JP2002114575A - 六方晶窒化ホウ素板及びその製造方法、用途 - Google Patents
六方晶窒化ホウ素板及びその製造方法、用途Info
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- JP2002114575A JP2002114575A JP2000304471A JP2000304471A JP2002114575A JP 2002114575 A JP2002114575 A JP 2002114575A JP 2000304471 A JP2000304471 A JP 2000304471A JP 2000304471 A JP2000304471 A JP 2000304471A JP 2002114575 A JP2002114575 A JP 2002114575A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】優れた被切削性、耐熱衝撃性、電気絶縁性、低
誘電性、低誘電損失性を有し、しかも厚さ方向の熱伝導
率が150W/m・K以上の六方晶窒化ホウ素板と、そ
れを用いた半導体用基板を提供する。 【解決手段】厚み方向における熱伝導率が150W/m
・K以上、密度が1.8g/cm3以上、入射X線と回
折X線が板平面の法線に対称となるようにX線を入射さ
せてなるX線回折測定において、(002)回折線と
(100)回折線のピーク強度比I(002)/I(100)が
4.0以下であることを特徴とする六方晶窒化ホウ素
板。この六方晶窒化ホウ素板からなる半導体用基板。六
方晶窒化ホウ素板の製造方法。
誘電性、低誘電損失性を有し、しかも厚さ方向の熱伝導
率が150W/m・K以上の六方晶窒化ホウ素板と、そ
れを用いた半導体用基板を提供する。 【解決手段】厚み方向における熱伝導率が150W/m
・K以上、密度が1.8g/cm3以上、入射X線と回
折X線が板平面の法線に対称となるようにX線を入射さ
せてなるX線回折測定において、(002)回折線と
(100)回折線のピーク強度比I(002)/I(100)が
4.0以下であることを特徴とする六方晶窒化ホウ素
板。この六方晶窒化ホウ素板からなる半導体用基板。六
方晶窒化ホウ素板の製造方法。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体用基板、電
気絶縁性放熱材料、耐熱衝撃性放熱材料等として有用な
六方晶窒化ホウ素板とその製造方法、用途に関する。
気絶縁性放熱材料、耐熱衝撃性放熱材料等として有用な
六方晶窒化ホウ素板とその製造方法、用途に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、高熱伝導が必要な半導体用基板、
電気絶縁性材料等としては窒化アルミニウム(AlN)
焼結体が盛んに用いられている。AlN焼結体は、11
0〜195W/m・Kの高い熱伝導率を有するものであ
るが(例えば特開昭61−270624号公報)、その
反面、切削加工が困難であるため形状付与の自由度が小
さく、目的形状を得るためには加工コストが高くなる等
の問題点がある。
電気絶縁性材料等としては窒化アルミニウム(AlN)
焼結体が盛んに用いられている。AlN焼結体は、11
0〜195W/m・Kの高い熱伝導率を有するものであ
るが(例えば特開昭61−270624号公報)、その
反面、切削加工が困難であるため形状付与の自由度が小
さく、目的形状を得るためには加工コストが高くなる等
の問題点がある。
【0003】また、AlN焼結体の高熱伝導性を保ちな
がら切削性を向上させるため、AlNと六方晶窒化ホウ
素(BN)の複合材料が提案されており(例えば特開昭
58−32073号公報、特開昭60−195059号
公報、特開平4−292467号公報)、熱伝導率55
〜195W/m・Kで切削性に優れたAlN/BN複合
材料が報告されている。さらには、異方性を付与した熱
伝導率150W/m・K以上のAlN/BN複合材料も
知られている(特公平7−45344号公報)。
がら切削性を向上させるため、AlNと六方晶窒化ホウ
素(BN)の複合材料が提案されており(例えば特開昭
58−32073号公報、特開昭60−195059号
公報、特開平4−292467号公報)、熱伝導率55
〜195W/m・Kで切削性に優れたAlN/BN複合
材料が報告されている。さらには、異方性を付与した熱
伝導率150W/m・K以上のAlN/BN複合材料も
