JP2911070B2 - 塗膜劣化診断装置 - Google Patents
塗膜劣化診断装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は塗膜の劣化度合を客観的
に判断できるようにした塗膜劣化診断装置に関する。
に判断できるようにした塗膜劣化診断装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、変圧器や配電盤など屋外に設置
される機器は、防食および美観のために塗装が施される
が、この塗膜は紫外線や水分などの影響を受けて経時的
に劣化する。このような塗膜の劣化を放置すれば、やが
て塗膜の剥離や下地金属が腐食し、機器の機能障害に至
る場合もある。このため、塗膜の劣化度を定量的に評価
し、適切な塗装の塗り替え時期やメンテナンス方法を検
討するために、塗膜の電気的インピーダンスを測定し、
その測定結果から劣化度を判断することが行われてい
る。
される機器は、防食および美観のために塗装が施される
が、この塗膜は紫外線や水分などの影響を受けて経時的
に劣化する。このような塗膜の劣化を放置すれば、やが
て塗膜の剥離や下地金属が腐食し、機器の機能障害に至
る場合もある。このため、塗膜の劣化度を定量的に評価
し、適切な塗装の塗り替え時期やメンテナンス方法を検
討するために、塗膜の電気的インピーダンスを測定し、
その測定結果から劣化度を判断することが行われてい
る。
【０００３】すなわち、塗膜の表面にプローブを宛が
い、塗膜の下地金属とプローブとの間に電圧ｅを印加す
ると、塗膜にはプローブを通して電流ｉが流れる。そこ
で印加電圧ｅと電流ｉから次式によりインピーダンスＺ
が求められる。 Ｚ＝ｅ／ｉ ………（１）
い、塗膜の下地金属とプローブとの間に電圧ｅを印加す
ると、塗膜にはプローブを通して電流ｉが流れる。そこ
で印加電圧ｅと電流ｉから次式によりインピーダンスＺ
が求められる。 Ｚ＝ｅ／ｉ ………（１）
【０００４】このようにして測定された塗膜インピーダ
ンスＺは、塗膜の劣化度合と相関関係があることから、
インピーダンスの測定周波数等と上記相関関係とを考慮
した所定の解析手順により、塗膜の劣化度を客観的に判
断することができる。
ンスＺは、塗膜の劣化度合と相関関係があることから、
インピーダンスの測定周波数等と上記相関関係とを考慮
した所定の解析手順により、塗膜の劣化度を客観的に判
断することができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、この塗膜イ
ンピーダンス測定に使用する合成電圧波形は、予め記憶
しておいたデジタル情報に基づき、Ｄ／Ａ変換器によっ
て生成・合成されるものであるが、Ｄ／Ａ変換器の出力
波形は各周波数成分の変化点、言い換えれば波形データ
の変化点では電位変化率が極端に大きく、波形データの
変化点間では電位変化がほとんどないという状態にあ
る。塗膜は一般に容量性であり、特に正常な塗膜のイン
ピーダンスは容量成分が支配的である。容量成分に流れ
る電流は であるため、電位変化率（ｄｖ／ｄｔ）が大きい波形デ
ータの変化点では塗膜に非常に大きな電流が流れて電流
の大きなピークが現れ、これに対し、電位変化がほとん
どない波形データの変化点間では塗膜に流れる電流は０
となり、容量成分の測定ができなくなってしまう。この
ためサンプリングポイントによっては塗膜インピーダン
スの正確な測定ができないという問題があった。
ンピーダンス測定に使用する合成電圧波形は、予め記憶
しておいたデジタル情報に基づき、Ｄ／Ａ変換器によっ
て生成・合成されるものであるが、Ｄ／Ａ変換器の出力
波形は各周波数成分の変化点、言い換えれば波形データ
の変化点では電位変化率が極端に大きく、波形データの
変化点間では電位変化がほとんどないという状態にあ
