JP2002116211A

JP2002116211A - 分析装置

Info

Publication number: JP2002116211A
Application number: JP2000306167A
Authority: JP
Inventors: Etsuhisa Yamamoto; 悦久山本
Original assignee: Rigaku Industrial Corp
Current assignee: Rigaku Corp
Priority date: 2000-10-05
Filing date: 2000-10-05
Publication date: 2002-04-19

Abstract

(57)【要約】【課題】蛍光Ｘ線装置等の本体側で発生したハードウ
ェアエラーの各種の情報を表示してその発生原因を究明
することが可能な分析装置を提供する。【解決手段】分析装置本体１と、それとデータ通信可
能に接続された周辺装置であるパソコン２を有してお
り、装置本体１は、試料を自動的に分析するシーケンス
を実行する制御部１００を備え、所定のシーケンスを実
行する際その進捗状況をパソコン側へ送信し、かつ装置
本体に発生するハードウェアエラーを検知してパソコン
側へ通知してエラー解析情報を転送する機能を備える。
他方、パソコン側２は、メモリ２１２とディスプレイ装
置２２とを備え、そのＣＰＵ２１１は、装置本体の制御
部が検出したハードウェアエラーを表示装置上に表示す
ると共に、メモリ２１２に記憶したエラー解析情報を選
択的に表示する機能を備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、試料から
の蛍光Ｘ線を測定して試料を分析する蛍光Ｘ線分析装置
を含む分析装置に関し、特に、装置の使用時におけるハ
ードウェアエラーの発生時におけるエラー発生原因を究
明するのに好適な分析装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、例えば、装置本体の真空分析室内
に載置した試料にＸ線を照射することにより試料から発
生する蛍光Ｘ線を測定して試料を分析する蛍光Ｘ線分析
装置は、種々の分野における種々の物質の分析におい
て、既に広く利用されている。かかる蛍光Ｘ線分析装置
においては、多数の物質の分析を自動的に行うことを可
能にするため、例えば円筒形状の試料ホルダーと呼ばれ
る冶具などを使用し、この試料ホルダーを、例えばロボ
ットアーム等を備えた試料交換機と呼ばれる機構によ
り、順次、蛍光Ｘ線分析装置の試料室内に搬送・排出し
ながら試料の分析を行うものが既に知られている。そし
て、装置本体における分析のため又は分析準備のための
制御は、通常、装置本体側に設けられた制御用コンピュ
ータが予め格納されたプログラムに従って実行される。

【０００３】ところで、上述のような試料交換機を備え
て自動的な試料の分析動作が可能な蛍光Ｘ線分析装置で
は、さらに、装置本体とは別体に設けられた、通信回線
等を介して互いにデータ交信が可能に接続された周辺機
器であるパーソナルコンピュータ（以下、パソコン）を
備えており、装置による分析を行う操作者は、分析操作
用のコンピュータ装置を介して分析装置における分析動
作を設定し、あるいは、その動作状況や分析結果をその
表示画面上に表示させることにより、所望の試料の分析
測定を行うものが広く知られている。

【０００４】また、上記した周辺機器であるパソコンを
備えた自動分析装置では、分析のため又は分析の準備の
ために装置側の制御用コンピュータが各種の装置を制御
している際に装置本体側のハードウェアにエラーが発生
した場合、その旨がパソコンの画面に表示され、操作者
が発生したハードウェアにエラーを認識することができ
るものも既に知られている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、上記
の従来技術に述べた自動分析装置では、装置本体側で発
生したハードウェアエラーがパソコンの画面上に表示さ
れるが、しかしながら、その表示画面からは、発生した
ハードウェアエラーの発生原因を究明することは困難で
あり、特に複雑なシーケンス処理中に発生したハードウ
ェアエラーであればより困難であった。加えて、上記周
辺機器であるパソコンの画面上に発生したハードウェア
エラーを表示するだけでは、特に近年において、その処
理能力が著しく向上しているパソコンを有効に活用する
との観点からも、不充分なものでしかなかった。

【０００６】そこで、本発明では、上述した従来技術に
おける問題点、特に、分析装置本体側のハードウェアに
エラーが発生した場合にそのエラーの発生をパソコンの
画面上に表示するだけではなく、さらに、装置の周辺機
器として接続されるパソコンの処理能力を利用すること
により、発生した当該ハードウェアエラーの原因の究明
をも可能にする分析装置を提供することをその目的とす
る。

【０００７】

【課題を解決するための手段】そして、本発明によれ
ば、かかる上記の目的を達成するため、試料を試料室内
に載置しながら前記試料を自動的に分析する分析装置で
あって、装置本体と、前記装置本体とデータ通信可能に
接続された周辺装置を有しており、前記装置本体は、試
料を自動的に分析するために分析手段を所定のシーケン
スを実行するための制御部を備え、そして、前記周辺装
置は、少なくとも所定の演算処理を実行する中央演算部
と、データを記憶するための記憶手段と、さらに、表示
装置とを備えており、前記装置本体の制御部は、前記所
定のシーケンスを実行する際に当該シーケンスの進捗状
況を前記周辺装置側へ送信し、かつ、前記分析手段に発
生するハードウェアエラーを検知して前記周辺装置側へ
通知してエラー解析情報を前記周辺装置側へ転送する機
能を備えており、前記周辺装置の中央演算部は、前記装
置本体の制御部が検出した前記分析手段に発生するハー
ドウェアエラーを前記表示装置上に表示すると共に、前
記記憶手段に記憶したエラー解析情報を前記表示装置上
に選択的に表示する機能を備えている分析装置が提供さ
れる。

