JP2919091B2 - 塗膜劣化診断装置 - Google Patents
塗膜劣化診断装置Info
- Publication number
- JP2919091B2 JP2919091B2 JP1286591A JP1286591A JP2919091B2 JP 2919091 B2 JP2919091 B2 JP 2919091B2 JP 1286591 A JP1286591 A JP 1286591A JP 1286591 A JP1286591 A JP 1286591A JP 2919091 B2 JP2919091 B2 JP 2919091B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coating film
- impedance
- temperature
- deterioration
- coating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【0001】[発明の目的]
【0002】
【産業上の利用分野】本発明は塗膜の劣化度合を客観的
に判断できるようにした塗膜劣化診断装置に関する。
に判断できるようにした塗膜劣化診断装置に関する。
【0003】
【従来の技術】例えば変圧器、配電盤等の屋外に設置さ
れる機器では防蝕・美観向上等のために外装塗膜が形成
されるが、この塗膜は設置環境によって様々な速度で経
時的に劣化してゆくことが知られている。このような塗
膜の劣化を放置すれば、最終的には下地金属の腐食によ
る塗膜の剥落や錆の発生に至るから、機器の保全のため
には適当な時期に再塗装して新たな塗膜を形成する必要
がある。その再塗装の時期は、早過ぎれば経済的に無駄
が生じ、逆に遅過ぎれば下地の腐食に至ってかえってそ
の修復に手間取るからやはり経済的な負担が多くなった
り、機器の保全に悪影響を及ぼす。そこで、従来より、
この種の機器では、塗膜の劣化度合を定期的に診断し、
適切な再塗装の時期を判断するようにしている。
れる機器では防蝕・美観向上等のために外装塗膜が形成
されるが、この塗膜は設置環境によって様々な速度で経
時的に劣化してゆくことが知られている。このような塗
膜の劣化を放置すれば、最終的には下地金属の腐食によ
る塗膜の剥落や錆の発生に至るから、機器の保全のため
には適当な時期に再塗装して新たな塗膜を形成する必要
がある。その再塗装の時期は、早過ぎれば経済的に無駄
が生じ、逆に遅過ぎれば下地の腐食に至ってかえってそ
の修復に手間取るからやはり経済的な負担が多くなった
り、機器の保全に悪影響を及ぼす。そこで、従来より、
この種の機器では、塗膜の劣化度合を定期的に診断し、
適切な再塗装の時期を判断するようにしている。
【0004】この種の診断は、できるだけ客観的になさ
れて誰が行っても常に適切な判断が下されることが望ま
しい。ところが、従来では、塗膜の劣化を診断するため
に、はがれ、割れ、膨れ、錆等の各種の劣化状況につい
てその劣化度合が段階的に異なる種々の見本写真を予め
多数準備しておき、診断すべき実際の塗膜とこれらの各
見本写真とを作業者が対比観察するといった、判断自体
が観察者の主観により左右され易い方法がとられてい
た。
れて誰が行っても常に適切な判断が下されることが望ま
しい。ところが、従来では、塗膜の劣化を診断するため
に、はがれ、割れ、膨れ、錆等の各種の劣化状況につい
てその劣化度合が段階的に異なる種々の見本写真を予め
多数準備しておき、診断すべき実際の塗膜とこれらの各
見本写真とを作業者が対比観察するといった、判断自体
が観察者の主観により左右され易い方法がとられてい
た。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】そこで、本出願人は、
簡単な作業で客観的な判断結果を得ることができる塗膜
劣化診断装置を開発し、先に出願している(特願平2−
93637号)。
簡単な作業で客観的な判断結果を得ることができる塗膜
劣化診断装置を開発し、先に出願している(特願平2−
93637号)。
【0006】このものは、塗膜に宛がわれるプローブ
と、このプローブと塗膜が形成された下地金属との間に
電圧を印加してプローブに流れる電流を検出するプリア
ンプと、このプリアンプからの測定信号を処理し劣化度
を判断するパーソナルコンピュータなどから構成されて
いる。そして、パーソナルコンピュータのソフトウエア
構成により、前記電流測定結果から塗膜のインピーダン
スを検出し、その塗膜のインピーダンスが時間経過と共
に低下することに基づいて劣化度を判断するようになっ
ている。
と、このプローブと塗膜が形成された下地金属との間に
電圧を印加してプローブに流れる電流を検出するプリア
ンプと、このプリアンプからの測定信号を処理し劣化度
を判断するパーソナルコンピュータなどから構成されて
いる。そして、パーソナルコンピュータのソフトウエア
構成により、前記電流測定結果から塗膜のインピーダン
スを検出し、その塗膜のインピーダンスが時間経過と共
に低下することに基づいて劣化度を判断するようになっ
ている。
【0007】ところが、本発明者らのその後のさらなる
研究によれば、測定時における塗膜の温度によって、検
