JP2002043404A - 真空処理装置用トレー及び真空処理装置 - Google Patents

真空処理装置用トレー及び真空処理装置

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JP2002043404A
JP2002043404A JP2000226911A JP2000226911A JP2002043404A JP 2002043404 A JP2002043404 A JP 2002043404A JP 2000226911 A JP2000226911 A JP 2000226911A JP 2000226911 A JP2000226911 A JP 2000226911A JP 2002043404 A JP2002043404 A JP 2002043404A
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重雄 原
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和吉 菅谷
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 トレーを使用して被処理物を搬送する機能を
備えた真空処理装置において、被処理物の温度制御の精
度や効率を飛躍的に向上させる。 【解決手段】 トレー1は、被処理物9の被処理面とは
反対側の面を臨む空間に閉空間を形成する閉空間用凹部
14と、被処理物9と同軸上の箇所でトレー1を厚さ方
向に貫通するガス導入路15を有する。閉空間用凹部1
4は、ガス導入路15の出口から中心対称状に延びる溝
状である。ガス導入路14を通して昇圧用ガスを導入
し、閉空間内の圧力を被処理物9の被処理面を臨む空間
の圧力より高くし、被処理物9が浮き上がらないよう押
し付け具12で押し付ける。ガス導入路14のコンダク
タンスは、コンダクタンス調整器17で調整される。ト
レー1は、トレー1を介して被処理物9の温度を制御す
る温度制御機構を有するトレーホルダーに保持される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本願の発明は、薄膜形成、表
面改質又はドライエッチングのような真空中で処理を行
う真空処理装置において、被処理物を載せる真空処理装
置用トレー(以下、単にトレー)に関する。
【0002】
【従来の技術】各種半導体部品や電子部品等の製造プロ
セスでは、被処理物上に微細な電子回路を形成するた
め、薄膜形成、表面改質、ドライエッチング等のような
真空中で処理を行う真空処理装置が使用される。このよ
うな真空処理装置では、被処理物をトレーに載せて処理
することがある。特に、複数の同一の被処理物を同時に
処理したり、外形寸法の異なる複数の被処理物を同時に
処理する場合、被処理物をトレーに載せて処理する構成
が採用される。
【0003】このような真空処理装置では、処理中の被
処理物の温度が処理に影響を与えることが多いため、処
理中に被処理物の温度を制御する構成がしばしば採用さ
れる。具体的には、被処理物を載せたトレーを台状のホ
ルダーに載置して保持させる。ホルダーは、内部にヒー
タが設けられたり、内部に冷媒を流通させたりすること
で所定の温度に管理されるようになっており、トレーが
ホルダー上に載置されることで被処理物の温度が制御さ
れる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
真空処理装置では、被処理物が真空中にあるため、温度
制御の精度や効率が悪いという欠点がある。即ち、温度
管理されているホルダーに対してトレーが接触し、トレ
ーに対して被処理物が接触することで被処理物が温度制
御されるが、ホルダーに対するトレーの接触、トレーに
対する被処理物の接触は充分ではなく、両者の間には微
小な隙間が形成されるのが避けられない。この隙間は真
空雰囲気であり、従って、この隙間を介した熱伝達量は
大気中に比べて小さい。このため、ホルダーと被処理物
との間の全体の熱伝達効率が悪く、結果として被処理物
の温度制御の精度や効率が悪くなる。
【0005】本願の発明は、かかる課題を解決するため
になされたものであり、トレーを使用して被処理物を搬
送する機能を備えた真空処理装置において、被処理物の
温度制御の精度や効率を飛躍的に向上させるという技術
的意義を有する。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本願の請求項1記載の発明は、真空中で被処理物を
処理する真空処理装置において被処理物を載せる真空処
理装置用トレーであって、被処理物の被処理面とは反対
側の面を臨む空間に閉空間を形成する閉空間用凹部を有
しているとともに、被処理物の処理に影響が無い範囲内
で、この閉空間内の圧力を被処理物の被処理面を臨む空
間の真空圧力より高くするよう閉空間内に昇圧用ガスを
導入するガス導入路を有しているという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項2記載の発明
は、請求項1の構成において、前記ガス導入路は、前記
被処理物の中心軸と同軸上の箇所において前記閉空間用
凹部に達しているとともに、前記閉空間用凹部は、この
