JP2002121663A - スパッタ装置用トレイ - Google Patents

スパッタ装置用トレイ

Info

Publication number
JP2002121663A
JP2002121663A JP2000317744A JP2000317744A JP2002121663A JP 2002121663 A JP2002121663 A JP 2002121663A JP 2000317744 A JP2000317744 A JP 2000317744A JP 2000317744 A JP2000317744 A JP 2000317744A JP 2002121663 A JP2002121663 A JP 2002121663A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tray
insulating substrate
glass substrate
sputtering apparatus
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000317744A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Nagase
浩二 長瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Electric Kagoshima Ltd
NEC Kagoshima Ltd
Original Assignee
Nippon Electric Kagoshima Ltd
NEC Kagoshima Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Kagoshima Ltd, NEC Kagoshima Ltd filed Critical Nippon Electric Kagoshima Ltd
Priority to JP2000317744A priority Critical patent/JP2002121663A/ja
Publication of JP2002121663A publication Critical patent/JP2002121663A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】ガラス基板を保持するスパッタ装置用トレイに
おいて、異常放電を起こすことなく成膜できるとともに
不必要な領域に成膜することのなく、トレイの寿命を長
くする。 【解決手段】ガラス基板15の載置面であるトレイ本体
7のひさし部10に傾斜面10aを設け、ガラス基板1
5を押し付けるクランプ8にも傾斜面8aを形成し、二
つの傾斜面8a、10aでガラス基板15のエッジ部1
5a,15bを挟み保持し、既成の膜との異常放電を無
くしている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、スパッタリングに
よって表面に導電膜や絶縁膜が形成される絶縁基板を保
持するスパッタ装置用トレイに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、液晶パネルやプラズマディスプレ
ィなどはますます大型化し、その製造歩留まり厳しいも
のとなった。特に、液晶パネルのような大型の絶縁基板
であるガラス基板にTFT膜や絶縁膜を均一に形成する
ことは、製造技術において重大な課題である。この成膜
技術には、通常、スパッタリング技術が用いられてい
る。
【0003】この液晶パネルのような大型基板にスパッ
タリングによる成膜工程では、成膜対象以外の場所にも
膜が形成される。この不要な膜がガラス基板の端部など
に堆積し、次の洗浄工程でガラス基板のアライメント治
具によって衝撃が加わり、ガラス基板の端部の堆積膜が
剥離し、剥がれた塵が成膜面にて再付着し、膜の品質に
重大な欠陥をもたらすという問題があった。
【0004】また、限られた大きさのガラス基板内によ
り大きな液晶パネルを製造するためにガラス基板の外形
寸法ぎりぎりまで薄膜の形成が要求されるようになっ
た。しかし、ガラス基板の外形から内側に数mmメ−ト
ルの非成膜領域を必要とした。これは、ガラス基板を保
持するトレイによる掴み代として必要であった。特に近
年、ガラス基板の大型化および軽量化のための厚みを薄
くするなどため、トレイの基板保持機構や移載機からの
受け渡し機構など含め検討された。
【0005】図3(a)および(b)は従来の一例にお
けるトレイを説明するための部分平面図およびBB断面
矢視図である。このトレイは、図3に示すように、ガラ
ス基板15が入る開口をもつとともに不要な部分に膜が
形成されないようにガラス基板15の周辺部を覆うひさ
し部26を有するトレイ本体21と、ガラス基板15の
外周囲の複数箇所を固定するためにトレイ本体21上に
配置される軸受部23と、軸受部23にさし渡された軸
22に回転自在に取付けられるクランプ24とを備えて
いる。
【0006】そして、このトレイによってガラス基板1
5を保持するには、トレイ本体21のクランプ24が矢
