JP2002090654A - 投影光学系を有する中間鏡筒及び投影光学系を有する顕微鏡 - Google Patents

投影光学系を有する中間鏡筒及び投影光学系を有する顕微鏡

Info

Publication number
JP2002090654A
JP2002090654A JP2000276219A JP2000276219A JP2002090654A JP 2002090654 A JP2002090654 A JP 2002090654A JP 2000276219 A JP2000276219 A JP 2000276219A JP 2000276219 A JP2000276219 A JP 2000276219A JP 2002090654 A JP2002090654 A JP 2002090654A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
optical system
microscope
lens
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000276219A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002090654A5 (ja
Inventor
Sadashi Adachi
貞志 安達
Atsushi Yonetani
敦 米谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP2000276219A priority Critical patent/JP2002090654A/ja
Priority to US09/948,625 priority patent/US6560012B2/en
Publication of JP2002090654A publication Critical patent/JP2002090654A/ja
Publication of JP2002090654A5 publication Critical patent/JP2002090654A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/24Base structure
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/361Optical details, e.g. image relay to the camera or image sensor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子撮像素子を用いて撮像する顕微鏡におい
ては明るさムラの少ない映像を得ることができるように
する。 【解決手段】 標本の一次像O’を形成する結像光学系
4、11と、一次像O’を電子撮像素子17に投影する
投影光学系15と、光を透過する透過領域と光を遮光す
る遮光領域を有し明るさムラを制御する絞り20とを備
えた顕微鏡。例えば、絞り20の光軸方向の位置を対物
レンズ4の交換に伴って移動可能に構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、投影光学系を有す
る顕微鏡用中間鏡筒及び投影光学系を有する顕微鏡に関
し、特に、電子撮像素子上に顕微鏡の拡大像を投影して
撮像するための中間鏡筒とそのような投影光学系を備え
た顕微鏡に関するものである。
【0002】
【従来の技術】最近、顕微鏡にCCD等の電子撮像素子
を備えた電子カメラを装着して試料の拡大像を電子映像
として取り込む顕微鏡システムが普及しつつある。例え
ば、特開平8−190056号がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、CCD等の
電子撮像素子には撮像面に入射する光束が垂直方向から
外れて斜め方向から入射する場合、入射する角度が大き
くなればなる程感度が低下していくという入射角度特性
があり、そのため、いわゆるシェーデングと呼ばれる現
象が起こり、撮影された画面の周辺が暗くなり、明るさ
ムラが生じる。
【0004】本発明は従来技術のこのような問題点に鑑
みてなされたものであり、その目的は、電子撮像素子を
用いて撮像する顕微鏡においては明るさムラの少ない映
像を得ることができるようにすることである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の中間鏡筒は、電子撮像装置を接続するためのマウン
ト部と、顕微鏡に接続するためのマウント部と、前記電
子撮像装置に像を投影する投影光学系と、光を透過する
透過領域と光を遮光する遮光領域を有し撮像された画像
の明るさムラを制御する制御部材とを備えたことを特徴
とするものである。
【0006】本発明の顕微鏡は、標本の一次像を形成す
る結像光学系と、前記一次像を電子撮像素子に投影する
投影光学系と、光を透過する透過領域と光を遮光する遮
光領域を有し撮像された画像の明るさムラを制御する制
御部材とを備えたことを特徴とするものである。
【0007】本発明においては、電子撮像素子に像を投
影する投影光学系を備えた顕微鏡あるいはそのための顕
微鏡用中間鏡筒において、光を透過する透過領域と光を
遮光する遮光領域を有し撮像された画像の明るさムラを
制御する制御部材を備えているので、撮影された画面の
周辺が相対的に暗くなる明るさムラを防止することがで
きる。また、対物レンズを交換してもその対物レンズに
合わせて制御部材を制御することにより、最も視野内の
明るさムラが少なく、かつ、良好な解像とコントラスト
が得られるように調節することができる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明に基づく顕微鏡の原
理を実施例について説明する。
【0009】まず、図3を参照にして本発明に基づく顕
微鏡の原理を説明する。図3(a)に顕微鏡対物レンズ
で中間結像され投影光学系により電子撮像面Cに再結像
される光束の様子を示す。図3(a)中、符号Aで示す
光束は軸上光束であり、Bは軸外光束を示す。軸上光束
Aはその主光線が撮像面Cに垂直に入射し、図に示すよ