【０００８】また、本発明によれば、前記分析装置にお
いて、前記エラー解析情報は、前記装置本体の制御部が
前記分析手段の所定のシーケンスを実行する際に送信す
る進捗状況と共に、当該エラーが発生した際に前記装置
本体側の制御部が管理している状態信号を含むことがで
きる。

【０００９】また、本発明によれば、前記分析装置にお
いて、前記エラー解析情報としては、当該エラーが発生
した際に前記装置本体の制御部における入出力信号の状
態情報を含むことができる。

【００１０】また、本発明によれば、前記分析装置にお
いて、前記エラー解析情報としては、前記装置本体内に
当該エラーが発生した際のイベント情報であるメッセー
ジバッファー情報を含むことができる。

【００１１】また、本発明によれば、前記分析装置にお
いて、前記メッセージバッファー情報としては、当該エ
ラーが検知された前記分析手段の動作開始から当該エラ
ー発生までの所要時間を含むことができる。

【００１２】さらに、本発明によれば、前記分析装置に
おいて、前記エラー解析情報としては、前記装置本体で
発生したエラーを記録した履歴情報を含むことができ
る。

【００１３】そして、本発明によれば、前記分析装置に
おいて、前記エラー解析情報としては、前記装置本体で
発生したエラーに関するロギングインフォメーションを
含むことができる。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、添付の図面を参照しながら詳細に説明する。まず、
図１には、本発明の一の実施の形態になる蛍光Ｘ線分析
装置の外観構成が示されている。

【００１５】図からも明らかなように、分析装置の一種
である蛍光Ｘ線分析装置は、分析作業を行うための装置
本体１と、前記装置本体と通信回線を介して接続された
操作装置（周辺装置）としてのパーソナルコンピュータ
装置（以下、単に「パソコン」と言う）２とから構成さ
れている。

【００１６】また、本発明が関わる蛍光Ｘ線分析装置で
は、その装置本体１の上部には、例えば、装置による分
析の自動化を可能にするための試料交換部（機）２００
が設けられている。この試料交換部２００の内部には、
図示のように、サンプルテーブル２０１と、上記テーブ
ル上に並べられた試料ホルダーを装置の試料室内に、順
次、搬送・排出するためのロボットアーム等の搬送機構
２０２が設けられている。なお、このサンプルテーブル
２０１の上面には、金属製の外形略円筒状の試料ホルダ
ーが、その上端面に分析すべき試料をに搭載して、複数
並べて配置されている。また、この試料交換部２００の
内部と外部との開口である試料導入部（交換機の前面開
口部）には、例えば、透明なガラス板等から構成された
カバー２０３が開閉可能に取り付けられている。

【００１７】すなわち、上述した蛍光Ｘ線分析装置によ
れば、試料の分析を行う装置の操作者は、測定試料がそ
の上端面に装着されて用意された多数の試料ホルダー
を、上記試料交換部２００のカバー２０３を開放して上
記したサンプルテーブル２０１上に並べ（あるいは、テ
ーブル毎交換し）、そして、開放したカバー２０３を閉
止した後、装置本体１による分析作業を、装置本体１と
は別体（個別）に構成された操作装置としてのパソコン
２を介して実行する。また、装置本体１による分析作業
による分析結果は、上記パソコン２の本体２１に転送さ
れて必要に応じて所定の分析演算を行った後、そのディ
スプレー装置２２上に表示され、あるいは、プリンター
２３等の出力手段により出力されることとなる。

【００１８】図２には、上記したの実施の形態になる蛍
光Ｘ線分析装置の、装置本体１及び操作装置（周辺装
置）としてのパソコン２の内部構成が示されている。図
からも明らかなように、上記パーソナル・コンピュータ
装置２は、上記したプリンター２３等に加えて、本体２
１、ディスプレー装置２２、さらには、入力装置である
キーボード２４やマウス２５を備えており、さらに、そ
の本体２１内には、所定の演算処理を実行する中央演算
処理部（ＣＰＵ）２１１及び例えばハードディスク等の
記憶手段であるメモリ２１２とを備えている。

【００１９】一方、ここでは図示しないが、装置本体１
内部の真空室には、計測する試料が載置される試料室が
設けられており、さらに、試料室内に載置された試料に
照射するＸ線を発生するＸ線管部、分析試料から発生す
る蛍光Ｘ線を分光する分光結晶板を所定の角度に駆動す
る分光器部、この分光器部で分光されたＸ線の強度を計
数・検出する、例えば、シンチレーションカウンタやＸ
線検出器などからなる、検出部が設けられている。ま
た、装置本体１内には、上記装置本体１内部の真空室内
を真空状態に保つための真空排気系として、真空ポン
プ、真空センサ、バルブ等が設けられており、さらには
試料分析の際にゲートバルブを開閉し、分析試料を装置
内に導入する試料導入部等が設けられており、蛍光Ｘ線
分析装置は、これらの各部や各系の一連の動作により分
析試料の計測動作を行うものである。そして、これら各
部や各系の一連の動作は、以下に説明する制御部によっ
て駆動・制御される。