る。塗膜は一般に容量性であり、特に正常な塗膜のイン
ピーダンスは容量成分が支配的である。容量成分に流れ
る電流は であるため、電位変化率（ｄｖ／ｄｔ）が大きい波形デ
ータの変化点では塗膜に非常に大きな電流が流れて電流
の大きなピークが現れ、これに対し、電位変化がほとん
どない波形データの変化点間では塗膜に流れる電流は０
となり、容量成分の測定ができなくなってしまう。この
ためサンプリングポイントによっては塗膜インピーダン
スの正確な測定ができないという問題があった。
【０００６】本発明は上述の点を考慮してなされたもの
で、印加電圧波形の発生方法を工夫して塗膜インピーダ
ンスの測定の不具合をなくした塗膜劣化診断装置を得る
ことを目的とする。
で、印加電圧波形の発生方法を工夫して塗膜インピーダ
ンスの測定の不具合をなくした塗膜劣化診断装置を得る
ことを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の塗膜劣化診断装
置は、塗膜の表面に宛がわれるプローブと、このプロー
ブと塗膜の下地金属との間に異なる周波数を合成した電
圧を印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる電流を
測定する電流測定手段と、少なくとも前記電流測定手段
の測定結果から算出される塗膜インピーダンスに基づい
て前記塗膜の劣化度を判断する判断手段を備えた装置に
おいて、前記電圧印加手段にＤ／Ａ変換器を使用し、そ
の出力側にローパスフィルターを設けて、このローパス
フィルターを介して出力される印加電圧波形の傾きがＤ
／Ａ変換器が出力する波形データの変化点間を直線で結
んだ時の傾きと一致する時点で前記塗膜に流れる電流を
測定することを特徴とする。
置は、塗膜の表面に宛がわれるプローブと、このプロー
ブと塗膜の下地金属との間に異なる周波数を合成した電
圧を印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れる電流を
測定する電流測定手段と、少なくとも前記電流測定手段
の測定結果から算出される塗膜インピーダンスに基づい
て前記塗膜の劣化度を判断する判断手段を備えた装置に
おいて、前記電圧印加手段にＤ／Ａ変換器を使用し、そ
の出力側にローパスフィルターを設けて、このローパス
フィルターを介して出力される印加電圧波形の傾きがＤ
／Ａ変換器が出力する波形データの変化点間を直線で結
んだ時の傾きと一致する時点で前記塗膜に流れる電流を
測定することを特徴とする。
【０００８】
【作用】下地金属とプローブとの間に電圧印加手段によ
り合成電圧を印加すると、塗膜にはプローブを通して各
周波数成分に応じた電流が流れ、それが電流測定手段に
よって測定される。この場合、印加する合成電圧波形デ
ータの変化点間の傾きが波形データの変化点間を直線で
結んだときの傾きと一致する時点で塗膜に流れる電流を
測定するので、正確な電流測定が可能となる。
り合成電圧を印加すると、塗膜にはプローブを通して各
周波数成分に応じた電流が流れ、それが電流測定手段に
よって測定される。この場合、印加する合成電圧波形デ
ータの変化点間の傾きが波形データの変化点間を直線で
結んだときの傾きと一致する時点で塗膜に流れる電流を
測定するので、正確な電流測定が可能となる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図１を参照
して説明する。１はいわゆるラップトップ型あるいはブ
ック型と言われるパーソナルコンピュータで、本体ケー
ス（図示せず）内にＣＰＵ２，メモリ３，ＦＤＤ（フロ
ッピーディスクドライブ）４／ＨＤＤ（ハードディスク
ドライブ）５等を内蔵すると共に、液晶型のディスプレ
イ６及びキーボード７を備える一般的な構成である。こ
のパーソナルコンピュータ１の拡張スロット内には、Ｄ
