JP2002064135A - チップトレイ - Google Patents

チップトレイ

Info

Publication number
JP2002064135A
JP2002064135A JP2000249173A JP2000249173A JP2002064135A JP 2002064135 A JP2002064135 A JP 2002064135A JP 2000249173 A JP2000249173 A JP 2000249173A JP 2000249173 A JP2000249173 A JP 2000249173A JP 2002064135 A JP2002064135 A JP 2002064135A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
adhesive
tray
base
tape
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000249173A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4459412B2 (ja
Inventor
Sachiko Onozawa
幸子 小野澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP2000249173A priority Critical patent/JP4459412B2/ja
Publication of JP2002064135A publication Critical patent/JP2002064135A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4459412B2 publication Critical patent/JP4459412B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68313Auxiliary support including a cavity for storing a finished device, e.g. IC package, or a partly finished device, e.g. die, during manufacturing or mounting

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 チップトレイのポケットに半導体チップを収
納した場合に、運搬等によりチップがポケットの壁面に
ぶつかり、チップが欠けたり、欠けた破片がチップの表
面に付着してゴミになるという問題があった。 【解決手段】 UV透過型の合成樹脂で上面を平板状に
形成したトレイ土台11と、トレイ土台11の上面全面
に形成したUV硬化樹脂の粘着材層12と、粘着材層1
2の上面に固定した、チップ14のサイズより大きな寸
法の複数個の窓部15を形成した枠体13とでチップト
レイ10を形成したものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電子部品のチップ例
えば半導体チップを収納するチップトレイに関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】図4は従来のチップトレイを示す図で、
(a)は斜視図、(b)はD−D断面図である。
【0003】従来、半導体チップの収納には、導電性黒
色ポリプロピレン等の材質を用いて、矩形のトレイ1に
半導体チップ2の幅、長さ、厚みの各寸法よりも大きな
寸法で構成される、複数個のポケット3と称する同一の
深さのくぼみを施したチップトレイを使用している。
【0004】半導体チップ2は、このポケット3に1個
づつ、例えば、ハンドラー又はピンセットを用いて搭載
される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記チ
ップトレイの構造では、トレイ1へのチップ搭載からピ
ックアップに到るまでの間に、トレイ1の運搬等で生じ
る振動等の外力により半導体チップ2がポケット3内で
動いて、ポケット3の壁面とぶつかり、その結果とし
て、チップ2が欠けたり、また、欠けた部分がチップ2
の表面に付着してゴミになるという問題があった。
【0006】また、チップ2が動かない様、固定して搭
載する手段として、ポケット3毎に通常市販されている
ゲルパック(商品名)の利用も考えられる。しかしなが
ら、ゲルパックの場合には、一度チップがゲルパックの
粘着部に固定されると、粘着部の粘着力が継続するため
に、チップをピックアップする場合には、チップをこの
粘着力に逆らって抜き取ることになり、その結果、チッ
プに傷や欠けが生ずるという問題があった。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の第1の発明はUV(紫外線)透過型の合成
樹脂で上面を平板状に形成したトレイ土台と、トレイ土
台の上面全面に形成したUV硬化樹脂の粘着材層と、粘
着材層の上面に固定した、チップのサイズより大きな寸
法の複数個の窓部を形成した枠体とで構成したものであ
る。
【0008】第2の発明はUV透過型の合成樹脂で形成
した複数個のポケットを有するトレイ土台と、ポケット
を含めてトレイ土台の表面全面に形成したUV硬化樹脂
の粘着材層とで構成したものである。
【0009】第3の発明はチップのサイズより大きな寸
法の複数個の窓部を形成した枠体と、UV透過型のテー
プ基材の上面にUV硬化樹脂の粘着材を塗布した粘着性
テープと、枠体の窓部に対応する位置にUV照射用窓を
設けたトレイ土台とで構成し、トレイ土台の上面全面に
粘着材を上面にして粘着性テープを被着させ、粘着性テ
ープの上面に枠体を固定したものである。
【0010】
【発明の実施の形態】図1は本発明の第1の実施形態を
示す図で、(a)は斜視図、(b)はA−A断面図であ
る。
【0011】チップトレイ10はトレイ土台11と粘着
材層12と枠体13とで構成される。
【0012】トレイ土台11は、導電性のUV透過型の
合成樹脂で、上面を平板状に、例えば平板に形成され
る。勿論、エンボスにより上面を平板状に、円部を空洞
に形成しても良い。
【0013】粘着材層12はトレイ土台11の上面全面
にUV硬化樹脂により形成したもので、UV透過型のテ
ープ基材の上面にUV硬化樹脂の粘着材を塗布した粘着
性テープ、又はUV硬化樹脂をトレイ土台11に直接塗
布することで形成される。
【0014】粘着性テープの場合は、接着剤によりトレ
