JP2002117549A - 光記録再生装置 - Google Patents
光記録再生装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】光の近接場効果を用いて、トラック位置決め精
度を向上し、トラック間隔を小さくすることで、半径方
向にも記録密度を向上することができ、また光の回折限
界より小さな記録マークを安定に形成することができる
ようにする。 【解決手段】ディスクのアドレス情報を示す記録（サー
ボ領域の記録層２３）が、データ記録層８に対して異な
る層上に形成されている。なお、異なる層上としては、
逆にサーボ領域の方がデータ記録層よりも上位に形成し
てもよい。また、サーボ領域では、１対のピットを設
け、これらのピットをトラックセンタに対してディスク
径方向に互いに逆向きに等間隔だけずらして形成し、各
対のピットが互いに重ならないように形成する。
度を向上し、トラック間隔を小さくすることで、半径方
向にも記録密度を向上することができ、また光の回折限
界より小さな記録マークを安定に形成することができる
ようにする。 【解決手段】ディスクのアドレス情報を示す記録（サー
ボ領域の記録層２３）が、データ記録層８に対して異な
る層上に形成されている。なお、異なる層上としては、
逆にサーボ領域の方がデータ記録層よりも上位に形成し
てもよい。また、サーボ領域では、１対のピットを設
け、これらのピットをトラックセンタに対してディスク
径方向に互いに逆向きに等間隔だけずらして形成し、各
対のピットが互いに重ならないように形成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、近接場光学効果を
用いた超高密度でデータの記録再生を行う光記録媒体を
含む光記録再生装置に関するものである。
用いた超高密度でデータの記録再生を行う光記録媒体を
含む光記録再生装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】(相変化ディスクの回折限界)従来より、
データの記録再生方法の一つとして、光を用いて記録媒
体に記録、再生する方法がある。このような光記録の方
法の代表的な例としては、特定の高分子材料に所定の光
を照射して、その分子構造を変化させることによる局所
的な屈折率の変化を用いるものや、一般に希土類金属と
遷移金属からなるアモルファス合金薄膜を所定の磁界中
で光を照射し、局所的にキュリー点または補償点以上に
加熱することにより、局所的な磁化方向を変化させるも
のなどがある。これらの方法は、レーザー光をレンズ光
学系で集光したものを、記録媒体に照射し、このレーザ
ーのスポット径が記録マークの大きさを決定する重要な
パラメータになっている。しかし、このような方法で
は、光のスポット径は光の回折限界により、レーザー光
源の波長以下にすることは不可能である。
データの記録再生方法の一つとして、光を用いて記録媒
体に記録、再生する方法がある。このような光記録の方
法の代表的な例としては、特定の高分子材料に所定の光
を照射して、その分子構造を変化させることによる局所
的な屈折率の変化を用いるものや、一般に希土類金属と
遷移金属からなるアモルファス合金薄膜を所定の磁界中
で光を照射し、局所的にキュリー点または補償点以上に
加熱することにより、局所的な磁化方向を変化させるも
のなどがある。これらの方法は、レーザー光をレンズ光
学系で集光したものを、記録媒体に照射し、このレーザ
ーのスポット径が記録マークの大きさを決定する重要な
パラメータになっている。しかし、このような方法で
は、光のスポット径は光の回折限界により、レーザー光
源の波長以下にすることは不可能である。
【０００３】(近接場光による高密度化)光ディスク装置
の高密度化を達成する方法として、近年、近接場光を応
用した光記録が注目されている。例えば従来例１とし
て、Applied Physics Letters，61巻，2号の142頁から1
44頁（Applied Physics Letters, Vol.62，No.2，pp.14
2-144，1992）に記載されているように、光ファイバの
先端をコーン状に加工し、その先端の数10ｎｍの領域以
外を金属の被膜で覆ったプローブを作製し、ピエゾ素子
を用いた精密アクチュエータに搭載して位置を制御し
て、直径6０ｎｍの記録マークをプラチナ／コバルトの
多層膜上に記録再生した例が報告されている。上記従来
例１では、光ファイバの先端をコーン状に加工し、その
先端の数10ｎｍの領域以外を金属の被膜で覆ったプロー
ブを用いている。
の高密度化を達成する方法として、近年、近接場光を応
用した光記録が注目されている。例えば従来例１とし
て、Applied Physics Letters，61巻，2号の142頁から1
44頁（Applied Physics Letters, Vol.62，No.2，pp.14
2-144，1992）に記載されているように、光ファイバの
先端をコーン状に加工し、その先端の数10ｎｍの領域以
外を金属の被膜で覆ったプローブを作製し、ピエゾ素子
を用いた精密アクチュエータに搭載して位置を制御し
て、直径6０ｎｍの記録マークをプラチナ／コバルトの
多層膜上に記録再生した例が報告されている。上記従来
例１では、光ファイバの先端をコーン状に加工し、その
先端の数10ｎｍの領域以外を金属の被膜で覆ったプロー
ブを用いている。
【０００４】(近接場光による書き込み例)また、例えば
従来例２として、Applied Physics Letters，73巻，15
号の2078頁から2080頁（Applied Physics Letters, Vo
l.73，No.15，pp.2078−2080，1998）に記載されている
ように、光ディスク基板上に、記録層、保護層、非線形
光学材料層を設け、非線形光学材料層をマスクにして近
接場光を発生させ記録、再生を行う方法が提案されてい
る。上記従来例２では、ポリカーボネイト光ディスク基
板にSiN保護層、Ge2Sb2Te5の記録層、Sbの保護層を積層
して蒸着し、基板側からレーザー光を入射することによ
り、直径90ｎｍの記録マークを記録再生した例が報告さ
れている。
従来例２として、Applied Physics Letters，73巻，15
号の2078頁から2080頁（Applied Physics Letters, Vo
l.73，No.15，pp.2078−2080，1998）に記載されている
ように、光ディスク基板上に、記録層、保護層、非線形
光学材料層を設け、非線形光学材料層をマスクにして近
接場光を発生させ記録、再生を行う方法が提案されてい
る。上記従来例２では、ポリカーボネイト光ディスク基
板にSiN保護層、Ge2Sb2Te5の記録層、Sbの保護層を積層
して蒸着し、基板側からレーザー光を入射することによ
り、直径90ｎｍの記録マークを記録再生した例が報告さ
れている。
【０００５】(トラッキング、サンプルサーボ、ウォブ
ルピット)（従来例３）また、光ディスク装置では、光
ビームスポットを正確にトラック上で走査させるため
に、トラッキング・エラー信号を検出する必要がある。
トラッキングサーボ方式としては、いわゆる連続サーボ
方式の他に、サンプルサーボ方式が知られている。この
サンプルサーボ方式では、光ディスクの各トラック上に
サーボ領域を離散的に設け、トラックセンタに対してデ
ィスク径方向の互いに逆向きに等間隔だけずらして、各
トラックに一対のいわゆるウォブルピットを形成する。
そして、いわゆる差動プッシュプル法（ファーフィール
ド法）により、検出したタイミングに基づいて一対のウ
ォブルピットで反射される反射光ビームの光量を検出
し、この光量差をいわゆるトラッキングエラー信号とす
ると共に、ウォブルピットがない領域ではサンプルホー
ルド回路によってトラッキングエラー信号が０となるよ
うに、光ビームスポットをディスク径方向にサーボ制御
する方式である（例えば、光ディスク技術、ラジオ技術
社、1990参照）。
ルピット)（従来例３）また、光ディスク装置では、光
ビームスポットを正確にトラック上で走査させるため
に、トラッキング・エラー信号を検出する必要がある。
トラッキングサーボ方式としては、いわゆる連続サーボ
方式の他に、サンプルサーボ方式が知られている。この
サンプルサーボ方式では、光ディスクの各トラック上に
サーボ領域を離散的に設け、トラックセンタに対してデ
ィスク径方向の互いに逆向きに等間隔だけずらして、各
トラックに一対のいわゆるウォブルピットを形成する。
そして、いわゆる差動プッシュプル法（ファーフィール
ド法）により、検出したタイミングに基づいて一対のウ
ォブルピットで反射される反射光ビームの光量を検出
し、この光量差をいわゆるトラッキングエラー信号とす
ると共に、ウォブルピットがない領域ではサンプルホー
ルド回路によってトラッキングエラー信号が０となるよ
うに、光ビームスポットをディスク径方向にサーボ制御
する方式である（例えば、光ディスク技術、ラジオ技術
社、1990参照）。
【０００６】例えば、光ディスクのサーボ領域は、トラ
ックセンタに対してディスク径方向の互いに逆向きに等
間隔（例えば1／4トラックピッチ）だけ各トラックに形
成された一対のウォブルピット、及びクロックピットに
よって構成されている。また、トラッキングエラー信号
は、上記一対のウォブルピットからのそれぞれの反射光
検出信号の差分で表される。また、上記クロックピット
からはデータの読み書きと上記ウォブルピットからの反
射光検出信号の検出ために必要なクロック信号を、それ
ぞれ検出することができる。なお、これ以外の従来例４
として、一つのグルーブの中に複数のデータマーク列を
書くときのトラッキングの取り方に関して記載されたも
のがある。実際に書き込むマークより大きい千鳥マーク
を、マーク列のトラックピッチ分だけ少しずつずらして
おき、これにサンプルサーボをかける。
ックセンタに対してディスク径方向の互いに逆向きに等
間隔（例えば1／4トラックピッチ）だけ各トラックに形
成された一対のウォブルピット、及びクロックピットに
よって構成されている。また、トラッキングエラー信号
は、上記一対のウォブルピットからのそれぞれの反射光
検出信号の差分で表される。また、上記クロックピット
からはデータの読み書きと上記ウォブルピットからの反
射光検出信号の検出ために必要なクロック信号を、それ
ぞれ検出することができる。なお、これ以外の従来例４
として、一つのグルーブの中に複数のデータマーク列を
書くときのトラッキングの取り方に関して記載されたも
のがある。実際に書き込むマークより大きい千鳥マーク
を、マーク列のトラックピッチ分だけ少しずつずらして
おき、これにサンプルサーボをかける。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】(高速回転時のギャッ
プ制御問題)（従来例１の問題点）従来、近接場光を光
記録のみならず計測など様々の分野に応用する場合、光
ファイバの先端を先鋭化したプローブが用いられてき
た。しかし、基板とプローブの距離をスキャニング・フ
ォース顕微鏡を用いて、極めて精密に制御する必要があ
るため、例えば光情報を記録したディスクを高速に回転
した場合、ディスクの偏心によって生じる高い周波数の
基板とプローブの距離の変動を制御しきれないという問
題がある。さらに、スキャンニングにピエゾ素子を用い
た精密アクチュエータを用いているため、その走査速度
に限界があり、高速でのデータ記録、読み出しが困難で
あるという問題もある。
プ制御問題)（従来例１の問題点）従来、近接場光を光
記録のみならず計測など様々の分野に応用する場合、光
ファイバの先端を先鋭化したプローブが用いられてき
た。しかし、基板とプローブの距離をスキャニング・フ
ォース顕微鏡を用いて、極めて精密に制御する必要があ
るため、例えば光情報を記録したディスクを高速に回転
した場合、ディスクの偏心によって生じる高い周波数の
基板とプローブの距離の変動を制御しきれないという問
題がある。さらに、スキャンニングにピエゾ素子を用い
た精密アクチュエータを用いているため、その走査速度
に限界があり、高速でのデータ記録、読み出しが困難で
あるという問題もある。
【０００８】(タンジェンシャル方向の記録密度問題)
（従来例２の問題点）また、光記録媒体に記録層、保護
層、非線形光学材料層を設け、非線形光学材料層をマス
クにして近接場光を発生させて記録、再生を行う方法で
は、光学系は従来の光ディスク同様の機構で記録再生可
能である。しかし、この場合、光ディスク基板に従来と
同様のランド・グルーブを設けたものを用い、空間伝搬
してきたレーザー光を対物レンズ等で絞り記録再生を行
っているため、光ディスクのタンジェンシャル方向の記
録密度は向上できるが、ラジアル方向の記録密度の向上
は困難であるという問題がある。上記従来例２では、ト
ラックピッチが1.2μmであり、半径方向に対する記録密
度は従来と変わらない。
（従来例２の問題点）また、光記録媒体に記録層、保護
層、非線形光学材料層を設け、非線形光学材料層をマス
クにして近接場光を発生させて記録、再生を行う方法で
は、光学系は従来の光ディスク同様の機構で記録再生可
能である。しかし、この場合、光ディスク基板に従来と
同様のランド・グルーブを設けたものを用い、空間伝搬
してきたレーザー光を対物レンズ等で絞り記録再生を行
っているため、光ディスクのタンジェンシャル方向の記
録密度は向上できるが、ラジアル方向の記録密度の向上
は困難であるという問題がある。上記従来例２では、ト
ラックピッチが1.2μmであり、半径方向に対する記録密
度は従来と変わらない。
【０００９】（従来例４の問題点）従来例４の場合、図
１に示すように、ウォブルピット１０が記録層と同一平
面にある。この場合のサーボ信号を考える。ウォブルピ
ット１０は大きいが、近接場光によってスポット１１は
小さく絞られているため、スポット１１はウォブルピッ
ト１０の一部にしか当たらない。図１のように、トラッ
ク１２に対してスポット位置がずれている状態でスポッ
ト１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出信号は
図２に示すようになる。すなわち、検出信号PaとPbのピ
ーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。
パルスのピーク値を同じ値にするようにトラック制御を
かける場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッ
キング信号が得られない。また、信号全体の光量が小さ
く、ウォブルピット１０とそうでない部分を掃引する光
量の差が殆どないので、信号の差に対してノイズが大き
く、従ってトラッキング誤差が大きく、トラッキングサ
ーボに十分な信号が得られないという問題がある。
１に示すように、ウォブルピット１０が記録層と同一平
面にある。この場合のサーボ信号を考える。ウォブルピ
ット１０は大きいが、近接場光によってスポット１１は
小さく絞られているため、スポット１１はウォブルピッ
ト１０の一部にしか当たらない。図１のように、トラッ
ク１２に対してスポット位置がずれている状態でスポッ
ト１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出信号は
図２に示すようになる。すなわち、検出信号PaとPbのピ
ーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。
パルスのピーク値を同じ値にするようにトラック制御を
かける場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッ
キング信号が得られない。また、信号全体の光量が小さ
く、ウォブルピット１０とそうでない部分を掃引する光
量の差が殆どないので、信号の差に対してノイズが大き
く、従ってトラッキング誤差が大きく、トラッキングサ
ーボに十分な信号が得られないという問題がある。
【００１０】そこで、本発明の目的は、これら従来の課
題を解決し、光の近接場効果を用いて高密度に光記録可
能であり、かつ安定にデータを記録再生することが可能
な光記録再生装置を提供することである。
題を解決し、光の近接場効果を用いて高密度に光記録可
