JP2002014067A - 塗膜劣化診断方法とその装置 - Google Patents
塗膜劣化診断方法とその装置Info
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- JP2002014067A JP2002014067A JP2000197584A JP2000197584A JP2002014067A JP 2002014067 A JP2002014067 A JP 2002014067A JP 2000197584 A JP2000197584 A JP 2000197584A JP 2000197584 A JP2000197584 A JP 2000197584A JP 2002014067 A JP2002014067 A JP 2002014067A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定結果の測定精度を測定者が判断する必要
があるが、ア−ス線の接続不良や測定の際に用いる導電
性ゲルの劣化不良などは作業者の経験によって判断する
しかなく、従来は測定結果を解析する段階で初めて測定
ミスに気が付くという問題があった。 【解決手段】 異なる複数の周波数を含む電圧を塗膜の
下地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ−ブとの
間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる電流を
測定する電流測定手段と、この電流測定手段の測定結果
から算出される各周波数に対する塗膜インピ−ダンスに
基づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断手段から
なり、経過の異なる２点の時間において塗膜インピ−ダ
ンスを測定し、その測定結果を解析することで塗膜の寿
命曲線を作成して劣化の程度を予測診断する。
があるが、ア−ス線の接続不良や測定の際に用いる導電
性ゲルの劣化不良などは作業者の経験によって判断する
しかなく、従来は測定結果を解析する段階で初めて測定
ミスに気が付くという問題があった。 【解決手段】 異なる複数の周波数を含む電圧を塗膜の
下地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ−ブとの
間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる電流を
測定する電流測定手段と、この電流測定手段の測定結果
から算出される各周波数に対する塗膜インピ−ダンスに
基づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断手段から
なり、経過の異なる２点の時間において塗膜インピ−ダ
ンスを測定し、その測定結果を解析することで塗膜の寿
命曲線を作成して劣化の程度を予測診断する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、塗膜の劣化度合い
を客観的に判断するようにした塗膜劣化診断方法及び装
置と、測定不良が発生した場合、あるいはその可能性が
ある場合に警告を発する塗膜劣化診断装置に関する。
を客観的に判断するようにした塗膜劣化診断方法及び装
置と、測定不良が発生した場合、あるいはその可能性が
ある場合に警告を発する塗膜劣化診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、変圧器や配電盤など屋外に配置
される機器は、防食および美観のために塗装がなされる
が、その塗膜は紫外線や水分の影響を受けて経時的に劣
化する。このような塗膜の劣化を放置すれば、最終的に
は下地金属の腐食による塗膜の剥離や錆の発生に至るか
ら、機器の保全のためには適当な時期に再塗装して新た
な塗膜を形成する必要がある。その再塗装の時期は、早
すぎれば経済的に無駄が生じ、逆に遅すぎれば下地金属
の腐食に至り、その補修に手間取り経済的な負担が多く
なる。そこで、従来この種の機器では、塗膜劣化度合い
を定期的に診断し、適切な再塗装の時期を判断したり、
経験的に再塗装時期を決め、定期的に再塗装を実施して
いる。
される機器は、防食および美観のために塗装がなされる
が、その塗膜は紫外線や水分の影響を受けて経時的に劣
化する。このような塗膜の劣化を放置すれば、最終的に
は下地金属の腐食による塗膜の剥離や錆の発生に至るか
ら、機器の保全のためには適当な時期に再塗装して新た
な塗膜を形成する必要がある。その再塗装の時期は、早
すぎれば経済的に無駄が生じ、逆に遅すぎれば下地金属
の腐食に至り、その補修に手間取り経済的な負担が多く
なる。そこで、従来この種の機器では、塗膜劣化度合い
を定期的に診断し、適切な再塗装の時期を判断したり、
経験的に再塗装時期を決め、定期的に再塗装を実施して
いる。
【０００３】この種の判断は、できるだけ客観的になさ
れて誰が行っても常に適切な判断が下されることが望ま
しい。この点に配慮した従来の一般的な塗膜劣化診断方
法としては次のようなものがあった。剥がれ、割れ、膨
れ、錆等の各種の劣化状況についてその劣化度合いが段
階的に異なる種々の見本写真を多数準備しておき、診断
すべき実際の塗膜とこれらの見本写真とを作業者が対比
観察する。
れて誰が行っても常に適切な判断が下されることが望ま
しい。この点に配慮した従来の一般的な塗膜劣化診断方
法としては次のようなものがあった。剥がれ、割れ、膨
れ、錆等の各種の劣化状況についてその劣化度合いが段
階的に異なる種々の見本写真を多数準備しておき、診断
すべき実際の塗膜とこれらの見本写真とを作業者が対比
観察する。
【０００４】そして、各種の劣化状況についての実際の
塗膜の状態がいずれの段階の写真と一致するかを作業者
が見極めると共に、各種の劣化状況・劣化度合いについ
て予め定められている評点を付し、これらを順次加算す
る。そして、その合計点が基準値に達すれば、塗り替え
あるいは補修塗装の時期に至ったと判断するのである。
塗膜の状態がいずれの段階の写真と一致するかを作業者
が見極めると共に、各種の劣化状況・劣化度合いについ
て予め定められている評点を付し、これらを順次加算す
る。そして、その合計点が基準値に達すれば、塗り替え
あるいは補修塗装の時期に至ったと判断するのである。
【０００５】また、今一歩進歩した感がある次のような