印に示す方向に開いた状態で、ガラス基板を積載する移
載機からガラス基板15をトレイ本体21のひさし部2
6に載せる。次に、クランプ24を矢印の方向に倒し、
図示していないばねによってガラス基板15の裏面を固
定する。
【0007】また、ガラス基板15が薄くなり軽量にな
るものの、ガラス基板はたわみ易く、このたわみを矯正
するために、クランプの数を増やし対処していた。さら
に、ひさし部26のガラス基板との逃げ部の隙間は、ス
パッタの回り込み少なくするために、例えば、0,3乃
至0.5mm程度をもたせていた。
【0008】このように、ガラス基板を搭載したトレイ
は、ロ−ダによってスパッタ装置のチャンバに収納さ
れ、減圧状態にされプロセスガスが導入されたチャンバ
内のタ−ゲットより放出されるスパッタ物がガラス基板
に堆積され薄膜が形成される。そして、ひさし部26が
ガラス基板15の周辺部を覆うことで不要な領域へのス
パッタ物質の被着を防止をしていた。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】アルミニウム膜をクロ
ム膜で挟む構造の形成工程における下地膜27は、ガラ
ス基板15の端部まで形成されているので、ひさし部2
6の先端部と接触する。成膜中に、フロ−ティング電位
である導電性の下地膜27とグランド電位であるトレイ
のひさし部26とが接触すると、トレイに電流が流れ、
導電膜とトレイとの間で異常放電を起こし、成膜された
膜を破壊したり、極端な場合、ガラス基板をも破壊する
という問題があった。
【0010】また、トレイを繰り返して使用していく
と、隙間を少なくしてスパッタの回り込みを極力避けて
いるものの、トレイ本体のひさし部の表面に導電膜が堆
積し、何かの衝撃が加わると、堆積膜が剥がれ形成中の
膜に剥がれた異物が移行し、膜質を劣化させるという問
題がある。
【0011】さらに、このように堆積した膜を事前に除
去するにしても、機械的に粒子をぶつけて除去するか、
あるいは薬液でエッチング除去するしかなく、これらの
方法はトレイの寿命を著しく短くするという欠点があ
る。
【0012】従って、本発明の目的は、異常放電を起こ
すことなく成膜できるとともに不必要な領域に成膜する
ことのない寿命の長いスパッタ装置用のトレイを提供す
ることにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、プロセ
スガスを導入し減圧されたチャンバ内でグロ−放電させ
タ−ゲットから放出されるスパッタ物質が堆積され膜が
形成される方形状の絶縁基板を保持するスパッタ装置用
トレイにおいて、前記タ−ゲットに面する前記絶縁基板
の外周囲のエッジ部と線接触し前記絶縁基板を載置する
とともに該絶縁基板の周辺部を覆うように前方に延在す
る傾斜面をもつひさし部を具備するトレイ本体と、この
トレイ本体の裏面の軸受部に貫通し保持される軸部材
と、この軸部材に回転自在にはめ込まれるとともに前記
絶縁基板の他のエッジ部と線接触し前記絶縁基板を押さ
えかつ前方に延在する傾斜面をもつクランプ部材と、こ
のクランプ部材の前記絶縁基板への押圧力を与えるばね
部材とを備えるスパッタ装置用トレイである。
【0014】また、前記クランプ部材は、前記絶縁基板
のそれぞれの辺に備えられていることが望ましい。さら
に、前記クランプ部材の該軸部材は複数の軸受部で保持
されていることが望ましい。一方、前記クランプ部材の
下部から突出するとともに前記絶縁基板を該クランプ部
材が押さえるとき前記トレイ本体の穴に入り込む突起部
材を備えることが望ましい。また、堆積膜が容易に剥が
れないように、前記ひさし部を含む前記トレイ本体の表
面が微小な凹凸のある梨地状に形成されていることが望
ましい。
【0015】そして、前記絶縁基板はガラス基板に適用
することが望ましい。また、前記グロ−放電の発生は、
前記タ−ゲットと前記トレイ本体に印加する直流電圧に
よることか、あるいは、前記タ−ゲットと前記トレイ本
体に印加する高周波電圧によることが望ましい。
【0016】
【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して説明する。
【0017】図1は本発明の一実施の形態におけるスパ
ッタ装置用トレイを説明するためのスパッタ装置の概略
を示す模式断面図である。このスパッタ装置は、図1に
示すように、プロセスガスを導入し真空ポンプで減圧さ
れたチャンバ4内のタ−ゲット2と絶縁基板を搭載した
トレイ1との間に直流電源6により直流電圧を印加し、
グロ−放電させタ−ゲット2からスパッタ物質を放出さ
せ、トレイ1の絶縁基板にスパッタ物質を堆積し成膜す
る。いわゆる直流2極スパッタ装置である。
【0018】また、ガラス基板のような大きく重量のあ
る絶縁基板は、チャンバ4内に垂直に立てて配置され
る。従って、ガラス移載機から立てた状態でトレイ搬送
部5にガラス基板は移載され、チャンバ4内に収納され
る。このことにより、ガラス基板の自重による撓みを解
消している。
【0019】一方、陰極であるタ−ゲット2も陽極であ
るトレイ1に対し平行になるように垂直にチャンバ内に
配置され、成膜材料と同じ導電材料で製作されている。
そして、冷却構造のタ−ゲット裏板3に取り付けられて
