JP2002080825A - 研磨粒子及びその製造方法 - Google Patents

研磨粒子及びその製造方法

Info

Publication number
JP2002080825A
JP2002080825A JP2000312663A JP2000312663A JP2002080825A JP 2002080825 A JP2002080825 A JP 2002080825A JP 2000312663 A JP2000312663 A JP 2000312663A JP 2000312663 A JP2000312663 A JP 2000312663A JP 2002080825 A JP2002080825 A JP 2002080825A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
particles
polishing
child
film
abrasive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000312663A
Other languages
English (en)
Inventor
Noriaki Yokoi
紀昭 横井
Noriko Yamaguchi
徳子 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nihon Micro Coating Co Ltd
Original Assignee
Nihon Micro Coating Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nihon Micro Coating Co Ltd filed Critical Nihon Micro Coating Co Ltd
Priority to JP2000312663A priority Critical patent/JP2002080825A/ja
Publication of JP2002080825A publication Critical patent/JP2002080825A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】被研磨物表面を短時間で精度よく研磨できる研
磨フィルム、及びこの研磨フィルムに使用する新規な構
成の研磨粒子及びその製造方法を提供する。 【解決手段】平均粒径0.1〜20μmの範囲にある母
粒子11、及びこの母粒子11の表面に複数付着固定し
た、母粒子11(例えば、シリコン)よりも小径の平均
粒径0.001〜0.5μmの範囲にある子粒子12
(例えば、シリカ)から構成される、金属製又は非金属
製の被研磨物表面を研磨するための研磨フィルム用の研
磨粒子10、10′。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する分野】本発明は、金属製又は非金属製の
被研磨物表面を研磨するための研磨フィルムに関し、特
に、研磨フィルムに使用する研磨粒子及びその製造方法
に関するものである。
【0002】
【従来の技術及び発明の解決しようとする課題】金属製
又は非金属製の被研磨物表面の研磨には、研磨粒子とし
て各種金属酸化物、金属窒化物やダイヤモンドなどの粒
子をバインダ樹脂の溶液中に分散させた研磨塗料をプラ
スチックフィルム上に塗布し、これを乾燥させて連続又
は不連続な研磨層を形成させた研磨フィルムが使用され
ている。
【0003】そして、高い表面精度が要求される磁気ハ
ードディスク基板、半導体ウエハ、液晶ガラス基板など
の被研磨物の仕上げ研磨には、粒径の小さい微粒子(平
均粒径0.001〜0.5μm)を使用した研磨フィル
ムが使用されている。
【0004】これは、研磨フィルムに使用される粒子の
粒径を小さくすればするほど、被研磨物表面に当接する
単位面積当たりの粒子数が多くなり、また研磨層表面の
平坦性が向上するので、被研磨物表面を精度よく研磨で
きる、と考えられているからである。
【0005】しかし、研磨フィルムに使用される粒子の
粒径を小さくすると、(1)個々の粒子の研削量が少な
くなるため、研削力が低下し、研磨に時間がかかり、ス
ループットが低下する、(2)研磨塗料を製造する際、
微粒子が凝集し、この凝集粒子が被研磨物表面に不要の
傷をつけてしまう原因となるので、超音波等を利用して
研磨塗料中の凝集粒子を分解しなければならず、この凝
集粒子分解工程に時間と手間がかかる、(3)研磨中に
発生した研磨クズが研磨層表面上に残留し、研磨層表面
に目詰まりを生じさせ、研削力を低下させる、という問
題が生じ、研磨フィルムに使用される粒子の粒径を「単
に」小さくするだけでは、被研磨物表面を短時間で精度
よく研磨することができないのが現状である。
【0006】本発明は、これら問題に鑑みてなされたも
のであり、したがって、本発明の目的は、被研磨物表面
を短時間で精度よく研磨することができる研磨フィル
ム、及びこの研磨フィルムに使用する新規な構成の研磨
粒子及びその製造方法を提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明は、平均粒径0.1〜20μmの範囲にある母粒子、
及びこの母粒子よりも小径の平均粒径0.001〜0.