同軸上の箇所から中心対称状に延びる溝状であるという
構成を有する。また、上記課題を解決するため、請求項
3記載の発明は、請求項1の構成において、前記閉空間
に前記昇圧用ガスが導入された際に前記被処理物が浮き
上がらないように前記トレーに押し付ける押し付け具を
備えているという構成を有する。また、上記課題を解決
するため、請求項4記載の発明は、請求項1の構成にお
いて、前記ガス導入路のコンダクタンスを調整するコン
ダクタンス調整器を備えているという構成を有する。ま
た、上記課題を解決するため、請求項5記載の発明は、
請求項1の構成において、前記ガス導入路は、トレーを
厚さ方向に貫通するものであって、前記被処理物を載置
する側とは反対側の面には、昇圧用ガスを一旦溜める反
対側凹部が形成されているという構成を有する。また、
上記課題を解決するため、請求項6記載の発明は、請求
項5の構成において、前記反対側凹部は、トレーの中心
軸に対して中心対称の形状であるという構成を有する。
また、上記課題を解決するため、請求項7記載の発明
は、請求項1乃至6いずれかに記載の真空処理装置用ト
レーが使用される真空処理装置であって、排気系によっ
て真空圧力に排気される処理チャンバーと、処理チャン
バー内の所定位置に請求項1乃至6いずれかに記載の真
空処理装置用トレーを保持するトレーホルダーとを備え
ており、トレーホルダーにはトレーを介して被処理物の
温度を制御する温度制御機構が設けられているととも
に、前記ガス導入路を通して前記閉空間に昇圧用ガスを
導入する昇圧用ガス導入系が設けられているという構成
を有する。また、上記課題を解決するため、請求項8記
載の発明は、真空中で被処理物を処理する真空処理装置
において被処理物を載せる真空処理装置用トレーであっ
て、表面に静電気を誘起して前記被処理物を静電吸着す
る電界を生じさせる吸着電極を内部に有しているという
構成を有する。また、上記課題を解決するため、請求項
9記載の発明は、請求項8記載の真空処理装置用トレー
が使用される真空処理装置であって、排気系によって真
空圧力に排気される処理チャンバーと、処理チャンバー
内の所定位置に請求項8記載の真空処理装置用トレーを
保持するトレーホルダーとを備えており、トレーホルダ
ーは、前記吸着電極に静電吸着用の電圧を供給する電圧
供給部を有しているという構成を有する。また、上記課
題を解決するため、請求項10記載の発明は、請求項9
記載の構成において、前記トレーホルダーには、前記ト
レーを介して前記被処理物の温度を制御する温度制御機
構が設けられているという構成を有する。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本願発明の実施の形態につ
いて説明する。まず、請求項1から6に対応した第一の
実施形態について説明する。図1は、第一の実施形態の
トレーの断面概略図、図2は、図1に示すトレーを上か
ら見た平面概略図、図3は、図1に示すトレーを下から
見た平面概略図である。尚、図1は、図2に示すA−
A’での断面概略図となっている。図1から図3に示す
トレー1は、真空中で所定の処理が行われる被処理物9
の搬送用に使用されるものであって、被処理物9を載せ
て搬送するようになっている。本実施形態では、被処理
物9は、半導体ウェーハのような円板状となっている。
尚、図2では、被処理物9の図示は省略されている。
【0008】図2及び図2から解るように、トレー1
は、全体としては長方形の板状である。トレー1の材質
は、被処理物9の処理に影響を与えないものとされる。
例えば被処理物9がシリコンウェーハである場合、トレ
ー1はシリコン、酸化シリコン等で形成される。もしく
は、トレー1は、ステンレスやアルミニウムのような化
学的に安定な金属で形成される場合もある。
【0009】トレー1の上面には、被処理物9の形状に
合わせた平面視が円形の載置用凹部11が四つ形成され
ている。各載置用凹部11の直径は、被処理物9の直径
より僅かに大きい程度であり、被処理物9は、各載置用
凹部11に落とし込まれた状態で載置される。四つの載
置用凹部11は全て同じ寸法であり、従って、本実施形
態では、同一の形状寸法の四つの被処理物9を搬送する
ようになっている。尚、トレー1が異なる形状又は大き
さの載置用凹部11を有し、異なる形状又は大きさの被
処理物9を搬送するようになっている場合もある。ま
た、図1に示すように、各載置用凹部11の深さは、被
処理物9の厚さよりも少し小さい。従って、被処理物9
は、トレー1の上面から少し突出した状態で載置され
る。
【0010】図1に示すように、トレー1には、被処理
物9を飛び出しや落下を防止するよう押し付ける押し付
け具12が設けられている。押し付け具12は、載置用
凹部11に落とし込まれた被処理物9の周縁を覆う部材
である。押し付け具12は、ネジ13によってトレー1
に固定され、これによって被処理物9がトレー1に押し
付けられている。尚、押し付け具12の被処理物9の周
縁を覆う部分には、被処理物9のトレー1からの突出に
合わせた段差が形成されており、押し付け具12は、ト
レー1に接触するとともに被処理物9の周縁に充分に接
触するようになっている。尚、被処理面は、上記のよう
に載置用凹部11に落とし込まれて載置された状態の被
処理物9の上側の面となっている。
