野において通常の知識を有するものであれば本発明
の思想と精神を逸脱することなく、本発明を修正または
変更できるであろう。
施して、ウェーハ上に膜を形成するときにチャンバの内
部に供給される蒸着ガスが、チャンバを洗浄するための
洗浄ガス供給ラインに逆流しない。従って、蒸着ガスが
洗浄ガス供給ラインに逆流することによって洗浄ガス供
給ラインが汚染されないので、ウェーハ上に膜を蒸着す
るときに、汚染によりウェーハ上に発生するパーティク
ルを顕著に減少される。従って、パーティクルの減少に
より収率上昇及び信頼性が向上される効果がある。
る装置を示す概略図である。
を実施することができる装置を示す概略図である。
実施する方法を示す工程図である。
を説明するためのタイミング図である。
を実施することができる装置を示す簡略図である。
着工程を実施するための方法を示す工程図である。
Claims (20)
- 【請求項1】洗浄ガス供給ラインを通じて洗浄ガスを工
程チャンバ内に供給して前記工程チャンバを洗浄する段
階と、 前記工程チャンバが洗浄された後にウェーハをローディ
ングする段階と、 前記工程チャンバの内部に蒸着ガスを供給して、前記ウ
ェーハ上に膜を蒸着しながら、同時に前記蒸着ガスが前
記洗浄ガス供給ラインに逆流することを防止する段階を
含むことを特徴とする化学気相蒸着方法。 - 【請求項2】前記蒸着を実施する間に、前記蒸着ガスが
洗浄ガス供給ラインに逆流することを防止するために、
前記洗浄ガスが供給されるラインを通じて、前記チャン
バ内に逆流防止ガスを供給することを特徴とする請求項
1に記載の化学気相蒸着方法。 - 【請求項3】前記逆流防止ガスは、窒素、アルゴン及び
ヘリウムからなる群から選択されたいずれか一つである
ことを特徴とする請求項2に記載の化学気相蒸着方法。 - 【請求項4】前記逆流防止ガスの流量は、前記蒸着ガス
流量の30乃至100%であることを特徴とする請求項
2に記載の化学気相蒸着方法。 - 【請求項5】前記洗浄ガスは、前記チャンバの外部でN
F3ガスを励起して生成されたフッ素ラジカルを含むガ
スであることを特徴とする請求項1に記載の化学気相蒸
着方法。 - 【請求項6】前記洗浄ガスは、アクティブガス、及び、
該アクティブガスを移送するためのキャリアガスとして
の不活性ガスを含むことを特徴とする請求項1に記載の
化学気相蒸着方法。 - 【請求項7】前記不活性ガスは、窒素、アルゴン及びヘ
リウムからなる群から選択されたいずれか一つであるこ
とを特徴とする請求項6に記載の化学気相蒸着方法。 - 【請求項8】前記キャリアガスは、前記蒸着ガスが洗浄
ガス供給ライン側に逆流することを防止するために前記
洗浄ガス供給ラインを通じて供給される逆流防止ガスと
同一のガスであり、同一のソースから供給されることを
特徴とする請求項6に記載の化学気相蒸着方法。 - 【請求項9】前記キャリアガスは、前記蒸着ガスが洗浄
ガス供給ライン側に逆流することを防止するために前記
洗浄ガス供給ラインを通じて供給される逆流防止ガスと
異なるガスであり、前記逆流防止ガスソースと異なるソ
ースから供給されることを特徴とする請求項6に記載の
化学気相蒸着方法。 - 【請求項10】前記チャンバを洗浄する段階後、半導体
ウェーハをローディングしない状態でチャンバの内部に
蒸着ガスを供給して、前記チャンバ内部の側壁に膜をコ
ーティングするためのプリコーティング段階をさらに実
施することを特徴とする請求項1に記載の化学気相蒸着
方法。 - 【請求項11】前記チャンバの内部に蒸着ガスを供給し
ながら、前記洗浄ガス供給ラインを通じて、前記チャン
バ内に逆流防止ガスを流入することを特徴とする請求項
10に記載の化学気相蒸着方法。 - 【請求項12】前記蒸着を実施する間に、前記洗浄ガス
流入ラインに蒸着ガスが逆流することを防止するため
に、前記洗浄ガスが供給されるラインと前記チャンバと
を連結する連結部を閉鎖することを特徴とする請求項1
に記載の化学気相蒸着方法。 - 【請求項13】前記チャンバを洗浄する段階後、半導体
ウェーハをローディングしない状態でチャンバの内部に
蒸着ガスを供給して、前記チャンバ内部の側壁に膜をコ
ーティングするためのプリコーティング段階をさらに実
施することを特徴とする請求項12に記載の化学気相蒸
着方法。 - 【請求項14】前記チャンバの内部に蒸着ガスを供給し
て前記チャンバ内部の側壁に膜をコーティングする間
に、前記洗浄ガスが供給されるラインと前記チャンバと
を連結する連結部を閉鎖することを特徴とする請求項1
3に記載の化学気相蒸着方法。 - 【請求項15】化学気相蒸着工程を実施するためのチャ
ンバと、 前記チャンバと連結されチャンバの洗浄を実施するガス
を供給するための洗浄ガス供給器と、 前記洗浄ガス供給器から供給される洗浄ガスを励起する
ためのプラズマ装置と、 前記チャンバの内部に蒸着ガスを供給してウェーハ上に
膜を蒸着するための蒸着ガス供給器と、 前記洗浄ガス供給器及び蒸着ガス供給器から供給される
ガスを混合して、チャンバ内に混合ガスを供給するため
のガス混合器と、 前記蒸着ガスが前記洗浄ガス供給器に逆流することを防
止するためのガス逆流防止器とを含むことを特徴とする
化学気相蒸着装置。 - 【請求項16】前記洗浄ガス供給器及び蒸着ガス供給器
は、各々、 ガスを供給するためのガス供給部と、 前記ガス供給部で供給されるガスを前記チャンバ内に供
給するためのガス供給ラインと、 前記ガス供給部と前記ガス供給ラインとの間の連結地点
に設けられ前記供給されるガスを制御するための切換バ
ルブとを含むことを特徴とする請求項15に記載化学気
相蒸着装置。 - 【請求項17】前記ガス逆流防止器は、 不活性ガスを供給する不活性ガス供給部と、 前記不活性ガスを前記洗浄ガス供給器のガス供給ライン
を通じて、チャンバ内に供給するための不活性ガス供給
ラインと、 前記不活性ガス供給部と前記ガス供給ラインとが連結さ
れる連結地点に設けられ、前記不活性ガス供給量を制御
するための切換バルブとを含むことを特徴とする請求項
15に記載の化学気相蒸着装置。 - 【請求項18】前記ガス逆流防止器は、前記洗浄ガス供
給器と前記ガス混合器との連結部に設けられた切換バル
ブを含むことを特徴とする請求項15に記載の化学気相
蒸着装置。 - 【請求項19】前記切換バルブは、前記蒸着ガス供給器
によりチャンバ内部に蒸着ガスが供給される場合に自動
的に閉鎖されることを特徴とする請求項18に記載の化
学気相蒸着装置。 - 【請求項20】前記洗浄ガスは、フッ素ラジカルを含む
ことを特徴とする請求項15に記載の化学気相蒸着装
置。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101275261B1 (ko) * | 2007-04-23 | 2013-06-14 | 주식회사 원익아이피에스 | 세정 및 배기 장치 |
US8652258B2 (en) | 2006-11-10 | 2014-02-18 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Substrate treatment device |
KR101398884B1 (ko) * | 2013-12-31 | 2014-05-27 | 한국세라믹기술원 | 경사 기능성 코팅층 형성에 적합한 서스펜션 플라즈마 용사 장치용 서스펜션 공급기 |
WO2021033612A1 (ja) * | 2019-08-22 | 2021-02-25 | 東京エレクトロン株式会社 | クリーニング方法及びマイクロ波プラズマ処理装置 |
Families Citing this family (176)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100491396B1 (ko) * | 2002-12-03 | 2005-05-25 | 삼성전자주식회사 | 반도체 소자의 피이-테오스(pe-teos)막 형성 방법 |