知られている(特公平7−45344号公報)。
【0004】しかしながら、AlN/BN複合材料は、
AlN粉とBN粉の混合粉末を原料にするため、混合の
均一性を維持せねばならず製造工程が煩雑になる。くわ
えて、高周波関連の用途においては、基板等の絶縁材料
が低誘電率かつ低誘電損失であることが要求されるにも
拘わらず、AlNの誘電率及び誘電損失はBNよりも大
きいという問題がある。
AlN粉とBN粉の混合粉末を原料にするため、混合の
均一性を維持せねばならず製造工程が煩雑になる。くわ
えて、高周波関連の用途においては、基板等の絶縁材料
が低誘電率かつ低誘電損失であることが要求されるにも
拘わらず、AlNの誘電率及び誘電損失はBNよりも大
きいという問題がある。
【0005】一方、六方晶BN焼結体は、優れた被切削
性、耐食性、耐熱性、耐熱衝撃性、電気絶縁性、低誘電
性、低誘電損失性を有しており、さまざまな分野で広く
用いられている。六方晶BN焼結体は、一般的には酸化
物系の焼結助剤を加えたホットプレス法や常圧焼結法で
製造され、六方晶BNの層状の結晶構造に起因する構造
的な異方性を有し、それに伴い物性値に異方性がある。
性、耐食性、耐熱性、耐熱衝撃性、電気絶縁性、低誘電
性、低誘電損失性を有しており、さまざまな分野で広く
用いられている。六方晶BN焼結体は、一般的には酸化
物系の焼結助剤を加えたホットプレス法や常圧焼結法で
製造され、六方晶BNの層状の結晶構造に起因する構造
的な異方性を有し、それに伴い物性値に異方性がある。
【0006】原料であるBN粉を、特定形状の粗粒子及
び特定形状の微粒子を所定の割合で組み合わせたものと
することによって、構造的な異方性を積極的に付与し、
熱伝導率を100W/m・K以上にまで向上させたBN
焼結体が知られている(特開平9−87033号公
報)。しかし、この方法においては、最大熱伝導率は1
35W/m・Kであり、AlN焼結体(最高195W/
m・K)やAlN/BN複合材料(150W/m・K以
上)並みのレベルには至っていない。
び特定形状の微粒子を所定の割合で組み合わせたものと
することによって、構造的な異方性を積極的に付与し、
熱伝導率を100W/m・K以上にまで向上させたBN
焼結体が知られている(特開平9−87033号公
報)。しかし、この方法においては、最大熱伝導率は1
35W/m・Kであり、AlN焼結体(最高195W/
m・K)やAlN/BN複合材料(150W/m・K以
上)並みのレベルには至っていない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明の第1の目的
は、優れた被切削性、耐熱衝撃性、電気絶縁性、低誘電
性、低誘電損失性等の本来の特性を有し、しかも厚さ方
向の熱伝導率を150W/m・K以上に高めた六方晶B
N焼結体からなる六方晶窒化ホウ素板を提供することで
ある。本発明の第2の目的は、このような優れた特性を
有する六方晶窒化ホウ素板からなる半導体用基板を提供
することである。
は、優れた被切削性、耐熱衝撃性、電気絶縁性、低誘電
性、低誘電損失性等の本来の特性を有し、しかも厚さ方
向の熱伝導率を150W/m・K以上に高めた六方晶B
N焼結体からなる六方晶窒化ホウ素板を提供することで
ある。本発明の第2の目的は、このような優れた特性を
有する六方晶窒化ホウ素板からなる半導体用基板を提供
することである。
【0008】本発明の目的は、六方晶窒化ホウ素粉末を
含む短冊状成形体の複数個を、該短冊状成形体の相対す
る上下面、左右面、又は前後面のうち、最も数多くの六
方晶窒化ホウ素粒子の扁平状平面と平行関係を有してい
る面同士を重ねて積層した後、積層方向から一軸加圧を
しながらホットプレス焼結することによって達成するこ
とができる。
含む短冊状成形体の複数個を、該短冊状成形体の相対す
る上下面、左右面、又は前後面のうち、最も数多くの六
方晶窒化ホウ素粒子の扁平状平面と平行関係を有してい
る面同士を重ねて積層した後、積層方向から一軸加圧を
しながらホットプレス焼結することによって達成するこ
とができる。
【0009】
【課題を解決するための手段】すなわち、本発明は、以
下のとおりである。 (請求項1)厚み方向における熱伝導率が150W/m
・K以上、密度が1.8g/cm3以上、入射X線と回
折X線が板平面の法線に対称となるようにX線を入射さ
せてなるX線回折測定において、(002)回折線と
(100)回折線のピーク強度比I(002)/I(100)が
4.0以下であることを特徴とする六方晶窒化ホウ素