うな広がりを持つ光束として入射する。これに対して、
軸外光束Bはその主光線B1が撮像面Cに対して斜めに
入射すると共に図に示すような広がりを持つ。軸外光束
Bには通常口径蝕が存在するため、軸外光束Bの主光線
B1はその中心に存在せず、例えば図示のように、内側
の境界に近い位置に存在する。また、その口径蝕により
軸上光束AのNA(開口数)に比べて軸外光束BのNA
は小さくなっている。
【0010】このように、顕微鏡に装着した電子カメラ
の電子撮像面Cに入射する軸外光束Bは撮像面Cに斜め
に入射するだけでなく、軸上光束Aに比べてNAが小さ
くなっているため、撮影される試料の映像には周辺部が
暗くなるシェーデングと呼ばれる明るさムラが生じてし
まう。
【0011】これを避けるには、図3(b)に示すよう
に、投影光学系中に絞りを配置して軸上光束Aと軸外光
束Bを同時に絞り込んでそれぞれ光束A’、B’又は
B”となるようにし、少なくとも軸上光束、軸外光束の
NAが略等しくなるようにする。ここで、絞り込んだ軸
外光束B’とB”の違いは、光束の撮像面Cに対する入
射角が光束B”の方がより垂直に近く、電子撮像素子の
入射角度特性の影響を受け難い点にあり、より望ましい
形態である。
【0012】さて、このように顕微鏡の対物レンズで一
旦結像された中間像を電子撮像素子上に投影光学系によ
り拡大結像する場合に、軸上光束と軸外光束を同時に絞
り込んで光束のNAを揃え、軸外光束を可能な限り電子
撮像面に垂直に近い角度で入射させるには、中間鏡筒内
に形成される対物レンズの射出瞳の像位置あるいはその
近傍に開口径が調節可能な絞りを配置すればよい。図1
に、そのための本発明の顕微鏡の1実施例の構成を示
す。また、図2にその場合の等価の光路図を示す。ただ
し、図2においては、落射照明光学系も図中に示してあ
る。
【0013】図1、図2において、この顕微鏡の全体の
構成を説明すると、顕微鏡本体1には、標本(試料)O
を載置するステージ2と、そのステージ2上方に対物レ
ンズ4を交換可能に取り付けるレボルバー3とが設けら
れ、また、その下部には、照明用の光源5と、光源5か
らの光束をステージ2下部に取り付けられたコンデンサ
ー9に導く集光レンズ6、偏向ミラー7、補助レンズ8
からなる照明光学系とが配置されている。顕微鏡本体1
の上部には、接眼ユニット10と、投影用中間鏡筒14
と、撮像ユニット16とが着脱可能に取り付けられてお
り、接眼ユニット10には、対物レンズ4で無限遠に結
像された標本Oの像O’を投影用中間鏡筒14中の一次
像(中間像)位置に結像する結像レンズ11と、光路分
割プリズム12と、光路分割プリズム12で分けられた
光路を経て標本Oの拡大像を観察するための接眼レンズ
13とが設けられている。また、投影用中間鏡筒14に
は、一次像O’の像を撮像ユニット16中の電子撮像素
子(例えば、CCD)17の撮像面上に投影するリレー
レンズ系15が設けられており、この投影用中間鏡筒1
4は、その下部マウント18により接眼ユニット10に
着脱自在に取り付けられており、その投影用中間鏡筒1
4の上部には、その上部マウント19により撮像ユニッ
ト16が着脱自在に取り付けられる。
【0014】以上の構成は、従来の電子撮像可能な顕微
鏡と同様であり、落射照明用に構成するときには、図2
に示すように、光源5’からの照明光を集光レンズ6’
と補助レンズ8’からなる照明光学系を経て、ハーフミ
ラー7’により対物レンズ4の反対側から入射させて標
本Oを照明するようにする。
【0015】以上のような構成において、対物レンズ4
の射出瞳をaとすると、射出瞳aの像bは標本像O’の
位置より電子撮像素子17により近い位置に結像され
る。図1、図2の場合、リレーレンズ系15は2枚の正
レンズ151 、152 により構成され、その2枚の正レ
ンズ151 、152 間に対物レンズ4の射出瞳aの像b
が、結像レンズ11とリレーレンズ系15の入射側の正
レンズ151 とにより結像され、第2の瞳位置になって
いる。なお、図2において、標本Oの中心から出た光線
は実線で、標本Oの中心以外の周辺から出た主光線(軸
外主光線)は点線で示してある。
【0016】このような構成において、本発明に基づい
て、第2の瞳bの位置あるいはその近傍に絞り20を配
置し、図3(b)で説明したように、この絞り20を適
当に絞り込むことにより、軸上光束と軸外光束を同時に
絞り込んでそれぞれそれらのNAを略等しくなるように
することにより、視野内の明るさムラを解消することが
できる。
【0017】ところで、絞り20の配置位置は、リレー
レンズ系15が射出側にテレセントリックになる位置、
すなわち、図の場合は、リレーレンズ系15の射出側の
正レンズ152 の前側焦点面に絞り20を配置すると、
軸外光束は図3(b)の光束B”の状態となり、電子撮
像素子17の撮像面に対する入射角がより垂直に近くな
るので望ましいが、図4に示すように、交換して用いる
顕微鏡用対物レンズ4、4’(図2)はその倍率、種類
によって射出瞳aの位置がa、a’、a”と光軸上の位
置が異なり、図4に示した範囲d0 の中でばらつく。そ
のため、第2の瞳位置もb、b’、b”と異なり、図4
に示した範囲dの中でばらつく。したがって、絞り20
の位置は、リレーレンズ系15に対して固定するのでは
なく、その範囲d内あるいはそれより若干広い範囲内で
移動調整可能にして、各対物レンズ4、4’、・・・に
応じて視野内の明るさムラを少なくなるように調節でき
るようにすることが望ましい。
【0018】図5はその場合の主として投影用中間鏡筒
14部の光路図を示す。図中、軸上光束は実線で、軸外
光束は点線で示してある。この例の場合、リレーレンズ
系15の2枚の正レンズ151 、152 の中、対物レン
ズ4側の正レンズ151 はフィールドレンズとしての作
用を行っている。上記のように、対物レンズを4から例
えば4’に交換すると、その射出瞳位置は図5(a)の
aの位置から図5(b)のa’の位置に光軸上で移動す
る。すると、標本Oの像O’の位置は固定で移動しない
が、結像レンズ11とフィールドレンズ151 とにより
結像される第2の瞳の位置は図5(a)のbの位置から
図5(b)のb’の位置へと移動する。その移動に合わ
せるように絞り20ものbの位置に略一致する位置か