イ土台11の上面に接着される。粘着性テープの例とし
て半導体ウエハのダイシング用テープを挙げることがで
きる。
【0015】枠体13には電子部品のチップ例えば半導
体チップ14のサイズより大きな寸法の複数個の窓部1
5が形成されている。枠体13はトレイ土台11と同じ
材質でも、また従来のチップトレイと同じ材質でも良
い。
【0016】枠体13は粘着材層12上に固定される
が、その粘着材を利用してもまた別の接着剤を使用して
も良い。UV照射時に粘着材層12の粘着力が低下する
が、チップ14に比して枠体13は大きいので、剥がれ
るようなことはない。
【0017】チップトレイ10に、半導体チップ14を
搭載する場合には、従来例と同様に半導体チップ14
を、枠体13に形成された窓部15に1個づつ、例え
ば、ハンドラー又はピンセットを用いて行なう。
【0018】また、チップ14のピックアップに際して
は、これに先立って、窓部15の底面に対してチップ土
台11の下面方向から例えば120mW/cm2 の条件
でUV照射を施す。
【0019】チップ土台11はUV透過型の合成樹脂で
形成されているので、UVを透過させ、粘着材層12に
UVを照射する。粘着材層12の粘着材はUVを照射す
ることにより硬化してその粘着力を低下させるUV硬化
樹脂であるので、UV照射により所望の粘着力となり、
チップ14が剥がれ易い状態となっている。
【0020】従って、その後、搭載時と同様に、例え
ば、ハンドラー又はピンセットを用いてチップ14のピ
ックアップを容易に行なうことができる。
【0021】以上のように、第1の実施形態によれば、
トレイ土台11の上面全面にUV硬化樹脂の粘着材層1
2を形成したので、チップ14の搭載からピックアップ
前のUV照射に到るまでの間は、チップ14の裏面が粘
着材層12に固定され、運搬等で生じる振動等の外力に
よりチップ14が動くことがなく、そのためチップ14
の欠けが減少し、また、仮に振動等でチップ14が欠け
て破片等が生じた場合でも、チップ土台11の上面全面
の粘着材層12に粘着するため、チップ14の表面へ付
着してゴミとなる可能性が非常に低くなることが期待で
きる。
【0022】また、チップ14のピックアップ時には、
これに先だって、UV照射を行ない、粘着材の粘着力を
低下させるので、ハンドラー又はピンセットを用いて容
易にピックアップを行なうことが可能である。
【0023】また、トレイ土台11の上面全面に粘着材
層12を形成し、その上に枠体13を固定するので、ポ
ケット毎に粘着材層を形成するよりも製造がはるかに容
易になるという利点がある。
【0024】図2は本発明の第2の実施形態を示す図
で、(a)は斜視図、(b)はB−B断面図である。
【0025】チップトレイ20はトレイ土台21と粘着
性テープ22と枠体23とで構成される。
【0026】枠体23は第1の実施形態と同じである
が、トレイ土台21は枠体23の窓部25に対応する位
置にUV照射用窓26を設けている。
【0027】このUV照射用窓26はトレイ土台21の
下面方向からUVを照射するためのもので、枠体23の
窓部25と同等の大きさにあけてある。従って、トレイ
土台21はUV透過型の合成樹脂で形成する必要はな
く、従来と同様の導電性黒色ポリプロピレンであっても
良い。
【0028】トレイ土台21の上面全面に被着した粘着
性テープ22は第1の実施形態で説明した粘着性テープ
と同じであり、UV透過型のテープ基材の上面にUV硬
化樹脂の粘着材を塗布したもので、粘着材を上面にして
接着剤によりトレイ土台21に接着される。
【0029】チップトレイ20に半導体チップ24を搭
載する場合、またチップ24のピックアップのためにU
Vを照射するまでは第1の実施形態と同じである。
【0030】トレイ土台21にはUV照射用窓26が設
けられているので、UVはチップ24が固定された粘着
性テープ22の部分に適確に照射され、粘着性テープの
粘着材の粘着力が低下してチップ24が剥がれ易い状態
となる。
【0031】そこで、ハンドラー又はピンセットを用い
てチップ24のピックアップを容易に行なうことができ
る。
【0032】以上のように、第2の実施形態によれば、
第1の実施形態の効果に加えて、トレイ土台21にUV
照射用窓26を設けたので、UV照射を適確に行なうこ
とができ、また安価な黒色ポリプロピレンでトレイ土台
21を製造することが可能で、コストダウンに寄与す
る。
【0033】図3は本発明の第3の実施形態を示す図
で、(a)は斜視図、(b)はC−C断面図である。
【0034】チップトレイ30はトレイ土台31と粘着
材層32とで構成される。
【0035】トレイ土台31は導電性のUV透過型の合
成樹脂で形成され、従来例と同様に複数個のポケット3
5と称する同じ深さのくぼみを施してある。
【0036】粘着材層32はポケット35を含めてトレ
イ土台31の表面全面にUV硬化樹脂により形成したも
ので、第1の実施形態と同様に粘着性テープ、又はUV
硬化樹脂をトレイ土台31に直接塗布することで形成さ
れる。
【0037】チップトレイ30に半導体チップ34を搭
載する場合、またチップ34をピックアップする場合
は、第1の実施形態と同様である。
【0038】以上のように、第3の実施形態によれば、
第1の実施形態の効果に加えて、チップトレイ30の上
面全面が粘着材層32になっているので、もし仮に半導
体チップ34が欠けて破片等が生じた場合でも、破片等
は粘着材層32に粘着し、チップ34の表面に付着して
ゴミとなる可能性は更に低くなる。
【0039】上記の実施形態では、電子部品のチップと
して半導体チップで説明したが、マイクロチップコンデ
ンサ、マイクロチップインダクタ等のチップ部品に適用
できることは言うまでもない。
【0040】また、チップトレイと称しても、チップに
限らずセラミックパッケージやキャップ等の小型実装部
品の収納に使っても構わないことは勿論である。
【0041】上記したように、本発明によれば、トレイ
土台の上面全面に粘着材層を形成したので、チップが欠
けることが減少し、仮に破片等が生じた場合でも全面の
粘着材層に粘着されるため、チップの表面に付着してゴ
ミとなることが防止される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態を示す図。
【図2】本発明の第2の実施形態を示す図。
【図3】本発明の第3の実施形態を示す図。
【図4】従来のチップトレイを示す図。
【符号の説明】
10,20,30 チップトレイ 11,21,31 トレイ土台 12,32 粘着材層 22 粘着テープ 13,23 枠体 14,24,34 チップ 15,25 窓部 35 ポケット 26 UV照射用窓

