JPH0447258A - 抵抗体の寿命予測装置 - Google Patents

抵抗体の寿命予測装置

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JPH0447258A
JPH0447258A JP15568090A JP15568090A JPH0447258A JP H0447258 A JPH0447258 A JP H0447258A JP 15568090 A JP15568090 A JP 15568090A JP 15568090 A JP15568090 A JP 15568090A JP H0447258 A JPH0447258 A JP H0447258A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistor
temperature
heater
sensor
lifetime
Prior art date
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Pending
Application number
JP15568090A
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English (en)
Inventor
Yoshio Igari
猪狩 良夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Azbil Corp
Original Assignee
Azbil Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
この発明は温度センサやヒータ等に用いられる抵抗体の
寿命を予測するための抵抗体の寿命予測装置に関するも
のである。
【従来の技術】
従来より、温度制御システム等に用いられる調節計には
それぞれ抵抗体から成る温度センサやヒータが用いられ
ている。このような抵抗体は、温度センサの場合は高温
に晒されることにより、劣化して検出精度が落ち、ヒー
タの場合は加熱による高温により劣化して断線等が生じ
る。このため、抵抗体の寿命を予測して取り替えの時期
を適確に知る必要がある。従来の温度センサ及びヒータ
の寿命予測及び取り替えは次の方法により行われている
。 (1)温度センサの場合は、J I S (C1602
−1981)解説等の連続使用時間を、ヒータの場合は
連続使用時間を参考にし、安全係数を掛けて寿命予測し
、取り替え時期を決定する。 (2)上記(1)を参考にするとともに、使用者各自が
使用状態に応じて、蓄積したデータをもとに寿命予測し
、取り替え時期を決定する。 (3)蓄積データがない場合は、取り替えを時期を余裕
を持って一定時間毎とする。 (4)温度センサでは標準抵抗体を用意し一定期間毎に
使用熱電対の精度、劣化状態を確認し、必要であれば交
換する。 (5)ヒータでは、寿命切れによるヒータの断線を断線
検出機能を用いて検知し、ヒータを取り替える。
【発明が解決しようとする課題】
上述した従来の温度センサ、ヒータの寿命予測方法は、
使用環境の変化や熱衝撃の頻度などに無関係で固定的で
あり、このため寿命予測が不正確となって、センサの早
期交換による費用損失や、寿命切れセンサを使用する低
精度による悪影響が起こる等の問題が生じていた。 この発明は上記のような課題を解決するためになされた
もので、温度センサやヒータに用いられる抵抗体の寿命
を正確に知ることのできる抵抗体の寿命予測装置を得る
ことを目的としている。
【課題を解決するための手段】
この発明においては、抵抗体が晒されている温度又は抵
抗体の抵抗値を検出して、その変化を履歴情報として保
存し、また、予め抵抗体の種類毎に寿命情報を用意し、
この寿命情報と上記履歴情報とに基づいて抵抗体の寿命
予測を行うようにしている。
【作 用】
温度センサやヒータに用いられる抵抗体の寿命を正確に
予測することができ、使用環境の変化や熱衝撃の頻度に
も対応して予測精度の高い寿命予測が行われる。
【実施例】
以下、この発明の一実施例を図について説明する。 第1図はこの発明を温度センサとヒータとを有する調節
計に通用した場合を示す。 図において、1は抵抗体を用いた温度センサ(以下、セ
ンサと言う)、2は抵抗体を用いたヒータ、3はセンサ
1の出力信号からこのセンサ1が使用されている炉内温
度等の温度を検出する温度検出部で、A/D変換器等を
含み、ディジタル値の温度データを出力するように成さ
れている。 4はヒータ2の抵抗値をヒータ電流と電圧とから検出す
る抵抗値検出部で、A/D変換器等を含み、ディジタル
値の抵抗値データを出力するように成されている。5は
センサ1及びヒータ2の寿命を予測演算する寿命予測部
、6はセンサl及びヒータ2に使われている抵抗体の種
類毎の寿命情報が記憶されている抵抗体毎寿命情報記憶
部(以下、単に記憶部と言う)、7は温度検出部3で検
出された温度と抵抗値検出部4で検出された抵抗値とを
例えば一定周期毎に間欠的にサンプリングして保存して
おくための温度・抵抗値履歴保存部(以下、単に保存部
と言う)、8は寿命予測部5で予測されたセンサ1及び
ヒータ2の寿命時期を外部の人等に表示等により通知す
るための通知信号を出力する通知機能部、9はヒータ2