出されるインピーダンスの値が大きく変化することが判
明した。このため、検出されたインピーダンスの値をそ
のまま処理するだけでは、劣化度の判断の確実性の点に
おいて未だ十分であるとはいえないのである。
研究によれば、測定時における塗膜の温度によって、検
出されるインピーダンスの値が大きく変化することが判
明した。このため、検出されたインピーダンスの値をそ
のまま処理するだけでは、劣化度の判断の確実性の点に
おいて未だ十分であるとはいえないのである。
【0008】従って、本発明の目的は、塗膜の劣化診断
にあたって主観が入り込む余地をなくして常に適切な判
断が可能で、しかも作業を簡単かつ確実に行うことがで
きるものであって、より精度の高い劣化診断を行うこと
ができる塗膜劣化診断装置を提供するにある。
にあたって主観が入り込む余地をなくして常に適切な判
断が可能で、しかも作業を簡単かつ確実に行うことがで
きるものであって、より精度の高い劣化診断を行うこと
ができる塗膜劣化診断装置を提供するにある。
【0009】[発明の構成]
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の塗膜劣化診断装
置は、塗膜の表面に宛われるプローブと、所定波形の電
圧を前記塗膜の下地金属と前記プローブとの間に印加す
る電圧印加手段と、前記塗膜を通じて前記プローブに流
れる電流を測定する電流測定手段と、この電流測定手段
の測定結果から前記塗膜のインピーダンスを検出する検
出手段と、この検出手段により検出された塗膜のインピ
ーダンスを入力された塗膜の温度に基づいて基準温度下
の値に換算する補正手段と、この補正手段により補正さ
れたインピーダンス値に基づいて塗膜の劣化度を判断す
る判断手段とを具備し、前記補正手段は、入力温度が前
記基準温度以上である場合と、基準温度未満である場合
とで、夫々別々に設定された温度補正係数を用いて補正
を行う構成に特徴を有するものである。
置は、塗膜の表面に宛われるプローブと、所定波形の電
圧を前記塗膜の下地金属と前記プローブとの間に印加す
る電圧印加手段と、前記塗膜を通じて前記プローブに流
れる電流を測定する電流測定手段と、この電流測定手段
の測定結果から前記塗膜のインピーダンスを検出する検
出手段と、この検出手段により検出された塗膜のインピ
ーダンスを入力された塗膜の温度に基づいて基準温度下
の値に換算する補正手段と、この補正手段により補正さ
れたインピーダンス値に基づいて塗膜の劣化度を判断す
る判断手段とを具備し、前記補正手段は、入力温度が前
記基準温度以上である場合と、基準温度未満である場合
とで、夫々別々に設定された温度補正係数を用いて補正
を行う構成に特徴を有するものである。
【0011】
【作用】上記手段によれば、下地金属とプローブとの間
に電圧印加手段により電圧を印加すると、プローブには
塗膜を通して電流が流れ、それが電流測定手段によって
測定され、さらにその測定結果から検出手段により塗膜
のインピーダンスが検出される。この塗膜のインピーダ
ンスは、塗膜の劣化度合と相関関係があることが知られ
ているから、印加した電圧・周波数等の条件と上記相関
関係とを考慮した所定の解析手順により、判断手段が塗
膜の劣化度を判断する。
に電圧印加手段により電圧を印加すると、プローブには
塗膜を通して電流が流れ、それが電流測定手段によって
測定され、さらにその測定結果から検出手段により塗膜
のインピーダンスが検出される。この塗膜のインピーダ
ンスは、塗膜の劣化度合と相関関係があることが知られ
ているから、印加した電圧・周波数等の条件と上記相関
関係とを考慮した所定の解析手順により、判断手段が塗
膜の劣化度を判断する。
【0012】この場合、判断手段は、塗膜の温度に応じ
て補正手段により基準温度下の値に換算されたインピー
ダンス値に基づいて塗膜の劣化度の判断を行うものであ
るから、塗膜の温度によりインピーダンスが変化する事
情があっても、正確な劣化度の判断を行うことができる
のである。ここで、本発明者らの研究によれば、塗膜の
インピーダンス値の温度による変化は、ある温度(転移
点)を境に、それ以上の温度領域とそれ未満の温度領域
とでは異なるパターンとなることが判明した。従って、
検出された塗膜のインピーダンスを入力された塗膜の温
度に基づいて基準温度下の値に換算するにあたって、そ
の転移点温度を基準温度とし、入力温度がその基準温度
以上である場合と、基準温度未満である場合とで、夫々
別々に設定された温度補正係数を用いて補正を行うこと
により、適切な補正を行うことができるのである。
て補正手段により基準温度下の値に換算されたインピー
ダンス値に基づいて塗膜の劣化度の判断を行うものであ
るから、塗膜の温度によりインピーダンスが変化する事
情があっても、正確な劣化度の判断を行うことができる
のである。ここで、本発明者らの研究によれば、塗膜の
インピーダンス値の温度による変化は、ある温度(転移
点)を境に、それ以上の温度領域とそれ未満の温度領域
とでは異なるパターンとなることが判明した。従って、
検出された塗膜のインピーダンスを入力された塗膜の温
度に基づいて基準温度下の値に換算するにあたって、そ