板。 (請求項2)六方晶窒化ホウ素粉末を含む短冊状成形体
の複数個を、該短冊状成形体の相対する上下面、左右
面、又は前後面のうち、最も数多くの六方晶窒化ホウ素
粒子の扁平状平面と平行関係を有している面同士を重ね
て積層した後、積層方向から一軸加圧をしながらホット
プレス焼結することを特徴とする六方晶窒化ホウ素板の
製造方法。 (請求項3)請求項1記載の六方晶窒化ホウ素板よりな
ることを特徴とする半導体用基板。
下のとおりである。 (請求項1)厚み方向における熱伝導率が150W/m
・K以上、密度が1.8g/cm3以上、入射X線と回
折X線が板平面の法線に対称となるようにX線を入射さ
せてなるX線回折測定において、(002)回折線と
(100)回折線のピーク強度比I(002)/I(100)が
4.0以下であることを特徴とする六方晶窒化ホウ素
板。 (請求項2)六方晶窒化ホウ素粉末を含む短冊状成形体
の複数個を、該短冊状成形体の相対する上下面、左右
面、又は前後面のうち、最も数多くの六方晶窒化ホウ素
粒子の扁平状平面と平行関係を有している面同士を重ね
て積層した後、積層方向から一軸加圧をしながらホット
プレス焼結することを特徴とする六方晶窒化ホウ素板の
製造方法。 (請求項3)請求項1記載の六方晶窒化ホウ素板よりな
ることを特徴とする半導体用基板。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明について詳細に説明
する。
する。
【0011】本発明の六方晶窒化ホウ素板の密度は、
1.8g/cm3以上である。六方晶窒化ホウ素の真密
度は2.28g/cm3であるとされる(「JCPDS
[粉末X線回折データベース]」No.34−0421
[BN]の結晶密度値[Dx]参照)。六方晶窒化ホウ
素板等のBN成形物に気孔が多く含まれると熱伝導が阻
害される。したがって、高熱伝導を得るためには気孔の
少ない高密度の焼結体であることが必要であり、150
W/m・K以上の高熱伝導を得るためには、相対密度約
80%に相当する1.8g/cm3以上でなければなら
ない。密度がこれよりも小さいと、いかに構造的な異方
性を付与しても、熱伝導率は150W/m・K未満にし
かならず、本発明の六方晶窒化ホウ素板は得られない。
1.8g/cm3以上である。六方晶窒化ホウ素の真密
度は2.28g/cm3であるとされる(「JCPDS
[粉末X線回折データベース]」No.34−0421
[BN]の結晶密度値[Dx]参照)。六方晶窒化ホウ
素板等のBN成形物に気孔が多く含まれると熱伝導が阻
害される。したがって、高熱伝導を得るためには気孔の
少ない高密度の焼結体であることが必要であり、150
W/m・K以上の高熱伝導を得るためには、相対密度約
80%に相当する1.8g/cm3以上でなければなら
ない。密度がこれよりも小さいと、いかに構造的な異方
性を付与しても、熱伝導率は150W/m・K未満にし
かならず、本発明の六方晶窒化ホウ素板は得られない。
【0012】六方晶窒化ホウ素粒子は層状の結晶構造を
有しているため、粒子の形態が扁平状である。扁平粒子
の面[(002)面]に平行な方向が結晶学的なa軸方
向、面に垂直な方向がc軸方向にそれぞれ相当する。面
に平行な方向の熱伝導率は200W/m・Kを超え、面
に垂直な方向よりも2桁以上大きいとされる("Cer
amic Materials Possessing
High Thermal Conductivit
y"; Adv. Mater,4,p.53[199
2])。
有しているため、粒子の形態が扁平状である。扁平粒子
の面[(002)面]に平行な方向が結晶学的なa軸方
向、面に垂直な方向がc軸方向にそれぞれ相当する。面
に平行な方向の熱伝導率は200W/m・Kを超え、面
に垂直な方向よりも2桁以上大きいとされる("Cer
amic Materials Possessing
High Thermal Conductivit
y"; Adv. Mater,4,p.53[199
2])。
【0013】六方晶窒化ホウ素扁平粒子の配向は、X線
回折測定によって定量化できる。扁平粒子の面に垂直な
方向は結晶学的な<002>すなわちc軸方向、面に平
行な方向は<100>すなわちa軸方向にそれぞれ一致
している。BN粒子が無配向である場合、(002)回
折線と(100)回折線のピーク強度比I(002)/I(10
0)は、100/15≒6.7になる(「JCPDS[粉
末X線回折データベース]」No.34−0421[B
N]参照)。