【0011】本実施形態の大きな特徴点は、トレー1
が、被処理物9の被処理面とは反対側の面(以下、単に
反対側面)を臨む空間に閉空間が形成される形状となっ
ている点である。具体的には、トレー1は、被処理物9
とともに閉空間を形成する閉空間用凹部14を有してい
る。図1及び図2に示すように、閉空間用凹部14は、
載置用凹部11の底面に形成された溝状のものとなって
いる。図2に示すように、閉空間用凹部14は、各載置
用凹部11の中心から放射状に延びる溝状の部分と、各
載置用凹部11の中心と同心円周状の複数の溝状の部分
とからなる形状である。図1に示すように被処理物9が
載置用凹部11に落とし込まれると、被処理物9は、閉
空間用凹部14を上側から塞いだ状態となり、被処理物
9と閉空間用凹部14によって被処理物9の反対側面に
閉空間が形成される。
【0012】また、トレー1は、上記閉空間内の圧力を
上昇させるためのガス(以下、昇圧用ガス)を導入する
ガス導入路15を有している。ガス導入路15は、図1
及び図2に示すように、各載置用凹部11に設けられた
閉空間用凹部14の中心においてトレー1をその厚さ方
向に貫通させて形成されたものである。
【0013】一方、トレー1の被処理物9を載置する側
を表面側とし、これとは反対側の面を裏面側とすると、
裏面側には、図1及び図3に示すような凹部(以下、裏
面側凹部)16が形成されている。裏面側凹部16の平
面方向の形状は、図3に示すような中心対称状のものと
なっている。即ち、裏面側凹部16は、中央に設けたト
レー1と相似形の小さな長方形の部分と、この小さな長
方形の部分の外側に、トレー1の中心軸と中心が一致す
る方形の輪郭の複数の溝状の部分と、その中心において
交差する十字状の溝状の部分とから成る形状である。
尚、図3に示すように、上記ガス導入路15は、裏面側
凹部16のうち、中心から二番目の方形の溝状の部分の
各角に位置している。
【0014】次に、真空処理装置の発明の実施形態につ
いて説明する。図4は及び図5は、第一の実施形態の真
空処理装置の概略構成を示す図であり、図4は平面図、
図5は図4のB−B’における断面図である。本実施形
態の装置は、クラスターツール型のチャンバーレイアウ
トを採用した装置となっている。即ち、図1に示すよう
に、内部に搬送ロボット21が設けられた搬送チャンバ
ー2が中央にあり、その周囲にロードロックチャンバー
3及び複数の処理チャンバー4,5,6がゲートバルブ
7を介して気密に接続されている。尚、搬送チャンバー
2、ロードロックチャンバー3及び各処理チャンバー
4,5,6は、真空チャンバーであり、排気系(図4中
不図示)を備えている。
【0015】本実施形態装置は、大気側でトレー1に未
処理の被処理物9を載せる不図示の搭載エリア及びトレ
ー1から処理済みを被処理物9を回収する不図示の回収
エリアを有している。搭載エリアは、手動又はロボット
等を使用して自動で未処理の被処理物9をトレー1に載
せるようになっている。回収エリアも、同様に、手動又
はロボット等を使用して自動で処理済みの被処理物9を
トレー1から回収するようになっている。搬送チャンバ
ー2内の搬送ロボット21としては、本実施形態では、
多関節ロボットが使用されている。搬送ロボット21
は、多関節アームの先端にトレー1を載せて保持し、多
関節アームの伸縮、垂直な軸周りの回転、上下運動を行
ってトレー1を移動させるようになっている。
【0016】ロードロックチャンバー3は、大気側と搬
送チャンバー2との間をトレー1が移動する際にトレー
1が一時的に滞留するチャンバーである。ロードロック
チャンバー3内には、複数のトレー1を一時的に収容す
るカセットが設けられる場合がある。また、上述した搭
載エリア及び回収エリアとロードロックチャンバーとの
間でトレー1の移動を行う不図示のオートローダが設け
られている。オートローダは、搬送ロボット21と同様
の多関節ロボットである。
【0017】各処理チャンバー4,5,6の構成は、被
処理物9に対して行う処理の内容に応じて最適化され
る。本実施形態の装置は、レジストで形成された回路パ
ターンをマスクとしてエッチングを行う装置となってい
る。即ち、処理チャンバーの一つ4は、エッチングチャ
ンバーとなっている。エッチングチャンバー4は、フッ
素系ガスのプラズマにより被処理物9の被処理面をエッ
チングするようになっている。具体的には、エッチング
チャンバー4は、図5に示すように、内部を排気する排
気系41と、四フッ化炭素(CF)のようなフッ素系
ガスをプロセスガスとして導入するプロセスガス導入系
42と、導入されたガスに高周波放電を生じさせてプラ
ズマを形成する高周波電極43と、高周波電極に高周波
電力を供給する高周波電源44と、エッチングチャンバ
ー4内の所定位置にトレー1を保持するトレーホルダー
45等を備えている。
【0018】高周波放電により形成されたフッ素系ガス
のプラズマ中では、フッ素活性種やフッ素イオンが盛ん
に形成され、このフッ素活性種やフッ素イオンが被処理
物9の被処理面に到達することにより、処理面の酸化シ
リコンなどの材料がエッチングされる。尚、電界を設定
して被処理面にイオンを加速して入射させながらエッチ
ングする反応性イオンエッチングが行われることもあ
る。
【0019】また、エッチングチャンバー4には、処理