いる。また、導入されるプロセスガスは、通常、不活性
ガスが用いられる。ここでは、比重の重いアルゴンガス
が用いられた。なお、チャンバ内のガスの圧力は、放電
し易い、例えば、0.1パスカル程度に維持される。
【0020】図2(a)〜(d)は本発明の一実施の形
態におけるスパッタ装置用トレイを示す(a)は裏面の
平面図、(b)は表面の平面図、(c)はA部拡大図お
よび(d)はAA断面矢視図である。次に、図2を参照
して、このスパッタ装置用トレイを説明する。このトレ
イは、図2(a)および(b)に示すように、トレイ本
体7の二つ開口16に被膜すべきガラス基板15の領域
を露呈させトレイ本体7のひさし部10に載せている。
一方、トレイ本体7の裏面には、ガラス基板15の四辺
を固定するクランプ8が取り付けられている。
【0021】また、トレイ本体7は、一枚の圧延され
た、例えば、ステンレス鋼あるいは高力アルミニウム圧
延板材からひさし部10をガラス基板の周囲に対応する
部分に機械加工したものである。そして、トレイ本体7
の開口16の周辺部であるひさし部10を含めたトレイ
本体の表面領域は、堆積膜が容易に剥がれないように表
面に微小な凹凸あるいは梨地のようにし、表面を粗らす
ことが望ましい。この表面をあらす方法は、例えば、ア
ルミニュウム粒子あるいは銅の粒子を吹き付ける金属溶
射法か、あるいはアルミナ粒子の叩き付けるブラスト法
がある。
【0022】一方、タ−ゲットに対して反対側のトレイ
本体7には、ガラス基板15の四辺を固定するクランプ
8がある。従来は、一辺に複数のクランプで固定してい
たが、ガラス基板の撓みを矯正する作用効果があまりな
く、このトレイでは、各辺に一個ずつ設けた。
【0023】また、ここで、重要なことは、図2(d)
に示すように、ひさし部10に傾斜面10aと同様にク
ランプ8にも傾斜面8aをもたせることである。これら
傾斜面8aおよび10aをもたせることで、ガラス基板
15のエッジ部15aはひさし部10の傾斜面10aと
線接触し、ガラス基板15のエッジ部15bは、クラン
プ8の傾斜面8aと線接触する。従って、従来のよう
に、直接ガラス基板に面接触することがないので、異常
放電が無くなる。
【0024】このように、ガラス基板15のエッジ部1
5aおよび15bに傾斜面8aおよび10aを介してば
ね12の圧力を与えると、ガラス基板15を押さえる力
の他にガラス基板15を前方に押す力が働き、合い対す
るクランプ8で押し合いガラス基板15を強固に固定で
きる利点もある。
【0025】クランプ8を回転自在に取り付ける機構
は、図2(c)に示すように、トレイ本体7に取付けら
れた軸受13に保持される軸9に回転し得るようにはめ
込まれている。そして、これら軸受13は、長尺なクラ
ンプ8の間に複数個配置されている。このことは、クラ
ンプ8の長さに応じて軸受13を配置できることであ
る。また、クランプ8のガラス基板へのアライメントを
採るのに、複数の軸受13があった方がやりやすいとい
う利点がある。
【0026】クランプ8に押圧力を与えるばね12は、
一端がトレイ本体8に接触し、他端はクランプ8の上に
接触している。また、ばね12の途中部分は軸9に巻き
付けてある。そして、このばね12は、クランプ8の切
欠き部の側部に設けられている。すなわち、軸受13に
対面する切欠き部ごとに設けられている。これによっ
て、ガラス基板15の周縁部は一様に押さえられる。
【0027】クランプ8の下部から突出する突起部11
は、クランプ8が閉じたときトレイ本体7の穴に入る。
そして、ひさし部10とクランプ8との隙間から入るス
パッタ物の侵入を阻止している。また、この突起部11
の役割は、膜形成が終了し、トレイをチャンバから搬出
してから、トレイからガラス基板を外すときに、クラン
プ8を回転させ、図2(d)の鎖線に示すように、垂直
に立てるための突き当て部の役割をしている。
【0028】なお、このトレイは、図1に示した直流2
極スパッタ装置に用いて説明したが、図1の直流電源6
の代わりに高周波電源を用いた高周波2極スパッタ装置
にも適用できる。この高周波2極スパッタ装置は、タ−
ゲットとトレイとの間に、例えば、13.56MHzの
高周波電圧を印加し、グロ−放電させタ−ゲットからス
パッタさせ、ガラス基板に膜を形成させる。むしろ、こ
の装置の方がイオン発生率が高く、導電膜だけではなく
絶縁膜も形成できる利点がある。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ガラス基
板の載置面であるトレイ本体のひさし部に傾斜面を設
け、ガラス基板を押し付けるクランプにも傾斜面を形成
し、二つの傾斜面でガラス基板のエッジ部を挟み保持す
ることによって、直接ガラス基板の面に接触することが
無くなり、既成の膜との間での異常放電を起こさず膜の
形成歩留まりが向上するという効果がある。
【0030】また、ひさし部でガラス基板の周辺部を覆
い、かつクランプとの隙間を少なく止しスパッタ物の侵
入を阻止し不要な領域への付着を無くし、成膜への汚染
を無くし成膜の歩留まりを向上させたという効果があ
る。
【0031】さらに、タ−ゲットに晒されスパッタ物が