らのb’の位置に略一致する位置へ移動させ、それら
の位置で軸上光束と軸外光束を同時に絞り込んでそれぞ
れそれらのNAを略等しくなるようにすることにより、
何れの対物レンズ4、4’、・・・の場合も、視野内の
明るさムラがない映像を撮像することができる。
【0019】なお、図5(b)のように、第2の瞳b’
の位置が電子撮像素子17側に突出している場合には、
点線で示した軸外光束の電子撮像素子17への入射角が
大きくなる方向に行くため、絞り20の位置を完全に第
2の瞳b’の位置に一致させるのではなく、その位置よ
り若干対物レンズ4’側に外して軸外光束の電子撮像素
子17への入射角を小さくなる方向に調節してもよい。
【0020】ところで、投影用中間鏡筒14に対して絞
り20の開口が調節可能でその光軸方向の位置も調節可
能に構成するには、例えば以下のように構成すればよ
い。まず、絞り20として開口部の大きさが可変である
絞りを用いる。次に、投影用中間鏡筒14を鏡筒本体と
この本体内に納まる円筒状の内側鏡筒の二重構造にす
る。ここで、内側鏡筒の外周面の径は鏡筒本体の内周面
と略同じ径にしておく。そして、この内側鏡筒に可変絞
りを保持する。このように構成すれば、可変絞りによっ
て開口径を可変とすると共に、内側鏡筒を投影用中間鏡
筒14(鏡筒本体)に対して光軸方向に移動させて、可
変絞りの位置を移動させることができる。
【0021】なお、絞り20の光軸に沿う移動範囲は、
交換使用可能な対物レンズ4、4’、・・・の中の瞳位
置が最も標本O側に近い対物レンズの瞳位置とリレーレ
ンズ系15中で共役な位置と、対物レンズ4、4’、・
・・の中の瞳位置が最も標本Oから遠い対物レンズの瞳
位置とリレーレンズ系15中で共役な位置との間に設定
することが必要であるが、上記のように、絞り20の位
置は必ずしも第2の瞳b、b’、b”、・・・位置に一
致させる必要はないから、射出瞳a、a’、a”と第2
の瞳b、b’、b”との間の光学系、図4の場合は、結
像レンズ11とフィールドレンズ151 とからなる光学
系の横倍率をMとするとき、絞り20の光軸方向の移動
範囲d’は、 d’/M2 <1.1d0 ・・・(1) を満足するように設定すれば好ましい。
【0022】さらに好ましくは、移動範囲d’は次の条
件を満足することが望ましい。
【0023】 d’/M2 <1.0d0 ・・・(1’) また、絞り20の開口径は一定の固定のものであっても
よいが、その径を調節可能にしておけばより明るさムラ
をなくすことができる他、解像力やコントラストを最適
に調整する上で望ましい。その際、絞り20の調節可能
な開口の最大径Dは、交換使用可能な対物レンズ4、
4’、・・・の中の射出瞳径が最も大きい対物レンズの
射出瞳径をD1 とするとき、 D/M<1.2D1 ・・・(2) の関係を満たすことが望ましい。この関係を満たせば、
何れの対物レンズ4、4’、・・・を用いても、絞り2
0でけられることなく物体光束を通過させることが可能
になり、最大限の光束の利用を妨げることがなくなる。
なお、この条件は、余裕はなくなるが次の関係を満たす
場合でもよい。
【0024】 D/M<1.0D1 ・・・(3) 次に、解像の観点から、リレーレンズ系15から電子撮
像素子17へ入射する光束の開口数NAと電子撮像素子
17の1画素の大きさP(nm)との関係を考える。電
子撮像素子17に入射する光束のエアリーディスクの径
φは、φ=1.22λ/NAと書けるが(λは波長で、
ここでは例としてλ=550nmとして考える。)、こ
のエアリーディスク内に電子撮像素子17の8ピクセル
程度の画素が入ると、非常に忠実にポイントスプレッド
ファンクションを表現することが可能になる。すなわ
ち、 1.22λ/NA≦8P これから、 2NA/λ≧0.5/(2P) と書ける。2NA/λが0.5/(2P)より小さくな
ると、電子撮像素子17の解像力が光学系の解像力を上
回り、像の劣化が目立つようになる。
【0025】一方、エアリーディスクの径φ=1.22
λ/NA内に電子撮像素子17の2ピクセル以下の画素
しか入らないと、ポイントスプレッドファンクションを
表現することができなくなる。すなわち、 1.22λ/NA≧2P これから、 2NA/λ≦2/(2P) と書ける。2NA/λが2/(2P)より大きくなる
と、電子撮像素子17の解像力が光学系の解像力を下回
り、電子撮像素子17でポイントスプレッドファンクシ
ョンが十分表現し切れない。そのため、光束が無駄にな
ってしまう。
【0026】以上から、 0.5/(2P)≦2NA/λ≦2/(2P) ・・・(4) を満足することが望ましい。
【0027】ここで、元へ戻って、図5の場合は、対物
レンズの交換に伴って射出瞳位置がaからa’へ移動
し、結像レンズ11とフィールドレンズ151 とにより
結像される第2の瞳の位置もbからb’へ移動するの
で、その移動に合わせるように絞り20をその移動した
第2の瞳の位置へ略一致させて、その位置で絞り20の
開口径を調節して軸上光束と軸外光束の光量バランスを
とることにより視野内の明るさムラをなくすものであっ
たが、その代わりに、対物レンズ4、4’、・・・の射
出瞳a、a’、a”、・・・とその像の第2の瞳b、
b’、b”、の間にあって標本Oの像O’近傍にあるリ
レーレンズ系15の部分、すなわち、フィールドレンズ
151 を光軸に沿って移動調節することにより、固定の
絞り20位置近傍に射出瞳の像である第2の瞳b、
b’、b”を結像させるようにしても、同様の効果が得
られる。図6にその場合の主として投影用中間鏡筒14
部の光路図を示す。図中、軸上光束は実線で、軸外光束
は点線で示してある。この例の場合、リレーレンズ系1
5の2枚の正レンズ151 、152 の中、対物レンズ4
側の正レンズ151 はフィールドレンズとしての作用を
行っており、対物レンズを4から例えば4’に交換する
と、その射出瞳位置は図6(a)のaの位置から図6
(b)のa’の位置に光軸上で移動する。標本Oの対物
レンズ4、4’と結像レンズ11による像O’の位置は
一定で対物レンズの交換によっても移動しない。その像
O’近傍に位置するフィールドレンズ151 を移動して
も、フィールドレンズ151 を透過後の像O’の像の位