5μmの範囲にある微粒子(以下、これを子粒子とい
う)、から構成され、子粒子が母粒子の表面に複数付着
固定したことを特徴とする研磨粒子である。
【0008】子粒子は、個々の子粒子又は母粒子の表面
に金属酸化物の膜を形成し、この膜を介して、母粒子の
表面に複数付着固定される。このような金属酸化物の膜
(ゲル膜)は、子粒子又は母粒子を金属酸化物の溶液
(ゾル)中に分散させることによって個々の粒子に形成
できる。このようにゾル中に分散した粒子の表面にゲル
膜を形成し、このゲル膜を介して、他の粒子を付着固定
する方法を「ゾルゲル法」という。
【0009】本発明の研磨粒子は、水溶液中に子粒子を
分散させた子粒子分散液と、金属酸化物の溶液(ゾル)
中に母粒子を分散させた母粒子分散液とを混合して、子
粒子よりも大径の母粒子の表面に、母粒子の表面に形成
された金属酸化物の膜(ゲル膜)を介して、子粒子を複
数付着固定することによって製造される。
【0010】変形的に、水溶液中に母粒子を分散させた
母粒子分散液と、金属酸化物の溶液(ゾル)中に子粒子
を分散させた子粒子分散液とを混合して、子粒子よりも
大径の母粒子の表面に、子粒子の表面に形成された金属
酸化物の膜(ゲル膜)を介して、子粒子を複数付着固定
することによって製造される。
【0011】母粒子の表面に付着固定する子粒子として
は、シリカ、ダイヤモンド、アルミナ、酸化セリウム等
の粒子から選択される一種又は二種以上の研磨フィルム
に一般的に使用される既知の硬質の粒子が使用される。
【0012】母粒子としては、研磨フィルムに一般的に
使用される上記した既知の硬質の粒子の他、研磨層に弾
力性を与え、被研磨物表面に子粒子を弾力的に作用させ
るため、ポリマービーズ(アクリル−スチレン樹脂、ナ
イロン樹脂等からなる球状粒子)のように比較的軟質の
粒子が使用される。母粒子の形状は特に限定されるもの
ではないが、極端な突起や凹みのないほぼ球状の粒子が
使用される。好適に、球状のシリコン粒子が使用され
る。
【0013】母粒子としてシリコン粒子を使用する場
合、好適に、水溶液中でシリコン粒子を生成することに
よって得られたシリコン粒子分散液(母粒子分散液)を
使用し、上記のゾルゲル法によって、本発明の研磨粒子
が製造される。すなわち、メチルトリメトキシシランの
水溶液にアルカリを添加し、加水分解することにより、
母粒子としてのシリコン粒子をアルカリ性の水溶液中に
生成し(例えば、特開平6−248081を参照)、こ
のシリコン粒子分散液と、金属酸化物の溶液(ゾル)中
に子粒子(好適に、シリカ粒子)を分散させた子粒子分
散液とを混合することによって、子粒子表面に形成され
たゲル膜を介して、シリコン粒子の表面に子粒子を複数
付着固定し、本発明の研磨粒子を製造する。
【0014】本発明の研磨粒子は、上述のようにして母
粒子分散液と子粒子分散液とを混合した後、ろ過、洗浄
後、乾燥して製造される。さらに、ゲル膜を介して粒子
同士を強固に固定するため、焼成してもよい。
【0015】本発明の研磨フィルムは、バインダ樹脂の
溶液中に上記の研磨粒子を分散させた研磨塗料をプラス
チックフィルムに塗布し、乾燥させて、プラスチックフ
ィルム表面に研磨層を形成させることによって製造され
る。好適に、研磨塗料は、研磨層の厚さが母粒子の大き
さ(直径)とほぼ同一となるように、プラスチックフィ
ルム表面に塗布される。
【0016】
【発明の実施の形態】<研磨粒子> 図1(a)及び
(b)に示すように、本発明の研磨粒子10(10′)
は、平均粒径0.1〜20μmの範囲にある母粒子1
1、及び及びこの母粒子11よりも小径の平均粒径0.