中の被処理物9の温度を制御する温度制御機構(図5中
不図示)が設けられている。温度制御機構は、トレーホ
ルダー45の温度を管理することにより被処理物9の温
度を制御するようになっている。図6を使用して、温度
制御機構について説明する。図6は、図4及び図5に示
すエッチングチャンバー4内に設けられたトレーホルダ
ー45の詳細を示す断面概略図である。
【0020】図6に示すように、温度制御機構46は、
ジュール熱を発生させてトレーホルダー45を加熱する
ようトレーホルダー45内に設けられたヒータ461
と、トレーホルダー45内の空洞に冷媒を流通させてト
レーホルダー45を冷却する冷媒流通系462と、トレ
ーホルダー45の温度を計測する不図示の温度センサ
と、温度センサからの信号によりヒータ461及び冷媒
流通系462を制御する不図示の制御部等から構成され
ている。制御部は、温度センサからの信号により、ヒー
タ461に供給する電力を制御したり、冷媒の流通量又
は冷媒の温度を制御したりすることで、トレーホルダー
45の温度を所定の温度に管理するようになっている。
【0021】また、トレー1は、搬送ロボット21によ
りトレーホルダー45の中心軸とトレー1の中心軸とが
一致した状態でトレーホルダー45に載置されるように
なっている。そして、図5及び示すように、トレーホル
ダー45に載置されたトレー1をトレーホルダー45に
押し付けるためのクランプ機構47が設けられている。
クランプ機構47は、押し付け具12の部分に先端が接
触するフック471と、フック471を駆動させるフッ
ク駆動部472とから主に構成されている。フック47
1は、エッチングチャンバー4の底板部の開口に挿通さ
れている。フックの挿通部分からのリークがないよう、
ベローズが設けられている。
【0022】図4〜図6に示す本実施形態の装置の大き
な特徴点は、上述したようにトレー1内に形成される閉
空間に昇圧用ガスを導入する昇圧用ガス導入系48が設
けられている点である。昇圧用ガス導入系48は、上述
したトレーホルダー45内を経由して昇圧用ガスを導入
するようになっている。以下、この点を具体的に説明す
る。
【0023】図6に示すように、トレーホルダー45に
は、中心軸に沿って垂直に延びる貫通孔451が設けら
れている。昇圧用ガス導入系48は、昇圧用ガスを溜め
たボンベ480と、ボンベ480とトレーホルダー45
の貫通孔451とをつなぐ配管481と、配管481上
に設けられたバルブ282や流量調整器483等から主
に構成されている。昇圧用ガス導入系48は、昇圧用ガ
スとしてヘリウムを導入するようになっている。
【0024】次に、図6を使用して、上記トレー1及び
昇圧用ガス導入系48の作用について説明する。図6に
示すように、被処理物9を搭載したトレー1がトレーホ
ルダー45に載置された後、フック駆動部472が動作
してフック471が押し付け具12に接触してトレー1
をトレーホルダー45に押し付ける。次に、昇圧用ガス
導入系48が動作し、昇圧用ガスとしてヘリウムを導入
する。昇圧用ガスは、トレーホルダー45内の貫通孔4
51を通してまずトレーホルダー45とトレー1との間
の空間、即ちトレー1の裏面側凹部16内に溜まる。こ
の結果、裏面側凹部16内の空間の圧力が上昇する。
【0025】裏面側凹部16内に溜まった昇圧用ガス
は、トレー1に設けられたガス導入路15を通って上昇
し、トレー1と被処理物9の間の空間、即ち閉空間に達
してこの閉空間の圧力を上昇させる。裏面側凹部16内
の空間の圧力及び閉空間の圧力が上昇する結果、トレー
ホルダー45とトレー1との間の熱伝達効率及びトレー
1と被処理物9との間の熱伝達効率が向上する。この結
果、トレーホルダー45と被処理物9との間の熱交換の
効率が高まり、前述した温度制御機構46による被処理
物9の温度制御の精度や効率が向上する。
【0026】また、本実施形態のトレー1は、昇圧用ガ
ス導入路15のコンダクタンスを調整するコンダクタン
ス調整器17を備えている。以下、この点を説明する。
図7は、コンダクタンス調整器17の構成を説明する平
面図である。コンダクタンス調整器17は、図6及び図
7に示すように、トレー1の反対側面に形成されたガス
導入路15の入り口を部分的に塞ぐ板状の部材で構成さ
れている。コンダクタンス調整器17は、トレー1に対
してネジ止めされている。コンダクタンス調整器17
は、細長い開口170を有し、この開口170にネジ1
71が挿通され、このネジがトレー1にねじ込まれてい
る。
【0027】コンダクタンスを調整する場合、ネジ17
1をゆるめて、コンダクタンス調整器17を開口の長さ
方向に移動させる。これにより、コンダクタンス調整器
17によるガス導入路15を塞ぎ量が多くなったり少な
くなったりする。適当な位置にコンダクタンス調整器1
7を位置させた後、ネジ171をトレー1にねじ込んで
固定する。
【0028】上述したようなコンダクタンスの調整は、
以下のような技術的意義を有する。上述したように、本
実施形態では、昇圧用ガスが導入される空間は閉空間で
あり、昇圧用ガスは、トレー1と被処理物9との間に閉
じ込められた状態となる。つまり、閉空間とは、昇圧用
ガスが導入される導入孔を除いて実質的に閉じた空間と
いう意味である。
【0029】ここで、昇圧用ガスの導入量が多くなる