回折測定によって定量化できる。扁平粒子の面に垂直な
方向は結晶学的な<002>すなわちc軸方向、面に平
行な方向は<100>すなわちa軸方向にそれぞれ一致
している。BN粒子が無配向である場合、(002)回
折線と(100)回折線のピーク強度比I(002)/I(10
0)は、100/15≒6.7になる(「JCPDS[粉
末X線回折データベース]」No.34−0421[B
N]参照)。
【0014】したがって、窒化ホウ素板の平面に対し、
入射X線と回折X線が板平面の法線に対して互いに対称
となるようにX線を入射させて回折測定を行った場合に
I (002)/I(100)>6.7であれば扁平なBN粒子の
c軸方向が板平面の厚さ方向に合致するように配向し、
逆にI(002)/I(100)<6.7であればBN粒子のa軸
方向が板平面の厚さ方向に合致するように配向している
ことになる。
入射X線と回折X線が板平面の法線に対して互いに対称
となるようにX線を入射させて回折測定を行った場合に
I (002)/I(100)>6.7であれば扁平なBN粒子の
c軸方向が板平面の厚さ方向に合致するように配向し、
逆にI(002)/I(100)<6.7であればBN粒子のa軸
方向が板平面の厚さ方向に合致するように配向している
ことになる。
【0015】窒化ホウ素板の厚さ方向の熱伝導率を向上
させるには、高熱伝導であるBN粒子のa軸方向が窒化
ホウ素板の厚さ方向に合致するように配向させなければ
ならない。この時、I(002)/I(100)は6.7よりも小
さくなる。本発明における高度な配向においては、I
(002)/I(100)が4.0以下になる。I(002)/I(100)
が4.0を超えると、いかに高密度のBN焼結体であっ
ても厚さ方向の熱伝導率は150W/m・K以上にはな
らない。
させるには、高熱伝導であるBN粒子のa軸方向が窒化
ホウ素板の厚さ方向に合致するように配向させなければ
ならない。この時、I(002)/I(100)は6.7よりも小
さくなる。本発明における高度な配向においては、I
(002)/I(100)が4.0以下になる。I(002)/I(100)
が4.0を超えると、いかに高密度のBN焼結体であっ
ても厚さ方向の熱伝導率は150W/m・K以上にはな
らない。
【0016】本発明の窒化ホウ素板は、六方晶窒化ホウ
素粉末を含む短冊状成形体の複数個を、該短冊状成形体
の上下面、左右面、又は前後面のうち、最も数多くの六
方晶窒化ホウ素粒子の扁平状平面と平行関係を有してい
る面同士を重ねて積層した後、積層方向から一軸加圧を
しながらホットプレス焼結することによって製造するこ
とができる。
素粉末を含む短冊状成形体の複数個を、該短冊状成形体
の上下面、左右面、又は前後面のうち、最も数多くの六
方晶窒化ホウ素粒子の扁平状平面と平行関係を有してい
る面同士を重ねて積層した後、積層方向から一軸加圧を
しながらホットプレス焼結することによって製造するこ
とができる。
【0017】ホットプレス法によって板状のBN焼結体
を製造する場合、通常は加圧軸方向と厚さ方向が一致
し、扁平なBN粒子のc軸方向が板の厚さ方向に合致す
るように配向する。このとき低熱伝導であるc軸方向
が、板の厚さ方向に合致するように配向するため、板の
厚さ方向の熱伝導率が低くなる。半導体用基板等では厚
さ方向が高熱伝導率であることが要求されるため、この
ような配向は不利である。
を製造する場合、通常は加圧軸方向と厚さ方向が一致
し、扁平なBN粒子のc軸方向が板の厚さ方向に合致す
るように配向する。このとき低熱伝導であるc軸方向
が、板の厚さ方向に合致するように配向するため、板の
厚さ方向の熱伝導率が低くなる。半導体用基板等では厚
さ方向が高熱伝導率であることが要求されるため、この
ような配向は不利である。
【0018】これを防ぐため、従来は、板ではなく例え
ば塊状のBN焼結体を製造しておき、これから厚さ方向
が加圧軸方向と直交するように板を加工する方法が用い
られてきた。しかしながら、塊状のBN焼結体は板状ほ
どにはBNの扁平粒子が高度に配向しないので、厚さ方
向の熱伝導率は、最高でも135W/m・Kであった。
ば塊状のBN焼結体を製造しておき、これから厚さ方向
が加圧軸方向と直交するように板を加工する方法が用い
られてきた。しかしながら、塊状のBN焼結体は板状ほ
どにはBNの扁平粒子が高度に配向しないので、厚さ方
向の熱伝導率は、最高でも135W/m・Kであった。
【0019】本発明の製造方法で用いられる六方晶窒化
ホウ素粉末原料としては、六方晶窒化ホウ素粉末、粉末