置はほとんど移動しないが、射出瞳a’の像である第2
の瞳b’の位置は光軸上を移動する。したがって、この
場合は、フィールドレンズ151 を移動調整して固定の
絞り20位置近傍に第2の瞳b、b’、b”を結像させ
るようにすることにより、その位置で軸上光束と軸外光
束を絞り20で同時に絞り込んでそれぞれそれらのNA
を略等しくなるようにすることにより、何れの対物レン
ズ4、4’、・・・の場合も、視野内の明るさムラがな
い映像を撮像することができるようになる。
【0028】なお、図5の絞り20の光軸方向の移動調
節と図6のフィールドレンズ151の光軸方向の移動調
節とを併用するようにしても当然よい。
【0029】図7に別の実施例の主として投影用中間鏡
筒14部の光路図を示す。この場合は、図5のように第
2の瞳の位置b、b’、b”に合わせるように絞り20
を移動するのではなく、予め第2の瞳の位置b、b’、
b”に略一致するように複数の絞り201 、202 、・
・・を配置しておき、それぞれの対物レンズ4、4’、
・・・に合わせて適切な絞り201 、202 、・・・を
選んで軸上光束と軸外光束を同時に絞り込むようにする
例である。図7(a)の対物レンズ4を用い、射出瞳が
aの場合は、その像の第2の瞳bの位置に配置された絞
り201 の開口を制御し、その他の絞り202 は光束を
けらないように開放にしておく。次に、図7(b)のよ
うに対物レンズ4’に交換して射出瞳がa’となると、
その像の第2の瞳b’の位置に配置された別の絞り20
2 の開口を制御し、その他の絞り201 は光束をけらな
いように開放にする。図7では、絞りは2個201 、2
2 しか配置していないが、必要に応じて当然3個以上
配置してもよい。
【0030】なお、以上の実施例に用いる絞り20とし
ては、アイリス絞りのような口径を連続的に調整可能な
絞りを用いてもよいが、液晶のような電気光学的に透明
領域の径を制御できるものを用いてもよい。また、以上
の実施例中、絞り20が固定位置に配置される実施例に
おいては、絞り20として上記のような透明領域の径を
調整可能なものではなく、異なる径の開口を持つ複数の
開口板を用意しておいて差し替えて使用するか、異なる
径の開口を複数設けた開口板を用意しておいてその開口
板を光路に対して垂直に移動調節させて、光路中に挿入
される開口の径を変えるようにしてもよい。
【0031】次に、以上のような軸上光束と軸外光束を
同時に絞り込む絞り20の開口と光軸に沿う位置の制御
について説明する。図8は手動で制御する実施例の概略
の構成を示す図であり、絞り20には、その開口と光軸
に沿う位置を調節するための絞り開口径及び位置調節機
構22が設けられており、この絞り開口径及び位置調節
機構22の例えば2つのつまみを独立に調節することで
絞り20の開口径と光軸に沿う位置が調節できるように
なっている。このような機構は公知の種々のものがあ
り、その何れを用いてもよい。一方、撮像ユニット16
中の電子撮像素子17から得られた標本Oの拡大像信号
はモニター21に入力するように接続されている。この
ような配置において、観察者はモニター21で撮像され
た標本Oの拡大像を観察しながら絞り開口径及び位置調
節機構22を操作して絞り20の光軸に沿う位置と開口
径を調節し、最も視野内の明るさムラが少なく、かつ、
良好に解像される位置を選ぶ。
【0032】図9の実施例は、自動的に絞り20の開口
径と光軸に沿う位置を制御する実施例の概略の構成を示
す図であり、絞り20には、その開口と光軸に沿う位置
を外部からの信号に基づいて調節する絞り開口径及び位
置制御機構23が設けられており、一方、撮像ユニット
16中の電子撮像素子17から得られた標本Oの拡大像
信号は演算処理装置24に入力されるようになってい
る。この演算処理装置24では、電子撮像素子17から
得られた像信号を基に、相対的な周辺光量不足を計算
し、それを解消するように絞り20の位置信号を制御機
構23に送り出すと共に、像の明るさを計算し、絞り2
0の開口径信号を制御機構23に送り出す。制御機構2
3は、演算処理装置24から入力された絞り位置信号と
その開口径信号に基づいて、最も視野内の明るさムラが
少なく、かつ、良好に解像される位置に絞り20の開口
径及び位置を調節する。
【0033】以上、本発明の投影光学系を有する中間鏡
筒及び投影光学系を有する顕微鏡は、例えば次のように
構成することができる。
【0034】〔1〕 電子撮像装置を接続するためのマ
ウント部と、顕微鏡に接続するためのマウント部と、前
記電子撮像装置に像を投影する投影光学系と、光を透過
する透過領域と光を遮光する遮光領域を有し明るさムラ
を制御する制御部材とを備えたことを特徴とする中間鏡
筒。
【0035】〔2〕 前記制御部材は、中間鏡筒内に形
成された前記顕微鏡の対物レンズの瞳の像位置(瞳と共
役な位置)あるいはその近傍に配置されていることを特
徴とする上記1記載の中間鏡筒。
【0036】〔3〕 前記制御部材を制御する制御機構
を備えていることを特徴とする上記1記載の中間鏡筒。
【0037】〔4〕 前記制御機構は前記制御部材を光
軸方向に沿って移動させることを特徴とする上記3記載
の中間鏡筒。
【0038】〔5〕 前記制御部材の透過領域の大きさ
は一定であることを特徴とする上記4記載の中間鏡筒。
【0039】〔6〕 前記制御機構は前記制御部材の透
過領域の大きさを変化させることを特徴とする上記3又
は4記載の中間鏡筒。
【0040】〔7〕 前記制御部材とは異なる範囲の透
過領域を有する制御部材を有し、前記制御機構は前記制
御部材の何れかの1つを光路中の同じ位置に配置するこ
とを特徴とする上記3記載の中間鏡筒。
【0041】〔8〕 前記制御部材とは異なる範囲の透
過領域を有する制御部材を有し、前記制御機構は前記制
御部材の何れかの1つを光路中の異なる位置に配置する
ことを特徴とする上記3記載の中間鏡筒。
【0042】
〔9〕 前記投影光学系は光軸方向に移動
する視野レンズを備えていることを特徴とする上記1記
載の中間鏡筒。
【0043】〔10〕 前記制御部材は液晶からなるこ
とを特徴とする上記1記載の中間鏡筒。
【0044】〔11〕 標本の一次像を形成する結像光
学系と、前記一次像を電子撮像素子に投影する投影光学
系と、光を透過する透過領域と光を遮光する遮光領域を
有し明るさムラを制御する制御部材とを備えたことを特
徴とする顕微鏡。
【0045】〔12〕 前記制御部材は、前記結像光学
系の瞳と共役な位置あるいはその近傍に配置されている
ことを特徴とする上記11記載の顕微鏡。
【0046】〔13〕 前記結像光学系と前記投影光学
系の間にリレー光学系を備えていることを特徴とする上
記11記載の顕微鏡。
【0047】〔14〕 前記制御部材を制御する制御機
構を備えていることを特徴とする上記11記載の顕微
鏡。
【0048】〔15〕 前記撮像素子によって撮像され
た像を表示する表示装置と、前記撮像素子からの出力に
基づいて撮像された像の明るさ及び明るさムラを補正す
る制御信号を前記制御機構に出力する処理ユニットとを
備えていることを特徴とする上記14記載の顕微鏡。
【0049】〔16〕 前記制御機構は前記制御部材を
光軸方向に沿って移動させることを特徴とする上記14
記載の顕微鏡。
【0050】〔17〕 前記結像光学系は、交換使用可
能な複数の対物レンズを有し、前記対物レンズ中の瞳位
置が最も標本側に近い対物レンズの瞳位置と共役な位置
と、前記対物レンズ中の瞳位置が最も標本から遠い対物
レンズの瞳位置と共役な位置との間で、前記制御部材が
光軸方向に沿って移動可能であることを特徴とする上記
16記載の顕微鏡。
【0051】〔18〕 前記結像光学系は、交換使用可
能な複数の対物レンズを有し、前記対物レンズ中の瞳位
置が最も標本側に近い対物レンズの瞳位置と、瞳位置が
最も標本から遠い対物レンズの瞳位置との差をd0
し、前記瞳位置と前記制御部材の間の光学系の横倍率を
Mとするとき、前記制御部材の光軸方向の移動範囲d’
が次の関係を満たすことを特徴とする上記16記載の顕
微鏡。
【0052】 d’/M2 <1.1d0 ・・・(1) 〔19〕 前記制御部材の透過領域の大きさは一定であ
ることを特徴とする上記11記載の中間鏡筒。
【0053】〔20〕 前記制御機構は前記制御部材の
透過領域の大きさを変化させることを特徴とする上記1
4記載の顕微鏡。
【0054】〔21〕 前記結像光学系は、交換使用可
能な複数の対物レンズを有し、前記対物レンズ中の射出
瞳径が最も大きい対物レンズの射出瞳径をD1 とし、前
記瞳位置と前記制御部材の間の光学系の横倍率をMとす
るとき、前記制御部材の最大径Dが次の関係を満たすこ
とを特徴とする上記20記載の顕微鏡。
【0055】 D/M<1.2D1 ・・・(2) 〔22〕 以下の条件を満足することを特徴とする上記
21記載の顕微鏡。
【0056】 D/M<1.0D1 ・・・(3) 〔23〕 前記電子撮像素子の1画素の大きさをP(n
m)、前記投影光学系射出後の開口数をNAとすると
き、以下の条件を満足することを特徴とする上記20記
載の顕微鏡。
【0057】 0.5/(2P)≦2NA/λ≦2/(2P) ・・・(4) ここで、λ(波長)=550nmである。
【0058】〔24〕 前記制御部材とは異なる範囲の
透過領域を有する制御部材を有し、前記制御機構は前記
制御部材の何れかの1つを光路中の同じ位置に配置する
ことを特徴とする上記14記載の顕微鏡。
【0059】〔25〕 前記制御部材とは異なる範囲の
透過領域を有する制御部材を有し、前記制御機構は前記
制御部材の何れかの1つを光路中の異なる位置に配置す
ることを特徴とする上記14記載の顕微鏡。
【0060】〔26〕 前記投影光学系は光軸方向に移
動する視野レンズを備えていることを特徴とする上記1
1記載の顕微鏡。
【0061】〔27〕 前記制御部材は液晶からなるこ
とを特徴とする上記11記載の顕微鏡。
【0062】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によると、電子撮像素子に像を投影する投影光学系を備
えた顕微鏡あるいはそのための中間鏡筒において、光を
透過する透過領域と光を遮光する遮光領域を有し撮像さ
れた画像の明るさムラを制御する制御部材を備えている
ので、撮影された画面の周辺が相対的に暗くなる明るさ
ムラを防止することができる。また、対物レンズを交換
してもその対物レンズに合わせて制御部材を制御するこ
とにより、最も視野内の明るさムラが少なく、かつ、良
好な解像とコントラストが得られるように調節すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の顕微鏡の1実施例の構成を示す図であ
る。
【図2】実施例1の等価の光路図である。
【図3】本発明に基づく顕微鏡の原理を説明するための
図である。
【図4】対物レンズの交換によって射出瞳の位置とその
像の第2の瞳の位置がばらつく様子を示す図である。
【図5】絞り位置を移動させて視野内の明るさムラを防
止する実施例の主として投影用中間鏡筒部の光路図であ
る。
【図6】フィールドレンズを移動させて視野内の明るさ
ムラを防止する実施例の主として投影用中間鏡筒部の光
路図である。
【図7】複数の絞りを配置して視野内の明るさムラを防
止する実施例の主として投影用中間鏡筒部の光路図であ
る。
【図8】絞りの開口と光軸に沿う位置を手動で制御する
実施例の概略の構成を示す図である。
【図9】自動的に絞りの開口径と光軸に沿う位置を制御
する実施例の概略の構成を示す図である。
【符号の説明】
A…軸上光束 A’…絞り込んだ軸上光束 B…軸外光束 B1…軸外光束の主光線 B’、B”…絞り込んだ軸外光束 C…電子撮像面 O…標本 O’…標本の像(一次像) a、a’、a”…対物レンズの射出瞳 b、b’、b”…射出瞳の像(第2の瞳) 1…顕微鏡本体 2…ステージ 3…レボルバー 4、4’…対物レンズ 5、5’…光源 6、6’…集光レンズ 7…偏向ミラー 7’…ハーフミラー 8…補助レンズ 9…コンデンサー 10…接眼ユニット 11…結像レンズ 12…光路分割プリズム 13…接眼レンズ 14…投影用中間鏡筒 15…リレーレンズ系 151 …正レンズ(フィールドレンズ) 152 …正レンズ 16…撮像ユニット 17…電子撮像素子(例えば、CCD) 18…下部マウント 19…上部マウント 20、201 、202 …絞り 21…モニター 22…絞り開口径及び位置調節機構 23…絞り開口径及び位置制御機構 24…演算処理装置

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子撮像装置を接続するためのマウント
    部と、顕微鏡に接続するためのマウント部と、前記電子
    撮像装置に像を投影する投影光学系と、光を透過する透
    過領域と光を遮光する遮光領域を有し撮像された画像の
    明るさムラを制御する制御部材とを備えたことを特徴と
    する中間鏡筒。
  2. 【請求項2】 標本の一次像を形成する結像光学系と、
    前記一次像を電子撮像素子に投影する投影光学系と、光
    を透過する透過領域と光を遮光する遮光領域を有し撮像
    された画像の明るさムラを制御する制御部材とを備えた
    ことを特徴とする顕微鏡。
JP2000276219A 2000-09-12 2000-09-12 投影光学系を有する中間鏡筒及び投影光学系を有する顕微鏡 Pending JP2002090654A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000276219A JP2002090654A (ja) 2000-09-12 2000-09-12 投影光学系を有する中間鏡筒及び投影光学系を有する顕微鏡
US09/948,625 US6560012B2 (en) 2000-09-12 2001-09-10 Microscope apparatus and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000276219A JP2002090654A (ja) 2000-09-12 2000-09-12 投影光学系を有する中間鏡筒及び投影光学系を有する顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002090654A true JP2002090654A (ja) 2002-03-27
JP2002090654A5 JP2002090654A5 (ja) 2007-10-11