と、閉空間内の圧力が上昇する。被処理物9は、上述し
たように、押し付け具12によってトレー1に押し付け
られているが、閉空間の圧力が高くなると、トレー1か
ら浮き上がってしまう恐れがある。被処理物9がトレー
1から浮き上がると、昇圧用ガスが閉空間から漏れ出て
しまう。漏れ出た昇圧用ガスが、被処理物9の被処理面
を臨む空間に達すると、処理の品質に影響を与える場合
がある。但し、昇圧用ガスの導入量が不足すると、トレ
ー1と被処理物9との間の熱交換を促進する効果が充分
に得られなくなってしまう。
【0030】そこで、本実施形態では、昇圧用ガスの導
入量が最適なものになるよう、ガス導入路15のコンダ
クタンスをコンダクタンス調整器17によって調整して
いる。尚、閉空間への昇圧用ガスの導入量は、昇圧用ガ
ス導入系48が備える流量調整器483によっても調整
可能である。しかしながら、流量調整器483による調
整のみでは、以下のような二つの問題がある。
【0031】一つめの問題は、流量調整器483による
調整のみでは、閉空間内の圧力を細かく調節するのが困
難であるということである。二つめの問題は、トレーホ
ルダー45とトレー1との間の空間の圧力の調節の必要
性の点である。即ち、トレーホルダー45とトレー1と
の間の熱交換を充分に促進する必要上から、トレーホル
ダー45とトレー1との間の空間の圧力も充分に上昇さ
せる必要があるが、あまり上昇させると、押し付け具1
2による圧力に拘わらずトレー1がトレーホルダー45
から浮き上がってしまう問題がある。このため、トレー
ホルダー45とトレー1との間の空間の圧力が限度以上
に上昇しないようにすることが好ましい。
【0032】流量調整器483の流量調整によって閉空
間の圧力を調節すると、トレーホルダー45とトレー1
との間の空間の圧力が最適値からずれてしまうことがあ
る。従って、トレーホルダー45とトレー1との間の空
間の圧力は流量調整器483の流量調整によって調節
し、閉空間の圧力調節はコンダクタンス調整器17によ
ることが好ましい。
【0033】尚、コンダクタンス調整器17としては、
前述したような手動により位置が変更される板状部材の
他、自動的に変位する部材を設けても良い。例えば、ガ
ス導入路15を部分的に閉鎖する閉鎖部材に対し、エア
シリンダのような直線駆動源を接続する。直線駆動源に
よって閉鎖部材を変位させ、コンダクタンスを調整す
る。直線駆動源の他、サーボモータのような回転駆動源
とその回転を直線運動に変換する機構との組み合わせを
採用しても良い。
【0034】また、被処理物9への処理を汚損しないと
いう観点から、昇圧用ガスは閉空間に封じ込められて漏
れ出ないようにすることが好ましい。但し、漏れ出る量
が微量であれば処理の品質に影響が無い場合があり、影
響が無い範囲内の量で昇圧用ガスで導入すれば良い。
【0035】また、図4に示す他の処理チャンバーの一
つ5は、例えばエッチング後にレジストをアッシングし
て除去するアッシングチャンバーとして構成される。ま
た、さらに別の処理チャンバー6は、例えばアッシング
後に被処理物9を洗浄してレジストの残渣を除去する洗
浄チャンバーとして構成される。
【0036】次に、本実施形態の装置の全体の動作につ
いて説明する。未処理の被処理物9は、不図示の搭載エ
リアにおいてトレー1に搭載される。被処理物9が搭載
されたトレー1は、不図示のオートローダによってロー
ドロックチャンバーに移動する。次に、搬送ロボットに
よってトレー1がエッチングチャンバー4に移動し、被
処理物9がエッチングチャンバー4に搬送される。エッ
チングチャンバー4内は、排気系41によって予め所定
の圧力まで排気されている。
【0037】トレー1がトレーホルダー45上に載置さ
れると、昇圧用ガス導入系48が動作し、前述したよう
にトレー1と被処理物9との間の閉空間に昇圧用ガスが
導入される。尚、トレーホルダー45には、昇降ピンの
ようなトレー1をトレーホルダー45に受け渡す受け渡
し機構が設けられることがある。トレーホルダー45に
設けられた温度制御機構46が予め動作しており、トレ
ーホルダー45の温度は所定の値になるよう管理されて
いる。昇圧用ガスによって熱交換効率が高まり、温度制
御機構46により精度良く被処理物9の温度が制御され
る。この状態で、プロセスガス導入系42が動作し、フ
ッ素系ガスが所定の流量で導入される。そして、高周波
電源44が動作してフッ素系ガスのプラズマが形成され
る。プラズマの作用により、被処理物9の被処理面がエ
ッチングされる。
【0038】温度制御の例について、少し詳しく説明す
る。エッチングは、ある程度の高温の方が効率良く進行
するので、エッチング開始の際に被処理物9をヒータ4
61によって室温より高い温度(設定温度)に制御す
る。エッチング開始後、プラズマからの熱によって被処
理物9が設定温度以上に加熱され、ヒータ461の制御
のみでは不充分な場合、冷却機構によって被処理物9を
設定温度に冷却する。
【0039】このようなエッチングを所定時間行った
後、高周波電源44、プロセスガス導入系42及び昇圧
用ガス導入系48の動作を停止し、エッチングチャンバ
ー4内を再度排気した後、トレー1をエッチングチャン
バー4から取り出す。その後、必要に応じて、アッシン
グや洗浄等の処理を行った後、トレー1をロードロック