001〜0.5μmの範囲にある子粒子12、から構成
され、子粒子12又は母粒子11の表面に形成した金属
酸化物の膜(ゲル膜)13を介して、子粒子12を母粒
子11の表面に複数付着固定させたものである。
【0017】母粒子11の表面に付着固定する子粒子1
2としては、コロイダルシリカ、ダイヤモンド、アルミ
ナ、酸化セリウムなどの研磨フィルムに一般的に使用さ
れる既知の硬質の粒子が使用される。
【0018】また、母粒子11としては、シリカ、ダイ
ヤモンド、アルミナ、酸化セリウム、セラミックス、ガ
ラスなどの研磨フィルムに一般的に使用される既知の硬
質の粒子の他、研磨層に弾力性を与え、被研磨物表面に
子粒子を弾力的に作用させるため、ポリマービーズ等の
比較的軟質の粒子が使用される。母粒子11の形状は特
に限定されるものではないが、極端な突起や凹みのない
ほぼ球状の粒子が使用される。好適に、球状のシリコン
粒子が使用される。
【0019】図1(a)に示す研磨粒子10は、水溶液
中に子粒子12を分散させた子粒子分散液と、金属酸化
物の溶液(ゾル)中に母粒子11を分散させた母粒子分
散液とを混合して、母粒子11の表面に形成されたゲル
膜13を介して、母粒子11の表面に子粒子12を複数
付着固定し、その後、ろ過、洗浄し、乾燥して製造され
る。さらに、ゲル膜13を介して粒子11、12同士を
強固に固定するため、焼成してもよい。
【0020】ここで、このゲル膜13は、金属酸化物の
溶液(ゾル)中に母粒子11を分散させたときに、母粒
子11の表面に形成される金属酸化物の膜である。
【0021】図1(b)に示す研磨粒子10′は、水溶
液中に母粒子11を分散させた母粒子分散液と、金属酸
化物の溶液(ゾル)中に子粒子12を分散させた子粒子
分散液とを混合して、子粒子12の表面に形成されたゲ
ル膜13を介して、子粒子母粒子11の表面に子粒子1
2を複数付着固定し、その後、ろ過、洗浄し、乾燥して
製造される。さらに、ゲル膜13を介して粒子11、1
2同士を強固に固定するため、焼成してもよい。
【0022】ここで、このゲル膜13は、金属酸化物の
溶液(ゾル)中に子粒子12を分散させたときに、子粒
子12の表面に形成される金属酸化物の膜である。
【0023】母粒子11としてシリコン粒子を使用する
場合、研磨粒子10′は、好適に、メチルトリメトキシ
シランの水溶液にアルカリを添加することにより、母粒
子11としてのシリコン粒子をアルカリ性の水溶液中に
生成し、このシリコン粒子分散液と、金属酸化物の溶液
(ゾル)中に子粒子12(好適に、シリカ粒子)を分散
させた子粒子分散液とを混合することによって、子粒子
12の表面に形成されたゲル膜13を介して、シリコン
粒子11の表面に子粒子12が複数付着固定することに
よって製造できる。
【0024】本発明の研磨粒子10、10′の製造に使
用される金属酸化物の溶液としては、テトラメトキシシ
ラン、テトラエトキシシラン、テトラプロポキシシラ
ン、テトラブトキシシランなどのテトラアルコキシシラ
ンを酸で加水分解したものが使用される。この他、四塩
化珪素を酸で加水分解したものや珪酸ナトリウム水溶液
も使用し得るが、四塩化珪素を酸で加水分解すると塩化
水素ガスが発生し、また珪酸ナトリウム水溶液の場合、
これが強アルカリであるため、ゾルが非常に不安定であ
り、ゲル化し易く、氷点下の環境で扱う必要があり、こ
のことから、好適には、上記したテトラアルコキシシラ
ンを酸で加水分解したものが使用される。
【0025】<研磨フィルム> 図1(c)に示すよう
に、本発明の研磨フィルム20は、バインダ樹脂の溶液
中に上記の研磨粒子10、10′を分散させた研磨塗料
をプラスチックフィルム21の表面に塗布し、乾燥させ
て、プラスチックフィルム21の表面に、研磨粒子1
0、10′とバインダ樹脂22とから構成される研磨層
を形成させることによって製造される。好適に、研磨塗
料は、研磨層の厚さが母粒子10、10′の大きさ(直
径)とほぼ同一となるように、プラスチックフィルム2
1の表面に塗布される。