Family

ID=18761723

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000276219A Pending JP2002090654A (ja) 2000-09-12 2000-09-12 投影光学系を有する中間鏡筒及び投影光学系を有する顕微鏡

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6560012B2 (ja)
JP (1) JP2002090654A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007519962A (ja) * 2004-01-28 2007-07-19 ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー 顕微鏡システム及び顕微鏡システム内に存在するレンズのシェーディング補正のための方法
JP2007285761A (ja) * 2006-04-13 2007-11-01 Shibuya Optical Co Ltd ハーフミラーおよびそれを使用した顕微分光測定装置
JP2008301521A (ja) * 2008-08-19 2008-12-11 Olympus Corp 顕微鏡用撮像装置及び撮像素子の画素欠陥検出方法
JP2010117705A (ja) * 2008-10-14 2010-05-27 Olympus Corp バーチャルスライド作成システム用顕微鏡
WO2017187777A1 (ja) * 2016-04-28 2017-11-02 浜松ホトニクス株式会社 光学ユニット及び光学ユニットの調整方法

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3710724B2 (ja) * 2001-05-14 2005-10-26 大日本スクリーン製造株式会社 結像光学装置
JP4157305B2 (ja) * 2002-02-13 2008-10-01 株式会社ミツトヨ テレセントリックレンズ系および画像測定装置
US20030201378A1 (en) * 2002-04-24 2003-10-30 Olympus Optical Co., Ltd. Operating microscope
US20040155975A1 (en) * 2002-09-17 2004-08-12 Hart Douglas P. 3-D imaging system
US6989927B2 (en) * 2003-07-02 2006-01-24 Leica Microsystems Inc. Stage well
DE102004006066B4 (de) * 2004-01-30 2005-12-15 Carl Zeiss Blendenvorrichtung
JP2005301054A (ja) * 2004-04-14 2005-10-27 Canon Inc 照明光学系及びそれを用いた露光装置
JP4999279B2 (ja) * 2005-03-09 2012-08-15 スカラ株式会社 拡大用アタッチメント
JP2007272055A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Olympus Corp 撮像機器
DE102006022276B4 (de) * 2006-05-11 2011-07-21 Leica Microsystems CMS GmbH, 35578 Mikroskop mit Kameraabgang und Kameraadapter
JP5091716B2 (ja) * 2008-02-21 2012-12-05 株式会社ミツトヨ テレセントリックレンズ光学系および画像測定装置
US9007586B2 (en) * 2009-04-20 2015-04-14 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Collection optics for a color sensor
DE102009041994A1 (de) * 2009-09-18 2011-03-24 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Variables Mikroskopsystem
US8917397B2 (en) * 2011-05-27 2014-12-23 Ferrand D. E. Corley Microscope illumination and calibration apparatus
DE102014114467A1 (de) 2014-10-06 2016-04-07 Leica Microsystems (Schweiz) Ag Mikroskop mit überdimensioniertem Zoomsystem
DE102014114471C5 (de) 2014-10-06 2021-02-18 Leica Microsystems (Schweiz) Ag Mikroskop mit sich automatisch anpassender Irisblende
WO2016138064A1 (en) * 2015-02-24 2016-09-01 Nanoscopia (Cayman), Inc. Off-axis dark field and fluorescence illumination