JP3913723B2 (ja) * | 2003-08-15 | 2007-05-09 | 株式会社日立国際電気 | 基板処理装置及び半導体デバイスの製造方法 |
DE20321795U1 (de) * | 2003-12-11 | 2010-03-04 | Voith Patent Gmbh | Vorrichtung zum Reinigen wenigsten einer Prozesskammer zum Beschichten wenigstens eines Substrats |
KR100886029B1 (ko) * | 2004-01-28 | 2009-02-26 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 기판 처리 장치의 처리실 청정화 방법, 기판 처리 장치 및기판 처리 방법 |
US20070286965A1 (en) * | 2006-06-08 | 2007-12-13 | Martin Jay Seamons | Methods for the reduction and elimination of particulate contamination with cvd of amorphous carbon |
US7851030B2 (en) * | 2005-01-27 | 2010-12-14 | United Microelectronics Corp. | Method of reducing number of particles on low-k material layer |
KR100712529B1 (ko) * | 2005-09-02 | 2007-04-30 | 삼성전자주식회사 | 플라즈마 어플리케이터의 인시츄 세정 방법 및 그 세정방법을 채용한 플라즈마 어플리케이터 |
JP4476232B2 (ja) * | 2006-03-10 | 2010-06-09 | 三菱重工業株式会社 | 成膜装置のシーズニング方法 |
KR20090005374A (ko) * | 2006-04-18 | 2009-01-13 | 울박, 인크 | 성막 장치, 배리어막 제조 방법 |
US20080216958A1 (en) * | 2007-03-07 | 2008-09-11 | Novellus Systems, Inc. | Plasma Reaction Apparatus Having Pre-Seasoned Showerheads and Methods for Manufacturing the Same |
KR100994108B1 (ko) * | 2008-06-09 | 2010-11-12 | (주)이큐베스텍 | 플라즈마 세정 시스템에 사용되는 분사기 및 이를 이용한세정 방법 |
US8491967B2 (en) * | 2008-09-08 | 2013-07-23 | Applied Materials, Inc. | In-situ chamber treatment and deposition process |
JP5067381B2 (ja) * | 2009-02-19 | 2012-11-07 | 東京エレクトロン株式会社 | 熱処理装置の運転方法 |
US9324576B2 (en) | 2010-05-27 | 2016-04-26 | Applied Materials, Inc. | Selective etch for silicon films |
KR101041359B1 (ko) * | 2010-07-13 | 2011-06-15 | (주)이큐베스텍 | 플라즈마 세정 시스템에 사용되는 분사기 |
US8741778B2 (en) | 2010-12-14 | 2014-06-03 | Applied Materials, Inc. | Uniform dry etch in two stages |
US10283321B2 (en) | 2011-01-18 | 2019-05-07 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor processing system and methods using capacitively coupled plasma |
US8771539B2 (en) | 2011-02-22 | 2014-07-08 | Applied Materials, Inc. | Remotely-excited fluorine and water vapor etch |
US9064815B2 (en) | 2011-03-14 | 2015-06-23 | Applied Materials, Inc. | Methods for etch of metal and metal-oxide films |
US8999856B2 (en) | 2011-03-14 | 2015-04-07 | Applied Materials, Inc. | Methods for etch of sin films |
US8771536B2 (en) | 2011-08-01 | 2014-07-08 | Applied Materials, Inc. | Dry-etch for silicon-and-carbon-containing films |
US8679982B2 (en) | 2011-08-26 | 2014-03-25 | Applied Materials, Inc. | Selective suppression of dry-etch rate of materials containing both silicon and oxygen |
US8679983B2 (en) | 2011-09-01 | 2014-03-25 | Applied Materials, Inc. | Selective suppression of dry-etch rate of materials containing both silicon and nitrogen |
US8927390B2 (en) | 2011-09-26 | 2015-01-06 | Applied Materials, Inc. | Intrench profile |
US8808563B2 (en) | 2011-10-07 | 2014-08-19 | Applied Materials, Inc. | Selective etch of silicon by way of metastable hydrogen termination |
WO2013070436A1 (en) | 2011-11-08 | 2013-05-16 | Applied Materials, Inc. | Methods of reducing substrate dislocation during gapfill processing |
US9267739B2 (en) | 2012-07-18 | 2016-02-23 | Applied Materials, Inc. | Pedestal with multi-zone temperature control and multiple purge capabilities |
US9373517B2 (en) | 2012-08-02 | 2016-06-21 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor processing with DC assisted RF power for improved control |