／Ａ変換器（Ｄ／Ａ）、ローパスフィルター（ＬＰＦ）
及びＡ／Ｄ変換器（Ａ／Ｄ １，２）を備えるＩ／Ｆボ
ード８が挿入されている。
して説明する。１はいわゆるラップトップ型あるいはブ
ック型と言われるパーソナルコンピュータで、本体ケー
ス（図示せず）内にＣＰＵ２，メモリ３，ＦＤＤ（フロ
ッピーディスクドライブ）４／ＨＤＤ（ハードディスク
ドライブ）５等を内蔵すると共に、液晶型のディスプレ
イ６及びキーボード７を備える一般的な構成である。こ
のパーソナルコンピュータ１の拡張スロット内には、Ｄ
／Ａ変換器（Ｄ／Ａ）、ローパスフィルター（ＬＰＦ）
及びＡ／Ｄ変換器（Ａ／Ｄ １，２）を備えるＩ／Ｆボ
ード８が挿入されている。
【００１０】一方、劣化診断を行おうとする塗膜９の表
面にはプローブ１０が宛がわれる。このプローブ１０
は、各種の構造のものが知られているので（例えば特開
昭６１−１０８９５４号公報参照）詳しくは図示しない
が、基本的には本体容器内に導電性ゲルをしみこませた
スポンジ状電極を収納すると共に、その本体容器の開口
部周辺に永久磁石を備えた構成で、永久磁石と下地金属
１１との間に作用する吸引力によってスポンジ状電極を
塗膜９の表面に密着させるようになっている。プローブ
１０から導出されたリード線と、下地金属１１に接続し
たリード線とはプリアンプ１２に接続されており、プロ
ーブ１０と下地金属１１との間に印加された合成電圧及
び塗膜９を通じて流れる電流に応じた電圧信号を前記パ
ーソナルコンピュータ１のＩ／Ｆボード８に与えるよう
になっている。即ち、プリアンプ１２は下地金属１１と
プローブ１０間に印加した合成電圧を測定する電圧測定
手段および塗膜９を通じてプローブ１０に流れる電流を
測定するための電流測定手段として機能する。これらの
電圧値ｅおよび電流値ｉは塗膜９のインピーダンスＺを
計算するために必要な値であり、電圧測定用のアンプ１
４は高入力インピーダンス（10〜15Ω以上）アンプを使
用している。電流を測定するための電流−電圧抵抗Ｒお
よびその抵抗Ｒの両端に発生した電圧を増幅するプロク
ラマブルゲインアンプ１３は塗膜９の劣化度合に応じて
測定レンジが切り替え得るようになっている。本実施例
では、電流−電圧変換抵抗Ｒが１００Ω〜１ＭΩ、アン
プの増幅度が×１０〜×１０００倍で測定電流が１ｐＡ
〜１ｍＡの範囲（塗膜抵抗として１０ｋΩ〜１０ＧΩ以
上）で測定可能である。
面にはプローブ１０が宛がわれる。このプローブ１０
は、各種の構造のものが知られているので（例えば特開
昭６１−１０８９５４号公報参照）詳しくは図示しない
が、基本的には本体容器内に導電性ゲルをしみこませた
スポンジ状電極を収納すると共に、その本体容器の開口
部周辺に永久磁石を備えた構成で、永久磁石と下地金属
１１との間に作用する吸引力によってスポンジ状電極を
塗膜９の表面に密着させるようになっている。プローブ
１０から導出されたリード線と、下地金属１１に接続し
たリード線とはプリアンプ１２に接続されており、プロ
ーブ１０と下地金属１１との間に印加された合成電圧及
び塗膜９を通じて流れる電流に応じた電圧信号を前記パ
ーソナルコンピュータ１のＩ／Ｆボード８に与えるよう
になっている。即ち、プリアンプ１２は下地金属１１と
プローブ１０間に印加した合成電圧を測定する電圧測定
手段および塗膜９を通じてプローブ１０に流れる電流を
測定するための電流測定手段として機能する。これらの
電圧値ｅおよび電流値ｉは塗膜９のインピーダンスＺを
計算するために必要な値であり、電圧測定用のアンプ１
４は高入力インピーダンス（10〜15Ω以上）アンプを使
用している。電流を測定するための電流−電圧抵抗Ｒお
よびその抵抗Ｒの両端に発生した電圧を増幅するプロク
ラマブルゲインアンプ１３は塗膜９の劣化度合に応じて
測定レンジが切り替え得るようになっている。本実施例