の転移点温度を基準温度とし、入力温度がその基準温度
以上である場合と、基準温度未満である場合とで、夫々
別々に設定された温度補正係数を用いて補正を行うこと
により、適切な補正を行うことができるのである。
【0013】
【実施例】以下、本発明の一実施例につき図1乃至図8
を参照して説明する。1はいわゆるラップトップ形のパ
ーソナルコンピュータで、本体ケース(図示せず)内に
CPU2、ROM3、RAM4、FDD(フロッピーデ
ィスクドライブ)5等を内蔵すると共に、液晶形のディ
スプレイ6及びキーボード7を備える一般的な構成であ
る。このパーソナルコンピュータ1の拡張スロット内に
は、D/A変換機能及びA/D変換機能を備えるI/F
ボード8が挿入されている。
を参照して説明する。1はいわゆるラップトップ形のパ
ーソナルコンピュータで、本体ケース(図示せず)内に
CPU2、ROM3、RAM4、FDD(フロッピーデ
ィスクドライブ)5等を内蔵すると共に、液晶形のディ
スプレイ6及びキーボード7を備える一般的な構成であ
る。このパーソナルコンピュータ1の拡張スロット内に
は、D/A変換機能及びA/D変換機能を備えるI/F
ボード8が挿入されている。
【0014】一方、劣化診断を行おうとする塗膜9の表
面にはプローブ10が宛われる。このプローブ10は、
各種の構造のものが知られているので(例えば特開昭6
1−108954号公報参照)詳しく図示はしないが、
基本的には本体容器内に導電性ゲルをしみこませたスポ
ンジ状電極を収納すると共に、その本体容器の開口部周
縁に永久磁石を備えた構成で、永久磁石と下地金属11
との間に作用する吸引力によってスポンジ状電極を塗膜
9の表面に密着させるようになっている。プローブ10
から導出されたリード線と、下地金属11に接続したリ
ード線とはプリアンプ12に接続されており、プローブ
10と下地金属11との間に電圧を印加したときに塗膜
9を通じて流れる電流に応じた電圧信号を前記パーソナ
ルコンピュータ1のI/Fボード8に与えるようになっ
ている。即ち、プリアンプ12は塗膜9を通じてプロー
ブ10に流れる電流を測定するための電流測定手段とし
て機能する。この電流測定は塗膜9のインピーダンスを
測定することに相当し、プリアンプ12は塗膜9の劣化
の度合いに応じて測定レンジを切替え得るようになって
おり、本実施例ではインピーダンスにして0.1MΩ〜
100MΩ(電流にして0.01μA〜10μA)の範
囲が測定可能である。
面にはプローブ10が宛われる。このプローブ10は、
各種の構造のものが知られているので(例えば特開昭6
1−108954号公報参照)詳しく図示はしないが、
基本的には本体容器内に導電性ゲルをしみこませたスポ
ンジ状電極を収納すると共に、その本体容器の開口部周
縁に永久磁石を備えた構成で、永久磁石と下地金属11
との間に作用する吸引力によってスポンジ状電極を塗膜
9の表面に密着させるようになっている。プローブ10
から導出されたリード線と、下地金属11に接続したリ
ード線とはプリアンプ12に接続されており、プローブ
10と下地金属11との間に電圧を印加したときに塗膜
9を通じて流れる電流に応じた電圧信号を前記パーソナ
ルコンピュータ1のI/Fボード8に与えるようになっ
ている。即ち、プリアンプ12は塗膜9を通じてプロー
ブ10に流れる電流を測定するための電流測定手段とし
て機能する。この電流測定は塗膜9のインピーダンスを
測定することに相当し、プリアンプ12は塗膜9の劣化
の度合いに応じて測定レンジを切替え得るようになって
おり、本実施例ではインピーダンスにして0.1MΩ〜
100MΩ(電流にして0.01μA〜10μA)の範
囲が測定可能である。
【0015】さて、上記構成の塗膜劣化診断装置にて塗
膜9の診断を行う手順について説明する。これにてパー
ソナルコンピュータ1が果たす機能が明らかにされる筈
である。
膜9の診断を行う手順について説明する。これにてパー
ソナルコンピュータ1が果たす機能が明らかにされる筈
である。
【0016】まず、劣化診断を行う現場にパーソナルコ
ンピュータ1、プリアンプ12及びプローブ10を持ち
込み、プローブ10を塗膜9の表面に宛ってプリアンプ
12と共に図1に示すように接続する。そして、FDD
5にフロッピーディスクを挿入し、測定プログラムを読
み込んで実行させる。このプログラムの実行の結果、プ
ローブ10と下地金属11との間に電圧が印加され、そ
の時に塗膜9に流れる電流がプリアンプ12によって検
出され、その電流に応じた電圧信号がパーソナルコンピ
ュータ1のI/Fボード8に与えられるため、その電圧
信号がI/Fボード8のA/D変換機能によってデジタ
ル信号に変換される。そして、I/Fボード8からデジ
タル信号として与えられた測定インピーダンスに関する
データは、CPU2の制御のもとでFDD5においてフ
ロッピーディスクに書き込まれる。なお、この様な塗膜
インピーダンスの測定は塗膜9の複数箇所について行わ
れ、また、この測定に併せてパーソナルコンピュータ1
のキーボード7から、測定時の塗膜9(機器)の温度
T、塗膜9の膜厚、プローブ10の面積等の測定データ
を入力しておき、これをフロッピーディスクに記録させ
ておく。