US9034770B2 (en) | 2012-09-17 | 2015-05-19 | Applied Materials, Inc. | Differential silicon oxide etch |
US9023734B2 (en) | 2012-09-18 | 2015-05-05 | Applied Materials, Inc. | Radical-component oxide etch |
US9390937B2 (en) | 2012-09-20 | 2016-07-12 | Applied Materials, Inc. | Silicon-carbon-nitride selective etch |
US9132436B2 (en) | 2012-09-21 | 2015-09-15 | Applied Materials, Inc. | Chemical control features in wafer process equipment |
US8765574B2 (en) | 2012-11-09 | 2014-07-01 | Applied Materials, Inc. | Dry etch process |
US8969212B2 (en) | 2012-11-20 | 2015-03-03 | Applied Materials, Inc. | Dry-etch selectivity |
US8980763B2 (en) | 2012-11-30 | 2015-03-17 | Applied Materials, Inc. | Dry-etch for selective tungsten removal |
US9064816B2 (en) | 2012-11-30 | 2015-06-23 | Applied Materials, Inc. | Dry-etch for selective oxidation removal |
US9111877B2 (en) | 2012-12-18 | 2015-08-18 | Applied Materials, Inc. | Non-local plasma oxide etch |
US8921234B2 (en) | 2012-12-21 | 2014-12-30 | Applied Materials, Inc. | Selective titanium nitride etching |
US10256079B2 (en) | 2013-02-08 | 2019-04-09 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor processing systems having multiple plasma configurations |
US9362130B2 (en) | 2013-03-01 | 2016-06-07 | Applied Materials, Inc. | Enhanced etching processes using remote plasma sources |
US9040422B2 (en) | 2013-03-05 | 2015-05-26 | Applied Materials, Inc. | Selective titanium nitride removal |
US8801952B1 (en) | 2013-03-07 | 2014-08-12 | Applied Materials, Inc. | Conformal oxide dry etch |
US10170282B2 (en) | 2013-03-08 | 2019-01-01 | Applied Materials, Inc. | Insulated semiconductor faceplate designs |
US20140271097A1 (en) | 2013-03-15 | 2014-09-18 | Applied Materials, Inc. | Processing systems and methods for halide scavenging |
US8895449B1 (en) | 2013-05-16 | 2014-11-25 | Applied Materials, Inc. | Delicate dry clean |
US9114438B2 (en) | 2013-05-21 | 2015-08-25 | Applied Materials, Inc. | Copper residue chamber clean |
US9493879B2 (en) | 2013-07-12 | 2016-11-15 | Applied Materials, Inc. | Selective sputtering for pattern transfer |
US9773648B2 (en) | 2013-08-30 | 2017-09-26 | Applied Materials, Inc. | Dual discharge modes operation for remote plasma |
US8956980B1 (en) | 2013-09-16 | 2015-02-17 | Applied Materials, Inc. | Selective etch of silicon nitride |
US8951429B1 (en) | 2013-10-29 | 2015-02-10 | Applied Materials, Inc. | Tungsten oxide processing |
US9236265B2 (en) | 2013-11-04 | 2016-01-12 | Applied Materials, Inc. | Silicon germanium processing |
US9576809B2 (en) | 2013-11-04 | 2017-02-21 | Applied Materials, Inc. | Etch suppression with germanium |
US9520303B2 (en) | 2013-11-12 | 2016-12-13 | Applied Materials, Inc. | Aluminum selective etch |
US9745658B2 (en) | 2013-11-25 | 2017-08-29 | Lam Research Corporation | Chamber undercoat preparation method for low temperature ALD films |
US9245762B2 (en) | 2013-12-02 | 2016-01-26 | Applied Materials, Inc. | Procedure for etch rate consistency |
US9117855B2 (en) | 2013-12-04 | 2015-08-25 | Applied Materials, Inc. | Polarity control for remote plasma |
US9287095B2 (en) | 2013-12-17 | 2016-03-15 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor system assemblies and methods of operation |
US9263278B2 (en) | 2013-12-17 | 2016-02-16 | Applied Materials, Inc. | Dopant etch selectivity control |