の造粒体、粉末の金型成形体及び/又は粉末の冷間静水
圧(CIP)成形体等が用いられる。また、六方晶窒化
ホウ素板の密度や配向性等の物性を調整するために、必
要に応じて原料粉末の結晶性、粒度及び/又は酸素含有
量等が適宜選択されたり、任意添加成分として、無水ホ
ウ酸(B2O3)及び/又はこの金属塩等から焼結助剤が
添加される。
ホウ素粉末原料としては、六方晶窒化ホウ素粉末、粉末
の造粒体、粉末の金型成形体及び/又は粉末の冷間静水
圧(CIP)成形体等が用いられる。また、六方晶窒化
ホウ素板の密度や配向性等の物性を調整するために、必
要に応じて原料粉末の結晶性、粒度及び/又は酸素含有
量等が適宜選択されたり、任意添加成分として、無水ホ
ウ酸(B2O3)及び/又はこの金属塩等から焼結助剤が
添加される。
【0020】本発明の製造方法で用いられる六方晶窒化
ホウ素粉末原料の結晶性は、粉末X線回折法における、
(102)回折線の積分強度値[I(102)]に対する
(100)回折線及び(101)回折線の積分強度値の
和[I(100)+(101)]の比、 GI=[I(100)+(101)]
/[I(102)]、で示される黒鉛化指数(GI値)が、
1.0〜10.0の範囲であることが好ましい。GI値
が小さい程、六方晶窒化ホウ素粉末は高結晶性になる。
原料のGI値が1.0よりも小さいと、ホットプレス時
に成形体にクラックが入りやすく、板形状の保持が困難
になる。また、10.0よりも大きいと、ホットプレス
後の六方晶窒化ホウ素板のI(002)/I(100)が4.0を
超えてしまう。適正なGI値を有する六方晶窒化ホウ素
粉末原料は、GI値の異なる二種類以上の六方晶窒化ホ
ウ素粉末を適宜混合することによって容易に調製するこ
とができる。
ホウ素粉末原料の結晶性は、粉末X線回折法における、
(102)回折線の積分強度値[I(102)]に対する
(100)回折線及び(101)回折線の積分強度値の
和[I(100)+(101)]の比、 GI=[I(100)+(101)]
/[I(102)]、で示される黒鉛化指数(GI値)が、
1.0〜10.0の範囲であることが好ましい。GI値
が小さい程、六方晶窒化ホウ素粉末は高結晶性になる。
原料のGI値が1.0よりも小さいと、ホットプレス時
に成形体にクラックが入りやすく、板形状の保持が困難
になる。また、10.0よりも大きいと、ホットプレス
後の六方晶窒化ホウ素板のI(002)/I(100)が4.0を
超えてしまう。適正なGI値を有する六方晶窒化ホウ素
粉末原料は、GI値の異なる二種類以上の六方晶窒化ホ
ウ素粉末を適宜混合することによって容易に調製するこ
とができる。
【0021】本発明の製造方法で用いられる六方晶窒化
ホウ素粉末原料の粒度は、レーザー回折散乱法における
平均粒径(D50)が、3.0〜30μmであることが好
ましい。また、酸素含有量は0.5〜5%であることが
好ましい。D50が3.0μmよりも小さいか、酸素含有
量が0.5%よりも少ないと、六方晶窒化ホウ素板の密
度が1.8g/cm3よりも小さくなる恐れがある。ま
た、 D50が30μmよりも大きいか、酸素含有量が5
%よりも多くなると、ホットプレス時に成形体にクラッ
クが入りやすく、板形状の保持が困難になる。適正な粒
度と酸素含有量を有する六方晶窒化ホウ素粉末原料は、
粒度と酸素含有量が異なる二種類以上の六方晶窒化ホウ
素粉末を適宜混合することによって容易に調製すること
ができる。
ホウ素粉末原料の粒度は、レーザー回折散乱法における
平均粒径(D50)が、3.0〜30μmであることが好
ましい。また、酸素含有量は0.5〜5%であることが
好ましい。D50が3.0μmよりも小さいか、酸素含有
量が0.5%よりも少ないと、六方晶窒化ホウ素板の密
度が1.8g/cm3よりも小さくなる恐れがある。ま
た、 D50が30μmよりも大きいか、酸素含有量が5
%よりも多くなると、ホットプレス時に成形体にクラッ
クが入りやすく、板形状の保持が困難になる。適正な粒
度と酸素含有量を有する六方晶窒化ホウ素粉末原料は、
粒度と酸素含有量が異なる二種類以上の六方晶窒化ホウ
素粉末を適宜混合することによって容易に調製すること
ができる。
【0022】本発明の製造方法で用いられる短冊状成形
体の寸法は、その縦X、横Y、長さZとしたとき、 Y
=X〜3X、 Z =10X〜30Xであり、 Xが3〜
10mmであることが好ましい。その一例を示すと、縦
3〜10mm、横3〜30mm、長さ30〜900mm
である。そして、最も数多くの六方晶窒化ホウ素粒子の