【００２０】また、上記試料交換部２００においても、
カバー２０３の開閉状態を検知し、上記したロボットア
ーム等の搬送機構２０２を駆動・制御し、もってサンプ
ルテーブル２０１上の試料ホルダーを、順次、装置本体
１の分析室内へ搬入し、あるいは、分析後の試料ホルダ
ーを搬出して上記サンプルテーブル２０１上へ戻す動作
が行われ、そのための各部の一連の動作は、やはり、以
下に説明する制御部１００によって駆動・制御されるこ
ととなる。

【００２１】なお、この図２では、上記した装置に設け
れたセンサーの一例として、試料交換部２００の試料導
入（開口）部に取り付けられ、カバー２０３の開閉状態
を検知する検知手段であるカバースイッチ（カバーＳ
Ｗ）３０１が示されており、また、装置本体１の分析動
作に必要な各部の動作を実行する各部としては、その一
例として、検出部、真空排気系等が、ブロック４０１、
４０２…により示されている。そして、上記装置本体１
内には、上記したように、その各種系を駆動・制御する
ことにより必要な分析動作を行うための制御部１００が
設けられている。

【００２２】なお、この制御部１００は、所定の制御演
算を実行するＭＰＵ（マイクロ・プロセッシング・ユニ
ット）や各種のメモリを含んでおり、Ｉ／Ｏ装置（イン
プット・アウトプット・ユニット）１０１を介して上記
検出系４０１を含む装置本体１の各種系に対して駆動・
制御信号を出力し、また、その各種センサーからの検出
出力を入力している。また、この制御部１００は、上記
パソコン装置２との間で、例えばＬＡＮ（ローカル・エ
リア・ネットワーク）等の通信回線３を介して接続され
ており、これにより、相互に、そのデータや指令を含む
情報の通信が可能に構成されている。そして、かかる構
成により、操作者がパソコン２側の入力手段から所望の
分析操作を指示し、この指示を受けた装置本体１側で
は、その操作指示内容に沿って、上記各種の系を所定の
シーケンスに従って駆動・制御することとなる。

【００２３】次に、上記に説明した蛍光Ｘ線分析装置本
体１の動作、特に、その制御部１００における動作を以
下に説明する。

【００２４】上記パソコン装置２側からの指令に対応し
て、装置本体１側の制御部１００におけるＭＰＵは、蛍
光Ｘ線分析装置本体１やその試料交換部２００の上記し
た各部や各系を駆動・制御するためにシーケンスを実行
することとなる。すなわち、図３にも示すように、ＭＰ
Ｕは、パソコン装置２側からの指令（コマンド）により
メモリ内に格納したプログラムに従って所定のシーケン
スを実行を開始する。

【００２５】図からも明らかなように、ＭＰＵは、コマ
ンドによるシーケンスを開始すると、まず、シーケンス
の進捗状況をパソコン装置２側へ通知し（ステップＳ１
１）、その後、シーケンスの予め定めたステップ（処
理）を実行する（ステップＳ１２）。

【００２６】その後も、そのシーケンスの進捗状況の通
知を行い（ステップＳ１３）、次に、エラーが発生した
か否かを判断する（ステップＳ１４）。そして、上記ス
テップＳ１４の判断の結果、エラーが発生した（「は
い」）と判断した場合にはFailure通知（誤動作通知）
を行い（ステップＳ１５）、処理を終了する。他方、エ
ラーが発生していない（「いいえ」）と判断した場合に
は、所定の処理を実行（Ｓ１５）する。その後も、図か
らも明らかなように、上記進捗状況通知、エラー発生の
判断、処理（又は、Failure通知）を繰り返し、もっ
て、コマンドによるシーケンスを実行することとなる。
そして、最後の進捗状況通知の後、ＭＰＵは、コマンド
による処理が終了したことを確認し（ステップＳ１７）
て所定の処理シーケンスを完了する。すなわち、ＭＰＵ
は、その進捗状況をパソコン装置側へ通知しながら、実
行するシーケンスを所定のステップ（処理）毎に実行し
てゆく。

【００２７】そして、かかる動作を繰り返すことによっ
て、すなわち、装置本体１側の制御部１００のＭＰＵ
は、パソコン装置２側からの指令された動作を実行して
装置内の各系における駆動・制御を行って所定の分析動
作を終了する。なお、実際の蛍光Ｘ線分析装置において
は、かかる動作を複数回かつ選択的に繰り返すことによ
り、装置本体１による所定の分析動作が実現されること
は言うまでもない。

【００２８】なお、この時、パソコン装置２側へ通知す
る情報である装置における処理シーケンスの進捗状況の
一例が添付の図４及び図５に示されている。

【００２９】図４は、ＭＰＵが管理している装置の状態
情報（ステータス情報）である。すなわち、装置本体１
側の各部（「項目」の項）に関する詳細な状態（「内
容」の項）が示されている。なお、この例では、「項
目」や「内容」の項にはその名称やその内容を日本語で
表示しているが、これらは所定のコードで表されていて
もよい。また、例えば、図示した「装置初期化フラグ」
とは、装置本体１の初期化フラグの状態を意味してお
り、「初期化中」とは、この装置本体１の初期化フラグ
の現在の状態が初期化中であることを示している。ま
た、この例では、「ゲートバルブ」の状態は「閉位置」
にあり、また、試料交換機２００の一部を構成する「リ
フトの内軸」と「リフトの外軸」は、それぞれ、「下位
置」と「上位置」に位置していることを示している。