能であり、かつ安定にデータを記録再生することが可能
な光記録再生装置を提供することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の光記録再生装置は、光ディスク基板上に
記録層を設け、光学的に記録、再生を行う光ディスクに
おいて、ディスクのアドレス情報を示す記録が、データ
記録層に対して異なる層上に形成されている。また、
光ディスク基板上に、記録層、保護層を設け、この光デ
ィスクに近接するヘッド、スライダあるいはプローブの
先端の微少開口により光を発生させ記録、または再生を
行う光ディスクにおいて、各トラック上にサーボ領域を
離散的に設け、このサーボ領域を記録層に対して異なる
層上に設け、サーボ領域に一対のピットを設け、この一
対のピットをトラックセンタに対してディスク径方向に
互いに逆向きに等間隔だけずらして形成し、その一対の
ピットがトラック毎に形成され、各対のピットが互いに
重ならないように形成される。また、上記におい
て、記録層にGe2Sb2Te5薄膜を用いる。また、上記
において、記録層にAgInSbTe薄膜を用いる。
め、本発明の光記録再生装置は、光ディスク基板上に
記録層を設け、光学的に記録、再生を行う光ディスクに
おいて、ディスクのアドレス情報を示す記録が、データ
記録層に対して異なる層上に形成されている。また、
光ディスク基板上に、記録層、保護層を設け、この光デ
ィスクに近接するヘッド、スライダあるいはプローブの
先端の微少開口により光を発生させ記録、または再生を
行う光ディスクにおいて、各トラック上にサーボ領域を
離散的に設け、このサーボ領域を記録層に対して異なる
層上に設け、サーボ領域に一対のピットを設け、この一
対のピットをトラックセンタに対してディスク径方向に
互いに逆向きに等間隔だけずらして形成し、その一対の
ピットがトラック毎に形成され、各対のピットが互いに
重ならないように形成される。また、上記におい
て、記録層にGe2Sb2Te5薄膜を用いる。また、上記
において、記録層にAgInSbTe薄膜を用いる。
【００１２】また、上記において、そのピット対と
隣接トラックのピット対の光ディスクの円周方向の間隔
が、光ディスクの半径方向のピット間隔に等しい。ま
た、上記において、一定トラック毎にグルーブ領域
を設け、ランド部分に上記サンプルサーボ領域を設け
る。また、光ディスク基板上に、記録層、保護層、非
線形光学材料層を設け、非線形光学材料層をマスクにし
て光を発生させ記録、再生を行う光ディスクにおいて、
各トラック上にサーボ領域を離散的に設け、そのサーボ
領域を記録層に対して異なる層上に設け、サーボ領域に
一対のピットを設け、このピットをトラックセンタに対
してディスク径方向に互いに逆向きに等間隔だけずらし
て形成し、その一対のピットがトラック毎に形成され、
各対のピットが互いに重ならないように形成される。
隣接トラックのピット対の光ディスクの円周方向の間隔
が、光ディスクの半径方向のピット間隔に等しい。ま
た、上記において、一定トラック毎にグルーブ領域
を設け、ランド部分に上記サンプルサーボ領域を設け
る。また、光ディスク基板上に、記録層、保護層、非
線形光学材料層を設け、非線形光学材料層をマスクにし
て光を発生させ記録、再生を行う光ディスクにおいて、
各トラック上にサーボ領域を離散的に設け、そのサーボ
領域を記録層に対して異なる層上に設け、サーボ領域に
一対のピットを設け、このピットをトラックセンタに対
してディスク径方向に互いに逆向きに等間隔だけずらし
て形成し、その一対のピットがトラック毎に形成され、
各対のピットが互いに重ならないように形成される。
【００１３】また、光ディスク基板上に、記録層、保
護層、非線形光学材料層を設け、非線形光学材料層をマ
スクにして近接場光を発生させ記録、再生を行う光ディ
スクにおいて、各トラック上にサーボ領域を離散的に設
け、そのサーボ領域には非線形光学材料層を設けず、サ
ーボ領域に一対のピットを設け、このピットをトラック
センタに対してディスク径方向に互いに逆向きに等間隔
だけずらして形成し、その一対のピットがトラック毎に
形成され，各対のピットが互いに重ならないように形成
される。また、上記またはにおいて、記録層にGe
2Sb2Te5薄膜を用いる。また、(10)上記またはにお
いて、記録層にAgInSbTe薄膜を用いる。また、(11)上記
またはにおいて、そのピット対と隣接トラックのピ
ット対の光ディスクの円周方向の間隔が，光ディスクの
半径方向のピット間隔に等しい。また、(12)上記また
はにおいて、一定トラック毎にグルーブ領域を設け、
ランド部分に上記サンプルサーボ領域を設ける。
護層、非線形光学材料層を設け、非線形光学材料層をマ
スクにして近接場光を発生させ記録、再生を行う光ディ
スクにおいて、各トラック上にサーボ領域を離散的に設
け、そのサーボ領域には非線形光学材料層を設けず、サ
ーボ領域に一対のピットを設け、このピットをトラック
センタに対してディスク径方向に互いに逆向きに等間隔
だけずらして形成し、その一対のピットがトラック毎に
形成され，各対のピットが互いに重ならないように形成
される。また、上記またはにおいて、記録層にGe
2Sb2Te5薄膜を用いる。また、(10)上記またはにお
いて、記録層にAgInSbTe薄膜を用いる。また、(11)上記
またはにおいて、そのピット対と隣接トラックのピ
ット対の光ディスクの円周方向の間隔が，光ディスクの
半径方向のピット間隔に等しい。また、(12)上記また
はにおいて、一定トラック毎にグルーブ領域を設け、
ランド部分に上記サンプルサーボ領域を設ける。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を、図面に
より詳細に説明する。 （第１の実施例（請求項１に対応））図３は、本発明の
第１の実施例を示す光記録再生装置の光学的説明図であ
る。図３に示すように、光記録媒体としてポリカーボネ
イトなどからなる光ディスク基板２０上に記録層２２，
２３を設け、近接場プローブ２７、あるいは近接場スラ
イダヘッド、従来からの光ヘッドなどを用いて光を発生
させ、記録、再生を行う。上記第１実施例では、ポリカ
ーボネイト光ディスク基板２０にSiN保護層２１、記録
層２２，２３を積層して蒸着した。例えば、それぞれの
膜厚は記録層上下にあるSiN保護層２１を20nm、データ
記録層２３を15nm、アドレス情報記録層２２を15nmにそ
れぞれ積層した。記録時には、本実施例の場合、記録層
側から近接場プローブ２７などにより近接場光２６が入
射される。データ記録層２３には、光の回折限界よりも
小さい記録マークを形成することができる。また、アド
レス情報記録層２２には、伝搬光２５により回折限界以
上の記録マークを形成することができる。光ディスクに
は、あらかじめトラックを作ってあってもよい。アドレ
ス情報記録層２２に記録されているアドレス情報は、絶
対アドレス、相対アドレス、トラックがある場合は、ト
ラックサーボ信号を発生するためのサンプルサーボ情報
など、データ以外のメディア内での位置に関する情報が
含まれている。アドレス情報の書かれている領域の直上
のデータ記録領域には、データが記録されていてもよい
が、データを記録させなくてもよい。
より詳細に説明する。 （第１の実施例（請求項１に対応））図３は、本発明の
第１の実施例を示す光記録再生装置の光学的説明図であ
る。図３に示すように、光記録媒体としてポリカーボネ
イトなどからなる光ディスク基板２０上に記録層２２，
２３を設け、近接場プローブ２７、あるいは近接場スラ
イダヘッド、従来からの光ヘッドなどを用いて光を発生
させ、記録、再生を行う。上記第１実施例では、ポリカ
ーボネイト光ディスク基板２０にSiN保護層２１、記録
層２２，２３を積層して蒸着した。例えば、それぞれの
膜厚は記録層上下にあるSiN保護層２１を20nm、データ
記録層２３を15nm、アドレス情報記録層２２を15nmにそ
れぞれ積層した。記録時には、本実施例の場合、記録層
側から近接場プローブ２７などにより近接場光２６が入
射される。データ記録層２３には、光の回折限界よりも
小さい記録マークを形成することができる。また、アド
レス情報記録層２２には、伝搬光２５により回折限界以
上の記録マークを形成することができる。光ディスクに
は、あらかじめトラックを作ってあってもよい。アドレ
ス情報記録層２２に記録されているアドレス情報は、絶
対アドレス、相対アドレス、トラックがある場合は、ト
ラックサーボ信号を発生するためのサンプルサーボ情報
など、データ以外のメディア内での位置に関する情報が
含まれている。アドレス情報の書かれている領域の直上
のデータ記録領域には、データが記録されていてもよい
が、データを記録させなくてもよい。
【００１５】サンプルサーボ方式では、例えば図４に示
すように、光ディスクのサーボ領域１３は、トラックセ
ンタ１５，１５′に対してディスク径方向に互いに逆向
きに等間隔（例えば1／４トラックピッチ）だけずらし
て、各トラックに形成された一対のウォブルピット１
０，１０′によって構成されている。また、図５におい
て、上記ウォブルピット１０からの反射光検出信号は、
例えば図６に示すようなグラフで得られ、上記ピット１
０に基づく反射光検出信号のパルスのピーク値をＰａ及
びＰｂとすると、トラッキングエラー信号はそれぞれの
差分Ｐａ−Ｐｂで表される。図５に示すように、光のス
ポット１１がトラック１２上を掃引しているとき、反射
光検出信号のパルスのピーク値Ｐａ及びＰｂは図６のよ
うに等しくなり、Ｐa，Ｐbの差は０である。
すように、光ディスクのサーボ領域１３は、トラックセ
ンタ１５，１５′に対してディスク径方向に互いに逆向
きに等間隔（例えば1／４トラックピッチ）だけずらし
て、各トラックに形成された一対のウォブルピット１
０，１０′によって構成されている。また、図５におい
て、上記ウォブルピット１０からの反射光検出信号は、
例えば図６に示すようなグラフで得られ、上記ピット１
０に基づく反射光検出信号のパルスのピーク値をＰａ及
びＰｂとすると、トラッキングエラー信号はそれぞれの
差分Ｐａ−Ｐｂで表される。図５に示すように、光のス
ポット１１がトラック１２上を掃引しているとき、反射
光検出信号のパルスのピーク値Ｐａ及びＰｂは図６のよ
うに等しくなり、Ｐa，Ｐbの差は０である。
【００１６】本実施例では、このウォブルピット１０
を、図７に示すようにトラック毎にずらして形成するこ
とにより、トラックピッチ１４′を図４のような通常の
トラックピッチ１４よりも狭くすることができる。例え
ば、ウォブルピット１０の直径を0.8μｍとすると、従
来はトラックピッチ１４が最小で1．6μｍであったが、
本実施例を適用することで、図７に示す構成で形成可能
なピット長（例えば90ｎｍ）に応じたトラックピッチ１
４′（例えば180ｎｍ）を実現することができる。本発
明では、一対のピット（ウォブルピット１０）と隣接ト
ラックの一対のピット（ウォブルピット１０′）との光
ディスクの円周方向の間隔が、光ディスクの半径方向の
ピット間隔に等しい。また、図示されていないが、ウォ
ブルピット対１０があるトラッキング領域とは別に、ク
ロックピット領域が設けられ、このクロックピットは各
々のトラック中心に配置され、クロックピットからデー
タの読み書きと上記ウォブルピット１０からの反射光検
出信号の検出のために必要なクロック信号を、それぞれ
検出することができる。トラックピッチは、記録マーク
の大きさに応じて変更することが可能である。また、各
トラック間のウォブルピット１０の位置は２つのピット
の間隔と同じだけ円周方向にずらして形成することで、
隣接トラック間のトラックエラー信号のクロストークを
防ぐことができる。
を、図７に示すようにトラック毎にずらして形成するこ
とにより、トラックピッチ１４′を図４のような通常の
トラックピッチ１４よりも狭くすることができる。例え
ば、ウォブルピット１０の直径を0.8μｍとすると、従
来はトラックピッチ１４が最小で1．6μｍであったが、
本実施例を適用することで、図７に示す構成で形成可能
なピット長（例えば90ｎｍ）に応じたトラックピッチ１
４′（例えば180ｎｍ）を実現することができる。本発
明では、一対のピット（ウォブルピット１０）と隣接ト
ラックの一対のピット（ウォブルピット１０′）との光
ディスクの円周方向の間隔が、光ディスクの半径方向の
ピット間隔に等しい。また、図示されていないが、ウォ
ブルピット対１０があるトラッキング領域とは別に、ク
ロックピット領域が設けられ、このクロックピットは各
々のトラック中心に配置され、クロックピットからデー
タの読み書きと上記ウォブルピット１０からの反射光検
出信号の検出のために必要なクロック信号を、それぞれ
検出することができる。トラックピッチは、記録マーク
の大きさに応じて変更することが可能である。また、各
トラック間のウォブルピット１０の位置は２つのピット
の間隔と同じだけ円周方向にずらして形成することで、
隣接トラック間のトラックエラー信号のクロストークを
防ぐことができる。
【００１７】第１の実施例（請求項１）の光記録再生装
置に用いる光記録媒体は、そのサーボ領域（ウォブルピ
ット１０の領域）を記録層２３に対して異なる層２２上
に設けている。すなわち、図３に示すように、データ記
録層２３とアドレス情報記録層２２を重ねている。この
ような記録媒体に近接場光２６を照射すると、記録面表
面で近接場光２６による最小スポットが得られていたの
で、その下方の面のウォブルピットには発散する伝搬光
２５が照射される。この伝搬光２５は光のスポット径よ
り大きく、図３に示すように、ウォブルピット全体を照
射できる径になっている。一方、図９、図１０に示すよ
うに、ウォブルピット１０が記録層と同一平面にない場
合、あるいは図１１に示すように、サーボ領域に非線形
光学材料層３２がない場合、スポット１１ａの直径は図
１２に示すように大きくなり，スポット１１ａが各ウォ
ブルピット１０ａと重なる面積が増えるため、反射光検
出信号は図１３に示すように両方の信号の差が顕著とな
る。従って、ＰaとＰbの検出信号のピーク値に差が現
れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に正しく検
出できる。以上のように、ウォブルピット１０が記録層
と同一平面になければよいので、図９に示すようにサー
ボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示すようにサー
ボ領域（記録層２３）を記録層２８の上層に設けること
でも、同様の効果が得られる。
置に用いる光記録媒体は、そのサーボ領域（ウォブルピ
ット１０の領域）を記録層２３に対して異なる層２２上
に設けている。すなわち、図３に示すように、データ記
録層２３とアドレス情報記録層２２を重ねている。この
ような記録媒体に近接場光２６を照射すると、記録面表
面で近接場光２６による最小スポットが得られていたの
で、その下方の面のウォブルピットには発散する伝搬光
２５が照射される。この伝搬光２５は光のスポット径よ
り大きく、図３に示すように、ウォブルピット全体を照
射できる径になっている。一方、図９、図１０に示すよ
うに、ウォブルピット１０が記録層と同一平面にない場
合、あるいは図１１に示すように、サーボ領域に非線形
光学材料層３２がない場合、スポット１１ａの直径は図
１２に示すように大きくなり，スポット１１ａが各ウォ
ブルピット１０ａと重なる面積が増えるため、反射光検
出信号は図１３に示すように両方の信号の差が顕著とな
る。従って、ＰaとＰbの検出信号のピーク値に差が現
れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に正しく検
出できる。以上のように、ウォブルピット１０が記録層
と同一平面になければよいので、図９に示すようにサー
ボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示すようにサー
ボ領域（記録層２３）を記録層２８の上層に設けること
でも、同様の効果が得られる。
【００１８】（第２の実施例（請求項２に対応））図１
４は、本発明の第２の実施例を示す光記録再生装置の光
学的説明図である。第２の実施例では、図１４に示すよ
