JP2002082056A - 大型基板検査装置 - Google Patents

大型基板検査装置

Info

Publication number
JP2002082056A
JP2002082056A JP2000268942A JP2000268942A JP2002082056A JP 2002082056 A JP2002082056 A JP 2002082056A JP 2000268942 A JP2000268942 A JP 2000268942A JP 2000268942 A JP2000268942 A JP 2000268942A JP 2002082056 A JP2002082056 A JP 2002082056A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
substrate holder
glass substrate
stage
operator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000268942A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Okahira
裕幸 岡平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP2000268942A priority Critical patent/JP2002082056A/ja
Publication of JP2002082056A publication Critical patent/JP2002082056A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】ガラス基板などの大型基板を割ったり傷を付け
ることなく作業者により容易に載置することができる大
型基板検査装置。 【解決手段】基板ホルダ11をXYステージ2に対して
略垂直方向まで起き上げ可能に回動自在に設け、基板ホ
ルダ11を起こした状態で、大型基板4を設置し、水平
に戻して検査位置へ移動できるようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ステージ上に大型
基板を載置して水平方向に移動させ、顕微鏡等の観察光
学系により大型基板の拡大像を取得して大型基板面上の
傷、汚れ、むら等の欠陥検査を行うための大型基板検査
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】フラットパネルディスプレイ(FPD)
のガラス基板やカラーフィルタなどの大型基板に対して
は、その表面に付着したごみ、傷、むらやパターンの欠
陥、そのパターンなどの形状を測定する基板検査が行わ
れる。
【0003】図8はかかる大型基板検査装置の概略構成
図である。顕微鏡用架台1上には、Xステージ2aとY
ステージ2bとからなるXYステージ2が設けられてい
る。このXYステージ2上には、基板ホルダ3が固定さ
れている。この基板ホルダ3は、上記大型基板として例
えばフラットパネルディスプレイ(FPD)のガラス基
板4を水平方向(XY平面上)に保持するもので、この
ガラス基板4を基準位置に位置決めするための各基準ピ
ン5a、5b、5cが設けられている。なお、顕微鏡用
架台1上には、Y方向の各レール6が設けられ、これら
レール6上にYステージ2bがY方向に移動可能に載っ
ている。又、このYステージ2b上には、X方向の各レ
ール7が設けられ、これらレール7上にXステージ2a
がX方向に移動可能に載っている。
【0004】このような大型基板検査装置を用いてガラ
ス基板4の検査を行うときには、作業員の手作業によっ
てガラス基板4を水平状態に持ち、この水平状態のまま
ガラス基板4を基板ホルダ3上に載置する。次に、ガラ
ス基板4を基板ホルダ3上で滑らせて各基準ピン5a、
5b、5cに押し付けて基準位置に位置決めする。
【0005】この後、XYステージ2のYステージ2b
を各レール6上にY方向に移動させると共に、Xステー
ジ2aを各レール7上にX方向に移動させ、ガラス基板
4の上方に設けられた図示しない顕微鏡によりガラス基
板4の拡大像を取得してその表面上の傷、汚れ、むら等
の欠陥検査を行う。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、フラッ
トパネルディスプレイ(FPD)のガラス基板4は、大
型化が進み、最大で1m角で厚み0.7mmになるもの
がある。このような大型のガラス基板4を基板ホルダ3
上に水平状態にして載置するには、作業員(観察者)一
人では困難なことである。又、大型で薄いガラス基板4
を水平状態にしたときにガラス基板4が自重により大き