【００３０】図５は、例えば、装置本体１のゲートバル
ブを開く処理を実行した後の進捗状況を示す状態情報
（ステータス情報）である。この図からも明らかなよう
に、「ゲートバルブ」の状態が「閉位置」から「開位
置」へ移行している。このように、状態情報（ステータ
ス情報）によれば、装置本体１の側の各部や各系の詳細
な状態を判断することが可能となる。

【００３１】なお、上記の図３に示したフローでは、エ
ラーが発生した場合、単に、Failure通知を実行して処
理を終了するものとして説明した。しかしながら、蛍光
Ｘ線分析装置の装置本体１やその試料交換部２００にお
ける上記した各部や各系におけるエラー（ハードウェア
エラー）信号には、所定の制御対象から、本来入力（応
答）されるべき信号が来ないような場合の、いわゆる
「タイムアウト」や、あるいは、本来、発生すべきでな
い出力が発生し、予期せぬセンサーや装置から出力を検
出する場合の、「予期せぬセンサ出力」などがある。

【００３２】まず、図６には、上記した「タイムアウ
ト」のハードウェアエラー信号が発生した場合における
ＭＰＵの動作の更に詳細な内容を示す。すなわち、ＭＰ
Ｕは、「タイムアウト」によるハードウェアエラー割り
込みを入力すると、ハードウェア動作完了割込を検出し
たか否かを判定し（ステップＳ２１）、検出していない
（「ＮＯ」）場合には、タイマーのカウント値を入力し
て（ステップＳ２２）、このタイマーのカウント値が所
定の値を超えている（即ち、タイムアウトが発生してい
る）ことを確認し（ステップＳ２３）、そして、カウン
トアウト時におけるエラー解析情報をパソコン２側へ通
知して（ステップＳ２４）その処理を終了する。

【００３３】他方、「予期せぬセンサ出力」などにより
ハードウェアエラー信号が発生した（その他）場合に
は、図７に示すように、ＭＰＵは、制御対象である装置
やセンサーから出力される、ハードウェアの動作が完了
したことを知らせるハードウェア動作完了割り込みの入
力を行い（ステップＳ３１）、このハードウェア動作完
了割り込みを検出したことを確認し（ステップＳ３
２）、すなわち、ハードウェア動作完了割り込みが発生
することを待って、上記と同様に、その時点でのエラー
解析情報をパソコン２側へ通知して（ステップＳ３３）
その処理を終了する。

【００３４】なお、上記したエラー解析情報とは、上記
ＭＰＵが管理している装置の状態情報（ステータス情
報）に加えて、以下にもその例を示すが、Ｉ／Ｏの状態
に関する情報、エベント情報であるメッセージバッファ
ー(Message buffer)情報、発生したエラーを記録するエ
ラー履歴情報、そして、切り出し情報であるロギングイ
ンフォメーション(Logging information)等を含むもの
である。

【００３５】まず、Ｉ／Ｏの状態に関する情報の例を、
添付の図８及び図９に示す。なお、このＩ／Ｏの状態に
は、実際のセンサーからのＩ／Ｏへの入力信号や、実際
にＩ／Ｏから出力している駆動信号の情報が示され
る。

【００３６】すなわち、図８には、特に、試料交換機２
００の一部を構成するリフトの内外軸に関するＩ／Ｏ情
報の例が示されており、より具体的には、アドレス「XX
XXXXXX」、「ビット０〜３」のＩ／Ｏの入力情報を示す
図８（ａ）のＩ／Ｏインフォメーション＜ＩＮ＞は、
「外軸の上位置(Upper position of outer lift)」から
の信号は「有る (Yes 1)」ことを、「外軸の下位置(Lo
wer position of outerlift)」からの信号は「ない (No
0)」ことを、「内軸の上位置(Upper positionof inne
r lift)」からの信号は「ない (No 0)」ことを、そし
て、「内軸の下位置(Lower position of inner lift)」
からの信号は「有る (Yes 1)」ことをそれぞれ示して
いる。

【００３７】また、アドレス「YYYYYYYY」、「ビット０
〜３」のＩ／Ｏの状態情報である図８（ｂ）のＩ／Ｏイ
ンフォメーション＜ＯＵＴ＞は、Ｉ／Ｏの出力情報を示
しており、より具体的には、「外軸のモータの時計回り
方向の制御(Control of motor for outer lift to C
W)」信号が「オフ(Off 0)」であり、「外軸のモータの
反時計回り方向の制御(Control of motor for outer li
ft to CCW)」信号も「オフ(Off 0)」であり、また、
「内軸のモータの時計回り方向の制御(Control ofmotor
for inner lift to CW)」信号が「オフ(Off 0)」であ
り、そして、「内軸のモータの反時計回り方向の制御(C
ontrol of motor for inner lift to CCW)」信号も「オ
フ(Off 0)」であることを示している。

【００３８】一方、図９には、特に、装置本体１のゲー
トバルブに関するＩ／Ｏ情報の例が示されている。すな
わち、図９（ａ）は、アドレス「XXXXXXXX」、「ビット
４〜７」におけるゲートバルブに関するＩ／Ｏの入力情
報（Ｉ／Ｏインフォメーション＜ＩＮ＞）を示してお
り、具体的には、「ゲートバルブの入力側(OPEN side o
f gate valve」の信号は「ない (No 0)」ことを、一
方、「ゲートバルブの入力側(CLOSED side of gate val
ve」の信号は「有る (Yes 1)」ことを示している。ま
た、図９（ｂ）は、アドレス「YYYYYYYY」、「ビット４
〜７」におけるゲートバルブに関するＩ／Ｏの出力情報
（Ｉ／Ｏインフォメーション＜ＯＵＴ＞）を示してお
り、具体的には、「ゲートバルブのモータの方向(Direc
tion of motorfor gate valve)」が「時計回りである
（CW 1）」ことを、「ゲートバルブのモータの制御(Co
ntrol of motor for gate valve)」が「オフ(Off 0)」
であることを示している。