ンピュータ1、プリアンプ12及びプローブ10を持ち
込み、プローブ10を塗膜9の表面に宛ってプリアンプ
12と共に図1に示すように接続する。そして、FDD
5にフロッピーディスクを挿入し、測定プログラムを読
み込んで実行させる。このプログラムの実行の結果、プ
ローブ10と下地金属11との間に電圧が印加され、そ
の時に塗膜9に流れる電流がプリアンプ12によって検
出され、その電流に応じた電圧信号がパーソナルコンピ
ュータ1のI/Fボード8に与えられるため、その電圧
信号がI/Fボード8のA/D変換機能によってデジタ
ル信号に変換される。そして、I/Fボード8からデジ
タル信号として与えられた測定インピーダンスに関する
データは、CPU2の制御のもとでFDD5においてフ
ロッピーディスクに書き込まれる。なお、この様な塗膜
インピーダンスの測定は塗膜9の複数箇所について行わ
れ、また、この測定に併せてパーソナルコンピュータ1
のキーボード7から、測定時の塗膜9(機器)の温度
T、塗膜9の膜厚、プローブ10の面積等の測定データ
を入力しておき、これをフロッピーディスクに記録させ
ておく。
【0017】また、この場合、プローブ10と下地金属
11との間に印加される電圧の波形は、予めフロッピー
ディスク内に記憶されていたデジタル情報に基づき、I
/Fボード8のD/A変換機能によって生成・合成され
るもので、従ってI/Fボード8は所定波形の電圧を塗
膜9の下地金属11とプローブ10との間に印加する電
圧印加手段として機能する。本実施例で印加される電圧
波形は、周波数が0.1Hz〜50Hzの範囲であっ
て、パワースペクトルPが、
11との間に印加される電圧の波形は、予めフロッピー
ディスク内に記憶されていたデジタル情報に基づき、I
/Fボード8のD/A変換機能によって生成・合成され
るもので、従ってI/Fボード8は所定波形の電圧を塗
膜9の下地金属11とプローブ10との間に印加する電
圧印加手段として機能する。本実施例で印加される電圧
波形は、周波数が0.1Hz〜50Hzの範囲であっ
て、パワースペクトルPが、
【0018】
【数1】
【0019】から
【0020】
【数2】
【0021】の間に存在するようにしている。パワース
ペクトルPがP=1/fとなるように合成した電圧波形
の一例を図3に示す。また、ここではこの電圧波形を構
成する各周波数成分の位相はランダム化してあってピー
ク電圧を極力抑えるようにしてある。また、塗膜インピ
ーダンスから塗膜の寿命を推定する方法として図2のよ
うな寿命推定曲線を求めるようにしているが、この図2
の縦軸に用いる周波数を0.01Hz〜1Hzの範囲に
限定したのは、この範囲での塗膜インピーダンスZの対
数 logZが横軸=時間tに対して直線的関係を有するこ
とを見出したからである。 logZと時間tとが直線的関
係を有するなら、後述する劣化度の解析が容易且つ正確
になる。また、パワースペクトルPが、
ペクトルPがP=1/fとなるように合成した電圧波形
の一例を図3に示す。また、ここではこの電圧波形を構
成する各周波数成分の位相はランダム化してあってピー
ク電圧を極力抑えるようにしてある。また、塗膜インピ
ーダンスから塗膜の寿命を推定する方法として図2のよ
うな寿命推定曲線を求めるようにしているが、この図2
の縦軸に用いる周波数を0.01Hz〜1Hzの範囲に
限定したのは、この範囲での塗膜インピーダンスZの対
数 logZが横軸=時間tに対して直線的関係を有するこ
とを見出したからである。 logZと時間tとが直線的関
係を有するなら、後述する劣化度の解析が容易且つ正確
になる。また、パワースペクトルPが、
【0022】
【数3】
【0023】から
【0024】
【数4】
【0025】の間に存在するようにした理由は、本出願
人の出願に係る特開昭62−102148号公報に詳述
されているように、測定電流を大きくする見地からは低
周波成分が多く高周波成分が少なくなることが好ましい
が測定誤差を小さくする見地からは高周波成分を過剰に
減らすことは好ましくないという事情に鑑みたものであ
る。従って、電圧波形をこの様なパワースペクトルPを
有するように定めた結果、電流ひいては塗膜インピーダ
ンスの測定を高精度に行うことが可能になる。
人の出願に係る特開昭62−102148号公報に詳述
されているように、測定電流を大きくする見地からは低
周波成分が多く高周波成分が少なくなることが好ましい
が測定誤差を小さくする見地からは高周波成分を過剰に
減らすことは好ましくないという事情に鑑みたものであ
る。従って、電圧波形をこの様なパワースペクトルPを
有するように定めた結果、電流ひいては塗膜インピーダ
ンスの測定を高精度に行うことが可能になる。
【0026】さて、上述したようなプローブ10を用い
た測定が終了したら、次に診断プログラムをフロッピー
ディスクから読み出して実行させる。この診断プログラ
ムの実行手順は図5のフローチャートに示した通りであ
る。
た測定が終了したら、次に診断プログラムをフロッピー
ディスクから読み出して実行させる。この診断プログラ
ムの実行手順は図5のフローチャートに示した通りであ
る。
【0027】ステップS1:測定データの読み込み まずフロッピーディスク内に記録された測定データが読