US9190293B2 (en) | 2013-12-18 | 2015-11-17 | Applied Materials, Inc. | Even tungsten etch for high aspect ratio trenches |
US9287134B2 (en) | 2014-01-17 | 2016-03-15 | Applied Materials, Inc. | Titanium oxide etch |
US9328416B2 (en) | 2014-01-17 | 2016-05-03 | Lam Research Corporation | Method for the reduction of defectivity in vapor deposited films |
US9396989B2 (en) | 2014-01-27 | 2016-07-19 | Applied Materials, Inc. | Air gaps between copper lines |
US9293568B2 (en) | 2014-01-27 | 2016-03-22 | Applied Materials, Inc. | Method of fin patterning |
US9385028B2 (en) | 2014-02-03 | 2016-07-05 | Applied Materials, Inc. | Air gap process |
KR20150091769A (ko) * | 2014-02-04 | 2015-08-12 | 주성엔지니어링(주) | 기판처리장치 |
US9499898B2 (en) | 2014-03-03 | 2016-11-22 | Applied Materials, Inc. | Layered thin film heater and method of fabrication |
US9299575B2 (en) | 2014-03-17 | 2016-03-29 | Applied Materials, Inc. | Gas-phase tungsten etch |
US9299537B2 (en) | 2014-03-20 | 2016-03-29 | Applied Materials, Inc. | Radial waveguide systems and methods for post-match control of microwaves |
US9299538B2 (en) | 2014-03-20 | 2016-03-29 | Applied Materials, Inc. | Radial waveguide systems and methods for post-match control of microwaves |
US9136273B1 (en) | 2014-03-21 | 2015-09-15 | Applied Materials, Inc. | Flash gate air gap |
US9903020B2 (en) | 2014-03-31 | 2018-02-27 | Applied Materials, Inc. | Generation of compact alumina passivation layers on aluminum plasma equipment components |
US9269590B2 (en) | 2014-04-07 | 2016-02-23 | Applied Materials, Inc. | Spacer formation |
US9309598B2 (en) | 2014-05-28 | 2016-04-12 | Applied Materials, Inc. | Oxide and metal removal |
US9847289B2 (en) | 2014-05-30 | 2017-12-19 | Applied Materials, Inc. | Protective via cap for improved interconnect performance |
US9378969B2 (en) | 2014-06-19 | 2016-06-28 | Applied Materials, Inc. | Low temperature gas-phase carbon removal |
US9406523B2 (en) | 2014-06-19 | 2016-08-02 | Applied Materials, Inc. | Highly selective doped oxide removal method |
US9425058B2 (en) | 2014-07-24 | 2016-08-23 | Applied Materials, Inc. | Simplified litho-etch-litho-etch process |
US9159606B1 (en) | 2014-07-31 | 2015-10-13 | Applied Materials, Inc. | Metal air gap |
US9496167B2 (en) | 2014-07-31 | 2016-11-15 | Applied Materials, Inc. | Integrated bit-line airgap formation and gate stack post clean |
US9378978B2 (en) | 2014-07-31 | 2016-06-28 | Applied Materials, Inc. | Integrated oxide recess and floating gate fin trimming |
US9165786B1 (en) | 2014-08-05 | 2015-10-20 | Applied Materials, Inc. | Integrated oxide and nitride recess for better channel contact in 3D architectures |
US9659753B2 (en) | 2014-08-07 | 2017-05-23 | Applied Materials, Inc. | Grooved insulator to reduce leakage current |
US9553102B2 (en) | 2014-08-19 | 2017-01-24 | Applied Materials, Inc. | Tungsten separation |
US9355856B2 (en) | 2014-09-12 | 2016-05-31 | Applied Materials, Inc. | V trench dry etch |
US9355862B2 (en) | 2014-09-24 | 2016-05-31 | Applied Materials, Inc. | Fluorine-based hardmask removal |
US9368364B2 (en) | 2014-09-24 | 2016-06-14 | Applied Materials, Inc. | Silicon etch process with tunable selectivity to SiO2 and other materials |
US9613822B2 (en) | 2014-09-25 | 2017-04-04 | Applied Materials, Inc. | Oxide etch selectivity enhancement |
US9966240B2 (en) | 2014-10-14 | 2018-05-08 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for internal surface conditioning assessment in plasma processing equipment |