【００３９】次に、他のエラー解析情報、すなわち、エ
ベント情報であるメッセージバッファー(Message buffe
r)情報の一例を、添付の図１０に示す。

【００４０】この図１０のエベント情報は、ＭＰＵがシ
ーケンスの実行に伴ってそのエベントの進捗状況を示す
情報である。具体的には、「Ｎｏ」の項には、シーケン
スを構成するステップを表すステップ番号（この例で
は、２４２〜２５６）が示されており、「Code No」の
項には、発生した事象が３桁の数字からコードで示され
ている。また、「Information」の項には、４桁づつの
２組のコードにより、ハードウェアエラーが発生した場
合の、当該ハードウェアの動作開始から割り込み発生ま
での所要時間と上記Ｉ／Ｏの入力状態が示され、さら
に、「Date & Time」の項には、各ステップの実行され
た年月日と時刻が示されている。

【００４１】この図１０の例では、例えば、ステップＮ
ｏ２５２では、コード「８０６」により「リフト内軸の
下降が完了」したことを示し、次のステップＮｏ２５３
では、コード「８５９」により「リフト内軸が上昇を開
始」したことを示している。そして、次のステップＮｏ
２５４では、コード「２１１」により、「ゲートバルブ
が開位置を検出しない」というハードウェアエラーが発
生したことを示している。なお、このハードウェアエラ
ーについては、「Information」の内容「００６６」か
ら、ゲートバルブの動作開始から割り込み発生までの所
要時間が６６ｍｓｅｃであることが、また、同じ「Info
rmation」の内容「０１０２」からは、割り込み発生時
のＩ／Ｏの入力状況として「ゲートバルブ開のセンサか
らの出力がない」ことが分かる。すなわち、ハードウェ
アエラーには、予め、その制御原因別にエラー番号が記
号化（例えば、通し番号を割り付けておく）されて付与
され、また、Ｉ／Ｏの入力状況も同様に記号化（例え
ば、通し番号を割り付けておく）されて付与されてい
る。

【００４２】また、図１１には、さらに他のエラー解析
情報である、エラー履歴情報の一例が示されている。図
からも明らかなように、このエラー履歴情報では、発生
したエラーが順次、下から順番に表示される。また、発
生した各エラーについては、その「発生年月日」、その
エラーの「レベル（例えば、「異常」等）」、そして、
エラーの内容が「エラー内容」の項に示される。なお、
ここで異常レベルのエラーとは、かかるエラーの発生に
より、装置の初期化が必要な場合、あるいは、そのハー
ドウェアに問題がある場合を意味している。

【００４３】加えて、図１２には、さらに他のエラー解
析情報である、いわゆるロギングインフォメーション(L
ogging information)の一例が示される。なお、この例
では、特に、「Ｎｏ」が６であるゲートバルブ「gate v
alve」についての一例が具体的に示されており、「Newe
st」の項には、ゲートバルブに関するエラーの最新の複
数の情報が「１」、「２」、「３」…のように、最新情
報を先頭に時系列的に示される。また、「Longest」の
項には、ゲートバルブエラーについての発生状況が、そ
の所要時間が最長であるものを先頭に順次並んで表示さ
れる。また、「Timeout」の項には、ゲートバルブに関
する上記タイムアウトエラーの発生状況が示されている
が、この例では、ゲートバルブに関しては、タイムアウ
トエラーが発生していないことを示している。

【００４４】なお、上記した各種の情報、すなわち、上
記ＭＰＵが管理している装置の状態情報（ステータス情
報）、Ｉ／Ｏの状態情報、メッセージバッファー(Messa
ge buffer)情報、発生したエラーを記録するエラー履歴
情報、そして、ロギングインフォメーション(Logging i
nformation)等からなるエラー解析情報は、蛍光Ｘ線分
析装置の装置本体１側の各部及び各系の動作に伴って生
成されて本体側で一時的に記憶されるが、本発明では、
これらの情報を、上記したように、シーケンスの所定の
ステップの完了、あるいは、ハードウェアエラーの発生
に伴って、パソコン装置２側へ通知し、そのハードディ
スク等の記憶手段であるメモリ２１２内に、例えばデー
タベースとして格納しておく。

【００４５】次に、上記蛍光Ｘ線分析装置を構成するパ
ソコン装置２側における動作について、以下に説明す
る。

【００４６】上記したエラーが蛍光Ｘ線分析装置の装置
本体１側に発生した場合のパソコン装置２側の動作が、
添付の図１３に示されている。すなわち、ハードウェア
エラーが発生した場合、まずパソコン装置２側では、上
記装置本体１の制御部１００を構成するＭＰＵからのFa
ilure通知（誤動作通知、上記図３を参照）を受ける
と、例えば図１４に示すように、パソコン側のディスプ
レイ２２上に表示されている現在分析中の試料の分析結
果を表示する表示画面５００上に、図１５に示すよう
な、いわゆるエラー発生の警報を行うエラー警告ウィン
ドウ５５０を表示する（ステップＳ５１）。さらには、
スピーカ等を介して警報音を発生してもよい。