み出され、測定時の塗膜9の温度T、塗膜9の膜厚、プ
ローブ10の面積等が確認のためにディスプレイ6に表
示される。この後、確認操作を行うと、ディスプレイ6
は初期条件入力画面となる。
み出され、測定時の塗膜9の温度T、塗膜9の膜厚、プ
ローブ10の面積等が確認のためにディスプレイ6に表
示される。この後、確認操作を行うと、ディスプレイ6
は初期条件入力画面となる。
【0028】ステップS2:初期条件入力 ここでは、塗膜の劣化状態を診断するための塗料種、使
用年数、外観状態、設置環境等についてそれら表すコー
ドをキーボード7から入力する。
用年数、外観状態、設置環境等についてそれら表すコー
ドをキーボード7から入力する。
【0029】ステップS3:スムージングインピーダン
ス測定データのスムージングを行う。これは、現場で測
定されたインピーダンスデータは必ずしも各周波数に対
してインピーダンスが一様に変化していないことがある
ため、データのスムージングにより測定精度を向上させ
るためである。
ス測定データのスムージングを行う。これは、現場で測
定されたインピーダンスデータは必ずしも各周波数に対
してインピーダンスが一様に変化していないことがある
ため、データのスムージングにより測定精度を向上させ
るためである。
【0030】 ステップS4:データ解析 まず、スムージングしたインピーダンスデータをもと
に、塗膜劣化に対して最も変化が顕著な周波数(本実施
例では0.1Hz)の塗膜インピーダンスZ1 を求める
と共に、確認のために各周波数fに対する塗膜インピー
ダンスZ1 及びCx(容量成分)のグラフを作成・表示
する。
に、塗膜劣化に対して最も変化が顕著な周波数(本実施
例では0.1Hz)の塗膜インピーダンスZ1 を求める
と共に、確認のために各周波数fに対する塗膜インピー
ダンスZ1 及びCx(容量成分)のグラフを作成・表示
する。
【0031】ステップS5:解析繰返しとミスデータの
判別 塗膜インピーダンスZ1 の測定は1台の機器について複
数箇所で行われるから、その測定箇所数だけ上述のデー
タ解析を繰り返すと共に、各測定点での0.1Hzの塗
膜インピーダンスZ1 の平均値及び分散を計算し、異常
データを測定ミス等に起因するミスデータとして除外す
る。
判別 塗膜インピーダンスZ1 の測定は1台の機器について複
数箇所で行われるから、その測定箇所数だけ上述のデー
タ解析を繰り返すと共に、各測定点での0.1Hzの塗
膜インピーダンスZ1 の平均値及び分散を計算し、異常
データを測定ミス等に起因するミスデータとして除外す
る。
【0032】ステップS6:塗膜インピーダンスZ1 の
温度補正 測定時における塗膜9の温度によって、検出されるイン
ピーダンスZ1 の値が大きく変化する。このため、イン
ピーダンスZ1 の平均値に温度補正係数kを乗算して基
準となる温度この場合25℃下に換算した塗膜インピー
ダンスZ1′を算出する。
温度補正 測定時における塗膜9の温度によって、検出されるイン
ピーダンスZ1 の値が大きく変化する。このため、イン
ピーダンスZ1 の平均値に温度補正係数kを乗算して基
準となる温度この場合25℃下に換算した塗膜インピー
ダンスZ1′を算出する。
【0033】図8は、3種類の塗膜9における温度T
(°K)の逆数とインピーダンスZの対数 logZとの関
係を調べた実測データである。この図8から明らかなよ
うに、logZは、温度Tにより変化すると共に、その変
化の仕方は、約25℃(約298゜K)を転移点とした
勾配の異なる2本の直線関係にあることが判明した。従
って、25℃を基準温度とし、温度Tにて求められたイ
ンピーダンスZ1 の値を、この基準温度25℃における
インピーダンス値に補正することとする。
(°K)の逆数とインピーダンスZの対数 logZとの関
係を調べた実測データである。この図8から明らかなよ
うに、logZは、温度Tにより変化すると共に、その変
化の仕方は、約25℃(約298゜K)を転移点とした
勾配の異なる2本の直線関係にあることが判明した。従
って、25℃を基準温度とし、温度Tにて求められたイ
ンピーダンスZ1 の値を、この基準温度25℃における
インピーダンス値に補正することとする。
【0034】今、ステップS2にて入力された塗料種に
対応する塗膜9において、図7に示すような関係がある
とすると、温度補正係数kは次のようにして求められ
る。すなわち、25℃(298°K)におけるインピー
ダンスをZk とすると、 logZの値は、25℃未満のと
きには、
対応する塗膜9において、図7に示すような関係がある
とすると、温度補正係数kは次のようにして求められ
る。すなわち、25℃(298°K)におけるインピー
ダンスをZk とすると、 logZの値は、25℃未満のと
きには、
【0035】
【数5】
【0036】となり、25℃以上のときには、
【0037】
【数6】
【0038】となる。
【0039】温度補正係数kは、k=Zk /Zで表され
るから、上式より、温度Tが298°K(25℃)未満
のときには、
るから、上式より、温度Tが298°K(25℃)未満
のときには、
【0040】
【数7】