方法もある。これは塗膜の劣化度合いによってそのイン
ピ−ダンスが変化することを利用するもので、例えば特
開昭６２−１０２１４８号公報に詳述されている。この
種の方法を使って実際に採用されている塗膜の診断手順
の概略を述べれば次の通りである。
方法もある。これは塗膜の劣化度合いによってそのイン
ピ−ダンスが変化することを利用するもので、例えば特
開昭６２−１０２１４８号公報に詳述されている。この
種の方法を使って実際に採用されている塗膜の診断手順
の概略を述べれば次の通りである。
【０００６】まず、現場にインピ−ダンス測定計を搬入
し、そのプロ−ブを塗膜の表面に宛い、そのプロ−ブと
下地金属との間に特定周波数の電圧を印加し、流れる電
流および電圧に基づき測定される塗膜のインピ−ダンス
を計器から読みとり書き取っておく。そして、次にこの
様にして記録された周波数についての抵抗性・容量性の
各測定インピ−ダンスの値が、予め作成された表のどの
欄に該当するかをその表を見て照合し、これに基づき劣
化度合いを判断するのである。なお、この場合インピ−
ダンスの測定周波数は２００Ｈｚ、５００Ｈｚ、１ｋＨ
ｚ程度が一般的であった。
し、そのプロ−ブを塗膜の表面に宛い、そのプロ−ブと
下地金属との間に特定周波数の電圧を印加し、流れる電
流および電圧に基づき測定される塗膜のインピ−ダンス
を計器から読みとり書き取っておく。そして、次にこの
様にして記録された周波数についての抵抗性・容量性の
各測定インピ−ダンスの値が、予め作成された表のどの
欄に該当するかをその表を見て照合し、これに基づき劣
化度合いを判断するのである。なお、この場合インピ−
ダンスの測定周波数は２００Ｈｚ、５００Ｈｚ、１ｋＨ
ｚ程度が一般的であった。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実際の
塗膜と見本写真とを対比観察する前者の方法では、見本
写真と一致するか否かの判断自体が観察者の主観により
左右され易いため、誰でも常に適切な診断ができるとい
う保証がない。また、この方法では、多くの見本写真と
の対比観察や評点の合計作業が必要で、これが面倒で、
計算ミスが発生する可能性がある。インピ−ダンス測定
計を使用する方法は、やはり計器の読みとり等に主観が
入る余地があり、またその測定値を評価基準と照合する
作業も煩わしいものであった。
塗膜と見本写真とを対比観察する前者の方法では、見本
写真と一致するか否かの判断自体が観察者の主観により
左右され易いため、誰でも常に適切な診断ができるとい
う保証がない。また、この方法では、多くの見本写真と
の対比観察や評点の合計作業が必要で、これが面倒で、
計算ミスが発生する可能性がある。インピ−ダンス測定
計を使用する方法は、やはり計器の読みとり等に主観が
入る余地があり、またその測定値を評価基準と照合する
作業も煩わしいものであった。
【０００８】また、塗膜は紫外線や水分の影響を受け
て、経時的に劣化する。実際の塗膜と見本写真とを対比
観察する方法では、観察時点での劣化度合いを判断する
だけであり、今後の劣化予測を診断することは困難であ
る。一方、インピ−ダンス測定による方法は塗膜劣化予
測デ−タベ−スが存在されば、そのデ−タベ−スに基づ
き劣化予測を判断することが可能である。しかし、世の
中にある塗膜の種類は多く、同じ種類の塗膜でも塗膜製
造メ−カが異なれば、その構成材料が異なる。その意味
では世の中の塗膜の種類は非常に多く存在することにな
る。一方、塗膜を使う側においても、１種類の塗膜だけ
を塗布するだけでなく、２種あるいは数種類の塗膜を重
ね塗りすることも多い。このような実使用での塗膜の現
状を考え、それらの塗膜劣化予測デ−タベ−スを作成す
ることためには、多くの実験が必要となり、実験に関わ
る費用も莫大なものになり、現実的には不可能である。
て、経時的に劣化する。実際の塗膜と見本写真とを対比
観察する方法では、観察時点での劣化度合いを判断する
だけであり、今後の劣化予測を診断することは困難であ
る。一方、インピ−ダンス測定による方法は塗膜劣化予
測デ−タベ−スが存在されば、そのデ−タベ−スに基づ
き劣化予測を判断することが可能である。しかし、世の
中にある塗膜の種類は多く、同じ種類の塗膜でも塗膜製
造メ−カが異なれば、その構成材料が異なる。その意味
では世の中の塗膜の種類は非常に多く存在することにな
る。一方、塗膜を使う側においても、１種類の塗膜だけ
を塗布するだけでなく、２種あるいは数種類の塗膜を重
ね塗りすることも多い。このような実使用での塗膜の現
状を考え、それらの塗膜劣化予測デ−タベ−スを作成す
ることためには、多くの実験が必要となり、実験に関わ
る費用も莫大なものになり、現実的には不可能である。
【０００９】一方、塗膜劣化診断装置にて測定する際に
は、その測定結果の測定精度を測定者が判断する必要が
ある。しかし、現場での簡単なミス、例えば、ア−ス線
の接続不良や測定の際に用いる導電性ゲルの劣化不良な
どは作業者の経験によって判断するしかなく、従来は測
定結果を解析する段階で初めて測定ミスに気が付くとい
うような状況であった。本発明は、上記事情に鑑みてな
されたものであり、その目的は、塗膜インピ−ダンスを
測定し、その測定結果に基づき、塗膜の劣化度合いを定
量的、客観的且つ精度良く予測診断することができる塗
膜劣化診断方法および装置を提供すること、ならびに測
定の際に測定のミスが発生した可能性がある場合に警告
を発する装置を提供することである。
は、その測定結果の測定精度を測定者が判断する必要が
ある。しかし、現場での簡単なミス、例えば、ア−ス線
の接続不良や測定の際に用いる導電性ゲルの劣化不良な
どは作業者の経験によって判断するしかなく、従来は測
定結果を解析する段階で初めて測定ミスに気が付くとい
うような状況であった。本発明は、上記事情に鑑みてな
されたものであり、その目的は、塗膜インピ−ダンスを
測定し、その測定結果に基づき、塗膜の劣化度合いを定
量的、客観的且つ精度良く予測診断することができる塗
膜劣化診断方法および装置を提供すること、ならびに測
定の際に測定のミスが発生した可能性がある場合に警告
を発する装置を提供することである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は第一に、異なる
複数の周波数を含む電圧を塗膜の下地金属と前記塗膜の