では、電流−電圧変換抵抗Ｒが１００Ω〜１ＭΩ、アン
プの増幅度が×１０〜×１０００倍で測定電流が１ｐＡ
〜１ｍＡの範囲（塗膜抵抗として１０ｋΩ〜１０ＧΩ以
上）で測定可能である。
【００１１】次に上記構成の塗膜劣化診断装置にて塗膜
９の診断を行う手順について説明する。まず劣化診断を
行なう現場にマイクロコンピュータ１、プリアンプ１２
およびプローブ１０を持込み、プローブ１０を塗膜９の
表面に宛ててプリアンプ１２を図１に示すように接続す
る。そして、ＦＤＤ４ないしはＨＤＤ５内にある測定プ
ログラムを実行させる。この測定プログラムの実行の結
果プローブ１０と下地金属１１との間に異なる周波数を
合成した電圧が印加され、その時の印加電圧値および塗
膜９に流れる各周波数に対応した電流を電圧値に変換し
た電圧信号がパーソナルコンピュータ１のＩ／Ｆボード
８に与えられる。これらの電圧信号がＩ／Ｆボード８の
Ａ／Ｄ変換器によってデジタル信号に変換され、ＣＰＵ
２に伝送される。ＣＰＵ２はプリアンプ１２で測定され
た電圧値ｅと電流値ｉとから（１）式により各周波数に
対応した塗膜のインピーダンスＺを計算する。そして計
算結果はＦＤＤ４，ＨＤＤ５等の外部記憶装置に書き込
まれる。
９の診断を行う手順について説明する。まず劣化診断を
行なう現場にマイクロコンピュータ１、プリアンプ１２
およびプローブ１０を持込み、プローブ１０を塗膜９の
表面に宛ててプリアンプ１２を図１に示すように接続す
る。そして、ＦＤＤ４ないしはＨＤＤ５内にある測定プ
ログラムを実行させる。この測定プログラムの実行の結
果プローブ１０と下地金属１１との間に異なる周波数を
合成した電圧が印加され、その時の印加電圧値および塗
膜９に流れる各周波数に対応した電流を電圧値に変換し
た電圧信号がパーソナルコンピュータ１のＩ／Ｆボード
８に与えられる。これらの電圧信号がＩ／Ｆボード８の
Ａ／Ｄ変換器によってデジタル信号に変換され、ＣＰＵ
２に伝送される。ＣＰＵ２はプリアンプ１２で測定され
た電圧値ｅと電流値ｉとから（１）式により各周波数に
対応した塗膜のインピーダンスＺを計算する。そして計
算結果はＦＤＤ４，ＨＤＤ５等の外部記憶装置に書き込
まれる。
【００１２】この様な塗膜インピーダンスの測定は塗膜
９の複数の箇所について行われ、また、この測定に合わ
せてマイクロコンピュータ１のキーボード７から塗膜の
種類、膜厚、プローブ面積、測定温度等のデータを入力
しておき、これも同時にＦＤＤ４，ＨＤＤ５等の外部記
憶装置に書き込んでおく。
９の複数の箇所について行われ、また、この測定に合わ
せてマイクロコンピュータ１のキーボード７から塗膜の
種類、膜厚、プローブ面積、測定温度等のデータを入力
しておき、これも同時にＦＤＤ４，ＨＤＤ５等の外部記
憶装置に書き込んでおく。
【００１３】上述したような塗膜インピーダンスの測定
が終了したらＣＰＵ２によりＨＤＤ４またはＦＤＤ５か
ら診断プログラムを読み出してこれを実行させる。この
診断プロクラムは、塗膜インピーダンスが抵抗と容量と
の並列回路からなる等価回路で表すことができることか
ら、塗膜が劣化することに伴い、その抵抗値が小さくな
ることによりインピーダンスが変化することを利用して
塗膜の種類、膜厚、プローブ面積、測定温度等を加味し
て塗膜の劣化度合を診断するのである。そして最終的に
は塗膜の劣化度と塗替え時期および劣化要因が結果とし
てＬＣＤ表示器６に出力される。また、その結果や解析
途中のグラフはプリンターにも出力することができる構
成になっている。
が終了したらＣＰＵ２によりＨＤＤ４またはＦＤＤ５か
ら診断プログラムを読み出してこれを実行させる。この
診断プロクラムは、塗膜インピーダンスが抵抗と容量と
の並列回路からなる等価回路で表すことができることか
ら、塗膜が劣化することに伴い、その抵抗値が小さくな
ることによりインピーダンスが変化することを利用して