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 UV透過型の合成樹脂で上面を平板状に
    形成したトレイ土台と、前記トレイ土台の上面全面に形
    成したUV硬化樹脂の粘着材層と、前記粘着材層の上面
    に固定した、チップのサイズより大きな寸法の複数個の
    窓部を形成した枠体とからなることを特徴とするチップ
    トレイ。
  2. 【請求項2】 UV透過型の合成樹脂で形成した複数個
    のポケットを有するトレイ土台と、前記ポケットを含め
    て前記トレイ土台の表面全面に形成したUV硬化樹脂の
    粘着材層とからなることを特徴とするチップトレイ。
  3. 【請求項3】 前記粘着材層を、UV透過型のテープ基
    材の上面にUV硬化樹脂の粘着材を塗布した粘着性テー
    プで構成したことを特徴とする請求項1又は2記載のチ
    ップトレイ。
  4. 【請求項4】 前記粘着材層を、UV硬化樹脂の粘着材
    を塗布して形成したことを特徴とする請求項1又は2記
    載のチップトレイ。
  5. 【請求項5】 チップのサイズより大きな寸法の複数個
    の窓部を形成した枠体と、UV透過型のテープ基材の上
    面にUV硬化樹脂の粘着材を塗布した粘着性テープと、
    前記枠体の窓部に対応する位置にUV照射用窓を設けた
    トレイ土台とからなり、 前記トレイ土台の上面全面に前記粘着材を上面にして前
    記粘着性テープを被着させ、前記粘着性テープの上面に
    前記枠体を固定したことを特徴とするチップトレイ。
  6. 【請求項6】 前記粘着性テープがウエハダイシング用
    テープであることを特徴とする請求項3又は5記載のチ
    ップトレイ。
JP2000249173A 2000-08-21 2000-08-21 チップトレイ及び電子部品の搬送方法 Expired - Fee Related JP4459412B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000249173A JP4459412B2 (ja) 2000-08-21 2000-08-21 チップトレイ及び電子部品の搬送方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000249173A JP4459412B2 (ja) 2000-08-21 2000-08-21 チップトレイ及び電子部品の搬送方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002064135A true JP2002064135A (ja) 2002-02-28
JP4459412B2 JP4459412B2 (ja) 2010-04-28