【0026】図示のように、研磨フィルム20の研磨層
表面には、研磨粒子10、10′同士の間に、隙間23
が形成され、この隙間23に研磨中に発生した研磨クズ
が取り込まれる。
【0027】また、図1(a)〜(c)に示すように、
研磨フィルム20を使用して被研磨物を研磨すると、母
粒子11とこの表面に複数付着固定した子粒子12とが
被研磨物表面に作用するので、高い研削力で高い表面精
度が得られる。
【0028】さらに、本発明の研磨粒子10、10′
は、平均粒径0.1〜20μmという大径の母粒子11
の表面に子粒子12を複数付着固定したものなので、研
磨塗料中で研磨粒子10、10′が凝集せず、均一に分
散し、研磨層には凝集粒子がない。
【0029】<実施例1> 研磨粒子の製造 pH5.0〜5.5のイオン交換水600gを60℃に
加温し、メチルトリメトキシシラン198gを加え、2
00rpmで30分攪拌後、0.1N−NaOH水溶液
4.0mlを加え、5分攪拌後30分静置した。これに
より、白濁、沈降した母粒子としての平均粒径5.4μ
mのシリコン粒子が生成され、シリコン粒子分散液が調
製された。
【0030】pH4.0のイオン交換水10.0gを6
0℃に加温し、テトラメトキシシラン 9.9gを加
え、200rpmで攪拌し加水分解後、これに、子粒子
として平均粒径30nmのシリカ粒子1.2gを水中に
分散させたスラリー40gを加え、5分攪拌してシリカ
粒子分散液(子粒子分散液)を調製した。
【0031】30分静置後のシリコン粒子分散液に、こ
のシリカ粒子分散液を加え、60℃、200rpmで1
時間攪拌後、中和、吸引ろ過、水洗、メタノール洗を行
い、エバポレーターにて乾燥後、300℃で2時間燒結
し、白色粉末を得た。この白色粉末が、本発明に従った
研磨粒子である。その平均粒径は5.3μmであった。
ここで、シリカ粒子をシリコン粒子表面に付着した研磨
粒子の平均粒径が、シリコン粒子よりも小さくなってい
るが、これは、300℃で燒結したためであり、より高
温(例えば500℃)で燒結すると、平均粒径の差はよ
り顕著となる。この研磨粒子の電子顕微鏡写真を図2
(a)に示す。
【0032】図2(a)に示す研磨粒子は、図1(b)
に示す研磨粒子10′に対応するものであり、シリコン
粒子の表面に、シリカ粒子表面のゲル膜を介して、シリ
カ粒子を複数付着固定している。
【0033】<実施例2> 研磨フィルムの製造 ポリウレタン系バインダ樹脂とメチルエチルケトン等の
溶剤とを混合したバインダ樹脂の溶液(35重量%)に
上記実施例1の研磨粒子(65重量%)を分散した塗料
を、ポリエステルフィルム(厚さ5μm)上に塗布し、
乾燥させて、シリコン粒子の大きさとほぼ同一の厚さの
研磨層をポリエステルフィルム表面に形成し、一層構造
の研磨層を有する研磨フィルムを製造した。この研磨フ
ィルムの研磨層表面の電子顕微鏡写真を図2(b)に示
す。
【0034】図2(b)の電子顕微鏡写真に示すよう
に、研磨粒子が一様に分散した一層構造の研磨層がプラ
スチックフィルム表面に形成され、研磨粒子同士の間に
は隙間が形成されている。また、研磨層表面には、凝集
粒子がみあたらない。
【0035】<研磨試験> 実施例2の研磨フィルムを
テープ状にスリットし、この研磨テープを使用して、予
め粗研磨を施してあるシリコンウエハの端面部分(上
面、端面及び下面)の仕上げ研磨を行った。
【0036】研磨試験は、図4に略示するウエハ端面研
磨加工装置を使用し、下記の表1に示す研磨条件で行っ
た。シリコンウエハの端面部分の研磨は、以下のように
して行った。
【0037】図4に示すように、シリコンウエハ35を
スピンドル33に吸着し、矢印rの方向に回転させた。
一方、研磨テープ34を研磨テープ送出部(図示せず)
から送り出し、ローラ32を介して弾性パッド31の表
面上を矢印Tの方向に走行させ、ローラ32′を介して
研磨テープ巻取部(図示せず)へと巻き取らせ、研磨ヘ
ッド30の弾性パッド31の表面上を走行する研磨テー
プ34にシリコンウエハ35の端面部分を押し付けなが