【0041】となり、298°K(25℃)以上のとき
には、
には、
【0042】
【数8】
【0043】となる。
【0044】ステップS7:寿命推定線図の作成 ところで、既に述べたように、塗膜インピーダンスZの
対数 logZは時間tに対し直線的関係を有する。また、
ステップS2にて入力された塗料種に対応する基準温度
25℃下における初期インピーダンスZ0 は既知データ
として記憶されており、また、ステップS2にて使用年
数が入力されている。従って、これらの情報から、図2
に示すように初期インピーダンスZ0 の対数 logZ0
と、検出された塗膜インピーダンスZ1をもとに基準温
度下に換算された塗膜インピーダンスZ1′の対数 log
Z1′とを直線Lで結ぶことにより、寿命推定線図を描
くことができる。ここで余寿命trは、測定時点t1か
ら直線Lの延長線が寿命ラインRと交差する点までの時
間をいう。また、寿命ラインRは、予め塗膜の暴露試験
或いは促進試験を行っておき、塗膜の劣化の程度や下地
金属の発錆の程度とその時の塗膜インピーダンスZとに
基づき予め決定しておくことができる。なお、寿命推定
線図は、図6に示すように推定精度を考慮して時間軸を
tの二乗にて表してもよい。
対数 logZは時間tに対し直線的関係を有する。また、
ステップS2にて入力された塗料種に対応する基準温度
25℃下における初期インピーダンスZ0 は既知データ
として記憶されており、また、ステップS2にて使用年
数が入力されている。従って、これらの情報から、図2
に示すように初期インピーダンスZ0 の対数 logZ0
と、検出された塗膜インピーダンスZ1をもとに基準温
度下に換算された塗膜インピーダンスZ1′の対数 log
Z1′とを直線Lで結ぶことにより、寿命推定線図を描
くことができる。ここで余寿命trは、測定時点t1か
ら直線Lの延長線が寿命ラインRと交差する点までの時
間をいう。また、寿命ラインRは、予め塗膜の暴露試験
或いは促進試験を行っておき、塗膜の劣化の程度や下地
金属の発錆の程度とその時の塗膜インピーダンスZとに
基づき予め決定しておくことができる。なお、寿命推定
線図は、図6に示すように推定精度を考慮して時間軸を
tの二乗にて表してもよい。
【0045】ステップS8:劣化度及び塗替え時期の予
測 検出され温度補正された塗膜インピーダンスZ1′の値
がどの範囲にあるかに基づき劣化度のランク付けがなさ
れる。ここでは、A,B,Cの3段階に分けられ、ディ
スプレイ6に例えば図4に示すような表示がされる。
測 検出され温度補正された塗膜インピーダンスZ1′の値
がどの範囲にあるかに基づき劣化度のランク付けがなさ
れる。ここでは、A,B,Cの3段階に分けられ、ディ
スプレイ6に例えば図4に示すような表示がされる。
【0046】ステップS9:劣化要因の推定 この後、劣化要因推定プログラムの起動操作がされた場
合には、エキスパート推論を対話形式で実行し、塗膜イ
ンピーダンスZ1′の測定結果に基づき劣化要因が推定
され、結果がディスプレイ6に表示される。
合には、エキスパート推論を対話形式で実行し、塗膜イ
ンピーダンスZ1′の測定結果に基づき劣化要因が推定
され、結果がディスプレイ6に表示される。
【0047】このように本実施例では、上述の診断プロ
グラムに従って動作するCPU2が塗膜インピーダンス
Zのデータに基づき解析作業を行って塗膜の劣化度を判
断する判断手段として機能し、またディスプレイ6にそ
の判断結果が表示されるようになっている。これによ
り、誰が操作を行っても塗膜の劣化度について常に適切
な判断が可能であり、しかもその作業を簡単・正確に行
うことができるようになるものである。
グラムに従って動作するCPU2が塗膜インピーダンス
Zのデータに基づき解析作業を行って塗膜の劣化度を判
断する判断手段として機能し、またディスプレイ6にそ
の判断結果が表示されるようになっている。これによ
り、誰が操作を行っても塗膜の劣化度について常に適切
な判断が可能であり、しかもその作業を簡単・正確に行
うことができるようになるものである。
【0048】そして、検出された塗膜のインピーダンス
Z1 を基準温度下の値に換算した塗膜インピーダンスZ
1′により劣化度の判断を行うようにしているので、塗
膜9の温度によりインピーダンスが変化する事情があっ
ても、正確な劣化度の判断を行うことができるのであ
る。
Z1 を基準温度下の値に換算した塗膜インピーダンスZ
1′により劣化度の判断を行うようにしているので、塗
膜9の温度によりインピーダンスが変化する事情があっ
ても、正確な劣化度の判断を行うことができるのであ
る。
【0049】なお、上記実施例では、判断結果をディス
プレイ6に表示するようにしたが、本発明はこれに限ら
れず、例えばパーソナルコンピュータ1に接続したプリ
ンタによって判断結果をプリントアウトする構成として
もよい。また、汎用のパーソナルコンピュータを使用し
なくとも、ディスプレイ或いはプリンタを備えた専用機
として構成してもよいことは勿論である。更に、パーソ
ナルコンピュータ1に装着したI/Fボード8は必ずし
もD/A変換機能及びA/D変換機能を備えるものとす
る必要はなく、第9図に示すように、D/A変換及びA
/D変換のための回路14を外付けにしてもよい。
プレイ6に表示するようにしたが、本発明はこれに限ら
れず、例えばパーソナルコンピュータ1に接続したプリ
ンタによって判断結果をプリントアウトする構成として
もよい。また、汎用のパーソナルコンピュータを使用し
なくとも、ディスプレイ或いはプリンタを備えた専用機
として構成してもよいことは勿論である。更に、パーソ
ナルコンピュータ1に装着したI/Fボード8は必ずし
もD/A変換機能及びA/D変換機能を備えるものとす
る必要はなく、第9図に示すように、D/A変換及びA
/D変換のための回路14を外付けにしてもよい。
【0050】
【発明の効果】以上の説明にて明らかなように、本発明
の塗膜劣化診断装置によれば、塗膜の劣化診断にあたっ
て主観が入り込む余地をなくして常に適切な判断が可能
で、しかも作業を簡単かつ確実に行うことができるもの
であって、測定時の塗膜の温度をも考慮したことにより
精度の高い劣化診断を行うことができるという優れた効
果を奏するものである。
の塗膜劣化診断装置によれば、塗膜の劣化診断にあたっ
て主観が入り込む余地をなくして常に適切な判断が可能
で、しかも作業を簡単かつ確実に行うことができるもの
であって、測定時の塗膜の温度をも考慮したことにより
精度の高い劣化診断を行うことができるという優れた効
果を奏するものである。
【図1】本発明の一実施例を示す全体のブロック図
【図2】塗膜の寿命推定線図
【図3】塗膜に印加される電圧波形の例を示す波形図
【図4】診断結果の表示例を示す図
【図5】診断プログラムのフローチャート
【図6】寿命推定線図の異なる表示例を示す図
【図7】塗膜のインピーダンスと温度との関係の一例を
示す図
示す図
【図8】塗膜のインピーダンスと温度との関係の実測デ
ータを示す図
ータを示す図
【図9】本発明の異なる実施例を示す図1相当図
1はパーソナルコンピュータ、2はCPU(判断手
段)、6はディスプレイ、8はI/Fボード(電圧印加
手段)、9は塗膜、10はプローブ、11は下地金属、
12はプリアンプ(電流測定手段)である。
段)、6はディスプレイ、8はI/Fボード(電圧印加
手段)、9は塗膜、10はプローブ、11は下地金属、
12はプリアンプ(電流測定手段)である。
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01N 27/00 - 27/24
Claims (1)
- 【請求項1】 塗膜の表面に宛われるプローブと、所定
波形の電圧を前記塗膜の下地金属と前記プローブとの間
に印加する電圧印加手段と、前記塗膜を通じて前記プロ
ーブに流れる電流を測定する電流測定手段と、この電流
測定手段の測定結果から前記塗膜のインピーダンスを検
出する検出手段と、この検出手段により検出された塗膜
のインピーダンスを入力された塗膜の温度に基づいて基
準温度下の値に換算する補正手段と、この補正手段によ
り補正されたインピーダンス値に基づいて塗膜の劣化度
を判断する判断手段とを具備し、 前記補正手段は、入力温度が前記基準温度以上である場
合と、基準温度未満である場合とで、夫々別々に設定さ
れた温度補正係数を用いて補正を行うことを特徴とする
塗膜劣化診断装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1286591A JP2919091B2 (ja) | 1991-01-09 | 1991-01-09 | 塗膜劣化診断装置 |
EP19910303085 EP0452071B1 (en) | 1990-04-09 | 1991-04-09 | Method and device for diagnosis of paint film deterioration |
DE1991611502 DE69111502T2 (de) | 1990-04-09 | 1991-04-09 | Verfahren und Vorrichtung zur Diagnose der Verschlechterung von Anstrichfilmen. |
US07/840,668 US5221893A (en) | 1990-04-09 | 1992-02-20 | Method and device for diagnosis of paint film deterioration |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1286591A JP2919091B2 (ja) | 1991-01-09 | 1991-01-09 | 塗膜劣化診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04235340A JPH04235340A (ja) | 1992-08-24 |
JP2919091B2 true JP2919091B2 (ja) | 1999-07-12 |
Family
ID=11817309
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1286591A Expired - Lifetime JP2919091B2 (ja) | 1990-04-09 | 1991-01-09 | 塗膜劣化診断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2919091B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6500507B2 (ja) * | 2015-03-05 | 2019-04-17 | いすゞ自動車株式会社 | センサ |
-
1991
- 1991-01-09 JP JP1286591A patent/JP2919091B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
防錆管理、第34巻、第4号、第123〜129頁(平成2年4月1日発行) |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH04235340A (ja) | 1992-08-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5221893A (en) | Method and device for diagnosis of paint film deterioration | |
JP6772963B2 (ja) | 異常診断装置及び異常診断方法 | |
JP4477185B2 (ja) | 鉛蓄電池の特性評価方法および鉛蓄電池の特性評価装置 | |
JPH07198643A (ja) | 溶液の抵抗を測定するための方法、及びこの方法を用いた金属表面の腐食度測定方法及びそのための装置 | |
JP2519786B2 (ja) | 塗装金属部材の塗膜劣化度検出方法 | |
JP2919091B2 (ja) | 塗膜劣化診断装置 | |
Curioni et al. | Corrosion of dissimilar alloys: Electrochemical noise | |
US6281814B1 (en) | Data conversion method, data converter, and program storage medium | |
JPH08211115A (ja) | 被覆電線用絶縁被膜劣化診断装置 | |
JPH04190149A (ja) | 塗膜劣化診断装置 | |
US20200245974A1 (en) | Tissue Elasticity Measurement Device and Measurement Method | |
JPH0528781B2 (ja) | ||
JP7400690B2 (ja) | 診断装置及び診断方法、並びにフィールド機器 | |
EP0452071B1 (en) | Method and device for diagnosis of paint film deterioration | |
JPH04218757A (ja) | 塗膜劣化診断方法 | |
JPH1019826A (ja) | 金属材質の腐食測定装置 | |
JP7113419B2 (ja) | コンクリート中鉄筋の腐食箇所検出装置及びその検出方法 | |
JPH04218756A (ja) | 塗膜劣化診断方法 | |
JP2002014067A (ja) | 塗膜劣化診断方法とその装置 | |
JP3710126B2 (ja) | 測定波形診断方法およびその装置 | |
JP2911069B2 (ja) | 塗膜劣化診断装置 | |
US20060091892A1 (en) | Method of determining the impedance of an electrochemical system | |
JP2002286622A (ja) | 金属材質の腐食測定装置 | |
JPH04324342A (ja) | 塗膜劣化診断方法 | |
JP4006281B2 (ja) | 塗膜インピーダンス測定用センサ及び塗膜劣化診断装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 9 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080423 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 10 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090423 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100423 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 11 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100423 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 12 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110423 |