表面に宛われる測定プロ−ブとの間に印加する電圧印加
手段と、前記塗膜に流れる電流を測定する電流測定手段
と、この電流測定手段の測定結果から算出される各周波
数に対する塗膜インピ−ダンスに基づいて前記塗膜の劣
化度合いを判断する判断手段からなり、経過の異なる２
点の時間において塗膜インピ−ダンスを測定し、その測
定結果を解析することで塗膜の寿命曲線を作成して劣化
の程度を予測診断する塗膜劣化診断方法に特徴を有す
る。
複数の周波数を含む電圧を塗膜の下地金属と前記塗膜の
表面に宛われる測定プロ−ブとの間に印加する電圧印加
手段と、前記塗膜に流れる電流を測定する電流測定手段
と、この電流測定手段の測定結果から算出される各周波
数に対する塗膜インピ−ダンスに基づいて前記塗膜の劣
化度合いを判断する判断手段からなり、経過の異なる２
点の時間において塗膜インピ−ダンスを測定し、その測
定結果を解析することで塗膜の寿命曲線を作成して劣化
の程度を予測診断する塗膜劣化診断方法に特徴を有す
る。
【００１１】第二に、異なる複数の周波数を含む電圧を
塗膜の下地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ−
ブとの間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる
電流を測定する電流測定手段と、この電流測定手段の測
定結果から算出される各周波数に対する塗膜インピ−ダ
ンスに基づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断手
段からなり、塗膜インピ−ダンスの測定を異なる３点以
上で測定を行うものとして、その測定結果を最小自乗法
等の解析手法により近似解析することで塗膜の寿命曲線
を作成して、劣化の程度を予測診断する塗膜劣化診断方
法に特徴を有する。
塗膜の下地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ−
ブとの間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる
電流を測定する電流測定手段と、この電流測定手段の測
定結果から算出される各周波数に対する塗膜インピ−ダ
ンスに基づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断手
段からなり、塗膜インピ−ダンスの測定を異なる３点以
上で測定を行うものとして、その測定結果を最小自乗法
等の解析手法により近似解析することで塗膜の寿命曲線
を作成して、劣化の程度を予測診断する塗膜劣化診断方
法に特徴を有する。
【００１２】第三に、上記寿命曲線を塗膜劣化予測デ−
タベ−スに登録して、同一塗膜系では塗膜インピ−ダン
スを１点以上測定して、登録された寿命曲線に基づいて
劣化程度を予測診断する塗膜劣化診断方法に特徴を有す
る。
タベ−スに登録して、同一塗膜系では塗膜インピ−ダン
スを１点以上測定して、登録された寿命曲線に基づいて
劣化程度を予測診断する塗膜劣化診断方法に特徴を有す
る。
【００１３】第四に、異なる複数の周波数を含む電圧を
塗膜の下地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ−
ブとの間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる
電流を測定する電流測定手段と、この電流測定手段の測
定結果から算出される各周波数に対する塗膜インピ−ダ
ンスに基づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断手
段からなり、経過の異なる２点の時間において塗膜イン
ピ−ダンスを測定し、その測定結果を解析することで塗
膜の寿命曲線を作成して劣化の程度を予測診断する塗膜
劣化診断方法を持つ塗膜劣化診断装置に特徴を有する。
塗膜の下地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ−
ブとの間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる
電流を測定する電流測定手段と、この電流測定手段の測
定結果から算出される各周波数に対する塗膜インピ−ダ
ンスに基づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断手
段からなり、経過の異なる２点の時間において塗膜イン
ピ−ダンスを測定し、その測定結果を解析することで塗
膜の寿命曲線を作成して劣化の程度を予測診断する塗膜
劣化診断方法を持つ塗膜劣化診断装置に特徴を有する。
【００１４】第五に、異なる複数の周波数を含む電圧を
塗膜の下地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ−
ブとの間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる
電流を測定する電流測定手段と、この電流測定手段の測
定結果から算出される各周波数に対する塗膜インピ−ダ
ンスに基づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断手
段からなり、塗膜インピ−ダンスの測定を異なる３点以
上で測定を行うものとして、その測定結果を最小自乗法
等の解析手法により近似解析することで塗膜の寿命曲線
を作成して、劣化の程度を予測診断する塗膜劣化診断方
法を持つ塗膜劣化診断装置に特徴を有する。
塗膜の下地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ−
ブとの間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる
電流を測定する電流測定手段と、この電流測定手段の測
定結果から算出される各周波数に対する塗膜インピ−ダ
ンスに基づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断手
段からなり、塗膜インピ−ダンスの測定を異なる３点以
上で測定を行うものとして、その測定結果を最小自乗法
等の解析手法により近似解析することで塗膜の寿命曲線
を作成して、劣化の程度を予測診断する塗膜劣化診断方
法を持つ塗膜劣化診断装置に特徴を有する。
【００１５】第六に、上記寿命曲線を塗膜劣化予測デ−