ら、シリコンウエハ35の端面と研磨テープ34との接
点を中心として研磨ヘッド30を矢印Rの方向に首振り
させた。この首振りは、研磨テープ34が、シリコンウ
エハ35の端面部分の上面、端面及び下面に順次連続的
に15秒間ずつ押し付けられた後、下面から上面、上面
から下面、最後に下面から上面にかけてそれぞれ5秒間
ずつ連続的に移動しながら押し付けられるように行われ
た(研磨時間は合計で1分間)。
【表1】
【0038】<試験結果> 本発明の研磨テープによる
仕上げ研磨前のシリコンウエハ端面の状態を図3(a)
に示し、仕上げ研磨後のシリコン上は表面の状態を図3
(b)に示す。図3(a)及び(b)のそれぞれの顕微
鏡写真に示すように、仕上げ研磨後のシリコンウエハ端
面には傷がなく、平滑な面に仕上げられたことがわか
る。
【0039】
【発明の効果】本発明の研磨粒子及び研磨フィルムが以
上のように構成されるので以下のような効果を奏する。
【0040】(1)発明の研磨フィルムを使用して被研
磨物を研磨すると、母粒子とこの表面に複数付着固定し
た子粒子とが被研磨物表面に作用するので、高い研削力
(すなわち、短時間)で高精度の表面が得られる。
【0041】(2)本発明の研磨粒子の粒径が大きいの
で、研磨塗料中で研磨粒子が凝集することがなく、また
凝集したとしても凝集粒子を容易に分解でき、研磨粒子
を均一に分散させることができ、このことから、凝集集
子に起因する傷が被研磨物表面に形成されることがなく
なり、高精度の被研磨物表面が得られる。
【0042】(3)本発明の研磨フィルムの研磨層表面
には、研磨粒子同士の間に隙間が形成され、この隙間に
研磨中に発生した研磨クズが取り込まれるので、研磨層
の目詰まりを生じることがなく、研削力が低下しない。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1(a)及び(b)は、それぞれ、本発明の
研磨粒子の部分断面図であり、図1(c)は、本発明の
研磨粒子を使用した研磨フィルムの断面図である。
【図2】図2(a)は、実施例の研磨粒子の電子顕微鏡
写真であり、図2(b)は、実施例の研磨フィルム表面
の電子顕微鏡写真である。
【図3】図3(a)は、仕上げ研磨前のシリコンウエハ
端面の顕微鏡写真であり、図3(b)は、仕上げ研磨後
のシリコンウエハ端面の顕微鏡写真である。
【図4】図4は、実施例の研磨試験を行うためのウエハ
端面研磨加工装置の略図である。
【符号の説明】
10、10′・・・研磨粒子 11・・・母粒子 12・・・子粒子 13・・・ゲル膜 20・・・研磨フィルム 21・・・プラスチックフィルム 22・・・バインダ樹脂 23・・・隙間 30・・・研磨ヘッド 31・・・弾性パッド 32、32′・・・ローラ 33・・・スピンドル 34・・・研磨テープ 35・・・シリコンウエハ T・・・研磨テープの走行方向 R・・・研磨ヘッドの首振り方向 r・・・シリコンウエハの回転方向

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】平均粒径0.1〜20μmの範囲にある母
    粒子、及びこの母粒子よりも小径の平均粒径0.001
    〜0.5μmの範囲にある子粒子、から成り、前記子粒
    子が、前記子粒子又は前記母粒子の表面に形成した金属
    酸化物の膜を介して、前記母粒子の表面に複数付着固定
    した、研磨粒子。
  2. 【請求項2】平均粒径0.1〜20μmの範囲にあるシ
    リコン粒子、及びこのシリコン粒子よりも小径の平均粒
    径0.001〜0.5μmの範囲にあるシリカ粒子、か
    ら成り、前記シリカ粒子が、前記シリカ粒子又は前記シ
    リコン粒子の表面に形成した金属酸化物の膜を介して、
    前記シリコン粒子の表面に複数付着固定した、研磨粒
    子。
  3. 【請求項3】金属酸化物の溶液中に平均粒径0.1〜2
    0μmの範囲にある母粒子を分散させた母粒子分散液
    と、水溶液中に前記母粒子よりも小径の平均粒径0.0