チャンバー3を経由して回収エリアに移動させる。そし
て、トレー1から処理済みの被処理物9を回収する。
【0040】上記構成及び動作に係る本実施形態の装置
によれば、上述したように温度制御機構46による被処
理物9の温度制御の精度が向上するので、被処理物9の
温度が処理中に最適な温度に維持され、処理の品質が向
上する。また、温度制御の効率も良いので、ランニング
コストの点でも有利である。
【0041】次に、請求項8及び9に対応した第二の実
施形態について説明する。図8は、第二の実施形態のト
レー及び第二の実施形態の真空処理装置が備えるトレー
ホルダーの断面概略図である。
【0042】図8に示すトレー1の大きな特徴点は、表
面に静電気を誘起して被処理物9を静電吸着する電界を
生じさせる吸着電極18を内部に有している点である。
吸着電極18は、トレー1と相似形の板状の部材であ
り、トレー1より少し大きさが小さい。吸着電極18
は、トレー1の面方向(即ち、載置される被処理物9の
面方向)と平行になるよう、トレー1内に埋設されてい
る。吸着電極18には、ガス導入路15を構成する貫通
孔が形成されている。また、トレー1は、酸化シリコン
又はアルミナのような誘電体で形成されている。また、
トレー1の反対側面を貫通させて二つの導通ピン19が
トレー1に固定されている。二つの導通ピン19の上端
は吸着電極18に接続され、下端はトレー1の反対側面
から下方に突出している。尚、二つの導通ピン19は、
吸着電極18のほぼ中央の位置で吸着電極18に接続さ
れている。
【0043】図9は、図8に示す導通ピン19の詳細な
構造を示す断面図である。図9に示すように、導通ピン
19は、中空のピン本体191と、ピン本体191から
下方に突出する先端具192と、ピン本体191内に設
けられたコイルスプリング193とから成っている。ピ
ン本体191、先端具192、コイルスプリング193
は、全て金属製である。
【0044】図8ではトレーホルダー45のみが描かれ
ているが、他の構成は、前述した第一の実施形態の装置
と同様に構成できる。本実施形態の真空処理装置の特徴
点は、トレーホルダー45が、トレー1内の吸着電極1
8に静電吸着用の電圧を供給する電圧供給部を有してい
る点である。電圧供給部は、具体的には、トレー1がト
レーホルダー45に保持された際に導通ピン19に接触
する導体ロッド452となっている。
【0045】導体ロッド452は、トレーホルダー45
を上下に貫通して設けられている。導体ロッド452は
円筒状であり、トレーホルダー45の中心に設けられた
貫通孔451と同軸となっている。導体ロッド452に
は、吸着電源49が接続されている。吸着電源49とし
ては、正又は負の直流電源が使用されている。トレー1
がトレーホルダー45に正しく載置されると、導体ロッ
ド452の先端に導通ピン19が接触する。尚、この
際、図8に先端具192は、コイルスプリング193を
圧縮するよう作用する。即ち、コイルスプリング193
は、先端具192の導体ロッド452への衝突を吸収す
るよう作用する。
【0046】導通ピン19が導体ロッド452に接触し
た状態で吸着電源49が動作すると、静電吸着用の電圧
が導体ロッド452及び導通ピン19を介して吸着電極
18に与えられる。この結果、トレーホルダー45に誘
電分極が生じて表面に静電気が誘起され、被処理物9が
トレー1に静電吸着される。尚、導体ロッド452の周
囲は不図示の絶縁材で覆われており、導体ロッド452
に与えられる電圧がトレーホルダー45に伝わらないよ
うになっている。
【0047】被処理物9がトレー1に静電吸着される
と、トレー1に対する被処理物9の密着性が向上する。
この結果、被処理物9とトレー1との間の熱伝達効率が
さらに高まり、温度制御の精度や効率がさらに向上す
る。また、被処理物9のトレー1に対する押し付け圧力
も高まるので、閉空間内の圧力をより高くしても、被処
理物9がトレー1から浮き上がることがない。このた
め、閉空間内の圧力をより高くし、さらに熱伝達効率を
向上させることができる。
【0048】押し付け具12による圧力を高くしても良
いが、押し付け具12による圧力は、被処理物9に対し
て局所的に作用するため、被処理物9の温度分布が不均
一になる問題がある。また、あまり押し付け具12によ
る圧力を高くすると、被処理物9に無理な力が加わり、
被処理物9の破損等の問題が生じる恐れがある。被処理
物9を静電吸着する構成では、このような問題はなく、
図8に示すように、押し付け具12を使用しなくても良
い。
【0049】尚、被処理物9をトレー1に対して静電吸
着する構成は、トレー1を介して被処理物9の温度制御
を行う場合以外にも、処理中の被処理物9の位置ずれが
防止できる等の技術的意義がある。また、トレー1内部
に電池式の吸着電源49を設けることで、トレー1がト
レーホルダー45に載置されていない状態でも被処理物
9をトレー1に静電吸着することが可能である。この場
合、トレー1が搬送ロボット等により移動している際に
も被処理物9を静電吸着することができ、被処理物9の
搬送中の位置ずれ防止やトレー1からの落下防止に役立
つ。
【0050】本実施形態では、吸着電極18が一つ即ち
単極式の構成であったが、一対の吸着電極を使用した双
極式の構成でも良い。一対の吸着電極には、互いに極性