タベ−スに登録して、同一塗膜系では塗膜インピ−ダン
スを１点以上測定して、登録された寿命曲線に基づいて
劣化程度を予測診断する塗膜劣化診断方法を持つ塗膜劣
化診断装置に特徴を有する。
タベ−スに登録して、同一塗膜系では塗膜インピ−ダン
スを１点以上測定して、登録された寿命曲線に基づいて
劣化程度を予測診断する塗膜劣化診断方法を持つ塗膜劣
化診断装置に特徴を有する。
【００１６】第七に、 異なる複数の周波数を含む電圧
を塗膜の下地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ
−ブとの間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れ
る電流を測定する電流測定手段と、この電流測定手段の
測定結果から算出される各周波数に対する塗膜インピ−
ダンスに基づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断
手段からなり、前記塗膜インピ−ダンスの測定周波数が
０．０１Ｈｚ〜１ｋＨｚの範囲に設定されており、算出
された塗膜インピ−ダンスがある判定値以下であった場
合に測定不良警告を発する塗膜劣化診断装置に特徴を有
する。
を塗膜の下地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ
−ブとの間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れ
る電流を測定する電流測定手段と、この電流測定手段の
測定結果から算出される各周波数に対する塗膜インピ−
ダンスに基づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断
手段からなり、前記塗膜インピ−ダンスの測定周波数が
０．０１Ｈｚ〜１ｋＨｚの範囲に設定されており、算出
された塗膜インピ−ダンスがある判定値以下であった場
合に測定不良警告を発する塗膜劣化診断装置に特徴を有
する。
【００１７】第八に、異なる複数の周波数を含む電圧を
塗膜の下地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ−
ブとの間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる
電流を測定する電流測定手段と、この電流測定手段の測
定結果から算出される各周波数に対する塗膜インピ−ダ
ンスに基づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断手
段からなり、前記塗膜インピ−ダンスの測定周波数が
０．０１Ｈｚ〜１ｋＨｚの範囲に設定されており、算出
された塗膜インピ−ダンスの最大値と最低値の比が、あ
る判定値以上であった場合に、測定不良警告を発する塗
膜劣化診断装置に特徴を有する。
塗膜の下地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ−
ブとの間に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる
電流を測定する電流測定手段と、この電流測定手段の測
定結果から算出される各周波数に対する塗膜インピ−ダ
ンスに基づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断手
段からなり、前記塗膜インピ−ダンスの測定周波数が
０．０１Ｈｚ〜１ｋＨｚの範囲に設定されており、算出
された塗膜インピ−ダンスの最大値と最低値の比が、あ
る判定値以上であった場合に、測定不良警告を発する塗
膜劣化診断装置に特徴を有する。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施例について、図
面を参照して説明する。
面を参照して説明する。
【００１９】図１に本発明の第一実施例の塗膜劣化診断
方法について示す。ある機器の塗膜に対して、塗装後の
経過時間ｔ１年での塗膜インピ−ダンス測定結果がＺ
１、次にｔ１年よりも時間が経過しているｔ２年での塗
膜インピ−ダンス測定結果がＺ２とする。この場合、寿
命曲線は２点の近似解析によって求まり、図中実線に示
される。Ｚ２を現時点での測定結果とすると、得られた
寿命曲線から、測定者が予め寿命と判断する寿命判定ラ
インＺｊとの交点が期待できる予寿命ｔｒであり、ｔ３
年に塗り替えあるいは補修塗装が必要であることが判断
できる。
方法について示す。ある機器の塗膜に対して、塗装後の
経過時間ｔ１年での塗膜インピ−ダンス測定結果がＺ
１、次にｔ１年よりも時間が経過しているｔ２年での塗
膜インピ−ダンス測定結果がＺ２とする。この場合、寿
命曲線は２点の近似解析によって求まり、図中実線に示
される。Ｚ２を現時点での測定結果とすると、得られた
寿命曲線から、測定者が予め寿命と判断する寿命判定ラ
インＺｊとの交点が期待できる予寿命ｔｒであり、ｔ３
年に塗り替えあるいは補修塗装が必要であることが判断
できる。
【００２０】図２に本発明の第二実施例の塗膜劣化診断
方法について示す。塗装後のそれぞれの経過時間ｔ１
年、ｔ２年、ｔ３年、ｔ４年の塗膜インピ−ダンス測定
結果がＺ１、Ｚ２、Ｚ３、Ｚ４である。これらの結果を
最小自乗法で近似解析した結果が図中の寿命曲線であ
る。このようにして得られた寿命曲線は、本発明の第一
実施例で得られた寿命曲線よりも測定点数が多く、寿命
曲線の精度が良くなる。また、第一実施例と同様にすれ
ば測定者が予め寿命判定ラインＺｊを設ければ、より精
度の高い塗膜の寿命予測診断が可能である。
方法について示す。塗装後のそれぞれの経過時間ｔ１
年、ｔ２年、ｔ３年、ｔ４年の塗膜インピ−ダンス測定
結果がＺ１、Ｚ２、Ｚ３、Ｚ４である。これらの結果を
最小自乗法で近似解析した結果が図中の寿命曲線であ
る。このようにして得られた寿命曲線は、本発明の第一
実施例で得られた寿命曲線よりも測定点数が多く、寿命
曲線の精度が良くなる。また、第一実施例と同様にすれ
ば測定者が予め寿命判定ラインＺｊを設ければ、より精
度の高い塗膜の寿命予測診断が可能である。
【００２１】次に、第三実施例の塗膜劣化診断方法につ
いて説明する。図１、図２に図示したように、塗膜イン
ピ−ダンス測定結果から寿命曲線が作成できる。これま
でに塗膜のインピ−ダンスＺの対数と経過時間が直線的
に示されることがわかっている。寿命曲線から得られる
パラメ−タは、初期値と傾きであり、塗膜系の種類ごと
に初期と傾きをデ−タベ−スに登録すれば、その後は同
一塗膜系に対してはそのデ−タベ−スの初期値および傾
きから１点の測定デ−タで塗膜の寿命予測診断を行うこ
とができる。前述したように、塗膜は紫外線や水分の影
響を受けて劣化するが、これが以外にも周囲環境、例え
ば、温度、腐食性ガス、塩分等の影響を受けても劣化す
る。その意味では、寿命曲線から得られる傾きは、その
測定物に置かれた環境に依存し易く、汎用性に欠ける。
そこで、本発明では基本的に寿命曲線から得られたデ−
タベ−スの中で初期値を使用して寿命予測診断を行う。
図３に上記実施例を詳細に示す。デ−タベ−スから得ら
れた初期値がＺ０である。このＺ０を用いて、測定時ｔ
年での塗膜インピ−ダンス測定結果Ｚｔとを解析すれ
ば、その測定物の寿命曲線が作成できる。得られた寿命
曲線を前述と同様に測定者が予め設けた寿命判定ライン
で推定すれば、塗膜の予測診断ができる。
いて説明する。図１、図２に図示したように、塗膜イン
ピ−ダンス測定結果から寿命曲線が作成できる。これま
でに塗膜のインピ−ダンスＺの対数と経過時間が直線的
に示されることがわかっている。寿命曲線から得られる
パラメ−タは、初期値と傾きであり、塗膜系の種類ごと
に初期と傾きをデ−タベ−スに登録すれば、その後は同
一塗膜系に対してはそのデ−タベ−スの初期値および傾
きから１点の測定デ−タで塗膜の寿命予測診断を行うこ
とができる。前述したように、塗膜は紫外線や水分の影
響を受けて劣化するが、これが以外にも周囲環境、例え
ば、温度、腐食性ガス、塩分等の影響を受けても劣化す
る。その意味では、寿命曲線から得られる傾きは、その
測定物に置かれた環境に依存し易く、汎用性に欠ける。
そこで、本発明では基本的に寿命曲線から得られたデ−
タベ−スの中で初期値を使用して寿命予測診断を行う。
図３に上記実施例を詳細に示す。デ−タベ−スから得ら
れた初期値がＺ０である。このＺ０を用いて、測定時ｔ
年での塗膜インピ−ダンス測定結果Ｚｔとを解析すれ
ば、その測定物の寿命曲線が作成できる。得られた寿命
曲線を前述と同様に測定者が予め設けた寿命判定ライン
で推定すれば、塗膜の予測診断ができる。
【００２２】次に第四実施例から第六実施例は、上記第
一実施例から第三実施例の塗膜劣化診断方法を備えた塗
膜劣化診断装置である。図４を参照して、塗膜劣化診断
装置の構成について述べる。
一実施例から第三実施例の塗膜劣化診断方法を備えた塗
膜劣化診断装置である。図４を参照して、塗膜劣化診断
装置の構成について述べる。
【００２３】即ち１は、ノ−トブックと称されるパ−ソ
ナルコンピュ−タ本体であり、本体ケ−ス（図示せず）
内に、ＣＰＵ２、メモリ３、ＦＤＤ（フロッピ−（登録
商標）ディスクドライブ）４、ＨＤＤ（ハ−ドディスク
ドライブ）５等を内蔵すると共に、例えば液晶のディス
プレイ６およびキ−ボ−ド７を備えて構成されている。
そして、このパ−ソナルコンピュ−タ１の拡張スロット
には、Ｄ／Ａ変換機能およびＡ／Ｄ変換機能を備えるＩ
／Ｆボ−ド８が設けられている。また、Ｉ／Ｆボ−ド８
は、パ−ソナルコンピュ−タ１の拡張スロットに内蔵せ
ず、場合によってはパ−ソナルコンピュ−タの通信ポ−
トＲＳ−２３２ＣにＩ／Ｆボ−ド８が接続することも可
能である。
ナルコンピュ−タ本体であり、本体ケ−ス（図示せず）
内に、ＣＰＵ２、メモリ３、ＦＤＤ（フロッピ−（登録
商標）ディスクドライブ）４、ＨＤＤ（ハ−ドディスク
ドライブ）５等を内蔵すると共に、例えば液晶のディス
プレイ６およびキ−ボ−ド７を備えて構成されている。
そして、このパ−ソナルコンピュ−タ１の拡張スロット
には、Ｄ／Ａ変換機能およびＡ／Ｄ変換機能を備えるＩ
／Ｆボ−ド８が設けられている。また、Ｉ／Ｆボ−ド８
は、パ−ソナルコンピュ−タ１の拡張スロットに内蔵せ
ず、場合によってはパ−ソナルコンピュ−タの通信ポ−
トＲＳ−２３２ＣにＩ／Ｆボ−ド８が接続することも可
能である。
【００２４】そして、下地金属１１の表面に形成された
塗膜９に、プロ−ブ１０を宛い、そのプロ−ブ１０と前
記下地金属１１との間に所定波形の交流電圧を印加し、
その時に流れる電流から塗膜９のインピ−ダンスを測定
することに基づいてその塗膜９の劣化度合いを予測診断
するものである。プロ−ブ１０には、各種の構造のもの
が知られているので（例えば特開昭６１−１０８９５
４）詳しく図示しないが、基本的には本体容器内に導電
性ゲルをしみ込ませたスポンジ状電極を収納すると共
に、その本体容器の開口部周辺に永久磁石を備えた構成
で、永久磁石と下地金属１１との間に作用する吸引力に
よってスポンジ状電極を塗膜９の表面に密着させるよう
になっている。
塗膜９に、プロ−ブ１０を宛い、そのプロ−ブ１０と前
記下地金属１１との間に所定波形の交流電圧を印加し、
その時に流れる電流から塗膜９のインピ−ダンスを測定
することに基づいてその塗膜９の劣化度合いを予測診断
するものである。プロ−ブ１０には、各種の構造のもの
が知られているので（例えば特開昭６１−１０８９５
４）詳しく図示しないが、基本的には本体容器内に導電
性ゲルをしみ込ませたスポンジ状電極を収納すると共
に、その本体容器の開口部周辺に永久磁石を備えた構成
で、永久磁石と下地金属１１との間に作用する吸引力に
よってスポンジ状電極を塗膜９の表面に密着させるよう
になっている。
【００２５】プロ−ブ１０から導出されたリ−ド線１３
と、下地金属に接続したリ−ド線１４はプリアンプ１２
に接続されており、このプリアンプ１２は、プロ−ブ１
０と下地金属１１との間に電圧を印加したときに塗膜９
を通じて流れる電流に応じた電圧信号を前記Ｉ／Ｆボ−
ド８に与えるようになっている。これにより、プリアン
プ１２が塗膜９を通じてプロ−ブ１０に流れる電流を測
定するための電流測定手段として機能する。なお、プリ
アンプ１２は、塗膜９の劣化度合いに応じて測定レンジ
を切り替えるようになっており、本実施例ではインピ−
ダンスにして、０．１ＭΩ〜１００ＭΩ（電流にして
０．０１μＡ〜１０μＡ）の範囲が測定可能である。
と、下地金属に接続したリ−ド線１４はプリアンプ１２
に接続されており、このプリアンプ１２は、プロ−ブ１
０と下地金属１１との間に電圧を印加したときに塗膜９
を通じて流れる電流に応じた電圧信号を前記Ｉ／Ｆボ−
ド８に与えるようになっている。これにより、プリアン
プ１２が塗膜９を通じてプロ−ブ１０に流れる電流を測
定するための電流測定手段として機能する。なお、プリ
アンプ１２は、塗膜９の劣化度合いに応じて測定レンジ
を切り替えるようになっており、本実施例ではインピ−
ダンスにして、０．１ＭΩ〜１００ＭΩ（電流にして
０．０１μＡ〜１０μＡ）の範囲が測定可能である。
【００２６】前記Ｉ／Ｆボ−ド８は、前記プロ−ブ１０
と下地金属１１との間に所定波形の交流電圧を印加する
電圧印加手段として機能し、予めＦＤＤ４あるいはＨＤ
Ｄ５内に記憶されたデジタル情報に基づき、Ｉ／Ｆボ−
ド８のＤ／Ａ変換機能によって生成、合成された所定波
形の電圧を出力するようになっている。この場合印加さ
れる電圧波形０．０１〜５０Ｈｚの周波数を含み、パワ
−スペクトルＰが例えばＰ＝１／周波数となるように合
成されている。また、各周波数成分の位相はランダム化
してあってピ−ク電圧を極力抑えるようにされている。
と下地金属１１との間に所定波形の交流電圧を印加する
電圧印加手段として機能し、予めＦＤＤ４あるいはＨＤ
Ｄ５内に記憶されたデジタル情報に基づき、Ｉ／Ｆボ−
ド８のＤ／Ａ変換機能によって生成、合成された所定波
形の電圧を出力するようになっている。この場合印加さ
れる電圧波形０．０１〜５０Ｈｚの周波数を含み、パワ
−スペクトルＰが例えばＰ＝１／周波数となるように合
成されている。また、各周波数成分の位相はランダム化
してあってピ−ク電圧を極力抑えるようにされている。
【００２７】また、Ｉ／Ｆボ−ド８のＤ／Ａ変換とＡ／
Ｄ変換とのタイミングは、毎回同一となるように構成さ
れており、これにより、印加される電圧の位相角とプリ
アンプ１２の電流位相角は同一に保たれるようになって
いる。さらに、パ−ソナルコンピュ−タ１のメモリ３に
は、予め求められたＩ／Ｆボ−ド８からの出力電圧波形
のスペクトルデ−タが記憶されるようになっている。こ
れにより、パ−ソナルコンピュ−タ１は、前記プリアン
プ１２にて測定された電流測定結果から、機械語による
ＦＦＴ（高速フ−リェ変換）プログラム等を利用して、
各周波数に対するインピ−ダンスを算出するようになっ
ている。
Ｄ変換とのタイミングは、毎回同一となるように構成さ
れており、これにより、印加される電圧の位相角とプリ
アンプ１２の電流位相角は同一に保たれるようになって
いる。さらに、パ−ソナルコンピュ−タ１のメモリ３に
は、予め求められたＩ／Ｆボ−ド８からの出力電圧波形
のスペクトルデ−タが記憶されるようになっている。こ
れにより、パ−ソナルコンピュ−タ１は、前記プリアン
プ１２にて測定された電流測定結果から、機械語による
ＦＦＴ（高速フ−リェ変換）プログラム等を利用して、
各周波数に対するインピ−ダンスを算出するようになっ
ている。
【００２８】この場合、塗膜インピ−ダンスは、抵抗と
コンデンサの並列回路からなる等価回路にて表すことが
でき、塗膜９が劣化することにより、その抵抗値が小さ
くなってインピ−ダンスが変化することを利用して、塗
膜９の劣化度合いを診断できるのである。
コンデンサの並列回路からなる等価回路にて表すことが
でき、塗膜９が劣化することにより、その抵抗値が小さ
くなってインピ−ダンスが変化することを利用して、塗
膜９の劣化度合いを診断できるのである。
【００２９】一方、前述したように、本発明の第一実施
例、第二実施例、第三実施例の診断方法をプログラミン
グしてソフト化して、前述したパ−ソナルコンピュ−タ
１にこれら実施例のソフトを備えたものが第四実施例か
ら第六実施例である。
例、第二実施例、第三実施例の診断方法をプログラミン
グしてソフト化して、前述したパ−ソナルコンピュ−タ
１にこれら実施例のソフトを備えたものが第四実施例か
ら第六実施例である。
【００３０】次に第七、第八実施例について説明する。
前述した塗膜インピ−ダンスの測定において、塗膜の劣
化度合いによって測定結果が異なるが、測定系によって
も影響を受ける。
前述した塗膜インピ−ダンスの測定において、塗膜の劣
化度合いによって測定結果が異なるが、測定系によって
も影響を受ける。
【００３１】図４で示されるプロ−ブ１０は、導電性ゲ
ルをしみ込ませたスポンジ状電極であるが、導電性ゲル
も経過時間によって劣化を受け、劣化した導電性ゲルを
用いた場合に測定結果に影響を及ぼす。また、図４に示
したように、下地金属１１とプリアンプ１２を接続する
リ−ド線（ア−ス線）１４が接続不良であった場合も測
定結果を変化させる要因になる。
ルをしみ込ませたスポンジ状電極であるが、導電性ゲル
も経過時間によって劣化を受け、劣化した導電性ゲルを
用いた場合に測定結果に影響を及ぼす。また、図４に示
したように、下地金属１１とプリアンプ１２を接続する
リ−ド線（ア−ス線）１４が接続不良であった場合も測
定結果を変化させる要因になる。
【００３２】導電性ゲルは、導電性を保つためにイオン
性成分とゲル化成分から構成されており、一般的にゲル
化成分が時間の経過に伴い減少して、導電性ゲル自体の
導電性が上昇して、それにより、塗膜インピ−ダンスが
低くなる傾向がある。図５は、劣化した導電性ゲルと、
劣化していない導電性ゲルを用いて、同一塗膜の塗膜イ
ンピ−ダンス測定結果を比較したものである。劣化した
導電性ゲルを使用した場合は、１０9Ω以下の低い値が
測定されていることがわかる。
性成分とゲル化成分から構成されており、一般的にゲル
化成分が時間の経過に伴い減少して、導電性ゲル自体の
導電性が上昇して、それにより、塗膜インピ−ダンスが
低くなる傾向がある。図５は、劣化した導電性ゲルと、
劣化していない導電性ゲルを用いて、同一塗膜の塗膜イ
ンピ−ダンス測定結果を比較したものである。劣化した
導電性ゲルを使用した場合は、１０9Ω以下の低い値が
測定されていることがわかる。
【００３３】図６は、下地金属とプリアンプを接続する
リ−ド線の接続不良の影響を示す。接続が良好な場合
は、測定時における塗膜インピ−ダンスの最大値と最小
値の比が小さいのに対し、接続不良時にはその比が１０
００倍以上になっている。これらは代表的な結果であ
り、実験を繰り返すこと測定ミスの際の判定値を求めた
結果、塗膜インピ−ダンスがある判定値以下および最大
値を最小値で割った値がある判定値以上で測定系の影響
が出ることがあることがわかった。なお、これらの値に
ついては、本来の塗膜の劣化によって、即ち、劣化して
いない導電性ゲルを用い、ア−ス線を正確にプリアンプ
に接続した状態でも測定されるので、図４で図示したパ