く撓み割れる可能性がある。さらに、ガラス基板4を基
板ホルダ3上に載置した後、ガラス基板4を位置決め際
にガラス基板4を基板ホルダ3上で滑らせ各基準ピンに
当て付けなければならず、このときにガラス基板4の裏
面が擦れて傷が付いてしまう。
【0007】そこで本発明は、ガラス基板などの大型基
板を割ったり傷を付けることなく作業者により容易に載
置できる大型基板検査装置を提供することを目的とす
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1記載による本発
明は、大型基板を載置するための水平方向に移動自在な
ステージを備えた大型基板検査装置において、前記大型
基板を水平状態に保持し、かつ前記ステージに対して略
垂直方向まで起き上げ可能に回動自在に設けれた基板ホ
ルダを具備したことを特徴とする大型基板検査装置であ
る。
【0009】請求項2による本発明は、請求項1記載の
大型基板検査装置において、前記基板ホルダは、手動又
は自動により前記ステージに対して回動することを特徴
とする。
【0010】請求項3記載による本発明は、請求項1記
載の大型基板検査装置において、前記基板ホルダには、
前記回動軸側に前記大型基板を基準位置に保持するため
の基準ピンが設けられていることを特徴とする。
【0011】請求項4記載による本発明は、請求項3記
載の大型基板検査装置において、前記基準ピンは、少な
くとも外装が硬化樹脂により形成されていることを特徴
とする。
【0012】
【発明の実施の形態】(1)以下、本発明の第1の実施
の形態について図面を参照して説明する。なお、図7と
同一部分には同一符号を付してある。
【0013】図1は大型基板検査装置の構成図である。
フレーム10上には、顕微鏡用架台1が設けられてい
る。この顕微鏡用架台1上には、XYステージ2を介し
て基板ホルダ11が設けられている。
【0014】この基板ホルダ11は、図2に示すように
XYステージ2に対して起き上がり方向(イ)に回動自
在に設けられている。具体的に基板ホルダ11は、XY
ステージ2に対して略80°の角度まで起き上がり方向
(イ)に回動自在に設けれている。
【0015】この基板ホルダ11の回動軸11aは、該
基板ホルダ11を所定の角度に起こしたときの下部側、
すなわちガラス基板4を基準位置に位置決めするための
各基準ピン14a,14bが設けられている一辺側(観
察者側)に設けられており、所定の傾斜角度に固定及び
解除可能になっている。なお、この基板ホルダ11は、
Xステージ2a本体の一部を正方形に切り抜いて形成し
てもよい。
【0016】基板ホルダ11には、該基板ホルダ11を
所定の角度に起こし上げたときの下部(回動軸11a
側)となる一辺側に上記各基準ピン14a,14bが所
定の間隔で設けられると共に、この一辺に対して垂直方
向の辺側に1つの基準ピン14cが設けられている。こ
れら基準ピン14a〜14cは、上記大型基板として例
えばフラットパネルディスプレイ(FPD)のガラス基
板4をXYの基準位置に配置させるためのものである。
【0017】これら基準ピン14a〜14cは、少なく
ともその外装がガラス基板4に損傷を与えない硬化樹脂
により形成されている。図3(a)〜(c)はこれら基準ピン
14a〜14cの一例を示す構造図である。同図(a)に
示す各基準ピン14a〜14cは、頭付きボルトを硬化
樹脂、例えばポリイミドにより形成したもので、頭の底
面には、テーパ部が形成されている。同図(b)に示す各
基準ピン14a〜14cは、頭付きボルト14−1を金
属により形成し、かつこの頭付きボルト14−1の胴部
外周にポリイミド等の硬化樹脂環14−2を設けたもの
である。同図(c)に示す各基準ピン14a〜14cは、
頭付きボルト14−3を金属により形成し、かつこの頭
付きボルト14−3の胴部外周にボールベアリング5−
4を設けたものである。
【0018】なお、これら基準ピン14a〜14cは、
例えばポリイミド等の硬化樹脂によりなるローラ式であ
ってもよい。
【0019】又、顕微鏡用架台1上には、門柱型支持用
フレーム12等によって顕微鏡13が支持されている。
この顕微鏡13は、観察用の光学系13a及びその接眼
レンズ13bからなっている。
【0020】次に、上記の如く構成された大型基板検査
装置を用いてのガラス基板4の検査について説明する。
【0021】XYステージ2は、基板ホルダ11が矢印
(イ)方向の略垂直方向まで起き上げられても、この基
板ホルダ11と顕微鏡13とが接触しないような位置、
例えば図面上右側方向に移動される。
【0022】次に、基板ホルダ11は、作業員(観察
者)の手操作によって図2に示すようにXYステージ2
に対して回動され、略垂直方向まで起き上げられる。