塗膜の種類、膜厚、プローブ面積、測定温度等を加味し
て塗膜の劣化度合を診断するのである。そして最終的に
は塗膜の劣化度と塗替え時期および劣化要因が結果とし
てＬＣＤ表示器６に出力される。また、その結果や解析
途中のグラフはプリンターにも出力することができる構
成になっている。
【００１４】ところで、この塗膜インピーダンス測定に
使用する印加電圧波形は、予めＦＤＤ４やメモリー３等
に記憶されていたデジタル情報に基づき、Ｉ／Ｆボード
８のＤ／Ａ変換器からローパスフィルターを介して生成
・合成されており、高周波成分を除去し、波形をなだら
かにしたものである。そしてその出力波形データの変化
点間の傾き（出力電圧の時間変化）が変化点間を直線で
結んだときの傾きと一致する時点で塗膜に流れる電流を
測定するものである。この点について更に詳細に説明す
る。本実施例で印加される電圧波形は、周波数が０．１
Ｈｚ〜５０Ｈｚの範囲であって、パワースペクトルＰが Ｐ＝１／ｆ1/2 から Ｐ＝１／ｆ2 の間に存在するようにしている。
使用する印加電圧波形は、予めＦＤＤ４やメモリー３等
に記憶されていたデジタル情報に基づき、Ｉ／Ｆボード
８のＤ／Ａ変換器からローパスフィルターを介して生成
・合成されており、高周波成分を除去し、波形をなだら
かにしたものである。そしてその出力波形データの変化
点間の傾き（出力電圧の時間変化）が変化点間を直線で
結んだときの傾きと一致する時点で塗膜に流れる電流を
測定するものである。この点について更に詳細に説明す
る。本実施例で印加される電圧波形は、周波数が０．１
Ｈｚ〜５０Ｈｚの範囲であって、パワースペクトルＰが Ｐ＝１／ｆ1/2 から Ｐ＝１／ｆ2 の間に存在するようにしている。
【００１５】図３にＤ／Ａ変換器によりパワースペクト
ルＰがＰ＝１／ｆとなるように合成した電圧波形を示
す。本実施例で使用している波形は１２ビットで４０９
６点のデジタルデータである。したがって、最高周波数
の５０Ｈｚは平均して約８点のデジタルデータで構成さ
れていることになる。
ルＰがＰ＝１／ｆとなるように合成した電圧波形を示
す。本実施例で使用している波形は１２ビットで４０９
６点のデジタルデータである。したがって、最高周波数
の５０Ｈｚは平均して約８点のデジタルデータで構成さ
れていることになる。
【００１６】今、図３の波形の一部を拡大してみると、
図４（ａ）に示すようにＤ／Ａ変換器の出力波形は波形
データの変化点（例えばＡ→ＢあるいはＣ→ＤやＥ→Ｆ
点）では電位変化率が極端に大きくなっており、また波
形データの変化点間（例えばＢ→ＣあるいはＤ→Ｅ点）
では電位変化がほとんどない。このため、波形データの
変化点では塗膜に流れる電流に大きなピークが現れ、ま
た波形データの変化点間では塗膜に流れる電流が０とな
っており、安定した電流測定を行なうことができない。
安定した電流測定を行なうには印加電圧波形データが図
４（ｃ）の破線（Ａ→Ｃ→Ｅ）のように波形データ間の
変化点間で一定の傾きをもっていることが望ましい。
図４（ａ）に示すようにＤ／Ａ変換器の出力波形は波形
データの変化点（例えばＡ→ＢあるいはＣ→ＤやＥ→Ｆ
点）では電位変化率が極端に大きくなっており、また波
形データの変化点間（例えばＢ→ＣあるいはＤ→Ｅ点）
では電位変化がほとんどない。このため、波形データの
変化点では塗膜に流れる電流に大きなピークが現れ、ま
た波形データの変化点間では塗膜に流れる電流が０とな
っており、安定した電流測定を行なうことができない。
安定した電流測定を行なうには印加電圧波形データが図
４（ｃ）の破線（Ａ→Ｃ→Ｅ）のように波形データ間の
変化点間で一定の傾きをもっていることが望ましい。
【００１７】そこで本実施例では、Ｄ／Ａ変換器からロ
ーパスフィルターを介して生成・合成して印加電圧波形
データをなだらかにし、その出力波形データの変化点間
の傾きが変化点間を直線で結んだときの傾きと一致する
タイミングでデータをサンプリングするようにしたもの
である。
ーパスフィルターを介して生成・合成して印加電圧波形
データをなだらかにし、その出力波形データの変化点間
の傾きが変化点間を直線で結んだときの傾きと一致する
タイミングでデータをサンプリングするようにしたもの
である。
【００１８】即ち図４に示すようにローパスフィルター
が無い場合のＤ／Ａ変換器の出力波形は同図（ａ）実線
で示す通りであり、この波形をローパスフィルターに入
力して得られる出力波形は同図（ｂ）のようになる。こ
のローパスフィルターの出力波形は波形データの変化点
（Ａ´，Ｃ´，Ｅ´）で傾きの絶対値がもっとも大きく
次第に減少していく。ローパスフィルターの時定数を適
切に選定することで、この傾きを図４（ａ）の点線の傾
き（変化点間を直線で結んだ一定の傾き）とほぼ同じよ
うにすることができる。この図４（ｂ）に示すローパス
フィルターの出力波形を塗膜に印加したときに流れる電
流ｉは同図（ｃ）の実線で示すようになる。図４（ｃ）
の点線は同図（ａ）の点線で示す電圧波形を塗膜に印加
したときに塗膜に流れる電流である。これらの図からわ
かるようにローパスフィルターの出力波形データの変化
点間の傾きが波形データの変化点を直線で結んだときの
傾きと一致する時点（波形データの変化点からｔ秒後）
で電流を測定することにより、点線で示す一定の傾きを
もつ波形を印加した場合と同じ電流値が測定できるので
ある。これにより正確な電流測定ひいてはインピーダン
ス測定が可能となる。この遅延時間ｔは実際にはデータ
を書き換える時間間隔（例えばＢ→Ｃ，Ｄ→Ｅ間の時
間）とローパスフィルターの時定数から一義的に決定さ
れるため、一度遅延時間ｔを設定すると、以後は変更す
る必要はない。具体的には、Ｄ／Ａ変換器の変換開始信
号でＣＲの時定数をｔ秒後に合わせたワンショットマル
チ回路をリセットし、その出力でＡ／Ｄ変換用ラッチ回
路でデータをラッチしＡ／Ｄ変換する。遅延時間ｔはワ
ンショットマルチ回路の抵抗Ｒを調整してローパスフィ
ルターの時定数に合わせている。その後、このサンプリ
ングポイントで測定した電流値ｉと同じタイミングで測
定した印加電圧値ｅとから塗膜インピーダンスＺがＣＰ
Ｕ２により（１）式に基づき計算される。
が無い場合のＤ／Ａ変換器の出力波形は同図（ａ）実線
で示す通りであり、この波形をローパスフィルターに入
力して得られる出力波形は同図（ｂ）のようになる。こ
のローパスフィルターの出力波形は波形データの変化点
（Ａ´，Ｃ´，Ｅ´）で傾きの絶対値がもっとも大きく
次第に減少していく。ローパスフィルターの時定数を適
切に選定することで、この傾きを図４（ａ）の点線の傾
き（変化点間を直線で結んだ一定の傾き）とほぼ同じよ
うにすることができる。この図４（ｂ）に示すローパス
フィルターの出力波形を塗膜に印加したときに流れる電
流ｉは同図（ｃ）の実線で示すようになる。図４（ｃ）
の点線は同図（ａ）の点線で示す電圧波形を塗膜に印加
したときに塗膜に流れる電流である。これらの図からわ
かるようにローパスフィルターの出力波形データの変化
点間の傾きが波形データの変化点を直線で結んだときの
傾きと一致する時点（波形データの変化点からｔ秒後）
で電流を測定することにより、点線で示す一定の傾きを
もつ波形を印加した場合と同じ電流値が測定できるので
ある。これにより正確な電流測定ひいてはインピーダン
ス測定が可能となる。この遅延時間ｔは実際にはデータ
を書き換える時間間隔（例えばＢ→Ｃ，Ｄ→Ｅ間の時
間）とローパスフィルターの時定数から一義的に決定さ
れるため、一度遅延時間ｔを設定すると、以後は変更す
る必要はない。具体的には、Ｄ／Ａ変換器の変換開始信
号でＣＲの時定数をｔ秒後に合わせたワンショットマル