【００４７】上記パソコン側のディスプレイ２２上での
警報の発生により、操作者（オペレータ）は、装置本体
１側でのハードウェアエラーを知り、その後、図からも
明らかなように、エラー警報ウィンドウ５５０内の「了
解」ボタン５５１又は「エラーメンテナンス情報」ボタ
ン５５２をクリックする。なお、「了解」ボタン５５１
をクリックした場合には、ここで処理は終了し、他方、
オペレータが「エラーメンテナンス情報」ボタン５５２
をクリックした場合（ステップＳ５２）には、例えば、
添付の図１６に示すような、発生したハードウェアエラ
ーに関するメンテナンス情報のウィンドウ５５３を表示
する（ステップＳ５４）。

【００４８】そして、本発明によれば、上記したエラー
警告ウィンドウ５５０やメンテナンス情報ウィンドウ５
５３の表示に加え、上記図１４に示した表示画面（ウィ
ンドウ）５００の上方に並んだ複数のボタンから「メン
テナンス」ボタンをクリックすることにより（ステップ
Ｓ５３）、上記パソコン装置２側のメモリ２１２内にデ
ータベースとして格納した上記エラー解析情報を表示
（ステップＳ５５）、特に、これら複数のエラー解析情
報を選択的に表示することが可能となっている。

【００４９】例えば、本実施例では、添付の図１７に示
すように、上記図１４に示した表示画面（ウィンドウ）
５００上方の「メンテナンス」ボタン５０１をクリック
することにより、パソコン側では上記した複数のエラー
解析情報の中からオペレータが必要な情報を選択するた
めの画面をそのディスプレイ２２上に表示し、この選択
画面により選択された情報を画面上に表示する。しかし
ながら、本発明では、必ずしも上記のように「メンテナ
ンス」ボタンを押下することによりエラー解析情報を表
示する必要はなく、他の方法によって表示するようにす
ることも可能である。また、上記エラー解析情報の表示
についても、これらを必ずしも選択的に表示する必要は
なく、全部を一時に表示してもよい。しかしながら、特
に、表示画面の大きさが不十分である場合などには、オ
ペレータが、発生したハードウェアエラーを解析するた
めに必要と思われる情報だけを表示するようにすること
が好ましいであろう。

【００５０】なお、これによりれば、例えば、上記図１
５に示したエラー警告ウィンドウ５５０がパソコン側の
ディスプレイ２２上に表示され、「ゲートバルブが開位
置を検知しない」旨が示された場合、オペレータは上記
図１４の表示画面（ウィンドウ）５００上方の「メンテ
ナンス」ボタンをクリックして、そこで、例えばメッセ
ージバッファー(Message buffer)情報を選択した場合
（図１７を参照）には、上記図１０に示す内容の情報が
表示される。そして、このメッセージバッファー情報に
よれば、オペレータは、ステップ２５４において上記し
たゲートバルブにおけるハードウェアエラー（即ち、Co
de Ｎｏ２１１）が発生したことを知ると共に、当該ハ
ードウェアの動作開始から割り込み発生までの所要時間
とそのＩ／Ｏの入力状態が示され、さらに、エラーが発
生した年月日と時刻を知ることとなる。

【００５１】そして、例えば、特にこのメッセージバッ
ファー(Message buffer)情報によれば、オペレータは、
その前のステップ、例えばステップＮｏ２５２では、コ
ード「８０６」により「リフト内軸の下降が完了」した
ことを確認し、次のステップＮｏ２５３では、コード
「８５９」により「リフト内軸が上昇を開始」したこと
を確認することが出来、これにより、発生したハードウ
ェアエラーの発生原因を分析あるいは推測することが可
能となる。また、例えば、上記図１１に示したエラー履
歴情報によれば、この情報は最近発生したハードウェア
エラーを表示することから、「ゲートバルブが開位置を
検知しない」とするエラーが、２０００年７月７日に
も、午前８時３２分と８時３６分にも発生していたこと
が分かり、エラーの発生原因の分析あるいは推測の一助
となる。また、その他、上記図４や図５に示した処理シ
ーケンスの進捗状況である状態情報（ステータス情
報）、上記図８や図９に示したＩ／Ｏインフォメーショ
ン、及び、上記図１２に示したロギングインフォメーシ
ョン(Logging information)も、やはり上記と同様に、
エラーの発生原因の分析あるいは推測の一助となり、こ
れによりエラー発生原因の究明に好適であることは明ら
かであろう。また、このことは、周辺機器として接続さ
れるパソコンの処理能力の利用の観点からも好ましい。

【００５２】

【発明の効果】以上の詳細な説明からも明らかなよう
に、本発明によれば、蛍光Ｘ線分析装置等を自動的に分
析を行う分析装置本体側にハードウェアエラーが発生し
た場合、かかるエラー発生の警告情報やそれに関するメ
ンテナンス情報だけではなく、さらに、本来装置本体側
のＭＰＵが管理している装置の状態情報（ステータス情
報）、Ｉ／Ｏの状態情報、メッセージバッファー(Messa
ge buffer)情報、発生したエラーを記録するエラー履歴
情報、そして、ロギングインフォメーション(Logging i
nformation)等からなるエラー解析情報についても、そ
の操作や分析演算を行う装置である周辺装置として構成
されたパソコン２側の記憶装置内にデータベースとして
格納し、もって、それらのデータを自在にかつ選択的に
パソコン側のディスプレイ上に表示することが出来るこ
とから、その表示画面からは、発生したハードウェアエ
ラーの発生原因を究明することが可能となり、特に、複
雑なシーケンス処理中に発生したハードウェアエラーで
も可能であり、また、同時に近年の処理能力が著しく向
上している装置の周辺機器としてパソコンを有効に活用
することが可能となるという効果を発揮する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施の形態になる蛍光Ｘ線分析装置
の外観構成を示す図である。