−ソナルコンピュ−タ１に測定時に警告として表示する
機能を設けている。
リ−ド線の接続不良の影響を示す。接続が良好な場合
は、測定時における塗膜インピ−ダンスの最大値と最小
値の比が小さいのに対し、接続不良時にはその比が１０
００倍以上になっている。これらは代表的な結果であ
り、実験を繰り返すこと測定ミスの際の判定値を求めた
結果、塗膜インピ−ダンスがある判定値以下および最大
値を最小値で割った値がある判定値以上で測定系の影響
が出ることがあることがわかった。なお、これらの値に
ついては、本来の塗膜の劣化によって、即ち、劣化して
いない導電性ゲルを用い、ア−ス線を正確にプリアンプ
に接続した状態でも測定されるので、図４で図示したパ
−ソナルコンピュ−タ１に測定時に警告として表示する
機能を設けている。
【００３４】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明の
塗膜劣化診断方法とその装置によれば、塗膜インピ−ダ
ンスの測定結果から、多種にわたる塗膜の種類やその塗
り重ね状況に影響されることなく、塗膜の劣化度合いを
予測診断することが可能であり、また測定時の測定系の
影響を受けて、測定デ−タの精度が低下した場合に警告
表示を行うといった優れた効果を奏するものである。
塗膜劣化診断方法とその装置によれば、塗膜インピ−ダ
ンスの測定結果から、多種にわたる塗膜の種類やその塗
り重ね状況に影響されることなく、塗膜の劣化度合いを
予測診断することが可能であり、また測定時の測定系の
影響を受けて、測定デ−タの精度が低下した場合に警告
表示を行うといった優れた効果を奏するものである。
【図１】本発明の第一実施例を示す塗膜劣化診断方法の
特性図
特性図
【図２】本発明の第二実施例を示す塗膜劣化診断方法の
特性図
特性図
【図３】本発明の第三実施例を示す塗膜劣化診断方法の
特性図
特性図
【図４】本発明の実施例である塗膜劣化診断装置
【図５】導電性ゲルの劣化状態による塗膜インピ−ダン
スへの影響特性図
スへの影響特性図
【図６】ア−ス線接続状態による塗膜インピ−ダンスへ
の影響特性図
の影響特性図
１はパ−ソナルコンピュ−タ、２はＣＰＵ、３はメモ
リ、４はＦＤＤ、５はＨＤＤ、６は液晶ディスプレイ、
７はキ−ボ−ド、８はＩ／Ｆボ−ド、９は塗膜、１０は
プロ−ブ、１１は下地金属、１２はプリアンプ、１３は
プロ−ブ用リ−ド線、１４はア−ス線。
リ、４はＦＤＤ、５はＨＤＤ、６は液晶ディスプレイ、
７はキ−ボ−ド、８はＩ／Ｆボ−ド、９は塗膜、１０は
プロ−ブ、１１は下地金属、１２はプリアンプ、１３は
プロ−ブ用リ−ド線、１４はア−ス線。
フロントページの続き (72)発明者 平手 利昌 三重県三重郡朝日町大字繩生2121番地 株 式会社東芝三重工場内 Ｆターム(参考） 2G060 AA08 AE29 AF03 AF06 AG11 EA08
Claims (8)
- 【請求項１】異なる複数の周波数を含む電圧を塗膜の下
地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ−ブとの間
に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる電流を測
定する電流測定手段と、この電流測定手段の測定結果か
ら算出される各周波数に対する塗膜インピ−ダンスに基
づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断手段からな
り、経過の異なる２点の時間において塗膜インピ−ダン
スを測定し、その測定結果を解析することで塗膜の寿命
曲線を作成して劣化の程度を予測診断することを特徴と
する塗膜劣化診断方法。 - 【請求項２】請求項１において、塗膜インピ−ダンスの
測定を異なる３点以上で測定を行うものとして、その測
定結果を最小自乗法等の解析手法により近似解析するこ
とで塗膜の寿命曲線を作成して、劣化の程度を予測診断
することを特徴とする塗膜劣化診断方法。 - 【請求項３】請求項１あるいは請求項２で得られた寿命
曲線を塗膜劣化予測デ−タベ−スに登録して、同一塗膜
系では塗膜インピ−ダンスを１点以上測定して、登録さ
れた寿命曲線に基づいて劣化程度を予測診断することを
特徴とする塗膜劣化診断方法。 - 【請求項４】異なる複数の周波数を含む電圧を塗膜の下
地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ−ブとの間
に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる電流を測
定する電流測定手段と、この電流測定手段の測定結果か
ら算出される各周波数に対する塗膜インピ−ダンスに基
づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断手段からな
り、経過の異なる２点の時間において塗膜インピ−ダン
スを測定し、その測定結果を解析することで塗膜の寿命
曲線を作成して劣化の程度を予測診断することを特徴と
する塗膜劣化診断装置。 - 【請求項５】請求項１において、塗膜インピ−ダンスの
測定を異なる３点以上で測定を行うものとして、その測
定結果を最小自乗法等の解析手法により近似解析するこ
とで塗膜の寿命曲線を作成して、劣化の程度を予測診断
することを特徴とする塗膜劣化診断装置。 - 【請求項６】請求項１あるいは請求項２で得られた寿命
曲線を塗膜劣化予測デ−タベ−スに登録して、同一塗膜
系では塗膜インピ−ダンスを１点以上測定して、登録さ
れた寿命曲線に基づいて劣化程度を予測診断することを
特徴とする塗膜劣化診断装置。 - 【請求項７】異なる複数の周波数を含む電圧を塗膜の下
地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ−ブとの間
に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる電流を測
定する電流測定手段と、この電流測定手段の測定結果か
ら算出される各周波数に対する塗膜インピ−ダンスに基
づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断手段からな
り、前記塗膜インピ−ダンスの測定周波数が０．０１Ｈ
ｚ〜１ｋＨｚの範囲に設定されており、算出された塗膜
インピ−ダンスがある判定値以下であった場合に測定不