うに、光記録媒体としてポリカーボネイトなどからなる
光ディスク基板２０上に、記録層２３、保護層２１，２
４を設け、近接場プローブ２７、あるいは近接場スライ
ダヘッドを用いて近接場光２６を発生させ記録、再生を
行う。本実施例では、ポリカーボネイト光ディスク基板
２０にSiN保護層２１，２４、記録層２３を積層して蒸
着した。例えば、それぞれの膜厚は記録層上下にあるSi
N保護層２１，２４を20nm、記録層２３を15nm積層し
た。記録時には、記録層２３側から近接場プローブ２７
などにより近接場光２６あるいは通常の伝搬光が入射さ
れる。光の回折限界よりも微小な記録マークを形成する
ことができる。サンプルサーボ方式では、例えば図４に
示すように、光ディスクのサーボ領域１３は、トラック
センタ１５に対してディスク径方向の互いに逆向きに等
間隔（例えば1／4トラックピッチ）だけ各トラックに形
成された一対のウォブルピット１０によって構成されて
いる。
４は、本発明の第２の実施例を示す光記録再生装置の光
学的説明図である。第２の実施例では、図１４に示すよ
うに、光記録媒体としてポリカーボネイトなどからなる
光ディスク基板２０上に、記録層２３、保護層２１，２
４を設け、近接場プローブ２７、あるいは近接場スライ
ダヘッドを用いて近接場光２６を発生させ記録、再生を
行う。本実施例では、ポリカーボネイト光ディスク基板
２０にSiN保護層２１，２４、記録層２３を積層して蒸
着した。例えば、それぞれの膜厚は記録層上下にあるSi
N保護層２１，２４を20nm、記録層２３を15nm積層し
た。記録時には、記録層２３側から近接場プローブ２７
などにより近接場光２６あるいは通常の伝搬光が入射さ
れる。光の回折限界よりも微小な記録マークを形成する
ことができる。サンプルサーボ方式では、例えば図４に
示すように、光ディスクのサーボ領域１３は、トラック
センタ１５に対してディスク径方向の互いに逆向きに等
間隔（例えば1／4トラックピッチ）だけ各トラックに形
成された一対のウォブルピット１０によって構成されて
いる。
【００１９】また、図５において、上記ウォブルピット
１０からの反射光検出信号は、例えば図６のようなグラ
フで得られ、上記ピット１０に基づく反射光検出信号の
パルスのピーク値をＰａ及びＰｂとすると、トラッキン
グエラー信号はそれぞれの差分Ｐａ−Ｐｂで表される。
図５に示すように、光のスポット１１がトラック１２上
を掃引しているとき、反射光検出信号のパルスのピーク
値Ｐａ及びＰｂは図６に示すように等しくなり、Ｐa,Ｐ
bの差は０である。本実施例では、このウォブルピット
１０を図７(ａ)に示すようにトラック毎にずらして形成
することにより、トラックピッチ１４′を図４のような
通常のトラックピッチ１４よりも短くすることができ
る。例えば、ウォブルピット１０の直径を0．8μｍとす
ると、従来はトラックピッチが最小で1．6μｍであった
が、本実施例を適用することで図７（ａ）の構成で形成
可能なピット長（例えば90ｎｍ）に応じたトラックピッ
チ（例えば180ｎｍ）を実現することができる。
１０からの反射光検出信号は、例えば図６のようなグラ
フで得られ、上記ピット１０に基づく反射光検出信号の
パルスのピーク値をＰａ及びＰｂとすると、トラッキン
グエラー信号はそれぞれの差分Ｐａ−Ｐｂで表される。
図５に示すように、光のスポット１１がトラック１２上
を掃引しているとき、反射光検出信号のパルスのピーク
値Ｐａ及びＰｂは図６に示すように等しくなり、Ｐa,Ｐ
bの差は０である。本実施例では、このウォブルピット
１０を図７(ａ)に示すようにトラック毎にずらして形成
することにより、トラックピッチ１４′を図４のような
通常のトラックピッチ１４よりも短くすることができ
る。例えば、ウォブルピット１０の直径を0．8μｍとす
ると、従来はトラックピッチが最小で1．6μｍであった
が、本実施例を適用することで図７（ａ）の構成で形成
可能なピット長（例えば90ｎｍ）に応じたトラックピッ
チ（例えば180ｎｍ）を実現することができる。
【００２０】また、図７（ｂ）に示すように、ウォブル
ピット対１０があるトラッキング領域とは別に、クロッ
クピット領域１０″が設けられ、このクロックピット１
０″は各々のトラック中心１５，１５″に配置され、ク
ロックピット１０″からデータの読み書きと上記ウォブ
ルピット１０からの反射光検出信号の検出ために必要な
クロック信号を、それぞれ検出することができる。この
トラックピッチ１４″は記録マークの大きさに応じて変
更することが可能である。また、各トラック間のウォブ
ルピット１０の位置は２つのピットの間隔と同じだけ円
周方向にずらして形成することで、隣接トラック間のト
ラックエラー信号のクロストークを防ぐことができる。
第２の実施例（請求項２）の光記録再生装置に用いる光
記録媒体は、そのサーボ領域を記録層に対して異なる層
上に設けてもよい。すなわち、図９に示すように、例え
ばサーボ領域を記録面に対して凹まし、下層に設けても
よい。あるいは図３に示すように、データ記録層２３と
アドレス情報記録層２２を重ねている。このような記録
媒体に近接場光２６を照射すると、記録面表面で近接場
光２６による最小スポットが得られていたので、その下
方の面のウォブルピット１０には発散する伝搬光２５が
照射される。この伝搬光２５は近接場光２６のスポット
径より大きく、図３に示すように、ウォブルピット１０
全体を照射できる径になっている。
ピット対１０があるトラッキング領域とは別に、クロッ
クピット領域１０″が設けられ、このクロックピット１
０″は各々のトラック中心１５，１５″に配置され、ク
ロックピット１０″からデータの読み書きと上記ウォブ
ルピット１０からの反射光検出信号の検出ために必要な
クロック信号を、それぞれ検出することができる。この
トラックピッチ１４″は記録マークの大きさに応じて変
更することが可能である。また、各トラック間のウォブ
ルピット１０の位置は２つのピットの間隔と同じだけ円
周方向にずらして形成することで、隣接トラック間のト
ラックエラー信号のクロストークを防ぐことができる。
第２の実施例（請求項２）の光記録再生装置に用いる光
記録媒体は、そのサーボ領域を記録層に対して異なる層
上に設けてもよい。すなわち、図９に示すように、例え
ばサーボ領域を記録面に対して凹まし、下層に設けても
よい。あるいは図３に示すように、データ記録層２３と
アドレス情報記録層２２を重ねている。このような記録
媒体に近接場光２６を照射すると、記録面表面で近接場
光２６による最小スポットが得られていたので、その下
方の面のウォブルピット１０には発散する伝搬光２５が
照射される。この伝搬光２５は近接場光２６のスポット
径より大きく、図３に示すように、ウォブルピット１０
全体を照射できる径になっている。
【００２１】まず、図１を用いてウォブルピット１０が
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ットは小さく絞られているため、図１に示すようにトラ
ック１２に対してスポット位置がずれている状態でスポ
ット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出信号
は図２に示すようになる。すなわちＰaとＰbのピーク値
は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。パルス
のピーク値を同じ値にするようにトラック制御をかける
場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッキング
信号が得られない。一方、図９、図１０に示すようにウ
ォブルピット１０が記録層と同一平面にない場合、ある
いは図１１に示すようにサーボ領域に非線形光学材料層
３２がない場合、スポット１１ａの直径は図１２に示す
ように大きくなり、反射光検出信号は図１３に示すよう
になる。従って、ＰaとＰbの検出信号のピーク値に差が
現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に検出で
きる。以上のように、ウォブルピット１０が記録層と同
一平面になければよいので、図９のようにサーボ領域を
凹ますだけではなく、図１０に示すようにサーボ領域を
記録層の上層に設けることでも同様の効果が得られる。
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ットは小さく絞られているため、図１に示すようにトラ
ック１２に対してスポット位置がずれている状態でスポ
ット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出信号
は図２に示すようになる。すなわちＰaとＰbのピーク値
は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。パルス
のピーク値を同じ値にするようにトラック制御をかける
場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッキング
信号が得られない。一方、図９、図１０に示すようにウ
ォブルピット１０が記録層と同一平面にない場合、ある
いは図１１に示すようにサーボ領域に非線形光学材料層
３２がない場合、スポット１１ａの直径は図１２に示す
ように大きくなり、反射光検出信号は図１３に示すよう
になる。従って、ＰaとＰbの検出信号のピーク値に差が
現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に検出で
きる。以上のように、ウォブルピット１０が記録層と同
一平面になければよいので、図９のようにサーボ領域を
凹ますだけではなく、図１０に示すようにサーボ領域を
記録層の上層に設けることでも同様の効果が得られる。
【００２２】（第３の実施例（請求項３に対応）図１５
は、本発明の第３の実施例を示す光記録再生装置の光学
的説明図である。第３の実施例（請求項３）の光記録再
生装置では、図１５に示すように、第２の実施例におけ
る光記録媒体の記録層にGe2Sb2Te5を用いることが特徴
である。本実施例の光記録再生装置に用いる光記録媒体
は、そのサーボ領域を記録層に対して異なる層上に設け
てもよい。すなわち、図９に示すように、例えばサーボ
領域を記録面に対して凹まし、下層に設ける方法であ
る。あるいは、図３に示すように、データ記録層２３と
アドレス情報記録層２２を重ねても勿論よい。このよう
な記録媒体に近接場光２６を照射すると、記録面表面で
近接場光２６による最小スポットが得られていたので、
その下方の面のウォブルピット１０には発散する伝搬光
２５が照射される。この伝搬光２５は近接場光２６のス
ポット径より大きく、図３に示すように、ウォブルピッ
ト全体を照射できる径になっている。
は、本発明の第３の実施例を示す光記録再生装置の光学
的説明図である。第３の実施例（請求項３）の光記録再
生装置では、図１５に示すように、第２の実施例におけ
る光記録媒体の記録層にGe2Sb2Te5を用いることが特徴
である。本実施例の光記録再生装置に用いる光記録媒体
は、そのサーボ領域を記録層に対して異なる層上に設け
てもよい。すなわち、図９に示すように、例えばサーボ
領域を記録面に対して凹まし、下層に設ける方法であ
る。あるいは、図３に示すように、データ記録層２３と
アドレス情報記録層２２を重ねても勿論よい。このよう
な記録媒体に近接場光２６を照射すると、記録面表面で
近接場光２６による最小スポットが得られていたので、
その下方の面のウォブルピット１０には発散する伝搬光
２５が照射される。この伝搬光２５は近接場光２６のス
ポット径より大きく、図３に示すように、ウォブルピッ
ト全体を照射できる径になっている。
【００２３】まず、図１を用いてウォブルピット１０が
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ット１１は小さく絞られているため、図１に示すように
トラック１２に対してスポット位置がずれている状態で
スポット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出
信号は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピ
ーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。
パルスのピーク値を同じ値にするようにトラック制御を
かける場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッ
キング信号が得られない。ところが、図９、図１０に示
すようにウォブルピット１０が記録層と同一平面にない
場合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域に非線形
光学材料層３２がない場合、スポット１１ａの直径は図
１２に示すように大きくなり、反射光検出信号は図１３
に示すようになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピ
ーク値に差が現れ、スポット１１ａの中心とトラック１
２のずれを高感度に検出できる。以上のように、ウォブ
ルピット１０が記録層と同一平面になければよいので、
図９に示すようにサーボ領域を凹ますだけではなく、図
１０に示すようにサーボ領域を記録層の上層に設けるこ
とでも同様の効果が得られる。
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ット１１は小さく絞られているため、図１に示すように
トラック１２に対してスポット位置がずれている状態で
スポット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出
信号は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピ
ーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。
パルスのピーク値を同じ値にするようにトラック制御を
かける場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッ
キング信号が得られない。ところが、図９、図１０に示
すようにウォブルピット１０が記録層と同一平面にない
場合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域に非線形
光学材料層３２がない場合、スポット１１ａの直径は図
１２に示すように大きくなり、反射光検出信号は図１３
に示すようになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピ
ーク値に差が現れ、スポット１１ａの中心とトラック１
２のずれを高感度に検出できる。以上のように、ウォブ
ルピット１０が記録層と同一平面になければよいので、
図９に示すようにサーボ領域を凹ますだけではなく、図
１０に示すようにサーボ領域を記録層の上層に設けるこ
とでも同様の効果が得られる。
【００２４】（第４の実施例（請求項４に対応）図１６
は、本発明の第４の実施例を示す光記録再生装置の光学
的説明図である。本実施例における光記録再生装置で
は、図１６に示すように、第３の実施例（図１５）の光
記録媒体の記録層にGe2Sb2Te5層３５ではなく、AgInSbT
e層３６を用いている。この場合には、例えばディスク
の層構成はZnS-SiO2保護層２１，２４が記録層上下に10
nm、記録層としてAgInSbTe３６が15nm、ポリカーボネト
基板２０という構成になる。記録層としては上記２つの
例以外にも、通常知られている光記録材料を用いること
が可能である。本実施例の光記録再生装置に用いる光記
録媒体は、そのサーボ領域を記録層に対して異なる層上
に設けることができる。すなわち、図９に示すように、
例えばサーボ領域を記録面に対して凹まし、下層に設け
ている。あるいは図３のように、データ記録層２３とア
ドレス情報記録層２２を重ねている。このような記録媒
体に近接場光２６を照射すると、記録面表面で近接場光
２６による最小スポットが得られていたので、その下方
の面のウォブルピット１０には発散する伝搬光２５が照