扁平状平面と、 XY面及びZX面よりもYZ面が平行
関係を有するように個々の短冊状成形体を成形すること
が好ましい。
体の寸法は、その縦X、横Y、長さZとしたとき、 Y
=X〜3X、 Z =10X〜30Xであり、 Xが3〜
10mmであることが好ましい。その一例を示すと、縦
3〜10mm、横3〜30mm、長さ30〜900mm
である。そして、最も数多くの六方晶窒化ホウ素粒子の
扁平状平面と、 XY面及びZX面よりもYZ面が平行
関係を有するように個々の短冊状成形体を成形すること
が好ましい。
【0023】本発明において短冊状成形体は、該短冊状
成形体の上下面、左右面、又は前後面のうち、最も数多
くの六方晶窒化ホウ素粒子の扁平状平面と平行関係を有
している面同士を重ねて積層される。好ましくは、上記
したYZ面を上又は下にして複数個を積み重ねる。積層
個数は、Xの10〜50倍の高さにすることが好まし
い。
成形体の上下面、左右面、又は前後面のうち、最も数多
くの六方晶窒化ホウ素粒子の扁平状平面と平行関係を有
している面同士を重ねて積層される。好ましくは、上記
したYZ面を上又は下にして複数個を積み重ねる。積層
個数は、Xの10〜50倍の高さにすることが好まし
い。
【0024】ホットプレス条件は、アルゴン等の不活性
ガス雰囲気下、温度1,800〜2,000℃、加圧力
20〜30MPa、保持時間1〜2hrであることが好
ましい。加圧方向は、短冊状成形体の積層方向と同方向
である。
ガス雰囲気下、温度1,800〜2,000℃、加圧力
20〜30MPa、保持時間1〜2hrであることが好
ましい。加圧方向は、短冊状成形体の積層方向と同方向
である。
【0025】
【実施例】以下、実施例、比較例をあげて本発明をさら
に具体的に説明する。
に具体的に説明する。
【0026】実施例1〜3 六方晶窒化ホウ素粉末原料の結晶性、粒度及び酸素含有
量を適正化するために、高結晶性六方晶窒化BN粉末
(電気化学工業社製グレード名:SGP)と低結晶性六
方晶BN粉末(電気化学工業社製グレード名:SP−
2)とを、質量比で表2に示す割合で混合し、これを表
2に示す圧力で金型成形し、表2に示す寸法の短冊状成
形体を成形した。なお、短冊状成形体を成形する際の加
圧軸方向は、YZ面に垂直な方向である。
量を適正化するために、高結晶性六方晶窒化BN粉末
(電気化学工業社製グレード名:SGP)と低結晶性六
方晶BN粉末(電気化学工業社製グレード名:SP−
2)とを、質量比で表2に示す割合で混合し、これを表
2に示す圧力で金型成形し、表2に示す寸法の短冊状成
形体を成形した。なお、短冊状成形体を成形する際の加
圧軸方向は、YZ面に垂直な方向である。
【0027】得られた短冊状成形体において、最も数多
くの六方晶窒化ホウ素粒子の扁平状平面と平行関係を有
している面をX線回折で測定したところ、YZ面であっ
た。
くの六方晶窒化ホウ素粒子の扁平状平面と平行関係を有
している面をX線回折で測定したところ、YZ面であっ
た。
【0028】ついで、短冊状成形体のYZ面を上にして
その10個を積層した後、周囲を黒鉛製のダイスで囲
み、積層方向と同じ方向から黒鉛製押し棒で一軸加圧さ
れるように短冊状成形体の積層物を配した。その後、室
温で表2に示す条件で予備成形した後、アルゴン雰囲気
中、表3に示す温度、圧力、時間でホットプレス焼結し
て、本発明の六方晶窒化ホウ素板を製造した。得られた
六方晶窒化ホウ素板は、フライス盤で容易に切削加工を
行うことができた。また大気中で300℃に加熱後、室
温の水に急激に浸漬してもクラックが発生しなかった。
さらに、体積固有抵抗は1016Ω・cm、1MHzの交
流電場における比誘電率及び誘電損失は、それぞれ3.
0及び1×10-4であり、優れた被切削性、耐熱衝撃
性、電気絶縁性、低誘電性、低誘電損失性を有している
ことが解った。
その10個を積層した後、周囲を黒鉛製のダイスで囲
み、積層方向と同じ方向から黒鉛製押し棒で一軸加圧さ
れるように短冊状成形体の積層物を配した。その後、室
温で表2に示す条件で予備成形した後、アルゴン雰囲気
中、表3に示す温度、圧力、時間でホットプレス焼結し
て、本発明の六方晶窒化ホウ素板を製造した。得られた
六方晶窒化ホウ素板は、フライス盤で容易に切削加工を
行うことができた。また大気中で300℃に加熱後、室
温の水に急激に浸漬してもクラックが発生しなかった。
さらに、体積固有抵抗は1016Ω・cm、1MHzの交
流電場における比誘電率及び誘電損失は、それぞれ3.