良警告を発することを特徴とする塗膜劣化診断装置。 - 【請求項８】異なる複数の周波数を含む電圧を塗膜の下
地金属と前記塗膜の表面に宛われる測定プロ−ブとの間
に印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる電流を測
定する電流測定手段と、この電流測定手段の測定結果か
ら算出される各周波数に対する塗膜インピ−ダンスに基
づいて前記塗膜の劣化度合いを判断する判断手段からな
り、前記塗膜インピ−ダンスの測定周波数が０．０１Ｈ
ｚ〜１ｋＨｚの範囲に設定されており、算出された塗膜
インピ−ダンスの最大値と最低値の比が、判定値以上で
あった場合に、測定不良警告を発することを特徴とする
塗膜劣化診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000197584A JP2002014067A (ja) | 2000-06-30 | 2000-06-30 | 塗膜劣化診断方法とその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000197584A JP2002014067A (ja) | 2000-06-30 | 2000-06-30 | 塗膜劣化診断方法とその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002014067A true JP2002014067A (ja) | 2002-01-18 |
Family
ID=18695892
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000197584A Pending JP2002014067A (ja) | 2000-06-30 | 2000-06-30 | 塗膜劣化診断方法とその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002014067A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1376112A1 (de) * | 2002-06-27 | 2004-01-02 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung zum Erfassen einer Belagsänderung, Vorrichtung zum Erfassen eines Reinigungsfortschritts in einer zu reinigenden Anlage und Verfahren zum Steuern eines Reinigungsvorgangs von Belägen auf einem Arbeitsteil |
| JP2009063528A (ja) * | 2007-09-10 | 2009-03-26 | Kurita Water Ind Ltd | ボイラー水管の腐食の判定方法及びボイラー水管の寿命の予測方法 |
| JP2009118585A (ja) * | 2007-11-02 | 2009-05-28 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 配電設備の劣化診断装置 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0447258A (ja) * | 1990-06-14 | 1992-02-17 | Yamatake Honeywell Co Ltd | 抵抗体の寿命予測装置 |
| JPH04218757A (ja) * | 1991-03-29 | 1992-08-10 | Toshiba Corp | 塗膜劣化診断方法 |
| JPH04276539A (ja) * | 1991-03-05 | 1992-10-01 | Ube Ind Ltd | 回転機械の損傷・劣化の寿命予測方法 |
| JPH06295950A (ja) * | 1993-04-08 | 1994-10-21 | Matsushita Electron Corp | 半導体装置の配線評価方法 |
| JPH1015782A (ja) * | 1996-07-04 | 1998-01-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 切削工具の異常検出装置 |
-
2000
- 2000-06-30 JP JP2000197584A patent/JP2002014067A/ja active Pending
Patent Citations (5)
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| EP1376112A1 (de) * | 2002-06-27 | 2004-01-02 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung zum Erfassen einer Belagsänderung, Vorrichtung zum Erfassen eines Reinigungsfortschritts in einer zu reinigenden Anlage und Verfahren zum Steuern eines Reinigungsvorgangs von Belägen auf einem Arbeitsteil |
| JP2009063528A (ja) * | 2007-09-10 | 2009-03-26 | Kurita Water Ind Ltd | ボイラー水管の腐食の判定方法及びボイラー水管の寿命の予測方法 |
| JP2009118585A (ja) * | 2007-11-02 | 2009-05-28 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 配電設備の劣化診断装置 |
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| A131 | Notification of reasons for refusal |
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