射される。この伝搬光２５は近接場光２６のスポット径
より大きく、図３に示すように、ウォブルピット全体を
照射できる径になっている。
は、本発明の第４の実施例を示す光記録再生装置の光学
的説明図である。本実施例における光記録再生装置で
は、図１６に示すように、第３の実施例（図１５）の光
記録媒体の記録層にGe2Sb2Te5層３５ではなく、AgInSbT
e層３６を用いている。この場合には、例えばディスク
の層構成はZnS-SiO2保護層２１，２４が記録層上下に10
nm、記録層としてAgInSbTe３６が15nm、ポリカーボネト
基板２０という構成になる。記録層としては上記２つの
例以外にも、通常知られている光記録材料を用いること
が可能である。本実施例の光記録再生装置に用いる光記
録媒体は、そのサーボ領域を記録層に対して異なる層上
に設けることができる。すなわち、図９に示すように、
例えばサーボ領域を記録面に対して凹まし、下層に設け
ている。あるいは図３のように、データ記録層２３とア
ドレス情報記録層２２を重ねている。このような記録媒
体に近接場光２６を照射すると、記録面表面で近接場光
２６による最小スポットが得られていたので、その下方
の面のウォブルピット１０には発散する伝搬光２５が照
射される。この伝搬光２５は近接場光２６のスポット径
より大きく、図３に示すように、ウォブルピット全体を
照射できる径になっている。
【００２５】まず、図１を用いてウォブルピット１０が
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ット１１は小さく絞られているため、図１に示すように
トラック１２に対してスポット１１の位置がずれている
状態でスポット１１がトラック１２を掃引すると、反射
光検出信号は図２に示すようになる。すなわち、Ｐaと
Ｐbのピーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得
られる。パルスのピーク値を同じ値にするようにトラッ
ク制御をかける場合、信号の差が明確でないため、正し
いトラッキング信号が得られない。ところが、図９、図
１０に示すようにウォブルピット１０が記録層と同一平
面にない場合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域
に非線形光学材料層３２がない場合、スポットの直径は
図１２に示すように大きくなり、反射光検出信号は図１
３に示すようになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号の
ピーク値に差が現れ、スポット中心とトラックのずれを
高感度に検出できる。以上のように、ウォブルピット１
０が記録層と同一平面になければよいので、図９に示す
ようにサーボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示す
ようにサーボ領域を記録層の上層に設けることでも同様
の効果が得られる。
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ット１１は小さく絞られているため、図１に示すように
トラック１２に対してスポット１１の位置がずれている
状態でスポット１１がトラック１２を掃引すると、反射
光検出信号は図２に示すようになる。すなわち、Ｐaと
Ｐbのピーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得
られる。パルスのピーク値を同じ値にするようにトラッ
ク制御をかける場合、信号の差が明確でないため、正し
いトラッキング信号が得られない。ところが、図９、図
１０に示すようにウォブルピット１０が記録層と同一平
面にない場合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域
に非線形光学材料層３２がない場合、スポットの直径は
図１２に示すように大きくなり、反射光検出信号は図１
３に示すようになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号の
ピーク値に差が現れ、スポット中心とトラックのずれを
高感度に検出できる。以上のように、ウォブルピット１
０が記録層と同一平面になければよいので、図９に示す
ようにサーボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示す
ようにサーボ領域を記録層の上層に設けることでも同様
の効果が得られる。
【００２６】（第５の実施例（請求項５に対応）図２２
は、本発明の第５の実施例を示す光記録再生装置の光学
的説明図である。本実施例における光記録再生装置は、
図２２に示すように、メディア上の該トラック１５のピ
ット対１０と隣接トラック１５″のピット対１０″の光
ディスクの円周方向の間隔が，光ディスクの半径方向の
ピット間隔に等しく形成されている。このようにピット
１０，１０″を配置すると、図７のピット配置に比べて
サーボ領域１３が狭くなり、記録領域が広がって、記録
容量が向上する。本実施例のようなピット１０，１０″
の配置をトラックの先頭から繰り返すと、図１８に示す
ように各トラックごとにピットが順次ずれていくので、
トラックが進むにつれてサーボ領域は初期のピットの位
置から徐々に遠ざかることとなる。そこで、本実施例に
おいては、図１７に示すように、適当なトラック数毎
（例えば、図１７では６トラック毎）に一連のウォブル
ピット１０Ａ，１０Ｂを形成し、隣接するトラック群の
一連のウォブルピット１０Ａ，１０Ｂの先頭のピット１
０ａ，１０ｂの位置を一致させる。トラック位置を大ま
かに検出する時には、該トラック群１０Ａ，１０Ｂの一
部の（例えば先頭の）ウォブルピット１０ａ，１０ｂの
位置のみを順次検出すればいいので、ヘッドあるいはス
ライダをディスク半径方向に移動させるときの位置情報
を簡単かつ高速に検出することが可能である。
は、本発明の第５の実施例を示す光記録再生装置の光学
的説明図である。本実施例における光記録再生装置は、
図２２に示すように、メディア上の該トラック１５のピ
ット対１０と隣接トラック１５″のピット対１０″の光
ディスクの円周方向の間隔が，光ディスクの半径方向の
ピット間隔に等しく形成されている。このようにピット
１０，１０″を配置すると、図７のピット配置に比べて
サーボ領域１３が狭くなり、記録領域が広がって、記録
容量が向上する。本実施例のようなピット１０，１０″
の配置をトラックの先頭から繰り返すと、図１８に示す
ように各トラックごとにピットが順次ずれていくので、
トラックが進むにつれてサーボ領域は初期のピットの位
置から徐々に遠ざかることとなる。そこで、本実施例に
おいては、図１７に示すように、適当なトラック数毎
（例えば、図１７では６トラック毎）に一連のウォブル
ピット１０Ａ，１０Ｂを形成し、隣接するトラック群の
一連のウォブルピット１０Ａ，１０Ｂの先頭のピット１
０ａ，１０ｂの位置を一致させる。トラック位置を大ま
かに検出する時には、該トラック群１０Ａ，１０Ｂの一
部の（例えば先頭の）ウォブルピット１０ａ，１０ｂの
位置のみを順次検出すればいいので、ヘッドあるいはス
ライダをディスク半径方向に移動させるときの位置情報
を簡単かつ高速に検出することが可能である。
【００２７】本実施例における光記録再生装置に用いる
光記録媒体は、そのサーボ領域を記録層に対して異なる
層上に設けている。すなわち、図９に示すように、例え
ばサーボ領域を記録面に対して凹まし、下層に設けてい
る。あるいは、図３に示すように、データ記録層２３と
アドレス情報記録層２２を重ねている。このような記録
媒体に近接場光２６を照射すると、記録面表面で近接場
光２６による最小スポットが得られていたので、その下
方の面のウォブルピット１０には発散する伝搬光２５が
照射される。この伝搬光２５は近接場光２６のスポット
径より大きく、図３に示すように、ウォブルピット全体
を照射できる径になっている。
光記録媒体は、そのサーボ領域を記録層に対して異なる
層上に設けている。すなわち、図９に示すように、例え
ばサーボ領域を記録面に対して凹まし、下層に設けてい
る。あるいは、図３に示すように、データ記録層２３と
アドレス情報記録層２２を重ねている。このような記録
媒体に近接場光２６を照射すると、記録面表面で近接場
光２６による最小スポットが得られていたので、その下
方の面のウォブルピット１０には発散する伝搬光２５が
照射される。この伝搬光２５は近接場光２６のスポット
径より大きく、図３に示すように、ウォブルピット全体
を照射できる径になっている。
【００２８】まず、図１を用いてウォブルピット１０が
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ットは小さく絞られているため、図１に示すようにトラ
ック１２に対してスポット位置がずれている状態でスポ
ット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出信号
は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピーク
値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。パル
スのピーク値を同じ値にするようにトラック制御をかけ
る場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッキン
グ信号が得られない。ところが、図９、図１０に示すよ
うにウォブルピット１０が記録層と同一平面にない場
合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域に非線形光
学材料層３２がない場合、スポットの直径は図１２に示
すように大きくなり、反射光検出信号は図１３に示すよ
うになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク値に
差が現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に正
しく検出できる。以上のように、ウォブルピット１０が
記録層と同一平面になければよいので、図９に示すよう
にサーボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示すよう
にサーボ領域を記録層の上層に設けることでも同様の効
果が得られる。
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ットは小さく絞られているため、図１に示すようにトラ
ック１２に対してスポット位置がずれている状態でスポ
ット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出信号
は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピーク
値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。パル
スのピーク値を同じ値にするようにトラック制御をかけ
る場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッキン
グ信号が得られない。ところが、図９、図１０に示すよ
うにウォブルピット１０が記録層と同一平面にない場
合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域に非線形光
学材料層３２がない場合、スポットの直径は図１２に示
すように大きくなり、反射光検出信号は図１３に示すよ
うになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク値に
差が現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に正
しく検出できる。以上のように、ウォブルピット１０が
記録層と同一平面になければよいので、図９に示すよう
にサーボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示すよう
にサーボ領域を記録層の上層に設けることでも同様の効
果が得られる。
【００２９】（第６の実施例（請求項６に対応）図１９
は、本発明の第６の実施例を示す光記録再生装置の光学
的説明図である。本実施例における光記録再生装置は、
図１９に示すように、一定トラック毎にグルーブ領域４
０を設け、ランド部分に上記サンプルサーボ領域を設け
ている。この場合、グルーブ領域４０での回折光を２分
割フォトダイオードで検出し、各々の出力差によりトラ
ッキングエラー信号を得ることができる。この場合、上
記ウォブルピットのみの場合よりもよりトラッキング精
度が上がる。本実施例の光記録再生装置に用いる光記録
媒体は、そのサーボ領域を記録層に対して異なる層上に
設けている。すなわち、図９に示すように、例えばサー
ボ領域を記録面に対して凹まし、下層に設けている。あ
るいは、図３に示すように、データ記録層２３とアドレ
ス情報記録層２２を重ねている。このような記録媒体に
近接場光２６を照射すると、記録面表面で近接場光２６
による最小スポットが得られていたので、その下方の面
のウォブルピット１０には発散する伝搬光２５が照射さ
れる。この伝搬光２５は近接場光２６のスポット径より
大きく、図３に示すように、ウォブルピット全体を照射
できる径になっている。
は、本発明の第６の実施例を示す光記録再生装置の光学
的説明図である。本実施例における光記録再生装置は、
図１９に示すように、一定トラック毎にグルーブ領域４
０を設け、ランド部分に上記サンプルサーボ領域を設け
ている。この場合、グルーブ領域４０での回折光を２分
割フォトダイオードで検出し、各々の出力差によりトラ
ッキングエラー信号を得ることができる。この場合、上
記ウォブルピットのみの場合よりもよりトラッキング精
度が上がる。本実施例の光記録再生装置に用いる光記録
媒体は、そのサーボ領域を記録層に対して異なる層上に
設けている。すなわち、図９に示すように、例えばサー
ボ領域を記録面に対して凹まし、下層に設けている。あ
るいは、図３に示すように、データ記録層２３とアドレ
ス情報記録層２２を重ねている。このような記録媒体に
近接場光２６を照射すると、記録面表面で近接場光２６
による最小スポットが得られていたので、その下方の面
のウォブルピット１０には発散する伝搬光２５が照射さ
れる。この伝搬光２５は近接場光２６のスポット径より
大きく、図３に示すように、ウォブルピット全体を照射
できる径になっている。
【００３０】まず、図１を用いてウォブルピット１０が
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピットは大きいが、近接場光２６によりスポット
は小さく絞られているため、図１に示すようにトラック
１２に対してスポット位置がずれている状態でスポット
１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出信号は図
２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピーク値は
変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。パルスの
ピーク値を同じ値にするようにトラック制御をかける場
合、信号の差が明確でないため、正しいトラッキング信
号が得られない。ところが、図９、図１０に示すように
ウォブルピット１０が記録層と同一平面にない場合、あ
るいは図１１のようにサーボ領域に非線形光学材料層３
２がない場合、スポットの直径は図１２に示すように大
きくなり、反射光検出信号は図１３に示すようになる。
その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク値に差が現れ、
スポット中心とトラックのずれを高感度に検出できる。
以上のように、ウォブルピット１０が記録層と同一平面
になければよいので、図９に示すようにサーボ領域を凹
ますだけではなく、図１０に示すようにサーボ領域を記
録層の上層に設けることでも同様の効果が得られる。