の異なる電圧が印加される。また、被処理物9を臨む空
間にプラズマが形成される場合、吸着電極に高周波電圧
を印加しても被処理物9の静電吸着は可能である。尚、
本実施形態では、トレー1全体が誘電体製であったが、
少なくとも被処理物9が載置される面が誘電体であれば
足りる。従って、例えば吸着電極18から上側の部分の
みを誘電体製にしても良い。また、本実施形態では、電
圧供給部は、吸着電極18と外部の吸着電源49とをつ
なぐ導通部材であったが、トレーホルダー45内に電源
を設けてこれを電圧供給部としても良い。
【0051】次に、第三の実施形態のトレーについて説
明する。図10は、第三の実施形態のトレーを上から見
た平面概略図である。第三の実施形態のトレーは、閉空
間用凹部14の形状が前述した各実施形態とは異なって
いる。即ち、図10に示す実施形態における閉空間用凹
部14は、小さな円柱状の部分を均等に多数残して載置
用凹部11を掘り下げたような形状となっている。ま
た、トレー1の周縁の部分は閉空間用凹部14となって
おらず、凸部が周状に延びている。この凸部は、小さな
円柱状の部分と上面の高さがほぼ同じである。この実施
形態でも、ガス導入路15の開口は、載置用凹部11の
中心に位置している。この実施形態のトレー1によって
も、閉空間の圧力の上昇にり、被処理物9の温度制御の
精度や効率を向上させることができる。
【0052】上述した閉空間用凹部14やガス導入路1
5の各構成は、いずれも閉空間への昇圧用ガスの導入量
を均一にして被処理物9の温度を均一にする技術的意義
がある。このような構成は、前述した以外にも多く考え
られる。まず、ガス導入路15が一つである場合は、そ
の出口は載置用凹部11の中央に位置することになる
が、ガス導入路15が複数ある場合、それらの出口は、
載置用凹部11の中心に対して対称で互いに等間隔に配
置することが好ましい。また、閉空間用凹部14の形状
についても、中心対称の形状に限らず、溝状のものを平
行に等間隔に並べた形状や格子状の溝から成る形状等を
採用することができる。
【0053】尚、閉空間は、被被処物9の被処理面とは
反対側に形成されるが、完全に反対である必要はない。
被処理面の処理に影響が無い範囲内で反対側という意味
である。さらに、閉空間はガス導入路15以外の部分で
開口が無いことが好ましいが、開口があっても、そこか
ら漏れ出る昇圧用ガスが処理に影響が無いのであれば、
そのような構成でも良い。
【0054】上記各実施形態では、エッチングを真空処
理の例として採り上げたが、スパッタリングや化学蒸着
(CVD)等の成膜処理、表面酸化や表面窒化等の表面
改質処理についても、同様に実施可能である。また、被
処理物9としては半導体ウェーハが想定されたが、液晶
ディスプレイ用の基板やプラズマディスプレイ用の基
板、ハードディスク等の情報記録媒体用の基板、磁気セ
ンサ等の電子デバイス用の基体等、各種のものを被処理
物9とすることができる。
【0055】
【発明の効果】以上説明した通り、本願の請求項1記載
の発明によれば、被処理物とトレーとの間の閉空間内の
圧力が上昇するので、トレーを介した被処理物の温度制
御の精度や効率が向上する。また、請求項2記載の発明
によれば、上記効果に加え、昇圧用ガスが閉空間内で均
一に拡散するので、閉空間内の熱伝達効率も均一に向上
する。このため、被処理物の温度もより均一になる。ま
た、請求項3記載の発明によれば、上記効果に加え、閉
空間に昇圧用ガスが導入された際に被処理物が浮き上が
らないように押し付け具によりトレーに押し付けられ
る。従って、トレーと被処理物との間の熱伝達が不充分
となったり、閉空間から昇圧用ガスが漏れ出る問題が生
じない。また、請求項4記載の発明によれば、上記効果
に加え、ガス導入路のコンダクタンスがコンダクタンス
調整器により調整されるので、被処理物の浮き上がりを
防止するとともに充分な熱伝達効率向上作用が得られる
量のガスを容易に導入できる。また、請求項5記載の発
明によれば、上記効果に加え、トレーホルダーのような
保持部材にトレーが保持された際、被処理物を載置する
側とは反対側の反対側凹部内に昇圧用ガスが一旦溜めら
れるので、保持部材とトレーとの間の熱伝達効率も向上
するという効果が得られる。また、請求項6記載の発明
によれば、上記効果に加え、反対側凹部がトレーの中心
軸に対して中心対称の形状であるので、トレーの温度が
均一になる。このため、被処理物の温度も均一になる。
また、請求項7又は8記載の発明によれば、被処理物を
トレーに静電吸着することが可能になるので、被処理物
の位置ずれを防止したり、被処理物のトレーに対する接
触性をさらに向上させたりすることが可能となる。ま
た、請求項10記載の発明によれば、上記効果に加え、
被処理物の温度制御の精度や効率をより向上させること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第一の実施形態のトレーの断面概略図である。
【図2】図1に示すトレーを上から見た平面概略図であ
る。
【図3】図1に示すトレーを下から見た平面概略図であ
る。
【図4】第一の実施形態の真空処理装置の概略構成を示
す平面図である。
【図5】図4のB−B’における断面図である。
【図6】図4及び図5に示すエッチングチャンバー4内
に設けられたトレーホルダー45の詳細を示す断面概略