等、調節計全般を制御する制御部である。 第2図及び第3図は上記記憶部6に格納されたセンサ1
及びヒータ2に関する寿命情報の一例を示すテーブルで
ある。 第2図はセンサ1に関するもので、センサ1の種類A、
B毎に線径、基準温度、寿命(時間)等が格納されてい
る。第3図はヒータ2に関するものであり、ヒータの種
類A、B毎にヒータ径、基準温度、寿命(時間)等が格
納されている。 なお、この記憶部6は、雰囲気ガス成分、湿度環境等の
温度情報以外で、センサ1及びヒータ2の寿命に影響を
及ぼすパラメータも記憶可能とする。これらのパラメー
タは多くの場合、現場の操作者により設定される。また
、センサ1の履歴情報の場合、単なるトレンド情報にと
どまらず、センサlに劣化を与える。劣化の種類単位で
記憶する機能も合せもっている。 上記構成によれば、寿命予測部5は、記憶部6に記憶さ
れた第2図に示すようなセンサの種類線径等のパラメー
タと、保存部7に記憶されたセンサ1の温度履歴情報と
に基づいて演算を行うことにより、センサエの寿命を予
測することができる。 また、寿命予測部5は、記憶部6に記憶された第3図に
示すようなヒータ種類、ヒータ径等のパラメータと保存
部7に記憶された抵抗値の履歴情報とに基づいてヒータ
2の寿命を予測することができる。 次に、寿命予測を行うための一例としてアレニウスの式
を用いた演算処理の方法について述べる。 一般に抵抗体の劣化の速度は、温度が高いほど大きくな
る。いま、温度をTとすると、劣化の速度は化学反応で
用いられるアレニウスの経験式を適用することにより、 と表される。ここで、Eaは活性化エネルギー(反応を
引き起こすために必要なエネルギー)kはポルツマン定
数である。 また、寿命は劣化速度に反比例すると考えられるから、 となり、上記(2)式より寿命を求めることができる。 なお、制御部9はセンサ1.ヒータ2を新しいものと取
り替えた場合等に、保存部7の履歴情報をリセットする
。 以上はこの発明を調節計に通用した場合について述べた
が、センサ1を使用する記録計、温度計その他、温度セ
ンサ又はヒータとして抵抗体を使用するものに適用する
ことができる。また、ヒータの場合は特にヒータを電源
トランスを介して使用する調節計に用いて好適である。
【発明の効果】
この発明によれば、抵抗体が晒されている温度又は抵抗
体の抵抗値を検出して、その変化を履歴情報として保存
し、また、予め抵抗体の種類毎に寿命情報を用意し、こ
の寿命情報と上記履歴情報とに基づいて抵抗体の寿命予
測を行うように構成したので、温度センサやヒータの寿
命予測を使用環境の変化や熱衝撃の頻度等に対応して常
に精度良く行うことができると共に、使用センサやヒー
タ毎の寿命情報をもつことにより、センサ毎又はヒータ
毎の寿命管理を容易に行うことができ、また、記録され
たセンサ又はヒータの時間的経過と、実際のセンサ又は
ヒータの劣化状態を対応させることにより、劣化の要因
の分析が可能となる等の効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による抵抗体の寿命予測装
置を示すブロック図、第2図は同装置に記憶される温度
センサの寿命情報のテーブルを示す図、第3図は同じく
ヒータの寿命情報のチーフルを示す図である。 ■は温度センサ、2はヒータ、3は温度検出部、4は抵
抗値検出部、5は寿命予測部、6は抵抗体毎寿命情報記
憶部、7は温度・抵抗MW歴情報保存部。 特 許 出 願 人 山武ハネウェル株式会社第 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  抵抗体が晒されている温度又は抵抗体の抵抗値を検出
    する検出部と、上記抵抗体の種類毎に抵抗体の寿命に関
    する寿命情報が格納される寿命情報記憶部と、上記検出
    部で検出された上記温度又は抵抗値の変化が記憶される
    履歴情報保存部と、上記寿命情報と上記履歴情報とに基
    づいて抵抗体の寿命を予測する寿命予測部とを備えた抵
    抗体の寿命予測装置。
JP15568090A 1990-06-14 1990-06-14 抵抗体の寿命予測装置 Pending JPH0447258A (ja)

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JPH0447258A true JPH0447258A (ja) 1992-02-17

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2002014067A (ja) * 2000-06-30 2002-01-18 Toshiba Corp 塗膜劣化診断方法とその装置
JP2002523820A (ja) * 1998-08-21 2002-07-30 ローズマウント インコーポレイテッド 抵抗型プロセス制御装置の診断
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JP2013113621A (ja) * 2011-11-25 2013-06-10 Yazaki Energy System Corp ガス検出装置

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