0及び1×10-4であり、優れた被切削性、耐熱衝撃
性、電気絶縁性、低誘電性、低誘電損失性を有している
ことが解った。
【0029】つづいて、アルキメデス法による密度、上
記方法(入射X線と回折X線が元の短冊状成形体のZX
面に相当する面の法線に対称となるようにX線を入射さ
せてなるX線回折測定、X線回折測定装置:リガク社製
商品名「GF−2013」、測定条件:表1)によるピ
ーク強度比I(002)/I(100) 、及び窒化ホウ素板から
直径10mm×厚さ1.5mmの円板を切り出した試験
片による、レーザーフラッシュ法熱伝導率(元の短冊状
成形体のZX面に相当する面に垂直方向すなわち窒化ホ
ウ素板の厚み方向の熱伝導率)を測定した。それらの結
果を表3に示す。
記方法(入射X線と回折X線が元の短冊状成形体のZX
面に相当する面の法線に対称となるようにX線を入射さ
せてなるX線回折測定、X線回折測定装置:リガク社製
商品名「GF−2013」、測定条件:表1)によるピ
ーク強度比I(002)/I(100) 、及び窒化ホウ素板から
直径10mm×厚さ1.5mmの円板を切り出した試験
片による、レーザーフラッシュ法熱伝導率(元の短冊状
成形体のZX面に相当する面に垂直方向すなわち窒化ホ
ウ素板の厚み方向の熱伝導率)を測定した。それらの結
果を表3に示す。
【0030】比較例1〜3 実施例1と同じ六方晶窒化ホウ素粉末原料を円筒状の黒
鉛製ダイスに直接充填し、黒鉛製の円柱状押し棒で上下
から室温で表2に示す圧力で加圧して予備成形体を成形
し、窒素雰囲気中、表3に示す温度、圧力、時間でホッ
トプレス焼結した。なお、予備成形体の六方晶窒化ホウ
素粒子の扁平状平面の配列状況は、円柱の対向する平面
と最も数多く平行関係を有している状態であり、これら
の対向する平面に垂直な方向から一軸加圧される状態で
ホットプレス焼結した。
鉛製ダイスに直接充填し、黒鉛製の円柱状押し棒で上下
から室温で表2に示す圧力で加圧して予備成形体を成形
し、窒素雰囲気中、表3に示す温度、圧力、時間でホッ
トプレス焼結した。なお、予備成形体の六方晶窒化ホウ
素粒子の扁平状平面の配列状況は、円柱の対向する平面
と最も数多く平行関係を有している状態であり、これら
の対向する平面に垂直な方向から一軸加圧される状態で
ホットプレス焼結した。
【0031】得られたホットプレス焼結体から、表3に
示される形状の板を、板の厚さ方向がホットプレス時に
おける加圧軸方向と直交するように切り出し、その密度
を測定した。さらには、実施例1と同様してピーク強度
比及び熱伝導率を測定した。それらの結果を表3に示
す。
示される形状の板を、板の厚さ方向がホットプレス時に
おける加圧軸方向と直交するように切り出し、その密度
を測定した。さらには、実施例1と同様してピーク強度
比及び熱伝導率を測定した。それらの結果を表3に示
す。
【0032】
【表1】
【0033】
【表2】
【0034】
【表3】
【0035】比較例4 実施例1と同じ六方晶窒化ホウ素粉末原料を、 縦60
mm×横120mm×長さ100mmの板状体に10M
Paの圧力で金型成形した。加圧軸方向は、横×長さ面
に垂直な方向であり、この結果六方晶窒化ホウ素粒子の
扁平状平面は、横×長さ面に対して最も数多く平行関係
を有していた。この成形体を100MPaの圧力で冷間
静水圧(CIP)した後、アルゴン雰囲気中、2,10
0℃で90分間焼成して、六方晶窒化ホウ素の常圧焼結
体を製造した。
mm×横120mm×長さ100mmの板状体に10M
Paの圧力で金型成形した。加圧軸方向は、横×長さ面
に垂直な方向であり、この結果六方晶窒化ホウ素粒子の
扁平状平面は、横×長さ面に対して最も数多く平行関係
を有していた。この成形体を100MPaの圧力で冷間
静水圧(CIP)した後、アルゴン雰囲気中、2,10
0℃で90分間焼成して、六方晶窒化ホウ素の常圧焼結
体を製造した。
【0036】得られた常圧焼結体は、 縦63mm×横
126mm×長さ105mmの六方晶窒化ホウ素焼結体
からなる板であった。この焼結体から、試験片(縦63
mm×横4mm×長さ105mm)を切り出し、その密
度を測定したところ1.6g/cm3であった。また、
入射X線と回折X線が、縦×長さ面の法線に対称となる
ようにX線を入射させてなるX線回折測定によってピー
ク強度比を測定した結果、3.2であった。さらに、縦
×長さ面に垂直方向の熱伝導率を測定したところ、10
5W/m・Kであった。
126mm×長さ105mmの六方晶窒化ホウ素焼結体
からなる板であった。この焼結体から、試験片(縦63
mm×横4mm×長さ105mm)を切り出し、その密
度を測定したところ1.6g/cm3であった。また、
入射X線と回折X線が、縦×長さ面の法線に対称となる
ようにX線を入射させてなるX線回折測定によってピー
ク強度比を測定した結果、3.2であった。さらに、縦
×長さ面に垂直方向の熱伝導率を測定したところ、10
5W/m・Kであった。
【0037】
【発明の効果】本発明によれば、優れた被切削性、耐熱
衝撃性、電気絶縁性、低誘電性、低誘電損失性を有し、
しかも厚さ方向の熱伝導率が150W/m・K以上の六
方晶窒化ホウ素板と、その製造に好適な六方晶窒化ホウ
素板の製造方法が提供される。
衝撃性、電気絶縁性、低誘電性、低誘電損失性を有し、
しかも厚さ方向の熱伝導率が150W/m・K以上の六
方晶窒化ホウ素板と、その製造に好適な六方晶窒化ホウ
素板の製造方法が提供される。
【0038】本発明の六方晶窒化ホウ素板は、電気絶縁
性放熱材料、耐熱衝撃性放熱材料などとして利用可能で
あり、とりわけ高熱伝導の半導体用基板として好適な材
料となる。
性放熱材料、耐熱衝撃性放熱材料などとして利用可能で
あり、とりわけ高熱伝導の半導体用基板として好適な材