【図２】上記蛍光Ｘ線分析装置の装置本体及びその操作
装置（周辺装置）としてのパソコンの内部構成を示すブ
ロック図である。

【図３】上記蛍光Ｘ線分析装置の装置本体のＭＰＵが実
行する処理シーケンスを示すフローチャート図である。

【図４】パソコン装置側へ通知する情報である処理シー
ケンスの進捗状況の一例である、ＭＰＵが管理している
装置の状態情報（ステータス情報）を示す図である。

【図５】やはり、パソコン装置側へ通知する処理シーケ
ンスの進捗状況の一例であり、ゲートバルブを開く処理
を実行した後のステータス情報を示す図である。

【図６】「タイムアウト」のハードウェアエラー信号が
発生した場合におけるＭＰＵの動作の更に詳細な内容を
示すフローチャート図である。

【図７】その他の場合のハードウェアエラー信号が発生
した場合におけるＭＰＵの動作の更に詳細な内容を示す
フローチャート図である。

【図８】本発明の特徴をなすエラー解析情報におけるＩ
／Ｏインフォメーションの一例を示す図である。

【図９】やはり、本発明の特徴をなすエラー解析情報に
おけるＩ／Ｏインフォメーションの一例を示す図であ
る。

【図１０】本発明の特徴をなすエラー解析情報における
エベント情報であるメッセージバッファー(Message buf
fer)情報の一例を示す図である。

【図１１】本発明の特徴をなすエラー解析情報における
エラー履歴情報の一例を示す図である。

【図１２】本発明の特徴をなすエラー解析情報における
ロギングインフォメーション(Logging information)の
一例を示す図である。

【図１３】蛍光Ｘ線分析装置側にエラーが発生した場合
のパソコン装置側の動作を示すフローチャート図であ
る。

【図１４】蛍光Ｘ線分析装置による試料の分析結果を表
示するパソコンのディスプレイ上の表示画面の一例を示
す図である。

【図１５】蛍光Ｘ線分析装置側にエラーが発生した場合
にパソコンのディスプレイ上に表示されるエラー警告ウ
ィンドウの一例を示す図である。

【図１６】蛍光Ｘ線分析装置側にエラーが発生した場合
にパソコンのディスプレイ上に表示されるエラーメンテ
ナンス情報の一例を示す図である。

【図１７】複数のエラー解析情報の中からオペレータが
必要な情報を選択するための選択画面の一例を示す図で
ある。

【符号の説明】

１蛍光Ｘ線分析装置の装置本体２操作装置としてのパソコン装置２１パソコンの本体２２ディスプレイ装置２１２メモリ１００制御部１０１Ｉ／Ｏ装置３０１カバー・スイッチ（カバーＳＷ）４０１、４０２ブロック

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成１３年６月２１日（２００１．６．２
１）

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００１６

【補正方法】変更

【補正内容】

【００１６】また、本発明が関わる蛍光Ｘ線分析装置で
は、その装置本体１の上部には、例えば、装置による分
析の自動化を可能にするための試料交換部（機）２００
が設けられている。この試料交換部２００の内部には、
図示のように、サンプルテーブル２０１と、上記テーブ
ル上に並べられた試料ホルダーを装置の試料室内に、順
次、搬送・排出するためのロボットアーム等の搬送機構
２０２が設けられている。なお、このサンプルテーブル
２０１の上面には、金属製の外形略円筒状の試料ホルダ
ーが、その上端面に分析すべき試料を搭載して、複数並
べて配置されている。また、この試料交換部２００の内
部と外部との開口である試料導入部（交換機の前面開口
部）には、例えば、透明なガラス板等から構成されたカ
バー２０３が開閉可能に取り付けられている。

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００１８

【補正方法】変更

【補正内容】

【００１８】図２には、上記した実施の形態になる蛍光
Ｘ線分析装置の、装置本体１及び操作装置（周辺装置）
としてのパソコン２の内部構成が示されている。図から
も明らかなように、上記パーソナル・コンピュータ装置
２は、上記したプリンター２３等に加えて、本体２１、
ディスプレー装置２２、さらには、入力装置であるキー
ボード２４やマウス２５を備えており、さらに、その本
体２１内には、所定の演算処理を実行する中央演算処理
部（ＣＰＵ）２１１及び例えばハードディスク等の記憶
手段であるメモリ２１２とを備えている。