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5430061A (en) * 1977-08-10 1979-03-06 Hitachi Ltd Illuminating device
JPH08190056A (ja) * 1995-01-09 1996-07-23 Olympus Optical Co Ltd 観察光学装置
JPH10206741A (ja) * 1997-01-17 1998-08-07 Tokyo Koku Keiki Kk 対物レンズの開口数可変の光学顕微鏡

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58144809A (ja) 1982-02-23 1983-08-29 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡の撮影装置
US5566020A (en) 1992-01-29 1996-10-15 Bradford; Robert W. Microscopy system
JPH0949971A (ja) * 1995-08-08 1997-02-18 Nikon Corp 顕微鏡
US6097538A (en) 1998-02-03 2000-08-01 Olympus Optical Co., Ltd. Lens barrel for use in a microscope
US6246832B1 (en) * 1998-10-05 2001-06-12 Olympus Optical Co., Ltd. Camera and lens barrel for use in the camera

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5430061A (en) * 1977-08-10 1979-03-06 Hitachi Ltd Illuminating device
JPH08190056A (ja) * 1995-01-09 1996-07-23 Olympus Optical Co Ltd 観察光学装置
JPH10206741A (ja) * 1997-01-17 1998-08-07 Tokyo Koku Keiki Kk 対物レンズの開口数可変の光学顕微鏡

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007519962A (ja) * 2004-01-28 2007-07-19 ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー 顕微鏡システム及び顕微鏡システム内に存在するレンズのシェーディング補正のための方法
JP2007285761A (ja) * 2006-04-13 2007-11-01 Shibuya Optical Co Ltd ハーフミラーおよびそれを使用した顕微分光測定装置
JP2008301521A (ja) * 2008-08-19 2008-12-11 Olympus Corp 顕微鏡用撮像装置及び撮像素子の画素欠陥検出方法
JP4585021B2 (ja) * 2008-08-19 2010-11-24 オリンパス株式会社 顕微鏡用撮像装置及び撮像素子の画素欠陥検出方法
JP2010117705A (ja) * 2008-10-14 2010-05-27 Olympus Corp バーチャルスライド作成システム用顕微鏡
WO2017187777A1 (ja) * 2016-04-28 2017-11-02 浜松ホトニクス株式会社 光学ユニット及び光学ユニットの調整方法
JP6317044B2 (ja) * 2016-04-28 2018-04-25 浜松ホトニクス株式会社 光学ユニット及び光学ユニットの調整方法
JPWO2017187777A1 (ja) * 2016-04-28 2018-05-10 浜松ホトニクス株式会社 光学ユニット及び光学ユニットの調整方法
CN109073872A (zh) * 2016-04-28 2018-12-21 浜松光子学株式会社 光学单元及光学单元的调节方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20020030883A1 (en) 2002-03-14
US6560012B2 (en) 2003-05-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002090654A (ja) 投影光学系を有する中間鏡筒及び投影光学系を有する顕微鏡
US5815741A (en) Image observing apparatus and imaging apparatus utilizing the image observing apparatus
US5572266A (en) Fundus camera
US6075646A (en) Observation optical apparatus
EP0687932A2 (en) Display device
JPH05241070A (ja) レトロフォーカス広角レンズ
US3679287A (en) Illumination system for light microscopes
JP4047217B2 (ja) 眼科装置
EP0625332B1 (en) Viewing apparatus
JPH04242715A (ja) 無限に視準調整された光データの表示用光学装置
US20100195199A1 (en) Eyepiece base unit and microscope
US4856890A (en) Ophthalmic photographing device
US4057318A (en) Microscope eye piece focusing apparatus for use in producing sharp photographs
US4935612A (en) Autofocus system and method of using the same
US4398788A (en) Binocular viewing device
US8031399B2 (en) Illumination device for a light microscope and light microscope with such an illumination device
US20020118449A1 (en) Device and method for controlling the brightness or color of a superimposed image in an optical viewing device
US4502766A (en) Eye inspection apparatus with variable field angle
JPS6139048B2 (ja)
JPS6316722B2 (ja)
KR0133445B1 (ko) 광학 뷰 파인더를 일체화한 리어 포커스방식 줌렌즈
JPH1172717A (ja) 顕微鏡デジタル写真撮影システム
JPH10307314A (ja) 観察光学装置
JP2794764B2 (ja) 欠陥検査装置
JP3355779B2 (ja) Hmd用光学系

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070823

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070823

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100908

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100922

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101109

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110105

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110427