    01〜0.5μmの範囲にある子粒子を分散させた子粒
    子分散液とを混合し、前記母粒子の表面に形成された金
    属酸化物の膜を介して、前記母粒子の表面に前記子粒子
    を複数付着固定させる、研磨粒子の製造方法。
  4. 【請求項4】水溶液中に平均粒径0.1〜20μmの範
    囲にある母粒子を分散させた母粒子分散液と、金属酸化
    物の溶液中に前記母粒子よりも小径の平均粒径0.00
    1〜0.5μmの範囲にある子粒子を分散させた子粒子
    分散液とを混合し、前記子粒子の表面に形成された金属
    酸化物の膜を介して、前記母粒子の表面に前記子粒子を
    複数付着固定させる、研磨粒子の製造方法。
  5. 【請求項5】請求項1又は2に記載の研磨粒子と、バイ
    ンダ樹脂とからなる研磨層をプラスチックフィルムの表
    面に形成した研磨フィルム。
JP2000312663A 2000-09-07 2000-09-07 研磨粒子及びその製造方法 Withdrawn JP2002080825A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000312663A JP2002080825A (ja) 2000-09-07 2000-09-07 研磨粒子及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000312663A JP2002080825A (ja) 2000-09-07 2000-09-07 研磨粒子及びその製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002080825A true JP2002080825A (ja) 2002-03-22

Family

ID=18792208

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000312663A Withdrawn JP2002080825A (ja) 2000-09-07 2000-09-07 研磨粒子及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002080825A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003070853A1 (fr) * 2002-02-20 2003-08-28 Nihon Micro Coating Co., Ltd. Pate de polissage
JP2003277730A (ja) * 2002-03-26 2003-10-02 Yasuhiro Tani 研磨剤及び研磨方法
KR101465762B1 (ko) * 2013-04-25 2014-12-01 성균관대학교산학협력단 폴리스티렌/실리카 복합체를 포함하는 연마재, 및 이의 제조 방법
KR101465761B1 (ko) 2014-06-30 2014-12-01 성균관대학교산학협력단 폴리스티렌/실리카 복합체를 포함하는 연마재, 및 이의 제조 방법
JP2016148083A (ja) * 2015-02-12 2016-08-18 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 表面被覆部材の製造方法、部材表面の前処理方法、処理済み部材及び表面被覆部材
JP2017532774A (ja) * 2014-08-28 2017-11-02 シンマット, インコーポレーテッドSinmat, Inc. 軟質コア複合粒子による硬質基板の研磨

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003070853A1 (fr) * 2002-02-20 2003-08-28 Nihon Micro Coating Co., Ltd. Pate de polissage