Family

ID=18738953

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000249173A Expired - Fee Related JP4459412B2 (ja) 2000-08-21 2000-08-21 チップトレイ及び電子部品の搬送方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4459412B2 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004189314A (ja) * 2002-12-13 2004-07-08 Nitta Ind Corp 電子部品支持体
US7455213B2 (en) 2003-10-02 2008-11-25 Seiko Epson Corporation Apparatus for manufacturing semiconductor devices, method of manufacturing the semiconductor devices, and semiconductor device manufactured by the apparatus and method
KR100932986B1 (ko) * 2008-04-08 2009-12-21 삼성모바일디스플레이주식회사 유기발광 표시장치용 트레이
JP2011181733A (ja) * 2010-03-02 2011-09-15 Disco Corp 半導体デバイスの製造方法
JP2016197689A (ja) * 2015-04-06 2016-11-24 三菱電機株式会社 半導体試験治具、半導体装置の試験方法
CN113212943A (zh) * 2021-07-07 2021-08-06 杭州硅土科技有限公司 用于精密器件包装的自清洁真空释放吸附盒及自清洁方法
CN113511414A (zh) * 2021-09-14 2021-10-19 杭州硅土科技有限公司 一种精密器件包装用硅胶复合材料吸附盒及其复合材料制造方法
WO2022185647A1 (ja) * 2021-03-01 2022-09-09 東レエンジニアリング株式会社 チップトレイ、チップ保持装置、および外観検査装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004189314A (ja) * 2002-12-13 2004-07-08 Nitta Ind Corp 電子部品支持体
US7455213B2 (en) 2003-10-02 2008-11-25 Seiko Epson Corporation Apparatus for manufacturing semiconductor devices, method of manufacturing the semiconductor devices, and semiconductor device manufactured by the apparatus and method
KR100932986B1 (ko) * 2008-04-08 2009-12-21 삼성모바일디스플레이주식회사 유기발광 표시장치용 트레이
JP2011181733A (ja) * 2010-03-02 2011-09-15 Disco Corp 半導体デバイスの製造方法
JP2016197689A (ja) * 2015-04-06 2016-11-24 三菱電機株式会社 半導体試験治具、半導体装置の試験方法
WO2022185647A1 (ja) * 2021-03-01 2022-09-09 東レエンジニアリング株式会社 チップトレイ、チップ保持装置、および外観検査装置
CN113212943A (zh) * 2021-07-07 2021-08-06 杭州硅土科技有限公司 用于精密器件包装的自清洁真空释放吸附盒及自清洁方法
CN113511414A (zh) * 2021-09-14 2021-10-19 杭州硅土科技有限公司 一种精密器件包装用硅胶复合材料吸附盒及其复合材料制造方法
CN113511414B (zh) * 2021-09-14 2021-12-17 杭州硅土科技有限公司 一种精密器件包装用硅胶复合材料吸附盒及其复合材料制造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4459412B2 (ja) 2010-04-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100426494B1 (ko) 반도체 패키지 및 이것의 제조방법
JP2003309221A5 (ja)
US6514795B1 (en) Packaged stacked semiconductor die and method of preparing same
US20120223441A1 (en) Stacked semiconductor device and manufacturing method thereof
JP2002064135A (ja) チップトレイ
US20010040288A1 (en) Packaged semiconductor device and manufacturing method thereof
JP2007129110A5 (ja)
WO2010008892A1 (en) Microelectronic imager packages with covers having non-planar surface features
JP5679735B2 (ja) パッケージ基板のハンドリング方法
US20080176360A1 (en) Method for sawing a wafer and method for manufacturing a semiconductor package by using a multiple tape
CN102832158B (zh) 半导体器件的制造装置和半导体器件的制造方法
JP2008016606A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP3649129B2 (ja) 半導体装置の製造方法および半導体装置
JP2003209397A (ja) 物品の配置方法
JP3216314B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法、並びに半導体装置の製造装置
JP2001127244A (ja) マルチチップ半導体装置およびその製造方法
JP3303825B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0739232Y2 (ja) 電子部品素子封止用蓋材
JP2006120850A (ja) 半導体チップの製造方法
JP2018129429A (ja) チップトレイ、半導体チップの収納体および収納体の製造方法
JP2004134517A (ja) 半導体チップのピックアップ方法
JP2010171240A (ja) 電子装置の製造方法
JPH11227871A (ja) キャリアテープ
JP2001230269A (ja) 電子回路チップ内蔵物の製造方法および電子回路チップ付き部品
JPH0640482A (ja) 搬送用トレイ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070605

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20081119

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081125

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090827

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090901

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091124

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100120

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100209

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100210

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130219

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130219

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140219

Year of fee payment: 4

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees