JPH08211115A - 被覆電線用絶縁被膜劣化診断装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 被覆電線の絶縁被膜の劣化度合を非破壊で定
量的に測定して診断可能とし、ピンホ−ルやピンホール
に至らないクラックあるいはボイドなどの絶縁劣化とそ
の前駆状態を診断することができるようにする。 【構成】 パーソナルコンピュータ１は、ＣＰＵ２，Ｒ
ＯＭ３，ＲＡＭ４，ＦＤＤ５などから構成される。測定
用プローブ１１は、円筒状の電極ケース１２内に導電性
ゲルを含むスポンジ状電極１３が収容され、被覆電線１
４の絶縁被膜１６を覆うように装着される。電極ケース
１２と被覆電線１４の電線導体１５との間にプリアンプ
９を介して所定周波数領域の電圧信号を印加し、そのと
きの電流値と位相を測定する。インピーダンスＺと容量
成分Ｃｘおよび誘電正接 tanδの値の周波数特性のパタ
ーンから劣化の度合いを診断することができる。非破壊
で簡単に診断を行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、被覆電線の絶縁被膜の
劣化状態を客観的に診断できるようにした被覆電線用絶
縁被膜劣化診断装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、被膜電線の絶縁被膜の劣化度
合を評価する方法としては、例えば、電気的，機械的あ
るいは熱的ストレスを加えた後に電気特性，機械特性あ
るいは化学組成などの変化を調査することでその劣化状
態を診断するようにした方法がある。また、簡便な方法
としては、被覆電線の絶縁被膜の外観を観察することに
より、その劣化の度合を診断する方法がある。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、前者の方法
で劣化診断を行う場合には、測定対象となる被覆電線の
絶縁被膜に対して、破壊電圧の測定を実施したり、機械
特性を測定するための引張試験や化学組成を調べるため
の熱分析などのいわゆる破壊試験を行うことが行われて
おり、そのために、試料の経時変化を調査するためには
多数の試料を準備して行う必要があり、多大な手間と時
間を要するものであった。

【０００４】一方、上述の不具合を回避した非破壊によ
る評価方法としては、後者の外観観察による評価であ
る。これは、劣化状態の進度に応じたサンプル写真をあ
らかじめ作成しておき、被診断対象を目視あるいはカメ
ラなどにより撮影してサンプル写真と比較することによ
り診断しようというものである。

【０００５】しかしながら、このような方法において
は、目視確認の際に観察者による個人差で診断結果にば
らつきが生ずる場合があり、さらには、目視やカメラで
は捕らえ切れないような極小さい被膜の損傷を見逃す場
合が生ずる。しかし、これらの極小さい損傷は、トラッ
キングの起点となって絶縁特性を大きく損なう結果につ
ながる場合があり、このような劣化を確実に診断するこ
とが必要不可欠な条件となっている。

【０００６】ところで、被覆電線の絶縁被膜のように絶
縁効果を持つ塗装被膜の劣化状態を非破壊で診断する方
法として、例えば、同一出願人の出願にかかる特願平２
−９３６３７号に示されるものがある。ところが、この
ものは、塗装平板の塗装被膜のインピーダンス特性を測
定して劣化度合を診断するようにしたものであるため、
そのための平面プローブを被覆電線の絶縁被膜の診断に
用いるためには、複数本の線材を束ねたり巻いたりして
平面状に試料をつくる必要があるなど、簡便に使用する
ことができないため、使い勝手が悪くなる不具合があ
る。また、このために、実機架線にそのまま適用するこ
とはできないという不都合もある。

【０００７】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、被覆電線の絶縁被膜の劣化度合を非破
壊で定量的に測定して診断することができ、しかも、ピ
ンホ−ルやピンホールに至らないクラックあるいはボイ
ド、絶縁被膜中への水分および電解質の浸透といった被
膜の絶縁劣化とその前駆状態を診断することができるよ
うにした被覆電線用絶縁被膜劣化診断装置を提供するこ
とにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明は、被覆電線の絶
縁被膜の劣化状態を非破壊で診断する被覆電線用絶縁被
膜劣化診断装置を対象とするものであり、前記被覆電線
の絶縁被膜外部を所定長さだけ覆うようにして装着する
測定用プローブと、この測定用プローブと前記被膜電線
の導体との間に所定周波数領域の電圧信号を印加して電
流とその位相を測定する測定手段と、この測定手段によ
り測定された電流値と位相の大きさのデータとから前記
周波数範囲におけるインピーダンス特性を演算する演算
手段とを設けて構成したところに特徴を有する（請求項
１記載の発明）。

【０００９】また、前記測定用プローブを、円筒形をな
す金属電極ケースとその内部に充填された導電性ゲルと
から構成し、前記測定手段による測定時には前記被覆電
線をこの導電性ゲル中に接触させた状態として用いるこ
とができる（請求項２記載の発明）。

【００１０】さらに、前記円筒形の金属電極ケースを、
軸方向に沿って分割された部分が開閉可能となるように
構成することができる（請求項３記載の発明）。そし
て、前記円筒形の金属電極ケースを、両端部に蓋を設け
て構成すると良い（請求項４記載の発明）。

【００１１】また、前記金属電極ケースの蓋を、前記測
定試料を挿通状態で閉塞可能となるガイド部を設けて構
成することが好ましい（請求項５記載の発明）。さら
に、前記被覆電線の絶縁被膜の各種劣化モードに対応す
るデータが記憶されており、前記演算手段により演算さ
れたインピーダンス特性のデータを前記記憶しているデ
ータと比較することによりその測定した絶縁被膜の劣化
度合を判定する判定手段を設けて構成することもできる
（請求項６記載の発明）。

【００１２】

【作用】請求項１記載の被覆電線用絶縁被膜診断装置に
よれば、プローブを被覆電線の絶縁被膜に装着して測定
を開始すると、測定手段により、所定周波数範囲の電圧
信号が印加されるようになり、そのときの電流値と位相
値が測定されるようになる。これにより、そのときの電
流値および位相値から絶縁被膜のインピーダンスの周波
数特性を演算により求めることができるようになる。一
般に、絶縁被膜が劣化している状態では、健全な状態に
比べてインピーダンスの周波数特性が変化するので、例
えば、等価回路としてみたときの抵抗成分あるいは容量
成分などの値が、その劣化のモードに応じて異なる変動
を来すようになる。したがって、得られたインピーダン
スの周波数特性を示すデータから測定を行っている被膜
電線の絶縁被膜がどの程度劣化しているかを判定するこ
とができるようになる。

【００１３】請求項２記載の被覆電線用絶縁被膜診断装
置によれば、インピーダンスの測定時には、測定用プロ
ーブにより被覆電線を外部から覆うようにして導電性ゲ
ルに接触させた状態で実施するので、絶縁被膜との間の
良好な接触状態を維持しながら測定を行うことができる
ようになり、常に安定した測定条件を設定することがで
きて測定データの信頼性の向上を図ることができるよう
になる。

【００１４】請求項３記載の被覆電線用絶縁被膜診断装
置によれば、測定用プローブの金属電極ケースを分割す
ることにより、被覆電線を簡単に内部の導電性ゲルと接
触状態として測定することができるようになる。

【００１５】請求項４記載の被覆電線用絶縁被膜診断装
置によれば、測定用プローブの金属電極ケースの両端部
に蓋が設けられているので、導電性ゲルの流出を防止す
ることができ、取扱いが楽になり、測定時においても簡
単に行うことができるようになる。

【００１６】請求項５記載の被覆電線用絶縁被膜診断装
置によれば、金属電極ケースの蓋にガイド部が形成され
ているので、蓋を閉じた状態で被覆電線の絶縁被膜のイ
ンピーダンス測定を行うことができ、使い勝手が良くな
る。

【００１７】請求項６記載の被覆電線用絶縁被膜診断装
置によれば、判定手段により各種劣化モードに対応して
記憶されているデータと測定データとを比較して測定し
た絶縁被膜の劣化度合を判定するので、客観的に定量的
な劣化状態の判定を行うことができるようになり、個人
差をなくした的確な診断動作を行うことができるように
なる。

【００１８】

【実施例】以下、本発明の第１の実施例について、図１
ないし図３を参照しながら説明する。図１は全体構成を
示すもので、いわゆるラップトップ形のパーソナルコン
ピュータ１は、演算手段および判定手段としての機能を
兼ね備えており、本体ケース（図示せず）内に、ＣＰＵ
２，ＲＯＭ３，ＲＡＭ４，ＦＤＤ（フロッピーディスク
ドライブ）５などを内蔵していると共に、液晶形のディ
スプレイ６およびキーボード７が備えられた一般的な構
成のものである。このパーソナルコンピュータ１の拡張
スロット内には、Ｄ／Ａ変換機能およびＡ／Ｄ変換機能
を備えるインターフェイスボード８が装着されている。
そして、パーソナルコンピュータ１には、あらかじめ絶
縁被膜の劣化診断用プログラムが記憶されており、ＣＰ
Ｕ２はそのプログラムにしたがって診断処理を実行する
ようになっている。

【００１９】パーソナルコンピュータ１の外部には、こ
のインターフェイスボード８を介して測定手段としての
電流検出用のプリアンプ９が接続されている。このプリ
アンプ９には２本の測定用ケーブル１０ａ，１０ｂのう
ちの測定用ケーブル１０ａを介して測定用プローブ１１
が接続されるようになっている。この測定用プローブ１
１は、図２に示すように、金属電極である円筒状をなす
電極ケース１２が蝶番１１ａ，１１ａにより開閉可能に
２個の部分１２ａ，１２ｂに分割されて形成されてお
り、その内部に導電性ゲルを染み込ませたスポンジ状電
極１３を収納した状態に形成されているものである。

【００２０】さて、劣化診断を行うべき対象である被覆
電線１４は、電線導体１５の外部に絶縁被膜１６を覆う
ように設けた一般的なもので、測定時には、上述したプ
ローブ１１の電極ケース１２を開けてスポンジ状電極１
３に形成されたスリット部分に挿入するようにして装着
する。これにより、被覆電線１４の絶縁被膜１６はスポ
ンジ状電極１３と密着した状態で安定した電気的接触状
態を保持することができるようになる。また、測定用ケ
ーブル１０ｂは被覆電線１４の電線導体１５に接続され
るようになっており、この状態で測定が行われる。

【００２１】前述したプリアンプ９は、測定用ケーブル
１０ａ，１０ｂ間に所定の測定電圧を印加したときに絶
縁被膜１６を流れる電流を検出してその電流値に応じた
電圧信号をパーソナルコンピュータ１のインターフェイ
スボード８に入力するようになっている。そして、プリ
アンプ９は、絶縁被膜１６の劣化度合による測定電流の
程度に応じて測定電流のレンジを切り替え得るように構
成されており、例えば、０．１ＭΩから１００ＭΩの範
囲とされ、そのときの電流値にすると０．０１μＡから
１０μＡ程度の範囲が設定可能となっている。

【００２２】次に、本実施例の作用について図３をも参
照して説明する。まず、劣化診断を行うべき被覆電線１
４が配設された場所に、パーソナルコンピュータ１，プ
リアンプ９および測定用プローブ１１を持ち込み、測定
用プローブ１１の金属ケース１２を開けて内部のスポン
ジ状電極１３に接触させた状態で閉じ、ケーブル１０ｂ
は電線導体１５に接続する。この状態で、パーソナルコ
ンピュータ１のＦＤＤ５にフロッピーディスクを挿入
し、キーボード７を操作して診断用プログラムを読み込
むと共に実行させる。

【００２３】そして、診断用プログラムを実行すると、
スポンジ状電極１３を介して被覆電線１４の絶縁被膜１
６と電線導体１５との間に所定周波数範囲の電圧信号が
印加され、そのとき絶縁被膜１６に流れる電流はプリア
ンプ９により検出されて電圧に変換され、パーソナルコ
ンピュータ１のインターフェイスボード８を介してデジ
タル信号に変換された信号がＣＰＵ２に取り込まれるよ
うになる。このようにして入力される電流値に相当する
デジタル信号は、ＣＰＵ２により、インピーダンス測定
データとして一旦ＦＤＤ５においてフロッピーディスク
に書き込み処理が行われる。以下、他の測定部位につい
ても上述と同様にして測定すると、各測定データはＦＤ
Ｄ５のフロッピーディスクに次々と書き込み処理される
ようになり、データが蓄積されるようになる。

【００２４】一方、被覆電線１４の絶縁被膜１６の正常
状態における膜厚，材質データやプローブ１１の接触面
積等の各種データはあらかじめキーボード７から入力さ
れ、パーソナルコンピュータ１内部のＲＡＭ４に記憶さ
れている。また、測定時にプローブ１１に印加する電圧
信号の波形は、あらかじめフロッピーディスク内に記憶
されているデジタルデータに基づいて、インターフェイ
スボード８のＤ／Ａ変換機能を用いて生成・合成される
ようになっている。

【００２５】本実施例で印加される電圧波形は、例えば
周波数が０．１Ｈｚ程度から５０Ｈｚ程度の範囲に設定
されており、パワースペクトルＰが周波数ｆに対して−
１／２乗から−２乗の範囲に存在する程度となるように
設定されている。さらに、ここでは、電圧波形を構成す
る各周波数成分の位相はランダム化してあって、ピーク
電圧を極力抑えるようにしてある。

【００２６】さて、上述したようなプローブ１１を用い
た測定が終了したら、次に診断プログラムを読出して実
行させる。ＣＰＵ２によるこの診断プログラムの実行手
順は以下に示す通りである。すなわち、まず、測定デー
タの読み込みステップでは、フロッピーディスクに記録
された測定用の各種データを読出し、確認のためにディ
スプレイ６に表示させるようになる。そして、キーボー
ド７により確認操作を行うと、ディスプレイ６は、初期
条件入力画面となる。

【００２７】次に、初期条件入力ステップでは、絶縁被
膜１６の劣化状態を診断するための材質を示すデータ，
仕様年数，外観状態あるいは設置環境などを示すコード
をキーボード７により入力するようになっている。この
後、ＣＰＵ２は、入力された測定データの測定精度を向
上させるために、スムージング処理を行い、この後デー
タ解析処理を行う。すなわち、この処理ステップにて、
測定データのインピーダンスＺを周波数分として解析
し、インピーダンスの周波数特性を作成してその対数値
logＺをディスプレイ６に表示するようになる。また、
絶縁被膜１６の電気的な等価回路を図３（ａ）に示すよ
うな容量成分Ｃｘと抵抗成分Ｒ１，Ｒ２との組み合わせ
の回路としてみたときの容量成分Ｃｘの特性を演算によ
り求めると共に、誘電正接の値 tanδを周波数特性とし
て求めて表示するようになる（図３（ｂ），（ｃ），
（ｄ）参照）。

【００２８】図３（ｂ）は絶縁被膜１６が健全な状態で
あるときのインピーダンスＺの対数値 logＺ，容量成分
Ｃｘおよび誘電正接 tanδの周波数特性を示しており、
この図において、インピーダンスＺの対数値 logＺの値
は周波数の増大と共に直線的に減少し、容量成分Ｃｘの
値は略一定の値を示し、誘電正接 tanδの値は１０Ｈｚ
近傍でやや低下して再び増加する傾向にある。なお、こ
のような特性の傾向は、絶縁被膜１６の種類が異なるも
のであっても、ほぼ同じような傾向を示す極性となるこ
とがわかっている。

【００２９】そして、同図（ｃ）は、絶縁被膜１６に電
線導体１５まで達する程度のクラックやピンホールが発
生している場合に現れる特徴的な特性を示している。す
なわち、この場合には、インピーダンスＺの値は健全状
態の特性に比べて、低周波数領域で２〜３桁低下してお
り、また、容量成分Ｃｘも低周波数領域（〜１０Ｈｚ）
で増大する特性となっている。

【００３０】一方、同図（ｄ）には、絶縁被膜１６に水
分や電解質が浸透して発生する表面クレージングや、電
線導体１５まで達しない程度でクラックまたはボイドが
発生している状態で現れる周波数特性の特徴的な特性を
示している。この場合、誘電正接 tanδの値が０〜２Ｈ
ｚの周波数領域で大きい値を示しており、このような誘
電正接 tanδの低周波数領域での増大の傾向をみること
により、絶縁被膜１６の分子鎖が物理的に切断された状
態となるクラックが発生しているのではなく、分子鎖の
絡まり合いがほぐれて空隙が広がっている状態の表面ク
レージングの発生を推定することもできるようになる。

【００３１】そして、ＣＰＵ２は、前述のようにして絶
縁被膜１６の周波数特性が測定されると、診断プログラ
ムによって、インピーダンスＺ，容量成分Ｃｘおよび誘
電正接 tanδの値に基づいて上述したいずれのパターン
に対応する周波数特性を呈しているかを判定し、劣化度
合を診断するようになっている。そして、診断結果のデ
ータは、ディスプレイ６に表示すると共に、ＦＤＤ５に
よりフロッピーディスクに記憶されるようになり、次回
の測定データとの比較にも利用可能となるように処理さ
れる。

【００３２】このような本実施例によれば、被覆電線１
４の絶縁被膜１６にプローブ１１を装着して所定周波数
領域の信号を含む電圧信号を印加してその電流を測定
し、これに基づいてインピーダンスＺ，容量成分Ｃｘお
よび誘電正接 tanδの周波数特性を検出することによ
り、絶縁被膜１６の劣化度合を診断するようにしたの
で、被覆電線１４をそのままの状態つまり非破壊で劣化
度合を診断することができると共に、簡単に行うことが
できる。

【００３３】また、本実施例によれば、プローブ１１を
金属電極ケース１２内にスポンジ状電極１３を収容して
被覆電線１４を内部に貫通する状態として測定できるよ
うにしたので、プローブ１１を被覆電線１４に簡単に装
着することができると共に、被覆電線１４の絶縁被膜１
６に対して電圧信号を安定且つ良好な状態で印加するこ
とができるようになり、測定データの信頼性の向上も図
ることができるようになる。

【００３４】図４は本発明の第２ないし第４の実施例を
示すもので、同図中（ａ）は第２の実施例を示すもの
で、プローブ１１の金属電極ケース１２の両端部に円板
状をなす蓋１７，１７を設けたものであり、測定時には
これらの蓋１７，１７を取り外すようになっている。こ
れにより、スポンジ状電極１３に含まれる導電性ゲルの
垂れ落ちや水分の蒸発を防止することができるようにな
る。

【００３５】また、同図中（ｂ）に示す第３の実施例で
は、電極ケース１２の二つの部分１２ａ，１２ｂのそれ
ぞれの両端部に半円状をなす蓋１８ａ，１８ａあるいは
１８ｂ，１８ｂを設けたものである。また、同図中
（ｃ）に示す第４の実施例では、円板状をなす蓋１９，
１９を金属ケース１２の一方の部分例えば１２ｂ側に取
り付けて構成したものである。そして、これら第３およ
び第４の各実施例においても第２の実施例と同様の効果
を得ることができる。

【００３６】図５は本発明の第５ないし第７の実施例を
示すもので、それぞれ第２ないし第４の実施例に対応し
て、蓋１７，１８ａ，１８ｂあるいは１９のぞれぞれに
被覆電線１４を装着した状態で電極ケース１２を閉塞状
態として測定を行うことができるように、ガイド部とし
ての穴２０，切欠部２１ａ，２１ｂあるいは切欠部２２
が形成されたものである。そして、このような構成とし
た第５ないし第７の実施例においては、第２ないし第４
の実施例の効果に加えて、電極ケース１２を閉塞状態と
して測定を行うことができるという効果を得ることがで
きる。

【００３７】本発明は、上記実施例にのみ限定されるも
のではなく、以下のように変形あるいは拡張できる。
蓋、穴は適宜の形に設定することができる。

【００３８】導電性ゲルを収容可能なものであれば、ス
ポンジ状電極以外のものでも用いることができる。測定
時にディスプレイ６に表示して判定を行うようにしても
良い。

【００３９】インピーダンス測定機能を有する装置にマ
イクロコンピュータを搭載してプローブおよびプリアン
プを接続する構成とすることもできる。測定データの処
理は適宜のタイミングで実施することができる。

【００４０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の被覆電線
用絶縁被膜劣化診断装置によれば、次のような効果を得
ることができる。すなわち、請求項１記載の被覆電線用
絶縁被膜劣化診断装置によれば、被覆電線の絶縁被膜外
部を所定長さだけ覆うようにして装着する測定用プロー
ブを設けると共に、この測定用プローブにより所定周波
数領域の電圧信号を印加して電流とその位相を測定する
測定手段を設け、演算手段により、電流値および位相値
から絶縁被膜のインピーダンスの周波数特性を演算によ
り求めることができるようになるので、絶縁被膜が劣化
状態に応じて変動するインピーダンス特性と比較するこ
とにより、被膜電線の絶縁被膜がどの程度劣化している
かを判定することができるようになるという優れた効果
を奏する。

【００４１】請求項２記載の被覆電線用絶縁被膜診断装
置によれば、インピーダンスの測定時に、測定用プロー
ブにより被覆電線を外部から覆うようにして導電性ゲル
に接触させた状態で実施する構成としたので、絶縁被膜
との間の良好な接触状態を維持しながら測定を行うこと
ができるようになり、常に安定した測定条件を設定する
ことができて測定データの信頼性の向上を図ることがで
きるという優れた効果を奏する。