図である。
【図7】コンダクタンス調整器17の構成を説明する平
面図である。
【図8】第二の実施形態のトレー及び第二の実施形態の
真空処理装置が備えるトレーホルダーの断面概略図であ
る。
【図9】図8に示す導通ピン19の詳細な構造を示す断
面図である。
【図10】第三の実施形態のトレーを上から見た平面概
略図である。
【符号の説明】
1 トレー 11 載置用凹部 12 押し付け具 14 閉空間用凹部 15 ガス導入路 16 裏面側凹部 17 コンダクタンス調整器 18 吸着電極 2 搬送チャンバー 3 ロードロックチャンバー 4 処理チャンバー 41 排気系 42 プロセスガス導入系 43 高周波電極 44 高周波電源 45 トレーホルダー 452 導体ロッド 46 温度制御機構 461 ヒータ 462 冷媒流通系 47 クランプ機構 48 昇圧用ガス導入系 49 吸着電源
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/3065 H01L 21/302 B Fターム(参考) 4K029 DA08 DB19 JA01 JA05 4K030 FA03 GA02 KA23 4K057 DD01 DM35 DM37 DM38 DM39 5F004 BA04 BB13 BB21 BB22 BB26 BC03 BC06 BC08 BD01 BD07 CA02 DA01 5F031 CA02 DA05 FA01 GA37 GA43 HA16 HA42 MA04 MA28 MA29 MA32 NA05

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空中で被処理物を処理する真空処理装
    置において被処理物を載せる真空処理装置用トレーであ
    って、 被処理物の被処理面とは反対側の面を臨む空間に閉空間
    を形成する閉空間用凹部を有しているとともに、被処理
    物の処理に影響が無い範囲内で、この閉空間内の圧力を
    被処理物の被処理面を臨む空間の真空圧力より高くする
    よう閉空間内に昇圧用ガスを導入するガス導入路を有し
    ていることを特徴とする真空処理装置用トレー。
  2. 【請求項2】 前記ガス導入路は、前記被処理物の中心
    軸と同軸上の箇所において前記閉空間用凹部に達してい
    るとともに、前記閉空間用凹部は、この同軸上の箇所か
    ら中心対称状に延びる溝状であることを特徴とする請求
    項1記載の真空処理装置用トレー。
  3. 【請求項3】 前記閉空間に前記昇圧用ガスが導入され
    た際に前記被処理物が浮き上がらないように前記トレー
    に押し付ける押し付け具を備えていることを特徴とする
    請求項1記載の真空処理装置用トレー。
  4. 【請求項4】 前記ガス導入路のコンダクタンスを調整
    するコンダクタンス調整器を備えていることを特徴とす
    る請求項1記載の真空処理装置用トレー。
  5. 【請求項5】 前記ガス導入路は、トレーを厚さ方向に
    貫通するものであって、前記被処理物を載置する側とは
    反対側の面には、昇圧用ガスを一旦溜める反対側凹部が
    形成されていることを特徴とする請求項1記載の真空処
    理装置用トレー。
  6. 【請求項6】 前記反対側凹部は、トレーの中心軸に対
    して中心対称の形状であることを特徴とする請求項5記
    載の真空処理装置用トレー。
  7. 【請求項7】 請求項1乃至6いずれかに記載の真空処
    理装置用トレーが使用される真空処理装置であって、排
    気系によって真空圧力に排気される処理チャンバーと、
    処理チャンバー内の所定位置に請求項1乃至6いずれか
    に記載の真空処理装置用トレーを保持するトレーホルダ
    ーとを備えており、トレーホルダーにはトレーを介して
    被処理物の温度を制御する温度制御機構が設けられてい
    るとともに、前記ガス導入路を通して前記閉空間に昇圧
    用ガスを導入する昇圧用ガス導入系が設けられているこ
    とを特徴とする真空処理装置。
  8. 【請求項8】 真空中で被処理物を処理する真空処理装
    置において被処理物を載せる真空処理装置用トレーであ
    って、 表面に静電気を誘起して前記被処理物を静電吸着する電
    界を生じさせる吸着電極を内部に有していることを特徴
    とする真空処理装置用トレー。
  9. 【請求項9】 請求項8記載の真空処理装置用トレーが
    使用される真空処理装置であって、排気系によって真空
    圧力に排気される処理チャンバーと、処理チャンバー内
    の所定位置に請求項8記載の真空処理装置用トレーを保
    持するトレーホルダーとを備えており、トレーホルダー
    は、前記吸着電極に静電吸着用の電圧を供給する電圧供
    給部を有していることを特徴とする真空処理装置。
  10. 【請求項10】 前記トレーホルダーには、前記トレー
    を介して前記被処理物の温度を制御する温度制御機構が
    設けられていることを特徴とする請求項9記載の真空処
    理装置。
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