US9355922B2 (en) | 2014-10-14 | 2016-05-31 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for internal surface conditioning in plasma processing equipment |
US11637002B2 (en) | 2014-11-26 | 2023-04-25 | Applied Materials, Inc. | Methods and systems to enhance process uniformity |
US9299583B1 (en) | 2014-12-05 | 2016-03-29 | Applied Materials, Inc. | Aluminum oxide selective etch |
US10573496B2 (en) | 2014-12-09 | 2020-02-25 | Applied Materials, Inc. | Direct outlet toroidal plasma source |
US10224210B2 (en) | 2014-12-09 | 2019-03-05 | Applied Materials, Inc. | Plasma processing system with direct outlet toroidal plasma source |
US9502258B2 (en) | 2014-12-23 | 2016-11-22 | Applied Materials, Inc. | Anisotropic gap etch |
US9343272B1 (en) | 2015-01-08 | 2016-05-17 | Applied Materials, Inc. | Self-aligned process |
US11257693B2 (en) | 2015-01-09 | 2022-02-22 | Applied Materials, Inc. | Methods and systems to improve pedestal temperature control |
US9373522B1 (en) | 2015-01-22 | 2016-06-21 | Applied Mateials, Inc. | Titanium nitride removal |
US9449846B2 (en) | 2015-01-28 | 2016-09-20 | Applied Materials, Inc. | Vertical gate separation |
US9728437B2 (en) | 2015-02-03 | 2017-08-08 | Applied Materials, Inc. | High temperature chuck for plasma processing systems |
US20160225652A1 (en) | 2015-02-03 | 2016-08-04 | Applied Materials, Inc. | Low temperature chuck for plasma processing systems |
US9881805B2 (en) | 2015-03-02 | 2018-01-30 | Applied Materials, Inc. | Silicon selective removal |
US9828672B2 (en) | 2015-03-26 | 2017-11-28 | Lam Research Corporation | Minimizing radical recombination using ALD silicon oxide surface coating with intermittent restoration plasma |
US10023956B2 (en) | 2015-04-09 | 2018-07-17 | Lam Research Corporation | Eliminating first wafer metal contamination effect in high density plasma chemical vapor deposition systems |
US20160362782A1 (en) * | 2015-06-15 | 2016-12-15 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Gas dispenser and deposition apparatus using the same |
US9741593B2 (en) | 2015-08-06 | 2017-08-22 | Applied Materials, Inc. | Thermal management systems and methods for wafer processing systems |
US9691645B2 (en) | 2015-08-06 | 2017-06-27 | Applied Materials, Inc. | Bolted wafer chuck thermal management systems and methods for wafer processing systems |
US9349605B1 (en) | 2015-08-07 | 2016-05-24 | Applied Materials, Inc. | Oxide etch selectivity systems and methods |
US10504700B2 (en) | 2015-08-27 | 2019-12-10 | Applied Materials, Inc. | Plasma etching systems and methods with secondary plasma injection |
CN105390363A (zh) * | 2015-10-29 | 2016-03-09 | 上海华力微电子有限公司 | 一种高密度等离子体机台的管路装置 |
US10504754B2 (en) | 2016-05-19 | 2019-12-10 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for improved semiconductor etching and component protection |
US10522371B2 (en) | 2016-05-19 | 2019-12-31 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for improved semiconductor etching and component protection |
US9865484B1 (en) | 2016-06-29 | 2018-01-09 | Applied Materials, Inc. | Selective etch using material modification and RF pulsing |
US10629473B2 (en) | 2016-09-09 | 2020-04-21 | Applied Materials, Inc. | Footing removal for nitride spacer |
US10062575B2 (en) | 2016-09-09 | 2018-08-28 | Applied Materials, Inc. | Poly directional etch by oxidation |
US9934942B1 (en) | 2016-10-04 | 2018-04-03 | Applied Materials, Inc. | Chamber with flow-through source |
US10062585B2 (en) | 2016-10-04 | 2018-08-28 | Applied Materials, Inc. | Oxygen compatible plasma source |
US10546729B2 (en) | 2016-10-04 | 2020-01-28 | Applied Materials, Inc. | Dual-channel showerhead with improved profile |
US9721789B1 (en) | 2016-10-04 | 2017-08-01 | Applied Materials, Inc. | Saving ion-damaged spacers |
US10062579B2 (en) | 2016-10-07 | 2018-08-28 | Applied Materials, Inc. | Selective SiN lateral recess |
US9947549B1 (en) | 2016-10-10 | 2018-04-17 | Applied Materials, Inc. | Cobalt-containing material removal |
US10163696B2 (en) | 2016-11-11 | 2018-12-25 | Applied Materials, Inc. | Selective cobalt removal for bottom up gapfill |
US9768034B1 (en) | 2016-11-11 | 2017-09-19 | Applied Materials, Inc. | Removal methods for high aspect ratio structures |
US10026621B2 (en) | 2016-11-14 | 2018-07-17 | Applied Materials, Inc. | SiN spacer profile patterning |
US10242908B2 (en) | 2016-11-14 | 2019-03-26 | Applied Materials, Inc. | Airgap formation with damage-free copper |
US10211099B2 (en) | 2016-12-19 | 2019-02-19 | Lam Research Corporation | Chamber conditioning for remote plasma process |
US10566206B2 (en) | 2016-12-27 | 2020-02-18 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for anisotropic material breakthrough |
US10431429B2 (en) | 2017-02-03 | 2019-10-01 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for radial and azimuthal control of plasma uniformity |
US10403507B2 (en) | 2017-02-03 | 2019-09-03 | Applied Materials, Inc. | Shaped etch profile with oxidation |
US10043684B1 (en) | 2017-02-06 | 2018-08-07 | Applied Materials, Inc. | Self-limiting atomic thermal etching systems and methods |
US10319739B2 (en) | 2017-02-08 | 2019-06-11 | Applied Materials, Inc. | Accommodating imperfectly aligned memory holes |
US10943834B2 (en) | 2017-03-13 | 2021-03-09 | Applied Materials, Inc. | Replacement contact process |
US10319649B2 (en) | 2017-04-11 | 2019-06-11 | Applied Materials, Inc. | Optical emission spectroscopy (OES) for remote plasma monitoring |
US11276590B2 (en) | 2017-05-17 | 2022-03-15 | Applied Materials, Inc. | Multi-zone semiconductor substrate supports |
US11276559B2 (en) | 2017-05-17 | 2022-03-15 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor processing chamber for multiple precursor flow |
US10049891B1 (en) | 2017-05-31 | 2018-08-14 | Applied Materials, Inc. | Selective in situ cobalt residue removal |
US10497579B2 (en) | 2017-05-31 | 2019-12-03 | Applied Materials, Inc. | Water-free etching methods |
US10920320B2 (en) | 2017-06-16 | 2021-02-16 | Applied Materials, Inc. | Plasma health determination in semiconductor substrate processing reactors |
US10541246B2 (en) | 2017-06-26 | 2020-01-21 | Applied Materials, Inc. | 3D flash memory cells which discourage cross-cell electrical tunneling |
US10727080B2 (en) | 2017-07-07 | 2020-07-28 | Applied Materials, Inc. | Tantalum-containing material removal |
US10541184B2 (en) | 2017-07-11 | 2020-01-21 | Applied Materials, Inc. | Optical emission spectroscopic techniques for monitoring etching |
US10354889B2 (en) | 2017-07-17 | 2019-07-16 | Applied Materials, Inc. | Non-halogen etching of silicon-containing materials |
US10170336B1 (en) | 2017-08-04 | 2019-01-01 | Applied Materials, Inc. | Methods for anisotropic control of selective silicon removal |
US10043674B1 (en) | 2017-08-04 | 2018-08-07 | Applied Materials, Inc. | Germanium etching systems and methods |
US10297458B2 (en) | 2017-08-07 | 2019-05-21 | Applied Materials, Inc. | Process window widening using coated parts in plasma etch processes |
US10128086B1 (en) | 2017-10-24 | 2018-11-13 | Applied Materials, Inc. | Silicon pretreatment for nitride removal |
US10283324B1 (en) | 2017-10-24 | 2019-05-07 | Applied Materials, Inc. | Oxygen treatment for nitride etching |
CN111448640A (zh) | 2017-12-07 | 2020-07-24 | 朗姆研究公司 | 在室调节中的抗氧化保护层 |
US10256112B1 (en) | 2017-12-08 | 2019-04-09 | Applied Materials, Inc. | Selective tungsten removal |
US10760158B2 (en) | 2017-12-15 | 2020-09-01 | Lam Research Corporation | Ex situ coating of chamber components for semiconductor processing |
US10903054B2 (en) | 2017-12-19 | 2021-01-26 | Applied Materials, Inc. | Multi-zone gas distribution systems and methods |
US11328909B2 (en) | 2017-12-22 | 2022-05-10 | Applied Materials, Inc. | Chamber conditioning and removal processes |
US10854426B2 (en) | 2018-01-08 | 2020-12-01 | Applied Materials, Inc. | Metal recess for semiconductor structures |
US10679870B2 (en) | 2018-02-15 | 2020-06-09 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor processing chamber multistage mixing apparatus |
US10964512B2 (en) | 2018-02-15 | 2021-03-30 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor processing chamber multistage mixing apparatus and methods |
TWI766433B (zh) | 2018-02-28 | 2022-06-01 | 美商應用材料股份有限公司 | 形成氣隙的系統及方法 |
US10593560B2 (en) | 2018-03-01 | 2020-03-17 | Applied Materials, Inc. | Magnetic induction plasma source for semiconductor processes and equipment |
US10319600B1 (en) | 2018-03-12 | 2019-06-11 | Applied Materials, Inc. | Thermal silicon etch |
US10497573B2 (en) | 2018-03-13 | 2019-12-03 | Applied Materials, Inc. | Selective atomic layer etching of semiconductor materials |
US10573527B2 (en) | 2018-04-06 | 2020-02-25 | Applied Materials, Inc. | Gas-phase selective etching systems and methods |
US10490406B2 (en) | 2018-04-10 | 2019-11-26 | Appled Materials, Inc. | Systems and methods for material breakthrough |
US10699879B2 (en) | 2018-04-17 | 2020-06-30 | Applied Materials, Inc. | Two piece electrode assembly with gap for plasma control |
US10886137B2 (en) | 2018-04-30 | 2021-01-05 | Applied Materials, Inc. | Selective nitride removal |
US10755941B2 (en) | 2018-07-06 | 2020-08-25 | Applied Materials, Inc. | Self-limiting selective etching systems and methods |
US10872778B2 (en) | 2018-07-06 | 2020-12-22 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods utilizing solid-phase etchants |
US10672642B2 (en) | 2018-07-24 | 2020-06-02 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for pedestal configuration |
US10892198B2 (en) | 2018-09-14 | 2021-01-12 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for improved performance in semiconductor processing |
US11049755B2 (en) | 2018-09-14 | 2021-06-29 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor substrate supports with embedded RF shield |
US11062887B2 (en) | 2018-09-17 | 2021-07-13 | Applied Materials, Inc. | High temperature RF heater pedestals |
WO2020060929A1 (en) * | 2018-09-21 | 2020-03-26 | Lam Research Corporation | Method for conditioning a plasma processing chamber |
US11417534B2 (en) | 2018-09-21 | 2022-08-16 | Applied Materials, Inc. | Selective material removal |
US11682560B2 (en) | 2018-10-11 | 2023-06-20 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for hafnium-containing film removal |