【手続補正３】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００３８

【補正方法】変更

【補正内容】

【００３８】一方、図９には、特に、装置本体１のゲー
トバルブに関するＩ／Ｏ情報の例が示されている。すな
わち、図９（ａ）は、アドレス「XXXXXXXX」、「ビット
４〜７」におけるゲートバルブに関するＩ／Ｏの入力情
報（Ｉ／Ｏインフォメーション＜ＩＮ＞）を示してお
り、具体的には、「ゲートバルブの開側(OPEN side ofg
ate valve)の信号は「ない (No 0)」ことを、一方、
「ゲートバルブの閉側(CLOSED side of gate valve」の
信号は「有る (Yes 1)」ことを示している。また、図
９（ｂ）は、アドレス「YYYYYYYY」、「ビット４〜７」
におけるゲートバルブに関するＩ／Ｏの出力情報（Ｉ／
Ｏインフォメーション＜ＯＵＴ＞）を示しており、具体
的には、「ゲートバルブのモータの方向(Direction of
motor for gate valve)」が「時計回りである（CW
1）」ことを、「ゲートバルブのモータの制御(Control
of motor for gate valve)」が「オフ(Off 0)」である
ことを示している。

【手続補正４】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００４１

【補正方法】変更

【補正内容】

【００４１】この図１０の例では、例えば、ステップＮ
ｏ２５２では、コード「８０６」により「リフト内軸の
下降が完了」したことを示し、次のステップＮｏ２５３
では、コード「８５９」により「リフト内軸が上昇を開
始」したことを示している。そして、次のステップＮｏ
２５４では、コード「２１１」により、「ゲートバルブ
が開位置を検出しない」というハードウェアエラーが発
生したことを示している。なお、このハードウェアエラ
ーについては、「Information」の内容「００６６」か
ら、ゲートバルブの動作開始から割り込み発生までの所
要時間が６６０ｍｓｅｃであることが、また、同じ「In
formation」の内容「０１０２」からは、割り込み発生
時のＩ／Ｏの入力状況として「ゲートバルブ開のセンサ
からの出力がない」ことが分かる。すなわち、ハードウ
ェアエラーには、予め、その制御原因別にエラー番号が
記号化（例えば、通し番号を割り付けておく）されて付
与され、また、Ｉ／Ｏの入力状況も同様に記号化（例
えば、通し番号を割り付けておく）されて付与されてい
る。

【手続補正５】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００５０

【補正方法】変更

【補正内容】

【００５０】なお、これによれば、例えば、上記図１５
に示したエラー警告ウィンドウ５５０がパソコン側のデ
ィスプレイ２２上に表示され、「ゲートバルブが開位置
を検知しない」旨が示された場合、オペレータは上記図
１４の表示画面（ウィンドウ）５００上方の「メンテナ
ンス」ボタンをクリックして、そこで、例えばメッセー
ジバッファー(Message buffer)情報を選択した場合（図
１７を参照）には、上記図１０に示す内容の情報が表示
される。そして、このメッセージバッファー情報によれ
ば、オペレータは、ステップ２５４において上記したゲ
ートバルブにおけるハードウェアエラー（即ち、Code
Ｎｏ２１１）が発生したことを知ると共に、当該ハード
ウェアの動作開始から割り込み発生までの所要時間とそ
のＩ／Ｏの入力状態が示され、さらに、エラーが発生し
た年月日と時刻を知ることとなる。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】試料を試料室内に載置しながら前記試料
を自動的に分析する分析装置であって、装置本体と、前
記装置本体とデータ通信可能に接続された周辺装置を有
しており、前記装置本体は、試料を自動的に分析するために分析手
段を所定のシーケンスを実行するための制御部を備え、
そして、前記周辺装置は、少なくとも所定の演算処理を実行する
中央演算部と、データを記憶するための記憶手段と、さ
らに、表示装置とを備えており、前記装置本体の制御部は、前記所定のシーケンスを実行
する際に当該シーケンスの進捗状況を前記周辺装置側へ
送信し、かつ、前記分析手段に発生するハードウェアエ
ラーを検知して前記周辺装置側へ通知してエラー解析情
報を前記周辺装置側へ転送する機能を備えており、前記周辺装置の中央演算部は、前記装置本体の制御部が
検出した前記分析手段に発生するハードウェアエラーを
前記表示装置上に表示すると共に、前記記憶手段に記憶
したエラー解析情報を前記表示装置上に選択的に表示す
る機能を備えていることを特徴とする分析装置。
【請求項２】前記請求項１に記載した分析装置におい
て、前記エラー解析情報は、前記装置本体の制御部が前
記分析手段の所定のシーケンスを実行する際に送信する
進捗状況と共に、当該エラーが発生した際に前記装置本
体側の制御部が管理している状態信号を含むことを特徴
とする分析装置。
【請求項３】前記請求項２に記載した分析装置におい
て、前記エラー解析情報は、当該エラーが発生した際に
前記装置本体の制御部における入出力信号の状態情報を
含むことを特徴とする分析装置。
【請求項４】前記請求項２に記載した分析装置におい
て、前記エラー解析情報は、前記装置本体内に当該エラ
ーが発生した際のイベント情報であるメッセージバッフ
ァー情報を含むことを特徴とする分析装置。
【請求項５】前記請求項４に記載した分析装置におい
て、前記メッセージバッファー情報は、当該エラーが検
知された前記分析手段の動作開始から当該エラー発生ま
での所要時間を含んでいることを特徴とする分析装置。
【請求項６】前記請求項２に記載した分析装置におい
て、前記エラー解析情報は、前記装置本体で発生したエ
ラーを記録した履歴情報を含むことを特徴とする分析装
置。
【請求項７】前記請求項２に記載した分析装置におい
て、前記エラー解析情報は、前記装置本体で発生したエ
ラーに関するロギングインフォメーションを含むことを
特徴とする分析装置。