US7097677B2 (en) 2002-02-20 2006-08-29 Nihon Microcoating Co., Ltd. Polishing slurry
JP2003277730A (ja) * 2002-03-26 2003-10-02 Yasuhiro Tani 研磨剤及び研磨方法
KR101465762B1 (ko) * 2013-04-25 2014-12-01 성균관대학교산학협력단 폴리스티렌/실리카 복합체를 포함하는 연마재, 및 이의 제조 방법
KR101465761B1 (ko) 2014-06-30 2014-12-01 성균관대학교산학협력단 폴리스티렌/실리카 복합체를 포함하는 연마재, 및 이의 제조 방법
JP2017532774A (ja) * 2014-08-28 2017-11-02 シンマット, インコーポレーテッドSinmat, Inc. 軟質コア複合粒子による硬質基板の研磨
JP2016148083A (ja) * 2015-02-12 2016-08-18 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 表面被覆部材の製造方法、部材表面の前処理方法、処理済み部材及び表面被覆部材

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0121706B1 (en) Method for polishing titanium carbide containing surfaces
TW200521215A (en) Abrasive for chemical mechanical polishing and method for producing the same
KR20040080935A (ko) 연마 슬러리
JPH08336758A (ja) 研磨テープ、その製造方法および研磨テープ用塗工剤
JP2002338232A (ja) 二次凝集コロイダルシリカとその製造方法及びそれを用いた研磨剤組成物
KR100567678B1 (ko) 세륨계 연마재 와 연마재 슬러리 및 세륨계 연마재의제조방법
JP4636869B2 (ja) 多孔質シリカ系粒子の製造方法および該方法から得られる多孔質シリカ系粒子
JP4883967B2 (ja) 多孔質シリカ系粒子の製造方法および該方法から得られる多孔質シリカ系粒子
WO2016045536A2 (zh) 一种金刚石抛光膜制备方法
JP2002080825A (ja) 研磨粒子及びその製造方法
JP2000301459A (ja) 砥石およびこれを用いた研磨方法
US8808568B2 (en) Magnetorheological materials, method for making, and applications thereof
JP2002246341A (ja) シリカ膜の化学機械研磨用の研磨スラリー
JP4190198B2 (ja) 研磨用粒子および研磨材
JP2006315110A (ja) 研磨剤、その製造方法及び研磨方法
JP2002043256A (ja) 半導体ウエハ平坦化加工方法及び平坦化加工装置
JP2010064218A (ja) 研磨用砥石
JP2001085371A (ja) コロイドシリカのつや出し研磨剤
JP2007144613A (ja) 有機膜研磨用研磨液及びこれを用いた有機膜の研磨方法
KR102396281B1 (ko) 연마용 조성물 및 이의 제조방법
JPH10106987A (ja) 酸化セリウム研磨剤及び基板の研磨法
JP2002224967A (ja) 研磨フィルム及びその製造方法
JP2001107028A (ja) 研磨材及び研磨方法
JP4167441B2 (ja) 研磨剤及びキャリア粒子
JPH09235119A (ja) 低活性ジルコニアの水性ゾル及びその製法

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20071204