US11121002B2 (en) | 2018-10-24 | 2021-09-14 | Applied Materials, Inc. | Systems and methods for etching metals and metal derivatives |
US11437242B2 (en) | 2018-11-27 | 2022-09-06 | Applied Materials, Inc. | Selective removal of silicon-containing materials |
US11721527B2 (en) | 2019-01-07 | 2023-08-08 | Applied Materials, Inc. | Processing chamber mixing systems |
US10920319B2 (en) | 2019-01-11 | 2021-02-16 | Applied Materials, Inc. | Ceramic showerheads with conductive electrodes |
US20210292902A1 (en) * | 2020-03-17 | 2021-09-23 | Asm Ip Holding B.V. | Method of depositing epitaxial material, structure formed using the method, and system for performing the method |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4657616A (en) | 1985-05-17 | 1987-04-14 | Benzing Technologies, Inc. | In-situ CVD chamber cleaner |
US5063783A (en) * | 1990-08-14 | 1991-11-12 | John Zajac | Pressure monitoring and method |
US5275976A (en) * | 1990-12-27 | 1994-01-04 | Texas Instruments Incorporated | Process chamber purge module for semiconductor processing equipment |
JP3444617B2 (ja) * | 1993-02-25 | 2003-09-08 | 株式会社リコー | 画像形成装置 |
US5380370A (en) * | 1993-04-30 | 1995-01-10 | Tokyo Electron Limited | Method of cleaning reaction tube |
JP2909364B2 (ja) * | 1993-09-20 | 1999-06-23 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置及びそのクリーニング方法 |
US5454903A (en) | 1993-10-29 | 1995-10-03 | Applied Materials, Inc. | Plasma cleaning of a CVD or etch reactor using helium for plasma stabilization |
JP3768575B2 (ja) * | 1995-11-28 | 2006-04-19 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | Cvd装置及びチャンバ内のクリーニングの方法 |
JPH09246260A (ja) * | 1996-03-07 | 1997-09-19 | Kokusai Electric Co Ltd | プラズマcvd装置 |
DE19623677C2 (de) * | 1996-06-14 | 1999-09-16 | Knuerr Mechanik Ag | Geräteschrank für elektrische und elektronische Systeme |
US5988187A (en) * | 1996-07-09 | 1999-11-23 | Lam Research Corporation | Chemical vapor deposition system with a plasma chamber having separate process gas and cleaning gas injection ports |
US5812403A (en) | 1996-11-13 | 1998-09-22 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for cleaning surfaces in a substrate processing system |
JP3476638B2 (ja) * | 1996-12-20 | 2003-12-10 | 東京エレクトロン株式会社 | Cvd成膜方法 |
US6068703A (en) * | 1997-07-11 | 2000-05-30 | Applied Materials, Inc. | Gas mixing apparatus and method |
US6155289A (en) * | 1999-05-07 | 2000-12-05 | International Business Machines | Method of and system for sub-atmospheric gas delivery with backflow control |
-
2000
- 2000-10-18 KR KR10-2000-0061264A patent/KR100375102B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2001
- 2001-09-27 US US09/963,482 patent/US6819969B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-10-12 JP JP2001315399A patent/JP4070075B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8652258B2 (en) | 2006-11-10 | 2014-02-18 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | Substrate treatment device |
KR101275261B1 (ko) * | 2007-04-23 | 2013-06-14 | 주식회사 원익아이피에스 | 세정 및 배기 장치 |
KR101398884B1 (ko) * | 2013-12-31 | 2014-05-27 | 한국세라믹기술원 | 경사 기능성 코팅층 형성에 적합한 서스펜션 플라즈마 용사 장치용 서스펜션 공급기 |
WO2021033612A1 (ja) * | 2019-08-22 | 2021-02-25 | 東京エレクトロン株式会社 | クリーニング方法及びマイクロ波プラズマ処理装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4070075B2 (ja) | 2008-04-02 |
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