料となる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4G001 BA33 BB33 BC42 BD03 BD04 BD12 BD23 BD38 5F036 AA01 BA23 BC22 BD14
Claims (3)
- 【請求項1】 厚み方向における熱伝導率が150W/
m・K以上、密度が1.8g/cm3以上、入射X線と
回折X線が板平面の法線に対称となるようにX線を入射
させてなるX線回折測定において、(002)回折線と
(100)回折線のピーク強度比I(002)/I(100)が
4.0以下であることを特徴とする六方晶窒化ホウ素
板。 - 【請求項2】 六方晶窒化ホウ素粉末を含む短冊状成形
体の複数個を、該短冊状成形体の相対する上下面、左右
面、又は前後面のうち、最も数多くの六方晶窒化ホウ素
粒子の扁平状平面と平行関係を有している面同士を重ね
て積層した後、積層方向から一軸加圧をしながらホット
プレス焼結することを特徴とする六方晶窒化ホウ素板の
製造方法。 - 【請求項3】 請求項1記載の六方晶窒化ホウ素板より
なることを特徴とする半導体用基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000304471A JP2002114575A (ja) | 2000-10-04 | 2000-10-04 | 六方晶窒化ホウ素板及びその製造方法、用途 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000304471A JP2002114575A (ja) | 2000-10-04 | 2000-10-04 | 六方晶窒化ホウ素板及びその製造方法、用途 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002114575A true JP2002114575A (ja) | 2002-04-16 |
Family
ID=18785515
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000304471A Pending JP2002114575A (ja) | 2000-10-04 | 2000-10-04 | 六方晶窒化ホウ素板及びその製造方法、用途 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002114575A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006282485A (ja) * | 2005-04-05 | 2006-10-19 | Denki Kagaku Kogyo Kk | 窒化ホウ素焼成体の製造方法 |
JP2010103361A (ja) * | 2008-10-24 | 2010-05-06 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 放熱材料およびその製造方法 |
US20110261242A1 (en) * | 2010-01-29 | 2011-10-27 | Nitto Denko Corporation | Imaging device module |
US8592844B2 (en) | 2010-01-29 | 2013-11-26 | Nitto Denko Corporation | Light-emitting diode device |
US8749978B2 (en) | 2010-01-29 | 2014-06-10 | Nitto Denko Corporation | Power module |
JP2015124122A (ja) * | 2013-12-26 | 2015-07-06 | 電気化学工業株式会社 | 樹脂含浸窒化ホウ素焼結体およびその用途 |
JP2018030942A (ja) * | 2016-08-24 | 2018-03-01 | 三菱瓦斯化学株式会社 | 熱伝導シートの製造方法 |
WO2021200719A1 (ja) * | 2020-03-31 | 2021-10-07 | デンカ株式会社 | 窒化ホウ素焼結体、複合体及びこれらの製造方法、並びに放熱部材 |
JP2022522238A (ja) * | 2019-05-03 | 2022-04-14 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | ポリマー及び窒化ホウ素の複合材料を含む可撓性電子デバイスのロールツーロール加工に使用可能なフィルム |
-
2000
- 2000-10-04 JP JP2000304471A patent/JP2002114575A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2022522238A (ja) * | 2019-05-03 | 2022-04-14 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | ポリマー及び窒化ホウ素の複合材料を含む可撓性電子デバイスのロールツーロール加工に使用可能なフィルム |
JP7083477B2 (ja) | 2019-05-03 | 2022-06-13 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | ポリマー及び窒化ホウ素の複合材料を含む可撓性電子デバイスのロールツーロール加工に使用可能なフィルム |
WO2021200719A1 (ja) * | 2020-03-31 | 2021-10-07 | デンカ株式会社 | 窒化ホウ素焼結体、複合体及びこれらの製造方法、並びに放熱部材 |
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