JP2002064105A5 - ヘテロバイポーラトランジスタ - Google Patents

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【特許請求の範囲】
【請求項1】 基板と、
前記基板上に形成されたコレクタ層と、
前記コレクタ層上に形成されたベース層と、
前記ベース層上に形成されたエミッタ層とよりなるヘテロバイポーラトランジスタであって、
前記ベース層はSiGeC系の混晶よりなり、
前記ベース層中においてCの濃度が、前記エミッタ層に面する第1の界面から前記コレクタ層に面する第2の界面まで増加し、
前記エミッタ層のうち前記ベース層に接する第1の領域と、前記コレクタ層のうち前記ベース層に接する第2の領域の少なくとも一方が、Cを含むことを特徴とするヘテロバイポーラトランジスタ。
【請求項2】 基板と、
前記基板上に形成されたコレクタ層と、
前記コレクタ層上に形成されたベース層と、
前記ベース層上に形成されたエミッタ層とよりなるヘテロバイポーラトランジスタであって、
前記ベース層はSiGe二元系混晶よりなり、
前記エミッタ層のうち前記ベース層に接する第1の領域と、前記コレクタ層のうち前記ベース層に接する第2の領域の少なくとも一方が、Cを含むことを特徴とするヘテロバイポーラトランジスタ。
【0018】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記の課題を、基板と、前記基板上に形成されたコレクタ層と、前記コレクタ層上に形成されたベース層と、前記ベース層上に形成されたエミッタ層とよりなるヘテロバイポーラトランジスタであって、前記ベース層はSiGeC系の混晶よりなり、前記ベース層中においてCの濃度が、前記エミッタ層に面する第1の界面から前記コレクタ層に面する第2の界面まで増加し、前記エミッタ層のうち前記ベース層に接する第1の領域と、前記コレクタ層のうち前記ベース層に接する第2の領域の少なくとも一方が、Cを含むことを特徴とするヘテロバイポーラトランジスタにより解決する。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4060580B2 (ja) * 2001-11-29 2008-03-12 株式会社ルネサステクノロジ ヘテロ接合バイポーラトランジスタ
US7129168B2 (en) 2002-10-30 2006-10-31 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of estimating substrate temperature
JP3959695B2 (ja) 2003-01-14 2007-08-15 松下電器産業株式会社 半導体集積回路
US7132338B2 (en) * 2003-10-10 2006-11-07 Applied Materials, Inc. Methods to fabricate MOSFET devices using selective deposition process
JP4708334B2 (ja) * 2004-02-27 2011-06-22 独立行政法人科学技術振興機構 透明強磁性単結晶化合物の製造方法
US7396731B1 (en) 2004-10-15 2008-07-08 Hrl Laboratories, Llc Method for preparing a non-self-aligned heterojunction bipolar transistor with a small emitter-to-base spacing
US7598148B1 (en) 2004-10-15 2009-10-06 Fields Charles H Non-self-aligned heterojunction bipolar transistor and a method for preparing a non-self-aligned heterojunction bipolar transistor
US7875523B1 (en) 2004-10-15 2011-01-25 Hrl Laboratories, Llc HBT with emitter electrode having planar side walls
US7687383B2 (en) * 2005-02-04 2010-03-30 Asm America, Inc. Methods of depositing electrically active doped crystalline Si-containing films
DE102005047221B4 (de) * 2005-10-01 2015-08-06 APSOL GmbH Halbleiterschichtstruktur, Bauelement mit einer solchen Halbleiterschichtstruktur, Halbleiterschichtstruktur-Scheiben und Verfahren zu deren Herstellung
JP2009206325A (ja) * 2008-02-28 2009-09-10 Hitachi Ltd 半導体装置およびその製造方法
JP2013546161A (ja) 2010-09-21 2013-12-26 クワンタム エレクトロ オプト システムズ エスディーエヌ. ビーエイチディー. 発光およびレーザ半導体方法およびデバイス

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2569058B2 (ja) * 1987-07-10 1997-01-08 株式会社日立製作所 半導体装置
JPH0529328A (ja) * 1991-07-24 1993-02-05 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置及びその製造方法
US5352912A (en) * 1991-11-13 1994-10-04 International Business Machines Corporation Graded bandgap single-crystal emitter heterojunction bipolar transistor
US5360986A (en) * 1993-10-05 1994-11-01 Motorola, Inc. Carbon doped silicon semiconductor device having a narrowed bandgap characteristic and method
JPH08306700A (ja) * 1995-04-27 1996-11-22 Nec Corp 半導体装置及びその製造方法
DE19755979A1 (de) * 1996-12-09 1999-06-10 Inst Halbleiterphysik Gmbh Silizium-Germanium-Heterobipolartransistor
JP3201993B2 (ja) * 1998-04-28 2001-08-27 松下電器産業株式会社 半導体装置とその製造方法

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