【0023】一方、ガラス基板4は、図4に示すように
作業員の手作業によって略垂直状態のまま大型基板検査
装置の設置されている位置まで運搬される。
【0024】次に、ガラス基板4は、作業員の手作業に
よって略垂直の状態で、各基準ピン14a,14b上に
一旦置かれ、基板ホルダ11の面上に静かに倒されて、
該基板ホルダ11面上に載置される。
【0025】そして、ガラス基板4は、作業員の手作業
によって、各基準ピン14a、14b上で横方向(X方
向)にずらされて、基準ピン14cに押し付けられる。
【0026】このとき、ガラス基板4は、各基準ピン1
4a〜14c上に押し付けられて載置されることによ
り、基準位置に位置決めされる。その上、ガラス基板4
は、垂直状態で運搬されて基板ホルダ11上に立て掛け
られるので、自重で割れることはなく、かつ各基準ピン
14a〜14c上で滑らしたとしてもガラス基板4の表
裏の両面に傷が付くことはない。
【0027】次に、基板ホルダ11は、作業員の手操作
によって上記図1に示すようにXYステージ2に対して
回動されて水平方向に戻され、検査可能な状態になる。
【0028】次に、XYステージ2の駆動によりガラス
基板4をXY平面上に水平移動させ、ガラス基板4の上
方に設けられた顕微鏡13によりガラス基板4の拡大像
を取得してその表面上の傷、汚れ、むら等の欠陥検査が
行われる。
【0029】この後、ガラス基板4に対する検査が終了
すると、XYステージ2は、再び基板ホルダ11が矢印
(イ)方向の略垂直方向まで起き上げられても、この基
板ホルダ11と顕微鏡13とが接触しないような位置、
例えば図面上右側方向に移動される。
【0030】次に、基板ホルダ11は、作業員の手操作
によって上記図2に示すようにXYステージ2に対して
回動され、略垂直方向まで起き上げられる。
【0031】この状態に、ガラス基板4は、作業員の手
作業によって、各基準ピン14a,14b上に静かに起
き上げられて立て掛けられ、基板ホルダ11から取り外
される。そして、作業員の手操作によって略垂直状態に
保持され、この略垂直状態のまま図示しない収納位置ま
で運搬される。
【0032】このように上記第1の実施の形態において
は、基板ホルダ11をXYステージ2に対して略垂直方
向まで起き上げ可能に回動自在に設けたので、大型で薄
いガラス基板4を作業員の手作業によって大型基板検査
装置にセットするとき、作業員の手作業によって基板ホ
ルダ11を略垂直方向まで起き上げて、この基板ホルダ
11上に立て掛ければよいので、ガラス基板4の自重で
割ることなく、かつガラス基板4を交換作業を作業者に
近い前側で行うことができるので、その作業者により容
易かつ楽に作業ができる。
【0033】そのうえ、ガラス基板4を各基準ピン14
a〜14cに押し付ける際に、ガラス基板4を略垂直に
立ち上げることで基板ホルダ11との間の摩擦が小さく
なり、ガラス基板4の裏面に傷を付けることなくガラス
基板4を基準位置に位置決めできる。又、基準ピン14
a〜14cは、上記図3(a)〜(c)に示すように基準ピン
14a〜14c自体を硬化樹脂により形成したり、ピン
本体14−1の外周に硬化樹脂環14−2を設けたり、
ピン本体14−3の外周にボールベアリング5−4を設
けたりした構造なので、ガラス基板4の横方向(X方
向)の移動が楽になり位置決め作業が容易にでき、ガラ
ス基板4の縁が欠けることはない。
【0034】又、XY方向の3つの基準ピン14a〜1
4cのうち2個を下方に設けたので、ガラス基板4の自
重により自動的にX方向の位置決めがなされ、ガラス基
板4をX方向の基準ピンに押し当てる一度の作業でXY
の位置決めできる。
【0035】(2)次に、本発明の第2の実施の形態に
ついて説明する。なお、図1と同一部分には同一符号を
付してその詳しい説明は省略する。
【0036】図5は本発明の大型基板検査装置の概略構
成図である。基板ホルダ11とXYステージ2との間に
おける横の一辺側には、リンク機構20が設けられてい
る。このリンク機構20は、折り畳み自在で、基板ホル
ダ11を略垂直方向まで起き上げた状態にロックする機
構が備えられている。
【0037】又、基板ホルダ11における上辺側には、
ハンドル21が取り付けられている。このハンドル21
は、作業員(観察者)の手作業によって基板ホルダ11
を略垂直方向まで起き上げたり、水平状態に戻すときに
作業員が手で把持するために取り付けられている。な
お、このハンドル21は、基板ホルダ11を作業員の手
作業によって略垂直方向まで起き上げたり、水平状態に
戻すときに作業がやり易いところで、かつ基板ホルダ1
1上にガラス基板4を載置しても邪魔にならないところ
であれば、基板ホルダ11の右側又は左側に設けること
もできる。
【0038】次に、上記の如く構成された大型基板検査
装置を用いてのガラス基板4の検査について説明する。
【0039】XYステージ2は、基板ホルダ11が矢印
(イ)方向の略垂直方向まで起き上げられても、この基
板ホルダ11と顕微鏡13とが接触しないような位置、
例えば図面上右側方向に移動される。
【0040】次に、基板ホルダ11は、作業員の手操作
によってハンドル21が把持されてXYステージ2に対
して回動され、略垂直方向まで起き上げられる。そし
て、この基板ホルダ11は、略垂直方向に起き上げられ
た状態でリンク機構20により支持されると共に該状態
にロックされる。
【0041】一方、ガラス基板4は、作業員の手作業に
よって略垂直状態のまま大型基板検査装置の設置されて
いる位置まで運搬される。
【0042】次に、ガラス基板4は、作業員の手作業に
よって略垂直の状態で、基板ホルダ11の面上に向かっ
て静かに倒されて、該基板ホルダ11面上に載置され
る。
【0043】そして、ガラス基板4は、作業員の手作業
によって、各基準ピン14a、14b上で横方向(X方
向)にずらされて、基準ピン14cに押し付けられる。
これにより、ガラス基板4は、基準位置に配置される。
【0044】次に、基板ホルダ11は、作業員の手操作
によってリンク機構20のロック状態が解除され、XY
ステージ2に対して回動されて水平方向に戻され、検査
可能な状態になる。
【0045】次に、検査動作に移る。すなわち、XYス
テージ2の駆動によりガラス基板4をXY平面上に水平
移動させ、ガラス基板4の上方に設けられた顕微鏡13
によりガラス基板4の拡大像を取得してその表面上の
傷、汚れ、むら等の欠陥検査が行われる。
【0046】ガラス基板4に対する検査が終了すると、
XYステージ2は、再び基板ホルダ11が略垂直方向ま
で起き上げられても、この基板ホルダ11と顕微鏡13
とが接触しないような位置、例えば図面上右側方向に移
動される。
【0047】次に、基板ホルダ11は、作業員の手操作
によってハンドル21が把持されてXYステージ2に対
して回動され、略垂直方向まで起き上げられる。そし
て、基板ホルダ11は、作業員の手操作によってリンク
機構20がロックされて、略垂直方向まで起き上げられ
た状態が保持される。
【0048】この状態に、ガラス基板4は、作業員の手
作業によって、各基準ピン14a,14b上に静かに起
き上げられて基板ホルダ11から取り外される。そし
て、作業員の手操作によって略垂直状態に保持され、こ
の略垂直状態のまま図示しない収納位置まで運搬され
る。
【0049】このように上記第2の実施の形態において
は、基板ホルダ11とXYステージ2との間に、折り畳
み自在で基板ホルダ11を略垂直方向まで起き上げた状
態にロックする機構を備えたリンク機構20を設けたの
で、上記第1の実施の形態と同様な効果を奏することが
できると共に、基板ホルダ11を略垂直状態に起き上げ
た状態をロックでき、安全にガラス基板4を基板ホルダ
11上に載置できる。又、作業員の手作業による基板ホ
ルダ11の起き上げ、水平状態への戻し作業もハンドル
21を把持することにより容易にできる。
【0050】(3)次に、本発明の第3の実施の形態に
ついて説明する。なお、図1と同一部分には同一符号を
付してその詳しい説明は省略する。
【0051】図6は本発明の大型基板検査装置の概略構
成図である。この大型基板検査装置は、基板ホルダ11
の起き上げ動作を自動化したものである。基板ホルダ1
1の回転軸11aには、モータ22の軸が連結されてい
る。このモータ22は、フットスイッチ23の操作に応
じて駆動・停止するものとなっている。
【0052】次に、上記の如く構成された大型基板検査
装置を用いてのガラス基板4の検査について説明する。
【0053】なお、ガラス基板4を作業員(観察者)の
手作業によって略垂直状態に保持した状態で大型基板検
査装置の設置位置まで運搬して基板ホルダ11面上に載
置し、かつ検査終了後、再び作業員の手作業によって基
板ホルダ11面上から取り出して図示しない収納位置ま
で運搬することは上記第1の実施の形態と同様なので省
略する。
【0054】作業員がフットスイッチ23を操作するこ
とによりモータ22が駆動し、基板ホルダ11は、XY
ステージ2に対して回動し、略垂直方向まで起き上げら
れる。そして、基板ホルダ11が略垂直方向まで起き上
げられたとき、再び作業員がフットスイッチ23を操作
すると、モータ22が停止し、基板ホルダ11は、略垂
直に近い角度まで起き上げられた状態で停止する。
【0055】次に、ガラス基板4は、作業員の手作業に
よって略垂直の状態で、基板ホルダ11の面上に向かっ
て静かに倒されて、該基板ホルダ11面上に載置され
る。
【0056】そして、ガラス基板4は、作業員の手作業
によって、各基準ピン14a、14b上で横方向(X方
向)にずらされて、基準ピン14cに押し付けられる。
これにより、ガラス基板4は、基準位置に配置される。
【0057】作業員が再度フットスイッチ23を操作す
ると、モータ22が駆動し、基板ホルダ11は、XYス
テージ2に対して回動して水平状態に戻り、検査可能な
状態になる。
【0058】検査終了後、作業員がフットスイッチ23
を操作することによりモータ22が駆動し、基板ホルダ
11は、XYステージ2に対して回動し、略垂直方向ま
で起き上げられる。そして、基板ホルダ11が略垂直方
向まで起き上げられたとき、再び作業員がフットスイッ
チ23を操作すると、モータ22が停止し、基板ホルダ
11は、略垂直方向まで起き上げられた状態で停止す
る。
【0059】この状態に、ガラス基板4は、作業員の手
作業によって、基板ホルダ11から取り外され、図示し
ない収納位置まで運搬される。
【0060】このように上記第3の実施の形態において
は、基板ホルダ11の回転軸11aにモータ22の軸を
連結し、このモータ22をフットスイッチ23の操作に
応じて駆動・停止するようにしたので、上記第1の実施
の形態の効果に加えて、基板ホルダ11の起き上げ、水
平状態への戻し作業の作業者への負担が軽減できる。
【0061】(4)次に、本発明の第4の実施の形態に
ついて説明する。なお、図1と同一部分には同一符号を
付してその詳しい説明は省略する。
【0062】図7は本発明の大型基板検査装置の概略構
成図である。この大型基板検査装置も基板ホルダ11の
起き上げ動作を自動化したものである。XYステージ2
の下方でフレーム10の内部には、シリンダ等の押し出
しユニット24が設けられている。この押し出しユニッ
ト24は、ロッド25を矢印イ方向に押し出し、又は引
き込むように動作させるものとなっている。このロッド
25は、そのロッド先端部26が球形に形成され、基板
ホルダ11の裏面に設けられた係止部27に摺動自在に
当接している。なお、押し出しユニット24のロッド2
5は、基板ホルダ11を切り抜いて形成されたxステー
ジ2aの開口部28を通して係止部27に当接してい
る。
【0063】次に、上記の如く構成された大型基板検査
装置を用いてのガラス基板4の検査について説明する。
【0064】なお、ガラス基板4を作業員(観察者)の
手作業によって略垂直状態に保持した状態で大型基板検
査装置の設置位置まで運搬して基板ホルダ11面上に載
置し、かつ検査終了後、再び作業員の手作業によって基
板ホルダ11面上から取り出して図示しない収納位置ま
で運搬することは上記第1の実施の形態と同様なので省
略する。
【0065】作業員の操作により押し出しユニット24
が駆動すると、そのロッド25が押し出され、基板ホル
ダ11の裏面に設けられた係止部27に当接しながら基
板ホルダ11を起き上がらせる。そして、基板ホルダ1
1が略垂直方向まで起き上げられると、作業員の操作に
より押し出しユニット24が停止される。
【0066】この状態に、ガラス基板4は、作業員の手
作業によって略垂直の状態で、その下方の一辺が各基準
ピン5a,5b上に置かれ、略垂直状態に起き上がって
いる基板ホルダ11に立て掛けられる。
【0067】そして、ガラス基板4は、作業員の手作業
によって、各基準ピン14a、14b上で横方向(X方
向)にずらされて、基準ピン14cに押し付けられる。
これにより、ガラス基板4は、基準位置に配置される。
【0068】作業員の操作により再度押し出しユニット
24が駆動すると、この押し出しユニット24のロッド
25が引き込まれ、基板ホルダ11は、XYステージ2
に対して回動して水平状態に戻り、検査可能な状態にな
る。
【0069】検査終了後、作業員の操作により再度押し
出しユニット24が駆動すると、この押し出しユニット
24の駆動により基板ホルダ11は、XYステージ2に
対して回動し、略垂直方向まで起き上げられる。そし
て、基板ホルダ11が略垂直方向まで起き上げられたと
き、作業員の操作により押し出しユニット24が停止す
る。
【0070】この状態に、ガラス基板4は、作業員の手
作業によって、基板ホルダ11から取り外され、図示し
ない収納位置まで運搬される。
【0071】このように上記第4の実施の形態において
は、XYステージ2の下方でフレーム10の内部にシリ
ンダ等の押し出しユニット24を設けて、基板ホルダ1
1の起き上げ動作を自動化したので、上記第2の実施の
形態と同様な効果を奏することができると共に、作業員
による基板ホルダ11の起き上げ、水平状態への戻し作
業がより楽になる。
【0072】なお、本発明は、上記第1乃至第4の実施
の形態に限定されるものでなく、実施段階ではその要旨
を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。
【0073】さらに、上記実施形態には、種々の段階の
発明が含まれており、開示されている複数の構成要件に
おける適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出でき
る。例えば、実施形態に示されている全構成要件から幾
つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとす
る課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で
述べられている効果が得られる場合には、この構成要件
が削除された構成が発明として抽出できる。
【0074】例えば、上記第1乃至第4の実施の形態
は、次の通り変形してもよい。
【0075】フラットパネルディスプレイ(FPD)の
ガラス基板4の検査に限らず、カラーフィルタ、半導体
ウエハなどの表面に付着したごみ、傷、むらやパターン
の欠陥、そのパターンなどの形状の測定にも適用でき
る。
【0076】又、XYステージ2を駆動してガラス基板
4をxy平面上に移動させるばかりでなく、顕微鏡13
をガラス基板4の上方で移動させるようにしてもよい。
【0077】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、ガ
ラス基板などの大型基板を割ったり傷を付けることなく
作業者により容易に基板ホルダ上に載置できる大型基板
検査装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる大型基板検査装置の第1の実施
の形態を示す構成図。
【図2】本発明に係わる大型基板検査装置の第1の実施
の形態における基板ホルダの略垂直方向への起き上げた
状態を示す図。
【図3】本発明に係わる大型基板検査装置の第1の実施
の形態における基準ピンの構造図。
【図4】本発明に係わる大型基板検査装置の第1の一実
施の形態におけるガラス基板の基板ホルダへの立て掛け
を示す図。
【図5】本発明に係わる大型基板検査装置の第2の実施
の形態を示す概略構成図。
【図6】本発明に係わる大型基板検査装置の第3の実施
の形態を示す概略構成図。
【図7】本発明に係わる大型基板検査装置の第4の実施
の形態を示す概略構成図。
【図8】従来における大型基板検査装置の概略構成図。
【符号の説明】
1:顕微鏡用架台 2:XYステージ 4:ガラス基板 5a,5b:基準ピン 6,7:レール 10:フレーム 11:基板ホルダ 11a:基板ホルダの回転軸 12a〜12c:支持用フレーム 13:顕微鏡 20:リンク機構 21:ハンドル 22:モータ 23:フットスイッチ 24:押し出しユニット 25:ロッド 26:ロッド先端部 27:係止部 28:開口部

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 大型基板を載置するための水平方向に移
    動自在なステージを備えた大型基板検査装置において、 前記大型基板を水平状態に保持し、かつ前記ステージに
    対して所定の傾斜角度まで起き上げ方向に回動自在に設
    けれた基板ホルダ、を具備したことを特徴とする大型基
    板検査装置。
  2. 【請求項2】 前記基板ホルダは、手動又は自動により
    前記ステージに対して回動することを特徴とする請求項
    1記載の大型基板検査装置。
  3. 【請求項3】 前記基板ホルダには、前記回動軸側に前
    記大型基板を基準位置に保持するための基準ピンが設け
    られていることを特徴とする請求項1記載の大型基板検
    査装置。
  4. 【請求項4】 前記基準ピンは、少なくとも外装が硬化
    樹脂により形成されていることを特徴とする請求項3記
    載の大型基板検査装置。
JP2000268942A 2000-09-05 2000-09-05 大型基板検査装置 Withdrawn JP2002082056A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000268942A JP2002082056A (ja) 2000-09-05 2000-09-05 大型基板検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000268942A JP2002082056A (ja) 2000-09-05 2000-09-05 大型基板検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002082056A true JP2002082056A (ja) 2002-03-22

Family

ID=18755641

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000268942A Withdrawn JP2002082056A (ja) 2000-09-05 2000-09-05 大型基板検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002082056A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009103694A (ja) * 2007-10-04 2009-05-14 Hitachi High-Technologies Corp 物体表面の欠陥検査装置および方法
CN102879406A (zh) * 2012-09-24 2013-01-16 苏州五方光电科技有限公司 一种蓝玻璃检验治具
CN111816603A (zh) * 2020-07-09 2020-10-23 上海精测半导体技术有限公司 一种基板承载装置及检测装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009103694A (ja) * 2007-10-04 2009-05-14 Hitachi High-Technologies Corp 物体表面の欠陥検査装置および方法
US8482728B2 (en) 2007-10-04 2013-07-09 Hitachi High-Technologies Corporation Apparatus and method for inspecting defect on object surface
US8760643B2 (en) 2007-10-04 2014-06-24 Hitachi High-Technologies Corporation Apparatus and method for inspecting defect in object surface
CN102879406A (zh) * 2012-09-24 2013-01-16 苏州五方光电科技有限公司 一种蓝玻璃检验治具
CN111816603A (zh) * 2020-07-09 2020-10-23 上海精测半导体技术有限公司 一种基板承载装置及检测装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102345186B1 (ko) 웨이퍼 검사 방법 및 웨이퍼 검사 장치
US6898007B2 (en) Microscope for inspecting semiconductor wafer
JP2008166766A (ja) ウェハー検査装置及びその方法
JP5722049B2 (ja) 基板検査システム
JP2014044063A (ja) 板状体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置
JP2002082056A (ja) 大型基板検査装置
JP3931111B2 (ja) 基板保持装置及び基板検査装置
JP5005945B2 (ja) 基板検査装置
CN113246324A (zh) 切削装置和切削方法
KR20100017055A (ko) 작업대
TWI436855B (zh) A grinding device and a grinding method, and a method for manufacturing the thin plate-like member
KR20030092653A (ko) 유리기판의 검사 시스템
KR20090131911A (ko) 평면디스플레이용 면취기
KR100641817B1 (ko) 유리기판용 핸들러
KR100989930B1 (ko) 웨이퍼 홀딩장치 및 웨이퍼 검사를 위한 구동장치 그리고이의 구동방법
JP2006066747A (ja) 基板の位置決め装置及び位置決め方法
JP2008064668A (ja) 外観検査装置の基板排出機構
KR100811544B1 (ko) 평면 디스플레이 검사및 결함제거장치
KR100922775B1 (ko) 웨이퍼 검사용 듀얼 검사장치
TW201946129A (zh) 劃線裝置
JP2926682B2 (ja) 基板検査装置
JPH0729481Y2 (ja) 斜光検査台
JP2005340399A (ja) ガラス基板の作業台装置
KR100799437B1 (ko) 엘씨디용 포토마스크 이재기
KR200291764Y1 (ko) 유리기판용 핸들러

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20071106