堆積する表面に、予め微小な凹凸を設け、堆積した膜が
容易に剥がれないようにすることで、成膜を汚染しない
ばかりか、定期的にトレイを洗浄する頻度が少なくな
り、トレイの寿命が長くなり装置の稼働率が向上すると
いう効果もある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態におけるスパッタ装置用
トレイを説明するためのスパッタ装置の概略を示す模式
断面図である。
【図2】本発明の一実施の形態におけるスパッタ装置用
トレイを示す(a)は裏面の平面図、(b)は表面の平
面図、(c)はA部拡大図および(d)はAA断面矢視
図であるである。
【図3】従来の一例におけるトレイを説明するための部
分平面図およびBB断面矢視図である。
【符号の説明】
1 トレイ 2 タ−ゲット 3 タ−ゲット裏板 4 チャンバ 5 トレイ搬送部 6 直流電源 7 トレイ本体 8 クランプ 9 軸 10 ひさし部 11 突起部 12 ばね 13 軸受 15 ガラス基板

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プロセスガスを導入し減圧されたチャン
    バ内でグロ−放電させタ−ゲットから放出されるスパッ
    タ物質が堆積され膜が形成される絶縁基板を保持するス
    パッタ装置用トレイにおいて、前記タ−ゲットに面する
    前記絶縁基板の外周囲のエッジ部と線接触し前記絶縁基
    板を載置するとともに該絶縁基板の周辺部を覆うように
    前方に延在する傾斜面をもつひさし部を具備するトレイ
    本体と、このトレイ本体の裏面の軸受部に貫通し保持さ
    れる軸部材と、この軸部材に回転自在にはめ込まれると
    ともに前記絶縁基板の他のエッジ部と線接触し前記絶縁
    基板を押さえかつ前方に延在する傾斜面をもつクランプ
    部材と、このクランプ部材の前記絶縁基板への押圧力を
    与えるばね部材とを備えることを特徴とするスパッタ装
    置用トレイ。
  2. 【請求項2】 前記クランプ部材は、前記絶縁基板のそ
    れぞれの辺に備えられていることを特徴とする請求項1
    記載のスパッタ装置用トレイ。
  3. 【請求項3】 前記クランプ部材の該軸部材は複数の軸
    受部で保持されていることを特徴とする請求項1または
    請求項2記載のスパッタ装置用トレイ。
  4. 【請求項4】 前記クランプ部材の下部から突出すると
    ともに前記絶縁基板を該クランプ部材が押さえるとき前
    記トレイ本体の穴に入り込む突起部材を備えることを特
    徴とする請求項1、請求項2または請求項3記載のスパ
    ッタ装置用トレイ。
  5. 【請求項5】 前記ひさし部を含む前記トレイ本体の表
    面が微小な凹凸のある梨地状に形成されていることを特
    徴とする請求項1、請求項2、請求項3または請求項4
    記載のスパッタ装置用トレイ。
  6. 【請求項6】 前記絶縁基板はガラス基板であることを
    特徴とする請求項1、請求項2、請求項3、請求項4ま
    たは請求項5記載のスパッタ装置用トレイ。
  7. 【請求項7】 前記グロ−放電の発生は、前記タ−ゲッ
    トと前記トレイ本体に印加する直流電圧によることを特
    徴とする請求項1、請求項2、請求項3、請求項4、請
    求項5または請求項6記載のスパッタ装置用トレイ。
  8. 【請求項8】 前記グロ−放電の発生は、前記タ−ゲッ
    トと前記トレイ本体に印加する高周波電圧によることを
    特徴とする請求項1、請求項2、請求項3、請求項4、
    請求項5または請求項6記載のスパッタ装置用トレイ。
JP2000317744A 2000-10-18 2000-10-18 スパッタ装置用トレイ Withdrawn JP2002121663A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000317744A JP2002121663A (ja) 2000-10-18 2000-10-18 スパッタ装置用トレイ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000317744A JP2002121663A (ja) 2000-10-18 2000-10-18 スパッタ装置用トレイ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002121663A true JP2002121663A (ja) 2002-04-26

Family

ID=18796482

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000317744A Withdrawn JP2002121663A (ja) 2000-10-18 2000-10-18 スパッタ装置用トレイ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002121663A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7922882B2 (en) 2004-11-22 2011-04-12 Sharp Kabushiki Kaisha Substrate holding device, substrate processing system and liquid crystal display device