チ回路をリセットし、その出力でＡ／Ｄ変換用ラッチ回
路でデータをラッチしＡ／Ｄ変換する。遅延時間ｔはワ
ンショットマルチ回路の抵抗Ｒを調整してローパスフィ
ルターの時定数に合わせている。その後、このサンプリ
ングポイントで測定した電流値ｉと同じタイミングで測
定した印加電圧値ｅとから塗膜インピーダンスＺがＣＰ
Ｕ２により（１）式に基づき計算される。
【００１９】尚、インピーダンスＺは測定する各周波数
について（１）式で計算するが、この計算に先だって測
定した電流および電圧波形はＦＦＴ（高速フーリエ変
換）で周波数スペクトルに変換をしている。本装置の場
合は、このＦＦＴは機械語プログラムにより計算を行っ
ている。本装置（ＣＰＵはインテル社製８０Ｃ８６）の
機械語プログラムによるＦＦＴの計算時間はデータ点数
１０２４点で約１秒である。
について（１）式で計算するが、この計算に先だって測
定した電流および電圧波形はＦＦＴ（高速フーリエ変
換）で周波数スペクトルに変換をしている。本装置の場
合は、このＦＦＴは機械語プログラムにより計算を行っ
ている。本装置（ＣＰＵはインテル社製８０Ｃ８６）の
機械語プログラムによるＦＦＴの計算時間はデータ点数
１０２４点で約１秒である。
【００２０】尚、上記実施例では、下地金属とプローブ
間に印加された電圧および塗膜に流れた電流の両方を測
定していたが、印加電圧は毎回測定する必要はなく、塗
膜の代わりに校正抵抗を接続して、その時に流れた電流
から印加電圧を計算することで、図２のように印加電圧
測定部分（Ａ／Ｄ ２）を不要とすることができる。
間に印加された電圧および塗膜に流れた電流の両方を測
定していたが、印加電圧は毎回測定する必要はなく、塗
膜の代わりに校正抵抗を接続して、その時に流れた電流
から印加電圧を計算することで、図２のように印加電圧
測定部分（Ａ／Ｄ ２）を不要とすることができる。
【００２１】
【発明の効果】本発明の塗膜劣化診断装置によれば、下
地金属とプローブ間に印加する合成電圧をＤ／Ａ変換器
からローパスフィルターを介して生成・合成して、その
出力波形データの変化点間の傾きが波形データの変化点
間を直線で結んだときの傾きと一致する時点で塗膜に流
れる電流を測定することにより、正確な塗膜インピーダ
ンスの測定が可能となる。
地金属とプローブ間に印加する合成電圧をＤ／Ａ変換器
からローパスフィルターを介して生成・合成して、その
出力波形データの変化点間の傾きが波形データの変化点
間を直線で結んだときの傾きと一致する時点で塗膜に流
れる電流を測定することにより、正確な塗膜インピーダ
ンスの測定が可能となる。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図
【図２】本発明の他の実施例を示すブロック図
【図３】塗膜に印加される合成電圧波形の一例を示す図
【図４】（ａ）はＤ／Ａ変換器から出力された電圧波形
を示す図、（ｂ）はローパスフィルターから出力された
電圧波形を示す図、（ｃ）は（ａ）及び（ｂ）に示す電
圧を印加したときに塗膜に流れる電流を示す図
を示す図、（ｂ）はローパスフィルターから出力された
電圧波形を示す図、（ｃ）は（ａ）及び（ｂ）に示す電
圧を印加したときに塗膜に流れる電流を示す図
１はパーソナルコンピュータ、２はＣＰＵ（判断手
段）、３はメモリ、４は外部記憶装置（ＦＤＤ：フロッ
ピーディスクドライブ）、５は外部記憶装置（ＨＤＤ：
ハードディスクドライブ）、６は表示器、７はキーボー
ド、８はインターフェースボード、９は塗膜、１０はプ
ローブ、１１は下地金属、１２はプリアンプ、１３はプ
ログラマブルゲインアンプ、１４は高入力インピーダン
スアンプを示す。
段）、３はメモリ、４は外部記憶装置（ＦＤＤ：フロッ
ピーディスクドライブ）、５は外部記憶装置（ＨＤＤ：
ハードディスクドライブ）、６は表示器、７はキーボー