【００４２】請求項３記載の被覆電線用絶縁被膜診断装
置によれば、測定用プローブの金属電極ケースを分割す
ることにより、被覆電線を簡単に内部の導電性ゲルと接
触状態として測定することができるという優れた効果を
奏する。

【００４３】請求項４記載の被覆電線用絶縁被膜診断装
置によれば、測定用プローブの金属電極ケースの両端部
に蓋が設けられているので、導電性ゲルの流出を防止す
ることができて取扱いが楽になり、測定時においても簡
単に行うことができるようになるという優れた効果を奏
する。

【００４４】請求項５記載の被覆電線用絶縁被膜診断装
置によれば、金属電極ケースの蓋にガイド部を形成した
ので、蓋を閉じた状態で被覆電線の絶縁被膜のインピー
ダンス測定を行うことができ、使い勝手が良くなるとい
う優れた効果を奏する。

【００４５】請求項６記載の被覆電線用絶縁被膜診断装
置によれば、判定手段により各種劣化モードに対応して
記憶されているデータと測定データとを比較して測定し
た絶縁被膜の劣化度合を判定するので、客観的に定量的
な劣化状態の判定を行うことができるようになり、個人
差をなくした的確な診断動作を行うことができるように
なるという優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例を示す全体のブロック構
成図

【図２】測定用プローブを開いた状態で示す外観斜視図

【図３】健全状態と異なる劣化モード状態におけるイン
ピーダンス特性図

【図４】本発明の第２ないし第４の実施例を示す金属電
極ケース端部の外観斜視図

【図５】本発明の第５ないし第７の実施例を示す図４相
当図

【符号の説明】

１はパーソナルコンピュータ（演算手段、判定手段）、
２はＣＰＵ、３はＲＯＭ、４はＲＡＭ、５はＦＤＤ、６
はディスプレイ、７はキーボード、８はインターフェイ
スボード、９はプリアンプ、１０ａ，１０ｂは測定用ケ
ーブル、１１は測定用プローブ、１２は電極ケース、１
１ａ，１１ｂは蝶番、１３はスポンジ状電極、１４は被
覆電線、１５は電線導体、１６は絶縁被膜である。

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被覆電線の絶縁被膜の劣化状態を非破壊
   で診断するものにおいて、 前記被覆電線の絶縁被膜外部を所定長さだけ覆うように
   して装着する測定用プローブと、 この測定用プローブと前記被膜電線の導体との間に所定
   周波数領域の電圧信号を印加して電流とその位相を測定
   する測定手段と、 この測定手段により測定された電流値と位相の大きさの
   データとから前記周波数範囲におけるインピーダンス特
   性を演算する演算手段とを具備したことを特徴とする被
   覆電線用絶縁被膜劣化診断装置。
2. 【請求項２】 前記測定用プローブは、円筒形をなす金
   属電極ケースとその内部に充填された導電性ゲルとから
   構成され、前記測定手段による測定時には前記被覆電線
   をこの導電性ゲル中に接触させた状態とされることを特
   徴とする請求項１記載の被覆電線用絶縁被膜劣化診断装
   置。
3. 【請求項３】 前記円筒形の金属電極ケースは、軸方向
   に沿って分割された部分が開閉可能に設けられているこ
   とを特徴とする請求項２記載の被覆電線用絶縁被膜劣化
   診断装置。
4. 【請求項４】 前記円筒形の金属電極ケースは、両端部
   に蓋が設けられていることを特徴とする請求項２または
   ３のいずれかに記載の被覆電線用絶縁被膜劣化診断装
   置。
5. 【請求項５】 前記金属電極ケースの蓋は、前記測定試
   料を挿通状態で閉塞可能となるガイド部が形成されてい
   ることを特徴とする請求項４記載の被覆電線用絶縁被膜
   劣化診断装置。
6. 【請求項６】 前記被覆電線の絶縁被膜の各種劣化モー
   ドに対応するデータが記憶されており、前記演算手段に
   より演算されたインピーダンス特性のデータを前記記憶
   しているデータと比較することによりその測定した絶縁
   被膜の劣化度合を判定する判定手段を備えたことを特徴
   とする請求項１ないし５のいずれかに記載の被覆電線用
   絶縁被膜劣化診断装置。