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピットは大きいが、近接場光２６によりスポット
は小さく絞られているため、図１に示すようにトラック
１２に対してスポット位置がずれている状態でスポット
１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出信号は図
２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピーク値は
変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。パルスの
ピーク値を同じ値にするようにトラック制御をかける場
合、信号の差が明確でないため、正しいトラッキング信
号が得られない。ところが、図９、図１０に示すように
ウォブルピット１０が記録層と同一平面にない場合、あ
るいは図１１のようにサーボ領域に非線形光学材料層３
２がない場合、スポットの直径は図１２に示すように大
きくなり、反射光検出信号は図１３に示すようになる。
その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク値に差が現れ、
スポット中心とトラックのずれを高感度に検出できる。
以上のように、ウォブルピット１０が記録層と同一平面
になければよいので、図９に示すようにサーボ領域を凹
ますだけではなく、図１０に示すようにサーボ領域を記
録層の上層に設けることでも同様の効果が得られる。
【００３１】（第７の実施例（請求項７に対応）図８
は、本発明の第７の実施例を示す光記録再生装置の光学
的説明図である。本実施例における光記録再生装置で
は、図８に示すように、光記録媒体としてポリカーボネ
イトなどからなる光ディスク基板２０上に、記録層２
８、保護層２１，２４，２９、非線形光学材料層３２を
設けて、非線形光学材料層３２をマスクにして光を発生
させ記録、再生を行う。発生する光は、集光レンズ３１
を通して入射光３０を非線形光学材料層３２に集光した
近接場光２６、および通常の伝搬光等である。上記実施
例では、ポリカーボネイト光ディスク基板２０にSiN保
護層２１、記録層２８、Sbのマスク層３２を積層して蒸
着した。例えば、それぞれの膜厚は記録層２８の上下に
あるSiN保護層２４，２９が20nm、記録層２８が15nm、S
bのマスク層３２が15nm、Sb層とポリカーボネート基板
２０の間にSiN保護層２１を170nm積層した。記録時に
は、通常の光ディスク同様に基板２０側からSbマスク層
３２に焦点を結ぶように集光されたレーザービームが入
射される。このとき、入射レーザーパワーに応じた領域
のSbマスク層３２が透明になり、微小開口が形成され
る。このとき、この形成された微小開口から記録層２８
に近接場光２６が浸みだし、光の回折限界よりも微小な
記録マークを形成することができる。
は、本発明の第７の実施例を示す光記録再生装置の光学
的説明図である。本実施例における光記録再生装置で
は、図８に示すように、光記録媒体としてポリカーボネ
イトなどからなる光ディスク基板２０上に、記録層２
８、保護層２１，２４，２９、非線形光学材料層３２を
設けて、非線形光学材料層３２をマスクにして光を発生
させ記録、再生を行う。発生する光は、集光レンズ３１
を通して入射光３０を非線形光学材料層３２に集光した
近接場光２６、および通常の伝搬光等である。上記実施
例では、ポリカーボネイト光ディスク基板２０にSiN保
護層２１、記録層２８、Sbのマスク層３２を積層して蒸
着した。例えば、それぞれの膜厚は記録層２８の上下に
あるSiN保護層２４，２９が20nm、記録層２８が15nm、S
bのマスク層３２が15nm、Sb層とポリカーボネート基板
２０の間にSiN保護層２１を170nm積層した。記録時に
は、通常の光ディスク同様に基板２０側からSbマスク層
３２に焦点を結ぶように集光されたレーザービームが入
射される。このとき、入射レーザーパワーに応じた領域
のSbマスク層３２が透明になり、微小開口が形成され
る。このとき、この形成された微小開口から記録層２８
に近接場光２６が浸みだし、光の回折限界よりも微小な
記録マークを形成することができる。
【００３２】サンプルサーボ方式では、例えば図４に示
すように、光ディスクのサーボ領域１３は、トラックセ
ンタに対してディスク径方向の互いに逆向きに等間隔
（例えば１／４トラックピッチ）だけ各トラックに形成
された一対のウォブルピット１０，１０′によって構成
されている。また、図５において、上記ウォブルピット
１０からの反射光検出信号は、例えば図６に示すような
グラフで得られ、上記ピットに基づく反射光検出信号の
パルスのピーク値をＰａ及びＰｂとすると、トラッキン
グエラー信号はそれぞれの差分Ｐａ−Ｐｂで表される。
図５に示すように、光のスポット１１がトラック１２上
を掃引しているとき、反射光検出信号のパルスのピーク
値Ｐａ及びＰｂは図６に示すように等しくなり、Ｐa,Ｐ
bの差は０である。本実施例では、このウォブルピット
１０を図７に示すようにトラック毎にずらして形成する
ことにより、トラックピッチ１４′を図４に示すような
通常のトラックピッチ１４よりも短くすることができ
る。例えば、ウォブルピット１０の直径を0．8μｍとす
ると、従来はトラックピッチが最小で1．6μｍであった
が、本方法を適用することで、図７の構成で形成可能な
ピット長（例えば90ｎｍ）に応じたトラックピッチ（例
えば180ｎｍ）を実現することができる。
すように、光ディスクのサーボ領域１３は、トラックセ
ンタに対してディスク径方向の互いに逆向きに等間隔
（例えば１／４トラックピッチ）だけ各トラックに形成
された一対のウォブルピット１０，１０′によって構成
されている。また、図５において、上記ウォブルピット
１０からの反射光検出信号は、例えば図６に示すような
グラフで得られ、上記ピットに基づく反射光検出信号の
パルスのピーク値をＰａ及びＰｂとすると、トラッキン
グエラー信号はそれぞれの差分Ｐａ−Ｐｂで表される。
図５に示すように、光のスポット１１がトラック１２上
を掃引しているとき、反射光検出信号のパルスのピーク
値Ｐａ及びＰｂは図６に示すように等しくなり、Ｐa,Ｐ
bの差は０である。本実施例では、このウォブルピット
１０を図７に示すようにトラック毎にずらして形成する
ことにより、トラックピッチ１４′を図４に示すような
通常のトラックピッチ１４よりも短くすることができ
る。例えば、ウォブルピット１０の直径を0．8μｍとす
ると、従来はトラックピッチが最小で1．6μｍであった
が、本方法を適用することで、図７の構成で形成可能な
ピット長（例えば90ｎｍ）に応じたトラックピッチ（例
えば180ｎｍ）を実現することができる。
【００３３】また、図示していないが、ウォブルピット
対１０があるトラッキング領域とは別に、クロックピッ
ト領域が設けられ、このクロックピットは各々のトラッ
ク中心に配置され、クロックピットからデータの読み書
きと上記ウォブルピット１０からの反射光検出信号の検
出ために必要なクロック信号を、それぞれ検出すること
ができる。このトラックピッチは、記録マークの大きさ
に応じて変更することが可能である。また、各トラック
間のウォブルピット１０の位置は２つのピットの間隔と
同じだけ円周方向にずらして形成することで、隣接トラ
ック間のトラックエラー信号のクロストークを防ぐこと
ができる。一方、本実施例における光記録再生装置に用
いる光記録媒体も、同様に、そのサーボ領域を記録層に
対して異なる層上に設けている。すなわち、図１０に示
すように、例えばサーボ領域を記録面に対して凹まし、
下層に設けている。また、サーボ領域の非線形光学材料
層３２は取り除かれている。このような記録媒体にレン
ズで絞った光を照射すると、サーボ領域には非線形光学
材料層３２がなく、従って近接場光２６は発生せず、光
の焦点位置よりも近いところにウォブルピット１０が存
在するため、光はウォブルピット全体を照射する径にな
っている。
対１０があるトラッキング領域とは別に、クロックピッ
ト領域が設けられ、このクロックピットは各々のトラッ
ク中心に配置され、クロックピットからデータの読み書
きと上記ウォブルピット１０からの反射光検出信号の検
出ために必要なクロック信号を、それぞれ検出すること
ができる。このトラックピッチは、記録マークの大きさ
に応じて変更することが可能である。また、各トラック
間のウォブルピット１０の位置は２つのピットの間隔と
同じだけ円周方向にずらして形成することで、隣接トラ
ック間のトラックエラー信号のクロストークを防ぐこと
ができる。一方、本実施例における光記録再生装置に用
いる光記録媒体も、同様に、そのサーボ領域を記録層に
対して異なる層上に設けている。すなわち、図１０に示
すように、例えばサーボ領域を記録面に対して凹まし、
下層に設けている。また、サーボ領域の非線形光学材料
層３２は取り除かれている。このような記録媒体にレン
ズで絞った光を照射すると、サーボ領域には非線形光学
材料層３２がなく、従って近接場光２６は発生せず、光
の焦点位置よりも近いところにウォブルピット１０が存
在するため、光はウォブルピット全体を照射する径にな
っている。
【００３４】まず、図１を用いてウォブルピット１０が
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ット１１は小さく絞られているため、図１に示すように
トラック１２に対してスポット位置がずれている状態で
スポット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出
信号は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピ
ーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。
パルスのピーク値を同じ値にするようにトラック制御を
かける場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッ
キング信号が得られない。ところが、図９、図１０に示
すようにウォブルピット１０が記録層と同一平面にない
場合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域に非線形
光学材料層３２がない場合、スポットの直径は図１２に
示すように大きくなり、反射光検出信号は図１３に示す
ようになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク値
に差が現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に
検出できる。以上のように、ウォブルピット１０が記録
層と同一平面になければよいので、図９に示すようにサ
ーボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示すようにサ
ーボ領域を記録層の上層に設けることでも同様の効果が
得られる。
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ット１１は小さく絞られているため、図１に示すように
トラック１２に対してスポット位置がずれている状態で
スポット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出
信号は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピ
ーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。
パルスのピーク値を同じ値にするようにトラック制御を
かける場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッ
キング信号が得られない。ところが、図９、図１０に示
すようにウォブルピット１０が記録層と同一平面にない
場合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域に非線形
光学材料層３２がない場合、スポットの直径は図１２に
示すように大きくなり、反射光検出信号は図１３に示す
ようになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク値
に差が現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に
検出できる。以上のように、ウォブルピット１０が記録
層と同一平面になければよいので、図９に示すようにサ
ーボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示すようにサ
ーボ領域を記録層の上層に設けることでも同様の効果が
得られる。
【００３５】（第８の実施例（請求項９に対応）図２０
は、本発明の第８の実施例を示す光記録再生装置の光学
的説明図である。本実施例の光記録再生装置では、図２
０に示すように、第７の実施例（図８）に記載の光記録
媒体の記録層２８にGe2Sb2Te5を用いている。一方、本
実施例の光記録再生装置に用いる光記録媒体も同様に、
そのサーボ領域を記録層に対して異なる層上に設けてい
る。すなわち、図１０に示すように、例えばサーボ領域
を記録面に対して凹まし、下層に設けている。また、サ
ーボ領域の非線形光学材料層３２は取り除かれている。
このような記録媒体にレンズ３１で絞った光を照射する
と、サーボ領域には非線形光学材料層３２がなく、従っ
て近接場光２６は発生せず、光の焦点位置よりも近いと
ころにウォブルピット１０が存在するため、光はウォブ
ルピット１０全体を照射する径になっている。
は、本発明の第８の実施例を示す光記録再生装置の光学
的説明図である。本実施例の光記録再生装置では、図２
０に示すように、第７の実施例（図８）に記載の光記録
媒体の記録層２８にGe2Sb2Te5を用いている。一方、本
実施例の光記録再生装置に用いる光記録媒体も同様に、
そのサーボ領域を記録層に対して異なる層上に設けてい
る。すなわち、図１０に示すように、例えばサーボ領域
を記録面に対して凹まし、下層に設けている。また、サ
ーボ領域の非線形光学材料層３２は取り除かれている。
このような記録媒体にレンズ３１で絞った光を照射する
と、サーボ領域には非線形光学材料層３２がなく、従っ
て近接場光２６は発生せず、光の焦点位置よりも近いと
ころにウォブルピット１０が存在するため、光はウォブ
ルピット１０全体を照射する径になっている。
【００３６】まず、図１を用いてウォブルピット１０が
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ット１１は小さく絞られているため、図１に示すように
トラック１２に対してスポット位置がずれている状態で
スポット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出
信号は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピ
ーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。
パルスのピーク値を同じ値にするようにトラック制御を
かける場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッ
キング信号が得られない。ところが、図９、図１０に示
すようにウォブルピット１０が記録層と同一平面にない
場合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域に非線形
光学材料層３２がない場合、スポットの直径は図１２に
示すように大きくなり、反射光検出信号は図１３に示す
ようになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク値
に差が現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に
検出できる。以上のように、ウォブルピット１０が記録
層と同一平面になければよいので、図９に示すようにサ
ーボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示すようにサ
ーボ領域を記録層の上層に設けることでも同様の効果が
得られる。
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ット１１は小さく絞られているため、図１に示すように
トラック１２に対してスポット位置がずれている状態で
スポット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出
信号は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピ
ーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。
パルスのピーク値を同じ値にするようにトラック制御を
かける場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッ
キング信号が得られない。ところが、図９、図１０に示
すようにウォブルピット１０が記録層と同一平面にない
場合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域に非線形
光学材料層３２がない場合、スポットの直径は図１２に
示すように大きくなり、反射光検出信号は図１３に示す
ようになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク値
に差が現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に
検出できる。以上のように、ウォブルピット１０が記録
層と同一平面になければよいので、図９に示すようにサ
ーボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示すようにサ
ーボ領域を記録層の上層に設けることでも同様の効果が
得られる。
【００３７】（第９の実施例（請求項１０に対応）図２
１は、本発明の第９の実施例を示す光記録再生装置の光
学的説明図である。第９の実施例の光記録再生装置で
は、図２１に示すように、第８の実施例（図２０）に記
載の光記録媒体の記録層にGe2Sb2Te5層３７ではなく、A
gInSbTe層３８を用いている。この場合は、例えばディ
スクの層構成はZnS-SiO2保護層２４，２９が記録層上下
に10nm、記録層３８としてAgInSbTe が15nm、 Sbのマス
ク層３２が15nm 、ZnS-SiO2 の保護層２１が120nm、ポ
リカーボネト基板２０という構成になる。記録層として
は、上記２つの例以外にも通常知られている光記録材料
を用いることが可能である。一方、本実施例における光
記録再生装置に用いる光記録媒体も、同様に、そのサー
ボ領域を記録層に対して異なる層上に設けている。すな
わち、図１０に示すように、例えばサーボ領域を記録面
に対して凹まし、下層に設けている。また、サーボ領域
の非線形光学材料層３２は取り除かれている。このよう
な記録媒体にレンズ３１で絞った光を照射すると、サー
ボ領域には非線形光学材料層３２がなく、従って近接場
光２６は発生せず、光の焦点位置よりも近いところにウ
ォブルピット１０が存在するため、光はウォブルピット
１０全体を照射する径になっている。
１は、本発明の第９の実施例を示す光記録再生装置の光
学的説明図である。第９の実施例の光記録再生装置で
は、図２１に示すように、第８の実施例（図２０）に記
載の光記録媒体の記録層にGe2Sb2Te5層３７ではなく、A
gInSbTe層３８を用いている。この場合は、例えばディ
スクの層構成はZnS-SiO2保護層２４，２９が記録層上下
に10nm、記録層３８としてAgInSbTe が15nm、 Sbのマス
ク層３２が15nm 、ZnS-SiO2 の保護層２１が120nm、ポ
リカーボネト基板２０という構成になる。記録層として
は、上記２つの例以外にも通常知られている光記録材料
を用いることが可能である。一方、本実施例における光
記録再生装置に用いる光記録媒体も、同様に、そのサー
ボ領域を記録層に対して異なる層上に設けている。すな
わち、図１０に示すように、例えばサーボ領域を記録面
に対して凹まし、下層に設けている。また、サーボ領域
の非線形光学材料層３２は取り除かれている。このよう
な記録媒体にレンズ３１で絞った光を照射すると、サー
ボ領域には非線形光学材料層３２がなく、従って近接場
光２６は発生せず、光の焦点位置よりも近いところにウ
ォブルピット１０が存在するため、光はウォブルピット
１０全体を照射する径になっている。
【００３８】まず、図１を用いてウォブルピット１０が
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ットは小さく絞られているため、図１に示すようにトラ
ック１２に対してスポット位置がずれている状態でスポ
ット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出信号
は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピーク
値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。パル
スのピーク値を同じ値にするようにトラック制御をかけ
る場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッキン
グ信号が得られない。ところが、図９、図１０に示すよ
うにウォブルピット１０が記録層と同一平面にない場
合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域に非線形光
学材料層３２がない場合、スポットの直径は図１２に示
すように大きくなり、反射光検出信号は図１３に示すよ
うになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク値に
差が現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に検
出できる。以上のように、ウォブルピット１０が記録層
と同一平面になければよいので、図９に示すようにサー
ボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示すようにサー
ボ領域を記録層の上層に設けることでも同様の効果が得
られる。
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ットは小さく絞られているため、図１に示すようにトラ
ック１２に対してスポット位置がずれている状態でスポ
ット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出信号
は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピーク
値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。パル
スのピーク値を同じ値にするようにトラック制御をかけ
る場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッキン
グ信号が得られない。ところが、図９、図１０に示すよ
うにウォブルピット１０が記録層と同一平面にない場
合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域に非線形光
学材料層３２がない場合、スポットの直径は図１２に示
すように大きくなり、反射光検出信号は図１３に示すよ
うになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク値に
差が現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に検
出できる。以上のように、ウォブルピット１０が記録層
と同一平面になければよいので、図９に示すようにサー
ボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示すようにサー
ボ領域を記録層の上層に設けることでも同様の効果が得
られる。
【００３９】（第１０の実施例（請求項１１に対応）図
２２は、本発明の第１０の実施例を示す光記録再生装置
の光学的説明図である。本実施例の光記録再生装置は、
図２２に示すように、メディア上の該トラック１５のピ
ット対１０と隣接トラック１５″のピット対１０″の光
ディスクの円周方向の間隔が、光ディスクの半径方向の
ピット間隔に等しく形成されている。このようにピット
１０，１０″を配置すると、図７に示すピット配置に比
べてサーボ領域１３が狭くなり、記録領域が広がり、記
録容量が向上する。本実施例のようなピットの配置をト
ラックの先頭から繰り返すと、図１８に示すように各ト
ラックごとにピットがずれているので、トラックが進む
につれサーボ領域１３′は広くなり、初期のピットの位
置から徐々に遠ざかることとなる。そこで本実施例にお
いては、図１７に示すように、適当なトラック数毎（例
えば、図１７では６トラック毎）に一連のウォブルピッ
ト１０Ａ，１０Ｂを形成し、隣接するトラック群の一連
のウォブルピット１０Ａ，１０Ｂの先頭のピット１０
ａ，１０ｂの位置を一致させる。トラック位置を大まか
に検出する時には、該トラック群１０Ａ，１０Ｂの一部
の（例えば先頭の）ウォブルピット１０ａ，１０ｂの位
置のみを順次検出すればいいので、ヘッドあるいはスラ
イダをディスク半径方向に移動させるときの位置情報を
簡単かつ高速に検出することが可能である。
２２は、本発明の第１０の実施例を示す光記録再生装置
の光学的説明図である。本実施例の光記録再生装置は、
図２２に示すように、メディア上の該トラック１５のピ
ット対１０と隣接トラック１５″のピット対１０″の光
ディスクの円周方向の間隔が、光ディスクの半径方向の
ピット間隔に等しく形成されている。このようにピット
１０，１０″を配置すると、図７に示すピット配置に比
べてサーボ領域１３が狭くなり、記録領域が広がり、記
録容量が向上する。本実施例のようなピットの配置をト
ラックの先頭から繰り返すと、図１８に示すように各ト
ラックごとにピットがずれているので、トラックが進む
につれサーボ領域１３′は広くなり、初期のピットの位
置から徐々に遠ざかることとなる。そこで本実施例にお
いては、図１７に示すように、適当なトラック数毎（例
えば、図１７では６トラック毎）に一連のウォブルピッ
ト１０Ａ，１０Ｂを形成し、隣接するトラック群の一連
のウォブルピット１０Ａ，１０Ｂの先頭のピット１０
ａ，１０ｂの位置を一致させる。トラック位置を大まか
に検出する時には、該トラック群１０Ａ，１０Ｂの一部
の（例えば先頭の）ウォブルピット１０ａ，１０ｂの位
置のみを順次検出すればいいので、ヘッドあるいはスラ
イダをディスク半径方向に移動させるときの位置情報を
簡単かつ高速に検出することが可能である。
【００４０】一方、本実施例における光記録再生装置に
用いる光記録媒体も、同様に、そのサーボ領域を記録層
に対して異なる層上に設けている。すなわち、図１０に
示すように、例えばサーボ領域を記録面に対して凹ま
し、下層に設けている。また、サーボ領域の非線形光学
材料層３２は取り除かれている。このような記録媒体に
レンズ３１で絞った光を照射すると、サーボ領域には非
線形光学材料層３２がなく、従って近接場光２６は発生
せず、光の焦点位置よりも近いところにウォブルピット
１０が存在するため、光はウォブルピット全体を照射す
る径になっている。
用いる光記録媒体も、同様に、そのサーボ領域を記録層
に対して異なる層上に設けている。すなわち、図１０に
示すように、例えばサーボ領域を記録面に対して凹ま
し、下層に設けている。また、サーボ領域の非線形光学
材料層３２は取り除かれている。このような記録媒体に
レンズ３１で絞った光を照射すると、サーボ領域には非
線形光学材料層３２がなく、従って近接場光２６は発生
せず、光の焦点位置よりも近いところにウォブルピット
１０が存在するため、光はウォブルピット全体を照射す
る径になっている。
【００４１】まず、図１を用いてウォブルピット１０が
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ット１１は小さく絞られているため、図１に示すように
トラック１２に対してスポット位置がずれている状態で
スポット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出
信号は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピ
ーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。
パルスのピーク値を同じ値にするようにトラック制御を
かける場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッ
キング信号が得られない。ところが、図９、図１０に示
すようにウォブルピット１０が記録層と同一平面にない
場合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域に非線形
光学材料層３２がない場合、スポットの直径は図１２に
示すように大きくなり、反射光検出信号は図１３に示す
ようになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク値
に差が現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に
検出できる。以上のように、ウォブルピット１０が記録
層と同一平面になければよいので、図９に示すようにサ
ーボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示すようにサ
ーボ領域を記録層の上層に設けることでも同様の効果が
得られる。
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ット１１は小さく絞られているため、図１に示すように
トラック１２に対してスポット位置がずれている状態で
スポット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出
信号は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピ
ーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。
パルスのピーク値を同じ値にするようにトラック制御を
かける場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッ
キング信号が得られない。ところが、図９、図１０に示
すようにウォブルピット１０が記録層と同一平面にない
場合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域に非線形
光学材料層３２がない場合、スポットの直径は図１２に
示すように大きくなり、反射光検出信号は図１３に示す
ようになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク値
に差が現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に
検出できる。以上のように、ウォブルピット１０が記録
層と同一平面になければよいので、図９に示すようにサ
ーボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示すようにサ
ーボ領域を記録層の上層に設けることでも同様の効果が
得られる。
【００４２】（第１１の実施例（請求項１２に対応）図
１９は、本発明の第１１の実施例を示す光記録再生装置
の光学的説明図である。本実施例の光記録再生装置は、
図１９に示すように、一定トラック毎にグルーブ領域４
０を設け、ランド部分に上記サンプルサーボ領域を設け
ている。この場合、グルーブ領域４０での回折光を２分
割フォトダイオードで検出し、各々の出力差によりトラ