ド、８はインターフェースボード、９は塗膜、１０はプ
ローブ、１１は下地金属、１２はプリアンプ、１３はプ
ログラマブルゲインアンプ、１４は高入力インピーダン
スアンプを示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−102148（ＪＰ，Ａ) 特開 昭57−56762（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−87669（ＪＰ，Ａ) 「防錆管理」、第34巻、第４号、第 123−129頁（平成２年４月１日発行) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 27/00 - 27/24
Claims (1)
- 【請求項１】 塗膜の表面に宛がわれるプローブと、こ
のプローブと塗膜の下地金属との間に異なる周波数を合
成した電圧を印加する電圧印加手段と、前記塗膜に流れ
る電流を測定する電流測定手段と、少なくとも前記電流
測定手段の測定結果から算出される塗膜インピーダンス
に基づいて前記塗膜の劣化度を判断する判断手段を備え
た装置において、前記電圧印加手段にＤ／Ａ変換器を使
用し、その出力側にローパスフィルターを設けて、この
ローパスフィルターを介して出力される印加電圧波形の
傾きがＤ／Ａ変換器が出力する波形データの変化点間を
直線で結んだ時の傾きと一致する時点で前記塗膜に流れ
る電流を測定することを特徴とする塗膜劣化診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17297291A JP2911070B2 (ja) | 1991-07-15 | 1991-07-15 | 塗膜劣化診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17297291A JP2911070B2 (ja) | 1991-07-15 | 1991-07-15 | 塗膜劣化診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0518923A JPH0518923A (ja) | 1993-01-26 |
| JP2911070B2 true JP2911070B2 (ja) | 1999-06-23 |
Family
ID=15951777
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17297291A Expired - Fee Related JP2911070B2 (ja) | 1991-07-15 | 1991-07-15 | 塗膜劣化診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2911070B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102490213B1 (ko) * | 2020-12-11 | 2023-01-18 | 차강윤 | Neo-RAWPCM 장치를 이용한 매설 배관의 손상 탐지 장치 및 방법 |
-
1991
- 1991-07-15 JP JP17297291A patent/JP2911070B2/ja not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 「防錆管理」、第３４巻、第４号、第１２３−１２９頁（平成２年４月１日発行） |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0518923A (ja) | 1993-01-26 |
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