KR101095512B1 (ko) * 2009-11-02 2011-12-19 주식회사 에스에프에이 유기전계발광표시장치 제조용 처킹 트레이
KR101366839B1 (ko) * 2012-03-30 2014-02-26 (주)에스엔텍 고온 공정용 트레이
JP2015133448A (ja) * 2014-01-15 2015-07-23 株式会社荏原製作所 回転保持装置及び基板洗浄装置
CN106128986A (zh) * 2016-09-06 2016-11-16 凌嘉科技股份有限公司 用于生产线的可移动式载盘装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7922882B2 (en) 2004-11-22 2011-04-12 Sharp Kabushiki Kaisha Substrate holding device, substrate processing system and liquid crystal display device
KR101095512B1 (ko) * 2009-11-02 2011-12-19 주식회사 에스에프에이 유기전계발광표시장치 제조용 처킹 트레이
KR101366839B1 (ko) * 2012-03-30 2014-02-26 (주)에스엔텍 고온 공정용 트레이
JP2015133448A (ja) * 2014-01-15 2015-07-23 株式会社荏原製作所 回転保持装置及び基板洗浄装置
CN106128986A (zh) * 2016-09-06 2016-11-16 凌嘉科技股份有限公司 用于生产线的可移动式载盘装置
CN106128986B (zh) * 2016-09-06 2019-10-18 凌嘉科技股份有限公司 用于生产线的可移动式载盘装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6251232B1 (en) Method of removing accumulated films from the surface of substrate holders in film deposition apparatus, and film deposition apparatus
US7550055B2 (en) Elastomer bonding of large area sputtering target
KR101036426B1 (ko) 바이어스 스퍼터장치
JPH05230628A (ja) 金属膜形成装置、金属膜形成装置における金属材回収方法
KR19980070371A (ko) 백-스퍼터링 시일드
JPH05106020A (ja) 物理的蒸着室の微粒子を減少するためのシールド準備法
JP2002121663A (ja) スパッタ装置用トレイ
JP2011202190A (ja) スパッタリング装置及びスパッタリング方法
JP2000273615A (ja) 成膜装置における基板保持具の表面の堆積膜の除去方法及び成膜装置
US9139899B2 (en) Target device, sputtering apparatus and method for manufacturing a target device
JP5708472B2 (ja) マグネトロンスパッタリングカソード及びこれを備えたスパッタリング装置
JPH0892764A (ja) スパッタ装置
JP2002133650A (ja) 磁気記録ディスク用成膜装置
JP2006299362A (ja) スパッタ成膜装置
JPH1030174A (ja) スパッタリング装置および該装置に用いるバッキングプレートの加工方法
JP4902054B2 (ja) スパッタリング装置
JPH0681146A (ja) マグネトロン型スパッタ装置
JP3972558B2 (ja) スパッタリング装置
JP2011046990A (ja) 電圧印加装置及び基板処理装置
KR100609378B1 (ko) 박막 형성 장치용 오염 방지판 및 그 제조 방법
JPH027870Y2 (ja)
JP2003160854A (ja) スパッタリング装置におけるパーティクル発生防止方法、スパッタリング方法、スパッタリング装置及び被覆用部材
JPH05263224A (ja) スパッタ電極
JP2003034857A (ja) スパッタリング装置及び方法
JP4184814B2 (ja) 平行平板型プラズマcvd装置および成膜基板の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20050310

A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20080108