ッキングエラー信号を得ることができる。この場合、上
記ウォブルピットのみの場合よりもよりトラッキング精
度が上がる。一方、本実施例の光記録再生装置に用いる
光記録媒体も、同様に、そのサーボ領域を記録層に対し
て異なる層上に設けている。すなわち、図１０に示すよ
うに、例えばサーボ領域を記録面に対して凹まし、下層
に設けている。また、サーボ領域の非線形光学材料層３
２は取り除かれている。このような記録媒体にレンズで
絞った光を照射すると、サーボ領域には非線形光学材料
層３２がなく、従って近接場光２６は発生せず、光の焦
点位置よりも近いところにウォブルピット１０が存在す
るため、光はウォブルピット全体を照射する径になって
いる。
１９は、本発明の第１１の実施例を示す光記録再生装置
の光学的説明図である。本実施例の光記録再生装置は、
図１９に示すように、一定トラック毎にグルーブ領域４
０を設け、ランド部分に上記サンプルサーボ領域を設け
ている。この場合、グルーブ領域４０での回折光を２分
割フォトダイオードで検出し、各々の出力差によりトラ
ッキングエラー信号を得ることができる。この場合、上
記ウォブルピットのみの場合よりもよりトラッキング精
度が上がる。一方、本実施例の光記録再生装置に用いる
光記録媒体も、同様に、そのサーボ領域を記録層に対し
て異なる層上に設けている。すなわち、図１０に示すよ
うに、例えばサーボ領域を記録面に対して凹まし、下層
に設けている。また、サーボ領域の非線形光学材料層３
２は取り除かれている。このような記録媒体にレンズで
絞った光を照射すると、サーボ領域には非線形光学材料
層３２がなく、従って近接場光２６は発生せず、光の焦
点位置よりも近いところにウォブルピット１０が存在す
るため、光はウォブルピット全体を照射する径になって
いる。
【００４３】まず、図１を用いてウォブルピット１０が
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ット１１は小さく絞られているため、図１に示すように
トラック１２に対してスポット位置がずれている状態で
スポット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出
信号は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピ
ーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。
パルスのピーク値を同じ値にするようにトラック制御を
かける場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッ
キング信号が得られない。ところが、図９、図１０に示
すようにウォブルピット１０が記録層と同一平面にない
場合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域に非線形
光学材料層３２がない場合、スポットの直径は図１２に
示すように大きくなり、反射光検出信号は図１３に示す
ようになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク値
に差が現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に
検出できる。以上のように、ウォブルピット１０が記録
層と同一平面になければよいので、図９に示すようにサ
ーボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示すようにサ
ーボ領域を記録層の上層に設けることでも同様の効果が
得られる。
記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。ウ
ォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりスポ
ット１１は小さく絞られているため、図１に示すように
トラック１２に対してスポット位置がずれている状態で
スポット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検出
信号は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbのピ
ーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られる。
パルスのピーク値を同じ値にするようにトラック制御を
かける場合、信号の差が明確でないため、正しいトラッ
キング信号が得られない。ところが、図９、図１０に示
すようにウォブルピット１０が記録層と同一平面にない
場合、あるいは図１１に示すようにサーボ領域に非線形
光学材料層３２がない場合、スポットの直径は図１２に
示すように大きくなり、反射光検出信号は図１３に示す
ようになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク値
に差が現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度に
検出できる。以上のように、ウォブルピット１０が記録
層と同一平面になければよいので、図９に示すようにサ
ーボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示すようにサ
ーボ領域を記録層の上層に設けることでも同様の効果が
得られる。
【００４４】（第１２の実施例（請求項８に対応）図８
は、本発明の第１２の実施例を示す光記録再生装置の光
学的説明図である。本実施例の光記録再生装置では、図
８に示すように、光記録媒体としてポリカーボネイトな
どからなる光ディスク基板２０上に、記録層２８、保護
層２１，２４，２９、非線形光学材料層３２を設けて、
非線形光学材料層３２をマスクにして近接場光を発生さ
せ記録、再生を行う。上記実施例では、ポリカーボネイ
ト光ディスク基板２０にSiN保護層２１，２４，２９、
記録層２８、Sbのマスク層３２を積層して蒸着した。例
えば、それぞれの膜厚は記録層２８の上下にあるSiN保
護層２４，２９が20nm、記録層２８が15nm、Sbのマスク
層３２が15nm、Sb層３２とポリカーボネート基板２０の
間にSiN保護層２１を170nm積層した。記録時には、通常
の光ディスクと同様に基板側からSbマスク層３２に焦点
を結ぶようにレンズ３１で集光されたレーザービームが
入射される。このとき、入射レーザーパワーに応じた領
域のSbマスク層３２が透明になり、微小開口が形成され
る。このとき、この形成された微小開口から記録層２８
に近接場光２６が浸みだし、光の回折限界よりも微小な
記録マークを形成することができる。
は、本発明の第１２の実施例を示す光記録再生装置の光
学的説明図である。本実施例の光記録再生装置では、図
８に示すように、光記録媒体としてポリカーボネイトな
どからなる光ディスク基板２０上に、記録層２８、保護
層２１，２４，２９、非線形光学材料層３２を設けて、
非線形光学材料層３２をマスクにして近接場光を発生さ
せ記録、再生を行う。上記実施例では、ポリカーボネイ
ト光ディスク基板２０にSiN保護層２１，２４，２９、
記録層２８、Sbのマスク層３２を積層して蒸着した。例
えば、それぞれの膜厚は記録層２８の上下にあるSiN保
護層２４，２９が20nm、記録層２８が15nm、Sbのマスク
層３２が15nm、Sb層３２とポリカーボネート基板２０の
間にSiN保護層２１を170nm積層した。記録時には、通常
の光ディスクと同様に基板側からSbマスク層３２に焦点
を結ぶようにレンズ３１で集光されたレーザービームが
入射される。このとき、入射レーザーパワーに応じた領
域のSbマスク層３２が透明になり、微小開口が形成され
る。このとき、この形成された微小開口から記録層２８
に近接場光２６が浸みだし、光の回折限界よりも微小な
記録マークを形成することができる。
【００４５】サンプルサーボ方式では、例えば図４に示
すように、光ディスクのサーボ領域は、トラックセンタ
に対してディスク径方向に互いに逆向きに等間隔（例え
ば１／４トラックピッチ）だけずらして各トラックに形
成された一対のウォブルピット１０によって構成されて
いる。また、図５において、上記ウォブルピット１０か
らの反射光検出信号は、例えば図６に示すようなグラフ
で得られ、上記ピット１０に基づく反射光検出信号のパ
ルスのピーク値をＰａ及びＰｂとすると、トラッキング
エラー信号はそれぞれの差分Ｐａ−Ｐｂで表される。図
５に示すように、光のスポット１１がトラック１２上を
掃引しているとき、反射光検出信号のパルスのピーク値
Ｐａ及びＰｂは図６に示すように等しくなり、Ｐa,Ｐb
の差は０である。本実施例では、このウォブルピット１
０を図７に示すようにトラック毎にずらして形成するこ
とにより、トラックピッチ１４′を図４に示すような通
常のトラックピッチ１４よりも狭くすることができる。
例えば、ウォブルピット１０の直径を0．8μｍとする
と、従来ではトラックピッチが最小で1．6μｍであった
が、本実施例を適用することで、図８の構成で形成可能
なピット長（例えば90ｎｍ）に応じたトラックピッチ
（例えば180ｎｍ）を実現することができる。
すように、光ディスクのサーボ領域は、トラックセンタ
に対してディスク径方向に互いに逆向きに等間隔（例え
ば１／４トラックピッチ）だけずらして各トラックに形
成された一対のウォブルピット１０によって構成されて
いる。また、図５において、上記ウォブルピット１０か
らの反射光検出信号は、例えば図６に示すようなグラフ
で得られ、上記ピット１０に基づく反射光検出信号のパ
ルスのピーク値をＰａ及びＰｂとすると、トラッキング
エラー信号はそれぞれの差分Ｐａ−Ｐｂで表される。図
５に示すように、光のスポット１１がトラック１２上を
掃引しているとき、反射光検出信号のパルスのピーク値
Ｐａ及びＰｂは図６に示すように等しくなり、Ｐa,Ｐb
の差は０である。本実施例では、このウォブルピット１
０を図７に示すようにトラック毎にずらして形成するこ
とにより、トラックピッチ１４′を図４に示すような通
常のトラックピッチ１４よりも狭くすることができる。
例えば、ウォブルピット１０の直径を0．8μｍとする
と、従来ではトラックピッチが最小で1．6μｍであった
が、本実施例を適用することで、図８の構成で形成可能
なピット長（例えば90ｎｍ）に応じたトラックピッチ
（例えば180ｎｍ）を実現することができる。
【００４６】また、図示省略するが、ウォブルピット対
１０があるトラッキング領域とは別に、クロックピット
領域が設けられ、このクロックピットは各々のトラック
中心に配置され、クロックピットからデータの読み書き
と上記ウォブルピット１０からの反射光検出信号の検出
ために必要なクロック信号を、それぞれ検出することが
できる。このトラックピッチは、記録マークの大きさに
応じて変更することが可能である。また、各トラック間
のウォブルピット１０の位置は２つのピットの間隔と同
じだけ円周方向にずらして形成することで、隣接トラッ
ク間のトラックエラー信号のクロストークを防ぐことが
できる。
１０があるトラッキング領域とは別に、クロックピット
領域が設けられ、このクロックピットは各々のトラック
中心に配置され、クロックピットからデータの読み書き
と上記ウォブルピット１０からの反射光検出信号の検出
ために必要なクロック信号を、それぞれ検出することが
できる。このトラックピッチは、記録マークの大きさに
応じて変更することが可能である。また、各トラック間
のウォブルピット１０の位置は２つのピットの間隔と同
じだけ円周方向にずらして形成することで、隣接トラッ
ク間のトラックエラー信号のクロストークを防ぐことが
できる。
【００４７】また、本実施例の光記録再生装置に用いる
光記録媒体は、そのサーボ領域には非線形光学材料膜３
２がないので、図１１に示すように非線形材料層３２の
膜厚分だけサーボ領域は記録層に対して凹んでいる。こ
のような記録媒体にレンズ３１で絞った光３０を照射す
ると、サーボ領域には非線形光学材料層３２がなく、従
って近接場光２６は発生せず、光の焦点位置よりも近い
ところにウォブルピット１０が存在するため、光はウォ
ブルピット１０全体を照射する径になっている。非線形
材料層３２の膜厚が薄く、フォーカス位置をずらすのに
十分な段差がとれない場合でも、サーボ領域には非線形
光学材料層３２がないため、この領域にレンズ３１で絞
った光３０を照射しても、近接場光２６は発生せずスポ
ット系の大きい光となりウォブルピット１０全体を照射
する光となる。まず、図１を用いてウォブルピット１０
が記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。
ウォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりス
ポット１１は小さく絞られているため、図１に示すよう
にトラック１２に対してスポット位置がずれている状態
でスポット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検
出信号は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbの
ピーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られ
る。パルスのピーク値を同じ値にするようにトラック制
御をかける場合、信号の差が明確でないため、正しいト
ラッキング信号が得られない。
光記録媒体は、そのサーボ領域には非線形光学材料膜３
２がないので、図１１に示すように非線形材料層３２の
膜厚分だけサーボ領域は記録層に対して凹んでいる。こ
のような記録媒体にレンズ３１で絞った光３０を照射す
ると、サーボ領域には非線形光学材料層３２がなく、従
って近接場光２６は発生せず、光の焦点位置よりも近い
ところにウォブルピット１０が存在するため、光はウォ
ブルピット１０全体を照射する径になっている。非線形
材料層３２の膜厚が薄く、フォーカス位置をずらすのに
十分な段差がとれない場合でも、サーボ領域には非線形
光学材料層３２がないため、この領域にレンズ３１で絞
った光３０を照射しても、近接場光２６は発生せずスポ
ット系の大きい光となりウォブルピット１０全体を照射
する光となる。まず、図１を用いてウォブルピット１０
が記録層と同一平面にある場合のサーボ信号を考える。
ウォブルピット１０は大きいが、近接場光２６によりス
ポット１１は小さく絞られているため、図１に示すよう
にトラック１２に対してスポット位置がずれている状態
でスポット１１がトラック１２を掃引すると、反射光検
出信号は図２に示すようになる。すなわち、ＰaとＰbの
ピーク値は変わらず、パルス幅が異なる信号が得られ
る。パルスのピーク値を同じ値にするようにトラック制
御をかける場合、信号の差が明確でないため、正しいト
ラッキング信号が得られない。
【００４８】ところが、図９、図１０に示すようにウォ
ブルピット１０が記録層と同一平面にない場合、あるい
は図１１に示すようにサーボ領域に非線形光学材料層３
２がない場合、スポットの直径は図１２に示すように大
きくなり、スポット１１ａが各ウォブルピット１０ａと
重なる面積が増えるため、反射光検出信号は図１３に示
すようになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク
値に差が現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度
に正しく検出できる。以上のように、ウォブルピット１
０が記録層と同一平面になければよいので、図９に示す
ようにサーボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示す
ようにサーボ領域を記録層の上層に設けることでも同様
の効果が得られる。
ブルピット１０が記録層と同一平面にない場合、あるい
は図１１に示すようにサーボ領域に非線形光学材料層３
２がない場合、スポットの直径は図１２に示すように大
きくなり、スポット１１ａが各ウォブルピット１０ａと
重なる面積が増えるため、反射光検出信号は図１３に示
すようになる。その結果、ＰaとＰbの検出信号のピーク
値に差が現れ、スポット中心とトラックのずれを高感度
に正しく検出できる。以上のように、ウォブルピット１
０が記録層と同一平面になければよいので、図９に示す
ようにサーボ領域を凹ますだけではなく、図１０に示す
ようにサーボ領域を記録層の上層に設けることでも同様
の効果が得られる。
【００４９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
以下のような効果が得られる。 （１）トラック位置決め精度が向上し、トラック間隔を
小さくすることができるため、半径方向にも記録密度を
向上することができる（請求項１，２）。 （２）光の回折限界より、小さな記録マークを安定に形
成することができる（請求項３）。 （３）高感度、高消去可能であり、また記録マークと未
記録部の境界部分がシャープであり、良好な再生信号を
得ることができる（請求項４）。
以下のような効果が得られる。 （１）トラック位置決め精度が向上し、トラック間隔を
小さくすることができるため、半径方向にも記録密度を
向上することができる（請求項１，２）。 （２）光の回折限界より、小さな記録マークを安定に形
成することができる（請求項３）。 （３）高感度、高消去可能であり、また記録マークと未
記録部の境界部分がシャープであり、良好な再生信号を
得ることができる（請求項４）。
【００５０】（４）各トラックにおけるトラッキングの
ためのピット対間隔を短くすることにより、より記録密
度を向上することができる（請求項５）。 （５）トラッキングをサンプルサーボに加えて、プッシ
ュプル信号も検出できるため、より安定なトラッキング
を行うことができる（請求項６）。 （６）従来の光ディスクの光学系が流用でき、トラック
位置決め精度が向上し、トラック間隔を小さくすること
ができるため、半径方向にも記録密度を向上することが
できる（請求項７）。 （７）従来の光ディスクの光学系が流用でき、光の回折
限界より小さな記録マークを安定に形成することができ
る（請求項９）。
ためのピット対間隔を短くすることにより、より記録密
度を向上することができる（請求項５）。 （５）トラッキングをサンプルサーボに加えて、プッシ
ュプル信号も検出できるため、より安定なトラッキング
を行うことができる（請求項６）。 （６）従来の光ディスクの光学系が流用でき、トラック
位置決め精度が向上し、トラック間隔を小さくすること
ができるため、半径方向にも記録密度を向上することが
できる（請求項７）。 （７）従来の光ディスクの光学系が流用でき、光の回折
限界より小さな記録マークを安定に形成することができ
る（請求項９）。
【００５１】（８）従来の光ディスクの光学系が流用で
き、高感度、高消去可能であり、また記録マークと未記
録部の境界部分がシャープであり、良好な再生信号を得
ることができる（請求項１０）。 （９）従来の光ディスクの光学系が流用でき、各トラッ
クにおけるトラッキングのためのピット対間隔を短くす
ることにより、より記録密度を向上することができる
（請求項１１）。 （１０）従来の光ディスクの光学系が流用でき、トラッ
キングをサンプルサーボに加えて、プッシュプル信号も
検出できるため、より安定なトラッキングを行うことが
でき、トラック間隔を小さくすることができ、半径方向
にも記録密度を向上することができる（請求項１２）。 （１１）従来の光ディスクの光学系が流用でき、トラッ
ク位置決め精度が向上し、トラック間隔を小さくするこ
とができるため、半径方向にも記録密度を向上すること
ができる（請求項８）。
き、高感度、高消去可能であり、また記録マークと未記
録部の境界部分がシャープであり、良好な再生信号を得
ることができる（請求項１０）。 （９）従来の光ディスクの光学系が流用でき、各トラッ
クにおけるトラッキングのためのピット対間隔を短くす
ることにより、より記録密度を向上することができる
（請求項１１）。 （１０）従来の光ディスクの光学系が流用でき、トラッ
キングをサンプルサーボに加えて、プッシュプル信号も
検出できるため、より安定なトラッキングを行うことが
でき、トラック間隔を小さくすることができ、半径方向
にも記録密度を向上することができる（請求項１２）。 （１１）従来の光ディスクの光学系が流用でき、トラッ
ク位置決め精度が向上し、トラック間隔を小さくするこ
とができるため、半径方向にも記録密度を向上すること
ができる（請求項８）。
【図１】本発明の各実施例に共通な光記録再生装置のサ
ーボ領域の説明図である。
ーボ領域の説明図である。
【図２】図１における反射光検出信号の波形図である。
【図３】本発明の第１の実施例を示す光記録再生装置の
光学的説明図である。
光学的説明図である。
【図４】本発明の各実施例に共通な光記録再生装置のサ
ーボ領域のウォプルピットの説明図である。
ーボ領域のウォプルピットの説明図である。
【図５】本発明の各実施例に共通な光記録再生装置のサ
ーボ領域のウォプルピットの説明図である。
ーボ領域のウォプルピットの説明図である。
【図６】図５における反射光検出信号の波形図である。
【図７】本発明の各実施例に共通な光記録再生装置のサ
ーボ領域のウォプルピットの説明図である。
ーボ領域のウォプルピットの説明図である。
【図８】本発明の第７および第１２の各実施例を示す光
記録再生装置の光学的説明図である。
記録再生装置の光学的説明図である。
【図９】本発明の各実施例に共通な光記録再生装置の光
学的説明図である。
学的説明図である。
【図１０】本発明の各実施例に共通な光記録再生装置の
光学的説明図である。
光学的説明図である。
【図１１】本発明の各実施例に共通な光記録再生装置の
光学的説明図である。
光学的説明図である。
【図１２】本発明の各実施例に共通な光記録再生装置の
サーボ領域のウォプルピットの説明図である。
サーボ領域のウォプルピットの説明図である。
【図１３】図１２における反射光検出信号の波形図であ
る。
る。
【図１４】本発明の第２の実施例を示す光記録再生装置
の光学的説明図である。
の光学的説明図である。
【図１５】本発明の第３の実施例を示す光記録再生装置
の光学的説明図である。
の光学的説明図である。
【図１６】本発明の第４の実施例を示す光記録再生装置
の光学的説明図である。
の光学的説明図である。
【図１７】本発明の第５の実施例を示す狭いサーボ領域
のウォプルピットの説明図である。
のウォプルピットの説明図である。
【図１８】本発明の第５の実施例を示す広いサーボ領域
のウォプルピットの説明図である。
のウォプルピットの説明図である。
【図１９】本発明の第６および第１１の実施例を示す一
定トラック毎にグルーブ領域を設けたサンプルサーボ領
域の説明図である。
定トラック毎にグルーブ領域を設けたサンプルサーボ領
域の説明図である。
【図２０】本発明の第８の実施例を示す光記録再生装置
の光学的説明図である。
の光学的説明図である。
【図２１】本発明の第９の実施例を示す光記録再生装置
の光学的説明図である。
の光学的説明図である。
【図２２】本発明の第１０の実施例を示すサーボ領域の
ウォプルピットの説明図である。
ウォプルピットの説明図である。
８…データ、１０…ウォブルピット、１１…スポット、
１２…トラック、１３，１３′…サーボ領域、１０′，
１０″…ウォブルピット、１５，１５′，１５″…トラ
ック、１４，１４′，１４″…トラックピッチ、２０…
ポリカーボネート基板、２１，２４…ＳＩＮ保護層、２
３…データ記録層、２２…アドレス情報記録層、２５…
伝搬光、２６…近接場光、２７…近接場プローブ、３２
…ＳＢ非線形光学材料層、３０…入射光、３１…集光レ
ンズ、２９…ＳＩＮ保護層、２８…記録層、４０…グル
ーブ、４１…データビット、４２…ちどりマーク、３５
…Ｇｅ２Ｓｂ２ＴｅＥ、３６…ＡｇｌｎＳｂＴｅ、１０
Ａ，１０Ｂ…ウォブルピットグループ、１０ａ，１０ｂ
…先頭ピット、３８…ＡｇＩｎＳｂＴｅ。
１２…トラック、１３，１３′…サーボ領域、１０′，
１０″…ウォブルピット、１５，１５′，１５″…トラ
ック、１４，１４′，１４″…トラックピッチ、２０…
ポリカーボネート基板、２１，２４…ＳＩＮ保護層、２
３…データ記録層、２２…アドレス情報記録層、２５…
伝搬光、２６…近接場光、２７…近接場プローブ、３２
…ＳＢ非線形光学材料層、３０…入射光、３１…集光レ
ンズ、２９…ＳＩＮ保護層、２８…記録層、４０…グル
ーブ、４１…データビット、４２…ちどりマーク、３５
…Ｇｅ２Ｓｂ２ＴｅＥ、３６…ＡｇｌｎＳｂＴｅ、１０
Ａ，１０Ｂ…ウォブルピットグループ、１０ａ，１０ｂ
…先頭ピット、３８…ＡｇＩｎＳｂＴｅ。
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ１１Ｂ 7/24 ５２２ Ｇ１１Ｂ 7/24 ５２２Ｘ ５６５ ５６５Ｊ Ｆターム(参考） 5D029 JA01 JB14 JB33 JB42 MA33 WA36 WD10 5D090 AA01 BB04 BB11 CC01 DD01 FF03 FF11 GG02 GG16 GG24 KK01 5D118 AA13 BA01 BB05 BC02 BF01 CA01 CD02 CD03
Claims (12)
- 【請求項１】 光ディスクの基板上に記録層を設け、該
記録層に光学的に記録または再生を行う光記録再生装置
において、 前記光ディスクのアドレス情報を示す記録層が、データ
を記録する記録層に対して異なる層上に形成されている
ことを特徴とする光記録再生装置。 - 【請求項２】 光ディスクの基板上に記録層および保護
層を設け、前記光ディスクに近接するヘッド、スライダ
あるいはプローブの先端の微少開口により光を発生さ
せ、前記記録層に光学的に記録または再生を行う光記録
再生装置であって、 各トラック上にサーボ領域を離散的に設け、該サーボ領
域を前記記録層に対して異なる層上に設け、該サーボ領
域に一対のピットを設け、該一対のピットをトラックセ
ンタに対してディスク径方向に互いに逆向きに等間隔だ
けずらして形成し、該一対のピットがトラック毎に形成
され、各対のピットが互いに重ならないように形成され
ていることを特徴とする光記録再生装置。 - 【請求項３】 請求項２に記載の光記録再生装置におい
て、 前記記録層がGe2Sb2Te5薄膜を用いたことを特徴とする
光記録再生装置。 - 【請求項４】 請求項２に記載の光記録再生装置におい
て、 前記記録層がAgInSbTe薄膜を用いたことを特徴とする光
記録再生装置。 - 【請求項５】 請求項２に記載の光記録再生装置におい
て、 前記一対のピットと隣接トラックの一対のピットとの光
ディスクの円周方向の間隔が、光ディスクの半径方向の
ピット間隔に等しいことを特徴とする光記録再生装置。 - 【請求項６】 請求項２に記載の光記録再生装置におい
て、 前記各トラック毎にグルーブ領域を設け、ランド部分に
上記サンプルサーボ領域が設けられていることを特徴と
する光記録再生装置。 - 【請求項７】 光ディスクの基板上に記録層、保護層、
および非線形光学材料層を設け、該非線形光学材料層を
マスクにして光を発生させ記録、再生を行う光記録再生
装置であって、 各トラック上にサーボ領域を離散的に設け、該サーボ領
域を前記記録層に対して異なる層上に設け、該サーボ領
域に一対のピットを設け、該一対のピットをトラックセ
ンタに対してディスク径方向に互いに逆向きに等間隔だ
けずらして形成し、該一対のピットがトラック毎に形成
され、各対のピットが互いに重ならないように形成され
ていることを特徴とする光記録再生装置。 - 【請求項８】 光ディスク基板上に、記録層、保護層、
および非線形光学材料層を設け、該非線形光学材料層を
マスクにして近接場光を発生させ記録、再生を行う光記
録再生装置であって、 各トラック上にサーボ領域を離散的に設け、該サーボ領
域には非線形光学材料層を設けることなく、該サーボ領
域に一対のピットを設け、該一対のピットをトラックセ
ンタに対してディスク径方向に互いに逆向きに等間隔だ
けずらして形成し、該一対のピットがトラック毎に形成
され、各対のピットが互いに重ならないように形成され
ていることを特徴とする光記録再生装置。 - 【請求項９】 請求項７または８に記載の光記録再生装
置において、 前記記録層がGe2Sb2Te5薄膜を用いたことを特徴とする
光記録再生装置。 - 【請求項１０】 請求項７または８に記載の光記録再生
装置において、 前記記録層がAgInSbTe薄膜を用いたことを特徴とする光
記録再生装置。 - 【請求項１１】 請求項７または８に記載の光記録再生
装置において、 前記一対のピットと隣接トラックの一対のピットとの光
ディスクの円周方向の間隔が、該光ディスクの半径方向
のピット間隔に等しいことを特徴とする光記録再生装
置。 - 【請求項１２】 請求項７または８に記載の光記録再生
装置において、 前記各トラック毎にグルーブ領域を設け、ランド部分に
上記サンプルサーボ領域が設けられていることを特徴と
する光記録再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000309481A JP4032334B2 (ja) | 2000-10-10 | 2000-10-10 | 光記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000309481A JP4032334B2 (ja) | 2000-10-10 | 2000-10-10 | 光記録再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002117549A true JP2002117549A (ja) | 2002-04-19 |
| JP4032334B2 JP4032334B2 (ja) | 2008-01-16 |
Family
ID=18789635
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000309481A Expired - Fee Related JP4032334B2 (ja) | 2000-10-10 | 2000-10-10 | 光記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4032334B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006309904A (ja) * | 2005-05-02 | 2006-11-09 | National Institute Of Information & Communication Technology | 情報再生装置及び方法 |
| US8094523B2 (en) | 2008-09-19 | 2012-01-10 | Tdk Corporation | Heat-assisted magnetic recording medium and magnetic recording apparatus with the medium |
-
2000
- 2000-10-10 JP JP2000309481A patent/JP4032334B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006309904A (ja) * | 2005-05-02 | 2006-11-09 | National Institute Of Information & Communication Technology | 情報再生装置及び方法 |
| JP4586180B2 (ja) * | 2005-05-02 | 2010-11-24 | 独立行政法人情報通信研究機構 | 情報再生装置及び方法 |
| US8094523B2 (en) | 2008-09-19 | 2012-01-10 | Tdk Corporation | Heat-assisted magnetic recording medium and magnetic recording apparatus with the medium |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4032334B2 (ja) | 2008-01-16 |
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